入力装置及び入力方法
【課題】領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されることを防止することができる領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置を提供する。
【解決手段】一つの接触点座標と別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に（ステップＳ８０６のＹＥＳ）、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する（ステップＳ８０７）入力装置。
【解決手段】一つの接触点座標と別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に（ステップＳ８０６のＹＥＳ）、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する（ステップＳ８０７）入力装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関し、特に領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
領域分割アナログタッチパネルは、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを備え、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向している構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている。
【０００３】
ここでは、領域分割アナログタッチパネルの一例である四分割アナログタッチパネルと、その四分割アナログタッチパネルを備えた入力装置に適用される入力方法とについて説明する。なお、四分割アナログタッチパネルは、例えば特許文献１や特許文献２に開示されている。
【０００４】
四分割アナログタッチパネルの概略構成を図６に示す。図６に示す四分割アナログタッチパネルは、Ｘ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２と、Ｙ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２とを備えている。抵抗膜ＷＹ１のＹ軸方向の両端に電極Ｙ１Ｕ及びＹ１Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＹ２のＹ軸方向の両端に電極Ｙ２Ｕ及びＹ２Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＸ１のＸ軸方向の両端に電極Ｘ１Ｌ及びＸ１Ｒが設けられ、抵抗膜ＷＸ２のＸ軸方向の両端に電極Ｘ２Ｌ及びＸ２Ｒが設けられている。抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第１領域とし、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第２領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第３領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第４領域とする。
【０００５】
第１領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｘ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図７（ａ）に示す。図７（ａ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１が短絡している。
【０００６】
また、第１領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｙ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図７（ｂ）に示す。図７（ｂ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＹ１と抵抗膜ＷＸ１が短絡している。
【０００７】
第２〜第４領域の接触点座標検出も第１領域の接触点座標検出と同様である。すなわち、第２領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｘ座標を検出し、第２領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出し、第３領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｘ座標を検出し、第３領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｙ座標を検出し、第４領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｘ座標を検出し、第４領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｙ座標を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開平１１−１６１４２５号公報
【特許文献２】特開平９−４５１８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
例えば図８に示すように第１領域と第２領域の境界線上がユーザの指Ｆによりタッチされた状態では、第１領域の接触点座標検出において点Ａが検出され、第２領域の接触点座標検出において点Ｂが検出されてしまう。すなわち、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されてしまうという不具合が生じる。なお、図８中の斜線部分がユーザの指Ｆによりタッチされている範囲である。また、図８に示す状態は、ユーザの指Ｆにより四分割アナログタッチパネル上に第１領域と第２領域を跨いで線が描画される場合などにおいて生じる。
【００１０】
本発明は、上記の状況に鑑み、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されることを防止することができる領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために本発明に係る入力装置は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する構成とする。
【００１２】
また、上記構成の入力装置において、前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さく、且つ、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第１方向の距離、及び、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第２方向の距離がともに閾値以下である場合のみ、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換するようにしてもよい。
【００１３】
また、上記いずれかの構成の入力装置において、前記コントローラが、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第１方向に平行である場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第２方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第２方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第２方向の座標値とし、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第２方向に平行である場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第１方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第１方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第１方向の座標値としてもよい。
【００１４】
また、上記目的を達成するために本発明に係る入力方法は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいか否かを確認する確認ステップと、前記確認ステップで前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいことを確認した場合、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する一点化ステップとを備えるようにしている。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によると、一つの接触点座標と別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値が算出され、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標が前記一点化座標に置換されるので、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されることを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【図２】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作を示すフローチャートである。
【図３】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作における各部電圧のタイムチャートである。
【図４】境界点処理の詳細を示すフローチャートである。
【図５】領域同士の境界線上がタッチされた状態で検出された２つの接触点座標とそれらを一点化した座標との位置関係の例を示す図である。
【図６】四分割アナログタッチパネルの概略構成を示す図である。
【図７】第１領域の接触点座標を検出する場合の四分割アナログタッチパネルの等価回路を示す図である。
【図８】領域同士の境界線上がタッチされた状態での接触点座標検出の様子を示す四分割アナログタッチパネルの正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の実施形態について図面を参照して以下に説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【００１８】
図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置は、四分割アナログタッチパネル１と、タッチパネルＩ／Ｆ（インターフェース）回路２と、コントローラ３と、ホストＩ／Ｆ回路４と、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）５とを備えている。四分割アナログタッチパネル１は図６に示す構成とする。また、コントローラ３は、タッチパネルＩ／Ｆ回路２を介して四分割アナログタッチパネル１を制御し、四分割アナログタッチパネル１に入力された入力情報を出力レポートとしてホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送し、四分割アナログタッチパネル１の状態に応じてＬＥＤ５を制御するコントローラであって、例えばフラッシュメモリ、ＲＡＭ、及びＣＰＵを有するマイクロコンピュータを用いることができる。
【００１９】
次に、図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置が行う四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作について図２及び図３を参照して説明する。図２は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作を示すフローチャートであり、図３は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作時の各部電圧のタイムチャートである。なお、図３において、符号Ｙ１Ｄ、Ｙ２Ｄ、Ｘ１Ｒ、Ｘ２Ｒはそれぞれ電極Ｙ１Ｄの電圧、電極Ｙ２Ｄの電圧、電極Ｘ１Ｒの電圧、電極Ｘ２Ｒの電圧を示している。
【００２０】
図２に示すフローチャート動作は、コントローラ３からホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される出力レポートの転送レート毎に実行される。
【００２１】
＜タッチ検出処理＞
まず、タッチ検出処理が実行される（ステップＳ１０）。タッチ検出処理は、図３中の期間Ｔ１において実行される。
【００２２】
期間Ｔ１において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒをオープンとし、さらに、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の状態が安定するのを待つ。ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしていない場合は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄが５Ｖである状態が維持される。これに対して、ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしている場合は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の少なくとも一つが四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触するので、電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄの少なくとも一つが５Ｖから０Ｖへと変化する。図３は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触し、且つ、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ２が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触している場合を図示している。なお、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒは結果的に０Ｖとなる。同様に、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒは結果的に０Ｖとなる。
【００２３】
＜タッチ検出判定処理＞
次に、タッチ検出判定処理が実行される（ステップＳ２０）。タッチ検出判定処理は、図３中の期間Ｔ２において実行される。
【００２４】
期間Ｔ２において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値と、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値とを検出する。なお、Ａ／Ｄ変換は、四分割アナログタッチパネル１、タッチパネルＩ／Ｆ回路２のいずれで行われてもよい。
【００２５】
そして、コントローラ３は、検出した二つの電圧の少なくとも一つが２Ｖ以下であればタッチ有りと判定する。判定の基準となる電圧値（２Ｖ）は、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００２６】
ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定された場合（ステップＳ２０のＹＥＳ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を点灯させ（ステップＳ３０）、その後、接触点座標検出処理を実行する（ステップＳ４０）。接触点座標検出処理は、接触点Ｘ座標検出処理と接触点Ｙ座標検出処理からなる。
【００２７】
＜接触点Ｘ座標検出処理＞
期間Ｔ３において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに０Ｖを印加する。期間Ｔ３の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００２８】
期間Ｔ３に続く期間Ｔ４において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ２Ｕ、Ｙ１Ｄ、及びＹ２Ｄをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ４の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００２９】
期間Ｔ４に続く期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３０】
また、期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｄに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第２領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３１】
期間Ｔ５に続く期間Ｔ６において、コントローラ３は、期間Ｔ３〜期間Ｔ５での処理の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ１Ｒに印加する電圧と電極Ｘ２Ｌ、Ｘ２Ｒに印加する電圧を交換した処理を行う。これにより、第３領域の接触点Ｘ座標及び第４領域の接触点Ｘ座標を得る。
【００３２】
＜接触点Ｙ座標検出処理＞
接触点Ｘ座標検出処理と同様の手法を用いて、接触点Ｙ座標検出処理が実行される。
【００３３】
期間Ｔ６に続く期間Ｔ７において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒ及びＸ２Ｒに０Ｖを印加する。期間Ｔ７の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３４】
期間Ｔ７に続く期間Ｔ８において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ２Ｌ、Ｘ１Ｒ、及びＸ２Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ８の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３５】
期間Ｔ８に続く期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｙ座標とする。
【００３６】
また、期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第３領域の接触点Ｙ座標とする。
【００３７】
期間Ｔ９に続く期間Ｔ１０において、コントローラ３は、期間Ｔ７〜期間Ｔ９での処理の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ１Ｄに印加する電圧と電極Ｙ２Ｕ、Ｙ２Ｄに印加する電圧とを交換した処理を行う。これにより、第２領域の接触点Ｙ座標及び第４領域の接触点Ｙ座標を得る。
【００３８】
その後、コントローラ３は、上述した接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理を再び実行する（期間Ｔ１０に続く期間Ｔ１１以降）。ただし、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理においては、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理での０Ｖを印加する電極と５Ｖを印加する電極を入れ替える。
【００３９】
１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下であれば、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「安定」にセットして記憶する。また、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下でなければ、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「少し不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理のいずれか一方のみによって得られた或る接触点座標に対応する領域の状態を「不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、接触点座標が存在しない領域の状態を「非接触」にセットして記憶する。
【００４０】
コントローラ３は、「安定」とセットした領域についてのみ、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標とを平均化し、接触点座標として記憶する。
【００４１】
上述したステップＳ４０での接触点座標検出処理が終了すると、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４２】
一方、ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定されなかった場合（ステップＳ２０のＮＯ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を消灯させ（ステップＳ５０）、その後、第１〜第４領域の状態を全て「非接触」にセットして記憶し（ステップＳ６０）、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４３】
＜座標安定化判断＞
ステップＳ７０では、座標安定化判断が実行される。ステップＳ６０迄の処理において、第１〜第４領域それぞれの状態が、「安定」、「少し不安定」、「不安定」、「非接触」のいずれかに確定している。
【００４４】
座標安定化判断において、コントローラ３は、「少し不安定」又は「不安定」の領域に対して、「不安定」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「非接触」の領域に対して、「非接触」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「安定」の領域に対して、当該領域の前回フロー処理での状態を参照し、前回フロー処理での状態が「安定」でなかった場合には「最初の接触」であると判断し、前回フロー処理での状態も「安定」であった場合には「接触継続中」であると判断し、その判断結果を記憶する。
【００４５】
＜境界点処理＞
ステップＳ７０に続くステップＳ８０では、境界点処理が実行される。境界点処理の詳細について図４を参照して説明する。
【００４６】
まず、コントローラ３は、接触点座標の個数が２以上であるか否かを確認する（ステップＳ８０１）。接触点座標の個数が２未満であれば（ステップＳ８０１のＮＯ）、直ちに境界点処理を終了する。一方、接触点座標の個数が２以上であれば（ステップＳ８０１のＹＥＳ）、変数ｐを１に設定し変数ｉを２に設定する（ステップＳ８０２）。
【００４７】
ステップＳ８０２に続くステップＳ８０３において、コントローラ３は、第ｐ領域の状態が「安定」であるか否かを、換言すれば、第ｐ領域に接触点座標が存在するか否かを確認する。第ｐ領域の状態が「安定」でなければ（ステップＳ８０３のＮＯ）、後述するステップＳ８１０に移行する。一方、第ｐ領域の状態が「安定」であれば（ステップＳ８０３のＹＥＳ）、コントローラ３は、第ｉ領域の状態が「安定」であるか否かを、換言すれば、第ｉ領域に接触点座標が存在するか否かを確認する（ステップＳ８０４）。
【００４８】
第ｉ領域の状態が「安定」でなければ（ステップＳ８０４のＮＯ）、後述するステップＳ８０８に移行する。一方、第ｉ領域の状態が「安定」であれば（ステップＳ８０４のＹＥＳ）、コントローラ３は、第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とのＸ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏを算出する（ステップＳ８０５）。
【００４９】
ステップＳ８０５に続くステップＳ８０６において、コントローラ３は、Ｘ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏがともに予め設定している閾値以下であるか否かを判定する。Ｘ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏの少なくとも一方が閾値より大きければ（ステップＳ８０６のＮＯ）、後述するステップＳ８０８に移行する。一方、Ｘ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏがともに閾値以下であれば（ステップＳ８０６のＹＥＳ）、コントローラ３は、第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とに基づいて一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を算出し、一点化するために第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とを一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）に置換し（ステップＳ８０７）、その後、ステップＳ８０８に移行する。これにより、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されることを防止することができる。第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とを一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）に置換する方法として、例えば、第ｐ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｉ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｉ，Ｙｉ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更する置換方法を採用するとよい。なお、当該置換方法とは逆に、第ｉ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｐ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｐ，Ｙｐ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更してもよい。また、これらの置換方法の代わりに、例えば、コントローラ３が、各領域の座標範囲を予め記憶し、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）が第ｐ領域の座標範囲に含まれるか第ｉ領域の座標範囲に含まれるかを判定し、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）が第ｐ領域の座標範囲に含まれていると判定した場合は第ｉ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｐ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｐ，Ｙｐ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更し、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）が第ｉ領域の座標範囲に含まれていると判定した場合は第ｐ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｉ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｉ，Ｙｉ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更するようにしてもよい。
【００５０】
ステップＳ８０８において、コントローラ３は次の変数ｉが有るかを判定する。次の変数ｉが有れば（ステップＳ８０８のＹＥＳ）、コントローラ３は、変数ｉを更新し（ステップＳ８０９）、その後、ステップＳ８０４に戻る。一方、次の変数ｉがなければ（ステップＳ８０８のＮＯ）、コントローラ３は次の変数ｐが有るかを判定する（ステップＳ８１０）。次の変数ｐが有れば（ステップＳ８１０のＹＥＳ）、コントローラ３は、変数ｐを更新し（ステップＳ８１１）、その後、ステップＳ８０３に戻る。一方、次の変数ｐがなければ（ステップＳ８１０のＮＯ）、境界点処理を終了する。なお、本実施形態では、四分割アナログタッチパネル１が用いられているので、変数ｐと変数ｉはそれぞれ１、２、３、４のいずれかであり、変数ｐと変数ｉとが同時に同じ値をとることはない。
【００５１】
ここで、図５を参照して、ステップＳ８０７での一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）の算出例について説明する。
【００５２】
まず、第ｐ領域と第ｉ領域との境界線が一つであり、その境界線がＹ軸に平行である場合について考察する。第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）及び第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）と、それらを一点化した一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）との位置関係を図５に示す。図５中の半径Ｒの円が図８中の斜線部分に相当している。また、図５の位置関係では、第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）とが一致しているとみなしている。
【００５３】
図５の位置関係より、以下の（１）式及び（２）式が成り立つ。
Ｒｐ＝CUX−Ｘｐ ・・・（１）
Ｒｉ＝Ｘｉ−CUX ・・・（２）
【００５４】
また、図５の位置関係より、以下の（３）式も成り立つ。
Ｒ＝（Ｒｐ＋Ｒｐ＋Ｒｉ＋Ｒｉ）／２
Ｒ＝Ｒｐ＋Ｒｉ ・・・（３）
【００５５】
また、図５の位置関係より、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は次のようになる。
Ｘｃ＝（Ｘｐ−Ｒｐ）＋Ｒ
（３）式を代入
Ｘｃ＝Ｘｐ−Ｒｐ＋Ｒｐ＋Ｒｉ
Ｘｃ＝Ｘｐ＋Ｒｉ
（２）式を代入
Ｘｃ＝Ｘｐ＋Ｘｉ−CUX
【００５６】
したがって、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｉ）との加算値から境界線のＸ座標値（CUX）を減算したものとする。また、一点化座標のＹ座標値（Ｙｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）とを平均化したものとする。
【００５７】
第ｐ領域と第ｉ領域との境界線が一つであり、その境界線がＸ軸に平行である場合についても同様に取り扱うことができる。すなわち、一点化座標のＹ座標値（Ｙｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）との加算値から境界線のＹ座標値（CUY）を減算したものとする。また、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｉ）とを平均化したものとする。
【００５８】
第ｐ領域と第ｉ領域との境界線が二つであり、その境界線の一つがＸ軸に平行でありもう一つがＸ軸に平行である場合についても同様に取り扱うことができる。すなわち、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｉ）との加算値から一方の境界線のＸ座標値（CUX）を減算したものとし、一点化座標のＹ座標値（Ｙｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）との加算値から他方の境界線のＹ座標値（CUY）を減算したものとする。
【００５９】
なお、一方の境界線のＸ座標値（CUX）、他方の境界線のＹ座標値（CUY）はそれぞれコントローラ３が予め記憶している。
【００６０】
＜出力レポート生成＞
ステップＳ８０に続くステップＳ９０では、出力レポートが生成される。生成された出力レポートは、ホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される。
【００６１】
コントローラ３は、ステップＳ７０での判断結果と接触点座標が存在する場合は接触点座標の値とから、「四分割アナログタッチパネル１がタッチされた状態」、「四分割アナログタッチパネル１へのタッチが解除された状態」、「接触点座標が既定距離以上移動した状態」、「接触点座標が既定距離未満の移動にとどまっており既定時間以上存在し続けている状態」のいずれであるかを決定し、その決定内容を出力レポートとする。また、接触点座標が存在する場合は接触点座標の値も出力レポートに含める。
【００６２】
以上、本発明に係る実施形態について説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実行することができる。例えば、上述した実施形態において、ステップＳ７０とステップＳ８０の間に、検出した接触点座標に補正処理を施すステップを設けてもよい。また、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）は、領域同士の境界線上がタッチされた場合に誤って検出される二つの接触点座標に基づいて算出されるものであれば、上述した実施形態での手法以外の手法によって算出されたものであっても構わない。
【符号の説明】
【００６３】
１ 四分割アナログタッチパネル
２ タッチパネルＩ／Ｆ回路
３ コントローラ
４ ホストＩ／Ｆ回路
５ ＬＥＤ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関し、特に領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
領域分割アナログタッチパネルは、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを備え、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向している構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている。
【０００３】
ここでは、領域分割アナログタッチパネルの一例である四分割アナログタッチパネルと、その四分割アナログタッチパネルを備えた入力装置に適用される入力方法とについて説明する。なお、四分割アナログタッチパネルは、例えば特許文献１や特許文献２に開示されている。
【０００４】
四分割アナログタッチパネルの概略構成を図６に示す。図６に示す四分割アナログタッチパネルは、Ｘ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２と、Ｙ軸方向に向かって並べて配置される抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２とを備えている。抵抗膜ＷＹ１のＹ軸方向の両端に電極Ｙ１Ｕ及びＹ１Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＹ２のＹ軸方向の両端に電極Ｙ２Ｕ及びＹ２Ｄが設けられ、抵抗膜ＷＸ１のＸ軸方向の両端に電極Ｘ１Ｌ及びＸ１Ｒが設けられ、抵抗膜ＷＸ２のＸ軸方向の両端に電極Ｘ２Ｌ及びＸ２Ｒが設けられている。抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第１領域とし、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第２領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ１との対向領域を第３領域とし、抵抗膜ＷＸ２と抵抗膜ＷＹ２との対向領域を第４領域とする。
【０００５】
第１領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｘ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図７（ａ）に示す。図７（ａ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＸ１と抵抗膜ＷＹ１が短絡している。
【０００６】
また、第１領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第１領域の接触点Ｙ座標を検出する。このときの四分割アナログタッチパネルの等価回路を図７（ｂ）に示す。図７（ｂ）中の符号Ｐは接触点を示しており、接触点Ｐにおいて、抵抗膜ＷＹ１と抵抗膜ＷＸ１が短絡している。
【０００７】
第２〜第４領域の接触点座標検出も第１領域の接触点座標検出と同様である。すなわち、第２領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ１の両端に設けられている電極Ｘ１Ｌと電極Ｘ１Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｘ座標を検出し、第２領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第２領域の接触点Ｙ座標を検出し、第３領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ１に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｘ座標を検出し、第３領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ１の両端に設けられている電極Ｙ１Ｕと電極Ｙ１Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第３領域の接触点Ｙ座標を検出し、第４領域の接触点Ｘ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＸ２の両端に設けられている電極Ｘ２Ｌと電極Ｘ２Ｒの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＹ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｘ座標を検出し、第４領域の接触点Ｙ座標を検出する場合、抵抗膜ＷＹ２の両端に設けられている電極Ｙ２Ｕと電極Ｙ２Ｄの間に所定の電圧を印加し、抵抗膜ＷＸ２に発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を取得し、その取得したＡ／Ｄ変換値に基づいて第４領域の接触点Ｙ座標を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開平１１−１６１４２５号公報
【特許文献２】特開平９−４５１８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
例えば図８に示すように第１領域と第２領域の境界線上がユーザの指Ｆによりタッチされた状態では、第１領域の接触点座標検出において点Ａが検出され、第２領域の接触点座標検出において点Ｂが検出されてしまう。すなわち、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されてしまうという不具合が生じる。なお、図８中の斜線部分がユーザの指Ｆによりタッチされている範囲である。また、図８に示す状態は、ユーザの指Ｆにより四分割アナログタッチパネル上に第１領域と第２領域を跨いで線が描画される場合などにおいて生じる。
【００１０】
本発明は、上記の状況に鑑み、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されることを防止することができる領域分割アナログタッチパネルを備えた入力装置及びその入力装置に適用される入力方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために本発明に係る入力装置は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する構成とする。
【００１２】
また、上記構成の入力装置において、前記コントローラが、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さく、且つ、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第１方向の距離、及び、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第２方向の距離がともに閾値以下である場合のみ、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換するようにしてもよい。
【００１３】
また、上記いずれかの構成の入力装置において、前記コントローラが、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第１方向に平行である場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第２方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第２方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第２方向の座標値とし、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第２方向に平行である場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第１方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第１方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第１方向の座標値としてもよい。
【００１４】
また、上記目的を達成するために本発明に係る入力方法は、第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいか否かを確認する確認ステップと、前記確認ステップで前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいことを確認した場合、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する一点化ステップとを備えるようにしている。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によると、一つの接触点座標と別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値が算出され、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標が前記一点化座標に置換されるので、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されることを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【図２】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作を示すフローチャートである。
【図３】四分割アナログタッチパネルの接触点座標の検出動作における各部電圧のタイムチャートである。
【図４】境界点処理の詳細を示すフローチャートである。
【図５】領域同士の境界線上がタッチされた状態で検出された２つの接触点座標とそれらを一点化した座標との位置関係の例を示す図である。
【図６】四分割アナログタッチパネルの概略構成を示す図である。
【図７】第１領域の接触点座標を検出する場合の四分割アナログタッチパネルの等価回路を示す図である。
【図８】領域同士の境界線上がタッチされた状態での接触点座標検出の様子を示す四分割アナログタッチパネルの正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の実施形態について図面を参照して以下に説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る入力装置の概略構成例を示す図である。
【００１８】
図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置は、四分割アナログタッチパネル１と、タッチパネルＩ／Ｆ（インターフェース）回路２と、コントローラ３と、ホストＩ／Ｆ回路４と、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）５とを備えている。四分割アナログタッチパネル１は図６に示す構成とする。また、コントローラ３は、タッチパネルＩ／Ｆ回路２を介して四分割アナログタッチパネル１を制御し、四分割アナログタッチパネル１に入力された入力情報を出力レポートとしてホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送し、四分割アナログタッチパネル１の状態に応じてＬＥＤ５を制御するコントローラであって、例えばフラッシュメモリ、ＲＡＭ、及びＣＰＵを有するマイクロコンピュータを用いることができる。
【００１９】
次に、図１に示す本発明の一実施形態に係る入力装置が行う四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作について図２及び図３を参照して説明する。図２は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作を示すフローチャートであり、図３は四分割アナログタッチパネル１の接触点座標の検出動作時の各部電圧のタイムチャートである。なお、図３において、符号Ｙ１Ｄ、Ｙ２Ｄ、Ｘ１Ｒ、Ｘ２Ｒはそれぞれ電極Ｙ１Ｄの電圧、電極Ｙ２Ｄの電圧、電極Ｘ１Ｒの電圧、電極Ｘ２Ｒの電圧を示している。
【００２０】
図２に示すフローチャート動作は、コントローラ３からホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される出力レポートの転送レート毎に実行される。
【００２１】
＜タッチ検出処理＞
まず、タッチ検出処理が実行される（ステップＳ１０）。タッチ検出処理は、図３中の期間Ｔ１において実行される。
【００２２】
期間Ｔ１において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒをオープンとし、さらに、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の状態が安定するのを待つ。ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしていない場合は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄが５Ｖである状態が維持される。これに対して、ユーザが四分割アナログタッチパネル１をタッチしている場合は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の少なくとも一つが四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触するので、電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄの少なくとも一つが５Ｖから０Ｖへと変化する。図３は、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触し、且つ、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ２が四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の少なくとも一つに接触している場合を図示している。なお、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒは結果的に０Ｖとなる。同様に、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌが０Ｖであるので、オープン状態である四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｒは結果的に０Ｖとなる。
【００２３】
＜タッチ検出判定処理＞
次に、タッチ検出判定処理が実行される（ステップＳ２０）。タッチ検出判定処理は、図３中の期間Ｔ２において実行される。
【００２４】
期間Ｔ２において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値と、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値とを検出する。なお、Ａ／Ｄ変換は、四分割アナログタッチパネル１、タッチパネルＩ／Ｆ回路２のいずれで行われてもよい。
【００２５】
そして、コントローラ３は、検出した二つの電圧の少なくとも一つが２Ｖ以下であればタッチ有りと判定する。判定の基準となる電圧値（２Ｖ）は、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００２６】
ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定された場合（ステップＳ２０のＹＥＳ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を点灯させ（ステップＳ３０）、その後、接触点座標検出処理を実行する（ステップＳ４０）。接触点座標検出処理は、接触点Ｘ座標検出処理と接触点Ｙ座標検出処理からなる。
【００２７】
＜接触点Ｘ座標検出処理＞
期間Ｔ３において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄ及びＹ２Ｄに０Ｖを印加する。期間Ｔ３の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００２８】
期間Ｔ３に続く期間Ｔ４において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ２Ｕ、Ｙ１Ｄ、及びＹ２Ｄをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＹ１及びＷＹ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ４の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００２９】
期間Ｔ４に続く期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３０】
また、期間Ｔ５において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｄに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ２Ｕに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第２領域の接触点Ｘ座標とする。
【００３１】
期間Ｔ５に続く期間Ｔ６において、コントローラ３は、期間Ｔ３〜期間Ｔ５での処理の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ１Ｒに印加する電圧と電極Ｘ２Ｌ、Ｘ２Ｒに印加する電圧を交換した処理を行う。これにより、第３領域の接触点Ｘ座標及び第４領域の接触点Ｘ座標を得る。
【００３２】
＜接触点Ｙ座標検出処理＞
接触点Ｘ座標検出処理と同様の手法を用いて、接触点Ｙ座標検出処理が実行される。
【００３３】
期間Ｔ６に続く期間Ｔ７において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｕに０Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｙ１Ｄに５Ｖを印加し、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒ及びＸ２Ｒに０Ｖを印加する。期間Ｔ７の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３４】
期間Ｔ７に続く期間Ｔ８において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌ、Ｘ２Ｌ、Ｘ１Ｒ、及びＸ２Ｒをオープンとし、四分割アナログタッチパネル１の抵抗膜ＷＸ１及びＷＸ２の状態が安定するまで待機する。期間Ｔ８の長さは、コントローラ３がパラメータとして記憶しており、設定変更可能である。
【００３５】
期間Ｔ８に続く期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｒに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ１Ｌに発生している電圧のＡ／Ｄ変換値を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第１領域の接触点Ｙ座標とする。
【００３６】
また、期間Ｔ９において、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。同様に、コントローラ３は、四分割アナログタッチパネル１の電極Ｘ２Ｌに発生している電圧を４回取得し、最大値と最小値を捨て、中間の２つのデータを加算する。そして、コントローラ３は、２つの加算値を平均化し（Ａ／Ｄ変換値の２倍の値）、第３領域の接触点Ｙ座標とする。
【００３７】
期間Ｔ９に続く期間Ｔ１０において、コントローラ３は、期間Ｔ７〜期間Ｔ９での処理の電極Ｙ１Ｕ、Ｙ１Ｄに印加する電圧と電極Ｙ２Ｕ、Ｙ２Ｄに印加する電圧とを交換した処理を行う。これにより、第２領域の接触点Ｙ座標及び第４領域の接触点Ｙ座標を得る。
【００３８】
その後、コントローラ３は、上述した接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理を再び実行する（期間Ｔ１０に続く期間Ｔ１１以降）。ただし、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理においては、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理での０Ｖを印加する電極と５Ｖを印加する電極を入れ替える。
【００３９】
１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下であれば、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「安定」にセットして記憶する。また、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標との比が予め設定している閾値以下でなければ、コントローラ３は、その或る接触点座標に対応する領域の状態を「少し不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理のいずれか一方のみによって得られた或る接触点座標に対応する領域の状態を「不安定」にセットして記憶する。また、コントローラ３は、接触点座標が存在しない領域の状態を「非接触」にセットして記憶する。
【００４０】
コントローラ３は、「安定」とセットした領域についてのみ、１回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標と、２回目の接触点Ｘ座標検出処理及び接触点Ｙ座標検出処理によって得られた或る接触点座標とを平均化し、接触点座標として記憶する。
【００４１】
上述したステップＳ４０での接触点座標検出処理が終了すると、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４２】
一方、ステップＳ２０のタッチ検出判定処理でタッチ有りと判定されなかった場合（ステップＳ２０のＮＯ）、コントローラ３は、ＬＥＤ５を消灯させ（ステップＳ５０）、その後、第１〜第４領域の状態を全て「非接触」にセットして記憶し（ステップＳ６０）、後述するステップＳ７０に移行する。
【００４３】
＜座標安定化判断＞
ステップＳ７０では、座標安定化判断が実行される。ステップＳ６０迄の処理において、第１〜第４領域それぞれの状態が、「安定」、「少し不安定」、「不安定」、「非接触」のいずれかに確定している。
【００４４】
座標安定化判断において、コントローラ３は、「少し不安定」又は「不安定」の領域に対して、「不安定」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「非接触」の領域に対して、「非接触」であると判断し、その判断結果を記憶する。また、座標安定化判断において、コントローラ３は、「安定」の領域に対して、当該領域の前回フロー処理での状態を参照し、前回フロー処理での状態が「安定」でなかった場合には「最初の接触」であると判断し、前回フロー処理での状態も「安定」であった場合には「接触継続中」であると判断し、その判断結果を記憶する。
【００４５】
＜境界点処理＞
ステップＳ７０に続くステップＳ８０では、境界点処理が実行される。境界点処理の詳細について図４を参照して説明する。
【００４６】
まず、コントローラ３は、接触点座標の個数が２以上であるか否かを確認する（ステップＳ８０１）。接触点座標の個数が２未満であれば（ステップＳ８０１のＮＯ）、直ちに境界点処理を終了する。一方、接触点座標の個数が２以上であれば（ステップＳ８０１のＹＥＳ）、変数ｐを１に設定し変数ｉを２に設定する（ステップＳ８０２）。
【００４７】
ステップＳ８０２に続くステップＳ８０３において、コントローラ３は、第ｐ領域の状態が「安定」であるか否かを、換言すれば、第ｐ領域に接触点座標が存在するか否かを確認する。第ｐ領域の状態が「安定」でなければ（ステップＳ８０３のＮＯ）、後述するステップＳ８１０に移行する。一方、第ｐ領域の状態が「安定」であれば（ステップＳ８０３のＹＥＳ）、コントローラ３は、第ｉ領域の状態が「安定」であるか否かを、換言すれば、第ｉ領域に接触点座標が存在するか否かを確認する（ステップＳ８０４）。
【００４８】
第ｉ領域の状態が「安定」でなければ（ステップＳ８０４のＮＯ）、後述するステップＳ８０８に移行する。一方、第ｉ領域の状態が「安定」であれば（ステップＳ８０４のＹＥＳ）、コントローラ３は、第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とのＸ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏを算出する（ステップＳ８０５）。
【００４９】
ステップＳ８０５に続くステップＳ８０６において、コントローラ３は、Ｘ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏがともに予め設定している閾値以下であるか否かを判定する。Ｘ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏの少なくとも一方が閾値より大きければ（ステップＳ８０６のＮＯ）、後述するステップＳ８０８に移行する。一方、Ｘ軸方向の距離Ｘｏ及びＹ軸方向の距離Ｙｏがともに閾値以下であれば（ステップＳ８０６のＹＥＳ）、コントローラ３は、第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とに基づいて一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）を算出し、一点化するために第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とを一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）に置換し（ステップＳ８０７）、その後、ステップＳ８０８に移行する。これにより、領域同士の境界線上がタッチされた場合に一点入力であるのに誤って二点入力として検出されることを防止することができる。第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）とを一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）に置換する方法として、例えば、第ｐ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｉ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｉ，Ｙｉ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更する置換方法を採用するとよい。なお、当該置換方法とは逆に、第ｉ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｐ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｐ，Ｙｐ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更してもよい。また、これらの置換方法の代わりに、例えば、コントローラ３が、各領域の座標範囲を予め記憶し、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）が第ｐ領域の座標範囲に含まれるか第ｉ領域の座標範囲に含まれるかを判定し、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）が第ｐ領域の座標範囲に含まれていると判定した場合は第ｉ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｐ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｐ，Ｙｐ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更し、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）が第ｉ領域の座標範囲に含まれていると判定した場合は第ｐ領域の状態を「安定」から「非接触」に変更し、第ｉ領域の接触点座標の座標値を（Ｘｉ，Ｙｉ）から（Ｘｃ，Ｙｃ）に変更するようにしてもよい。
【００５０】
ステップＳ８０８において、コントローラ３は次の変数ｉが有るかを判定する。次の変数ｉが有れば（ステップＳ８０８のＹＥＳ）、コントローラ３は、変数ｉを更新し（ステップＳ８０９）、その後、ステップＳ８０４に戻る。一方、次の変数ｉがなければ（ステップＳ８０８のＮＯ）、コントローラ３は次の変数ｐが有るかを判定する（ステップＳ８１０）。次の変数ｐが有れば（ステップＳ８１０のＹＥＳ）、コントローラ３は、変数ｐを更新し（ステップＳ８１１）、その後、ステップＳ８０３に戻る。一方、次の変数ｐがなければ（ステップＳ８１０のＮＯ）、境界点処理を終了する。なお、本実施形態では、四分割アナログタッチパネル１が用いられているので、変数ｐと変数ｉはそれぞれ１、２、３、４のいずれかであり、変数ｐと変数ｉとが同時に同じ値をとることはない。
【００５１】
ここで、図５を参照して、ステップＳ８０７での一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）の算出例について説明する。
【００５２】
まず、第ｐ領域と第ｉ領域との境界線が一つであり、その境界線がＹ軸に平行である場合について考察する。第ｐ領域の接触点座標（Ｘｐ，Ｙｐ）及び第ｉ領域の接触点座標（Ｘｉ，Ｙｉ）と、それらを一点化した一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）との位置関係を図５に示す。図５中の半径Ｒの円が図８中の斜線部分に相当している。また、図５の位置関係では、第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）とが一致しているとみなしている。
【００５３】
図５の位置関係より、以下の（１）式及び（２）式が成り立つ。
Ｒｐ＝CUX−Ｘｐ ・・・（１）
Ｒｉ＝Ｘｉ−CUX ・・・（２）
【００５４】
また、図５の位置関係より、以下の（３）式も成り立つ。
Ｒ＝（Ｒｐ＋Ｒｐ＋Ｒｉ＋Ｒｉ）／２
Ｒ＝Ｒｐ＋Ｒｉ ・・・（３）
【００５５】
また、図５の位置関係より、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は次のようになる。
Ｘｃ＝（Ｘｐ−Ｒｐ）＋Ｒ
（３）式を代入
Ｘｃ＝Ｘｐ−Ｒｐ＋Ｒｐ＋Ｒｉ
Ｘｃ＝Ｘｐ＋Ｒｉ
（２）式を代入
Ｘｃ＝Ｘｐ＋Ｘｉ−CUX
【００５６】
したがって、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｉ）との加算値から境界線のＸ座標値（CUX）を減算したものとする。また、一点化座標のＹ座標値（Ｙｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）とを平均化したものとする。
【００５７】
第ｐ領域と第ｉ領域との境界線が一つであり、その境界線がＸ軸に平行である場合についても同様に取り扱うことができる。すなわち、一点化座標のＹ座標値（Ｙｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）との加算値から境界線のＹ座標値（CUY）を減算したものとする。また、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｉ）とを平均化したものとする。
【００５８】
第ｐ領域と第ｉ領域との境界線が二つであり、その境界線の一つがＸ軸に平行でありもう一つがＸ軸に平行である場合についても同様に取り扱うことができる。すなわち、一点化座標のＸ座標値（Ｘｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＸ座標値（Ｘｉ）との加算値から一方の境界線のＸ座標値（CUX）を減算したものとし、一点化座標のＹ座標値（Ｙｃ）は第ｐ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｐ）と第ｉ領域の接触点座標のＹ座標値（Ｙｉ）との加算値から他方の境界線のＹ座標値（CUY）を減算したものとする。
【００５９】
なお、一方の境界線のＸ座標値（CUX）、他方の境界線のＹ座標値（CUY）はそれぞれコントローラ３が予め記憶している。
【００６０】
＜出力レポート生成＞
ステップＳ８０に続くステップＳ９０では、出力レポートが生成される。生成された出力レポートは、ホストＩ／Ｆ回路４を介して外部のホスト（不図示）に転送される。
【００６１】
コントローラ３は、ステップＳ７０での判断結果と接触点座標が存在する場合は接触点座標の値とから、「四分割アナログタッチパネル１がタッチされた状態」、「四分割アナログタッチパネル１へのタッチが解除された状態」、「接触点座標が既定距離以上移動した状態」、「接触点座標が既定距離未満の移動にとどまっており既定時間以上存在し続けている状態」のいずれであるかを決定し、その決定内容を出力レポートとする。また、接触点座標が存在する場合は接触点座標の値も出力レポートに含める。
【００６２】
以上、本発明に係る実施形態について説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実行することができる。例えば、上述した実施形態において、ステップＳ７０とステップＳ８０の間に、検出した接触点座標に補正処理を施すステップを設けてもよい。また、一点化座標（Ｘｃ，Ｙｃ）は、領域同士の境界線上がタッチされた場合に誤って検出される二つの接触点座標に基づいて算出されるものであれば、上述した実施形態での手法以外の手法によって算出されたものであっても構わない。
【符号の説明】
【００６３】
１ 四分割アナログタッチパネル
２ タッチパネルＩ／Ｆ回路
３ コントローラ
４ ホストＩ／Ｆ回路
５ ＬＥＤ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、
前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、
前記コントローラが、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換することを特徴とする入力装置。
【請求項２】
前記コントローラが、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さく、且つ、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第１方向の距離、及び、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第２方向の距離がともに閾値以下である場合のみ、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する請求項１に記載の入力装置。
【請求項３】
前記コントローラが、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第１方向に平行である場合に、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第２方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第２方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第２方向の座標値とし、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第２方向に平行である場合に、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第１方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第１方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第１方向の座標値とする請求項１または請求項２に記載の入力装置。
【請求項４】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいか否かを確認する確認ステップと、
前記確認ステップで前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいことを確認した場合、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する一点化ステップとを備えることを特徴とする入力方法。
【請求項１】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルと、
前記領域分割アナログタッチパネルを制御して前記対向領域の接触点座標を検出する接触点座標検出処理を前記対向領域それぞれについて行うコントローラとを備える入力装置であって、
前記コントローラが、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さい場合に、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換することを特徴とする入力装置。
【請求項２】
前記コントローラが、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さく、且つ、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第１方向の距離、及び、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との前記第２方向の距離がともに閾値以下である場合のみ、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する請求項１に記載の入力装置。
【請求項３】
前記コントローラが、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第１方向に平行である場合に、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第２方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第２方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第２方向の座標値とし、
前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との間に存在する前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域同士の境界線が前記第２方向に平行である場合に、
前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づく前記一点化座標の座標値の算出において、前記一つの接触点座標の前記第１方向の座標値と前記別の一つの接触点座標の前記第１方向の座標値との加算値から前記境界線の座標値を減算したものを、前記一点化座標の前記第１方向の座標値とする請求項１または請求項２に記載の入力装置。
【請求項４】
第１方向に並べて配置される複数枚の第１抵抗膜と、１枚又は前記第１方向に直交する第２方向に並べて配置される複数枚の第２抵抗膜とを有し、前記複数枚の第１抵抗膜を含む平面と前記１枚又は複数枚の第２抵抗膜を含む平面とが対向する構成であって、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域一つ一つが分割された領域となっている領域分割アナログタッチパネルを備える入力装置に適用される入力方法であって、
前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の一つでの接触点座標検出処理で検出された一つの接触点座標と、前記第１抵抗膜と前記第２抵抗膜との対向領域の別の一つでの接触点座標検出処理で検出された別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいか否かを確認する確認ステップと、
前記確認ステップで前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標との距離が所定値よりも小さいことを確認した場合、前記一つの接触点座標の座標値と前記別の一つの接触点座標の座標値とに基づいて、一点化座標の座標値を算出し、前記一つの接触点座標と前記別の一つの接触点座標を前記一点化座標に置換する一点化ステップとを備えることを特徴とする入力方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１１−１４５７５１（Ｐ２０１１−１４５７５１Ａ）
【公開日】平成２３年７月２８日（２０１１．７．２８）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−３９２７（Ｐ２０１０−３９２７）
【出願日】平成２２年１月１２日（２０１０．１．１２）
【出願人】（０００１３４１０９）株式会社デジタル (224)
【出願人】（５０１１６０８６３）株式会社ユニテック (5)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年７月２８日（２０１１．７．２８）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１月１２日（２０１０．１．１２）
【出願人】（０００１３４１０９）株式会社デジタル (224)
【出願人】（５０１１６０８６３）株式会社ユニテック (5)
【Ｆターム（参考）】
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