物体検出装置およびメダル選別装置
【課題】不正治具により遊技機における遊技媒体の不正な計数行為を抑制する。
【解決手段】受光波形パラメータ取得部１２３は、受光部１１４により検出される受光レベルを受光波形パラメータとして取得する。投光部１１１は、受光部１１４で検出可能な光を投光する。基準波形パラメータ記憶部１２２は、投光部１１１により投光される光を、受光部１１４により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形パラメータとして記憶する。比較判定部は、受光波形パラメータと、基準波形パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出する。本発明は、遊技機に適用することができる。
【解決手段】受光波形パラメータ取得部１２３は、受光部１１４により検出される受光レベルを受光波形パラメータとして取得する。投光部１１１は、受光部１１４で検出可能な光を投光する。基準波形パラメータ記憶部１２２は、投光部１１１により投光される光を、受光部１１４により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形パラメータとして記憶する。比較判定部は、受光波形パラメータと、基準波形パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出する。本発明は、遊技機に適用することができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物体検出装置およびメダル選別装置に関し、特に、遊技機における円板状遊技媒体の不正な計数を防止できるようにした物体検出装置およびメダル選別装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
スロットマシン（またはパチスロ機）に代表される回動体からなる遊技機においては、遊技媒体として円板状のメダルが用いられている。
【０００３】
遊技機のメダル選別装置には、光センサが設けられており、この光センサにより投入されたメダルの数が計数される。
【０００４】
より具体的には、この光センサは、LED（Light Emission Diode）からなる投光素子と受光素子とが、メダルの通過経路を挟むように対向して設けられたものが２組連接されている。投光素子は、直流光を発し、受光素子は、この投光素子からの直流光が受光され続けている限り、通過経路上にメダルが存在しないことを認識（検出）する。
【０００５】
そして、メダルが投入口に投入されて通過経路上をメダルが自重により通過すると、投光素子により投光された直流光がメダルにより遮光されて、受光素子で所定時間だけ直流光が受光できない状態となる。このとき、光センサは、メダルの通過を検出する。また、同一の構造の光センサがメダルの経路上に連接されているので、連接された光センサにおけるメダルの通過が検出されるタイミングのずれや順序により、メダルの投入経路上での移動方向を検出することができる（特許文献１参照）。
【０００６】
ところで、この光センサの構造を利用した不正治具による不正行為が報告されている。
【０００７】
この不正治具は、メダル投入口に挿入可能な、柔軟な、きしめん状のものからなり、その先端部に発光素子が設けられたものである。
【０００８】
この不正治具による不正は、例えば、メダルの投入口から先端部分が挿入されて、遊技機の光センサにおける投光素子と受光素子との間に、不正治具の投光素子が光センサの受光素子に光学的に対向する位置まで挿入される。そして、不正治具の投光素子が、光センサの受光素子に対して直流光を投光することにより、光センサは、メダルが投入されていない状態として認識（検出）し、不正治具が挿入されていることも認識（検出）できない。
【０００９】
さらに、この状態で、不正治具の投光素子の投光をメダルの通過時間に合わせて停止させる動作が繰り返されることにより、メダルが通過していないにもかかわらず、光センサには、あたかもメダルが通過したことを誤検出させることができる。
【００１０】
従って、上述したような光センサを用いているような場合、このような不正治具による不正がなされてしまう可能性があった。
【００１１】
そこで、上述した不正治具による不正を防止するため、光センサの投光素子より変調光を発生させて、受光素子により変調光を受光させ、この変調光の有無を検出することによりメダルの通過を検出させる技術が提案されている。
【００１２】
【特許文献１】特開２００６−５５１８１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、光センサの投光素子から変調光を発生させて、受光素子による変調光の検出の有無によりメダルの通過を検出させるようにした場合、例えば、従来の不正治具を改良して、光センサの投光素子に光学的に対向する位置に受光素子をさらに設けることにより、光センサの投光素子から投光される変調光を検出した上で、検出した変調光と同期して不正治具の投光素子を投光させることが可能となるため、上述した不正治具と同様の不正がなされてしまう恐れがある。
【００１４】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、不正治具による不正行為を光センサで検出できるような構成とすることにより、不正行為を防止できるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の一側面の物体検出装置は、光を検出する受光部と、前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部と、前記受光部で検出可能な光を投光する投光部と、前記投光部により投光される光が、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部と、前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部とを備える。
【００１６】
所定の時間間隔で前記投光部を投光するための制御信号を発生する投光制御部と、前記投光部と前記受光部との光路を遮光しながら円板状の物体を通過させる通過部と、前記不正検出部により不正が検出されない場合、前記波形情報と、前記制御信号との比較により、前記円板状の物体の通過を検出する通過検出部をさらに含ませるようにすることができる。
【００１７】
前記基準波形情報には、前記基準波形の立上り時間、パルス幅、立下り時間、または受光レベルを示すパラメータを含ませるようにすることができる。
【００１８】
前記波形情報取得部により取得される複数の波形の波形情報を記憶する波形情報記憶部と、前記波形情報記憶部に記憶されている複数の波形の波形情報の各パラメータを平均化する平均化部とをさらに含ませるようにすることができ、前記不正検出部には、前記平均化部により平均化された各パラメータからなる波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報における各パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出させるようにすることができる。
【００１９】
前記不正検出部には、前記波形情報取得部により取得される波形と、基準波形情報における各パラメータとが規定回数一致しないことで不正の有無を検出させるようにすることができる。
【００２０】
本発明のメダル選別装置は、請求項１乃至５に記載の物体検出装置を備える。
【００２１】
本発明の一側面の物体検出装置は、光が検出され、検出される受光レベルが波形情報として取得され、受光可能な光が投光され、所定の時間間隔で投光するための制御信号が発生され、光路を遮光しながら円板状の物体が通過させられ、投光される光が、検出されるときの受光レベルの波形の情報が基準波形情報として記憶され、取得された波形情報と、記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無が検出される。
【００２２】
本発明の一側面の物体検出装置における、前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部とは、例えば、パラメータ取得部であり、前記受光部で検出可能な光を投光する投光部と、前記投光部により投光される光を、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部とは、例えば、基準波形パラメータ記憶部であり、前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部とは、例えば、比較判定部である。
【００２３】
すなわち、円板状の物体の通路を跨いで、所定の時間間隔で投光部より投光される変調光が受光部により受光される。受光部は、検出した光の受光レベルを示す受光信号を受光波形パラメータ取得部に供給する。パラメータ取得部は、受光レベルを示す受光信号から受光波形を認識し、受光波形の形状を特定するための受光波形パラメータを取得する。比較判定部は、受光波形パラメータ取得部で取得された受光波形パラメータと、記憶されている基準波形を示す基準波形パラメータとを比較し、比較結果に基づいて、一致していないとき、正規の投光部により発生された光が検出されていないことを認識し、正規の投光部ではない不正な投光部からの光を検出しているものとみなして不正を検出する。
【００２４】
結果として、本来検出されるべきセンサに設けられている投光部からの光による受光波形と、センサ以外の投光部により投光される光の波形とを識別することができるので、遊技機における不正治具による遊技媒体の不正な計数行為を抑制することが可能となる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、不正治具により遊技機における遊技媒体の不正な計数行為を抑制することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下に本発明の実施の形態を説明するが、本発明の構成要件と、発明の詳細な説明に記載の実施の形態との対応関係を例示すると、次のようになる。この記載は、本発明をサポートする実施の形態が、発明の詳細な説明に記載されていることを確認するためのものである。従って、発明の詳細な説明中には記載されているが、本発明の構成要件に対応する実施の形態として、ここには記載されていない実施の形態があったとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件に対応するものではないことを意味するものではない。逆に、実施の形態が構成要件に対応するものとしてここに記載されていたとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件以外の構成要件には対応しないものであることを意味するものでもない。
【００２７】
すなわち、本発明の一側面の物体検出装置は、光を検出する受光部（例えば、図７の受光部１１４）と、前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部（例えば、図７の受光波形パラメータ取得部１２３）と、前記受光部で検出可能な光を投光する投光部（例えば、図７の投光部１１１）と、前記投光部により投光される光が、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部（例えば、図７の基準波形パラメータ記憶部１２２）と、前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部（例えば、図７の比較判定部１２５）とを備える。
【００２８】
前記受光部で受光可能な光を投光する投光部と、所定の時間間隔で前記投光部を投光するための制御信号を発生する投光制御部（例えば、図７の投光制御部１１２）と、前記投光部と前記受光部との光路を遮光しながら円板状の物体を通過させる通過部（例えば、図７の通路２６）と、前記不正検出部により不正が検出されない場合、前記波形情報と、前記制御信号との比較により、前記円板状の物体の通過を検出する通過検出部（例えば、図７の通過判定部１２７）をさらに含ませるようにすることができる。
【００２９】
前記波形情報取得部により取得される複数の波形の波形情報を記憶する波形情報記憶手段（例えば、図７の記憶部１２３ａ）と、前記波形情報記憶手段に記憶されている複数の波形の波形情報の各基準波形パラメータを平均化する平均化部（例えば、図７の受光波形パラメータ平均化部１２４）とをさらに含ませるようにすることができ、前記不正検出部（例えば、図７の比較判定部１２５）には、前記平均化部により平均化された各基準波形パラメータからなる波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報における各基準波形パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出させるようにすることができる。
【００３０】
［遊技機の構成例］
図１，図２は、本発明に係る遊技機の一実施の形態の構成例を示す図である。図１は、遊技機１の概観斜視図であり、図２は、遊技機１の前面扉５が開放され、内部の概観図が示されている。
【００３１】
図１で示されるように、遊技機１は、遊技操作面右部に設けられたメダルＭの投入口２より遊技媒体であるメダルMが投入されることにより遊技可能となる。より具体的には、メダルMが１乃至３枚投入されると図中左部に設けられたスタートレバーが操作可能となる。スタートレバーが操作されると、３つの回動体が回転し、それぞれに対応して設けられたストップボタンが操作されることにより回転が停止する。この際、停止した回動体の図柄が横、または斜めに揃うと、遊技機１は、揃った図柄に応じたメダルMを返却口３より排出する。
【００３２】
投入口２は、遊技操作面右中央部に設けられており、メダルＭを１枚ずつ受入れ、メダルセレクタ１０（図２乃至図５）に供給する。メダルセレクタ（メダル選別装置）１０は、投入口２より投入されたメダルMのうち、正規の大きさのメダルのみを内部に取込み、不適合の大きさのメダル類を外部の返却口３に返却する選別機能を備えている。
【００３３】
また、投入口２の下部には返却ボタン４が設けられている。返却ボタン４は、遊技者が遊技を中止したいとき押下するものであり、押下して操作された場合、メダルＭが返却口３から返却される。
【００３４】
図２で示されているように、前面扉５が開放された遊技機１の正面部１ａには上部に回動体（リール）６が設けられ、下部にはメダル取込み用またはメダル払出し用のホッパ７、図示しないメダル返却通路、および電源装置８とが設けられている。
【００３５】
一方、返却口３側の前面扉５の内面には、上部よりカバー９、メダルセレクタ（メダル選別装置）１０、および返却口３とが、同順に配設されている。以上のような構成により、遊技者により投入口２からメダルＭが投入されると、遊技機１は、回動体６を回転または停止させることで遊技を実現させる。
【００３６】
［メダルセレクタの構成例］
次に、図３乃至図５を参照して、メダルセレクタ（メダル選別装置）１０の構成例について説明する。ここで、図３は、メダルセレクタ１０の基板表面側からの外観斜視図であり、図４はメダルセレクタ１０の基板裏面側を示す外観斜視図であり、図５は、基板２１と開閉板２２との一対を組合せて構成されるメダルセレクタ１０の分解斜視図である。
【００３７】
メダルセレクタ（メダル選別装置）１０は、平面視コの字状の基板２１と、開閉板２２とを備え、開閉板２２側の支軸２３を基板２１側の軸受部２４に軸支すると共に、バネ２５により開閉板２２を常時基板２１側に付勢し、これら基板２１と開閉板２２との両者によりメダルＭが通過するための通路２６を形成している。
【００３８】
この通路２６は、上部の（挿入口）入口２７と下方の出口２８とを有するＬ字状に形成され、投入口２に連接される入口２７から下方に延びる縦辺部Ｒ１と、斜め下方に延びて出口２８に至る横辺部Ｒ２と、これら両辺部Ｒ１，Ｒ２を湾曲状に連通接続する湾曲部Ｒ３とを備えている。
【００３９】
また、基板２１裏面側の支軸２９を支点として揺動可能な可動ガイド板３０が設けられている。この可動ガイド板３０は、横長のガイド部３１を基板２１の開口部３２から通路２６の上部に沿設し、このガイド部３１でメダルＭの上端側を搬送方向にガイドするように構成している。
【００４０】
さらに、上述の可動ガイド板３０には、基板２１の裏面側に位置する排出部材としてのブロッカ３３を一体に折り曲げ形成し、このブロッカ３３の下端ブロック部３３ａを通路２６の下流側の開口部２６ａから通路２６に出没可能に構成している。
【００４１】
また、上述の基板２１の裏面側にはソレノイド３４で駆動される可動板３５が設けられており、この可動板３５の遊端３５ａが可動ガイド板３０の上端３０ａに対向して設けられ、ソレノイド３４のＯＮ時に可動板３５の遊端３５ａで可動ガイド板３０の上端３０ａが押圧されることにより、可動ガイド板３０のガイド部３１が、メダルＭの上端側の搬送をガイドすると共に、ブロッカ３３の下端ブロック部３３ａを通路２６の開口部２６ａから基板２１の裏面側に後退させる。これにより、有効と選別された正規のメダルＭは出口２８へと搬送され、無効と選別された不適合の大きさのコイン類は開閉板２２の排出口２２ａから排出させて、外部（遊技機の返却口）に返却されるように構成されている。
【００４２】
ソレノイド３４のＯＦＦ時には、可動ガイド板３０がメダルＭの上端側の搬送ガイドが解除されると共に、ブロッカ３３の下端ブロック部３３ａが通路２６側へ突出されることにより、メダルＭの受入れが中止される。
【００４３】
この通路２６の横辺部Ｒ２は、横辺部Ｒ２の上下に対設される可動ガイド板３０のガイド部３１と通路２６の下面を形成する案内プレート２６ｂとの上下に平行する間隔により直径の小さなメダルＭを通路外に排除する外形選別を実施し、正規の大きさのメダルＭのみを通過させて計数するように構成している。
【００４４】
従って、出口２８からは一定の大きさの円板形状を有する適正な大きさのメダルＭのみがホッパ7に取込まれる。この出口２８の直前において通路２６を形成する基板２１の通路壁には、通路２６の横辺部Ｒ２を通過するメダルＭを検出して計数するための２箇所のセンサからなるセンサ７１を、この通路方向に順に取付けている。
【００４５】
これらのセンサ７１は、第１センサと第２センサからなる２箇所のセンサから構成されており、それぞれのセンサにおいて投受光してメダルＭの通過を検出する光学式検出センサとして機能し、メダルＭが通路２６に沿って下流側に移動し、このメダルＭが第１センサ、および第２センサの、それぞれの光路をこの順に遮ることで、メダルＭの通過を検出する。このため、第１センサ、および第２センサは、適正なメダルＭの直径より小さくなる間隔に配置されている。
【００４６】
［センサの構成例］
次に、図６，図７を参照して、センサ７１の詳細な構成例について説明する。
【００４７】
センサ７１における第１センサは、投光口１０１−２から投光され、受光口１０２−２により受光される光路を横切るメダルＭの有無を検出し、第２センサは、投光口１０１−１から投光され、受光口１０２−１により受光される光路を横切るメダルＭの通過を検出する。
【００４８】
より詳細には、投光口１０１−１は、図７で示されるように、その内部に設けられたLED（Light Emission Diode）などからなる投光部１１１より投光された変調光を光路Ｌ１−１で示されるように投光し、反射板１１３により反射させて、光路Ｌ２−１より受光口１０２−１を介して受光部１１４に受光させる。受光部１１４は、受光した光を光電変換により電気信号に変換して受光信号として通過検出部１１５に供給する。
【００４９】
尚、以降において、投光口１０１−１，１０１−２、および受光口１０２−１，１０２−２、並びに光路Ｌ１−１，Ｌ１−２，Ｌ２−１，Ｌ２−２のそれぞれについて、特に区別する必要がない場合、単に、投光口１０１、受光口１０２、光路Ｌ１，Ｌ２と称するものとし、その他の構成についても同様に称するものとする。また、図７においては、投光口１０１−１、受光口１０２−１についてのみが、投光口１０１、受光口１０２として表示されているが、投光口１０１−２、受光口１０２−２については、投光部１１１、および受光部１１４の配置が物理的に入替っているのみであり、その他の構成との関係については、同様であるので、その説明は省略するものとする。
【００５０】
投光制御部１１２は、投光部１１１の投光を制御する制御信号を供給し、予め定められたタイミングで投光部１１１を投光させることにより変調光を発生させる。このとき、投光制御部１１２は、投光部１１１における投光のタイミングを示す制御信号を通過検出部１１５にも供給する。
【００５１】
通過検出部１１５は、閾値判定部１２１、基準波形パラメータ記憶部１２２、受光波形パラメータ取得部１２３、受光波形パラメータ平均化部１２４、比較判定部１２５、Ａ／Ｄ変換部１２６、および通過判定部１２７より構成されている。通過検出部１１５は、受光部１１４より供給されてくる受光信号と、投光制御部１１２より供給されてくる制御信号とを比較し、一致するか否かにより通路２６をメダルMが通過したか否かを判定し、第１センサおよび第２センサの通過の検出タイミングなどからメダルの通過を検出したとき、カウンタ１３１に通過を知らせる通過信号を供給する。また、通過検出部１１５は、受光信号の波形から不正の有無を検出し、不正を検出した場合、不正発報部１３２にその旨を通知する。この通知により、不正検出部１３２は、不正を検出したことを発報する。
【００５２】
通過検出部１１５の閾値判定部１２１は、受光部１１４より供給されるアナログ信号からなる受光信号の受光レベルを所定の閾値と比較する。基準波形パラメータ記憶部１２２は、投光部１１１により投光された変調光が反射部１１３により反射されて受光部１１４にて受光される際に発生する受光信号を波形化したときの波形を特定するためのパラメータとして、基準波形パラメータを記憶している。より具体的には、基準波形パラメータは、受光波形となるパルス波形における立上り時間、パルス幅、立下り時間、および受光レベルであり、基準波形パラメータ記憶部１２２では、これらの基準波形パラメータを予め記憶している。尚、基準波形パラメータ記憶部１２２に記憶される基準波形パラメータは、投光部１１１に対応した情報であるので、例えば、投光部１１１が設定される際に、キャリブレーションにより投光部１１１が変調光を投光したものを測定し、測定結果を記憶させるようにしても良い。
【００５３】
受光波形パラメータ取得部１２３は、受光信号より形成される波形に基づいて、受光波形パラメータを取得し、所定数だけ内蔵する記憶部１２３ａに記憶させる。
【００５４】
受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータ取得部１２３の記憶部１２３ａに記憶されている所定数の受光波形パラメータについて、それぞれの受光波形パラメータ毎に平均化する。
【００５５】
比較判定部１２５は、平均化された受光波形パラメータと、基準波形パラメータとをそれぞれ比較し、受光波形と基準波形が一致するか否かを判定する。そして、比較判定部１２５は、一致しないとき不正が発生したものとみなし、不正を検出する。
【００５６】
Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部１２６は、アナログ波形の受光波形をデジタル波形に変換する。
【００５７】
通過判定部１２７は、デジタル波形に変換された受光波形と、制御信号により想定される波形とを比較し、一致しない状態が所定時間内だけ継続した場合、すなわち、所定パルス分一致しない場合、メダルＭの通過を検出する。
【００５８】
カウンタ１３１は、通過検出部１１５からの検出結果である通過信号に基づいて、メダルＭを計数する。
【００５９】
［センサによる通過検出動作］
次に、図８のフローチャートを参照して、図７のセンサ７１によるメダルＭの通過検出動作について説明する。
【００６０】
ステップＳ１１において、投光制御部１１２は、投光部１１１を投光させる制御信号を発生する。そして、投光制御部１１２は、発生した制御信号を、投光部１１１、および通過検出部１１５に供給する。投光部１１１は、投光制御部１１２からの制御信号に基づいて、光路Ｌ１方向に投光させる。この処理により、メダルＭの通路２６上にメダルＭが存在しなければ、投光部１１１により発光される変調光が光路Ｌ１より投光されて、反射板１１３により反射され、光路Ｌ２より受光部１１４に順次受光される。さらに、受光部１１４は、受光した光を光電変換し、受光信号として通過検出部１１５に供給する。
【００６１】
ステップＳ１２において、通過検出部１１５は、受光信号に基づいて、図１１を参照して後述する不正判定動作を実行し、不正の有無を判定する。
【００６２】
ステップＳ１３において、通過検出部１５は、ステップＳ１２の不正判定動作により不正が検出されたか否かを判定する。ステップＳ１３において、例えば、不正判定動作により不正が検出されなかった場合、ステップＳ１４において、Ａ／Ｄ変換部１２６は、図９の上部で示されるようなアナログ信号の受光信号を、図９の下部で示されるようなデジタル信号に変換する。より具体的には、Ａ／Ｄ変換部１２６は、図９の上部で示されるように、アナログ信号における受光信号と、閾値Ｔとを比較し、閾値Ｔよりも高い受光レベルの場合、光を検出している信号とし、閾値Ｔよりも低い受光レベルの場合、光を検出していない非検出の信号とすることによりデジタル信号に変換する。尚、図９の上部においては、受光レベルが低い、すなわち、光量が弱いほど高い値として表記され、受光レベルが高くなるにつれて、低い値として表記されている。また、図９の下部においては、光を検出した信号がＬｏｗであり、非検出の場合がＨｉとなっている。
【００６３】
ステップＳ１５において、通過判定部１２７は、Ａ／Ｄ変換部１２６によりデジタル信号に変換された受光信号と、投光制御部１１２より供給されてくる制御信号とを比較し、受光信号における光を受光したタイミングと、制御信号における投光部１１１が投光するタイミングとが一致するか否かを判定する。
【００６４】
より詳細には、例えば、図１０の最上段で示されるように、センサ７１の投光部１１１が、時刻ｔ２乃至ｔ３，ｔ４乃至ｔ５，ｔ６乃至ｔ７，ｔ８乃至ｔ９，ｔ１０乃至ｔ１１，ｔ１２乃至ｔ１３，ｔ１４乃至ｔ１５・・・において、点灯することで光路Ｌ１方向に投光し、時刻ｔ０乃至ｔ２，ｔ３乃至ｔ４，ｔ５乃至ｔ６，ｔ７乃至ｔ８，ｔ９乃至ｔ１０，ｔ１１乃至ｔ１２，ｔ１３乃至ｔ１４・・・において消灯することにより、時刻ｔ０乃至ｔ６のタイミングにおいて、メダルＭが通路２６上を移動して、光路Ｌ１，Ｌ２を横切ったとき、受光部１１４においては、光路Ｌ１，Ｌ２を介して変調光が受光できない状態となる。このため、図１０の上から２段目における時刻ｔ０乃至ｔ６で示されるように、受光部１１４においては光が非検出の状態となる。
【００６５】
そこで、ステップＳ１５において、通過判定部１２７は、投光部１１１により変調光が投光されるタイミングを示す制御信号と、受光部１１４により受光されるタイミングを示す受光信号とが一致しない場合、処理は、ステップＳ１６に進む。尚、図１０においては、１パルス単位で一致するか否かによりメダルＭの通過の有無が判定されているが、実際には、通過判定部１２７は、パルス波として供給されてくる制御信号に対して、受光信号のうち直近の数パルス分の比較に基づいて、一致しているか否かを判定する。
【００６６】
ステップＳ１６において、通過判定部１２７は、受光信号と制御信号とが一致しない状態であること、すなわち、メダルＭが検出された状態であることを示す通過信号をカウンタ１３１に通知する。尚、詳細には、受光部１１４が遮光状態であることのみが信号として通知される。カウンタ１３１は、受光信号と制御信号とが一致しない状態であること、すなわち、メダルＭが検出された状態が所定時間以上継続しているか否かを判定する。すなわち、メダルＭが通過する場合、受光信号と制御信号とが一致しない状態は、通過に要する所定時間、すなわち、数十パルス分の時間に限られるはずであるので、それ以上である場合は、何らかの不正行為がなされている可能性がある。
【００６７】
そこで、ステップＳ１６において、受光信号と制御信号とが一致しない状態が所定時間以上ではない場合、ステップＳ１７において、カウンタ１３１は、メダルＭの通過を認識し、２箇所あるセンサにおけるメダルＭの通過を検出したタイミングの差分などからメダルＭを計数する。そして、処理は、ステップＳ１１に戻り、以降の処理が繰り返される。
【００６８】
すなわち、カウンタ１３１は、図９の最下段で示されるように、時刻ｔ０乃至ｔ６において、メダルＭの通路２６の通過に要する時間は数パルス内であるので、メダルの通過が検出される。
【００６９】
一方、ステップＳ１５において、時刻ｔ７以降のタイミングについては、メダルＭが通路２６上に存在せず、光路Ｌ１，Ｌ２を介して変調光が投光部１１１より投光され続けている場合、図９の３段目で示されるように、受光部１１４においては、光路Ｌ１，Ｌ２を介して変調光が受光できる状態が維持され、かつ、それぞれ時刻ｔ６乃至ｔ７，ｔ８乃至ｔ９，ｔ１０乃至ｔ１１，ｔ１２乃至ｔ１３，ｔ１４乃至ｔ１５・・・で示されるように、制御信号と受光信号とが一致するので、ステップＳ１６，Ｓ１７の処理がスキップされて、処理は、ステップＳ１１に戻る。
【００７０】
また、ステップＳ１６において、所定時間以上であると判定された場合、不正がなされたものとみなし、ステップＳ１７の処理がスキップされて、処理は、ステップＳ１１に戻る。
【００７１】
さらに、ステップＳ１３において、不正が検出されていると判定された場合、ステップＳ１８において、Ａ／Ｄ変換部１２６は、アナログ受光波形を変換する際、非検出の信号のみのデジタル信号に変換する。この結果、ステップＳ１５においては、投光部１１１にが投光するタイミングと同一のタイミングで、受光部１１４においては受光されていないと判定されることなる。さらに、非検出の状態が、所定時間以上継続することになるので、ステップＳ１７の処理がスキップされ続けることになり、メダルＭが通過されない状態となる。
【００７２】
このように、不正が検出されない限り、制御信号と受光信号とが、所定時間だけ不一致であるとき（メダルＭの通過に要する数パルス分の所定時間だけ遮光される状態であるとき）、メダルＭの通過が検出されて、検出結果に基づいて、カウンタ１３１がメダルＭを計数することが可能となる。また、不正が検出された際には、メダルＭの通過が検出されない状態となるので、不正なメダルＭの計数を抑制することが可能となる。
【００７３】
尚、図１０の最上段においては、投光部１１１の変調光の発光タイミング、すなわち、実質的に、投光制御部１１２からの制御信号が示されている。また、図１０の２段目は、センサ７１の受光部１１４により出力される受光信号がデジタル信号に変換された信号が示されている。また、図１０の３段目は、通過判定部１２７の検出結果を示す信号が示されている。
【００７４】
次に、図１１のフローチャートを参照して、図８のフローチャートにおけるステップＳ１２の不正判定動作について説明する。
【００７５】
ステップＳ３１において、閾値判定部１２１は、投光制御部１１２より供給されてくる制御信号に基づいて、投光部１１１が投光しているタイミングと同一のタイミングで、アナログ信号の受光信号における受光レベルが所定の閾値以上であるか否かを判定する。すなわち、閾値判定部１２１は、制御信号に基づいて、投光部１１１の投光タイミングと一致する、アナログ信号のパルス状の波形が検出できているかを判定する。
【００７６】
ステップＳ３１において、例えば、投光部１１１が投光しているタイミングと同一のタイミングで、アナログ信号の受光信号における受光レベルが所定の閾値以上ではない場合、不正判定動作はできないので、不正がないものとして処理は終了する。
【００７７】
一方、ステップＳ３１において、投光部１１１が投光しているタイミングと同一のタイミングで、アナログ信号の受光信号における受光レベルが所定の閾値以上であり、パルス状の波形が検出されたと判定された場合、処理は、ステップＳ３２に進む。
【００７８】
ステップＳ３２において、受光波形パラメータ取得部１２３は、図１２で示されるように、パルス状の波形として認識されたアナログ信号からなる受光信号の受光波形の立上り時間α、パルス幅β、立下り時間γ、および受光レベルδを受光波形パラメータα，β，γ，δとして取得すると共に、記憶部１２３ａに記憶させる。すなわち、図１２で示されるように、受光波形パラメータα，β，γ，δは、受光される波形の形状を特定するためのパラメータである。尚、記憶部１２３ａに記憶できる受光波形パラメータは、所定数までであるので、最も古いパラメータを最も新しいパラメータに上書きして記憶していく。
【００７９】
ステップＳ３３において、受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータ取得部１２３の記憶部１２３ａに記憶されている受光波形パラメータが所定数記憶されているか否かを判定する。すなわち、受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータα，β，γ，δのそれぞれについて、所定数分について平均値を求めるため、所定数の受光波形パラメータが記憶されているか否かを判定する。
【００８０】
ステップＳ３３において、例えば、受光波形パラメータが所定数記憶されていないと判定された場合、処理は終了する。すなわち、所定数が記憶されるまでは、不正判定動作はできないことになるので、不正はないものとして処理を終了する。
【００８１】
一方、ステップＳ３３において、受光波形パラメータが所定数記憶されていると判定された場合、ステップＳ３４において、受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータα，β，γ，δを、それぞれについて平均化し、平均受光波形パラメータαａｖ，βａｖ，γａｖ，δａｖする。
【００８２】
ステップＳ３５において、比較判定部１２５は、受光波形パラメータ平均化部１２４により平均化された平均受光波形パラメータαａｖ，βａｖ，γａｖ，δａｖと、基準波形パラメータα０，β０，γ０，δ０とをそれぞれ比較する。より具体的には、比較判定部１２５は、例えば、それぞれの差分また比などを求め、所定の閾値とを比較する。
【００８３】
ステップＳ３６において、比較判定部１２５は、比較結果から平均受光波形パラメータαａｖ，βａｖ，γａｖ，δａｖと、基準波形パラメータα０，β０，γ０，δ０とが、それぞれ一致しているか否か、すなわち、受光信号における受光波形と基準波形とが一致しているか否かを判定する。ステップＳ３６において、例えば、受光波形と基準波形とが一致していると判定された場合、投光部１１１からの変調光が受光されているものとみなし、ステップＳ３７の処理がスキップされて、不正がないものとして不正判定動作が終了する。
【００８４】
一方、ステップＳ３６において、例えば、受光波形と基準波形とが一致していないと判定された場合（投光部１１１以外の投光部からの変調光が受光されている場合）、処理は、ステップＳ３７に進む。
【００８５】
ステップＳ３７において、比較判定部１２５は、不正が検出されたものとみなし、不正発報部１３２に対してその旨を通知する。不正発報部１３２は、この通知に対応して不正が発生したことを画像、または、音声などにより発報する。
【００８６】
以上のような処理により、図７で示されるセンサ７１においては、例えば、図１５で示されるように、投入口２より不正治具１５１が挿入されるような場合でも、誤動作による不正を防止することができる。
【００８７】
ここで、不正治具１５１について説明する。不正治具１５１は、きしめん状の構造により、遊技機１の投入口２より通路２６の縦辺部Ｒ１、湾曲部Ｒ３、および横辺部Ｒ２を介して、順次その先端部がセンサ７１に到達する構成となっている。また、不正治具１５１の先端部分には、図１０で示されるように、反射板１１３に受光口１０２より受光部１１４で受光可能な光を発する不正投光部１６１と、その背面であって、投光口１０１に対応する位置に投光口１０１からの光を受光する不正受光部１６２とが設けられている。不正投光部１６１は、不正受光部１６２により光が受光されたタイミングで発光し、光路Ｌ１１で示される光を反射板１１３に投光する。したがって、投光口１０１より投光部１１１が投光する光と同一のタイミングで不正投光部１６１が発光されることで、受光部１１４は、あたかも通路２６にメダルＭが存在しない状態と同様の変調光を受光することになる。
【００８８】
また、この投光部１６１は、図示せぬ制御装置により発光タイミングが制御され、メダルＭが通路２６を通過したときに光路Ｌ１が遮光されるときのように、所定時間遮光されたように消灯しつつ、受光部１６２により受光した投光部１１１から投光された変調光と同期して投光する処理を繰り返す。このため、受光部１１４には、メダルＭが通路２６を通過していないにもかかわらず、あたかもメダルＭが通路２６を通過しているかのような状態を示す変調光が受光される。
【００８９】
ところで、投光部１１１および不正投光部１６１で使用されるようなLEDなどにおいては、個体差により受光部１１４により受光される波形が異なることが知られている。しかしながら、上述した不正検出処理を実行しない従来のセンサにおけるＡ／Ｄ変換処理では、単純に閾値Ｔを超えると検出信号とし、超えないときは非検出の信号に変換するといった処理がなされているため、図１４の上部で示されるように、投光部１１１および投光部１６２におけるLEDなどの個体差により生じる明らかに異なる受光波形を構成する受光信号であっても、図１４の下部で示されるように、同一のデジタル信号に変換されてしまう。このため、受光部１１４により受光されることにより発生される受光信号と、制御信号との比較により、不正にメダルＭがカウントされてしまうことがあった。
【００９０】
これに対して、本願の図７で示されるセンサ７１は、不正判定動作により、例えば、図１５の左上部の受光波形パラメータα１，β１，γ１，δ１と、図１５左の右上部の受光波形パラメータα２，β２，γ２，δ２とをそれぞれ基準波形パラメータα，β，γ，δと比較するようにした。この結果、図１２，図１５の左上部で示されるように、基準波形パラメータα，β，γ，δと受光波形パラメータα１，β１，γ１，δ１とが一致した場合、図１５の左下部で示されるように、アナログ信号の受光信号は、閾値Ｔよりも高い信号を検出信号に、閾値Ｔよりも低い信号を非検出信号にそれぞれ変換するので、適正なデジタル信号に変換される。一方、図１２，図１５の右上部で示されるように、基準波形パラメータα，β，γ，δと受光波形パラメータα２，β２，γ２，δ２とが一致しない場合、図１５の右下部で示されるように、アナログ信号の受光信号は、非検出信号のみのデジタル信号に変換され続けることになるので、上述したように、メダルＭの通過が検出されない状態となる。
【００９１】
結果として、受光部１１１より受光される変調光のみが通過検出動作で使用できることになるので、不正治具１５１のようなものを使用した、不正なメダルＭの計数を抑制することが可能となる。
【００９２】
また、受光波形パラメータと基準波形パラメータとの比較により不正の有無を検出するようにしたので、外乱光による誤動作も防止することが可能となる。
【００９３】
さらに、以上においては、複数の受光信号の受光波形パラメータにおける平均値と、基準波形パラメータとの比較に基づいて不正の有無を検出する例について説明してきたが、それぞれの受光波形パラメータと基準波形パラメータとの比較により、規定回数以上一致しない場合に、不正を検出するようにしても良い。
【００９４】
以上によれば、不正治具により遊技機における遊技媒体の不正な計数行為を抑制することが可能になると共に、不正治具の使用を認識して、不正を検出することが可能となる。
【００９５】
尚、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理は、もちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理を含むものである。
【図面の簡単な説明】
【００９６】
【図１】本発明を適用した遊技機の実施の形態の構成を示す概観斜視図である。
【図２】本発明を適用した遊技機の実施の形態の構成を示す概観図である。
【図３】セレクタの構成例を示す正面図である。
【図４】セレクタの構成例を示す背面図である。
【図５】セレクタの構成例を示す分解図である。
【図６】センサの構成例を示す概観図である。
【図７】第１の実施例のセンサの構成例を示す構成図である。
【図８】図７のセンサによる通過検出動作を説明するフローチャートである。
【図９】図７のセンサによる通過検出動作を説明する波形図である。
【図１０】図７のセンサによる通過検出動作を説明する波形図である。
【図１１】図７のセンサによる不正判定動作を説明するフローチャートである。
【図１２】受光波形パラメータを説明する波形図である。
【図１３】図７のセンサに不正治具が用いられた例を示す図である。
【図１４】図７のセンサに不正治具が用いられた場合の波形図である。
【図１５】図７のセンサによる不正判定動作を説明する波形図である。
【符号の説明】
【００９７】
１ 遊技機
１０ メダルセレクタ
７１ センサ
１１１ 投光部
１１２ 投光制御部
１１３ 反射板
１１４ 受光部
１１５ 通過検出部
１２１ カウンタ
１５１ 不正治具
１６１，１６１−１，１６１−２ 不正投光部
１６２，１６２−１，１６２−２ 不正受光部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物体検出装置およびメダル選別装置に関し、特に、遊技機における円板状遊技媒体の不正な計数を防止できるようにした物体検出装置およびメダル選別装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
スロットマシン（またはパチスロ機）に代表される回動体からなる遊技機においては、遊技媒体として円板状のメダルが用いられている。
【０００３】
遊技機のメダル選別装置には、光センサが設けられており、この光センサにより投入されたメダルの数が計数される。
【０００４】
より具体的には、この光センサは、LED（Light Emission Diode）からなる投光素子と受光素子とが、メダルの通過経路を挟むように対向して設けられたものが２組連接されている。投光素子は、直流光を発し、受光素子は、この投光素子からの直流光が受光され続けている限り、通過経路上にメダルが存在しないことを認識（検出）する。
【０００５】
そして、メダルが投入口に投入されて通過経路上をメダルが自重により通過すると、投光素子により投光された直流光がメダルにより遮光されて、受光素子で所定時間だけ直流光が受光できない状態となる。このとき、光センサは、メダルの通過を検出する。また、同一の構造の光センサがメダルの経路上に連接されているので、連接された光センサにおけるメダルの通過が検出されるタイミングのずれや順序により、メダルの投入経路上での移動方向を検出することができる（特許文献１参照）。
【０００６】
ところで、この光センサの構造を利用した不正治具による不正行為が報告されている。
【０００７】
この不正治具は、メダル投入口に挿入可能な、柔軟な、きしめん状のものからなり、その先端部に発光素子が設けられたものである。
【０００８】
この不正治具による不正は、例えば、メダルの投入口から先端部分が挿入されて、遊技機の光センサにおける投光素子と受光素子との間に、不正治具の投光素子が光センサの受光素子に光学的に対向する位置まで挿入される。そして、不正治具の投光素子が、光センサの受光素子に対して直流光を投光することにより、光センサは、メダルが投入されていない状態として認識（検出）し、不正治具が挿入されていることも認識（検出）できない。
【０００９】
さらに、この状態で、不正治具の投光素子の投光をメダルの通過時間に合わせて停止させる動作が繰り返されることにより、メダルが通過していないにもかかわらず、光センサには、あたかもメダルが通過したことを誤検出させることができる。
【００１０】
従って、上述したような光センサを用いているような場合、このような不正治具による不正がなされてしまう可能性があった。
【００１１】
そこで、上述した不正治具による不正を防止するため、光センサの投光素子より変調光を発生させて、受光素子により変調光を受光させ、この変調光の有無を検出することによりメダルの通過を検出させる技術が提案されている。
【００１２】
【特許文献１】特開２００６−５５１８１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、光センサの投光素子から変調光を発生させて、受光素子による変調光の検出の有無によりメダルの通過を検出させるようにした場合、例えば、従来の不正治具を改良して、光センサの投光素子に光学的に対向する位置に受光素子をさらに設けることにより、光センサの投光素子から投光される変調光を検出した上で、検出した変調光と同期して不正治具の投光素子を投光させることが可能となるため、上述した不正治具と同様の不正がなされてしまう恐れがある。
【００１４】
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、不正治具による不正行為を光センサで検出できるような構成とすることにより、不正行為を防止できるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の一側面の物体検出装置は、光を検出する受光部と、前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部と、前記受光部で検出可能な光を投光する投光部と、前記投光部により投光される光が、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部と、前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部とを備える。
【００１６】
所定の時間間隔で前記投光部を投光するための制御信号を発生する投光制御部と、前記投光部と前記受光部との光路を遮光しながら円板状の物体を通過させる通過部と、前記不正検出部により不正が検出されない場合、前記波形情報と、前記制御信号との比較により、前記円板状の物体の通過を検出する通過検出部をさらに含ませるようにすることができる。
【００１７】
前記基準波形情報には、前記基準波形の立上り時間、パルス幅、立下り時間、または受光レベルを示すパラメータを含ませるようにすることができる。
【００１８】
前記波形情報取得部により取得される複数の波形の波形情報を記憶する波形情報記憶部と、前記波形情報記憶部に記憶されている複数の波形の波形情報の各パラメータを平均化する平均化部とをさらに含ませるようにすることができ、前記不正検出部には、前記平均化部により平均化された各パラメータからなる波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報における各パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出させるようにすることができる。
【００１９】
前記不正検出部には、前記波形情報取得部により取得される波形と、基準波形情報における各パラメータとが規定回数一致しないことで不正の有無を検出させるようにすることができる。
【００２０】
本発明のメダル選別装置は、請求項１乃至５に記載の物体検出装置を備える。
【００２１】
本発明の一側面の物体検出装置は、光が検出され、検出される受光レベルが波形情報として取得され、受光可能な光が投光され、所定の時間間隔で投光するための制御信号が発生され、光路を遮光しながら円板状の物体が通過させられ、投光される光が、検出されるときの受光レベルの波形の情報が基準波形情報として記憶され、取得された波形情報と、記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無が検出される。
【００２２】
本発明の一側面の物体検出装置における、前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部とは、例えば、パラメータ取得部であり、前記受光部で検出可能な光を投光する投光部と、前記投光部により投光される光を、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部とは、例えば、基準波形パラメータ記憶部であり、前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部とは、例えば、比較判定部である。
【００２３】
すなわち、円板状の物体の通路を跨いで、所定の時間間隔で投光部より投光される変調光が受光部により受光される。受光部は、検出した光の受光レベルを示す受光信号を受光波形パラメータ取得部に供給する。パラメータ取得部は、受光レベルを示す受光信号から受光波形を認識し、受光波形の形状を特定するための受光波形パラメータを取得する。比較判定部は、受光波形パラメータ取得部で取得された受光波形パラメータと、記憶されている基準波形を示す基準波形パラメータとを比較し、比較結果に基づいて、一致していないとき、正規の投光部により発生された光が検出されていないことを認識し、正規の投光部ではない不正な投光部からの光を検出しているものとみなして不正を検出する。
【００２４】
結果として、本来検出されるべきセンサに設けられている投光部からの光による受光波形と、センサ以外の投光部により投光される光の波形とを識別することができるので、遊技機における不正治具による遊技媒体の不正な計数行為を抑制することが可能となる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、不正治具により遊技機における遊技媒体の不正な計数行為を抑制することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下に本発明の実施の形態を説明するが、本発明の構成要件と、発明の詳細な説明に記載の実施の形態との対応関係を例示すると、次のようになる。この記載は、本発明をサポートする実施の形態が、発明の詳細な説明に記載されていることを確認するためのものである。従って、発明の詳細な説明中には記載されているが、本発明の構成要件に対応する実施の形態として、ここには記載されていない実施の形態があったとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件に対応するものではないことを意味するものではない。逆に、実施の形態が構成要件に対応するものとしてここに記載されていたとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件以外の構成要件には対応しないものであることを意味するものでもない。
【００２７】
すなわち、本発明の一側面の物体検出装置は、光を検出する受光部（例えば、図７の受光部１１４）と、前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部（例えば、図７の受光波形パラメータ取得部１２３）と、前記受光部で検出可能な光を投光する投光部（例えば、図７の投光部１１１）と、前記投光部により投光される光が、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部（例えば、図７の基準波形パラメータ記憶部１２２）と、前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部（例えば、図７の比較判定部１２５）とを備える。
【００２８】
前記受光部で受光可能な光を投光する投光部と、所定の時間間隔で前記投光部を投光するための制御信号を発生する投光制御部（例えば、図７の投光制御部１１２）と、前記投光部と前記受光部との光路を遮光しながら円板状の物体を通過させる通過部（例えば、図７の通路２６）と、前記不正検出部により不正が検出されない場合、前記波形情報と、前記制御信号との比較により、前記円板状の物体の通過を検出する通過検出部（例えば、図７の通過判定部１２７）をさらに含ませるようにすることができる。
【００２９】
前記波形情報取得部により取得される複数の波形の波形情報を記憶する波形情報記憶手段（例えば、図７の記憶部１２３ａ）と、前記波形情報記憶手段に記憶されている複数の波形の波形情報の各基準波形パラメータを平均化する平均化部（例えば、図７の受光波形パラメータ平均化部１２４）とをさらに含ませるようにすることができ、前記不正検出部（例えば、図７の比較判定部１２５）には、前記平均化部により平均化された各基準波形パラメータからなる波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報における各基準波形パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出させるようにすることができる。
【００３０】
［遊技機の構成例］
図１，図２は、本発明に係る遊技機の一実施の形態の構成例を示す図である。図１は、遊技機１の概観斜視図であり、図２は、遊技機１の前面扉５が開放され、内部の概観図が示されている。
【００３１】
図１で示されるように、遊技機１は、遊技操作面右部に設けられたメダルＭの投入口２より遊技媒体であるメダルMが投入されることにより遊技可能となる。より具体的には、メダルMが１乃至３枚投入されると図中左部に設けられたスタートレバーが操作可能となる。スタートレバーが操作されると、３つの回動体が回転し、それぞれに対応して設けられたストップボタンが操作されることにより回転が停止する。この際、停止した回動体の図柄が横、または斜めに揃うと、遊技機１は、揃った図柄に応じたメダルMを返却口３より排出する。
【００３２】
投入口２は、遊技操作面右中央部に設けられており、メダルＭを１枚ずつ受入れ、メダルセレクタ１０（図２乃至図５）に供給する。メダルセレクタ（メダル選別装置）１０は、投入口２より投入されたメダルMのうち、正規の大きさのメダルのみを内部に取込み、不適合の大きさのメダル類を外部の返却口３に返却する選別機能を備えている。
【００３３】
また、投入口２の下部には返却ボタン４が設けられている。返却ボタン４は、遊技者が遊技を中止したいとき押下するものであり、押下して操作された場合、メダルＭが返却口３から返却される。
【００３４】
図２で示されているように、前面扉５が開放された遊技機１の正面部１ａには上部に回動体（リール）６が設けられ、下部にはメダル取込み用またはメダル払出し用のホッパ７、図示しないメダル返却通路、および電源装置８とが設けられている。
【００３５】
一方、返却口３側の前面扉５の内面には、上部よりカバー９、メダルセレクタ（メダル選別装置）１０、および返却口３とが、同順に配設されている。以上のような構成により、遊技者により投入口２からメダルＭが投入されると、遊技機１は、回動体６を回転または停止させることで遊技を実現させる。
【００３６】
［メダルセレクタの構成例］
次に、図３乃至図５を参照して、メダルセレクタ（メダル選別装置）１０の構成例について説明する。ここで、図３は、メダルセレクタ１０の基板表面側からの外観斜視図であり、図４はメダルセレクタ１０の基板裏面側を示す外観斜視図であり、図５は、基板２１と開閉板２２との一対を組合せて構成されるメダルセレクタ１０の分解斜視図である。
【００３７】
メダルセレクタ（メダル選別装置）１０は、平面視コの字状の基板２１と、開閉板２２とを備え、開閉板２２側の支軸２３を基板２１側の軸受部２４に軸支すると共に、バネ２５により開閉板２２を常時基板２１側に付勢し、これら基板２１と開閉板２２との両者によりメダルＭが通過するための通路２６を形成している。
【００３８】
この通路２６は、上部の（挿入口）入口２７と下方の出口２８とを有するＬ字状に形成され、投入口２に連接される入口２７から下方に延びる縦辺部Ｒ１と、斜め下方に延びて出口２８に至る横辺部Ｒ２と、これら両辺部Ｒ１，Ｒ２を湾曲状に連通接続する湾曲部Ｒ３とを備えている。
【００３９】
また、基板２１裏面側の支軸２９を支点として揺動可能な可動ガイド板３０が設けられている。この可動ガイド板３０は、横長のガイド部３１を基板２１の開口部３２から通路２６の上部に沿設し、このガイド部３１でメダルＭの上端側を搬送方向にガイドするように構成している。
【００４０】
さらに、上述の可動ガイド板３０には、基板２１の裏面側に位置する排出部材としてのブロッカ３３を一体に折り曲げ形成し、このブロッカ３３の下端ブロック部３３ａを通路２６の下流側の開口部２６ａから通路２６に出没可能に構成している。
【００４１】
また、上述の基板２１の裏面側にはソレノイド３４で駆動される可動板３５が設けられており、この可動板３５の遊端３５ａが可動ガイド板３０の上端３０ａに対向して設けられ、ソレノイド３４のＯＮ時に可動板３５の遊端３５ａで可動ガイド板３０の上端３０ａが押圧されることにより、可動ガイド板３０のガイド部３１が、メダルＭの上端側の搬送をガイドすると共に、ブロッカ３３の下端ブロック部３３ａを通路２６の開口部２６ａから基板２１の裏面側に後退させる。これにより、有効と選別された正規のメダルＭは出口２８へと搬送され、無効と選別された不適合の大きさのコイン類は開閉板２２の排出口２２ａから排出させて、外部（遊技機の返却口）に返却されるように構成されている。
【００４２】
ソレノイド３４のＯＦＦ時には、可動ガイド板３０がメダルＭの上端側の搬送ガイドが解除されると共に、ブロッカ３３の下端ブロック部３３ａが通路２６側へ突出されることにより、メダルＭの受入れが中止される。
【００４３】
この通路２６の横辺部Ｒ２は、横辺部Ｒ２の上下に対設される可動ガイド板３０のガイド部３１と通路２６の下面を形成する案内プレート２６ｂとの上下に平行する間隔により直径の小さなメダルＭを通路外に排除する外形選別を実施し、正規の大きさのメダルＭのみを通過させて計数するように構成している。
【００４４】
従って、出口２８からは一定の大きさの円板形状を有する適正な大きさのメダルＭのみがホッパ7に取込まれる。この出口２８の直前において通路２６を形成する基板２１の通路壁には、通路２６の横辺部Ｒ２を通過するメダルＭを検出して計数するための２箇所のセンサからなるセンサ７１を、この通路方向に順に取付けている。
【００４５】
これらのセンサ７１は、第１センサと第２センサからなる２箇所のセンサから構成されており、それぞれのセンサにおいて投受光してメダルＭの通過を検出する光学式検出センサとして機能し、メダルＭが通路２６に沿って下流側に移動し、このメダルＭが第１センサ、および第２センサの、それぞれの光路をこの順に遮ることで、メダルＭの通過を検出する。このため、第１センサ、および第２センサは、適正なメダルＭの直径より小さくなる間隔に配置されている。
【００４６】
［センサの構成例］
次に、図６，図７を参照して、センサ７１の詳細な構成例について説明する。
【００４７】
センサ７１における第１センサは、投光口１０１−２から投光され、受光口１０２−２により受光される光路を横切るメダルＭの有無を検出し、第２センサは、投光口１０１−１から投光され、受光口１０２−１により受光される光路を横切るメダルＭの通過を検出する。
【００４８】
より詳細には、投光口１０１−１は、図７で示されるように、その内部に設けられたLED（Light Emission Diode）などからなる投光部１１１より投光された変調光を光路Ｌ１−１で示されるように投光し、反射板１１３により反射させて、光路Ｌ２−１より受光口１０２−１を介して受光部１１４に受光させる。受光部１１４は、受光した光を光電変換により電気信号に変換して受光信号として通過検出部１１５に供給する。
【００４９】
尚、以降において、投光口１０１−１，１０１−２、および受光口１０２−１，１０２−２、並びに光路Ｌ１−１，Ｌ１−２，Ｌ２−１，Ｌ２−２のそれぞれについて、特に区別する必要がない場合、単に、投光口１０１、受光口１０２、光路Ｌ１，Ｌ２と称するものとし、その他の構成についても同様に称するものとする。また、図７においては、投光口１０１−１、受光口１０２−１についてのみが、投光口１０１、受光口１０２として表示されているが、投光口１０１−２、受光口１０２−２については、投光部１１１、および受光部１１４の配置が物理的に入替っているのみであり、その他の構成との関係については、同様であるので、その説明は省略するものとする。
【００５０】
投光制御部１１２は、投光部１１１の投光を制御する制御信号を供給し、予め定められたタイミングで投光部１１１を投光させることにより変調光を発生させる。このとき、投光制御部１１２は、投光部１１１における投光のタイミングを示す制御信号を通過検出部１１５にも供給する。
【００５１】
通過検出部１１５は、閾値判定部１２１、基準波形パラメータ記憶部１２２、受光波形パラメータ取得部１２３、受光波形パラメータ平均化部１２４、比較判定部１２５、Ａ／Ｄ変換部１２６、および通過判定部１２７より構成されている。通過検出部１１５は、受光部１１４より供給されてくる受光信号と、投光制御部１１２より供給されてくる制御信号とを比較し、一致するか否かにより通路２６をメダルMが通過したか否かを判定し、第１センサおよび第２センサの通過の検出タイミングなどからメダルの通過を検出したとき、カウンタ１３１に通過を知らせる通過信号を供給する。また、通過検出部１１５は、受光信号の波形から不正の有無を検出し、不正を検出した場合、不正発報部１３２にその旨を通知する。この通知により、不正検出部１３２は、不正を検出したことを発報する。
【００５２】
通過検出部１１５の閾値判定部１２１は、受光部１１４より供給されるアナログ信号からなる受光信号の受光レベルを所定の閾値と比較する。基準波形パラメータ記憶部１２２は、投光部１１１により投光された変調光が反射部１１３により反射されて受光部１１４にて受光される際に発生する受光信号を波形化したときの波形を特定するためのパラメータとして、基準波形パラメータを記憶している。より具体的には、基準波形パラメータは、受光波形となるパルス波形における立上り時間、パルス幅、立下り時間、および受光レベルであり、基準波形パラメータ記憶部１２２では、これらの基準波形パラメータを予め記憶している。尚、基準波形パラメータ記憶部１２２に記憶される基準波形パラメータは、投光部１１１に対応した情報であるので、例えば、投光部１１１が設定される際に、キャリブレーションにより投光部１１１が変調光を投光したものを測定し、測定結果を記憶させるようにしても良い。
【００５３】
受光波形パラメータ取得部１２３は、受光信号より形成される波形に基づいて、受光波形パラメータを取得し、所定数だけ内蔵する記憶部１２３ａに記憶させる。
【００５４】
受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータ取得部１２３の記憶部１２３ａに記憶されている所定数の受光波形パラメータについて、それぞれの受光波形パラメータ毎に平均化する。
【００５５】
比較判定部１２５は、平均化された受光波形パラメータと、基準波形パラメータとをそれぞれ比較し、受光波形と基準波形が一致するか否かを判定する。そして、比較判定部１２５は、一致しないとき不正が発生したものとみなし、不正を検出する。
【００５６】
Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換部１２６は、アナログ波形の受光波形をデジタル波形に変換する。
【００５７】
通過判定部１２７は、デジタル波形に変換された受光波形と、制御信号により想定される波形とを比較し、一致しない状態が所定時間内だけ継続した場合、すなわち、所定パルス分一致しない場合、メダルＭの通過を検出する。
【００５８】
カウンタ１３１は、通過検出部１１５からの検出結果である通過信号に基づいて、メダルＭを計数する。
【００５９】
［センサによる通過検出動作］
次に、図８のフローチャートを参照して、図７のセンサ７１によるメダルＭの通過検出動作について説明する。
【００６０】
ステップＳ１１において、投光制御部１１２は、投光部１１１を投光させる制御信号を発生する。そして、投光制御部１１２は、発生した制御信号を、投光部１１１、および通過検出部１１５に供給する。投光部１１１は、投光制御部１１２からの制御信号に基づいて、光路Ｌ１方向に投光させる。この処理により、メダルＭの通路２６上にメダルＭが存在しなければ、投光部１１１により発光される変調光が光路Ｌ１より投光されて、反射板１１３により反射され、光路Ｌ２より受光部１１４に順次受光される。さらに、受光部１１４は、受光した光を光電変換し、受光信号として通過検出部１１５に供給する。
【００６１】
ステップＳ１２において、通過検出部１１５は、受光信号に基づいて、図１１を参照して後述する不正判定動作を実行し、不正の有無を判定する。
【００６２】
ステップＳ１３において、通過検出部１５は、ステップＳ１２の不正判定動作により不正が検出されたか否かを判定する。ステップＳ１３において、例えば、不正判定動作により不正が検出されなかった場合、ステップＳ１４において、Ａ／Ｄ変換部１２６は、図９の上部で示されるようなアナログ信号の受光信号を、図９の下部で示されるようなデジタル信号に変換する。より具体的には、Ａ／Ｄ変換部１２６は、図９の上部で示されるように、アナログ信号における受光信号と、閾値Ｔとを比較し、閾値Ｔよりも高い受光レベルの場合、光を検出している信号とし、閾値Ｔよりも低い受光レベルの場合、光を検出していない非検出の信号とすることによりデジタル信号に変換する。尚、図９の上部においては、受光レベルが低い、すなわち、光量が弱いほど高い値として表記され、受光レベルが高くなるにつれて、低い値として表記されている。また、図９の下部においては、光を検出した信号がＬｏｗであり、非検出の場合がＨｉとなっている。
【００６３】
ステップＳ１５において、通過判定部１２７は、Ａ／Ｄ変換部１２６によりデジタル信号に変換された受光信号と、投光制御部１１２より供給されてくる制御信号とを比較し、受光信号における光を受光したタイミングと、制御信号における投光部１１１が投光するタイミングとが一致するか否かを判定する。
【００６４】
より詳細には、例えば、図１０の最上段で示されるように、センサ７１の投光部１１１が、時刻ｔ２乃至ｔ３，ｔ４乃至ｔ５，ｔ６乃至ｔ７，ｔ８乃至ｔ９，ｔ１０乃至ｔ１１，ｔ１２乃至ｔ１３，ｔ１４乃至ｔ１５・・・において、点灯することで光路Ｌ１方向に投光し、時刻ｔ０乃至ｔ２，ｔ３乃至ｔ４，ｔ５乃至ｔ６，ｔ７乃至ｔ８，ｔ９乃至ｔ１０，ｔ１１乃至ｔ１２，ｔ１３乃至ｔ１４・・・において消灯することにより、時刻ｔ０乃至ｔ６のタイミングにおいて、メダルＭが通路２６上を移動して、光路Ｌ１，Ｌ２を横切ったとき、受光部１１４においては、光路Ｌ１，Ｌ２を介して変調光が受光できない状態となる。このため、図１０の上から２段目における時刻ｔ０乃至ｔ６で示されるように、受光部１１４においては光が非検出の状態となる。
【００６５】
そこで、ステップＳ１５において、通過判定部１２７は、投光部１１１により変調光が投光されるタイミングを示す制御信号と、受光部１１４により受光されるタイミングを示す受光信号とが一致しない場合、処理は、ステップＳ１６に進む。尚、図１０においては、１パルス単位で一致するか否かによりメダルＭの通過の有無が判定されているが、実際には、通過判定部１２７は、パルス波として供給されてくる制御信号に対して、受光信号のうち直近の数パルス分の比較に基づいて、一致しているか否かを判定する。
【００６６】
ステップＳ１６において、通過判定部１２７は、受光信号と制御信号とが一致しない状態であること、すなわち、メダルＭが検出された状態であることを示す通過信号をカウンタ１３１に通知する。尚、詳細には、受光部１１４が遮光状態であることのみが信号として通知される。カウンタ１３１は、受光信号と制御信号とが一致しない状態であること、すなわち、メダルＭが検出された状態が所定時間以上継続しているか否かを判定する。すなわち、メダルＭが通過する場合、受光信号と制御信号とが一致しない状態は、通過に要する所定時間、すなわち、数十パルス分の時間に限られるはずであるので、それ以上である場合は、何らかの不正行為がなされている可能性がある。
【００６７】
そこで、ステップＳ１６において、受光信号と制御信号とが一致しない状態が所定時間以上ではない場合、ステップＳ１７において、カウンタ１３１は、メダルＭの通過を認識し、２箇所あるセンサにおけるメダルＭの通過を検出したタイミングの差分などからメダルＭを計数する。そして、処理は、ステップＳ１１に戻り、以降の処理が繰り返される。
【００６８】
すなわち、カウンタ１３１は、図９の最下段で示されるように、時刻ｔ０乃至ｔ６において、メダルＭの通路２６の通過に要する時間は数パルス内であるので、メダルの通過が検出される。
【００６９】
一方、ステップＳ１５において、時刻ｔ７以降のタイミングについては、メダルＭが通路２６上に存在せず、光路Ｌ１，Ｌ２を介して変調光が投光部１１１より投光され続けている場合、図９の３段目で示されるように、受光部１１４においては、光路Ｌ１，Ｌ２を介して変調光が受光できる状態が維持され、かつ、それぞれ時刻ｔ６乃至ｔ７，ｔ８乃至ｔ９，ｔ１０乃至ｔ１１，ｔ１２乃至ｔ１３，ｔ１４乃至ｔ１５・・・で示されるように、制御信号と受光信号とが一致するので、ステップＳ１６，Ｓ１７の処理がスキップされて、処理は、ステップＳ１１に戻る。
【００７０】
また、ステップＳ１６において、所定時間以上であると判定された場合、不正がなされたものとみなし、ステップＳ１７の処理がスキップされて、処理は、ステップＳ１１に戻る。
【００７１】
さらに、ステップＳ１３において、不正が検出されていると判定された場合、ステップＳ１８において、Ａ／Ｄ変換部１２６は、アナログ受光波形を変換する際、非検出の信号のみのデジタル信号に変換する。この結果、ステップＳ１５においては、投光部１１１にが投光するタイミングと同一のタイミングで、受光部１１４においては受光されていないと判定されることなる。さらに、非検出の状態が、所定時間以上継続することになるので、ステップＳ１７の処理がスキップされ続けることになり、メダルＭが通過されない状態となる。
【００７２】
このように、不正が検出されない限り、制御信号と受光信号とが、所定時間だけ不一致であるとき（メダルＭの通過に要する数パルス分の所定時間だけ遮光される状態であるとき）、メダルＭの通過が検出されて、検出結果に基づいて、カウンタ１３１がメダルＭを計数することが可能となる。また、不正が検出された際には、メダルＭの通過が検出されない状態となるので、不正なメダルＭの計数を抑制することが可能となる。
【００７３】
尚、図１０の最上段においては、投光部１１１の変調光の発光タイミング、すなわち、実質的に、投光制御部１１２からの制御信号が示されている。また、図１０の２段目は、センサ７１の受光部１１４により出力される受光信号がデジタル信号に変換された信号が示されている。また、図１０の３段目は、通過判定部１２７の検出結果を示す信号が示されている。
【００７４】
次に、図１１のフローチャートを参照して、図８のフローチャートにおけるステップＳ１２の不正判定動作について説明する。
【００７５】
ステップＳ３１において、閾値判定部１２１は、投光制御部１１２より供給されてくる制御信号に基づいて、投光部１１１が投光しているタイミングと同一のタイミングで、アナログ信号の受光信号における受光レベルが所定の閾値以上であるか否かを判定する。すなわち、閾値判定部１２１は、制御信号に基づいて、投光部１１１の投光タイミングと一致する、アナログ信号のパルス状の波形が検出できているかを判定する。
【００７６】
ステップＳ３１において、例えば、投光部１１１が投光しているタイミングと同一のタイミングで、アナログ信号の受光信号における受光レベルが所定の閾値以上ではない場合、不正判定動作はできないので、不正がないものとして処理は終了する。
【００７７】
一方、ステップＳ３１において、投光部１１１が投光しているタイミングと同一のタイミングで、アナログ信号の受光信号における受光レベルが所定の閾値以上であり、パルス状の波形が検出されたと判定された場合、処理は、ステップＳ３２に進む。
【００７８】
ステップＳ３２において、受光波形パラメータ取得部１２３は、図１２で示されるように、パルス状の波形として認識されたアナログ信号からなる受光信号の受光波形の立上り時間α、パルス幅β、立下り時間γ、および受光レベルδを受光波形パラメータα，β，γ，δとして取得すると共に、記憶部１２３ａに記憶させる。すなわち、図１２で示されるように、受光波形パラメータα，β，γ，δは、受光される波形の形状を特定するためのパラメータである。尚、記憶部１２３ａに記憶できる受光波形パラメータは、所定数までであるので、最も古いパラメータを最も新しいパラメータに上書きして記憶していく。
【００７９】
ステップＳ３３において、受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータ取得部１２３の記憶部１２３ａに記憶されている受光波形パラメータが所定数記憶されているか否かを判定する。すなわち、受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータα，β，γ，δのそれぞれについて、所定数分について平均値を求めるため、所定数の受光波形パラメータが記憶されているか否かを判定する。
【００８０】
ステップＳ３３において、例えば、受光波形パラメータが所定数記憶されていないと判定された場合、処理は終了する。すなわち、所定数が記憶されるまでは、不正判定動作はできないことになるので、不正はないものとして処理を終了する。
【００８１】
一方、ステップＳ３３において、受光波形パラメータが所定数記憶されていると判定された場合、ステップＳ３４において、受光波形パラメータ平均化部１２４は、受光波形パラメータα，β，γ，δを、それぞれについて平均化し、平均受光波形パラメータαａｖ，βａｖ，γａｖ，δａｖする。
【００８２】
ステップＳ３５において、比較判定部１２５は、受光波形パラメータ平均化部１２４により平均化された平均受光波形パラメータαａｖ，βａｖ，γａｖ，δａｖと、基準波形パラメータα０，β０，γ０，δ０とをそれぞれ比較する。より具体的には、比較判定部１２５は、例えば、それぞれの差分また比などを求め、所定の閾値とを比較する。
【００８３】
ステップＳ３６において、比較判定部１２５は、比較結果から平均受光波形パラメータαａｖ，βａｖ，γａｖ，δａｖと、基準波形パラメータα０，β０，γ０，δ０とが、それぞれ一致しているか否か、すなわち、受光信号における受光波形と基準波形とが一致しているか否かを判定する。ステップＳ３６において、例えば、受光波形と基準波形とが一致していると判定された場合、投光部１１１からの変調光が受光されているものとみなし、ステップＳ３７の処理がスキップされて、不正がないものとして不正判定動作が終了する。
【００８４】
一方、ステップＳ３６において、例えば、受光波形と基準波形とが一致していないと判定された場合（投光部１１１以外の投光部からの変調光が受光されている場合）、処理は、ステップＳ３７に進む。
【００８５】
ステップＳ３７において、比較判定部１２５は、不正が検出されたものとみなし、不正発報部１３２に対してその旨を通知する。不正発報部１３２は、この通知に対応して不正が発生したことを画像、または、音声などにより発報する。
【００８６】
以上のような処理により、図７で示されるセンサ７１においては、例えば、図１５で示されるように、投入口２より不正治具１５１が挿入されるような場合でも、誤動作による不正を防止することができる。
【００８７】
ここで、不正治具１５１について説明する。不正治具１５１は、きしめん状の構造により、遊技機１の投入口２より通路２６の縦辺部Ｒ１、湾曲部Ｒ３、および横辺部Ｒ２を介して、順次その先端部がセンサ７１に到達する構成となっている。また、不正治具１５１の先端部分には、図１０で示されるように、反射板１１３に受光口１０２より受光部１１４で受光可能な光を発する不正投光部１６１と、その背面であって、投光口１０１に対応する位置に投光口１０１からの光を受光する不正受光部１６２とが設けられている。不正投光部１６１は、不正受光部１６２により光が受光されたタイミングで発光し、光路Ｌ１１で示される光を反射板１１３に投光する。したがって、投光口１０１より投光部１１１が投光する光と同一のタイミングで不正投光部１６１が発光されることで、受光部１１４は、あたかも通路２６にメダルＭが存在しない状態と同様の変調光を受光することになる。
【００８８】
また、この投光部１６１は、図示せぬ制御装置により発光タイミングが制御され、メダルＭが通路２６を通過したときに光路Ｌ１が遮光されるときのように、所定時間遮光されたように消灯しつつ、受光部１６２により受光した投光部１１１から投光された変調光と同期して投光する処理を繰り返す。このため、受光部１１４には、メダルＭが通路２６を通過していないにもかかわらず、あたかもメダルＭが通路２６を通過しているかのような状態を示す変調光が受光される。
【００８９】
ところで、投光部１１１および不正投光部１６１で使用されるようなLEDなどにおいては、個体差により受光部１１４により受光される波形が異なることが知られている。しかしながら、上述した不正検出処理を実行しない従来のセンサにおけるＡ／Ｄ変換処理では、単純に閾値Ｔを超えると検出信号とし、超えないときは非検出の信号に変換するといった処理がなされているため、図１４の上部で示されるように、投光部１１１および投光部１６２におけるLEDなどの個体差により生じる明らかに異なる受光波形を構成する受光信号であっても、図１４の下部で示されるように、同一のデジタル信号に変換されてしまう。このため、受光部１１４により受光されることにより発生される受光信号と、制御信号との比較により、不正にメダルＭがカウントされてしまうことがあった。
【００９０】
これに対して、本願の図７で示されるセンサ７１は、不正判定動作により、例えば、図１５の左上部の受光波形パラメータα１，β１，γ１，δ１と、図１５左の右上部の受光波形パラメータα２，β２，γ２，δ２とをそれぞれ基準波形パラメータα，β，γ，δと比較するようにした。この結果、図１２，図１５の左上部で示されるように、基準波形パラメータα，β，γ，δと受光波形パラメータα１，β１，γ１，δ１とが一致した場合、図１５の左下部で示されるように、アナログ信号の受光信号は、閾値Ｔよりも高い信号を検出信号に、閾値Ｔよりも低い信号を非検出信号にそれぞれ変換するので、適正なデジタル信号に変換される。一方、図１２，図１５の右上部で示されるように、基準波形パラメータα，β，γ，δと受光波形パラメータα２，β２，γ２，δ２とが一致しない場合、図１５の右下部で示されるように、アナログ信号の受光信号は、非検出信号のみのデジタル信号に変換され続けることになるので、上述したように、メダルＭの通過が検出されない状態となる。
【００９１】
結果として、受光部１１１より受光される変調光のみが通過検出動作で使用できることになるので、不正治具１５１のようなものを使用した、不正なメダルＭの計数を抑制することが可能となる。
【００９２】
また、受光波形パラメータと基準波形パラメータとの比較により不正の有無を検出するようにしたので、外乱光による誤動作も防止することが可能となる。
【００９３】
さらに、以上においては、複数の受光信号の受光波形パラメータにおける平均値と、基準波形パラメータとの比較に基づいて不正の有無を検出する例について説明してきたが、それぞれの受光波形パラメータと基準波形パラメータとの比較により、規定回数以上一致しない場合に、不正を検出するようにしても良い。
【００９４】
以上によれば、不正治具により遊技機における遊技媒体の不正な計数行為を抑制することが可能になると共に、不正治具の使用を認識して、不正を検出することが可能となる。
【００９５】
尚、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理は、もちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理を含むものである。
【図面の簡単な説明】
【００９６】
【図１】本発明を適用した遊技機の実施の形態の構成を示す概観斜視図である。
【図２】本発明を適用した遊技機の実施の形態の構成を示す概観図である。
【図３】セレクタの構成例を示す正面図である。
【図４】セレクタの構成例を示す背面図である。
【図５】セレクタの構成例を示す分解図である。
【図６】センサの構成例を示す概観図である。
【図７】第１の実施例のセンサの構成例を示す構成図である。
【図８】図７のセンサによる通過検出動作を説明するフローチャートである。
【図９】図７のセンサによる通過検出動作を説明する波形図である。
【図１０】図７のセンサによる通過検出動作を説明する波形図である。
【図１１】図７のセンサによる不正判定動作を説明するフローチャートである。
【図１２】受光波形パラメータを説明する波形図である。
【図１３】図７のセンサに不正治具が用いられた例を示す図である。
【図１４】図７のセンサに不正治具が用いられた場合の波形図である。
【図１５】図７のセンサによる不正判定動作を説明する波形図である。
【符号の説明】
【００９７】
１ 遊技機
１０ メダルセレクタ
７１ センサ
１１１ 投光部
１１２ 投光制御部
１１３ 反射板
１１４ 受光部
１１５ 通過検出部
１２１ カウンタ
１５１ 不正治具
１６１，１６１−１，１６１−２ 不正投光部
１６２，１６２−１，１６２−２ 不正受光部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を検出する受光部と、
前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部と、
前記受光部で検出可能な光を投光する投光部と、
前記投光部により投光される光が、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部と、
前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部と
を備える物体検出装置。
【請求項２】
所定の時間間隔で前記投光部を投光するための制御信号を発生する投光制御部と、
前記投光部と前記受光部との光路を遮光しながら円板状の物体を通過させる通過部と、
前記不正検出部により不正が検出されない場合、前記波形情報と、前記制御信号との比較により、前記円板状の物体の通過を検出する通過検出部をさらに含む
請求項１に記載の物体検出装置。
【請求項３】
前記基準波形情報は、前記基準波形の立上り時間、パルス幅、立下り時間、または受光レベルを示すパラメータを含む
請求項１，２に記載の物体検出装置。
【請求項４】
前記波形情報取得部により取得される複数の波形の波形情報を記憶する波形情報記憶部と、
前記波形情報記憶部に記憶されている前記複数の波形の波形情報の各パラメータを平均化する平均化部とをさらに含み、
前記不正検出部は、前記平均化部により平均化された各パラメータからなる波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報における各パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出する
請求項１乃至３に記載の物体検出装置。
【請求項５】
前記不正検出部は、前記波形情報取得部により取得される波形と、基準波形情報における各パラメータとが規定回数一致しないことで不正の有無を検出する
前記請求項１に記載の物体検出装置。
【請求項６】
請求項１乃至５に記載の物体検出装置を備えるメダル選別装置。
【請求項１】
光を検出する受光部と、
前記受光部により検出される受光レベルを波形情報として取得する波形情報取得部と、
前記受光部で検出可能な光を投光する投光部と、
前記投光部により投光される光が、前記受光部により検出されるときの受光レベルの波形の情報を基準波形情報として記憶する基準波形情報記憶部と、
前記波形情報取得部により取得された波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報とが一致するか否かにより不正の有無を検出する不正検出部と
を備える物体検出装置。
【請求項２】
所定の時間間隔で前記投光部を投光するための制御信号を発生する投光制御部と、
前記投光部と前記受光部との光路を遮光しながら円板状の物体を通過させる通過部と、
前記不正検出部により不正が検出されない場合、前記波形情報と、前記制御信号との比較により、前記円板状の物体の通過を検出する通過検出部をさらに含む
請求項１に記載の物体検出装置。
【請求項３】
前記基準波形情報は、前記基準波形の立上り時間、パルス幅、立下り時間、または受光レベルを示すパラメータを含む
請求項１，２に記載の物体検出装置。
【請求項４】
前記波形情報取得部により取得される複数の波形の波形情報を記憶する波形情報記憶部と、
前記波形情報記憶部に記憶されている前記複数の波形の波形情報の各パラメータを平均化する平均化部とをさらに含み、
前記不正検出部は、前記平均化部により平均化された各パラメータからなる波形情報と、前記基準波形情報記憶部に記憶されている基準波形情報における各パラメータとが一致するか否かにより不正の有無を検出する
請求項１乃至３に記載の物体検出装置。
【請求項５】
前記不正検出部は、前記波形情報取得部により取得される波形と、基準波形情報における各パラメータとが規定回数一致しないことで不正の有無を検出する
前記請求項１に記載の物体検出装置。
【請求項６】
請求項１乃至５に記載の物体検出装置を備えるメダル選別装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【公開番号】特開２０１０−８８６５８（Ｐ２０１０−８８６５８Ａ）
【公開日】平成２２年４月２２日（２０１０．４．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２６１７０１（Ｐ２００８−２６１７０１）
【出願日】平成２０年１０月８日（２００８．１０．８）
【出願人】（０００００２９４５）オムロン株式会社 (3,542)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年４月２２日（２０１０．４．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１０月８日（２００８．１０．８）
【出願人】（０００００２９４５）オムロン株式会社 (3,542)
【Ｆターム（参考）】
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