摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラム
【課題】寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の提供。
【解決手段】プッシャベース４が図の左向きに移動することにより、ばね３でプッシャベース４に連結されたプッシャ１の端が上部筐体１００の一端に当接し、上部筐体１００を図の左方向に押す。プッシャ１が上部筐体１００をその方向に押すとき、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重が上部筐体１００に加えられる。ばね３は、その荷重（摺動抵抗）に応じて、圧縮される。摺動抵抗が規定値を超えるとセンサ６が検知する。寿命試験中に荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６（又は６ａ）で検知される。
【解決手段】プッシャベース４が図の左向きに移動することにより、ばね３でプッシャベース４に連結されたプッシャ１の端が上部筐体１００の一端に当接し、上部筐体１００を図の左方向に押す。プッシャ１が上部筐体１００をその方向に押すとき、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重が上部筐体１００に加えられる。ばね３は、その荷重（摺動抵抗）に応じて、圧縮される。摺動抵抗が規定値を超えるとセンサ６が検知する。寿命試験中に荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６（又は６ａ）で検知される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は携帯電話機等の携帯端末の寿命試験装置および方法に関し、特に摺動（スライド）機構を有する摺動式携帯端末における該摺動構造の寿命を試験する装置および方法並びに寿命試験プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
スライド式携帯電話機は、液晶ディスプレイ等の表示部を表面に有する上部筐体と、テンキーやファンクションキー等の操作部を表面に有する下部筐体とをスライド機構で相互に摺動可能に連結した筐体構造を有する。
【０００３】
スライド機構のような摺動部を有する構造の寿命を試験する装置としては、例えば特開２００２−２２８５６７（特許文献１）に開示された寿命試験機がある。この寿命試験機は、電気コネクタの機械的および電気的寿命を試験するものである。
【０００４】
この特許文献１記載の寿命試験機は、その図１を参照して段落０００６−０００９，００１８に説明されているように、供試体（電気コネクタ）に繰返し荷重をかける押棒（２ａ，２ｂ）と、押棒（２ａ，２ｂ）に所定の荷重をかけるバネ（３ａ，３ｂ）と、バネ圧調整機構（４ａ，４ｂ）と、押棒（２ａ，２ｂ）を往復運動させるリニアモータ（７）と、往復運動のストロークを決める位置決め機構を有してなる。この特許文献１記載の寿命試験機によれば、荷重試験中に供試体の電気特性を測定して、電気特性が規格に合致しなければリニアモータを停止させ試験を終了させる（段落００１８，００１９）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−２２８５６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述の特許文献１に記載された寿命試験機では、規格で定められた回数の試験をしたら自動的に試験を停止することが望ましいので、カウンタ（９）を用いて荷重試験の回数を数え、所定の試験回数で停止信号を出し、リニアモータ（７）を停止させて試験を終了し、試験を終了した供試体を検査し、製品規格を満足していれば寿命試験には合格と判定し、製品規格を満足していなければ不合格とする（段落００１２，００１３）。ここでいう製品規格は、電気特性の規格であり（段落００１８）、電気特性が規格に合致しなければリニアモータを停止させ試験を終了させる。
【０００７】
そこで、特許文献１に記載された寿命試験機では、摺動部の機械的特性、例えば摺動面の円滑度が低下したとしても、寿命試験（荷重試験）はその段階で中止することなく、所定の回数だけ行われる。このような特許文献１の寿命試験機を用いて摺動構造の寿命試験を行うときは、まず寿命試験機で所定の回数だけ荷重試験が行い、次に供試体を寿命試験機から取り外し、供試体における摺動面に手を触れて摺動面の円滑度を感覚的に確認したり、或いは改めて別の荷重試験機で摺動抵抗を測定し、規格を満たすか否かを確かめたりして、摺動機構に関する寿命試験の合否を判定することとなる。
【０００８】
この特許文献１の寿命試験機では、予め定めた回数だけの摺動作動を終了するまでに機械的特性において不良に至った供試体もそのまま試験を継続するので、試験の効率がよくなく、ひいては寿命試験のコストが高価となる。
【０００９】
例えば、スライド式携帯電話機において、上部筐体と下部筐体とを相互に摺動させながら往復させる往復動作を何回まで実行可能かを試験するスライド機構の寿命試験では、１０万回の往復動作まで所定の荷重以下で往復動作ができことが求められる。即ち、この例では、スライド機構には１０万回の往復動作寿命が要求されるのである。
【００１０】
上述の特許文献１の方法で、スライド式携帯電話機におけるスライド機構の寿命試験をするとすれば、より具体的には、その寿命試験は例えば次のように行われることになる。先ず、供試体（スライド式携帯電話機）の往復動作を１万回実施し、往復動作を一旦停止し、供試体を試験機から一旦取り外す。そして手感触による摺動面の平滑度の点検をしたり、あるいは別の荷重試験機で摺動に要する荷重を試験し、その荷重が規格値を超えているか否かの点検をし、これらの点検により合格であれば、再度供試体を寿命試験機に装着する。次に、第２回目の１万回の往復動作を行い、同様な点検をする。以下同様に、第１０回目までの１万回分の往復動作を順次に行う。それら各１万回分の往復動作試験における何れかの試験において規格を満たさないときは、その往復動作試験が第何回目であるかによって、その供試体の寿命を判定する。
【００１１】
このような特許文献１の寿命試験機を応用した方法でスライド式携帯電話機のスライド機構の寿命を試験するときは、第何回目の試験で規格外となったかという大まかな往復動作回数による寿命しか知ることができないので、寿命試験の精度が低いし、供試体を寿命試験機に何回も着脱するという面倒な操作を要するので、試験のコストが高くなる。このように、特許文献１の寿命試験機を応用した方法によるスライド式携帯電話機の摺動機構の寿命試験には、寿命試験の精度および試験コストにおいて解決するべき課題がある。そこで、本発明は、寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラムの提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前述の課題を解決するため、本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラムは、主に、次のような特徴的な構成を採用している。
【００１３】
（１）本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置は、
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする装置であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする。
（２）本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法は、
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする方法であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする。
（３）本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラムは、
上記（２）に記載の寿命試験方法を、コンピュータによって実行可能なプログラムとして実施することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
上述の本発明によれば、寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施の形態１にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。
【図２】図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０１の方向に移動させるときの様子を示す図である。
【図３】図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０２の方向に移動させるときの様子を示す図である。
【図４】実施の形態２にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラム好適な実施形態について添付図を参照して説明する。なお、以下の説明においては、本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法について説明するが、かかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法をコンピュータにより実行可能な摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラムとして実施するようにしても良いし、あるいは、摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラムをコンピュータにより読み取り可能な記録媒体に記録するようにしても良いことは言うまでもない。
【００１７】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。図２は、図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０１の方向に移動させるときの様子を示す図である。図３は、図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０２の方向に移動させるときの様子を示す図である。
【００１８】
図１の寿命試験装置は、第１及び第２の荷重検出手段、供試体である摺動機構付き携帯端末を本寿命試験装置本体に固定する携帯端末固定手段、スライダープレート２０並びに支柱２１，２１ａを有してなる。
【００１９】
図において、摺動機構付き携帯端末は上部筐体１００及び下部筐体１０１で表してある。上部筐体１００及び下部筐体１０１は、摺動機構により相対的に摺動可能に互いに連結されている。この種の摺動機構は、スライド機構（例えば、特開２００８−２０５６０６参照。）とか、スライドヒンジとか称されることもある（例えば、特開２００７−１３２５０８参照。）。
【００２０】
第１の荷重検出手段は、プッシャ１、センサドグ２、ばね３、プッシャベース４、ガイドレール５１及びスライダ５２でなる直動ガイド、センサ６及び調整ねじ７でなる。また、第２の荷重検出手段は、プッシャ１ａ、センサドグ２ａ、ばね３ａ、プッシャベース４ａ、ガイドレール５１ａ及びスライダ５２ａでなる直動ガイド、センサ６ａ及び調整ねじ７ａでなる。携帯端末固定手段は、本寿命試験装置本体に固定されたベース１０、下部筐体１０１をベース１０に固定する携帯端末固定ブロック１１及び１１ａでなる。
【００２１】
スライダープレート２０は、モータにより回転力を得て、モータの回転を直線往復運動に変換するボールネジから直線往復駆動力を得て、図の矢印２００で示す方向に往復動する。スライダープレート２０の周期およびストロークは、モータ又はボールネジの調整により任意に調整できる。スライダープレート２０は、ボールネジに代えて、エアシリンダから直線往復駆動力を得ることもできる。
【００２２】
支柱２１及び２１ａは、下端をスライダープレート２０に固定され、上端をプッシャベース４及び４ａに夫々固定されている。ベース１０には、図の上下方向に貫通し、図の左右方向に細長い溝が設けてある。支柱２１、２１ａは、そのベース１０の溝を上下方向に貫通しており、その溝に案内されて、スライダープレート２０と一体となって、矢印２００で示す方向に往復動をする。支柱２１及び２１ａに夫々固定されているプッシャベース４及び４ａも、スライダープレート２０と一体となって、矢印２００で示す方向に往復動をする。
【００２３】
ガイドレール５１はプッシャベース４に固定してある。スライダ５２はプッシャ１に固定してある。スライダ５２は、ガイドレール５１に案内されて、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。同様に、スライダ５２が固定されているプッシャ１は、ガイドレール５１が固定されているプッシャベース４に対し、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。
【００２４】
同様に、ガイドレール５１ａはプッシャベース４ａに固定してある。スライダ５２ａはプッシャ１ａに固定してある。スライダ５２ａは、ガイドレール５１ａに案内されて、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。そこで、スライダ５２ａが固定されているプッシャ１ａは、ガイドレール５１ａが固定されているプッシャベース４ａに対し、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。
【００２５】
ばね３は、片端（図において右端）を調整ネジ７により、プッシャベース４に固定され、他端（図において左端）をプッシャ１に固定されている。プッシャ１は、片端（図において右端）をばね３の他端（図において左端）に固定されている。プッシャ１がばね３に押されて、図２の矢印２０１の方向に移動するとき、プッシャ１の他端は、上部筐体１００の一端（図において右端）に当接する。
【００２６】
ばね３ａは、片端（図において左端）を調整ネジ７ａにより、プッシャベース４ａに固定され、他端（図において右端）をプッシャ１ａに固定されている。プッシャ１ａは、片端（図において左端）をばね３ａの他端（図において右端）に固定されている。プッシャ１ａがばね３ａに押されて、図３の矢印２０２の方向に移動するとき、プッシャ１ａの他端は、上部筐体１００の他端（図において左端）に当接する。
【００２７】
センサドグ２は、プッシャ１に固定された不透明な板状体である。センサ６はコの字状の形をなし、該コの字状の形の開口は図において上を向いており、該コの字状の形における対向面（図において、手前側内壁面と奥側内壁面）間で光の送受をし、その開口にセンサドグ２が進入すると、該開口の対向面間の光が遮断され、受光ができなくなるので、センサドグ２の進入を検知できる。センサ６は、このようにして、センサドグ２がコの字状の形の開口に進入したことを検知する。
【００２８】
同様に、センサドグ２ａは、プッシャ１ａに固定された不透明な板状体である。センサ６ａはコの字状の形をなし、該コの字状の形の開口は図において上を向いており、該コの字状の形における対向面（図において、手前側内壁面と奥側内壁面）間で光の送受をし、その開口にセンサドグ２ａが進入すると、該開口の対向面間の光が遮断され、受光ができなくなるので、センサドグ２ａの進入を検知できる。センサ６ａは、このようにして、センサドグ２ａがコの字状の形の開口に進入したことを検知する。
【００２９】
このような構造の図１の寿命試験装置において、スライダプレート２０が図２の矢印２０１の方向に移動し、スライダプレート２０と一体のプッシャベース４が矢印２０１の方向に移動することにより、ばね３でプッシャベース４に連結されたプッシャ１の端が上部筐体１００の一端に当接し、上部筐体１００を矢印２０１の方向に押す。プッシャ１が上部筐体１００を矢印２０１の方向に押すとき、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重が上部筐体１００に加えられる。ばね３は、その荷重に応じて、即ちその摺動抵抗に応じて、圧縮される。
【００３０】
同様に、図１の寿命試験装置において、スライダプレート２０が図３の矢印２０２の方向に移動し、スライダプレート２０と一体のプッシャベース４ａが矢印２０２の方向に移動することにより、ばね３ａでプッシャベース４ａに連結されたプッシャ１ａの端が上部筐体１００ａの他端に当接し、上部筐体１００を矢印２０２の方向に押す。プッシャ１ａが上部筐体１００を矢印２０２の方向に押すとき、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重が上部筐体１００に加えられる。ばね３ａは、その荷重に応じて、即ちその摺動抵抗に応じて、圧縮される。
【００３１】
スライダプレート２０のストロークは、上部筐体１００の摺動距離に一致するように調整してある。そこで、スライダプレート２０のストロークにより、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗は、摺動機構における全摺動範囲（摺動距離）に亘って試験される。その全摺動範囲に亘って１回往復すること（携帯端末を１回開閉することに相当する。）を１回分の往復摺動とする。供試体である携帯端末の摺動機構に要求される寿命が１０万回の往復摺動であるとすると、本第１実施形態の寿命試験装置は少なくとも１０万回の往復摺動を試験する。
【００３２】
その寿命試験において、スライダプレート２０の各ストロークに対応したプッシャ１の各ストロークにおいて、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重がばね４に加えられ、その荷重が予め定めた規格値を超えると、センサドグ２がセンサ６の開口に進入し、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことが検知される。
【００３３】
同様に、その寿命試験において、スライダプレート２０の各ストロークに対応したプッシャ１ａの各ストロークにおいて、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重がばね４ａに加えられ、その荷重が予め定めた規格値を超えると、センサドグ２ａがセンサ６ａの開口に進入し、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことが検知される。
【００３４】
図１の寿命試験装置は、往復摺動の回数を計数する往復摺動計数手段（図示省略）を備える。この往復摺動計数手段で往復摺動の回数を計測しながら寿命試験を実施し、試験中に荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６又は６ａで検知されると、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたときの往復摺動の回数を往復摺動計数手段から出力し、往復摺動の回数を往復摺動回数記憶手段（図示省略）に記憶すると共に、スライダプレート２０の駆動を停止し、寿命試験を終了する。往復摺動回数記憶手段に記憶された往復摺動回数が、供試体である携帯端末における摺動機構の寿命である。
【００３５】
このように、図１の寿命試験装置では、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６又は６ａで検知されると、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたときの往復摺動の回数を往復摺動回数記憶手段（図示省略）に記憶すると共に、スライダプレート２０の駆動を停止するので、供試体（携帯端末）における摺動機構の寿命が正確に測定できる。また、寿命試験の途中に供試体を取り出して、手感触による摺動面の平滑度の点検をしたり、あるいは別の荷重試験機で摺動に要する荷重を試験し、その荷重が規格値を超えているか否かの点検をしたりするといった手間を要しないから、寿命試験が安価に実施できる。
【００３６】
（実施の形態２）
図４は、実施の形態２にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。この実施の形態では、ばね３、３ａに代えて、圧力センサ１６、１６ａを備え、センサドグ２，２ａ及びセンサ６，６ａを省いた構成である。本実施の形態の作動は、図１に示した第１の実施形態と同様であり、部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重をばね４，４ａを介して加えるのに代えて、圧力センサ１６、１６ａを介して加え、またその荷重をセンサ６，６ａに代えて圧力センサ１６、１６ａで検出するようにしている。
【００３７】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の第１の実施形態では、試験中に荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６又は６ａで検知されると、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたときの往復摺動の回数を往復摺動計数手段から出力し、往復摺動の回数を往復摺動回数記憶手段（図示省略）に記憶すると共に、スライダプレート２０の駆動を停止し、寿命試験を終了すると説明したが、センサ６及び６ａのうちの一方だけが規格値を超えたときのみならず、両センサがともにほぼ同時に規格値を超える荷重を検知したときも、同様に試験終了としても差し支えない。。
【符号の説明】
【００３８】
１，１ａ プッシャ
２，２ａ センサドグ
３，３ａ ばね
４，４ａ プッシャベース
５１ ガイドレール
５２ スライダ
６，６ａ センサ
７，７ａ 調整ねじ
１１，１１ａ 携帯端末固定ブロック
１６，１６ａ 圧力センサ
２０ スライダープレート
２１，２１ａ 支柱
１００ 上部筐体
１０１ 下部筐体
【技術分野】
【０００１】
本発明は携帯電話機等の携帯端末の寿命試験装置および方法に関し、特に摺動（スライド）機構を有する摺動式携帯端末における該摺動構造の寿命を試験する装置および方法並びに寿命試験プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
スライド式携帯電話機は、液晶ディスプレイ等の表示部を表面に有する上部筐体と、テンキーやファンクションキー等の操作部を表面に有する下部筐体とをスライド機構で相互に摺動可能に連結した筐体構造を有する。
【０００３】
スライド機構のような摺動部を有する構造の寿命を試験する装置としては、例えば特開２００２−２２８５６７（特許文献１）に開示された寿命試験機がある。この寿命試験機は、電気コネクタの機械的および電気的寿命を試験するものである。
【０００４】
この特許文献１記載の寿命試験機は、その図１を参照して段落０００６−０００９，００１８に説明されているように、供試体（電気コネクタ）に繰返し荷重をかける押棒（２ａ，２ｂ）と、押棒（２ａ，２ｂ）に所定の荷重をかけるバネ（３ａ，３ｂ）と、バネ圧調整機構（４ａ，４ｂ）と、押棒（２ａ，２ｂ）を往復運動させるリニアモータ（７）と、往復運動のストロークを決める位置決め機構を有してなる。この特許文献１記載の寿命試験機によれば、荷重試験中に供試体の電気特性を測定して、電気特性が規格に合致しなければリニアモータを停止させ試験を終了させる（段落００１８，００１９）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−２２８５６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述の特許文献１に記載された寿命試験機では、規格で定められた回数の試験をしたら自動的に試験を停止することが望ましいので、カウンタ（９）を用いて荷重試験の回数を数え、所定の試験回数で停止信号を出し、リニアモータ（７）を停止させて試験を終了し、試験を終了した供試体を検査し、製品規格を満足していれば寿命試験には合格と判定し、製品規格を満足していなければ不合格とする（段落００１２，００１３）。ここでいう製品規格は、電気特性の規格であり（段落００１８）、電気特性が規格に合致しなければリニアモータを停止させ試験を終了させる。
【０００７】
そこで、特許文献１に記載された寿命試験機では、摺動部の機械的特性、例えば摺動面の円滑度が低下したとしても、寿命試験（荷重試験）はその段階で中止することなく、所定の回数だけ行われる。このような特許文献１の寿命試験機を用いて摺動構造の寿命試験を行うときは、まず寿命試験機で所定の回数だけ荷重試験が行い、次に供試体を寿命試験機から取り外し、供試体における摺動面に手を触れて摺動面の円滑度を感覚的に確認したり、或いは改めて別の荷重試験機で摺動抵抗を測定し、規格を満たすか否かを確かめたりして、摺動機構に関する寿命試験の合否を判定することとなる。
【０００８】
この特許文献１の寿命試験機では、予め定めた回数だけの摺動作動を終了するまでに機械的特性において不良に至った供試体もそのまま試験を継続するので、試験の効率がよくなく、ひいては寿命試験のコストが高価となる。
【０００９】
例えば、スライド式携帯電話機において、上部筐体と下部筐体とを相互に摺動させながら往復させる往復動作を何回まで実行可能かを試験するスライド機構の寿命試験では、１０万回の往復動作まで所定の荷重以下で往復動作ができことが求められる。即ち、この例では、スライド機構には１０万回の往復動作寿命が要求されるのである。
【００１０】
上述の特許文献１の方法で、スライド式携帯電話機におけるスライド機構の寿命試験をするとすれば、より具体的には、その寿命試験は例えば次のように行われることになる。先ず、供試体（スライド式携帯電話機）の往復動作を１万回実施し、往復動作を一旦停止し、供試体を試験機から一旦取り外す。そして手感触による摺動面の平滑度の点検をしたり、あるいは別の荷重試験機で摺動に要する荷重を試験し、その荷重が規格値を超えているか否かの点検をし、これらの点検により合格であれば、再度供試体を寿命試験機に装着する。次に、第２回目の１万回の往復動作を行い、同様な点検をする。以下同様に、第１０回目までの１万回分の往復動作を順次に行う。それら各１万回分の往復動作試験における何れかの試験において規格を満たさないときは、その往復動作試験が第何回目であるかによって、その供試体の寿命を判定する。
【００１１】
このような特許文献１の寿命試験機を応用した方法でスライド式携帯電話機のスライド機構の寿命を試験するときは、第何回目の試験で規格外となったかという大まかな往復動作回数による寿命しか知ることができないので、寿命試験の精度が低いし、供試体を寿命試験機に何回も着脱するという面倒な操作を要するので、試験のコストが高くなる。このように、特許文献１の寿命試験機を応用した方法によるスライド式携帯電話機の摺動機構の寿命試験には、寿命試験の精度および試験コストにおいて解決するべき課題がある。そこで、本発明は、寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラムの提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前述の課題を解決するため、本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラムは、主に、次のような特徴的な構成を採用している。
【００１３】
（１）本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置は、
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする装置であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする。
（２）本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法は、
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする方法であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする。
（３）本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラムは、
上記（２）に記載の寿命試験方法を、コンピュータによって実行可能なプログラムとして実施することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
上述の本発明によれば、寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施の形態１にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。
【図２】図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０１の方向に移動させるときの様子を示す図である。
【図３】図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０２の方向に移動させるときの様子を示す図である。
【図４】実施の形態２にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラム好適な実施形態について添付図を参照して説明する。なお、以下の説明においては、本発明による摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法について説明するが、かかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法をコンピュータにより実行可能な摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラムとして実施するようにしても良いし、あるいは、摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラムをコンピュータにより読み取り可能な記録媒体に記録するようにしても良いことは言うまでもない。
【００１７】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。図２は、図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０１の方向に移動させるときの様子を示す図である。図３は、図１の寿命試験装置におけるスライドプレート２０を矢印２０２の方向に移動させるときの様子を示す図である。
【００１８】
図１の寿命試験装置は、第１及び第２の荷重検出手段、供試体である摺動機構付き携帯端末を本寿命試験装置本体に固定する携帯端末固定手段、スライダープレート２０並びに支柱２１，２１ａを有してなる。
【００１９】
図において、摺動機構付き携帯端末は上部筐体１００及び下部筐体１０１で表してある。上部筐体１００及び下部筐体１０１は、摺動機構により相対的に摺動可能に互いに連結されている。この種の摺動機構は、スライド機構（例えば、特開２００８−２０５６０６参照。）とか、スライドヒンジとか称されることもある（例えば、特開２００７−１３２５０８参照。）。
【００２０】
第１の荷重検出手段は、プッシャ１、センサドグ２、ばね３、プッシャベース４、ガイドレール５１及びスライダ５２でなる直動ガイド、センサ６及び調整ねじ７でなる。また、第２の荷重検出手段は、プッシャ１ａ、センサドグ２ａ、ばね３ａ、プッシャベース４ａ、ガイドレール５１ａ及びスライダ５２ａでなる直動ガイド、センサ６ａ及び調整ねじ７ａでなる。携帯端末固定手段は、本寿命試験装置本体に固定されたベース１０、下部筐体１０１をベース１０に固定する携帯端末固定ブロック１１及び１１ａでなる。
【００２１】
スライダープレート２０は、モータにより回転力を得て、モータの回転を直線往復運動に変換するボールネジから直線往復駆動力を得て、図の矢印２００で示す方向に往復動する。スライダープレート２０の周期およびストロークは、モータ又はボールネジの調整により任意に調整できる。スライダープレート２０は、ボールネジに代えて、エアシリンダから直線往復駆動力を得ることもできる。
【００２２】
支柱２１及び２１ａは、下端をスライダープレート２０に固定され、上端をプッシャベース４及び４ａに夫々固定されている。ベース１０には、図の上下方向に貫通し、図の左右方向に細長い溝が設けてある。支柱２１、２１ａは、そのベース１０の溝を上下方向に貫通しており、その溝に案内されて、スライダープレート２０と一体となって、矢印２００で示す方向に往復動をする。支柱２１及び２１ａに夫々固定されているプッシャベース４及び４ａも、スライダープレート２０と一体となって、矢印２００で示す方向に往復動をする。
【００２３】
ガイドレール５１はプッシャベース４に固定してある。スライダ５２はプッシャ１に固定してある。スライダ５２は、ガイドレール５１に案内されて、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。同様に、スライダ５２が固定されているプッシャ１は、ガイドレール５１が固定されているプッシャベース４に対し、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。
【００２４】
同様に、ガイドレール５１ａはプッシャベース４ａに固定してある。スライダ５２ａはプッシャ１ａに固定してある。スライダ５２ａは、ガイドレール５１ａに案内されて、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。そこで、スライダ５２ａが固定されているプッシャ１ａは、ガイドレール５１ａが固定されているプッシャベース４ａに対し、矢印２００と同じ方向に摺動可能である。
【００２５】
ばね３は、片端（図において右端）を調整ネジ７により、プッシャベース４に固定され、他端（図において左端）をプッシャ１に固定されている。プッシャ１は、片端（図において右端）をばね３の他端（図において左端）に固定されている。プッシャ１がばね３に押されて、図２の矢印２０１の方向に移動するとき、プッシャ１の他端は、上部筐体１００の一端（図において右端）に当接する。
【００２６】
ばね３ａは、片端（図において左端）を調整ネジ７ａにより、プッシャベース４ａに固定され、他端（図において右端）をプッシャ１ａに固定されている。プッシャ１ａは、片端（図において左端）をばね３ａの他端（図において右端）に固定されている。プッシャ１ａがばね３ａに押されて、図３の矢印２０２の方向に移動するとき、プッシャ１ａの他端は、上部筐体１００の他端（図において左端）に当接する。
【００２７】
センサドグ２は、プッシャ１に固定された不透明な板状体である。センサ６はコの字状の形をなし、該コの字状の形の開口は図において上を向いており、該コの字状の形における対向面（図において、手前側内壁面と奥側内壁面）間で光の送受をし、その開口にセンサドグ２が進入すると、該開口の対向面間の光が遮断され、受光ができなくなるので、センサドグ２の進入を検知できる。センサ６は、このようにして、センサドグ２がコの字状の形の開口に進入したことを検知する。
【００２８】
同様に、センサドグ２ａは、プッシャ１ａに固定された不透明な板状体である。センサ６ａはコの字状の形をなし、該コの字状の形の開口は図において上を向いており、該コの字状の形における対向面（図において、手前側内壁面と奥側内壁面）間で光の送受をし、その開口にセンサドグ２ａが進入すると、該開口の対向面間の光が遮断され、受光ができなくなるので、センサドグ２ａの進入を検知できる。センサ６ａは、このようにして、センサドグ２ａがコの字状の形の開口に進入したことを検知する。
【００２９】
このような構造の図１の寿命試験装置において、スライダプレート２０が図２の矢印２０１の方向に移動し、スライダプレート２０と一体のプッシャベース４が矢印２０１の方向に移動することにより、ばね３でプッシャベース４に連結されたプッシャ１の端が上部筐体１００の一端に当接し、上部筐体１００を矢印２０１の方向に押す。プッシャ１が上部筐体１００を矢印２０１の方向に押すとき、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重が上部筐体１００に加えられる。ばね３は、その荷重に応じて、即ちその摺動抵抗に応じて、圧縮される。
【００３０】
同様に、図１の寿命試験装置において、スライダプレート２０が図３の矢印２０２の方向に移動し、スライダプレート２０と一体のプッシャベース４ａが矢印２０２の方向に移動することにより、ばね３ａでプッシャベース４ａに連結されたプッシャ１ａの端が上部筐体１００ａの他端に当接し、上部筐体１００を矢印２０２の方向に押す。プッシャ１ａが上部筐体１００を矢印２０２の方向に押すとき、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重が上部筐体１００に加えられる。ばね３ａは、その荷重に応じて、即ちその摺動抵抗に応じて、圧縮される。
【００３１】
スライダプレート２０のストロークは、上部筐体１００の摺動距離に一致するように調整してある。そこで、スライダプレート２０のストロークにより、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗は、摺動機構における全摺動範囲（摺動距離）に亘って試験される。その全摺動範囲に亘って１回往復すること（携帯端末を１回開閉することに相当する。）を１回分の往復摺動とする。供試体である携帯端末の摺動機構に要求される寿命が１０万回の往復摺動であるとすると、本第１実施形態の寿命試験装置は少なくとも１０万回の往復摺動を試験する。
【００３２】
その寿命試験において、スライダプレート２０の各ストロークに対応したプッシャ１の各ストロークにおいて、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重がばね４に加えられ、その荷重が予め定めた規格値を超えると、センサドグ２がセンサ６の開口に進入し、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことが検知される。
【００３３】
同様に、その寿命試験において、スライダプレート２０の各ストロークに対応したプッシャ１ａの各ストロークにおいて、上部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重がばね４ａに加えられ、その荷重が予め定めた規格値を超えると、センサドグ２ａがセンサ６ａの開口に進入し、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことが検知される。
【００３４】
図１の寿命試験装置は、往復摺動の回数を計数する往復摺動計数手段（図示省略）を備える。この往復摺動計数手段で往復摺動の回数を計測しながら寿命試験を実施し、試験中に荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６又は６ａで検知されると、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたときの往復摺動の回数を往復摺動計数手段から出力し、往復摺動の回数を往復摺動回数記憶手段（図示省略）に記憶すると共に、スライダプレート２０の駆動を停止し、寿命試験を終了する。往復摺動回数記憶手段に記憶された往復摺動回数が、供試体である携帯端末における摺動機構の寿命である。
【００３５】
このように、図１の寿命試験装置では、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６又は６ａで検知されると、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたときの往復摺動の回数を往復摺動回数記憶手段（図示省略）に記憶すると共に、スライダプレート２０の駆動を停止するので、供試体（携帯端末）における摺動機構の寿命が正確に測定できる。また、寿命試験の途中に供試体を取り出して、手感触による摺動面の平滑度の点検をしたり、あるいは別の荷重試験機で摺動に要する荷重を試験し、その荷重が規格値を超えているか否かの点検をしたりするといった手間を要しないから、寿命試験が安価に実施できる。
【００３６】
（実施の形態２）
図４は、実施の形態２にかかる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の構成を示す図である。この実施の形態では、ばね３、３ａに代えて、圧力センサ１６、１６ａを備え、センサドグ２，２ａ及びセンサ６，６ａを省いた構成である。本実施の形態の作動は、図１に示した第１の実施形態と同様であり、部筐体１００と下部筐体１０１とを連結する摺動機構における摺動抵抗に応じた荷重をばね４，４ａを介して加えるのに代えて、圧力センサ１６、１６ａを介して加え、またその荷重をセンサ６，６ａに代えて圧力センサ１６、１６ａで検出するようにしている。
【００３７】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の第１の実施形態では、試験中に荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたことがセンサ６又は６ａで検知されると、荷重（摺動抵抗）が規格値を超えたときの往復摺動の回数を往復摺動計数手段から出力し、往復摺動の回数を往復摺動回数記憶手段（図示省略）に記憶すると共に、スライダプレート２０の駆動を停止し、寿命試験を終了すると説明したが、センサ６及び６ａのうちの一方だけが規格値を超えたときのみならず、両センサがともにほぼ同時に規格値を超える荷重を検知したときも、同様に試験終了としても差し支えない。。
【符号の説明】
【００３８】
１，１ａ プッシャ
２，２ａ センサドグ
３，３ａ ばね
４，４ａ プッシャベース
５１ ガイドレール
５２ スライダ
６，６ａ センサ
７，７ａ 調整ねじ
１１，１１ａ 携帯端末固定ブロック
１６，１６ａ 圧力センサ
２０ スライダープレート
２１，２１ａ 支柱
１００ 上部筐体
１０１ 下部筐体
【特許請求の範囲】
【請求項１】
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする装置であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項２】
任意のストロークと任意の速度で往復運動をするスライドプレートと、
前記筐体Ｂを固定する携帯端末固定手段と、
第１及び第２の荷重検出手段と
を有してなり、
前記第１の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第１のプッシャベースと、
前記第１のプッシャベースに片端を固定された第１のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第１のプッシャベースに連結され、前記第１のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第１の方向に摺動するときに前記筐体Ａの一端に当接する第１のプッシャと、
前記第１のばねを圧縮する方向における、前記第１のプッシャベースに対する前記第１のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第１のセンサと
を有してなり、
前記第２の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第２のプッシャベースと、
前記第２のプッシャベースに片端を固定された第２のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第２のプッシャベースに連結され、前記第２のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第２の方向に摺動するときに前記筐体Ａの他端に当接する第２のプッシャと、
前記第２のばねを圧縮する方向における、前記第２のプッシャベースに対する前記第２のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第２のセンサと
を有してなり、
前記第１又は第２のセンサのうちの少なくとも何れか一方が前記所定距離を超えたことを検知したときは、前記筐体Ａに加える荷重が前記規格値を超えたとする
ことを特徴とする請求項１に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項３】
任意のストロークと任意の速度で往復運動をするスライドプレートと、
前記筐体Ｂを固定する携帯端末固定手段と、
第１及び第２の荷重検出手段と
を有してなり、
前記第１の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第１のプッシャベースと、
前記第１のプッシャベースに片端を固定された第１の圧力センサと、
前記第１の圧力センサの他端に固定され、前記スライドプレートが第１の方向に摺動するときに前記筐体Ａの一端に当接する第１のプッシャと
を有してなり、
前記第２の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第２のプッシャベースと、
前記第２のプッシャベースに片端を固定された第２の圧力センサと、
前記第２の圧力センサの他端に固定され、前記スライドプレートが第２の方向に摺動するときに前記筐体Ａの他端に当接する第２のプッシャと
を有してなり、
前記第１の圧力センサで検知した第１の圧力または前記第２の圧力センサで検知した第２の圧力のうちの少なくとも何れか一方が所定圧力を超えたときは、前記筐体Ａに加える荷重が前記規格値を超えたとする
ことを特徴とする請求項１に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項４】
前記第１及び第２の荷重検出手段が夫々複数も設けてあることを特徴とする請求項２または３の何れかに記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項５】
前記筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたことにより前記往復摺動を停止したときにおける前記計数は、前記摺動機構付き携帯端末夫々独立に前記寿命として記憶することを特徴とする請求項４に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項６】
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする方法であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項７】
任意のストロークと任意の速度でスライドプレートを往復運動させ、
携帯端末固定手段で前記筐体Ｂを固定し、
第１及び第２の荷重検出手段により、前記往復運動に基づき第１および第２の方向に前記筐体Ａを摺動させるのに要する荷重が規格値を超えたときを検出するようにし、
前記第１の荷重検出手段には、
前記スライドプレートに固定された第１のプッシャベースと、
前記第１のプッシャベースに片端を固定された第１のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第１のプッシャベースに連結され、前記第１のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第１の方向に摺動するときに前記筐体Ａの一端に当接する第１のプッシャと、
前記第１のばねを圧縮する方向における、前記第１のプッシャベースに対する前記第１のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第１のセンサと
を設けておき、
前記第２の荷重検出手段には、
前記スライドプレートに固定された第２のプッシャベースと、
前記第２のプッシャベースに片端を固定された第２のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第２のプッシャベースに連結され、前記第２のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第２の方向に摺動するときに前記筐体Ａの他端に当接する第２のプッシャと、
前記第２のばねを圧縮する方向における、前記第２のプッシャベースに対する前記第２のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第２のセンサと
を設けておき、
前記第１のセンサで検知した第１の摺動距離または前記第２のセンサで検知した第２の摺動距離のうちの少なくとも何れか一方が所定距離を超えたときは、前記筐体Ａに加える荷重が前記規格値を超えたとする
ことを特徴とする請求項６に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項８】
前記第１及び第２の荷重検出手段が夫々複数も設けておくことを特徴とする請求項７に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項９】
前記筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたことにより前記往復摺動を停止したときにおける前記計数は、前記摺動機構付き携帯端末夫々独立に前記寿命として記憶することを特徴とする請求項８に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の寿命試験方法を、コンピュータによって実行可能なプログラムとして実施することを特徴とする摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラム。
【請求項１】
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする装置であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項２】
任意のストロークと任意の速度で往復運動をするスライドプレートと、
前記筐体Ｂを固定する携帯端末固定手段と、
第１及び第２の荷重検出手段と
を有してなり、
前記第１の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第１のプッシャベースと、
前記第１のプッシャベースに片端を固定された第１のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第１のプッシャベースに連結され、前記第１のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第１の方向に摺動するときに前記筐体Ａの一端に当接する第１のプッシャと、
前記第１のばねを圧縮する方向における、前記第１のプッシャベースに対する前記第１のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第１のセンサと
を有してなり、
前記第２の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第２のプッシャベースと、
前記第２のプッシャベースに片端を固定された第２のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第２のプッシャベースに連結され、前記第２のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第２の方向に摺動するときに前記筐体Ａの他端に当接する第２のプッシャと、
前記第２のばねを圧縮する方向における、前記第２のプッシャベースに対する前記第２のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第２のセンサと
を有してなり、
前記第１又は第２のセンサのうちの少なくとも何れか一方が前記所定距離を超えたことを検知したときは、前記筐体Ａに加える荷重が前記規格値を超えたとする
ことを特徴とする請求項１に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項３】
任意のストロークと任意の速度で往復運動をするスライドプレートと、
前記筐体Ｂを固定する携帯端末固定手段と、
第１及び第２の荷重検出手段と
を有してなり、
前記第１の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第１のプッシャベースと、
前記第１のプッシャベースに片端を固定された第１の圧力センサと、
前記第１の圧力センサの他端に固定され、前記スライドプレートが第１の方向に摺動するときに前記筐体Ａの一端に当接する第１のプッシャと
を有してなり、
前記第２の荷重検出手段は、
前記スライドプレートに固定された第２のプッシャベースと、
前記第２のプッシャベースに片端を固定された第２の圧力センサと、
前記第２の圧力センサの他端に固定され、前記スライドプレートが第２の方向に摺動するときに前記筐体Ａの他端に当接する第２のプッシャと
を有してなり、
前記第１の圧力センサで検知した第１の圧力または前記第２の圧力センサで検知した第２の圧力のうちの少なくとも何れか一方が所定圧力を超えたときは、前記筐体Ａに加える荷重が前記規格値を超えたとする
ことを特徴とする請求項１に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項４】
前記第１及び第２の荷重検出手段が夫々複数も設けてあることを特徴とする請求項２または３の何れかに記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項５】
前記筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたことにより前記往復摺動を停止したときにおける前記計数は、前記摺動機構付き携帯端末夫々独立に前記寿命として記憶することを特徴とする請求項４に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置。
【請求項６】
筐体Ａと筐体Ｂとを互いに摺動可能に連結する摺動機構を有する摺動機構付き携帯端末における該摺動機構の寿命の試験をする方法であって、
前記筐体Ｂに対する前記筐体Ａの往復摺動をさせながら、該往復摺動の回数の計数をするとともに、該筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたときに該往復摺動を停止させ、該往復摺動を停止させたときにおける該計数を前記寿命として出力する
ことを特徴とする摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項７】
任意のストロークと任意の速度でスライドプレートを往復運動させ、
携帯端末固定手段で前記筐体Ｂを固定し、
第１及び第２の荷重検出手段により、前記往復運動に基づき第１および第２の方向に前記筐体Ａを摺動させるのに要する荷重が規格値を超えたときを検出するようにし、
前記第１の荷重検出手段には、
前記スライドプレートに固定された第１のプッシャベースと、
前記第１のプッシャベースに片端を固定された第１のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第１のプッシャベースに連結され、前記第１のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第１の方向に摺動するときに前記筐体Ａの一端に当接する第１のプッシャと、
前記第１のばねを圧縮する方向における、前記第１のプッシャベースに対する前記第１のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第１のセンサと
を設けておき、
前記第２の荷重検出手段には、
前記スライドプレートに固定された第２のプッシャベースと、
前記第２のプッシャベースに片端を固定された第２のばねと、
前記スライドプレートの往復運動の方向に摺動可能に前記第２のプッシャベースに連結され、前記第２のばねの他端に固定され、該スライドプレートが第２の方向に摺動するときに前記筐体Ａの他端に当接する第２のプッシャと、
前記第２のばねを圧縮する方向における、前記第２のプッシャベースに対する前記第２のプッシャの相対移動距離が、所定距離を超えたことを検知する第２のセンサと
を設けておき、
前記第１のセンサで検知した第１の摺動距離または前記第２のセンサで検知した第２の摺動距離のうちの少なくとも何れか一方が所定距離を超えたときは、前記筐体Ａに加える荷重が前記規格値を超えたとする
ことを特徴とする請求項６に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項８】
前記第１及び第２の荷重検出手段が夫々複数も設けておくことを特徴とする請求項７に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項９】
前記筐体Ａに加える荷重が規格値を超えたことにより前記往復摺動を停止したときにおける前記計数は、前記摺動機構付き携帯端末夫々独立に前記寿命として記憶することを特徴とする請求項８に記載の摺動機構付き携帯端末の寿命試験方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の寿命試験方法を、コンピュータによって実行可能なプログラムとして実施することを特徴とする摺動機構付き携帯端末の寿命試験プログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図２】
【図３】
【図４】
【公開番号】特開２０１２−５２９０８（Ｐ２０１２−５２９０８Ａ）
【公開日】平成２４年３月１５日（２０１２．３．１５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１９５５５９（Ｐ２０１０−１９５５５９）
【出願日】平成２２年９月１日（２０１０．９．１）
【出願人】（３９００１０１７９）埼玉日本電気株式会社 (1,228)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年３月１５日（２０１２．３．１５）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年９月１日（２０１０．９．１）
【出願人】（３９００１０１７９）埼玉日本電気株式会社 (1,228)
【Ｆターム（参考）】
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