説明

分析方法及び分析装置

【課題】測光波形が理想的でない場合にも、異物の混入、泡の発生、消滅、撹拌不良を確実に検出できると共に、分析の状態を捉えて、分析データに影響するエラーのみを確実に検出できるようにする。
【解決手段】キュベットホイール1が回転し、キュベット2が順次移動していく中で、キュベット2の洗浄、サンプル分注、試薬分注、撹拌の処理を行う。処理が行われる過程で、キュベット2が測光部3を横切る都度、光吸収度の測定を行う。測光部3の検出値は、ADコンバータ5を介して取得され、メモリ7に保存される。同一テスト内の異なる測光ポイントの測光波形や、基準の測光波形となる水ブランクの測光波形を比較元の測光データとして、同一キュベット、同一波長の測光データで、マッチング度合いの計算を行う。マッチング度合いの値或いはその変化により、エラー判定を行う。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、血液や尿等の液体試料を透過した光の吸光度をもとに分析する分析方法及び分析装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、血液や尿等の液体試料を分析する分析装置は、血液や尿等に所望の試薬を加えた液体試料をキュベットに収容し、このキュベットをキュベットホイールに環状に複数配置し、キュベットホイールを回転させる間に光を照射し、キュベットを透過した透過光を測光して吸光度測光を行っている。
【0003】
特許文献1には、このような分析装置で使用される分析方法として、分析試料に反応試薬を加えた反応液について、複数回繰り返し測光して反応限界レベルを測光し、反応限界レベルに至る複数の測光値から反応初速度を求めるレート分析方法において、分析項目の標準吸光度変化率に対し、分析項目の吸光度測光値の反応限界レベルに至る間の吸光度データ列について求められた吸光度変化の回帰直線の勾配の相対的標準偏差の値を対比して、吸光度変化の直線性を判定することを特徴とするレート分析方法が開示されている。
【0004】
また、特許文献2には、このような分析装置として、反応液を貯留する反応容器と、反応液に透過させる透過光を発光する光源と、透過光を測光する分光検知器と、分光検知器で測光した測光データを記憶するメモリと、メモリに記憶された測光データを光度演算するCPUとを有する自動分析装置において、分光検知器による測光は、反応液が溜まっているところを反応容器の一方端から他方端に及ぶ全区間に亘って行い、測光した測光データをメモリに記憶し、メモリに記憶する測光データより反応液が存在する区間のデータを求めて光度演算をするようにしたものが開示されている。
【特許文献1】特許第2727510号公報
【特許文献2】特開2007−198739号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
特許文献1に記載された技術は、サンプル分注、試薬分注して、複数回測光を繰り返し、測光したデータからレート法でデータを算出するものであり、求められた反応速度の値と、回帰直線とを比較して、異常を検出している。したがって、特許文献1に記載された技術は、レート法のようなデータ変化が直線或いは曲線に近似できる場合にしか適用できない。
【0006】
特許文献2に記載された技術では、メモリに記憶した測光データより、反応液が存在する区間のデータを求めて、反応液の部分の全体の例えば平均値を測光データとしている。特許文献2では、図8(A)に示すように、測光波形が左右対称の理想的であれば、異常の判定は容易である。しかしながら、図8(B)に示すように、測光波形の頂上部分が傾いていたり、図8(C)に示すように、測光波形が左右非対称になっていたり、図8(D)に示すように、測光波形の頂上部分が凸状になっていたり、図8(E)、図8(F)に示すように、キズ、汚れにより測光波形に凹凸や凹みがあるような場合等、波形が理想的な状態ではない場合には、平均値のような単純な数値演算では、良否を判定することは難しい。
【0007】
また、キズなどがあり、測光波形で部分的に凹みがあっても、分析の開始から終了まで状態変化がなければ、分析の出力に影響しない。実質的に影響があるのは、分析データ取得中に、キュベット内の測光領域を異物が出入りする場合、或いは泡が発生もしくは消滅する場合、撹拌不良により液の濃度分布が一定でなく揺らぐ場合など、状態に変化がある場合である。これに対して、特許文献2に記載された技術では、状態の変化がなくても、波形に異常がある場合にはエラーとしているので、分析データに影響しない場合にも、エラーを出してしまうという問題がある。
【0008】
上述の課題を鑑み、本発明は、測光波形が理想的でない場合にも、異物の混入、泡の発生、消滅、撹拌不良を確実に検出できると共に、分析の状態を捉えて、分析データに影響するエラーのみを確実に検出できる分析方法及び分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
上述の課題を解決するために、本発明は、キュベットホイール上にキュベットを配置し、キュベットホイールを回転させ、キュベットホイールと共に回転するキュベット中の検液の吸光度を測光する分析方法において、キュベットが測光部を横切る間の吸光度を測光するステップと、キュベットを横切る間の測光波形を連続的に取得して記噫するステップと、同一キュベット、同一波長における比較元の測光データと比較対象の測光データとの二つの測光波形に基づいて、マッチングの度合いを計算するステップとを含み、計算されたマッチング度合いに基づいてエラーを判定することを特徴とする分析方法である。
本発明によれば、キュベットや測光波長ごとの測光波形の違いに影響されずに、確実に異常を検出できる。
【0010】
上記発明において、マッチング度合いを計算する二つの測光波形は、同一テスト内の異なる測光ポイントの測光波形であることを特徴とする。
本発明によれば、一つのテスト中での分析の状態変化を捉えて、確実に異常を検出できる。
【0011】
上記発明において、マッチング度合いを計算する二つの測光波形のうちの一つは、基準となる測光波形であることを特徴とする。
本発明によれば、理想的な基準を設定して分析を行うことで、異物や泡、撹拌不良による異常を確実に検出できる。
【0012】
上記発明において、基準となる測光波形は、水ブランクの測光波形であることを特徴とする。
本発明によれば、水ブランクを泡や撹拌不良のない理想の状態と捉えることで、異物や泡、撹拌不良による異常を確実に検出できる。
【0013】
上記発明において、基準となる測光波形は、そのテストの最初の測光波形であることを特徴とする。
本発明によれば、そのテストの最初の測光波形を基準の状態と捉えることで、異物や泡、撹拌不良による異常を確実に検出できる。
【0014】
上記発明において、マッチングの度合いの計算は、各測光ポイントでの比較対象の測光データと比較元の測光データとの比と、比較対象の測光データの総和と比較元の測光データの総和との比とに基づくものであることを特徴とする。
本発明によれば、キュベットや測光波長ごとの測光波形の違いに影響されない、分析指標を計算することができる。
【0015】
上記発明において、マッチングの度合いの計算は、各測光ポイントでの比較対象の測光データと比較対象の測光データの総和との比と、比較元の測光データと比較元の測光データの総和との比とに基づくものであることを特徴とする。
本発明によれば、キュベットや測光波長ごとの測光波形の違いに影響されない、分析指標を計算することができる。
【0016】
上記発明において、エラーの判定は、開始の測光ポイントの測光波形と終了の測光ポイントの測光波形とのマッチング度合いに基づいて行うことを特徴とする。
本発明によれば、エンド項目での異常を確実に検出できる。
【0017】
上記発明において、エラーの判定は、測定ごとに、比較対象の測光波形と基準となる測光波形とのマッチング度合いがしきい値を外れたかどうかに基づいて行うことを特徴とする。
本発明によれば、テスト中に発生した異常を確実に検出できる。
【0018】
上記発明において、エラーの判定は、比較対象の測光波形と基準となる測光波形とのマッチング度合いの変化に基づいて行うことを特徴とする。
本発明によれば、一つのテスト中での分析の状態変化を捉えて、確実に異常を検出できる。例えば、最初から最後まで、変化のない泡があった場合に、状態変化がないので、分析に影響しないと判断できる。
【0019】
本発明は、キュベットホイール上にキュベットを配置し、キュベットホイールを回転させ、キュベットホイールと共に回転するキュベット中の検液の吸光度を測光する分析装置において、キュベットホイールと共に回転するキュベットが横切る間の吸光度を検出する測光部と、キュベットを横切る間の測光波形を連続的に記噫する記憶手段と、同一キュベット、同一波長における比較元の測光データと比較対象の測光データとの二つの測光波形に基づいて、マッチングの度合いを計算する手段とを備え、計算されたマッチング度合いに基づいてエラーを判定することを特徴とする分析装置である。
本発明によれば、キュベットや測光波長ごとの測光波形の違いに影響されずに、確実に異常を検出できる。
【発明の効果】
【0020】
本発明によれば、同一キュベット、同一波長における二つの測光波形に基づき、マッチング度合いを計算し、エラーを判定している。このため、キュベットや測光波長ごとの測光波形の違いに影響されずに、また、分析の状態を捉えて、確実に異常を検出できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0021】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の実施の形態を示すものである。図1において、1はキュベットホイールである。キュベットホイール1は、駆動機構11により一定周期で回転される。キュベットホイール1上には、円周状にキュベット2が配置される。
【0022】
キュベットホイール1は、例えば半径200mm〜300mm程度の大きさであり、キュベットホイール1上には、例えば150〜170個のキュベット2が配置される。また、キュベットホイール1の回転速度は、例えば1.0〜1.3rad/秒である。
【0023】
図示はしていないが、キュベットホイール1が回転して、キュベット2が順次移動していく中で、キュベット2の洗浄、サンプル分注、試薬分注、撹拌を行う各ユニット装置が設けられている。また、キュベットホイール1と共に回転するキュベット2が通過する間の吸光度を測光する測光部3が設けられている。
【0024】
キュベットホイール1が回転して、キュベット2が順次移動していく中で、キュベット洗浄、サンプル分注、試薬分注、撹拌等の処理が行われる。これらの処理により、キュベット2内の検液との反応が起こり、検液の吸光度が変化する。
【0025】
測光部3内には、図2に示すように、ハロゲンランプ21、レンズ22a、22b、スリット23、グレーティング24、ホトダイオードアレー25が設けられる。ハロゲンランプ21からの照射された光は、光レンズ22aによりキュベット2にフォーカスされ、キュベット2内の検液を通過する。キュベット2の透過光は、レンズ22b、スリット23を介してグレーティング24に照射され、グレーティング24で分光され、ホトダイオードアレー25に照射される。グレーティング24では、透過光が例えば13波長に分光される。ホトダイオードアレー25からは、例えば13波長の複数の波長の光量に応じた電圧信号が出力される。
【0026】
図1において、測光部3の受光部4の出力信号は、ADコンバータ5に送られ、ADコンバータ5で、複数波長の光量の検出信号がディジタル化される。図示していないが、ADコンバータ5は複数波長(例えば13波長)のADコンバータからなり、ADコンバータ5からは、複数波長(例えば13波長)の測光データが同時に出力される。この測光データは、測光制御CPU6の制御の基に、必要に応じて、測定波長ごとに、メモリ7に保存される。
【0027】
また、測光制御CPU6は、メモリ7に保存したデータを取得し、マッチング度合いの計算を行う。マッチング度合いの計算は、比較対象の測光データと、比較元の測光データとのマッチング度合いを計算するものである。比較対象の測光データは、テスト中の検液の入ったキュベット2の測光データである。比較元の測光データは、これと同一キュベット、同一波長の測光波形であり、例えば、以下のような測光波形である。
【0028】
(1)同一テスト内の異なる測光ポイントの測光波形。
(2)基準となる水ブランクの測光波形。
【0029】
また、測光制御CPU6は、キュベットホイール1の回転制御を行う。すなわち、測光制御CPU6からの制御信号がキュベットホイール回転駆動部10を介して駆動機構11に送られ、これにより、キュベットホイール1が回転する。
【0030】
なお、キュベットホイール1は、キュベット2にサンプル試薬を分注する、キュベット2洗浄する、キュベット2内の液を撹拌する各タイミングでは停止し、分注・洗浄・撹拌が終了すると、回転を始めるように制御される。
【0031】
また、測光制御CPU6は、装置制御部8と接続されている。装置制御部8には、入出力部9が設けられる。
【0032】
このように、本発明の実施形態では、キュベットホイール1が回転し、キュベット2が順次移動していく中で、キュベット洗浄、サンプル分注、試薬分注、撹拌の処理が行われる。このような処理が行われる過程で、キュベット2内で検液が反応し、検液の吸光度が変化していき、キュベット2が測光部3を横切る都度、光吸収度の測光が行われる。
【0033】
図3は、分析のタイムコースと測光タイミング(Pxで示す)を示したものである。図3に示すように、キュベット洗浄の処理と、第一試薬分注・撹拌の処理の間に、測光タイミングP0が設けられる。第一試薬分注・撹拌の処理と、サンプル分注・撹拌の処理との間に、測光タイミングP1が設けられる。以下、分析終了・キュベット洗浄の処理の直前の測光タイミングP28まで、各測光タイミングが設定される。
【0034】
このようにして、一定周期でキュベットホイール1を回転させ、測光部3を横切るときの信号変化が連続的に取得される。例えば、測光部3の有効測光範囲を2mm、キュベット2の通過速度を200mm〜330mm/秒とすると、測光部3での測定時間は、約6〜10m秒となる。ADコンバータの5のAD変換インターバルを10μ秒とすると、キュベット2が測光部3を通過する毎に、600〜1000ポイントのデータが得られることになる。また、ADコンバータの5のAD変換インターバルを100μ秒とすれば、キュベット2が測光部3を通過する毎に、60〜100ポイントのデータが得られることになる。
【0035】
前述したように、本発明の実施形態では、比較対象の測光データと比較元の測光データとのマッチング度合いの計算が行われる。マッチング度合いの計算には、以下のような演算式が用いられる。
【0036】
マッチング度合い計算(1)
【0037】
【数1】

【0038】
ここで、f0(t)は比較元の測光データ(例えば同一テスト内の異なる測光ポイントの測光データや、水ブランクの測光データ)であり、fx(t)は比較対象の測光データである。
【0039】
(1)式は、比較対象の測光データfx(t)と比較元の測光データf0(t)との比(fx(t)/f0(t))と、比較対象の測光データfx(t)の総和Σfx(t)と比較元の測光データf0(t)の総和Σf0(t)との比(Σfx(t)/Σf0(t))との割り算(fx(t)/f0(t))/(Σfx(t)/Σf0(t))に基づいてマッチング度合いの指標を求めるもので、この割り算の値から、1を引いて、これらを二乗総和したものである。
【0040】
つまり、比較元の測光データf0(t)が図4(A)に示すように変化し、比較対象の測光データfx(t)が図4(B)に示すように変化したとする。この場合、比較元の測光データf0(t)の総和Σf0(t)と、比較対象の測光データfx(t)の総和Σfx(t)を測定データ算出範囲で求める。測定データ算出範囲は、測光部3の有効測光範囲を通過する間である。そして、図4(C)に示すように、比較対象の測光データfx(t)と比較元の測光データf0(t)との比(fx(t)/f0(t))と、比較対象の測光データfx(t)の総和Σfx(t)と比較元の測光データf0(t)の総和Σf0(t)との比(Σfx(t)/Σf0(t))とを割り算する。
(fx(t)/f0(t))/(Σfx(t)/Σf0(t))
そして、各ポイントでの1からずれ量を求める。
(fx(t)/f0(t))/(Σfx(t)/Σf0(t))−1
これらの2乗総和したのが(1)式である。
【0041】
マッチング度合い計算(2)
【0042】
【数2】

【0043】
上式は、比較対象の測光データfx(t)と比較対象の測光データの総和Σfx(t)との比(fx(t)/Σfx(t))と、比較元の測光データf0(t)と比較元の測光データf0(t)の総和Σf0(t)との比(f0(t)/Σf0(t))との各ポイントでのずれ量(fx(t)/Σfx(t))−(f0(t)/Σf0(t))に基づいてマッチング度合いの指標を求めるもので、このずれ量の値を2乗総和したものである。
【0044】
つまり、比較元の測光データf0(t)が図5(A)に示すように変化し、比較対象の測光データfx(t)が図5(B)に示すように変化したとする。この場合、比較元の測光データf0(t)の総和Σf0(t)と、比較対象の測光データfx(t)の総和Σfx(t)を測定データ算出範囲で求める。そして、図5(C)に示すように、比較対象の測光データfx(t)と比較対象の測光データfx(t)の総和Σfx(t)との比(fx(t)/Σfx(t))と、比較元の測光データf0(t)と比較元の測光データf0(t)の総和Σf0(t)との比(f0(t)/Σf0(t))とのずれ量
(fx(t)/Σfx(t))−(f0(t)/Σf0(t))
を各ポイントで求め、これらの2乗総和したのが(2)式である。
【0045】
次に、本発明の実施形態の動作について説明する。図6は、本発明の実施形態の動作のフローチャートを示すものである。この動作は、分析動作中の1シーケンスの回転測光を示す。なお、前述したように、キュベット2にサンプル試薬を分注する、キュベット2を洗浄する、キュベット2内の液を撹拌するタイミングでは、キュベットホイール1は、停止している。分注・洗浄・撹拌が終了すると、キュベットホイール1は回転を始める。また、基準となる測光データとして水ブランクの測光波形を用いる場合には、キュベット2に純水を入れて、測定を行う。
【0046】
図6において、キュベットホイール1の回転が開始したら(ステップS1)、測光制御CPU6は、最初のキュベット2が到来したかどうかを判定し(ステップS2)、最初のキュベット2が到来したら、測光開始タイミングから、測光部3からADコンバータ5を介して送られてくる測光データの測定を行う。測定時には、測光制御CPU6は、確実に測光部3の測定領域の手間の位置から測光データの取得を開始し(ステップS3)、取得したデータをメモリ7に保存し(ステップS4)、測光部3の測定領域を確実に過ぎた位置でデータ取得を終了する(ステップS5)。
【0047】
ステップS5でデータの取得が終了したら、測光制御CPU6は、前述の(1)式又は(2)式に示したデータ演算方法で、マッチング度合いの計算を行う(ステップS6)。そして、最後のキュベット2の測定が終了したかどうかを判断し(ステップS7)、最後のキュベット2の測定が終了していなければ、次のキュベット2の測定に移り、ステップS3〜ステップS7を繰り返す。ステップS7で、測定を終了したのが最後のキュベット2であれば、規定の移動量の移動が終了したら、キュベットホイール1の回転を終了する(ステップS8)。
【0048】
上述のようにして、同一形式のキュベット、同一波長の測光波形データにおいて、比較対象の測光データと比較元の測光データとのマッチング度合いが求められる。そして、二つの測光波形データのマッチング度合いにより、エラー判定が行われる。判定プロトコルとしては、以下のものが用いられる。
【0049】
判定プロトコル(1)
エンド項目で使うのは、エンドの開始と終了(例えば図3における測光ポイントP0とP27)の二つのみなので、この二つの波形のマッチング度合いを見て、しきい値と比較して良否を判定する。
【0050】
判定プロトコル(2)
測定ごとに、基準となる測光波形とのマッチング度合いがしきい値を外れたらエラーと判定する。
(a)基準となる水ブランクの測光波形を記憶する。
(b)測定している測光波形と、水ブランクの測光波形とのマッチング度合いを計算する。
(c)測定ごとに、マッチング度合いがしきい値を外れたらエラーと判定する(測定ごとに毎回チェックする)。
【0051】
判定プロトコル(3)
各測光ポイントにおける基準となる測光波形とのマッチング度合いの変化に基づいてエラーを判定する。
(a)基準となる水ブランクの測光波形を記憶する。
(b)測定している測光波形と、水ブランクの測光波形とのマッチング度合いを計算する。
(c)各測光ポイントにおける測光期間中のマッチング度合いの変化を見て、良否の判断を行う。すなわち、図7(A)に示すように、各測光ポイントでのマッチング度合いの変化が小さいか、図7(B)に示すように、各測光ポイントでのマッチング度合いの変化が大きいかに応じて、エラーを判定する。
【0052】
なお、しきい値の設定は、マッチング度合いの再現性(分布)を見て、ばらつきの範囲よりも大きいところに設定し、正しいものを誤ったものと判断しないように設定する。
【0053】
また、判定プロトコル(2)では、水ブランク測光を基準の測光波形としているが、そのテストの最初の測光波形を基準の測光波形としても良い。
【0054】
良否の判定は、実際に測光に使用するポイントのみ確認をすれば良い。例えば、図3における測光ポイントP16〜P23で算出する場合は、測光ポイントP16〜P23の間のみを確認すれば良い。
【0055】
なお、水ブランク測光波形を基準の測光波形とするメリットは、異物や泡を含んでいる可能性が低いことである。また、デメリットは、全てのキュベット、波長に関して、測光波形の情報を記噫する記憶容量が必要であること。
【0056】
上述の説明では測光は単一波長で実施するようにしているが、二波長測光の場合には、それぞれの波長について上記のプロトコルの計算を行い、総合的に判断する。例えば、一つの波長についての判定結果と他の一つの波長についての判定結果との論理和から、総合的な判定結果を導くようにしても良いし、一つの波長についての判定結果と他の一つの波長についての判定結果との論理積から、総合的な判定結果を導くようにしても良い。また、多数決論理を用いるようにしても良い。
【0057】
しきい値の設定は、分析項目ごとで必要とされる精度によって変化させても構わない。また、従来の反応曲線によるエラーチェックとの併用しても良い。
【0058】
また、基準となる測光データが異常になっていると正常に判断できないので、水ブランクの測光波形のデータを取得する時に、前回値とのマッチング度合いを確認する、或いは全キュベットの平均値に対するマッチング度合いを確認するようにしても良い。
【0059】
以上説明したように、本発明の実施形態では、同一形式のキュベット、同一波長における二つの測光波形に基づき、マッチング度合いを計算し、エラーを判定している。このため、キュベットや測光波長ごとの測光波形の違いに影響されずに、また、分析の状態を捉えて、確実に異常を検出できる。
【0060】
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形や応用が可能である。
【図面の簡単な説明】
【0061】
【図1】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の一実施形態における測光部の構成を示すブロック図である。
【図3】本発明の一実施形態における測光ポイントの説明図である。
【図4】本発明の一実施形態におけるマッチング度合い計算の一例の説明図である。
【図5】本発明の一実施形態におけるマッチング度合い計算の一例の説明図である。
【図6】本発明の一実施形態の動作説明に用いるフローチャートである。
【図7】本発明の一実施形態における判定プロトコルの説明に用いるグラフである。
【図8】従来の分析装置の問題点の説明図である。
【符号の説明】
【0062】
1:キュベットホイール
2:キュベット
3:測光部
4:受光部
5:ADコンバータ
6:測光制御CPU
7:メモリ
8:装置制御部
9:入出力部
10:キュベットホイール回転駆動部
11:駆動機構
21:ハロゲンランプ
22a,22b:レンズ
23:スリット
24:グレーティング
25:ホトダイオードアレー

【特許請求の範囲】
【請求項1】
キュベットホイール上にキュベットを配置し、前記キュベットホイールを回転させ、前記キュベットホイールと共に回転するキュベット中の検液の吸光度を測光する分析方法において、
前記キュベットが測光部を横切る間の吸光度を測光するステップと、
前記キュベットを横切る間の測光波形を連続的に取得して記噫するステップと、
同一キュベット、同一波長における比較元の測光データと比較対象の測光データとの二つの測光波形に基づいて、マッチングの度合いを計算するステップとを含み、
前記計算されたマッチング度合いに基づいてエラーを判定することを特徴とする分析方法。
【請求項2】
前記マッチング度合いを計算する二つの測光波形は、同一テスト内の異なる測光ポイントの測光波形であることを特徴とする請求項1に記載の分析方法。
【請求項3】
前記マッチング度合いを計算する二つの測光波形のうちの一つは、基準となる測光波形であることを特徴とする請求項1に記載の分析方法。
【請求項4】
前記基準となる測光波形は、水ブランクの測光波形であることを特徴とする請求項3に記載の分析方法。
【請求項5】
前記基準となる測光波形は、そのテストの最初の測光波形であることを特徴とする請求項3に記載の分析方法。
【請求項6】
前記マッチングの度合いの計算は、各測光ポイントでの比較対象の測光データと比較元の測光データとの比と、比較対象の測光データの総和と比較元の測光データの総和との比とに基づくものであることを特徴とする請求項1に記載の分析方法。
【請求項7】
前記マッチングの度合いの計算は、各測光ポイントでの比較対象の測光データと比較対象の測光データの総和との比と、比較元の測光データと比較元の測光データの総和との比とに基づくものであることを特徴とする請求項1に記載の分析方法。
【請求項8】
前記エラーの判定は、開始の測光ポイントの測光波形と終了の測光ポイントの測光波形とのマッチング度合いに基づいて行うことを特徴とする請求項1に記載の分析方法。
【請求項9】
前記エラーの判定は、測定ごとに、比較対象の測光波形と基準となる測光波形とのマッチング度合いがしきい値を外れたかどうかに基づいて行うことを特徴とする請求項1に記載の分析方法。
【請求項10】
前記エラーの判定は、比較対象の測光波形と基準となる測光波形とのマッチング度合いの変化に基づいて行うことを特徴とする請求項1に記載の分析方法。
【請求項11】
キュベットホイール上にキュベットを配置し、前記キュベットホイールを回転させ、前記キュベットホイールと共に回転するキュベット中の検液の吸光度を測光する分析装置において、
前記キュベットホイールと共に回転する前記キュベットが横切る間の吸光度を検出する測光部と、
前記キュベットを横切る間の測光波形を連続的に記噫する記憶手段と、
同一キュベット、同一波長における比較元の測光データと比較対象の測光データとの二つの測光波形に基づいて、マッチングの度合いを計算する手段とを備え、
前記計算されたマッチング度合いに基づいてエラーを判定することを特徴とする分析装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【公開番号】特開2009−281941(P2009−281941A)
【公開日】平成21年12月3日(2009.12.3)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−135947(P2008−135947)
【出願日】平成20年5月23日(2008.5.23)
【出願人】(000000376)オリンパス株式会社 (11,466)
【Fターム(参考)】