分析具供給装置
本発明は、複数の分析具を収容するための収容部(４)と、凹部(30)に分析具を保持した状態で収容部(４)に対して相対動させることによって、収容部(４)から分析具を取り出すための可動体(３)と、を備えた分析具供給装置(１)に関する。 収容部(４)は、可動体(３)を収容部(４)に対して相対動させたときに、収容部(４)において凹部(30)に保持された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための干渉手段(41)を有している。干渉手段(41)は、沿った分析具が凹部(30)に保持された状態のときに、収容部(４)に対して相対動させることによって、当該分析具の反りを是正した状態で凹部(30)に当該分析具を保持させた状態で収容部(４)から取り出すことが可能なように構成されている。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の分析具を収容した収容部から、分析具を個別に取り出して目的部位に搬送するための分析具供給装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
尿の検査は、たとえば試験片の試薬パッドに尿を含浸させたときの発色を、光学的手法を用いて観察することにより行われている。試薬パッドでの発色の観察は、たとえば試薬パッドに尿を点着する部位に試験片を搬送した後に、試験片を測光部位に搬送することにより行われている。尿を点着する部位に対する試験片の供給は、たとえば試験片供給装置を用いて行われている(たとえば特許文献１および特許文献２参照)。
【０００３】
試験片供給装置としては、たとえば図21および図22Ａに示したようなものがある。図示した試験片供給装置９は、複数の試験片90Ａ,90Ｂを収容した収容部91から、可動体92を利用して試験片90Ａを１枚ずつ取り出し、搬送するように構成されたものである。収容部91には、ブレード93が設けられており、収容部91から複数の試験片90Ａ,90Ｂが同時に取り出されないようになされている。可動体92には、１枚の試験片90Ａを収容可能な溝部92ａが設けられている。
【０００４】
図22Ａに示したように、試験片供給装置９では、可動体92の溝部92ａを収容部91に対応した部位に位置させることにより、溝部92ａに試験片90Ａが収容される。この状態から可動体92をＡ方向に移動させた場合には、図22Ｂおよび図22Ｃに示したように、収容部91から試験片90Ａが取り出される。このとき、収容部91において、溝部92ａに収容された試験片90Ａの上方に位置する試験片90Ｂは、ブレード93により擦り切られ、収容部91からは溝部92ａに収容された試験片90Ａのみが取り出される。このようにして取り出された試験片90Ａは、可動体92をＡ方向にさらに移動させることにより、目的部位、たとえば測光部位に供給される。
【０００５】
しかしながら、試験片90Ａ,90Ｂは、通常、ボトルにおいて複数枚が同時に保存されているため、保存状態が悪い場合には、一部の試験片90Ａ,90Ｂが塑性変形して反ってしまうことがある(図23の符号90Ａ′参照)。図23に表されているように、反った試験片90Ａ′を可動体92の溝部92ａに収容しようとした場合には、溝部92ａにおいて試験片90Ａ′が完全には収容されず、試験片90Ａ′の一部が溝部92ａから突出してしまう。この状態において可動体92をＡ方向に移動させた場合には、試験片90Ａ′は溝部92ａから突出した部分においてブレード93に干渉し、溝部92ａから試験片90Ａ′が掻き取られる。そのため、試験片供給装置９では、反った試験片90Ａ′については、収容部91から取り出すことができない。したがって、試験片供給装置９では、収容部91に反った試験片90Ａ′が混在することによって試験片90Ａ,90Ａ′,90Ｂの取り出し確率（取り出し試行回数に対する取り出し成功回数）が低下し、単位時間当たりに取り出せる試験片90Ａ,90Ａ′,90Ｂの枚数が少なくなるといった問題があった。
【０００６】
【特許文献１】特開平11-118808号公報
【特許文献２】特開2000-35433号公報
【発明の開示】
【０００７】
本発明は、複数の分析具を収容した収容部から、分析具を個別に取り出して目的部位に搬送するための分析具供給装置において、収容部に反った分析具が含まれている場合であっても、収容部からの分析具の取り出し効率を極力低下させず、単位時間当たりにおける
収容部からの分析具の取り出し枚数をできるだけ多くできるようにすることを目的としている。
【０００８】
本発明により提供される分析具供給装置は、複数の分析具を収容するための収容部と、この収容部に収容された分析具のうちの１枚の分析具を保持するための凹部を有する可動体と、を備えており、かつ上記凹部に分析具を保持した状態で、上記収容部に対して上記可動体を相対動させることによって上記収容部から上記分析具を１枚ずつ取り出すように構成された分析具供給装置であって、上記収容部は、上記可動体を上記収容部に対して相対動させたときに、上記凹部に保持された分析具の上方に位置する分析具に干渉させて、上記凹部に対して１枚の分析具を選択的に保持させるための干渉手段を有しており、上記干渉手段は、反った分析具が上記凹部に保持された状態で上記収容部に対して上記可動体を相対動させた場合に、当該分析具の反りを是正した状態で上記凹部に当該分析具を保持させることによって、上記収容部から当該試験片を取り出すことが可能なように構成されている。
【０００９】
干渉手段は、たとえば垂直方向に交差する方向（たとえば水平方向）に広がるとともに、凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための板状部を有するものとして構成される。
【００１０】
凹部は、たとえば分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成される。この場合、板状部における凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための干渉縁は、凹部の延びる方向に対して、非平行な部分を有するもの、たとえば凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状部分、または曲線状部分を有するものとして構成するのが好ましい。
【００１１】
干渉手段は、垂直方向に交差する方向に突出し、かつ凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための複数の干渉要素を有するものとして構成することもできる。
【００１２】
複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、たとえば突出量が異なったものとされる。凹部が分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成されている場合においては、複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、それらの先端から上記凹部までの最短距離が異なるように、たとえば凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置するのが好ましい。
【００１３】
複数の干渉要素は、干渉手段が上記搬送方向に交差する方向（たとえば水平方向）に広がる板状部を有する場合においては、板状部に複数の切欠を形成することによって設けられる。
【００１４】
複数の干渉要素は、複数のピンを固定することにより設けることもできる。
【００１５】
干渉手段は、下方に向けて突出した複数のピンを有するものとして構成することもできる。この場合、複数のピンのうちの少なくとも一部のピンは、凹部が上記搬送方向に直交する方向に延びている場合には、それらの先端から凹部までの最短距離が異なったものとなるように、たとえば凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置される。
【００１６】
可動体は、たとえば水平方向に移動することにより、あるいは回転運動により収容部から分析具を取り出すように構成される。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る試験片供給装置の一例を示す一部を透視して描いた全体斜視図である。
【図２】図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図３】図３Ａは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す斜視図であり、図３Ｂは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図４】図４Ａは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す斜視図であり、図４Ｂは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図５】図５Ａは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す斜視図であり、図５Ｂは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図６】擦り切り部材の他の例を示す斜視図である。
【図７】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図８】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図９】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１０】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１１】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１２】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１３】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１４】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１５】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１６】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１７】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１８】図17のＸVIII−ＸVIII線に沿う断面図である。
【図１９】図17および図18に示した擦り切り部材の平面図である。
【図２０】試験片供給装置の他の例を示す斜視図である。
【図２１】従来の試験片供給装置の一例を示す斜視図である。
【図２２】図２１に示した試験片供給装置の動作を説明するための断面図である。
【図２３】図２１に示した試験片供給装置の課題を説明するための斜視図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図１に示した試験片供給装置１は、たとえば分析装置に組み込み、あるいは分析装置に接続して使用されるものであり、図２Ａ〜図２Ｃおよび図３Ａを参照すれば分かるように、試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂを、Ａ１方向に搬送し、たとえば試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂを測光部位に供給するように構成されている。この試験片供給装置１は、試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂとして短冊状の基材20上に複数の試薬パッド21が形成されたものを供給するように構成されたものであり、可動体３および収容部４を備えている。
【００１９】
図１に示したように、可動体３は、試験片２Ａ,２Ｂを収容するための凹部30を有しており、収容部４に対して、Ａ１，Ａ２方向に相対動するように構成されている。凹部30は、試験片２Ａ,２Ｂの外観形状に対応した寸法に形成されており、Ａ１，Ａ２方向に直交するＢ１，Ｂ２方向に延びている。この凹部30は、可動体３をＡ１，Ａ２方向に移動させることにより、図２Ａに示したように、収容部４の内部を臨む状態と、図２Ｃに示したように、収容部４の外部において露出する状態とを選択できるように構成されている。可動体３のＡ１，Ａ２方向への移動は、たとえば図外のモータなどの駆動源から動力を供給することにより行われる。
【００２０】
図１および図２Ａに示したように、収容部４は、複数の試験片２Ａ,２Ｂを収容するためのものであり、収容部４の側壁を構成する本体部40を有している。収容部４はさらに、擦り切り部材41および下部開口部42を有している。
【００２１】
擦り切り部材41は、収容部４から試験片２Ａ,２Ｂを取り出す際に、複数の試験片２Ａ,２Ｂが同時に取り出されないようにするためのものである。この擦り切り部材41は、本体部40に対して接合された取り付け片43から、擦り切り機能片44がＡ２方向に延出した形態を有している。擦り切り機能片44は、Ａ１，Ａ２方向の寸法がＢ２方向に向うほど連続的に小さくなる板状に形成されている。すなわち、擦り切り機能片44は、可動体３の凹部30が延びる方向に対して非平行な干渉面44ａを有している。干渉面44ａは、可動体３をＡ１方向に移動させて凹部30を収容部４の外部に位置させるときに、凹部30に収容された試験片２Ａの直上に位置する試験片２Ｂに干渉し、当該直上から試験片２Ｂを除去するためのものである。すなわち、試験片供給装置１は、凹部30に試験片２Ａを収容することによって試験片２Ａのみを擦り切り機能片44の下方を通過させ、試験片２Ａを収容部４の外部に取り出せるように構成されている。
【００２２】
下部開口部42は、収容部４に収容された試験片２Ａ,２Ｂを可動体３に接触させるためのものであり、可動体３により塞がれた格好とされている。この下部開口部42においては、Ａ１方向側の縁が実質的に干渉面44ａにより規定されている。
【００２３】
次に、試験片供給装置１における試験片の取り出し・搬送動作について、図２Ａ〜図２Ｃを参照して説明する。
【００２４】
図２Ａに示したように、試験片供給装置１では、可動体３の凹部30を収容部４に対応した部位に位置させることにより、凹部30に試験片２Ａが収容される。この状態から可動体３をＡ１方向に移動させた場合には、図２Ｂおよび図２Ｃに示したように、凹部30に収容された試験片２Ａの上方に位置する試験片２Ｂは、擦り切り機能片44の干渉面44ａに干渉して擦り切られる。一方、凹部30に収容された試験片２Ａは、渉面44ａに干渉することなく、可動体３のＡ１方向への移動により擦り切り機能片44の下方を通過して収容部４から取り出される。このようにして取り出された試験片２Ａは、可動体３をＡ１方向にさらに移動させることにより、目的部位、たとえば測光部位に供給される。
【００２５】
上述のように、試験片２Ａ,２Ｂは、ボトルなどにおいて保存しているときに反ってしまい、収容部４に反った試験片２Ａ′が混在することがある。その場合、図３Ａおよび図３Ｂに示したように、反った試験片２Ａ′が凹部30に収容されることがある。試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′であっても、図３〜図５に示したように、可動体３をＡ１方向に移動させることにより、凹部30に収容された試験片２Ａ′を収容部４から取り出し、この試験片２Ａ′を測光部位などの目的部位に供給することができる。
【００２６】
より具体的には、図３Ａおよび図３Ｂに示したように、凹部30に試験片２Ａ′が収容された状態では、たとえば試験片２Ａ′の一部が凹部30の上方に突出した状態となる。この状態において、可動体３をＡ１方向に移動させた場合には、図４Ａおよび図４Ｂに示したように、試験片２Ａ′における凹部30に収容されている部分が、擦り切り機能片44の下方に位置することとなる。この状態から可動体３をＡ１方向に移動させた場合には、図５Ａおよび図５Ｂに示したように、擦り切り機能片44によって試験片２Ａ′に対して下方に向けた押圧力が作用し、試験片２Ａ′における凹部30から突出していた部分が平坦化されて凹部30に収容され、試験片２Ａ′の全体が擦り切り機能片44の下方を通過することができる。これにより、試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′であっても、収容部４の外部に取り出すことができる。
【００２７】
図示した例では、反った試験片２Ａ′がＢ１方向側の端部において凹部30に収容されている一方で、Ｂ２方向側の端部において凹部30上方に突出している場合について説明した。しかしながら、反った試験片２Ａ′がＢ２方向側の端部において凹部30に収容され、Ｂ１方向側の端部において凹部30の上方に突出している場合にあっては、擦り切り機能片44によって凹部30から試験片２Ａ′が掻き取られてしまう。ところが、繰り返しの試行においては、試験片２Ａ′が表裏反転し、試験片２Ａ′がＢ１方向側の端部において、凹部30に収容された状態が達成される。そのため、試験片供給装置１では、試験片２Ａ′の反り状態や凹部30での収容形態を問わず、複数回の試行により確実に試験片２Ａ′を取り出すことができるようになる。また、擦り切り機能片44において試験片２Ａ′を凹部30から掻き取る構成では、高確率で試験片２Ａ′を表裏反転させることができる。これにより、試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′を取り出すための試行回数を少なくすることができるようになる。
【００２８】
このように、試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′であっても、確実に収容部４から取り出すことができるため、収容部４に反った試験片２Ａ′が混在している場合であっても、試験片２Ａ,２Ａ′，２Ｂの取り出し確率の低下を極力小さくし、単位時間当たりにおける収容部４からの試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂの取り出し枚数を多く確保することができるようになる。
【００２９】
試験片供給装置１では、摺り切り部材41の干渉面44ａが、傾斜平面として構成されているが、摺り切り部材の構成は種々に変更可能である。たとえば、摺り切り部材は、図６〜図13に示した構成とすることもできる。
【００３０】
図６に示した摺り切り部材５Ａは、干渉面50が、平行平面50aと傾斜平面50bとを組み合わせたものとして形成されたものである。図７に示した摺り切り部材５Ｂは、干渉面51が、２つの傾斜平面51aを組み合わせ、中央部がＡ２方向に突出した屈曲面として形成されたものである。図８に示した摺り切り部材５Ｃは、干渉面52が、２つの傾斜平面52aを組み合わせ、中央部がＡ１方向に凹んだ屈曲面として形成されたものである。図９に示した摺り切り部材５Ｄは、干渉面53が、複数の傾斜平面53aを組み合わせてリップル状の屈曲面として形成されたものである。図10に示した摺り切り部材５Ｅの干渉面54は、Ｂ１側の端部がＡ２方向に突出した曲面として形成されたものである。図11に示した摺り切り部材５Ｆの干渉面55は、中央部がA2方向に突出した凸曲面として形成されたものである。図12に示した摺り切り部材５Ｇの干渉面56は、中央部がＡ１方向に凹んだ凹曲面として形成されたものである。図13に示した摺り切り部材５Ｈの干渉面57は、リップル状の凹凸曲面として形成されたものである。
【００３１】
また、収容部における擦り切り部材は、図14Ａ〜図14Ｅ、図15Ａ〜図15Ｄ、図16Ａ〜図16Ｅ、および図17〜図19に示した形態とすることもできる。
【００３２】
図14Ａ〜図14Ｅおよび図15Ａ〜図15Ｄに示した擦り切り部材６Ａ〜６Ｉは、擦り切り機能片60Ａ〜60Ｉに対して、Ａ１，Ａ２方向に延びる複数の切欠61Ａ〜61Ｉを、Ｂ１，Ｂ２方向に並ぶように形成したものである。これにより、擦り切り部材６Ａ〜６Ｉは、Ａ２方向に突出する複数の干渉要素62Ａ〜62Ｉを有するものとされている。
【００３３】
なお、図14Ａ〜図14Ｅに示した擦り切り部材６Ａ〜６Ｅは、図１、図６〜図９に示した形態の擦り切り機能片に複数の切欠61Ａ〜61Ｅを設けたものであり、図15Ａ〜図15Ｄに示した擦り切り部材６Ｆ〜６Ｉは、図10〜図13に示した形態の擦り切り機能片に複数の切欠61Ｆ〜61Ｉを設けたものである。
【００３４】
もちろん、擦り切り機能片に切欠を設ける位置、個数および大きさ、並びに切欠を設け
る前の擦り切り機能片の形状は、上述した例には限定されず、本発明の目的を達成できる範囲において、種々に変更可能である。
【００３５】
図16Ａ〜図16Ｅに示した擦り切り部材７Ａ〜７Ｅは、複数のピン70Ａ〜70Ｅを、Ａ２方向に突出し、かつＢ１，Ｂ２方向に並ぶように取り付け片71Ａ〜71Ｅに固定したものである。複数のピン70Ａ〜70Ｅは、先端部が半球状の形態とされている。
【００３６】
図示した擦り切り部材７Ａ〜７Ｅにおいては、複数のピン70Ａ〜70Ｅのうちの少なくとも一部のピン70Ａ〜70Ｅは、Ａ１，Ａ２方向における先端位置が異なったものとされている。なお、複数のピン70Ａ〜70Ｅの配置は、概ね図14Ａ〜図14Ｅに示した複数の干渉要素62Ａ〜62Ｅの配置と一致している。
【００３７】
もちろん、複数のピンは、図15Ａ〜図15Ｄに示した複数の干渉要素62Ｆ〜62Ｉの先端と同一または類似のレイアウトとなるように配置してもよく、本発明の目的を達成できる範囲において、その他の配置であってもよい。
【００３８】
図17〜図19に示した擦り切り部材８は、複数のピン80が取り付け片81から下方に向けて突出するように固定されたものである。
【００３９】
複数のピン80は、可動体３の凹部30に収容された試験片の直上に位置する試験片に干渉し、当該直上から試験片を除去するためのものである。取り付け片81は、複数のピン80を収容部４の本体部40に固定するためのものであり、収容部４の本体部４における壁45に固定される起立部82と、複数のピン80を固定するための水平部83と、を有している。
【００４０】
水平部83は、図１に示した擦り切り部材41の擦り切り機能片44と同様に、Ａ１，Ａ２方向の寸法がＢ２方向に向うほど連続的に小さくなる板状に形成されている。この水平部83に対しては、複数のピン80がＡ２方向側の縁に沿って配置されている。すなわち、複数のピン80は、図19に良く表れているように、Ｂ１，Ｂ２方向に傾斜した直線状に配置されている。
【００４１】
もちろん、複数のピンは、図６〜図13に示した擦り切り部材５Ａ〜５ＨにおけるＡ２方向側の縁に沿うようなレイアウトに配置してもよく、本発明の目的を達成できる範囲において、その他の配置であってもよい。
【００４２】
本発明は、図20に示したように、回転体３′を回転させることによって収容部４から試験片を取り出せるように構成された試験片供給装置１′についても適用することができる。図20において、試験片供給装置１′の擦り切り部材の干渉面が傾斜平面として形成されているが、干渉面の形態としては図６〜図13を参照して説明した形態を採用することができ、また擦り切り部材としては図14〜図19を参照して説明したものを採用することもできる。もちろん、試験片供給装置１′における擦り切り部材としては、本発明の目的を達成できる範囲において、その他のものを採用することもできる。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の分析具を収容した収容部から、分析具を個別に取り出して目的部位に搬送するための分析具供給装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
尿の検査は、たとえば試験片の試薬パッドに尿を含浸させたときの発色を、光学的手法を用いて観察することにより行われている。試薬パッドでの発色の観察は、たとえば試薬パッドに尿を点着する部位に試験片を搬送した後に、試験片を測光部位に搬送することにより行われている。尿を点着する部位に対する試験片の供給は、たとえば試験片供給装置を用いて行われている(たとえば特許文献１および特許文献２参照)。
【０００３】
試験片供給装置としては、たとえば図21および図22Ａに示したようなものがある。図示した試験片供給装置９は、複数の試験片90Ａ,90Ｂを収容した収容部91から、可動体92を利用して試験片90Ａを１枚ずつ取り出し、搬送するように構成されたものである。収容部91には、ブレード93が設けられており、収容部91から複数の試験片90Ａ,90Ｂが同時に取り出されないようになされている。可動体92には、１枚の試験片90Ａを収容可能な溝部92ａが設けられている。
【０００４】
図22Ａに示したように、試験片供給装置９では、可動体92の溝部92ａを収容部91に対応した部位に位置させることにより、溝部92ａに試験片90Ａが収容される。この状態から可動体92をＡ方向に移動させた場合には、図22Ｂおよび図22Ｃに示したように、収容部91から試験片90Ａが取り出される。このとき、収容部91において、溝部92ａに収容された試験片90Ａの上方に位置する試験片90Ｂは、ブレード93により擦り切られ、収容部91からは溝部92ａに収容された試験片90Ａのみが取り出される。このようにして取り出された試験片90Ａは、可動体92をＡ方向にさらに移動させることにより、目的部位、たとえば測光部位に供給される。
【０００５】
しかしながら、試験片90Ａ,90Ｂは、通常、ボトルにおいて複数枚が同時に保存されているため、保存状態が悪い場合には、一部の試験片90Ａ,90Ｂが塑性変形して反ってしまうことがある(図23の符号90Ａ′参照)。図23に表されているように、反った試験片90Ａ′を可動体92の溝部92ａに収容しようとした場合には、溝部92ａにおいて試験片90Ａ′が完全には収容されず、試験片90Ａ′の一部が溝部92ａから突出してしまう。この状態において可動体92をＡ方向に移動させた場合には、試験片90Ａ′は溝部92ａから突出した部分においてブレード93に干渉し、溝部92ａから試験片90Ａ′が掻き取られる。そのため、試験片供給装置９では、反った試験片90Ａ′については、収容部91から取り出すことができない。したがって、試験片供給装置９では、収容部91に反った試験片90Ａ′が混在することによって試験片90Ａ,90Ａ′,90Ｂの取り出し確率（取り出し試行回数に対する取り出し成功回数）が低下し、単位時間当たりに取り出せる試験片90Ａ,90Ａ′,90Ｂの枚数が少なくなるといった問題があった。
【０００６】
【特許文献１】特開平11-118808号公報
【特許文献２】特開2000-35433号公報
【発明の開示】
【０００７】
本発明は、複数の分析具を収容した収容部から、分析具を個別に取り出して目的部位に搬送するための分析具供給装置において、収容部に反った分析具が含まれている場合であっても、収容部からの分析具の取り出し効率を極力低下させず、単位時間当たりにおける
収容部からの分析具の取り出し枚数をできるだけ多くできるようにすることを目的としている。
【０００８】
本発明により提供される分析具供給装置は、複数の分析具を収容するための収容部と、この収容部に収容された分析具のうちの１枚の分析具を保持するための凹部を有する可動体と、を備えており、かつ上記凹部に分析具を保持した状態で、上記収容部に対して上記可動体を相対動させることによって上記収容部から上記分析具を１枚ずつ取り出すように構成された分析具供給装置であって、上記収容部は、上記可動体を上記収容部に対して相対動させたときに、上記凹部に保持された分析具の上方に位置する分析具に干渉させて、上記凹部に対して１枚の分析具を選択的に保持させるための干渉手段を有しており、上記干渉手段は、反った分析具が上記凹部に保持された状態で上記収容部に対して上記可動体を相対動させた場合に、当該分析具の反りを是正した状態で上記凹部に当該分析具を保持させることによって、上記収容部から当該試験片を取り出すことが可能なように構成されている。
【０００９】
干渉手段は、たとえば垂直方向に交差する方向（たとえば水平方向）に広がるとともに、凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための板状部を有するものとして構成される。
【００１０】
凹部は、たとえば分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成される。この場合、板状部における凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための干渉縁は、凹部の延びる方向に対して、非平行な部分を有するもの、たとえば凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状部分、または曲線状部分を有するものとして構成するのが好ましい。
【００１１】
干渉手段は、垂直方向に交差する方向に突出し、かつ凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための複数の干渉要素を有するものとして構成することもできる。
【００１２】
複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、たとえば突出量が異なったものとされる。凹部が分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成されている場合においては、複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、それらの先端から上記凹部までの最短距離が異なるように、たとえば凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置するのが好ましい。
【００１３】
複数の干渉要素は、干渉手段が上記搬送方向に交差する方向（たとえば水平方向）に広がる板状部を有する場合においては、板状部に複数の切欠を形成することによって設けられる。
【００１４】
複数の干渉要素は、複数のピンを固定することにより設けることもできる。
【００１５】
干渉手段は、下方に向けて突出した複数のピンを有するものとして構成することもできる。この場合、複数のピンのうちの少なくとも一部のピンは、凹部が上記搬送方向に直交する方向に延びている場合には、それらの先端から凹部までの最短距離が異なったものとなるように、たとえば凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置される。
【００１６】
可動体は、たとえば水平方向に移動することにより、あるいは回転運動により収容部から分析具を取り出すように構成される。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る試験片供給装置の一例を示す一部を透視して描いた全体斜視図である。
【図２】図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図３】図３Ａは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す斜視図であり、図３Ｂは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図４】図４Ａは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す斜視図であり、図４Ｂは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図５】図５Ａは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す斜視図であり、図５Ｂは図１に示した試験片供給装置の動作を説明するための要部を示す断面図である。
【図６】擦り切り部材の他の例を示す斜視図である。
【図７】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図８】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図９】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１０】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１１】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１２】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１３】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１４】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１５】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１６】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１７】擦り切り部材のさらに他の例を示す斜視図である。
【図１８】図17のＸVIII−ＸVIII線に沿う断面図である。
【図１９】図17および図18に示した擦り切り部材の平面図である。
【図２０】試験片供給装置の他の例を示す斜視図である。
【図２１】従来の試験片供給装置の一例を示す斜視図である。
【図２２】図２１に示した試験片供給装置の動作を説明するための断面図である。
【図２３】図２１に示した試験片供給装置の課題を説明するための斜視図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図１に示した試験片供給装置１は、たとえば分析装置に組み込み、あるいは分析装置に接続して使用されるものであり、図２Ａ〜図２Ｃおよび図３Ａを参照すれば分かるように、試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂを、Ａ１方向に搬送し、たとえば試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂを測光部位に供給するように構成されている。この試験片供給装置１は、試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂとして短冊状の基材20上に複数の試薬パッド21が形成されたものを供給するように構成されたものであり、可動体３および収容部４を備えている。
【００１９】
図１に示したように、可動体３は、試験片２Ａ,２Ｂを収容するための凹部30を有しており、収容部４に対して、Ａ１，Ａ２方向に相対動するように構成されている。凹部30は、試験片２Ａ,２Ｂの外観形状に対応した寸法に形成されており、Ａ１，Ａ２方向に直交するＢ１，Ｂ２方向に延びている。この凹部30は、可動体３をＡ１，Ａ２方向に移動させることにより、図２Ａに示したように、収容部４の内部を臨む状態と、図２Ｃに示したように、収容部４の外部において露出する状態とを選択できるように構成されている。可動体３のＡ１，Ａ２方向への移動は、たとえば図外のモータなどの駆動源から動力を供給することにより行われる。
【００２０】
図１および図２Ａに示したように、収容部４は、複数の試験片２Ａ,２Ｂを収容するためのものであり、収容部４の側壁を構成する本体部40を有している。収容部４はさらに、擦り切り部材41および下部開口部42を有している。
【００２１】
擦り切り部材41は、収容部４から試験片２Ａ,２Ｂを取り出す際に、複数の試験片２Ａ,２Ｂが同時に取り出されないようにするためのものである。この擦り切り部材41は、本体部40に対して接合された取り付け片43から、擦り切り機能片44がＡ２方向に延出した形態を有している。擦り切り機能片44は、Ａ１，Ａ２方向の寸法がＢ２方向に向うほど連続的に小さくなる板状に形成されている。すなわち、擦り切り機能片44は、可動体３の凹部30が延びる方向に対して非平行な干渉面44ａを有している。干渉面44ａは、可動体３をＡ１方向に移動させて凹部30を収容部４の外部に位置させるときに、凹部30に収容された試験片２Ａの直上に位置する試験片２Ｂに干渉し、当該直上から試験片２Ｂを除去するためのものである。すなわち、試験片供給装置１は、凹部30に試験片２Ａを収容することによって試験片２Ａのみを擦り切り機能片44の下方を通過させ、試験片２Ａを収容部４の外部に取り出せるように構成されている。
【００２２】
下部開口部42は、収容部４に収容された試験片２Ａ,２Ｂを可動体３に接触させるためのものであり、可動体３により塞がれた格好とされている。この下部開口部42においては、Ａ１方向側の縁が実質的に干渉面44ａにより規定されている。
【００２３】
次に、試験片供給装置１における試験片の取り出し・搬送動作について、図２Ａ〜図２Ｃを参照して説明する。
【００２４】
図２Ａに示したように、試験片供給装置１では、可動体３の凹部30を収容部４に対応した部位に位置させることにより、凹部30に試験片２Ａが収容される。この状態から可動体３をＡ１方向に移動させた場合には、図２Ｂおよび図２Ｃに示したように、凹部30に収容された試験片２Ａの上方に位置する試験片２Ｂは、擦り切り機能片44の干渉面44ａに干渉して擦り切られる。一方、凹部30に収容された試験片２Ａは、渉面44ａに干渉することなく、可動体３のＡ１方向への移動により擦り切り機能片44の下方を通過して収容部４から取り出される。このようにして取り出された試験片２Ａは、可動体３をＡ１方向にさらに移動させることにより、目的部位、たとえば測光部位に供給される。
【００２５】
上述のように、試験片２Ａ,２Ｂは、ボトルなどにおいて保存しているときに反ってしまい、収容部４に反った試験片２Ａ′が混在することがある。その場合、図３Ａおよび図３Ｂに示したように、反った試験片２Ａ′が凹部30に収容されることがある。試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′であっても、図３〜図５に示したように、可動体３をＡ１方向に移動させることにより、凹部30に収容された試験片２Ａ′を収容部４から取り出し、この試験片２Ａ′を測光部位などの目的部位に供給することができる。
【００２６】
より具体的には、図３Ａおよび図３Ｂに示したように、凹部30に試験片２Ａ′が収容された状態では、たとえば試験片２Ａ′の一部が凹部30の上方に突出した状態となる。この状態において、可動体３をＡ１方向に移動させた場合には、図４Ａおよび図４Ｂに示したように、試験片２Ａ′における凹部30に収容されている部分が、擦り切り機能片44の下方に位置することとなる。この状態から可動体３をＡ１方向に移動させた場合には、図５Ａおよび図５Ｂに示したように、擦り切り機能片44によって試験片２Ａ′に対して下方に向けた押圧力が作用し、試験片２Ａ′における凹部30から突出していた部分が平坦化されて凹部30に収容され、試験片２Ａ′の全体が擦り切り機能片44の下方を通過することができる。これにより、試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′であっても、収容部４の外部に取り出すことができる。
【００２７】
図示した例では、反った試験片２Ａ′がＢ１方向側の端部において凹部30に収容されている一方で、Ｂ２方向側の端部において凹部30上方に突出している場合について説明した。しかしながら、反った試験片２Ａ′がＢ２方向側の端部において凹部30に収容され、Ｂ１方向側の端部において凹部30の上方に突出している場合にあっては、擦り切り機能片44によって凹部30から試験片２Ａ′が掻き取られてしまう。ところが、繰り返しの試行においては、試験片２Ａ′が表裏反転し、試験片２Ａ′がＢ１方向側の端部において、凹部30に収容された状態が達成される。そのため、試験片供給装置１では、試験片２Ａ′の反り状態や凹部30での収容形態を問わず、複数回の試行により確実に試験片２Ａ′を取り出すことができるようになる。また、擦り切り機能片44において試験片２Ａ′を凹部30から掻き取る構成では、高確率で試験片２Ａ′を表裏反転させることができる。これにより、試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′を取り出すための試行回数を少なくすることができるようになる。
【００２８】
このように、試験片供給装置１では、反った試験片２Ａ′であっても、確実に収容部４から取り出すことができるため、収容部４に反った試験片２Ａ′が混在している場合であっても、試験片２Ａ,２Ａ′，２Ｂの取り出し確率の低下を極力小さくし、単位時間当たりにおける収容部４からの試験片２Ａ,２Ａ′,２Ｂの取り出し枚数を多く確保することができるようになる。
【００２９】
試験片供給装置１では、摺り切り部材41の干渉面44ａが、傾斜平面として構成されているが、摺り切り部材の構成は種々に変更可能である。たとえば、摺り切り部材は、図６〜図13に示した構成とすることもできる。
【００３０】
図６に示した摺り切り部材５Ａは、干渉面50が、平行平面50aと傾斜平面50bとを組み合わせたものとして形成されたものである。図７に示した摺り切り部材５Ｂは、干渉面51が、２つの傾斜平面51aを組み合わせ、中央部がＡ２方向に突出した屈曲面として形成されたものである。図８に示した摺り切り部材５Ｃは、干渉面52が、２つの傾斜平面52aを組み合わせ、中央部がＡ１方向に凹んだ屈曲面として形成されたものである。図９に示した摺り切り部材５Ｄは、干渉面53が、複数の傾斜平面53aを組み合わせてリップル状の屈曲面として形成されたものである。図10に示した摺り切り部材５Ｅの干渉面54は、Ｂ１側の端部がＡ２方向に突出した曲面として形成されたものである。図11に示した摺り切り部材５Ｆの干渉面55は、中央部がA2方向に突出した凸曲面として形成されたものである。図12に示した摺り切り部材５Ｇの干渉面56は、中央部がＡ１方向に凹んだ凹曲面として形成されたものである。図13に示した摺り切り部材５Ｈの干渉面57は、リップル状の凹凸曲面として形成されたものである。
【００３１】
また、収容部における擦り切り部材は、図14Ａ〜図14Ｅ、図15Ａ〜図15Ｄ、図16Ａ〜図16Ｅ、および図17〜図19に示した形態とすることもできる。
【００３２】
図14Ａ〜図14Ｅおよび図15Ａ〜図15Ｄに示した擦り切り部材６Ａ〜６Ｉは、擦り切り機能片60Ａ〜60Ｉに対して、Ａ１，Ａ２方向に延びる複数の切欠61Ａ〜61Ｉを、Ｂ１，Ｂ２方向に並ぶように形成したものである。これにより、擦り切り部材６Ａ〜６Ｉは、Ａ２方向に突出する複数の干渉要素62Ａ〜62Ｉを有するものとされている。
【００３３】
なお、図14Ａ〜図14Ｅに示した擦り切り部材６Ａ〜６Ｅは、図１、図６〜図９に示した形態の擦り切り機能片に複数の切欠61Ａ〜61Ｅを設けたものであり、図15Ａ〜図15Ｄに示した擦り切り部材６Ｆ〜６Ｉは、図10〜図13に示した形態の擦り切り機能片に複数の切欠61Ｆ〜61Ｉを設けたものである。
【００３４】
もちろん、擦り切り機能片に切欠を設ける位置、個数および大きさ、並びに切欠を設け
る前の擦り切り機能片の形状は、上述した例には限定されず、本発明の目的を達成できる範囲において、種々に変更可能である。
【００３５】
図16Ａ〜図16Ｅに示した擦り切り部材７Ａ〜７Ｅは、複数のピン70Ａ〜70Ｅを、Ａ２方向に突出し、かつＢ１，Ｂ２方向に並ぶように取り付け片71Ａ〜71Ｅに固定したものである。複数のピン70Ａ〜70Ｅは、先端部が半球状の形態とされている。
【００３６】
図示した擦り切り部材７Ａ〜７Ｅにおいては、複数のピン70Ａ〜70Ｅのうちの少なくとも一部のピン70Ａ〜70Ｅは、Ａ１，Ａ２方向における先端位置が異なったものとされている。なお、複数のピン70Ａ〜70Ｅの配置は、概ね図14Ａ〜図14Ｅに示した複数の干渉要素62Ａ〜62Ｅの配置と一致している。
【００３７】
もちろん、複数のピンは、図15Ａ〜図15Ｄに示した複数の干渉要素62Ｆ〜62Ｉの先端と同一または類似のレイアウトとなるように配置してもよく、本発明の目的を達成できる範囲において、その他の配置であってもよい。
【００３８】
図17〜図19に示した擦り切り部材８は、複数のピン80が取り付け片81から下方に向けて突出するように固定されたものである。
【００３９】
複数のピン80は、可動体３の凹部30に収容された試験片の直上に位置する試験片に干渉し、当該直上から試験片を除去するためのものである。取り付け片81は、複数のピン80を収容部４の本体部40に固定するためのものであり、収容部４の本体部４における壁45に固定される起立部82と、複数のピン80を固定するための水平部83と、を有している。
【００４０】
水平部83は、図１に示した擦り切り部材41の擦り切り機能片44と同様に、Ａ１，Ａ２方向の寸法がＢ２方向に向うほど連続的に小さくなる板状に形成されている。この水平部83に対しては、複数のピン80がＡ２方向側の縁に沿って配置されている。すなわち、複数のピン80は、図19に良く表れているように、Ｂ１，Ｂ２方向に傾斜した直線状に配置されている。
【００４１】
もちろん、複数のピンは、図６〜図13に示した擦り切り部材５Ａ〜５ＨにおけるＡ２方向側の縁に沿うようなレイアウトに配置してもよく、本発明の目的を達成できる範囲において、その他の配置であってもよい。
【００４２】
本発明は、図20に示したように、回転体３′を回転させることによって収容部４から試験片を取り出せるように構成された試験片供給装置１′についても適用することができる。図20において、試験片供給装置１′の擦り切り部材の干渉面が傾斜平面として形成されているが、干渉面の形態としては図６〜図13を参照して説明した形態を採用することができ、また擦り切り部材としては図14〜図19を参照して説明したものを採用することもできる。もちろん、試験片供給装置１′における擦り切り部材としては、本発明の目的を達成できる範囲において、その他のものを採用することもできる。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の分析具を収容するための収容部と、この収容部に収容された分析具のうちの１枚の分析具を保持するための凹部を有する可動体と、を備えており、かつ上記凹部に分析具を保持した状態で、上記収容部に対して上記可動体を相対動させることによって上記収容部から上記分析具を１枚ずつ取り出すように構成された分析具供給装置であって、
上記収容部は、上記可動体を上記収容部に対して相対動させたときに、上記凹部に保持された分析具の上方に位置する分析具に干渉させて、上記凹部に対して１枚の分析具を選択的に保持させるための干渉手段を有しており、
上記干渉手段は、反った分析具が上記凹部に保持された状態で上記収容部に対して上記可動体を相対動させた場合に、当該分析具の反りを是正した状態で上記凹部に当該分析具を保持させることによって、上記収容部から当該試験片を取り出すことが可能なように構成されている、分析具供給装置。
【請求項２】
上記干渉手段は、垂直方向に交差する方向に広がるとともに、上記凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための板状部を有している、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項３】
上記板状部は、水平方向に広がっている、請求項２に記載の分析具供給装置。
【請求項４】
上記凹部は、上記分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成されており、
上記板状部における上記凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための干渉縁は、上記凹部の延びる方向に対して、非平行な部分を有している、請求項２に記載の分析具供給装置。
【請求項５】
上記干渉縁は、上記凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状部分、または曲線状部分を有している、請求項４に記載の分析具供給装置。
【請求項６】
上記干渉手段は、垂直方向に交差する方向に突出し、かつ上記凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための複数の干渉要素を有している、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項７】
上記複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、突出量が異なっている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項８】
上記凹部は、上記分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成されており、
上記複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、それらの先端から上記凹部までの最短距離が異なるように配置されている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項９】
上記少なくとも一部の干渉要素は、上記凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置されている、請求項８に記載の分析具供給装置。
【請求項１０】
上記干渉手段は、上記搬送方向に交差する方向に広がる板状部を有しており、
上記複数の干渉要素は、上記板状部に複数の切欠を設けることにより設けられている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項１１】
上記板状部は、水平方向に広がるように形成されている、請求項１０に記載の分析具供給装置。
【請求項１２】
上記複数の干渉要素は、複数のピンを固定することにより設けられている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項１３】
上記凹部は、上記分析具の搬送方向に直交する方向に延びており、
上記干渉手段は、下方に向けて突出した複数のピンを有しており、かつ、
上記複数のピンのうちの少なくとも一部のピンは、それらの先端から上記凹部までの最短距離が異なったものとなるように配置されている、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項１４】
上記少なくとも一部のピンは、上記凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置されている、請求項１３に記載の分析具供給装置。
【請求項１５】
上記可動体は、水平方向に移動することにより、上記収容部から分析具を取り出すように構成されている、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項１６】
上記可動体は、回転することにより、上記収容部から分析具を取り出すように構成されている、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項１】
複数の分析具を収容するための収容部と、この収容部に収容された分析具のうちの１枚の分析具を保持するための凹部を有する可動体と、を備えており、かつ上記凹部に分析具を保持した状態で、上記収容部に対して上記可動体を相対動させることによって上記収容部から上記分析具を１枚ずつ取り出すように構成された分析具供給装置であって、
上記収容部は、上記可動体を上記収容部に対して相対動させたときに、上記凹部に保持された分析具の上方に位置する分析具に干渉させて、上記凹部に対して１枚の分析具を選択的に保持させるための干渉手段を有しており、
上記干渉手段は、反った分析具が上記凹部に保持された状態で上記収容部に対して上記可動体を相対動させた場合に、当該分析具の反りを是正した状態で上記凹部に当該分析具を保持させることによって、上記収容部から当該試験片を取り出すことが可能なように構成されている、分析具供給装置。
【請求項２】
上記干渉手段は、垂直方向に交差する方向に広がるとともに、上記凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための板状部を有している、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項３】
上記板状部は、水平方向に広がっている、請求項２に記載の分析具供給装置。
【請求項４】
上記凹部は、上記分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成されており、
上記板状部における上記凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための干渉縁は、上記凹部の延びる方向に対して、非平行な部分を有している、請求項２に記載の分析具供給装置。
【請求項５】
上記干渉縁は、上記凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状部分、または曲線状部分を有している、請求項４に記載の分析具供給装置。
【請求項６】
上記干渉手段は、垂直方向に交差する方向に突出し、かつ上記凹部に収容された分析具の上方に位置する分析具に干渉させるための複数の干渉要素を有している、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項７】
上記複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、突出量が異なっている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項８】
上記凹部は、上記分析具の搬送方向に直交する方向に延びるように形成されており、
上記複数の干渉要素のうちの少なくとも一部の干渉要素は、それらの先端から上記凹部までの最短距離が異なるように配置されている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項９】
上記少なくとも一部の干渉要素は、上記凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置されている、請求項８に記載の分析具供給装置。
【請求項１０】
上記干渉手段は、上記搬送方向に交差する方向に広がる板状部を有しており、
上記複数の干渉要素は、上記板状部に複数の切欠を設けることにより設けられている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項１１】
上記板状部は、水平方向に広がるように形成されている、請求項１０に記載の分析具供給装置。
【請求項１２】
上記複数の干渉要素は、複数のピンを固定することにより設けられている、請求項６に記載の分析具供給装置。
【請求項１３】
上記凹部は、上記分析具の搬送方向に直交する方向に延びており、
上記干渉手段は、下方に向けて突出した複数のピンを有しており、かつ、
上記複数のピンのうちの少なくとも一部のピンは、それらの先端から上記凹部までの最短距離が異なったものとなるように配置されている、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項１４】
上記少なくとも一部のピンは、上記凹部の延びる方向に対して傾斜した直線状または略直線状、あるいは曲線状または略曲線状に並ぶように配置されている、請求項１３に記載の分析具供給装置。
【請求項１５】
上記可動体は、水平方向に移動することにより、上記収容部から分析具を取り出すように構成されている、請求項１に記載の分析具供給装置。
【請求項１６】
上記可動体は、回転することにより、上記収容部から分析具を取り出すように構成されている、請求項１に記載の分析具供給装置。
【図１５】
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【国際公開番号】ＷＯ２００５／０４０８３４
【国際公開日】平成１７年５月６日（２００５．５．６）
【発行日】平成１９年４月１９日（２００７．４．１９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−５１４９４６（Ｐ２００５−５１４９４６）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＪＰ２００４／０１５４１４
【国際出願日】平成１６年１０月１９日（２００４．１０．１９）
【出願人】（０００１４１８９７）アークレイ株式会社 (288)
【Ｆターム（参考）】
【国際公開日】平成１７年５月６日（２００５．５．６）
【発行日】平成１９年４月１９日（２００７．４．１９）
【国際特許分類】
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＪＰ２００４／０１５４１４
【国際出願日】平成１６年１０月１９日（２００４．１０．１９）
【出願人】（０００１４１８９７）アークレイ株式会社 (288)
【Ｆターム（参考）】
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