説明

溶接装置

【課題】スパッタが低減し、溶接品質が向上した炭酸ガスアーク溶接方法および溶接装置を提供する。
【解決手段】溶接装置は、溶接トーチと母材との間に電圧を与えるための電源回路と、電源回路の電圧を制御する電源制御装置とを備える。電源制御装置は、短絡期間Tsの後に続くアーク期間の初期の第1アーク期間Ta1に所定の周期で増減するとともに次第に振幅が増加する波形を重畳したハイレベル電流が出力され、アーク期間の後期の第2アーク期間Ta2に定電圧制御を行なうように、電源回路を制御する。溶滴の成長に合わせて振幅が増加する波形の重畳により、溶滴がアーク反力によってせり上がることを防止しつつ、溶滴の安定な形成と溶滴の成長速度の増加とが可能となる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
この発明は、溶接装置に関し、特に炭酸ガスアーク溶接を行なう溶接装置に関する。
【背景技術】
【0002】
特公平4−4074号公報(特許文献1)には、消耗電極と母材との間で短絡とアーク発生とを繰り返す消耗電極式アーク溶接方法が開示されている。この消耗電極式アーク溶接方法は、溶滴の形成過程と溶滴の母材への移行過程とを繰り返す。
【0003】
図10は、短絡とアーク発生とを繰り返す消耗電極式アーク溶接方法を説明するための図である。
【0004】
図10を参照して、短絡とアーク発生とを繰り返す消耗電極式アーク溶接方法では、以下に説明する(a)〜(f)の過程が順に繰り返し実行される。(a)溶滴が溶融池と接触した短絡初期状態、(b)溶滴と溶融池との接触が確実になって溶滴が溶融池に移行している短絡中期状態、(c)溶滴が溶融池側へ移行して溶接ワイヤと溶融池との間の溶滴にくびれが生じた短絡後期状態、(d)短絡が開放されてアークが発生した状態、(e)溶接ワイヤの先端が溶融して溶滴が成長するアーク発生状態、(f)溶滴が成長し溶融池と短絡する直前のアーク発生状態。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特公平4−4074号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
特公平4−4074号公報で示された従来の短絡移行溶接では、アークと短絡とが規則的に発生する。しかし、高い電流(溶接ワイヤの直径が1.2mmで200Aを超える電流)で炭酸ガスアーク溶接法によって溶接を行なう場合には、短絡を伴うグロビュール移行では、アーク反力によって溶滴がワイヤ上部にせり上がり、アーク時間が延びて周期的な短絡の発生が困難になり、アークと短絡とが不規則に発生する。
【0007】
このように、短絡とアークとの周期が不規則に変動すると、短絡時の溶滴サイズが不定となり、ビード止端部の揃いが悪くなる。
【0008】
また、高い電流は溶融池に対して不規則な位置に過大なアーク力を作用させるので溶融池を大きくかつ不規則に振動させ、特に溶融池を溶接方向と反対側に押し出すことでハンピングビードが発生し易くなる。
【0009】
特に、生産性を向上させるために溶接スピードを高速にすることが求められており、高速溶接では上記の問題の影響による溶接品質の劣化が顕著に現れてくる。なお、溶接スピードを高速にするためには、単位溶着量を稼ぐためにワイヤ送給速度を速くする必要がある。それに伴い、溶接電流が高くなるという関係がある。
【0010】
この発明の目的は、安定した溶滴の成長を実現することができる溶接装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0011】
この発明は、要約すると、炭酸ガスをシールドガスに使用し、短絡状態とアーク状態とを交互に繰り返す炭酸ガスアーク溶接方法によって溶接を行なう溶接装置であって、トーチと母材との間に電圧を与えるための電源回路と、電源回路の電圧を制御する制御部とを備える。制御部は、短絡期間の後に続くアーク期間の初期の第1アーク期間に所定の周期で増減するとともに次第に振幅が増加する波形を重畳したハイレベル電流が出力され、アーク期間の後期の第2アーク期間に定電圧制御を行なうように、電源回路を制御する。
【0012】
好ましくは、波形の振幅は、時間の経過に対して単調増加する関数によって決定される。
【0013】
好ましくは、波形の振幅の更新は、所定の周期が経過するごとに実行される。
好ましくは、波形は、三角波または正弦波である。
【0014】
好ましくは、制御部は、短絡期間中に溶滴のくびれを検出した場合には短絡電流を減少させるくびれ検出制御を行なう。
【発明の効果】
【0015】
本発明によれば、炭酸ガスアーク溶接方法において、アーク期間初期の電流に一定周波数かつ溶滴のサイズに合わせた振幅で増減する波形を重畳して電流を出力することによって、安定した溶滴の成長を実現することができる。これにより、アーク初期に不要な短絡が発生せず、高い溶接安定性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【0016】
【図1】実施の形態1に係る溶接装置100のブロック図である。
【図2】実施の形態1に係る溶接装置100で溶接を行なう際の溶接電圧および溶接電流を示した動作波形図である。
【図3】図2の時刻t1〜t2における溶接電流Iwの波形を拡大して示した図である。
【図4】図2の点Paにおける溶接部分の状態を示した図である。
【図5】図2の点Pbにおける溶接部分の状態を示した図である。
【図6】図2の点Pcにおける溶接部分の状態を示した図である。
【図7】図2の点Pdにおける溶接部分の状態を示した図である。
【図8】実施の形態2に係る溶接装置100Aの構成を示したブロック図である。
【図9】実施の形態2に係る溶接装置で溶接を行なう際の溶接電圧および溶接電流と制御信号とを示した動作波形図である。
【図10】短絡とアーク発生とを繰り返す消耗電極式アーク溶接方法を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【0017】
[実施の形態1]
図1は、実施の形態1に係る溶接装置のブロック図である。
【0018】
図1を参照して、溶接装置100は、電源回路102と、電源制御装置104と、ワイヤ送給装置106と、溶接トーチ4とを含む。
【0019】
電源制御装置104は、電源回路102を制御して溶接トーチ4に出力される溶接電流Iwおよび溶接電圧Vwが溶接に適した値となるように制御する。
【0020】
ワイヤ送給装置106は、溶接トーチ4に溶接ワイヤ1を送給する。図示しないが、炭酸ガスを主成分とするシールドガスが、溶接トーチ4の先端部分から放出される。溶接トーチ4の先端から突出した溶接ワイヤ1と母材2との間でアーク3が発生し、溶接ワイヤ1が溶融して母材2を溶接する。ワイヤ送給装置106は、送給速度設定回路FRと、送給制御回路FCと、送給モータWMと、送給ロール5とを含む。
【0021】
電源回路102は、電源主回路PMと、リアクトルWL1およびWL2と、トランジスタTR1と、電圧検出回路VDと、電流検出回路IDとを含む。
【0022】
電源主回路PMは、3相200V等の商用電源(図示せず)を入力として、後述する誤差増幅信号Eaに従ってインバータ制御による出力制御を行い、アーク溶接に適した溶接電流Iw及び溶接電圧Vwを出力する。図示しないが、電源主回路PMは、例えば、商用電源を整流する1次整流器と、整流された直流を平滑するコンデンサと、平滑された直流を高周波交流に変換するインバータ回路と、高周波交流をアーク溶接に適した電圧値に降圧する高周波変圧器と、降圧された高周波交流を整流する2次整流器と、誤差増幅信号Eaを入力としてパルス幅変調制御を行いこの結果に基づいて上記のインバータ回路を駆動する駆動回路とを含んで構成される。
【0023】
リアクトルWL1とリアクトルWL2とは、電源主回路PMの出力を平滑する。リアクトルWL2には、並列にトランジスタTR1が接続されている。トランジスタTR1は、後に図2で説明する第2アーク期間にLowとなるナンド(NAND)論理信号Naに応じて、第2アーク期間Ta2のみOFFとなる。
【0024】
送給速度設定回路FRは、予め定められた定常送給速度設定値に相当する送給速度設定信号Frを出力する。送給制御回路FCは、送給速度設定信号Frの値に相当する送給速度で溶接ワイヤ1を送給するための送給制御信号Fcを送給モータWMに出力する。溶接ワイヤ1は、ワイヤ送給装置106の送給ロール5の回転によって溶接トーチ4内を通って送給され、母材2との間にアーク3が発生する。
【0025】
電流検出回路IDは、溶接電流Iwを検出して、溶接電流検出信号Idを出力する。電圧検出回路VDは、溶接電圧Vwを検出して、溶接電圧検出信号Vdを出力する。
【0026】
電源制御装置104は、アーク検出回路ADと、タイマー回路TMと、ナンド(NAND)回路NAと、反転回路NOTと、初期振幅設定回路WIRと、周波数設定回路FHRと、基本重畳電流設定回路IHBRと、増加率設定回路KRと、増加重畳電流設定回路IHARと、振幅中心電流設定回路IHCRと、溶接電流設定回路IRと、電流誤差増幅回路EIと、溶接電圧設定回路VRと、電圧誤差増幅回路EVと、外部特性切換回路SWとを含んで構成される。
【0027】
アーク検出回路ADは、溶接電圧検出信号Vdを入力として、溶接電圧検出信号Vdの値が閾値以上になったことによってアークの発生を判別するとハイ(High)レベルになるアーク検出信号Adを出力する。タイマー回路TMは、アーク検出信号Adを入力として、アーク検出信号Adがロー(Low)レベルである期間及びアーク検出信号Adがハイレベルになってから予め定めた期間ハイレベルになるタイマー信号Tmを出力する。ナンド回路NAは、タイマー信号Tmが反転回路NOTによって反転された信号と、アーク検出信号Adとを入力に受けて、ナンド論理信号Naを出力する。
【0028】
初期振幅設定回路WIRは、予め定めた初期振幅設定信号Wirを出力する。周波数設定回路FHRは、予め定めた周波数設定信号Fhrを出力する。基本重畳電流設定回路IHBRは、初期振幅設定信号Wirと周波数設定信号Fhrとを入力として、基本重畳電流設定信号Ihbrを出力する。増加率設定回路KRは、予め定めた増加率設定信号krを出力する。増加重畳電流設定回路IHARは、基本重畳電流設定信号Ihbrと増加率設定信号krとを入力として、増加重畳電流設定信号Iharを出力する。振幅中心電流設定回路IHCRは、予め定めたハイレベル電流である振幅中心電流設定信号Ihcrを出力する。溶接電流設定回路IRは、振幅中心電流設定信号Ihcrと増加重畳電流設定信号Iharとを入力として、溶接電流設定信号Irを出力する。
【0029】
電流誤差増幅回路EIは、溶接電流設定信号Irと溶接電流検出信号Idとの誤差を増幅して、電流誤差増幅信号Eiを出力する。
【0030】
溶接電圧設定回路VRは、予め定めた溶接電圧設定信号Vrを出力する。電圧誤差増幅回路EVは、溶接電圧設定信号Vrと溶接電圧検出信号Vdとの誤差を増幅して、電圧誤差増幅信号Evを出力する。
【0031】
外部特性切換回路SWは、タイマー信号Tm、電流誤差増幅信号Ei及び電圧誤差増幅信号Evを入力として受ける。
【0032】
外部特性切換回路SWは、タイマー信号Tmがハイレベルのときは入力端子a側に切り換わり電流誤差増幅信号Eiを誤差増幅信号Eaとして出力する。このときには電流誤差が電源主回路PMにフィードバックされるので、定電流制御が行なわれる。
【0033】
外部特性切換回路SWは、タイマー信号Tmがローレベルのときは入力端子b側に切り換わり電圧誤差増幅信号Evを誤差増幅信号Eaとして出力する。これらのブロックによって、溶接電流Iwが制御される。このときには電圧誤差が電源主回路PMにフィードバックされるので、定電圧制御が行なわれる。
【0034】
図2は、実施の形態1に係る溶接装置で溶接を行なう際の溶接電圧および溶接電流を示した動作波形図である。
【0035】
図1、図2を参照して、溶接は、短絡期間Tsとアーク期間とが繰り返されることにより進行する。アーク期間は、初期の第1アーク期間Ta1と、後期の第2アーク期間Ta2とに分かれる。
【0036】
時刻t0〜t1の短絡期間Tsでは、溶接ワイヤ1と母材2とが接触して短絡電流が流れ溶接ワイヤ1の先端にジュール熱が発生し溶接ワイヤ1の先端部が高温となる。
【0037】
時刻t1で溶接ワイヤ1の先端部の溶滴が移行してアークが発生すると、電源制御装置104は、溶接電圧が急上昇したことに応じてアークが発生したことを判別する。これに応じて、電源制御装置104は、制御を定電流制御に切り替え、第1アーク期間Ta1に移行する。溶接電流は、ハイレベル電流Ihまで上昇する。その後、一定期間溶接電流としてハイレベル電流Ihが流される。このハイレベル電流Ihは、アーク力による溶滴のせり上がりが発生しない程度の電流値に抑制される。この第1アーク期間Ta1に流れる溶接電流をハイレベル電流と呼ぶ。
【0038】
溶接ワイヤの溶融速度Vmは、Vm=αI+βI2Rであらわされる。ここで、α,β
は係数を示し、Iは溶接電流を示し、Rは溶接ワイヤがトーチ先端のコンタクトチップから突出している部分(突き出し長さ)の抵抗値を示す。溶接電流Iを増加させると溶接ワイヤの溶融速度Vmも大きくなることが分かる。
【0039】
しかし、溶接電流Iを増加すると溶滴に対して働く上向きのアーク力も増加する。アーク力は溶接電流Iの2乗に比例する。その一方で、溶滴には重力も働いているので、重力とアーク力がちょうど釣り合う電流値を境に、電流値が大きければ上向きの力が働き、電流値が小さければ下向きの力が働く。溶接電流Iに交流電流を重畳させると、溶滴には上向きの力と下向きの力が交互に働くことになる。本願発明者によれば、このように電流を増減させることにより上下向きの力を交互に溶滴に働かせた方が、全体的に電流を増加させて上向きの力を連続して溶滴に働かせるよりも溶滴が安定しており、スパッタを低減させることができることが分かった。そこで、本実施の形態では、第1アーク期間に電流を増減させて、溶滴の安定的かつ段階的な成長を図っている。
【0040】
時刻t1〜t2の第1アーク期間Ta1には、以下に説明する三角波を振幅中心電流Ihcに重畳させる。
【0041】
図3は、図2の時刻t1〜t2における溶接電流Iwの波形を拡大して示した図である。図2、図3を参照して、本実施の形態では、所定の周期で増減し、次第に振幅が増加する波形を振幅中心電流Ihcに重畳してハイレベル電流Ihが発生されるように電源回路102が制御される。
【0042】
重畳する増加重畳電流Ihaは、次式(1)で決定される。
Iha=k*t+Ihb(Wi,Fh) ・・・(1)
ここで、kは増加率を示し、Ihbは基本重畳電流を示し、Wiは初期振幅を示し、Fhは周波数を示す。Ihb(Wi,Fh)は、基本重畳電流Ihbが初期振幅Wiおよび周波数Fhの組合せに対して予め定められている関数(またはマップ)であることを意味する。
【0043】
また、増加重畳電流Ihaは式(1)のように必ずしも線形である必要はない。増加重畳電流Ihaは、時間の経過に対して単調増加する関数によって決定される。増加重畳電流Ihaは、第1周期Ta11、第2周期Ta12、第3周期Ta13で1回ずつ振幅が更新されている。ここで、重畳波形の周波数が一定であれば、Ta11=Ta12=Ta13である。
【0044】
ここで、増加重畳電流Ihaの振幅を時間の経過に対して増加させる理由を説明する。重畳させる三角波の振幅を一定とすると、以下に示す問題が発生する。
【0045】
アーク初期時点での溶滴の質量をM1とし、それから時間が経過した時点では、溶滴の質量はM2に成長する。
【0046】
第1アーク期間Ta1において、一定振幅の三角波の重畳を行うと、溶滴の大きさに関わらず一定のアーク力(反力)が溶滴に加わる。アーク力は溶滴を持ち上げる方向に働くローレンツ力に起因する。ローレンツ力は電流の2乗に比例する。
【0047】
アーク初期での振幅が大きいと、振幅のピーク部分では、小さい溶滴(質量M1)に対して大きな反力がかかり、上向きの加速度が大となって溶滴がせり上がった状況を作ってしまう。一旦この状況が発生すると、表面張力でワイヤ側面と溶滴がくっついてしまい、溶滴がなかなかワイヤ先端に落ちてこなくなるので次回短絡で長期短絡を招いたり、溶滴が暴れてアークが不安定になったりする問題が発生する。
【0048】
そこで、図3に示すように振幅中心電流Ihcに重畳する電流波形の振幅を、次第に増加させる。重畳する三角波は、振幅中心電流Ihc(200〜400A)を中心として、2.5kHz〜5kHzの周波数、第1アーク期間Ta1は、0.3ms〜3.0msとする。振幅は初期に0とし、第1アーク期間の終了時には+−50〜100Aとする。例えば、振幅中心電流IhcをIhc=400A、周波数をf=4kHz、第1アーク期間をTa1=1.0msというように設定し、増加重畳電流Iha=0から増加重畳電流Iha=+−100Aまで増加させ、重畳する三角波は4周期というようにしても良い。なお、重畳させる波形は三角波に限定されるものではなく、正弦波などの他の波形でも構わない。
【0049】
以下、第1アーク期間Ta1における溶接部分の状態について詳細に説明する。
(1)三角波の0〜1/2周期
図4は、図2の点Paにおける溶接部分の状態を示した図である。点Paは、三角波の重畳が開始された点である。
【0050】
図4を参照して、溶接ワイヤ1の先端と母材2との間にはアーク3が発生している。アーク3による熱により溶接ワイヤ1の先端が加熱され先端部が溶融し、溶滴6が形成される。溶滴6はアーク初期にはまだ成長しておらず、質量m=M1である。溶接ワイヤ1は送給装置によって母材2方向に送給される。
【0051】
重畳した電流によってワイヤ溶融速度が増加し溶滴が大きくなり、溶滴にかかる力は1/4周期で最大となるが、増加重畳電流Ihaが小さいため溶滴がせり上がらずにすむ。そして、1/2周期に向かって電流が減少するに伴いアーク反力も低下するので、せり上がりを防止することができる。
【0052】
図5は、図2の点Pbにおける溶接部分の状態を示した図である。点Pbは、三角波の1/2周期が経過した点である。図5に示すように、溶接ワイヤ1の先端部の溶滴6は少し成長し、少しせり上がった状態となっている。
【0053】
(2)三角波の1/2〜3/4周期
この期間は、電源制御装置104によって溶接電流が振幅中心電流Ihcよりも減少され、溶滴に対するアーク反力が更に下げられる。
【0054】
(3)三角波の3/4〜1周期
三角波の3/4〜1周期では、三角波の下側ピーク値から振幅中心電流Ihcまで再び溶接電流を増加させる。
【0055】
図6は、図2の点Pcにおける溶接部分の状態を示した図である。点Pcは、三角波の1周期が経過した点である。図6に示すように、アーク反力が低下したことにより、溶滴6に働く重力とアーク反力とがちょうどよいバランスとなる。これによって、溶滴6のせり上りが解消されて、溶滴6が垂れ下がった状態になる。溶滴6は成長し、質量m=M2(>M1)となっている。溶滴の質量が増大する分、図3の期間Ta11よりも期間Ta12においては、重畳波形の振幅は増加される。
【0056】
そして、(1)〜(3)で説明した三角波を4回繰り返して振幅中心電流Ihcに重畳する。これにより、アーク反力によるせり上がりを防止させつつ徐々に溶滴が増加されて、所望なサイズの溶滴を形成させることになる。
【0057】
なお、第1アーク期間Ta1のインダクタンス値WL1は、三角波の重畳を容易に行なうために、次の第2アーク期間Ta2(インダクタンス値はWL1+WL2)よりも小さくしている。
【0058】
以下、第2アーク期間Ta2における溶接部分の状態について詳細に説明する。
再び図2を参照して、時刻t2において、第1アーク期間Ta1が終了して第2アーク期間Ta2に移行する。第2アーク期間Ta2では、電源制御装置104は、電源回路102のインダクタンス値を大きくして、アーク長制御のために制御を定電流制御から定電圧制御に切り替える。この切替は、図1では、外部特性切換回路SWを端子aから端子bに切り替えることに相当する。インダクタンスが大きいので、溶接電流はアーク負荷に応じて緩やかに減少する。また、溶接電圧も緩やかに減少する。
【0059】
図7は、図2の点Pdにおける溶接部分の状態を示した図である。
第1アーク期間Ta1で形成された溶滴は、図7に示すように、せり上がることなく、第2アーク期間Ta2において少し大きくなりながら、溶融池の方へ近づいていく。せり上がりによるアーク長の変化が防止されかつ定電圧制御によってアーク長が調整され、アーク力の変化が緩やかになるので、溶融池を振動させることが少ない。さらに溶接電流が緩やかに減少するので、母材への入熱が十分行われ、ビードの止端部のなじみが良くなる。
【0060】
図2の時刻t3において、溶滴が溶融池に接触して短絡が発生すると、溶接電圧が急降下する。この溶接電圧の急降下によって短絡を判別すると、溶接電流を所望の立ち上がり速度で増加させる。溶接電流の上昇によって溶滴の上部に電磁ピンチ力が働いてくびれが発生して、溶滴6が溶融池7へ移行する。
【0061】
以上説明したように、実施の形態1に示した溶接方法は、低スパッタ制御を行なう炭酸ガスアーク溶接法であるが、パルスアーク溶接方法とは異なる。
【0062】
すなわち、実施の形態1に示した溶接方法は、短絡状態とアーク状態を繰り返す溶接方法である。このような溶接方法では、溶接速度を上げるため溶接電流を増加させるとグロビュール移行領域で溶接が行なわれ、短絡状態とアーク状態との繰り返しが不規則になる。
【0063】
そこで、実施の形態1に示した溶接方法では、一定期間の第1アーク期間Ta1にハイレベル電流を出力し、この第1アーク期間Ta1に定電流制御を行って、交流電流、例えば、三角波、又は正弦波のように周期的に変化する一定周波数の低周波電流を次第に振幅を増加させて重畳する。すなわち、炭酸ガスアーク溶接方法において、アーク期間初期の電流に一定周波数かつ溶滴のサイズに合わせた振幅で増減する波形を重畳して電流を出力する。これによって、溶滴がアーク反力によってせり上がることを防止して、安定した溶滴の成長を実現することができる。そして、アーク初期に不要な短絡が発生せず、高い溶接安定性を得ることができる。
【0064】
第1アーク期間Ta1が経過すると、第2アーク期間Ta2にアーク長制御を行なうために、溶接電源の制御を定電流制御から定電圧制御に切り替える。溶接電源のリアクトルのインダクタンス値を第1アーク期間Ta1よりも大きくして、溶接電流を緩やかに減少させる。これによって、アーク力の変化が緩やかになるので、溶融池を振動させることが少なくなる。さらに溶接電流が緩やかに減少するので、母材への入熱が十分行われ、ビードの止端部のなじみが良くなる。
【0065】
上述した実施の形態1において、第2アーク期間Ta2に溶接電源のリアクトルのインダクタンス値を第1アーク期間Ta1よりも大きくするために、実際のリアクトルWL2を挿入している。この代わりに、リアクトルを電子的に制御してインダクタンス値を大きくしてもよい。
【0066】
上述した実施の形態1において、短絡期間Tsでは、定電圧制御のままで電流を所望の値まで立ち上げたり、又は、定電流制御に切り替えて電流を所望の値まで立ち上げたりしても良い。
【0067】
また、増加重畳電流Ihaを、さらに出力電圧(アーク長)に応じて変化させてもよい。
【0068】
[実施の形態2]
実施の形態2では、実施の形態1で説明した溶接方法に加え、アークが発生する前に溶滴のくびれを検出することによって、アークが発生する前に電流を下げてスパッタを低減させる。
【0069】
図8は、実施の形態2に係る溶接装置100Aの構成を示したブロック図である。以下の説明では、実施の形態1と異なる部分のみについて説明し、実施の形態1と同様な部分については同一の符号を付して説明は繰り返さない。
【0070】
図8を参照して、溶接装置100Aは、電源回路102Aと、電源制御装置104Aと、ワイヤ送給装置106と、溶接トーチ4とを含む。
【0071】
電源回路102Aは、図1に示した電源回路102の構成に加えて、トランジスタTR2と減流抵抗器Rとを含む。トランジスタTR2は電源主回路PMの出力にリアクトルWL1およびWL2と直列に挿入される。トランジスタTR2に並列に減流抵抗器Rが接続されている。電源回路102Aの他の部分の構成は、電源回路102と同様であるので説明は繰り返さない。
【0072】
電源制御装置104Aは、図1に示した電源制御装置104の構成に加えて、くびれ検出回路NDと、くびれ検出基準値設定回路VTNと、駆動回路DRとを含む。電源制御装置104Aの他の部分の構成は、電源制御装置104と同様であるので説明は繰り返さない。
【0073】
図9は、実施の形態2に係る溶接装置で溶接を行なう際の溶接電圧および溶接電流と制御信号とを示した動作波形図である。
【0074】
図9の波形が、図2の実施の形態1と異なる箇所は、時刻t0aにおいて、溶滴のくびれが検出されると溶接電流を減少させて、その後時刻t1において、アークが発生するようにした点である。
【0075】
時刻t1におけるアークが発生したときの電流値の大きさにスパッタの量は比例するので、アークが発生するときに電流値を下げておくとスパッタの発生を低減させることができる。
【0076】
図8、図9を参照して、くびれ検出基準値設定回路VTNは、予め定めたくびれ検出基準値信号Vtnを出力する。くびれ検出回路NDは、このくびれ検出基準値信号Vtnと、図1で説明した溶接電圧検出信号Vd及び溶接電流検出信号Idとを入力として、短絡期間中の電圧上昇値ΔVがくびれ検出基準値信号Vtnの値に達した時点(時刻t0a)でハイレベルとなり、アークが再発生して溶接電圧検出信号Vdの値がアーク判別値Vta以上になった時点(時刻t1)でローレベルになるくびれ検出信号Ndを出力する。したがって、このくびれ検出信号Ndがハイレベルの期間がくびれ検出期間Tnとなる。
【0077】
なお、短絡期間中の溶接電圧検出信号Vdの微分値が、これに対応するように設定したくびれ検出基準値信号Vtnの値に達した時点で、くびれ検出信号Ndをハイレベルに変化させるようにしても良い。さらに、溶接電圧検出信号Vdの値を溶接電流検出信号Idの値で除算して溶滴の抵抗値を算出し、この抵抗値の微分値がこれに対応するように設定したくびれ検出基準値信号Vtnの値に達した時点で、くびれ検出信号Ndをハイレベルに変化させるようにしても良い。くびれ検出信号Ndは、電源主回路PMに入力される。電源主回路PMは、くびれ検出期間Tnにおいては出力を停止する。
【0078】
駆動回路DRは、このくびれ検出信号Ndがローレベルのとき(非くびれ検出時)はトランジスタTR2をオン状態にする駆動信号Drを出力する。くびれ検出期間Tnにおいては駆動信号Drはローレベルであるので、トランジスタTR2はオフ状態になる。この結果、減流抵抗器Rが溶接電流Iwの通電路(電源主回路PMから溶接トーチ4に至る経路)に挿入される。この減流抵抗器Rの値は、短絡負荷(0.01〜0.03Ω程度)の10倍以上大きな値(0.5〜3Ω程度)に設定される。このために、溶接電源内の直流リアクトル及びケーブルのリアクトルに蓄積されたエネルギーが急放電されて、図9の時刻t0a〜t1に示すように、溶接電流Iwは急激に減少して小電流値となる。
【0079】
時刻t1において、短絡が開放されてアークが再発生すると、溶接電圧Vwが予め定めたアーク判別値Vta以上になる。これを検出して、くびれ検出信号Ndはローレベルになり、駆動信号Drはハイレベルになる。この結果、トランジスタTR2はオン状態になり、以降は図2を用いて実施の形態1で説明したアーク溶接の制御となる。以降の第1アーク期間Ta1と第2アーク期間Ta2については、図2で説明しているので説明は繰り返さない。
【0080】
実施の形態2に係る溶接装置は、アーク再発生時(時刻t1)のアーク再発生時電流値を小さくすることができるので、実施の形態1で説明した溶接装置が奏する効果に加えて、アーク発生開始時のスパッタをさらに低減させることができる。
【0081】
なお、実施の形態2では、くびれを検出したときに溶接電流Iwを急速に減少させる手段として、減流抵抗器Rを通電路に挿入する方法を説明した。これ以外の手段として、溶接装置の出力端子間にスイッチング素子を介してコンデンサを並列に接続し、くびれを検出するとスイッチング素子をオン状態にしコンデンサから放電電流を通電して溶接電流Iwを急速に減少させる方法を用いても良い。
【0082】
最後に、再び実施の形態1および2について、図1および図8等を参照して総括する。溶接装置100および100Aは、炭酸ガスをシールドガスに使用し、短絡状態とアーク状態とを交互に繰り返す炭酸ガスアーク溶接方法によって溶接を行なう溶接装置である。溶接装置100および100Aは、溶接トーチ4と母材2との間に電圧を与えるための電源回路102または102Aと、電源回路102または102Aの電圧を制御する電源制御装置104または104Aとを備える。電源制御装置104または104Aは、図2、図9に示すように、短絡期間Tsの後に続くアーク期間の初期の第1アーク期間Ta1にハイレベル電流が出力され、アーク期間の後期の第2アーク期間Ta2に定電圧制御された溶接電圧に対応したアーク電流が出力されるように、電源回路102または102Aを制御する。電源制御装置104または104Aは、図3で示した所定の周期で増減するとともに次第に振幅が増加する波形を振幅中心電流Ihcに重畳してハイレベル電流が発生されるように電源回路102を制御する。
【0083】
このようにハイレベル電流に一定振幅で増減する波形を重畳したので、ハイレベル電流を一律に振幅中心電流Ihcより高くするよりもアーク反力が弱まり溶滴の挙動が安定する。またハイレベル電流を振幅中心電流Ihcに一定にするよりも溶滴の成長速度を速めることができる。そして振幅が一定な波形を重畳するよりも溶滴の成長に合わせて振幅も増大させることにより波形重畳時初期における溶滴の安定性を維持しつつ溶滴を早く成長させ溶接スピードを上げることが可能となる。
【0084】
好ましくは、波形の振幅は、時間の経過に対して単調増加する関数(例えば式(1))によって決定される。
【0085】
好ましくは、波形の振幅の更新は、所定の周期が経過するごとに実行される。図3では、第1周期Ta11、第2周期Ta12、第3周期Ta13で1回ずつ振幅が更新されている。
【0086】
好ましくは、一定振幅で増減する波形は、三角波または正弦波である。一定振幅で増減する波形であればこれらに限定されるものではなく、他の波形であっても良いが、三角波や正弦波は波形を発生させやすいので好ましい。
【0087】
好ましくは、図9に示すように、電源制御装置104Aは、短絡期間中に溶滴のくびれを検出した場合には短絡電流を急減させるくびれ検出制御を行なう。溶滴のくびれ検出と組み合わせることによって、溶滴の挙動が一層安定化し、スパッタの発生をさらに抑制することができる。
【0088】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【0089】
1 溶接ワイヤ、2 母材、3 アーク、4 溶接トーチ、5 送給ロール、6 溶滴、7 溶融池、100,100A 溶接装置、102,102A 電源回路、104,104A 電源制御装置、106 ワイヤ送給装置、AD アーク検出回路、DR 駆動回路、EI 電流誤差増幅回路、EV 電圧誤差増幅回路、FC 送給制御回路、FHR 周波数設定回路、FR 送給速度設定回路、ID 電流検出回路、IHAR 増加重畳電流設定回路、IHBR 基本重畳電流設定回路、IHCR 振幅中心電流設定回路、IR 溶接電流設定回路、KR 増加率設定回路、NA ナンド回路、ND くびれ検出回路、NOT 反転回路、PM 電源主回路、R 減流抵抗器、SW 外部特性切換回路、TM タイマー回路、TR1,TR2 トランジスタ、VD 電圧検出回路、VR 溶接電圧設定回路、VTN 検出基準値設定回路、WH 振幅設定回路、WIR 初期振幅設定回路、WL1 リアクトル、WM 送給モータ。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
炭酸ガスをシールドガスに使用し、短絡状態とアーク状態とを交互に繰り返す炭酸ガスアーク溶接方法によって溶接を行なう溶接装置であって、
トーチと母材との間に電圧を与えるための電源回路と、
前記電源回路の電圧を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、短絡期間の後に続くアーク期間の初期の第1アーク期間に所定の周期で増減するとともに次第に振幅が増加する波形を重畳したハイレベル電流が出力され、前記アーク期間の後期の第2アーク期間に定電圧制御を行なうように、前記電源回路を制御する、溶接装置。
【請求項2】
前記波形の振幅は、時間の経過に対して単調増加する関数によって決定される、請求項1に記載の溶接装置。
【請求項3】
前記波形の振幅の更新は、前記所定の周期が経過するごとに実行される、請求項1または2に記載の溶接装置。
【請求項4】
前記波形は、三角波または正弦波である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の溶接装置。
【請求項5】
前記制御部は、前記短絡期間中に溶滴のくびれを検出した場合には短絡電流を減少させるくびれ検出制御を行なう、請求項1〜4のいずれか1項に記載の溶接装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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