画像処理装置
【課題】放射線画像の散乱線領域の被写体情報を失うことなく、散乱線領域を黒く塗り潰す画像処理装置を提供する。
【解決手段】放射線情報を蓄積可能な記録プレートを用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置（５６）であって、前記放射線画像は、記録プレートが存在する領域に対応する有効画像領域と、記録プレートが存在しない領域に対応する無効画像領域とを有し、有効画像領域のうち無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域して特定する補正対象領域特定部（８２）と、有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部（８４）とを備える。
【解決手段】放射線情報を蓄積可能な記録プレートを用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置（５６）であって、前記放射線画像は、記録プレートが存在する領域に対応する有効画像領域と、記録プレートが存在しない領域に対応する無効画像領域とを有し、有効画像領域のうち無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域して特定する補正対象領域特定部（８２）と、有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部（８４）とを備える。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像に対して黒化処理を施す画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
イメージングプレート（以下、ＩＰ）は角隅が丸まった形状を有するので、ＩＰを利用して得られた放射線画像のうち、ＩＰが存在しない角隅に白抜け領域が発生する。また、角隅ではない辺縁部でも、ＩＰを読み取る装置の搬送時のがたつき等に起因して、画像中に白抜け領域が発生することがある。また、白抜け領域と隣接する白抜けしていない画像部分には散乱線の影響が大きくなる領域が発生することがわかっている。この白抜け領域は高輝度であり、散乱線領域の輝度は比較的高いので、放射線画像の視認性の低下や眼精疲労を招くという問題があった。
【０００３】
そこで、下記特許文献１は、白抜け領域とＩＰのエッジ部に発生する散乱線領域に対して黒化処理を自動的に施して黒く塗りつぶす技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−２８３２８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、散乱線領域を単に黒く塗りつぶすと、散乱線領域に表されている被写体情報が失われてしまう。逆に、散乱線領域を全く塗りつぶさないとすると、散乱線領域の輝度は比較的高いので放射線画像の視認性が悪化してしまう。
【０００６】
そこで本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてなされたものであり、散乱線領域の被写体情報を失うことなく、散乱線領域を黒く塗り潰す画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、放射線情報を蓄積可能な記録プレートを用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、前記放射線画像は、前記記録プレートが存在する領域に対応する有効画像領域と、前記記録プレートが存在しない領域に対応する無効画像領域とを有し、前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、を備えることを特徴とする。
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、固体検出器を用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、前記放射線画像は、放射線が照射された領域に対応する有効画像領域と、放射線が照射されていない領域に対応する無効画像領域とを有し、前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
前記濃度補正部は、前記無効画像領域に近い前記補正対象領域の画素程加算する濃度値を高くして、該補正対象領域の画素の濃度値を補正してもよい。
【００１０】
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、前記濃度補正部は、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記ローパスフィルタ処理が施された前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去してもよい。
【００１１】
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去してもよい。
【００１２】
前記マップ算出部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素との濃度値の差分をとることで前記加算量マップを算出してもよい。
【００１３】
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値を算出する差分濃度値算出部と、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値に前記関心領域内の基準となる複数の基準画素の濃度値を加算する加算部と、を有することで前記補正対象領域の画素の濃度値を補正してもよい。
【００１４】
前記加算部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素とを加算してもよい。
【００１５】
前記補正対象領域と前記関心領域との境界線は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線と平行であってもよい。
【００１６】
前記複数の基準画素は、関心領域の画素のうち、前記補正対象領域の画素と隣接する画素であってもよい。
【００１７】
補正対象領域特定部は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線から一定距離内にある前記有効画像領域内の領域を前記補正対象領域として特定してもよい。
【００１８】
前記補正対象領域特定部は、該有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の前記領域と、前記無効画像領域とを補正対象領域として特定してもよい。
【００１９】
前記濃度補正部は、さらに前記無効画像領域の画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、前記無効画像領域を黒く塗り潰してもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、放射線画像の有効画像領域側から無効画像領域側に向かって存在する散乱線領域を含む補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正して黒く塗り潰すので、被写体情報を残したまま、散乱線領域を塗り潰すことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】放射線撮像装置の一例であるマンモグラフィ装置の外観斜視図である。
【図２】図１のマンモグラフィ装置の要部拡大図である。
【図３】ＩＰに蓄積された放射線画像を読み取って所定の処理を行う画像処理システムの電気的な構成を示すブロック図である。
【図４】画像読取部が読み取った放射線画像の角隅を示す図である。
【図５】図３に示す画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【図６】特定される補正対象領域を説明するための図である。
【図７】図３に示す画像処理装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】加算量マップの算出を説明するための図である。
【図９】図８の法線Ａにおける各画素の濃度値と法線Ａにおける補正対象領域の各画素に加算する加算量との関係を示す図である。
【図１０】図４に示す放射線画像を画像読取部が読み取った場合に、該放射線画像から算出され、ローパスフィルタ処理がされた加算量マップの画像を示す図である。
【図１１】補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算量マップを加算したときの、図９に示す法線Ａにおける補正対象領域の各画素の濃度値を示す図である。
【図１２】図４に示す放射線画像を画像読取部が読み取った場合に、補正対象領域の複数の画素の濃度値に、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップが加算された後の放射線画像を示す図である。
【図１３】変形例４の濃度補正部の構成を示すブロック図である。
【図１４】加算量マップを用いて領域の濃度値を補正した後に、無効画像領域の複数の画素値を予め定められた濃度値に置き換えることで、無効画像領域を黒く塗り潰したときの放射線画像を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
本発明に係る画像処理装置について、好適な実施の形態を掲げ、添付の図面を参照しながら以下、詳細に説明する。
【００２３】
図１は、放射線撮像装置の一例であるマンモグラフィ装置１０の外観斜視図、図２は、図１のマンモグラフィ装置１０の要部拡大図である。マンモグラフィ装置１０は、立設状態に設置される基台部１２と、この基台部１２の略中央部に配設される旋回軸１４に固定される装置本体部１６と、被写体１８の撮影部位（マンモ）１８ａに対して放射線（例えば、Ｘ線）を照射するモリブデン管球、タングステン管球、又はロジウム管球等の放射線源２０を収納し、装置本体部１６を構成するアーム部材２２の一端部に固定される放射線源収納部２４と、マンモ１８ａを透過した放射線を検出して放射線画像情報を取得する図示しない固体検出器を収納し、装置本体部１６を構成するブラケット部材２６に固定される撮影台２８と、ブラケット部材２６に設けられ、撮影台２８に対してマンモ１８ａを押圧して保持する圧迫板３０とを備える。
【００２４】
固体検出器は、ＩＰ（輝尽性発光体プレート）であり、被写体の放射線画像、つまり、マンモ１８ａを透過した放射線を蓄積することで、放射線画像を得る。ＩＰとは、被写体を透過した放射線を蓄積して、励起光の照射等により、蓄積した放射線をその線量に応じた強度で輝尽発光するものであり、所定の基板上に輝尽性蛍光体が層状に形成された構成を有している。基台部１２には、撮影方向等の撮影情報、被写体１８のＩＤ情報等を表示するとともに、必要に応じてこれらの情報を設定可能な表示操作部３２が配設される。
【００２５】
次に、画像処理システム５０について説明する。図３は、ＩＰ５２に蓄積された放射線画像を読み取って所定の処理を行う画像処理システム５０の電気的な構成を示すブロック図である。画像処理システム５０は、ＩＰ５２、画像読取部５４、画像処理装置５６、表示制御部５８、表示部６０、記録制御部６２、及び記録媒体６４を備える。
【００２６】
画像読取部５４は、ＩＰ５２（記録プレート）によって検出された被写体の画像情報を読み取り、該読み取った被写体の放射線画像をデジタル信号に変換して、画像処理装置５６に出力する。詳しくは、画像読取部５４は、励起光を出力する光源、励起光を走査する走査部、フォトマルチプライヤ、増幅器、及びＡ／Ｄ変換器を有する（図示略）。前記走査部がＩＰ５２の表面に対して励起光を走査する。この走査により励起光がＩＰ５２に照射され、励起光が照射された箇所から蓄積された被写体の放射線画像に応じた光量で輝尽発光し、前記フォトマルチプライヤは、該輝尽発光した光を電気信号に変換する。前記増幅器は、該変換された電気信号を増幅し、前記Ａ／Ｄ変換器は、増幅された電気信号をデジタル信号に変換する。これにより、デジタル信号の放射線画像を得ることができる。
【００２７】
画像処理装置５６は、画像読取部５４が読み取った放射線画像に対して後述する所定の画像処理を施し、該画像処理が施された放射線画像を表示制御部５８及び（又は）記録制御部６２に出力する。
【００２８】
表示制御部５８は、放射線画像を液晶ディスプレイ等の表示部６０に表示させ、記録制御部６２は、放射線画像をフラッシュメモリ、ハードディスク等の記録媒体６４に記録する。
【００２９】
図４は、画像読取部５４が読み取った放射線画像の角隅を示す図である。図４に示すように放射線画像は、ＩＰ５２が存在する領域に対応する有効画像領域７２と、ＩＰ５２が存在しない領域に対応する無効画像領域７４とを有する。上述したようにＩＰ５２は、角隅が丸まった形状を有するので、ＩＰ５２は、放射線が照射されても、角隅では放射線を蓄積することができない。従って、無効画像領域は、高輝度となり、白抜け領域となる。また、有効画像領域７２は、ＩＰ５２のエッジ部分に対応した散乱線領域７６を有する。ＩＰ５２のエッジ部分では放射線が散乱してしまうため、この散乱線領域７６は、ぼやけた画像となる。放射線画像の各画素の濃度値は、ＩＰ５２に入射した放射線量に応じて変わり、入射した放射線量が少ない領域程濃度値が小さくなる。従って、無効画像領域７４の濃度値は低くなり、散乱線領域７６では、濃度値が変動し、ＩＰ５２のエッジに近い程濃度値が小さくなる。このようなことから、放射線画像の角隅においては、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって濃度値のトレンドが発生する。
【００３０】
図５は、画像処理装置５６の構成を示すブロック図である。画像処理装置５６は、無効画像領域検出部８０、補正対象領域特定部８２、及び濃度補正部８４を備える。
【００３１】
無効画像領域検出部８０は、画像読取部５４から送られてきた放射線画像の無効画像領域７４を検出する。この無効画像領域７４の検出手法としては、例えば、特許第２８３１８９２号公報に記載されているように、Ｋ平均アルゴリズムによるクラスタリングを用いて背景領域と輪郭領域を分離することで、背景領域と見做すことができる無効画像領域７４を検出する。また、特開２００４−２８３２８１号公報に記載されているように、エッジを検出することで無効画像領域７４を検出してもよい。さらに、放射線画像の各画素の濃度値と閾値とを比較し、濃度値が閾値より低い画素群を無効画像領域７４として検出してもよい。本実施の形態では、放射線画像の各画素の濃度値と閾値とを比較することで、無効画像領域７４を検出する。無効画像領域検出部８０は、入力された放射線画像を補正対象領域特定部８２に出力するとともに、検出した無効画像領域７４を示す情報も出力する。
【００３２】
補正対象領域特定部８２は、検出された無効画像領域７４に基づいて、放射線画像のうち画素の濃度値を補正する補正対象領域を特定する。補正対象領域特定部８２は、有効画像領域７２のうち無効画像領域７４と隣接する予め定められた範囲の領域と、無効画像領域７４とを補正対象領域として特定する。補正対象領域特定部８２は、入力された放射線画像を濃度補正部８４に出力するとともに、特定した補正対象領域を示す情報、及び、無効画像領域７４を示す情報も出力する。
【００３３】
図６は、特定される補正対象領域９０を説明するための図である。有効画像領域７２のうち無効画像領域７４と隣接する予め定められた範囲の領域とは、例えば、有効画像領域７２と無効画像領域７４との境界線９２から一定距離内にある有効画像領域７２内の領域（斜線で示す領域）９４であってもよい。前記一定距離は、領域９４が散乱線領域７６を全て含むようにその長さが決められる。
【００３４】
また、有効画像領域７２のうち、補正対象領域９０（領域９４）以外の領域を関心領域９６と呼び、関心領域９６と補正対象領域９０との境界線（関心領域９６と領域９４との境界線）９８と境界線９２とは、平行している。なお、境界線９２は、有効画像領域７２のうち、無効画像領域７４の画素と隣接する複数の画素によって形成され、境界線９８は、関心領域９６のうち、領域９４の画素と隣接する複数の画素によって形成される。この境界線９８を形成する関心領域９６の画素、つまり、境界線９８上の複数の画素を基準画素と呼ぶ。
【００３５】
濃度補正部８４は、入射された放射線画像のうち、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の複数の画素の画素値のトレンドを除去することで、補正対象領域９０の画素の濃度値を補正して（黒化処理を施して）該補正対象領域９０を黒く塗り潰す。
【００３６】
濃度補正部８４は、マップ算出部１００、ローパスフィルタ処理部１０２、及び濃度値加算部１０４を有する。マップ算出部１００は、複数の前記基準画素と補正対象領域９０内の複数の画素との濃度値の差分をとることで、加算量マップを算出する。この加算量マップは、補正対象領域９０内の各画素の濃度値に加算する加算量（濃度値）を表すマップである。マップ算出部１００は、補正対象領域９０の画素と、該画素と最も距離が短くなる基準画素との濃度値の差分を取ることで加算量マップを算出してもよい。
【００３７】
ローパスフィルタ処理部１０２は、算出された加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すことで加算量マップの高周波成分を除去する。そして、濃度補正部８４は、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップを補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算することで、該補正対象領域９０の画素の濃度値を補正する。
【００３８】
次に、画像処理装置５６の動作を図７のフローチャートに従って説明する。画像読取部５４から放射線画像が画像処理装置５６に送られてくると、無効画像領域検出部８０は、該送られてきた放射線画像の無効画像領域７４を検出する（ステップＳ１）。
【００３９】
次いで、補正対象領域特定部８２は、該検出した無効画像領域７４に基づいて、放射線画像のうち画素の濃度値を補正する補正対象領域９０を特定する（ステップＳ２）。補正対象領域特定部８２は、有効画像領域７２のうち無効画像領域７４と隣接する予め定められた範囲の領域９４と、無効画像領域７４とを補正対象領域９０として特定する（図６参照）。ここで、散乱線領域７６と無効画像領域７４のみを補正対象領域９０として特定せずに、散乱線領域７６を含む領域９４と無効画像領域７４とを補正対象領域９０として特定する理由としては、正確に検出することが困難な散乱線領域７６を補正対象領域９０に含めるためである。
【００４０】
次いで、濃度補正部８４のマップ算出部１００は、放射線画像の関心領域９６の画素の中から、複数の基準画素を特定する（ステップＳ３）。詳しくは、関心領域９６と補正対象領域９０との境界線９８上にある複数の関心領域９６の画素を基準画素として特定する。
【００４１】
次いで、濃度補正部８４のマップ算出部１００は、補正対象領域９０の画素と、該画素と最短距離となる基準画素との濃度値の差分を取ることで、補正対象領域９０の各画素の濃度値に加算する加算量を示す加算量マップを算出する（ステップＳ４）。補正対象領域９０の画素と、該画素と最短距離となる基準画素との濃度値の差分は、基準画素の濃度値から補正対象領域９０の画素の濃度値を減算することで求める。
【００４２】
図８は、加算量マップの算出を説明するための図である。マップ算出部１００は、補正対象領域９０の画素と、該画素と最短距離となる基準画素との濃度値の差分をとるので、減算する補正対象領域９０の画素と、基準画素とは境界線９８の同一の法線上にあることになる。例えば、図８の補正対象領域９０の画素１１０と最短距離となる基準画素１１２とは、基準画素１１２における境界線９８の法線Ａ上にある。従って、マップ算出部１００は、境界線９８の各法線毎に、同一の法線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとることで、加算量マップを算出する。なお、図８では、便宜的に、撮影対象となるマンモ１８ａを表す。
【００４３】
図９は、図８の法線Ａにおける各画素の濃度値と法線Ａにおける補正対象領域９０の各画素に加算する加算量との関係を示す図である。図９の通り、先に説明した閾値より低い領域を無効画像領域７４、閾値より高い領域を有効画像領域７２とする。無効画像領域７４と、散乱線領域７６を含む領域９４とを補正対象領域９０とする。散乱線領域７６では、濃度値の変動が激しく発生していることがわかる。
【００４４】
法線Ａ上における基準画素の濃度値から補正対象領域９０の各画素の濃度値を減算すると、図９に示すように、法線Ａ上における補正対象領域９０の各画素に加算する加算量を得ることができる。
【００４５】
次いで、濃度補正部８４のローパスフィルタ処理部１０２は、ステップＳ４で算出した加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すことで、加算量マップの高周波成分を除去する（ステップＳ５）。加算量マップにローパスフィルタ処理を施すことで、図９に示すように補正対象領域９０の各画素に加算する加算量が示す曲線（破線で示す曲線）は滑らかになり、補正対象領域９０のうち、濃度値が低い画素程、加算される加算量が大きくなる（つまり、無効画像領域７４に近い画素程加算される加算量が大きくなり、無効画像領域７４の画素に加算される加算量が最も大きい）。
【００４６】
図１０は、図４に示す放射線画像を画像読取部５４が読み取った場合に、該放射線画像から算出され、ローパスフィルタ処理がされた加算量マップの画像を示す図である。図１０に示すように無効画像領域７４及び散乱線領域７６に対応する画像領域は黒く塗り潰され、散乱線領域７６以外の有効画像領域７２に対応する画像領域は、白抜け領域となる。
【００４７】
次いで、濃度値加算部１０４は、画像読取部５４が読み取った放射線画像の補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算量マップを加算する（ステップＳ６）。
【００４８】
ステップＳ６では、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に、ステップＳ４で算出した加算量マップを加算せずに、ステップＳ５でローパスフィルタ処理が施された加算量マップを加算することとしたのは、補正対象領域９０の高周波成分は、被写体情報でもあり、ローパスフィルタ処理が施されていない加算量マップを補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算してしまうと、補正対象領域９０の被写体情報が失われてしまうため、ローパスフィルタ処理後の加算量マップを加算することで補正対象領域９０の被写体情報（高周波成分）を残しながら、補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００４９】
図１１は、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算量マップを加算したときの、図９に示す法線Ａにおける補正対象領域９０の各画素の濃度値を示す図である。図１１に示すように、散乱線領域７６の被写体情報（高周波成分）が除去されることなく補正対象領域９０が黒く塗り潰されており（補正対象領域９０の各画素の濃度値が高くなり）、無効画像領域７４も同様に黒く塗り潰されている。
【００５０】
図１２は、図４に示す放射線画像を画像読取部５４が読み取った場合に、補正対象領域の複数の画素の濃度値に、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップが加算された後の放射線画像を示す図である。図１２に示すように、無効画像領域７４及び散乱線領域７６が黒く略一様に塗り潰されている。
【００５１】
このように、複数の基準画素の濃度値から補正対象領域９０の複数の画素の濃度値を減算して加算量マップを算出し、該加算量マップにローパスフィルタ処理を施した後、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップを補正対象領域９０の各画素の濃度値に加算するので、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の画素の濃度値のトレンドを除去することができ、該補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。即ち、散乱線領域７６の被写体情報（高周波成分）を残したまま散乱線領域７６を黒く塗り潰すことができ、また、無効画像領域７４も塗り潰すことができる。放射線画像から散乱線領域７６を正確に検出することは難しいが、本実施の形態によれば、散乱線領域７６を正確に検出することができなくても、散乱線領域７６の被写体情報を除去することなく、散乱線領域７６を黒く塗り潰すことができる。また、補正対象領域９０のうち、散乱線領域７６ではない有効画像領域７２の画素の濃度値に加算される加算量は、極めて小さいので、領域９４を散乱線領域７６より大きい領域にしても、散乱線領域７６ではない有効画像領域７２の濃度値が、濃度補正によって受ける影響は少なく、補正していないのと同様の結果となり、被写体情報が失われることはない。
【００５２】
逆に、補正対象領域９０の各画素の濃度値を予め定められた値に置き換える補正を行うと、有効画像領域７２の被写体情報が失われてしまうが、本実施の形態ではそのようは不具合は生じない。
【００５３】
また、上記実施の形態では、基準画素の濃度値に対して、濃度値が低い補正対象領域９０の画素程加算される加算量が大きくなるので、補正対象領域を被写体情報を残したまま略一様に塗り潰すことができる。
【００５４】
また、マンモ１８ａを撮影した場合には、図８に示すように散乱線領域７６におけるマンモ１８ａのエッジの接線は、境界線９８の法線Ａに近いので、境界線９８の法線毎に、基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分を求めて加算量マップを算出することで、精度よく被写体情報を残したまま散乱線領域７６を黒く塗り潰すことができる。
【００５５】
上記実施の形態は、以下のように変形可能である。
【００５６】
（変形例１）上記実施の形態では、マップ算出部１００が複数の基準画素の濃度値から補正対象領域９０の複数の画素の濃度値を減算して加算量マップを算出し（図７のステップＳ４）、ローパスフィルタ処理部１０２が算出した該加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すようにしたが（ステップＳ５）、ローパスフィルタ処理部１０２が補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施し、マップ算出部１００が複数の基準画素の濃度値からローパスフィルタ処理後の補正対象領域９０の複数の画素の濃度値を減算することで加算量マップを求めてもよい。この場合は、求めた加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施さなくても、上記実施の形態で得られる加算量マップと同様のものが得られ、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の画素の濃度値のトレンドを除去することができ、該補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００５７】
（変形例２）上記実施の形態では、同一の法線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとるようにして、加算量マップを算出するようにしたが、同一の法線上でなくてもよく、例えば、同一の所定の直線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとるようにしてもよい。例えば、ｙ軸方向（放射線画像の縦方向）又はｘ軸方向（放射線画像の横方向）に平行であり、同一の直線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとるようにしてもよい。
【００５８】
（変形例３）上記実施の形態では、関心領域９６と補正対象領域９０との境界線９８上の画素を基準画素としたが、基準画素は、関心領域９６内の画素であればよい。
【００５９】
（変形例４）変形例４では、画像処理装置５６の濃度補正部８４を図１３に示す濃度補正部１２０に代えてもよい。変形例４の濃度補正部１２０は、ローパスフィルタ処理部１２２、差分濃度値算出部１２４、及び加算部１２６を有する。ローパスフィルタ処理部１２２は、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すことで、高周波成分を除去する。差分濃度値算出部１２４は、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された補正対象領域９０の複数の画素の濃度値との差分をとることで、補正対象領域９０の各画素の差分濃度値を算出する。加算部１２６は、該算出した補正対象領域９０の各画素の差分濃度値に、複数の基準画素の濃度値を加算する。加算部１２６は、同一の所定の直線（例えば、法線）上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素とを加算する。変形例４であっても、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の画素の濃度値のトレンドを除去することができ、該補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００６０】
（変形例５）図７のステップＳ６で、濃度補正部８４は、補正対象領域９０の画素の濃度値に加算量マップを加算することで補正対象領域９０の画素を黒く塗り潰した後、さらに、無効画像領域７４の画像を黒く塗り潰してもよい。例えば、無効画像領域７４の各画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、該無効画像領域７４を黒く塗り潰す。
【００６１】
また、上記実施の形態では、図７のステップＳ２で、補正対象領域特定部８２は、領域９４と無効画像領域７４とを補正対象領域９０として特定したが、領域９４のみを補正対象領域９０として特定してもよい。この場合は、ステップＳ６で、補正対象領域９０として特定された領域９４の濃度値が加算量マップによって補正され、被写体情報を残したままの状態で黒く塗り潰されることになる。この場合、無効画像領域７４の濃度値が補正されないので、無効画像領域７４の複数の画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、無効画像領域７４を黒く塗り潰す。
【００６２】
図１４は、加算量マップを用いて領域９４の濃度値を補正した後に、無効画像領域７４の複数の画素値を予め定められた濃度値に置き換えることで、無効画像領域７４を黒く塗り潰したときの放射線画像を示す。
【００６３】
（変形例６）上記実施の形態では、ＩＰ５２の全領域に対して放射線を照射した場合を例にしたが、照射野を絞ってＩＰ５２の全領域の一部に対して放射線を照射してもよい。この場合は、放射線が照射された領域では被写体の画像情報を得ることができるが、放射線が照射されていない領域では被写体の画像情報を得ることができず、放射線が照射されていない領域は、白抜け領域となる。
【００６４】
このように照射野を絞って撮影した場合であっても、放射線が照射された領域と照射されていない領域との間には、放射線が散乱した散乱線領域が発生するので、上記実施の形態と同様の処理によって、散乱線領域の被写体情報を残したながら、散乱線領域を黒く塗り潰すことができ、放射線が照射されていない領域も黒く塗り潰すことができる。
【００６５】
詳しくは、本変形例６においては、照射野を絞って撮影されたＩＰ５２から読み取った放射線画像のうち、放射線が照射された領域に対応する領域を上記実施の形態で説明した有効画像領域７２とし、放射線が照射されていない領域に対応する領域を上記実施の形態で説明した無効画像領域７４とし、有効画像領域７２と無効画像領域７４との間に発生した散乱線領域を上記実施の形態の散乱線領域７６とする。そして、図７のフローチャートで示した動作を行うことで、散乱線領域７６を含む補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００６６】
なお、本変形例６においては、固体検出器は、ＩＰ５２に限定される必要なく、放射線を電気的に検出することができる電子カセッテ（ＦＰＤ）等のＤＲ（デジタルラジオグラフィ）パネルであってもよい。
【００６７】
（変形例７）上記変形例１〜６を、矛盾が生じない範囲内で任意に組み合わせた態様であってもよい。
【００６８】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【符号の説明】
【００６９】
１０…マンモグラフィ装置 １８…被写体
１８ａ…撮影部位 ５０…画像処理システム
５２…ＩＰ ５４…画像読取部
５６…画像処理装置 ５８…表示制御部
６０…表示部 ６２…記録制御部
６４…記録媒体 ７２…有効画像領域
７４…無効画像領域 ７６…散乱線領域
８０…無効画像領域検出部 ８２…補正対象領域特定部
８４、１２０…濃度補正部 ９０…補正対象領域
９２、９８…境界線 ９４…領域
９６…関心領域 １００…マップ算出部
１０２、１２２…ローパスフィルタ処理部 １０４…濃度値加算部
１２４…差分濃度値算出部 １２６…加算部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像に対して黒化処理を施す画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
イメージングプレート（以下、ＩＰ）は角隅が丸まった形状を有するので、ＩＰを利用して得られた放射線画像のうち、ＩＰが存在しない角隅に白抜け領域が発生する。また、角隅ではない辺縁部でも、ＩＰを読み取る装置の搬送時のがたつき等に起因して、画像中に白抜け領域が発生することがある。また、白抜け領域と隣接する白抜けしていない画像部分には散乱線の影響が大きくなる領域が発生することがわかっている。この白抜け領域は高輝度であり、散乱線領域の輝度は比較的高いので、放射線画像の視認性の低下や眼精疲労を招くという問題があった。
【０００３】
そこで、下記特許文献１は、白抜け領域とＩＰのエッジ部に発生する散乱線領域に対して黒化処理を自動的に施して黒く塗りつぶす技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−２８３２８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、散乱線領域を単に黒く塗りつぶすと、散乱線領域に表されている被写体情報が失われてしまう。逆に、散乱線領域を全く塗りつぶさないとすると、散乱線領域の輝度は比較的高いので放射線画像の視認性が悪化してしまう。
【０００６】
そこで本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてなされたものであり、散乱線領域の被写体情報を失うことなく、散乱線領域を黒く塗り潰す画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、放射線情報を蓄積可能な記録プレートを用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、前記放射線画像は、前記記録プレートが存在する領域に対応する有効画像領域と、前記記録プレートが存在しない領域に対応する無効画像領域とを有し、前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、を備えることを特徴とする。
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、固体検出器を用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、前記放射線画像は、放射線が照射された領域に対応する有効画像領域と、放射線が照射されていない領域に対応する無効画像領域とを有し、前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
前記濃度補正部は、前記無効画像領域に近い前記補正対象領域の画素程加算する濃度値を高くして、該補正対象領域の画素の濃度値を補正してもよい。
【００１０】
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、前記濃度補正部は、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記ローパスフィルタ処理が施された前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去してもよい。
【００１１】
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去してもよい。
【００１２】
前記マップ算出部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素との濃度値の差分をとることで前記加算量マップを算出してもよい。
【００１３】
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値を算出する差分濃度値算出部と、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値に前記関心領域内の基準となる複数の基準画素の濃度値を加算する加算部と、を有することで前記補正対象領域の画素の濃度値を補正してもよい。
【００１４】
前記加算部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素とを加算してもよい。
【００１５】
前記補正対象領域と前記関心領域との境界線は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線と平行であってもよい。
【００１６】
前記複数の基準画素は、関心領域の画素のうち、前記補正対象領域の画素と隣接する画素であってもよい。
【００１７】
補正対象領域特定部は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線から一定距離内にある前記有効画像領域内の領域を前記補正対象領域として特定してもよい。
【００１８】
前記補正対象領域特定部は、該有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の前記領域と、前記無効画像領域とを補正対象領域として特定してもよい。
【００１９】
前記濃度補正部は、さらに前記無効画像領域の画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、前記無効画像領域を黒く塗り潰してもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、放射線画像の有効画像領域側から無効画像領域側に向かって存在する散乱線領域を含む補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正して黒く塗り潰すので、被写体情報を残したまま、散乱線領域を塗り潰すことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】放射線撮像装置の一例であるマンモグラフィ装置の外観斜視図である。
【図２】図１のマンモグラフィ装置の要部拡大図である。
【図３】ＩＰに蓄積された放射線画像を読み取って所定の処理を行う画像処理システムの電気的な構成を示すブロック図である。
【図４】画像読取部が読み取った放射線画像の角隅を示す図である。
【図５】図３に示す画像処理装置の構成を示すブロック図である。
【図６】特定される補正対象領域を説明するための図である。
【図７】図３に示す画像処理装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】加算量マップの算出を説明するための図である。
【図９】図８の法線Ａにおける各画素の濃度値と法線Ａにおける補正対象領域の各画素に加算する加算量との関係を示す図である。
【図１０】図４に示す放射線画像を画像読取部が読み取った場合に、該放射線画像から算出され、ローパスフィルタ処理がされた加算量マップの画像を示す図である。
【図１１】補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算量マップを加算したときの、図９に示す法線Ａにおける補正対象領域の各画素の濃度値を示す図である。
【図１２】図４に示す放射線画像を画像読取部が読み取った場合に、補正対象領域の複数の画素の濃度値に、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップが加算された後の放射線画像を示す図である。
【図１３】変形例４の濃度補正部の構成を示すブロック図である。
【図１４】加算量マップを用いて領域の濃度値を補正した後に、無効画像領域の複数の画素値を予め定められた濃度値に置き換えることで、無効画像領域を黒く塗り潰したときの放射線画像を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
本発明に係る画像処理装置について、好適な実施の形態を掲げ、添付の図面を参照しながら以下、詳細に説明する。
【００２３】
図１は、放射線撮像装置の一例であるマンモグラフィ装置１０の外観斜視図、図２は、図１のマンモグラフィ装置１０の要部拡大図である。マンモグラフィ装置１０は、立設状態に設置される基台部１２と、この基台部１２の略中央部に配設される旋回軸１４に固定される装置本体部１６と、被写体１８の撮影部位（マンモ）１８ａに対して放射線（例えば、Ｘ線）を照射するモリブデン管球、タングステン管球、又はロジウム管球等の放射線源２０を収納し、装置本体部１６を構成するアーム部材２２の一端部に固定される放射線源収納部２４と、マンモ１８ａを透過した放射線を検出して放射線画像情報を取得する図示しない固体検出器を収納し、装置本体部１６を構成するブラケット部材２６に固定される撮影台２８と、ブラケット部材２６に設けられ、撮影台２８に対してマンモ１８ａを押圧して保持する圧迫板３０とを備える。
【００２４】
固体検出器は、ＩＰ（輝尽性発光体プレート）であり、被写体の放射線画像、つまり、マンモ１８ａを透過した放射線を蓄積することで、放射線画像を得る。ＩＰとは、被写体を透過した放射線を蓄積して、励起光の照射等により、蓄積した放射線をその線量に応じた強度で輝尽発光するものであり、所定の基板上に輝尽性蛍光体が層状に形成された構成を有している。基台部１２には、撮影方向等の撮影情報、被写体１８のＩＤ情報等を表示するとともに、必要に応じてこれらの情報を設定可能な表示操作部３２が配設される。
【００２５】
次に、画像処理システム５０について説明する。図３は、ＩＰ５２に蓄積された放射線画像を読み取って所定の処理を行う画像処理システム５０の電気的な構成を示すブロック図である。画像処理システム５０は、ＩＰ５２、画像読取部５４、画像処理装置５６、表示制御部５８、表示部６０、記録制御部６２、及び記録媒体６４を備える。
【００２６】
画像読取部５４は、ＩＰ５２（記録プレート）によって検出された被写体の画像情報を読み取り、該読み取った被写体の放射線画像をデジタル信号に変換して、画像処理装置５６に出力する。詳しくは、画像読取部５４は、励起光を出力する光源、励起光を走査する走査部、フォトマルチプライヤ、増幅器、及びＡ／Ｄ変換器を有する（図示略）。前記走査部がＩＰ５２の表面に対して励起光を走査する。この走査により励起光がＩＰ５２に照射され、励起光が照射された箇所から蓄積された被写体の放射線画像に応じた光量で輝尽発光し、前記フォトマルチプライヤは、該輝尽発光した光を電気信号に変換する。前記増幅器は、該変換された電気信号を増幅し、前記Ａ／Ｄ変換器は、増幅された電気信号をデジタル信号に変換する。これにより、デジタル信号の放射線画像を得ることができる。
【００２７】
画像処理装置５６は、画像読取部５４が読み取った放射線画像に対して後述する所定の画像処理を施し、該画像処理が施された放射線画像を表示制御部５８及び（又は）記録制御部６２に出力する。
【００２８】
表示制御部５８は、放射線画像を液晶ディスプレイ等の表示部６０に表示させ、記録制御部６２は、放射線画像をフラッシュメモリ、ハードディスク等の記録媒体６４に記録する。
【００２９】
図４は、画像読取部５４が読み取った放射線画像の角隅を示す図である。図４に示すように放射線画像は、ＩＰ５２が存在する領域に対応する有効画像領域７２と、ＩＰ５２が存在しない領域に対応する無効画像領域７４とを有する。上述したようにＩＰ５２は、角隅が丸まった形状を有するので、ＩＰ５２は、放射線が照射されても、角隅では放射線を蓄積することができない。従って、無効画像領域は、高輝度となり、白抜け領域となる。また、有効画像領域７２は、ＩＰ５２のエッジ部分に対応した散乱線領域７６を有する。ＩＰ５２のエッジ部分では放射線が散乱してしまうため、この散乱線領域７６は、ぼやけた画像となる。放射線画像の各画素の濃度値は、ＩＰ５２に入射した放射線量に応じて変わり、入射した放射線量が少ない領域程濃度値が小さくなる。従って、無効画像領域７４の濃度値は低くなり、散乱線領域７６では、濃度値が変動し、ＩＰ５２のエッジに近い程濃度値が小さくなる。このようなことから、放射線画像の角隅においては、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって濃度値のトレンドが発生する。
【００３０】
図５は、画像処理装置５６の構成を示すブロック図である。画像処理装置５６は、無効画像領域検出部８０、補正対象領域特定部８２、及び濃度補正部８４を備える。
【００３１】
無効画像領域検出部８０は、画像読取部５４から送られてきた放射線画像の無効画像領域７４を検出する。この無効画像領域７４の検出手法としては、例えば、特許第２８３１８９２号公報に記載されているように、Ｋ平均アルゴリズムによるクラスタリングを用いて背景領域と輪郭領域を分離することで、背景領域と見做すことができる無効画像領域７４を検出する。また、特開２００４−２８３２８１号公報に記載されているように、エッジを検出することで無効画像領域７４を検出してもよい。さらに、放射線画像の各画素の濃度値と閾値とを比較し、濃度値が閾値より低い画素群を無効画像領域７４として検出してもよい。本実施の形態では、放射線画像の各画素の濃度値と閾値とを比較することで、無効画像領域７４を検出する。無効画像領域検出部８０は、入力された放射線画像を補正対象領域特定部８２に出力するとともに、検出した無効画像領域７４を示す情報も出力する。
【００３２】
補正対象領域特定部８２は、検出された無効画像領域７４に基づいて、放射線画像のうち画素の濃度値を補正する補正対象領域を特定する。補正対象領域特定部８２は、有効画像領域７２のうち無効画像領域７４と隣接する予め定められた範囲の領域と、無効画像領域７４とを補正対象領域として特定する。補正対象領域特定部８２は、入力された放射線画像を濃度補正部８４に出力するとともに、特定した補正対象領域を示す情報、及び、無効画像領域７４を示す情報も出力する。
【００３３】
図６は、特定される補正対象領域９０を説明するための図である。有効画像領域７２のうち無効画像領域７４と隣接する予め定められた範囲の領域とは、例えば、有効画像領域７２と無効画像領域７４との境界線９２から一定距離内にある有効画像領域７２内の領域（斜線で示す領域）９４であってもよい。前記一定距離は、領域９４が散乱線領域７６を全て含むようにその長さが決められる。
【００３４】
また、有効画像領域７２のうち、補正対象領域９０（領域９４）以外の領域を関心領域９６と呼び、関心領域９６と補正対象領域９０との境界線（関心領域９６と領域９４との境界線）９８と境界線９２とは、平行している。なお、境界線９２は、有効画像領域７２のうち、無効画像領域７４の画素と隣接する複数の画素によって形成され、境界線９８は、関心領域９６のうち、領域９４の画素と隣接する複数の画素によって形成される。この境界線９８を形成する関心領域９６の画素、つまり、境界線９８上の複数の画素を基準画素と呼ぶ。
【００３５】
濃度補正部８４は、入射された放射線画像のうち、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の複数の画素の画素値のトレンドを除去することで、補正対象領域９０の画素の濃度値を補正して（黒化処理を施して）該補正対象領域９０を黒く塗り潰す。
【００３６】
濃度補正部８４は、マップ算出部１００、ローパスフィルタ処理部１０２、及び濃度値加算部１０４を有する。マップ算出部１００は、複数の前記基準画素と補正対象領域９０内の複数の画素との濃度値の差分をとることで、加算量マップを算出する。この加算量マップは、補正対象領域９０内の各画素の濃度値に加算する加算量（濃度値）を表すマップである。マップ算出部１００は、補正対象領域９０の画素と、該画素と最も距離が短くなる基準画素との濃度値の差分を取ることで加算量マップを算出してもよい。
【００３７】
ローパスフィルタ処理部１０２は、算出された加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すことで加算量マップの高周波成分を除去する。そして、濃度補正部８４は、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップを補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算することで、該補正対象領域９０の画素の濃度値を補正する。
【００３８】
次に、画像処理装置５６の動作を図７のフローチャートに従って説明する。画像読取部５４から放射線画像が画像処理装置５６に送られてくると、無効画像領域検出部８０は、該送られてきた放射線画像の無効画像領域７４を検出する（ステップＳ１）。
【００３９】
次いで、補正対象領域特定部８２は、該検出した無効画像領域７４に基づいて、放射線画像のうち画素の濃度値を補正する補正対象領域９０を特定する（ステップＳ２）。補正対象領域特定部８２は、有効画像領域７２のうち無効画像領域７４と隣接する予め定められた範囲の領域９４と、無効画像領域７４とを補正対象領域９０として特定する（図６参照）。ここで、散乱線領域７６と無効画像領域７４のみを補正対象領域９０として特定せずに、散乱線領域７６を含む領域９４と無効画像領域７４とを補正対象領域９０として特定する理由としては、正確に検出することが困難な散乱線領域７６を補正対象領域９０に含めるためである。
【００４０】
次いで、濃度補正部８４のマップ算出部１００は、放射線画像の関心領域９６の画素の中から、複数の基準画素を特定する（ステップＳ３）。詳しくは、関心領域９６と補正対象領域９０との境界線９８上にある複数の関心領域９６の画素を基準画素として特定する。
【００４１】
次いで、濃度補正部８４のマップ算出部１００は、補正対象領域９０の画素と、該画素と最短距離となる基準画素との濃度値の差分を取ることで、補正対象領域９０の各画素の濃度値に加算する加算量を示す加算量マップを算出する（ステップＳ４）。補正対象領域９０の画素と、該画素と最短距離となる基準画素との濃度値の差分は、基準画素の濃度値から補正対象領域９０の画素の濃度値を減算することで求める。
【００４２】
図８は、加算量マップの算出を説明するための図である。マップ算出部１００は、補正対象領域９０の画素と、該画素と最短距離となる基準画素との濃度値の差分をとるので、減算する補正対象領域９０の画素と、基準画素とは境界線９８の同一の法線上にあることになる。例えば、図８の補正対象領域９０の画素１１０と最短距離となる基準画素１１２とは、基準画素１１２における境界線９８の法線Ａ上にある。従って、マップ算出部１００は、境界線９８の各法線毎に、同一の法線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとることで、加算量マップを算出する。なお、図８では、便宜的に、撮影対象となるマンモ１８ａを表す。
【００４３】
図９は、図８の法線Ａにおける各画素の濃度値と法線Ａにおける補正対象領域９０の各画素に加算する加算量との関係を示す図である。図９の通り、先に説明した閾値より低い領域を無効画像領域７４、閾値より高い領域を有効画像領域７２とする。無効画像領域７４と、散乱線領域７６を含む領域９４とを補正対象領域９０とする。散乱線領域７６では、濃度値の変動が激しく発生していることがわかる。
【００４４】
法線Ａ上における基準画素の濃度値から補正対象領域９０の各画素の濃度値を減算すると、図９に示すように、法線Ａ上における補正対象領域９０の各画素に加算する加算量を得ることができる。
【００４５】
次いで、濃度補正部８４のローパスフィルタ処理部１０２は、ステップＳ４で算出した加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すことで、加算量マップの高周波成分を除去する（ステップＳ５）。加算量マップにローパスフィルタ処理を施すことで、図９に示すように補正対象領域９０の各画素に加算する加算量が示す曲線（破線で示す曲線）は滑らかになり、補正対象領域９０のうち、濃度値が低い画素程、加算される加算量が大きくなる（つまり、無効画像領域７４に近い画素程加算される加算量が大きくなり、無効画像領域７４の画素に加算される加算量が最も大きい）。
【００４６】
図１０は、図４に示す放射線画像を画像読取部５４が読み取った場合に、該放射線画像から算出され、ローパスフィルタ処理がされた加算量マップの画像を示す図である。図１０に示すように無効画像領域７４及び散乱線領域７６に対応する画像領域は黒く塗り潰され、散乱線領域７６以外の有効画像領域７２に対応する画像領域は、白抜け領域となる。
【００４７】
次いで、濃度値加算部１０４は、画像読取部５４が読み取った放射線画像の補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算量マップを加算する（ステップＳ６）。
【００４８】
ステップＳ６では、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に、ステップＳ４で算出した加算量マップを加算せずに、ステップＳ５でローパスフィルタ処理が施された加算量マップを加算することとしたのは、補正対象領域９０の高周波成分は、被写体情報でもあり、ローパスフィルタ処理が施されていない加算量マップを補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算してしまうと、補正対象領域９０の被写体情報が失われてしまうため、ローパスフィルタ処理後の加算量マップを加算することで補正対象領域９０の被写体情報（高周波成分）を残しながら、補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００４９】
図１１は、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に加算量マップを加算したときの、図９に示す法線Ａにおける補正対象領域９０の各画素の濃度値を示す図である。図１１に示すように、散乱線領域７６の被写体情報（高周波成分）が除去されることなく補正対象領域９０が黒く塗り潰されており（補正対象領域９０の各画素の濃度値が高くなり）、無効画像領域７４も同様に黒く塗り潰されている。
【００５０】
図１２は、図４に示す放射線画像を画像読取部５４が読み取った場合に、補正対象領域の複数の画素の濃度値に、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップが加算された後の放射線画像を示す図である。図１２に示すように、無効画像領域７４及び散乱線領域７６が黒く略一様に塗り潰されている。
【００５１】
このように、複数の基準画素の濃度値から補正対象領域９０の複数の画素の濃度値を減算して加算量マップを算出し、該加算量マップにローパスフィルタ処理を施した後、ローパスフィルタ処理が施された加算量マップを補正対象領域９０の各画素の濃度値に加算するので、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の画素の濃度値のトレンドを除去することができ、該補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。即ち、散乱線領域７６の被写体情報（高周波成分）を残したまま散乱線領域７６を黒く塗り潰すことができ、また、無効画像領域７４も塗り潰すことができる。放射線画像から散乱線領域７６を正確に検出することは難しいが、本実施の形態によれば、散乱線領域７６を正確に検出することができなくても、散乱線領域７６の被写体情報を除去することなく、散乱線領域７６を黒く塗り潰すことができる。また、補正対象領域９０のうち、散乱線領域７６ではない有効画像領域７２の画素の濃度値に加算される加算量は、極めて小さいので、領域９４を散乱線領域７６より大きい領域にしても、散乱線領域７６ではない有効画像領域７２の濃度値が、濃度補正によって受ける影響は少なく、補正していないのと同様の結果となり、被写体情報が失われることはない。
【００５２】
逆に、補正対象領域９０の各画素の濃度値を予め定められた値に置き換える補正を行うと、有効画像領域７２の被写体情報が失われてしまうが、本実施の形態ではそのようは不具合は生じない。
【００５３】
また、上記実施の形態では、基準画素の濃度値に対して、濃度値が低い補正対象領域９０の画素程加算される加算量が大きくなるので、補正対象領域を被写体情報を残したまま略一様に塗り潰すことができる。
【００５４】
また、マンモ１８ａを撮影した場合には、図８に示すように散乱線領域７６におけるマンモ１８ａのエッジの接線は、境界線９８の法線Ａに近いので、境界線９８の法線毎に、基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分を求めて加算量マップを算出することで、精度よく被写体情報を残したまま散乱線領域７６を黒く塗り潰すことができる。
【００５５】
上記実施の形態は、以下のように変形可能である。
【００５６】
（変形例１）上記実施の形態では、マップ算出部１００が複数の基準画素の濃度値から補正対象領域９０の複数の画素の濃度値を減算して加算量マップを算出し（図７のステップＳ４）、ローパスフィルタ処理部１０２が算出した該加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すようにしたが（ステップＳ５）、ローパスフィルタ処理部１０２が補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施し、マップ算出部１００が複数の基準画素の濃度値からローパスフィルタ処理後の補正対象領域９０の複数の画素の濃度値を減算することで加算量マップを求めてもよい。この場合は、求めた加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施さなくても、上記実施の形態で得られる加算量マップと同様のものが得られ、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の画素の濃度値のトレンドを除去することができ、該補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００５７】
（変形例２）上記実施の形態では、同一の法線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとるようにして、加算量マップを算出するようにしたが、同一の法線上でなくてもよく、例えば、同一の所定の直線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとるようにしてもよい。例えば、ｙ軸方向（放射線画像の縦方向）又はｘ軸方向（放射線画像の横方向）に平行であり、同一の直線上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素との濃度値の差分をとるようにしてもよい。
【００５８】
（変形例３）上記実施の形態では、関心領域９６と補正対象領域９０との境界線９８上の画素を基準画素としたが、基準画素は、関心領域９６内の画素であればよい。
【００５９】
（変形例４）変形例４では、画像処理装置５６の濃度補正部８４を図１３に示す濃度補正部１２０に代えてもよい。変形例４の濃度補正部１２０は、ローパスフィルタ処理部１２２、差分濃度値算出部１２４、及び加算部１２６を有する。ローパスフィルタ処理部１２２は、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すことで、高周波成分を除去する。差分濃度値算出部１２４は、補正対象領域９０の複数の画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された補正対象領域９０の複数の画素の濃度値との差分をとることで、補正対象領域９０の各画素の差分濃度値を算出する。加算部１２６は、該算出した補正対象領域９０の各画素の差分濃度値に、複数の基準画素の濃度値を加算する。加算部１２６は、同一の所定の直線（例えば、法線）上にある基準画素と補正対象領域９０の各画素とを加算する。変形例４であっても、有効画像領域７２側から無効画像領域７４側に向かって存在する補正対象領域９０の画素の濃度値のトレンドを除去することができ、該補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００６０】
（変形例５）図７のステップＳ６で、濃度補正部８４は、補正対象領域９０の画素の濃度値に加算量マップを加算することで補正対象領域９０の画素を黒く塗り潰した後、さらに、無効画像領域７４の画像を黒く塗り潰してもよい。例えば、無効画像領域７４の各画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、該無効画像領域７４を黒く塗り潰す。
【００６１】
また、上記実施の形態では、図７のステップＳ２で、補正対象領域特定部８２は、領域９４と無効画像領域７４とを補正対象領域９０として特定したが、領域９４のみを補正対象領域９０として特定してもよい。この場合は、ステップＳ６で、補正対象領域９０として特定された領域９４の濃度値が加算量マップによって補正され、被写体情報を残したままの状態で黒く塗り潰されることになる。この場合、無効画像領域７４の濃度値が補正されないので、無効画像領域７４の複数の画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、無効画像領域７４を黒く塗り潰す。
【００６２】
図１４は、加算量マップを用いて領域９４の濃度値を補正した後に、無効画像領域７４の複数の画素値を予め定められた濃度値に置き換えることで、無効画像領域７４を黒く塗り潰したときの放射線画像を示す。
【００６３】
（変形例６）上記実施の形態では、ＩＰ５２の全領域に対して放射線を照射した場合を例にしたが、照射野を絞ってＩＰ５２の全領域の一部に対して放射線を照射してもよい。この場合は、放射線が照射された領域では被写体の画像情報を得ることができるが、放射線が照射されていない領域では被写体の画像情報を得ることができず、放射線が照射されていない領域は、白抜け領域となる。
【００６４】
このように照射野を絞って撮影した場合であっても、放射線が照射された領域と照射されていない領域との間には、放射線が散乱した散乱線領域が発生するので、上記実施の形態と同様の処理によって、散乱線領域の被写体情報を残したながら、散乱線領域を黒く塗り潰すことができ、放射線が照射されていない領域も黒く塗り潰すことができる。
【００６５】
詳しくは、本変形例６においては、照射野を絞って撮影されたＩＰ５２から読み取った放射線画像のうち、放射線が照射された領域に対応する領域を上記実施の形態で説明した有効画像領域７２とし、放射線が照射されていない領域に対応する領域を上記実施の形態で説明した無効画像領域７４とし、有効画像領域７２と無効画像領域７４との間に発生した散乱線領域を上記実施の形態の散乱線領域７６とする。そして、図７のフローチャートで示した動作を行うことで、散乱線領域７６を含む補正対象領域９０を黒く塗り潰すことができる。
【００６６】
なお、本変形例６においては、固体検出器は、ＩＰ５２に限定される必要なく、放射線を電気的に検出することができる電子カセッテ（ＦＰＤ）等のＤＲ（デジタルラジオグラフィ）パネルであってもよい。
【００６７】
（変形例７）上記変形例１〜６を、矛盾が生じない範囲内で任意に組み合わせた態様であってもよい。
【００６８】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【符号の説明】
【００６９】
１０…マンモグラフィ装置 １８…被写体
１８ａ…撮影部位 ５０…画像処理システム
５２…ＩＰ ５４…画像読取部
５６…画像処理装置 ５８…表示制御部
６０…表示部 ６２…記録制御部
６４…記録媒体 ７２…有効画像領域
７４…無効画像領域 ７６…散乱線領域
８０…無効画像領域検出部 ８２…補正対象領域特定部
８４、１２０…濃度補正部 ９０…補正対象領域
９２、９８…境界線 ９４…領域
９６…関心領域 １００…マップ算出部
１０２、１２２…ローパスフィルタ処理部 １０４…濃度値加算部
１２４…差分濃度値算出部 １２６…加算部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線情報を蓄積可能な記録プレートを用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、
前記放射線画像は、前記記録プレートが存在する領域に対応する有効画像領域と、前記記録プレートが存在しない領域に対応する無効画像領域とを有し、
前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、
前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
固体検出器を用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、
前記放射線画像は、放射線が照射された領域に対応する有効画像領域と、放射線が照射されていない領域に対応する無効画像領域とを有し、
前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、
前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の画像処理装置であって、
前記濃度補正部は、前記無効画像領域に近い前記補正対象領域の画素程加算する濃度値を高くして、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、
前記濃度補正部は、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記ローパスフィルタ処理が施された前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、
前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項４又は５に記載の画像処理装置であって、
前記マップ算出部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素との濃度値の差分をとることで前記加算量マップを算出する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項１又は２に記載の画像処理装置であって、
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、
前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値を算出する差分濃度値算出部と、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値に前記関心領域内の基準となる複数の基準画素の濃度値を加算する加算部と、を有することで前記補正対象領域の画素の濃度値を補正する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
請求項７に記載の画像処理装置であって、
前記加算部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素とを加算する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】
請求項４〜８のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記補正対象領域と前記関心領域との境界線は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線と平行である
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
請求項４〜９のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記複数の基準画素は、関心領域の画素のうち、前記補正対象領域の画素と隣接する画素である
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１１】
請求項１〜１０のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
補正対象領域特定部は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線から一定距離内にある前記有効画像領域内の領域を前記補正対象領域として特定する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１２】
請求項１〜１１のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記補正対象領域特定部は、該有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の前記領域と、前記無効画像領域とを補正対象領域として特定する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１３】
請求項１〜１２のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記濃度補正部は、さらに前記無効画像領域の画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、前記無効画像領域を黒く塗り潰す
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１】
放射線情報を蓄積可能な記録プレートを用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、
前記放射線画像は、前記記録プレートが存在する領域に対応する有効画像領域と、前記記録プレートが存在しない領域に対応する無効画像領域とを有し、
前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、
前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
固体検出器を用いて取得された放射線画像に対して、濃度補正処理を施す画像処理装置であって、
前記放射線画像は、放射線が照射された領域に対応する有効画像領域と、放射線が照射されていない領域に対応する無効画像領域とを有し、
前記有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の領域を補正対象領域として特定する補正対象領域特定部と、
前記有効画像領域側から前記無効画像領域側に向かって存在する前記補正対象領域の濃度値のトレンドを除去することで、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する濃度補正部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の画像処理装置であって、
前記濃度補正部は、前記無効画像領域に近い前記補正対象領域の画素程加算する濃度値を高くして、該補正対象領域の画素の濃度値を補正する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、
前記濃度補正部は、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップに対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記ローパスフィルタ処理が施された前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、
前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記関心領域内の加算量マップ算出の基準となる複数の基準画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の各画素の濃度値に加算する加算量を示す前記加算量マップを算出するマップ算出部と、前記加算量マップを前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に加算する濃度値加算部と、を有することで該補正対象領域のトレンドを除去する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項４又は５に記載の画像処理装置であって、
前記マップ算出部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素との濃度値の差分をとることで前記加算量マップを算出する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項１又は２に記載の画像処理装置であって、
前記有効画像領域のうち、前記補正対象領域以外の領域を関心領域とし、
前記濃度補正部は、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタ処理部と、前記補正対象領域の複数の画素の濃度値と、ローパスフィルタ処理が施された前記補正対象領域の複数の画素の濃度値との差分をとることで、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値を算出する差分濃度値算出部と、前記補正対象領域の複数の画素の差分濃度値に前記関心領域内の基準となる複数の基準画素の濃度値を加算する加算部と、を有することで前記補正対象領域の画素の濃度値を補正する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
請求項７に記載の画像処理装置であって、
前記加算部は、前記補正対象領域の画素と、該画素と最も距離が短くなる前記基準画素とを加算する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】
請求項４〜８のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記補正対象領域と前記関心領域との境界線は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線と平行である
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
請求項４〜９のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記複数の基準画素は、関心領域の画素のうち、前記補正対象領域の画素と隣接する画素である
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１１】
請求項１〜１０のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
補正対象領域特定部は、前記有効画像領域と前記無効画像領域との境界線から一定距離内にある前記有効画像領域内の領域を前記補正対象領域として特定する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１２】
請求項１〜１１のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記補正対象領域特定部は、該有効画像領域のうち前記無効画像領域と隣接する予め定められた範囲の前記領域と、前記無効画像領域とを補正対象領域として特定する
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１３】
請求項１〜１２のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記濃度補正部は、さらに前記無効画像領域の画素の濃度値を予め定められた濃度値に置き換えることで、前記無効画像領域を黒く塗り潰す
ことを特徴とする画像処理装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【公開番号】特開２０１３−５９５１１（Ｐ２０１３−５９５１１Ａ）
【公開日】平成２５年４月４日（２０１３．４．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２０００６１（Ｐ２０１１−２０００６１）
【出願日】平成２３年９月１４日（２０１１．９．１４）
【出願人】（３０６０３７３１１）富士フイルム株式会社 (25,513)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月４日（２０１３．４．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年９月１４日（２０１１．９．１４）
【出願人】（３０６０３７３１１）富士フイルム株式会社 (25,513)
【Ｆターム（参考）】
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