光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法
【課題】本発明は、波長可変エタロンフィルタに光を２回通す光スペクトラムアナライザにおいて、ＰＤＬ性能を向上することを目的とする。
【解決手段】本願発明の光スペクトラム測定装置は、被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波コントローラ（１５）と、偏波コントローラからの被測定光を通過し、予め定められた偏波方向と直交する方向の光を分離するＰＢＳ（１１）と、ＰＢＳを通過した被測定光から設定波長の光を抽出するとともに、抽出後の光の偏波方向が９０°回転された偏波回転光から設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）と、波長可変エタロンフィルタによって抽出された被測定光の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を偏波回転光として波長可変エタロンフィルタに入射させる偏波回転部（１３）と、波長可変エタロンフィルタによって抽出されかつＰＢＳで分離された偏波回転光を受光する受光器（１４）と、を備える。
【解決手段】本願発明の光スペクトラム測定装置は、被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波コントローラ（１５）と、偏波コントローラからの被測定光を通過し、予め定められた偏波方向と直交する方向の光を分離するＰＢＳ（１１）と、ＰＢＳを通過した被測定光から設定波長の光を抽出するとともに、抽出後の光の偏波方向が９０°回転された偏波回転光から設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）と、波長可変エタロンフィルタによって抽出された被測定光の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を偏波回転光として波長可変エタロンフィルタに入射させる偏波回転部（１３）と、波長可変エタロンフィルタによって抽出されかつＰＢＳで分離された偏波回転光を受光する受光器（１４）と、を備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波長可変エタロンフィルタを用いる光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
波長可変エタロンフィルタを用いた光スペクトラムアナライザは市販されており、可動部がなく、小型にすることが可能である。ところが、ダイナミックレンジが狭いという欠点がある。ダイナミックレンジを改善するため、図６に示すような波長可変エタロンフィルタに光を２回通す手法が検討されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
特許文献１の光スペクトラムアナライザは、波長可変エタロンフィルタ１１２を通過させた被測定光Ｌ１４を変調ミラー１１３で変調しながら波長可変エタロンフィルタ１１２へ反射し、当該反射光Ｌ１５を再度波長可変エタロンフィルタ１１２に通過させた後、当該通過光Ｌ１６をサーキュレータ１１１で分離して受光器１１４で受光する。
【０００４】
図７（ａ）に示すような被測定光Ｌ１１が入力され、波長可変エタロンフィルタ１１２を１度だけ通過させた被測定光Ｌ１４が図７（ｂ）に示すようなダイナミックレンジであったとする。この被測定光Ｌ１４を再度波長可変エタロンフィルタ１１２に通過させた通過光Ｌ１６は、図７（ｃ）に示すように、ダイナミックレンジが広くなる。
【０００５】
しかし、受光器１１４には、通過光Ｌ１６だけでなく、波長可変エタロンフィルタ１１２で反射された被測定光Ｌ１１も含まれる。受光器１１４の受光信号からこの被測定光Ｌ１１を除去するため、特許文献１では、被測定光Ｌ１４を変調ミラー１１３において変調する。そして、演算部１１６は、変調ミラー１１３で変調した変調信号を用いて受光器１１４の信号から通過光Ｌ１６の信号を抽出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】ＵＳ７３９１９７０
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１の光スペクトラムアナライザでは偏波依存については考慮されていない。市販されている波長可変エタロンフィルタ１１２のＰＤＬ（Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ−Ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ−Ｌｏｓｓ）性能は約０．２ｄＢ未満と市場要求の±０．０５ｄＢよりも悪い値となっている。このため、特許文献１の光スペクトラムアナライザは、波長可変エタロンフィルタ１１２のＰＤＬ性能によってスペクトラムを正確に測定できなくなる場合がある。
【０００８】
そこで、本発明は、波長可変エタロンフィルタに光を２回通す光スペクトラムアナライザにおいて、ＰＤＬ性能を向上することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本願発明の光スペクトラム測定装置は、入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波コントローラ（１５）と、前記偏波コントローラからの前記被測定光を通過し、前記偏波方向と直交する方向の光を分離するＰＢＳ（１１）と、前記ＰＢＳを通過した前記被測定光から設定波長の光を抽出するとともに、抽出後の光の偏波方向が９０°回転された偏波回転光から前記設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）と、前記波長可変エタロンフィルタによって抽出された前記被測定光の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を前記偏波回転光として前記波長可変エタロンフィルタに入射させる偏波回転部（１３）と、前記波長可変エタロンフィルタによって抽出されかつ前記ＰＢＳで分離された前記偏波回転光を受光する受光器（１４）と、前記受光器の受光した前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する演算部（１６）と、前記波長可変エタロンフィルタの抽出する前記波長を変化させる制御部（１７）と、を備える。
【００１０】
本願発明の光スペクトラム測定装置は、波長可変エタロンフィルタ（１２）と、受光器（１４）と、制御部（１７）と、を備えるため、被測定光の光スペクトラムを測定することができる。本願発明の光スペクトラム測定装置は、偏波回転部（１３）を備えるため、被測定光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過させることができる。ここで、偏波回転部（１３）が被測定光の偏波方向を直交する方向にするため、波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過した後の偏波回転光の偏波方向は被測定光と直交している。このため、ＰＢＳ（１１）を用いて波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過した後の偏波回転光のみを受光器（１４）に入射させることができる。さらに、本願発明の光スペクトラム測定装置は、偏波コントローラ（１５）と、ＰＢＳ（１１）と、偏波回転部（１３）と、を備えるため、予め定められた偏波方向の光が波長可変エタロンフィルタ（１２）に通過させることができる。このため、本願発明の光スペクトラム測定装置は、ＰＤＬ性能を向上することができる。
【００１１】
本願発明の光スペクトラム測定装置では、前記偏波コントローラは、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光又は前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を、前記ＰＢＳに出力する光スイッチ（２３）と、を備え、前記演算部は、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶してもよい。
【００１２】
本願発明の光スペクトラム測定装置では、前記偏波コントローラは、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光とを合波して、前記ＰＢＳに出力する光カプラ（２４）と、を備えてもよい。
【００１３】
上記目的を達成するために、本願発明の光スペクトラム測定方法は、入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波調整手順と、予め定められた偏波方向の被測定光を前記波長可変エタロンフィルタに通過させた後に、通過光の偏波方向を９０°回転させた偏波回転光を前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させ、前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させた前記偏波回転光を受光して前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する偏波回転光受光手順と、を順に有し、前記波長可変エタロンフィルタの前記設定波長を変化させながら前記偏波調整手順及び前記偏波回転光受光手順を順次行う。
【００１４】
本願発明の光スペクトラム測定方法は、偏波回転光受光手順を波長可変エタロンフィルタの設定波長を変化させながら順次行うため、被測定光の光スペクトラムを測定することができる。本願発明の光スペクトラム測定方法は、被測定光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に通過させた後に偏波回転光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に再度通過させるため、被測定光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過させることができる。ここで、偏波調整手順を有し、偏波回転光受光手順において波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過させた後の偏波回転光の偏波方向は被測定光と直交している。このため、偏波回転光のみを受光することができる。さらに、本願発明の光スペクトラム測定方法は、偏波調整手順を有するため、予め定められた偏波方向の光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に通過させることができる。このため、本願発明の光スペクトラム測定装置は、ＰＤＬ性能を向上することができる。
【００１５】
本願発明の光スペクトラム測定方法では、前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光か又は前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光のうちのいずれか一方を出力し、前記偏波回転光受光手順において、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶してもよい。
【００１６】
本願発明の光スペクトラム測定方法では、前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光と前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光とを合波してもよい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、波長可変エタロンフィルタに光を２回通す光スペクトラムアナライザにおいて、ＰＤＬ性能を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】実施形態１に係る光スペクトラム測定装置の一例を示す。
【図２】偏波コントローラ１５の第１形態例を示す。
【図３】偏波コントローラ１５の第２形態例を示す。
【図４】偏波回転部１３の第２の形態例を示す。
【図５】偏波回転部１３の第３の形態例を示す。
【図６】特許文献１の光スペクトラムアナライザの構成を示す。
【図７】特許文献１の光スペクトラムアナライザにおける波形の一例を示し、（ａ）は被測定光Ｌ１１を示し、（ｂ）は被測定光Ｌ１４を示し、（ｃ）は通過光Ｌ１６を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施の例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００２０】
（実施形態１）
図１に、実施形態１に係る光スペクトラム測定装置の一例を示す。本実施形態に係る光スペクトラム測定装置は、光入力端子１８と、偏波コントローラ１５と、ＰＢＳ１１と、波長可変エタロンフィルタ１２と、偏波回転部１３と、受光器１４と、演算部１６と、制御部１７と、を備える。
【００２１】
本実施形態に係る光スペクトラム測定方法は、偏波調整手順と、偏波回転光受光手順と、を順に有する。偏波調整手順では、偏波コントローラ１５に被測定光Ｌ１が入力され、偏波コントローラ１５が予め定められた偏波方向の被測定光Ｌ２を通過させる。予め定められた偏波方向は、例えばＰ波又はＳ波である。以下、予め定められた偏波方向をＰ波、予め定められた偏波方向を９０°回転させた偏波方向をＳ波として説明する。
【００２２】
偏波回転光受光手順では、Ｐ波の被測定光Ｌ２を波長可変エタロンフィルタ１２に通過させた後に、通過光Ｌ４の偏波方向を９０°回転させた偏波回転光Ｌ５を波長可変エタロンフィルタ１２に再度通過させ、通過後の偏波回転光Ｌ６を受光して偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。以下、偏波回転光受光手順について具体的に説明する。
【００２３】
ＰＢＳ１１は、Ｐ波を通過させ、Ｓ波を分離する。偏波コントローラ１５からの被測定光Ｌ２はＰ波であるため、ＰＢＳ１１を通過して波長可変エタロンフィルタ１２に入力される。波長可変エタロンフィルタ１２は、ＰＢＳ１１を通過した被測定光Ｌ２から設定波長の光を抽出する。これによって、被測定光Ｌ１のうちのＰ波を波長可変エタロンフィルタ１２に１回通過させる。
【００２４】
偏波回転部１３は、波長可変エタロンフィルタ１２によって抽出された通過光Ｌ４の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を偏波回転光Ｌ５として波長可変エタロンフィルタ１２に入射させる。偏波回転部１３は、例えば、ファラデーミラーである。偏波回転光Ｌ５はＰ波の偏波方向を９０°回転させる。このため、偏波回転光Ｌ５はＳ波となる。波長可変エタロンフィルタ１２は、偏波回転光Ｌ５から設定波長の光を抽出する。これによって、被測定光Ｌ１のうちのＰ波を波長可変エタロンフィルタ１２に２回通過させる。
【００２５】
波長可変エタロンフィルタ１２からの偏波回転光Ｌ６はＳ波であるため、ＰＢＳ１１は、偏波回転光Ｌ６を分離する。受光器１４は、ＰＢＳ１１の分離した偏波回転光Ｌ６を受光する。
【００２６】
ここで、波長可変エタロンフィルタ１２で反射された被測定光Ｌ２はＰ波であるため、受光器１４には被測定光Ｌ２が入射されない。このため、本実施形態に係る光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法は、偏波回転部１３において変調することなく偏波回転光Ｌ６と被測定光Ｌ２を分離することができる。このため、構成が簡単になり、装置を小型化することができる。
【００２７】
演算部１６は、受光器１４の受光した偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。制御部１７は、波長可変エタロンフィルタ１２の抽出する設定波長を変更し、変更後の波長における偏波回転光Ｌ６の光強度を変更後の設定波長と関連付けて記憶していく。
【００２８】
以上が偏波回転光受光手順である。上記の偏波調整手順及び偏波回転光受光手順を、波長可変エタロンフィルタ１２の設定波長を変化させながら順次行うことで、光スペクトラムを測定することができる。
【００２９】
波長可変エタロンフィルタ１２に入力される被測定光Ｌ２及び偏波回転光Ｌ５は、それぞれ偏光方向がＰ波とＳ波というように予め定められている。このため、本実施形態に係る光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法は、ＰＤＬ性能を向上することができる。なお、本実施形態に係る光スペクトラム測定装置における各構成の光学配置については限定しないが、偏波状態を維持するため、各構成は偏波保持ファイバで接続されていることが好ましい。
【００３０】
（実施形態２）
本実施形態では、偏波調整手順において、偏波コントローラ１５の第１形態を用いる。図２に、偏波コントローラ１５の第１形態例を示す。偏波コントローラ１５の第１形態は、被測定光分離部としてのＰＢＳ２１と、偏波方向変換部２２と、光スイッチ２３と、を備える。
【００３１】
ＰＢＳ２１は、被測定光Ｌ１をＰ波の光とＳ波とに分離する。偏波方向変換部２２は、Ｓ波の光をＰ波の光に変換する。光スイッチ２３は、ＰＢＳ２１からのＰ波の光と偏波方向変換部２２からのＰ波が入力され、これらのいずれかを被測定光Ｌ２として出力する。
【００３２】
ここで、偏波方向変換部２２は、９０度移相器又はハーフミラーを用いることができる。また、ＰＢＳ２１と光スイッチ２３を偏波保持ファイバで接続し、ＰＢＳ２１の接続部分と光スイッチ２３の接続部分とが９０度回転するように接続してもよい。
【００３３】
本実施形態では、光スイッチ２３の切り替え前後の偏波回転光Ｌ６を受光する。例えば、まず、光スイッチ２３にＰＢＳ２１からのＰ波の光を出力させ、このときの偏波回転光Ｌ６を受光器１４が受光する。そして、演算部１６が偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。この後、光スイッチ２３の出力ポートを切り替え、光スイッチ２３に偏波方向変換部２２からのＰ波の光を出力させ、このときの偏波回転光Ｌ６を受光器１４が受光する。そして、演算部１６が偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。
【００３４】
そして、演算部１６は、ＰＢＳ２１によって分離されたＰ波を光スイッチ２３から出力したときに受光器１４が受光した偏波回転光Ｌ６の光強度と、偏波方向変換部２２によって変換されたＰ波の光を光スイッチ２３から出力したときに受光器１４が受光した偏波回転光Ｌ６の光強度と、を加算した光強度を設定波長と関連付けて記憶する。これにより、演算部１６は、被測定光Ｌ１のＰ波の光強度と被測定光Ｌ１のＳ波の光強度とが加算された光スペクトラムを求めることができる。
【００３５】
（実施形態３）
本実施形態では、偏波調整手順において、偏波コントローラ１５の第２形態を用いる。図３に、偏波コントローラ１５の第２形態例を示す。偏波コントローラ１５の第２形態は、前述の実施形態２で説明した光スイッチ２３に代えて光カプラ２４を備える。光カプラ２４は、ＰＢＳ２１からのＰ波の光と偏波方向変換部２２からのＰ波の光が入力され、これらを合波して被測定光Ｌ２として出力する。
【００３６】
本実施形態では、光カプラ２４が被測定光Ｌ１のＰ波とＳ波を合波した光を被測定光Ｌ２としてＰＢＳ１１に入力することができる。これにより、受光器１４は、被測定光Ｌ１のＰ波の光強度と被測定光Ｌ１のＳ波の光強度とが加算された光強度を有する偏波回転光Ｌ６を受光することができる。
【００３７】
（実施形態４）
実施形態１では、偏波回転部１３の第１形態としてファラデーミラーを例示した。実施形態では、偏波回転部１３の他の形態例について説明する。
【００３８】
図４に、偏波回転部１３の第２の形態例を示す。偏波回転部１３の第２の形態は、４５度移相器３４とミラー３２と、を備える。通過光Ｌ４を４５度移相器３４に通過させた後にミラー３２に入射させ、ミラー３２によって反射された通過光Ｌ４を再度４５度移相器３４に通過させる。これにより、通過光Ｌ４の位相を９０度回転させる。
【００３９】
偏波回転部１３の第２の形態例では、ミラー３２に入射時と反射時の両時において４５度移相器３４を通過させるため、ミラー３２への入出力の光路を共通化することができる。
【００４０】
図５に、偏波回転部１３の第３の形態例を示す。偏波回転部１３の第３の形態は、サーキュレータ３１と９０度移相器３３とを偏波保持の光導波路で接続した構成となっている。偏波保持の光導波路は、例えば偏波保持ファイバである。本構成を採用することで、ミラー３２を省略することができる。さらに、偏波保持の光導波路に偏波保持ファイバを用い、偏波保持ファイバの接続角度を９０度回転させれば、９０度移相器３３を省略することもできる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００４２】
１１：ＰＢＳ
１２：波長可変エタロンフィルタ
１３：偏波回転部
１４：受光器
１５：偏波コントローラ
１６：演算部
１７：制御部
１８：光入力端子
２１：ＰＢＳ
２２：偏波方向変換部
２３：光スイッチ
２４：光カプラ
３１：サーキュレータ
３２：ミラー
３３：９０度移相器
３４：４５度移相器
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波長可変エタロンフィルタを用いる光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
波長可変エタロンフィルタを用いた光スペクトラムアナライザは市販されており、可動部がなく、小型にすることが可能である。ところが、ダイナミックレンジが狭いという欠点がある。ダイナミックレンジを改善するため、図６に示すような波長可変エタロンフィルタに光を２回通す手法が検討されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
特許文献１の光スペクトラムアナライザは、波長可変エタロンフィルタ１１２を通過させた被測定光Ｌ１４を変調ミラー１１３で変調しながら波長可変エタロンフィルタ１１２へ反射し、当該反射光Ｌ１５を再度波長可変エタロンフィルタ１１２に通過させた後、当該通過光Ｌ１６をサーキュレータ１１１で分離して受光器１１４で受光する。
【０００４】
図７（ａ）に示すような被測定光Ｌ１１が入力され、波長可変エタロンフィルタ１１２を１度だけ通過させた被測定光Ｌ１４が図７（ｂ）に示すようなダイナミックレンジであったとする。この被測定光Ｌ１４を再度波長可変エタロンフィルタ１１２に通過させた通過光Ｌ１６は、図７（ｃ）に示すように、ダイナミックレンジが広くなる。
【０００５】
しかし、受光器１１４には、通過光Ｌ１６だけでなく、波長可変エタロンフィルタ１１２で反射された被測定光Ｌ１１も含まれる。受光器１１４の受光信号からこの被測定光Ｌ１１を除去するため、特許文献１では、被測定光Ｌ１４を変調ミラー１１３において変調する。そして、演算部１１６は、変調ミラー１１３で変調した変調信号を用いて受光器１１４の信号から通過光Ｌ１６の信号を抽出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】ＵＳ７３９１９７０
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１の光スペクトラムアナライザでは偏波依存については考慮されていない。市販されている波長可変エタロンフィルタ１１２のＰＤＬ（Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ−Ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ−Ｌｏｓｓ）性能は約０．２ｄＢ未満と市場要求の±０．０５ｄＢよりも悪い値となっている。このため、特許文献１の光スペクトラムアナライザは、波長可変エタロンフィルタ１１２のＰＤＬ性能によってスペクトラムを正確に測定できなくなる場合がある。
【０００８】
そこで、本発明は、波長可変エタロンフィルタに光を２回通す光スペクトラムアナライザにおいて、ＰＤＬ性能を向上することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本願発明の光スペクトラム測定装置は、入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波コントローラ（１５）と、前記偏波コントローラからの前記被測定光を通過し、前記偏波方向と直交する方向の光を分離するＰＢＳ（１１）と、前記ＰＢＳを通過した前記被測定光から設定波長の光を抽出するとともに、抽出後の光の偏波方向が９０°回転された偏波回転光から前記設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）と、前記波長可変エタロンフィルタによって抽出された前記被測定光の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を前記偏波回転光として前記波長可変エタロンフィルタに入射させる偏波回転部（１３）と、前記波長可変エタロンフィルタによって抽出されかつ前記ＰＢＳで分離された前記偏波回転光を受光する受光器（１４）と、前記受光器の受光した前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する演算部（１６）と、前記波長可変エタロンフィルタの抽出する前記波長を変化させる制御部（１７）と、を備える。
【００１０】
本願発明の光スペクトラム測定装置は、波長可変エタロンフィルタ（１２）と、受光器（１４）と、制御部（１７）と、を備えるため、被測定光の光スペクトラムを測定することができる。本願発明の光スペクトラム測定装置は、偏波回転部（１３）を備えるため、被測定光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過させることができる。ここで、偏波回転部（１３）が被測定光の偏波方向を直交する方向にするため、波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過した後の偏波回転光の偏波方向は被測定光と直交している。このため、ＰＢＳ（１１）を用いて波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過した後の偏波回転光のみを受光器（１４）に入射させることができる。さらに、本願発明の光スペクトラム測定装置は、偏波コントローラ（１５）と、ＰＢＳ（１１）と、偏波回転部（１３）と、を備えるため、予め定められた偏波方向の光が波長可変エタロンフィルタ（１２）に通過させることができる。このため、本願発明の光スペクトラム測定装置は、ＰＤＬ性能を向上することができる。
【００１１】
本願発明の光スペクトラム測定装置では、前記偏波コントローラは、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光又は前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を、前記ＰＢＳに出力する光スイッチ（２３）と、を備え、前記演算部は、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶してもよい。
【００１２】
本願発明の光スペクトラム測定装置では、前記偏波コントローラは、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光とを合波して、前記ＰＢＳに出力する光カプラ（２４）と、を備えてもよい。
【００１３】
上記目的を達成するために、本願発明の光スペクトラム測定方法は、入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波調整手順と、予め定められた偏波方向の被測定光を前記波長可変エタロンフィルタに通過させた後に、通過光の偏波方向を９０°回転させた偏波回転光を前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させ、前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させた前記偏波回転光を受光して前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する偏波回転光受光手順と、を順に有し、前記波長可変エタロンフィルタの前記設定波長を変化させながら前記偏波調整手順及び前記偏波回転光受光手順を順次行う。
【００１４】
本願発明の光スペクトラム測定方法は、偏波回転光受光手順を波長可変エタロンフィルタの設定波長を変化させながら順次行うため、被測定光の光スペクトラムを測定することができる。本願発明の光スペクトラム測定方法は、被測定光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に通過させた後に偏波回転光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に再度通過させるため、被測定光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過させることができる。ここで、偏波調整手順を有し、偏波回転光受光手順において波長可変エタロンフィルタ（１２）に２回通過させた後の偏波回転光の偏波方向は被測定光と直交している。このため、偏波回転光のみを受光することができる。さらに、本願発明の光スペクトラム測定方法は、偏波調整手順を有するため、予め定められた偏波方向の光を波長可変エタロンフィルタ（１２）に通過させることができる。このため、本願発明の光スペクトラム測定装置は、ＰＤＬ性能を向上することができる。
【００１５】
本願発明の光スペクトラム測定方法では、前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光か又は前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光のうちのいずれか一方を出力し、前記偏波回転光受光手順において、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶してもよい。
【００１６】
本願発明の光スペクトラム測定方法では、前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光と前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光とを合波してもよい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、波長可変エタロンフィルタに光を２回通す光スペクトラムアナライザにおいて、ＰＤＬ性能を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】実施形態１に係る光スペクトラム測定装置の一例を示す。
【図２】偏波コントローラ１５の第１形態例を示す。
【図３】偏波コントローラ１５の第２形態例を示す。
【図４】偏波回転部１３の第２の形態例を示す。
【図５】偏波回転部１３の第３の形態例を示す。
【図６】特許文献１の光スペクトラムアナライザの構成を示す。
【図７】特許文献１の光スペクトラムアナライザにおける波形の一例を示し、（ａ）は被測定光Ｌ１１を示し、（ｂ）は被測定光Ｌ１４を示し、（ｃ）は通過光Ｌ１６を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施の例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００２０】
（実施形態１）
図１に、実施形態１に係る光スペクトラム測定装置の一例を示す。本実施形態に係る光スペクトラム測定装置は、光入力端子１８と、偏波コントローラ１５と、ＰＢＳ１１と、波長可変エタロンフィルタ１２と、偏波回転部１３と、受光器１４と、演算部１６と、制御部１７と、を備える。
【００２１】
本実施形態に係る光スペクトラム測定方法は、偏波調整手順と、偏波回転光受光手順と、を順に有する。偏波調整手順では、偏波コントローラ１５に被測定光Ｌ１が入力され、偏波コントローラ１５が予め定められた偏波方向の被測定光Ｌ２を通過させる。予め定められた偏波方向は、例えばＰ波又はＳ波である。以下、予め定められた偏波方向をＰ波、予め定められた偏波方向を９０°回転させた偏波方向をＳ波として説明する。
【００２２】
偏波回転光受光手順では、Ｐ波の被測定光Ｌ２を波長可変エタロンフィルタ１２に通過させた後に、通過光Ｌ４の偏波方向を９０°回転させた偏波回転光Ｌ５を波長可変エタロンフィルタ１２に再度通過させ、通過後の偏波回転光Ｌ６を受光して偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。以下、偏波回転光受光手順について具体的に説明する。
【００２３】
ＰＢＳ１１は、Ｐ波を通過させ、Ｓ波を分離する。偏波コントローラ１５からの被測定光Ｌ２はＰ波であるため、ＰＢＳ１１を通過して波長可変エタロンフィルタ１２に入力される。波長可変エタロンフィルタ１２は、ＰＢＳ１１を通過した被測定光Ｌ２から設定波長の光を抽出する。これによって、被測定光Ｌ１のうちのＰ波を波長可変エタロンフィルタ１２に１回通過させる。
【００２４】
偏波回転部１３は、波長可変エタロンフィルタ１２によって抽出された通過光Ｌ４の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を偏波回転光Ｌ５として波長可変エタロンフィルタ１２に入射させる。偏波回転部１３は、例えば、ファラデーミラーである。偏波回転光Ｌ５はＰ波の偏波方向を９０°回転させる。このため、偏波回転光Ｌ５はＳ波となる。波長可変エタロンフィルタ１２は、偏波回転光Ｌ５から設定波長の光を抽出する。これによって、被測定光Ｌ１のうちのＰ波を波長可変エタロンフィルタ１２に２回通過させる。
【００２５】
波長可変エタロンフィルタ１２からの偏波回転光Ｌ６はＳ波であるため、ＰＢＳ１１は、偏波回転光Ｌ６を分離する。受光器１４は、ＰＢＳ１１の分離した偏波回転光Ｌ６を受光する。
【００２６】
ここで、波長可変エタロンフィルタ１２で反射された被測定光Ｌ２はＰ波であるため、受光器１４には被測定光Ｌ２が入射されない。このため、本実施形態に係る光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法は、偏波回転部１３において変調することなく偏波回転光Ｌ６と被測定光Ｌ２を分離することができる。このため、構成が簡単になり、装置を小型化することができる。
【００２７】
演算部１６は、受光器１４の受光した偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。制御部１７は、波長可変エタロンフィルタ１２の抽出する設定波長を変更し、変更後の波長における偏波回転光Ｌ６の光強度を変更後の設定波長と関連付けて記憶していく。
【００２８】
以上が偏波回転光受光手順である。上記の偏波調整手順及び偏波回転光受光手順を、波長可変エタロンフィルタ１２の設定波長を変化させながら順次行うことで、光スペクトラムを測定することができる。
【００２９】
波長可変エタロンフィルタ１２に入力される被測定光Ｌ２及び偏波回転光Ｌ５は、それぞれ偏光方向がＰ波とＳ波というように予め定められている。このため、本実施形態に係る光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法は、ＰＤＬ性能を向上することができる。なお、本実施形態に係る光スペクトラム測定装置における各構成の光学配置については限定しないが、偏波状態を維持するため、各構成は偏波保持ファイバで接続されていることが好ましい。
【００３０】
（実施形態２）
本実施形態では、偏波調整手順において、偏波コントローラ１５の第１形態を用いる。図２に、偏波コントローラ１５の第１形態例を示す。偏波コントローラ１５の第１形態は、被測定光分離部としてのＰＢＳ２１と、偏波方向変換部２２と、光スイッチ２３と、を備える。
【００３１】
ＰＢＳ２１は、被測定光Ｌ１をＰ波の光とＳ波とに分離する。偏波方向変換部２２は、Ｓ波の光をＰ波の光に変換する。光スイッチ２３は、ＰＢＳ２１からのＰ波の光と偏波方向変換部２２からのＰ波が入力され、これらのいずれかを被測定光Ｌ２として出力する。
【００３２】
ここで、偏波方向変換部２２は、９０度移相器又はハーフミラーを用いることができる。また、ＰＢＳ２１と光スイッチ２３を偏波保持ファイバで接続し、ＰＢＳ２１の接続部分と光スイッチ２３の接続部分とが９０度回転するように接続してもよい。
【００３３】
本実施形態では、光スイッチ２３の切り替え前後の偏波回転光Ｌ６を受光する。例えば、まず、光スイッチ２３にＰＢＳ２１からのＰ波の光を出力させ、このときの偏波回転光Ｌ６を受光器１４が受光する。そして、演算部１６が偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。この後、光スイッチ２３の出力ポートを切り替え、光スイッチ２３に偏波方向変換部２２からのＰ波の光を出力させ、このときの偏波回転光Ｌ６を受光器１４が受光する。そして、演算部１６が偏波回転光Ｌ６の光強度を設定波長と関連付けて記憶する。
【００３４】
そして、演算部１６は、ＰＢＳ２１によって分離されたＰ波を光スイッチ２３から出力したときに受光器１４が受光した偏波回転光Ｌ６の光強度と、偏波方向変換部２２によって変換されたＰ波の光を光スイッチ２３から出力したときに受光器１４が受光した偏波回転光Ｌ６の光強度と、を加算した光強度を設定波長と関連付けて記憶する。これにより、演算部１６は、被測定光Ｌ１のＰ波の光強度と被測定光Ｌ１のＳ波の光強度とが加算された光スペクトラムを求めることができる。
【００３５】
（実施形態３）
本実施形態では、偏波調整手順において、偏波コントローラ１５の第２形態を用いる。図３に、偏波コントローラ１５の第２形態例を示す。偏波コントローラ１５の第２形態は、前述の実施形態２で説明した光スイッチ２３に代えて光カプラ２４を備える。光カプラ２４は、ＰＢＳ２１からのＰ波の光と偏波方向変換部２２からのＰ波の光が入力され、これらを合波して被測定光Ｌ２として出力する。
【００３６】
本実施形態では、光カプラ２４が被測定光Ｌ１のＰ波とＳ波を合波した光を被測定光Ｌ２としてＰＢＳ１１に入力することができる。これにより、受光器１４は、被測定光Ｌ１のＰ波の光強度と被測定光Ｌ１のＳ波の光強度とが加算された光強度を有する偏波回転光Ｌ６を受光することができる。
【００３７】
（実施形態４）
実施形態１では、偏波回転部１３の第１形態としてファラデーミラーを例示した。実施形態では、偏波回転部１３の他の形態例について説明する。
【００３８】
図４に、偏波回転部１３の第２の形態例を示す。偏波回転部１３の第２の形態は、４５度移相器３４とミラー３２と、を備える。通過光Ｌ４を４５度移相器３４に通過させた後にミラー３２に入射させ、ミラー３２によって反射された通過光Ｌ４を再度４５度移相器３４に通過させる。これにより、通過光Ｌ４の位相を９０度回転させる。
【００３９】
偏波回転部１３の第２の形態例では、ミラー３２に入射時と反射時の両時において４５度移相器３４を通過させるため、ミラー３２への入出力の光路を共通化することができる。
【００４０】
図５に、偏波回転部１３の第３の形態例を示す。偏波回転部１３の第３の形態は、サーキュレータ３１と９０度移相器３３とを偏波保持の光導波路で接続した構成となっている。偏波保持の光導波路は、例えば偏波保持ファイバである。本構成を採用することで、ミラー３２を省略することができる。さらに、偏波保持の光導波路に偏波保持ファイバを用い、偏波保持ファイバの接続角度を９０度回転させれば、９０度移相器３３を省略することもできる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００４２】
１１：ＰＢＳ
１２：波長可変エタロンフィルタ
１３：偏波回転部
１４：受光器
１５：偏波コントローラ
１６：演算部
１７：制御部
１８：光入力端子
２１：ＰＢＳ
２２：偏波方向変換部
２３：光スイッチ
２４：光カプラ
３１：サーキュレータ
３２：ミラー
３３：９０度移相器
３４：４５度移相器
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波コントローラ（１５）と、
前記偏波コントローラからの前記被測定光を通過し、前記偏波方向と直交する方向の光を分離するＰＢＳ（１１）と、
前記ＰＢＳを通過した前記被測定光から設定波長の光を抽出するとともに、抽出後の光の偏波方向が９０°回転された偏波回転光から前記設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）と、
前記波長可変エタロンフィルタによって抽出された前記被測定光の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を前記偏波回転光として前記波長可変エタロンフィルタに入射させる偏波回転部（１３）と、
前記波長可変エタロンフィルタによって抽出されかつ前記ＰＢＳで分離された前記偏波回転光を受光する受光器（１４）と、
前記受光器の受光した前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する演算部（１６）と、
前記波長可変エタロンフィルタの抽出する前記波長を変化させる制御部（１７）と、
を備える光スペクトラム測定装置。
【請求項２】
前記偏波コントローラは、
前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、
前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、
前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光又は前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を、前記ＰＢＳに出力する光スイッチ（２３）と、を備え、
前記演算部は、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する
ことを特徴とする請求項１に記載の光スペクトラム測定装置。
【請求項３】
前記偏波コントローラは、
前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、
前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、
前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光とを合波して、前記ＰＢＳに出力する光カプラ（２４）と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の光スペクトラム測定装置。
【請求項４】
被測定光から設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）を用いた光スペクトラム測定方法において、
入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波調整手順と、
予め定められた偏波方向の被測定光を前記波長可変エタロンフィルタに通過させた後に、通過光の偏波方向を９０°回転させた偏波回転光を前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させ、前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させた前記偏波回転光を受光して前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する偏波回転光受光手順と、
を順に有し、
前記波長可変エタロンフィルタの前記設定波長を変化させながら前記偏波調整手順及び前記偏波回転光受光手順を順次行う光スペクトラム測定方法。
【請求項５】
前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光か又は前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光のうちのいずれか一方を出力し、
前記偏波回転光受光手順において、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光スペクトラム測定方法。
【請求項６】
前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光と前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光とを合波する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光スペクトラム測定方法。
【請求項１】
入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波コントローラ（１５）と、
前記偏波コントローラからの前記被測定光を通過し、前記偏波方向と直交する方向の光を分離するＰＢＳ（１１）と、
前記ＰＢＳを通過した前記被測定光から設定波長の光を抽出するとともに、抽出後の光の偏波方向が９０°回転された偏波回転光から前記設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）と、
前記波長可変エタロンフィルタによって抽出された前記被測定光の偏波方向を９０°回転させ、当該回転後の光を前記偏波回転光として前記波長可変エタロンフィルタに入射させる偏波回転部（１３）と、
前記波長可変エタロンフィルタによって抽出されかつ前記ＰＢＳで分離された前記偏波回転光を受光する受光器（１４）と、
前記受光器の受光した前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する演算部（１６）と、
前記波長可変エタロンフィルタの抽出する前記波長を変化させる制御部（１７）と、
を備える光スペクトラム測定装置。
【請求項２】
前記偏波コントローラは、
前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、
前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、
前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光又は前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を、前記ＰＢＳに出力する光スイッチ（２３）と、を備え、
前記演算部は、前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光を前記光スイッチから出力したときに前記受光器が受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する
ことを特徴とする請求項１に記載の光スペクトラム測定装置。
【請求項３】
前記偏波コントローラは、
前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離する被測定光分離部（２１）と、
前記被測定光分離部の分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換する偏波方向変換部（２２）と、
前記被測定光分離部によって分離された前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向変換部によって変換された前記予め定められた偏波方向の光とを合波して、前記ＰＢＳに出力する光カプラ（２４）と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の光スペクトラム測定装置。
【請求項４】
被測定光から設定波長の光を抽出する波長可変エタロンフィルタ（１２）を用いた光スペクトラム測定方法において、
入力された被測定光を予め定められた偏波方向にする偏波調整手順と、
予め定められた偏波方向の被測定光を前記波長可変エタロンフィルタに通過させた後に、通過光の偏波方向を９０°回転させた偏波回転光を前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させ、前記波長可変エタロンフィルタに再度通過させた前記偏波回転光を受光して前記偏波回転光の光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する偏波回転光受光手順と、
を順に有し、
前記波長可変エタロンフィルタの前記設定波長を変化させながら前記偏波調整手順及び前記偏波回転光受光手順を順次行う光スペクトラム測定方法。
【請求項５】
前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光か又は前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光のうちのいずれか一方を出力し、
前記偏波回転光受光手順において、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光を出力したときに受光した前記偏波回転光の光強度と、を加算した光強度を前記設定波長と関連付けて記憶する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光スペクトラム測定方法。
【請求項６】
前記偏波調整手順において、前記被測定光を前記予め定められた偏波方向の光と前記偏波方向と直交する方向の光とに分離し、分離した前記偏波方向と直交する方向の光を前記予め定められた偏波方向の光に変換し、前記分離によって得られた前記予め定められた偏波方向の光と前記変換によって得られた前記予め定められた偏波方向の光とを合波する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光スペクトラム測定方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１２−１６７９３６（Ｐ２０１２−１６７９３６Ａ）
【公開日】平成２４年９月６日（２０１２．９．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２６６５７（Ｐ２０１１−２６６５７）
【出願日】平成２３年２月１０日（２０１１．２．１０）
【出願人】（００００００５７２）アンリツ株式会社 (838)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年９月６日（２０１２．９．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年２月１０日（２０１１．２．１０）
【出願人】（００００００５７２）アンリツ株式会社 (838)
【Ｆターム（参考）】
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