説明

検出器及び付随コリメータのアレイを具えたトモグラフィックエネルギー分散型X線回折装置

【解決手段】トモグラフィックエネルギー分散型回折撮像装置は、支持体に設置された試料(4)に入射放射線(1、3)を当てるための放射線源と、入射の方向に対して所定の角度で試料(4)を通って伝達された放射線を検出するために設置された検出手段(9、10)とを具えている。検出手段は、エネルギー分散型検出器(9)のアレイとコリメータ(10)のアレイとを具え、各エネルギー分散型検出器(9)はそれに付随したそれぞれのコリメータ(10)を有する。コリメータアレイの各コリメータは、伝達された放射線の方向に沿って間隔が空けられ、中にアパーチャが形成された複数のコリメータ板を具えていてもよい。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、トモグラフィックエネルギー分散型回折撮像システム(TEDDI)に関するものである。
【背景技術】
【0002】
TEDDIは、比較的最近開発された断層撮像システムである。最も伝統的な断層撮像システムが、侵入放射に対する物質の吸収又は分光反応に依存しているのに対し、TEDDIは、吸収又は分光データの何れかと組み合わせて回折データを提供することにおいて独特である。ユーザは、どのパラメータを表示するかを選択できる。例えば、病理軟組織標本であれば、示される吸収のコントラストは小さいことが予測されるが、回折パターンは、健康な組織と罹患組織との間で著しく異なるであろう。例えば摩擦攪拌溶接部の回折パターンは合金組成を示すであろうし、吸収コントラストは巨視的物理的欠陥を示すであろう。例として更に、不均一な空間ドーピングがなされたセラミック材料であれば、試料にドーパントの蛍光のばらつきを示すことが予測できるが、吸収コントラストマップはほとんど有益でない情報をもたらすであろう。
【0003】
TEDDIはこのように強力な断層撮像システムであり、その開発がここ数年続いてきた。例えば、Hallら「Synchrotron Energy-dispersive X-ray Diffraction Tomography」、Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms、140(1〜2):253〜257、1998年4月、Barnesら「Time and Space-resolved Dynamic Studies on Ceramic and cementation Materials」、Journal of Synchrotron Radiation、7:167〜177、part 3、2000年5月、及びHallら「Non-destructive Tomographic Energy-dispersive Diffraction Imaging of the Interior of Bulk Concrete」、Cement and Concrete research、30(3):491〜495、2000年3月参照。
【0004】
典型的な従来のTEDDIシステムにおいては、所望の空間分解能にコリメートされたシンクロトロン又は実験室系X線源からの白色ビーム(通常は断面が約50μm)が試料に当てられる。付随コリメータを具えたエネルギー分解検出器(通常は低温冷却ゲルマニウム固体検出器)が、研究中の試料及び所望の構造分解能に適した角度で回折されたX線を検出するように配置される。試料を通る入射X線ビームの進路と検出器のコリメータアパーチャにより限定される角度とによって、回折「菱形」と言われる回折試料体積が決定される。3D画像を得るために、x、y及びz方向に(通常は50μmステップで)試料が走査され、エネルギー分散型回折パターンが各点で記録される。各回折菱形が空間上に良好に形成されるので、試料全体にわたって3D構造マップを作成することができる。
【0005】
今日まで開発されてきたTEDDIシステムの不利点は、3D画像(又は2D画像でさえ)を構築する過程が、シンクロトロン放射を用いても通例14から16時間かかる極めて遅い過程であるということである。このため、既存のTEDDIシステムは、実験室ベースの分析ツールに非実用的で、医療生体応用に不適当なものとなっている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
既存のTEDDIシステムの不利点を防ぐ又は緩和することが本発明の目的である。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の第1の態様によれば、
試料のための支持体と、
支持体に設置された試料に入射放射線を当てるための放射線源と、
入射の方向に対して所定の角度で試料を通って伝達された放射線を検出するために設置された検出手段
とを具え、検出手段は、
エネルギー分散型検出器のアレイとコリメータのアレイとを具え、各エネルギー分散型検出器はそれに付随したそれぞれのコリメータを有するトモグラフィックエネルギー分散型回折撮像装置が提供される。
【0008】
本発明に係る検出器/コリメータのアレイを用いると、複数の試料菱形に関する情報を同時に提供することによって試料の画像を得るのに要する時間を大幅に短縮することができる。
【0009】
本発明の第2の態様によれば、入射放射線を平行ビームにするためのコリメータであって、それぞれにコリメータアパーチャが設けられた少なくとも2枚の間隔をおいたコリメータ板又は箔を具え、隣り合うコリメータ板又は箔のコリメータアパーチャを平行ビームの方向に配列することによって、隣り合うコリメータ板又は箔の配列されたアパーチャを連続的に通過する入射放射線が平行にされるコリメータが提供される。
【0010】
本発明に係るコリメータ構造によれば、隣り合うコリメータの高密度アレイを容易に提供することができ、高い角度分解能が得られ、改善されたTEDDIシステムに用いるのに理想的である。
【0011】
本発明は又、本発明のコリメータを構成する方法を提供し、該方法においてコリメータアパーチャはレーザードリルによって形成される。
【0012】
本発明の様々な態様の他の好ましいそして有利な特徴は、以下の説明から明らかであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【0013】
添付図面を参照して、本発明の実施形態を単に例として以下に説明する。
図1は、周知のTEDDIシステムの概略図である。例えばシンクロトロン又はX線チューブによって生成することができる白色X線ビーム1が、コリメータ2により平行にされて所望の空間分解能のビーム3を生成する。典型的なシステムにおいて、該ビームは50μmの断面を有する。通常50μm程度の適度に小さなステップで直交する3方向(x、y及びz方向)に試料を走査することができる支持体(図示省略)に設置された試料4に平行ビーム3を当てる。偏向ビームコリメータ5及びエネルギー分散型検出器6が、入射ビーム3に対して2θの角度で配置される(対象としている試料及び所望の構造分解能に適した角度が、ブラッグの法則の適用による周知の方法で選択される)。回折試料体積は、入射ビーム3の進路とコリメータ5によって受け取られた回折ビーム8とによって形成される菱形7である。該菱形の大きさが空間分解能を決定する。
【0014】
エネルギー分散型回折パターンを収集するため、検出器6は、2%程度又はこれより優れたエネルギー分解能を有していなければならない。従って、周知のTEDDIシステムにおいては、低温冷却固体ゲルマニウム検出器が用いられている。従来の低温冷却固体ゲルマニウム検出器は、通常直径がおよそ0.5メートルの大きな物であり、1個につき15,000ポンド程度かかる非常に高価なものである。
【0015】
本発明者らは、英国オックスフォードシャーのCCLRC Rutherford Appleton実験室で最近開発されたシリコンピクセル検出器チップが、小さくて比較的安価なパッケージで十分なエネルギー分解能を具えることを認めた。該検出器チップは、P.Sellerらの論文「Two Approaches To Hybrid X-ray Pixel Array Read Out」(SPIE Vol. 3774、Detectors for Crystallography and Diffraction Studies as Synchrotron Sources、1999年7月)に説明されており、5.9keVで250eV程度のエネルギー分解能を有する個別の検出器をそれぞれ実際上構成している300μmのピクセルの16×16アレイからなる。これは、5.9keVで120eVと180eVとの間の分解能を有する最も高品質な冷却ゲルマニウム検出器に匹敵する。加えて、該シリコン検出器の計数率は、トモグラフィー研究に適切な1MHz程度である。
【0016】
又、本発明者らは、ピクセルアレイを用いることによって、試料中の一面上の相隣接している検出器の菱形の対応アレイからの検出器データが同時に得られることを認めた。図2aからcを参照してこれを概略的に示す。まず図1を参照して、これは、1つの回折菱形7からのデータを一度に測定する従来の1つの検出器6及びコリメータ5を示している。図2aは、複数の、ここでは4つの検出器9をそれぞれのコリメータ10と共に垂直に配置することによって、4つの回折菱形7から同時にデータを収集することができるということを示している。ここでは、x方向に沿って菱形が相隣接している(従来のシステムにおける対応x方向走査と同等)。
【0017】
同様に、図2bは、検出器9及びコリメータ10のアレイを水平に(Y方向に)配置し、入射ビームを垂直方向に薄い扇形として与えることによって、Y方向に相隣接している回折菱形7からのデータを同時に収集することができるということを示している(従来のシステムにおける対応y方向走査と同等)。図においては、7つの検出器(即ち検出ピクセル)及びそれぞれのコリメータが並んで配置され、7つの相隣接している回折菱形に関するデータを提供している。
【0018】
図2cは、ここではxy平面にある回折菱形の2次元アレイからの同時データを提供する検出器9及びコリメータ10の2次元アレイを(再び薄い扇形の入射ビームと共に)具えることの効果を示している。
【0019】
このように、隣り合う検出器/コリメータのアレイ、特に検出器/コリメータの2次元アレイを具えることによって、試料の走査動作の数が減少するということが容易に理解されよう。又、検出器の2次元アレイが、試料全体を「カバー」するのに十分な大きさであれば、試料の全てのボクセル(即ち菱形)の回折パターンの完全なセットを得るために1つの方向(図2cに示す配置の場合はZ方向)における走査が要求されるのみである。上記シリコンピクセル検出器チップを用いると、1つのチップが16×16の検出器アレイを具えているので、複数の検出器チップを並べて配置することによってほとんどどのような実用的大きさの2次元検出器アレイでも提供することができる。
【0020】
しかしながら、要求される平面又は扇形の入射ビームを与えることは簡単であるが、この規模の回折エネルギービームのコリメーションには問題がある。回折ビームの角度コリメーションの公差が小さい。コリメータアパーチャが大きすぎれば、システムのエネルギー分解能は、固有の検出器分解能ではなくコリメータの開口角によって支配されることになる。例えば、1から1.5オングストロームの試料構造空間分解能に相応するエネルギー分解能を保つためには、0.3mrad又は0.02°程度の透過発散度を有するコリメータを各検出器に設ける必要がある。これはコリメータの角度分解能と言われている。ある任意の測定に要求されるコリメータ分解能は、要求されるエネルギー分解能、検出角、及び試料内の空間分解能を参照して、ブラグの法則の適用から周知の方法で直接決定することができる。
【0021】
図3は、吸収材料の固体ブロック12を貫通する孔11を具えた簡易なコリメータ構造の分解能の角度を概略的に示している。明確にするために縮尺は誇張されている。角度分解能αは、コリメータ孔11を直接通って伝達することができる最も発散している光線13/14の間の角である。簡単な幾何学の応用から、角度分解能αは、以下の式によってコリメータ孔の長さ(L)及び径(d)に関連していることがわかる。
tan(α/2)=(d/2)/(L/2)、つまり、
α=2tan−1(d/L)・・・・・・(1)
【0022】
上の式(1)を適用すると、0.02°の角度分解能を得るために、コリメータ孔は約6000:1のアスペクト比を有さなければならないということがわかる。従って、50μmという典型的な平行ビーム径であれば、このアスペクト比を得るために孔は約300mmの長さが必要となる。しかしながら、現在利用できる最先端のフェムトレーザードリルシステムでさえ、要求される精度ではこの規模で10:1のアスペクト比しか得られない。
【0023】
そこで、本発明の更なる態様は、多くの異なる用途に適用できるが特に本発明の改善されたTEDDIシステムでの適用に有用な新たな形態のコリメータを提供することである。本発明に係る簡単なコリメータを図4に示す。明確にするためにここでも縮尺は誇張されている。図3に示したような、固体ブロックの材料を貫通する連続孔を設けるのではなく、要求される距離L(フロントコリメータ箔17の前面とバックコリメータ箔18の背面との間を測定)だけ間隔をおいた吸収材料の薄い板又は箔17及び18にそれぞれ径dのアパーチャ15及び16を設けることによって、同等のアスペクト比を得る。
【0024】
各コリメータ箔17、18はそれぞれ、アパーチャ径d及び箔の厚さtによって決定される角度分解能βを有する。従って、式(1)を適用すると、
β=2tan−1(d/t)
となる。
【0025】
しかしながら、2枚のコリメータ箔を組み合わせて全体のコリメータ分解能αを得ると、
α=2tan−1(d/L)
となる。
【0026】
このように、d及びLが、図3の簡易なコリメータ構造の寸法d及びLと同じであれば、コリメータ分解能は同じになる。従って、L=300mmとなるように間隔が空けられたコリメータ箔に、それぞれ50μm径のアパーチャを設けることによって、容易に0.02°のコリメータ分解能を得ることができる。
【0027】
コリメータアパーチャは、適当であればどのような工程によっても形成できるが、本発明によれば、好ましくはレーザードリルによって形成される。上述の如く、現代のレーザードリルで得られるアスペクト比は10:1であり、これは例えば、0.5mm厚の箔に50μmの穴を開けることと同じである。現在のレーザードリル技術であれば、実用限界は、100μm厚の板における10μm程度の穴ということになるので、より小さなコリメータアパーチャサイズを得るためには、リソグラフ技術のような他の技術が要求されるであろう。
【0028】
コリメータ箔は、適当であればどのような材料及び厚さであってもよい。TEDDIシステムに用いるには、箔は好ましくは、高エネルギーX線に対する吸収性が高いタングステンであり、例えば0.5mm程度の自立できる厚さである。
【0029】
本発明に係る改善されたTEDDIシステムには相近接するコリメータのアレイが要求され、コリメータはそれぞれ、相近接する検出器(即ち、上述した検出器チップの検出ピクセル)のそれぞれ1つに対する回折光を平行にするということが理解されるであろう。図5は、上で図4に関して説明した原理に従って構成されたコリメータアレイの一部を概略的に示している。図5には2つの隣り合うコリメータが示されており(明確にするためここでも縮尺は一定でない)、それぞれ、フロント及びバックコリメータ箔19及び20に形成された第1及び第2コリメータアパーチャ15a/16a及び15b/16bを具えている。この図から、各コリメータはαの角度分解能を有するが、発散角β(これは点線の光線によって示されている)がそれぞれずっと大きい相近接するコリメータの間にかなりの「クロストーク」があるということがわかる。このクロストークは、検出された測定値が大きなものであれば除去しなければならない。本発明によれば、フロント箔19とバック箔20との中間に追加コリメータ箔を導入することによってこれが達成される。
【0030】
例えば、図6は、コリメータアパーチャ15a/16a及び15b/16bをそれぞれ具えた隣り合うコリメータ間でのクロストークなく許容できる、2枚の隣り合うコリメータ箔21と22との間の最大箔隔離距離FSを概略的に示している。簡単な幾何学を応用すると、最大隔離距離FSはフロント箔の角度分解能βと次のように関係していることがわかる。
Tan(β/2)=s/FS、つまり、
FS=s/tan(β/2)・・・・・・(2)
tan(β/2)の代わりに(d/2)/(t/2)を用いると、
FS=(st)/d・・・・・・(3)
【0031】
アパーチャ15a/16a及び15b/16bによって形成された各コリメータの全体のコリメータ分解能が、上述の式(1)から決定できるということも理解されるであろう。
【0032】
例えば、各コリメータ箔の厚さtが0.5mm、各コリメータアパーチャの径dが50μm、そしてコリメータアパーチャ間隔sが50μm(即ち、コリメータアパーチャ中心の間隔が100μm)と仮定すると、クロストークを避ける最大コリメータ箔隔離距離FSは0.5mmとなる。
【0033】
箔隔離距離FSが0.5mmであると、有効コリメータ長さLは1.5mmとなる。従って、式(1)を適用すると、アレイにおける各コリメータの角度分解能は0.38°となる。この分解能で十分な用途もあり得るが、要求される角度分解能が通常0.02°程度である本用途には、コリメータ全体の長さLが、要求されるアスペクト比L:d(ここでは6000:1程度)を得るのに十分となるまで更なるコリメータ箔を追加しなければならない。
【0034】
例えば、第3コリメータ箔23を図6の構成に追加すると、図7に示す構成が得られ、そこから、第2及び第3コリメータ箔の最大隔離距離FSは、第2コリメータ箔22のアパーチャ15b及び16bを出たビームの発散角、即ち、コリメータ箔21及び22の組み合わせによって得られた0.38°の角度分解能によって決定されるということが理解されるであろう。従って、箔21及び22の隔離距離が最大の0.5mmであると仮定すると、箔22及び23の最大隔離距離は、FS=15mmである(上の式(2)を適用)。
【0035】
繰り返すが、3枚のコリメータ箔全体の角度分解能は、フロントコリメータ箔21の前面と第3コリメータ箔23の背面との間の距離に関係する。
【0036】
コリメータ全体の長さが要求される距離Lに少なくとも等しくなるまで、追加コリメータ箔を必要に応じて加えることができる。要求されるコリメータ箔の数は、隣り合うコリメータ箔間をクロストークのない最大隔離距離FSとすることによって最小となる。勿論、所望であれば、最小の数より多くのコリメータ箔を用いてもよい。
【0037】
上述の如く、本発明のコリメータ構造の製作にはレーザードリルが好ましい方法である。簡単な構成方法を概略的に図8aからeに示す。第1コリメータ箔24を光学ベンチ25(これは従来の構造であってもよい)に設置し、レーザー26を用いて要求される径dのアパーチャを開ける。フェムト秒レーザーを用いると、コリメータアパーチャのアスペクト比を10:1とすることができるので、例えば、50μm径のアパーチャであれば0.5mm厚の箔に、又、10μm径のアパーチャであれば100μm厚の箔に開けることができる。
【0038】
それから、図8bに示す如く、レーザーと第1コリメータ箔との間で第2コリメータ箔を光学ベンチに置く。そして第2箔にコリメータアパーチャを開ける。このように、レーザーは、要求されるアパーチャを開けると共に、連続するコリメータ箔のアパーチャが正確に配列されるように作用する。
【0039】
そして、図8cからeに示す如く、追加コリメータ箔を加えながら、要求されるコリメータ全体のアスペクト比が得られるまで前記工程を繰り返せばよい。
【0040】
上記方法の変形として、穴を開けた後、各コリメータ箔を光学ベンチから除去し、次のコリメータ箔をドリル作業のためレーザー焦点に位置する様、先のコリメータ箔と同じ位置に置くようにすることもできる。全てのコリメータ箔に穴を開けたら、それらを光学ベンチに再設置し、要求される隔離距離をもって正確に配置することができる。
【0041】
線形又は2次元の何れかのアレイにおいて、全体のコリメータ構造が同様の個々のコリメータのアレイを具えるように、レーザーを用いて各コリメータ箔の相隣接するコリメータアパーチャのアレイを開けることができるということが理解されよう。この場合、隣り合うコリメータ板の最大間隔を上述の如く計算して、隣り合うコリメータ間のクロストークをなくすようにする。
【0042】
このように、上述した検出器チップ技術で用いるのに適当なコリメータが、本発明の改善されたTEDDIシステムに応用するのに容易に構成できるということが理解されるであろう。しかしながら、本発明に係るコリメータは、他の測定システムにおいても応用できるということが理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【0043】
【図1】周知のTEDDIシステムの概略図である。
【図2】本発明に係るTEDDIシステムの一部の実施形態を概略的に示す図である。
【図3】周知のコリメータ構造の概略図である。
【図4】本発明に係るコリメータの概略図である。
【図5】本発明に係るコリメータアレイの概略図である。
【図6】隣り合うコリメータ間のクロストークを避けるための図5のコリメータアレイの変形の概略図である。
【図7】本発明に係る更なるコリメータアレイの概略図である。
【図8】本発明に係るコリメータを構成する1つの方法を示す図である。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
試料のための支持体と、
支持体に設置された試料に入射放射線を当てるための放射線源と、
入射の方向に対して所定の角度で試料を通って伝達された放射線を検出するために設置された検出手段
とを具え、検出手段は、エネルギー分散型検出器のアレイとコリメータのアレイとを具え、各エネルギー分散型検出器はそれに付随したそれぞれのコリメータを有するトモグラフィックエネルギー分散型回折撮像装置。
【請求項2】
検出器及びコリメータの前記アレイを線形アレイとすることにより、直交する二方向のみにおける試料支持体の走査動作によって試料の3次元領域を走査することができる請求項1に記載の装置。
【請求項3】
前記コリメータ及び検出器アレイを2次元アレイとすることにより、一方向のみにおける試料支持体の走査動作によって試料の3次元領域を走査することができる請求項1に記載の装置。
【請求項4】
検出器アレイは1以上の半導体検出器チップを具え、各半導体検出器チップは個々の検出器ピクセルのアレイを具え、個々の検出器ピクセルはそれぞれ1つの検出器を具えている前記何れかの請求項に記載の装置。
【請求項5】
コリメータアレイの各コリメータは複数の配列されたコリメータアパーチャを具え、該複数のコリメータアパーチャは、伝達された放射線の方向に沿って間隔の空けられたコリメータ板又は箔にそれぞれ形成されている前記何れかの請求項に記載の装置。
【請求項6】
複数のコリメータアパーチャを各コリメータ板又は箔に設けて個々のコリメータのアレイを形成している請求項5に記載の装置。
【請求項7】
隣り合うコリメータ板又は箔は、前記アレイの隣り合うコリメータ間のクロストークを避けるように間隔がおかれている請求項5又は請求項6に記載の装置。
【請求項8】
前記角度は0と180°との間である前記何れかの請求項に記載の装置。
【請求項9】
前記角度は調整可能である前記何れかの請求項に記載の装置。
【請求項10】
放射線源には、入射放射線を扇形ビームにするための入射放射線コリメータが設けられている前記何れかの請求項に記載の装置。
【請求項11】
入射放射線を平行ビームにするためのコリメータであって、それぞれにコリメータアパーチャが設けられた少なくとも2枚の間隔をおいたコリメータ板又は箔を具え、隣り合うコリメータ板又は箔のコリメータアパーチャを平行ビームの方向に配列することによって、隣り合うコリメータ板又は箔の配列されたアパーチャを連続的に通過する入射放射線が平行にされるコリメータ。
【請求項12】
前記配列されたコリメータアパーチャが設けられた2より多くのコリメータ板又は箔を具えた請求項11に記載のコリメータ。
【請求項13】
各コリメータ板又は箔は隣り合うコリメータアパーチャのアレイを具え、該コリメータアパーチャを隣り合うコリメータ箔又は板のそれぞれのコリメータアパーチャに揃えることによって、隣り合うコリメータ板又は箔の配列されたコリメータアパーチャをそれぞれ具えた隣り合うコリメータのアレイが設けられる請求項11又は請求項12に記載のコリメータ。
【請求項14】
隣り合うコリメータ板又は箔の最大隔離距離が、コリメータアレイの隣り合うコリメータ間のクロストークをなくすように選択される請求項13に記載のコリメータ。
【請求項15】
コリメータアレイが線形である請求項13又は請求項14に記載の装置。
【請求項16】
コリメータアレイが2次元である請求項14又は15に記載の装置。
【請求項17】
各コリメータアパーチャの径:長さのアスペクト比が10:1程度である請求項11乃至16の何れか1項に記載のコリメータ。
【請求項18】
隣り合うコリメータ板又は箔の配列されたコリメータアパーチャが実質的に同一の径を有する請求項11乃至17の何れか1項に記載のコリメータ。
【請求項19】
各コリメータ板又は箔が実質的に同一の厚さを有する請求項11乃至18の何れか1項に記載のコリメータ。
【請求項20】
前記コリメータアパーチャがレーザードリルによって形成される請求項11乃至19の何れか1項に記載のコリメータを構成する方法。
【請求項21】
連続するコリメータ板を光学ベンチに設置して、前記1又は複数のコリメータアパーチャを開ける請求項19に記載の方法。
【請求項22】
添付図面を参照して実質的に以上の如く説明されたTEDDIシステム。
【請求項23】
添付図面を参照して実質的に以上の如く説明されたコリメータ。
【請求項24】
添付図面を参照して実質的に以上の如く説明された、コリメータを構成する方法。


【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【公表番号】特表2006−526138(P2006−526138A)
【公表日】平成18年11月16日(2006.11.16)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2005−500165(P2005−500165)
【出願日】平成15年12月4日(2003.12.4)
【国際出願番号】PCT/GB2003/005281
【国際公開番号】WO2004/106906
【国際公開日】平成16年12月9日(2004.12.9)
【出願人】(399128437)カウンシル・フォー・ザ・セントラル・ラボラトリー・オブ・ザ・リサーチ・カウンシルズ (4)
【氏名又は名称原語表記】COUNCIL FOR THE CENTRAL LABORATORY OF THE RESEARCH COUNCILS
【Fターム(参考)】