個人識別情報検出用光ディスク装置と個人識別情報を用いたコンテンツ記録・再生システム
【課題】光ディスク装置において、指紋などの個人識別情報を検出する。
【解決手段】球面収差補正レンズ１１８、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０を備え、光ディスク１０２の表面２０６に球面収差を合わせ、表面２０６にフォーカスを制御することで、個人識別情報１０６に対する検出分解能が向上し、個人識別情報１０６の検出ができる。
【解決手段】球面収差補正レンズ１１８、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０を備え、光ディスク１０２の表面２０６に球面収差を合わせ、表面２０６にフォーカスを制御することで、個人識別情報１０６に対する検出分解能が向上し、個人識別情報１０６の検出ができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクの表面に付いた個人を識別する情報（個人識別情報）を検出する光ディスク装置、および個人識別情報を管理するシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報セキュリティーを向上させる目的で、複製が困難である個人に固有な生体情報、例えば指紋、静脈、虹彩を個人識別情報として認証の一部に用いる場合がある。
【０００３】
従来の光ディスク装置で、同様に個人識別情報を使った認証を行う場合には、新たに外部機器を用意する必要があり、コストが掛かる。このため、光ディスク装置のみによって個人識別情報を検出できれば有用である。
【０００４】
本発明に関連した従来技術として、特許第２５３１２９３号公報（特許文献１）がある。
【０００５】
特許第２５３１２９３号公報に記載の技術では、欠陥の位置を、光ディスクの半径位置と回転角位置でマッピングし、マッピングした半径位置と回転角位置から欠陥塊を検出している。
【０００６】
光ディスクからの反射光が欠落する部分を検出し、その長さを求め欠陥の周方向の長さを検出する。次に、ディスクに書かれたディスクフォーマットを再生し、そのディスクフォーマットに基づいて欠陥の種類を判別する。光ディスク回転の１回転につき１発のローテーションパルスと再生されたディスクフォーマットに基づいて欠陥の半径位置と回転角位置を検出する。欠陥の種類、周方向の長さ、半径位置、回転角位置を欠陥データとして、メモリに蓄える。メモリに蓄えた欠陥データに基づいて、その欠陥の半径位置と回転角位置から欠陥塊を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特許第２５３１２９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
新たな外部機器を必要とせずに光ディスク装置で個人識別情報を検出する場合、ここでは光ディスクの表面に指紋を付けて、それを光ピックアップで収束させた光スポットで検出する場合について考える。外部機器としての指紋センサには一般的に５０ｕｍ程度の検出分解能が求められることが知られている。
【０００９】
しかしながら、従来の構成を個人識別情報の検出に応用しようとしても従来の構成は複数のトラックに渡る欠陥である欠陥塊を検出するものであった。また、欠陥の半径位置と回転角位置を光ディスクのディスクフォーマットに基づいて検出していた。故に、光ディスクの記録層に光スポットを制御する必要があった。記録層に光スポット当てた場合の表面におけるビームの直径はディスクの種類によって異なるが大まかには以下の通りとなる。コンパクトディスク（以下、ＣＤと称す）の場合は約６９０ｕｍ、ＤＶＤの場合は約５２０ｕｍ、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ(以下、ＢＤと称す)の場合は約１４０ｕｍである。これらは、外部機器の指紋センサに求められる検出分解能に比べると大きい。また、指紋を検出するための欠陥検出方法についても特に言及がない。よって、個人識別情報である指紋を検出するのには十分な性能がない。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
従来の課題を解決するために、光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する本発明の光ディスク装置は、前記光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子と、前記反射光信号に基づいてフォーカス信号を生成するフォーカス信号生成手段と、前記フォーカス信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御信号を生成するフォーカス制御手段と、前記反射光信号に基づいて反射光の光量変化から欠陥を検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出手段と、前記光ディスクの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出手段と、前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出手段と、前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピング手段とを備え、前記欠陥マッピング手段により前記個人識別情報を２次元でマッピングし前記個人識別情報を検出することを特徴とする。
【００１１】
また、前記フォーカス制御手段は、前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が付いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御することを特徴とする。
【００１２】
また、前記光ピックアップは球面収差補正レンズと、球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定することを特徴とする。
【００１３】
また、前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、前記フォーカス制御手段は、前記光ディスクの前記記録層に光スポットを制御することを特徴とする。
【００１４】
また、前記欠陥検出手段は、ボトムホールド回路を備え、前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行うことを特徴とする。
【００１５】
また、前記欠陥検出手段は、モノマルチ回路を備え、前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後にモノマルチ回路に通過させて欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長することを特徴とする。
【００１６】
また、前記欠陥検出手段は、トップホールド回路と、ボトムホールド回路を備え、前記反射光信号に基づいた信号を前記トップホールド回路に通過させて得られるトップエンベロープ信号と、前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と、前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて生成される所定の値と、前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行うことを特徴とする。
【００１７】
また、前記フォーカス信号生成手段は光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、出力することを特徴とする。
【００１８】
また、前記フォーカス信号生成手段は前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、出力することを特徴とする。
【００１９】
また、前記フォーカス制御手段は、前記フォーカス信号に位相補償を施したフォーカス位相補償信号を生成し出力するフォーカス位相補償手段と、前記フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成し蓄えるフォーカス位相補償信号記憶手段とを備え、前記個人識別情報が付いた領域ではフォーカス位相補償信号記憶値に基づいてフォーカス制御信号を生成することを特徴とする。
【００２０】
また、前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成することを特徴とする。
【００２１】
また、前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成することを特徴とする。
【００２２】
また、前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとを備え、前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、記半径位置検出手段は前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成することを特徴とする。
【００２３】
また、前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有することを特徴とする。
【００２４】
また、前記光ディスク装置を制御するコントローラを備え、前記コントローラが有する内部クロックと、前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正し、校正した前記内部クロックに基づいて回転角位置を検出することを特徴とする。
【００２５】
また、前記光ディスク装置は前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生手段とをさらに備え、再生されたアドレスに基づいて欠陥の半径位置および回転角位置を検出することを特徴とする。
【００２６】
また、ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度以上である場合は、前記光ディスクの回転を速くすることを特徴とする。
【００２７】
また、所定の長さ以上の欠陥がある場合は、前記光ディスクの回転を速くすることを特徴とする。
【００２８】
また、ユーザーが前記個人識別情報の検出の開始を指令することを特徴とする。
【００２９】
また、前記光ディスクは物理情報領域と、前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とをさらに備え、前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無に基づいて、前記個人識別情報の検出の開始を判断することを特徴とする。
【００３０】
また、前記個人識別情報の検出を開始した後に、前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索することを特徴とする。
【００３１】
また、前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録されたことを特徴とする。
【００３２】
また、前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始することを特徴とする。
【００３３】
また、前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが光ディスク上に明示されたことを特徴とする。
【００３４】
また、前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始することを特徴とする。
【発明の効果】
【００３５】
本発明の光ディスク装置を用いることで、光ディスクの表面に光スポットを制御し、表面にあたる光スポットの大きさを５０ｕｍよりも十分に小さくし、個人識別情報の検出が可能になる。
【００３６】
また、表面に光スポットを制御した場合に好適な欠陥検出の方法を用いることで、個人識別情報の検出性能が向上する。
【００３７】
また、検出した個人識別情報に基づいてコンテンツを暗号化し、光ディスクに記録することで、コンテンツのセキュリティーが向上する。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３における光ディスク装置を示す図
【図２】光ディスク１０２の構成を示す図
【図３】フォーカス制御手段１３８の構成を示す図
【図４】トラッキング制御手段１４２の構成を示す図
【図５】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図６】回転角位置パターン１０６の例と検出パターンを示す図
【図７】欠陥マッピング手段１５０が生成する欠陥の２次元マッピングを示す図
【図８】本発明の実施の形態１における動作を示すフローチャート
【図９】フォーカスアップ動作時に現れるフォーカスエラー信号を示す図
【図１０】フォーカス制御手段１００２の構成を示す図
【図１１】本発明の実施の形態２における動作を示すフローチャート
【図１２】本発明の実施の形態３における動作を示すフローチャート
【図１３】本発明の実施の形態４における光ディスク装置を示す図
【図１４】本発明の実施の形態４における動作を示すフローチャート
【図１５】フォーカスエラー信号の対称性を表す図
【図１６】記録層２０４にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図１７】本発明の実施の形態５における光ディスク装置を示す図
【図１８】本発明の実施の形態５における動作を示すフローチャート
【図１９】本発明の実施の形態６における光ディスク装置を示す図
【図２０】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れるフォーカスエラー信号と欠陥検出手段１９０４での欠陥検出方法を示す図
【図２１】欠陥マッピング手段１９０６が生成する欠陥の２次元マッピングを示す図
【図２２】本発明の実施の形態７における光ディスク記録装置の記録動作を示すフローチャート
【図２３】本発明の実施の形態７における光ディスク記録装置を示す図
【図２４】本発明の実施の形態７における光ディスク再生装置の再生動作を示すフローチャート
【図２５】本発明の実施の形態７における光ディスク再生装置を示す図
【図２６】指紋の概念図と特徴点リストの形態を示す図
【図２７】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図２８】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図２９】光ディスク１０２の構成を示す図
【発明を実施するための形態】
【００３９】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を用いて説明する。
【００４０】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成を示したブロック図である。
【００４１】
実施の形態１に係る光ディスク装置１００は、球面収差を表面２０６に適して補正し、表面２０６にフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する。
【００４２】
光ディスク１０２の表面２０６に個人識別情報１０４が付いている。個人識別情報１０４は個人を識別するための情報であり、例えば指紋や筆跡である。本発明は個人識別情報１０４が指紋である場合を代表して記載する。個人識別情報１０４が付いた光ディスク１０２上の領域を個人識別情報領域と称す。光ディスク１０２の内周部分には回転角位置パターン１０６がある。回転角位置パターン１０６は光ディスク１０２の絶対的な回転角位置を表す。
【００４３】
光ディスク１０２の例を図２に示す。
【００４４】
図２（ａ）は光ディスク１０２の層構成を表す図である。レーベル面２０２、記録層２０４、表面２０６から成る。記録層２０４は情報が記録された層、若しくは情報を記録する層である。一般的な光ディスク装置は記録層２０４から光スポットにより情報を再生または記録する。表面２０６は記録層２０４から情報を再生または記録する場合に光が入射する面である。レーベル面２０２は表面２０６と反対に位置する。レーベル面２０２は、主に図柄を印刷するのに用いられる面である。なお、個人識別情報１０４を付けるのは表面２０６とレーベル面２０２のどちらでも良く、本発明は個人識別情報１０４を表面２０６に付けた場合を代表として記載する。
【００４５】
図２（ｂ）は表面２０６側から光ディスク１０２を見た図である。なお、レーベル面２０２に個人識別情報１０４を付ける場合は、例えばライトスクライブ（ＬｉｇｈｔＳｃｒｉｂｅ）に用いられるディスクのように、レーベル面２０２で光を反射しなければならない。
【００４６】
図２（ｃ）は光ディスク１０２の別の形態である光ディスク２０８である。光ディスク２０８には、物理情報領域２１０を備える。物理情報領域２１０は一般的な光ディスクに備わっており、記録層２０４に配置され、ディスクの種類などの情報が書かれた領域である。物理情報領域２１０の中には光ディスク２０８が個人識別情報１０４を付けて良い光ディスクか否かを表す情報が記録されている。なお、光ディスク２０８の記録層２０６が記録可能な場合には、個人識別情報１０４の有無や個人識別情報領域の位置を記録しても良い。
【００４７】
図２（ｄ）は光ディスク１０２の別の形態である光ディスク２１２である。光ディスク２１２には、個人識別情報領域を個人識別情報エリア２１４として明示してある。個人識別情報エリア２１４に個人識別情報１０４を付ける。
【００４８】
図２（ｅ）は光ディスク１０２の別の層構成である光ディスク２１６を表す図である。光ディスク２１６は、レーベル面２０２、表面２０６から成る。光ディスク２１６は記録層２０４を持たず、個人識別情報１０４を付けるのに特化した光ディスクである。なお、光ディスク２１６は、回転角位置パターン１０６や個人識別情報エリア２１４を備えても良い。
【００４９】
回転角位置パターン１０６は回転角位置パターン検出手段１５８によって、回転角位置パターン１０６のパターンが検出される。回転角位置パターン検出手段１５８は検出したパターンを回転角位置パターン検出信号として出力する。
【００５０】
光ピックアップ１０８は、光源１１０、カップリングレンズ１１２、偏光ビームスプリッタ１１４、１／４波長板１１６、球面収差補正レンズ１１８、球面収差補正レンズ移動手段１２０、対物レンズ１２２、フォーカス移動手段１２４、トラッキング移動手段１２６、集光レンズ１２８、受光手段１３０から成る。
【００５１】
光源１１０は拡散光を出射する素子である。光ディスクの場合では半導体レーザが広く用いられ、ＣＤでは略７８０ｎｍ、ＤＶＤでは略６５０ｎｍ、ＢＤでは略４０５ｎｍの波長である半導体レーザが用いられる。光源１１０から出射された光はカップリングレンズ１１２によって平行光にされる。カップリングレンズ１１２を通過した光は偏光ビームスプリッタ１１４で反射される。偏光ビームスプリッタ１１４で反射した光は１／４波長板を通過して円偏光される。１／４波長板１１６を通過した光は、球面収差補正レンズ１１８を通過し光の球面収差が補正される。球面収差補正レンズ１１８は球面収差補正レンズ移動１２０によって移動する。球面収差補正レンズ１１８は表面２０６までの球面収差を補正できる。球面収差補正レンズ移動手段１２０は表面２０６までの球面収差を補正できるストロークを持つ。これにより、表面２０６でも良好なフォーカスエラー信号が得られ制御が安定となる。なお、光源１１０が複数の波長を有する場合は、少なくとも１つの波長に対して表面２０６まで球面収差を補正できるストロークを有し、その波長の光源１１０によって個人識別情報１０４を検出する。球面収差補正レンズ１１８を通過した光は対物レンズ１２２によって収束され光スポットが形成される。対物レンズ１２２はフォーカス移動手段１２４によって光ディスク１０２の略垂直方向に移動する。対物レンズ１２２はトラッキング移動手段１２６によって光ディスク１０２の略水平方向に移動する。なお、トラッキング移動手段１２６は数百ｕｍのストロークを有する。
【００５２】
対物レンズ１２２によって形成された光スポットが光ディスク１０２で反射した光は、対物レンズ１２２、球面収差補正レンズ１１８、１／４波長板１１６を通過して直線偏光され、偏光ビームスプリッタ１１４を通過する。偏光ビームスプリッタ１１４を通過した光は集光レンズ１２８で集光される。集光レンズ１２８で集光した光は受光素子１３０で受光される。受光手段１３０は受光した光を光電変換によって電気信号に変換し、反射光信号を出力する。光電素子１３０は種々の信号を生成するために、複数の素子に分割されている。反射光信号はコントローラ１３４に入力される。コントローラ１３４は光ディスク装置１００を制御するＬＳＩである。
【００５３】
光ピックアップ１０８は、トラバース１３２によって光ディスク１０２に略水平方向に移動する。トラバース１３２は、リードスクリュー（図示しない）とモータ（図示しない）とから成る。リードスクリュー（図示しない）をモータ（図示しない）により回転させることで直線運動を実現し、光ピックアップ１０８が略水平方向に移動する。トラバース１３２は、コントローラ１３４が出力するトラバース制御信号に従って制御される。トラバース制御信号はコントローラ１３４が管理するトラバースの現在位置とコントローラ１３４が計算する目標位置から駆動パルスを生成することで実現される。
【００５４】
ディスクモータ１５６は光ディスク１０２を所定の回転数で回転させる。ディスクモータ１５６に備えた回転数センサ（図示しない）により回転数を検出し、回転数に応じてディスク１回転に数個のパルスを発生するＦＧ信号がコントローラ１３４に入力される。コントローラ１３４は、ＦＧ信号と目標回転数に基づいて所望の回転数になるように回転数制御信号を生成し、回転数制御信号がディスクモータ１５６に入力される。
【００５５】
コントローラ１３４は、フォーカスエラー信号生成手段１３６、フォーカス制御手段１３８、トラッキングエラー信号生成手段１４０、トラッキング制御手段１４２、再生信号指標生成手段１４４、球面収差検出手段１４６、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０、半径位置検出手段１５２、回転角位置検出手段１５４から構成される。
【００５６】
反射光信号はフォーカスエラー信号生成手段１３６、トラッキングエラー信号生成手段１４０、再生信号指標生成手段１４４、欠陥検出手段１４８に入力される。
【００５７】
フォーカスエラー信号生成手段１３６の出力であるフォーカスエラー信号はフォーカス制御手段１３８に入力される。フォーカス制御手段１３８の出力であるフォーカス制御信号はフォーカス移動手段１２４に入力される。
【００５８】
トラッキングエラー信号生成手段１４０の出力であるトラッキングエラー信号はトラッキング制御手段１４２と球面収差検出手段１４６に入力される。トラッキング制御手段１４２の出力であるトラッキング制御信号はトラッキング移動手段１２６に入力される。
【００５９】
再生信号指標生成手段１４４の出力である再生信号指標信号は球面収差検出手段１４６に入力される。
【００６０】
欠陥検出手段１４８の出力である欠陥検出信号は欠陥マッピング手段１５０に入力される。
【００６１】
球面収差検出手段１４６の出力である球面収差制御信号は球面収差補正レンズ移動手段１２０に入力される。
【００６２】
半径位置検出手段１５２の出力である半径位置検出信号は欠陥マッピング手段１５０に入力される。
【００６３】
回転角位置検出手段１５４の出力である回転角位置検出信号は欠陥マッピング手段１５０に入力される。
【００６４】
欠陥マッピング手段１５０の出力である欠陥マッピング信号は外部機器１６０へ入力される。外部機器１６０とは、例えばホストコンピュータである。
【００６５】
フォーカスエラー信号生成手段１３６は、入力信号からフォーカスエラー信号を生成し、出力する。フォーカスエラー信号は、光スポットと表面２０６との垂直方向のずれ、または光スポットと記録層２０４との垂直方向のずれを表す信号であり、非点収差法といった検出法を用いて実現できる。
【００６６】
フォーカス制御手段１３８は、入力信号からフォーカス制御信号を生成し、出力する。フォーカス制御手段１３８の例を図３に示す。フォーカス制御手段１３８は、フォーカスＯＮ／ＯＦＦスイッチ３０２、フォーカス位相補償フィルタ３０４、フォーカス制御信号オフセット手段３０６、加算器３０８から成る。フォーカスＯＮ／ＯＦＦスイッチ３０２がフォーカスＯＮ（スイッチが入力信号の方に倒れた場合）では、入力信号に基づいて光スポットの垂直方向が目標位置へ収束するように、入力信号に応じた目標レベルを設定し、目標レベルと入力信号との差分である誤差信号にフォーカス位相補償フィルタ３０４により位相補償を施し、フォーカス位相補償信号を生成し、出力する。フォーカス制御信号オフセット手段３０６はフォーカス制御信号オフセットを設定できる。加算器３０８はフォーカス位相補償信号とフォーカス制御信号オフセットを加算し、フォーカス制御信号を出力する。フォーカスＯＦＦの場合では、光スポットの垂直方向の目標位置への制御は行わない。フォーカスＯＦＦの場合では、フォーカス制御信号オフセットを適切に増加させると、光スポットは光ディスク１０２の垂直方向に近づきフォーカスアップ動作ができる。また、フォーカスＯＦＦの場合では、フォーカス制御信号オフセットを適切に減少させると、光スポットは光ディスク１０２の垂直方向に遠のきフォーカスダウン動作ができる。
【００６７】
トラッキングエラー信号生成手段１４０は、入力信号からトラッキングエラー信号を生成し、出力する。トラッキングエラー信号は光スポットと記録層２０４上のトラック中心とのずれを表す信号であり、差動プッシュプル法といった検出法を用いて実現できる。
【００６８】
トラッキング制御手段１４２は、入力信号からトラッキング制御信号を生成し、出力する。トラッキング制御手段１４２の例を図４に示す。トラッキング制御手段１４２は、トラッキングＯＮ／ＯＦＦスイッチ４０２、トラッキング位相補償フィルタ４０４、トラッキング制御信号オフセット手段４０６、加算器４０８から成る。トラッキングＯＮ／ＯＦＦスイッチ４０２がトラッキングＯＮ（スイッチが入力信号の方に倒れた場合）では、入力信号に基づいて光スポットの水平方向が目標位置へ収束するように、入力信号に応じた目標レベルを設定し、目標レベルと入力信号との差分である誤差信号にトラッキング位相補償フィルタ４０４により位相補償を施し、トラッキング位相補償信号を生成し、出力する。トラッキング制御信号オフセット手段４０６はトラッキング制御信号オフセットを設定できる。加算器４０８は、トラッキング位相補償信号とトラッキング制御信号オフセットを加算し、トラッキング制御信号を出力する。トラッキングＯＦＦの場合では、光スポットの水平方向の目標位置への制御は行わない。トラッキングＯＦＦの場合では、トラッキング制御信号オフセットを所定の量だけ加えると、光スポットが光ディスク１０２の水平方向に所定の量だけ移動する。
【００６９】
再生信号指標生成手段１４４は、入力信号から再生信号指標信号を生成し、出力する。再生信号指標信号とは再生信号の振幅や再生信号のジッタなど、再生信号の品質を表すものである。
【００７０】
球面収差検出手段１４６は、入力信号に基づいて、球面収差が好適になるように球面収差制御信号を生成し、出力する。球面収差が好適であるとは、例えばトラッキングエラー信号の振幅が最大となる場合や、再生信号指標信号のうち再生信号の振幅が最大となる場合である。
【００７１】
球面収差を表面２０６に合わせる方法としては、球面収差補正レンズ１１８の位置を光ピックアップ１０８の表面２０６における設計中心に合わせる方法がある。別の方法としては、記録層２０４において球面収差を球面収差検出手段１４６で検出し球面収差制御信号を生成し、記録層２０４における球面収差制御信号に基づいて表面２０６における球面収差制御信号を求める方法である。球面収差は基材厚（表面２０６から記録層２０４までの距離）に比例するので、記録層２０４における球面収差制御信号と基材厚から表面２０６における球面収差を求めることができる。なお、基材厚は図９に示すように、フォーカスアップ動作によりフォーカスエラー信号のゼロクロスの間隔Ｌを測定することで求められる。なお、基材厚は例えば規格で決まっている所定の値を使っても良い。
【００７２】
欠陥検出手段１４８は、反射光信号の全てまたは一部の和から反射光量を求め、反射光量が低下する欠陥があるか否かを検出する。欠陥の有無は欠陥検出信号として出力する。欠陥検出手段１４８の出力信号の例を図５，図２７，図２８に示す。図５，図２７，図２８は反射光量と、反射光量から欠陥の有無を検出する欠陥検出閾値と、欠陥検出信号を表す。図５，図２７，図２８では表面２０６にフォーカスを制御している場合である。光スポットが指紋の上を通過すると反射光量はパルス状に変化する。これは、ミクロ的に見ると指紋が数ｕｍ程度の水滴や油滴によって構成されているためである。対して、表面２０６における光スポットが水滴や油滴よりも小さいため、水滴や油滴を検出してパルス状の信号となる。
【００７３】
図５は反射光量を所定の欠陥検出閾値を用いて欠陥検出信号を生成した場合を表す。指紋はマクロ的に見ると凹凸により紋様を作り出し、領域５０２や領域５０４は指紋での１つ１つの凸部に対応する。凸部に対応して領域５０２と領域５０４でそれぞれ１つの欠陥が検出されることが期待される。しかしながら、図５においては、領域５０２や領域５０４で複数個の欠陥が検出されている。これでは、個人識別情報１０４の検出ができない。
【００７４】
個人識別情報１０４を検出する方法として、ボトムホールド回路（図示しない）を設ける方法がある。
【００７５】
図２７は反射光量と、ボトムエンベロープ信号と、欠陥検出信号を示す。ボトムエンベロープ信号は、反射光量をボトムホールド回路（図示しない）に通すことで生成できる。欠陥検出信号はボトムエンベロープ信号と所定の欠陥検出閾値を比較して生成できる。
【００７６】
図５２７では領域５０２と領域５０４でそれぞれ１回だけ欠陥を検出している。つまり、指紋の１つ１つの凸部を検出できる。なお、ボトムホールド回路（図示しない）のアタックゲインは、個人識別情報１０４の特徴（例えば指紋では水滴や油滴の大きさ、凸部の間隔）と光ディスク１０２の回転数とスポットが位置する半径位置から適切に求めれば良い。
【００７７】
また、個人識別情報１０４を検出する別の方法として、モノマルチ回路（図示しない）を設ける方法がある。
【００７８】
図２８は反射光量と、モノマルチ回路を通過する前の信号、モノマルチ回路を通過した後の信号を示す。モノマルチ回路を通過する前の信号は、反射光量と所定の欠陥検出閾値を比較して生成でき、図５に示した欠陥検出信号と同じである。モノマルチ回路を通過した後の信号は、モノマルチ回路を通過する前の信号の立下りから所定の時間Δだけ後ろに延長して生成でき、この信号を欠陥検出信号とする。
【００７９】
図５２８では領域５０２と領域５０４でそれぞれ１回だけ欠陥を検出している。つまり、指紋の１つ１つの凸部を検出できる。なお、所定の時間Δは、個人識別情報１０４の特徴（例えば指紋では水滴や油滴の大きさ、凸部の間隔）と光ディスク１０２の回転数とスポットが位置する半径位置から適切に求めれば良い。
【００８０】
欠陥検出手段１４８を個人識別情報１０４に適した構成と設定をすることで、図２７や図２８のように個人識別情報１０４を欠陥として検出することが可能となる。
【００８１】
半径位置検出手段１５２は、コントローラ１３４が管理するトラバースの現在位置とトラッキング制御信号オフセットから光スポットの半径位置を計算する。計算した半径位置は半径位置検出信号として出力する。
【００８２】
回転角位置検出手段１５６は、回転角位置パターン１０６から光ディスク１０２の絶対的な回転角位置を検出する。回転角位置パターン１０６の例を図６に示す。回転角位置パターン１０６は不均一なパターンから構成され、そのパターンの並び方によって回転角位置が表現されている。なお、回転角位置を表現できれば、回転角位置パターン１０６は図６以外の別の形態を取っても良い。回転角位置パターン１０６は、回転角位置パターン検出手段１５８によって検出され、回転角位置パターン検出信号が出力される。回転角位置パターン検出手段１５８は、例えば反射型フォトセンサによって実現できる。回転角位置検出手段１５６は、回転角位置パターン検出信号を２値化し、デコードすることで回転角位置を検出する。検出した回転角位置は回転角位置検出信号として出力する。なお、回転角位置パターン１０６を光ピックアップ１０８で読み取り、その結果でコントローラ１３４の内部クロックを校正し、校正した内部クロックに基づいて回転角位置の検出を行っても良い。なお、内部クロックに代わって、ＦＧ信号を用いても良い。なお、回転角位置パターン１０６が表す回転角位置は光ディスク１０２の絶対値でも、相対値でも良い。相対値の場合は、別の信号、例えば内部クロックを用いることで、絶対値に変換すれば良い。
【００８３】
欠陥マッピング手段１５０は、欠陥検出信号、半径位置検出信号、回転角位置検出信号に基づいて、欠陥が検出された半径位置と回転角位置を蓄え、欠陥を２次元でマッピングする。マッピングした欠陥マッピング情報を欠陥マッピング信号として出力する。本発明は個人識別情報１０４として指紋を代表して記載しており、欠陥マッピング情報とは、すなわち指紋マッピング情報である。
【００８４】
欠陥マッピング手段１５０がマッピングした個人識別情報１０４の例を図７に示す。図７（ａ）では欠陥が○部で検出される。欠陥マッピング手段１５０は図７（ｂ）のように○部の半径位置と回転角位置を蓄え、２次元でマッピングする。なお、半径位置と回転角位置を蓄える機能は、その全部または一部を外部機器１６０へ置いても良い。
【００８５】
以上の構成において実施の形態１に係る光ディスク装置１００について図８を参照して説明する。図８は、球面収差を表面２０６に適して補正し、表面２０６にフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【００８６】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を表面２０６に合わせる（Ｓ８０６）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。なお、移動する距離は５０ｕｍ程度にすると良い。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【００８７】
Ｓ８０４において、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かの判断は方法としては、ユーザーが指定する方法がある。別の方法としては、光ディスク２０８のように個人識別情報１０４を付けても良い光ディスクか否か判別する情報が物理情報領域２１０に記録されている場合には、物理情報領域２１０を再生して判別する方法がある。
【００８８】
Ｓ８１０において、個人識別情報領域を探索する方法としては、トラバース１３２を光ディスク１０２の内周から外周まで数ｍｍ程度の刻み幅で略水平方向に移動させ、ディスク１回転に現れる欠陥の頻度を検出する方法がある。別の方法としては、光ディスク１０２に個人識別情報領域が記録されていれば、それが個人識別領域の探索結果となる。別の方法としては、個人識別情報エリア２１４が設けられている場合は、それが個人識別領域の探索結果となる。
【００８９】
Ｓ８１２において、個人識別情報領域を始端に移動する方法としては、トラバース１３２により光ピックアップ１０８を略水平方向に移動させる方法がある。
【００９０】
以上のように、実施の形態１の光ディスク装置１００によれば、個人識別情報１０４を検出できる。検出された個人識別情報１０４は２次元の欠陥位置を表す。これに従来からの指紋の特徴点検出を行うと、特徴点が分かり個人を特定できる。特定された個人に基づいて、例えばコンテンツを暗号化し、光ディスク１０２に暗号化されたコンテンツを記録すれば、光ディスク１０２に記録されたコンテンツのセキュリティーが向上される。また、表面２０６にフォーカスを制御するにあたり、球面収差補正レンズ移動手段１２０のストロークを表面２０６にまで持たせ球面収差を表面２０６に合わせることができる。これにより、フォーカスエラー信号の品質が確保でき制御の安定性が向上される。
【００９１】
なお、記録層２０４に球面収差を合わせて、記録層２０４に光スポットを制御して、同様な処理を行っても、個人識別情報１０４を検出できる。図１６は記録層２０４にフォーカスを制御した場合における欠陥検出手段１４８の例を示す。図１６は反射光量と、反射光量から欠陥の有無を検出する欠陥検出閾値と、欠陥検出信号を表す。図１６は記録層２０４にフォーカスを制御している場合である。光スポットを指紋の上を通過すると反射光量はパルス状に変化する。
【００９２】
図１６（ａ）は反射光量を所定の欠陥検出閾値を用いて欠陥検出信号を生成した場合を表す。指紋はマクロ的に見ると凹凸により紋様を作り出し、領域１６０２、領域１６０４、領域１６０６は指紋での１つ１つの凸部に対応する。凸部に対応して領域１６０２、領域１６０４、領域１６０６でそれぞれ１つの欠陥が検出されることが期待される。しかしながら、図１６（ａ）においては、領域１６０２で欠陥が検出できていない。これでは、個人識別情報１０４の検出ができない。
【００９３】
図１６（ｂ）は反射光量をトップホールド回路（図示しない）に通しトップエンベロープ信号を検出する。また、反射光量をボトムホールド回路（図示しない）によりボトムエンベロープ信号を検出する。トップエンベロープ信号とボトムエンベロープ信号の平均値で欠陥検出閾値を生成し、反射光量と比較して欠陥検出信号を生成した場合である。なお、トップホールド回路（図示しない）のドループゲインやボトムホールド回路（図示しない）のアタックゲインは、個人識別情報１０４の特徴（例えば指紋では水滴や油滴の大きさ、凸部の間隔）と光ディスク１０２の回転数とスポットが位置する半径位置から適切に求めれば良い。
【００９４】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２に係る光ディスク装置は図１における光ディスク装置１００と同じ構成なので説明を省略する。また、前述した実施の形態１と同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【００９５】
実施の形態２に係る光ディスク装置１００は、個人識別情報領域の近傍で記憶したフォーカス位相補償信号に基づいて個人識別情報領域でフォーカス制御を行う。
【００９６】
実施の形態２におけるフォーカス制御手段１００２を図１０に示す。フォーカス制御手段１００２はフォーカスＯＮ／ＯＦＦスイッチ３０２、フォーカス位相補償フィルタ３０４、フォーカス制御信号オフセット手段３０６、加算器３０８、及びフォーカス位相補償信号記憶ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４、フォーカス位相補償信号記憶手段１００６、フォーカス制御信号切換手段１００８から成る。
【００９７】
フォーカス制御信号記録ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４は、フォーカス位相補償信号をフォーカス位相補償信号記憶手段１００６に入力するか否かを制御する。
【００９８】
フォーカス位相補償信号記憶手段１００６は、フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成する。フォーカス位相補償信号記憶値はフォーカス位相補償信号記憶信号として出力する。
【００９９】
フォーカス制御信号切換手段１００８は、フォーカス位相補償信号とフォーカス位相補償信号記憶信号のうち何れか１つを選択して出力する。
【０１００】
加算器３０８は、フォーカス位相補償信号とフォーカス位相補償信号記憶信号のうち何れか１つとフォーカス制御信号オフセットを加算し、フォーカス制御信号を出力する。
【０１０１】
フォーカス位相補償信号記憶手段１００６はフォーカス位相補償信号記憶値を記憶する場合には、フォーカス制御信号記憶ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４をＯＮにする。フォーカス位相補償信号記憶手段１００６は、例えばコントローラ１３４の内部クロックからディスク１回転をＮ個の区間に分割する区間分割信号を生成する。区間分割信号に基づいて各々の区間で区間の開始から終了まで位相補償フィルタ信号を所定のフィルタに通し、その区間の終了時の結果をフォーカス位相補償信号記憶値として記憶する。フォーカス位相補償信号記憶手段１００６はフォーカス位相補償信号記憶信号を出力する場合には、フォーカス制御信号記憶ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４をＯＦＦに、フォーカス制御信号切換手段１００８をフォーカス位相補償信号記録手段１００６側に倒す。フォーカス位相補償信号記憶手段１００６は、区間分割信号に基づいて区間に応じてフォーカス位相補償信号記憶値をフォーカス位相補償信号記憶信号として出力する。
【０１０２】
以上の構成において、実施の形態２に係る光ディスク装置１００について図１１を参照して説明する。図１１は個人識別情報領域の近傍においてフォーカス位相補償記憶信号を記録し、個人情報識別領域においてフォーカス位相補償信号記憶信号を用いてフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【０１０３】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を表面２０６に合わせる（Ｓ８０６）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報の近傍に移動する（Ｓ１１０２）。近傍に移動した後に、フォーカス位相補償記憶値を生成し、記憶する（Ｓ１１０４）。記憶した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、フォーカス制御信号切換手段１００８はスイッチをフォーカス位相補償信号記憶手段１００６側に倒し、加算器３０８の入力をフォーカス位相補償信号記憶信号にする（Ｓ１１０６）。加算器３０８の入力を切換えた後、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、フォーカス制御信号切換手段１００８はスイッチをフォーカス位相補償手段３０４側に倒し、加算器３０８の入力をフォーカス位相補償信号にする（Ｓ１１０６）。加算器３０８の入力を切換えた後、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【０１０４】
以上のように、実施の形態２の光ディスク装置１００によれば、個人識別情報領域の近傍で記憶したフォーカス位相補償信号記憶信号に基づいて個人識別情報領域でもフォーカス制御を行うことができる。これにより、個人識別情報１０４によってフォーカスエラー信号が大きく乱される場合でも、個人識別情報領域での制御の安定性が向上される。
【０１０５】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置は図１における光ディスク装置１００と同じ構成なので説明を省略する。また、前述した実施の形態１から実施の形態２までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１０６】
実施の形態３に係る光ディスク装置１００は、個人情報識別領域においてディスク１回転に現れる欠陥の検出頻度に応じてディスクモータ１５６の回転数を制御する。
【０１０７】
以上の構成において、実施の形態３に係る光ディスク装置１００について図１２を参照して説明する。図１２は、個人情報識別領域においてディスク１回転に現れる欠陥の検出頻度に応じてディスクモータ１５６の回転数を制御する方法のフローチャートである。
【０１０８】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を表面２０６に合わせる（Ｓ８０６）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、欠陥の検出頻度が所定以上か否かを判別する（Ｓ１２０２）。欠陥の検出頻度が所定以上の場合は、既にディスクモータ１５６の回転数を上げているか否かを判別する（Ｓ１２０４）。未だ回転数を上げていない場合は、回転数を上げる（Ｓ１２０６）。Ｓ１２０２において欠陥の検出頻度が所定未満の場合、若しくはＳ１２０４において欠陥の検出頻度が所定以上であっても既に回転数を上げている場合、若しくはＳ１２０６において欠陥の検出頻度が所定以上であって回転数を上げ終わった場合は、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、ディスクモータ１５６の回転数を上げているか否かを判別する（Ｓ１２０８）。上げている場合は、回転数を元に戻す（Ｓ１２１０）。回転数を上げていない場合、若しくは回転数を戻した場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。なお、欠陥の検出頻度以外にも、欠陥の長さが所定以上の場合に同様な処理を行っても良い。
【０１０９】
以上のように、実施の形態３の光ディスク装置１００によれば、ディスク１回転に現れる欠陥の検出頻度に応じてディスクモータ１５６の回転数を制御することができる。これにより、個人識別情報１０４による欠陥による外乱が多く制御が大きく揺れる場合であっても、回転数を上げることで外乱の周波数を高くし制御の追従性を悪くすることで、欠陥に振られることなく、個人識別情報領域での制御の安定性が向上される。
【０１１０】
なお、フォーカス制御のみを行っている場合は、外乱の周波数がフォーカス制御の制御帯域の略１０倍以上になるように回転数を設定するのが良い。また、フォーカス制御とトラッキング制御を行っている場合は、外乱の周波数がフォーカス制御の制御帯域とトラッキング制御の制御帯域のうち、何れか高い制御帯域の略１０倍以上になるように回転数を設定するのが良い。
【０１１１】
なお、外乱への制御の追従性を悪くする方法としては、回転数を変更する以外に、フォーカス制御やトラッキング制御の制御帯域を低くしても良い。なお、制御帯域は外乱周波数の１０分の１程度にするのが良い。
【０１１２】
（実施の形態４）
図１３は本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置１３００の構成を示したブロック図である。前述した実施の形態１から実施の形態３までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１１３】
実施の形態４に係る光ディスク装置１３００は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、表面２０６にフォーカスを制御し、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する。
【０１１４】
光ピックアップ１３０２は、球面収差補正レンズ１３０４、球面収差補正レンズ移動手段１３０６を新たに有する。球面収差補正レンズ１３０４は、表面２０６までの球面収差を補正できない。球面収差補正レンズ移動手段１３０６は、球面収差補正レンズ１３０４が球面収差を補正できる範囲でのストロークを少なくとも持つ。例えば、球面収差補正レンズ１３０４が記録層２０６の近傍のみで球面収差を補正できる場合、球面収差補正レンズ移動手段１３０６は少なくとも記録層２０６の近傍のストロークを持てば良い。
【０１１５】
コントローラ１３０８は、光量信号生成手段１３１０と、フォーカス制御手段入力切換手段１３１２を新たに有する。
【０１１６】
光量信号生成手段１３１０は、反射光信号の全てまたは一部の和から光量信号を生成し、出力する。
【０１１７】
フォーカス制御手段入力切換手段１３１２は、フォーカスエラー信号と光量信号のうち何れか１つを選択し、フォーカス制御手段１３８への入力を切換える。
【０１１８】
フォーカス制御手段１３８は光スポットの垂直方向が目標位置へ収束するように、入力信号に応じた目標レベルを設定する。目標レベルと入力信号との差分である誤差信号にフォーカス位相補償フィルタ３０４により位相補償を施し、光スポットを制御する。
【０１１９】
入力信号が光量信号の場合は、光量信号が一定以上となるように光スポットを制御してもよい。
【０１２０】
以上の構成において、実施の形態４に係る光ディスク装置１３００について、図１４を参照して説明する。図１４は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、表面２０６にフォーカスを制御し、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【０１２１】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を記録層２０４に合わせる（Ｓ１４０２）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、表面２０６でのフォーカスエラー信号の対称性を確認し、フォーカスエラー信号を用いて光スポットを表面２０６に制御できるか否かを判断する（Ｓ１４０４）。フォーカスエラー信号の対称性が大きい、つまりアンバランスであると制御が不安定となる（図１５参照）。フォーカスエラー信号の対称性が所定以上の場合は、フォーカス制御手段入力切換手段１３１２は、フォーカス制御手段１３８への入力を光量信号に切換える（Ｓ１４０６）。Ｓ１４０４において、フォーカスエラー信号の対称性が所定未満である場合は、フォーカス制御手段１３８への入力はフォーカスエラー信号となる。フォーカス制御手段１３８への入力信号が決まった後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【０１２２】
なお、Ｓ１４０２において、球面収差補正レンズ１３０４を表面２０６における球面収差が最良となる位置にしても良い。
【０１２３】
なお、光ピックアップ１０８の設計などでフォーカスエラー信号の品質が保障できないと分かっている場合は、Ｓ１４０４の判別を行わず、Ｓ１４０６を実行しても良い。
【０１２４】
以上のように、実施の形態４の光ディスク装置１３００によれば、球面収差補正レンズ１３０４に表面２０６までの球面収差を補正できない場合であっても、表面２０６に光スポットを制御でき、個人識別情報１０４を検出できる。検出された個人識別情報１０４は２次元の欠陥位置を表す。これに従来からの指紋の特徴点検出を行うと、特徴点が分かり個人を特定できる。特定された個人に基づいて、例えばコンテンツを暗号化し、光ディスク１０２に暗号化されたコンテンツを記録すれば、光ディスク１０２に記録されたコンテンツのセキュリティーが向上される。
【０１２５】
なお、記録層２０４にフォーカスを制御した場合に、表面２０６における光ビームの直径が略５０ｕｍとなるには、光源１１０の波長によって以下のような基材厚を持つのが最良である。波長が略７８０ｎｍの場合は略７９ｕｍ。波長が略６５０ｎｍの場合は略５７ｕｍ。波長が略４０５ｎｍの場合は略３６ｕｍ。ただし、これら基材厚の光ディスク１０２に一般的ではない。一般的な光ディスク１０２の中では、光ディスク１０２にＢＤを、光源１１０に波長が略７８０ｎｍのものを組み合わせるのが好適である。
【０１２６】
（実施の形態５）
図１７は本発明の実施の形態５に係る光ディスク装置１７００の構成を示したブロック図である。前述した実施の形態１から実施の形態４までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１２７】
実施の形態５に係る光ディスク装置１７００は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、記録層２０４にフォーカス制御を行い、記録層２０４のディスクフォーマットを用いて欠陥の半径位置および回転角位置を検出する。
【０１２８】
コントローラ１７０２は、アドレス再生手段１７０４を新たに有し、欠陥マッピング手段１７０６を有する。
【０１２９】
光ディスク１７０８は回転角位置パターン１０６を有しない。
【０１３０】
アドレス再生手段１７０４は入力信号から光ディスクに物理的に書かれたアドレスを再生する。アドレスは光ディスク１０２に物理的に記録されたディスクフォーマットに関するものであり、ディスクフォーマットから光ディスク１０２の半径位置や回転角位置を検出することができる。アドレス再生手段１７０４は、ディスクフォーマットから検出された半径位置と回転角位置をディスク位置信号として出力する。
【０１３１】
欠陥マッピング手段１７０６は、欠陥検出信号、半径位置検出信号、回転角位置検出信号に基づいて、欠陥が検出された半径位置と回転角位置を蓄え、欠陥を２次元でマッピングする。なお、半径位置と回転角位置を蓄える機能は、その全部または一部を外部機器１６０へ置いても良い。
【０１３２】
以上の構成において、実施の形態５に係る光ディスク装置１７００について、図１８を参照して説明する。図１８は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、記録層２０４にフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【０１３３】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を記録層２０４に合わせる（Ｓ１４０２）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを記録層２０４に制御する（Ｓ１８０２）。光スポットを記録層２０４に制御した後に、所望のトラックにトラッキング制御をする（Ｓ１８０４）。トラッキング制御をした後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ１８０６）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ１８０８）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０はディスク位置信号により半径位置を記憶し（Ｓ１８１０）、ディスク位置信号により回転角位置を記憶する（Ｓ１８１２）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、半径位置を移動する（Ｓ１８１４）。なお、移動する距離は５０ｕｍ程度にすると良い。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【０１３４】
Ｓ１８０６において、個人識別情報領域を探索する方法としては、アドレス再生手段１７０４から得られるアドレスに従って光ディスク１７０８の略水平方向に光ピックアップ１０８を移動させるシーク動作を行って、光ディスク１７０８の内周から外周まで数ｍｍ程度の刻み幅で略水平方向に移動させ、ディスク１回転に現れる欠陥の頻度を検出する方法がある。別の方法としては、光ディスク１０２に個人識別情報領域が記録されていれば、それが個人識別領域の探索結果となる。別の方法としては、個人識別情報エリア２１４が設けられている場合は、それが個人識別領域の探索結果となる。
【０１３５】
Ｓ１８０８において、個人識別情報領域を始端に移動する方法としてはシーク動作がある。
【０１３６】
Ｓ１８１４において、半径位置を移動する方法としてはシーク動作がある。
【０１３７】
以上のように、実施の形態５の光ディスク装置１７００によれば、光ディスク１７０８の物理的に書かれた情報によって半径位置と回転角位置を検出でき、光ディスク装置１００から構成を一部省略できる。これにより、より安価に光ディスク装置を製造できる。
【０１３８】
なお、欠陥検出手段１４８は、前述した図１６と同様な欠陥検出方法を用いると、より欠陥検出の性能が向上される。
【０１３９】
なお、個人識別情報領域でアドレスが検出できない場合は、アドレスが再生できる区間の半径位置と回転角位置に基づいて、アドレスが再生できない区間の半径位置と回転角位置を補間すると良い。
【０１４０】
なお、トラック追従中にトラッキング制御が所望のトラックから外れた場合は、所望のトラックに戻り欠陥のマッピングを再開する。なお、トラックが外れたことを検出する方法は、トラッキング制御中にトラッキングエラー信号のレベルが所定以上になったことを検出する方法や、再生されたアドレスが期待値を外れたことを検出する方法がある。
【０１４１】
（実施の形態６）
図１９は本発明の実施の形態６に係る光ディスク装置１９００の構成を示したブロック図である。前述した実施の形態１から実施の形態５までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１４２】
実施の形態６に係る光ディスク装置１９００は、欠陥検出にフォーカスエラー信号を用い欠陥厚みを検出し、欠陥マッピング信号に付与して出力する。
【０１４３】
コントローラ１９０２は欠陥検出手段１９０４、欠陥マッピング手段１９０６を有する。
【０１４４】
欠陥検出手段１９０４はフォーカスエラー信号を入力として、フォーカスエラー信号に基づいて欠陥を検出し欠陥検出信号を出力する。さらに、欠陥におけるフォーカスエラー信号の振れのレベルを欠陥厚み信号として出力する。
【０１４５】
図２０はフォーカスエラー信号、フォーカスエラー信号から欠陥の有無を検出する欠陥検出閾値、欠陥検出信号、欠陥厚み信号（Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃ、Ｔｄ）を表す。図２０では表面２０６にフォーカスを制御している場合である。光スポットが指紋の上を通過するとフォーカスエラー信号は一方の極性に偏って振れる。これは、ミクロ的に見ると指紋は水滴や油滴によって構成されている。水滴や油滴は数ｕｍ程度の大きさでフォーカスエラー信号に現れる外乱としては非常に高い。例えば、水滴や油滴が１０ｕｍ、回転数が１０００ｒｐｍ、半径位置が４０ｍｍの場合では、約４１８ｋＨｚとなる。それに対して、フォーカス制御が応答可能な周波数は数ｋＨｚであり、水滴や油滴には追従しない。故に、水滴や油滴に対応したフォーカスエラー信号が現れる。
【０１４６】
欠陥検出手段１９０４の出力である欠陥検出信号と欠陥厚み信号は欠陥マッピング手段１９０６に入力される。
【０１４７】
欠陥マッピング手段１９０６は、欠陥検出信号、半径位置検出信号、回転角位置検出信号、欠陥厚み信号に基づいて、欠陥が検出された半径位置と回転角位置と欠陥厚みを蓄え、欠陥を２次元でマッピングする。マッピングした結果を欠陥マッピング信号として出力する。欠陥マッピング手段１９０６がマッピングした個人識別情報１０４の例を図２１に示す。図２１（ａ）では欠陥が○部で検出される。欠陥マッピング手段１９０６は図２１（ｂ）のように○部の半径位置と回転角位置と欠陥厚みを蓄える。なお、半径位置と回転角位置と欠陥厚みを蓄える機能は、その全部または一部を外部機器１６０へ置いても良い。
【０１４８】
欠陥マッピング手段１９０６の出力である欠陥マッピング信号は外部機器１６０へ入力される。外部機器１６０とは、例えばホストコンピュータである。
【０１４９】
以上のように、実施の形態６の光ディスク装置１９００によれば、欠陥検出にフォーカスエラー信号を用いることで、欠陥マッピング信号に欠陥厚さを付与することができる。
【０１５０】
（実施の形態７）
本発明の実施の形態７では、光ディスク記録装置／再生装置と、個人識別情報１０４を管理するサーバとの連携によって、本人の個人識別情報１０４が付与されている場合にのみ、記録されたコンテンツの再生を行うことのできる光ディスク利用システムについて説明する。前述した実施の形態１から実施の形態６までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。個人識別情報１０４は個人を識別するための情報であり、例えば指紋や筆跡である。本発明は個人識別情報１０４が指紋である場合を代表して記載する。
【０１５１】
図７（ａ）は、本発明の光ディスク記録装置／再生装置によって抽出される指紋マッピング情報の概念図を示している。また、図７（ｂ）は、図７（ａ）の指紋マッピング情報である。
【０１５２】
本実施の形態での指紋マッピング情報とは、図７（ｂ）に示すように、欠陥の半径位置と回転角位置を表したものであり、一種の２値画像データとしても取り扱うことのできる情報である。
【０１５３】
すなわち、本実施の形態での指紋マッピング情報とは、指紋の２値画像データとしても扱うことができるので、指紋の特徴点検出を行うことによる指紋認証方法は、従来から公知となっている一般的な指紋画像による指紋の特徴点検出や指紋認証をそのまま応用することが可能である。
【０１５４】
図２２は、本実施の形態における光ディスク記録時の動作を示したフローチャートである。本システムでは、光ディスクに付いた指紋情報を読み出す光ディスク記録装置と、光ディスク記録装置とインターネットなど汎用ネットワークで接続された管理サーバとの連動によって、光ディスクにコンテンツを記録する動作の流れを示している。
【０１５５】
まず、光ディスク記録装置では、光ディスクの特定領域に付与されている光ディスク1枚ごとに識別可能なディスク識別情報を読み出す（Ｓ２２０２）。前記特定領域とは、光ディスクのバーストカッティング領域（ＢＣＡ）を意味する。通常、著作権保護されたコンテンツを記録するためには、ＢＣＡにディスク識別情報が付与された記録型光ディスクを用いる必要がある。本ディスクも、同様に、ディスク内周部のＢＣＡにバーコード上マークによってディスク識別情報が記録されている。
【０１５６】
次に、光ディスクに付いた指紋情報を２次元でマッピングし、指紋マッピング情報を生成する。（Ｓ２２０４）。これは、前述の実施の形態１に示したように、光ディスクからの反射光の光量変化を利用して欠陥であるかどうかの判定を行い、欠陥と判定された場合には、欠陥として指紋情報が検出される。同時に、欠陥の位置情報（半径位置、回転角位置）を抽出して２次元で指紋マッピングを行う。これを指紋領域に渡って行い、指紋マッピング情報を生成する。
【０１５７】
Ｓ２２０２によって、指紋マッピング情報の生成が終了した場合には、Ｓ２２０２で読み出したディスク識別情報と、Ｓ２２０４で生成された指紋のマッピング情報とを対応付けて、管理サーバに送信する（Ｓ２２０６）。
【０１５８】
管理サーバでは、光ディスク記録装置が送信した指紋のマッピング情報を受信する（Ｓ２２０８）。
【０１５９】
次に、受信した指紋のマッピング情報から指紋の特徴点を探索する（Ｓ２２１０）。この探索方法は、指紋の特徴点である端点や分岐などを抽出して、指紋の特徴点リストを作成する。特徴点リストとは、指紋の特徴点である端点や分岐などの特徴点の識別情報と、その位置情報のリストである。本特徴点は、指紋のマッピング情報のすべての点で探索を行い、抽出されるすべての特徴点をリストアップする（Ｓ２２１２）。
【０１６０】
また、特徴点の探索方法は、指紋のマッピング情報を画像データとして利用して、公知となっている指紋特徴点抽出を用い実施する。公知となっている指紋特徴点抽出方法は、例えば、http://jp.fujitsu.com/group/labs/techinfo/techguide/list/fingerprint_p05.htmlに記載された方法を用いる。
【０１６１】
次に、光ディスク記録装置にてコンテンツを暗号化して記録するための暗号鍵を生成する（Ｓ２２１４）。暗号鍵は、受信したディスク識別情報を初期値として生成した擬似乱数系列によって生成される。なお、暗号鍵は、擬似乱数系列でなくても、指紋リスト情報のハッシュ関数出力としてもかまわない。暗号鍵の生成方法は、容易に類推されない方法であればどのような方法でもかまわない。
【０１６２】
次に、受信した識別情報に対応付けて、生成した特徴点リストを管理データベース（ＤＢ）に記憶させる（Ｓ２２１６）。
【０１６３】
Ｓ２２１６によって管理ＤＢに登録すると、生成した暗号鍵を光ディスク記録装置に送信する（Ｓ２２１８）。この場合、光ディスク記録装置と管理サーバは、秘密の暗号鍵によって暗号化して通信する仮想プライベートネットワークを利用することによって、生成した暗号鍵が第３者に漏洩することを防止することが可能となる。
【０１６４】
送信された暗号鍵は、光ディスク記録装置に受信される（Ｓ２２２０）。
【０１６５】
次に、受信した暗号鍵で光ディスクに記録するコンテンツを暗号化し、光ディスクに記録する（Ｓ２２２２）。
【０１６６】
図２３は、図２２で説明した光ディスク記録装置と管理サーバの特徴的なブロックを示したブロック図である。
【０１６７】
本システムは、光ディスク記録装置２３００および管理サーバ２３０２で構成され、光ディスク記録装置２３００は、光ピックアップ１０８、トラバース１３２、スピンドルモータ１５６、光ディスク識別情報読出し手段２３０４、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０、通信手段２３０６、暗号化手段２３０８、変調手段２３１０および光源照射制御手段２３１２から構成され、管理サーバ２３０２は、通信手段２３１４、特徴点探索手段２３１６、管理データベース（ＤＢ）２３１８および暗号鍵生成手段２３２０から構成される。
【０１６８】
光ディスク識別情報読出し手段２３０４は、光ディスク２３３４の内周に位置するＢＣＡに予め記録されているバーコード状記録マークから、ディスクごとに固有のディスク識別情報を読み出す。前記バーコード状マークは、光ディスク製造時に、高出力のＹａＧレーザなどによって、光ディスク表面の反射金属膜を融解して、除去することによって記録されている。バーコード状マークは光ビーム照射のともなう反射光量の変化によって読み出すことが可能となる。
【０１６９】
通信手段２３０６は、指紋マッピング情報送信手段２３２２と暗号鍵受信手段２３２４から構成され、汎用ネットワーク２３２６を介して管理サーバ２３０２との通信を行う部分であり、指紋マッピング情報送信手段２３２２によって、抽出した指紋マッピング情報と読み出されたディスク識別情報を管理サーバ２３０２に送信する。
【０１７０】
一方、管理サーバ２３０２の特徴的なブロックについて説明する。
【０１７１】
通信手段２３１４は、汎用ネットワーク２３２６により、光ディスク記録装置２３００と接続され、指紋マッピング情報受信手段２３２８と暗号鍵送信手段２３３０とから構成される。指紋マッピング情報受信手段２３２８は、指紋マッピング情報送信手段２３２２から送信された指紋マッピング情報とディスク識別情報を受信する。
【０１７２】
特徴点探索手段２３１６は、受信した指紋マッピング情報から、特徴点リストを生成する。特徴点リストとは、指紋マッピング情報から抽出された指紋の特徴点の識別情報とその位置情報（半径位置、回転角位置）がリストアップされたリストである。また、指紋の特徴点とは、前述のとおり、指紋の分岐や端点であり、指紋マッピング情報から、指紋の分岐や端点を探索し、検出できた場合は、その点の位置情報とともにリストアップする。
【０１７３】
管理ＤＢ（データベース）２３１８は、特徴点探索手段２３１６で抽出した特徴点リストをディスク識別情報に関連付けて管理記憶するデータベースである。
【０１７４】
暗号鍵生成手段２３２０は、管理ＤＢ２３１８からのディスク識別情報と、内部に持つ擬似乱数系列生成手段２３３２で生成した乱数系列に基づいて、暗号鍵を生成して生成した暗号鍵を管理ＤＢ２３１８と暗号鍵送信手段２３３０に出力する。なお、擬似乱数系列生成手段２３３２は、一般的なＭ系列生成のためのシフトレジスタなので構成される。本実施の形態では、暗号鍵をディスク識別情報と生成した乱数系列との論理演算あるいは算術演算によって生成するものとする。
【０１７５】
管理ＤＢ２３１８は、ディスク識別情報に基づいて管理記憶している特徴点リストに加えて、暗号鍵生成手段２３２０で生成した暗号鍵も、対応するディスク識別情報に関連付けて管理される。
【０１７６】
暗号鍵送信手段２３３０は、暗号鍵生成手段２３２０で生成した暗号鍵を光ディスク記録装置２３００に送信する。
【０１７７】
光ディスク記録装置２３００の暗号鍵受信手段２３２４は、管理サーバ２３０２から送信される暗号鍵を受信する。
【０１７８】
暗号化手段２３０８は、受信した暗号鍵によって、光ディスク２３３４に記録するコンテンツ情報を暗号化する。本実施形態での暗号化は、一般的なＤＥＳやＡＥＳなどの秘密鍵暗号が用いられる。
【０１７９】
変調手段２３１０は、暗号化手段２３０８によって暗号化されたコンテンツを光ディスク２３３４の記録形態に合致する変調を行う。例えば、ＤＶＤであれば８−１６変調であり、ＢＤでは１７ｐｐ変調である。
【０１８０】
光源照射制御手段２３１２は、光ピックアップ１０８に搭載されている光源の光源ドライバを含み、変調手段２３１０からの変調データに基づいて光ディスク２３３４に記録するための光源強度制御を行う。
【０１８１】
光ピックアップ１０８は、光源照射強度制御手段２３１２で制御された光源強度により光ディスク２３３４に光ビームを照射することによって光学的に読み取り可能な記録マークを光ディスク２３３４に形成することによって、暗号化されたコンテンツを光ディスク２３３４に記録する。
【０１８２】
図２４は、本発明による光ディスク再生装置の処理の流れを示したフローチャートである。
【０１８３】
まず、光ディスクのBCA（Burst Cutting Area）などの特定領域に記録されているディスク識別情報を読み出す。一般的な光ディスクでは、光ディスク内周のBCA領域にバーコード状の記録マークによって光ディスクの固体識別が可能な光ディスク識別情報が記録されているので、この光ディスク識別情報を、光ディスクの起動直後に読み出す（Ｓ２４０２）。
【０１８４】
次に、光ディスクに付いた指紋情報を２次元でマッピングし、指紋マッピング情報を生成する。（Ｓ２２０４）。
【０１８５】
Ｓ２２０２によって、指紋マッピング情報の生成が終了した場合には、Ｓ２２０２で読み出したディスク識別情報と、Ｓ２２０４で生成された指紋のマッピング情報を管理サーバに送信する（Ｓ２４０４）。
【０１８６】
管理サーバでは、光ディスク再生装置から送信されるディスク識別情報と指紋マッピング情報とを受信する（Ｓ２４０６）。
【０１８７】
次に、指紋マッピング情報から指紋の特徴点を探索する（Ｓ２４０８）。
【０１８８】
次に、指紋の特徴点リストを生成する（Ｓ２４１０）。
【０１８９】
Ｓ２４０８、Ｓ２４１０は、Ｓ２２１０、Ｓ２２１２と同様の処理であり、ここでは詳細な説明は省略する。ただし、特徴点リストはＳ２２１２で生成するものより、Ｓ２４１０で生成するものが部分的なものであってもかまわない。Ｓ２２１２における特徴点リストは、指紋マッピング情報に含まれる全ての指紋の中から検出できる全ての特徴点をリストアップするのに対して、Ｓ２４１０では、指紋の特徴点の検出精度などに応じて、検出精度の高いもののみをリストアップしてもかまわない。
【０１９０】
次に受信したディスク識別情報に基づいて管理ＤＢから登録されている特徴点リストを読み出す（Ｓ２４１２）。
【０１９１】
次に管理ＤＢから読み出した特徴点リストと受信した特徴点リストを照合する。照合は、特徴点の種別（特徴点識別情報）とその位置情報（半径位置、回転各位置）に基づいて行う。従って、同じ種別の特徴点が、同位置に存在するか否かで照合を行う。また、位置情報は、照合範囲を管理ＤＢに管理されている特徴点リストから許容誤差を含めた範囲で照合することが望ましい（Ｓ２４１４）。
【０１９２】
次に、照合結果の閾値判定によって所定数以上の特徴点位置の一致が確認されたかどうかを判定する（Ｓ２４１６）。前記所定数とは、本システムによる指紋照合の結果、本人と一致する確率を十分に確保するとともに、他人の指紋を間違えて本人を判定してしまう誤照合の確率を十分小さくするように設定される。
【０１９３】
Ｓ２４１６の結果、所定数以上の特徴点の一致が確認できない場合（Ｓ２４１６のＮｏ）、照合エラーを光ディスク再生装置に送信する（Ｓ２４１８）。
【０１９４】
光ディスク再生装置では、照合エラーを受信する（Ｓ２４２０）。
【０１９５】
次に照合エラーを受信すると、光ディスク再生装置において光ディスクを再生する動作を停止して、処理を中断する（Ｓ２４２２）。
【０１９６】
一方、Ｓ２４１６で、所定数以上の特徴点の一致が確認できた場合、受信したディスク識別情報に対応した暗号鍵を管理ＤＢから読み出し、光ディスク再生装置に送信する（Ｓ２４２４）。
【０１９７】
光ディスク再生装置では、管理サーバから送信された暗号鍵を受信する（Ｓ２４２６）。
【０１９８】
次に、受信した暗号鍵に基づいて、光ディスクから再生した暗号化されたコンテンツを復号化して再生する（Ｓ２４２８）。
【０１９９】
以上のように、本発明の光ディスク再生装置と管理サーバを用いることによって、光ディスクに付いた指紋情報が本人のものであるかどうかを管理サーバで判定して、照合の結果一致した場合にのみ、光ディスクを再生することのできる暗号鍵を光ディスク再生装置に送信することによって暗号化されたコンテンツを再生することが可能となる。
【０２００】
一方、他人の指紋が付いた光ディスクの場合は、指紋情報の照合が不可能となり、光ディスクを再生することが不可能となる。
【０２０１】
図２５は、本発明の光ディスク再生装置２５００と管理サーバ２５０２の特徴的な構成を示したブロック図である。
【０２０２】
本光ディスク再生装置２５００は、光ピックアップ１０８、トラバース１３２、スピンドルモータ１５６、光ピックアップ１０８、光ディスク識別情報読出し手段２３０４、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０、通信手段２５０４、再生手段２５０６、復調手段２５０８および復号化手段２５１０から構成される。
【０２０３】
また、管理サーバ２５０２は、通信手段２５１２、特徴点探索手段２３１６、管理ＤＢ２５１４および特徴点リスト照合手段２５１６から構成される。
【０２０４】
通信手段２５０４は、インターネット網などの汎用ネットワーク２３２６によって管理サーバ２５０２に接続されており、指紋マッピング情報送信手段２５１８と暗号鍵受信部２５２０から構成される。
【０２０５】
指紋マッピング情報送信手段２５１８は、欠陥マッピング手段１５０で生成した指紋マッピング情報と読み出したディスク識別情報を管理サーバ２５０２に送信する。
【０２０６】
管理サーバ２５０２の通信手段２５１２は、インターネット網など汎用の汎用ネットワーク２３２６を介して光ディスク再生装置と接続され、指紋マッピング情報受信手段２５２２と暗号鍵送信手段２５２４から構成される。
【０２０７】
指紋マッピング情報受信手段２５２２は、光ディスク再生装置２５００から送信される指紋マッピング情報と光ディスク識別情報を受信する。
【０２０８】
管理ＤＢ２５１４は、受信した光ディスク識別情報から、対応する特徴点リストと暗号鍵を管理情報として特徴点リスト照合手段２５１６に出力する。
【０２０９】
特徴点リスト照合手段２５１６は、特徴点位置照合手段２５２６と閾値判定手段２５２８から構成される。
【０２１０】
特徴点位置照合手段２５２６は、管理ＤＢ２５１４に管理されている特徴点リストと受信した特徴点リストの各特徴点リストに記載されている特徴点ごとにその特徴点の識別情報と特徴点の位置情報を照合する。
【０２１１】
また、閾値判定手段２５２８では、特徴点位置照合手段２５２６、特徴点位置の照合結果が合致する特徴点数を閾値判定することによって、指紋情報が認証できたかどうかを判定する。
【０２１２】
暗号鍵送信手段２５２４では、閾値判定手段２５２８の結果、本人の認証が確認できた段階で、汎用ネットワーク２３２６を介して、受信したディスク識別情報に従って管理ＤＢ２５１４から出力される暗号鍵を光ディスク再生装置２５００に送信する。
【０２１３】
光ディスク再生装置２５００の通信手段２５０４の暗号鍵受信部２５２０は、管理サーバ２５０２から送信される暗号鍵を受信する。
【０２１４】
一方、光ピックアップ１０８は、光ディスク２３３４に光ビームを照射し、その反射光から暗号化されたコンテンツ情報を示す読み取り信号を生成する。
【０２１５】
再生手段２５０６は、暗号化されたコンテンツ情報を示す読み取り信号をデジタル化して、変調データをデジタル信号として生成する。
【０２１６】
復調手段２５０８は、変調データを復調するブロックであり、光ディスク記録装置２３００の変調手段２３１０に対応した復調を行う。
【０２１７】
復号化手段２５１０は、暗号化されたコンテンツ情報を受信した暗号鍵で復号化することによってコンテンツを再生する。
【０２１８】
以上より、本光ディスク再生装置と管理サーバを用いれば、光ディスク表面に付いた指紋情報が本人のものであると認証された場合にのみ、光ディスクに記録されている暗号化されたコンテンツの復号化を行うための暗号鍵が管理サーバから送信され、コンテンツを再生することが可能となる。
【０２１９】
一方、指紋が付いていない場合や他人の指紋が付いた指紋が認証されない場合には、管理サーバから暗号化されたコンテンツを復号するための暗号鍵情報が送信されないので、結果としてコンテンツを再生することが不可能である。
【０２２０】
従って、実質的に光ディスク再生装置のコストアップをすることなく、本人のみ使用・閲覧することが望ましいコンテンツや、指紋をふき取るまで有効となる光ディスクなどを実現すること可能となり、光ディスクの応用範囲を広げることが可能となる。
【０２２１】
図２６は、光ディスクに付与される指紋の概念図と、そのときの特徴点リストの形態を示した概念図である。
【０２２２】
特徴点探索手段２３１６によって指紋マッピング情報から特徴点を探索した結果、端点としてＹ１、Ｙ４、Ｙ５が検出され、分岐点としてＹ２、Ｙ３が検出された例である。
【０２２３】
このように探索された特徴点は、指紋マッピング情報と対応付けて得られる特徴点の位置情報（半径位置、回転角位置）と対応付け、さらに、特徴点が端点なのか分岐点なのかを示す特徴点識別情報とともに特頂点リストを生成する。
【０２２４】
したがって、管理サーバ２５０２の特徴点リスト照合部Ｙ５１７では、受信した指紋マッピング情報から生成した特徴点リストと、管理ＤＢ２５１４に管理されている特徴点リストを一点一点、特徴点の識別情報とその位置情報とを照合していくことによって、指紋が本人のものであるかの認証を行う。
【０２２５】
本システムでは、指紋の特徴点探索というきわめて計算コストの高い処理をサーバ側の処理とすることによって、光ディスク再生装置のコストアップ要素を実質的になくすとともに、指紋認証のような高いセキュリティーを実現している。
【０２２６】
また、本発明では、指紋をセンシングするための特殊なセンサなどは必要とせず、光ディスクの表面に付いた指紋をコンテンツ情報と同じ光学系で検出することが可能である。
【０２２７】
また、光ディスク再生装置では、指紋位置とその位置情報を２次元マッピングし、指紋の２次元画像情報と等価な情報を生成し、管理サーバでは、指紋マッピング情報と画像データとして用いることによって、一般的な指紋認証手段をそのまま利用することが可能となる。
【０２２８】
また、実施の形態６に示したような欠陥検出手段１９０４によって、指紋マッピング情報に欠陥厚みの情報を付与できる。指紋は時間経過により水滴や油滴が蒸発し、厚さが薄くなる。２つの異なる時点の指紋マッピング情報を比較することで時間経過を検出することができ、時間によりコンテンツ再生の可否を制御することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０２２９】
本発明による光ディスク装置は、光ディスクに付いた個人識別情報を検出することが可能となり、光ディスクに記録されたコンテンツや光ディスクに接続された機器等のセキュリティー向上に有用である。
【符号の説明】
【０２３０】
１０２ 光ディスク
１０４ 個人識別情報
１０６ 回転角位置パターン
１０８ 光ピックアップ
１１０ 光源
１１８ 球面収差補正レンズ
１２０ 球面収差補正レンズ移動手段
１２２ 対物レンズ
１２４ フォーカス移動手段
１２６ トラッキング移動手段
１３０ 受光手段
１３２ トラバース
１３４ コントローラ
１３６ フォーカスエラー信号生成手段
１３８ フォーカス制御手段
１４０ トラッキングエラー信号生成手段
１４２ トラッキング制御手段
１４４ 再生信号指標生成手段
１４６ 球面収差検出手段
１４８ 欠陥検出手段
１５０ 欠陥マッピング手段
１５２ 半径位置検出手段
１５４ 回転角位置検出手段
１５６ ディスクモータ
１５８ 回転角位置パターン検出手段
１６０ 外部機器
２０２ レーベル面
２０４ 記録層
２０６ 表面
２１０ 物理情報領域
２１４ 個人識別情報エリア
３０４ フォーカス位相補償フィルタ
３０６ フォーカス制御信号オフセット手段
４０４ トラッキング位相補償フィルタ
４０６ トラッキング制御信号オフセット手段
１００６ フォーカス位相補償信号記憶手段
１３１０ 光量信号生成手段
１７０４ アドレス再生手段
１７０６ 欠陥マッピング手段
１９０４ 欠陥検出手段
１９０６ 欠陥マッピング手段
２３０４ 光ディスク識別情報読出し手段
２３０６ 通信手段
２３０８ 暗号手段
２３１０ 変調手段
２３１２ 光源照射制御手段
２３１４ 通信手段
２３１６ 特徴点探索手段
２３１８ 管理データベース
２３２０ 暗号鍵生成手段
２３２２ 指紋マッピング情報送信手段
２３２４ 暗号鍵受信手段
２３２８ 指紋マッピング情報受信手段
２３３０ 暗号鍵送信手段
２３３２ 擬似乱数系列生成手段
２５０４ 通信手段
２５０６ 再生手段
２５０８ 復調手段
２５１０ 復号化手段
２３１６ 特徴点リスト照合手段
２５２６ 特徴点位置照合手段
２５２８ 閾値判定手段
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクの表面に付いた個人を識別する情報（個人識別情報）を検出する光ディスク装置、および個人識別情報を管理するシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報セキュリティーを向上させる目的で、複製が困難である個人に固有な生体情報、例えば指紋、静脈、虹彩を個人識別情報として認証の一部に用いる場合がある。
【０００３】
従来の光ディスク装置で、同様に個人識別情報を使った認証を行う場合には、新たに外部機器を用意する必要があり、コストが掛かる。このため、光ディスク装置のみによって個人識別情報を検出できれば有用である。
【０００４】
本発明に関連した従来技術として、特許第２５３１２９３号公報（特許文献１）がある。
【０００５】
特許第２５３１２９３号公報に記載の技術では、欠陥の位置を、光ディスクの半径位置と回転角位置でマッピングし、マッピングした半径位置と回転角位置から欠陥塊を検出している。
【０００６】
光ディスクからの反射光が欠落する部分を検出し、その長さを求め欠陥の周方向の長さを検出する。次に、ディスクに書かれたディスクフォーマットを再生し、そのディスクフォーマットに基づいて欠陥の種類を判別する。光ディスク回転の１回転につき１発のローテーションパルスと再生されたディスクフォーマットに基づいて欠陥の半径位置と回転角位置を検出する。欠陥の種類、周方向の長さ、半径位置、回転角位置を欠陥データとして、メモリに蓄える。メモリに蓄えた欠陥データに基づいて、その欠陥の半径位置と回転角位置から欠陥塊を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特許第２５３１２９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
新たな外部機器を必要とせずに光ディスク装置で個人識別情報を検出する場合、ここでは光ディスクの表面に指紋を付けて、それを光ピックアップで収束させた光スポットで検出する場合について考える。外部機器としての指紋センサには一般的に５０ｕｍ程度の検出分解能が求められることが知られている。
【０００９】
しかしながら、従来の構成を個人識別情報の検出に応用しようとしても従来の構成は複数のトラックに渡る欠陥である欠陥塊を検出するものであった。また、欠陥の半径位置と回転角位置を光ディスクのディスクフォーマットに基づいて検出していた。故に、光ディスクの記録層に光スポットを制御する必要があった。記録層に光スポット当てた場合の表面におけるビームの直径はディスクの種類によって異なるが大まかには以下の通りとなる。コンパクトディスク（以下、ＣＤと称す）の場合は約６９０ｕｍ、ＤＶＤの場合は約５２０ｕｍ、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ(以下、ＢＤと称す)の場合は約１４０ｕｍである。これらは、外部機器の指紋センサに求められる検出分解能に比べると大きい。また、指紋を検出するための欠陥検出方法についても特に言及がない。よって、個人識別情報である指紋を検出するのには十分な性能がない。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
従来の課題を解決するために、光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する本発明の光ディスク装置は、前記光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子と、前記反射光信号に基づいてフォーカス信号を生成するフォーカス信号生成手段と、前記フォーカス信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御信号を生成するフォーカス制御手段と、前記反射光信号に基づいて反射光の光量変化から欠陥を検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出手段と、前記光ディスクの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出手段と、前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出手段と、前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピング手段とを備え、前記欠陥マッピング手段により前記個人識別情報を２次元でマッピングし前記個人識別情報を検出することを特徴とする。
【００１１】
また、前記フォーカス制御手段は、前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が付いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御することを特徴とする。
【００１２】
また、前記光ピックアップは球面収差補正レンズと、球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定することを特徴とする。
【００１３】
また、前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、前記フォーカス制御手段は、前記光ディスクの前記記録層に光スポットを制御することを特徴とする。
【００１４】
また、前記欠陥検出手段は、ボトムホールド回路を備え、前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行うことを特徴とする。
【００１５】
また、前記欠陥検出手段は、モノマルチ回路を備え、前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後にモノマルチ回路に通過させて欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長することを特徴とする。
【００１６】
また、前記欠陥検出手段は、トップホールド回路と、ボトムホールド回路を備え、前記反射光信号に基づいた信号を前記トップホールド回路に通過させて得られるトップエンベロープ信号と、前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と、前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて生成される所定の値と、前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行うことを特徴とする。
【００１７】
また、前記フォーカス信号生成手段は光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、出力することを特徴とする。
【００１８】
また、前記フォーカス信号生成手段は前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、出力することを特徴とする。
【００１９】
また、前記フォーカス制御手段は、前記フォーカス信号に位相補償を施したフォーカス位相補償信号を生成し出力するフォーカス位相補償手段と、前記フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成し蓄えるフォーカス位相補償信号記憶手段とを備え、前記個人識別情報が付いた領域ではフォーカス位相補償信号記憶値に基づいてフォーカス制御信号を生成することを特徴とする。
【００２０】
また、前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成することを特徴とする。
【００２１】
また、前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成することを特徴とする。
【００２２】
また、前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとを備え、前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、記半径位置検出手段は前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成することを特徴とする。
【００２３】
また、前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有することを特徴とする。
【００２４】
また、前記光ディスク装置を制御するコントローラを備え、前記コントローラが有する内部クロックと、前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正し、校正した前記内部クロックに基づいて回転角位置を検出することを特徴とする。
【００２５】
また、前記光ディスク装置は前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生手段とをさらに備え、再生されたアドレスに基づいて欠陥の半径位置および回転角位置を検出することを特徴とする。
【００２６】
また、ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度以上である場合は、前記光ディスクの回転を速くすることを特徴とする。
【００２７】
また、所定の長さ以上の欠陥がある場合は、前記光ディスクの回転を速くすることを特徴とする。
【００２８】
また、ユーザーが前記個人識別情報の検出の開始を指令することを特徴とする。
【００２９】
また、前記光ディスクは物理情報領域と、前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とをさらに備え、前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無に基づいて、前記個人識別情報の検出の開始を判断することを特徴とする。
【００３０】
また、前記個人識別情報の検出を開始した後に、前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索することを特徴とする。
【００３１】
また、前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録されたことを特徴とする。
【００３２】
また、前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始することを特徴とする。
【００３３】
また、前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが光ディスク上に明示されたことを特徴とする。
【００３４】
また、前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始することを特徴とする。
【発明の効果】
【００３５】
本発明の光ディスク装置を用いることで、光ディスクの表面に光スポットを制御し、表面にあたる光スポットの大きさを５０ｕｍよりも十分に小さくし、個人識別情報の検出が可能になる。
【００３６】
また、表面に光スポットを制御した場合に好適な欠陥検出の方法を用いることで、個人識別情報の検出性能が向上する。
【００３７】
また、検出した個人識別情報に基づいてコンテンツを暗号化し、光ディスクに記録することで、コンテンツのセキュリティーが向上する。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の実施の形態１、実施の形態２、実施の形態３における光ディスク装置を示す図
【図２】光ディスク１０２の構成を示す図
【図３】フォーカス制御手段１３８の構成を示す図
【図４】トラッキング制御手段１４２の構成を示す図
【図５】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図６】回転角位置パターン１０６の例と検出パターンを示す図
【図７】欠陥マッピング手段１５０が生成する欠陥の２次元マッピングを示す図
【図８】本発明の実施の形態１における動作を示すフローチャート
【図９】フォーカスアップ動作時に現れるフォーカスエラー信号を示す図
【図１０】フォーカス制御手段１００２の構成を示す図
【図１１】本発明の実施の形態２における動作を示すフローチャート
【図１２】本発明の実施の形態３における動作を示すフローチャート
【図１３】本発明の実施の形態４における光ディスク装置を示す図
【図１４】本発明の実施の形態４における動作を示すフローチャート
【図１５】フォーカスエラー信号の対称性を表す図
【図１６】記録層２０４にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図１７】本発明の実施の形態５における光ディスク装置を示す図
【図１８】本発明の実施の形態５における動作を示すフローチャート
【図１９】本発明の実施の形態６における光ディスク装置を示す図
【図２０】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れるフォーカスエラー信号と欠陥検出手段１９０４での欠陥検出方法を示す図
【図２１】欠陥マッピング手段１９０６が生成する欠陥の２次元マッピングを示す図
【図２２】本発明の実施の形態７における光ディスク記録装置の記録動作を示すフローチャート
【図２３】本発明の実施の形態７における光ディスク記録装置を示す図
【図２４】本発明の実施の形態７における光ディスク再生装置の再生動作を示すフローチャート
【図２５】本発明の実施の形態７における光ディスク再生装置を示す図
【図２６】指紋の概念図と特徴点リストの形態を示す図
【図２７】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図２８】表面２０６にフォーカス制御した場合に現れる光量変化と欠陥検出手段１４８での欠陥検出方法を示す図
【図２９】光ディスク１０２の構成を示す図
【発明を実施するための形態】
【００３９】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を用いて説明する。
【００４０】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成を示したブロック図である。
【００４１】
実施の形態１に係る光ディスク装置１００は、球面収差を表面２０６に適して補正し、表面２０６にフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する。
【００４２】
光ディスク１０２の表面２０６に個人識別情報１０４が付いている。個人識別情報１０４は個人を識別するための情報であり、例えば指紋や筆跡である。本発明は個人識別情報１０４が指紋である場合を代表して記載する。個人識別情報１０４が付いた光ディスク１０２上の領域を個人識別情報領域と称す。光ディスク１０２の内周部分には回転角位置パターン１０６がある。回転角位置パターン１０６は光ディスク１０２の絶対的な回転角位置を表す。
【００４３】
光ディスク１０２の例を図２に示す。
【００４４】
図２（ａ）は光ディスク１０２の層構成を表す図である。レーベル面２０２、記録層２０４、表面２０６から成る。記録層２０４は情報が記録された層、若しくは情報を記録する層である。一般的な光ディスク装置は記録層２０４から光スポットにより情報を再生または記録する。表面２０６は記録層２０４から情報を再生または記録する場合に光が入射する面である。レーベル面２０２は表面２０６と反対に位置する。レーベル面２０２は、主に図柄を印刷するのに用いられる面である。なお、個人識別情報１０４を付けるのは表面２０６とレーベル面２０２のどちらでも良く、本発明は個人識別情報１０４を表面２０６に付けた場合を代表として記載する。
【００４５】
図２（ｂ）は表面２０６側から光ディスク１０２を見た図である。なお、レーベル面２０２に個人識別情報１０４を付ける場合は、例えばライトスクライブ（ＬｉｇｈｔＳｃｒｉｂｅ）に用いられるディスクのように、レーベル面２０２で光を反射しなければならない。
【００４６】
図２（ｃ）は光ディスク１０２の別の形態である光ディスク２０８である。光ディスク２０８には、物理情報領域２１０を備える。物理情報領域２１０は一般的な光ディスクに備わっており、記録層２０４に配置され、ディスクの種類などの情報が書かれた領域である。物理情報領域２１０の中には光ディスク２０８が個人識別情報１０４を付けて良い光ディスクか否かを表す情報が記録されている。なお、光ディスク２０８の記録層２０６が記録可能な場合には、個人識別情報１０４の有無や個人識別情報領域の位置を記録しても良い。
【００４７】
図２（ｄ）は光ディスク１０２の別の形態である光ディスク２１２である。光ディスク２１２には、個人識別情報領域を個人識別情報エリア２１４として明示してある。個人識別情報エリア２１４に個人識別情報１０４を付ける。
【００４８】
図２（ｅ）は光ディスク１０２の別の層構成である光ディスク２１６を表す図である。光ディスク２１６は、レーベル面２０２、表面２０６から成る。光ディスク２１６は記録層２０４を持たず、個人識別情報１０４を付けるのに特化した光ディスクである。なお、光ディスク２１６は、回転角位置パターン１０６や個人識別情報エリア２１４を備えても良い。
【００４９】
回転角位置パターン１０６は回転角位置パターン検出手段１５８によって、回転角位置パターン１０６のパターンが検出される。回転角位置パターン検出手段１５８は検出したパターンを回転角位置パターン検出信号として出力する。
【００５０】
光ピックアップ１０８は、光源１１０、カップリングレンズ１１２、偏光ビームスプリッタ１１４、１／４波長板１１６、球面収差補正レンズ１１８、球面収差補正レンズ移動手段１２０、対物レンズ１２２、フォーカス移動手段１２４、トラッキング移動手段１２６、集光レンズ１２８、受光手段１３０から成る。
【００５１】
光源１１０は拡散光を出射する素子である。光ディスクの場合では半導体レーザが広く用いられ、ＣＤでは略７８０ｎｍ、ＤＶＤでは略６５０ｎｍ、ＢＤでは略４０５ｎｍの波長である半導体レーザが用いられる。光源１１０から出射された光はカップリングレンズ１１２によって平行光にされる。カップリングレンズ１１２を通過した光は偏光ビームスプリッタ１１４で反射される。偏光ビームスプリッタ１１４で反射した光は１／４波長板を通過して円偏光される。１／４波長板１１６を通過した光は、球面収差補正レンズ１１８を通過し光の球面収差が補正される。球面収差補正レンズ１１８は球面収差補正レンズ移動１２０によって移動する。球面収差補正レンズ１１８は表面２０６までの球面収差を補正できる。球面収差補正レンズ移動手段１２０は表面２０６までの球面収差を補正できるストロークを持つ。これにより、表面２０６でも良好なフォーカスエラー信号が得られ制御が安定となる。なお、光源１１０が複数の波長を有する場合は、少なくとも１つの波長に対して表面２０６まで球面収差を補正できるストロークを有し、その波長の光源１１０によって個人識別情報１０４を検出する。球面収差補正レンズ１１８を通過した光は対物レンズ１２２によって収束され光スポットが形成される。対物レンズ１２２はフォーカス移動手段１２４によって光ディスク１０２の略垂直方向に移動する。対物レンズ１２２はトラッキング移動手段１２６によって光ディスク１０２の略水平方向に移動する。なお、トラッキング移動手段１２６は数百ｕｍのストロークを有する。
【００５２】
対物レンズ１２２によって形成された光スポットが光ディスク１０２で反射した光は、対物レンズ１２２、球面収差補正レンズ１１８、１／４波長板１１６を通過して直線偏光され、偏光ビームスプリッタ１１４を通過する。偏光ビームスプリッタ１１４を通過した光は集光レンズ１２８で集光される。集光レンズ１２８で集光した光は受光素子１３０で受光される。受光手段１３０は受光した光を光電変換によって電気信号に変換し、反射光信号を出力する。光電素子１３０は種々の信号を生成するために、複数の素子に分割されている。反射光信号はコントローラ１３４に入力される。コントローラ１３４は光ディスク装置１００を制御するＬＳＩである。
【００５３】
光ピックアップ１０８は、トラバース１３２によって光ディスク１０２に略水平方向に移動する。トラバース１３２は、リードスクリュー（図示しない）とモータ（図示しない）とから成る。リードスクリュー（図示しない）をモータ（図示しない）により回転させることで直線運動を実現し、光ピックアップ１０８が略水平方向に移動する。トラバース１３２は、コントローラ１３４が出力するトラバース制御信号に従って制御される。トラバース制御信号はコントローラ１３４が管理するトラバースの現在位置とコントローラ１３４が計算する目標位置から駆動パルスを生成することで実現される。
【００５４】
ディスクモータ１５６は光ディスク１０２を所定の回転数で回転させる。ディスクモータ１５６に備えた回転数センサ（図示しない）により回転数を検出し、回転数に応じてディスク１回転に数個のパルスを発生するＦＧ信号がコントローラ１３４に入力される。コントローラ１３４は、ＦＧ信号と目標回転数に基づいて所望の回転数になるように回転数制御信号を生成し、回転数制御信号がディスクモータ１５６に入力される。
【００５５】
コントローラ１３４は、フォーカスエラー信号生成手段１３６、フォーカス制御手段１３８、トラッキングエラー信号生成手段１４０、トラッキング制御手段１４２、再生信号指標生成手段１４４、球面収差検出手段１４６、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０、半径位置検出手段１５２、回転角位置検出手段１５４から構成される。
【００５６】
反射光信号はフォーカスエラー信号生成手段１３６、トラッキングエラー信号生成手段１４０、再生信号指標生成手段１４４、欠陥検出手段１４８に入力される。
【００５７】
フォーカスエラー信号生成手段１３６の出力であるフォーカスエラー信号はフォーカス制御手段１３８に入力される。フォーカス制御手段１３８の出力であるフォーカス制御信号はフォーカス移動手段１２４に入力される。
【００５８】
トラッキングエラー信号生成手段１４０の出力であるトラッキングエラー信号はトラッキング制御手段１４２と球面収差検出手段１４６に入力される。トラッキング制御手段１４２の出力であるトラッキング制御信号はトラッキング移動手段１２６に入力される。
【００５９】
再生信号指標生成手段１４４の出力である再生信号指標信号は球面収差検出手段１４６に入力される。
【００６０】
欠陥検出手段１４８の出力である欠陥検出信号は欠陥マッピング手段１５０に入力される。
【００６１】
球面収差検出手段１４６の出力である球面収差制御信号は球面収差補正レンズ移動手段１２０に入力される。
【００６２】
半径位置検出手段１５２の出力である半径位置検出信号は欠陥マッピング手段１５０に入力される。
【００６３】
回転角位置検出手段１５４の出力である回転角位置検出信号は欠陥マッピング手段１５０に入力される。
【００６４】
欠陥マッピング手段１５０の出力である欠陥マッピング信号は外部機器１６０へ入力される。外部機器１６０とは、例えばホストコンピュータである。
【００６５】
フォーカスエラー信号生成手段１３６は、入力信号からフォーカスエラー信号を生成し、出力する。フォーカスエラー信号は、光スポットと表面２０６との垂直方向のずれ、または光スポットと記録層２０４との垂直方向のずれを表す信号であり、非点収差法といった検出法を用いて実現できる。
【００６６】
フォーカス制御手段１３８は、入力信号からフォーカス制御信号を生成し、出力する。フォーカス制御手段１３８の例を図３に示す。フォーカス制御手段１３８は、フォーカスＯＮ／ＯＦＦスイッチ３０２、フォーカス位相補償フィルタ３０４、フォーカス制御信号オフセット手段３０６、加算器３０８から成る。フォーカスＯＮ／ＯＦＦスイッチ３０２がフォーカスＯＮ（スイッチが入力信号の方に倒れた場合）では、入力信号に基づいて光スポットの垂直方向が目標位置へ収束するように、入力信号に応じた目標レベルを設定し、目標レベルと入力信号との差分である誤差信号にフォーカス位相補償フィルタ３０４により位相補償を施し、フォーカス位相補償信号を生成し、出力する。フォーカス制御信号オフセット手段３０６はフォーカス制御信号オフセットを設定できる。加算器３０８はフォーカス位相補償信号とフォーカス制御信号オフセットを加算し、フォーカス制御信号を出力する。フォーカスＯＦＦの場合では、光スポットの垂直方向の目標位置への制御は行わない。フォーカスＯＦＦの場合では、フォーカス制御信号オフセットを適切に増加させると、光スポットは光ディスク１０２の垂直方向に近づきフォーカスアップ動作ができる。また、フォーカスＯＦＦの場合では、フォーカス制御信号オフセットを適切に減少させると、光スポットは光ディスク１０２の垂直方向に遠のきフォーカスダウン動作ができる。
【００６７】
トラッキングエラー信号生成手段１４０は、入力信号からトラッキングエラー信号を生成し、出力する。トラッキングエラー信号は光スポットと記録層２０４上のトラック中心とのずれを表す信号であり、差動プッシュプル法といった検出法を用いて実現できる。
【００６８】
トラッキング制御手段１４２は、入力信号からトラッキング制御信号を生成し、出力する。トラッキング制御手段１４２の例を図４に示す。トラッキング制御手段１４２は、トラッキングＯＮ／ＯＦＦスイッチ４０２、トラッキング位相補償フィルタ４０４、トラッキング制御信号オフセット手段４０６、加算器４０８から成る。トラッキングＯＮ／ＯＦＦスイッチ４０２がトラッキングＯＮ（スイッチが入力信号の方に倒れた場合）では、入力信号に基づいて光スポットの水平方向が目標位置へ収束するように、入力信号に応じた目標レベルを設定し、目標レベルと入力信号との差分である誤差信号にトラッキング位相補償フィルタ４０４により位相補償を施し、トラッキング位相補償信号を生成し、出力する。トラッキング制御信号オフセット手段４０６はトラッキング制御信号オフセットを設定できる。加算器４０８は、トラッキング位相補償信号とトラッキング制御信号オフセットを加算し、トラッキング制御信号を出力する。トラッキングＯＦＦの場合では、光スポットの水平方向の目標位置への制御は行わない。トラッキングＯＦＦの場合では、トラッキング制御信号オフセットを所定の量だけ加えると、光スポットが光ディスク１０２の水平方向に所定の量だけ移動する。
【００６９】
再生信号指標生成手段１４４は、入力信号から再生信号指標信号を生成し、出力する。再生信号指標信号とは再生信号の振幅や再生信号のジッタなど、再生信号の品質を表すものである。
【００７０】
球面収差検出手段１４６は、入力信号に基づいて、球面収差が好適になるように球面収差制御信号を生成し、出力する。球面収差が好適であるとは、例えばトラッキングエラー信号の振幅が最大となる場合や、再生信号指標信号のうち再生信号の振幅が最大となる場合である。
【００７１】
球面収差を表面２０６に合わせる方法としては、球面収差補正レンズ１１８の位置を光ピックアップ１０８の表面２０６における設計中心に合わせる方法がある。別の方法としては、記録層２０４において球面収差を球面収差検出手段１４６で検出し球面収差制御信号を生成し、記録層２０４における球面収差制御信号に基づいて表面２０６における球面収差制御信号を求める方法である。球面収差は基材厚（表面２０６から記録層２０４までの距離）に比例するので、記録層２０４における球面収差制御信号と基材厚から表面２０６における球面収差を求めることができる。なお、基材厚は図９に示すように、フォーカスアップ動作によりフォーカスエラー信号のゼロクロスの間隔Ｌを測定することで求められる。なお、基材厚は例えば規格で決まっている所定の値を使っても良い。
【００７２】
欠陥検出手段１４８は、反射光信号の全てまたは一部の和から反射光量を求め、反射光量が低下する欠陥があるか否かを検出する。欠陥の有無は欠陥検出信号として出力する。欠陥検出手段１４８の出力信号の例を図５，図２７，図２８に示す。図５，図２７，図２８は反射光量と、反射光量から欠陥の有無を検出する欠陥検出閾値と、欠陥検出信号を表す。図５，図２７，図２８では表面２０６にフォーカスを制御している場合である。光スポットが指紋の上を通過すると反射光量はパルス状に変化する。これは、ミクロ的に見ると指紋が数ｕｍ程度の水滴や油滴によって構成されているためである。対して、表面２０６における光スポットが水滴や油滴よりも小さいため、水滴や油滴を検出してパルス状の信号となる。
【００７３】
図５は反射光量を所定の欠陥検出閾値を用いて欠陥検出信号を生成した場合を表す。指紋はマクロ的に見ると凹凸により紋様を作り出し、領域５０２や領域５０４は指紋での１つ１つの凸部に対応する。凸部に対応して領域５０２と領域５０４でそれぞれ１つの欠陥が検出されることが期待される。しかしながら、図５においては、領域５０２や領域５０４で複数個の欠陥が検出されている。これでは、個人識別情報１０４の検出ができない。
【００７４】
個人識別情報１０４を検出する方法として、ボトムホールド回路（図示しない）を設ける方法がある。
【００７５】
図２７は反射光量と、ボトムエンベロープ信号と、欠陥検出信号を示す。ボトムエンベロープ信号は、反射光量をボトムホールド回路（図示しない）に通すことで生成できる。欠陥検出信号はボトムエンベロープ信号と所定の欠陥検出閾値を比較して生成できる。
【００７６】
図５２７では領域５０２と領域５０４でそれぞれ１回だけ欠陥を検出している。つまり、指紋の１つ１つの凸部を検出できる。なお、ボトムホールド回路（図示しない）のアタックゲインは、個人識別情報１０４の特徴（例えば指紋では水滴や油滴の大きさ、凸部の間隔）と光ディスク１０２の回転数とスポットが位置する半径位置から適切に求めれば良い。
【００７７】
また、個人識別情報１０４を検出する別の方法として、モノマルチ回路（図示しない）を設ける方法がある。
【００７８】
図２８は反射光量と、モノマルチ回路を通過する前の信号、モノマルチ回路を通過した後の信号を示す。モノマルチ回路を通過する前の信号は、反射光量と所定の欠陥検出閾値を比較して生成でき、図５に示した欠陥検出信号と同じである。モノマルチ回路を通過した後の信号は、モノマルチ回路を通過する前の信号の立下りから所定の時間Δだけ後ろに延長して生成でき、この信号を欠陥検出信号とする。
【００７９】
図５２８では領域５０２と領域５０４でそれぞれ１回だけ欠陥を検出している。つまり、指紋の１つ１つの凸部を検出できる。なお、所定の時間Δは、個人識別情報１０４の特徴（例えば指紋では水滴や油滴の大きさ、凸部の間隔）と光ディスク１０２の回転数とスポットが位置する半径位置から適切に求めれば良い。
【００８０】
欠陥検出手段１４８を個人識別情報１０４に適した構成と設定をすることで、図２７や図２８のように個人識別情報１０４を欠陥として検出することが可能となる。
【００８１】
半径位置検出手段１５２は、コントローラ１３４が管理するトラバースの現在位置とトラッキング制御信号オフセットから光スポットの半径位置を計算する。計算した半径位置は半径位置検出信号として出力する。
【００８２】
回転角位置検出手段１５６は、回転角位置パターン１０６から光ディスク１０２の絶対的な回転角位置を検出する。回転角位置パターン１０６の例を図６に示す。回転角位置パターン１０６は不均一なパターンから構成され、そのパターンの並び方によって回転角位置が表現されている。なお、回転角位置を表現できれば、回転角位置パターン１０６は図６以外の別の形態を取っても良い。回転角位置パターン１０６は、回転角位置パターン検出手段１５８によって検出され、回転角位置パターン検出信号が出力される。回転角位置パターン検出手段１５８は、例えば反射型フォトセンサによって実現できる。回転角位置検出手段１５６は、回転角位置パターン検出信号を２値化し、デコードすることで回転角位置を検出する。検出した回転角位置は回転角位置検出信号として出力する。なお、回転角位置パターン１０６を光ピックアップ１０８で読み取り、その結果でコントローラ１３４の内部クロックを校正し、校正した内部クロックに基づいて回転角位置の検出を行っても良い。なお、内部クロックに代わって、ＦＧ信号を用いても良い。なお、回転角位置パターン１０６が表す回転角位置は光ディスク１０２の絶対値でも、相対値でも良い。相対値の場合は、別の信号、例えば内部クロックを用いることで、絶対値に変換すれば良い。
【００８３】
欠陥マッピング手段１５０は、欠陥検出信号、半径位置検出信号、回転角位置検出信号に基づいて、欠陥が検出された半径位置と回転角位置を蓄え、欠陥を２次元でマッピングする。マッピングした欠陥マッピング情報を欠陥マッピング信号として出力する。本発明は個人識別情報１０４として指紋を代表して記載しており、欠陥マッピング情報とは、すなわち指紋マッピング情報である。
【００８４】
欠陥マッピング手段１５０がマッピングした個人識別情報１０４の例を図７に示す。図７（ａ）では欠陥が○部で検出される。欠陥マッピング手段１５０は図７（ｂ）のように○部の半径位置と回転角位置を蓄え、２次元でマッピングする。なお、半径位置と回転角位置を蓄える機能は、その全部または一部を外部機器１６０へ置いても良い。
【００８５】
以上の構成において実施の形態１に係る光ディスク装置１００について図８を参照して説明する。図８は、球面収差を表面２０６に適して補正し、表面２０６にフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【００８６】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を表面２０６に合わせる（Ｓ８０６）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。なお、移動する距離は５０ｕｍ程度にすると良い。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【００８７】
Ｓ８０４において、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かの判断は方法としては、ユーザーが指定する方法がある。別の方法としては、光ディスク２０８のように個人識別情報１０４を付けても良い光ディスクか否か判別する情報が物理情報領域２１０に記録されている場合には、物理情報領域２１０を再生して判別する方法がある。
【００８８】
Ｓ８１０において、個人識別情報領域を探索する方法としては、トラバース１３２を光ディスク１０２の内周から外周まで数ｍｍ程度の刻み幅で略水平方向に移動させ、ディスク１回転に現れる欠陥の頻度を検出する方法がある。別の方法としては、光ディスク１０２に個人識別情報領域が記録されていれば、それが個人識別領域の探索結果となる。別の方法としては、個人識別情報エリア２１４が設けられている場合は、それが個人識別領域の探索結果となる。
【００８９】
Ｓ８１２において、個人識別情報領域を始端に移動する方法としては、トラバース１３２により光ピックアップ１０８を略水平方向に移動させる方法がある。
【００９０】
以上のように、実施の形態１の光ディスク装置１００によれば、個人識別情報１０４を検出できる。検出された個人識別情報１０４は２次元の欠陥位置を表す。これに従来からの指紋の特徴点検出を行うと、特徴点が分かり個人を特定できる。特定された個人に基づいて、例えばコンテンツを暗号化し、光ディスク１０２に暗号化されたコンテンツを記録すれば、光ディスク１０２に記録されたコンテンツのセキュリティーが向上される。また、表面２０６にフォーカスを制御するにあたり、球面収差補正レンズ移動手段１２０のストロークを表面２０６にまで持たせ球面収差を表面２０６に合わせることができる。これにより、フォーカスエラー信号の品質が確保でき制御の安定性が向上される。
【００９１】
なお、記録層２０４に球面収差を合わせて、記録層２０４に光スポットを制御して、同様な処理を行っても、個人識別情報１０４を検出できる。図１６は記録層２０４にフォーカスを制御した場合における欠陥検出手段１４８の例を示す。図１６は反射光量と、反射光量から欠陥の有無を検出する欠陥検出閾値と、欠陥検出信号を表す。図１６は記録層２０４にフォーカスを制御している場合である。光スポットを指紋の上を通過すると反射光量はパルス状に変化する。
【００９２】
図１６（ａ）は反射光量を所定の欠陥検出閾値を用いて欠陥検出信号を生成した場合を表す。指紋はマクロ的に見ると凹凸により紋様を作り出し、領域１６０２、領域１６０４、領域１６０６は指紋での１つ１つの凸部に対応する。凸部に対応して領域１６０２、領域１６０４、領域１６０６でそれぞれ１つの欠陥が検出されることが期待される。しかしながら、図１６（ａ）においては、領域１６０２で欠陥が検出できていない。これでは、個人識別情報１０４の検出ができない。
【００９３】
図１６（ｂ）は反射光量をトップホールド回路（図示しない）に通しトップエンベロープ信号を検出する。また、反射光量をボトムホールド回路（図示しない）によりボトムエンベロープ信号を検出する。トップエンベロープ信号とボトムエンベロープ信号の平均値で欠陥検出閾値を生成し、反射光量と比較して欠陥検出信号を生成した場合である。なお、トップホールド回路（図示しない）のドループゲインやボトムホールド回路（図示しない）のアタックゲインは、個人識別情報１０４の特徴（例えば指紋では水滴や油滴の大きさ、凸部の間隔）と光ディスク１０２の回転数とスポットが位置する半径位置から適切に求めれば良い。
【００９４】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２に係る光ディスク装置は図１における光ディスク装置１００と同じ構成なので説明を省略する。また、前述した実施の形態１と同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【００９５】
実施の形態２に係る光ディスク装置１００は、個人識別情報領域の近傍で記憶したフォーカス位相補償信号に基づいて個人識別情報領域でフォーカス制御を行う。
【００９６】
実施の形態２におけるフォーカス制御手段１００２を図１０に示す。フォーカス制御手段１００２はフォーカスＯＮ／ＯＦＦスイッチ３０２、フォーカス位相補償フィルタ３０４、フォーカス制御信号オフセット手段３０６、加算器３０８、及びフォーカス位相補償信号記憶ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４、フォーカス位相補償信号記憶手段１００６、フォーカス制御信号切換手段１００８から成る。
【００９７】
フォーカス制御信号記録ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４は、フォーカス位相補償信号をフォーカス位相補償信号記憶手段１００６に入力するか否かを制御する。
【００９８】
フォーカス位相補償信号記憶手段１００６は、フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成する。フォーカス位相補償信号記憶値はフォーカス位相補償信号記憶信号として出力する。
【００９９】
フォーカス制御信号切換手段１００８は、フォーカス位相補償信号とフォーカス位相補償信号記憶信号のうち何れか１つを選択して出力する。
【０１００】
加算器３０８は、フォーカス位相補償信号とフォーカス位相補償信号記憶信号のうち何れか１つとフォーカス制御信号オフセットを加算し、フォーカス制御信号を出力する。
【０１０１】
フォーカス位相補償信号記憶手段１００６はフォーカス位相補償信号記憶値を記憶する場合には、フォーカス制御信号記憶ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４をＯＮにする。フォーカス位相補償信号記憶手段１００６は、例えばコントローラ１３４の内部クロックからディスク１回転をＮ個の区間に分割する区間分割信号を生成する。区間分割信号に基づいて各々の区間で区間の開始から終了まで位相補償フィルタ信号を所定のフィルタに通し、その区間の終了時の結果をフォーカス位相補償信号記憶値として記憶する。フォーカス位相補償信号記憶手段１００６はフォーカス位相補償信号記憶信号を出力する場合には、フォーカス制御信号記憶ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１００４をＯＦＦに、フォーカス制御信号切換手段１００８をフォーカス位相補償信号記録手段１００６側に倒す。フォーカス位相補償信号記憶手段１００６は、区間分割信号に基づいて区間に応じてフォーカス位相補償信号記憶値をフォーカス位相補償信号記憶信号として出力する。
【０１０２】
以上の構成において、実施の形態２に係る光ディスク装置１００について図１１を参照して説明する。図１１は個人識別情報領域の近傍においてフォーカス位相補償記憶信号を記録し、個人情報識別領域においてフォーカス位相補償信号記憶信号を用いてフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【０１０３】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を表面２０６に合わせる（Ｓ８０６）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報の近傍に移動する（Ｓ１１０２）。近傍に移動した後に、フォーカス位相補償記憶値を生成し、記憶する（Ｓ１１０４）。記憶した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、フォーカス制御信号切換手段１００８はスイッチをフォーカス位相補償信号記憶手段１００６側に倒し、加算器３０８の入力をフォーカス位相補償信号記憶信号にする（Ｓ１１０６）。加算器３０８の入力を切換えた後、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、フォーカス制御信号切換手段１００８はスイッチをフォーカス位相補償手段３０４側に倒し、加算器３０８の入力をフォーカス位相補償信号にする（Ｓ１１０６）。加算器３０８の入力を切換えた後、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【０１０４】
以上のように、実施の形態２の光ディスク装置１００によれば、個人識別情報領域の近傍で記憶したフォーカス位相補償信号記憶信号に基づいて個人識別情報領域でもフォーカス制御を行うことができる。これにより、個人識別情報１０４によってフォーカスエラー信号が大きく乱される場合でも、個人識別情報領域での制御の安定性が向上される。
【０１０５】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置は図１における光ディスク装置１００と同じ構成なので説明を省略する。また、前述した実施の形態１から実施の形態２までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１０６】
実施の形態３に係る光ディスク装置１００は、個人情報識別領域においてディスク１回転に現れる欠陥の検出頻度に応じてディスクモータ１５６の回転数を制御する。
【０１０７】
以上の構成において、実施の形態３に係る光ディスク装置１００について図１２を参照して説明する。図１２は、個人情報識別領域においてディスク１回転に現れる欠陥の検出頻度に応じてディスクモータ１５６の回転数を制御する方法のフローチャートである。
【０１０８】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を表面２０６に合わせる（Ｓ８０６）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、欠陥の検出頻度が所定以上か否かを判別する（Ｓ１２０２）。欠陥の検出頻度が所定以上の場合は、既にディスクモータ１５６の回転数を上げているか否かを判別する（Ｓ１２０４）。未だ回転数を上げていない場合は、回転数を上げる（Ｓ１２０６）。Ｓ１２０２において欠陥の検出頻度が所定未満の場合、若しくはＳ１２０４において欠陥の検出頻度が所定以上であっても既に回転数を上げている場合、若しくはＳ１２０６において欠陥の検出頻度が所定以上であって回転数を上げ終わった場合は、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、ディスクモータ１５６の回転数を上げているか否かを判別する（Ｓ１２０８）。上げている場合は、回転数を元に戻す（Ｓ１２１０）。回転数を上げていない場合、若しくは回転数を戻した場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。なお、欠陥の検出頻度以外にも、欠陥の長さが所定以上の場合に同様な処理を行っても良い。
【０１０９】
以上のように、実施の形態３の光ディスク装置１００によれば、ディスク１回転に現れる欠陥の検出頻度に応じてディスクモータ１５６の回転数を制御することができる。これにより、個人識別情報１０４による欠陥による外乱が多く制御が大きく揺れる場合であっても、回転数を上げることで外乱の周波数を高くし制御の追従性を悪くすることで、欠陥に振られることなく、個人識別情報領域での制御の安定性が向上される。
【０１１０】
なお、フォーカス制御のみを行っている場合は、外乱の周波数がフォーカス制御の制御帯域の略１０倍以上になるように回転数を設定するのが良い。また、フォーカス制御とトラッキング制御を行っている場合は、外乱の周波数がフォーカス制御の制御帯域とトラッキング制御の制御帯域のうち、何れか高い制御帯域の略１０倍以上になるように回転数を設定するのが良い。
【０１１１】
なお、外乱への制御の追従性を悪くする方法としては、回転数を変更する以外に、フォーカス制御やトラッキング制御の制御帯域を低くしても良い。なお、制御帯域は外乱周波数の１０分の１程度にするのが良い。
【０１１２】
（実施の形態４）
図１３は本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置１３００の構成を示したブロック図である。前述した実施の形態１から実施の形態３までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１１３】
実施の形態４に係る光ディスク装置１３００は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、表面２０６にフォーカスを制御し、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する。
【０１１４】
光ピックアップ１３０２は、球面収差補正レンズ１３０４、球面収差補正レンズ移動手段１３０６を新たに有する。球面収差補正レンズ１３０４は、表面２０６までの球面収差を補正できない。球面収差補正レンズ移動手段１３０６は、球面収差補正レンズ１３０４が球面収差を補正できる範囲でのストロークを少なくとも持つ。例えば、球面収差補正レンズ１３０４が記録層２０６の近傍のみで球面収差を補正できる場合、球面収差補正レンズ移動手段１３０６は少なくとも記録層２０６の近傍のストロークを持てば良い。
【０１１５】
コントローラ１３０８は、光量信号生成手段１３１０と、フォーカス制御手段入力切換手段１３１２を新たに有する。
【０１１６】
光量信号生成手段１３１０は、反射光信号の全てまたは一部の和から光量信号を生成し、出力する。
【０１１７】
フォーカス制御手段入力切換手段１３１２は、フォーカスエラー信号と光量信号のうち何れか１つを選択し、フォーカス制御手段１３８への入力を切換える。
【０１１８】
フォーカス制御手段１３８は光スポットの垂直方向が目標位置へ収束するように、入力信号に応じた目標レベルを設定する。目標レベルと入力信号との差分である誤差信号にフォーカス位相補償フィルタ３０４により位相補償を施し、光スポットを制御する。
【０１１９】
入力信号が光量信号の場合は、光量信号が一定以上となるように光スポットを制御してもよい。
【０１２０】
以上の構成において、実施の形態４に係る光ディスク装置１３００について、図１４を参照して説明する。図１４は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、表面２０６にフォーカスを制御し、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【０１２１】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を記録層２０４に合わせる（Ｓ１４０２）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、表面２０６でのフォーカスエラー信号の対称性を確認し、フォーカスエラー信号を用いて光スポットを表面２０６に制御できるか否かを判断する（Ｓ１４０４）。フォーカスエラー信号の対称性が大きい、つまりアンバランスであると制御が不安定となる（図１５参照）。フォーカスエラー信号の対称性が所定以上の場合は、フォーカス制御手段入力切換手段１３１２は、フォーカス制御手段１３８への入力を光量信号に切換える（Ｓ１４０６）。Ｓ１４０４において、フォーカスエラー信号の対称性が所定未満である場合は、フォーカス制御手段１３８への入力はフォーカスエラー信号となる。フォーカス制御手段１３８への入力信号が決まった後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを表面２０６に制御する（Ｓ８０８）。光スポットを表面２０６に制御した後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ８１０）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ８１２）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０は半径位置検出信号により半径位置を記憶し（Ｓ８１６）、回転角位置検出信号により回転角位置を記憶する（Ｓ８１８）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、トラッキング移動手段１２６またはトラバース１３２により半径位置を移動する（Ｓ８２２）。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【０１２２】
なお、Ｓ１４０２において、球面収差補正レンズ１３０４を表面２０６における球面収差が最良となる位置にしても良い。
【０１２３】
なお、光ピックアップ１０８の設計などでフォーカスエラー信号の品質が保障できないと分かっている場合は、Ｓ１４０４の判別を行わず、Ｓ１４０６を実行しても良い。
【０１２４】
以上のように、実施の形態４の光ディスク装置１３００によれば、球面収差補正レンズ１３０４に表面２０６までの球面収差を補正できない場合であっても、表面２０６に光スポットを制御でき、個人識別情報１０４を検出できる。検出された個人識別情報１０４は２次元の欠陥位置を表す。これに従来からの指紋の特徴点検出を行うと、特徴点が分かり個人を特定できる。特定された個人に基づいて、例えばコンテンツを暗号化し、光ディスク１０２に暗号化されたコンテンツを記録すれば、光ディスク１０２に記録されたコンテンツのセキュリティーが向上される。
【０１２５】
なお、記録層２０４にフォーカスを制御した場合に、表面２０６における光ビームの直径が略５０ｕｍとなるには、光源１１０の波長によって以下のような基材厚を持つのが最良である。波長が略７８０ｎｍの場合は略７９ｕｍ。波長が略６５０ｎｍの場合は略５７ｕｍ。波長が略４０５ｎｍの場合は略３６ｕｍ。ただし、これら基材厚の光ディスク１０２に一般的ではない。一般的な光ディスク１０２の中では、光ディスク１０２にＢＤを、光源１１０に波長が略７８０ｎｍのものを組み合わせるのが好適である。
【０１２６】
（実施の形態５）
図１７は本発明の実施の形態５に係る光ディスク装置１７００の構成を示したブロック図である。前述した実施の形態１から実施の形態４までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１２７】
実施の形態５に係る光ディスク装置１７００は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、記録層２０４にフォーカス制御を行い、記録層２０４のディスクフォーマットを用いて欠陥の半径位置および回転角位置を検出する。
【０１２８】
コントローラ１７０２は、アドレス再生手段１７０４を新たに有し、欠陥マッピング手段１７０６を有する。
【０１２９】
光ディスク１７０８は回転角位置パターン１０６を有しない。
【０１３０】
アドレス再生手段１７０４は入力信号から光ディスクに物理的に書かれたアドレスを再生する。アドレスは光ディスク１０２に物理的に記録されたディスクフォーマットに関するものであり、ディスクフォーマットから光ディスク１０２の半径位置や回転角位置を検出することができる。アドレス再生手段１７０４は、ディスクフォーマットから検出された半径位置と回転角位置をディスク位置信号として出力する。
【０１３１】
欠陥マッピング手段１７０６は、欠陥検出信号、半径位置検出信号、回転角位置検出信号に基づいて、欠陥が検出された半径位置と回転角位置を蓄え、欠陥を２次元でマッピングする。なお、半径位置と回転角位置を蓄える機能は、その全部または一部を外部機器１６０へ置いても良い。
【０１３２】
以上の構成において、実施の形態５に係る光ディスク装置１７００について、図１８を参照して説明する。図１８は、球面収差を記録層２０４に適して補正し、記録層２０４にフォーカス制御を行い、表面２０６に付けた個人識別情報１０４を検出する方法のフローチャートである。
【０１３３】
この方法において、個人識別情報１０４を検出する処理が開始されると（Ｓ８０２）、個人識別情報１０４を読み取る必要があるか否かを判断する（Ｓ８０４）。個人識別情報１０４を読み取る必要があると判断されたなら、球面収差補正レンズ移動手段１２０は球面収差を記録層２０４に合わせる（Ｓ１４０２）。Ｓ８０４において個人識別情報１０４を読み取る必要がないと判断されたら、処理を終了する（Ｓ８２６）。球面収差を合わせた後に、フォーカス制御手段１３８は光スポットを記録層２０４に制御する（Ｓ１８０２）。光スポットを記録層２０４に制御した後に、所望のトラックにトラッキング制御をする（Ｓ１８０４）。トラッキング制御をした後に、個人識別情報領域を探索する（Ｓ１８０６）。探索した後に、個人識別情報領域の始端に移動する（Ｓ１８０８）。移動した後に、欠陥検出手段１４８により欠陥の有無を検出し（Ｓ８１４）。欠陥を検出したら、欠陥マッピング手段１５０はディスク位置信号により半径位置を記憶し（Ｓ１８１０）、ディスク位置信号により回転角位置を記憶する（Ｓ１８１２）。光ディスク１０２の１回転分でＳ８１４からＳ８１８を繰り返す（Ｓ８２０）。１回転分の欠陥のマッピングが終了した後に、半径位置を移動する（Ｓ１８１４）。なお、移動する距離は５０ｕｍ程度にすると良い。個人識別情報領域の欠陥のマッピングが終了していない（個人識別情報領域の終端に到達していない）場合は、Ｓ８１４に戻る（Ｓ８２４）。終了している場合は、処理を終了する（Ｓ８２６）。
【０１３４】
Ｓ１８０６において、個人識別情報領域を探索する方法としては、アドレス再生手段１７０４から得られるアドレスに従って光ディスク１７０８の略水平方向に光ピックアップ１０８を移動させるシーク動作を行って、光ディスク１７０８の内周から外周まで数ｍｍ程度の刻み幅で略水平方向に移動させ、ディスク１回転に現れる欠陥の頻度を検出する方法がある。別の方法としては、光ディスク１０２に個人識別情報領域が記録されていれば、それが個人識別領域の探索結果となる。別の方法としては、個人識別情報エリア２１４が設けられている場合は、それが個人識別領域の探索結果となる。
【０１３５】
Ｓ１８０８において、個人識別情報領域を始端に移動する方法としてはシーク動作がある。
【０１３６】
Ｓ１８１４において、半径位置を移動する方法としてはシーク動作がある。
【０１３７】
以上のように、実施の形態５の光ディスク装置１７００によれば、光ディスク１７０８の物理的に書かれた情報によって半径位置と回転角位置を検出でき、光ディスク装置１００から構成を一部省略できる。これにより、より安価に光ディスク装置を製造できる。
【０１３８】
なお、欠陥検出手段１４８は、前述した図１６と同様な欠陥検出方法を用いると、より欠陥検出の性能が向上される。
【０１３９】
なお、個人識別情報領域でアドレスが検出できない場合は、アドレスが再生できる区間の半径位置と回転角位置に基づいて、アドレスが再生できない区間の半径位置と回転角位置を補間すると良い。
【０１４０】
なお、トラック追従中にトラッキング制御が所望のトラックから外れた場合は、所望のトラックに戻り欠陥のマッピングを再開する。なお、トラックが外れたことを検出する方法は、トラッキング制御中にトラッキングエラー信号のレベルが所定以上になったことを検出する方法や、再生されたアドレスが期待値を外れたことを検出する方法がある。
【０１４１】
（実施の形態６）
図１９は本発明の実施の形態６に係る光ディスク装置１９００の構成を示したブロック図である。前述した実施の形態１から実施の形態５までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。
【０１４２】
実施の形態６に係る光ディスク装置１９００は、欠陥検出にフォーカスエラー信号を用い欠陥厚みを検出し、欠陥マッピング信号に付与して出力する。
【０１４３】
コントローラ１９０２は欠陥検出手段１９０４、欠陥マッピング手段１９０６を有する。
【０１４４】
欠陥検出手段１９０４はフォーカスエラー信号を入力として、フォーカスエラー信号に基づいて欠陥を検出し欠陥検出信号を出力する。さらに、欠陥におけるフォーカスエラー信号の振れのレベルを欠陥厚み信号として出力する。
【０１４５】
図２０はフォーカスエラー信号、フォーカスエラー信号から欠陥の有無を検出する欠陥検出閾値、欠陥検出信号、欠陥厚み信号（Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃ、Ｔｄ）を表す。図２０では表面２０６にフォーカスを制御している場合である。光スポットが指紋の上を通過するとフォーカスエラー信号は一方の極性に偏って振れる。これは、ミクロ的に見ると指紋は水滴や油滴によって構成されている。水滴や油滴は数ｕｍ程度の大きさでフォーカスエラー信号に現れる外乱としては非常に高い。例えば、水滴や油滴が１０ｕｍ、回転数が１０００ｒｐｍ、半径位置が４０ｍｍの場合では、約４１８ｋＨｚとなる。それに対して、フォーカス制御が応答可能な周波数は数ｋＨｚであり、水滴や油滴には追従しない。故に、水滴や油滴に対応したフォーカスエラー信号が現れる。
【０１４６】
欠陥検出手段１９０４の出力である欠陥検出信号と欠陥厚み信号は欠陥マッピング手段１９０６に入力される。
【０１４７】
欠陥マッピング手段１９０６は、欠陥検出信号、半径位置検出信号、回転角位置検出信号、欠陥厚み信号に基づいて、欠陥が検出された半径位置と回転角位置と欠陥厚みを蓄え、欠陥を２次元でマッピングする。マッピングした結果を欠陥マッピング信号として出力する。欠陥マッピング手段１９０６がマッピングした個人識別情報１０４の例を図２１に示す。図２１（ａ）では欠陥が○部で検出される。欠陥マッピング手段１９０６は図２１（ｂ）のように○部の半径位置と回転角位置と欠陥厚みを蓄える。なお、半径位置と回転角位置と欠陥厚みを蓄える機能は、その全部または一部を外部機器１６０へ置いても良い。
【０１４８】
欠陥マッピング手段１９０６の出力である欠陥マッピング信号は外部機器１６０へ入力される。外部機器１６０とは、例えばホストコンピュータである。
【０１４９】
以上のように、実施の形態６の光ディスク装置１９００によれば、欠陥検出にフォーカスエラー信号を用いることで、欠陥マッピング信号に欠陥厚さを付与することができる。
【０１５０】
（実施の形態７）
本発明の実施の形態７では、光ディスク記録装置／再生装置と、個人識別情報１０４を管理するサーバとの連携によって、本人の個人識別情報１０４が付与されている場合にのみ、記録されたコンテンツの再生を行うことのできる光ディスク利用システムについて説明する。前述した実施の形態１から実施の形態６までと同じ構成については、同じ符号を付し説明を省略する。個人識別情報１０４は個人を識別するための情報であり、例えば指紋や筆跡である。本発明は個人識別情報１０４が指紋である場合を代表して記載する。
【０１５１】
図７（ａ）は、本発明の光ディスク記録装置／再生装置によって抽出される指紋マッピング情報の概念図を示している。また、図７（ｂ）は、図７（ａ）の指紋マッピング情報である。
【０１５２】
本実施の形態での指紋マッピング情報とは、図７（ｂ）に示すように、欠陥の半径位置と回転角位置を表したものであり、一種の２値画像データとしても取り扱うことのできる情報である。
【０１５３】
すなわち、本実施の形態での指紋マッピング情報とは、指紋の２値画像データとしても扱うことができるので、指紋の特徴点検出を行うことによる指紋認証方法は、従来から公知となっている一般的な指紋画像による指紋の特徴点検出や指紋認証をそのまま応用することが可能である。
【０１５４】
図２２は、本実施の形態における光ディスク記録時の動作を示したフローチャートである。本システムでは、光ディスクに付いた指紋情報を読み出す光ディスク記録装置と、光ディスク記録装置とインターネットなど汎用ネットワークで接続された管理サーバとの連動によって、光ディスクにコンテンツを記録する動作の流れを示している。
【０１５５】
まず、光ディスク記録装置では、光ディスクの特定領域に付与されている光ディスク1枚ごとに識別可能なディスク識別情報を読み出す（Ｓ２２０２）。前記特定領域とは、光ディスクのバーストカッティング領域（ＢＣＡ）を意味する。通常、著作権保護されたコンテンツを記録するためには、ＢＣＡにディスク識別情報が付与された記録型光ディスクを用いる必要がある。本ディスクも、同様に、ディスク内周部のＢＣＡにバーコード上マークによってディスク識別情報が記録されている。
【０１５６】
次に、光ディスクに付いた指紋情報を２次元でマッピングし、指紋マッピング情報を生成する。（Ｓ２２０４）。これは、前述の実施の形態１に示したように、光ディスクからの反射光の光量変化を利用して欠陥であるかどうかの判定を行い、欠陥と判定された場合には、欠陥として指紋情報が検出される。同時に、欠陥の位置情報（半径位置、回転角位置）を抽出して２次元で指紋マッピングを行う。これを指紋領域に渡って行い、指紋マッピング情報を生成する。
【０１５７】
Ｓ２２０２によって、指紋マッピング情報の生成が終了した場合には、Ｓ２２０２で読み出したディスク識別情報と、Ｓ２２０４で生成された指紋のマッピング情報とを対応付けて、管理サーバに送信する（Ｓ２２０６）。
【０１５８】
管理サーバでは、光ディスク記録装置が送信した指紋のマッピング情報を受信する（Ｓ２２０８）。
【０１５９】
次に、受信した指紋のマッピング情報から指紋の特徴点を探索する（Ｓ２２１０）。この探索方法は、指紋の特徴点である端点や分岐などを抽出して、指紋の特徴点リストを作成する。特徴点リストとは、指紋の特徴点である端点や分岐などの特徴点の識別情報と、その位置情報のリストである。本特徴点は、指紋のマッピング情報のすべての点で探索を行い、抽出されるすべての特徴点をリストアップする（Ｓ２２１２）。
【０１６０】
また、特徴点の探索方法は、指紋のマッピング情報を画像データとして利用して、公知となっている指紋特徴点抽出を用い実施する。公知となっている指紋特徴点抽出方法は、例えば、http://jp.fujitsu.com/group/labs/techinfo/techguide/list/fingerprint_p05.htmlに記載された方法を用いる。
【０１６１】
次に、光ディスク記録装置にてコンテンツを暗号化して記録するための暗号鍵を生成する（Ｓ２２１４）。暗号鍵は、受信したディスク識別情報を初期値として生成した擬似乱数系列によって生成される。なお、暗号鍵は、擬似乱数系列でなくても、指紋リスト情報のハッシュ関数出力としてもかまわない。暗号鍵の生成方法は、容易に類推されない方法であればどのような方法でもかまわない。
【０１６２】
次に、受信した識別情報に対応付けて、生成した特徴点リストを管理データベース（ＤＢ）に記憶させる（Ｓ２２１６）。
【０１６３】
Ｓ２２１６によって管理ＤＢに登録すると、生成した暗号鍵を光ディスク記録装置に送信する（Ｓ２２１８）。この場合、光ディスク記録装置と管理サーバは、秘密の暗号鍵によって暗号化して通信する仮想プライベートネットワークを利用することによって、生成した暗号鍵が第３者に漏洩することを防止することが可能となる。
【０１６４】
送信された暗号鍵は、光ディスク記録装置に受信される（Ｓ２２２０）。
【０１６５】
次に、受信した暗号鍵で光ディスクに記録するコンテンツを暗号化し、光ディスクに記録する（Ｓ２２２２）。
【０１６６】
図２３は、図２２で説明した光ディスク記録装置と管理サーバの特徴的なブロックを示したブロック図である。
【０１６７】
本システムは、光ディスク記録装置２３００および管理サーバ２３０２で構成され、光ディスク記録装置２３００は、光ピックアップ１０８、トラバース１３２、スピンドルモータ１５６、光ディスク識別情報読出し手段２３０４、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０、通信手段２３０６、暗号化手段２３０８、変調手段２３１０および光源照射制御手段２３１２から構成され、管理サーバ２３０２は、通信手段２３１４、特徴点探索手段２３１６、管理データベース（ＤＢ）２３１８および暗号鍵生成手段２３２０から構成される。
【０１６８】
光ディスク識別情報読出し手段２３０４は、光ディスク２３３４の内周に位置するＢＣＡに予め記録されているバーコード状記録マークから、ディスクごとに固有のディスク識別情報を読み出す。前記バーコード状マークは、光ディスク製造時に、高出力のＹａＧレーザなどによって、光ディスク表面の反射金属膜を融解して、除去することによって記録されている。バーコード状マークは光ビーム照射のともなう反射光量の変化によって読み出すことが可能となる。
【０１６９】
通信手段２３０６は、指紋マッピング情報送信手段２３２２と暗号鍵受信手段２３２４から構成され、汎用ネットワーク２３２６を介して管理サーバ２３０２との通信を行う部分であり、指紋マッピング情報送信手段２３２２によって、抽出した指紋マッピング情報と読み出されたディスク識別情報を管理サーバ２３０２に送信する。
【０１７０】
一方、管理サーバ２３０２の特徴的なブロックについて説明する。
【０１７１】
通信手段２３１４は、汎用ネットワーク２３２６により、光ディスク記録装置２３００と接続され、指紋マッピング情報受信手段２３２８と暗号鍵送信手段２３３０とから構成される。指紋マッピング情報受信手段２３２８は、指紋マッピング情報送信手段２３２２から送信された指紋マッピング情報とディスク識別情報を受信する。
【０１７２】
特徴点探索手段２３１６は、受信した指紋マッピング情報から、特徴点リストを生成する。特徴点リストとは、指紋マッピング情報から抽出された指紋の特徴点の識別情報とその位置情報（半径位置、回転角位置）がリストアップされたリストである。また、指紋の特徴点とは、前述のとおり、指紋の分岐や端点であり、指紋マッピング情報から、指紋の分岐や端点を探索し、検出できた場合は、その点の位置情報とともにリストアップする。
【０１７３】
管理ＤＢ（データベース）２３１８は、特徴点探索手段２３１６で抽出した特徴点リストをディスク識別情報に関連付けて管理記憶するデータベースである。
【０１７４】
暗号鍵生成手段２３２０は、管理ＤＢ２３１８からのディスク識別情報と、内部に持つ擬似乱数系列生成手段２３３２で生成した乱数系列に基づいて、暗号鍵を生成して生成した暗号鍵を管理ＤＢ２３１８と暗号鍵送信手段２３３０に出力する。なお、擬似乱数系列生成手段２３３２は、一般的なＭ系列生成のためのシフトレジスタなので構成される。本実施の形態では、暗号鍵をディスク識別情報と生成した乱数系列との論理演算あるいは算術演算によって生成するものとする。
【０１７５】
管理ＤＢ２３１８は、ディスク識別情報に基づいて管理記憶している特徴点リストに加えて、暗号鍵生成手段２３２０で生成した暗号鍵も、対応するディスク識別情報に関連付けて管理される。
【０１７６】
暗号鍵送信手段２３３０は、暗号鍵生成手段２３２０で生成した暗号鍵を光ディスク記録装置２３００に送信する。
【０１７７】
光ディスク記録装置２３００の暗号鍵受信手段２３２４は、管理サーバ２３０２から送信される暗号鍵を受信する。
【０１７８】
暗号化手段２３０８は、受信した暗号鍵によって、光ディスク２３３４に記録するコンテンツ情報を暗号化する。本実施形態での暗号化は、一般的なＤＥＳやＡＥＳなどの秘密鍵暗号が用いられる。
【０１７９】
変調手段２３１０は、暗号化手段２３０８によって暗号化されたコンテンツを光ディスク２３３４の記録形態に合致する変調を行う。例えば、ＤＶＤであれば８−１６変調であり、ＢＤでは１７ｐｐ変調である。
【０１８０】
光源照射制御手段２３１２は、光ピックアップ１０８に搭載されている光源の光源ドライバを含み、変調手段２３１０からの変調データに基づいて光ディスク２３３４に記録するための光源強度制御を行う。
【０１８１】
光ピックアップ１０８は、光源照射強度制御手段２３１２で制御された光源強度により光ディスク２３３４に光ビームを照射することによって光学的に読み取り可能な記録マークを光ディスク２３３４に形成することによって、暗号化されたコンテンツを光ディスク２３３４に記録する。
【０１８２】
図２４は、本発明による光ディスク再生装置の処理の流れを示したフローチャートである。
【０１８３】
まず、光ディスクのBCA（Burst Cutting Area）などの特定領域に記録されているディスク識別情報を読み出す。一般的な光ディスクでは、光ディスク内周のBCA領域にバーコード状の記録マークによって光ディスクの固体識別が可能な光ディスク識別情報が記録されているので、この光ディスク識別情報を、光ディスクの起動直後に読み出す（Ｓ２４０２）。
【０１８４】
次に、光ディスクに付いた指紋情報を２次元でマッピングし、指紋マッピング情報を生成する。（Ｓ２２０４）。
【０１８５】
Ｓ２２０２によって、指紋マッピング情報の生成が終了した場合には、Ｓ２２０２で読み出したディスク識別情報と、Ｓ２２０４で生成された指紋のマッピング情報を管理サーバに送信する（Ｓ２４０４）。
【０１８６】
管理サーバでは、光ディスク再生装置から送信されるディスク識別情報と指紋マッピング情報とを受信する（Ｓ２４０６）。
【０１８７】
次に、指紋マッピング情報から指紋の特徴点を探索する（Ｓ２４０８）。
【０１８８】
次に、指紋の特徴点リストを生成する（Ｓ２４１０）。
【０１８９】
Ｓ２４０８、Ｓ２４１０は、Ｓ２２１０、Ｓ２２１２と同様の処理であり、ここでは詳細な説明は省略する。ただし、特徴点リストはＳ２２１２で生成するものより、Ｓ２４１０で生成するものが部分的なものであってもかまわない。Ｓ２２１２における特徴点リストは、指紋マッピング情報に含まれる全ての指紋の中から検出できる全ての特徴点をリストアップするのに対して、Ｓ２４１０では、指紋の特徴点の検出精度などに応じて、検出精度の高いもののみをリストアップしてもかまわない。
【０１９０】
次に受信したディスク識別情報に基づいて管理ＤＢから登録されている特徴点リストを読み出す（Ｓ２４１２）。
【０１９１】
次に管理ＤＢから読み出した特徴点リストと受信した特徴点リストを照合する。照合は、特徴点の種別（特徴点識別情報）とその位置情報（半径位置、回転各位置）に基づいて行う。従って、同じ種別の特徴点が、同位置に存在するか否かで照合を行う。また、位置情報は、照合範囲を管理ＤＢに管理されている特徴点リストから許容誤差を含めた範囲で照合することが望ましい（Ｓ２４１４）。
【０１９２】
次に、照合結果の閾値判定によって所定数以上の特徴点位置の一致が確認されたかどうかを判定する（Ｓ２４１６）。前記所定数とは、本システムによる指紋照合の結果、本人と一致する確率を十分に確保するとともに、他人の指紋を間違えて本人を判定してしまう誤照合の確率を十分小さくするように設定される。
【０１９３】
Ｓ２４１６の結果、所定数以上の特徴点の一致が確認できない場合（Ｓ２４１６のＮｏ）、照合エラーを光ディスク再生装置に送信する（Ｓ２４１８）。
【０１９４】
光ディスク再生装置では、照合エラーを受信する（Ｓ２４２０）。
【０１９５】
次に照合エラーを受信すると、光ディスク再生装置において光ディスクを再生する動作を停止して、処理を中断する（Ｓ２４２２）。
【０１９６】
一方、Ｓ２４１６で、所定数以上の特徴点の一致が確認できた場合、受信したディスク識別情報に対応した暗号鍵を管理ＤＢから読み出し、光ディスク再生装置に送信する（Ｓ２４２４）。
【０１９７】
光ディスク再生装置では、管理サーバから送信された暗号鍵を受信する（Ｓ２４２６）。
【０１９８】
次に、受信した暗号鍵に基づいて、光ディスクから再生した暗号化されたコンテンツを復号化して再生する（Ｓ２４２８）。
【０１９９】
以上のように、本発明の光ディスク再生装置と管理サーバを用いることによって、光ディスクに付いた指紋情報が本人のものであるかどうかを管理サーバで判定して、照合の結果一致した場合にのみ、光ディスクを再生することのできる暗号鍵を光ディスク再生装置に送信することによって暗号化されたコンテンツを再生することが可能となる。
【０２００】
一方、他人の指紋が付いた光ディスクの場合は、指紋情報の照合が不可能となり、光ディスクを再生することが不可能となる。
【０２０１】
図２５は、本発明の光ディスク再生装置２５００と管理サーバ２５０２の特徴的な構成を示したブロック図である。
【０２０２】
本光ディスク再生装置２５００は、光ピックアップ１０８、トラバース１３２、スピンドルモータ１５６、光ピックアップ１０８、光ディスク識別情報読出し手段２３０４、欠陥検出手段１４８、欠陥マッピング手段１５０、通信手段２５０４、再生手段２５０６、復調手段２５０８および復号化手段２５１０から構成される。
【０２０３】
また、管理サーバ２５０２は、通信手段２５１２、特徴点探索手段２３１６、管理ＤＢ２５１４および特徴点リスト照合手段２５１６から構成される。
【０２０４】
通信手段２５０４は、インターネット網などの汎用ネットワーク２３２６によって管理サーバ２５０２に接続されており、指紋マッピング情報送信手段２５１８と暗号鍵受信部２５２０から構成される。
【０２０５】
指紋マッピング情報送信手段２５１８は、欠陥マッピング手段１５０で生成した指紋マッピング情報と読み出したディスク識別情報を管理サーバ２５０２に送信する。
【０２０６】
管理サーバ２５０２の通信手段２５１２は、インターネット網など汎用の汎用ネットワーク２３２６を介して光ディスク再生装置と接続され、指紋マッピング情報受信手段２５２２と暗号鍵送信手段２５２４から構成される。
【０２０７】
指紋マッピング情報受信手段２５２２は、光ディスク再生装置２５００から送信される指紋マッピング情報と光ディスク識別情報を受信する。
【０２０８】
管理ＤＢ２５１４は、受信した光ディスク識別情報から、対応する特徴点リストと暗号鍵を管理情報として特徴点リスト照合手段２５１６に出力する。
【０２０９】
特徴点リスト照合手段２５１６は、特徴点位置照合手段２５２６と閾値判定手段２５２８から構成される。
【０２１０】
特徴点位置照合手段２５２６は、管理ＤＢ２５１４に管理されている特徴点リストと受信した特徴点リストの各特徴点リストに記載されている特徴点ごとにその特徴点の識別情報と特徴点の位置情報を照合する。
【０２１１】
また、閾値判定手段２５２８では、特徴点位置照合手段２５２６、特徴点位置の照合結果が合致する特徴点数を閾値判定することによって、指紋情報が認証できたかどうかを判定する。
【０２１２】
暗号鍵送信手段２５２４では、閾値判定手段２５２８の結果、本人の認証が確認できた段階で、汎用ネットワーク２３２６を介して、受信したディスク識別情報に従って管理ＤＢ２５１４から出力される暗号鍵を光ディスク再生装置２５００に送信する。
【０２１３】
光ディスク再生装置２５００の通信手段２５０４の暗号鍵受信部２５２０は、管理サーバ２５０２から送信される暗号鍵を受信する。
【０２１４】
一方、光ピックアップ１０８は、光ディスク２３３４に光ビームを照射し、その反射光から暗号化されたコンテンツ情報を示す読み取り信号を生成する。
【０２１５】
再生手段２５０６は、暗号化されたコンテンツ情報を示す読み取り信号をデジタル化して、変調データをデジタル信号として生成する。
【０２１６】
復調手段２５０８は、変調データを復調するブロックであり、光ディスク記録装置２３００の変調手段２３１０に対応した復調を行う。
【０２１７】
復号化手段２５１０は、暗号化されたコンテンツ情報を受信した暗号鍵で復号化することによってコンテンツを再生する。
【０２１８】
以上より、本光ディスク再生装置と管理サーバを用いれば、光ディスク表面に付いた指紋情報が本人のものであると認証された場合にのみ、光ディスクに記録されている暗号化されたコンテンツの復号化を行うための暗号鍵が管理サーバから送信され、コンテンツを再生することが可能となる。
【０２１９】
一方、指紋が付いていない場合や他人の指紋が付いた指紋が認証されない場合には、管理サーバから暗号化されたコンテンツを復号するための暗号鍵情報が送信されないので、結果としてコンテンツを再生することが不可能である。
【０２２０】
従って、実質的に光ディスク再生装置のコストアップをすることなく、本人のみ使用・閲覧することが望ましいコンテンツや、指紋をふき取るまで有効となる光ディスクなどを実現すること可能となり、光ディスクの応用範囲を広げることが可能となる。
【０２２１】
図２６は、光ディスクに付与される指紋の概念図と、そのときの特徴点リストの形態を示した概念図である。
【０２２２】
特徴点探索手段２３１６によって指紋マッピング情報から特徴点を探索した結果、端点としてＹ１、Ｙ４、Ｙ５が検出され、分岐点としてＹ２、Ｙ３が検出された例である。
【０２２３】
このように探索された特徴点は、指紋マッピング情報と対応付けて得られる特徴点の位置情報（半径位置、回転角位置）と対応付け、さらに、特徴点が端点なのか分岐点なのかを示す特徴点識別情報とともに特頂点リストを生成する。
【０２２４】
したがって、管理サーバ２５０２の特徴点リスト照合部Ｙ５１７では、受信した指紋マッピング情報から生成した特徴点リストと、管理ＤＢ２５１４に管理されている特徴点リストを一点一点、特徴点の識別情報とその位置情報とを照合していくことによって、指紋が本人のものであるかの認証を行う。
【０２２５】
本システムでは、指紋の特徴点探索というきわめて計算コストの高い処理をサーバ側の処理とすることによって、光ディスク再生装置のコストアップ要素を実質的になくすとともに、指紋認証のような高いセキュリティーを実現している。
【０２２６】
また、本発明では、指紋をセンシングするための特殊なセンサなどは必要とせず、光ディスクの表面に付いた指紋をコンテンツ情報と同じ光学系で検出することが可能である。
【０２２７】
また、光ディスク再生装置では、指紋位置とその位置情報を２次元マッピングし、指紋の２次元画像情報と等価な情報を生成し、管理サーバでは、指紋マッピング情報と画像データとして用いることによって、一般的な指紋認証手段をそのまま利用することが可能となる。
【０２２８】
また、実施の形態６に示したような欠陥検出手段１９０４によって、指紋マッピング情報に欠陥厚みの情報を付与できる。指紋は時間経過により水滴や油滴が蒸発し、厚さが薄くなる。２つの異なる時点の指紋マッピング情報を比較することで時間経過を検出することができ、時間によりコンテンツ再生の可否を制御することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０２２９】
本発明による光ディスク装置は、光ディスクに付いた個人識別情報を検出することが可能となり、光ディスクに記録されたコンテンツや光ディスクに接続された機器等のセキュリティー向上に有用である。
【符号の説明】
【０２３０】
１０２ 光ディスク
１０４ 個人識別情報
１０６ 回転角位置パターン
１０８ 光ピックアップ
１１０ 光源
１１８ 球面収差補正レンズ
１２０ 球面収差補正レンズ移動手段
１２２ 対物レンズ
１２４ フォーカス移動手段
１２６ トラッキング移動手段
１３０ 受光手段
１３２ トラバース
１３４ コントローラ
１３６ フォーカスエラー信号生成手段
１３８ フォーカス制御手段
１４０ トラッキングエラー信号生成手段
１４２ トラッキング制御手段
１４４ 再生信号指標生成手段
１４６ 球面収差検出手段
１４８ 欠陥検出手段
１５０ 欠陥マッピング手段
１５２ 半径位置検出手段
１５４ 回転角位置検出手段
１５６ ディスクモータ
１５８ 回転角位置パターン検出手段
１６０ 外部機器
２０２ レーベル面
２０４ 記録層
２０６ 表面
２１０ 物理情報領域
２１４ 個人識別情報エリア
３０４ フォーカス位相補償フィルタ
３０６ フォーカス制御信号オフセット手段
４０４ トラッキング位相補償フィルタ
４０６ トラッキング制御信号オフセット手段
１００６ フォーカス位相補償信号記憶手段
１３１０ 光量信号生成手段
１７０４ アドレス再生手段
１７０６ 欠陥マッピング手段
１９０４ 欠陥検出手段
１９０６ 欠陥マッピング手段
２３０４ 光ディスク識別情報読出し手段
２３０６ 通信手段
２３０８ 暗号手段
２３１０ 変調手段
２３１２ 光源照射制御手段
２３１４ 通信手段
２３１６ 特徴点探索手段
２３１８ 管理データベース
２３２０ 暗号鍵生成手段
２３２２ 指紋マッピング情報送信手段
２３２４ 暗号鍵受信手段
２３２８ 指紋マッピング情報受信手段
２３３０ 暗号鍵送信手段
２３３２ 擬似乱数系列生成手段
２５０４ 通信手段
２５０６ 再生手段
２５０８ 復調手段
２５１０ 復号化手段
２３１６ 特徴点リスト照合手段
２５２６ 特徴点位置照合手段
２５２８ 閾値判定手段
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する光ディスク装置において、
前記光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、
前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子と、
前記反射光信号に基づいてフォーカス信号を生成するフォーカス信号生成手段と、
前記フォーカス信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御信号を生成するフォーカス制御手段と、
前記反射光信号に基づいて反射光の光量変化から欠陥を検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出手段と、
前記光ディスク上の前記光スポットの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出手段と、
前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出手段と、
前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピング手段とを備え、
前記欠陥マッピング手段により前記個人識別情報を２次元でマッピングし前記個人識別情報を検出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記フォーカス制御手段は、
前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が付いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ピックアップは、
球面収差補正レンズと、
球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、
前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定する請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御手段は、
前記記録層に光スポットを制御する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記欠陥検出手段は、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記欠陥検出手段は、
モノマルチ回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後にモノマルチ回路に通過させて欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記欠陥検出手段は、
トップホールド回路と、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記トップホールド回路に通過させて得られるトップエンベロープ信号と、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と、
前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて生成される所定の値と、
前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス信号生成手段は光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと前記記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、出力する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記フォーカス信号生成手段は前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、出力する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記フォーカス制御手段は、
前記フォーカス信号に位相補償を施したフォーカス位相補償信号を生成し出力するフォーカス位相補償手段と、
前記フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成し蓄えるフォーカス位相補償信号記憶手段とを備え、
前記個人識別情報が付いた領域ではフォーカス位相補償信号記憶値に基づいてフォーカス制御信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとを備え、
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記光ディスク装置を制御するコントローラを備え、
前記コントローラが有する内部クロックと、
前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正し、
校正した前記内部クロックに基づいて回転角位置を検出する請求項１４記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記光ディスク装置は前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生手段とをさらに備え、
再生されたアドレスに基づいて欠陥の半径位置および回転角位置を検出する請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度以上である場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
所定の長さ以上の欠陥がある場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
ユーザーが前記個人識別情報の検出の開始を指令する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記光ディスクは物理情報領域と
前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とを備え、
前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無に基づいて、前記個人識別情報の検出の開始を判断する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記個人識別情報の検出を開始した後に、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録された請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始する請求項２１または請求項２２記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが光ディスク上に明示された請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始する請求項２４記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、
前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子とを備え、
前記光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する光ディスク装置において、
前記反射光信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御ステップと、
前記反射光信号に基づいて前記光ディスクの欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
前記光ディスク上の前記光スポットの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出ステップと、
前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出ステップと、
前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピングステップとを備え、
前記欠陥マッピングステップにより前記個人識別情報を２次元でマッピングし個人情報を検出する個人識別情報検出方法。
【請求項２７】
前記フォーカス制御ステップは、
前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が付いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項２８】
前記光ピックアップは、
球面収差補正レンズと、
球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、
前記フォーカス制御ステップにおいて光スポットを制御する前に、
前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定する請求項２７記載の個人識別情報検出方法。
【請求項２９】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御ステップは、
前記光ディスクの前記記録層に光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３０】
前記欠陥検出ステップは、
前記反射光信号に基づいた信号をボトムホールドした後に得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項２６記載の光ディスク個人識別情報検出方法。
【請求項３１】
前記欠陥検出ステップは、
前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後に、欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３２】
前記欠陥検出ステップは、
前記反射光信号に基づいた信号をトップホールドした後に得られるトップエンベロープ信号と、
前記反射光信号に基づいた信号をボトムホールドした後に得られるボトムエンベロープ信号と、
前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて所定の値を生成し、
前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３３】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御ステップは、
光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと前記記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、前記フォーカスエラー信号に基づいて光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３４】
前記フォーカス制御ステップは、
前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、前記光量信号に基づいて光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３５】
前記個人識別情報が付いていない領域において前記フォーカス制御ステップは光スポットを制御する信号を記憶し、前記個人識別情報が付いた領域において記憶した信号に基づいて光スポットを制御するする請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３６】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、
前記半径位置検出ステップは前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３７】
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出ステップは前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３８】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとをさらに備え、
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出ステップは前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３９】
前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有し、
前記光ディスク装置を制御するコントローラと、
前記コントローラは内部クロックとを備え、
前記個人識別情報の検出の開始を判断する個人識別情報検出開始ステップと、
前記個人識別情報検出開始ステップの後に前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正する内部クロック校正ステップと、
校正した内部クロックに基づいて回転角位置を検出する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４０】
前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生ステップとをさらに備え、
再生されたアドレスに基づいて前記半径位置検出ステップは欠陥の半径位置を前記回転角位置検出ステップは欠陥の回転角位置を検出する請求項２９記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４１】
ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度を計測する欠陥頻度計測ステップにおいて、欠陥の頻度が所定以上である場合は前記光ディスクの回転を速くする請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４２】
所定の長さを計測する欠陥長さ計測ステップにおいて、欠陥の長さが所定以上である場合は前記光ディスクの回転を速くする請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４３】
前記個人識別情報の検出の開始を判断する個人識別情報検出開始ステップにおいてユーザーが検出の開始を判断する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４４】
前記光ディスクは物理情報領域と、
前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とを備え、
前記個人識別情報の検出の開始を判断する個人識別情報検出開始ステップと、
前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無を検出する識別子検出ステップと
前記識別子検出ステップの結果に基づいて前記個人識別情報検出開始ステップは前記個人識別情報の検出の開始を判断する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４５】
前記個人識別情報検出開始ステップの後に前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索する個人識別情報領域探索ステップを行う請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４６】
前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録され、
前記個人識別情報検出開始ステップの後に前記個人識別情報領域の位置を読み出す個人識別情報領域位置読出ステップを行う請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４７】
前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピングステップはマッピングを開始する請求項４５または請求項４６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４８】
前記光ディスク上に前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが明示され、
前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピングステップはマッピングを開始する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４９】
光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、
前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子とを備え、
前記光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する光ディスク装置において、
前記反射光信号に基づいてフォーカス信号を生成するフォーカス信号生成手段と、
前記フォーカス信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御信号を生成するフォーカス制御手段と、
前記反射光信号に基づいて反射光の光量変化から欠陥を検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出手段と、
前記光ディスク上の前記光スポットの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出手段と、
前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出手段と、
前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピング手段とを備え、
前記欠陥マッピング手段により前記個人識別情報を２次元でマッピングし前記個人識別情報を検出する光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５０】
前記フォーカス制御手段は、
前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が着いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５１】
前記光ピックアップは、
球面収差補正レンズと、
球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、
前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５２】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御手段は、
前記記録層に光スポットを制御する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５３】
前記欠陥検出手段は、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５４】
前記欠陥検出手段は、
モノマルチ回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後にモノマルチ回路に通過させて欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５５】
前記欠陥検出手段は、
トップホールド回路と、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記トップホールド回路に通過させて得られるトップエンベロープ信号と、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と、
前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて生成される所定の値と、
前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５６】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス信号生成手段は光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと前記記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、出力する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５７】
前記フォーカス信号生成手段は前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、出力する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５８】
前記フォーカス制御手段は、
前記フォーカス信号に位相補償を施したフォーカス位相補償信号を生成し出力するフォーカス位相補償手段と、
前記フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成し蓄えるフォーカス位相補償信号記憶手段とを備え、
前記個人識別情報が付いた領域ではフォーカス位相補償信号記憶値に基づいてフォーカス制御信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５９】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６０】
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６１】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとを備え、
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６２】
前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有し、
半導体集積回路が有する内部クロックと
前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正し、
校正した内部クロックに基づいて回転角位置を検出する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６３】
前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生手段とをさらに備え、
再生されたアドレスに基づいて欠陥の半径位置および回転角位置を検出する請求項５２記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６４】
ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度以上である場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６５】
所定の長さ以上の欠陥がある場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６６】
ユーザーからの指令により前記個人識別情報の検出の開始する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６７】
前記光ディスクは物理情報領域と、
前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とをさらに備え、
前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無に基づいて、前記個人識別情報の検出の開始を判断する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６８】
前記個人識別情報の検出を開始した後に、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６９】
前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録され、
前記個人識別情報領域の位置を読み出す請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項７０】
前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始する請求項６８または請求項６９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項７１】
前記光ディスク上に前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが明示され、
前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピングステップはマッピングを開始する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項７２】
表面と、
前記表面と反対に位置するレーベル面と、
個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアとを備え、
前記個人識別情報エリアが前記表面または前記レーベル面に配置された光ディスク媒体。
【請求項７３】
前記個人識別情報を付けるのに専用の光ディスク媒体か否かを表す情報が記録されている請求項７２記載の光ディスク媒体。
【請求項７４】
情報を記録された若しくは情報を記録するための記録層と、
前記記録層に物理情報領域とをさらに備え、
前記物理情報領域に前記個人識別情報を付けても良い光ディスク媒体か否かを表す情報が記録されている請求項７２記載の光ディスク媒体。
【請求項７５】
情報を記録された若しくは情報を記録するための記録層と、
前記記録層に物理情報領域とを備え、
前記物理情報領域には個人識別情報を付けても良い光ディスク媒体か否かを表す情報が記録されている光ディスク媒体。
【請求項７６】
光ディスク媒体の回転角を表す回転角位置パターンをさらに備える請求項７２記載または請求項７５記載の光ディスク媒体。
【請求項１】
光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する光ディスク装置において、
前記光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、
前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子と、
前記反射光信号に基づいてフォーカス信号を生成するフォーカス信号生成手段と、
前記フォーカス信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御信号を生成するフォーカス制御手段と、
前記反射光信号に基づいて反射光の光量変化から欠陥を検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出手段と、
前記光ディスク上の前記光スポットの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出手段と、
前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出手段と、
前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピング手段とを備え、
前記欠陥マッピング手段により前記個人識別情報を２次元でマッピングし前記個人識別情報を検出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記フォーカス制御手段は、
前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が付いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ピックアップは、
球面収差補正レンズと、
球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、
前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定する請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御手段は、
前記記録層に光スポットを制御する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記欠陥検出手段は、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記欠陥検出手段は、
モノマルチ回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後にモノマルチ回路に通過させて欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記欠陥検出手段は、
トップホールド回路と、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記トップホールド回路に通過させて得られるトップエンベロープ信号と、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と、
前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて生成される所定の値と、
前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス信号生成手段は光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと前記記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、出力する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記フォーカス信号生成手段は前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、出力する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記フォーカス制御手段は、
前記フォーカス信号に位相補償を施したフォーカス位相補償信号を生成し出力するフォーカス位相補償手段と、
前記フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成し蓄えるフォーカス位相補償信号記憶手段とを備え、
前記個人識別情報が付いた領域ではフォーカス位相補償信号記憶値に基づいてフォーカス制御信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとを備え、
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記光ディスク装置を制御するコントローラを備え、
前記コントローラが有する内部クロックと、
前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正し、
校正した前記内部クロックに基づいて回転角位置を検出する請求項１４記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記光ディスク装置は前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生手段とをさらに備え、
再生されたアドレスに基づいて欠陥の半径位置および回転角位置を検出する請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度以上である場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
所定の長さ以上の欠陥がある場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
ユーザーが前記個人識別情報の検出の開始を指令する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記光ディスクは物理情報領域と
前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とを備え、
前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無に基づいて、前記個人識別情報の検出の開始を判断する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記個人識別情報の検出を開始した後に、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録された請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始する請求項２１または請求項２２記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが光ディスク上に明示された請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始する請求項２４記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、
前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子とを備え、
前記光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する光ディスク装置において、
前記反射光信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御ステップと、
前記反射光信号に基づいて前記光ディスクの欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
前記光ディスク上の前記光スポットの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出ステップと、
前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出ステップと、
前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピングステップとを備え、
前記欠陥マッピングステップにより前記個人識別情報を２次元でマッピングし個人情報を検出する個人識別情報検出方法。
【請求項２７】
前記フォーカス制御ステップは、
前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が付いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項２８】
前記光ピックアップは、
球面収差補正レンズと、
球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、
前記フォーカス制御ステップにおいて光スポットを制御する前に、
前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定する請求項２７記載の個人識別情報検出方法。
【請求項２９】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御ステップは、
前記光ディスクの前記記録層に光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３０】
前記欠陥検出ステップは、
前記反射光信号に基づいた信号をボトムホールドした後に得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項２６記載の光ディスク個人識別情報検出方法。
【請求項３１】
前記欠陥検出ステップは、
前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後に、欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３２】
前記欠陥検出ステップは、
前記反射光信号に基づいた信号をトップホールドした後に得られるトップエンベロープ信号と、
前記反射光信号に基づいた信号をボトムホールドした後に得られるボトムエンベロープ信号と、
前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて所定の値を生成し、
前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３３】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御ステップは、
光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと前記記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、前記フォーカスエラー信号に基づいて光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３４】
前記フォーカス制御ステップは、
前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、前記光量信号に基づいて光スポットを制御する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３５】
前記個人識別情報が付いていない領域において前記フォーカス制御ステップは光スポットを制御する信号を記憶し、前記個人識別情報が付いた領域において記憶した信号に基づいて光スポットを制御するする請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３６】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、
前記半径位置検出ステップは前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３７】
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出ステップは前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３８】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとをさらに備え、
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出ステップは前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項３９】
前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有し、
前記光ディスク装置を制御するコントローラと、
前記コントローラは内部クロックとを備え、
前記個人識別情報の検出の開始を判断する個人識別情報検出開始ステップと、
前記個人識別情報検出開始ステップの後に前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正する内部クロック校正ステップと、
校正した内部クロックに基づいて回転角位置を検出する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４０】
前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生ステップとをさらに備え、
再生されたアドレスに基づいて前記半径位置検出ステップは欠陥の半径位置を前記回転角位置検出ステップは欠陥の回転角位置を検出する請求項２９記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４１】
ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度を計測する欠陥頻度計測ステップにおいて、欠陥の頻度が所定以上である場合は前記光ディスクの回転を速くする請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４２】
所定の長さを計測する欠陥長さ計測ステップにおいて、欠陥の長さが所定以上である場合は前記光ディスクの回転を速くする請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４３】
前記個人識別情報の検出の開始を判断する個人識別情報検出開始ステップにおいてユーザーが検出の開始を判断する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４４】
前記光ディスクは物理情報領域と、
前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とを備え、
前記個人識別情報の検出の開始を判断する個人識別情報検出開始ステップと、
前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無を検出する識別子検出ステップと
前記識別子検出ステップの結果に基づいて前記個人識別情報検出開始ステップは前記個人識別情報の検出の開始を判断する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４５】
前記個人識別情報検出開始ステップの後に前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索する個人識別情報領域探索ステップを行う請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４６】
前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録され、
前記個人識別情報検出開始ステップの後に前記個人識別情報領域の位置を読み出す個人識別情報領域位置読出ステップを行う請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４７】
前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピングステップはマッピングを開始する請求項４５または請求項４６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４８】
前記光ディスク上に前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが明示され、
前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピングステップはマッピングを開始する請求項２６記載の個人識別情報検出方法。
【請求項４９】
光ディスクに情報を記録または再生するための光ピックアップと、
前記光ディスクからの反射光を光電変換により反射光信号に変換する受光素子とを備え、
前記光ディスクの表面に付いた個人識別情報を検出する光ディスク装置において、
前記反射光信号に基づいてフォーカス信号を生成するフォーカス信号生成手段と、
前記フォーカス信号に基づいて前記光ディスクに光スポットを制御するフォーカス制御信号を生成するフォーカス制御手段と、
前記反射光信号に基づいて反射光の光量変化から欠陥を検出し欠陥検出信号を生成する欠陥検出手段と、
前記光ディスク上の前記光スポットの半径位置を検出し半径位置信号を生成する半径位置検出手段と、
前記光ディスクの回転角位置を検出し回転角位置信号を生成する回転角位置検出手段と、
前記欠陥検出信号と、前記半径位置検出信号と、前記回転位置検出信号とを記憶し欠陥位置を前記光ディスク上の２次元でマッピングする欠陥マッピング手段とを備え、
前記欠陥マッピング手段により前記個人識別情報を２次元でマッピングし前記個人識別情報を検出する光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５０】
前記フォーカス制御手段は、
前記光ディスクにおける情報が記録された若しくは情報を記録した層とは異なる面であって、前記個人識別情報が着いた前記光ディスクの表面に光スポットを制御する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５１】
前記光ピックアップは、
球面収差補正レンズと、
球面収差補正レンズ移動手段とをさらに備え、
前記球面収差補正レンズが前記光ディスクの表面において球面収差が略ゼロとなるように前記球面収差補正レンズ移動手段を設定する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５２】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス制御手段は、
前記記録層に光スポットを制御する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５３】
前記欠陥検出手段は、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５４】
前記欠陥検出手段は、
モノマルチ回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号と所定の値とを比較して欠陥検出をした後にモノマルチ回路に通過させて欠陥検出を所定の時間だけ後ろに延長する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５５】
前記欠陥検出手段は、
トップホールド回路と、
ボトムホールド回路を備え、
前記反射光信号に基づいた信号を前記トップホールド回路に通過させて得られるトップエンベロープ信号と、
前記反射光信号に基づいた信号を前記ボトムホールド回路に通過させて得られるボトムエンベロープ信号と、
前記トップエンベロープ信号と前記ボトムエンベロープ信号に基づいて生成される所定の値と、
前記反射光信号に基づいた信号と前記所定の値とを比較して欠陥検出を行う請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５６】
前記光ディスクは情報が記録された若しくは情報を記録するための記録層とをさらに備え、
前記フォーカス信号生成手段は光スポットと前記光ディスクの表面または光スポットと前記記録層との垂直のずれを表すフォーカスエラー信号を生成し、出力する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５７】
前記フォーカス信号生成手段は前記反射光の光量を表す光量信号を生成し、出力する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５８】
前記フォーカス制御手段は、
前記フォーカス信号に位相補償を施したフォーカス位相補償信号を生成し出力するフォーカス位相補償手段と、
前記フォーカス位相補償信号に基づいてフォーカス位相補償信号記憶値を生成し蓄えるフォーカス位相補償信号記憶手段とを備え、
前記個人識別情報が付いた領域ではフォーカス位相補償信号記憶値に基づいてフォーカス制御信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項５９】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースをさらに備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６０】
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６１】
前記光ディスク装置は前記光ピックアップを略水平方向に移動させるトラバースとを備え、
前記光ピックアップは光ビームを収束させ光スポットを形成する対物レンズと、
前記対物レンズを略水平方向に移動させるトラッキング移動手段とを備え、
前記半径位置検出手段は前記トラバースの位置と前記トラッキング移動手段の位置に基づいて半径位置信号を生成する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６２】
前記光ディスクは前記光ディスクの回転角を表す回転角位置パターンを有し、
半導体集積回路が有する内部クロックと
前記回転角位置パターンを前記光ピックアップにより読み取った結果により前記内部クロックを校正し、
校正した内部クロックに基づいて回転角位置を検出する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６３】
前記光ディスクが物理的に有するアドレスを再生するアドレス再生手段とをさらに備え、
再生されたアドレスに基づいて欠陥の半径位置および回転角位置を検出する請求項５２記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６４】
ディスク１回転あたり欠陥が所定の頻度以上である場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６５】
所定の長さ以上の欠陥がある場合は、前記光ディスクの回転を速くする請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６６】
ユーザーからの指令により前記個人識別情報の検出の開始する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６７】
前記光ディスクは物理情報領域と、
前記物理情報領域は前記光ディスクが前記個人識別情報を付けても良い光ディスクか否かを表す情報である個人識別情報用光ディスク識別子とをさらに備え、
前記個人識別情報用光ディスク識別子の有無に基づいて、前記個人識別情報の検出の開始を判断する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６８】
前記個人識別情報の検出を開始した後に、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域を探索する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項６９】
前記光ディスクが書き込み可能な記録型光ディスクであって、
前記個人識別情報が付いた領域である個人識別情報領域の位置が前記記録型光ディスクに記録され、
前記個人識別情報領域の位置を読み出す請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項７０】
前記個人識別情報領域の位置に基づいて、前記欠陥マッピング手段はマッピングを開始する請求項６８または請求項６９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項７１】
前記光ディスク上に前記個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアが明示され、
前記個人識別情報エリアに基づいて、前記欠陥マッピングステップはマッピングを開始する請求項４９記載の光ディスク装置の半導体集積回路。
【請求項７２】
表面と、
前記表面と反対に位置するレーベル面と、
個人識別情報を付ける領域である個人識別情報エリアとを備え、
前記個人識別情報エリアが前記表面または前記レーベル面に配置された光ディスク媒体。
【請求項７３】
前記個人識別情報を付けるのに専用の光ディスク媒体か否かを表す情報が記録されている請求項７２記載の光ディスク媒体。
【請求項７４】
情報を記録された若しくは情報を記録するための記録層と、
前記記録層に物理情報領域とをさらに備え、
前記物理情報領域に前記個人識別情報を付けても良い光ディスク媒体か否かを表す情報が記録されている請求項７２記載の光ディスク媒体。
【請求項７５】
情報を記録された若しくは情報を記録するための記録層と、
前記記録層に物理情報領域とを備え、
前記物理情報領域には個人識別情報を付けても良い光ディスク媒体か否かを表す情報が記録されている光ディスク媒体。
【請求項７６】
光ディスク媒体の回転角を表す回転角位置パターンをさらに備える請求項７２記載または請求項７５記載の光ディスク媒体。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【公開番号】特開２０１１−９６３１０（Ｐ２０１１−９６３１０Ａ）
【公開日】平成２３年５月１２日（２０１１．５．１２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−２４８７１７（Ｐ２００９−２４８７１７）
【出願日】平成２１年１０月２９日（２００９．１０．２９）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年５月１２日（２０１１．５．１２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年１０月２９日（２００９．１０．２９）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
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