説明

排ガス浄化装置

【課題】低温プラズマによる粒子状物質酸化除去の効率を向上でき且つ燃費を向上できる排ガス浄化装置を提供すること。
【解決手段】内燃機関から排出される排ガスを浄化するための排ガス浄化装置は、金属電極311aと誘電体312bとで挟まれた発生空間、及び、金属電極311bと誘電体312cとで挟まれた発生空間において、低温プラズマを発生するプラズマリアクタ31を備える。これら発生空間には発泡セラミック315a及び315bがそれぞれ配置され、これら発泡セラミック315a及び315bの少なくとも表面は、内燃機関から排出される排ガスに含有される粒子状物質に作用する酸化触媒で形成されている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、内燃機関から排出される排ガスを浄化する排ガス浄化装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、内燃機関から排出される排ガスから微粒子状物質(以下、「PM」とも称する)を除去する手法としては、特許文献1に開示されるようなディーゼル微粒子フィルタ(以下、「DPF」とも略称する)等のフィルタに排ガスを通過させる手法が採用され、種々の改良が試みられている。
【0003】
例えば、エンジンを制御し、DPF上に堆積されたPMを所定タイミングで燃焼し酸化除去することで、PM除去効率を向上する技術(特許文献2参照)、DPFに触媒等を付加することでPMの燃焼温度を低下させる技術(特許文献3参照)、排ガス中に触媒等を添加することでPMの燃焼温度を低下させる技術(特許文献4参照)等の改良がなされている。
【0004】
しかしながら、上述したようなフィルタを用いてPMを捕集する方法では、次のような問題がある。第1に、排ガスをフィルタに通過させる際の排気抵抗が大きいため、エンジン出力を充分に発揮できない。第2に、PMの燃焼のタイミングが煩雑であり、エンジンの制御系が複雑となる。第3に、PMを燃焼する際にフィルタが極度に加熱され(例えば、約1000℃強)、フィルタの溶損が発生する場合がある。
【0005】
そこで、排ガス中に低温プラズマを発生させることで、PMを酸化除去する方法(特許文献5参照)が注目されている。この方法によれば、低温プラズマによりPMの酸化が連続的に行われるので、複雑なエンジン制御等を行わなくてよく、システムを簡素化できる。また、低温プラズマによるPMの酸化が比較的低温で進行するので、フィルタの溶損を抑制できるとともに、PMがフィルタに目詰まりしてフィルタが圧損するといったこともない。更に、低温プラズマ発生装置はフィルタよりも通気性が良いので、排気抵抗が小さく維持され、エンジン出力を充分に発揮できる。
【特許文献1】特開2005−296935号公報
【特許文献2】特開2006−22736号公報
【特許文献3】特開2005−21818号公報
【特許文献4】特開2005−54780号公報
【特許文献5】特開2004−169643号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
しかしながら、特許文献5に示されるような低温プラズマを用いる方法では、フィルタを用いる方法(PM捕集率99質量%以上)に比べ、PMを酸化除去する効率が低い。ここで、PM酸化除去の効率を向上するためには、低温プラズマの電力を上昇させる必要があるが、低温プラズマの電力を上昇させると、燃費の悪化を招来する。
【0007】
本発明は、以上のような実情に鑑みてなされたものであり、低温プラズマによるPM酸化除去の効率を向上でき且つ燃費を向上できる排ガス浄化装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明者らは、低温プラズマが発生する空間に、表面が酸化触媒で形成された発泡セラミックを配置することで、低温プラズマとPMとの接触確率を大幅に上昇できることを見出し、本発明を完成するに至った。本発明は、具体的には、以下のようなものを提供する。
【0009】
(1) 内燃機関から排出される排ガスを浄化するための排ガス浄化装置であって、
発生空間において低温プラズマを発生するプラズマリアクタを備え、
前記発生空間には、少なくとも表面が、前記内燃機関から排出される排ガスに含有される粒子状物質に作用する酸化触媒で形成された発泡セラミックが配置されている排ガス浄化装置。
【0010】
(2) (1)記載の排ガス浄化装置において、
前記発泡セラミックには、空孔が1個/25mm以上50個/25mm以下の範囲で形成されている排ガス浄化装置。
【0011】
(3) (1)又は(2)記載の排ガス浄化装置において、
前記発泡セラミックは、アルミナ、コージェライト、ムライト、炭化珪素、チタン酸アルミニウム、及び前記酸化触媒からなる群より選ばれる少なくとも一種で形成された排ガス浄化装置。
【0012】
(4) (1)から(3)いずれか記載の排ガス浄化装置において、
前記酸化触媒は、Pt、Pd、Rh、Au、及びAgからなる群より選ばれる少なくとも一種である酸化活性成分が、アルミナ、シリカ、チタニア、セリア、及びゼオライトからなる群より選ばれる少なくとも一種である担体に、前記酸化触媒全体の0.01質量%以上30質量%以下の範囲で担持されたものである排ガス浄化装置。
【0013】
(5) (4)記載の排ガス浄化装置において、
前記酸化活性成分は、Ce、La、及びYからなる群より選ばれる少なくとも一種を更に含む排ガス浄化装置。
【発明の効果】
【0014】
本発明によれば、発生空間に発泡セラミックを配置したので、発生空間において発生された低温プラズマにより発泡セラミックが帯電され、発泡セラミックを通過する排ガスに含有されるPMが発泡セラミックに静電集塵される。これにより、PMと発泡セラミックの少なくとも表面に形成された酸化触媒との接触確率が大幅に上昇するとともに、発泡セラミックに静電集塵されたPMが酸化触媒に強固に接触する。よって、低電力の低温プラズマでもPMが充分に捕集されるので、低温プラズマによるPMの酸化除去効率を向上でき且つ燃費を向上できる。
【0015】
また、PMの酸化手段として低温プラズマを使用したので、低温プラズマ発生時からPMが酸化され、酸化熱が放出される。これにより、発泡セラミックに存在する酸化触媒が加熱されるので、触媒の加熱制御を行わなくとも、PMを高効率で酸化除去できる。よって、排ガス浄化装置の構成を簡素化できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0016】
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【0017】
図1は、本発明の一実施形態に係る排ガス浄化システム10のブロック図である。
排ガス浄化システム10は、内燃機関としてのディーゼルエンジン20と、このディーゼルエンジン20から排出される排ガスを浄化するための排ガス浄化装置30と、を備える。この排ガス浄化装置30は、低温プラズマを発生するプラズマリアクタ31を少なくとも有する。
【0018】
図2は、排ガス浄化装置30を構成するプラズマリアクタ31の模式図である。
プラズマリアクタ31は、略平板状の金属電極311a〜311cを有し、これら金属電極311a〜311cはこの順番で互いに平行に配置されている。本実施形態では、金属電極が3個設置されているが、1個以上であればよい。
【0019】
金属電極311bの金属電極311a側表面、及び、金属電極311cの金属電極311b側表面の各々は、略平板状の誘電体312b、312cに接合されて被覆される。この結果、誘電体312bは金属電極311aと、誘電体312cは金属電極311bと、それぞれ対向配置されている。ここで、接合の方式としては、特に限定されず、機械的押付け、接着剤による接着、溶射等が挙げられる。
【0020】
金属電極311a及び311cは、リード線313を介して電源40に電気的に接続されている一方、金属電極311bは、接地線314を介して接地されている。これにより、電源40から金属電極311a及び311cに電圧が印加されると、誘電体312b及び312cの表面が荷電され、金属電極311aと誘電体312bとで挟まれた発生空間、及び、金属電極311bと誘電体312cとで挟まれた発生空間において、低温プラズマが発生することになる。
【0021】
これら発生空間には、発泡セラミック315a及び315bがそれぞれ配置されている。具体的には、発泡セラミック315aは金属電極311a及び誘電体312bに、発泡セラミック315bは金属電極311b及び誘電体312cに、それぞれ挟持されている。これら発泡セラミック315a及び315bは、少なくとも表面が、ディーゼルエンジン20から排出される排ガスに含有される粒子状物質に作用する酸化触媒で形成されたものである。
【0022】
発泡セラミック315a及び315bは、アルミナ、コージェライト、ムライト、炭化珪素、チタン酸アルミニウム、及び酸化触媒からなる群より選ばれる少なくとも一種で形成されていることが好ましい。即ち、全体が酸化触媒で形成されていてもよく、アルミナ、コージェライト、ムライト、炭化珪素、チタン酸アルミニウム等で形成された部分の表面に酸化触媒が塗布されていてもよい。
【0023】
酸化触媒は、酸化活性成分が担体に担持されたものである。ここで、担体は、アルミナ、シリカ、チタニア、セリア、及びゼオライトからなる群より選ばれる少なくとも一種であることが好ましく、酸化活性成分は、Pt、Pd、Rh、Au、及びAgからなる群より選ばれる少なくとも一種であることが好ましく、Ce、La、及びYからなる群より選ばれる少なくとも一種を更に含むことがより好ましい。ここで、ゼオライトとは、βゼオライト、Y型ゼオライト、ZSM−5、フェリエライト、モルデナイトを指す。
【0024】
酸化活性成分は、酸化触媒全体の0.01質量%以上30質量%以下の範囲で担持されていることが好ましい。担持量が少なすぎると、PMの酸化効率が不充分となる一方、担持量が多すぎても、PMの酸化効率が飽和するとともに製造コストが嵩む。
【0025】
また、発泡セラミック315a及び315bには微細な空孔が多数形成されているが、これら空孔は1個/25mm以上50個/25mm以下の範囲で形成されていることが好ましい。空孔密度が小さすぎると、発生空間に存在する空孔数が不足するため、PMの酸化効率が不充分となる。一方、空孔密度が大きすぎると、それぞれの空孔が狭すぎて、PMが空孔内に侵入しにくくなるため、PMの酸化効率が不充分となる。
【0026】
本実施形態に係る排ガス浄化装置30によれば、以下の作用効果が得られる。
【0027】
発生空間に発泡セラミック315a、315bをそれぞれ配置したので、発生空間において発生された低温プラズマにより発泡セラミック315a、315bが帯電される。ここで、発泡セラミック315a、315bの少なくとも表面を酸化触媒で形成したので、発泡セラミック315a、315bを通過する排ガス(例えば、図2における矢印A方向)に含有されるPMが発泡セラミック315a、315bに静電集塵される。これにより、PMと酸化触媒との接触確率が大幅に上昇するとともに、発泡セラミック315a、315bに静電集塵されたPMが酸化触媒に強固に接触する。よって、低電力の低温プラズマでもPMを充分に捕集できるので、低温プラズマによるPMの酸化除去効率を向上でき且つ燃費を向上できる。
【0028】
また、PMの酸化手段として低温プラズマを使用したので、低温プラズマ発生時からPMが酸化され、酸化熱が放出される。これにより、発泡セラミック315a、315bに存在する酸化触媒が加熱されるので、酸化触媒の加熱制御を行わなくとも、PMを高効率で酸化除去できる。よって、排ガス浄化装置30の構成を簡素化できる。
【0029】
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
【実施例】
【0030】
<実施例1>
(発泡セラミックの作製)
γ−アルミナ(「AF115」住友化学工業社製)97g、ジニトロジアンミン白金(小島化学薬品社製)4.94g、及びイオン交換水1000gをナス型フラスコに注ぎ、ロータリーエバポレータを用いて余分な水分を除去した後、乾燥炉内200℃で2時間、マッフル炉内600℃で2時間焼成することで、粉末を得た。
【0031】
得られた粉末45g、Siバインダ(触媒化成工業社製)25g(SiO濃度20%)、イオン交換水150g、アルミナボール100gをポリエチレン製容器(250ml)に注ぎ、14時間湿式粉砕することで、スラリー状の触媒を得た。
【0032】
このスラリー状の触媒中に、寸法20mm×50mm×3mm、空孔密度13個/25mm、炭化珪素製の発泡セラミック支持体(ブリヂストン社製)を浸漬した。続いて、発泡セラミックの支持体をスラリー状の触媒中から取り出し、過剰に付着した触媒をエア噴射により除去した後、発泡セラミック支持体を200℃で2時間加熱した。この操作を所定の担持量が得られるまで繰り返した。更に、マッフル炉内、500℃で2時間焼成することで、Pt担持アルミナ触媒を得た。ウオッシュコート量は150g/Lであり、Pt担持量は4.5g/L(3質量%)であった。また、形成された触媒層の厚さは、20〜30μmであった。
【0033】
(発泡セラミックの設置)
図3は、実施例1に係るプラズマリアクタ31Aの模式図である。
金属電極311Aには「JIS SUS316」(厚み1.0mm)を使用し、誘電体312Aにはアルミナ(Al)セラミック(厚み0.5mm)を使用した。金属電極311A及び誘電体312Aの寸法を20mm×50mmとし、金属電極311A1枚と誘電体312A1枚とを3mm離間して互いに平行に配置した。更に、金属電極311Aを高電圧入力の電源40Aにリード線313Aを介して電気的に接続し、接地線314Aを介して誘電体312Aを接地させた。
これら金属電極311Aと誘電体312Aとの間に、得られた発泡セラミック315Aを挿入することで、プラズマリアクタ31Aを完成した。
【0034】
[評価]
完成したプラズマリアクタ31Aの金属電極311Aと誘電体312Aとの間に、ディーゼルエンジンから排出された排ガスを導入するとともに、電源40Aから電気を通電して低温プラズマを発生させた。プラズマ発生条件は、交流正弦波を200Hz、7.6kVp−pとし、電力25W、電界強度8.3kV/mm、電力密度8.3W/cmとした。また、プラズマリアクタに導入される排ガスの条件は、表1に示される通りとした。
【0035】
【表1】

【0036】
プラズマリアクタ31Aから排出された排ガスを採取し、この排ガスに市販のフィルタ(0.3μmメッシュ)を通過させた。これにより、フィルタにPMを捕集し、捕集前後における質量差を、プラズマリアクタ31Aから排出された排ガスに含有されたPMの質量とし、この質量差に基づいて、PM除去率を算出した。
【0037】
<実施例2>
プラズマ発生条件を、電力17W、電界強度5.6kV/mm、電力密度5.6W/cmとした点を除き、実施例1と同様の手順で評価を行った。
【0038】
(比較例1)
プラズマリアクタ31Aに通電しなかった点を除き、実施例1と同様の手順で評価を行った。
【0039】
(比較例2)
発泡セラミック315Aを備えていないプラズマリアクタを使用し、プラズマ発生条件を電力25W、電界強度8.3kV/mm、電力密度8.3W/cmとした点を除き、実施例1と同様の手順で評価を行った。
【0040】
(比較例3)
図4は、比較例3に係るプラズマリアクタ100の模式図である。
金属電極101aと、誘電体102b〜102gで各々一方の面が被覆された金属電極101b〜101gとを、0.5mm離間して互いに平行に配置した。図4における上側に配置された金属電極101aから交互に、リード線103を介して電源400に接続、又は接地線104を介して接地させた。これら金属電極101a〜101gと誘電体102b〜102gとの間に発泡セラミックを配置していないプラズマリアクタ100を使用し、プラズマ発生条件を電力25W、電界強度50kV/mm、電力密度50W/cmとした点を除き、実施例1と同様の手順で評価を行った。
【0041】
(比較例4)
比較例3で作製したプラズマリアクタ100を使用し、プラズマ発生条件を電力36W、電界強度72kV/mm、電力密度72W/cmとした点を除き、実施例1と同様の手順で評価を行った。
【0042】
以上の実施例1〜2及び比較例1〜4で行った評価の結果を表2に示す。表2に示されるように、実施例1〜2では、比較例1〜4のいずれよりも低い電力でプラズマを発生させたにもかかわらず、高いPM除去率が得られた。従って、実施例1〜2によれば、低温プラズマによるPM酸化除去の効率を向上でき且つ燃費を向上できることが確認された。
【0043】
【表2】

【図面の簡単な説明】
【0044】
【図1】本発明の一実施形態に係る排ガス浄化装置を備える排ガス浄化システムのブロック図である。
【図2】前記実施形態に係る排ガス浄化装置を構成するプラズマリアクタの模式図である。
【図3】本発明の実施例1に係る排ガス浄化装置を構成するプラズマリアクタの模式図である。
【図4】本発明の比較例3に係る排ガス浄化装置を構成するプラズマリアクタの模式図である。
【符号の説明】
【0045】
10 排ガス浄化システム
20 ディーゼルエンジン(内燃機関)
30 排ガス浄化装置
31 プラズマリアクタ
311 金属電極
312 誘電体
313 リード線
314 接地線
315 発泡セラミック
40 電源

【特許請求の範囲】
【請求項1】
内燃機関から排出される排ガスを浄化するための排ガス浄化装置であって、
発生空間において低温プラズマを発生するプラズマリアクタを備え、
前記発生空間には、少なくとも表面が、前記内燃機関から排出される排ガスに含有される粒子状物質に作用する酸化触媒で形成された発泡セラミックが配置されている排ガス浄化装置。
【請求項2】
請求項1記載の排ガス浄化装置において、
前記発泡セラミックには、空孔が1個/25mm以上50個/25mm以下の範囲で形成されている排ガス浄化装置。
【請求項3】
請求項1又は2記載の排ガス浄化装置において、
前記発泡セラミックは、アルミナ、コージェライト、ムライト、炭化珪素、チタン酸アルミニウム、及び前記酸化触媒からなる群より選ばれる少なくとも一種で形成された排ガス浄化装置。
【請求項4】
請求項1から3いずれか記載の排ガス浄化装置において、
前記酸化触媒は、Pt、Pd、Rh、Au、及びAgからなる群より選ばれる少なくとも一種である酸化活性成分が、アルミナ、シリカ、チタニア、セリア、及びゼオライトからなる群より選ばれる少なくとも一種である担体に、前記酸化触媒全体の0.01質量%以上30質量%以下の範囲で担持されたものである排ガス浄化装置。
【請求項5】
請求項4記載の排ガス浄化装置において、
前記酸化活性成分は、Ce、La、及びYからなる群より選ばれる少なくとも一種を更に含む排ガス浄化装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【公開番号】特開2008−19826(P2008−19826A)
【公開日】平成20年1月31日(2008.1.31)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−194022(P2006−194022)
【出願日】平成18年7月14日(2006.7.14)
【出願人】(000005326)本田技研工業株式会社 (23,863)
【Fターム(参考)】