説明

ガス流量絞りユニット、流量調節システム、分析計、及びガス流量絞りユニットの調整方法

【課題】水素ガス等の低分子ガスであっても簡便に精密な流量調節が可能で、しかも特段の設置場所を要さないガス流量絞りユニット、また、このガス流量絞りユニットを用いた流量調節システム、分析計、及びこのガス流量絞りユニットの簡便な調整方法を提供する。
【解決手段】貫通孔11を有する本体10と、雄ネジ21を有する調節ネジ20を備え、
前記貫通孔11は、一端側に前記調節ネジが螺合する雌ネジ部11aを有し、かつ該雌ネジ部11aに隣接する中継部11cの口径が前記調節ネジ20の雄ネジ21の外径より小さいことを特徴とするガス流量絞りユニット。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、ガス流量絞りユニット、特に水素ガス等、低分子ガスの流量調節に適したガス流量絞りユニットに関する。また、このガス流量絞りユニットを用いた流量調節システム、分析計、及びガス流量絞りユニットの調整方法に関する。
【背景技術】
【0002】
分析計、特にガス分析計の分野では、ガスの流量を一定に制御することが求められている。例えば、ガスクロマトグラフ装置のキャリヤガスや、水素炎イオン化検出器(FID)に供給する水素ガス等の流量を制御することは、正確な分析を行う上で重要である。
そこで、従来から様々な流量調節機構が提案されている。例えば、特許文献1には、ガス流出口に対して円錐状の突起を有するプランジャを進退させ、ガス流出口の開口面積を調整することによって流量を制御する流量制御弁が開示されている。
また、特許文献2には、流量調節用のキャピラリーが開示されている。キャピラリーは流路抵抗が大きいため、その内部にガスを通過させることにより、その流量を低下させることができる。この場合、流量の調節はキャピラリーの長さを調整することにより行う。
また、細い貫通孔が形成された円筒部材の貫通孔にピンを打ち込み、貫通孔とピンとの隙間をガス流路とすることにより流量を低下させる流量絞りも知られている。この場合、貫通孔に対するピンの打ち込み量により流量の調節を行っている。
【特許文献1】特開平8−271492号公報
【特許文献2】特開2000−9601号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
しかし、特許文献1のように。プランジャの進退で流量を調節する流量制御弁によって、水素ガス等の流量調節を行おうとすると、極僅かにプランジャを後退させただけで、大きく流量が増大してしまう。そのため、分子量の小さいガスの流量調節は、事実上できなかった。
また、特許文献2のようなキャピラリーを用いた場合、水素ガス等の流量調節には長いキャピラリーが必要であり、コイル状に巻くなどしてもある程度の設置場所を要するものであった。また、流量の調節は長さを徐々に短くしながら試行錯誤的に行わなければならず、一旦短くしすぎるともはや使用することができない。そのため、キャピラリーを用いて所望の流量を得ることは、非常に時間を要するものであった。
また、円筒部材とピンを用いた流量絞りでは、貫通孔に対するピンの打ち込み量は、円筒部材とピンを配管中からはずさなければ調整できない。そのため、流量の調節は、打ち込み量を適当に設定して配管に取付け、所望の流量でなければ、再度取り外して打ち込み量を変えるという繰り返しが必要である。また、少しずつ打ち込み量を多くすることはできても、少しずつ打ち込み量を減らすことは困難である。そのため、打ち込みすぎた場合は、最初から調整をやり直さなければならなかった。したがって、この流量絞りを用いて所望の流量を得ることも、非常に時間を要するものであった。
【0004】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、水素ガス等の低分子ガスであっても簡便に精密な流量調節が可能で、しかも特段の設置場所を要さないガス流量絞りユニット、また、このガス流量絞りユニットを用いた流量調節システム、分析計、及びこのガス流量絞りユニットの簡便な調整方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
上記の課題を達成するために、本発明は以下の構成を採用した。
[1]貫通孔を有する本体と、雄ネジを有する調節ネジを備え、
前記貫通孔は、一端側に前記調節ネジが螺合する雌ネジ部を有し、かつ該雌ネジ部に隣接する部分の口径が前記調節ネジの雄ネジの外径より小さいことを特徴とするガス流量絞りユニット
[2]前記調節ネジが、前記本体への挿入後端側に有底の角穴を有する[1]に記載のガス流量絞りユニット。
【0006】
[3]ガス供給源の下流側に設けられる減圧弁と、該減圧弁の下流側に設けられる[1]又は[2]に記載のガス流量絞りユニットと、を備えることを特徴とする流量調節システム。
[4][3]に記載の流量調節システムと、該流量調節システムの下流側に設けられた水素炎イオン化検出器とを備え、前記流量調節システムにより流量を調節されるガスが水素ガスであることを特徴とする分析計。
[5]さらに、分離カラムを有し、前記水素炎イオン化検出器に前記分離カラムの流出端が接続されている[4]に記載の分析計。
[6][1]又は[2]に記載のガス流量絞りユニットの調整方法であって、ガス供給源の下流側に減圧弁と流量計と前記ガス流量絞りユニットの本体とを順次接続し、前記流量計の測定値が所定の流量となるように前記本体に前記調節ネジをねじ込むことを特徴とするガス流量絞りユニットの調整方法。
【発明の効果】
【0007】
[1]の発明では、本体の貫通孔における雄ネジの外径より小さい部分に調節ネジがねじ込まれる度合いによって本体と調節ネジとの密着の程度が調整できる。そのため、水素ガス等の低分子ガスであっても精密かつ簡便に流量絞りが可能である。しかも、配管中にの僅かな場所に設置できる。
[2]の発明では、調節ネジが角穴を有するので、レンチ等を用いたねじ込みが可能である。
[3]の発明では、水素ガス等の低分子ガスであっても精密かつ簡便に流量調節が可能である。
[4]又は[5]の発明では、水素炎イオン化検出器に供給する水素ガス流量を精密かつ簡便に調節できるので、感度の高い分析計とすることができる。
[6]の発明によれば、配管に接続したまま実際にガスを流してガス流量絞りユニットの調整を行えるので、精密かつ簡便にガス流量絞りユニットを調整できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
[ガス流量絞りユニット]
本発明に係るガス流量絞りユニットの一実施形態を、図1を参照しつつ説明する。図1(a)に示すように、本実施形態のガス流量絞りユニット1は本体10と調節ネジ20とから構成されている。
本体10は貫通孔11と、一端側の周面に設けられた雄ネジ12と、他端側の周面に設けられた雄ネジ13とを有している。貫通孔11は、雄ネジ12側が雌ネジ部11a、他端側が配管挿入部11bとされ、雌ネジ部11aと配管挿入部11bとの間が中継部11cとされている。配管挿入部11bの口径は中継部11cの口径より大きく、配管挿入部11bと中継部11cの口径差により、配管を挿入する際の位置決めが容易となっている。
調節ネジ20は、周面に雌ネジ部11aと螺合する雄ネジ21を有し、一端側に断面6角形の有底の角穴22が軸方向に設けられている。雄ネジ21の外径は貫通孔11の中継部11cの口径より若干大きくされている。すなわち、中継部11cの口径は雄ネジ21の外径より若干小さい。
【0009】
図1(b)に示すように、調節ネジ20を雌ネジ部11aに螺挿し、さらに進めて中継部11cの一部にまで螺挿した状態では、中継部11cの螺挿された部分は、調節ネジ20の雄ネジ21が食い込んだねじ切り部11dとなる。
本実施形態では、調節ネジ20が本体10より剛性の材質とされている。これにより、ねじ切り部11dの形成が容易となる。例えば本体10を真鍮製、調節ネジ20をステンレス鋼製とすることができる。また、本体10をステンレス鋼(SUS304)製、調節ネジ20をステンレス鋼(SUS316)製としたりすることもできる。なお、ステンレス鋼(SUS304)より、ステンレス鋼(SUS316)の方が剛性である。
このねじ切り部11dでは、貫通孔11に対する調節ネジ20の密着性が高いため、水素ガスやヘリウムガス等の低分子ガスであっても、流通が制限される。これに対して、雄ネジ21が雌ネジ部11aに螺合している部分では、ガスは比較的自由に流通できる。
したがって、ねじ切り部11dの形成度合い、すなわち、調節ネジ20のねじ込み度合いにより、ガス流量の絞り加減を調節することができる。
調節ネジ20の本体10への螺挿は、角穴22にレンチを差し込むことにより、容易に行うことができる。
【0010】
ガス流量絞りユニット1は、例えば図2に示すようにして配管中に組み込むことができる。図2において、符号30は本体10に螺合する継手部材である。継手部材30は袋ナット部31と接続部32とからなり、袋ナット部31には本体10の雄ネジ12に螺合する雌ネジ33と中継孔34が設けられている。また、接続部32には、中継孔34と連通し、下流側配管L1が挿入される下流側配管挿入部35が設けられている。また、接続部32は、周面に雄ネジ36を有している。
また、符号40は継手部材30に螺合する袋ナットである。袋ナット40は、下流側配管L1が挿入される挿入孔41と、継手部材30の雄ネジ36と螺合する雌ネジ42を有している。そして、下流側配管L1を挿入孔41に挿入し、締め付け部材61をかませた状態で袋ナット40を締め付けることにより、下流側配管L1を継手部材30に取り付けられるようになっている。
また、符号50は本体10に螺合する袋ナットである。袋ナット50は、上流側配管L2が挿入される挿入孔51と、本体10の雄ネジ13と螺合する雌ネジ52を有している。そして、上流側配管L2を挿入孔51に挿入し、締め付け部材62をかませた状態で袋ナット50を締め付けることにより、上流側配管L2を本体10に取り付けられるようになっている。
【0011】
なお、本実施形態では、中継部11cの口径を一定としたが、中継部11cの口径が一定である必要はなく、例えば、中継部11cの配管挿入部11b側をさらに小さい口径としてもよい。
また、配管挿入部11bの口径を中継部11cの口径より大きくすることは必ずしも必要ではなく、配管挿入部11bの口径が中継部11cの口径と同一であってもよい。
また、本実施形態では、調節ネジ20を本体10より剛性の材質としたが、本体10の方が調節ネジ20より剛性の材質であってもよい。この場合、雄ネジ21の中継部11cに螺挿された部分が潰れるか摩耗することにより、貫通孔11に対する調節ネジ20の密着性が得られる。また、調節ネジ20と本体10との剛性が略同等であってもよい。この場合、雄ネジ21が貫通孔11に食い込みつつ雄ネジ21の中継部11cに螺挿された部分が潰れるか摩耗することにより、貫通孔11に対する調節ネジ20の密着性が得られる。
【0012】
[ガス流量絞りユニットの調整方法]
図3を用いて、ガス流量絞りユニット1の調整方法を説明する。図3に示すように、ガス入口150aからガスが導入される調整流路150上に、開閉弁SVA、減圧弁CVA、圧力計PA、流量計151、ガス流量絞りユニット1を順次接続する。ここで、ガス流量絞りユニット1は、本体10の配管挿入部11b側を上流側として接続する。
この図3の状態で、圧力計PAを見ながら減圧弁CVAを操作し、実際にガス流量絞りユニット1を使用する際と同等の圧力にまでガス流量絞りユニット1に供給されるガスの圧力を減圧する。そして、ガス流量絞りユニット1の本体10に調節ネジ20をねじ込んでいき、流量計151の測定値が所定の流量となったときにねじ込みを中止する。
なお、流量計151の測定値が所定の流量未満となってしまった際は、調節ネジ20を一旦緩め、その後再度ねじ込みを行う。
これにより、同等の圧力下で使用すれば、同等の流量にまでガス流量を絞れるように調整することができる。なお、この調整中、ガス流量絞りユニット1は恒温槽に入れ、実際にガス流量絞りユニット1を使用する際と同等の温度条件下におくことが好ましい。
【0013】
[分析装置]
図4は、本発明の分析計の一実施形態に係るガスクロマトグラフ装置で、本実施形態に係るガス流量絞りユニット1が組み込まれたものである。
図4のガスクロマトグラフ装置は、計量管Mに試料ガスである大気を導入するサンプリング状態と、計量管Mに導入した大気を分離カラムCに供給する分析状態とを切り換えて、大気中のメタンと、メタン以外の炭化水素(非メタン炭化水素)とを分離して測定するガスクロマトグラフ装置である。
なお、図4に示した各三方弁はいずれも電磁弁であり、図中白の三角で示したポートはオフのときのみに開となる常開ポート、図中黒の三角で示したポートはオンのときのみに開となる常閉ポート、図中白と黒の三角で示したポートは、オンオフにかかわらず開となる共通ポートである。また、図4に示した各二方弁はいずれも電磁弁であり、オンのときのみに2つのポートが連通する開閉弁である。
【0014】
本実施形態のガスクロマトグラフ装置は、キャリヤガス入口110aから排出口110bまでの主流路110を備えている。この主流路110には、キャリヤガス入口110a側から、減圧弁CV1、圧力計P1、三方弁SV1、計量管M、三方弁SV2、三方弁SV3、三方弁SV4、三方弁SV5、分離カラムC、三方弁SV6、三方弁SV7、検出器Dが順次設けられている。
三方弁SV1〜SV7は、いずれも共通ポートと常閉ポートを用いて主流路110に設けられており、三方弁SV1〜SV7の総てがオンのときに主流路110をキャリヤガスが通過できるようになっている。本実施形態では、図示しない制御装置により、三方弁SV1〜SV7の総てがオンとなる分析状態と、三方弁SV1〜SV7の総てがオフとなるサンプリング状態とを、交互に切り換えられるようになっている。
【0015】
主流路110には、第1バイパス111と、第2バイパス12と、第3バイパス113とが接続されている。第1バイパスは、圧力計P1の下流側であり三方弁SV1の上流側である位置と、三方弁SV3とを繋いで主流路110に接続されている。第2バイパスは、三方弁SV4と三方弁SV6とを繋いで主流路110に接続されている。第3バイパスは、三方弁SV5と三方弁SV7とを繋いで主流路110に接続されている。これら各バイパスは、いずれも各三方弁の常開ポートに繋がれている。
【0016】
また、三方弁SV2の常開ポートには試料ガス供給路114が繋がれている。試料ガス供給路114の上流側には、三方弁SV8を介して試料ガス導入路115とスパンガス導入路116とが繋がれている。試料ガス導入路115の上流端は試料大気入口115aとされている。試料大気入口115a近傍にはフィルター115bが設けられており、粉塵等が取り除かれた状態で試料ガス供給路114に大気を供給できるようになっている。スパンガス導入路116の上流端はスパンガス入口116aとされている。本実施形態のガスクロマトグラフ装置は、大気中のメタンと、メタン以外の炭化水素(非メタン炭化水素)とを測定するので、スパンガスとしては、メタンと非メタン(プロパン、オルト-キシレン等)を含むガスが通常使用される。
図示しない制御装置により、三方弁SV8は、通常はオフとされて試料ガス導入路115と試料ガス供給路114とを連通させ、校正時にはオンとされてスパンガス導入路116と試料ガス供給路114とを連通させるようになっている。
【0017】
また、三方弁SV1の常開ポートには試料ガス流出路117が繋がれている。試料ガス流出路には、二方弁SV11が設けられている。二方弁SV11は、三方弁SV1〜SV7の総てがオンとなるタイミング(分析状態)と同期して閉となり、三方弁SV1〜SV7の総てがオフとなるタイミング(サンプリング状態)と同期して開となるように、図示しない制御装置によって制御されている。
【0018】
検出器DはFIDである。そのため、検出器Dに水素を供給する燃料水素供給路120と、大気を供給する助燃ガス供給路130とを備えている。
燃料水素供給路120には、水素ガス入口120a側から、二方弁SV12、減圧弁CV2、圧力計P2、バッファー121、ガス流量絞りユニット1が設けられている。
減圧弁CV2で減圧された水素ガスの流れをガス流量絞りユニット1で絞ることによって、所定の流量の水素ガスを検出器Dに供給することができる。
【0019】
検出器Dへの所定流量の水素ガスの供給は具体的には以下のように行う。まず、図3を用いて説明した調整を減圧弁CV2による減圧と同等の減圧条件下で行い、ガス流量絞りユニット1を調整する。そして、この調整が完了したガス流量絞りユニット1を図4のように燃料水素供給路120に組み込み、助燃ガス供給路130から大気を供給しつつ所定の試料ガスを導入したときの検出器Dの出力を確認する。そして、水素ガスの流量が、助燃ガス供給路130から供給される大気の流量とバランスするように減圧弁CV2を微調整する。バランスが良好か否かは検出器Dの出力で判断できる。すなわち、検出器Dの出力が最大となるように減圧弁CV2を微調整する。
なお、ガス流量絞りユニット1は恒温槽内に配置され、図3を用いて説明した調整時と同じ温度条件下で使用されることが好ましい。
【0020】
ガス流量絞りユニット1は、図2を用いて説明したように、本体10の配管挿入部11bに上流側の配管を挿入し、調節ネジ20側から流出する水素ガスをFIDに導くように接続するのが好ましいが、本体10の配管挿入部11bに下流側の配管を挿入し、調節ネジ20側に減圧弁CV2からの水素ガスを供給するように接続してもよい。
なお、二方弁SV12は、電源断となったときに水素ガスの供給を遮断するための弁であり、電源が供給されガスクロマトグラフ装置が稼働中の間は開とされている。また、バッファー21は、電源断とされたとき、検出器Dへの水素の供給が急に停止しないようにするためのものである。
【0021】
助燃ガス供給路130の上流側には、二方弁SV13を介して助燃ガス導入路131が接続されている。助燃ガス導入路131の上流端は助燃ガス入口131aとされている。助燃ガス入口131a近傍にはフィルター131bが設けられており、粉塵等が取り除かれた状態で助燃ガス供給路130に大気を供給できるようになっている。また、助燃ガス供給路130には、二方弁SV13側から、ポンプ132、ドライヤ133、燃焼炉134、減圧弁CV3、圧力計P3が順次設けられている。ここで、ドライヤ133は大気中の水分を除くものであり、燃焼炉134は大気中の可燃成分を燃焼させるものである。ドライヤ133と燃焼炉134により、精製された大気が検出器Dに供給できるようになっている。
【0022】
二方弁SV13は、三方弁SV1〜SV7の総てがオンとなるタイミング(分析状態)と同期して開となり、三方弁SV1〜SV7の総てがオフとなるタイミング(サンプリング状態)と同期して閉となるように、図示しない制御装置によって制御されている。つまり、二方弁SV13は二方弁SV11が開のとき閉となり、二方弁SV11が閉のときに開となる。
したがって、二方弁SV11及び二方弁SV13は、協働してサンプリング状態のときに試料ガス流出路と助燃ガス供給路とを連通させ、分析状態のときに助燃ガス導入路と助燃ガス供給路とを連通させるように切り換える機能を有する。
【0023】
なお、本実施形態では、各流路は、アルミブロック中に形成され、このアルミブロックの表面等に各三方弁や二方弁等を配置するようにしている。そのため、各流路の長さを短くして、デッドボリュームを最小限に抑えることができる。また、各流路を配管で形成しなくても良いので、装置全体の小型化、低コスト化が可能である。
【0024】
本実施形態のガスクロマトグラフ装置は、以下の(1)サンプリング状態と(2)分析状態とを繰り返すことにより、大気中のメタンおよび非メタン一定間隔にて継続的に測定することができる。
【0025】
(1)サンプリング状態
サンプリング状態では、三方弁SV1〜SV7をオフとすると共に、二方弁SV11を開、二方弁SV12を開、二方弁SV13を閉とする。また、三方弁SV8はオフとしておく、
この状態では、大気がポンプ132の吸引力により試料大気入口115aから導入され、試料ガス導入路115、試料ガス供給路114、計量管M、試料ガス流出路117、助燃ガス供給路130の順に流れる。これにより、計量管M内の気体は新たに測定する大気に置換される。また、計量管Mを通過した大気が検出器Dに助燃ガスとして供給される。一方水素ガスが燃料水素供給路120を流れて検出器Dに供給される。
なお、試料ガス導入路115、試料ガス供給路114、計量管M、試料ガス流出路117内の大気の圧力は、ポンプ132の吸引力により大気圧未満となっている。次の(2)分析状態において、大気圧下で計量された大気を分離カラムCへと供給するためには、(2)分析状態への移行に先立って、二方弁SV11だけを開から閉とし、計量管M内の圧力を、予め大気圧としておくことが好ましい。
【0026】
また、キャリヤガスは各バイパスを経由して検出器Dに至る。具体的には、圧力計P1を通過した後第1バイパス111を流れ、サンプリング中の計量管Mを迂回して主流路110に戻る。
次に、第2バイパス112を流れ、三方弁SV6から三方弁SV5の方向に分離カラムCを流れ、次いで第3バイパス113を経由して主流路110に戻り検出器Dへと流れる。その結果、分離カラムCがバックフラッシュされ、前回の測定で吸着された成分が除去されて分析状態への移行が可能となる。
【0027】
(2)分析状態
分析状態では、三方弁SV1〜SV7をオンとすると共に、二方弁SV11を閉、二方弁SV12を開、二方弁SV13を開とする。また、三方弁SV8はオフとしておく、
これにより、大気がポンプ132の吸引力により助燃ガス入口131aから導入され、助燃ガス導入路131、助燃ガス供給路130の順に流れ、検出器Dに助燃ガスとして供給される。一方水素ガスが燃料水素供給路120を流れて検出器Dに供給される。すなわち、検出器Dへの助燃ガスと水素ガスの供給は、サンプリング状態か分析状態かにかかわらず継続される。
【0028】
また、キャリヤガスは、主流路110を流れ、計量管M内の大気を押し流しつつ、三方弁SV5から三方弁SV6の方向に分離カラムCを流れる。これにより、分離カラムCにより大気中の成分が分離される。分離された大気中の成分は、キャリヤガスと共に検出器Dに送られ、順次検出される。これにより、大気中のメタンと非メタンを分離して測定することができる。
【0029】
なお、三方弁SV8をオンとして試料大気に換えてスパンガスを導入するようにするほかは、上記(1)、(2)と同様にすれば、スパン構成を行うことができる。
スパン校正は、要求される測定精度等に応じて適宜のタイミングで行えばよい。
【0030】
本発明では、切換手段を総て電磁弁で構成しているので、キャリヤガスの圧力は、0.2MPa以下であることが好ましい。キャリヤガスの圧力は、分離カラムCの充填長が長いほど高圧とする必要があるので、分離カラムCの充填長は分離に支障のない範囲で短くすることが好ましい。
本実施形態のように、メタン及び非メタンを測定する場合、一般に、上流側の充填剤を珪藻土系の充填剤、下流側の充填剤をエチルビニルベンゼンとジビニルベンゼンの共重合体とすることが行われるが、これらの充填剤のさらに下流側に活性炭を充填することが好ましい。これにより、全体の充填長を短くしても良好な分離が可能となる。
【0031】
本実施形態では、サンプリング状態と分析状態の切換を総て電磁弁(三方弁又は二方弁)で構成したが、10方弁等の多方弁を使用してもよい。また、本実施形態の計量管に換えて濃縮管を用いてもよい。
また、本実施形態では、分離カラムを有するガスクロマトグラフ装置としたが、本発明の分析計は、分離カラムのないものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【0032】
【図1】本発明の一実施形態に係るガス流量絞りユニットの、(a)は分解状態、(b)は組み立て状態を示す縦断面図である。
【図2】本発明の一実施形態に係るガス流量絞りユニットを配管に組み込んだ状態を示す縦断面図である。
【図3】本発明の一実施形態に係るガス流量絞りユニットを調整する際の流路構成を示す概略構成図である。
【図4】本発明の分析計の一実施形態に係るガスクロマトグラフ装置の概略構成図である。
【符号の説明】
【0033】
1…ガス流量絞りユニット、10…本体、11…貫通孔、11a…雌ネジ部、
11b…配管挿入部、11c…中継部、12、13…雄ネジ、
20…調節ネジ、21…雄ネジ、22…角穴、
30…継手部材、40、50…袋ナット、61、62…締め付け部材、
150…調整流路、151…流量計、PA…圧力計、CVA…減圧弁、
110…主流路、111…第1バイパス、112…第2バイパス、
113…第3バイパス、114…試料ガス供給路、115…試料ガス導入路、
116…スパンガス導入路、117…試料ガス流出路、
120…燃料水素供給路、130…助燃ガス供給路、131…助燃ガス導入路、
132…ポンプ、SV1〜SV8…三方弁、SV11〜SV13…二方弁、
M…計量管、C…分離カラム、D…検出器


【特許請求の範囲】
【請求項1】
貫通孔を有する本体と、雄ネジを有する調節ネジを備え、
前記貫通孔は、一端側に前記調節ネジが螺合する雌ネジ部を有し、かつ該雌ネジ部に隣接する部分の口径が前記調節ネジの雄ネジの外径より小さいことを特徴とするガス流量絞りユニット。
【請求項2】
前記調節ネジが、前記本体への挿入後端側に有底の角穴を有する請求項1に記載のガス流量絞りユニット。
【請求項3】
ガス供給源の下流側に設けられる減圧弁と、該減圧弁の下流側に設けられる請求項1又は2に記載のガス流量絞りユニットと、を備えることを特徴とする流量調節システム。
【請求項4】
請求項3に記載の流量調節システムと、該流量調節システムの下流側に設けられた水素炎イオン化検出器とを備え、前記流量調節システムにより流量を調節されるガスが水素ガスであることを特徴とする分析計。
【請求項5】
さらに、分離カラムを有し、前記水素炎イオン化検出器に前記分離カラムの流出端が接続されている請求項4に記載の分析計。
【請求項6】
請求項1又は2に記載のガス流量絞りユニットの調整方法であって、ガス供給源の下流側に減圧弁と流量計と前記ガス流量絞りユニットの本体とを順次接続し、前記流量計の測定値が所定の流量となるように前記本体に前記調節ネジをねじ込むことを特徴とするガス流量絞りユニットの調整方法。



【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【公開番号】特開2007−147310(P2007−147310A)
【公開日】平成19年6月14日(2007.6.14)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−338470(P2005−338470)
【出願日】平成17年11月24日(2005.11.24)
【出願人】(000219451)東亜ディーケーケー株式会社 (204)
【Fターム(参考)】