偽変造防止媒体の検査方法及び偽変造防止媒体
【課題】偽変造防止媒体の検査における耐偽変造性を向上させる。
【解決手段】実施形態の偽変造防止媒体の検査方法は、偽変造防止媒体に対して、偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、励起光を照射している際に、蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量を検出する光量検出工程と、検出された光量をもとに、蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、検出された光量に含まれる基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程とを含む。
【解決手段】実施形態の偽変造防止媒体の検査方法は、偽変造防止媒体に対して、偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、励起光を照射している際に、蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量を検出する光量検出工程と、検出された光量をもとに、蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、検出された光量に含まれる基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程とを含む。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、偽変造防止媒体の検査方法及び偽変造防止媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、有価証券や証明書等、偽変造の危険性がある媒体では、真偽の確認を行うために蛍光材料を印刷などで付与した偽変造防止媒体が用いられている。この偽変造防止媒体の検査では、蛍光材料の発光の有無を検知することにより、真偽を確認している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２７６４４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述した従来技術は、蛍光材料を印刷などで付与して模倣された場合に、真正なものとされる場合があることから、耐偽変造性が高くなかった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上述した課題を解決するために、実施形態の偽変造防止媒体の検査方法は、検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量を検出する光量検出工程と、前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記検出された光量に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程とを含む。
また、実施形態の偽変造防止媒体の検査方法は、検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量と、前記励起光の波長領域の光量とを検出する光量検出工程と、前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記励起光の波長領域に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程とを含む。
【０００６】
実施形態の偽変造防止媒体は、基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域で所定の光学特性を示す。
また、実施形態の偽変造防止媒体は、基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料を蛍光発光させる励起光の波長領域で所定の光学特性を示す。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図２】図２は、図１のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図３】図３は、図１のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【図４】図４は、実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図５】図５は、種々の基材の反射率の一例を示すグラフである。
【図６】図６は、偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図７】図７は、検査装置のハードウエア構成を例示するブロック図である。
【図８】図８は、偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図９】図９は、検査装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図１１】図１１は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図１２】図１２は、第３の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図１３】図１３は、第４の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図１４】図１４は、第５実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図１５】図１５は、図１４のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図１６】図１６は、第５の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の断面概略図である。
【図１７】図１７は、第６の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図１８】図１８は、第６の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図１９】図１９は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図２０】図２０は、図１９のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図２１】図２１は、図１９のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【図２２】図２２は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図２３】図２３は、偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図２４】図２４は、偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図２５】図２５は、偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図２６】図２６は、検査装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図２７】図２７は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図２８】図２８は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図２９】図２９は、第９の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図３０】図３０は、第１０の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図３１】図３１は、第１１の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図３２】図３２は、第１２実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図３３】図３３は、図３２のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図３４】図３４は、第１２の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の断面概略図である。
【図３５】図３５は、第１３の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図３６】図３６は、第１３の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、添付図面を参照して実施形態の偽変造防止媒体の検査方法及び偽変造防止媒体を詳細に説明する。図１は、実施形態にかかる偽変造防止媒体１を例示する正面図である。図２は、図１のＡ−Ａ線の概略断面図、図３は、図１のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【０００９】
図１に示すように、偽変造防止媒体１は、身分証明書等であり、所有者の顔写真２、所有者を識別するためＩＤ（Identification Data）等の文字情報３、励起光を照射することで、所定の波長で蛍光発光する蛍光材料４が印刷などによって形成されている。図２に示すように、偽変造防止媒体１は、主構成材料としての基材６をオーバーコート層５で保護した構成である。図３に示すように、蛍光材料４は、基材６上に印刷などで形成されており、その上を光を透過するオーバーコート層５で覆われている。基材６は、例えば紙などであり、用いる種別で異なる光学特性（反射率、透過率）を示す。
【００１０】
図４は、実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。具体的には、１００は、蛍光材料４に照射する励起光の波長とその強度を示す。１０１は、１００に示した励起光により蛍光材料４が蛍光発光する際の波長とその強度を示す。１０２は、基材６の波長ごとの反射率を示す。１０３は、オーバーコート層５の波長ごとの反射率を示す。１０４は、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの反射率を示す。
【００１１】
図４に示すように、蛍光材料４は、赤外光領域の１０００ｎｍ付近にピークを持つ励起光が照射されて励起することにより、１５００ｎｍ付近にピークを持つ発光波長で蛍光発光する。このような励起・蛍光発光の特性を示す蛍光材料４の一例としては、MolTech GmbH(Molecular Technology)社のIM-1500-1（製品名）等が挙げられる。また、基材６は、１５００ｎｍ近傍で反射率が下がる（吸光率・透過率が上がる）光学特性を有している。また、オーバーコート層５や、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂は、波長全域に亘って反射しない（透過を制限しない）光学特性を有している。
【００１２】
図５は、種々の基材６の反射率の一例を示すグラフである。より具体的には、基材６が紙である場合の反射率のグラフである。図５に示す１０２ａ〜１０２ｅは、１０２で示す基材６とは種別の異なる基材の波長ごとの反射率を示す。図５に示すように、基材６の種別が異なる場合は、１０２、１０２ａ〜１０２ｅに示すように、波長ごとの反射率が異なる。したがって、偽変造防止媒体１として所定の種別の基材６を用いる場合は、基材６の光学特性を検査することで偽変造防止媒体１の真偽を判定することが可能である。また、基材６が紙である場合、１５００ｎｍ付近の反射率が落ち込む波長領域において、材料による差異が（グラフ上で交差するなど無く）安定かつ顕著に現れる。このため、１５００ｎｍ付近の波長領域の反射特性を検査することで紙の種別の判定を正確に行うことが可能となる。
【００１３】
次に、検査対象の偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成について説明する。図６は、偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成を例示する概念図である。図６に示すように、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１に付与された蛍光材料４を蛍光発光させるための励起光を照射する照射装置２００、蛍光材料４が蛍光発光する波長領域の光を透過するＢＰフィルタ２０１（ＢＰ：バンドパスフィルタ）、ＢＰフィルタ２０１を透過した光の光量を検出する測定センサ２０２、検査結果を表示する表示部２１６を備える。
【００１４】
図７は、検査装置２０３のハードウエア構成を例示するブロック図である。図７に示すように、検査装置２０３は、ＣＰＵ２１０（Central Processing Unit）、ＲＯＭ２１１（Read Only Memory）、ＲＡＭ２１２（Random Access Memory）、記憶部２１３、Ｉ／Ｏ制御部２１４、表示部２１６がバス２１７により接続されている。ＣＰＵ２１０は、ＲＯＭ２１１に記憶された基本プログラムや、記憶部２１３に記憶されたプログラムＤ１を読み出してＲＡＭ２１２の作業領域に展開して順次実行することで、偽変造防止媒体１の動作を中央制御する。記憶部２１３は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等のストレージデバイスであり、偽変造防止媒体１の検査を実行するためのプログラムＤ１や、検査の際に参照される光学特性データＤ２等のデータを記憶する。ここで、光学特性データＤ２は、図４に例示した偽変造防止媒体１の構成部材の反射率や、励起・発光強度等の、検査の際に必要とする光学特性が予め設定されたデータである。Ｉ／Ｏ制御部２１４は、ユーザの操作を受け付けるキーボードやマウス等の操作部２１５、照射装置２００、測定センサ２０２とＣＰＵ２１０とを接続する。なお、検査装置２０３は、照射装置２００や測定センサ２０２を接続したＰＣ（Personal Computer）等の情報機器であっても、有価証券等の偽変造防止媒体１を取り扱う現金自動預け払い機等に組み込まれるものであってもよい。
【００１５】
図８は、偽変造防止媒体１の検査の一例を示す概念図である。図８に示すように、ユーザの操作などを操作部２１５で受け付けてプログラムＤ１が実行されることで検査が開始されると、検査装置２０３は、照射装置２００から検査対象の偽変造防止媒体１に対して励起光２０４を照射する。オーバーコート層５を透過した励起光２０４は、蛍光材料４を励起して蛍光発光２０５を生じさせる。測定センサ２０２は、ＢＰフィルタ２０１を介して蛍光材料４が生じた蛍光発光２０５を取得する。
【００１６】
この、蛍光発光２０５には、蛍光材料４が直接蛍光発光する光量の他に、基材６の反射分の光量も含まれる。具体的には、図４の１０１で例示した強度の光量が蛍光材料４が直接蛍光発光する光量であり、図４の１０１に基材６の１０２をかけ合わせた光量が基材６の反射分の光量である。したがって、検査装置２０３では、上述した光学特性データＤ２を参照することで、取得した蛍光発光２０５から蛍光材料４が直接蛍光発光する光量を差し引いた基材６の反射分の光量を算出できる。そして、検査装置２０３は、算出した光量が図４の１０１に基材６の１０２をかけ合わせた光量と一致するか否かを判定することで、偽変造防止媒体１の真偽を検査できる。
【００１７】
図９は、検査装置２０３の動作の一例を示すフローチャートである。図９に示すように、ＣＰＵ２１０の制御のもとで処理が開始されると、検査装置２０３は、照射装置２００から励起光２０４を検査対象の偽変造防止媒体１に照射する（Ｓ１）。次いで、検査装置２０３は、励起光２０４を照射している際に測定センサ２０２で検出された光量をもとに、検査対象の偽変造防止媒体１が蛍光発光しているか否かを判定する（Ｓ２）。検査対象の偽変造防止媒体１が蛍光発光していない場合（Ｓ２：ＮＯ）は蛍光材料４が基材６に付与されていないことから、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１を模造品と判定する（Ｓ７）。
【００１８】
検査対象の偽変造防止媒体１が蛍光発光している場合（Ｓ２：ＹＥＳ）は蛍光材料４が基材６に付与されていることから、真正品と推定される。したがって、検査装置２０３は、測定センサ２０２の検出光量（蛍光発光２０５）の出力を得て（Ｓ３）、基材６の光学特性（反射率）を判定する（Ｓ４）。具体的には、検査装置２０３は、光学特性データＤ２を参照することで、検出光量から蛍光材料４が直接蛍光発光する光量を差し引いた基材６の反射分の光量を算出し、算出した光量が図４の１０１に基材６の１０２をかけ合わせた光量と一致するか否かを判定して、検出光量が光学特性データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致するか否かを判定する（Ｓ５）。
【００１９】
検出光量が光学特性データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致する場合（Ｓ５：ＹＥＳ）、検査装置２０３は、光学特性（反射率）により偽変造防止媒体１に用いられている基材６の真正が確認されたことから、偽変造防止媒体１を真正品と判定する（Ｓ６）。逆に検出光量が光学特性データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致しない場合（Ｓ５：ＮＯ）、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１を模造品と判定する（Ｓ７）。検査装置２０３は、Ｓ６、Ｓ７の判定結果を表示部２１６への画面表示やスピーカ（図示しない）からの音声報知などでユーザに報知して、処理を終了する。
【００２０】
以上のように、検査装置２０３は、蛍光材料４からの蛍光発光が検出された場合、検出された光量に含まれる基材６からの光量が、光学特性データＤ２に予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、検査対象である偽変造防止媒体１の真偽を判定している。したがって、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１に付与された蛍光材料４を検出して偽変造防止媒体１の真偽を判定するだけでなく、蛍光材料４の蛍光発光により基材６の光学特性を検出して偽変造防止媒体１の真偽を判定することから、偽変造防止媒体１の検査における耐偽変造性を向上させることができる。
【００２１】
［第２の実施形態］
次に、基材６の透過率をもとに偽変造防止媒体１の真偽を判定する第２の実施形態について説明する。図１０は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の検査の一例を示す概念図である。図１０に示すように、第２の実施形態では、蛍光材料４が生じる蛍光発光の中で、基材６を透過する蛍光発光２０５ａを測定センサ２０２で取得する。
【００２２】
図１１は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。ここで、１１２は、基材６の波長ごとの透過率を示す。１１２ａ〜１１２ｅは、基材６とは種別の異なる基材の波長ごとの透過率を示す。１１３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。１１４は、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図５に示した反射率の場合と同様、図１１に示すように、基材６の種別が異なる場合は、波長ごとの透過率も異なる。したがって、図１１に例示した偽変造防止媒体１の構成部材の光学特性（透過率）を予め光学特性データＤ２に設定し、図９に例示したフローチャートに従った処理を行うことで、基材６を透過した蛍光発光２０５ａを取得する場合でも、反射率の場合と同様の真偽判定を行うことができる。
【００２３】
［第３の実施形態］
次に、オーバーコート層５の光学特性を偽変造防止媒体１の真偽判定に用いる第３の実施形態について説明する。図１２は、第３の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００２４】
図１２において、１２３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。図１２に示すように、第３の実施形態では、オーバーコート層５の透過率は励起光や蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図８に例示たように励起光２０４を照射して基材６からの反射分を含む蛍光発光２０５を取得する場合、取得される光量は元の１／４まで低下する。この低下分（オーバーコート層５の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１の真偽判定を行ってもよい。具体的には、蛍光発光２０５に含まれるオーバーコート層５の光学特性を検出し、光学特性データＤ２に予め設定されたオーバーコート層５の光学特性と一致するか否かを判定することで、オーバーコート層５の光学特性を用いた偽変造防止媒体１の真偽判定を行う。
【００２５】
［第４の実施形態］
次に、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の光学特性を偽変造防止媒体１の真偽判定に用いる第４の実施形態について説明する。図１３は、第４の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００２６】
図１３において、１２４は、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図１３に示すように、第４の実施形態では、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の透過率は励起光や蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図８に例示したように励起光２０４を照射して基材６からの反射分を含む蛍光発光２０５を取得する場合、取得される光量は元の１／４まで低下する。この低下分（樹脂の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１の真偽判定を行ってもよい。具体的には、蛍光発光２０５に含まれる樹脂の光学特性を検出し、光学特性データＤ２に予め設定された樹脂の光学特性と一致するか否かを判定することで、樹脂の光学特性を用いた偽変造防止媒体１の真偽判定を行う。
【００２７】
［第５の実施形態］
次に、第５の実施形態として、オーバーコート層を持たない基材を例示する。図１４は、第５の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ａを例示する正面図である。図１５は、図１４のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【００２８】
図１４に例示する有価証券等の偽変造防止媒体１ａの場合は、図１５に例示するように、基材６がオーバーコート層で覆われていないことがある。図１６は、第５の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体１ｂの断面概略図である。図１６に示すように、蛍光材料４は、すき込み印刷などにより基材６の中にすき込まれていてもよい。このような偽変造防止媒体１ａ、１ｂについては、オーバーコート層にかかる光学特性を考慮することなく偽変造防止媒体１ａの真偽を判定できる。具体的には、オーバーコート層にかかる光学特性を光学特性データＤ２に設定する必要がない。
【００２９】
［第６の実施形態］
次に、第６の実施形態として、励起光波長の光学特性も同時に評価する場合を例示する。図１７は、第６の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【００３０】
図１７に示すように、検査装置２０３ａには、励起光波長以外の波長領域の光を遮断するＢＰフィルタ２０１ａを備えて励起光波長の光量（反射分）を測定する測定センサ２０２ａが接続されている。検査装置２０３ａは、測定センサ２０２ａからの出力を参照して測定センサ２０２からの出力を得ることで、ノイズなどの外乱要因を排除できることから、偽変造防止媒体１の真偽判定をより高い精度で行うことができる。
【００３１】
図１８は、第６の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成を例示する概念図である。図１８に示すように、検査装置２０３ｂには、照射装置２００が設けられた偽変造防止媒体１の反対側から励起光波長の光量（透過分）を測定する測定センサ２０２ｂが接続されている。このように、測定センサ２０２からの出力を得る際の参照元は、励起光波長の光量の中の基材６を透過する透過光量であってもよい。
【００３２】
［第７の実施形態］
次に、第７の実施形態について説明する。なお、他の実施形態と同一の構成については、同一の符号を付し、説明は省略するものとする。
【００３３】
図１９は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃを例示する正面図である。図２０は、図１９のＡ−Ａ線の概略断面図、図２１は、図１９のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【００３４】
図１９に示すように、偽変造防止媒体１ｃは、身分証明書等であり、所有者の顔写真２、所有者を識別するためＩＤ（Identification Data）等の文字情報３、励起光を照射することで、所定の波長で蛍光発光する蛍光材料４ｃが印刷などによって形成されている。図２０に示すように、偽変造防止媒体１ｃは、主構成材料としての基材６をオーバーコート層５で保護した構成である。図２１に示すように、蛍光材料４ｃは、基材６上に印刷などで形成されており、その上を光を透過するオーバーコート層５で覆われている。基材６は、例えば紙などであり、用いる種別で異なる光学特性（反射率、透過率）を示す。すなわち、上述した他の実施形態とは蛍光材料４ｃが異なる構成である。
【００３５】
図２２は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。具体的には、１００ｃは、蛍光材料４ｃに照射する励起光の波長とその強度を示す。１０１ｃは、１００ｃに示した励起光により蛍光材料４ｃが蛍光発光する際の波長とその強度を示す。１０２は、基材６の波長ごとの反射率を示す。１０３は、オーバーコート層５の波長ごとの反射率を示す。１０４は、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの反射率を示す。
【００３６】
図２２に示すように、蛍光材料４ｃは、赤外光領域の１５００ｎｍ付近にピークを持つ励起光が照射されて励起することにより、９００ｎｍ付近にピークを持つ発光波長で蛍光発光する。このような励起・蛍光発光の特性を示す蛍光材料４ｃの一例としては、MolTech GmbH(Molecular Technology)社のＦＡＭ８１０−１０００−１（製品名）等が挙げられる。また、基材６は、１５００ｎｍ近傍で反射率が下がる（吸光率・透過率が上がる）光学特性を有している。また、オーバーコート層５や、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂は、波長全域に亘って反射しない（透過を制限しない）光学特性を有している。
【００３７】
すなわち、上述した他の実施形態とは、蛍光材料４ｃに照射する励起光の波長と、その励起光により蛍光材料４ｃが蛍光発光する際の波長とが逆の関係になっている。したがって、基材６が紙である場合は、１５００ｎｍ付近の反射率が落ち込む波長領域において、材料による差異が（グラフ上で交差することなく）安定かつ顕著に現れることから（図５参照）、１５００ｎｍ付近の励起光の波長領域の反射特性を検査することで、紙の種別の判定を正確に行うことが可能となる。
【００３８】
次に、検査対象の偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成について説明する。図２３は、偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成を例示する概念図である。図２３に示すように、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃに付与された蛍光材料４ｃを蛍光発光させるための励起光（例えば１５００ｎｍ付近にピークを持つ励起光）を照射する照射装置２００ｃ、蛍光材料４ｃが蛍光発光する波長領域の光を透過するＢＰフィルタ２０１（ＢＰ：バンドパスフィルタ）、励起光の波長領域の光を透過するＢＰフィルタ２０１ａ、ＢＰフィルタ２０１、２０１ａを透過した光の光量を検出する測定センサ２０２、２０２ａ、検査結果を表示する表示部２１６を備える。検査装置２０３ｃのハードウエア構成については、上述した他の実施形態と略同一であるため、説明は省略する。
【００３９】
図２４及び図２５は、偽変造防止媒体１ｃの検査の一例を示す概念図である。図２４に示すように、ユーザの操作などを操作部２１５で受け付けてプログラムＤ１が実行されることで検査が開始されると、検査装置２０３ｃは、照射装置２００ｃから検査対象の偽変造防止媒体１ｃに対して励起光２０４ｃを照射する。オーバーコート層５を透過した励起光２０４ｃは、蛍光材料４ｃを励起して蛍光発光２０５ｃを生じさせる。測定センサ２０２は、ＢＰフィルタ２０１を介して蛍光材料４ｃが生じた蛍光発光２０５ｃを取得する。
【００４０】
次に、図２５に示すように、励起光２０４ｃが基材６で反射された励起光の反射光２０４ａを測定センサ２０２ａで取得する。この測定は、蛍光材料４ｃの影響を除くため、図１９に例示したＡ−Ａ断面で測定する。
【００４１】
この励起光の反射光２０４ａの光量は、基材が真正品である場合、励起光２０４ｃの強度に基材６の反射率を示す光学特性１０２をかけ合わせた光量である。よって、上述の光学特性判定用データＤ２と一致するか否かを判定することで、偽変造防止媒体１ｃの真偽を検査できる。
【００４２】
図２６は、検査装置２０３ｃの動作の一例を示すフローチャートである。図２６に示すように、ＣＰＵ２１０の制御のもとで処理が開始されると、検査装置２０３ｃは、照射装置２００ｃから励起光２０４ｃを検査対象の偽変造防止媒体１ｃに照射する（Ｓ１１）。次いで、検査装置２０３ｃは、励起光２０４ｃを照射している際に測定センサ２０２で検出された光量をもとに、検査対象の偽変造防止媒体１ｃが蛍光発光しているか否かを判定する（Ｓ１２）。検査対象の偽変造防止媒体１ｃが蛍光発光していない場合（Ｓ１２：ＮＯ）は蛍光材料４ｃが基材６に付与されていないことから、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃを模造品と判定する（Ｓ１７）。
【００４３】
検査対象の偽変造防止媒体１ｃが蛍光発光している場合（Ｓ１２：ＹＥＳ）は蛍光材料４ｃが基材６に付与されていることから、真正品と推定される。したがって、検査装置２０３ｃは、測定センサ２０２ａの検出光量（励起光の反射光２０４ａ）の出力を得て（Ｓ１３）、基材６の光学特性（反射率）を判定する（Ｓ１４）。具体的には、検査装置２０３ｃは、励起光２０４ｃの強度と、光学特性判定用データＤ２を参照することで、検出光量が光学特性判定用データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致するか否かを判定する（Ｓ１５）。
【００４４】
検出光量が光学特性判定用データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致する場合（Ｓ１５：ＹＥＳ）、検査装置２０３ｃは、光学特性（反射率）により偽変造防止媒体１ｃに用いられている基材６の真正が確認されたことから、偽変造防止媒体１ｃを真正品と判定する（Ｓ１６）。逆に検出光量が光学特性判定用データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致しない場合（Ｓ１５：ＮＯ）、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃを模造品と判定する（Ｓ１７）。検査装置２０３ｃは、Ｓ１６、Ｓ１７の判定結果を表示部２１６への画面表示やスピーカ（図示しない）からの音声報知などでユーザに報知して、処理を終了する。
【００４５】
以上のように、検査装置２０３ｃは、蛍光材料４ｃからの蛍光発光が検出された場合、検出された光量に含まれる基材６からの光量が、光学特性判定用データＤ２に予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、検査対象である偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定している。したがって、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃに付与された蛍光材料４ｃを検出して偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定するだけでなく、励起光の反射光２０４ａにより基材６の光学特性を検出して偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定することから、偽変造防止媒体１ｃの検査における耐偽変造性を向上させることができる。なお、蛍光発光しているか否かの確認と、基材６の光学特性が真正であるかの確認は順不同であり、入れ替わってもよい。
【００４６】
［第８の実施形態］
次に、基材６の透過率をもとに偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定する第８の実施形態について説明する。図２７は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの検査の一例を示す概念図である。図２７に示すように、第８の実施形態では、基材６を透過する励起光２０４ｂを測定センサ２０２ａで取得する。
【００４７】
図２８は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。ここで、１１２は、基材６の波長ごとの透過率を示す。１１２ａ〜１１２ｅは、基材６とは種別の異なる基材の波長ごとの透過率を示す。１１３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。１１４は、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図２２に示した反射率の場合と同様、図２８に示すように、基材６の種別が異なる場合は、波長ごとの透過率も異なる。したがって、図２８に例示した偽変造防止媒体１ｃの構成部材の光学特性（透過率）を予め光学特性判定用データＤ２に設定し、図２６に例示したフローチャートに従った処理を行うことで、基材６を透過した励起光２０４ｂを取得する場合でも、反射率の場合と同様の真偽判定を行うことができる。
【００４８】
［第９の実施形態］
次に、オーバーコート層５の光学特性を偽変造防止媒体１ｃの真偽判定に用いる第９の実施形態について説明する。図２９は、第９の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００４９】
図２９において、１２３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。図２９に示すように、第９の実施形態では、オーバーコート層５の透過率は励起光や蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図２５に例示したように励起光２０４ｃを照射した際の基材６からの反射光２０４ａを取得する場合、取得される光量は、オーバーコート層５で反射された光量と、オーバーコート層５を透過し、基材６で反射され、再びオーバーコート層５を透過したものを合わせた光量となる。この変化分（オーバーコート層５の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行ってもよい。具体的には、励起光２０４ｃの反射光２０４ａに含まれるオーバーコート層５の光学特性を検出し、光学特性判定用データＤ２に予め設定されたオーバーコート層５の光学特性と一致するか否かを判定することで、オーバーコート層５の光学特性を用いた偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行う。
【００５０】
［第１０の実施形態］
次に、励起光２０４ｃの反射光２０４ａの測定を、蛍光材料４ｃが存在するＢ−Ｂ断面で行う第１０の実施形態について説明する。図３０は、第１０の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成を例示する概念図である。図３０に於ける励起光２０４ｃの反射光２０４ｄは、蛍光材料４ｃの励起に用いられる分、単純な基材６での反射時よりも光量が低下する。この時の低下の度合いは、蛍光材料４ｃの塗布量により変化する。この低下分を検出することで、検出装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行ってもよい。より具体的には、Ｂ−Ｂ断面での励起光２０４ｃの反射光２０４ｄの光量を取得し、光学特性判定用データＤ２に予め設定された、蛍光材料４ｃを所定の量を塗布した際の光学特性と一致するか否かを判定することで、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行う。このとき、必要に応じてＡ−Ａ断面での励起光２０４ｃの反射光２０４ａを併せて取得し、両者を比較しても良い。
【００５１】
［第１１の実施形態］
次に、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の光学特性を偽変造防止媒体１ｃの真偽判定に用いる第１１の実施形態について説明する。図３１は、第１１の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００５２】
図３１において、１２４は、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図３１に示すように、第１１の実施形態では、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の透過率は励起光２０４ｃや蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図２５に例示したように励起光２０４ｃを照射して基材６からの励起光の反射光２０４ａを取得する場合、取得される光量は樹脂で反射された光量と、樹脂を透過し、蛍光材料４ｃの励起に使用された後に基材６で反射され、再び樹脂を透過（励起に使用）したものを合わせた光量となる。この変化分（樹脂の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行ってもよい。具体的には、励起光２０４ｃの反射光２０４ａに含まれる樹脂の光学特性を検出し、光学特性判定用データＤ２に予め設定された樹脂の光学特性と一致するか否かを判定することで、樹脂の光学特性を用いた偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行う。
【００５３】
［第１２の実施形態］
次に、第１２の実施形態として、オーバーコート層を持たない基材を例示する。図３２は、第１２の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｄを例示する正面図である。図３３は、図３２のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【００５４】
図３２に例示する有価証券等の偽変造防止媒体１ｄの場合は、図３３に例示するように、基材６がオーバーコート層で覆われていないことがある。図３４は、第１２の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体１ｅの断面概略図である。図３４に示すように、偽変造防止媒体１ｅにおける蛍光材料４ｃは、すき込み印刷などにより基材６の中にすき込まれていてもよい。このような偽変造防止媒体１ｄ、１ｅについては、オーバーコート層にかかる光学特性を考慮することなく偽変造防止媒体の真偽を判定できる。具体的には、オーバーコート層にかかる光学特性を光学特性判定用データＤ２に設定する必要がない。
【００５５】
［第１３の実施形態］
次に、第１３の実施形態として、蛍光発光波長の光学特性も同時に評価する場合について説明する。上述した第７〜１２の実施形態に於いて、蛍光発光の光量は、偽変造防止媒体１ｃを構成する各材料の光学特性が既知である場合、一意に定まる。このことから、検査装置２０３ｃは、測定センサ２０２からの出力を参照して測定センサ２０２ａからの出力を得ることで、ノイズなどの外乱要因を排除できることから、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定をより高い精度で行うことができる。
【００５６】
図３５は、第１３の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成を例示する概念図である。図３５に示すように、偽変造防止媒体１ｃを挟んで対向する形で、照射装置２００ｃ及び測定センサ２０２ａが設けられ、検査装置２０３ｃに接続されている。このように、測定センサ２０２からの出力を得る際の参照元は、励起光波長の光量の中の、基材６を透過する透過光量であってもよい。
【００５７】
図３６は、第１３の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。図３６に示すように、励起光２０４ｃ及び蛍光発光２０５の両波長域に感度を持つ光量センサ２０２ｃを用い、例えばＢＰフィルタ２０１、２０１ａを切り替えることにより、単一のセンサで光量を測定しても良い。
【００５８】
なお、実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１は、ＲＯＭ等に予め組み込まれて提供される。実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１は、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録して提供するように構成してもよい。
【００５９】
さらに、実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１を、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成しても良い。また、実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１をインターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成しても良い。
【００６０】
実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１は、上述した機能構成を含むモジュール構成となっており、実際のハードウェアとしてはＣＰＵ（プロセッサ）が上記ＲＯＭからプログラムを読み出して実行することにより上記機能構成が主記憶装置上にロードされ、主記憶装置上に生成されるようになっている。
【００６１】
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
【符号の説明】
【００６２】
１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ、１ｅ…偽変造防止媒体、２…顔写真、３…文字情報、４…蛍光材料、５…オーバーコート層、６…基材、２００、２００ｃ…照射装置、２０１、２０１ａ、２０１ｂ…ＢＰフィルタ、２０２、２０２ａ、２０２ｂ…測定センサ、２０３、２０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃ…検査装置、２０４、２０４ｃ…励起光、２０５、２０５ａ…蛍光発光、２１０…ＣＰＵ、２１１…ＲＯＭ、２１２…ＲＡＭ、２１３…記憶部、２１４…Ｉ／Ｏ制御部、２１５…操作部、２１６…表示部、２１７…バス、Ｄ１…プログラム、Ｄ２…光学特性データ
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、偽変造防止媒体の検査方法及び偽変造防止媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、有価証券や証明書等、偽変造の危険性がある媒体では、真偽の確認を行うために蛍光材料を印刷などで付与した偽変造防止媒体が用いられている。この偽変造防止媒体の検査では、蛍光材料の発光の有無を検知することにより、真偽を確認している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２７６４４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述した従来技術は、蛍光材料を印刷などで付与して模倣された場合に、真正なものとされる場合があることから、耐偽変造性が高くなかった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上述した課題を解決するために、実施形態の偽変造防止媒体の検査方法は、検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量を検出する光量検出工程と、前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記検出された光量に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程とを含む。
また、実施形態の偽変造防止媒体の検査方法は、検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量と、前記励起光の波長領域の光量とを検出する光量検出工程と、前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記励起光の波長領域に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程とを含む。
【０００６】
実施形態の偽変造防止媒体は、基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域で所定の光学特性を示す。
また、実施形態の偽変造防止媒体は、基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料を蛍光発光させる励起光の波長領域で所定の光学特性を示す。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図２】図２は、図１のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図３】図３は、図１のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【図４】図４は、実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図５】図５は、種々の基材の反射率の一例を示すグラフである。
【図６】図６は、偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図７】図７は、検査装置のハードウエア構成を例示するブロック図である。
【図８】図８は、偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図９】図９は、検査装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図１１】図１１は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図１２】図１２は、第３の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図１３】図１３は、第４の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図１４】図１４は、第５実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図１５】図１５は、図１４のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図１６】図１６は、第５の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の断面概略図である。
【図１７】図１７は、第６の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図１８】図１８は、第６の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図１９】図１９は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図２０】図２０は、図１９のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図２１】図２１は、図１９のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【図２２】図２２は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図２３】図２３は、偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図２４】図２４は、偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図２５】図２５は、偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図２６】図２６は、検査装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図２７】図２７は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査の一例を示す概念図である。
【図２８】図２８は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図２９】図２９は、第９の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図３０】図３０は、第１０の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図３１】図３１は、第１１の実施形態にかかる偽変造防止媒体の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【図３２】図３２は、第１２実施形態にかかる偽変造防止媒体を例示する正面図である。
【図３３】図３３は、図３２のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【図３４】図３４は、第１２の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の断面概略図である。
【図３５】図３５は、第１３の実施形態にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【図３６】図３６は、第１３の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、添付図面を参照して実施形態の偽変造防止媒体の検査方法及び偽変造防止媒体を詳細に説明する。図１は、実施形態にかかる偽変造防止媒体１を例示する正面図である。図２は、図１のＡ−Ａ線の概略断面図、図３は、図１のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【０００９】
図１に示すように、偽変造防止媒体１は、身分証明書等であり、所有者の顔写真２、所有者を識別するためＩＤ（Identification Data）等の文字情報３、励起光を照射することで、所定の波長で蛍光発光する蛍光材料４が印刷などによって形成されている。図２に示すように、偽変造防止媒体１は、主構成材料としての基材６をオーバーコート層５で保護した構成である。図３に示すように、蛍光材料４は、基材６上に印刷などで形成されており、その上を光を透過するオーバーコート層５で覆われている。基材６は、例えば紙などであり、用いる種別で異なる光学特性（反射率、透過率）を示す。
【００１０】
図４は、実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。具体的には、１００は、蛍光材料４に照射する励起光の波長とその強度を示す。１０１は、１００に示した励起光により蛍光材料４が蛍光発光する際の波長とその強度を示す。１０２は、基材６の波長ごとの反射率を示す。１０３は、オーバーコート層５の波長ごとの反射率を示す。１０４は、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの反射率を示す。
【００１１】
図４に示すように、蛍光材料４は、赤外光領域の１０００ｎｍ付近にピークを持つ励起光が照射されて励起することにより、１５００ｎｍ付近にピークを持つ発光波長で蛍光発光する。このような励起・蛍光発光の特性を示す蛍光材料４の一例としては、MolTech GmbH(Molecular Technology)社のIM-1500-1（製品名）等が挙げられる。また、基材６は、１５００ｎｍ近傍で反射率が下がる（吸光率・透過率が上がる）光学特性を有している。また、オーバーコート層５や、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂は、波長全域に亘って反射しない（透過を制限しない）光学特性を有している。
【００１２】
図５は、種々の基材６の反射率の一例を示すグラフである。より具体的には、基材６が紙である場合の反射率のグラフである。図５に示す１０２ａ〜１０２ｅは、１０２で示す基材６とは種別の異なる基材の波長ごとの反射率を示す。図５に示すように、基材６の種別が異なる場合は、１０２、１０２ａ〜１０２ｅに示すように、波長ごとの反射率が異なる。したがって、偽変造防止媒体１として所定の種別の基材６を用いる場合は、基材６の光学特性を検査することで偽変造防止媒体１の真偽を判定することが可能である。また、基材６が紙である場合、１５００ｎｍ付近の反射率が落ち込む波長領域において、材料による差異が（グラフ上で交差するなど無く）安定かつ顕著に現れる。このため、１５００ｎｍ付近の波長領域の反射特性を検査することで紙の種別の判定を正確に行うことが可能となる。
【００１３】
次に、検査対象の偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成について説明する。図６は、偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成を例示する概念図である。図６に示すように、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１に付与された蛍光材料４を蛍光発光させるための励起光を照射する照射装置２００、蛍光材料４が蛍光発光する波長領域の光を透過するＢＰフィルタ２０１（ＢＰ：バンドパスフィルタ）、ＢＰフィルタ２０１を透過した光の光量を検出する測定センサ２０２、検査結果を表示する表示部２１６を備える。
【００１４】
図７は、検査装置２０３のハードウエア構成を例示するブロック図である。図７に示すように、検査装置２０３は、ＣＰＵ２１０（Central Processing Unit）、ＲＯＭ２１１（Read Only Memory）、ＲＡＭ２１２（Random Access Memory）、記憶部２１３、Ｉ／Ｏ制御部２１４、表示部２１６がバス２１７により接続されている。ＣＰＵ２１０は、ＲＯＭ２１１に記憶された基本プログラムや、記憶部２１３に記憶されたプログラムＤ１を読み出してＲＡＭ２１２の作業領域に展開して順次実行することで、偽変造防止媒体１の動作を中央制御する。記憶部２１３は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等のストレージデバイスであり、偽変造防止媒体１の検査を実行するためのプログラムＤ１や、検査の際に参照される光学特性データＤ２等のデータを記憶する。ここで、光学特性データＤ２は、図４に例示した偽変造防止媒体１の構成部材の反射率や、励起・発光強度等の、検査の際に必要とする光学特性が予め設定されたデータである。Ｉ／Ｏ制御部２１４は、ユーザの操作を受け付けるキーボードやマウス等の操作部２１５、照射装置２００、測定センサ２０２とＣＰＵ２１０とを接続する。なお、検査装置２０３は、照射装置２００や測定センサ２０２を接続したＰＣ（Personal Computer）等の情報機器であっても、有価証券等の偽変造防止媒体１を取り扱う現金自動預け払い機等に組み込まれるものであってもよい。
【００１５】
図８は、偽変造防止媒体１の検査の一例を示す概念図である。図８に示すように、ユーザの操作などを操作部２１５で受け付けてプログラムＤ１が実行されることで検査が開始されると、検査装置２０３は、照射装置２００から検査対象の偽変造防止媒体１に対して励起光２０４を照射する。オーバーコート層５を透過した励起光２０４は、蛍光材料４を励起して蛍光発光２０５を生じさせる。測定センサ２０２は、ＢＰフィルタ２０１を介して蛍光材料４が生じた蛍光発光２０５を取得する。
【００１６】
この、蛍光発光２０５には、蛍光材料４が直接蛍光発光する光量の他に、基材６の反射分の光量も含まれる。具体的には、図４の１０１で例示した強度の光量が蛍光材料４が直接蛍光発光する光量であり、図４の１０１に基材６の１０２をかけ合わせた光量が基材６の反射分の光量である。したがって、検査装置２０３では、上述した光学特性データＤ２を参照することで、取得した蛍光発光２０５から蛍光材料４が直接蛍光発光する光量を差し引いた基材６の反射分の光量を算出できる。そして、検査装置２０３は、算出した光量が図４の１０１に基材６の１０２をかけ合わせた光量と一致するか否かを判定することで、偽変造防止媒体１の真偽を検査できる。
【００１７】
図９は、検査装置２０３の動作の一例を示すフローチャートである。図９に示すように、ＣＰＵ２１０の制御のもとで処理が開始されると、検査装置２０３は、照射装置２００から励起光２０４を検査対象の偽変造防止媒体１に照射する（Ｓ１）。次いで、検査装置２０３は、励起光２０４を照射している際に測定センサ２０２で検出された光量をもとに、検査対象の偽変造防止媒体１が蛍光発光しているか否かを判定する（Ｓ２）。検査対象の偽変造防止媒体１が蛍光発光していない場合（Ｓ２：ＮＯ）は蛍光材料４が基材６に付与されていないことから、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１を模造品と判定する（Ｓ７）。
【００１８】
検査対象の偽変造防止媒体１が蛍光発光している場合（Ｓ２：ＹＥＳ）は蛍光材料４が基材６に付与されていることから、真正品と推定される。したがって、検査装置２０３は、測定センサ２０２の検出光量（蛍光発光２０５）の出力を得て（Ｓ３）、基材６の光学特性（反射率）を判定する（Ｓ４）。具体的には、検査装置２０３は、光学特性データＤ２を参照することで、検出光量から蛍光材料４が直接蛍光発光する光量を差し引いた基材６の反射分の光量を算出し、算出した光量が図４の１０１に基材６の１０２をかけ合わせた光量と一致するか否かを判定して、検出光量が光学特性データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致するか否かを判定する（Ｓ５）。
【００１９】
検出光量が光学特性データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致する場合（Ｓ５：ＹＥＳ）、検査装置２０３は、光学特性（反射率）により偽変造防止媒体１に用いられている基材６の真正が確認されたことから、偽変造防止媒体１を真正品と判定する（Ｓ６）。逆に検出光量が光学特性データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致しない場合（Ｓ５：ＮＯ）、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１を模造品と判定する（Ｓ７）。検査装置２０３は、Ｓ６、Ｓ７の判定結果を表示部２１６への画面表示やスピーカ（図示しない）からの音声報知などでユーザに報知して、処理を終了する。
【００２０】
以上のように、検査装置２０３は、蛍光材料４からの蛍光発光が検出された場合、検出された光量に含まれる基材６からの光量が、光学特性データＤ２に予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、検査対象である偽変造防止媒体１の真偽を判定している。したがって、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１に付与された蛍光材料４を検出して偽変造防止媒体１の真偽を判定するだけでなく、蛍光材料４の蛍光発光により基材６の光学特性を検出して偽変造防止媒体１の真偽を判定することから、偽変造防止媒体１の検査における耐偽変造性を向上させることができる。
【００２１】
［第２の実施形態］
次に、基材６の透過率をもとに偽変造防止媒体１の真偽を判定する第２の実施形態について説明する。図１０は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の検査の一例を示す概念図である。図１０に示すように、第２の実施形態では、蛍光材料４が生じる蛍光発光の中で、基材６を透過する蛍光発光２０５ａを測定センサ２０２で取得する。
【００２２】
図１１は、第２の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。ここで、１１２は、基材６の波長ごとの透過率を示す。１１２ａ〜１１２ｅは、基材６とは種別の異なる基材の波長ごとの透過率を示す。１１３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。１１４は、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図５に示した反射率の場合と同様、図１１に示すように、基材６の種別が異なる場合は、波長ごとの透過率も異なる。したがって、図１１に例示した偽変造防止媒体１の構成部材の光学特性（透過率）を予め光学特性データＤ２に設定し、図９に例示したフローチャートに従った処理を行うことで、基材６を透過した蛍光発光２０５ａを取得する場合でも、反射率の場合と同様の真偽判定を行うことができる。
【００２３】
［第３の実施形態］
次に、オーバーコート層５の光学特性を偽変造防止媒体１の真偽判定に用いる第３の実施形態について説明する。図１２は、第３の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００２４】
図１２において、１２３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。図１２に示すように、第３の実施形態では、オーバーコート層５の透過率は励起光や蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図８に例示たように励起光２０４を照射して基材６からの反射分を含む蛍光発光２０５を取得する場合、取得される光量は元の１／４まで低下する。この低下分（オーバーコート層５の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１の真偽判定を行ってもよい。具体的には、蛍光発光２０５に含まれるオーバーコート層５の光学特性を検出し、光学特性データＤ２に予め設定されたオーバーコート層５の光学特性と一致するか否かを判定することで、オーバーコート層５の光学特性を用いた偽変造防止媒体１の真偽判定を行う。
【００２５】
［第４の実施形態］
次に、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の光学特性を偽変造防止媒体１の真偽判定に用いる第４の実施形態について説明する。図１３は、第４の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００２６】
図１３において、１２４は、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図１３に示すように、第４の実施形態では、蛍光材料４を混合した印刷に用いられる樹脂の透過率は励起光や蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図８に例示したように励起光２０４を照射して基材６からの反射分を含む蛍光発光２０５を取得する場合、取得される光量は元の１／４まで低下する。この低下分（樹脂の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３は、偽変造防止媒体１の真偽判定を行ってもよい。具体的には、蛍光発光２０５に含まれる樹脂の光学特性を検出し、光学特性データＤ２に予め設定された樹脂の光学特性と一致するか否かを判定することで、樹脂の光学特性を用いた偽変造防止媒体１の真偽判定を行う。
【００２７】
［第５の実施形態］
次に、第５の実施形態として、オーバーコート層を持たない基材を例示する。図１４は、第５の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ａを例示する正面図である。図１５は、図１４のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【００２８】
図１４に例示する有価証券等の偽変造防止媒体１ａの場合は、図１５に例示するように、基材６がオーバーコート層で覆われていないことがある。図１６は、第５の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体１ｂの断面概略図である。図１６に示すように、蛍光材料４は、すき込み印刷などにより基材６の中にすき込まれていてもよい。このような偽変造防止媒体１ａ、１ｂについては、オーバーコート層にかかる光学特性を考慮することなく偽変造防止媒体１ａの真偽を判定できる。具体的には、オーバーコート層にかかる光学特性を光学特性データＤ２に設定する必要がない。
【００２９】
［第６の実施形態］
次に、第６の実施形態として、励起光波長の光学特性も同時に評価する場合を例示する。図１７は、第６の実施形態にかかる偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成を例示する概念図である。
【００３０】
図１７に示すように、検査装置２０３ａには、励起光波長以外の波長領域の光を遮断するＢＰフィルタ２０１ａを備えて励起光波長の光量（反射分）を測定する測定センサ２０２ａが接続されている。検査装置２０３ａは、測定センサ２０２ａからの出力を参照して測定センサ２０２からの出力を得ることで、ノイズなどの外乱要因を排除できることから、偽変造防止媒体１の真偽判定をより高い精度で行うことができる。
【００３１】
図１８は、第６の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体１の検査を行う装置構成を例示する概念図である。図１８に示すように、検査装置２０３ｂには、照射装置２００が設けられた偽変造防止媒体１の反対側から励起光波長の光量（透過分）を測定する測定センサ２０２ｂが接続されている。このように、測定センサ２０２からの出力を得る際の参照元は、励起光波長の光量の中の基材６を透過する透過光量であってもよい。
【００３２】
［第７の実施形態］
次に、第７の実施形態について説明する。なお、他の実施形態と同一の構成については、同一の符号を付し、説明は省略するものとする。
【００３３】
図１９は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃを例示する正面図である。図２０は、図１９のＡ−Ａ線の概略断面図、図２１は、図１９のＢ−Ｂ線の概略断面図である。
【００３４】
図１９に示すように、偽変造防止媒体１ｃは、身分証明書等であり、所有者の顔写真２、所有者を識別するためＩＤ（Identification Data）等の文字情報３、励起光を照射することで、所定の波長で蛍光発光する蛍光材料４ｃが印刷などによって形成されている。図２０に示すように、偽変造防止媒体１ｃは、主構成材料としての基材６をオーバーコート層５で保護した構成である。図２１に示すように、蛍光材料４ｃは、基材６上に印刷などで形成されており、その上を光を透過するオーバーコート層５で覆われている。基材６は、例えば紙などであり、用いる種別で異なる光学特性（反射率、透過率）を示す。すなわち、上述した他の実施形態とは蛍光材料４ｃが異なる構成である。
【００３５】
図２２は、第７の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。具体的には、１００ｃは、蛍光材料４ｃに照射する励起光の波長とその強度を示す。１０１ｃは、１００ｃに示した励起光により蛍光材料４ｃが蛍光発光する際の波長とその強度を示す。１０２は、基材６の波長ごとの反射率を示す。１０３は、オーバーコート層５の波長ごとの反射率を示す。１０４は、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの反射率を示す。
【００３６】
図２２に示すように、蛍光材料４ｃは、赤外光領域の１５００ｎｍ付近にピークを持つ励起光が照射されて励起することにより、９００ｎｍ付近にピークを持つ発光波長で蛍光発光する。このような励起・蛍光発光の特性を示す蛍光材料４ｃの一例としては、MolTech GmbH(Molecular Technology)社のＦＡＭ８１０−１０００−１（製品名）等が挙げられる。また、基材６は、１５００ｎｍ近傍で反射率が下がる（吸光率・透過率が上がる）光学特性を有している。また、オーバーコート層５や、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂は、波長全域に亘って反射しない（透過を制限しない）光学特性を有している。
【００３７】
すなわち、上述した他の実施形態とは、蛍光材料４ｃに照射する励起光の波長と、その励起光により蛍光材料４ｃが蛍光発光する際の波長とが逆の関係になっている。したがって、基材６が紙である場合は、１５００ｎｍ付近の反射率が落ち込む波長領域において、材料による差異が（グラフ上で交差することなく）安定かつ顕著に現れることから（図５参照）、１５００ｎｍ付近の励起光の波長領域の反射特性を検査することで、紙の種別の判定を正確に行うことが可能となる。
【００３８】
次に、検査対象の偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成について説明する。図２３は、偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成を例示する概念図である。図２３に示すように、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃに付与された蛍光材料４ｃを蛍光発光させるための励起光（例えば１５００ｎｍ付近にピークを持つ励起光）を照射する照射装置２００ｃ、蛍光材料４ｃが蛍光発光する波長領域の光を透過するＢＰフィルタ２０１（ＢＰ：バンドパスフィルタ）、励起光の波長領域の光を透過するＢＰフィルタ２０１ａ、ＢＰフィルタ２０１、２０１ａを透過した光の光量を検出する測定センサ２０２、２０２ａ、検査結果を表示する表示部２１６を備える。検査装置２０３ｃのハードウエア構成については、上述した他の実施形態と略同一であるため、説明は省略する。
【００３９】
図２４及び図２５は、偽変造防止媒体１ｃの検査の一例を示す概念図である。図２４に示すように、ユーザの操作などを操作部２１５で受け付けてプログラムＤ１が実行されることで検査が開始されると、検査装置２０３ｃは、照射装置２００ｃから検査対象の偽変造防止媒体１ｃに対して励起光２０４ｃを照射する。オーバーコート層５を透過した励起光２０４ｃは、蛍光材料４ｃを励起して蛍光発光２０５ｃを生じさせる。測定センサ２０２は、ＢＰフィルタ２０１を介して蛍光材料４ｃが生じた蛍光発光２０５ｃを取得する。
【００４０】
次に、図２５に示すように、励起光２０４ｃが基材６で反射された励起光の反射光２０４ａを測定センサ２０２ａで取得する。この測定は、蛍光材料４ｃの影響を除くため、図１９に例示したＡ−Ａ断面で測定する。
【００４１】
この励起光の反射光２０４ａの光量は、基材が真正品である場合、励起光２０４ｃの強度に基材６の反射率を示す光学特性１０２をかけ合わせた光量である。よって、上述の光学特性判定用データＤ２と一致するか否かを判定することで、偽変造防止媒体１ｃの真偽を検査できる。
【００４２】
図２６は、検査装置２０３ｃの動作の一例を示すフローチャートである。図２６に示すように、ＣＰＵ２１０の制御のもとで処理が開始されると、検査装置２０３ｃは、照射装置２００ｃから励起光２０４ｃを検査対象の偽変造防止媒体１ｃに照射する（Ｓ１１）。次いで、検査装置２０３ｃは、励起光２０４ｃを照射している際に測定センサ２０２で検出された光量をもとに、検査対象の偽変造防止媒体１ｃが蛍光発光しているか否かを判定する（Ｓ１２）。検査対象の偽変造防止媒体１ｃが蛍光発光していない場合（Ｓ１２：ＮＯ）は蛍光材料４ｃが基材６に付与されていないことから、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃを模造品と判定する（Ｓ１７）。
【００４３】
検査対象の偽変造防止媒体１ｃが蛍光発光している場合（Ｓ１２：ＹＥＳ）は蛍光材料４ｃが基材６に付与されていることから、真正品と推定される。したがって、検査装置２０３ｃは、測定センサ２０２ａの検出光量（励起光の反射光２０４ａ）の出力を得て（Ｓ１３）、基材６の光学特性（反射率）を判定する（Ｓ１４）。具体的には、検査装置２０３ｃは、励起光２０４ｃの強度と、光学特性判定用データＤ２を参照することで、検出光量が光学特性判定用データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致するか否かを判定する（Ｓ１５）。
【００４４】
検出光量が光学特性判定用データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致する場合（Ｓ１５：ＹＥＳ）、検査装置２０３ｃは、光学特性（反射率）により偽変造防止媒体１ｃに用いられている基材６の真正が確認されたことから、偽変造防止媒体１ｃを真正品と判定する（Ｓ１６）。逆に検出光量が光学特性判定用データＤ２に設定されている基材６の光学特性と一致しない場合（Ｓ１５：ＮＯ）、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃを模造品と判定する（Ｓ１７）。検査装置２０３ｃは、Ｓ１６、Ｓ１７の判定結果を表示部２１６への画面表示やスピーカ（図示しない）からの音声報知などでユーザに報知して、処理を終了する。
【００４５】
以上のように、検査装置２０３ｃは、蛍光材料４ｃからの蛍光発光が検出された場合、検出された光量に含まれる基材６からの光量が、光学特性判定用データＤ２に予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、検査対象である偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定している。したがって、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃに付与された蛍光材料４ｃを検出して偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定するだけでなく、励起光の反射光２０４ａにより基材６の光学特性を検出して偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定することから、偽変造防止媒体１ｃの検査における耐偽変造性を向上させることができる。なお、蛍光発光しているか否かの確認と、基材６の光学特性が真正であるかの確認は順不同であり、入れ替わってもよい。
【００４６】
［第８の実施形態］
次に、基材６の透過率をもとに偽変造防止媒体１ｃの真偽を判定する第８の実施形態について説明する。図２７は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの検査の一例を示す概念図である。図２７に示すように、第８の実施形態では、基材６を透過する励起光２０４ｂを測定センサ２０２ａで取得する。
【００４７】
図２８は、第８の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の透過率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。ここで、１１２は、基材６の波長ごとの透過率を示す。１１２ａ〜１１２ｅは、基材６とは種別の異なる基材の波長ごとの透過率を示す。１１３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。１１４は、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図２２に示した反射率の場合と同様、図２８に示すように、基材６の種別が異なる場合は、波長ごとの透過率も異なる。したがって、図２８に例示した偽変造防止媒体１ｃの構成部材の光学特性（透過率）を予め光学特性判定用データＤ２に設定し、図２６に例示したフローチャートに従った処理を行うことで、基材６を透過した励起光２０４ｂを取得する場合でも、反射率の場合と同様の真偽判定を行うことができる。
【００４８】
［第９の実施形態］
次に、オーバーコート層５の光学特性を偽変造防止媒体１ｃの真偽判定に用いる第９の実施形態について説明する。図２９は、第９の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００４９】
図２９において、１２３は、オーバーコート層５の波長ごとの透過率を示す。図２９に示すように、第９の実施形態では、オーバーコート層５の透過率は励起光や蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図２５に例示したように励起光２０４ｃを照射した際の基材６からの反射光２０４ａを取得する場合、取得される光量は、オーバーコート層５で反射された光量と、オーバーコート層５を透過し、基材６で反射され、再びオーバーコート層５を透過したものを合わせた光量となる。この変化分（オーバーコート層５の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行ってもよい。具体的には、励起光２０４ｃの反射光２０４ａに含まれるオーバーコート層５の光学特性を検出し、光学特性判定用データＤ２に予め設定されたオーバーコート層５の光学特性と一致するか否かを判定することで、オーバーコート層５の光学特性を用いた偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行う。
【００５０】
［第１０の実施形態］
次に、励起光２０４ｃの反射光２０４ａの測定を、蛍光材料４ｃが存在するＢ−Ｂ断面で行う第１０の実施形態について説明する。図３０は、第１０の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成を例示する概念図である。図３０に於ける励起光２０４ｃの反射光２０４ｄは、蛍光材料４ｃの励起に用いられる分、単純な基材６での反射時よりも光量が低下する。この時の低下の度合いは、蛍光材料４ｃの塗布量により変化する。この低下分を検出することで、検出装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行ってもよい。より具体的には、Ｂ−Ｂ断面での励起光２０４ｃの反射光２０４ｄの光量を取得し、光学特性判定用データＤ２に予め設定された、蛍光材料４ｃを所定の量を塗布した際の光学特性と一致するか否かを判定することで、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行う。このとき、必要に応じてＡ−Ａ断面での励起光２０４ｃの反射光２０４ａを併せて取得し、両者を比較しても良い。
【００５１】
［第１１の実施形態］
次に、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の光学特性を偽変造防止媒体１ｃの真偽判定に用いる第１１の実施形態について説明する。図３１は、第１１の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの構成部材の反射率、及び励起・発光強度の一例を示すグラフである。
【００５２】
図３１において、１２４は、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の、波長ごとの透過率を示す。図３１に示すように、第１１の実施形態では、蛍光材料４ｃを混合した印刷に用いられる樹脂の透過率は励起光２０４ｃや蛍光発光の光量を５０％に制限する。したがって、図２５に例示したように励起光２０４ｃを照射して基材６からの励起光の反射光２０４ａを取得する場合、取得される光量は樹脂で反射された光量と、樹脂を透過し、蛍光材料４ｃの励起に使用された後に基材６で反射され、再び樹脂を透過（励起に使用）したものを合わせた光量となる。この変化分（樹脂の光学特性（透過率））を検出することで、検査装置２０３ｃは、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行ってもよい。具体的には、励起光２０４ｃの反射光２０４ａに含まれる樹脂の光学特性を検出し、光学特性判定用データＤ２に予め設定された樹脂の光学特性と一致するか否かを判定することで、樹脂の光学特性を用いた偽変造防止媒体１ｃの真偽判定を行う。
【００５３】
［第１２の実施形態］
次に、第１２の実施形態として、オーバーコート層を持たない基材を例示する。図３２は、第１２の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｄを例示する正面図である。図３３は、図３２のＡ−Ａ線の概略断面図である。
【００５４】
図３２に例示する有価証券等の偽変造防止媒体１ｄの場合は、図３３に例示するように、基材６がオーバーコート層で覆われていないことがある。図３４は、第１２の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体１ｅの断面概略図である。図３４に示すように、偽変造防止媒体１ｅにおける蛍光材料４ｃは、すき込み印刷などにより基材６の中にすき込まれていてもよい。このような偽変造防止媒体１ｄ、１ｅについては、オーバーコート層にかかる光学特性を考慮することなく偽変造防止媒体の真偽を判定できる。具体的には、オーバーコート層にかかる光学特性を光学特性判定用データＤ２に設定する必要がない。
【００５５】
［第１３の実施形態］
次に、第１３の実施形態として、蛍光発光波長の光学特性も同時に評価する場合について説明する。上述した第７〜１２の実施形態に於いて、蛍光発光の光量は、偽変造防止媒体１ｃを構成する各材料の光学特性が既知である場合、一意に定まる。このことから、検査装置２０３ｃは、測定センサ２０２からの出力を参照して測定センサ２０２ａからの出力を得ることで、ノイズなどの外乱要因を排除できることから、偽変造防止媒体１ｃの真偽判定をより高い精度で行うことができる。
【００５６】
図３５は、第１３の実施形態にかかる偽変造防止媒体１ｃの検査を行う装置構成を例示する概念図である。図３５に示すように、偽変造防止媒体１ｃを挟んで対向する形で、照射装置２００ｃ及び測定センサ２０２ａが設けられ、検査装置２０３ｃに接続されている。このように、測定センサ２０２からの出力を得る際の参照元は、励起光波長の光量の中の、基材６を透過する透過光量であってもよい。
【００５７】
図３６は、第１３の実施形態の変形例にかかる偽変造防止媒体の検査を行う装置構成を例示する概念図である。図３６に示すように、励起光２０４ｃ及び蛍光発光２０５の両波長域に感度を持つ光量センサ２０２ｃを用い、例えばＢＰフィルタ２０１、２０１ａを切り替えることにより、単一のセンサで光量を測定しても良い。
【００５８】
なお、実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１は、ＲＯＭ等に予め組み込まれて提供される。実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１は、インストール可能な形式又は実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録して提供するように構成してもよい。
【００５９】
さらに、実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１を、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するように構成しても良い。また、実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１をインターネット等のネットワーク経由で提供または配布するように構成しても良い。
【００６０】
実施形態の検査装置２０３〜２０３ｃで実行されるプログラムＤ１は、上述した機能構成を含むモジュール構成となっており、実際のハードウェアとしてはＣＰＵ（プロセッサ）が上記ＲＯＭからプログラムを読み出して実行することにより上記機能構成が主記憶装置上にロードされ、主記憶装置上に生成されるようになっている。
【００６１】
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化することができる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
【符号の説明】
【００６２】
１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１ｄ、１ｅ…偽変造防止媒体、２…顔写真、３…文字情報、４…蛍光材料、５…オーバーコート層、６…基材、２００、２００ｃ…照射装置、２０１、２０１ａ、２０１ｂ…ＢＰフィルタ、２０２、２０２ａ、２０２ｂ…測定センサ、２０３、２０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃ…検査装置、２０４、２０４ｃ…励起光、２０５、２０５ａ…蛍光発光、２１０…ＣＰＵ、２１１…ＲＯＭ、２１２…ＲＡＭ、２１３…記憶部、２１４…Ｉ／Ｏ制御部、２１５…操作部、２１６…表示部、２１７…バス、Ｄ１…プログラム、Ｄ２…光学特性データ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、
前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、
前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量を検出する光量検出工程と、
前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記検出された光量に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程と、
を含む偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項２】
検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、
前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、
前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量と、前記励起光の波長領域の光量とを検出する光量検出工程と、
前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記励起光の波長領域に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程と、
を含む偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項３】
前記光量検出工程は、前記偽変造防止媒体から反射する光量を検出し、
前記判定工程は、前記検出された光量に含まれる前記基材からの反射光量が、予め設定された基材の反射率に対応した光量と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する、
請求項１又は２に記載の偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項４】
前記光量検出工程は、前記偽変造防止媒体を透過する光量を検出し、
前記判定工程は、前記検出された光量に含まれる前記基材を透過した透過光量が、予め設定された基材の透過率に対応した光量と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する、
請求項１又は２に記載の偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項５】
基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域で所定の光学特性を示す偽変造防止媒体。
【請求項６】
基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料を蛍光発光させる励起光の波長領域で所定の光学特性を示す偽変造防止媒体。
【請求項７】
前記光学特性は、前記基材の反射率、又は前記基材の透過率である、
請求項５又は６に記載の偽変造防止媒体。
【請求項１】
検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、
前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、
前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量を検出する光量検出工程と、
前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記検出された光量に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程と、
を含む偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項２】
検査対象の偽変造防止媒体を検査する検査装置における偽変造防止媒体の検査方法であって、
前記偽変造防止媒体に対して、当該偽変造防止媒体の基材に付与される蛍光材料を蛍光発光させるための励起光を照射する照射工程と、
前記励起光を照射している際に、前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域の光量と、前記励起光の波長領域の光量とを検出する光量検出工程と、
前記検出された光量をもとに、前記蛍光材料の蛍光発光が検出された場合、前記励起光の波長領域に含まれる前記基材からの光量が、予め設定された基材の光学特性と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する判定工程と、
を含む偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項３】
前記光量検出工程は、前記偽変造防止媒体から反射する光量を検出し、
前記判定工程は、前記検出された光量に含まれる前記基材からの反射光量が、予め設定された基材の反射率に対応した光量と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する、
請求項１又は２に記載の偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項４】
前記光量検出工程は、前記偽変造防止媒体を透過する光量を検出し、
前記判定工程は、前記検出された光量に含まれる前記基材を透過した透過光量が、予め設定された基材の透過率に対応した光量と一致するか否かに基づいて、前記偽変造防止媒体の真偽を判定する、
請求項１又は２に記載の偽変造防止媒体の検査方法。
【請求項５】
基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料が蛍光発光する波長領域で所定の光学特性を示す偽変造防止媒体。
【請求項６】
基材に所定の波長領域で蛍光発光する蛍光材料を付与し、前記基材は前記蛍光材料を蛍光発光させる励起光の波長領域で所定の光学特性を示す偽変造防止媒体。
【請求項７】
前記光学特性は、前記基材の反射率、又は前記基材の透過率である、
請求項５又は６に記載の偽変造防止媒体。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【図３１】
【図３２】
【図３３】
【図３４】
【図３５】
【図３６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【図３１】
【図３２】
【図３３】
【図３４】
【図３５】
【図３６】
【公開番号】特開２０１３−７５５０６（Ｐ２０１３−７５５０６Ａ）
【公開日】平成２５年４月２５日（２０１３．４．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−６１９１６（Ｐ２０１２−６１９１６）
【出願日】平成２４年３月１９日（２０１２．３．１９）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月２５日（２０１３．４．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２４年３月１９日（２０１２．３．１９）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【Ｆターム（参考）】
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