不揮発性メモリおよび制御データ管理を伴う方法
【課題】ブロック管理システムを伴う不揮発性メモリにおいて、制御データなどの重要なデータが、複製されて保持される。多状態メモリにおける重要なデータの2つのコピーをエラーに対して強いように書き込みおよび読み出す。
【解決手段】重要なデータは、複製にして保持しておけば、信頼性のレベルが上がることが保証される。メモリセルの同一のセットのマルチビットを順次にプログラムするための2パスプログラミング手法を使用する多状態メモリシステムについて、第1のパスによって確立されたデータが第2のパスにおけるいかなるプログラミングエラーによっても破損されないように、複製が行われる。また、複製は、書き込みの異常終了の検出、誤検出の検出の助けとなり、信頼性のレベルが向上する。
【解決手段】重要なデータは、複製にして保持しておけば、信頼性のレベルが上がることが保証される。メモリセルの同一のセットのマルチビットを順次にプログラムするための2パスプログラミング手法を使用する多状態メモリシステムについて、第1のパスによって確立されたデータが第2のパスにおけるいかなるプログラミングエラーによっても破損されないように、複製が行われる。また、複製は、書き込みの異常終了の検出、誤検出の検出の助けとなり、信頼性のレベルが向上する。
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数のブロックに組織化された不揮発性メモリであって、各ブロックは、共に消去可能なメモリユニットに分割される不揮発性メモリにおいて、前記メモリ内のデータを記憶および更新する方法は、
(a)データの互いに異なる種類を保持するステップと、
(b)前記データの互いに異なる種類に対してランク付けを割り当てるステップと、
(c)各ブロックが実質的に同種類のデータを記憶するように、前記データの互いに異なる種類の更新を複数のブロックに記憶するステップと、
(d)所定の数より少ない空きメモリユニットを有し、かつ前記複数のブロックの中から最上位ランクのデータ種類を有するブロックに応じて、前記ブロックのデータの現在の更新を他のブロックに移転するステップと、
(e)中断されるまで(c)から(d)を繰り返すステップと、
を含む方法。
【請求項2】
請求項1記載の方法において、
第1の種類のデータの更新が第2の種類のデータよりも更新頻度が低い場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い方法。
【請求項3】
請求項1記載の方法において、
ブロックを実質的に充填する第2の種類の更新データのカスケード効果によって第1の種類のデータの更新が生じる場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い方法。
【請求項4】
請求項1記載の方法において、
空きメモリユニットの前記所定の数は、1から6の間である方法。
【請求項5】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、フローティングゲートメモリセルを有する方法。
【請求項6】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、フラッシュEEPROMである方法。
【請求項7】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、NROMである方法。
【請求項8】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、メモリカード内にある方法。
【請求項9】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットを記憶するメモリセルを有する方法。
【請求項10】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットより多くを記憶するメモリセルを有する方法。
【請求項11】
不揮発性メモリであって、
複数のブロックに組織化されたメモリアレイであって、各ブロックは、共に消去可能なメモリユニットに分割されるメモリアレイと、
データの種類の更新をそれぞれ記憶するための複数のブロックであって、データの各種類は、複数のうちのランクを有する複数のブロックと、
あるブロック内の現在の更新を、所定の数より少ない空きメモリユニットを有し、かつ前記複数のブロックのうちの最上位ランクのデータ種類を有する前記ブロックに応じて、他のブロックに移転するためのコントローラと、
を備える不揮発性メモリ。
【請求項12】
請求項11記載の不揮発性メモリにおいて、
第1の種類のデータの更新が第2の種類のデータよりも更新頻度が低い場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い不揮発性メモリ。
【請求項13】
請求項11記載の不揮発性メモリにおいて、
ブロックを実質的に充填する第2の種類の更新データのカスケード効果によって第1の種類のデータの更新が生じる場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い不揮発性メモリ。
【請求項14】
請求項11記載の不揮発性メモリにおいて、
空きメモリユニットの前記所定の数は、1から6の間である不揮発性メモリ。
【請求項15】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、フローティングゲートメモリセルを有する不揮発性メモリ。
【請求項16】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、フラッシュEEPROMである不揮発性メモリ。
【請求項17】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、NROMである不揮発性メモリ。
【請求項18】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、メモリカード内にある不揮発性メモリ。
【請求項19】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットを記憶するメモリセルを有する不揮発性メモリ。
【請求項20】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットより多くを記憶するメモリセルを有する不揮発性メモリ。
【請求項1】
複数のブロックに組織化された不揮発性メモリであって、各ブロックは、共に消去可能なメモリユニットに分割される不揮発性メモリにおいて、前記メモリ内のデータを記憶および更新する方法は、
(a)データの互いに異なる種類を保持するステップと、
(b)前記データの互いに異なる種類に対してランク付けを割り当てるステップと、
(c)各ブロックが実質的に同種類のデータを記憶するように、前記データの互いに異なる種類の更新を複数のブロックに記憶するステップと、
(d)所定の数より少ない空きメモリユニットを有し、かつ前記複数のブロックの中から最上位ランクのデータ種類を有するブロックに応じて、前記ブロックのデータの現在の更新を他のブロックに移転するステップと、
(e)中断されるまで(c)から(d)を繰り返すステップと、
を含む方法。
【請求項2】
請求項1記載の方法において、
第1の種類のデータの更新が第2の種類のデータよりも更新頻度が低い場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い方法。
【請求項3】
請求項1記載の方法において、
ブロックを実質的に充填する第2の種類の更新データのカスケード効果によって第1の種類のデータの更新が生じる場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い方法。
【請求項4】
請求項1記載の方法において、
空きメモリユニットの前記所定の数は、1から6の間である方法。
【請求項5】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、フローティングゲートメモリセルを有する方法。
【請求項6】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、フラッシュEEPROMである方法。
【請求項7】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、NROMである方法。
【請求項8】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、メモリカード内にある方法。
【請求項9】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットを記憶するメモリセルを有する方法。
【請求項10】
請求項1〜4のいずれか記載の方法において、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットより多くを記憶するメモリセルを有する方法。
【請求項11】
不揮発性メモリであって、
複数のブロックに組織化されたメモリアレイであって、各ブロックは、共に消去可能なメモリユニットに分割されるメモリアレイと、
データの種類の更新をそれぞれ記憶するための複数のブロックであって、データの各種類は、複数のうちのランクを有する複数のブロックと、
あるブロック内の現在の更新を、所定の数より少ない空きメモリユニットを有し、かつ前記複数のブロックのうちの最上位ランクのデータ種類を有する前記ブロックに応じて、他のブロックに移転するためのコントローラと、
を備える不揮発性メモリ。
【請求項12】
請求項11記載の不揮発性メモリにおいて、
第1の種類のデータの更新が第2の種類のデータよりも更新頻度が低い場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い不揮発性メモリ。
【請求項13】
請求項11記載の不揮発性メモリにおいて、
ブロックを実質的に充填する第2の種類の更新データのカスケード効果によって第1の種類のデータの更新が生じる場合に、第1のデータ種類は、第2のデータ種類よりランクが高い不揮発性メモリ。
【請求項14】
請求項11記載の不揮発性メモリにおいて、
空きメモリユニットの前記所定の数は、1から6の間である不揮発性メモリ。
【請求項15】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、フローティングゲートメモリセルを有する不揮発性メモリ。
【請求項16】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、フラッシュEEPROMである不揮発性メモリ。
【請求項17】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、NROMである不揮発性メモリ。
【請求項18】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、メモリカード内にある不揮発性メモリ。
【請求項19】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットを記憶するメモリセルを有する不揮発性メモリ。
【請求項20】
請求項11〜14のいずれか記載の不揮発性メモリにおいて、
前記不揮発性メモリは、それぞれがデータの1ビットより多くを記憶するメモリセルを有する不揮発性メモリ。
【図1】
【図2】
【図3A】
【図3B】
【図4】
【図5A】
【図5B】
【図5C】
【図6】
【図7A】
【図7B】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11A】
【図11B】
【図12A】
【図12B】
【図13A】
【図13B】
【図14(A)−14(B)】
【図14(C)−14(E)】
【図14(F)−14(H)】
【図14(I)−14(J)】
【図15】
【図16A】
【図16B】
【図16C】
【図16D】
【図16E】
【図17A】
【図17B】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22A】
【図22B】
【図23A】
【図23B】
【図24A】
【図24B】
【図24C】
【図25】
【図26A】
【図26B】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31A】
【図31B】
【図32A】
【図32B】
【図33】
【図34A】
【図34B】
【図35A】
【図35B】
【図36A】
【図36B】
【図36C】
【図37】
【図38A】
【図38B】
【図38C】
【図39A】
【図39B】
【図40】
【図41A】
【図41B】
【図42】
【図43】
【図44A】
【図44B】
【図44C】
【図45】
【図46A】
【図46B】
【図47】
【図48】
【図2】
【図3A】
【図3B】
【図4】
【図5A】
【図5B】
【図5C】
【図6】
【図7A】
【図7B】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11A】
【図11B】
【図12A】
【図12B】
【図13A】
【図13B】
【図14(A)−14(B)】
【図14(C)−14(E)】
【図14(F)−14(H)】
【図14(I)−14(J)】
【図15】
【図16A】
【図16B】
【図16C】
【図16D】
【図16E】
【図17A】
【図17B】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22A】
【図22B】
【図23A】
【図23B】
【図24A】
【図24B】
【図24C】
【図25】
【図26A】
【図26B】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31A】
【図31B】
【図32A】
【図32B】
【図33】
【図34A】
【図34B】
【図35A】
【図35B】
【図36A】
【図36B】
【図36C】
【図37】
【図38A】
【図38B】
【図38C】
【図39A】
【図39B】
【図40】
【図41A】
【図41B】
【図42】
【図43】
【図44A】
【図44B】
【図44C】
【図45】
【図46A】
【図46B】
【図47】
【図48】
【公開番号】特開2011−253557(P2011−253557A)
【公開日】平成23年12月15日(2011.12.15)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−171531(P2011−171531)
【出願日】平成23年8月5日(2011.8.5)
【分割の表示】特願2006−547487(P2006−547487)の分割
【原出願日】平成16年12月22日(2004.12.22)
【出願人】(506197901)サンディスク コーポレイション (175)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成23年12月15日(2011.12.15)
【国際特許分類】
【出願日】平成23年8月5日(2011.8.5)
【分割の表示】特願2006−547487(P2006−547487)の分割
【原出願日】平成16年12月22日(2004.12.22)
【出願人】(506197901)サンディスク コーポレイション (175)
【Fターム(参考)】
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