検量線算出方法、及び情報処理装置
【課題】個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定して検量線を算出することが可能な、検量線算出方法、及び情報処理装置を提供すること。
【解決手段】測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程とを含み、前記ＲＯＩ範囲設定工程において、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【解決手段】測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程とを含み、前記ＲＯＩ範囲設定工程において、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法、及び情報処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、標準サンプルを分析する分析装置からのスペクトル波形等のデータについてピーク検出、各ピークの面積算出、検量線作成等の分析処理を実行するデータ処理装置において、検量線と実測データの乖離度を求め、乖離度に応じて実測データの表示形態を異ならせて表示するようにしたデータ処理装置が知られている（例えば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−１５１７４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来のデータ処理装置では、検量線を算出する際にスペクトル波形上のＲＯＩ範囲をユーザが任意に指定するため、指定するＲＯＩ範囲に個人差が生じるといった問題点があった。
【０００５】
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定して検量線を算出することが可能な、検量線算出方法、及び情報処理装置を提供することができる。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）本発明に係る検量線算出方法は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定工程において、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【０００７】
また、本発明に係る情報処理装置は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定部が、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【０００８】
本発明によれば、ＲＯＩ範囲の積分強度と検量線との誤差が最小となるＲＯＩ範囲が自動設定されるため、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【０００９】
（２）本発明に係る検量線算出方法は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御工程とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出工程において、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御工程において、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う。
【００１０】
また、本発明に係る情報処理装置は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御部とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出部が、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御部が、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う。
【００１１】
本発明によれば、ユーザによって設定されたＲＯＩ範囲に基づきＲＯＩ範囲の積分強度と検量線との誤差が算出され、算出された誤差が表示部に表示される。そして、ユーザによってＲＯＩ範囲の設定が変更された場合には、変更後のＲＯＩ範囲に基づき前記誤差が再度算出されて表示部の前記誤差の表示が更新される。すなわち、ユーザは、表示部に表示される前記誤差を指標として確認しながら、例えば前記誤差が最小となるようにＲＯＩ範囲を設定することができ、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施形態に係る情報処理装置の機能ブロック図の一例を示す図。
【図２】本実施形態の第１の手法におけるＲＯＩ範囲の変更について説明するための図。
【図３】本実施形態の第１の手法における検量線の算出について説明するための図。
【図４】誤差の算出について説明するための図。
【図５】本実施形態の第２の手法における表示画面の一例を示す図。
【図６】本実施形態の第１の手法における処理の一例を示すフローチャート図。
【図７】本実施形態の第２の手法における処理の一例を示すフローチャート図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００１４】
１．構成
図１に、本実施形態に係る情報処理装置の機能ブロック図の一例を示す。なお本実施形態の情報処理装置は図１の構成要素（各部）の一部を省略した構成としてもよい。
【００１５】
情報処理装置１００は、元素分析や膜厚分析を行うための装置であり、スペクトロメータ１０（例えば、蛍光Ｘ線分析装置、エネルギー分散型Ｘ線分析装置）から入力される標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を作成し、作成した検量線を用いて試料（成分量が未知の試料）の定量分析を行う装置である。
【００１６】
図１に示すように、情報処理装置１００は、処理部２０と、操作部３０と、表示部３２と、記憶部３４と、情報記憶媒体３６とを含んでいる。
【００１７】
操作部３０は、ユーザが操作情報を入力するためのものであり、入力された操作情報を処理部２０に出力する。操作部３０の機能は、キーボード、マウス、ボタン、タッチパネル型ディスプレイなどのハードウェアにより実現することができる。
【００１８】
表示部３２は、処理部２０によって生成された画像を表示するものであり、その機能は、ＬＣＤ、ＣＲＴなどにより実現できる。
【００１９】
記憶部３４は、処理部２０のワーク領域となるもので、その機能はＲＡＭなどにより実現できる。情報記憶媒体３６（コンピュータにより読み取り可能な媒体）は、プログラムやデータなどを格納するものであり、その機能は、光ディスク（ＣＤ、ＤＶＤ）、光磁気ディスク（ＭＯ）、磁気ディスク、ハードディスク、磁気テープ、或いはメモリ（ＲＯＭ）などにより実現できる。処理部２０は、情報記憶媒体３６に格納されるプログラム（データ）に基づいて本実施形態の種々の処理を行う。情報記憶媒体３６には、処理部２０の各部としてコンピュータを機能させるためのプログラムを記憶することができる。
【００２０】
処理部２０は、ＲＯＩ範囲を設定する処理、検量線の算出処理、誤差の算出処理等の処理を行う。処理部２０の機能は、各種プロセッサ（ＣＰＵ、ＤＳＰ等）、ＡＳＩＣ（ゲートアレイ等）などのハードウェアや、プログラムにより実現できる。処理部２０は、ＲＯＩ範囲設定部２２、検量線算出部２４、誤差算出部２６を含む。
【００２１】
ＲＯＩ範囲設定部２２は、スペクトロメータ１０から出力された、成分量（例えば、濃度、膜厚）が異なる複数の標準試料の各測定スペクトル上のＲＯＩ範囲（Region Of Interest、関心領域）を設定する。なお、ＲＯＩ範囲設定部２２は、操作部３０からの操作情報に基づきＲＯＩ範囲を設定（変更）してもよい。
【００２２】
検量線算出部２４は、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する。
【００２３】
誤差算出部２６は、検量線算出部２４で算出された前記積分強度と前記検量線との誤差（差または偏差）を算出する。
【００２４】
また、ＲＯＩ範囲設定部２２は、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき誤差算出部２６で算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定してもよい。
【００２５】
また、処理部２０は、表示制御部２８を更に含んでもよい。表示制御部２８は、誤差算出部２６で算出された前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う。
【００２６】
また、操作部３０からの操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、誤差算出部２６は、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、表示制御部２８は、再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行ってもよい。
【００２７】
２．本実施形態の手法
次に本実施形態の手法について図面を用いて説明する。
【００２８】
２−１．第１の手法
まず、本実施形態の第１の手法について説明する。第１の手法では、ＲＯＩ範囲設定部２２が、ユーザの操作によらずにＲＯＩ範囲の設定・変更を行い、誤差算出部２６で算出される誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【００２９】
図２に、濃度（成分量の一例）が異なる複数の標準試料の測定スペクトルの一例を示す。図２に示す測定スペクトルＳ１、Ｓ２、Ｓ３は、それぞれ濃度がＣ１、Ｃ２、Ｃ３（Ｃ１＜Ｃ２＜Ｃ３）である３つの標準試料のスペクトルである。
【００３０】
第１の手法では、図２に示すように、まず、測定スペクトルのピークｐ（強度が最大となるエネルギー値）を指定する。なお、ユーザが操作部２０を操作してピークｐを指定するようにしてもよいし、測定スペクトルからピークｐを自動検出するようにしてもよい。
【００３１】
次に、指定したピークｐを中心として所定の幅を有するＲＯＩ範囲を設定する。例えば、図２に示すａ〜ｂの範囲をＲＯＩ範囲として設定する。
【００３２】
次に、図３に示すように、各測定スペクトルＳ１、Ｓ２、Ｓ３のそれぞれについて、ＲＯＩ範囲をａ〜ｂの範囲としたときのＲＯＩ範囲の積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３を算出し、算出した積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３に基づき最小二乗法により検量線Ａを算出する。具体的には、検量線（Ｙ＝ａＸ＋ｂ）の係数ａ、ｂを最小二乗法により求める。図３に示す例では、検量線Ａは、横軸（Ｘ軸）が標準試料の濃度となり、縦軸（Ｙ軸）が積分強度となるようにプロットされている。
【００３３】
次に、積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３と検量線Ａとの誤差を算出する。例えば、図４に示すように、積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３と検量線Ａとの各偏差をｘｉ（ｉ＝１〜ｎ、ここではｎ＝３）とすると、誤差σを、次式により求めることができる。
【００３４】
【数１】
【００３５】
次に、ＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき、積分強度と検量線を算出し、積分強度と検量線の誤差を同様に算出する。以下、任意の回数だけＲＯＩ範囲を変更して同様の処理を行う。
【００３６】
例えば、図２に示すａ〜ｂのＲＯＩ範囲を、ピークｐを中心として所定の幅だけ拡大して、ａ’〜ｂ’の範囲を新たなＲＯＩ範囲として設定し、図３に示すように、ＲＯＩ範囲をａ’〜ｂ’の範囲としたときの積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３を算出する。そして、算出した積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３に基づき最小二乗法により検量線Ａ’を算出し、式（１）により積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３と検量線Ａ’との誤差σを算出する。
【００３７】
更に、図２に示すａ’〜ｂ’のＲＯＩ範囲を、ピークｐを中心として所定の幅だけ拡大して、図３に示すように、ＲＯＩ範囲をａ”〜ｂ”の範囲としたときの積分強度Ｉ”１、Ｉ”２、Ｉ”３を算出し、算出した積分強度Ｉ”１、Ｉ”２、Ｉ”３に基づき最小二乗法により検量線Ａ”を算出し、式（１）により積分強度Ｉ”１、Ｉ”２、Ｉ”３と検量線Ａ”との誤差σを算出する。
【００３８】
次に、算出した誤差σが最小となるＲＯＩ範囲を決定する。図３に示す例では、ＲＯＩ範囲をａ’〜ｂ’の範囲としたときの積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３と検量線Ａ’との誤差σが最小となるため、図２に示すａ’〜ｂ’の範囲をＲＯＩ範囲として決定し、図３に示すＡ’を検量線として決定する。
【００３９】
このように本実施形態の第１の手法によれば、ユーザの操作に拠らず、ＲＯＩ範囲の積分強度と検量線との誤差が最小となるＲＯＩ範囲を設定することができるため、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【００４０】
なお、上記説明では、ＲＯＩ範囲の変更手順として、ＲＯＩ範囲を所定の最小範囲から最大範囲に拡大する場合について説明したが、ＲＯＩ範囲を所定の最大範囲から最小範囲に縮小するようにしてもよい。
【００４１】
２−２．第２の手法
次に、本実施形態の第２の手法について説明する。第２の手法では、ユーザによって設定されたＲＯＩ範囲に基づき誤差を算出して表示部３２に表示し、ユーザによってＲＯＩ範囲が変更された場合に、変更後のＲＯＩ範囲に基づき誤差を再計算して誤差の表示を更新する。
【００４２】
図５（Ａ）、図５（Ｂ）は、第２の手法において表示部３２に表示される表示画面の一例を示す図である。
【００４３】
図５（Ａ）に示すように、表示画面には、標準試料の測定スペクトルＳと、測定スペクトルＳ上のＲＯＩ範囲を示す線分状のマーカＭａ、Ｍｂが表示される。ここでは、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルのうち、いずれか１つの測定スペクトルＳのみが表示されている。なお、マーカＭａはＲＯＩ範囲の左端の位置を示し、マーカＭｂはＲＯＩ範囲の右端の位置を示す。図５に示す例では、ａ１の位置にマーカＭａが表示され、ｂ１の位置にマーカＭｂが表示されているため、ＲＯＩ範囲はａ１〜ｂ１の範囲に設定されている。また、設定されたＲＯＩ範囲に基づき算出される積分強度と検量線の誤差の値が、表示画面上の誤差表示部ＥＤに表示される。
【００４４】
ユーザはマウス等の操作部３０を操作して、マーカＭａ及びマーカＭｂに対してカーソルＣＳを用いたドラッグ操作を行うことでＲＯＩ範囲を自由に設定することができる。例えば、図５（Ｂ）に示すように、ユーザがカーソルＣＳを用いてマーカＭｂをｂ１の位置からｂ２の位置に移動させる操作を行うと、ＲＯＩ範囲がａ１〜ｂ１の範囲からａ１〜ｂ２の範囲に変更され、変更後のＲＯＩ範囲（ａ１〜ｂ２の範囲）に基づき算出される積分強度と検量線の誤差が誤差表示部ＥＤに表示される。
【００４５】
このように本実施形態の第２の手法では、ユーザによってＲＯＩ範囲の設定が変更された場合に、変更後のＲＯＩ範囲に基づき前記誤差が再度算出されて誤差表示部ＥＤの誤差の表示が更新される。すなわち本実施形態の第２の手法によれば、ユーザは、誤差表示部ＥＤに表示される誤差を指標として確認しながら、測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定変更する（例えば、誤差が最小となるようにＲＯＩ範囲を設定する）ことができ、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【００４６】
なお、ユーザの操作によるＲＯＩ範囲の設定は、マウスを用いたものに限られず、キーボードを用いた操作やタッチパネルディスプレイを用いたタッチ操作等によってＲＯＩ範囲を設定できるように構成してもよい。
【００４７】
３．処理
次に、本実施形態の処理の一例について図６、図７のフローチャートを用いて説明する。図６は、本実施形態の第１の手法における処理の一例を示すフローチャート図である。
【００４８】
まず、ＲＯＩ範囲設定部２２は、測定スペクトルのピーク位置を設定し（ステップＳ１０）、設定したピーク位置を中心として所定の幅を有するＲＯＩ範囲（例えば、図２のａ〜ｂの範囲）を設定する（ステップＳ１２）。
【００４９】
次に、検量線算出部２４は、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を測定スペクトル毎に算出し（ステップＳ１４）、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する（ステップＳ１６）。
【００５０】
次に、誤差算出部２６は、算出された積分強度と検量線との誤差を式（１）により算出する（ステップＳ１８）。
【００５１】
次に、ＲＯＩ範囲設定部２２は、ＲＯＩ範囲が所定の最大値（例えば、図２のａ”〜ｂ”の範囲）に達したか否かを判断し（ステップＳ２０）、所定の最大値に達していない場合には、ＲＯＩ範囲をピーク位置を中心として所定幅だけ拡大し（ステップＳ２２）、ステップＳ１４に進む。ステップＳ１４では、変更後のＲＯＩ範囲の積分強度を測定スペクトル毎に算出する。以下、ＲＯＩ範囲が所定の最大値に達するまで、ステップＳ１４〜ステップＳ２２の処理を繰り返す。
【００５２】
ステップＳ２０において、ＲＯＩ範囲が所定の最大値に達したと判断した場合には、ＲＯＩ範囲設定部２２は、誤差算出部２６で算出される誤差が最小となるときのＲＯＩ範囲を決定する（ステップＳ２４）。
【００５３】
図７は、本実施形態の第２の手法における処理の一例を示すフローチャート図である。
【００５４】
まず、ＲＯＩ範囲設定部２２は、操作部３０に対してＲＯＩ範囲を設定（変更）するための操作入力があったか否かを判断し（ステップＳ３０）、操作入力があったと判断した場合には、操作部３０からの操作情報に基づき測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定する（ステップＳ３２）。
【００５５】
次に、検量線算出部２４は、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を測定スペクトル毎に算出し（ステップＳ３４）、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する（ステップＳ３６）。
【００５６】
次に、誤差算出部２６は、算出された積分強度と検量線との誤差を式（１）により算出する（ステップＳ３８）。
【００５７】
次に、表示制御部２８は、算出された誤差に基づき表示部３２に表示される誤差を更新する表示制御を行う（ステップＳ４０）。次に、処理部２０は処理を続けるか否かを判断し（ステップＳ４２）、処理を続けると判断した場合には、ステップＳ３０の処理に進む。以下、操作情報に基づきＲＯＩ範囲を設定し、設定されたＲＯＩ範囲に基づき誤差を算出して誤差の表示を更新するステップＳ３０〜ステップＳ４０の処理を繰り返す。
【００５８】
なお、本発明は、上述の実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
【符号の説明】
【００５９】
１０ スペクトロメータ、２０ 処理部、２２ ＲＯＩ範囲設定部、２４ 検量線算出部、２６ 誤差算出部、２８ 表示制御部、３０ 操作部、３２ 表示部、３４ 記憶部、３６ 情報記憶媒体
【技術分野】
【０００１】
本発明は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法、及び情報処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、標準サンプルを分析する分析装置からのスペクトル波形等のデータについてピーク検出、各ピークの面積算出、検量線作成等の分析処理を実行するデータ処理装置において、検量線と実測データの乖離度を求め、乖離度に応じて実測データの表示形態を異ならせて表示するようにしたデータ処理装置が知られている（例えば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−１５１７４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来のデータ処理装置では、検量線を算出する際にスペクトル波形上のＲＯＩ範囲をユーザが任意に指定するため、指定するＲＯＩ範囲に個人差が生じるといった問題点があった。
【０００５】
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定して検量線を算出することが可能な、検量線算出方法、及び情報処理装置を提供することができる。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）本発明に係る検量線算出方法は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定工程において、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【０００７】
また、本発明に係る情報処理装置は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定部が、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【０００８】
本発明によれば、ＲＯＩ範囲の積分強度と検量線との誤差が最小となるＲＯＩ範囲が自動設定されるため、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【０００９】
（２）本発明に係る検量線算出方法は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御工程とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出工程において、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御工程において、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う。
【００１０】
また、本発明に係る情報処理装置は、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御部とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出部が、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御部が、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う。
【００１１】
本発明によれば、ユーザによって設定されたＲＯＩ範囲に基づきＲＯＩ範囲の積分強度と検量線との誤差が算出され、算出された誤差が表示部に表示される。そして、ユーザによってＲＯＩ範囲の設定が変更された場合には、変更後のＲＯＩ範囲に基づき前記誤差が再度算出されて表示部の前記誤差の表示が更新される。すなわち、ユーザは、表示部に表示される前記誤差を指標として確認しながら、例えば前記誤差が最小となるようにＲＯＩ範囲を設定することができ、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施形態に係る情報処理装置の機能ブロック図の一例を示す図。
【図２】本実施形態の第１の手法におけるＲＯＩ範囲の変更について説明するための図。
【図３】本実施形態の第１の手法における検量線の算出について説明するための図。
【図４】誤差の算出について説明するための図。
【図５】本実施形態の第２の手法における表示画面の一例を示す図。
【図６】本実施形態の第１の手法における処理の一例を示すフローチャート図。
【図７】本実施形態の第２の手法における処理の一例を示すフローチャート図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００１４】
１．構成
図１に、本実施形態に係る情報処理装置の機能ブロック図の一例を示す。なお本実施形態の情報処理装置は図１の構成要素（各部）の一部を省略した構成としてもよい。
【００１５】
情報処理装置１００は、元素分析や膜厚分析を行うための装置であり、スペクトロメータ１０（例えば、蛍光Ｘ線分析装置、エネルギー分散型Ｘ線分析装置）から入力される標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を作成し、作成した検量線を用いて試料（成分量が未知の試料）の定量分析を行う装置である。
【００１６】
図１に示すように、情報処理装置１００は、処理部２０と、操作部３０と、表示部３２と、記憶部３４と、情報記憶媒体３６とを含んでいる。
【００１７】
操作部３０は、ユーザが操作情報を入力するためのものであり、入力された操作情報を処理部２０に出力する。操作部３０の機能は、キーボード、マウス、ボタン、タッチパネル型ディスプレイなどのハードウェアにより実現することができる。
【００１８】
表示部３２は、処理部２０によって生成された画像を表示するものであり、その機能は、ＬＣＤ、ＣＲＴなどにより実現できる。
【００１９】
記憶部３４は、処理部２０のワーク領域となるもので、その機能はＲＡＭなどにより実現できる。情報記憶媒体３６（コンピュータにより読み取り可能な媒体）は、プログラムやデータなどを格納するものであり、その機能は、光ディスク（ＣＤ、ＤＶＤ）、光磁気ディスク（ＭＯ）、磁気ディスク、ハードディスク、磁気テープ、或いはメモリ（ＲＯＭ）などにより実現できる。処理部２０は、情報記憶媒体３６に格納されるプログラム（データ）に基づいて本実施形態の種々の処理を行う。情報記憶媒体３６には、処理部２０の各部としてコンピュータを機能させるためのプログラムを記憶することができる。
【００２０】
処理部２０は、ＲＯＩ範囲を設定する処理、検量線の算出処理、誤差の算出処理等の処理を行う。処理部２０の機能は、各種プロセッサ（ＣＰＵ、ＤＳＰ等）、ＡＳＩＣ（ゲートアレイ等）などのハードウェアや、プログラムにより実現できる。処理部２０は、ＲＯＩ範囲設定部２２、検量線算出部２４、誤差算出部２６を含む。
【００２１】
ＲＯＩ範囲設定部２２は、スペクトロメータ１０から出力された、成分量（例えば、濃度、膜厚）が異なる複数の標準試料の各測定スペクトル上のＲＯＩ範囲（Region Of Interest、関心領域）を設定する。なお、ＲＯＩ範囲設定部２２は、操作部３０からの操作情報に基づきＲＯＩ範囲を設定（変更）してもよい。
【００２２】
検量線算出部２４は、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する。
【００２３】
誤差算出部２６は、検量線算出部２４で算出された前記積分強度と前記検量線との誤差（差または偏差）を算出する。
【００２４】
また、ＲＯＩ範囲設定部２２は、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき誤差算出部２６で算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定してもよい。
【００２５】
また、処理部２０は、表示制御部２８を更に含んでもよい。表示制御部２８は、誤差算出部２６で算出された前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う。
【００２６】
また、操作部３０からの操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、誤差算出部２６は、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、表示制御部２８は、再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行ってもよい。
【００２７】
２．本実施形態の手法
次に本実施形態の手法について図面を用いて説明する。
【００２８】
２−１．第１の手法
まず、本実施形態の第１の手法について説明する。第１の手法では、ＲＯＩ範囲設定部２２が、ユーザの操作によらずにＲＯＩ範囲の設定・変更を行い、誤差算出部２６で算出される誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する。
【００２９】
図２に、濃度（成分量の一例）が異なる複数の標準試料の測定スペクトルの一例を示す。図２に示す測定スペクトルＳ１、Ｓ２、Ｓ３は、それぞれ濃度がＣ１、Ｃ２、Ｃ３（Ｃ１＜Ｃ２＜Ｃ３）である３つの標準試料のスペクトルである。
【００３０】
第１の手法では、図２に示すように、まず、測定スペクトルのピークｐ（強度が最大となるエネルギー値）を指定する。なお、ユーザが操作部２０を操作してピークｐを指定するようにしてもよいし、測定スペクトルからピークｐを自動検出するようにしてもよい。
【００３１】
次に、指定したピークｐを中心として所定の幅を有するＲＯＩ範囲を設定する。例えば、図２に示すａ〜ｂの範囲をＲＯＩ範囲として設定する。
【００３２】
次に、図３に示すように、各測定スペクトルＳ１、Ｓ２、Ｓ３のそれぞれについて、ＲＯＩ範囲をａ〜ｂの範囲としたときのＲＯＩ範囲の積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３を算出し、算出した積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３に基づき最小二乗法により検量線Ａを算出する。具体的には、検量線（Ｙ＝ａＸ＋ｂ）の係数ａ、ｂを最小二乗法により求める。図３に示す例では、検量線Ａは、横軸（Ｘ軸）が標準試料の濃度となり、縦軸（Ｙ軸）が積分強度となるようにプロットされている。
【００３３】
次に、積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３と検量線Ａとの誤差を算出する。例えば、図４に示すように、積分強度Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３と検量線Ａとの各偏差をｘｉ（ｉ＝１〜ｎ、ここではｎ＝３）とすると、誤差σを、次式により求めることができる。
【００３４】
【数１】
【００３５】
次に、ＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき、積分強度と検量線を算出し、積分強度と検量線の誤差を同様に算出する。以下、任意の回数だけＲＯＩ範囲を変更して同様の処理を行う。
【００３６】
例えば、図２に示すａ〜ｂのＲＯＩ範囲を、ピークｐを中心として所定の幅だけ拡大して、ａ’〜ｂ’の範囲を新たなＲＯＩ範囲として設定し、図３に示すように、ＲＯＩ範囲をａ’〜ｂ’の範囲としたときの積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３を算出する。そして、算出した積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３に基づき最小二乗法により検量線Ａ’を算出し、式（１）により積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３と検量線Ａ’との誤差σを算出する。
【００３７】
更に、図２に示すａ’〜ｂ’のＲＯＩ範囲を、ピークｐを中心として所定の幅だけ拡大して、図３に示すように、ＲＯＩ範囲をａ”〜ｂ”の範囲としたときの積分強度Ｉ”１、Ｉ”２、Ｉ”３を算出し、算出した積分強度Ｉ”１、Ｉ”２、Ｉ”３に基づき最小二乗法により検量線Ａ”を算出し、式（１）により積分強度Ｉ”１、Ｉ”２、Ｉ”３と検量線Ａ”との誤差σを算出する。
【００３８】
次に、算出した誤差σが最小となるＲＯＩ範囲を決定する。図３に示す例では、ＲＯＩ範囲をａ’〜ｂ’の範囲としたときの積分強度Ｉ’１、Ｉ’２、Ｉ’３と検量線Ａ’との誤差σが最小となるため、図２に示すａ’〜ｂ’の範囲をＲＯＩ範囲として決定し、図３に示すＡ’を検量線として決定する。
【００３９】
このように本実施形態の第１の手法によれば、ユーザの操作に拠らず、ＲＯＩ範囲の積分強度と検量線との誤差が最小となるＲＯＩ範囲を設定することができるため、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【００４０】
なお、上記説明では、ＲＯＩ範囲の変更手順として、ＲＯＩ範囲を所定の最小範囲から最大範囲に拡大する場合について説明したが、ＲＯＩ範囲を所定の最大範囲から最小範囲に縮小するようにしてもよい。
【００４１】
２−２．第２の手法
次に、本実施形態の第２の手法について説明する。第２の手法では、ユーザによって設定されたＲＯＩ範囲に基づき誤差を算出して表示部３２に表示し、ユーザによってＲＯＩ範囲が変更された場合に、変更後のＲＯＩ範囲に基づき誤差を再計算して誤差の表示を更新する。
【００４２】
図５（Ａ）、図５（Ｂ）は、第２の手法において表示部３２に表示される表示画面の一例を示す図である。
【００４３】
図５（Ａ）に示すように、表示画面には、標準試料の測定スペクトルＳと、測定スペクトルＳ上のＲＯＩ範囲を示す線分状のマーカＭａ、Ｍｂが表示される。ここでは、成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルのうち、いずれか１つの測定スペクトルＳのみが表示されている。なお、マーカＭａはＲＯＩ範囲の左端の位置を示し、マーカＭｂはＲＯＩ範囲の右端の位置を示す。図５に示す例では、ａ１の位置にマーカＭａが表示され、ｂ１の位置にマーカＭｂが表示されているため、ＲＯＩ範囲はａ１〜ｂ１の範囲に設定されている。また、設定されたＲＯＩ範囲に基づき算出される積分強度と検量線の誤差の値が、表示画面上の誤差表示部ＥＤに表示される。
【００４４】
ユーザはマウス等の操作部３０を操作して、マーカＭａ及びマーカＭｂに対してカーソルＣＳを用いたドラッグ操作を行うことでＲＯＩ範囲を自由に設定することができる。例えば、図５（Ｂ）に示すように、ユーザがカーソルＣＳを用いてマーカＭｂをｂ１の位置からｂ２の位置に移動させる操作を行うと、ＲＯＩ範囲がａ１〜ｂ１の範囲からａ１〜ｂ２の範囲に変更され、変更後のＲＯＩ範囲（ａ１〜ｂ２の範囲）に基づき算出される積分強度と検量線の誤差が誤差表示部ＥＤに表示される。
【００４５】
このように本実施形態の第２の手法では、ユーザによってＲＯＩ範囲の設定が変更された場合に、変更後のＲＯＩ範囲に基づき前記誤差が再度算出されて誤差表示部ＥＤの誤差の表示が更新される。すなわち本実施形態の第２の手法によれば、ユーザは、誤差表示部ＥＤに表示される誤差を指標として確認しながら、測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定変更する（例えば、誤差が最小となるようにＲＯＩ範囲を設定する）ことができ、個人差を生じさせずにＲＯＩ範囲を設定することが可能となる。
【００４６】
なお、ユーザの操作によるＲＯＩ範囲の設定は、マウスを用いたものに限られず、キーボードを用いた操作やタッチパネルディスプレイを用いたタッチ操作等によってＲＯＩ範囲を設定できるように構成してもよい。
【００４７】
３．処理
次に、本実施形態の処理の一例について図６、図７のフローチャートを用いて説明する。図６は、本実施形態の第１の手法における処理の一例を示すフローチャート図である。
【００４８】
まず、ＲＯＩ範囲設定部２２は、測定スペクトルのピーク位置を設定し（ステップＳ１０）、設定したピーク位置を中心として所定の幅を有するＲＯＩ範囲（例えば、図２のａ〜ｂの範囲）を設定する（ステップＳ１２）。
【００４９】
次に、検量線算出部２４は、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を測定スペクトル毎に算出し（ステップＳ１４）、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する（ステップＳ１６）。
【００５０】
次に、誤差算出部２６は、算出された積分強度と検量線との誤差を式（１）により算出する（ステップＳ１８）。
【００５１】
次に、ＲＯＩ範囲設定部２２は、ＲＯＩ範囲が所定の最大値（例えば、図２のａ”〜ｂ”の範囲）に達したか否かを判断し（ステップＳ２０）、所定の最大値に達していない場合には、ＲＯＩ範囲をピーク位置を中心として所定幅だけ拡大し（ステップＳ２２）、ステップＳ１４に進む。ステップＳ１４では、変更後のＲＯＩ範囲の積分強度を測定スペクトル毎に算出する。以下、ＲＯＩ範囲が所定の最大値に達するまで、ステップＳ１４〜ステップＳ２２の処理を繰り返す。
【００５２】
ステップＳ２０において、ＲＯＩ範囲が所定の最大値に達したと判断した場合には、ＲＯＩ範囲設定部２２は、誤差算出部２６で算出される誤差が最小となるときのＲＯＩ範囲を決定する（ステップＳ２４）。
【００５３】
図７は、本実施形態の第２の手法における処理の一例を示すフローチャート図である。
【００５４】
まず、ＲＯＩ範囲設定部２２は、操作部３０に対してＲＯＩ範囲を設定（変更）するための操作入力があったか否かを判断し（ステップＳ３０）、操作入力があったと判断した場合には、操作部３０からの操作情報に基づき測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定する（ステップＳ３２）。
【００５５】
次に、検量線算出部２４は、設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を測定スペクトル毎に算出し（ステップＳ３４）、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する（ステップＳ３６）。
【００５６】
次に、誤差算出部２６は、算出された積分強度と検量線との誤差を式（１）により算出する（ステップＳ３８）。
【００５７】
次に、表示制御部２８は、算出された誤差に基づき表示部３２に表示される誤差を更新する表示制御を行う（ステップＳ４０）。次に、処理部２０は処理を続けるか否かを判断し（ステップＳ４２）、処理を続けると判断した場合には、ステップＳ３０の処理に進む。以下、操作情報に基づきＲＯＩ範囲を設定し、設定されたＲＯＩ範囲に基づき誤差を算出して誤差の表示を更新するステップＳ３０〜ステップＳ４０の処理を繰り返す。
【００５８】
なお、本発明は、上述の実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
【符号の説明】
【００５９】
１０ スペクトロメータ、２０ 処理部、２２ ＲＯＩ範囲設定部、２４ 検量線算出部、２６ 誤差算出部、２８ 表示制御部、３０ 操作部、３２ 表示部、３４ 記憶部、３６ 情報記憶媒体
【特許請求の範囲】
【請求項１】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定工程において、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する、検量線算出方法。
【請求項２】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御工程とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出工程において、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御工程において、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う、検量線算出方法。
【請求項３】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定部が、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する、情報処理装置。
【請求項４】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御部とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出部が、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御部が、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う、情報処理装置。
【請求項１】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定工程において、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する、検量線算出方法。
【請求項２】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する検量線算出方法であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定工程と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出工程と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出工程と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御工程とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出工程において、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御工程において、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う、検量線算出方法。
【請求項３】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部とを含み、
前記ＲＯＩ範囲設定部が、
前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を変更し、変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記誤差が最小となるＲＯＩ範囲を決定する、情報処理装置。
【請求項４】
成分量が異なる複数の標準試料の測定スペクトルに基づき検量線を算出する情報処理装置であって、
操作部からの操作情報に基づいて、前記測定スペクトル上のＲＯＩ範囲を設定するＲＯＩ範囲設定部と、
設定されたＲＯＩ範囲の積分強度を前記測定スペクトルごとに算出し、算出した積分強度に基づき最小二乗法により検量線を算出する検量線算出部と、
前記積分強度と前記検量線との誤差を算出する誤差算出部と、
前記誤差を表示部に表示させるための表示制御を行う表示制御部とを含み、
前記操作情報に基づきＲＯＩ範囲が変更された場合に、
前記誤差算出部が、
変更後のＲＯＩ範囲に基づき算出される前記積分強度と前記検量線とに基づいて、前記誤差を再度算出し、
前記表示制御部が、
再度算出された前記誤差に基づいて、前記表示部に表示される前記誤差を更新する表示制御を行う、情報処理装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１３−８３５２４（Ｐ２０１３−８３５２４Ａ）
【公開日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２２３０３９（Ｐ２０１１−２２３０３９）
【出願日】平成２３年１０月７日（２０１１．１０．７）
【出願人】（０００００４２７１）日本電子株式会社 (811)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１０月７日（２０１１．１０．７）
【出願人】（０００００４２７１）日本電子株式会社 (811)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]