多帯電イオンのための一次質量選択を行わないタンデム質量分光測定の方法および装置
本発明は、分析すべきイオンの質量-対-電荷比の公知の特徴的な関数を有する質量分析計で使用するためのタンデム質量分光測定方法であって、（ａ）分析すべき一次イオン供給源を用意する工程、（ｂ）該一次イオンの、該一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに発生させる工程、（ｃ）該一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値から、および該ピークに関連する電荷値から、該一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、特徴的な関数値の可能な全ての多重組が適合する必要がある相関法則を決定する工程、（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを同時に解離させ、該親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得る工程、（ｅ）該解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、（ｆ）該特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、（ｇ）該潜在的な多重組の中から、該相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、（ｈ）それぞれ問題とする親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程を含んでなる、方法を提案する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的には質量分光測定の分野に関する。
【０００２】
質量分光測定（ＭＳ）は、その種類に関係なく、一般的には試料中に存在する分子を、これらの分子をイオン化して加速し、質量分析計の中に注入した後、これらの分子の質量を測定することにより同定する工程を包含するものであることが知られている。
【０００３】
質量分析計は、分析する試料中に含まれる様々な分子の質量スペクトルを、発生するイオンの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ、Ｍは質量であり、Ｑは電荷である)の値の関数として発生するが、このスペクトルは、イオンの質量-対-電荷比Ｆ（Ｍ／Ｑ）の関数に対して、イオン検出器により検出されたイオンの電流強度の形態にあり、この関数は、使用する質量スペクトルに特徴的であり、一般的に下記式：
【数１】
を有する（式中、Ｇは使用する質量分析計のタイプによって異なる関数であり、イオンの質量と電荷の比とは無関係である）。
【０００４】
使用される主な質量分析計は、飛行時間型質量分析計、磁場偏向型質量分析計、四重極型質量分析計、３Ｄイオントラップ、２Ｄイオントラップ、およびＦＴ−ＩＣＲ質量分析計(フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴分光計用)である。
【０００５】
質量分析計のそれぞれに対応する具体的な操作形態、実施態様および特徴的な関数は、当業者には公知である。
【０００６】
直線的飛行時間型質量分析計に関して、特徴的な関数は、イオンの飛行時間の二乗、ＴＯＦ２である。
【数２】
（式中、
Ｌは、イオンセットのパルス化とそれらの検出との間の直線的飛行時間の距離であり、
Ｖ０はイオン加速電圧(tension)である。
【０００７】
磁場偏向型質量分析計では、特徴的な関数は、磁気セクター内で印加される、可変磁場の二乗、Ｂ２であり、これが、イオンをそれらの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に対してフィルターをかけ、イオン検出器に送る。
【数３】
（式中、Ｒは磁場セクター半径であり、Ｖ０はイオン加速電圧である。）
【０００８】
四重極型質量分析計では、特徴的な関数は、四重極に印加される可変電圧ＶＱであり、これが、イオンをそれらの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に対してフィルターをかけ、イオン検出器に送る。
【数４】
【０００９】
イオントラップ分光計では、特徴的な関数は、イオントラップに印加される可変電圧ＶＩＴであり、イオンをそれらの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に対して放出し、イオン検出器に送る。
【数５】
【００１０】
ＦＴ−ＩＣＲ分光計では、特徴的な関数は、イオンの各質量-対-電荷Ｍ／Ｑ値に対応するサイクロトロン角度周波数ωＦＴＩＣＲであり、そのフーリエ変換解析および測定により、質量スペクトルを発生することができる。
【数６】
（式中、ＧＦＴＩＣＲは、磁場強度である。）
【００１１】
特に、タンデム質量分光測定（ＭＳ−ＭＳ）は良く知られており、一次質量スペクトルが分析しているイオンを同定できない場合に使用される。この測定は、第一質量分析計により、分析する試料中に存在するイオン化された分子の一次質量スペクトル（ＭＳ）を発生させ、一次質量を選択する工程を行い、次いで該選択された一次質量の一次イオンを解裂させ、即ち解離装置により解離させ、第二質量分析計により、該一次イオンの解離から来る帯電フラグメントの解離質量スペクトルとして説明される質量スペクトルを発生させる。
【００１２】
一般的に各解離質量スペクトルを実現するために行われる一次質量選択は、質量スペクトルが次々に発生するために、タンデム質量分析計の取得デビット(acquisition debit)を制限する。
【００１３】
これは、タンデム質量分析計の感度も制限し、この感度は、各質量解離スペクトルを発生するために消費される試料の量として定義され、残りの、イオン供給源から与えられた、選択されなかったイオンは、実際には、選択された一次イオンの質量スペクトルを発生させるために排除される。
【００１４】
一次イオン解離は、高い運動エネルギー（約０．８〜２０ＫｅＶ）または低い運動エネルギー（約１０〜２００ｅＶ)で行われる。
【００１５】
低運動エネルギー解離は、既存のすべての質量分析計で使用できるのに対し、高運動エネルギー解離は、一般的にタンデム磁場セクター質量分析計またはタンデム飛行時間型質量分析計で使用される。
【００１６】
低運動エネルギー解離の場合、解離した帯電フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比ｍ/ｑにのみ依存し、親の一次イオンの質量-対-電荷比Ｍ/Ｑには依存しない。
【００１７】
高運動エネルギー解離の場合、解離した帯電フラグメントの特徴的な関数F'（Ｍ／Ｑ）は、一般的に帯電フラグメントの質量-対-電荷比Ｍ／Ｑおよび親の一次イオンの質量-対-電荷比Ｍ/Ｑに依存する。その結果、同等の質量分析計に対して、解離していない一次イオンの特徴的な関数は、帯電フラグメントの特徴的な関数とは異なる。
【００１８】
さらに、帯電フラグメントの特徴的な関数は、一般的に下記式では表せない。
【数７】
【００１９】
飛行時間型質量分光測定の特別な場合、上に記載した一次質量選択を行うタンデム飛行時間型質量分析計に加えて、一次質量選択を行わないタンデム飛行時間型質量分析計も良く知られている。
【００２０】
これらの質量分析計は、幾つかの解離質量スペクトルを同時に発生させるのに使用できる。
【００２１】
一次質量選択を行わない飛行時間型質量分光測定の方法（外国特許文献１、外国特許文献２、外国特許文献３、外国特許文献４）も良く知られており、これらの方法は、異なった解離スペクトルを発生するのに幾つかの取得を必要とするが、一次質量選択を使用する装置と比較して、連続的な取得の数は低い。
【００２２】
特に、一回の取得で、一次質量選択を行わずに、幾つかの解離質量スペクトルを発生するのに使用されるタンデム飛行時間型質量分光測定方法が公知である（外国特許文献５）。これは、飛行時間を測定位置に変換することに基づく、一次質量選択を行わない飛行時間型質量分光測定の方法である。この方法は、同時に到達できる一次質量の範囲を制限する。
【００２３】
外国特許文献１〜５に記載の方法は、高運動エネルギーにおける一次イオン解離とのみ相容性がある。
【００２４】
単一帯電一次イオンの解離は簡単であり、一般的に中性フラグメントおよび単一帯電フラグメントを含んでなる対の形成に限られるのに対し、多帯電一次イオンの解離は、複雑な場合があり、幾つかの潜在的解離チャネルにつながる（外国特許文献６）。解離チャネルの二つの主要な群は、帯電フラグメントの多重組(multiplet)(例えば帯電フラグメントの対および三重組)への、および帯電フラグメントおよび中性フラグメントを含んでなるフラグメントの多重組への解裂(fragmentation)である。
【００２５】
ＭおよびＱが、それぞれ親の一次イオンの質量および電荷を表し、ｍｉおよびｑｉが、それぞれの解離フラグメントｉ(ここでｉ＝１，２または３)の質量および電荷を表す場合、フラグメント対への主要解離チャネルは、
（ａ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１)＋ｍ２(ｑ２)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＝Ｍおよびｑ１＋ｑ２＝Ｑである）
（ｂ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１＝Ｑ)＋ｍ２(ｑ２＝０)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＝Ｍである）
であるのに対し、フラグメント三重組への主要解離チャネルは、
（ｃ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１)＋ｍ２(ｑ２)＋ｍ３(ｑ３)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＋ｍ３＝Ｍおよびｑ１＋ｑ２＋ｑ３＝Ｑである）
（ｄ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１)＋ｍ２(ｑ２)＋ｍ３(ｑ３＝０)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＋ｍ３＝Ｍおよびｑ１＋ｑ２＝Ｑである）
（ｅ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１＝Ｑ)＋ｍ２(ｑ２＝０)＋ｍ３(ｑ３＝０)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＋ｍ３＝Ｍである）
である（外国特許文献６）。
【００２６】
その上、親一次イオンは、解離の際に(例えばガスの一次イオンと分子との間の「誘発された衝突解離（ＣＩＤ）の際に」)失うか、または電子を捕獲する(例えば「電子捕獲解離（ＥＣＤ）」の際に)ことがある。従って、フラグメント電荷の総計は、最早Ｑと等しくはなく、Ｑ'＝Ｑ±ｅ(ここでｅは電荷単位である)となる。
【００２７】
同時に、および単一取得で、一次質量選択を行わずに、および一次質量の範囲を制限せずに、複数の解離質量スペクトルを発生するために使用でき、その際、多帯電一次イオンの解離を、高および低運動エネルギー解離の両方で行うことができる、タンデム質量分光測定は、現在知られていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２８】
【特許文献１】米国特許第4,47２,6３1号（J.D. Pinston et al., Rev. Sci. Instrum. ５7(4), (198３).C.G. Enke et al.）
【特許文献２】米国特許第4,894,５３6号（S. Della-Negra And Y. Leybec, Anal. Chem., 7(11), (198５), p.２０３５、K.G. Standing et al., Anal. Instrumen., 16, (1987), p.17３、R.J. Conzemius）
【特許文献３】米国特許第５,２０6,５０8号（Alderdice et al.）
【特許文献４】米国特許第２００５/００987２1A1号（R.H. Bateman, J.M. Brown, D.J. Kenny）
【特許文献５】特許PCT/US２００4/００84２4号（C.G. Enke）
【特許文献６】米国特許第５,０7３,71３号（R.D. Smith et al.）
【発明の概要】
【００２９】
従って、本発明の目的の一つは、多帯電一次イオンの場合に、現状技術水準の上記の欠点を解決することである。
【００３０】
特に、本発明の目的の一つは、一次質量選択を行わない、公知の質量分析計と相容性があり、多帯電一次イオンに対して、単一取得で、分析する試料中に存在する複数の異なった一次質量に対して解離スペクトルを同時に発生させることができ、親の一次イオンが低または高運動エネルギーで解離する、質量分光測定方法を提案することである。
【００３１】
このために、本発明は、第一態様により、分析すべきイオンの質量-対-電荷比の公知の特徴的な関数を有する質量分析計で使用するためのタンデム質量分光測定方法であって、
（ａ）分析すべき一次イオン供給源を用意する工程、
（ｂ）前記一次イオンの、一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに発生させる工程、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値、およびそのピークに関連する電荷値から、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、特徴的な関数値の可能な全ての多重組が適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを同時に解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得る工程、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｇ）前記潜在的な多重組の中から、該相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、
（ｈ）それぞれ問題とする親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程
を含んでなる、方法を提供する。
【００３２】
本方法の、好ましいが、本発明を制限しない幾つかの態様は、下記の通りである。
問題とする一次イオンの解離は、既知の質量を有する中性フラグメントを発生することができ、該相関法則を決定する工程が、そのような質量の潜在的損失を考慮する。
前記相関法則を決定する工程が、解離フラグメントに特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる。
前記相関法則を決定する工程が、解離フラグメントに特徴的な関数値を発生する工程に続いて行われる。
帯電した解離フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に依存し、親一次イオンの質量-対-電荷比には依存しない。
帯電した解離フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に比例する。
相関法則が、計算により決定される。
帯電した解離フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に、および親一次イオンの質量-対-電荷比に依存する。
相関法則が、質量および電荷が既知であるイオンで得た校正データの使用により決定される。
前記相関法則を決定する工程が、下記の準工程、即ち
（ｄ１）質量および電荷が既知であるイオンに対して一次質量スペクトルを発生すること、
（ｄ２）前記スペクトルで一次質量ピークを選択すること、
（ｄ３）選択された一次イオンを解離させ、特定の質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）を求めること、
（ｄ４）選択された一次イオンから来る解離フラグメントの解離質量スペクトルを発生すること、
（ｄ５）解離質量スペクトル中で、帯電フラグメントの多重組への解離が起こることに対応するピークの多重組を確認すること、
（ｄ６）確認された各多重組に属する各ピークの出現の極大に対応する特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)を決定すること、
（ｄ７）それぞれの可能な電荷多重組に対して、この電荷多重組を満足し、質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に、一次電荷Ｑに、および選択された一次質量ピークに対する出現極大における特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)に対応する特徴的な関数値の確認された多重組との相関法則のそれぞれを決定すること、
（ｄ８）工程（ｄ１）〜（ｄ７）を、既知分子の一次質量スペクトルの各選択された一次質量ピークに対して繰り返すことを包含する。
本方法は、既知分子で得た相関法則に基づき、未知分子の一次質量ピークの相関法則を決定する工程をさらに含んでなる。
決定された相関法則は、座標のセットにより規定される。
決定された相関法則は、分析により規定される。
本方法は、一次質量選択により、問題とする異なった一次イオンの群を選択する工程をさらに含んでなる。
問題とする一次イオンを選択する工程は、解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる。
近接基準は調節可能である。
工程（ｅ）〜（ｇ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、工程（ｅ）で決定した特徴的な関数値は、該累積出現により形成されるピークの極大における関数値である。
工程（ｅ）〜（ｇ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、工程（ｈ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う。
前記特徴的な関数の値は、関連する飛行時間である。
解離したイオンは、連続する周期的なイオンパルス中に含まれ、パルス発生期間は、測定すべき解離した帯電フラグメントの最長飛行時間より短く、工程（ｄ）および（ｅ）は、連続するパルス間のオーバーラップで行われ、工程（ｃ）は、先行するイオンパルス中に含まれる問題とする親一次イオンの解離により生じた帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に対する相関法則を決定することを包含する。
【００３３】
第二の態様により、本発明は、下記の組み合わせ、
（ａ）分析すべき多帯電一次イオンの供給源（１）、
（ｂ）前記一次イオンの、一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに、発生する装置（３）、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値および前記ピークに関連する電荷値、から決定された一組の相関法則であって、この相関法則は、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得るように設計された解離装置（２）、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生し、保存する装置、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成し、前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定し、それぞれ問題とする該親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生するための処理装置、
を含んでなる、タンデム質量分析計を提供する。
【００３４】
このタンデム質量分析計の、好ましいが、本発明を限定しないいくつかの態様は、下記の通りである。
分光計が、問題とする異なった一次イオンの群を選択するための一次質量選択装置をさらに含んでなる。
前記一次質量選択装置が、イオントラップを含んでなる。
前記一次質量選択装置が、四重極を含んでなる。
前記一次質量選択装置が、一時的ゲートを含んでなる。
前記解離装置が、多極導波管である。
前記分光計が、飛行時間型質量分析計を含んでなる。
前記解離装置が、イオン束を飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の前に配置される。
解離装置が、イオン束を飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の後に配置される。
前記イオン加速器が、直角注入装置を含んでなる。
前記分光計が、レフレクトロンをさらに含んでなる。
前記多帯電イオン供給源（１）が、エレクトロスプレーイオン化イオン供給源である。
【００３５】
第三の態様により、本発明は、イオンの質量-対-電荷比の既知の特徴的な関数を有する質量分析計を含んでなる質量分光測定装置で実行するように設計されたコンピュータプログラムであって、
（ａ）前記装置を、分析すべき多帯電一次イオンの供給源から、解離を行わずに、前記一次イオンの一次質量スペクトルを発生させ、その際、該スペクトルが、一次イオン出現のピークを含むように制御する工程、
（ｂ）このスペクトルの、一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値を含むデータを、前記ピークに関連する電荷値から取得する工程、
（ｃ）前記データから、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンの同時解離が起きるように前記装置を制御し、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を入手し、該解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｅ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｆ）前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、および
（ｇ）それぞれ問題とする前記親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程
を行うように設計された、一連の指示を包含する、プログラムを提供する。
【００３６】
このコンピュータプログラムの、本発明を限定しない好ましいいくつかの態様は、下記の通りである。
工程（ｅ）〜（ｆ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、工程（ｄ）で決定された特徴的な関数値が、前記累積出現により形成されたピークの極大にある特徴的な関数値である。
工程（ｅ）〜（ｆ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、工程（ｇ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う。
【００３７】
本発明の他の態様、目的および利点は、本発明を限定しない例として、以下に添付の図面を参照しながら記載する本発明の説明を参照することにより、明らかとなる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の分光測定の好ましい実施方法に関するフローチャートである。
【図２】本発明の一例による質量分光測定方法を実施するために設計された装置の構成部品を例示する。
【図３】確認すべき分子の、３個の一次質量ピークを含んでなる一次質量スペクトルを例示する。
【図４】一次質量選択を行わずに得た、図３の３個の一次質量ピークに対応する３個の解離スペクトルの解離質量ピークを含んでなる質量解離スペクトルを例示するが、その際、帯電フラグメントの、各解離質量ピーク出現の極大における特徴的な関数値の幾つかが示されている。
【図５】図４の質量解離スペクトルの３個の解離スペクトルを例示する。
【図６】二次元的スペクトルの平面内で、図３の３個の一次質量ピークの相関法則に対応する、帯電フラグメントの対に解離する多帯電一次イオンの特徴的な線の３例を例示する。
【図７】二次元的スペクトルの平面を例示するが、そこでは、図３の一次質量ピークの、一次質量選択を行わずに帯電フラグメントの対に解離する二重帯電イオンに対応する３本の特徴的な線を、図４の解離ピーク出現の極大における特徴的な関数値の潜在的な真の対の位置と共に示す。
【図８】本発明の一実施態様によるタンデム質量分析計を例示する。
【図９】図９ＡおよびＢは、本発明の校正方法を、高運動エネルギー解離を実施するタンデム飛行時間型質量分析計に適用する際の、既知の分子に対する一次質量スペクトル、およびこれらの一次質量ピークの一つによりイオンを選択した後に発生した解離スペクトルの一例を示す。
【図１０】本発明の校正方法を、高運動エネルギー解離を使用するタンデム飛行時間型質量分析計に適用する際の、選択された質量-対-電荷比を有する二重に帯電した既知の一次イオンの相関線を、二次元的スペクトルの平面内で、例示する。
【図１１】本発明の方法をタンデム飛行時間型質量分析計に適用する際の、通常周波数ｆより高い周波数ｆ'におけるイオン束をパルス化する場合の、低運動エネルギーで同様の質量-対-電荷比で解離する二重に帯電した一次イオンから来る解離フラグメントの対を確認する、４つの異なった例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００３９】
第一に、「多帯電したイオン」とは、正または負の電荷を有し、電荷の絶対値が２以上であり、解離した時、絶対値が1以上である正または負の電荷を有する帯電フラグメントの多重組を発生することができるイオンを意味する。
【００４０】
特に図１に関して、本発明の方法は、好ましくは多帯電した一次イオンを、帯電フラグメントの対を含んでなるフラグメントの多重組、帯電フラグメントの三重組、または帯電フラグメントの対と質量が既知である中性フラグメントから構成されたフラグメントの三重組に解離させることを目的とする。しかし、より一般的には、本発明を、帯電フラグメントの対および帯電フラグメントの対と質量が既知である中性フラグメントを含んでなるフラグメントの三重組に加えて、少なくとも３個のフラグメントを含んでなる帯電フラグメントの多重組および少なくとも３個の帯電フラグメントと質量が既知である中性フラグメントを有する帯電フラグメントの多重組を含んでなるフラグメントの多重組を発生する、あらゆる解離チャネルで実行することが可能である。
【００４１】
この実施方法では、分析すべきイオンに対する質量-対-電荷比の既知の特徴的な関数を有するどのような質量分析計で行っても、第一工程は、確認または研究すべき分子から得られる多帯電イオンに対する一次質量スペクトルを供給することを含んでなる。
【００４２】
この一次質量スペクトルは、データベース、例えばその一次質量スペクトルが予め中に保存されている第三者のデータベース、から読み取ることにより、得ることができる。
【００４３】
この一次質量スペクトルは、図1に例示する工程（ａ）および（ｂ）を実行することによっても得ることができる。
【００４４】
工程（ａ）で、確認すべき分子を、多帯電イオンの供給源1中でイオン化し、実質的に一定の電場で加速し、一次イオン供給源を与える。
【００４５】
次いで、工程（ｂ）で、一次イオンを質量分析計３の中に注入し、解離を行わずに、該一次イオンの一次質量スペクトルを発生させ、該スペクトルは、特徴的な関数値の測定に続いて得た一次イオンピーク出現を含む。
【００４６】
質量分光測定の当業者(限定するものではないが)により従来から使用されている提示グラフでは、一次質量スペクトルは、一般的に、特徴的な関数値が横軸に、対応する出現が縦軸にある２つの直交する軸で示される。
【００４７】
ついで、工程（ｃ）で、この一次質量スペクトルを使用し、各一次質量ピークに対して、一次質量ピークの出現の極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）、一次質量-対-電荷比Ｍ／Ｑおよびイオンの一次電荷Ｑを決定する。
【００４８】
当業者は、使用する質量分析計の通常の一次校正を、既知の分子で、予め行うことにより、各一次質量ピークに対応する一次イオンの各一次質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの値を決定することができる。
【００４９】
当業者は、質量分光測定で通常使用されている確認技術で、各一次質量ピークに対応する多帯電一次イオンの電荷Ｑを決定することもできる。
【００５０】
図３は、一次イオンの、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１、Ｍ２/Ｑ２およびＭ３/Ｑ３および一次質量ピークのそれぞれに対する出現の極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）をそれぞれ有する３個の一次質量ピークを含む一次質量スペクトルの例を示す。
【００５１】
ピークに関連する特徴的な関数値および電荷値から、一次質量ピークに関連する一次イオンの解離から来そうな帯電フラグメントの多重組に対応する特徴的な関数値の全ての可能な多重組を与える相関法則が決定される。
【００５２】
フラグメントの対に解離する多帯電一次イオンに対して、本発明の方法を実行することにより、ただ一つの解離チャネルを検出することができ、それは、一次イオンの、帯電フラグメント対への解離である。
【００５３】
一次質量Ｍと、帯電フラグメントの可能な質量対ｍｉ、ｍｊとの間の関係は、
Ｍ＝ｍｉ＋ｍｊ
である。
【００５４】
一次電荷Ｑと、帯電フラグメントの可能な電荷対ｑｉ’、ｑｊ’との間の関係は
Ｑ＝ｑｉ’＋ｑｊ’
である。
【００５５】
一次質量ピークあたりの相関法則の数は、解離した帯電フラグメント対の間に、一次イオンの一次電荷Ｑが分布する可能性の数に等しい。
【００５６】
例えば、Ｑ１＝２ｅに対して、帯電フラグメントの対、即ち
ｑｉ’＝ｅ、ｑｊ’＝ｅ
の間に電荷が分布する可能性はただ一つである。
【００５７】
Ｑ２＝３ｅでは、帯電フラグメントの対間に電荷が分布する二つの可能性、即ち
ｑｉ’＝ｅ、ｑｊ’＝２ｅ、および
ｑｉ’＝２ｅ、ｑｊ’＝ｅ
があり、従って、二つの対応する相関法則がある。
【００５８】
Ｑ３＝４ｅでは、帯電フラグメントの対間に電荷が分布する三つの可能性、即ち
ｑｉ’＝ｅ、ｑｊ’＝３ｅ、
ｑｉ’＝３ｅ、ｑｊ’＝ｅ、および
ｑｉ’＝２ｅ、ｑｊ’＝２ｅ
があり、従って、三つの対応する相関法則がある。以下、同様である。
【００５９】
低運動エネルギー解離(上記参照)の場合、解離帯電フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に依存するが、親一次イオンの質量-対-電荷比には依存せず、解離フラグメントの質量-対-電荷比に比例する。
【００６０】
従って、同じ質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有し、帯電フラグメントの対に解離する一次イオンに関連する一次質量ピークのそれぞれの電荷ｑｉ’、ｑｊ’の各対に対応するそれぞれの相関法則は、常に、解析的に、下記式：
【数８】
ここで、下記式
【数９】
により表される。
【００６１】
従って、一次質量スペクトルの一次質量ピークに対応する各相関法則は、本発明の方法により、一次電荷値および一次質量ピーク出現の極大における特徴的な関数値に基づいて決定することができる、即ち
一次電荷Ｑの決定により、可能な電荷ｑｉ’、ｑｊ’の各多重組を決定することができ、
出現の極大における特徴的な関数値の決定により、式(２)を使用し、各相関法則の各Ｆ(Ｍ／Ｑｉ’)値を決定することができる。
【００６２】
フラグメントの三重組に解離する多帯電一次イオンでは、本発明の方法を実行することにより、二つの解離チャネルを検出することができ、これは、一次イオンの、帯電フラグメントの三重組への解離、または帯電フラグメントの対および既知質量を有する中性フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの三重組への解離である。
【００６３】
中性フラグメントをさらに含んでなるフラグメントの三重組から来る帯電フラグメントの解離対を形成する解離チャネルに関して、対応する相関法則は、中性フラグメントの質量が既知である場合にのみ決定することができる。
【００６４】
一次質量Ｍと、帯電フラグメント(ｍｉ、ｍｊ)の可能な質量三重組(ｍｉ、ｍｊ、ΔＭ)と、中性フラグメント(ΔＭ)の間の関係は、
Ｍ＝ｍｉ＋ｍｊ＋ΔＭ
である。
【００６５】
一次電荷Ｑと、帯電フラグメントの可能な電荷対(ｑｉ’、ｑｊ’)との間の関係は、
Ｑ＝ｑｉ’＋ｑｊ’
である。
【００６６】
その場合、中性フラグメントの各可能な質量に対する一次質量ピークあたりの相関法則数は、同じ一次電荷Ｑに対して、帯電フラグメント対への可能な解離チャネルの数と等しい。
【００６７】
この解離チャネルを通して発生する中性フラグメントの様々な可能な質量のほとんどは、実際には当業者に公知である。例えば、確認すべき分子がペプチドである場合、中性フラグメントは、通常、Ｈ２Ｏ、ＣＯまたはＮＨ３分子である。他の可能な分子は、特にデータベースから決定することができるか、または当業者には公知である。
【００６８】
従って、ΔＭが、中性フラグメントの可能な既知の質量として示される場合、帯電フラグメントと、各可能な値ΔＭに対応する既知の質量を有する中性フラグメントとの対を含んでなるフラグメントの三重組への解離チャネルの相関法則は、質量Ｍおよび電荷Ｑを有する一次イオンに対する帯電フラグメント対への解離チャネルに関して、(Ｍ-ΔＭ)をＭに置き換えることにより得た、前の相関法則（１）および（２）により、決定される。
【数１０】
ここで、
【数１１】
【００６９】
質量Ｍおよび一次電荷Ｑを有し、それぞれの質量-対-電荷比{(ｍｉ/ｑｉ')、(ｍｊ/ｑｊ')、(ｍｋ/ｑｋ')}の帯電フラグメントの三重組に解離する多帯電イオンの場合、一次質量Ｍと帯電フラグメントの可能な質量三重組、ｍｉ、ｍｊ、ｍｋの間の関係は、
ｍｉ＋ｍｊ＋ｍｋ＝Ｍ
である。
【００７０】
一次電荷Ｑと帯電フラグメントの可能な電荷三重組(ｑｉ'、ｑｊ'、ｑｋ')の間の関係は、
ｑｉ'＋ｑｊ'＋ｑｋ'＝Ｑ
である。
【００７１】
帯電フラグメント対への解離の場合と同様に、中性フラグメントの各可能な質量に対する一次質量ピークあたりの相関法則数は、同じ一次電荷Ｑに対して、帯電フラグメント三重組への可能な解離チャネルの数と等しい。
【００７２】
電荷Ｑ＝３ｅを有する多帯電親一次イオンの例では、三重組の解離帯電フラグメント間にただ一つの可能な電荷配分、即ち
ｑｉ'＝ｑｊ'＝ｑｋ'＝ｅ
その結果、ただ一つの相関法則があることが分かっている。
【００７３】
無論、この推論は、4ｅ以上の一次電荷を有する、帯電フラグメントの全ての多重組に適用できる。
【００７４】
低運動エネルギー解離の場合、３個の解離帯電フラグメントｑｉ'、ｑｊ'、ｑｋ'のそれぞれの可能な電荷配分に対応する各相関法則は、帯電フラグメントの対の場合と同様に、一次式：
【数１２】
ここで
【数１３】
により、決定することができる。
【００７５】
無論、この推論は、少なくとも３個の帯電フラグメント、または少なくとも３個の帯電フラグメントおよび既知の質量を有する中性フラグメントを含んでなるフラグメントの全ての三重組に適用できる。しかし、これは、当業者が前の例を使用してそのような一般化を行うことができるので、詳細には説明しない。
【００７６】
ここで、本発明の方法の実行に戻り、工程（ｄ）で、多帯電一次イオンを、解離装置２により解離させ、多帯電一次イオンのそれぞれに対して帯電フラグメントの多重組を得る。
【００７７】
工程（ｅ）では、解離帯電フラグメントを質量分析計３の中に注入し、出現(またはイオン電流強度)に対する特徴的な関数値を、イオン検出器4により検出した解離帯電フラグメントに対して測定する。
【００７８】
次いで、この値に基づいて、一次質量選択を行わずに、一次質量スペクトルの親一次イオンの各解離スペクトルの全ての質量解離ピークを含んでなる解離質量スペクトル（ＭＳ−ＭＳ）を発生させる。
【００７９】
従って、一次質量スペクトルの一次質量ピークに対応する幾つかの質量解離スペクトルの質量解離ピークは、一次質量選択を行わずに発生させた質量解離スペクトル中に混合されている。
【００８０】
この分野における専門家に対する従来のグラフ表示では、限定はしないが、各解離質量スペクトルを、確認された特徴的な関数値が横軸に、対応する出現が縦軸にある２つの直交する軸で示される。
【００８１】
図４は、図３に示す３個の一次質量ピークの帯電フラグメント対への解離チャネルにのみ対応する、解離ピークを含む解離質量スペクトル（ＭＳ−ＭＳ）を例示する。
【００８２】
実際、一次イオンの解離は、
問題とする他の可能な解離チャネルにより発生した、本発明の方法(例えば帯電フラグメントの三重組への解離、および帯電フラグメントの対および既知質量を有する中性フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの三重組への解離)により確認できる帯電フラグメント、および
本発明の方法により確認できない解離ピーク(例えば中性および帯電フラグメントの対への解離に対応する解離ピーク)
をさらに発生することが分かる。
【００８３】
従って、解離質量スペクトルは、確認できる解離質量ピークに加えて、他の可能な解離チャネルに対応する確認できない質量解離ピークを、解離していない一次イオンピークの一次質量ピークと共に含む。しかし、確認し得る解離ピーク以外の、問題とする解離ピーク、および解離していない一次質量ピークは、本発明の方法により発生する最終的な解離スペクトルから排除することができる。
【００８４】
その場合、質量解離ピークの解離ピークのそれぞれの極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）は、出現に対して発生した特徴的な関数値に基づいて決定される。
【００８５】
図４の例に関して、解離スペクトルは、7対の解離ピークに対応する１４個の質量解離ピークを含んでなり、各解離ピーク対は、同じ質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有する同等の一次イオンの解離から来る帯電フラグメントの対に関連する。解離帯電フラグメントに対する極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における１４個の特徴的な関数値の中の４個を示す。
【００８６】
工程（ｆ）で、測定された、解離帯電フラグメントに対する極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）から、該特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組が形成される。
【００８７】
工程（ｇ）で、該値の潜在的な多重組の中から、解離帯電フラグメント(一次質量ピークのそれぞれに対して同じ質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有する同等の一次イオンの解離から来る)の多重組に関連する解離ピークの真の多重組に対応する、特徴的な関数値の真の多重組は、値の潜在的な多重組を、各一次質量ピークの相関法則により決定される値の可能な多重組と比較することにより、確認される。
【００８８】
本発明により、この確認工程（ｇ）では、出現の極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）の潜在的な多重組の中から、可能な値の多重組に対する近接基準に適合する多重組を選択し、該多重組は、一次質量スペクトルの各一次質量ピークの相関法則により与えられる。
【００８９】
近接基準精度は、一次イオンに対する極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）の精度、この精度は対応する特徴的な法則の精度を決定する、と少なくとも実質的に等しく、潜在的な真の多重組値の精度を決定する解離帯電フラグメントに対する極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）測定の精度に近い精度を決定する。
【００９０】
一次イオンの極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）および帯電フラグメントの極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における特徴的な関数値の精度は、対応する質量ピークの分解能によって異なる。
【００９１】
最後に、工程（ｈ）で、親一次イオンのそれぞれに対応し、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる各質量解離スペクトルを発生する。
【００９２】
上記のように、本発明の好ましい実行方法により、工程（ｄ）から、分析すべき一次イオンの全てに対して、一次質量選択を行わずに、本方法を実行する。
【００９３】
従来から当業者により使用されているグラフによる表示では、各質量解離ピークを、測定された特徴的な関数値が横軸に、対応する出現が縦軸にある、２つの直交する軸で示される。
【００９４】
図５は、本発明を制限しない例として、図4の一次質量選択を行わない質量解離スペクトルにより得た、図３の３個の一次質量ピークの３種類の質量解離スペクトルを例示する。
【００９５】
上記の工程（ｇ）を説明するために、好ましい実行方法を、低運動エネルギーにおける帯電フラグメント対への解離チャネルの場合で、グラフ表示を通した推論により、説明する。
【００９６】
しかし、当業者には明らかなように、これは、他の多くの様式の中で、とりわけ、この工程の原理を例示し、本発明のデジタル処理を行う様式を理解することを目的とする、代表的な一例に過ぎない。
【００９７】
本方法の工程（ｇ）は、下記の小工程を含んでなる。
【００９８】
先ず、二次元的スペクトルの発生から始めて、帯電フラグメントの対に解離する各一次イオンから得られる特徴的な関数値の各真の対を、全ての測定される特徴的な関数値の潜在的な対の中から確認する。
【００９９】
このスペクトルは、検出されたフラグメントの質量解離ピーク出現の極大における特徴的な関数の測定をそれぞれ示す、２つの同等の第一次元を有する。
【０１００】
グラフ表示で、２つの次元は、好ましくは互いに直交する２本の軸に対応する。
【０１０１】
二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}では、各相関法則は、相関線によって表され、平面内におけるその位置および形態は、先行する工程（ｃ）で決定された該相関法則により決定される。
【数１４】
ここで
【数１５】
帯電フラグメントの対に解離する２ｅの電荷を有する多帯電イオンに関して、相関法則は、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}における直線により表される。
【０１０２】
次いで、各飛行時間対{Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)、Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)}の値を有する各相関直線を平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}中に引くことができる。
【０１０３】
各対{Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)、Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)}は、平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}の２軸のそれぞれの上の２個の位置、即ち下記式：
【数１６】
の相関直線の、軸Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)上のＦｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)および軸Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)上のＦｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)により規定される。
【０１０４】
従って、二次元的スペクトルの、平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある、各相関法則に対応する各相関直線は、それぞれの軸上に位置する２点Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)およびＦｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)を直線で結ぶことにより、容易に決定される。
【０１０５】
従って、電荷qｉ’、qｊ’の各対に対応する各相関直線の特徴的な関数値{Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)、Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)}は、出現極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における特徴的な関数値により、対応する質量ピークの一次電荷Ｑにより、
【数１７】
から決定することができる。
【０１０６】
図６は、本発明を制限しない例として、低運動エネルギーで解離する多帯電イオンに関して、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある、一次電荷Ｑ'１＝２ｅ、Ｑ'２＝３ｅ、およびＱ'３＝４ｅ、の一次質量ピークに対応する相関法則により決定される相関直線を示す。
【０１０７】
図３の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある相関直線の、一次電荷Ｑ'１＝２ｅの一次質量ピークの相関法則に対応する式は、
【数１８】
である。
【０１０８】
図６の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある２本の相関直線の、一次電荷Ｑ'２＝３ｅの一次質量ピークの二つの相関法則に対応する式は、
【数１９】
である。
【０１０９】
図６の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある３本の相関直線の、一次電荷Ｑ'３＝４ｅの一次質量ピークの三つの相関法則に対応する式は、
【数２０】
である。
【０１１０】
それぞれの潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}は、二次元的スペクトル中の出現位置Ｐｒｓに関連する。
【０１１１】
その場合、それぞれの潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}に、対称的な潜在的対{Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)、Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)}が対応する。二つの対称的な潜在的対には、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある出現位置(Ｐｒｓ、Ｐｓｒ)の対が対応する。
【０１１２】
その場合、それぞれの真の対{Ｆｍａｘ(ｍｔ／ｑｔ’)、Ｆｍａｘ(ｍｕ／ｑｕ’)}は、二次元的スペクトル中の対応する出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)の対が、特定の閾より小さい距離で、相関直線の近くに通過する正当性を有する対を維持することにより、潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}の中から確認される。
【０１１３】
ここで、距離閾基準は調節できるのが有利であることが分かる。
【０１１４】
該距離閾の精度は、一次イオンに対して測定された極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における特徴的な関数値の、対応する相関直線の精度を決定する精度に少なくとも近く、解離帯電フラグメントに対する極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）で測定された特徴的な関数値の、二次元的スペクトルにおける潜在的な真の出現の精度を決定する精度に近い。
【０１１５】
図７は、本発明を制限しない例として、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}を示し、そこでは、図３に示す一次質量スペクトルの３本の相関直線が位置しており、これらの相関直線は、二重帯電一次イオンの３個の一次質量ピークの相関法則に対応し、これらの二重帯電一次イオンは、それぞれＭ１／Ｑ１、Ｍ２／Ｑ２およびＭ３／Ｑ３に等しい質量-対-電荷比を有する単一帯電フラグメントの対に直接解離する。
【０１１６】
この例示では、説明を簡単にするために、図４の１４個の解離ピークの中から、２個の真の対に対応する4個の値{Ｆｍａｘ(Ｍ１／Ｑ１’)、Ｆｍａｘｍ４／ｑ４’)}{Ｆｍａｘ(Ｍ２/Ｑ２’)、Ｆｍａｘ(Ｍ３/Ｑ３’)}だけを示す。
【０１１７】
これらの４個の値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）は、図７の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}における潜在的な対に対応する、交差点で表す１６個の異なった出現位置Ｐｒｓを決定する。
【０１１８】
図４の１４個の解離ピークに対応する１４個の値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）を図７上に示す場合、１９６個の出現位置が決定されるであろう。
【０１１９】
質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１を有する一次イオンに対応する相関直線に最も近い潜在的な出現位置の対は対(Ｐ１４、Ｐ４１)であることが分かる。
【０１２０】
これらの位置Ｐ１４、Ｐ４１は、事実、該相関線の上またはすぐ近くにある。
【０１２１】
従って、位置の対(Ｐ１４、Ｐ４１)に対応する対{Ｆｍａｘ(Ｍ１／Ｑ１’)、Ｆｍａｘｍ４／ｑ４’)}は、図３の例における質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１を有する一次質量ピークの解離ピークに属する解離ピークの対の一つであると確認される。
【０１２２】
対照的に、潜在的な位置の他の対と、この相関線との間の距離は、決定された距離閾より大きいので、潜在的な位置の他の対は、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１を有する一次質量ピークの解離スペクトルの解離ピークの対からは来ないと考えられる。
【０１２３】
ところで、質量-対-電荷比Ｍ２／Ｑ２を有する一次イオンに対応する相関直線に最も近い潜在的な出現位置の対は対(Ｐ２３、Ｐ３２)である。
【０１２４】
従って、位置の対(Ｐ２３、Ｐ３２)に対応する対{Ｆｍａｘ(Ｍ２/Ｑ２’)、Ｆｍａｘ(Ｍ３/Ｑ３’)}は、図３の例における質量-対-電荷比Ｍ２／Ｑ２を有する一次質量ピークの解離スペクトルに属する解離ピークの対の一つであると確認される。
【０１２５】
潜在的な位置の他の対と、相関線との間の距離は、決定された距離閾に対して重要過ぎるので、潜在的な位置の他の対は、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１、Ｍ２／Ｑ２またはＭ３／Ｑ３を有する一次イオンのどの解離からも来ないと考えられる。
【０１２６】
確認される２個の真の出現対(Ｐ１４、Ｐ４１)および(Ｐ２３、Ｐ３２)を、図７で丸で囲んだ交差点により示す。
【０１２７】
この説明を簡単にするために、図４および７に例示する上記の例は、帯電フラグメントの対に解離する親一次イオンの解離ピークだけを含んでなる。
【０１２８】
無論、実際には、質量選択を行わずに得られる解離スペクトルは、多帯電一次イオンの他の可能な解離チャネルから得られる確認できる、および確認できない解離ピークを与える質量ピーク、ならびに解離しなかった多帯電イオンの一次質量ピークも含む。これらの解離ピークは、説明を簡単にしない。
【０１２９】
それにも関わらず、質量解離スペクトルの一次質量ピークは、一次質量スペクトルを使用することにより、実際に排除することができる。
【０１３０】
さらに、解離ピークのセットは、事実上の潜在的な多重組をさらに発生する。これらのほとんどは、真の多重組の確認基準により排除されるが、それらの幾つかは、受け容れられ、誤認される多重組、従って、本発明の方法により発生した解離スペクトルにおける質量解離ピークの誤った多重組を発生ることがある。
【０１３１】
しかし、当業者は、既知のデータベースにより、誤った多重組の質量を、親イオンの測定した質量に対応する、理論的または実験的に可能な解離チャネルのフラグメントの多重組の質量と比較することにより、該誤った質量解離ピークを排除することができる。
【０１３２】
上記のグラフを用いた方法は、帯電フラグメントの対を発生する解離チャネルに関して説明したが、明らかに、３個以上のフラグメントを含んでなる帯電フラグメント多重組、例えば三重組、を発生する解離チャネルにも実行できる。
【０１３３】
三重組の場合、本発明を制限しない例により、上記の二次元的スペクトルの代わりに三次元的スペクトルを使用する。該三次元的スペクトルは、３本の同等の軸を含んでなり、それらの軸のそれぞれが、一次質量選択を行わずに得た解離スペクトルの解離ピークの出現極大における解離帯電フラグメントの特徴的な関数の測定値を表す。
【０１３４】
好ましくは、これらの３軸は、互いに直角である。
【０１３５】
前に説明した二次元的スペクトル中で確認される各潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}に対応する各出現位置Ｐｒｓの等価物は、三次元的空間における、確認される各潜在的な{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)、Ｆｍａｘ(ｍｖ／ｑｖ’)}三重組に対応する、出現位置Ｐｒｓｖである。
【０１３６】
その場合、帯電フラグメントの三重組への解離チャネルに対応する各相関法則には、式
【数２１】
ここで
【数２２】
を有する三次元的スペクトルの空間における相関平面が対応する。
【０１３７】
従って、三次元的スペクトルにおける各位置Ｐｕｔｗに対応する各真の三重組は、前に説明した二次元的な場合と同様に、該相関空間に対する距離閾基準により、位置の潜在的な三重組の中で、確認される。
【０１３８】
本発明の方法は、帯電フラグメントの対、帯電フラグメントの三重組、既知の質量を有する中性フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの三重組、ならびに少なくとも３個の帯電フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの多重組、および少なくとも３個の帯電フラグメントおよび既知の質量を有する中性フラグメントを含んでなるフラグメントの多重組に実行できる。その場合、可能な多重組の最大数としてNを指定すると、そのような多重組に対する相関法則は、N-1に等しい次元を有する空間である。
【０１３９】
前に説明したように、本発明の方法により、単一の取得で、質量選択を行わずに、一次質量スペクトルの全ての一次質量ピークに対応する全ての質量解離スペクトルを同時に発生させることができる。
【０１４０】
解離質量スペクトルを得ようとする問題とする質量ピークが、工程（ｂ）で得られる一次質量ピークセットの一部に過ぎない場合もある。さらに、一次質量ピークの数が多い程、解離ピークの数も多くなり、従って、確認される解離ピークの誤った多重組の数も多くなる。
【０１４１】
図８に示すように、イオン供給源１と解離装置２との間に配置された装置５を使用し、一次イオンを解離装置２に注入する前に、問題とする一次ピークを同時に選択し、他を排除することができる。その場合、本発明の方法により、解離スペクトルのセットを同時に発生させ、確認される解離ピークの誤った多重組の数を少なくすることが可能である。
【０１４２】
上記の装置５は、全ての選択した一次質量ピークの確認すべき解離ピークを含む、幾つかの問題とする一次質量ピークを同時に含んでなる大きな質量帯域を選択する、四重極型質量分析計でよい。この種の装置５により、誤って確認される解離ピークの数を少なくすることができるが、各取得で、問題とする一次質量ピークの一部しか選択できず、問題とする解離ピークの全てを発生させるには、幾つかの解離スペクトルを発生させる必要がある。
【０１４３】
対照的に、装置５としてイオントラップを使用することにより、問題とする一次質量ピークのセットを選択すると共に、確認される解離ピークの誤った多重組の数を少なくすることができる。この実施態様では、当業者には公知のように、イオン供給源１により発生したイオンは、イオントラップ５の中に保存され、次いで、イオントラップ５の内側に可変電圧を印加することにより、トラップの外に放出され、質量-対-電荷比との関係で解離装置２に向かう。例えば可変電圧にかけられ、イオントラップ５の出口に配置された一対の反らせ板から製造された装置は、放出された、重要ではない一次イオンを偏向させ、問題とする一次質量ピークに対応する一次イオンだけを通過させる。
【０１４４】
上記のように、本発明を、相関線を含む二つの次元(特徴的な関数値の対)による二次元的空間を使用することにより、図式的な手法により説明した。
【０１４５】
しかし、無論、本発明の具体的な実行は、典型的には、適切なプログラムを実行するデジタルコンピュータ、例えばＤＳＰ(「デジタル信号プロセッサー」を意味する)、により達成される。
特に、相関法則は、典型的には数値データ(例えば低運動エネルギー解離の場合、等式（１）、(３)、（５）、または座標のセット)であり、それらのデータを、分光計により発生し、コンピュータに供給される数値的な特徴的な関数データと比較する。
【０１４６】
より実際的には、本発明は、既存の質量分光測定装置に追加し、この装置の他のソフトウエアとインターフェースさせ、大部分、相関法則データを確立し、特徴的な関数データを集め、そのデータをこれらの相関法則データと比較する、ソフトウエアモジュールの形態で実施することができる。
【０１４７】
いずれにせよ、当業者には明らかなように、一次質量スペクトルの形成、および帯電フラグメントの多重組に解離する多帯電一次イオンから得られる解離スペクトルの形成により、研究する分子を確認する可能性が得られる。
【０１４８】
本発明の方法の、タンデム飛行時間型質量分析計への応用
ここで、本発明の、一次質量選択を行わない、飛行時間型分光計による、多帯電イオン用タンデム質量分光測定の方法および装置を説明する。
【０１４９】
飛行時間型質量分光測定では、イオンの解離工程を、上記の説明のように低運動エネルギーで、または高運動エネルギーで行う。その違いの一つは、低運動エネルギーでは、帯電フラグメントに関する特徴的な関数、ここでは飛行時間型の２乗、が、分析すべきイオンの質量-対-電荷比に比例する(この関数は、帯電フラグメントの質量-対-電荷比に依存するが、一次イオンの質量-対-電荷比には依存しない)のに対し、高運動エネルギーでは、その関数が、帯電フラグメントの質量-対-電荷比に、および親一次イオンの質量-対-電荷比に依存することである。
【０１５０】
従って、質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの高運動エネルギーで解離する帯電フラグメントの飛行時間は、一般的に式
【数２３】
を有し、ここで
【数２４】
は、解離前の質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの親一次イオンの速度であり、
【数２５】
は、帯電フラグメントの質量-対-電荷比Ｍ／Ｑに、親一次イオンの質量比Ｍ／Ｑに、および使用する飛行時間型質量分析計に依存する関数である。
【０１５１】
それにも関わらず、
【数２６】
は、一般的に
【数２７】
の、Ｇ'が帯電フラグメントの質量-対-電荷比Ｍ／Ｑには依存しない関数であろう式で表すことはできない。
【０１５２】
その結果、本発明の方法を、飛行時間型質量分析計で、高運動エネルギーでも実行するためには、別の手段が必要である。
【０１５３】
従って、本発明の方法による高運動エネルギーでの解離の場合、未知の分子に関する相関法則を決定するには、この場合、一般的に、使用する飛行時間型質量分析計に対して、既知の一次質量および解離スペクトルを有する分子で、特殊な予備校正をさらに行う必要がある。
【０１５４】
無論、校正は、上に詳細に説明した解析式を使用する代わりに、低運動エネルギーにおける解離で実行することもできる。
【０１５５】
この校正は、一次質量選択装置(しかし、これは、前に説明したように、問題とする一次ピークの同時選択を除いて、適切な分光法を実行するのに必要ではない)を使用し、下記の準工程で行うのが好ましい。
【０１５６】
工程（ｄ１）で、既知分子の一次質量スペクトルを発生させる。
【０１５７】
次いで、工程（ｄ２）で、この一次質量スペクトルにおける一次質量ピークを選択し、選択された質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの一次イオンを解離させる。
【０１５８】
工程（ｄ３）で、類似の質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有する選択された一次イオンを解離させる。
【０１５９】
工程（ｄ４）で、選択された一次イオンの解裂から来る解離フラグメントの解離質量スペクトルを発生させる。
【０１６０】
工程（ｄ５）では、得られた既知の解離質量スペクトルで、帯電フラグメントの多重組への解離に対応するピークの多重組を確認する。
【０１６１】
工程（ｄ６）で、確認された質量解離ピークの各多重組に属する各質量解離ピークの出現極大における飛行時間ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）測定を決定する。
【０１６２】
工程（ｄ７）で、それぞれの可能な電荷多重組に対して、この電荷多重組を満足させ、質量-対-電荷比Ｍ／Ｑに、一次電荷Ｑに、および選択された一次質量ピークの出現極大における飛行時間ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）に対応する相関法則のそれぞれを、確認された飛行時間多重組ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）で決定する。
【０１６３】
工程（ｄ８）で、先行する工程を、既知分子の一次質量スペクトルの選択された一次質量ピークのそれぞれに対して繰り返す。
【０１６４】
次いで、未知分子の一次質量ピークに関する相関法則を、既知分子の一次質量ピークの相関法則に基づいて決定することができる。
【０１６５】
無論、この校正は、どのような一次質量分析計ででも、その質量分析計の特徴的な関数を、上記準工程における飛行時間に置き換えることにより、実行することができる。
【０１６６】
既知分子の一次質量スペクトルの各一次質量ピークに対応する解離ピークの多重組を、全ての一次質量ピークの全ての解離ピークが混合されている場合に得られる解離スペクトル中で確認できるという条件で、先行する校正を一次質量選択を行わずに実行することができる。
【０１６７】
ここで本発明の方法の実行に戻り、工程（ｄ）で、多帯電一次イオンを解離装置２で解離させ、それぞれに対して、帯電フラグメントの多重組を得る。
【０１６８】
低運動エネルギーにおける解離の場合、一次イオンは、イオン束をパルス化し、使用する質量分析計の飛行時間空間３に向けて加速する前に、解離されている。
【０１６９】
ここで、高運動エネルギーにおける解離の場合、一次イオンは、一次イオンの加速およびパルス化の後で、飛行時間空間３の中で解離される。
【０１７０】
本発明の一実施態様では、該相関法則を決定する工程は、解離フラグメント、ここでは解離フラグメントの飛行時間、に対する特徴的な関数値を発生する工程の前または後に行うことができる。
【０１７１】
工程（ｅ）で、各イオン束パルスで帯電フラグメントの飛行時間ＴＯＦ（Ｍ／Ｑ）を、少なくとも一個のイオン検出器4で測定する。
【０１７２】
ここで、好ましい態様により、検出器は、飛行時間だけを測定できる種類の検出器である。
【０１７３】
つまり、位置を測定する必要は無い。
【０１７４】
事実、本発明の好ましい方法による分光法は、有利なことに、フラグメントの飛行時間に関する情報だけを必要とし、位置測定を省略できることが分かる。
【０１７５】
しかし、別の実施方法では、飛行時間および位置の両方を測定する検出器を使用することもできる。
【０１７６】
工程（ｆ）〜（ｈ）は、前に説明した飛行時間型質量分析計で行うことができるので、さらに説明はしない。
【０１７７】
それにも関わらず、飛行時間型質量分析計の場合、本発明の方法を変えずに、本発明の方法の工程（ｆ）〜（ｈ）を、取得の後ではなく、各イオン束パルスで実行し、一次質量選択を行わずに、特定系列のイオン束パルスを累積することにより、解離スペクトルを発生させることもできる。
【０１７８】
本発明のこの実施では、工程（ｆ）は、各イオン束パルスの後、一次イオンの測定された飛行時間の各潜在的な多重組を形成する。
【０１７９】
次いで、工程（ｇ）で、特に該潜在的な多重組から、該相関法則に対する近接基準に適合する多重組を各イオン束パルスの後で確認し、親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する。
【０１８０】
最後に、各イオン束パルスの後で、各一次質量ピークに対応する各解離スペクトルの真の確認された飛行時間多重組を累積することにより、確認された帯電フラグメントの真の飛行時間多重組を含む各一次質量ピークに対応する各解離質量スペクトルを発生する。
【０１８１】
上記の工程（ｆ）〜（ｈ）を説明するために、その好ましい実施方法をここで、帯電フラグメント対への解離チャネルの場合で、グラフ表示による推論により、説明する。
【０１８２】
しかし、当業者には明らかなように、これもやはり、特にこの工程の原理を例示し、本発明のデジタル処理を行う方法を理解することを目的とする、他の多くの方法の中の一例に過ぎない。
【０１８３】
工程（ｆ）で検出したイオンに対する飛行時間測定の、全ての潜在的な多重組の形成に続いて、各イオン束パルスの後で、特に測定した全ての潜在的な飛行時間対から、帯電フラグメントの対に解離した各一次イオンから得られる各真の飛行時間対を、工程（ｇ）で、前に説明した種類の二次元的スペクトルの発生から始まり、確認する。
【０１８４】
二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で、各相関法則を相関線により表すが、該相関線の、平面中の位置および形態は、先行する工程（ｃ）で決定された対応する相関法則により決定される。
【０１８５】
無論、二次元的スペクトルの平面における２本の同等の軸は、飛行時間測定を直接代表する代わりに、飛行時間測定のバイユニボーカル関数(biunivocal function)、例えば二乗した飛行時間測定{ＴＯＦ２ｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦ２ｓ（Ｍ／Ｑ）}、を代表することもでき、本発明の方法を変化させるものではない。
【０１８６】
低運動エネルギーにおける一次イオン解離の場合、各相関法則
【数２８】
は、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦ２ｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦ２ｓ（Ｍ／Ｑ）}中にある直線の等式を有する。
【０１８７】
高運動エネルギーにおける一次イオン解離の場合、校正の工程（ｄ８）を、図式的に示す下記の準工程で、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における各相関法則に対応する各相関線を形成することにより、実行することができる。
【０１８８】
二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の各軸上に、既知分子の確認された解離ピークの各対に対する出現極大における各飛行時間ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）を配置する。
【０１８９】
次いで、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で、確認された解離ピークの各対に対する出現極大における飛行時間{ＴＯＦｍａｘ(Ｍ１／Ｑ１)、ＴＯＦｍａｘ(Ｍ２/Ｑ２)}の各対に対応する各出現位置を決定する。
【０１９０】
最後に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で、確認された飛行時間対の位置の一般的な近傍で通過する特性を有する可能な電荷の対(ｑ１、ｑ２)のそれぞれに対応する、この電荷対を満足する各相関線を決定する。
【０１９１】
図９Ｂは、本発明を制限しない例として、帯電フラグメントの対に解離させるチャネルに対応する解離ピークだけを含む解離スペクトル（ＭＳ−ＭＳ）を示すが、このスペクトルは、図９Ａで、質量-対-電荷比がＭ３/Ｑ３である既知の一次質量ピークを選択した後に得ることができる。
【０１９２】
無論、実際には、解離スペクトルは他の可能な解離チャネルから得られる帯電フラグメントに対応する質量のピークも含む(例えば中性フラグメントおよび帯電フラグメントの対への、さらには３個以上のフラグメントへの解離から来る)。これらの解離ピークは、説明を簡単にしない。
【０１９３】
この例では、解離スペクトルが、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１、Ｍ２/Ｑ２、Ｍ３/Ｑ３、ｍ４/ｑ４、ｍ５/ｑ５、およびｍ６/ｑ６にそれぞれ対応する６個の解離質量ピークを包含することが分かる。
【０１９４】
これらの異なった解離ピークの出現極大における飛行時間も分かる。
【０１９５】
本発明を制限しない例として、図１０は、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における、これらの異なった解離ピークの出現極大で確認された飛行時間の位置Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、およびＦを結ぶことにより、図式的に得られる相関線Lを示す。
【０１９６】
測定された全ての潜在的な飛行時間対の中で、帯電フラグメントの対に解離する各一次イオンから生じる各真の飛行時間対が、工程（ｇ）で、発生するイオン束の各パルス化における飛行時間測定の各潜在的な対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における対応する位置Ｐｒｓを関連させることにより、決定される。
【０１９７】
各潜在的な対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に、潜在的な対称的対{ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）}が対応する。
【０１９８】
従って、該２個の潜在的な対称的対に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の異なった対称的出現位置(Ｐｒｓ、Ｐｓｒ)が対応する。
【０１９９】
同様に、親一次イオンの解離から得られる解離帯電フラグメントの各対が、２個の真の測定された飛行時間対、即ち{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}およびその対称的な対{ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)、ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)}、を発生する。
【０２００】
従って、該２個の真の対称的対に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の異なった対称的出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)が対応する。
【０２０１】
潜在的な飛行時間対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の中から帯電フラグメントの対に解離する一次イオンから生じる各真の飛行時間対{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}は、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の対応する出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)が、それぞれ工程（ｃ）で決定された特徴的な線の一つから、特定の閾より小さな距離にある対を保持することにより、決定される。
【０２０２】
ここで、上記の距離閾基準は調節できるのが有利である。
【０２０３】
距離閾は、各相関線の両側で、解離ピークの分解能以下になるように選択することができ、これによって、感度を犠牲にして分解能を(機器の分解能を越えて)改良することができる。
【０２０４】
他方、この距離閾が解離ピークの分解能以上である場合、解離した、検出された帯電フラグメントの全ての対を確認することができ、これは、分解能、従って機器の分解能、の低下に対する感度を最大限にする。
【０２０５】
工程（ｈ）で、二次元的質量スペクトルにおける第三の直角軸Ｎ上で、測定されたフラグメントの飛行時間の２軸を包含する、平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で確認された帯電フラグメントの真の飛行時間対{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}の出現位置(Ｐｔｕ)を累積することにより、三次元的解離質量スペクトルの形態にある解離質量スペクトルの全てが同時に発生する。
【０２０６】
この場合、本発明の方法は、有利なことに、三次元的スペクトルの形態における帯電フラグメント対への解離チャネルを含んでなる解離スペクトルの全てを同時に発生することが分かる。
【０２０７】
無論、他の同等の三次元的質量スペクトルを本発明の方法により発生させることもできる。
【０２０８】
例えば、別の三次元的スペクトルは、平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の２本の同等の軸に対する飛行時間測定を、これらの値の関数(例えば飛行時間の２乗{ＴＯＦ２ｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦ２ｓ（Ｍ／Ｑ）})により置き換えることに対応することができる。
【０２０９】
各イオン束パルス化に対して、イオン検出器4は、多帯電一次イオンの全ての可能な解離チャネルから来る帯電フラグメントを検出し、確認できる、および確認できない解離事象、ならびに解離しなかった一次イオンを与える。
【０２１０】
これらの寄与の全てが、イオン束の各パルス化でイオン検出器4により検出されるバックグラウンドノイズを発生し、一次質量選択を行わずに一次イオンを解離する場合、このノイズが、確認すべき真の多重組を形成する帯電フラグメントの多重組から来る問題とする信号と重複する。
【０２１１】
従って、このバックグラウンドノイズは、追加の潜在的な飛行時間多重組も発生し、そのほとんどは、解離帯電フラグメントの多重組の確認基準により排除される。
【０２１２】
しかし、これらの重要ではない潜在的な多重組の小部分は、各イオン束パルスの後、帯電フラグメントの確認基準により受け容れられ、誤った真の多重組を発生する。
【０２１３】
グラフを使用する例では、これらの誤った真の多重組は、図式的に、二次元的スペクトルにおける相関線に対する、距離閾の値に関する基準の正の区域に配置された対応する位置の存在に対応する。
【０２１４】
これらの誤った、確認された多重組は、飛行時間型質量分析計で本発明の方法により、各イオン束パルスで実行される工程（ｆ）〜（ｈ）で発生した解離スペクトルの実際のバックグラウンドノイズである。
【０２１５】
この実際のバックグラウンドノイズは、検出されるバックグラウンドノイズのほんの一部が誤った、確認された多重組を発生するので、イオン検出器4により検出されるバックグラウンドノイズよりはるかに小さい。
【０２１６】
ここで、イオン束パルスに関して、飛行時間型質量分析計に関する本発明の好ましい実施方法により、該パルス化の期間は、測定すべき帯電フラグメントまたは一次イオンの最も長い飛行時間ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}よりも長い。
【０２１７】
この期間は、イオンの通常パルス化周波数ｆ＝[１/ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}と呼ばれる周波数を決定し、これは、典型的には、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｈ）の全てに対して等しい。
【０２１８】
本発明のもう一つの好ましい実施方法では、イオン束のパルス化の期間は、測定すべき帯電フラグメントまたは一次イオンの最も長い飛行時間ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}よりも短くなるように選択することができる。
【０２１９】
従って、このパルス化期間は、通常パルス化周波数ｆより高いパルス化周波数ｆ'を決定し、ここでｆ'＝Ｚｘｆ(またはＺは１を超える数である)である。
【０２２０】
この場合、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｃ）は、先ず通常パルス化周波数ｆで実行する。
【０２２１】
次いで、最高パルス化周波数ｆ'に対応する相関法則を、先行する工程（ｃ）における通常周波数ｆで決定された相関法則から決定する。
【０２２２】
次いで、工程（ｄ）〜（ｇ）を、最高パルス化周波数ｆ'で実行し、その結果、一連のパルス間で検出される帯電フラグメントのオーバーラップが起こり得る。
【０２２３】
ここで再び、帯電フラグメント対への解離チャネルの場合における本発明のデジタル処理の説明に使用したグラフにより推論し、全ての対応する相関線を、二次元的スペクトルの可能な飛行時間対の平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における各一次質量ピークの全ての相関法則に配置することにより、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｃ）を実行する。この平面の各軸の長さは、ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)１}に等しい。
【０２２４】
従って、各相関法則に対応する各相関線は、二次元的スペクトルの平面中に一度表示される。
【０２２５】
通常パルス化周波数ｆで取得を行い、イオン束のＰパルス化を考える場合、取得の合計長さは、
【数２９】
になる。
【０２２６】
ＴｔｏｔをＰの連続する時間スライス、長さでＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}のそれぞれ、に分割する場合、Ｐの同等の二次元的スペクトルを構築することが可能であり、それぞれが周波数ｆにおける取得に対応し、２つの軸上で、同様に長さＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}の、対応する連続する時間スライスがある。
【０２２７】
その場合、全て同等のＰ二次元的スペクトルのそれぞれに、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｃ）で決定される相関線の全てを配置することができる。
【０２２８】
従って、各相関法則に対応する各相関線は、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれの上に、各二次元的スペクトルにおける同じ位置で、一度表示される。
【０２２９】
次いで、パルス化周波数ｆ'に対応する相関法則の相関線は、各相関法則に対応するＺの同等の相関線を、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれに、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれで、通常パルス化周波数ｆに対応する各相関線の位置に対して配置することにより、決定される。
【０２３０】
Ｐスペクトルの中から、いずれかの２個の連続する二次元的スペクトルを考えると、パルス化周波数ｆに対応する２個の二次元的スペクトルのそれぞれにおける同じ位置を有する、同じ相関法則の２本の相関線のそれぞれが、ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}に等しい長さにより、間隔を置いて一時的に配置される。
【０２３１】
次いで、パルス化周波数ｆ'に対応する同じ相関法則の、Ｚ-２に等しい数の追加相関線は、問題とする全ての２個の連続する二次元的スペクトルにおけるパルス化周波数にそれぞれ対応する、これらの２本の相関線の間に配置される。
【０２３２】
従って、Ｚの相関線(パルス化周波数ｆに対応する２本の線を加えることにより)は、互いに(1/f')により、間隔を置いて一時的に配置される。
【０２３３】
従って、各相関法則に対して、Ｐの二次元的スペクトルのそれぞれが、通常周波数ｆにおけるパルス化に対応する相関線の位置に対して、Ｐの二次元的スペクトルのそれぞれにおいて同等の様式で配置されたＺの対応する相関線を含む。
【０２３４】
次いで、本発明の方法の相関法則を決定する工程を、パルス化周波数ｆ'で行う。
【０２３５】
無論、これは、最高パルス化周波数ｆ'では、どのイオン束に検出された各帯電フラグメントが属するかを決定することは不可能である。
【０２３６】
従って、本発明の方法の工程（ｅ）は、対応する検出された帯電フラグメントに対する飛行時間測定を、パルス化されたイオンのＺｘＰ束に起因すると考えることにより、実行する。
【０２３７】
ＺｘＰイオン束の検出された帯電フラグメントのそれぞれに対して、取得開始から決定された飛行時間を先ず確認する。
【０２３８】
次いで、上記Ｐ一時的部分０〜Ｔの間に、確認された、取得開始から決定された飛行時間のそれぞれを配置する。
【０２３９】
最後に、測定された飛行時間値を、取得開始に対して決定された、各一時的部分の起源と、確認された飛行時間位置との間で、Ｐ一時的部分のそれぞれで検出された各帯電フラグメントに起因すると考える。
【０２４０】
次いで、Ｐ二次元的スペクトルの飛行時間測定の２軸上に、対応する検出された帯電フラグメントの飛行時間測定の原因と考えられる値を配置する。
【０２４１】
次いで、工程（ｆ）で、対応するＰ二次元的スペクトルのそれぞれに起因すると考えられる飛行時間測定による、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれの潜在的な飛行時間対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}を、パルス化周波数ｆ'で発生させる。
【０２４２】
Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれの各潜在的な対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に、対応する二次元的スペクトルの平面における出現位置Ｐｒｓが対応する。
【０２４３】
最後に、本発明の方法の工程（ｇ）を、パルス化周波数ｆ'で行い、各Ｐ二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の対応する出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)がそれぞれ、パルス化周波数ｆ'により決定された相関線の一つから、各二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における特定の閾より小さい距離にある対を保持することにより、各Ｐ二次元的スペクトルの潜在的対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の中から、実際に起因すると考えられる飛行時間対{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}を確認する。
【０２４４】
同じイオン束の中に注入された帯電フラグメントの対から来る帯電フラグメントは、２つの連続する二次元的スペクトル中で検出することができる。
【０２４５】
該対を確認するには、新しい潜在的な対を、前の工程（ｆ）の潜在的な対のセットに加える必要がある。
【０２４６】
これらの対は、２つの連続する二次元的スペクトル{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）}の起因すると考えられる飛行時間測定により追加の潜在的な対を発生させることにより、確認することができ、そこでは、２個の二次元的スペクトルの一方の飛行時間測定がＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）であり、他方のスペクトルの飛行時間測定がＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）である。
【０２４７】
従って、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれで、類似した質量-対-電荷比を有するが、幾つかの異なったイオン束から来る一次イオンの解離から得られる真の対は、各相関法則に対応するＺ相関線に対する距離閾基準により確認することができる。
【０２４８】
同様に、多帯電一次イオンの解離から来る帯電フラグメントの三重組の確認は、同様に、高周波数のパルス化周波数ｆ'で、本発明の工程（ｄ）〜（ｇ）を操作することにより、行うことができる。
【０２４９】
本発明のデジタル処理を説明するのに使用する図式的な類似方法の続きで、前のＰ二次元的スペクトルを、前に説明したように起因すると考えられる飛行時間測定を含んでなる３本の同等の軸を包含するＰ三次元的スペクトルで置き換える。
【０２５０】
帯電フラグメントの三重組への解離に対応するＰ三次元的スペクトルのそれぞれの各空間におけるＺ相関空間の位置が、前に説明した二次元的な場合と同様の様式で得られていると仮定し、各三次元的スペクトルのＺ相関空間に対する対応する位置の距離閾基準により、飛行時間の真の三重組を、Ｐ三次元的スペクトルのそれぞれの飛行時間の潜在的な三重組の中から確認する。
【０２５１】
低運動エネルギーにおける解離の場合、幾つかの解離フラグメント対を質量分析計の飛行時間空間中に注入して２つの異なった連続イオン束にする、および／または２つの連続した二次元的スペクトルで検出することができる。
【０２５２】
これらの解離した帯電フラグメントの対は、本発明の方法により、Ｐ二次元的スペクトルの起因すると考えられる飛行時間測定{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）}の潜在的な対の中からは確認することができず、この方法では、同じイオン束に注入された、同じ二次元的スペクトルで、２つの連続した二次元的スペクトルで検出される、対だけを確認することができる。
【０２５３】
これらの対を確認するには、先行する工程（ｆ）における先行する潜在的な対の全てに、新しい潜在的な対を加える必要がある。
【０２５４】
これらの、２つの連続するイオン束によりパルス化される帯電フラグメントの対の２つのフラグメントが、同じ二次元的スペクトル中で検出される場合、これらを、各飛行時間測定に対して、他の飛行時間測定のそれぞれに対して、値ΔＴＯＦ＝（１／ｆ）＝（１／Ｚｘｆ）を加えること、および差し引くことにより、確認することができる。
【０２５５】
その場合、追加の潜在的な対応する対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}を発生させる。
【０２５６】
帯電フラグメントの対の２個のフラグメントが、２つの連続するイオン束によりパルス化され、２つの連続する二次元的スペクトルで検出される場合、これらを、他の潜在的な対を形成し、前の追加対に加えることにより、確認することができる。
【０２５７】
２つの二次元的スペクトルの一方の飛行時間測定がＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）であり、他方の二次元的スペクトルの飛行時間測定がＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）である場合、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}の新しい潜在的な対が発生する。
【０２５８】
従って、全ての可能な検出された真の対を確認するのに使用される、各Ｐ二次元的スペクトルの潜在的な全ての対は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}である。
【０２５９】
同様に、この計算を使用し、帯電フラグメントの対の２つのフラグメントが２つの異なった非連続的なイオン束でパルス化され、２つの非連続的な二次元的スペクトルで検出される場合を処理できることが分かる。
【０２６０】
低運動エネルギーで解離する一次イオンに対する同じ解離チャネルから、前の４つの可能な場合に対応する、類似の質量-対-電荷比を有する親一次イオン解離から来る、帯電フラグメントの対を確認する４つの例も図１１に示す。
【０２６１】
1０と表示する位置は、同じイオン束でパルス化し、同じ二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に対応する。
【０２６２】
２０と表示する位置は、同じイオン束でパルス化し、２つの連続的な二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に対応する。
【０２６３】
３０と表示する位置は、２つの連続的なイオン束でパルス化し、同じ二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}に対応する。
【０２６４】
4０と表示する位置は、２つの連続的なイオン束でパルス化し、２つの連続的な二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}に対応する。
【０２６５】
高運動エネルギーにおける一次イオン解離の場合、これらの対は、同じパルス化されたイオン束から常に得られるが、２つの連続した二次元的スペクトルで検出することができる。
【０２６６】
２つの二次元的スペクトルのそれぞれのＺ-１相関線の、起因すると考えられる確認された飛行時間測定の対の通常パルス化周波数ｆに対応する、飛行時間測定の真の値を決定するために、通常パルス化周波数ｆに対応する相関線に対するそれらの相関線位置に対応する値を、該起因すると考えられる確認された飛行時間から差し引く(またはそれに加える)。
【０２６７】
例えば、通常パルス化周波数ｆに対応する相関空間に隣接する相関空間上に位置する、起因すると考えられる確認された飛行時間の多重組に対して、値ΔＴＯＦ＝（１／ｆ‘）を該起因すると考えられる飛行時間から差し引いて(またはそれに加えて)修正し、それらの真の測定値を決定する。
【０２６８】
図１１の例では、同じ解離チャネルに対応する、起因すると考えられる、確認された飛行時間の4つの対の位置が、それらの、破線で示す相関線に対して直角の直線上に位置する。通常パルス化周波数ｆに対応する２本の相関線上にある位置1０および２０は、真の飛行時間測定の対である(該２対の起因すると考えられる値は、それらの真の測定された値に等しい)。位置３０および4０に位置する対の真の測定された値は、グラフにより、図１１の直角破線に沿って位置３０および４０を位置１０および２０上にそれぞれ投影することにより、決定される(これは、それらの特徴的な線の位置による値を差し引く(または加える)ことによる、起因すると考えられる飛行時間修正に対応する)。
【０２６９】
最後に、工程（ｈ）で、通常パルス化周波数に対応するパルス化周波数ｆ'における各相関法則の各解離スペクトルを、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれのＺ相関線の、修正された起因すると考えられる確認された飛行時間のセットで得た、真の確認された飛行時間測定の対を累積することにより、発生させる。
【０２７０】
一次質量の各ピークに対応する各解離スペクトルを、最後に、パルス化周波数ｆ'で得た対応する相関法則の質量解離スペクトルで発生させる。
【０２７１】
従って、Ｐ二次元的スペクトルの追加に対応する周波数ｆ'＝Ｚｘｆで得た各解離質量スペクトルは、通常周波数で得た、ＺｘＰイオン束パルス化を含んでなる質量スペクトルと等しい。
【０２７２】
やはり、本発明の好ましいグラフによる実施方法における相関線の位置に対する距離閾に対応する、相関法則に対する近接基準の値は、本発明の方法により得られる解離ピークの分解能を決定する。
【０２７３】
帯電フラグメント三重組への低運動エネルギー解離の場合、前の、解離帯電フラグメントの対の場合と同様に、解離した三重組の幾つかのフラグメントを、質量分析計の飛行時間空間中の２つの異なった連続するイオン束中に、ただし、３つの異なった連続するイオン束中にも、注入することができる。
【０２７４】
異なった可能な場合に対応する異なった潜在的な三重組は、
３つのフラグメントが同じイオン束中に注入され、同じ三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｙ（Ｍ／Ｑ）}であり、
３つのフラグメントが同じイオン束中に注入され、２つの連続する三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＰｙ'（Ｍ／Ｑ）}であり、
３つのフラグメントが２つの連続するイオン束中に注入され、同じ三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ}であり、
３つのフラグメントが２つの連続するイオン束中に注入され、２つの連続する三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ}であり、
３つのフラグメントが３つの連続するイオン束中に注入され、同じ三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±２ΔＴＯＦ}であり、
３つのフラグメントが３つの連続するイオン束中に注入され、２つの連続する三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±２ΔＴＯＦ}である。
【０２７５】
同様に、この計算により、２つ(または３つ)の異なった、非連続的なイオン束にパルス化され、２つ(または３つ)の非連続的な三次元的スペクトルで検出される帯電フラグメントの三重組の３つのフラグメントの場合を実行できることも、容易に理解できる。
【０２７６】
無論、同様に、帯電フラグメントの多重組の確認は、高周波数で、パルス化周波数ｆ'で、操作することにより、少なくとも３つの帯電フラグメント、および少なくとも３つの帯電フラグメントと既知質量を有する中性フラグメントを含んでなるフラグメントの、全ての三重組に対して、実行することができる。しかし、これは、当業者には、上記の例を使用してそのような一般化が可能なので、詳細には説明しない。
【０２７７】
飛行時間型質量分析計に関して上に説明した本発明を、相関線を含む二次元(特徴的な関数値の対)による二次元的スペクトルを使用することにより、図式的な手法を使用して説明した。
【０２７８】
しかし、無論、その具体的な実施は、典型的には適切なプログラムを実行するデジタルコンピュータ、例えばＤＳＰ(「デジタル信号プロセッサーを意味する」)、により達成される。
【０２７９】
特に、相関法則は、数値的なデータ(等式、例えば低運動エネルギー解離の場合、等式（１）、(３)、（５）、または座標のセット)であり、このデータと、分光計により発生し、コンピュータに供給される数値的な特徴的な関数が比較される。
【０２８０】
より実際的には、本発明は、ソフトウエアモジュールの形態で具体化することができ、このソフトウエアモジュールを、既存の飛行時間型質量分光測定装置に加え、この装置の他のソフトウエアとインターフェースし、大部分、相関法則データを確立し、特徴的な関数データを集め、これらの特徴的な関数データをこれらの相関法則データと比較する。
【０２８１】
高運動エネルギーにおける解離の場合、相関空間の校正に関して、一次質量選択用の装置、例えば各イオン束のパルス化と解離装置２との間で作用する時間ゲートにより一次質量選択を行うための装置５、がそれを行うことができる場合、この装置を使用し、それでも一次質量ピークの選択を行わずに、前に説明したように、重要ではない他の一次質量ピークを排除することにより、イオン光線の各パルス化で問題とする一次質量ピークの全てを選択し、本発明の方法を実行することもできる。
【０２８２】
低運動エネルギーにおける解離の場合、解離スペクトルの中で重要ではない一次質量ピークの排除は、上記のように、イオントラップ５をイオン供給源1と解離装置２との間に配置することにより、または四重極型質量分析計５を使用することにより、行うことができる。
【０２８３】
これによって、検出されたバックグラウンドノイズを制限し、その結果、本発明の方法により発生した解離スペクトル中に確認される帯電フラグメントの誤った対の実際のバックグラウンドノイズも制限することができる。
【０２８４】
上記の装置５は、必要であれば、一次質量スペクトルにより予め確認されている分子に対応する一次質量ピークを排除し、スペクトルＭＳ−ＭＳの取得を一般的に不要にすることもできる。
【０２８５】
本発明の方法は、解離工程に続いて得られる帯電フラグメントに対して行い、帯電フラグメントを同時に解離させることにより、該親帯電フラグメントのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を入手し、多重質量分光測定（ＭＳ）ｎの方法を実行することができる。
【０２８６】
必要であれば、問題とする一次質量ピークを一次質量スペクトルから選択する予備工程を実行することができる。
【０２８７】
本発明の分光計の構成部品および操作
ここで、本発明の分光測定法を実行するタンデム質量分析計おける幾つかの好ましい分光計構成部品および分光計操作を、より詳細に、本発明を制限しない例として説明する。
【０２８８】
イオン供給源1は、連続式またはパルス化された、例えばESI(エレクトロスプレーイオン化)イオン供給源、MALDI(マトリックス支援レーザー脱離イオン化)パルス化されたレーザーイオン供給源、APCI(大気圧化学イオン化)イオン供給源、APPI(大気圧光イオン化)イオン供給源、LDI(レーザー脱離イオン化)イオン供給源、ICP(誘電カップリングプラズマ)イオン供給源、EI(電子衝撃)イオン供給源、CI(化学イオン化)イオン供給源、FI(電場イオン化)イオン供給源、FAB(高速原子衝突)イオン供給源、LSIMS(液体二次イオン質量分光測定)イオン供給源、API(大気圧イオン化)イオン供給源、FD(電界脱離)イオン供給源、DIOS(シリシウム上脱離イオン化)イオン供給源、または他の種類の多帯電イオン供給源、でよい。
【０２８９】
低運動エネルギーにおける解離装置２は、多重極導波管、イオントラップ、フーリエ変換質量分析計、または帯電フラグメントの多重組を発生させることができる他のいずれかの装置でよい。
【０２９０】
その上、高運動エネルギーにおける解離は、CID/CAD(衝突誘発解離/衝突活性化解離)により解離し得るガスを含む衝突チャンバー、イオン供給源でイオン化された一次分子の内部エネルギーを増加させた後、または飛行時間経路上で光イオン化により、自然解離させる飛行時間空間(PSDまたは供給源後減衰)、またはSID(表面誘発された解離)技術、ECD(電子捕獲解離)技術、IRMPD(赤外多光子解離)技術、PD(光解離)技術、BIRD(バックボディ赤外解離)技術、または一次イオンを解離させるいずれかの装置で行うことができる。
【０２９１】
一次イオンの解離を電子捕獲で行う場合、解離を生じる該電子捕獲は、解離工程（ｄ）の前に一次イオン電荷Ｑを変性させる。その際、一次電荷Ｑと帯電フラグメントの可能な電荷対(ｑｉ’、ｑｊ’)との間の関係は、例えば
【数３０】
である。
【０２９２】
問題とする一次質量ピークに対応する一次イオンを解離装置２の中に注入するのに使用する装置５は、四重極型質量分析計、双曲線幾何学的構造を有する３Ｄイオントラップ、円筒形幾何学的構造を有する直線状２Ｄイオントラップ、または他のいずれかのイオントラップでよい。
【０２９３】
一次質量選択を行わずに一次質量スペクトルおよび解離質量スペクトルを発生させるのに使用される質量分析計３は、下記の群、即ち飛行時間型質量分析計、磁場偏向型質量分析計、四重極型質量分析計、イオントラップ、FTICR質量分析計、または他の型の質量分析計、の一つでよい。
【０２９４】
イオン束パルス化とイオン検出器４との間の飛行時間空間３は、直線的であるか、またはレフレクトロンを備えていることができる。
【０２９５】
この場合、レフレクトロンは、一段階または二段階型、湾曲場レフレクトロン(CFR)型、または方形もしくは他のいずれかの型のレフレクトロンでよい。
【０２９６】
各イオン束のパルスは、イオン供給源１で、イオン供給源と解離装置との間で、あるいは解離装置２とイオン検出器４との間で実現することができる。
【０２９７】
イオン供給源が連続式である場合に飛行時間型質量分析計に必要なイオン束のパルスは、下記の技術、即ち切欠き部(notch)を通したイオンの連続線の走査、２個の反らせ板の間における可変電場の印加、連続的イオン線に対して直角の２個の電極間に可変電場を印加することによる直角注入、の一つにより、実行することができる。
【０２９８】
イオントラップ３は、双曲線幾何学的構造の３Ｄイオントラップ、円筒形幾何学的構造の直線的２Ｄイオントラップ、または他のいずれかの型のイオントラップでよい。
【０２９９】
フーリエ変換質量分析計は、静止磁場または放射状対数電場(radial logarithmic electical field)を使用してイオンを保存するFTICR質量分析計でよい。
【０３００】
飛行時間型質量分析計で使用できるイオン検出器4は、少なくとも一個のアノードを備え、各アノードが、増幅器、弁別器および時間デジタル変換器(TDC)から構成される電子計数器を備えた少なくとも一個のマイクロチャネルプレート(MCP)から構成されるか、または検出された各一次イオンおよび各帯電フラグメントの特徴的な関数値を測定するのに使用される他のいずれかの型のイオン検出器でよい。
【０３０１】
ここで、図２および８に例示する構成部品を使用する質量分析計の、本発明を制限しない４通りの実施方法を説明する。
【０３０２】
分光計の第一実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第一実施方法を図２に例示する。
【０３０３】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、低運動エネルギーにおけるCIDにより一次イオンの解離を行うガスを含む多極導波管ｑを含んでなる解離装置２、直角注入によりイオン線をパルス化するための装置およびレフレクトロンを備えた飛行時間空間を含む飛行時間型質量分析計３、およびイオン検出器4を包含する。
【０３０４】
タンデム質量分析計に関するこの実施態様は、一次質量選択Ｑ-ｑ-ＴＯＦを行い、四重極型質量分析計をさらに装備し、一次質量選択をＭＳ−ＭＳで行う、タンデム質量分析計を使用する当業者には公知である。
【０３０５】
従って、第一実施態様は、四重極型質量分析計Ｑを含まない以外は、該装置と同等である。
【０３０６】
先ず、一次質量スペクトルを、多極導波管ｑへの質量解離を行わずに、直角注入による飛行時間型質量分析計で発生させる。
【０３０７】
次いで、一次質量選択を行わずに、それでも飛行時間型質量分析計中で、低運動エネルギーで、CIDにより多極導波管ｑの内側で、帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３０８】
本発明の方法により、解離ピークの多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、対応する一次イオンの質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３０９】
ＭＳ−ＭＳモードにおけるデューティサイクルを、典型的には５〜３０％から約1００％に増加させるために、本発明を、工程（ｄ）〜（ｇ）で、より高い周波数ｆ'＝Ｚｘｆで、各イオン束パルス化の後に帯電した多重組の個別確認により、行うことができる。通常周波数パルス化ｆ＝1０ ｋＨｚに対して、ｆ'は、Ｚ＝２０でｆ'＝２００ｋＨｚとして選択することができる。
【０３１０】
本発明の第一実施の一実施態様では、図８に例示するように、本装置に、イオン供給源１と解離装置２の間に配置された四重極型質量分析計またはイオントラップを装備し、大きな質量寛容度で、本発明の方法で確認される、問題とする幾つかの一次質量ピークを同時に選択し、解離質量ピークの誤った多重組の数を少なくする。
【０３１１】
本発明の第一実施の別の実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置を供給源1の上流に配置することができる。
【０３１２】
分光計の第二実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第一実施方法を図２に例示する。
【０３１３】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、円筒形幾何学的構造を有する直線的２Ｄイオントラップ２、３、およびイオン検出器４を包含する。
【０３１４】
この実施態様では、イオントラップを、解離装置２および質量分析計３の両方として使用する。
【０３１５】
タンデム質量分析計のこの実施態様は、同等の質量分析計を使用し、質量選択により質量解離スペクトルを発生させる当業者には公知である。
【０３１６】
先ず、イオン供給源1により放射された一次イオンを保存した後、解離を行わずに、イオントラップ２、３により一次質量スペクトルを発生させる。
【０３１７】
次いで、イオントラップで一次質量選択を行わずに、イオントラップの内側に含まれるガス分子によるCIDにより帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、低運動エネルギーで、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３１８】
本発明の方法により、解離ピークの多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、対応する一次イオンの質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３１９】
本発明の第二実施の一実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置をイオン供給源1の上流に配置することができる。
【０３２０】
本発明の第一実施の別の実施態様では、双曲線幾何学的構造を有する３Ｄイオントラップを、２Ｄイオントラップに置き換える。
【０３２１】
本発明の第二実施のさらなる実施態様では、図８に例示するように、本装置に、イオン供給源１と解離装置２の間に配置された四重極型質量分析計５またはイオントラップ５を装備し、本発明の方法で確認される、解離質量ピークの誤った多重組の数を少なくする。四重極型は、大きな質量寛容度で、問題とする幾つかの一次質量ピークを同時に選択することができ、イオントラップはさらに、問題とする全ての一次質量ピークを同時に選択することができる。
【０３２２】
この実施態様に加えて、図８に例示するように、本装置は、四重極型質量分析計(それぞれイオントラップ５)とイオントラップ３の間に配置された、多極イオンガイド２をさらに備え、帯電フラグメントをイオントラップ３の中に注入する前に、CIDにより一次イオンを解離させることができる。
【０３２３】
分光計の第三実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第三実施方法を図２に例示する。
【０３２４】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、双曲線幾何学的構造を有する直線的２Ｄイオントラップ２、レフレクトロンを備えた飛行時間型質量分析計３、およびイオン検出器４を包含する。
【０３２５】
この実施態様では、イオントラップ２を使用して各イオン束をパルス化し、飛行時間測定を行う。
【０３２６】
タンデム質量分析計のこの実施態様は、同等の質量分析計を使用し、質量選択により質量解離スペクトルを発生させる当業者には公知である。
【０３２７】
先ず、イオン供給源1により放射された一次イオンを保存した後、解離を行わずに、および飛行時間の空間を通してイオン束のパルス化の後、一次質量スペクトルを発生させる。
【０３２８】
次いで、イオントラップで一次質量選択を行わずに、イオントラップの内側に含まれるガス分子によるCIDにより帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、低運動エネルギーで、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３２９】
本発明の方法により、解離ピークの多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、対応する一次イオンの質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３３０】
本発明の第三実施の一実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置をイオン供給源1の上流に配置することができる。
【０３３１】
分光計の第四実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第一実施方法を図２に例示する。
【０３３２】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、ＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計２、３、およびサイクロトロン周波数を測定する検出器４を包含する。
【０３３３】
この実施態様では、ＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計を、解離装置２および質量分析計３の両方として使用する。
【０３３４】
タンデム質量分析計のこの実施態様は、同等の質量分析計を使用し、質量選択により質量解離スペクトルを発生させる当業者にはそれ自体公知である。
【０３３５】
先ず、イオン供給源1により放射された一次イオンを保存した後、解離を行わずに、ＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計により一次質量スペクトルを発生させる。
【０３３６】
次いで、フーリエ変換分光計で一次質量選択を行わずに、中性ガスの分子による衝突誘発された解離（ＣＩＤ）により、または該分光計の空間における電子捕獲解離（ＥＣＤ）により帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、低運動エネルギーで、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３３７】
本発明の方法により、解離質量の多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３３８】
本発明の第二実施の一実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置をイオン供給源1の上流に配置することができる。
【０３３９】
本発明の第四実施の別の実施態様では、図８に例示するように、本装置に、イオン供給源１と解離装置２の間に配置された四重極型質量分析計５またはイオントラップ５を装備し、本発明の方法で確認される、解離質量ピークの誤った多重組の数を少なくする。四重極型Ｑは、大きな質量寛容度で、問題とする幾つかの一次質量ピークを同時に選択することができ、イオントラップはさらに、問題とする全ての一次質量ピークを同時に選択することができる。
【０３４０】
この実施態様に加えて、図８に例示するように、本装置は、四重極型質量分析計(それぞれイオントラップ５)とＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計３の間に配置された、多極イオンガイド２をさらに備え、帯電フラグメントをＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計３の中に注入する前に、CIDにより一次イオンを解離させることができる。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的には質量分光測定の分野に関する。
【０００２】
質量分光測定（ＭＳ）は、その種類に関係なく、一般的には試料中に存在する分子を、これらの分子をイオン化して加速し、質量分析計の中に注入した後、これらの分子の質量を測定することにより同定する工程を包含するものであることが知られている。
【０００３】
質量分析計は、分析する試料中に含まれる様々な分子の質量スペクトルを、発生するイオンの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ、Ｍは質量であり、Ｑは電荷である)の値の関数として発生するが、このスペクトルは、イオンの質量-対-電荷比Ｆ（Ｍ／Ｑ）の関数に対して、イオン検出器により検出されたイオンの電流強度の形態にあり、この関数は、使用する質量スペクトルに特徴的であり、一般的に下記式：
【数１】
を有する（式中、Ｇは使用する質量分析計のタイプによって異なる関数であり、イオンの質量と電荷の比とは無関係である）。
【０００４】
使用される主な質量分析計は、飛行時間型質量分析計、磁場偏向型質量分析計、四重極型質量分析計、３Ｄイオントラップ、２Ｄイオントラップ、およびＦＴ−ＩＣＲ質量分析計(フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴分光計用)である。
【０００５】
質量分析計のそれぞれに対応する具体的な操作形態、実施態様および特徴的な関数は、当業者には公知である。
【０００６】
直線的飛行時間型質量分析計に関して、特徴的な関数は、イオンの飛行時間の二乗、ＴＯＦ２である。
【数２】
（式中、
Ｌは、イオンセットのパルス化とそれらの検出との間の直線的飛行時間の距離であり、
Ｖ０はイオン加速電圧(tension)である。
【０００７】
磁場偏向型質量分析計では、特徴的な関数は、磁気セクター内で印加される、可変磁場の二乗、Ｂ２であり、これが、イオンをそれらの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に対してフィルターをかけ、イオン検出器に送る。
【数３】
（式中、Ｒは磁場セクター半径であり、Ｖ０はイオン加速電圧である。）
【０００８】
四重極型質量分析計では、特徴的な関数は、四重極に印加される可変電圧ＶＱであり、これが、イオンをそれらの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に対してフィルターをかけ、イオン検出器に送る。
【数４】
【０００９】
イオントラップ分光計では、特徴的な関数は、イオントラップに印加される可変電圧ＶＩＴであり、イオンをそれらの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に対して放出し、イオン検出器に送る。
【数５】
【００１０】
ＦＴ−ＩＣＲ分光計では、特徴的な関数は、イオンの各質量-対-電荷Ｍ／Ｑ値に対応するサイクロトロン角度周波数ωＦＴＩＣＲであり、そのフーリエ変換解析および測定により、質量スペクトルを発生することができる。
【数６】
（式中、ＧＦＴＩＣＲは、磁場強度である。）
【００１１】
特に、タンデム質量分光測定（ＭＳ−ＭＳ）は良く知られており、一次質量スペクトルが分析しているイオンを同定できない場合に使用される。この測定は、第一質量分析計により、分析する試料中に存在するイオン化された分子の一次質量スペクトル（ＭＳ）を発生させ、一次質量を選択する工程を行い、次いで該選択された一次質量の一次イオンを解裂させ、即ち解離装置により解離させ、第二質量分析計により、該一次イオンの解離から来る帯電フラグメントの解離質量スペクトルとして説明される質量スペクトルを発生させる。
【００１２】
一般的に各解離質量スペクトルを実現するために行われる一次質量選択は、質量スペクトルが次々に発生するために、タンデム質量分析計の取得デビット(acquisition debit)を制限する。
【００１３】
これは、タンデム質量分析計の感度も制限し、この感度は、各質量解離スペクトルを発生するために消費される試料の量として定義され、残りの、イオン供給源から与えられた、選択されなかったイオンは、実際には、選択された一次イオンの質量スペクトルを発生させるために排除される。
【００１４】
一次イオン解離は、高い運動エネルギー（約０．８〜２０ＫｅＶ）または低い運動エネルギー（約１０〜２００ｅＶ)で行われる。
【００１５】
低運動エネルギー解離は、既存のすべての質量分析計で使用できるのに対し、高運動エネルギー解離は、一般的にタンデム磁場セクター質量分析計またはタンデム飛行時間型質量分析計で使用される。
【００１６】
低運動エネルギー解離の場合、解離した帯電フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比ｍ/ｑにのみ依存し、親の一次イオンの質量-対-電荷比Ｍ/Ｑには依存しない。
【００１７】
高運動エネルギー解離の場合、解離した帯電フラグメントの特徴的な関数F'（Ｍ／Ｑ）は、一般的に帯電フラグメントの質量-対-電荷比Ｍ／Ｑおよび親の一次イオンの質量-対-電荷比Ｍ/Ｑに依存する。その結果、同等の質量分析計に対して、解離していない一次イオンの特徴的な関数は、帯電フラグメントの特徴的な関数とは異なる。
【００１８】
さらに、帯電フラグメントの特徴的な関数は、一般的に下記式では表せない。
【数７】
【００１９】
飛行時間型質量分光測定の特別な場合、上に記載した一次質量選択を行うタンデム飛行時間型質量分析計に加えて、一次質量選択を行わないタンデム飛行時間型質量分析計も良く知られている。
【００２０】
これらの質量分析計は、幾つかの解離質量スペクトルを同時に発生させるのに使用できる。
【００２１】
一次質量選択を行わない飛行時間型質量分光測定の方法（外国特許文献１、外国特許文献２、外国特許文献３、外国特許文献４）も良く知られており、これらの方法は、異なった解離スペクトルを発生するのに幾つかの取得を必要とするが、一次質量選択を使用する装置と比較して、連続的な取得の数は低い。
【００２２】
特に、一回の取得で、一次質量選択を行わずに、幾つかの解離質量スペクトルを発生するのに使用されるタンデム飛行時間型質量分光測定方法が公知である（外国特許文献５）。これは、飛行時間を測定位置に変換することに基づく、一次質量選択を行わない飛行時間型質量分光測定の方法である。この方法は、同時に到達できる一次質量の範囲を制限する。
【００２３】
外国特許文献１〜５に記載の方法は、高運動エネルギーにおける一次イオン解離とのみ相容性がある。
【００２４】
単一帯電一次イオンの解離は簡単であり、一般的に中性フラグメントおよび単一帯電フラグメントを含んでなる対の形成に限られるのに対し、多帯電一次イオンの解離は、複雑な場合があり、幾つかの潜在的解離チャネルにつながる（外国特許文献６）。解離チャネルの二つの主要な群は、帯電フラグメントの多重組(multiplet)(例えば帯電フラグメントの対および三重組)への、および帯電フラグメントおよび中性フラグメントを含んでなるフラグメントの多重組への解裂(fragmentation)である。
【００２５】
ＭおよびＱが、それぞれ親の一次イオンの質量および電荷を表し、ｍｉおよびｑｉが、それぞれの解離フラグメントｉ(ここでｉ＝１，２または３)の質量および電荷を表す場合、フラグメント対への主要解離チャネルは、
（ａ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１)＋ｍ２(ｑ２)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＝Ｍおよびｑ１＋ｑ２＝Ｑである）
（ｂ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１＝Ｑ)＋ｍ２(ｑ２＝０)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＝Ｍである）
であるのに対し、フラグメント三重組への主要解離チャネルは、
（ｃ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１)＋ｍ２(ｑ２)＋ｍ３(ｑ３)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＋ｍ３＝Ｍおよびｑ１＋ｑ２＋ｑ３＝Ｑである）
（ｄ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１)＋ｍ２(ｑ２)＋ｍ３(ｑ３＝０)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＋ｍ３＝Ｍおよびｑ１＋ｑ２＝Ｑである）
（ｅ）Ｍ(Ｑ)→ｍ１(ｑ１＝Ｑ)＋ｍ２(ｑ２＝０)＋ｍ３(ｑ３＝０)、
（式中、ｍ１＋ｍ２＋ｍ３＝Ｍである）
である（外国特許文献６）。
【００２６】
その上、親一次イオンは、解離の際に(例えばガスの一次イオンと分子との間の「誘発された衝突解離（ＣＩＤ）の際に」)失うか、または電子を捕獲する(例えば「電子捕獲解離（ＥＣＤ）」の際に)ことがある。従って、フラグメント電荷の総計は、最早Ｑと等しくはなく、Ｑ'＝Ｑ±ｅ(ここでｅは電荷単位である)となる。
【００２７】
同時に、および単一取得で、一次質量選択を行わずに、および一次質量の範囲を制限せずに、複数の解離質量スペクトルを発生するために使用でき、その際、多帯電一次イオンの解離を、高および低運動エネルギー解離の両方で行うことができる、タンデム質量分光測定は、現在知られていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２８】
【特許文献１】米国特許第4,47２,6３1号（J.D. Pinston et al., Rev. Sci. Instrum. ５7(4), (198３).C.G. Enke et al.）
【特許文献２】米国特許第4,894,５３6号（S. Della-Negra And Y. Leybec, Anal. Chem., 7(11), (198５), p.２０３５、K.G. Standing et al., Anal. Instrumen., 16, (1987), p.17３、R.J. Conzemius）
【特許文献３】米国特許第５,２０6,５０8号（Alderdice et al.）
【特許文献４】米国特許第２００５/００987２1A1号（R.H. Bateman, J.M. Brown, D.J. Kenny）
【特許文献５】特許PCT/US２００4/００84２4号（C.G. Enke）
【特許文献６】米国特許第５,０7３,71３号（R.D. Smith et al.）
【発明の概要】
【００２９】
従って、本発明の目的の一つは、多帯電一次イオンの場合に、現状技術水準の上記の欠点を解決することである。
【００３０】
特に、本発明の目的の一つは、一次質量選択を行わない、公知の質量分析計と相容性があり、多帯電一次イオンに対して、単一取得で、分析する試料中に存在する複数の異なった一次質量に対して解離スペクトルを同時に発生させることができ、親の一次イオンが低または高運動エネルギーで解離する、質量分光測定方法を提案することである。
【００３１】
このために、本発明は、第一態様により、分析すべきイオンの質量-対-電荷比の公知の特徴的な関数を有する質量分析計で使用するためのタンデム質量分光測定方法であって、
（ａ）分析すべき一次イオン供給源を用意する工程、
（ｂ）前記一次イオンの、一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに発生させる工程、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値、およびそのピークに関連する電荷値から、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、特徴的な関数値の可能な全ての多重組が適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを同時に解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得る工程、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｇ）前記潜在的な多重組の中から、該相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、
（ｈ）それぞれ問題とする親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程
を含んでなる、方法を提供する。
【００３２】
本方法の、好ましいが、本発明を制限しない幾つかの態様は、下記の通りである。
問題とする一次イオンの解離は、既知の質量を有する中性フラグメントを発生することができ、該相関法則を決定する工程が、そのような質量の潜在的損失を考慮する。
前記相関法則を決定する工程が、解離フラグメントに特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる。
前記相関法則を決定する工程が、解離フラグメントに特徴的な関数値を発生する工程に続いて行われる。
帯電した解離フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に依存し、親一次イオンの質量-対-電荷比には依存しない。
帯電した解離フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に比例する。
相関法則が、計算により決定される。
帯電した解離フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に、および親一次イオンの質量-対-電荷比に依存する。
相関法則が、質量および電荷が既知であるイオンで得た校正データの使用により決定される。
前記相関法則を決定する工程が、下記の準工程、即ち
（ｄ１）質量および電荷が既知であるイオンに対して一次質量スペクトルを発生すること、
（ｄ２）前記スペクトルで一次質量ピークを選択すること、
（ｄ３）選択された一次イオンを解離させ、特定の質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）を求めること、
（ｄ４）選択された一次イオンから来る解離フラグメントの解離質量スペクトルを発生すること、
（ｄ５）解離質量スペクトル中で、帯電フラグメントの多重組への解離が起こることに対応するピークの多重組を確認すること、
（ｄ６）確認された各多重組に属する各ピークの出現の極大に対応する特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)を決定すること、
（ｄ７）それぞれの可能な電荷多重組に対して、この電荷多重組を満足し、質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に、一次電荷Ｑに、および選択された一次質量ピークに対する出現極大における特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)に対応する特徴的な関数値の確認された多重組との相関法則のそれぞれを決定すること、
（ｄ８）工程（ｄ１）〜（ｄ７）を、既知分子の一次質量スペクトルの各選択された一次質量ピークに対して繰り返すことを包含する。
本方法は、既知分子で得た相関法則に基づき、未知分子の一次質量ピークの相関法則を決定する工程をさらに含んでなる。
決定された相関法則は、座標のセットにより規定される。
決定された相関法則は、分析により規定される。
本方法は、一次質量選択により、問題とする異なった一次イオンの群を選択する工程をさらに含んでなる。
問題とする一次イオンを選択する工程は、解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる。
近接基準は調節可能である。
工程（ｅ）〜（ｇ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、工程（ｅ）で決定した特徴的な関数値は、該累積出現により形成されるピークの極大における関数値である。
工程（ｅ）〜（ｇ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、工程（ｈ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う。
前記特徴的な関数の値は、関連する飛行時間である。
解離したイオンは、連続する周期的なイオンパルス中に含まれ、パルス発生期間は、測定すべき解離した帯電フラグメントの最長飛行時間より短く、工程（ｄ）および（ｅ）は、連続するパルス間のオーバーラップで行われ、工程（ｃ）は、先行するイオンパルス中に含まれる問題とする親一次イオンの解離により生じた帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に対する相関法則を決定することを包含する。
【００３３】
第二の態様により、本発明は、下記の組み合わせ、
（ａ）分析すべき多帯電一次イオンの供給源（１）、
（ｂ）前記一次イオンの、一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに、発生する装置（３）、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値および前記ピークに関連する電荷値、から決定された一組の相関法則であって、この相関法則は、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得るように設計された解離装置（２）、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生し、保存する装置、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成し、前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定し、それぞれ問題とする該親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生するための処理装置、
を含んでなる、タンデム質量分析計を提供する。
【００３４】
このタンデム質量分析計の、好ましいが、本発明を限定しないいくつかの態様は、下記の通りである。
分光計が、問題とする異なった一次イオンの群を選択するための一次質量選択装置をさらに含んでなる。
前記一次質量選択装置が、イオントラップを含んでなる。
前記一次質量選択装置が、四重極を含んでなる。
前記一次質量選択装置が、一時的ゲートを含んでなる。
前記解離装置が、多極導波管である。
前記分光計が、飛行時間型質量分析計を含んでなる。
前記解離装置が、イオン束を飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の前に配置される。
解離装置が、イオン束を飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の後に配置される。
前記イオン加速器が、直角注入装置を含んでなる。
前記分光計が、レフレクトロンをさらに含んでなる。
前記多帯電イオン供給源（１）が、エレクトロスプレーイオン化イオン供給源である。
【００３５】
第三の態様により、本発明は、イオンの質量-対-電荷比の既知の特徴的な関数を有する質量分析計を含んでなる質量分光測定装置で実行するように設計されたコンピュータプログラムであって、
（ａ）前記装置を、分析すべき多帯電一次イオンの供給源から、解離を行わずに、前記一次イオンの一次質量スペクトルを発生させ、その際、該スペクトルが、一次イオン出現のピークを含むように制御する工程、
（ｂ）このスペクトルの、一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値を含むデータを、前記ピークに関連する電荷値から取得する工程、
（ｃ）前記データから、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンの同時解離が起きるように前記装置を制御し、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を入手し、該解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｅ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｆ）前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、および
（ｇ）それぞれ問題とする前記親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程
を行うように設計された、一連の指示を包含する、プログラムを提供する。
【００３６】
このコンピュータプログラムの、本発明を限定しない好ましいいくつかの態様は、下記の通りである。
工程（ｅ）〜（ｆ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、工程（ｄ）で決定された特徴的な関数値が、前記累積出現により形成されたピークの極大にある特徴的な関数値である。
工程（ｅ）〜（ｆ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、工程（ｇ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う。
【００３７】
本発明の他の態様、目的および利点は、本発明を限定しない例として、以下に添付の図面を参照しながら記載する本発明の説明を参照することにより、明らかとなる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の分光測定の好ましい実施方法に関するフローチャートである。
【図２】本発明の一例による質量分光測定方法を実施するために設計された装置の構成部品を例示する。
【図３】確認すべき分子の、３個の一次質量ピークを含んでなる一次質量スペクトルを例示する。
【図４】一次質量選択を行わずに得た、図３の３個の一次質量ピークに対応する３個の解離スペクトルの解離質量ピークを含んでなる質量解離スペクトルを例示するが、その際、帯電フラグメントの、各解離質量ピーク出現の極大における特徴的な関数値の幾つかが示されている。
【図５】図４の質量解離スペクトルの３個の解離スペクトルを例示する。
【図６】二次元的スペクトルの平面内で、図３の３個の一次質量ピークの相関法則に対応する、帯電フラグメントの対に解離する多帯電一次イオンの特徴的な線の３例を例示する。
【図７】二次元的スペクトルの平面を例示するが、そこでは、図３の一次質量ピークの、一次質量選択を行わずに帯電フラグメントの対に解離する二重帯電イオンに対応する３本の特徴的な線を、図４の解離ピーク出現の極大における特徴的な関数値の潜在的な真の対の位置と共に示す。
【図８】本発明の一実施態様によるタンデム質量分析計を例示する。
【図９】図９ＡおよびＢは、本発明の校正方法を、高運動エネルギー解離を実施するタンデム飛行時間型質量分析計に適用する際の、既知の分子に対する一次質量スペクトル、およびこれらの一次質量ピークの一つによりイオンを選択した後に発生した解離スペクトルの一例を示す。
【図１０】本発明の校正方法を、高運動エネルギー解離を使用するタンデム飛行時間型質量分析計に適用する際の、選択された質量-対-電荷比を有する二重に帯電した既知の一次イオンの相関線を、二次元的スペクトルの平面内で、例示する。
【図１１】本発明の方法をタンデム飛行時間型質量分析計に適用する際の、通常周波数ｆより高い周波数ｆ'におけるイオン束をパルス化する場合の、低運動エネルギーで同様の質量-対-電荷比で解離する二重に帯電した一次イオンから来る解離フラグメントの対を確認する、４つの異なった例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００３９】
第一に、「多帯電したイオン」とは、正または負の電荷を有し、電荷の絶対値が２以上であり、解離した時、絶対値が1以上である正または負の電荷を有する帯電フラグメントの多重組を発生することができるイオンを意味する。
【００４０】
特に図１に関して、本発明の方法は、好ましくは多帯電した一次イオンを、帯電フラグメントの対を含んでなるフラグメントの多重組、帯電フラグメントの三重組、または帯電フラグメントの対と質量が既知である中性フラグメントから構成されたフラグメントの三重組に解離させることを目的とする。しかし、より一般的には、本発明を、帯電フラグメントの対および帯電フラグメントの対と質量が既知である中性フラグメントを含んでなるフラグメントの三重組に加えて、少なくとも３個のフラグメントを含んでなる帯電フラグメントの多重組および少なくとも３個の帯電フラグメントと質量が既知である中性フラグメントを有する帯電フラグメントの多重組を含んでなるフラグメントの多重組を発生する、あらゆる解離チャネルで実行することが可能である。
【００４１】
この実施方法では、分析すべきイオンに対する質量-対-電荷比の既知の特徴的な関数を有するどのような質量分析計で行っても、第一工程は、確認または研究すべき分子から得られる多帯電イオンに対する一次質量スペクトルを供給することを含んでなる。
【００４２】
この一次質量スペクトルは、データベース、例えばその一次質量スペクトルが予め中に保存されている第三者のデータベース、から読み取ることにより、得ることができる。
【００４３】
この一次質量スペクトルは、図1に例示する工程（ａ）および（ｂ）を実行することによっても得ることができる。
【００４４】
工程（ａ）で、確認すべき分子を、多帯電イオンの供給源1中でイオン化し、実質的に一定の電場で加速し、一次イオン供給源を与える。
【００４５】
次いで、工程（ｂ）で、一次イオンを質量分析計３の中に注入し、解離を行わずに、該一次イオンの一次質量スペクトルを発生させ、該スペクトルは、特徴的な関数値の測定に続いて得た一次イオンピーク出現を含む。
【００４６】
質量分光測定の当業者(限定するものではないが)により従来から使用されている提示グラフでは、一次質量スペクトルは、一般的に、特徴的な関数値が横軸に、対応する出現が縦軸にある２つの直交する軸で示される。
【００４７】
ついで、工程（ｃ）で、この一次質量スペクトルを使用し、各一次質量ピークに対して、一次質量ピークの出現の極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）、一次質量-対-電荷比Ｍ／Ｑおよびイオンの一次電荷Ｑを決定する。
【００４８】
当業者は、使用する質量分析計の通常の一次校正を、既知の分子で、予め行うことにより、各一次質量ピークに対応する一次イオンの各一次質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの値を決定することができる。
【００４９】
当業者は、質量分光測定で通常使用されている確認技術で、各一次質量ピークに対応する多帯電一次イオンの電荷Ｑを決定することもできる。
【００５０】
図３は、一次イオンの、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１、Ｍ２/Ｑ２およびＭ３/Ｑ３および一次質量ピークのそれぞれに対する出現の極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）をそれぞれ有する３個の一次質量ピークを含む一次質量スペクトルの例を示す。
【００５１】
ピークに関連する特徴的な関数値および電荷値から、一次質量ピークに関連する一次イオンの解離から来そうな帯電フラグメントの多重組に対応する特徴的な関数値の全ての可能な多重組を与える相関法則が決定される。
【００５２】
フラグメントの対に解離する多帯電一次イオンに対して、本発明の方法を実行することにより、ただ一つの解離チャネルを検出することができ、それは、一次イオンの、帯電フラグメント対への解離である。
【００５３】
一次質量Ｍと、帯電フラグメントの可能な質量対ｍｉ、ｍｊとの間の関係は、
Ｍ＝ｍｉ＋ｍｊ
である。
【００５４】
一次電荷Ｑと、帯電フラグメントの可能な電荷対ｑｉ’、ｑｊ’との間の関係は
Ｑ＝ｑｉ’＋ｑｊ’
である。
【００５５】
一次質量ピークあたりの相関法則の数は、解離した帯電フラグメント対の間に、一次イオンの一次電荷Ｑが分布する可能性の数に等しい。
【００５６】
例えば、Ｑ１＝２ｅに対して、帯電フラグメントの対、即ち
ｑｉ’＝ｅ、ｑｊ’＝ｅ
の間に電荷が分布する可能性はただ一つである。
【００５７】
Ｑ２＝３ｅでは、帯電フラグメントの対間に電荷が分布する二つの可能性、即ち
ｑｉ’＝ｅ、ｑｊ’＝２ｅ、および
ｑｉ’＝２ｅ、ｑｊ’＝ｅ
があり、従って、二つの対応する相関法則がある。
【００５８】
Ｑ３＝４ｅでは、帯電フラグメントの対間に電荷が分布する三つの可能性、即ち
ｑｉ’＝ｅ、ｑｊ’＝３ｅ、
ｑｉ’＝３ｅ、ｑｊ’＝ｅ、および
ｑｉ’＝２ｅ、ｑｊ’＝２ｅ
があり、従って、三つの対応する相関法則がある。以下、同様である。
【００５９】
低運動エネルギー解離(上記参照)の場合、解離帯電フラグメントの特徴的な関数は、解離フラグメントの質量-対-電荷比に依存するが、親一次イオンの質量-対-電荷比には依存せず、解離フラグメントの質量-対-電荷比に比例する。
【００６０】
従って、同じ質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有し、帯電フラグメントの対に解離する一次イオンに関連する一次質量ピークのそれぞれの電荷ｑｉ’、ｑｊ’の各対に対応するそれぞれの相関法則は、常に、解析的に、下記式：
【数８】
ここで、下記式
【数９】
により表される。
【００６１】
従って、一次質量スペクトルの一次質量ピークに対応する各相関法則は、本発明の方法により、一次電荷値および一次質量ピーク出現の極大における特徴的な関数値に基づいて決定することができる、即ち
一次電荷Ｑの決定により、可能な電荷ｑｉ’、ｑｊ’の各多重組を決定することができ、
出現の極大における特徴的な関数値の決定により、式(２)を使用し、各相関法則の各Ｆ(Ｍ／Ｑｉ’)値を決定することができる。
【００６２】
フラグメントの三重組に解離する多帯電一次イオンでは、本発明の方法を実行することにより、二つの解離チャネルを検出することができ、これは、一次イオンの、帯電フラグメントの三重組への解離、または帯電フラグメントの対および既知質量を有する中性フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの三重組への解離である。
【００６３】
中性フラグメントをさらに含んでなるフラグメントの三重組から来る帯電フラグメントの解離対を形成する解離チャネルに関して、対応する相関法則は、中性フラグメントの質量が既知である場合にのみ決定することができる。
【００６４】
一次質量Ｍと、帯電フラグメント(ｍｉ、ｍｊ)の可能な質量三重組(ｍｉ、ｍｊ、ΔＭ)と、中性フラグメント(ΔＭ)の間の関係は、
Ｍ＝ｍｉ＋ｍｊ＋ΔＭ
である。
【００６５】
一次電荷Ｑと、帯電フラグメントの可能な電荷対(ｑｉ’、ｑｊ’)との間の関係は、
Ｑ＝ｑｉ’＋ｑｊ’
である。
【００６６】
その場合、中性フラグメントの各可能な質量に対する一次質量ピークあたりの相関法則数は、同じ一次電荷Ｑに対して、帯電フラグメント対への可能な解離チャネルの数と等しい。
【００６７】
この解離チャネルを通して発生する中性フラグメントの様々な可能な質量のほとんどは、実際には当業者に公知である。例えば、確認すべき分子がペプチドである場合、中性フラグメントは、通常、Ｈ２Ｏ、ＣＯまたはＮＨ３分子である。他の可能な分子は、特にデータベースから決定することができるか、または当業者には公知である。
【００６８】
従って、ΔＭが、中性フラグメントの可能な既知の質量として示される場合、帯電フラグメントと、各可能な値ΔＭに対応する既知の質量を有する中性フラグメントとの対を含んでなるフラグメントの三重組への解離チャネルの相関法則は、質量Ｍおよび電荷Ｑを有する一次イオンに対する帯電フラグメント対への解離チャネルに関して、(Ｍ-ΔＭ)をＭに置き換えることにより得た、前の相関法則（１）および（２）により、決定される。
【数１０】
ここで、
【数１１】
【００６９】
質量Ｍおよび一次電荷Ｑを有し、それぞれの質量-対-電荷比{(ｍｉ/ｑｉ')、(ｍｊ/ｑｊ')、(ｍｋ/ｑｋ')}の帯電フラグメントの三重組に解離する多帯電イオンの場合、一次質量Ｍと帯電フラグメントの可能な質量三重組、ｍｉ、ｍｊ、ｍｋの間の関係は、
ｍｉ＋ｍｊ＋ｍｋ＝Ｍ
である。
【００７０】
一次電荷Ｑと帯電フラグメントの可能な電荷三重組(ｑｉ'、ｑｊ'、ｑｋ')の間の関係は、
ｑｉ'＋ｑｊ'＋ｑｋ'＝Ｑ
である。
【００７１】
帯電フラグメント対への解離の場合と同様に、中性フラグメントの各可能な質量に対する一次質量ピークあたりの相関法則数は、同じ一次電荷Ｑに対して、帯電フラグメント三重組への可能な解離チャネルの数と等しい。
【００７２】
電荷Ｑ＝３ｅを有する多帯電親一次イオンの例では、三重組の解離帯電フラグメント間にただ一つの可能な電荷配分、即ち
ｑｉ'＝ｑｊ'＝ｑｋ'＝ｅ
その結果、ただ一つの相関法則があることが分かっている。
【００７３】
無論、この推論は、4ｅ以上の一次電荷を有する、帯電フラグメントの全ての多重組に適用できる。
【００７４】
低運動エネルギー解離の場合、３個の解離帯電フラグメントｑｉ'、ｑｊ'、ｑｋ'のそれぞれの可能な電荷配分に対応する各相関法則は、帯電フラグメントの対の場合と同様に、一次式：
【数１２】
ここで
【数１３】
により、決定することができる。
【００７５】
無論、この推論は、少なくとも３個の帯電フラグメント、または少なくとも３個の帯電フラグメントおよび既知の質量を有する中性フラグメントを含んでなるフラグメントの全ての三重組に適用できる。しかし、これは、当業者が前の例を使用してそのような一般化を行うことができるので、詳細には説明しない。
【００７６】
ここで、本発明の方法の実行に戻り、工程（ｄ）で、多帯電一次イオンを、解離装置２により解離させ、多帯電一次イオンのそれぞれに対して帯電フラグメントの多重組を得る。
【００７７】
工程（ｅ）では、解離帯電フラグメントを質量分析計３の中に注入し、出現(またはイオン電流強度)に対する特徴的な関数値を、イオン検出器4により検出した解離帯電フラグメントに対して測定する。
【００７８】
次いで、この値に基づいて、一次質量選択を行わずに、一次質量スペクトルの親一次イオンの各解離スペクトルの全ての質量解離ピークを含んでなる解離質量スペクトル（ＭＳ−ＭＳ）を発生させる。
【００７９】
従って、一次質量スペクトルの一次質量ピークに対応する幾つかの質量解離スペクトルの質量解離ピークは、一次質量選択を行わずに発生させた質量解離スペクトル中に混合されている。
【００８０】
この分野における専門家に対する従来のグラフ表示では、限定はしないが、各解離質量スペクトルを、確認された特徴的な関数値が横軸に、対応する出現が縦軸にある２つの直交する軸で示される。
【００８１】
図４は、図３に示す３個の一次質量ピークの帯電フラグメント対への解離チャネルにのみ対応する、解離ピークを含む解離質量スペクトル（ＭＳ−ＭＳ）を例示する。
【００８２】
実際、一次イオンの解離は、
問題とする他の可能な解離チャネルにより発生した、本発明の方法(例えば帯電フラグメントの三重組への解離、および帯電フラグメントの対および既知質量を有する中性フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの三重組への解離)により確認できる帯電フラグメント、および
本発明の方法により確認できない解離ピーク(例えば中性および帯電フラグメントの対への解離に対応する解離ピーク)
をさらに発生することが分かる。
【００８３】
従って、解離質量スペクトルは、確認できる解離質量ピークに加えて、他の可能な解離チャネルに対応する確認できない質量解離ピークを、解離していない一次イオンピークの一次質量ピークと共に含む。しかし、確認し得る解離ピーク以外の、問題とする解離ピーク、および解離していない一次質量ピークは、本発明の方法により発生する最終的な解離スペクトルから排除することができる。
【００８４】
その場合、質量解離ピークの解離ピークのそれぞれの極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）は、出現に対して発生した特徴的な関数値に基づいて決定される。
【００８５】
図４の例に関して、解離スペクトルは、7対の解離ピークに対応する１４個の質量解離ピークを含んでなり、各解離ピーク対は、同じ質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有する同等の一次イオンの解離から来る帯電フラグメントの対に関連する。解離帯電フラグメントに対する極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における１４個の特徴的な関数値の中の４個を示す。
【００８６】
工程（ｆ）で、測定された、解離帯電フラグメントに対する極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）から、該特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組が形成される。
【００８７】
工程（ｇ）で、該値の潜在的な多重組の中から、解離帯電フラグメント(一次質量ピークのそれぞれに対して同じ質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有する同等の一次イオンの解離から来る)の多重組に関連する解離ピークの真の多重組に対応する、特徴的な関数値の真の多重組は、値の潜在的な多重組を、各一次質量ピークの相関法則により決定される値の可能な多重組と比較することにより、確認される。
【００８８】
本発明により、この確認工程（ｇ）では、出現の極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）の潜在的な多重組の中から、可能な値の多重組に対する近接基準に適合する多重組を選択し、該多重組は、一次質量スペクトルの各一次質量ピークの相関法則により与えられる。
【００８９】
近接基準精度は、一次イオンに対する極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）の精度、この精度は対応する特徴的な法則の精度を決定する、と少なくとも実質的に等しく、潜在的な真の多重組値の精度を決定する解離帯電フラグメントに対する極大における特徴的な関数値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）測定の精度に近い精度を決定する。
【００９０】
一次イオンの極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）および帯電フラグメントの極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における特徴的な関数値の精度は、対応する質量ピークの分解能によって異なる。
【００９１】
最後に、工程（ｈ）で、親一次イオンのそれぞれに対応し、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる各質量解離スペクトルを発生する。
【００９２】
上記のように、本発明の好ましい実行方法により、工程（ｄ）から、分析すべき一次イオンの全てに対して、一次質量選択を行わずに、本方法を実行する。
【００９３】
従来から当業者により使用されているグラフによる表示では、各質量解離ピークを、測定された特徴的な関数値が横軸に、対応する出現が縦軸にある、２つの直交する軸で示される。
【００９４】
図５は、本発明を制限しない例として、図4の一次質量選択を行わない質量解離スペクトルにより得た、図３の３個の一次質量ピークの３種類の質量解離スペクトルを例示する。
【００９５】
上記の工程（ｇ）を説明するために、好ましい実行方法を、低運動エネルギーにおける帯電フラグメント対への解離チャネルの場合で、グラフ表示を通した推論により、説明する。
【００９６】
しかし、当業者には明らかなように、これは、他の多くの様式の中で、とりわけ、この工程の原理を例示し、本発明のデジタル処理を行う様式を理解することを目的とする、代表的な一例に過ぎない。
【００９７】
本方法の工程（ｇ）は、下記の小工程を含んでなる。
【００９８】
先ず、二次元的スペクトルの発生から始めて、帯電フラグメントの対に解離する各一次イオンから得られる特徴的な関数値の各真の対を、全ての測定される特徴的な関数値の潜在的な対の中から確認する。
【００９９】
このスペクトルは、検出されたフラグメントの質量解離ピーク出現の極大における特徴的な関数の測定をそれぞれ示す、２つの同等の第一次元を有する。
【０１００】
グラフ表示で、２つの次元は、好ましくは互いに直交する２本の軸に対応する。
【０１０１】
二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}では、各相関法則は、相関線によって表され、平面内におけるその位置および形態は、先行する工程（ｃ）で決定された該相関法則により決定される。
【数１４】
ここで
【数１５】
帯電フラグメントの対に解離する２ｅの電荷を有する多帯電イオンに関して、相関法則は、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}における直線により表される。
【０１０２】
次いで、各飛行時間対{Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)、Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)}の値を有する各相関直線を平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}中に引くことができる。
【０１０３】
各対{Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)、Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)}は、平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}の２軸のそれぞれの上の２個の位置、即ち下記式：
【数１６】
の相関直線の、軸Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)上のＦｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)および軸Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)上のＦｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)により規定される。
【０１０４】
従って、二次元的スペクトルの、平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある、各相関法則に対応する各相関直線は、それぞれの軸上に位置する２点Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)およびＦｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)を直線で結ぶことにより、容易に決定される。
【０１０５】
従って、電荷qｉ’、qｊ’の各対に対応する各相関直線の特徴的な関数値{Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｉ’)、Ｆｍａｘ(Ｍ／Ｑｊ’)}は、出現極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における特徴的な関数値により、対応する質量ピークの一次電荷Ｑにより、
【数１７】
から決定することができる。
【０１０６】
図６は、本発明を制限しない例として、低運動エネルギーで解離する多帯電イオンに関して、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある、一次電荷Ｑ'１＝２ｅ、Ｑ'２＝３ｅ、およびＱ'３＝４ｅ、の一次質量ピークに対応する相関法則により決定される相関直線を示す。
【０１０７】
図３の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある相関直線の、一次電荷Ｑ'１＝２ｅの一次質量ピークの相関法則に対応する式は、
【数１８】
である。
【０１０８】
図６の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある２本の相関直線の、一次電荷Ｑ'２＝３ｅの一次質量ピークの二つの相関法則に対応する式は、
【数１９】
である。
【０１０９】
図６の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある３本の相関直線の、一次電荷Ｑ'３＝４ｅの一次質量ピークの三つの相関法則に対応する式は、
【数２０】
である。
【０１１０】
それぞれの潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}は、二次元的スペクトル中の出現位置Ｐｒｓに関連する。
【０１１１】
その場合、それぞれの潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}に、対称的な潜在的対{Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)、Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)}が対応する。二つの対称的な潜在的対には、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}内にある出現位置(Ｐｒｓ、Ｐｓｒ)の対が対応する。
【０１１２】
その場合、それぞれの真の対{Ｆｍａｘ(ｍｔ／ｑｔ’)、Ｆｍａｘ(ｍｕ／ｑｕ’)}は、二次元的スペクトル中の対応する出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)の対が、特定の閾より小さい距離で、相関直線の近くに通過する正当性を有する対を維持することにより、潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}の中から確認される。
【０１１３】
ここで、距離閾基準は調節できるのが有利であることが分かる。
【０１１４】
該距離閾の精度は、一次イオンに対して測定された極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）における特徴的な関数値の、対応する相関直線の精度を決定する精度に少なくとも近く、解離帯電フラグメントに対する極大Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）で測定された特徴的な関数値の、二次元的スペクトルにおける潜在的な真の出現の精度を決定する精度に近い。
【０１１５】
図７は、本発明を制限しない例として、二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}を示し、そこでは、図３に示す一次質量スペクトルの３本の相関直線が位置しており、これらの相関直線は、二重帯電一次イオンの３個の一次質量ピークの相関法則に対応し、これらの二重帯電一次イオンは、それぞれＭ１／Ｑ１、Ｍ２／Ｑ２およびＭ３／Ｑ３に等しい質量-対-電荷比を有する単一帯電フラグメントの対に直接解離する。
【０１１６】
この例示では、説明を簡単にするために、図４の１４個の解離ピークの中から、２個の真の対に対応する4個の値{Ｆｍａｘ(Ｍ１／Ｑ１’)、Ｆｍａｘｍ４／ｑ４’)}{Ｆｍａｘ(Ｍ２/Ｑ２’)、Ｆｍａｘ(Ｍ３/Ｑ３’)}だけを示す。
【０１１７】
これらの４個の値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）は、図７の二次元的スペクトルの平面{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}における潜在的な対に対応する、交差点で表す１６個の異なった出現位置Ｐｒｓを決定する。
【０１１８】
図４の１４個の解離ピークに対応する１４個の値Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）を図７上に示す場合、１９６個の出現位置が決定されるであろう。
【０１１９】
質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１を有する一次イオンに対応する相関直線に最も近い潜在的な出現位置の対は対(Ｐ１４、Ｐ４１)であることが分かる。
【０１２０】
これらの位置Ｐ１４、Ｐ４１は、事実、該相関線の上またはすぐ近くにある。
【０１２１】
従って、位置の対(Ｐ１４、Ｐ４１)に対応する対{Ｆｍａｘ(Ｍ１／Ｑ１’)、Ｆｍａｘｍ４／ｑ４’)}は、図３の例における質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１を有する一次質量ピークの解離ピークに属する解離ピークの対の一つであると確認される。
【０１２２】
対照的に、潜在的な位置の他の対と、この相関線との間の距離は、決定された距離閾より大きいので、潜在的な位置の他の対は、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１を有する一次質量ピークの解離スペクトルの解離ピークの対からは来ないと考えられる。
【０１２３】
ところで、質量-対-電荷比Ｍ２／Ｑ２を有する一次イオンに対応する相関直線に最も近い潜在的な出現位置の対は対(Ｐ２３、Ｐ３２)である。
【０１２４】
従って、位置の対(Ｐ２３、Ｐ３２)に対応する対{Ｆｍａｘ(Ｍ２/Ｑ２’)、Ｆｍａｘ(Ｍ３/Ｑ３’)}は、図３の例における質量-対-電荷比Ｍ２／Ｑ２を有する一次質量ピークの解離スペクトルに属する解離ピークの対の一つであると確認される。
【０１２５】
潜在的な位置の他の対と、相関線との間の距離は、決定された距離閾に対して重要過ぎるので、潜在的な位置の他の対は、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１、Ｍ２／Ｑ２またはＭ３／Ｑ３を有する一次イオンのどの解離からも来ないと考えられる。
【０１２６】
確認される２個の真の出現対(Ｐ１４、Ｐ４１)および(Ｐ２３、Ｐ３２)を、図７で丸で囲んだ交差点により示す。
【０１２７】
この説明を簡単にするために、図４および７に例示する上記の例は、帯電フラグメントの対に解離する親一次イオンの解離ピークだけを含んでなる。
【０１２８】
無論、実際には、質量選択を行わずに得られる解離スペクトルは、多帯電一次イオンの他の可能な解離チャネルから得られる確認できる、および確認できない解離ピークを与える質量ピーク、ならびに解離しなかった多帯電イオンの一次質量ピークも含む。これらの解離ピークは、説明を簡単にしない。
【０１２９】
それにも関わらず、質量解離スペクトルの一次質量ピークは、一次質量スペクトルを使用することにより、実際に排除することができる。
【０１３０】
さらに、解離ピークのセットは、事実上の潜在的な多重組をさらに発生する。これらのほとんどは、真の多重組の確認基準により排除されるが、それらの幾つかは、受け容れられ、誤認される多重組、従って、本発明の方法により発生した解離スペクトルにおける質量解離ピークの誤った多重組を発生ることがある。
【０１３１】
しかし、当業者は、既知のデータベースにより、誤った多重組の質量を、親イオンの測定した質量に対応する、理論的または実験的に可能な解離チャネルのフラグメントの多重組の質量と比較することにより、該誤った質量解離ピークを排除することができる。
【０１３２】
上記のグラフを用いた方法は、帯電フラグメントの対を発生する解離チャネルに関して説明したが、明らかに、３個以上のフラグメントを含んでなる帯電フラグメント多重組、例えば三重組、を発生する解離チャネルにも実行できる。
【０１３３】
三重組の場合、本発明を制限しない例により、上記の二次元的スペクトルの代わりに三次元的スペクトルを使用する。該三次元的スペクトルは、３本の同等の軸を含んでなり、それらの軸のそれぞれが、一次質量選択を行わずに得た解離スペクトルの解離ピークの出現極大における解離帯電フラグメントの特徴的な関数の測定値を表す。
【０１３４】
好ましくは、これらの３軸は、互いに直角である。
【０１３５】
前に説明した二次元的スペクトル中で確認される各潜在的な対{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)}に対応する各出現位置Ｐｒｓの等価物は、三次元的空間における、確認される各潜在的な{Ｆｍａｘ(ｍｒ／ｑｒ’)、Ｆｍａｘ(ｍｓ／ｑｓ’)、Ｆｍａｘ(ｍｖ／ｑｖ’)}三重組に対応する、出現位置Ｐｒｓｖである。
【０１３６】
その場合、帯電フラグメントの三重組への解離チャネルに対応する各相関法則には、式
【数２１】
ここで
【数２２】
を有する三次元的スペクトルの空間における相関平面が対応する。
【０１３７】
従って、三次元的スペクトルにおける各位置Ｐｕｔｗに対応する各真の三重組は、前に説明した二次元的な場合と同様に、該相関空間に対する距離閾基準により、位置の潜在的な三重組の中で、確認される。
【０１３８】
本発明の方法は、帯電フラグメントの対、帯電フラグメントの三重組、既知の質量を有する中性フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの三重組、ならびに少なくとも３個の帯電フラグメントを含んでなる帯電フラグメントの多重組、および少なくとも３個の帯電フラグメントおよび既知の質量を有する中性フラグメントを含んでなるフラグメントの多重組に実行できる。その場合、可能な多重組の最大数としてNを指定すると、そのような多重組に対する相関法則は、N-1に等しい次元を有する空間である。
【０１３９】
前に説明したように、本発明の方法により、単一の取得で、質量選択を行わずに、一次質量スペクトルの全ての一次質量ピークに対応する全ての質量解離スペクトルを同時に発生させることができる。
【０１４０】
解離質量スペクトルを得ようとする問題とする質量ピークが、工程（ｂ）で得られる一次質量ピークセットの一部に過ぎない場合もある。さらに、一次質量ピークの数が多い程、解離ピークの数も多くなり、従って、確認される解離ピークの誤った多重組の数も多くなる。
【０１４１】
図８に示すように、イオン供給源１と解離装置２との間に配置された装置５を使用し、一次イオンを解離装置２に注入する前に、問題とする一次ピークを同時に選択し、他を排除することができる。その場合、本発明の方法により、解離スペクトルのセットを同時に発生させ、確認される解離ピークの誤った多重組の数を少なくすることが可能である。
【０１４２】
上記の装置５は、全ての選択した一次質量ピークの確認すべき解離ピークを含む、幾つかの問題とする一次質量ピークを同時に含んでなる大きな質量帯域を選択する、四重極型質量分析計でよい。この種の装置５により、誤って確認される解離ピークの数を少なくすることができるが、各取得で、問題とする一次質量ピークの一部しか選択できず、問題とする解離ピークの全てを発生させるには、幾つかの解離スペクトルを発生させる必要がある。
【０１４３】
対照的に、装置５としてイオントラップを使用することにより、問題とする一次質量ピークのセットを選択すると共に、確認される解離ピークの誤った多重組の数を少なくすることができる。この実施態様では、当業者には公知のように、イオン供給源１により発生したイオンは、イオントラップ５の中に保存され、次いで、イオントラップ５の内側に可変電圧を印加することにより、トラップの外に放出され、質量-対-電荷比との関係で解離装置２に向かう。例えば可変電圧にかけられ、イオントラップ５の出口に配置された一対の反らせ板から製造された装置は、放出された、重要ではない一次イオンを偏向させ、問題とする一次質量ピークに対応する一次イオンだけを通過させる。
【０１４４】
上記のように、本発明を、相関線を含む二つの次元(特徴的な関数値の対)による二次元的空間を使用することにより、図式的な手法により説明した。
【０１４５】
しかし、無論、本発明の具体的な実行は、典型的には、適切なプログラムを実行するデジタルコンピュータ、例えばＤＳＰ(「デジタル信号プロセッサー」を意味する)、により達成される。
特に、相関法則は、典型的には数値データ(例えば低運動エネルギー解離の場合、等式（１）、(３)、（５）、または座標のセット)であり、それらのデータを、分光計により発生し、コンピュータに供給される数値的な特徴的な関数データと比較する。
【０１４６】
より実際的には、本発明は、既存の質量分光測定装置に追加し、この装置の他のソフトウエアとインターフェースさせ、大部分、相関法則データを確立し、特徴的な関数データを集め、そのデータをこれらの相関法則データと比較する、ソフトウエアモジュールの形態で実施することができる。
【０１４７】
いずれにせよ、当業者には明らかなように、一次質量スペクトルの形成、および帯電フラグメントの多重組に解離する多帯電一次イオンから得られる解離スペクトルの形成により、研究する分子を確認する可能性が得られる。
【０１４８】
本発明の方法の、タンデム飛行時間型質量分析計への応用
ここで、本発明の、一次質量選択を行わない、飛行時間型分光計による、多帯電イオン用タンデム質量分光測定の方法および装置を説明する。
【０１４９】
飛行時間型質量分光測定では、イオンの解離工程を、上記の説明のように低運動エネルギーで、または高運動エネルギーで行う。その違いの一つは、低運動エネルギーでは、帯電フラグメントに関する特徴的な関数、ここでは飛行時間型の２乗、が、分析すべきイオンの質量-対-電荷比に比例する(この関数は、帯電フラグメントの質量-対-電荷比に依存するが、一次イオンの質量-対-電荷比には依存しない)のに対し、高運動エネルギーでは、その関数が、帯電フラグメントの質量-対-電荷比に、および親一次イオンの質量-対-電荷比に依存することである。
【０１５０】
従って、質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの高運動エネルギーで解離する帯電フラグメントの飛行時間は、一般的に式
【数２３】
を有し、ここで
【数２４】
は、解離前の質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの親一次イオンの速度であり、
【数２５】
は、帯電フラグメントの質量-対-電荷比Ｍ／Ｑに、親一次イオンの質量比Ｍ／Ｑに、および使用する飛行時間型質量分析計に依存する関数である。
【０１５１】
それにも関わらず、
【数２６】
は、一般的に
【数２７】
の、Ｇ'が帯電フラグメントの質量-対-電荷比Ｍ／Ｑには依存しない関数であろう式で表すことはできない。
【０１５２】
その結果、本発明の方法を、飛行時間型質量分析計で、高運動エネルギーでも実行するためには、別の手段が必要である。
【０１５３】
従って、本発明の方法による高運動エネルギーでの解離の場合、未知の分子に関する相関法則を決定するには、この場合、一般的に、使用する飛行時間型質量分析計に対して、既知の一次質量および解離スペクトルを有する分子で、特殊な予備校正をさらに行う必要がある。
【０１５４】
無論、校正は、上に詳細に説明した解析式を使用する代わりに、低運動エネルギーにおける解離で実行することもできる。
【０１５５】
この校正は、一次質量選択装置(しかし、これは、前に説明したように、問題とする一次ピークの同時選択を除いて、適切な分光法を実行するのに必要ではない)を使用し、下記の準工程で行うのが好ましい。
【０１５６】
工程（ｄ１）で、既知分子の一次質量スペクトルを発生させる。
【０１５７】
次いで、工程（ｄ２）で、この一次質量スペクトルにおける一次質量ピークを選択し、選択された質量-対-電荷比Ｍ／Ｑの一次イオンを解離させる。
【０１５８】
工程（ｄ３）で、類似の質量-対-電荷比Ｍ／Ｑを有する選択された一次イオンを解離させる。
【０１５９】
工程（ｄ４）で、選択された一次イオンの解裂から来る解離フラグメントの解離質量スペクトルを発生させる。
【０１６０】
工程（ｄ５）では、得られた既知の解離質量スペクトルで、帯電フラグメントの多重組への解離に対応するピークの多重組を確認する。
【０１６１】
工程（ｄ６）で、確認された質量解離ピークの各多重組に属する各質量解離ピークの出現極大における飛行時間ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）測定を決定する。
【０１６２】
工程（ｄ７）で、それぞれの可能な電荷多重組に対して、この電荷多重組を満足させ、質量-対-電荷比Ｍ／Ｑに、一次電荷Ｑに、および選択された一次質量ピークの出現極大における飛行時間ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）に対応する相関法則のそれぞれを、確認された飛行時間多重組ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）で決定する。
【０１６３】
工程（ｄ８）で、先行する工程を、既知分子の一次質量スペクトルの選択された一次質量ピークのそれぞれに対して繰り返す。
【０１６４】
次いで、未知分子の一次質量ピークに関する相関法則を、既知分子の一次質量ピークの相関法則に基づいて決定することができる。
【０１６５】
無論、この校正は、どのような一次質量分析計ででも、その質量分析計の特徴的な関数を、上記準工程における飛行時間に置き換えることにより、実行することができる。
【０１６６】
既知分子の一次質量スペクトルの各一次質量ピークに対応する解離ピークの多重組を、全ての一次質量ピークの全ての解離ピークが混合されている場合に得られる解離スペクトル中で確認できるという条件で、先行する校正を一次質量選択を行わずに実行することができる。
【０１６７】
ここで本発明の方法の実行に戻り、工程（ｄ）で、多帯電一次イオンを解離装置２で解離させ、それぞれに対して、帯電フラグメントの多重組を得る。
【０１６８】
低運動エネルギーにおける解離の場合、一次イオンは、イオン束をパルス化し、使用する質量分析計の飛行時間空間３に向けて加速する前に、解離されている。
【０１６９】
ここで、高運動エネルギーにおける解離の場合、一次イオンは、一次イオンの加速およびパルス化の後で、飛行時間空間３の中で解離される。
【０１７０】
本発明の一実施態様では、該相関法則を決定する工程は、解離フラグメント、ここでは解離フラグメントの飛行時間、に対する特徴的な関数値を発生する工程の前または後に行うことができる。
【０１７１】
工程（ｅ）で、各イオン束パルスで帯電フラグメントの飛行時間ＴＯＦ（Ｍ／Ｑ）を、少なくとも一個のイオン検出器4で測定する。
【０１７２】
ここで、好ましい態様により、検出器は、飛行時間だけを測定できる種類の検出器である。
【０１７３】
つまり、位置を測定する必要は無い。
【０１７４】
事実、本発明の好ましい方法による分光法は、有利なことに、フラグメントの飛行時間に関する情報だけを必要とし、位置測定を省略できることが分かる。
【０１７５】
しかし、別の実施方法では、飛行時間および位置の両方を測定する検出器を使用することもできる。
【０１７６】
工程（ｆ）〜（ｈ）は、前に説明した飛行時間型質量分析計で行うことができるので、さらに説明はしない。
【０１７７】
それにも関わらず、飛行時間型質量分析計の場合、本発明の方法を変えずに、本発明の方法の工程（ｆ）〜（ｈ）を、取得の後ではなく、各イオン束パルスで実行し、一次質量選択を行わずに、特定系列のイオン束パルスを累積することにより、解離スペクトルを発生させることもできる。
【０１７８】
本発明のこの実施では、工程（ｆ）は、各イオン束パルスの後、一次イオンの測定された飛行時間の各潜在的な多重組を形成する。
【０１７９】
次いで、工程（ｇ）で、特に該潜在的な多重組から、該相関法則に対する近接基準に適合する多重組を各イオン束パルスの後で確認し、親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する。
【０１８０】
最後に、各イオン束パルスの後で、各一次質量ピークに対応する各解離スペクトルの真の確認された飛行時間多重組を累積することにより、確認された帯電フラグメントの真の飛行時間多重組を含む各一次質量ピークに対応する各解離質量スペクトルを発生する。
【０１８１】
上記の工程（ｆ）〜（ｈ）を説明するために、その好ましい実施方法をここで、帯電フラグメント対への解離チャネルの場合で、グラフ表示による推論により、説明する。
【０１８２】
しかし、当業者には明らかなように、これもやはり、特にこの工程の原理を例示し、本発明のデジタル処理を行う方法を理解することを目的とする、他の多くの方法の中の一例に過ぎない。
【０１８３】
工程（ｆ）で検出したイオンに対する飛行時間測定の、全ての潜在的な多重組の形成に続いて、各イオン束パルスの後で、特に測定した全ての潜在的な飛行時間対から、帯電フラグメントの対に解離した各一次イオンから得られる各真の飛行時間対を、工程（ｇ）で、前に説明した種類の二次元的スペクトルの発生から始まり、確認する。
【０１８４】
二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で、各相関法則を相関線により表すが、該相関線の、平面中の位置および形態は、先行する工程（ｃ）で決定された対応する相関法則により決定される。
【０１８５】
無論、二次元的スペクトルの平面における２本の同等の軸は、飛行時間測定を直接代表する代わりに、飛行時間測定のバイユニボーカル関数(biunivocal function)、例えば二乗した飛行時間測定{ＴＯＦ２ｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦ２ｓ（Ｍ／Ｑ）}、を代表することもでき、本発明の方法を変化させるものではない。
【０１８６】
低運動エネルギーにおける一次イオン解離の場合、各相関法則
【数２８】
は、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦ２ｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦ２ｓ（Ｍ／Ｑ）}中にある直線の等式を有する。
【０１８７】
高運動エネルギーにおける一次イオン解離の場合、校正の工程（ｄ８）を、図式的に示す下記の準工程で、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における各相関法則に対応する各相関線を形成することにより、実行することができる。
【０１８８】
二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の各軸上に、既知分子の確認された解離ピークの各対に対する出現極大における各飛行時間ＴＯＦｍａｘ（Ｍ／Ｑ）を配置する。
【０１８９】
次いで、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で、確認された解離ピークの各対に対する出現極大における飛行時間{ＴＯＦｍａｘ(Ｍ１／Ｑ１)、ＴＯＦｍａｘ(Ｍ２/Ｑ２)}の各対に対応する各出現位置を決定する。
【０１９０】
最後に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で、確認された飛行時間対の位置の一般的な近傍で通過する特性を有する可能な電荷の対(ｑ１、ｑ２)のそれぞれに対応する、この電荷対を満足する各相関線を決定する。
【０１９１】
図９Ｂは、本発明を制限しない例として、帯電フラグメントの対に解離させるチャネルに対応する解離ピークだけを含む解離スペクトル（ＭＳ−ＭＳ）を示すが、このスペクトルは、図９Ａで、質量-対-電荷比がＭ３/Ｑ３である既知の一次質量ピークを選択した後に得ることができる。
【０１９２】
無論、実際には、解離スペクトルは他の可能な解離チャネルから得られる帯電フラグメントに対応する質量のピークも含む(例えば中性フラグメントおよび帯電フラグメントの対への、さらには３個以上のフラグメントへの解離から来る)。これらの解離ピークは、説明を簡単にしない。
【０１９３】
この例では、解離スペクトルが、質量-対-電荷比Ｍ１／Ｑ１、Ｍ２/Ｑ２、Ｍ３/Ｑ３、ｍ４/ｑ４、ｍ５/ｑ５、およびｍ６/ｑ６にそれぞれ対応する６個の解離質量ピークを包含することが分かる。
【０１９４】
これらの異なった解離ピークの出現極大における飛行時間も分かる。
【０１９５】
本発明を制限しない例として、図１０は、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における、これらの異なった解離ピークの出現極大で確認された飛行時間の位置Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、およびＦを結ぶことにより、図式的に得られる相関線Lを示す。
【０１９６】
測定された全ての潜在的な飛行時間対の中で、帯電フラグメントの対に解離する各一次イオンから生じる各真の飛行時間対が、工程（ｇ）で、発生するイオン束の各パルス化における飛行時間測定の各潜在的な対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における対応する位置Ｐｒｓを関連させることにより、決定される。
【０１９７】
各潜在的な対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に、潜在的な対称的対{ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）}が対応する。
【０１９８】
従って、該２個の潜在的な対称的対に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の異なった対称的出現位置(Ｐｒｓ、Ｐｓｒ)が対応する。
【０１９９】
同様に、親一次イオンの解離から得られる解離帯電フラグメントの各対が、２個の真の測定された飛行時間対、即ち{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}およびその対称的な対{ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)、ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)}、を発生する。
【０２００】
従って、該２個の真の対称的対に、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の異なった対称的出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)が対応する。
【０２０１】
潜在的な飛行時間対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の中から帯電フラグメントの対に解離する一次イオンから生じる各真の飛行時間対{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}は、二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の対応する出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)が、それぞれ工程（ｃ）で決定された特徴的な線の一つから、特定の閾より小さな距離にある対を保持することにより、決定される。
【０２０２】
ここで、上記の距離閾基準は調節できるのが有利である。
【０２０３】
距離閾は、各相関線の両側で、解離ピークの分解能以下になるように選択することができ、これによって、感度を犠牲にして分解能を(機器の分解能を越えて)改良することができる。
【０２０４】
他方、この距離閾が解離ピークの分解能以上である場合、解離した、検出された帯電フラグメントの全ての対を確認することができ、これは、分解能、従って機器の分解能、の低下に対する感度を最大限にする。
【０２０５】
工程（ｈ）で、二次元的質量スペクトルにおける第三の直角軸Ｎ上で、測定されたフラグメントの飛行時間の２軸を包含する、平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}で確認された帯電フラグメントの真の飛行時間対{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}の出現位置(Ｐｔｕ)を累積することにより、三次元的解離質量スペクトルの形態にある解離質量スペクトルの全てが同時に発生する。
【０２０６】
この場合、本発明の方法は、有利なことに、三次元的スペクトルの形態における帯電フラグメント対への解離チャネルを含んでなる解離スペクトルの全てを同時に発生することが分かる。
【０２０７】
無論、他の同等の三次元的質量スペクトルを本発明の方法により発生させることもできる。
【０２０８】
例えば、別の三次元的スペクトルは、平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の２本の同等の軸に対する飛行時間測定を、これらの値の関数(例えば飛行時間の２乗{ＴＯＦ２ｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦ２ｓ（Ｍ／Ｑ）})により置き換えることに対応することができる。
【０２０９】
各イオン束パルス化に対して、イオン検出器4は、多帯電一次イオンの全ての可能な解離チャネルから来る帯電フラグメントを検出し、確認できる、および確認できない解離事象、ならびに解離しなかった一次イオンを与える。
【０２１０】
これらの寄与の全てが、イオン束の各パルス化でイオン検出器4により検出されるバックグラウンドノイズを発生し、一次質量選択を行わずに一次イオンを解離する場合、このノイズが、確認すべき真の多重組を形成する帯電フラグメントの多重組から来る問題とする信号と重複する。
【０２１１】
従って、このバックグラウンドノイズは、追加の潜在的な飛行時間多重組も発生し、そのほとんどは、解離帯電フラグメントの多重組の確認基準により排除される。
【０２１２】
しかし、これらの重要ではない潜在的な多重組の小部分は、各イオン束パルスの後、帯電フラグメントの確認基準により受け容れられ、誤った真の多重組を発生する。
【０２１３】
グラフを使用する例では、これらの誤った真の多重組は、図式的に、二次元的スペクトルにおける相関線に対する、距離閾の値に関する基準の正の区域に配置された対応する位置の存在に対応する。
【０２１４】
これらの誤った、確認された多重組は、飛行時間型質量分析計で本発明の方法により、各イオン束パルスで実行される工程（ｆ）〜（ｈ）で発生した解離スペクトルの実際のバックグラウンドノイズである。
【０２１５】
この実際のバックグラウンドノイズは、検出されるバックグラウンドノイズのほんの一部が誤った、確認された多重組を発生するので、イオン検出器4により検出されるバックグラウンドノイズよりはるかに小さい。
【０２１６】
ここで、イオン束パルスに関して、飛行時間型質量分析計に関する本発明の好ましい実施方法により、該パルス化の期間は、測定すべき帯電フラグメントまたは一次イオンの最も長い飛行時間ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}よりも長い。
【０２１７】
この期間は、イオンの通常パルス化周波数ｆ＝[１/ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}と呼ばれる周波数を決定し、これは、典型的には、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｈ）の全てに対して等しい。
【０２１８】
本発明のもう一つの好ましい実施方法では、イオン束のパルス化の期間は、測定すべき帯電フラグメントまたは一次イオンの最も長い飛行時間ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}よりも短くなるように選択することができる。
【０２１９】
従って、このパルス化期間は、通常パルス化周波数ｆより高いパルス化周波数ｆ'を決定し、ここでｆ'＝Ｚｘｆ(またはＺは１を超える数である)である。
【０２２０】
この場合、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｃ）は、先ず通常パルス化周波数ｆで実行する。
【０２２１】
次いで、最高パルス化周波数ｆ'に対応する相関法則を、先行する工程（ｃ）における通常周波数ｆで決定された相関法則から決定する。
【０２２２】
次いで、工程（ｄ）〜（ｇ）を、最高パルス化周波数ｆ'で実行し、その結果、一連のパルス間で検出される帯電フラグメントのオーバーラップが起こり得る。
【０２２３】
ここで再び、帯電フラグメント対への解離チャネルの場合における本発明のデジタル処理の説明に使用したグラフにより推論し、全ての対応する相関線を、二次元的スペクトルの可能な飛行時間対の平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における各一次質量ピークの全ての相関法則に配置することにより、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｃ）を実行する。この平面の各軸の長さは、ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)１}に等しい。
【０２２４】
従って、各相関法則に対応する各相関線は、二次元的スペクトルの平面中に一度表示される。
【０２２５】
通常パルス化周波数ｆで取得を行い、イオン束のＰパルス化を考える場合、取得の合計長さは、
【数２９】
になる。
【０２２６】
ＴｔｏｔをＰの連続する時間スライス、長さでＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}のそれぞれ、に分割する場合、Ｐの同等の二次元的スペクトルを構築することが可能であり、それぞれが周波数ｆにおける取得に対応し、２つの軸上で、同様に長さＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}の、対応する連続する時間スライスがある。
【０２２７】
その場合、全て同等のＰ二次元的スペクトルのそれぞれに、本発明の方法の工程（ａ）〜（ｃ）で決定される相関線の全てを配置することができる。
【０２２８】
従って、各相関法則に対応する各相関線は、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれの上に、各二次元的スペクトルにおける同じ位置で、一度表示される。
【０２２９】
次いで、パルス化周波数ｆ'に対応する相関法則の相関線は、各相関法則に対応するＺの同等の相関線を、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれに、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれで、通常パルス化周波数ｆに対応する各相関線の位置に対して配置することにより、決定される。
【０２３０】
Ｐスペクトルの中から、いずれかの２個の連続する二次元的スペクトルを考えると、パルス化周波数ｆに対応する２個の二次元的スペクトルのそれぞれにおける同じ位置を有する、同じ相関法則の２本の相関線のそれぞれが、ＴＯＦ{Ｍ／Ｑ)ｍａｘ}に等しい長さにより、間隔を置いて一時的に配置される。
【０２３１】
次いで、パルス化周波数ｆ'に対応する同じ相関法則の、Ｚ-２に等しい数の追加相関線は、問題とする全ての２個の連続する二次元的スペクトルにおけるパルス化周波数にそれぞれ対応する、これらの２本の相関線の間に配置される。
【０２３２】
従って、Ｚの相関線(パルス化周波数ｆに対応する２本の線を加えることにより)は、互いに(1/f')により、間隔を置いて一時的に配置される。
【０２３３】
従って、各相関法則に対して、Ｐの二次元的スペクトルのそれぞれが、通常周波数ｆにおけるパルス化に対応する相関線の位置に対して、Ｐの二次元的スペクトルのそれぞれにおいて同等の様式で配置されたＺの対応する相関線を含む。
【０２３４】
次いで、本発明の方法の相関法則を決定する工程を、パルス化周波数ｆ'で行う。
【０２３５】
無論、これは、最高パルス化周波数ｆ'では、どのイオン束に検出された各帯電フラグメントが属するかを決定することは不可能である。
【０２３６】
従って、本発明の方法の工程（ｅ）は、対応する検出された帯電フラグメントに対する飛行時間測定を、パルス化されたイオンのＺｘＰ束に起因すると考えることにより、実行する。
【０２３７】
ＺｘＰイオン束の検出された帯電フラグメントのそれぞれに対して、取得開始から決定された飛行時間を先ず確認する。
【０２３８】
次いで、上記Ｐ一時的部分０〜Ｔの間に、確認された、取得開始から決定された飛行時間のそれぞれを配置する。
【０２３９】
最後に、測定された飛行時間値を、取得開始に対して決定された、各一時的部分の起源と、確認された飛行時間位置との間で、Ｐ一時的部分のそれぞれで検出された各帯電フラグメントに起因すると考える。
【０２４０】
次いで、Ｐ二次元的スペクトルの飛行時間測定の２軸上に、対応する検出された帯電フラグメントの飛行時間測定の原因と考えられる値を配置する。
【０２４１】
次いで、工程（ｆ）で、対応するＰ二次元的スペクトルのそれぞれに起因すると考えられる飛行時間測定による、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれの潜在的な飛行時間対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}を、パルス化周波数ｆ'で発生させる。
【０２４２】
Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれの各潜在的な対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に、対応する二次元的スペクトルの平面における出現位置Ｐｒｓが対応する。
【０２４３】
最後に、本発明の方法の工程（ｇ）を、パルス化周波数ｆ'で行い、各Ｐ二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における２個の対応する出現位置(Ｐｔｕ、Ｐｕｔ)がそれぞれ、パルス化周波数ｆ'により決定された相関線の一つから、各二次元的スペクトルの平面{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}における特定の閾より小さい距離にある対を保持することにより、各Ｐ二次元的スペクトルの潜在的対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}の中から、実際に起因すると考えられる飛行時間対{ＴＯＦ(ｍｔ／ｑｔ)、ＴＯＦ(ｍｕ／ｑｕ)}を確認する。
【０２４４】
同じイオン束の中に注入された帯電フラグメントの対から来る帯電フラグメントは、２つの連続する二次元的スペクトル中で検出することができる。
【０２４５】
該対を確認するには、新しい潜在的な対を、前の工程（ｆ）の潜在的な対のセットに加える必要がある。
【０２４６】
これらの対は、２つの連続する二次元的スペクトル{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）}の起因すると考えられる飛行時間測定により追加の潜在的な対を発生させることにより、確認することができ、そこでは、２個の二次元的スペクトルの一方の飛行時間測定がＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）であり、他方のスペクトルの飛行時間測定がＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）である。
【０２４７】
従って、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれで、類似した質量-対-電荷比を有するが、幾つかの異なったイオン束から来る一次イオンの解離から得られる真の対は、各相関法則に対応するＺ相関線に対する距離閾基準により確認することができる。
【０２４８】
同様に、多帯電一次イオンの解離から来る帯電フラグメントの三重組の確認は、同様に、高周波数のパルス化周波数ｆ'で、本発明の工程（ｄ）〜（ｇ）を操作することにより、行うことができる。
【０２４９】
本発明のデジタル処理を説明するのに使用する図式的な類似方法の続きで、前のＰ二次元的スペクトルを、前に説明したように起因すると考えられる飛行時間測定を含んでなる３本の同等の軸を包含するＰ三次元的スペクトルで置き換える。
【０２５０】
帯電フラグメントの三重組への解離に対応するＰ三次元的スペクトルのそれぞれの各空間におけるＺ相関空間の位置が、前に説明した二次元的な場合と同様の様式で得られていると仮定し、各三次元的スペクトルのＺ相関空間に対する対応する位置の距離閾基準により、飛行時間の真の三重組を、Ｐ三次元的スペクトルのそれぞれの飛行時間の潜在的な三重組の中から確認する。
【０２５１】
低運動エネルギーにおける解離の場合、幾つかの解離フラグメント対を質量分析計の飛行時間空間中に注入して２つの異なった連続イオン束にする、および／または２つの連続した二次元的スペクトルで検出することができる。
【０２５２】
これらの解離した帯電フラグメントの対は、本発明の方法により、Ｐ二次元的スペクトルの起因すると考えられる飛行時間測定{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）}の潜在的な対の中からは確認することができず、この方法では、同じイオン束に注入された、同じ二次元的スペクトルで、２つの連続した二次元的スペクトルで検出される、対だけを確認することができる。
【０２５３】
これらの対を確認するには、先行する工程（ｆ）における先行する潜在的な対の全てに、新しい潜在的な対を加える必要がある。
【０２５４】
これらの、２つの連続するイオン束によりパルス化される帯電フラグメントの対の２つのフラグメントが、同じ二次元的スペクトル中で検出される場合、これらを、各飛行時間測定に対して、他の飛行時間測定のそれぞれに対して、値ΔＴＯＦ＝（１／ｆ）＝（１／Ｚｘｆ）を加えること、および差し引くことにより、確認することができる。
【０２５５】
その場合、追加の潜在的な対応する対{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}を発生させる。
【０２５６】
帯電フラグメントの対の２個のフラグメントが、２つの連続するイオン束によりパルス化され、２つの連続する二次元的スペクトルで検出される場合、これらを、他の潜在的な対を形成し、前の追加対に加えることにより、確認することができる。
【０２５７】
２つの二次元的スペクトルの一方の飛行時間測定がＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）であり、他方の二次元的スペクトルの飛行時間測定がＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）である場合、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}の新しい潜在的な対が発生する。
【０２５８】
従って、全ての可能な検出された真の対を確認するのに使用される、各Ｐ二次元的スペクトルの潜在的な全ての対は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}および{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}である。
【０２５９】
同様に、この計算を使用し、帯電フラグメントの対の２つのフラグメントが２つの異なった非連続的なイオン束でパルス化され、２つの非連続的な二次元的スペクトルで検出される場合を処理できることが分かる。
【０２６０】
低運動エネルギーで解離する一次イオンに対する同じ解離チャネルから、前の４つの可能な場合に対応する、類似の質量-対-電荷比を有する親一次イオン解離から来る、帯電フラグメントの対を確認する４つの例も図１１に示す。
【０２６１】
1０と表示する位置は、同じイオン束でパルス化し、同じ二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に対応する。
【０２６２】
２０と表示する位置は、同じイオン束でパルス化し、２つの連続的な二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）}に対応する。
【０２６３】
３０と表示する位置は、２つの連続的なイオン束でパルス化し、同じ二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）-ΔＴＯＦ}に対応する。
【０２６４】
4０と表示する位置は、２つの連続的なイオン束でパルス化し、２つの連続的な二次元的スペクトルで検出した帯電フラグメント対の場合{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）+ΔＴＯＦ}に対応する。
【０２６５】
高運動エネルギーにおける一次イオン解離の場合、これらの対は、同じパルス化されたイオン束から常に得られるが、２つの連続した二次元的スペクトルで検出することができる。
【０２６６】
２つの二次元的スペクトルのそれぞれのＺ-１相関線の、起因すると考えられる確認された飛行時間測定の対の通常パルス化周波数ｆに対応する、飛行時間測定の真の値を決定するために、通常パルス化周波数ｆに対応する相関線に対するそれらの相関線位置に対応する値を、該起因すると考えられる確認された飛行時間から差し引く(またはそれに加える)。
【０２６７】
例えば、通常パルス化周波数ｆに対応する相関空間に隣接する相関空間上に位置する、起因すると考えられる確認された飛行時間の多重組に対して、値ΔＴＯＦ＝（１／ｆ‘）を該起因すると考えられる飛行時間から差し引いて(またはそれに加えて)修正し、それらの真の測定値を決定する。
【０２６８】
図１１の例では、同じ解離チャネルに対応する、起因すると考えられる、確認された飛行時間の4つの対の位置が、それらの、破線で示す相関線に対して直角の直線上に位置する。通常パルス化周波数ｆに対応する２本の相関線上にある位置1０および２０は、真の飛行時間測定の対である(該２対の起因すると考えられる値は、それらの真の測定された値に等しい)。位置３０および4０に位置する対の真の測定された値は、グラフにより、図１１の直角破線に沿って位置３０および４０を位置１０および２０上にそれぞれ投影することにより、決定される(これは、それらの特徴的な線の位置による値を差し引く(または加える)ことによる、起因すると考えられる飛行時間修正に対応する)。
【０２６９】
最後に、工程（ｈ）で、通常パルス化周波数に対応するパルス化周波数ｆ'における各相関法則の各解離スペクトルを、Ｐ二次元的スペクトルのそれぞれのＺ相関線の、修正された起因すると考えられる確認された飛行時間のセットで得た、真の確認された飛行時間測定の対を累積することにより、発生させる。
【０２７０】
一次質量の各ピークに対応する各解離スペクトルを、最後に、パルス化周波数ｆ'で得た対応する相関法則の質量解離スペクトルで発生させる。
【０２７１】
従って、Ｐ二次元的スペクトルの追加に対応する周波数ｆ'＝Ｚｘｆで得た各解離質量スペクトルは、通常周波数で得た、ＺｘＰイオン束パルス化を含んでなる質量スペクトルと等しい。
【０２７２】
やはり、本発明の好ましいグラフによる実施方法における相関線の位置に対する距離閾に対応する、相関法則に対する近接基準の値は、本発明の方法により得られる解離ピークの分解能を決定する。
【０２７３】
帯電フラグメント三重組への低運動エネルギー解離の場合、前の、解離帯電フラグメントの対の場合と同様に、解離した三重組の幾つかのフラグメントを、質量分析計の飛行時間空間中の２つの異なった連続するイオン束中に、ただし、３つの異なった連続するイオン束中にも、注入することができる。
【０２７４】
異なった可能な場合に対応する異なった潜在的な三重組は、
３つのフラグメントが同じイオン束中に注入され、同じ三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｙ（Ｍ／Ｑ）}であり、
３つのフラグメントが同じイオン束中に注入され、２つの連続する三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＰｙ'（Ｍ／Ｑ）}であり、
３つのフラグメントが２つの連続するイオン束中に注入され、同じ三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ}であり、
３つのフラグメントが２つの連続するイオン束中に注入され、２つの連続する三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ}であり、
３つのフラグメントが３つの連続するイオン束中に注入され、同じ三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±２ΔＴＯＦ}であり、
３つのフラグメントが３つの連続するイオン束中に注入され、２つの連続する三次元的スペクトル中で検出される場合は、{ＴＯＦｒ'（Ｍ／Ｑ）、ＴＯＦｓ'（Ｍ／Ｑ）±ΔＴＯＦ、ＴＯＰｙ（Ｍ／Ｑ）±２ΔＴＯＦ}である。
【０２７５】
同様に、この計算により、２つ(または３つ)の異なった、非連続的なイオン束にパルス化され、２つ(または３つ)の非連続的な三次元的スペクトルで検出される帯電フラグメントの三重組の３つのフラグメントの場合を実行できることも、容易に理解できる。
【０２７６】
無論、同様に、帯電フラグメントの多重組の確認は、高周波数で、パルス化周波数ｆ'で、操作することにより、少なくとも３つの帯電フラグメント、および少なくとも３つの帯電フラグメントと既知質量を有する中性フラグメントを含んでなるフラグメントの、全ての三重組に対して、実行することができる。しかし、これは、当業者には、上記の例を使用してそのような一般化が可能なので、詳細には説明しない。
【０２７７】
飛行時間型質量分析計に関して上に説明した本発明を、相関線を含む二次元(特徴的な関数値の対)による二次元的スペクトルを使用することにより、図式的な手法を使用して説明した。
【０２７８】
しかし、無論、その具体的な実施は、典型的には適切なプログラムを実行するデジタルコンピュータ、例えばＤＳＰ(「デジタル信号プロセッサーを意味する」)、により達成される。
【０２７９】
特に、相関法則は、数値的なデータ(等式、例えば低運動エネルギー解離の場合、等式（１）、(３)、（５）、または座標のセット)であり、このデータと、分光計により発生し、コンピュータに供給される数値的な特徴的な関数が比較される。
【０２８０】
より実際的には、本発明は、ソフトウエアモジュールの形態で具体化することができ、このソフトウエアモジュールを、既存の飛行時間型質量分光測定装置に加え、この装置の他のソフトウエアとインターフェースし、大部分、相関法則データを確立し、特徴的な関数データを集め、これらの特徴的な関数データをこれらの相関法則データと比較する。
【０２８１】
高運動エネルギーにおける解離の場合、相関空間の校正に関して、一次質量選択用の装置、例えば各イオン束のパルス化と解離装置２との間で作用する時間ゲートにより一次質量選択を行うための装置５、がそれを行うことができる場合、この装置を使用し、それでも一次質量ピークの選択を行わずに、前に説明したように、重要ではない他の一次質量ピークを排除することにより、イオン光線の各パルス化で問題とする一次質量ピークの全てを選択し、本発明の方法を実行することもできる。
【０２８２】
低運動エネルギーにおける解離の場合、解離スペクトルの中で重要ではない一次質量ピークの排除は、上記のように、イオントラップ５をイオン供給源1と解離装置２との間に配置することにより、または四重極型質量分析計５を使用することにより、行うことができる。
【０２８３】
これによって、検出されたバックグラウンドノイズを制限し、その結果、本発明の方法により発生した解離スペクトル中に確認される帯電フラグメントの誤った対の実際のバックグラウンドノイズも制限することができる。
【０２８４】
上記の装置５は、必要であれば、一次質量スペクトルにより予め確認されている分子に対応する一次質量ピークを排除し、スペクトルＭＳ−ＭＳの取得を一般的に不要にすることもできる。
【０２８５】
本発明の方法は、解離工程に続いて得られる帯電フラグメントに対して行い、帯電フラグメントを同時に解離させることにより、該親帯電フラグメントのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を入手し、多重質量分光測定（ＭＳ）ｎの方法を実行することができる。
【０２８６】
必要であれば、問題とする一次質量ピークを一次質量スペクトルから選択する予備工程を実行することができる。
【０２８７】
本発明の分光計の構成部品および操作
ここで、本発明の分光測定法を実行するタンデム質量分析計おける幾つかの好ましい分光計構成部品および分光計操作を、より詳細に、本発明を制限しない例として説明する。
【０２８８】
イオン供給源1は、連続式またはパルス化された、例えばESI(エレクトロスプレーイオン化)イオン供給源、MALDI(マトリックス支援レーザー脱離イオン化)パルス化されたレーザーイオン供給源、APCI(大気圧化学イオン化)イオン供給源、APPI(大気圧光イオン化)イオン供給源、LDI(レーザー脱離イオン化)イオン供給源、ICP(誘電カップリングプラズマ)イオン供給源、EI(電子衝撃)イオン供給源、CI(化学イオン化)イオン供給源、FI(電場イオン化)イオン供給源、FAB(高速原子衝突)イオン供給源、LSIMS(液体二次イオン質量分光測定)イオン供給源、API(大気圧イオン化)イオン供給源、FD(電界脱離)イオン供給源、DIOS(シリシウム上脱離イオン化)イオン供給源、または他の種類の多帯電イオン供給源、でよい。
【０２８９】
低運動エネルギーにおける解離装置２は、多重極導波管、イオントラップ、フーリエ変換質量分析計、または帯電フラグメントの多重組を発生させることができる他のいずれかの装置でよい。
【０２９０】
その上、高運動エネルギーにおける解離は、CID/CAD(衝突誘発解離/衝突活性化解離)により解離し得るガスを含む衝突チャンバー、イオン供給源でイオン化された一次分子の内部エネルギーを増加させた後、または飛行時間経路上で光イオン化により、自然解離させる飛行時間空間(PSDまたは供給源後減衰)、またはSID(表面誘発された解離)技術、ECD(電子捕獲解離)技術、IRMPD(赤外多光子解離)技術、PD(光解離)技術、BIRD(バックボディ赤外解離)技術、または一次イオンを解離させるいずれかの装置で行うことができる。
【０２９１】
一次イオンの解離を電子捕獲で行う場合、解離を生じる該電子捕獲は、解離工程（ｄ）の前に一次イオン電荷Ｑを変性させる。その際、一次電荷Ｑと帯電フラグメントの可能な電荷対(ｑｉ’、ｑｊ’)との間の関係は、例えば
【数３０】
である。
【０２９２】
問題とする一次質量ピークに対応する一次イオンを解離装置２の中に注入するのに使用する装置５は、四重極型質量分析計、双曲線幾何学的構造を有する３Ｄイオントラップ、円筒形幾何学的構造を有する直線状２Ｄイオントラップ、または他のいずれかのイオントラップでよい。
【０２９３】
一次質量選択を行わずに一次質量スペクトルおよび解離質量スペクトルを発生させるのに使用される質量分析計３は、下記の群、即ち飛行時間型質量分析計、磁場偏向型質量分析計、四重極型質量分析計、イオントラップ、FTICR質量分析計、または他の型の質量分析計、の一つでよい。
【０２９４】
イオン束パルス化とイオン検出器４との間の飛行時間空間３は、直線的であるか、またはレフレクトロンを備えていることができる。
【０２９５】
この場合、レフレクトロンは、一段階または二段階型、湾曲場レフレクトロン(CFR)型、または方形もしくは他のいずれかの型のレフレクトロンでよい。
【０２９６】
各イオン束のパルスは、イオン供給源１で、イオン供給源と解離装置との間で、あるいは解離装置２とイオン検出器４との間で実現することができる。
【０２９７】
イオン供給源が連続式である場合に飛行時間型質量分析計に必要なイオン束のパルスは、下記の技術、即ち切欠き部(notch)を通したイオンの連続線の走査、２個の反らせ板の間における可変電場の印加、連続的イオン線に対して直角の２個の電極間に可変電場を印加することによる直角注入、の一つにより、実行することができる。
【０２９８】
イオントラップ３は、双曲線幾何学的構造の３Ｄイオントラップ、円筒形幾何学的構造の直線的２Ｄイオントラップ、または他のいずれかの型のイオントラップでよい。
【０２９９】
フーリエ変換質量分析計は、静止磁場または放射状対数電場(radial logarithmic electical field)を使用してイオンを保存するFTICR質量分析計でよい。
【０３００】
飛行時間型質量分析計で使用できるイオン検出器4は、少なくとも一個のアノードを備え、各アノードが、増幅器、弁別器および時間デジタル変換器(TDC)から構成される電子計数器を備えた少なくとも一個のマイクロチャネルプレート(MCP)から構成されるか、または検出された各一次イオンおよび各帯電フラグメントの特徴的な関数値を測定するのに使用される他のいずれかの型のイオン検出器でよい。
【０３０１】
ここで、図２および８に例示する構成部品を使用する質量分析計の、本発明を制限しない４通りの実施方法を説明する。
【０３０２】
分光計の第一実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第一実施方法を図２に例示する。
【０３０３】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、低運動エネルギーにおけるCIDにより一次イオンの解離を行うガスを含む多極導波管ｑを含んでなる解離装置２、直角注入によりイオン線をパルス化するための装置およびレフレクトロンを備えた飛行時間空間を含む飛行時間型質量分析計３、およびイオン検出器4を包含する。
【０３０４】
タンデム質量分析計に関するこの実施態様は、一次質量選択Ｑ-ｑ-ＴＯＦを行い、四重極型質量分析計をさらに装備し、一次質量選択をＭＳ−ＭＳで行う、タンデム質量分析計を使用する当業者には公知である。
【０３０５】
従って、第一実施態様は、四重極型質量分析計Ｑを含まない以外は、該装置と同等である。
【０３０６】
先ず、一次質量スペクトルを、多極導波管ｑへの質量解離を行わずに、直角注入による飛行時間型質量分析計で発生させる。
【０３０７】
次いで、一次質量選択を行わずに、それでも飛行時間型質量分析計中で、低運動エネルギーで、CIDにより多極導波管ｑの内側で、帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３０８】
本発明の方法により、解離ピークの多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、対応する一次イオンの質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３０９】
ＭＳ−ＭＳモードにおけるデューティサイクルを、典型的には５〜３０％から約1００％に増加させるために、本発明を、工程（ｄ）〜（ｇ）で、より高い周波数ｆ'＝Ｚｘｆで、各イオン束パルス化の後に帯電した多重組の個別確認により、行うことができる。通常周波数パルス化ｆ＝1０ ｋＨｚに対して、ｆ'は、Ｚ＝２０でｆ'＝２００ｋＨｚとして選択することができる。
【０３１０】
本発明の第一実施の一実施態様では、図８に例示するように、本装置に、イオン供給源１と解離装置２の間に配置された四重極型質量分析計またはイオントラップを装備し、大きな質量寛容度で、本発明の方法で確認される、問題とする幾つかの一次質量ピークを同時に選択し、解離質量ピークの誤った多重組の数を少なくする。
【０３１１】
本発明の第一実施の別の実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置を供給源1の上流に配置することができる。
【０３１２】
分光計の第二実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第一実施方法を図２に例示する。
【０３１３】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、円筒形幾何学的構造を有する直線的２Ｄイオントラップ２、３、およびイオン検出器４を包含する。
【０３１４】
この実施態様では、イオントラップを、解離装置２および質量分析計３の両方として使用する。
【０３１５】
タンデム質量分析計のこの実施態様は、同等の質量分析計を使用し、質量選択により質量解離スペクトルを発生させる当業者には公知である。
【０３１６】
先ず、イオン供給源1により放射された一次イオンを保存した後、解離を行わずに、イオントラップ２、３により一次質量スペクトルを発生させる。
【０３１７】
次いで、イオントラップで一次質量選択を行わずに、イオントラップの内側に含まれるガス分子によるCIDにより帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、低運動エネルギーで、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３１８】
本発明の方法により、解離ピークの多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、対応する一次イオンの質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３１９】
本発明の第二実施の一実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置をイオン供給源1の上流に配置することができる。
【０３２０】
本発明の第一実施の別の実施態様では、双曲線幾何学的構造を有する３Ｄイオントラップを、２Ｄイオントラップに置き換える。
【０３２１】
本発明の第二実施のさらなる実施態様では、図８に例示するように、本装置に、イオン供給源１と解離装置２の間に配置された四重極型質量分析計５またはイオントラップ５を装備し、本発明の方法で確認される、解離質量ピークの誤った多重組の数を少なくする。四重極型は、大きな質量寛容度で、問題とする幾つかの一次質量ピークを同時に選択することができ、イオントラップはさらに、問題とする全ての一次質量ピークを同時に選択することができる。
【０３２２】
この実施態様に加えて、図８に例示するように、本装置は、四重極型質量分析計(それぞれイオントラップ５)とイオントラップ３の間に配置された、多極イオンガイド２をさらに備え、帯電フラグメントをイオントラップ３の中に注入する前に、CIDにより一次イオンを解離させることができる。
【０３２３】
分光計の第三実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第三実施方法を図２に例示する。
【０３２４】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、双曲線幾何学的構造を有する直線的２Ｄイオントラップ２、レフレクトロンを備えた飛行時間型質量分析計３、およびイオン検出器４を包含する。
【０３２５】
この実施態様では、イオントラップ２を使用して各イオン束をパルス化し、飛行時間測定を行う。
【０３２６】
タンデム質量分析計のこの実施態様は、同等の質量分析計を使用し、質量選択により質量解離スペクトルを発生させる当業者には公知である。
【０３２７】
先ず、イオン供給源1により放射された一次イオンを保存した後、解離を行わずに、および飛行時間の空間を通してイオン束のパルス化の後、一次質量スペクトルを発生させる。
【０３２８】
次いで、イオントラップで一次質量選択を行わずに、イオントラップの内側に含まれるガス分子によるCIDにより帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、低運動エネルギーで、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３２９】
本発明の方法により、解離ピークの多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、対応する一次イオンの質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３３０】
本発明の第三実施の一実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置をイオン供給源1の上流に配置することができる。
【０３３１】
分光計の第四実施方法
本発明によるタンデム質量分析計の第一実施方法を図２に例示する。
【０３３２】
この質量分析計は、一次イオンの全体的な移動方向で、順に、エレクトロ-スプレーイオン化(ESI)多帯電イオン供給源1、ＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計２、３、およびサイクロトロン周波数を測定する検出器４を包含する。
【０３３３】
この実施態様では、ＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計を、解離装置２および質量分析計３の両方として使用する。
【０３３４】
タンデム質量分析計のこの実施態様は、同等の質量分析計を使用し、質量選択により質量解離スペクトルを発生させる当業者にはそれ自体公知である。
【０３３５】
先ず、イオン供給源1により放射された一次イオンを保存した後、解離を行わずに、ＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計により一次質量スペクトルを発生させる。
【０３３６】
次いで、フーリエ変換分光計で一次質量選択を行わずに、中性ガスの分子による衝突誘発された解離（ＣＩＤ）により、または該分光計の空間における電子捕獲解離（ＥＣＤ）により帯電フラグメントの多重組への一次イオン解離の後、低運動エネルギーで、質量解離スペクトルを発生させる。
【０３３７】
本発明の方法により、解離質量の多重組を、一次質量ピークに対応する解離ピークのそれぞれに対して確認し、最後に、質量解離ピークの多重組を含んでなる各解離スペクトルを発生させる。
【０３３８】
本発明の第二実施の一実施態様では、LC(液体クロマトグラフィー)分子分離装置をイオン供給源1の上流に配置することができる。
【０３３９】
本発明の第四実施の別の実施態様では、図８に例示するように、本装置に、イオン供給源１と解離装置２の間に配置された四重極型質量分析計５またはイオントラップ５を装備し、本発明の方法で確認される、解離質量ピークの誤った多重組の数を少なくする。四重極型Ｑは、大きな質量寛容度で、問題とする幾つかの一次質量ピークを同時に選択することができ、イオントラップはさらに、問題とする全ての一次質量ピークを同時に選択することができる。
【０３４０】
この実施態様に加えて、図８に例示するように、本装置は、四重極型質量分析計(それぞれイオントラップ５)とＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計３の間に配置された、多極イオンガイド２をさらに備え、帯電フラグメントをＦＴ−ＩＣＲフーリエ変換質量分析計３の中に注入する前に、CIDにより一次イオンを解離させることができる。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分析すべきイオンの質量-対-電荷比の公知の特徴的な関数を有する質量分析計で使用するためのタンデム質量分光測定方法であって、
（ａ）分析すべき一次イオン供給源を用意する工程、
（ｂ）前記一次イオンの、前記一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに、発生させる工程、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値から、および前記ピークに関連する電荷値から、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、特徴的な関数値の可能な全ての多重組が適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを同時に解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得る工程、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｇ）前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、
（ｈ）それぞれ問題とする親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程、
を含んでなる、方法。
【請求項２】
問題とする一次イオンの前記解離が、既知の質量を有する中性フラグメントを発生することができ、前記相関法則決定工程が、質量の潜在的損失を考慮して行われる、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
潜在的な多重組の最大数としてＮを指定する場合、その多重組に対する相関法則が、Ｎ−１に等しい次元を有する空間である、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記相関法則決定工程が、前記解離フラグメントに前記特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる、請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記相関法則決定工程が、前記解離フラグメントに前記特徴的な関数値を発生する工程に続いて行われる、請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
前記帯電した解離フラグメントの前記特徴的な関数が、前記解離フラグメントの前記質量-対-電荷比に依存し、前記親一次イオンの前記質量-対-電荷比には依存しない、請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
前記帯電した解離フラグメントの前記特徴的な関数が、前記解離フラグメントの前記質量-対-電荷比に比例する、請求項１〜６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
前記相関法則が計算により決定される、請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
前記帯電した解離フラグメントの前記特徴的な関数が、前記解離フラグメントの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に、および前記親一次イオンの前記質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に依存する、請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１０】
前記相関法則が、質量および電荷が既知であるイオンで得た校正データの使用により決定される、請求項１〜９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１１】
前記相関法則決定工程が、
（ｄ１）質量および電荷が既知であるイオンに対して一次質量スペクトルを発生すること、
（ｄ２）前記スペクトルで一次質量ピークを選択すること、
（ｄ３）選択された一次イオンを解離させ、特定の質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）を求めること、
（ｄ４）前記選択された一次イオンから来る解離フラグメントの解離質量スペクトルを発生すること、
（ｄ５）前記解離質量スペクトル中で、帯電フラグメントの多重組への解離が起こることに対応するピークの多重組を確認すること、
（ｄ６）確認された各多重組に属する各ピークの出現の極大に対応する特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)を決定すること、
（ｄ７）それぞれの可能な電荷多重組に対して、この電荷多重組を満足し、前記質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に、前記一次電荷Ｑに、および前記選択された一次質量ピークに対する出現極大における特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)に対応する特徴的な関数値の確認された多重組との相関法則のそれぞれを決定すること、および
（ｄ８）工程（ｄ１）〜（ｄ７）を、既知分子の一次質量スペクトルの各選択された一次質量ピークに対して繰り返すこと、からなる前工程を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記既知分子で得た相関法則に基づき、未知分子の一次質量ピークの相関法則を決定する工程をさらに含んでなる、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記決定された相関法則が座標のセットにより規定される、請求項９または１０に記載の方法。
【請求項１４】
前記決定された相関法則が分析により規定される、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１５】
一次質量選択により、問題とする異なった一次イオンの群を選択する工程をさらに含んでなる、請求項１〜１４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１６】
前記問題とする一次イオンを選択する工程が、解離フラグメントに対する前記特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記近接基準が調節可能である、請求項１〜１６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１８】
前記工程（ｅ）〜（ｇ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、前記工程（ｅ）で決定された特徴的な関数値が、前記累積出現により形成されるピークの極大における関数値である、請求項１〜１７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１９】
前記工程（ｅ）〜（ｇ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、前記工程（ｈ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う、請求項１〜１７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項２０】
前記特徴的な関数の値が、関連する飛行時間である、請求項１〜１９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項２１】
前記解離したイオンが、連続する周期的なイオンパルス中に含まれ、パルス発生期間が、測定すべき解離した帯電フラグメントの最長飛行時間より短く、前記工程（ｄ）および（ｅ）が、連続するパルス間のオーバーラップで行われ、前記工程（ｃ）が、先行するイオンパルス中に含まれる問題とする親一次イオンの解離により生じた帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に対する相関法則を決定することを包含する、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
（ａ）分析すべき多帯電一次イオンの供給源（１）、
（ｂ）前記一次イオンの、一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに、発生する装置(３)、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値から、および前記ピークに関連する電荷値から決定された一組の相関法則、前記相関法則は、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得るように設計された解離装置(２)、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生し、保存する装置、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成し、前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定し、それぞれ問題とする前記親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生するための処理装置、
の組合せを含んでなる、タンデム質量分光分析計。
【請求項２３】
問題とする異なった一次イオンの群を選択するための一次質量選択装置をさらに含んでなる、請求項２２に記載の分光分析計。
【請求項２４】
前記一次質量選択装置が、イオントラップを含んでなる、請求項２３に記載の分光分析計。
【請求項２５】
前記一次質量選択装置が四重極を含んでなる、請求項２３に記載の分光分析計。
【請求項２６】
前記一次質量選択装置が一時的ゲートを含んでなる、請求項２３に記載の分光分析計。
【請求項２７】
前記解離装置が多極導波管である、請求項２２〜２６のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項２８】
飛行時間型質量分析計を含んでなる、請求項２２〜２７のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項２９】
前記解離装置が、イオン束を前記飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の前に配置される、請求項２８に記載の分光分析計。
【請求項３０】
前記解離装置が、イオン束を前記飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の後に配置される、請求項２８に記載の分光分析計。
【請求項３１】
前記イオン加速器が直角注入装置を含んでなる、請求項２９または３０に記載の分光分析計。
【請求項３２】
レフレクトロンをさらに含んでなる、請求項２８〜３１のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項３３】
前記多帯電イオン供給源（１）が、エレクトロスプレーイオン化イオン供給源である、請求項２２〜３２のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項３４】
イオンの質量-対-電荷比の既知の特徴的な関数を有する質量分析計を含んでなる質量分光測定装置で実行するように設計されたコンピュータプログラムであって、
（ａ）前記装置を、分析すべき多帯電一次イオンの供給源から、解離を行わずに、前記一次イオンの一次質量スペクトルを発生させ、その際、前記スペクトルが、一次イオン出現のピークを含むように制御する工程、
（ｂ）前記スペクトルの、前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値を含むデータを、前記ピークに関連する電荷値から取得する工程、
（ｃ）前記データから、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンの同時解離が起きるように前記装置を制御し、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を入手し、前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｅ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｆ）前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、および
（ｇ）それぞれ問題とする前記親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程、
を行うように設計された一連の指示を包含する、コンピュータプログラム。
【請求項３５】
前記工程（ｅ）〜（ｆ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、前記工程（ｄ）で決定された特徴的な関数値が、前記累積出現により形成されたピークの極大にある特徴的な関数値である、請求項３４に記載のコンピュータプログラム。
【請求項３６】
前記工程（ｅ）〜（ｆ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、前記工程（ｇ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う、請求項３４に記載のコンピュータプログラム。
【請求項１】
分析すべきイオンの質量-対-電荷比の公知の特徴的な関数を有する質量分析計で使用するためのタンデム質量分光測定方法であって、
（ａ）分析すべき一次イオン供給源を用意する工程、
（ｂ）前記一次イオンの、前記一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに、発生させる工程、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値から、および前記ピークに関連する電荷値から、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、特徴的な関数値の可能な全ての多重組が適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを同時に解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得る工程、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｇ）前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、
（ｈ）それぞれ問題とする親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程、
を含んでなる、方法。
【請求項２】
問題とする一次イオンの前記解離が、既知の質量を有する中性フラグメントを発生することができ、前記相関法則決定工程が、質量の潜在的損失を考慮して行われる、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
潜在的な多重組の最大数としてＮを指定する場合、その多重組に対する相関法則が、Ｎ−１に等しい次元を有する空間である、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記相関法則決定工程が、前記解離フラグメントに前記特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる、請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記相関法則決定工程が、前記解離フラグメントに前記特徴的な関数値を発生する工程に続いて行われる、請求項１〜３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
前記帯電した解離フラグメントの前記特徴的な関数が、前記解離フラグメントの前記質量-対-電荷比に依存し、前記親一次イオンの前記質量-対-電荷比には依存しない、請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
前記帯電した解離フラグメントの前記特徴的な関数が、前記解離フラグメントの前記質量-対-電荷比に比例する、請求項１〜６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
前記相関法則が計算により決定される、請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
前記帯電した解離フラグメントの前記特徴的な関数が、前記解離フラグメントの質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に、および前記親一次イオンの前記質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に依存する、請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１０】
前記相関法則が、質量および電荷が既知であるイオンで得た校正データの使用により決定される、請求項１〜９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１１】
前記相関法則決定工程が、
（ｄ１）質量および電荷が既知であるイオンに対して一次質量スペクトルを発生すること、
（ｄ２）前記スペクトルで一次質量ピークを選択すること、
（ｄ３）選択された一次イオンを解離させ、特定の質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）を求めること、
（ｄ４）前記選択された一次イオンから来る解離フラグメントの解離質量スペクトルを発生すること、
（ｄ５）前記解離質量スペクトル中で、帯電フラグメントの多重組への解離が起こることに対応するピークの多重組を確認すること、
（ｄ６）確認された各多重組に属する各ピークの出現の極大に対応する特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)を決定すること、
（ｄ７）それぞれの可能な電荷多重組に対して、この電荷多重組を満足し、前記質量-対-電荷比（Ｍ／Ｑ）に、前記一次電荷Ｑに、および前記選択された一次質量ピークに対する出現極大における特徴的な関数値(Ｆｍａｘ（Ｍ／Ｑ）)に対応する特徴的な関数値の確認された多重組との相関法則のそれぞれを決定すること、および
（ｄ８）工程（ｄ１）〜（ｄ７）を、既知分子の一次質量スペクトルの各選択された一次質量ピークに対して繰り返すこと、からなる前工程を含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記既知分子で得た相関法則に基づき、未知分子の一次質量ピークの相関法則を決定する工程をさらに含んでなる、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記決定された相関法則が座標のセットにより規定される、請求項９または１０に記載の方法。
【請求項１４】
前記決定された相関法則が分析により規定される、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１５】
一次質量選択により、問題とする異なった一次イオンの群を選択する工程をさらに含んでなる、請求項１〜１４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１６】
前記問題とする一次イオンを選択する工程が、解離フラグメントに対する前記特徴的な関数値を発生する工程の前に行われる、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記近接基準が調節可能である、請求項１〜１６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１８】
前記工程（ｅ）〜（ｇ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、前記工程（ｅ）で決定された特徴的な関数値が、前記累積出現により形成されるピークの極大における関数値である、請求項１〜１７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１９】
前記工程（ｅ）〜（ｇ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、前記工程（ｈ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う、請求項１〜１７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項２０】
前記特徴的な関数の値が、関連する飛行時間である、請求項１〜１９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項２１】
前記解離したイオンが、連続する周期的なイオンパルス中に含まれ、パルス発生期間が、測定すべき解離した帯電フラグメントの最長飛行時間より短く、前記工程（ｄ）および（ｅ）が、連続するパルス間のオーバーラップで行われ、前記工程（ｃ）が、先行するイオンパルス中に含まれる問題とする親一次イオンの解離により生じた帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に対する相関法則を決定することを包含する、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
（ａ）分析すべき多帯電一次イオンの供給源（１）、
（ｂ）前記一次イオンの、一次イオンピーク出現を含む一次質量スペクトルを、解離を行わずに、発生する装置(３)、
（ｃ）前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値から、および前記ピークに関連する電荷値から決定された一組の相関法則、前記相関法則は、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンを解離させ、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を得るように設計された解離装置(２)、
（ｅ）前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生し、保存する装置、
（ｆ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成し、前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定し、それぞれ問題とする前記親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生するための処理装置、
の組合せを含んでなる、タンデム質量分光分析計。
【請求項２３】
問題とする異なった一次イオンの群を選択するための一次質量選択装置をさらに含んでなる、請求項２２に記載の分光分析計。
【請求項２４】
前記一次質量選択装置が、イオントラップを含んでなる、請求項２３に記載の分光分析計。
【請求項２５】
前記一次質量選択装置が四重極を含んでなる、請求項２３に記載の分光分析計。
【請求項２６】
前記一次質量選択装置が一時的ゲートを含んでなる、請求項２３に記載の分光分析計。
【請求項２７】
前記解離装置が多極導波管である、請求項２２〜２６のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項２８】
飛行時間型質量分析計を含んでなる、請求項２２〜２７のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項２９】
前記解離装置が、イオン束を前記飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の前に配置される、請求項２８に記載の分光分析計。
【請求項３０】
前記解離装置が、イオン束を前記飛行時間型質量分析計の飛行時間空間中に注入するためのイオン加速器の後に配置される、請求項２８に記載の分光分析計。
【請求項３１】
前記イオン加速器が直角注入装置を含んでなる、請求項２９または３０に記載の分光分析計。
【請求項３２】
レフレクトロンをさらに含んでなる、請求項２８〜３１のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項３３】
前記多帯電イオン供給源（１）が、エレクトロスプレーイオン化イオン供給源である、請求項２２〜３２のいずれか一項に記載の分光分析計。
【請求項３４】
イオンの質量-対-電荷比の既知の特徴的な関数を有する質量分析計を含んでなる質量分光測定装置で実行するように設計されたコンピュータプログラムであって、
（ａ）前記装置を、分析すべき多帯電一次イオンの供給源から、解離を行わずに、前記一次イオンの一次質量スペクトルを発生させ、その際、前記スペクトルが、一次イオン出現のピークを含むように制御する工程、
（ｂ）前記スペクトルの、前記一次質量ピークの少なくとも幾つかの極大における特徴的な関数値を含むデータを、前記ピークに関連する電荷値から取得する工程、
（ｃ）前記データから、前記一次質量ピークに対応する、問題とする親一次イオンの解離から生じる帯電フラグメントの多重組に対応する、全ての可能な特徴的な関数値の多重組に適合する必要がある相関法則を決定する工程、
（ｄ）一次質量ピークに関連する問題とする一次イオンの同時解離が起きるように前記装置を制御し、前記親一次イオンのそれぞれから帯電フラグメントの多重組を入手し、前記解離フラグメントに対する特徴的な関数値を発生させる工程、
（ｅ）前記特徴的な関数値の全ての潜在的な多重組を形成する工程、
（ｆ）前記潜在的な多重組の中から、前記相関法則に対する近接基準に適合する多重組を確認し、前記親一次イオンに対応する帯電フラグメントの真の多重組を決定する工程、および
（ｇ）それぞれ問題とする前記親一次イオンに対応する、確認されたフラグメントの真の多重組に関連するピークを含んでなる、解離質量スペクトルを発生する工程、
を行うように設計された一連の指示を包含する、コンピュータプログラム。
【請求項３５】
前記工程（ｅ）〜（ｆ）を、潜在的な値の多重組の累積出現に対して行い、その際、前記工程（ｄ）で決定された特徴的な関数値が、前記累積出現により形成されたピークの極大にある特徴的な関数値である、請求項３４に記載のコンピュータプログラム。
【請求項３６】
前記工程（ｅ）〜（ｆ）を、個々の解離が起こることから得られる多重組に対して行い、その際、前記工程（ｇ）を、確認された真の多重組の出現を累積することにより行う、請求項３４に記載のコンピュータプログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９Ａ】
【図９Ｂ】
【図１０】
【図１１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９Ａ】
【図９Ｂ】
【図１０】
【図１１】
【公表番号】特表２００９−５４１７６４（Ｐ２００９−５４１７６４Ａ）
【公表日】平成２１年１１月２６日（２００９．１１．２６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−５１７２４７（Ｐ２００９−５１７２４７）
【出願日】平成１９年７月２日（２００７．７．２）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＥＰ２００７／０５６６５５
【国際公開番号】ＷＯ２００８／００３６８４
【国際公開日】平成２０年１月１０日（２００８．１．１０）
【出願人】（５０９００５７０８）
【氏名又は名称原語表記】ＰＨＹＳＩＫＲＯＮ
【Ｆターム（参考）】
【公表日】平成２１年１１月２６日（２００９．１１．２６）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年７月２日（２００７．７．２）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＥＰ２００７／０５６６５５
【国際公開番号】ＷＯ２００８／００３６８４
【国際公開日】平成２０年１月１０日（２００８．１．１０）
【出願人】（５０９００５７０８）
【氏名又は名称原語表記】ＰＨＹＳＩＫＲＯＮ
【Ｆターム（参考）】
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