説明

キーボード検査装置、およびキーボード検査方法

【課題】操作キーを押下した場合の操作キー周辺の沈み込みを含め、キーボード全体のキータッチ感を定量的に検査する装置、および方法を提供することを目的とする。
【解決手段】操作キーを押下する加圧手段と、押下された操作キーの荷重を計測する手段と、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測する手段と、良否判定手段とを備えたキーボード検査装置であって、変位計測手段は、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、良否判定手段は、操作キーの荷重が所定の値のときに、操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は操作キーのキータッチ感を検査するキーボード検査装置、およびキーボード検査方法に関し、特に、操作キーにタッチした場合のキーボード沈み込み等によるストロークの変化を含む、キータッチ感を検査する、キーボード検査装置、およびキーボード検査方法に関する。
【背景技術】
【0002】
ノートパソコン等では一般的に、キーボード上の、操作キー周辺の筐体上に手のひら等を置いてキーやボタンを操作する。このため操作者は、操作時のキーのストローク、すなわち指先の感覚だけでなく、手のひら等で操作キー周辺の沈み込みを感知し、総合的にキータッチ感を得る。したがって、操作キー単体の、加圧力−ストローク特性を検査するだけでは、実際のキータッチ感を検査したことにはならない。
【0003】
従来、操作キーを押した感触を数値化して検査する技術が開示されている。(特許文献1参照)
【特許文献1】特開平7−55654号公報 特許文献1に記載の方法では、図5に示すごとく、キー押し部3で操作キー2を押し、センシング部5、9で操作キー2が押された時の変位と荷重を検出し、A/D変換部11で変位と荷重の検出信号をA/D変換し、微分処理部13でA/D変換された情報を各変位に対して荷重の微分値を持つ微分関数に変換し、区間分割処理部14で微分関数を変位の区間に分割し、クリック感特性値算出部15で分割された区間からクリック感特性値を計算し、判定部16でクリック感特性値を予め定めた判定式に当てはめて操作キーが正常かどうかを判定する。
【0004】
この場合、あらかじめ操作キー2を押した際の標準的な荷重微分値−変位特性から、ベース特性検出閾値x、ダイヤフラム特性検出閾値y、移行部検出閾値zを定め、実測したダイヤフラム特性検出閾値yにおける変位Cと、移行部検出閾値zにおける変位Bとの差(C−B)が所定の範囲に有るか否かで良否判定をおこなう。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、ダイヤフラム特性検出閾値yにおける変位Cと、移行部検出閾値zにおける変位Bとの差、すなわち(C−B)を検査するだけでは、(C−B)が所定の範囲にあれば、製品自体の沈み込みが大きく、キータッチ感としては不快であるような場合でも「良」と判定してしまう。
【0006】
本発明は、操作キーを押下した場合の操作キー周辺の沈み込みを含め、キーボード全体のキータッチ感を検査する装置、および方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
第一の発明は、操作キーを押下する加圧手段と、押下された操作キーの荷重を計測する手段と、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測する手段と、良否判定手段とを備えたキーボード検査装置であって、変位計測手段は、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、良否判定手段は、操作キーの荷重が所定の値のときに、操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とする。
【0008】
第二の発明は、キーボード検査方法であって、操作キーを所定の荷重で押下し、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とする。
【発明の効果】
【0009】
本発明により、操作キーを押下した場合の操作キー周辺の沈み込みを含め、キーボード全体のキータッチ感を検査する装置、および方法を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0010】
図1に本発明の基本構成を示す。キーボード検査装置21は、キーを押下する加圧手段22と、押下された操作キーの荷重を計測する荷重計測手段23と、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測する変位計測手段24と、良否判定手段25とを備えた検査装置であって、変位計測手段24は、検査対象のキーボード26の操作キー27、および操作キー周辺28の変位を計測し、良否判定手段25は、操作キー27の荷重が所定の値のときに、操作キー27および操作キー周辺28の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定する。
【実施例1】
【0011】
図2は、図1に示す構成を用いてキーボードの検査を行う装置の、実施例1の処理フローを示す。
【0012】
なお、検査に先立ち、図3に示す、操作キーの荷重-ストローク特性データ等から、操作キー荷重-ストロークの良否判定基準を定めておく。良否判定基準としては、例えば、操作キー荷重100gのとき、操作キーの最大ストローク2.8mm、操作キー周辺の沈み込み0〜1.0mmとする。
【0013】
キーボード検査装置21に検査対象のキーボード26がセットされると、ステップS11で、変位計測手段24が、操作キー27周辺をスキャンして操作キー27、および操作キーの左右前後(周辺)28の位置を確認し、ステップS12で操作キー27、および操作キー周辺28の高さを計測する。
【0014】
図4は、変位計測手段24を左右、前後にスキャンし、操作キー、および操作キー周辺の高さ計測した例を示す。
【0015】
キーボード検査装置21は操作キー27の位置を確認すると、ステップS13で、加圧手段22を操作キー27上方に移動させ、操作キー27を加圧しつつ荷重計測手段23で加圧力を計測する。
【0016】
加圧力が所定の値P、例えば100gになると、ステップS14で、変位計測手段24で操作キー27、および操作キー周辺28の高さを計測する。
【0017】
ステップS15では、操作キー27加圧時の、操作キー27、および操作キー周辺28の変位ΔHを計算する。
【0018】
ステップS16では、計算した変位が許容範囲内であった場合にステップS17に進み「良」と判定し、それ以外の場合にはステップS18に進み「不良」と判定する。
【0019】
これにより、操作キーを押下した場合の操作キー周辺の沈み込みを含め、キーボード全体のキータッチ感を定量的に検査することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】本発明の基本構成
【図2】実施例1の処理フロー
【図3】操作キーの荷重−ストローク特性例
【図4】変位計測手段による高さ計測例
【図5】従来例
【符号の説明】
【0021】
21 キーボード検査装置
22 加圧手段
23 荷重計測手段
24 変位計測手段
25 良否判定手段
26 キーボード
27 操作キー
28 操作キー周辺

【特許請求の範囲】
【請求項1】
操作キーを押下する加圧手段と、
押下された操作キーの荷重を計測する手段と、
操作キー、および操作キー周辺の変位を計測する手段と、
良否判定手段とを備えたキーボード検査装置であって、
変位計測手段は、操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、
良否判定手段は、操作キーの荷重が所定の値のときに、操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とするキーボード検査装置。
【請求項2】
操作キーを所定の荷重で押下し、
操作キー、および操作キー周辺の変位を計測し、
操作キー、および操作キー周辺の変位が所定の範囲の値である場合に良と判定することを特徴とするキーボード検査方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【公開番号】特開2007−33308(P2007−33308A)
【公開日】平成19年2月8日(2007.2.8)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−218782(P2005−218782)
【出願日】平成17年7月28日(2005.7.28)
【出願人】(000005223)富士通株式会社 (25,993)
【Fターム(参考)】