カード処理端末
【課題】カード処理端末において、キズや損傷があるカード若しくは磁化が弱くなったカードなどを使用する場合、その読取エラーの発生原因に応じた形でカード読取に関する読取設定の対策を講じる必要が求められている。
【解決手段】磁気媒体に記録された磁気データを読み取る読取部と、前記磁気媒体の基準データを記憶する記憶部と、前記読取部で読み取った磁気データと前記基準データとを比較する比較部と、この比較部の比較結果に基づいて、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更する設定変更部と、を備える。
【解決手段】磁気媒体に記録された磁気データを読み取る読取部と、前記磁気媒体の基準データを記憶する記憶部と、前記読取部で読み取った磁気データと前記基準データとを比較する比較部と、この比較部の比較結果に基づいて、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更する設定変更部と、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、各種カードに記憶された情報を読み取るカードリーダライタを備えたカード処理端末に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、各種の情報が記憶されたカードがスライドされるスライド溝を有し、このスライド溝内をカードがスライドされることにより、カードから情報を読み取る読取ヘッドを備えたカード処理端末が広く知られている。カード処理端末は、読取ヘッドから読み取った情報を用いて種々の情報処理を実行する。
【０００３】
この種のカード処理端末は、例えば、商品の販売を行う店舗において、ＰＯＳ（Ｐｏｉｎｔ ｏｆ ｓａｌｅｓ）端末、ＥＣＲ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｃａｓｈ Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）端末等に組み込まれ、または接続されて商品購入時のカード決済の場面に利用されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１５７４３６公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記のカード処理端末において、長年カードを使用することにより、経年劣化が生じてカード情報を記憶する磁気ストライプ部分の磁化が弱くなり、これによりカード情報読取の際に得られる出力が全体的に小さくなりカード読取エラーとなってしまうおそれがある。
【０００６】
また、操作者はスライド溝にカードを挿入し、スライドをさせ、読取ヘッドにてカードが有するカード情報を読み取らせる。このため、何度もカードを使用することにより、カード処理端末とカードとがこすれることで少なからずカード情報を有する磁気ストライプ等にキズや損傷が生じる。かかる場合、カード情報読取の際に、キズや損傷のある磁気ストライプ部分から得られる一部の出力が小さくなり、カード読取エラーとなってしまうおそれがある。この場合、上記した経年劣化にまつわる出力低下が原因の読取エラーとは異なるため、読み取り時の出力を全体的に増幅させたとしてもカード読取がうまくいくとは限らない。
【０００７】
このように、キズや損傷があるカード若しくは磁化が弱くなったカードなどを使用する場合、その読取エラー発生原因に応じた形でカード読取に関する読取設定の対策を講じる必要が求められている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の実施形態にかかるカード処理端末は、磁気媒体に記録された磁気データを読み取る読取部と、前記磁気媒体の基準データを記憶する記憶部と、前記読取部で読み取った磁気データと前記基準データとを比較する比較部と、この比較部の比較結果に基づいて、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更する設定変更部と、を備えることを特徴とするカード処理端末。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施形態に係るカード処理端末の外観を示す図。
【図２】本実施形態に係るカード処理端末の電気的接続を示すブロック図。
【図３（ａ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図（正常時）。
【図３（ｂ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図。
【図４（ａ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図（正常時）。
【図４（ｂ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図。
【図５】本実施形態に係るカード処理端末の制御部が実行する制御処理を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態に係るカード処理端末の一実施形態を詳細に説明する。本実施形態では、カードから読み取った情報を用いて商品の代金を決済するカード処理端末を一例として説明を行う。
【００１１】
図１は、本実施形態に係るカード処理端末１の外観を示す図である。このカード処理端末１は、本体ユニットＡと表示ユニットＢとで構成される。表示ユニットＢは、背面側のヒンジ部２によって本体ユニットＡに対し取り付けられている。このヒンジ部２を軸として、表示ユニットＢは、図１中の矢印Ｐの示す方向に向けて本体ユニットＡから開閉する。
【００１２】
表示ユニットＢの上面には、ディスプレイ２０、タッチパネル２１、および突出部２３等が設けられている。ディスプレイ２０は、その表示面がカード処理端末１の正面側に向くように設けられ、商品の販売に関する情報等を選択的に表示する。タッチパネル２１は、ディスプレイ２０の表示面上に設けられ、ディスプレイ２０に表示された表示内容へのタッチ操作を検出する。
【００１３】
突出部２３は、図１のカード処理端末１を正面側から見た右方に設けられている。突出部２３と表示ユニットＢの本体との間には、スライド溝２４が形成される。表示ユニットＢを閉じた際には、突出部２３が設けられた側の表示ユニットＢ本体の側壁と、本体ユニットＡの側壁とが同一平面上に位置する。したがって、表示ユニットＢが閉じられた状態においては、スライド溝２４の延長線と本体ユニットＡの筐体面とが交わらず、スライドされる長方形状のカードＣが本体ユニットＡの筐体と接触することはない。
【００１４】
カードリーダライタ２２を構成する磁気ヘッド２２ａは、スライド溝２４の内部に設けられている。磁気ヘッド２２ａは、カードＣがスライド溝２４に沿って図１に示す方向Ｆ１にスライド操作されることでカードＣの磁気ストライプＣＳに記憶されている情報を読み取りあるいはカードへの情報の書き込みを行う。
【００１５】
本体ユニットＡの筐体には、カード処理端末１への電源供給をオン又はオフする電源スイッチ１０やカード受部１１，１２等が設けられている。カード受部１１，１２は、本体ユニットＡと一体形成されておらず、別部材にて形成され、接着剤等の取り付け手段によって本体ユニットＡに取り付けられている。なお、接着剤に限らず、本体ユニットＡにカード受部１１，１２を取り付けるための溝を設け、この溝にカード受部１１，１２を嵌め合わせること等で取り付けてもよい。
【００１６】
カード受部１１は、スライド溝２４に対してカードＣが挿入される端部側に設けられ、カード受部１２は、スライド操作されたカードＣがスライド溝２４から抜け出る側の端部に設けられている。
【００１７】
図２はカード処理端末１の電気的接続を示すブロック図である。カード処理端末１には、制御手段として機能するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１００が内蔵されている。このＣＰＵ１００に対し、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１０１，ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１０２，時計回路１０３，通信Ｉ／Ｆ１０４、表示コントローラ１０５、入力コントローラ１０６、カードリーダコントローラ１０７、及びプリンタコントローラ１０８等がアドレスバスやデータバス等のバスライン１１０を介して接続されて、制御回路が構成されている。
【００１８】
ＣＰＵ１００は、ＲＯＭ等に記憶されたプログラムを実行してカード処理端末１を用いたカード処理等の動作を制御する。また、ＣＰＵ１００は、バスを介してＣＰＵ１００に接続された各部を制御する。
【００１９】
ＲＯＭ１０１は、カード処理端末１に業務モード，集計モード，設定モード、及び練習モード等の動作モードを実現させる各種アプリケーションファイル及びデータベースと、が主として記憶されている。
【００２０】
業務モードは、取引情報の入力を受け付け、入力された取引情報に基づいて商取引をカード決済する動作モードである。集計モードは、営業日の売上実績に基づいて規定の勘定項目を集計処理する、いわゆる日計処理を行う動作モードである。勘定項目は、例えば１日の取引件数、総取引金額、商品の部門別の取引件数及び取引金額、金券の使用金額等である。前記設定モードは、カード処理端末１の動作に関する各種設定を行う動作モードである。練習モードは、カード処理端末１の操作についてオペレータを訓練するために、各処理のシミュレーションを行う動作モードである。
【００２１】
ＲＡＭ１０２には、処理場面に応じて各種の作業用記憶領域が形成される。例えば、操作者によりカードＣがスライド溝にてスライド操作されることにより得たカード情報を一時記憶するエリアが形成されている。カード情報は、デコーダーによりデコードされる前は、磁気データであり、この磁気データをデコーダーにてデコードすることで所定のカード情報を取得する。
【００２２】
時計回路１０３は、カード処理端末１で使用するシステムの日時を計時する。通信Ｉ／Ｆ１０４は、本実施形態における通信手段として機能するものであり、通信ケーブル１５を介して行われる前記ストアサーバや管理センタとの通信を制御する。
【００２３】
表示コントローラ１０５は、ディスプレイ２０の画面表示を制御する。タッチパネル２１は、例えば抵抗膜方式のタッチパネルであり、ユーザが指先やタッチペンにて接触操作した位置に応じた電気信号を出力する。入力コントローラ１０６は、タッチパネル２１から出力される電気信号に基づいて接触位置座標を算出し、ＣＰＵ１００に通知する。
【００２４】
カードリーダコントローラ１０７は、カードリーダライタ２２に設けられている磁気ヘッド２２ａによる磁気カードの読取タイミングを制御し、カードリーダライタ２２が読み取ったカード情報をＣＰＵ１００に通知する。
【００２５】
レシートプリンタ２５は、カード処理端末１の本体Ａ側に設けられている。熱転写により感熱紙等のレシート用紙に文字又は図形からなるパターンを形成させる、いわゆるサーマルプリンタである。プリンタコントローラ１０８は、ＲＡＭ１０２に作成される印字データに基づいてレシートプリンタ２５を駆動し、レシート用紙やジャーナル用紙に印字する。
【００２６】
電源回路２６は、電源スイッチ１０がオンされたことに応じて商用交流電源等の外部電源またはバッテリから電力を取り込み、本体ユニットＡおよび表示ユニットＢの各部に供給する。
【００２７】
アンプ部２７は、スライド操作されることにより得たカード情報である磁気情報の磁化波形を必要に応じて増幅させるための回路である。アンプ部２５は、ＣＰＵ１００の制御により駆動する。
【００２８】
デコード部２８は、スライド操作されることにより得たカード情報である磁気情報をデコードする。
【００２９】
次に、図３（ａ）、（ｂ）、図４（ａ）、（ｂ）を用いて、所定の情報を記録したカードＣがスライド操作されることにより得られる磁気データ（波形）について説明する。
【００３０】
図３（ａ）は、カードＣの磁気ストライプＣＳに記録されている磁化の状態が正常である場合の一例であり、このカードＣがスライド溝２４でスライド操作されることで得られる磁気データ（波形）を示した図である。
【００３１】
図３（ｂ）は、経年劣化の影響を受けてカードＣの磁気ストライプに記録されている磁化の状態が弱まり、これにより得られる磁気データの出力が弱まった状態を示した図である。図３（ａ）と図３（ｂ）とを比較すると図３（ｂ）から得られる振幅値が振幅値Ａ（ピーク値Ｐとピーク値Ｐ´の差分）の分だけ全体的に小さくなっていることがわかる。
【００３２】
次に、図４（ａ）は、カードＣの磁気ストライプＣＳに記録されている磁化の状態が正常である場合の一例であり、このカードＣがスライド操作されることにより得られる磁気データ（波形）を示した図である。なお、図４（ａ）は、磁気ストライブの一部がキズを受けていない状態とキズを受けている状態とを説明するために、図３（ａ）に示す波形とは異なる波形の例を用いて表現している。図４（ｂ）は、磁気ストライプの一部がキズを受けたカードＣから得られる磁気データの出力を示した図である。図４（ａ）と図４（ｂ）とを比較すると図４（ｂ）から得られる出力の一部（図４（ｂ）の破線丸括弧箇所Ｓ）が正常時の磁気データと比べて小さくなっていることがわかる。
【００３３】
図５は、ＣＰＵ１００が実行する処理を示すフローチャートである。カード処理端末１のＣＰＵ１００は、電源スイッチ１０がオンされたことを検出すると、システムを起動し、ネットワークに接続されたＰＯＳ端末から決済処理に関する情報が送信されることを待機する。決済処理に関する情報とは、例えば、購入商品の合計金額に関する情報、カード情報取得命令、クレジット決済命令、デビット決済命令等がある。
【００３４】
ＣＰＵ１００は、ＰＯＳ端末から通信Ｉ／Ｆ１０４を介して決済処理に関する情報を受信すると、操作者によりカードＣがスライド溝２４に沿ってスライドされ、カードリーダライタ２２を構成する磁気ヘッド２２ａにてカードＣの磁気ストライプＣＳに記憶されているカード情報の読み取りあるいは書き込みが行われたかを検出する（Ａｃｔ５０１）。
【００３５】
次に、カードＣがスライド溝２４に沿ってスライド方向Ｆ１に向けてスライドされ、磁気ヘッド２２ａによりカード情報の読み取りが正常に実行されたことを検出すると（Ａｃｔ５０２のＹｅｓ）、通常処理を実行する。ここで、通常処理とは、例えば、ＣＰＵ１００がプリンタユニットの印字部を駆動させて、領収書を印字発行させる。そして、領収書の印字発行が終了すると、ＰＯＳ端末に対して領収書を発行した旨の通知及びカードＣは第１方向Ｆ１にてスライドされた旨の情報を送信する等の処理を意味する。
【００３６】
一方、Ａｃｔ５０２にて、カードＣがスライド溝２４に沿ってスライド操作されたが、磁気ヘッド２２ａによりカード情報の読み取りが出来なかったことを検出すると（Ａｃｔ５０２のＮｏ）、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データと比較して小さいか否かを判断する（Ａｃｔ５０３）。ここで、ＣＰＵ１００にて、カードＣから得られた磁気データの振幅値が小さいか大きいか否かの判断は、予めＲＯＭ１０１等に記憶されている磁気媒体の読取が正常であるか否かの基準となる基準データに基づいて行なわれる。基準データは、例えば、正常な状態の磁気データの振幅値、波形データ、若しくは正常か否かの判断に用いる閾値（値）等である。
【００３７】
Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも大きいと判断した場合（Ａｃｔ５０３のＮｏ）、ＣＰＵ１００は、磁気データ読取のための閾値を変更するか否かの判断を行う（Ａｃｔ５０４）。
【００３８】
タッチパネルを介して操作者から閾値変更の入力を待機し、閾値変更の入力があった場合は（Ａｃｔ５０４のＹｅｓ）、磁気データ読取のための閾値を下げる処理を実行する（Ａｃｔ５０５）。
【００３９】
なお、Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも大きいと判断した場合とは、図４（ｂ）に示すような全体の振幅値は小さくなってはいないが、局所的に一部の振幅値が小さくなった波形が得られた場合である。すなわち、この場合、磁気ストライプの一部がキズを受けたカードＣが読取に使用されていると考えられる。かかる場合、出力（振幅値）の一部が正常時の磁気データと比べて小さくなっているため、読取のための閾値を現在設定されている閾値より引き下げることで、この小さくなっている出力（振幅値）の一部を読み取ることが出来る。
【００４０】
Ａｃｔ５０５の処理の後、再度、操作者によりカードＣがスライド溝にてスライド操作されることを待機し、スライド操作されたことをきっかけにＣＰＵ１００はカードリーダライタ２２を介して再読取を実行する（Ａｃｔ５０６）。ここで、ＣＰＵ１００は読取が出来たか否かを判断し（Ａｃｔ５０７）、カード情報の読取が出来た場合は（Ａｃｔ５０７のＹｅｓ）、読取時の設定をRAM１０２などの記憶部に記憶する（Ａｃｔ５０８）。これにより、Ａｃｔ５０２のカードＣ読み取り時に一度読み取りエラーとなっており、Ａｃｔ５０５の処理にて閾値の設定が変更されていた場合は、閾値変更後の値に更新される。その後、通常の決済処理を実行する（Ａｃｔ５０９）。一方、Ａｃｔ５０７にて、カード情報の読取ができなかった場合（Ａｃｔ５０７のＮｏ）は、そのまま読取不能として終了する（Ａｃｔ５１１）。
【００４１】
なお、Ａｃｔ５０４にて読取のための閾値を変更することなく再度読取を実行させることも可能である（Ａｃｔ５０４のＮｏの処理）。すなわち、この場合、閾値の設定変更を行わずカード情報の再読取が実行される。つまり、カード情報読取の際に読み取りエラーとなった場合、すぐに閾値の設定が変更されるわけではなく、例えば操作者から閾値設定変更の入力がされたことを検知して閾値を変更するように構成されている。
【００４２】
一方、Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断したならば（Ａｃｔ５０３のＹｅｓ）、読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる指令を待機する（Ａｃｔ５１２）。「磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる指令を待機する」とは、例えば、操作者から磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる設定変更がなされることを意味する。読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる指令があった場合（Ａｃｔ５１２のＹｅｓ）、ＣＰＵ１００は読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる（Ａｃｔ５１３）。
【００４３】
なお、Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００が、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断した場合とは、図３（ａ）の、経年劣化の影響を受けてカードＣの磁気ストライプＣＳに記録されている磁化の状態が弱まり、これにより得られる磁気データの出力（振幅値）が全体的に小さくなった磁気データが得られた場合であると考えられる。かかる場合、出力が全体的に正常時の磁気データと比べて小さくなっているため、カードリーダライタのヘッド感度を引き上げる、若しくはアンプ部で振幅を増幅させることで、この小さくなっている出力を読み取ることが出来る。
【００４４】
なお、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断したならば（Ａｃｔ５０３のＹｅｓ）、ヘッド感度を上げる指令を待機することなく、読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げてもよい（Ａｃｔ５１３）。すなわち、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断したならば、Ａｃｔ５１２の処理を省略して自動的にヘッド感度を上げてもよい。
【００４５】
Ａｃｔ５１３にて、ＣＰＵ１００は、カードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げた後、再度、操作者によりカードＣがスライド溝２４にてスライド操作されることを待機し、スライド操作されたことをきっかけに再読取が実行される（Ａｃｔ５１４）。
【００４６】
ここで、ＣＰＵ１００は読取が出来たか否かを判断し（Ａｃｔ５１５）、カード情報の読取が出来た場合は（Ａｃｔ５１５のＹｅｓ）、読取時の設定をＲＡＭ１０２などの記憶部に記憶する（Ａｃｔ５１６）。これにより、一度読み取りエラーとなってヘッド感度の設定が変更されていた場合は、変更後のヘッド感度の値に更新される。その後、通常の決済処理を実行する（Ａｃｔ５１７）。一方で、カード情報の読取ができなかった場合は、そのまま読取不能として終了する（Ａｃｔ５１８）。
【００４７】
なお、ＣＰＵ１００は、磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を変更することなく、再読取を待機して再読取の操作がなされたことを検知した場合に読み取りが出来たか否かを判断することも可能である。すなわちＡｃｔ５１２のＮｏの処理にて、その後のフローチャートの処理を継続することもできる。
【００４８】
以上、本実施形態のカード処理端末によると、カードリーダライタが読み取った磁気データと基準データとを比較し、この比較結果に応じてその後の磁気データの読取に関する設定を変更するので、経年劣化により磁気ストライプの磁化が弱まったことによる振幅値の減少による読取エラー又は磁気ストライプの一部欠けによる読取エラーのそれぞれに対応することが可能となる。
【００４９】
また、タッチパネルなどを介して読取に関する設定の変更入力があった場合に、読取に関する設定を変更するように構成したので、操作者によるスライド操作が不十分であったことに起因する読取エラーの場合において、読取に関する設定を変更することなく対応することが出来る。
【００５０】
また、本実施形態のカード処理端末によると、カード情報読取のための閾値を変更した場合やカード情報読取のためのカードリーダライタのヘッド感度を変更した場合は、この変更後の設定を記憶して更新する。このため、その後の読取の際に再度、読取設定の調整を要することなく変更後の読取に関する設定でカード情報読取を実行することが可能となる。
【００５１】
以上、本発明の実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００５２】
１ カード処理端末
２０ ディスプレイ
２１ タッチパネル
２２ カードリーダライタ
２２ａ 磁気ヘッド
２４ スライド溝
１００ ＣＰＵ
１０１ ＲＯＭ
１０２ ＲＡＭ
１０４ 通信Ｉ／Ｆ
Ｆ１ スライド方向
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、各種カードに記憶された情報を読み取るカードリーダライタを備えたカード処理端末に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、各種の情報が記憶されたカードがスライドされるスライド溝を有し、このスライド溝内をカードがスライドされることにより、カードから情報を読み取る読取ヘッドを備えたカード処理端末が広く知られている。カード処理端末は、読取ヘッドから読み取った情報を用いて種々の情報処理を実行する。
【０００３】
この種のカード処理端末は、例えば、商品の販売を行う店舗において、ＰＯＳ（Ｐｏｉｎｔ ｏｆ ｓａｌｅｓ）端末、ＥＣＲ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｃａｓｈ Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）端末等に組み込まれ、または接続されて商品購入時のカード決済の場面に利用されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１５７４３６公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記のカード処理端末において、長年カードを使用することにより、経年劣化が生じてカード情報を記憶する磁気ストライプ部分の磁化が弱くなり、これによりカード情報読取の際に得られる出力が全体的に小さくなりカード読取エラーとなってしまうおそれがある。
【０００６】
また、操作者はスライド溝にカードを挿入し、スライドをさせ、読取ヘッドにてカードが有するカード情報を読み取らせる。このため、何度もカードを使用することにより、カード処理端末とカードとがこすれることで少なからずカード情報を有する磁気ストライプ等にキズや損傷が生じる。かかる場合、カード情報読取の際に、キズや損傷のある磁気ストライプ部分から得られる一部の出力が小さくなり、カード読取エラーとなってしまうおそれがある。この場合、上記した経年劣化にまつわる出力低下が原因の読取エラーとは異なるため、読み取り時の出力を全体的に増幅させたとしてもカード読取がうまくいくとは限らない。
【０００７】
このように、キズや損傷があるカード若しくは磁化が弱くなったカードなどを使用する場合、その読取エラー発生原因に応じた形でカード読取に関する読取設定の対策を講じる必要が求められている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の実施形態にかかるカード処理端末は、磁気媒体に記録された磁気データを読み取る読取部と、前記磁気媒体の基準データを記憶する記憶部と、前記読取部で読み取った磁気データと前記基準データとを比較する比較部と、この比較部の比較結果に基づいて、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更する設定変更部と、を備えることを特徴とするカード処理端末。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施形態に係るカード処理端末の外観を示す図。
【図２】本実施形態に係るカード処理端末の電気的接続を示すブロック図。
【図３（ａ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図（正常時）。
【図３（ｂ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図。
【図４（ａ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図（正常時）。
【図４（ｂ）】本実施形態に係るカード処理端末が読み取った読取波形を示す図。
【図５】本実施形態に係るカード処理端末の制御部が実行する制御処理を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態に係るカード処理端末の一実施形態を詳細に説明する。本実施形態では、カードから読み取った情報を用いて商品の代金を決済するカード処理端末を一例として説明を行う。
【００１１】
図１は、本実施形態に係るカード処理端末１の外観を示す図である。このカード処理端末１は、本体ユニットＡと表示ユニットＢとで構成される。表示ユニットＢは、背面側のヒンジ部２によって本体ユニットＡに対し取り付けられている。このヒンジ部２を軸として、表示ユニットＢは、図１中の矢印Ｐの示す方向に向けて本体ユニットＡから開閉する。
【００１２】
表示ユニットＢの上面には、ディスプレイ２０、タッチパネル２１、および突出部２３等が設けられている。ディスプレイ２０は、その表示面がカード処理端末１の正面側に向くように設けられ、商品の販売に関する情報等を選択的に表示する。タッチパネル２１は、ディスプレイ２０の表示面上に設けられ、ディスプレイ２０に表示された表示内容へのタッチ操作を検出する。
【００１３】
突出部２３は、図１のカード処理端末１を正面側から見た右方に設けられている。突出部２３と表示ユニットＢの本体との間には、スライド溝２４が形成される。表示ユニットＢを閉じた際には、突出部２３が設けられた側の表示ユニットＢ本体の側壁と、本体ユニットＡの側壁とが同一平面上に位置する。したがって、表示ユニットＢが閉じられた状態においては、スライド溝２４の延長線と本体ユニットＡの筐体面とが交わらず、スライドされる長方形状のカードＣが本体ユニットＡの筐体と接触することはない。
【００１４】
カードリーダライタ２２を構成する磁気ヘッド２２ａは、スライド溝２４の内部に設けられている。磁気ヘッド２２ａは、カードＣがスライド溝２４に沿って図１に示す方向Ｆ１にスライド操作されることでカードＣの磁気ストライプＣＳに記憶されている情報を読み取りあるいはカードへの情報の書き込みを行う。
【００１５】
本体ユニットＡの筐体には、カード処理端末１への電源供給をオン又はオフする電源スイッチ１０やカード受部１１，１２等が設けられている。カード受部１１，１２は、本体ユニットＡと一体形成されておらず、別部材にて形成され、接着剤等の取り付け手段によって本体ユニットＡに取り付けられている。なお、接着剤に限らず、本体ユニットＡにカード受部１１，１２を取り付けるための溝を設け、この溝にカード受部１１，１２を嵌め合わせること等で取り付けてもよい。
【００１６】
カード受部１１は、スライド溝２４に対してカードＣが挿入される端部側に設けられ、カード受部１２は、スライド操作されたカードＣがスライド溝２４から抜け出る側の端部に設けられている。
【００１７】
図２はカード処理端末１の電気的接続を示すブロック図である。カード処理端末１には、制御手段として機能するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１００が内蔵されている。このＣＰＵ１００に対し、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１０１，ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１０２，時計回路１０３，通信Ｉ／Ｆ１０４、表示コントローラ１０５、入力コントローラ１０６、カードリーダコントローラ１０７、及びプリンタコントローラ１０８等がアドレスバスやデータバス等のバスライン１１０を介して接続されて、制御回路が構成されている。
【００１８】
ＣＰＵ１００は、ＲＯＭ等に記憶されたプログラムを実行してカード処理端末１を用いたカード処理等の動作を制御する。また、ＣＰＵ１００は、バスを介してＣＰＵ１００に接続された各部を制御する。
【００１９】
ＲＯＭ１０１は、カード処理端末１に業務モード，集計モード，設定モード、及び練習モード等の動作モードを実現させる各種アプリケーションファイル及びデータベースと、が主として記憶されている。
【００２０】
業務モードは、取引情報の入力を受け付け、入力された取引情報に基づいて商取引をカード決済する動作モードである。集計モードは、営業日の売上実績に基づいて規定の勘定項目を集計処理する、いわゆる日計処理を行う動作モードである。勘定項目は、例えば１日の取引件数、総取引金額、商品の部門別の取引件数及び取引金額、金券の使用金額等である。前記設定モードは、カード処理端末１の動作に関する各種設定を行う動作モードである。練習モードは、カード処理端末１の操作についてオペレータを訓練するために、各処理のシミュレーションを行う動作モードである。
【００２１】
ＲＡＭ１０２には、処理場面に応じて各種の作業用記憶領域が形成される。例えば、操作者によりカードＣがスライド溝にてスライド操作されることにより得たカード情報を一時記憶するエリアが形成されている。カード情報は、デコーダーによりデコードされる前は、磁気データであり、この磁気データをデコーダーにてデコードすることで所定のカード情報を取得する。
【００２２】
時計回路１０３は、カード処理端末１で使用するシステムの日時を計時する。通信Ｉ／Ｆ１０４は、本実施形態における通信手段として機能するものであり、通信ケーブル１５を介して行われる前記ストアサーバや管理センタとの通信を制御する。
【００２３】
表示コントローラ１０５は、ディスプレイ２０の画面表示を制御する。タッチパネル２１は、例えば抵抗膜方式のタッチパネルであり、ユーザが指先やタッチペンにて接触操作した位置に応じた電気信号を出力する。入力コントローラ１０６は、タッチパネル２１から出力される電気信号に基づいて接触位置座標を算出し、ＣＰＵ１００に通知する。
【００２４】
カードリーダコントローラ１０７は、カードリーダライタ２２に設けられている磁気ヘッド２２ａによる磁気カードの読取タイミングを制御し、カードリーダライタ２２が読み取ったカード情報をＣＰＵ１００に通知する。
【００２５】
レシートプリンタ２５は、カード処理端末１の本体Ａ側に設けられている。熱転写により感熱紙等のレシート用紙に文字又は図形からなるパターンを形成させる、いわゆるサーマルプリンタである。プリンタコントローラ１０８は、ＲＡＭ１０２に作成される印字データに基づいてレシートプリンタ２５を駆動し、レシート用紙やジャーナル用紙に印字する。
【００２６】
電源回路２６は、電源スイッチ１０がオンされたことに応じて商用交流電源等の外部電源またはバッテリから電力を取り込み、本体ユニットＡおよび表示ユニットＢの各部に供給する。
【００２７】
アンプ部２７は、スライド操作されることにより得たカード情報である磁気情報の磁化波形を必要に応じて増幅させるための回路である。アンプ部２５は、ＣＰＵ１００の制御により駆動する。
【００２８】
デコード部２８は、スライド操作されることにより得たカード情報である磁気情報をデコードする。
【００２９】
次に、図３（ａ）、（ｂ）、図４（ａ）、（ｂ）を用いて、所定の情報を記録したカードＣがスライド操作されることにより得られる磁気データ（波形）について説明する。
【００３０】
図３（ａ）は、カードＣの磁気ストライプＣＳに記録されている磁化の状態が正常である場合の一例であり、このカードＣがスライド溝２４でスライド操作されることで得られる磁気データ（波形）を示した図である。
【００３１】
図３（ｂ）は、経年劣化の影響を受けてカードＣの磁気ストライプに記録されている磁化の状態が弱まり、これにより得られる磁気データの出力が弱まった状態を示した図である。図３（ａ）と図３（ｂ）とを比較すると図３（ｂ）から得られる振幅値が振幅値Ａ（ピーク値Ｐとピーク値Ｐ´の差分）の分だけ全体的に小さくなっていることがわかる。
【００３２】
次に、図４（ａ）は、カードＣの磁気ストライプＣＳに記録されている磁化の状態が正常である場合の一例であり、このカードＣがスライド操作されることにより得られる磁気データ（波形）を示した図である。なお、図４（ａ）は、磁気ストライブの一部がキズを受けていない状態とキズを受けている状態とを説明するために、図３（ａ）に示す波形とは異なる波形の例を用いて表現している。図４（ｂ）は、磁気ストライプの一部がキズを受けたカードＣから得られる磁気データの出力を示した図である。図４（ａ）と図４（ｂ）とを比較すると図４（ｂ）から得られる出力の一部（図４（ｂ）の破線丸括弧箇所Ｓ）が正常時の磁気データと比べて小さくなっていることがわかる。
【００３３】
図５は、ＣＰＵ１００が実行する処理を示すフローチャートである。カード処理端末１のＣＰＵ１００は、電源スイッチ１０がオンされたことを検出すると、システムを起動し、ネットワークに接続されたＰＯＳ端末から決済処理に関する情報が送信されることを待機する。決済処理に関する情報とは、例えば、購入商品の合計金額に関する情報、カード情報取得命令、クレジット決済命令、デビット決済命令等がある。
【００３４】
ＣＰＵ１００は、ＰＯＳ端末から通信Ｉ／Ｆ１０４を介して決済処理に関する情報を受信すると、操作者によりカードＣがスライド溝２４に沿ってスライドされ、カードリーダライタ２２を構成する磁気ヘッド２２ａにてカードＣの磁気ストライプＣＳに記憶されているカード情報の読み取りあるいは書き込みが行われたかを検出する（Ａｃｔ５０１）。
【００３５】
次に、カードＣがスライド溝２４に沿ってスライド方向Ｆ１に向けてスライドされ、磁気ヘッド２２ａによりカード情報の読み取りが正常に実行されたことを検出すると（Ａｃｔ５０２のＹｅｓ）、通常処理を実行する。ここで、通常処理とは、例えば、ＣＰＵ１００がプリンタユニットの印字部を駆動させて、領収書を印字発行させる。そして、領収書の印字発行が終了すると、ＰＯＳ端末に対して領収書を発行した旨の通知及びカードＣは第１方向Ｆ１にてスライドされた旨の情報を送信する等の処理を意味する。
【００３６】
一方、Ａｃｔ５０２にて、カードＣがスライド溝２４に沿ってスライド操作されたが、磁気ヘッド２２ａによりカード情報の読み取りが出来なかったことを検出すると（Ａｃｔ５０２のＮｏ）、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データと比較して小さいか否かを判断する（Ａｃｔ５０３）。ここで、ＣＰＵ１００にて、カードＣから得られた磁気データの振幅値が小さいか大きいか否かの判断は、予めＲＯＭ１０１等に記憶されている磁気媒体の読取が正常であるか否かの基準となる基準データに基づいて行なわれる。基準データは、例えば、正常な状態の磁気データの振幅値、波形データ、若しくは正常か否かの判断に用いる閾値（値）等である。
【００３７】
Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも大きいと判断した場合（Ａｃｔ５０３のＮｏ）、ＣＰＵ１００は、磁気データ読取のための閾値を変更するか否かの判断を行う（Ａｃｔ５０４）。
【００３８】
タッチパネルを介して操作者から閾値変更の入力を待機し、閾値変更の入力があった場合は（Ａｃｔ５０４のＹｅｓ）、磁気データ読取のための閾値を下げる処理を実行する（Ａｃｔ５０５）。
【００３９】
なお、Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも大きいと判断した場合とは、図４（ｂ）に示すような全体の振幅値は小さくなってはいないが、局所的に一部の振幅値が小さくなった波形が得られた場合である。すなわち、この場合、磁気ストライプの一部がキズを受けたカードＣが読取に使用されていると考えられる。かかる場合、出力（振幅値）の一部が正常時の磁気データと比べて小さくなっているため、読取のための閾値を現在設定されている閾値より引き下げることで、この小さくなっている出力（振幅値）の一部を読み取ることが出来る。
【００４０】
Ａｃｔ５０５の処理の後、再度、操作者によりカードＣがスライド溝にてスライド操作されることを待機し、スライド操作されたことをきっかけにＣＰＵ１００はカードリーダライタ２２を介して再読取を実行する（Ａｃｔ５０６）。ここで、ＣＰＵ１００は読取が出来たか否かを判断し（Ａｃｔ５０７）、カード情報の読取が出来た場合は（Ａｃｔ５０７のＹｅｓ）、読取時の設定をRAM１０２などの記憶部に記憶する（Ａｃｔ５０８）。これにより、Ａｃｔ５０２のカードＣ読み取り時に一度読み取りエラーとなっており、Ａｃｔ５０５の処理にて閾値の設定が変更されていた場合は、閾値変更後の値に更新される。その後、通常の決済処理を実行する（Ａｃｔ５０９）。一方、Ａｃｔ５０７にて、カード情報の読取ができなかった場合（Ａｃｔ５０７のＮｏ）は、そのまま読取不能として終了する（Ａｃｔ５１１）。
【００４１】
なお、Ａｃｔ５０４にて読取のための閾値を変更することなく再度読取を実行させることも可能である（Ａｃｔ５０４のＮｏの処理）。すなわち、この場合、閾値の設定変更を行わずカード情報の再読取が実行される。つまり、カード情報読取の際に読み取りエラーとなった場合、すぐに閾値の設定が変更されるわけではなく、例えば操作者から閾値設定変更の入力がされたことを検知して閾値を変更するように構成されている。
【００４２】
一方、Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断したならば（Ａｃｔ５０３のＹｅｓ）、読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる指令を待機する（Ａｃｔ５１２）。「磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる指令を待機する」とは、例えば、操作者から磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる設定変更がなされることを意味する。読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる指令があった場合（Ａｃｔ５１２のＹｅｓ）、ＣＰＵ１００は読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げる（Ａｃｔ５１３）。
【００４３】
なお、Ａｃｔ５０３にて、ＣＰＵ１００が、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断した場合とは、図３（ａ）の、経年劣化の影響を受けてカードＣの磁気ストライプＣＳに記録されている磁化の状態が弱まり、これにより得られる磁気データの出力（振幅値）が全体的に小さくなった磁気データが得られた場合であると考えられる。かかる場合、出力が全体的に正常時の磁気データと比べて小さくなっているため、カードリーダライタのヘッド感度を引き上げる、若しくはアンプ部で振幅を増幅させることで、この小さくなっている出力を読み取ることが出来る。
【００４４】
なお、ＣＰＵ１００は、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断したならば（Ａｃｔ５０３のＹｅｓ）、ヘッド感度を上げる指令を待機することなく、読取部であるカードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げてもよい（Ａｃｔ５１３）。すなわち、カードＣから得られた磁気データである波形の振幅値が基準データよりも小さいと判断したならば、Ａｃｔ５１２の処理を省略して自動的にヘッド感度を上げてもよい。
【００４５】
Ａｃｔ５１３にて、ＣＰＵ１００は、カードリーダライタ２２の磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を上げた後、再度、操作者によりカードＣがスライド溝２４にてスライド操作されることを待機し、スライド操作されたことをきっかけに再読取が実行される（Ａｃｔ５１４）。
【００４６】
ここで、ＣＰＵ１００は読取が出来たか否かを判断し（Ａｃｔ５１５）、カード情報の読取が出来た場合は（Ａｃｔ５１５のＹｅｓ）、読取時の設定をＲＡＭ１０２などの記憶部に記憶する（Ａｃｔ５１６）。これにより、一度読み取りエラーとなってヘッド感度の設定が変更されていた場合は、変更後のヘッド感度の値に更新される。その後、通常の決済処理を実行する（Ａｃｔ５１７）。一方で、カード情報の読取ができなかった場合は、そのまま読取不能として終了する（Ａｃｔ５１８）。
【００４７】
なお、ＣＰＵ１００は、磁気ヘッド２２ａのヘッド感度を変更することなく、再読取を待機して再読取の操作がなされたことを検知した場合に読み取りが出来たか否かを判断することも可能である。すなわちＡｃｔ５１２のＮｏの処理にて、その後のフローチャートの処理を継続することもできる。
【００４８】
以上、本実施形態のカード処理端末によると、カードリーダライタが読み取った磁気データと基準データとを比較し、この比較結果に応じてその後の磁気データの読取に関する設定を変更するので、経年劣化により磁気ストライプの磁化が弱まったことによる振幅値の減少による読取エラー又は磁気ストライプの一部欠けによる読取エラーのそれぞれに対応することが可能となる。
【００４９】
また、タッチパネルなどを介して読取に関する設定の変更入力があった場合に、読取に関する設定を変更するように構成したので、操作者によるスライド操作が不十分であったことに起因する読取エラーの場合において、読取に関する設定を変更することなく対応することが出来る。
【００５０】
また、本実施形態のカード処理端末によると、カード情報読取のための閾値を変更した場合やカード情報読取のためのカードリーダライタのヘッド感度を変更した場合は、この変更後の設定を記憶して更新する。このため、その後の読取の際に再度、読取設定の調整を要することなく変更後の読取に関する設定でカード情報読取を実行することが可能となる。
【００５１】
以上、本発明の実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００５２】
１ カード処理端末
２０ ディスプレイ
２１ タッチパネル
２２ カードリーダライタ
２２ａ 磁気ヘッド
２４ スライド溝
１００ ＣＰＵ
１０１ ＲＯＭ
１０２ ＲＡＭ
１０４ 通信Ｉ／Ｆ
Ｆ１ スライド方向
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気媒体に記録された磁気データを読み取る読取部と、
前記磁気媒体の基準データを記憶する記憶部と、
前記読取部で読み取った磁気データと前記基準データとを比較する比較部と、
この比較部の比較結果に基づいて、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更する設定変更部と、
を備えることを特徴とするカード処理端末。
【請求項２】
前記記憶部が記憶する基準データは磁気データに関する振幅値であり、
前記比較部は、前記読取部が読み取った磁気データと前記基準データである前記振幅値とを比較し、
前記設定変更部は、前記比較部で前記読取部にて読み取られた磁気データが前記基準データである前記振幅値よりも小さいと判定された場合、前記読取部の読取感度を変更することを特徴とする請求項１に記載のカード処理端末
【請求項３】
前記記憶部が記憶する基準データは磁気データに関する振幅値であり、
前記比較部は、前記読取部が読み取った磁気データと前記基準データである前記振幅値とを比較し、
前記設定変更部は、前記比較部で前記読取部にて読み取られた磁気データが前記基準データである前記振幅値よりも大きいと判定された場合、前記磁気データ読取のための閾値を変更することを特徴とする請求項１に記載のカード処理端末
【請求項４】
操作入力を受け付ける受付部と、をさらに備え、
前記設定変更部は、前記受付部からの操作入力があった場合に、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一つに記載のカード処理端末。
【請求項５】
前記記憶部は、前記設定変更部で前前記読取部の読取感度が変更された場合に、この変更後の前記読取部の読取感度を記憶することを特徴とする請求項２又は４に記載のカード処理端末。
【請求項６】
前記記憶部は、前記設定変更部で前記磁気データ読取のための閾値が変更された場合に、この変更後の前記磁気データ読取のための閾値を記憶することを特徴とする請求項３又は４に記載のカード処理端末。
【請求項１】
磁気媒体に記録された磁気データを読み取る読取部と、
前記磁気媒体の基準データを記憶する記憶部と、
前記読取部で読み取った磁気データと前記基準データとを比較する比較部と、
この比較部の比較結果に基づいて、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更する設定変更部と、
を備えることを特徴とするカード処理端末。
【請求項２】
前記記憶部が記憶する基準データは磁気データに関する振幅値であり、
前記比較部は、前記読取部が読み取った磁気データと前記基準データである前記振幅値とを比較し、
前記設定変更部は、前記比較部で前記読取部にて読み取られた磁気データが前記基準データである前記振幅値よりも小さいと判定された場合、前記読取部の読取感度を変更することを特徴とする請求項１に記載のカード処理端末
【請求項３】
前記記憶部が記憶する基準データは磁気データに関する振幅値であり、
前記比較部は、前記読取部が読み取った磁気データと前記基準データである前記振幅値とを比較し、
前記設定変更部は、前記比較部で前記読取部にて読み取られた磁気データが前記基準データである前記振幅値よりも大きいと判定された場合、前記磁気データ読取のための閾値を変更することを特徴とする請求項１に記載のカード処理端末
【請求項４】
操作入力を受け付ける受付部と、をさらに備え、
前記設定変更部は、前記受付部からの操作入力があった場合に、前記磁気媒体の読取に関する設定を変更することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一つに記載のカード処理端末。
【請求項５】
前記記憶部は、前記設定変更部で前前記読取部の読取感度が変更された場合に、この変更後の前記読取部の読取感度を記憶することを特徴とする請求項２又は４に記載のカード処理端末。
【請求項６】
前記記憶部は、前記設定変更部で前記磁気データ読取のための閾値が変更された場合に、この変更後の前記磁気データ読取のための閾値を記憶することを特徴とする請求項３又は４に記載のカード処理端末。
【図１】
【図２】
【図３（ａ）】
【図３（ｂ）】
【図４（ａ）】
【図４（ｂ）】
【図５】
【図２】
【図３（ａ）】
【図３（ｂ）】
【図４（ａ）】
【図４（ｂ）】
【図５】
【公開番号】特開２０１３−７３２９３（Ｐ２０１３−７３２９３Ａ）
【公開日】平成２５年４月２２日（２０１３．４．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２１０１１６（Ｐ２０１１−２１０１１６）
【出願日】平成２３年９月２７日（２０１１．９．２７）
【出願人】（０００００３５６２）東芝テック株式会社 (5,631)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月２２日（２０１３．４．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年９月２７日（２０１１．９．２７）
【出願人】（０００００３５６２）東芝テック株式会社 (5,631)
【Ｆターム（参考）】
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