説明

波長基準として狭帯域FBGフィルタを用いる光ファイバ・ジャイロスコープ

(i)WDMベースの波長制御と、(ii)狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)に基づく波長基準との双方を組み込んだ光ファイバ・ジャイロスコープ構造を提供する。前記のもののうちの後者のコンポーネントは、WDMベースの波長制御機構と関連する波長の誤差を校正により除くことにより、波長基準の安定性を著しく向上させる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、Draper Laboratoriesへ付与された契約番号N0030−01−C−0028の下で政府の支援を受けてなされた。政府は、本発明の一定の権利を有する。
【0002】
本発明は、一般に、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ(IFOG)に関し、より詳細には、IFOGの安定性を改善するための制御機構に関する。
【背景技術】
【0003】
IFOGのスケール・ファクタ(scale factor、目盛係数)の安定性は、システムの光検出器で観察される波長の安定性に大きく依存する。特にスケール・ファクタの安定性に関して、IFOGの性能を向上させるために、IFOGには、波長弁別器として働く波長分割マルチプレクサ(WDM)・カプラと、一対の整合されたフォトダイオードとに基づく波長制御機構が備えられている。より詳細に説明すると、図1は従来のIFOG構造を示し、この構造は、ファイバ光源などのような光源110と、50−50パワー・スプリッタ115と、感知コイル120へ及び感知コイル120から光を供給する集積光学チップ118とを含み、ここでは50−50パワー・スプリッタ115および集積光学チップ118の2つのエレメントを「感知ループ・アセンブリ」と呼ぶこともある。50−50カプラ115はまた、感知コイル120の回転に起因するサニャック効果を検出するために用いられる「フォトダイオードおよび関連のプリアンプ(前置増幅器)」125へ、接続される。IFOGループ閉電子回路(IFOG loop closure electronics)130は、フォトダイオード125とIOC118との橋渡しをし、それにより、望まれる公知のフィードバックを提供する。
【0004】
前述の図1の既知のシステムを改善するために、図2に示されるような構造が最近提案されている。そこでは、波長分割マルチプレクサ(WDM)・カプラ210と一対の整合されたダイオード220とが、光学回路へ挿入されている。ここでは、この組み合わせを「波長分割マルチプレクサ/検出器アセンブリ」と呼ぶこともある。整合されたダイオードの加算値(合計)を表す信号は、IFOGループ閉電子回路130へ供給され、そして、差信号は波長制御フィードバック電子回路230へ供給されて、光源110へ直接にフィードバックを提供し、それにより光源自体の波長の安定性を向上させる。
【0005】
しかし、不都合なことに、このシステムの波長の安定性は、実質的に、WDMカプラ210および整合フォトダイオード220の安定性に依存しており、これらは、外部の摂動(例えば、温度、放射など)の影響を受け得る。また、これらのコンポーネントは、長期のドリフトの影響を受けやすく、それにより更に安定性は低下する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
従って、IFOGデバイスの波長の安定性を更に向上させるシステムおよび方法が必要とされる。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明は、波長制御コンポーネントにおける変化を監視するために使用できる安定した波長基準を提供することにより、波長安定性が改善され、従って、スケール・ファクタの性能が全体的に向上されたIFOGを提供する。安定した波長を有するという特に望ましい副産物により、より安定したスケール・ファクタを得ることが可能となる。
【0008】
より詳細には、本発明は、(i)WDMベースの波長制御と、(ii)狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)に基づく波長基準との双方を組み込んだ光ファイバ・ジャイロスコープ構造を提供する。後者のコンポーネントは波長基準の安定性を著しく改善する。
【0009】
ここで説明する幾つかの実施形態は、安定性を向上させるために、光源および波長分割マルチプレクサ(WDM)/検出器と関連して用いられる狭帯域反射ファイバ・ブラッグ格子(FBG)を用いる幾つかの異なる構造を提案する。
【0010】
本発明の特徴および利点は、図面と関連させて下記の詳細な説明を読むことにより、より良く理解できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0011】
図3は、狭帯域反射ファイバ・ブラッグ格子(FBG)を組み込んだ、本発明の第1の実施形態に従ったIFOG構造を示す。この図面および他の図面において、フィードバック・ライン(図1および図2に示す)は、図面を明瞭にするために、示していない。しかしながら、当業者は、本発明の幾つかの実施形態に従ったFOGがそのようなフィードバック・ラインを有することを理解するであろう。示されるように、この構造は、ファイバ光源などのような光源アセンブリ110を含み、例えば、980nmまたは1480nmのレーザ・ランプ、波長分割マルチプレクサ(WDM)・カプラ、エルビウムのドープされたファイバ、アイソレータ、および光学アイソレータを含む。このようなFLSアセンブリは当該技術では良く知られたものである。
【0012】
この実施形態では、光源110の出力は、50/50パワー・スプリッタ115へ結合される。スプリッタ115の一つのポートは、集積光学チップ(IOC)118および関連する感知ループ120へ接続される。スプリッタ115の別のポートは、WDMカプラ120へ接続され、WDMカプラ210は、整合されたフォトダイオード220へ接続される。この実施形態によると、50/50スプリッタ115の第4のポートは、例えば90%ポートおよび10%ポートを有するタップへ、接続される。この場合、90%ポートはファイバ・ブラッグ格子(FBG)310へ接続され、これは狭帯域反射FBGとして動作し、広帯域光源スペクトルから狭波長基準を生成するために用いられる。
【0013】
図9は、光源110として用いることができる1532nmファイバ光源(FLS)の典型的な出力のスペクトルを示す。示されるように、約350ppmの調節可能範囲は、全範囲にわたって入力電流を調節することにより、容易に達成できる。
【0014】
更に、図10Aおよび図10Bに示されるように、中心波長が約1530nmであり、帯域幅が約0.5nmであり、阻止が約40dBである(図9Aに示す)狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)が、波長基準として用いられる光経路へ挿入された場合、50/50スプリッタ115を通って戻るスペクトルは、図10Bに示すもののようになる。帯域幅が非常に狭いので、光源への入力電流がその全レンジにわたって調節されたときでさえ、1ppmのオーダーの非常に安定した波長が得られる。当業者は、FBGの中心波長、帯域幅、および阻止帯は、様々な光源および安定性の諸要求に対して最適化できること、また、ここで示した特定の波長、帯域幅、および阻止帯の値は単なる例であることを、理解するであろう。
【0015】
最終的に、また、本発明に従うと、FBG310により提供される波長基準は、WDMカプラ210およびフォトダイオード220を校正するために用いられる。WDMカプラは、波長弁別器として働く。即ち、WDMカプラは、光の長い波長成分および短い波長成分を、その2つの出力ポートで分割する。光検出器は、WDMカプラの出力ポートのそれぞれで、合計パワーを測定する。入力波長における変化は、これらの2つのポート間でのパワーの分割を変化させる。従って、DIFF(差)信号(P2−P1)とSUM(加算)信号(P2+P1)との比率は、この波長のシフトを監視するために用いることができる。
【0016】
WDMカプラおよび光検出器が完全に安定していると仮定した場合、この比率の変化は、波長のシフトを示すものである。しかしながら、WDMカプラの中心波長及び/又は光検出器の応答性が時間の経過とともに変化した場合、入力光の平均波長が変化しなくとも、比率の変化の原因となる。FBGにより提供される安定した波長基準は、WDMカプラの中心波長のシフトを測定するために用いられる。2×1スイッチ(例えば、図4に示すようなもの)と関連して用いた場合、光検出器の応答性における差の変化を補償することもできる。このようにして、WDMカプラの中心波長および光検出器の応答性の差における変化から、入力波長における変化を区別することができる。
【0017】
好適には、波長基準FBG310により供給される基準信号を増幅するために、光検出器/前置増幅器320が備えられる。波長基準は、それ自体の相対強度ノイズ(RIN(relative intensity noise))を有し、これは、WDMカプラ210へ入る前に50/50カプラ150でIFOG信号へ付加される。このノイズは、補償されない限り、IFOGの角度ランダムウォーク(angle random walk)性能を低下させ得る。FBG基準RIN信号は、IFOGループを閉じるために用いられるSUM信号における波長基準から、付加されたノイズを取り除くために用いることができる。図4に示すように、波長基準信号をターンオフするためにスイッチが用いられる場合には、このFBG基準信号が必要ではないことに、留意されたい。
【0018】
より詳細には、狭帯域基準によりもたらされる、整合された(デュアルの)光検出器220でのRINのノイズを補償するために、タップ330および光検出器/前置増幅器320が用いられる。
【0019】
代替の実施形態において、波長基準FBG310を、波長基準を精製するための別のタイプの波長選択フィルタと置換することができる。1つの可能性としては、アセチレン・セルのような分子基準を用いることが考えられる。可能性として、分子基準の波長の安定性は、FBGベースの基準信号よりもかなり高いが(その大きさに10の2乗を掛けた程度)、ここで説明したFBG構造の利点は、複雑度がかなり低く且つ実施しやすいということであることを、理解すべきである。
【0020】
図4は、本発明の第2の実施形態を示し、この実施形態では、オン/オフ・スイッチ410を用いて波長基準FBG310をオン/オフするものであり、これにより、タップ330と、追加のフォトダイオード及び前置増幅器320とを、効率的に置き換える。スイッチ410がオン位置にある場合、望ましい狭帯域基準が、WDMカプラ210および整合フォトダイオード220へ供給される。更に、WDMカプラ210の入力脚部を切り替えて、光検出器の応答性の感度を除くように、オプションの2×1スイッチ420を用いることができる。
【0021】
図5は、本発明の第3の実施形態を示し、第3の実施形態は第1の実施形態と似ているが、第3の実施形態では別のフォトダイオードおよびプリアンプ510を含み、これを用いてループを閉じる。IOC118から戻る光信号をタップするために、第2の50/50カプラ520を用いる。言うまでもないが、ここでは波長基準FBG310が用いられ、これは本発明の原理に従うものである。別のループ閉フォトダイオード510があるので、第2の実施形態の光学スイッチ410はもはや必要ではないことに、留意されたい。
【0022】
図6は、本発明の更に別の実施形態を示し、この実施形態では、最初の3つの実施形態で示されていた50/50スプリッタの代わりに、サーキュレータ610を用いる。この例では、波長基準FBG310は、タップ630(90%ポートおよび10%ポートを有するものとして示されている)を介して、フォトダイオードおよび前置増幅器320へ接続される。光源110は、タップ620(80%ポートおよび20%ポートを有するものとして示されている)およびタップ630を介して、波長基準FBG310と通信する。前述のものと同様に、狭帯域反射FBG310を用いて、光源110からの広帯域光から狭波長基準を生成する。次に、この波長基準は、WDMカプラ210および整合フォトダイオード220を校正するために用いられ、これは本発明の目標と一致している。この実施形態によると、および前述のものと同様に、狭帯域基準によりもたらされるデュアル光検出器でのRINノイズを補償するために、タップ630およびフォトダイオード/前置増幅器320が用いられる。当業者は、タップのスプリット(分割)比率は、例示したもの以外でもよいことを理解するであろう。
【0023】
図7は、本発明の第5の実施形態を示し、この実施形態では、波長基準FBG310をオン/オフするスイッチ710を用いる。波長基準FBG310は、タップ720を介してサーキュレータ610と接続される。前述のもののように、ここに示した分割比率以外の分割比率とすることもできる。また、タップ720およびサーキュレータ610が、図1に示したような50/50スプリッタ115と置き換わることを指摘しておく。50/50スプリッタの2経路の損失は6dBであるが、サーキュレータとタップ・カプラの対の損失は約3dB(タップの分割比率にもよる)であるという点で、このことは重要である。
【0024】
他の実施形態のように、この第5の実施形態も、オプションとして、WDMカプラ210の入力脚部を切り替えて光検出器の応答性の感度を除くように、2×1スイッチ420を含むことができる。
【0025】
最後に、図8は、本発明の第6の実施形態を示し、この実施形態では、サーキュレータ610と、3個のタップ810、820、830とを用いて、別のループ閉光検出器840を装備する。従って、ここでは、他の実施形態の場合と同様に、波長基準FBG310により生成される狭帯域基準信号を得るためのスイッチは不要である。
【0026】
前述のことから理解できるであろうが、本発明は、WDMベースの波長制御機構と関連する波長誤差の校正に使用することができる波長基準を、IFOGの全体的な構造に付加することに向けられている。
【0027】
本発明の好適な実施形態の上記の開示は、例示および説明のためのものである。本発明を網羅しているものではなく、また、開示された形態に制限するものでもない。上記の開示を基にして、当業者には、開示された実施形態の多くの変形例および変更例が明らかとなる。本発明の範囲は、特許請求の範囲により定義され、また、その等価物により定義される。
【0028】
更に、本発明の個々の実施形態の説明において、明細書では、本発明の方法及び/又はプロセスを特定の一連のステップとして説明した。しかし、方法やプロセスは、説明された特定の順序のステップに依存するものではない限り、方法やプロセスは、特定の一連のステップに限定されるべきではない。当業者であれば理解するように、ステップの順序が異なっていてもよい場合もある。従って、明細書に記載されたステップの特定の順序は、特許請求の範囲を制限するものと解釈すべきではない。更に、本発明の方法及び/又はプロセスに関する請求項は、記載された順でのステップの実行に限定されるべきではなく、当業者は、順序は変えることができ、それでもなお本発明の精神および範囲内にあることを、容易に理解できる。
【図面の簡単な説明】
【0029】
【図1】図1および図2は、従来技術のIFOG構造を示す。
【図2】図1および図2は、従来技術のIFOG構造を示す。
【図3】図3は、狭帯域反射ファイバ・ブラッグ格子(FBG)を組み込んだ、本発明の第1の実施形態に従ったIFOG構造を示す。
【図4】図4は、狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)およびスイッチを組み込んだ、本発明の第2の実施形態に従ったIFOG構造を示す。
【図5】図5は、狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)およびFOGループを閉じるための別のフォトダイオードを組み込んだ、本発明の第3の実施形態に従ったIFOG構造を示す。
【図6】図6は、狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)およびサーキュレータを組み込んだ、本発明の第4の実施形態に従ったIFOG構造を示す。
【図7】図7は、狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)、サーキュレータ、およびスイッチを組み込んだ、本発明の第5の実施形態に従ったIFOG構造を示す。
【図8】図8は、狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)、サーキュレータ、およびFOGループを閉じるための別のフォトダイオードを組み込んだ、本発明の第2の実施形態に従った、IFOG構造を示す。
【図9】図9は、典型的なファイバ光源(FLS)の周波数スペクトルを示す。
【図10A】図10Aおよび図10Bは、それぞれ、本発明の構造で用いることができる狭帯域FBGの帯域幅と、その狭帯域FGBがFLSの出力に適用されたときに結果的に得られる波長基準のスペクトルとを示す。
【図10B】図10Aおよび図10Bは、それぞれ、本発明の構造で用いることができる狭帯域FBGの帯域幅と、その狭帯域FGBがFLSの出力に適用されたときに結果的に得られる波長基準のスペクトルとを示す。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ(IFOG)であって、
光源と、
前記光源と通信する感知ループ・アセンブリと、
前記光源と通信し、波長の制御に用いられる波長分割マルチプレクサ/検出器アセンブリと、
前記光源と直接に接続する狭帯域ファイバ・ブラッグ格子(FBG)以外の狭帯域ファイバ・ブラッグ格子であって、前記光源および前記波長分割マルチプレクサ/検出器アセンブリと通信し、前記波長分割マルチプレクサ/検出器アセンブリにおけるエラーを補償する狭帯域ファイバ・ブラッグ格子と
を備える干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項2】
請求項1に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記狭帯域ファイバ・ブラッグ格子は、反射ファイバ・ブラッグ格子である、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項3】
請求項1に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記狭帯域ファイバ・ブラッグ格子は、スプリッタを介して前記光源と通信する、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項4】
請求項1に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記狭帯域ファイバ・ブラッグ格子による処理を受ける光を前記波長分割マルチプレクサ/検出器アセンブリへ供給するために、1個のみのスプリッタが用いられる、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項5】
請求項4に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記1個のスプリッタは50/50スプリッタである、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項6】
請求項4に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記50/50スプリッタは、前記ファイバ光源と前記感知ループ・アセンブリとの間に配される、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項7】
請求項1に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記狭帯域ファイバ・ブラッグ格子による処理を受ける光を前記波長分割マルチプレクサ/検出器アセンブリへ供給するために、複数個のスプリッタが用いられる、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項8】
請求項1に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記狭帯域ファイバ・ブラッグ格子を光学回路に入れるか又は光学回路から外すように切り替える第1のスイッチを更に備える、干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項9】
請求項8に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記波長分割マルチプレクサ/検出器アセンブリへの入力を切り替える第2のスイッチを更に備える干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。
【請求項10】
請求項1に記載の干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープであって、前記光源と前記狭帯域ファイバ・ブラッグ格子との間に配されるサーキュレータを更に備える干渉方式光ファイバ・ジャイロスコープ。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【公表番号】特表2007−525675(P2007−525675A)
【公表日】平成19年9月6日(2007.9.6)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−500952(P2007−500952)
【出願日】平成17年2月24日(2005.2.24)
【国際出願番号】PCT/US2005/005785
【国際公開番号】WO2005/083355
【国際公開日】平成17年9月9日(2005.9.9)
【出願人】(500575824)ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド (1,504)
【Fターム(参考)】