物品検査装置
【課題】受光素子列に対する放射線遮蔽部材の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能な物品検査装置を得る。
【解決手段】Ｘ線検出部８は、基台２１と、基台２１の上面上に配置された基板２６と、基板２６の上面上に配置された受光素子列２７と、受光素子列２７の受光面を覆って配置されたシンチレータ２８と、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ及びスリット３４を有するコリメータ３３と、基台２１の上面の所定箇所から起立する円柱部材２２Ａ，２２Ｂとを有し、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂを挿通するとともに、基板２６の側面を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接することにより、受光素子列２７がスリット３４の下方においてスリット３４に平行に位置決めされる。
【解決手段】Ｘ線検出部８は、基台２１と、基台２１の上面上に配置された基板２６と、基板２６の上面上に配置された受光素子列２７と、受光素子列２７の受光面を覆って配置されたシンチレータ２８と、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ及びスリット３４を有するコリメータ３３と、基台２１の上面の所定箇所から起立する円柱部材２２Ａ，２２Ｂとを有し、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂを挿通するとともに、基板２６の側面を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接することにより、受光素子列２７がスリット３４の下方においてスリット３４に平行に位置決めされる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は物品検査装置に関し、特に、Ｘ線検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、物品内への異物の混入の有無等を検査するＸ線検査装置は、物品搬送面を有するベルトコンベアと、物品搬送面の上方に配置され、物品搬送面の所定領域に向けて扇形状にＸ線を照射するＸ線照射部と、物品搬送面の下方に配置され、物品を透過したＸ線を検出するＸ線検出部とを備えて構成されている。
【０００３】
なお、下記特許文献１，２には、シンチレータ、コリメータ、及び受光素子が、開口部を有する遮蔽体内に収容された構成のラインセンサユニットが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−３２９９０５号公報
【特許文献２】特開２００８−５１６２６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
いわゆる間接型のラインセンサは、物品搬送方向と直交する所定方向に沿って並設された複数の受光素子を有する受光素子列と、受光素子列の受光面を覆って配置されたシンチレータとを有して構成されている。ここで、製造プロセスの都合上、シンチレータの幅は受光素子列の幅よりも広く設定されている。つまり、シンチレータは、受光素子列の真上に位置する中央部と、受光素子列の真上からはみ出た縁部とを有している。シンチレータの縁部にＸ線が照射されると、中央部において発生した可視光のみならず、縁部において発生した可視光も受光素子に入射されてしまうため、物品の画像が不鮮明となる。そこで、シンチレータの縁部にＸ線が照射されることを防止すべく、シンチレータ上にコリメータが配置される場合がある。コリメータは、上記所定方向に沿って延在するスリットを有し、物品を透過したＸ線をスリットを介してシンチレータに入射するとともに、スリット以外の部分においてＸ線を遮蔽する。
【０００６】
鮮明な画像を得るためには、スリットが受光素子列の直上に位置するように、コリメータを受光素子列に対して正しく位置決めする必要がある。しかしながら、受光素子列はシンチレータによって覆われているため、スリットの上方から受光素子列を眺めても、受光素子列の位置を視認することができない。そこで従来は、まず、受光素子列の直上と思われる箇所にスリットが位置するようにコリメータを暫定的に配置した後、Ｘ線の照射及び検出を行って物品の画像を実際に取得する。次に、取得した画像が鮮明であるか否かを目視で確認し、画像が鮮明でなければコリメータの位置を微調整することにより、受光素子列に対するコリメータの位置決めを行っていた。
【０００７】
従って、鮮明な画像が得られるまで上記の作業を繰り返す必要があるため、その作業性が悪いという問題がある。また、画像が鮮明であるか否かは作業者の主観によって判断されるため、作業者の能力及び経験によって位置決めの精度がばらつくという問題もある。さらにＸ線受光素子は消耗品のため一定期間後に交換する場合もあるが、その交換時にも同様の問題が発生することが予想され、納品後の品質にも影響する問題である。
【０００８】
本発明はかかる事情に鑑みて成されたものであり、受光素子列に対する放射線遮蔽部材の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能な物品検査装置を得ることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の第１の態様に係る物品検査装置は、検査対象である物品に対して放射線を照射する照射部と、物品を透過した放射線を検出する検出部とを備え、前記検出部は、基台と、前記基台の主面上に配置された基板と、前記基板の主面上に配置され、所定方向に沿って並設された複数の受光素子を有する受光素子列と、前記受光素子列の受光面を覆って配置され、放射線を可視光に変換して前記受光素子列に入射する変換膜と、少なくとも二つの貫通孔と、前記所定方向に沿って延在するスリットとを有し、物品を透過した放射線を前記スリットを介して前記変換膜に入射するとともに、前記スリット以外の部分において放射線を遮蔽する放射線遮蔽部材と、前記基台の主面の所定箇所から起立する少なくとも二つの柱状部材とを有し、前記貫通孔内に前記柱状部材を挿通するとともに、前記基板の側面を前記柱状部材に当接することにより、前記受光素子列が前記スリットの下方において前記スリットに平行に位置決めされることを特徴とするものである。
【００１０】
第１の態様に係る物品検査装置によれば、放射線遮蔽部材は少なくとも二つの貫通孔を有し、基台の主面の所定箇所から少なくとも二つの柱状部材が起立している。そして、貫通孔内に柱状部材を挿通するとともに、基板の側面を柱状部材に当接することにより、受光素子列がスリットの下方においてスリットに平行に位置決めされる。従って、受光素子列に対する放射線遮蔽部材の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能となる。
【００１１】
本発明の第２の態様に係る物品検査装置は、第１の態様に係る物品検査装置において特に、前記放射線遮蔽部材は、前記スリットが形成された第１層と、前記第１層を補強する第２層とを有することを特徴とするものである。
【００１２】
第２の態様に係る物品検査装置によれば、放射線遮蔽部材は、スリットが形成された第１層と、第１層を補強する第２層とを有する。第１層及び第２層のうち第１層のみにスリットを形成することにより、スリットの深さが浅くなるため、加工時の熱歪みに起因する変形を回避することができる。また、第２層によって第１層を補強するため、板厚が薄いことに起因する反りの発生を回避することができる。
【００１３】
本発明の第３の態様に係る物品検査装置は、第１又は第２の態様に係る物品検査装置において特に、前記所定方向に沿って延在する凹部が所定の側面に形成された第１の板材の当該側面と、第２の板材の側面とを接合することにより、前記凹部として前記スリットが形成されることを特徴とするものである。
【００１４】
第３の態様に係る物品検査装置によれば、所定方向に沿って延在する凹部が所定の側面に形成された第１の板材の当該側面と、第２の板材の側面とを接合することにより、凹部としてスリットが形成される。凹部は第１の板材の側面に形成されるため、板材の中央部を貫通することによってスリットを形成する場合と比較すると、加工時の熱歪みに起因する変形を低減し、かつ凹部の幅を狭くすることができる。
【００１５】
本発明の第４の態様に係る物品検査装置は、第１〜第３のいずれか一つの態様に係る物品検査装置において特に、前記基板は長方形状の上面構造を有し、前記基板は、前記長方形の長辺の端部近傍において前記柱状部材に当接することを特徴とするものである。
【００１６】
第４の態様に係る物品検査装置によれば、基板は長方形状の上面構造を有し、基板は、長方形の長辺の端部近傍において柱状部材に当接する。従って、基板が長方形の長辺の中央部近傍のみにおいて柱状部材に当接する場合と比較すると、基板を目的の位置に正しく固定することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、受光素子列に対する放射線遮蔽部材の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置の構成を示す正面図である。
【図２】シールドボックスの内部を模式的に示す斜視図である。
【図３】Ｘ線検出部が備えるラインセンサユニットの構造を示す上面図である。
【図４】ラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図５】ラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図６】ラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図７】ラインセンサユニットの構造を示す断面図である。
【図８】コリメータの構造を示す上面図である。
【図９】コリメータを構成する部品を示す上面図である。
【図１０】コリメータの構造を示す断面図である。
【図１１】変形例に係るラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図１２】変形例に係るラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図１３】変形例に係るラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、異なる図面において同一の符号を付した要素は、同一又は相応する要素を示すものとする。
【００２０】
図１は、本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置１の構成を示す正面図である。図１に示すようにＸ線検査装置１は、上部筐体２、シールドボックス３、及び下部筐体４を備えて構成されている。上部筐体２には、液晶表示装置等の表示部５が配設されている。シールドボックス３内には、搬送コンベア６、Ｘ線照射部７、及びＸ線検出部８が配設されている。シールドボックス３には、物品搬入口１３及び物品搬出口１４が形成されている。搬送コンベア６の上流端（図１では左端）は物品搬入口１３からシールドボックス３の外部に突出しており、下流端（図１では右端）は物品搬出口１４からシールドボックス３の外部に突出している。搬送コンベア６は、食品等の物品１２を上流端から下流端に向けて搬送する。下部筐体４内には、コンピュータ９が配設されている。
【００２１】
搬送コンベア６の上流には搬送コンベア１０が配設されている。搬送コンベア１０は、物品１２を搬送コンベア６の上流端に供給する。搬送コンベア６の下流には搬送コンベア１１が配設されており、搬送コンベア１１には任意の振分装置１５が配設されている。振分装置１５は、Ｘ線検査装置１によって異物の混入等が検出された物品１２を、良品の製造ラインから排除する。
【００２２】
図２は、シールドボックス３の内部を模式的に示す斜視図である。Ｘ線照射部７は、搬送コンベア６の物品搬送面の上方に配設されている。Ｘ線検出部８は、物品搬送面の下方に配設されている。Ｘ線照射部７は、Ｘ線検出部８に向かって扇形状にＸ線を照射する。搬送コンベア６は、搬送コンベア１０から供給された物品１２を、Ｘ線照射部７とＸ線検出部８との間のＸ線照射経路１００を通過するように搬送する。Ｘ線検出部８は物品１２を透過したＸ線を検出し、その検出結果から得られるＸ線透過画像に基づいて、物品１２内への異物の混入の有無等が検査される。
【００２３】
図３は、Ｘ線検出部８が備えるラインセンサユニット２０の構造を示す上面図である。また、図４〜６は、ラインセンサユニット２０の組み立て工程を順に示す上面図である。また、図７は、図３に示したラインＰ−Ｐに沿った位置に関する断面構造を示す断面図である。
【００２４】
まず図４を参照して、基台２１の上面（主面）には、円柱部材２２Ａ，２２Ｂが互いに離間して固定されている。円柱部材２２Ａ，２２Ｂは、基台２１の上面の所定箇所から垂直に起立している。円柱部材２２Ａ，２２Ｂとしては、例えば、断面が円形の棒ネジを用いることができる。また、基台２１の上面の所定箇所には、背の低い円柱状の突起２３が固定されている。また、基台２１の上面の所定箇所には、ネジ穴２４Ａ，２４Ｂ，２５Ａ，２５Ｂが形成されている。
【００２５】
次に図５を参照して、基台２１の上面上にラインセンサ７０を載置する。ラインセンサ７０は、図７に示すように、基板２６と、基板２６の上面（主面）上に配置された受光素子列２７と、受光素子列２７の受光面（上面）を覆って配置されたシンチレータ２８とを備えている。シンチレータ２８は、Ｘ線を可視光に変換して受光素子列２７に入射する。
【００２６】
図５を参照して、基板２６は長方形状の上面構造を有しており、基板２６の短辺（長方形の短辺）は搬送コンベア６による物品搬送方向に平行であり、基板２６の長辺（長方形の長辺）は物品搬送方向に直交する。受光素子列２７（図５には表れない）は、基板２６の長辺方向に沿って並設された複数の受光素子を有している。また、シンチレータ２８は、基板２６の長辺方向に沿って延在している。ここで、製造プロセスの都合上、シンチレータ２８の幅は受光素子列２７の幅よりも広く設定されている。つまり、シンチレータ２８は、受光素子列２７の真上に位置する中央部と、受光素子列２７の真上からはみ出た縁部とを有している。
【００２７】
ラインセンサ７０を基台２１の上面上に載置する際には、基板２６の一方の長辺に対応する側面２６Ｓ１を、円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接させるとともに、基板２６の一方の短辺に対応する側面２６Ｓ２を、突起２３に当接させる。つまり、円柱部材２２Ａ，２２Ｂと突起２３とによって、基台２１の上面上におけるラインセンサ７０の載置箇所が規定される。図５に示すように、円柱部材２２Ａは、側面２６Ｓ１の一方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されており、円柱部材２２Ｂは、側面２６Ｓ１の他方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されている。
【００２８】
次に図６を参照して、固定部材２９によってラインセンサ７０を固定する。具体的には、固定部材２９の両端に形成されている突出部３２Ａ，３２Ｂによって、基板２６の他方の長辺に対応する側面２６Ｓ３を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに向けて押し付け、その状態で、固定部材２９の長穴３０Ａ，３０Ｂ及び基台２１のネジ穴２４Ａ，２４Ｂ内にネジ３１Ａ，３１Ｂをそれぞれ螺挿する。ここで、図６，７に示すように突出部３２Ａ，３２Ｂの先端には鍔部が形成されており、鍔部によって基板２６の上面の端部が下方に押さえ付けられる。これにより、ラインセンサ７０が基台２１の上面上に固定される。
【００２９】
次に図３を参照して、図６に示した構造上にコリメータ３３を配置する。コリメータ３３には、円柱部材２２Ａ，２２Ｂの配置箇所に対応して貫通孔３５Ａ，３５Ｂがそれぞれ形成されている。従って、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂを挿通することにより、コリメータ３３の配置箇所が規定される。また、コリメータ３３は長方形状の上面構造を有しており、コリメータ３３の短辺（長方形の短辺）は搬送コンベア６による物品搬送方向に平行であり、コリメータ３３の長辺（長方形の長辺）は物品搬送方向に直交する。
【００３０】
コリメータ３３には、その長辺方向に沿って延在するスリット３４が形成されている。コリメータ３３は、Ｘ線をスリット３４を介して通過するとともに、スリット３４以外の部分においてＸ線を遮蔽する。スリット３４の形状及び形成箇所は、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂを挿通した時にスリット３４が受光素子列２７の直上で受光素子列２７に平行に位置決めされるように、適切に設計されている。また、コリメータ３３には貫通孔３６Ａ，３６Ｂが形成されており、コリメータ３３の貫通孔３６Ａ，３６Ｂ及び基台２１のネジ穴２５Ａ，２５Ｂ内にネジ３７Ａ，３７Ｂをそれぞれ螺挿することにより、コリメータ３３が基台２１上に固定される。
【００３１】
図８は、コリメータ３３の構造を示す上面図である。また、図９は、コリメータ３３を構成する部品を示す上面図である。また、図１０は、図８に示したラインＱ−Ｑ及びラインＲ−Ｒに沿った位置に関する断面構造を示す断面図である。図１０の（Ａ）にはラインＱ−Ｑに沿った位置に関する断面構造を示しており、図１０の（Ｂ）にはラインＲ−Ｒに沿った位置に関する断面構造を示している。
【００３２】
図８〜１０に示すように、コリメータ３３は、金属製の板材３３１，３３２を含む第１層と、金属製の板材３３３を含む第２層とを有する二層構造を成している。下層の板材３３３は、上層の板材３３１，３３２の底面に接合されることにより、板材３３１，３３２の強度を補強している。
【００３３】
図９の（Ｂ）を参照して、板材３３２の側面５２には、例えばレーザ加工によって、幅Ｗが例えば０．５〜１ｍｍ程度の凹部５０が形成されている。凹部５０の幅Ｗは、受光素子列２７の幅に応じて設定される。また、図９の（Ａ）を参照して、板材３３１の側面５１は直線状である。板材５５１の側面５１と板材３３２の側面５２とを溶接等によって接合することにより、側面５１，５２によって挟まれる凹部５０として、スリット３４が形成される。なお、平面視上、スリット３４と板材３３３とは重複していない。
【００３４】
本実施の形態に係るＸ線検査装置１（物品検査装置）によれば、コリメータ３３は貫通孔３５Ａ，３５Ｂを有しており、また、基台２１の上面の所定箇所から円柱部材２２Ａ，２２Ｂが起立している。そして、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂをそれぞれ挿通するとともに、基板２６の側面２６Ｓ１を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接することにより、受光素子列２７がスリット３４の下方においてスリット３４に平行に位置決めされる。従って、受光素子列２７に対するコリメータ３３の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能となる。
【００３５】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、コリメータ３３は、スリット３４が形成された第１層（板材３３１，３３２）と、第１層を補強する第２層（板材３３３）とを有する。第１層及び第２層のうち第１層のみにスリット３４を形成することにより、スリット３４の深さが浅くなるため、加工時の熱歪みに起因する変形を回避することができる。また、第２層によって第１層を補強するため、板厚が薄いことに起因する反りの発生を回避することができる。
【００３６】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、所定方向に沿って延在する凹部５０が側面５２に形成された板材３３２の当該側面５２と、板材３３１の側面５１とを接合することにより、凹部５０としてスリット３４が形成される。凹部５０は板材３３２の側面５２に形成されるため、板材の中央部を貫通することによってスリットを形成する場合と比較すると、加工時の熱歪みに起因する変形を低減し、かつ凹部５０の幅を狭くすることができる。
【００３７】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、基板２６は、長方形状の上面構造を有しており、その長方形の長辺の端部近傍において円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接する。従って、基板が長方形の長辺の中央部近傍のみにおいて円柱部材に当接する場合と比較すると、基板２６を目的の位置に正しく固定することができる。
【００３８】
図１１〜１３は、変形例に係るラインセンサユニット２０の組み立て工程を順に示す上面図である。上記実施の形態で説明したラインセンサ７０の基板２６が長辺方向に関して二分割されることにより、ラインセンサ７０は基板２６１，２６２を有している。
【００３９】
まず図１１を参照して、基台２１の上面には、円柱部材２２Ａ〜２２Ｄが互いに離間して固定されている。円柱部材２２Ａ〜２２Ｄは、基台２１の上面の所定箇所から垂直に起立している。ラインセンサ７０を基台２１の上面上に載置する際には、基板２６１の一方の長辺に対応する側面２６１Ｓ１を、円柱部材２２Ａ，２２Ｃに当接させるとともに、基板２６１の一方の短辺に対応する側面２６１Ｓ２を、突起２３に当接させる。また、基板２６２の一方の長辺に対応する側面２６２Ｓ１を、円柱部材２２Ｂ，２２Ｄに当接させるとともに、基板２６２の一方の短辺に対応する側面を、基板２６１の他方の短辺に対応する側面に当接させる。図１１に示すように、円柱部材２２Ａは、側面２６１Ｓ１の一方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されており、円柱部材２２Ｃは、側面２６１Ｓ１の他方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されている。また、円柱部材２２Ｂは、側面２６２Ｓ１の一方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されており、円柱部材２２Ｄは、側面２６２Ｓ１の他方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されている。
【００４０】
次に図１２を参照して、固定部材２９によってラインセンサ７０を固定する。具体的には、固定部材２９の両端に形成されている突出部３２Ａ，３２Ｂによって、各基板２６１，２６２の他方の長辺に対応する側面２６１Ｓ３，２６２Ｓ３を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに向けて押し付けるとともに、固定部材２９の中央に形成されている突出部３２Ｃによって、側面２６１Ｓ３，２６２Ｓ３を円柱部材２２Ｃ，２２Ｄに向けて押し付ける。その状態で、固定部材２９の長穴３０Ａ，３０Ｂ及び基台２１のネジ穴２４Ａ，２４Ｂ内にネジ３１Ａ，３１Ｂをそれぞれ螺挿する。ここで、図１２に示すように突出部３２Ａ〜３２Ｃの先端には鍔部が形成されており、鍔部によって基板２６１，２６２の上面の端部が下方に押さえ付けられる。これにより、ラインセンサ７０が基台２１の上面上に固定される。
【００４１】
次に図１３を参照して、図１２に示した構造上にコリメータ３３を配置する。コリメータ３３には、円柱部材２２Ａ〜２２Ｄの配置箇所に対応して貫通孔３５Ａ〜３５Ｄがそれぞれ形成されている。従って、貫通孔３５Ａ〜３５Ｄ内に円柱部材２２Ａ〜２２Ｄを挿通することにより、コリメータ３３の配置箇所が規定される。スリット３４の形状及び形成箇所は、貫通孔３５Ａ〜３５Ｄ内に円柱部材２２Ａ〜２２Ｄを挿通した時にスリット３４が受光素子列２７の直上で受光素子列２７に平行に位置決めされるように、適切に設計されている。
【００４２】
本変形例によれば、縦横比の大きい基板２６を用意できず、縦横比の比較的小さい基板２６１，２６２を使用する場合であっても、上記実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【符号の説明】
【００４３】
１ Ｘ線検査装置
７ Ｘ線照射部
８ Ｘ線検出部
１２ 物品
２０ ラインセンサユニット
２１ 基台
２２Ａ，２２Ｂ 円柱部材
２６，２６１，２６２ 基板
２７ 受光素子列
２８ シンチレータ
３３ コリメータ
３４ スリット
３５Ａ〜３５Ｄ 貫通孔
５０ 凹部
７０ ラインセンサ
３３１〜３３３ 板材
【技術分野】
【０００１】
本発明は物品検査装置に関し、特に、Ｘ線検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、物品内への異物の混入の有無等を検査するＸ線検査装置は、物品搬送面を有するベルトコンベアと、物品搬送面の上方に配置され、物品搬送面の所定領域に向けて扇形状にＸ線を照射するＸ線照射部と、物品搬送面の下方に配置され、物品を透過したＸ線を検出するＸ線検出部とを備えて構成されている。
【０００３】
なお、下記特許文献１，２には、シンチレータ、コリメータ、及び受光素子が、開口部を有する遮蔽体内に収容された構成のラインセンサユニットが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−３２９９０５号公報
【特許文献２】特開２００８−５１６２６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
いわゆる間接型のラインセンサは、物品搬送方向と直交する所定方向に沿って並設された複数の受光素子を有する受光素子列と、受光素子列の受光面を覆って配置されたシンチレータとを有して構成されている。ここで、製造プロセスの都合上、シンチレータの幅は受光素子列の幅よりも広く設定されている。つまり、シンチレータは、受光素子列の真上に位置する中央部と、受光素子列の真上からはみ出た縁部とを有している。シンチレータの縁部にＸ線が照射されると、中央部において発生した可視光のみならず、縁部において発生した可視光も受光素子に入射されてしまうため、物品の画像が不鮮明となる。そこで、シンチレータの縁部にＸ線が照射されることを防止すべく、シンチレータ上にコリメータが配置される場合がある。コリメータは、上記所定方向に沿って延在するスリットを有し、物品を透過したＸ線をスリットを介してシンチレータに入射するとともに、スリット以外の部分においてＸ線を遮蔽する。
【０００６】
鮮明な画像を得るためには、スリットが受光素子列の直上に位置するように、コリメータを受光素子列に対して正しく位置決めする必要がある。しかしながら、受光素子列はシンチレータによって覆われているため、スリットの上方から受光素子列を眺めても、受光素子列の位置を視認することができない。そこで従来は、まず、受光素子列の直上と思われる箇所にスリットが位置するようにコリメータを暫定的に配置した後、Ｘ線の照射及び検出を行って物品の画像を実際に取得する。次に、取得した画像が鮮明であるか否かを目視で確認し、画像が鮮明でなければコリメータの位置を微調整することにより、受光素子列に対するコリメータの位置決めを行っていた。
【０００７】
従って、鮮明な画像が得られるまで上記の作業を繰り返す必要があるため、その作業性が悪いという問題がある。また、画像が鮮明であるか否かは作業者の主観によって判断されるため、作業者の能力及び経験によって位置決めの精度がばらつくという問題もある。さらにＸ線受光素子は消耗品のため一定期間後に交換する場合もあるが、その交換時にも同様の問題が発生することが予想され、納品後の品質にも影響する問題である。
【０００８】
本発明はかかる事情に鑑みて成されたものであり、受光素子列に対する放射線遮蔽部材の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能な物品検査装置を得ることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の第１の態様に係る物品検査装置は、検査対象である物品に対して放射線を照射する照射部と、物品を透過した放射線を検出する検出部とを備え、前記検出部は、基台と、前記基台の主面上に配置された基板と、前記基板の主面上に配置され、所定方向に沿って並設された複数の受光素子を有する受光素子列と、前記受光素子列の受光面を覆って配置され、放射線を可視光に変換して前記受光素子列に入射する変換膜と、少なくとも二つの貫通孔と、前記所定方向に沿って延在するスリットとを有し、物品を透過した放射線を前記スリットを介して前記変換膜に入射するとともに、前記スリット以外の部分において放射線を遮蔽する放射線遮蔽部材と、前記基台の主面の所定箇所から起立する少なくとも二つの柱状部材とを有し、前記貫通孔内に前記柱状部材を挿通するとともに、前記基板の側面を前記柱状部材に当接することにより、前記受光素子列が前記スリットの下方において前記スリットに平行に位置決めされることを特徴とするものである。
【００１０】
第１の態様に係る物品検査装置によれば、放射線遮蔽部材は少なくとも二つの貫通孔を有し、基台の主面の所定箇所から少なくとも二つの柱状部材が起立している。そして、貫通孔内に柱状部材を挿通するとともに、基板の側面を柱状部材に当接することにより、受光素子列がスリットの下方においてスリットに平行に位置決めされる。従って、受光素子列に対する放射線遮蔽部材の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能となる。
【００１１】
本発明の第２の態様に係る物品検査装置は、第１の態様に係る物品検査装置において特に、前記放射線遮蔽部材は、前記スリットが形成された第１層と、前記第１層を補強する第２層とを有することを特徴とするものである。
【００１２】
第２の態様に係る物品検査装置によれば、放射線遮蔽部材は、スリットが形成された第１層と、第１層を補強する第２層とを有する。第１層及び第２層のうち第１層のみにスリットを形成することにより、スリットの深さが浅くなるため、加工時の熱歪みに起因する変形を回避することができる。また、第２層によって第１層を補強するため、板厚が薄いことに起因する反りの発生を回避することができる。
【００１３】
本発明の第３の態様に係る物品検査装置は、第１又は第２の態様に係る物品検査装置において特に、前記所定方向に沿って延在する凹部が所定の側面に形成された第１の板材の当該側面と、第２の板材の側面とを接合することにより、前記凹部として前記スリットが形成されることを特徴とするものである。
【００１４】
第３の態様に係る物品検査装置によれば、所定方向に沿って延在する凹部が所定の側面に形成された第１の板材の当該側面と、第２の板材の側面とを接合することにより、凹部としてスリットが形成される。凹部は第１の板材の側面に形成されるため、板材の中央部を貫通することによってスリットを形成する場合と比較すると、加工時の熱歪みに起因する変形を低減し、かつ凹部の幅を狭くすることができる。
【００１５】
本発明の第４の態様に係る物品検査装置は、第１〜第３のいずれか一つの態様に係る物品検査装置において特に、前記基板は長方形状の上面構造を有し、前記基板は、前記長方形の長辺の端部近傍において前記柱状部材に当接することを特徴とするものである。
【００１６】
第４の態様に係る物品検査装置によれば、基板は長方形状の上面構造を有し、基板は、長方形の長辺の端部近傍において柱状部材に当接する。従って、基板が長方形の長辺の中央部近傍のみにおいて柱状部材に当接する場合と比較すると、基板を目的の位置に正しく固定することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、受光素子列に対する放射線遮蔽部材の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置の構成を示す正面図である。
【図２】シールドボックスの内部を模式的に示す斜視図である。
【図３】Ｘ線検出部が備えるラインセンサユニットの構造を示す上面図である。
【図４】ラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図５】ラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図６】ラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図７】ラインセンサユニットの構造を示す断面図である。
【図８】コリメータの構造を示す上面図である。
【図９】コリメータを構成する部品を示す上面図である。
【図１０】コリメータの構造を示す断面図である。
【図１１】変形例に係るラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図１２】変形例に係るラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【図１３】変形例に係るラインセンサユニットの組み立て工程を順に示す上面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、異なる図面において同一の符号を付した要素は、同一又は相応する要素を示すものとする。
【００２０】
図１は、本発明の実施の形態に係るＸ線検査装置１の構成を示す正面図である。図１に示すようにＸ線検査装置１は、上部筐体２、シールドボックス３、及び下部筐体４を備えて構成されている。上部筐体２には、液晶表示装置等の表示部５が配設されている。シールドボックス３内には、搬送コンベア６、Ｘ線照射部７、及びＸ線検出部８が配設されている。シールドボックス３には、物品搬入口１３及び物品搬出口１４が形成されている。搬送コンベア６の上流端（図１では左端）は物品搬入口１３からシールドボックス３の外部に突出しており、下流端（図１では右端）は物品搬出口１４からシールドボックス３の外部に突出している。搬送コンベア６は、食品等の物品１２を上流端から下流端に向けて搬送する。下部筐体４内には、コンピュータ９が配設されている。
【００２１】
搬送コンベア６の上流には搬送コンベア１０が配設されている。搬送コンベア１０は、物品１２を搬送コンベア６の上流端に供給する。搬送コンベア６の下流には搬送コンベア１１が配設されており、搬送コンベア１１には任意の振分装置１５が配設されている。振分装置１５は、Ｘ線検査装置１によって異物の混入等が検出された物品１２を、良品の製造ラインから排除する。
【００２２】
図２は、シールドボックス３の内部を模式的に示す斜視図である。Ｘ線照射部７は、搬送コンベア６の物品搬送面の上方に配設されている。Ｘ線検出部８は、物品搬送面の下方に配設されている。Ｘ線照射部７は、Ｘ線検出部８に向かって扇形状にＸ線を照射する。搬送コンベア６は、搬送コンベア１０から供給された物品１２を、Ｘ線照射部７とＸ線検出部８との間のＸ線照射経路１００を通過するように搬送する。Ｘ線検出部８は物品１２を透過したＸ線を検出し、その検出結果から得られるＸ線透過画像に基づいて、物品１２内への異物の混入の有無等が検査される。
【００２３】
図３は、Ｘ線検出部８が備えるラインセンサユニット２０の構造を示す上面図である。また、図４〜６は、ラインセンサユニット２０の組み立て工程を順に示す上面図である。また、図７は、図３に示したラインＰ−Ｐに沿った位置に関する断面構造を示す断面図である。
【００２４】
まず図４を参照して、基台２１の上面（主面）には、円柱部材２２Ａ，２２Ｂが互いに離間して固定されている。円柱部材２２Ａ，２２Ｂは、基台２１の上面の所定箇所から垂直に起立している。円柱部材２２Ａ，２２Ｂとしては、例えば、断面が円形の棒ネジを用いることができる。また、基台２１の上面の所定箇所には、背の低い円柱状の突起２３が固定されている。また、基台２１の上面の所定箇所には、ネジ穴２４Ａ，２４Ｂ，２５Ａ，２５Ｂが形成されている。
【００２５】
次に図５を参照して、基台２１の上面上にラインセンサ７０を載置する。ラインセンサ７０は、図７に示すように、基板２６と、基板２６の上面（主面）上に配置された受光素子列２７と、受光素子列２７の受光面（上面）を覆って配置されたシンチレータ２８とを備えている。シンチレータ２８は、Ｘ線を可視光に変換して受光素子列２７に入射する。
【００２６】
図５を参照して、基板２６は長方形状の上面構造を有しており、基板２６の短辺（長方形の短辺）は搬送コンベア６による物品搬送方向に平行であり、基板２６の長辺（長方形の長辺）は物品搬送方向に直交する。受光素子列２７（図５には表れない）は、基板２６の長辺方向に沿って並設された複数の受光素子を有している。また、シンチレータ２８は、基板２６の長辺方向に沿って延在している。ここで、製造プロセスの都合上、シンチレータ２８の幅は受光素子列２７の幅よりも広く設定されている。つまり、シンチレータ２８は、受光素子列２７の真上に位置する中央部と、受光素子列２７の真上からはみ出た縁部とを有している。
【００２７】
ラインセンサ７０を基台２１の上面上に載置する際には、基板２６の一方の長辺に対応する側面２６Ｓ１を、円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接させるとともに、基板２６の一方の短辺に対応する側面２６Ｓ２を、突起２３に当接させる。つまり、円柱部材２２Ａ，２２Ｂと突起２３とによって、基台２１の上面上におけるラインセンサ７０の載置箇所が規定される。図５に示すように、円柱部材２２Ａは、側面２６Ｓ１の一方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されており、円柱部材２２Ｂは、側面２６Ｓ１の他方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されている。
【００２８】
次に図６を参照して、固定部材２９によってラインセンサ７０を固定する。具体的には、固定部材２９の両端に形成されている突出部３２Ａ，３２Ｂによって、基板２６の他方の長辺に対応する側面２６Ｓ３を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに向けて押し付け、その状態で、固定部材２９の長穴３０Ａ，３０Ｂ及び基台２１のネジ穴２４Ａ，２４Ｂ内にネジ３１Ａ，３１Ｂをそれぞれ螺挿する。ここで、図６，７に示すように突出部３２Ａ，３２Ｂの先端には鍔部が形成されており、鍔部によって基板２６の上面の端部が下方に押さえ付けられる。これにより、ラインセンサ７０が基台２１の上面上に固定される。
【００２９】
次に図３を参照して、図６に示した構造上にコリメータ３３を配置する。コリメータ３３には、円柱部材２２Ａ，２２Ｂの配置箇所に対応して貫通孔３５Ａ，３５Ｂがそれぞれ形成されている。従って、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂを挿通することにより、コリメータ３３の配置箇所が規定される。また、コリメータ３３は長方形状の上面構造を有しており、コリメータ３３の短辺（長方形の短辺）は搬送コンベア６による物品搬送方向に平行であり、コリメータ３３の長辺（長方形の長辺）は物品搬送方向に直交する。
【００３０】
コリメータ３３には、その長辺方向に沿って延在するスリット３４が形成されている。コリメータ３３は、Ｘ線をスリット３４を介して通過するとともに、スリット３４以外の部分においてＸ線を遮蔽する。スリット３４の形状及び形成箇所は、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂを挿通した時にスリット３４が受光素子列２７の直上で受光素子列２７に平行に位置決めされるように、適切に設計されている。また、コリメータ３３には貫通孔３６Ａ，３６Ｂが形成されており、コリメータ３３の貫通孔３６Ａ，３６Ｂ及び基台２１のネジ穴２５Ａ，２５Ｂ内にネジ３７Ａ，３７Ｂをそれぞれ螺挿することにより、コリメータ３３が基台２１上に固定される。
【００３１】
図８は、コリメータ３３の構造を示す上面図である。また、図９は、コリメータ３３を構成する部品を示す上面図である。また、図１０は、図８に示したラインＱ−Ｑ及びラインＲ−Ｒに沿った位置に関する断面構造を示す断面図である。図１０の（Ａ）にはラインＱ−Ｑに沿った位置に関する断面構造を示しており、図１０の（Ｂ）にはラインＲ−Ｒに沿った位置に関する断面構造を示している。
【００３２】
図８〜１０に示すように、コリメータ３３は、金属製の板材３３１，３３２を含む第１層と、金属製の板材３３３を含む第２層とを有する二層構造を成している。下層の板材３３３は、上層の板材３３１，３３２の底面に接合されることにより、板材３３１，３３２の強度を補強している。
【００３３】
図９の（Ｂ）を参照して、板材３３２の側面５２には、例えばレーザ加工によって、幅Ｗが例えば０．５〜１ｍｍ程度の凹部５０が形成されている。凹部５０の幅Ｗは、受光素子列２７の幅に応じて設定される。また、図９の（Ａ）を参照して、板材３３１の側面５１は直線状である。板材５５１の側面５１と板材３３２の側面５２とを溶接等によって接合することにより、側面５１，５２によって挟まれる凹部５０として、スリット３４が形成される。なお、平面視上、スリット３４と板材３３３とは重複していない。
【００３４】
本実施の形態に係るＸ線検査装置１（物品検査装置）によれば、コリメータ３３は貫通孔３５Ａ，３５Ｂを有しており、また、基台２１の上面の所定箇所から円柱部材２２Ａ，２２Ｂが起立している。そして、貫通孔３５Ａ，３５Ｂ内に円柱部材２２Ａ，２２Ｂをそれぞれ挿通するとともに、基板２６の側面２６Ｓ１を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接することにより、受光素子列２７がスリット３４の下方においてスリット３４に平行に位置決めされる。従って、受光素子列２７に対するコリメータ３３の位置決めを、簡易かつ確実に行うことが可能となる。
【００３５】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、コリメータ３３は、スリット３４が形成された第１層（板材３３１，３３２）と、第１層を補強する第２層（板材３３３）とを有する。第１層及び第２層のうち第１層のみにスリット３４を形成することにより、スリット３４の深さが浅くなるため、加工時の熱歪みに起因する変形を回避することができる。また、第２層によって第１層を補強するため、板厚が薄いことに起因する反りの発生を回避することができる。
【００３６】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、所定方向に沿って延在する凹部５０が側面５２に形成された板材３３２の当該側面５２と、板材３３１の側面５１とを接合することにより、凹部５０としてスリット３４が形成される。凹部５０は板材３３２の側面５２に形成されるため、板材の中央部を貫通することによってスリットを形成する場合と比較すると、加工時の熱歪みに起因する変形を低減し、かつ凹部５０の幅を狭くすることができる。
【００３７】
また、本実施の形態に係るＸ線検査装置１によれば、基板２６は、長方形状の上面構造を有しており、その長方形の長辺の端部近傍において円柱部材２２Ａ，２２Ｂに当接する。従って、基板が長方形の長辺の中央部近傍のみにおいて円柱部材に当接する場合と比較すると、基板２６を目的の位置に正しく固定することができる。
【００３８】
図１１〜１３は、変形例に係るラインセンサユニット２０の組み立て工程を順に示す上面図である。上記実施の形態で説明したラインセンサ７０の基板２６が長辺方向に関して二分割されることにより、ラインセンサ７０は基板２６１，２６２を有している。
【００３９】
まず図１１を参照して、基台２１の上面には、円柱部材２２Ａ〜２２Ｄが互いに離間して固定されている。円柱部材２２Ａ〜２２Ｄは、基台２１の上面の所定箇所から垂直に起立している。ラインセンサ７０を基台２１の上面上に載置する際には、基板２６１の一方の長辺に対応する側面２６１Ｓ１を、円柱部材２２Ａ，２２Ｃに当接させるとともに、基板２６１の一方の短辺に対応する側面２６１Ｓ２を、突起２３に当接させる。また、基板２６２の一方の長辺に対応する側面２６２Ｓ１を、円柱部材２２Ｂ，２２Ｄに当接させるとともに、基板２６２の一方の短辺に対応する側面を、基板２６１の他方の短辺に対応する側面に当接させる。図１１に示すように、円柱部材２２Ａは、側面２６１Ｓ１の一方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されており、円柱部材２２Ｃは、側面２６１Ｓ１の他方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されている。また、円柱部材２２Ｂは、側面２６２Ｓ１の一方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されており、円柱部材２２Ｄは、側面２６２Ｓ１の他方端よりもわずかに内側に当接する箇所に配置されている。
【００４０】
次に図１２を参照して、固定部材２９によってラインセンサ７０を固定する。具体的には、固定部材２９の両端に形成されている突出部３２Ａ，３２Ｂによって、各基板２６１，２６２の他方の長辺に対応する側面２６１Ｓ３，２６２Ｓ３を円柱部材２２Ａ，２２Ｂに向けて押し付けるとともに、固定部材２９の中央に形成されている突出部３２Ｃによって、側面２６１Ｓ３，２６２Ｓ３を円柱部材２２Ｃ，２２Ｄに向けて押し付ける。その状態で、固定部材２９の長穴３０Ａ，３０Ｂ及び基台２１のネジ穴２４Ａ，２４Ｂ内にネジ３１Ａ，３１Ｂをそれぞれ螺挿する。ここで、図１２に示すように突出部３２Ａ〜３２Ｃの先端には鍔部が形成されており、鍔部によって基板２６１，２６２の上面の端部が下方に押さえ付けられる。これにより、ラインセンサ７０が基台２１の上面上に固定される。
【００４１】
次に図１３を参照して、図１２に示した構造上にコリメータ３３を配置する。コリメータ３３には、円柱部材２２Ａ〜２２Ｄの配置箇所に対応して貫通孔３５Ａ〜３５Ｄがそれぞれ形成されている。従って、貫通孔３５Ａ〜３５Ｄ内に円柱部材２２Ａ〜２２Ｄを挿通することにより、コリメータ３３の配置箇所が規定される。スリット３４の形状及び形成箇所は、貫通孔３５Ａ〜３５Ｄ内に円柱部材２２Ａ〜２２Ｄを挿通した時にスリット３４が受光素子列２７の直上で受光素子列２７に平行に位置決めされるように、適切に設計されている。
【００４２】
本変形例によれば、縦横比の大きい基板２６を用意できず、縦横比の比較的小さい基板２６１，２６２を使用する場合であっても、上記実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【符号の説明】
【００４３】
１ Ｘ線検査装置
７ Ｘ線照射部
８ Ｘ線検出部
１２ 物品
２０ ラインセンサユニット
２１ 基台
２２Ａ，２２Ｂ 円柱部材
２６，２６１，２６２ 基板
２７ 受光素子列
２８ シンチレータ
３３ コリメータ
３４ スリット
３５Ａ〜３５Ｄ 貫通孔
５０ 凹部
７０ ラインセンサ
３３１〜３３３ 板材
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象である物品に対して放射線を照射する照射部と、
物品を透過した放射線を検出する検出部と
を備え、
前記検出部は、
基台と、
前記基台の主面上に配置された基板と、
前記基板の主面上に配置され、所定方向に沿って並設された複数の受光素子を有する受光素子列と、
前記受光素子列の受光面を覆って配置され、放射線を可視光に変換して前記受光素子列に入射する変換膜と、
少なくとも二つの貫通孔と、前記所定方向に沿って延在するスリットとを有し、物品を透過した放射線を前記スリットを介して前記変換膜に入射するとともに、前記スリット以外の部分において放射線を遮蔽する放射線遮蔽部材と、
前記基台の主面の所定箇所から起立する少なくとも二つの柱状部材と
を有し、
前記貫通孔内に前記柱状部材を挿通するとともに、前記基板の側面を前記柱状部材に当接することにより、前記受光素子列が前記スリットの下方において前記スリットに平行に位置決めされることを特徴とする、物品検査装置。
【請求項２】
前記放射線遮蔽部材は、
前記スリットが形成された第１層と、
前記第１層を補強する第２層と
を有する、請求項１に記載の物品検査装置。
【請求項３】
前記所定方向に沿って延在する凹部が所定の側面に形成された第１の板材の当該側面と、第２の板材の側面とを接合することにより、前記凹部として前記スリットが形成される、請求項１又は２に記載の物品検査装置。
【請求項４】
前記基板は長方形状の上面構造を有し、
前記基板は、前記長方形の長辺の端部近傍において前記柱状部材に当接する、請求項１〜３のいずれか一つに記載の物品検査装置。
【請求項１】
検査対象である物品に対して放射線を照射する照射部と、
物品を透過した放射線を検出する検出部と
を備え、
前記検出部は、
基台と、
前記基台の主面上に配置された基板と、
前記基板の主面上に配置され、所定方向に沿って並設された複数の受光素子を有する受光素子列と、
前記受光素子列の受光面を覆って配置され、放射線を可視光に変換して前記受光素子列に入射する変換膜と、
少なくとも二つの貫通孔と、前記所定方向に沿って延在するスリットとを有し、物品を透過した放射線を前記スリットを介して前記変換膜に入射するとともに、前記スリット以外の部分において放射線を遮蔽する放射線遮蔽部材と、
前記基台の主面の所定箇所から起立する少なくとも二つの柱状部材と
を有し、
前記貫通孔内に前記柱状部材を挿通するとともに、前記基板の側面を前記柱状部材に当接することにより、前記受光素子列が前記スリットの下方において前記スリットに平行に位置決めされることを特徴とする、物品検査装置。
【請求項２】
前記放射線遮蔽部材は、
前記スリットが形成された第１層と、
前記第１層を補強する第２層と
を有する、請求項１に記載の物品検査装置。
【請求項３】
前記所定方向に沿って延在する凹部が所定の側面に形成された第１の板材の当該側面と、第２の板材の側面とを接合することにより、前記凹部として前記スリットが形成される、請求項１又は２に記載の物品検査装置。
【請求項４】
前記基板は長方形状の上面構造を有し、
前記基板は、前記長方形の長辺の端部近傍において前記柱状部材に当接する、請求項１〜３のいずれか一つに記載の物品検査装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公開番号】特開２０１１−８０８８７（Ｐ２０１１−８０８８７Ａ）
【公開日】平成２３年４月２１日（２０１１．４．２１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−２３４０２５（Ｐ２００９−２３４０２５）
【出願日】平成２１年１０月８日（２００９．１０．８）
【出願人】（０００１４７８３３）株式会社イシダ (859)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年４月２１日（２０１１．４．２１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年１０月８日（２００９．１０．８）
【出願人】（０００１４７８３３）株式会社イシダ (859)
【Ｆターム（参考）】
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