説明

疑似水垢の形成方法

【課題】
従来提案されていなかった疑似水垢を形成する方法を提供する。
【解決手段】
溶性ケイ酸と炭酸カルシウムを含む水溶液を基材に付着させ、基材に付着した水溶液を自然乾燥することを特徴とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、疑似水垢の形成方法に関するものである。
【背景技術】
【0002】
水垢は、水に含まれるケイ酸、炭酸カルシウム等の無機成分によって形成されるものである。水垢の形成過程は、陶器等に水が付着した状態から、水分が蒸発すると、無機成分が陶器等の表面に残存して、白色の被覆物となって水垢となるが、水垢が形成されると陶器等の見栄えが悪くなってしまう。このため、従来、水垢を取るための水垢除去剤や水垢除去方法等の様々な水垢対策が提案されている。
【0003】
しかしながら、従来、実際に水垢を疑似的に陶器等の表面に形成する技術は十分に研究されておらず、疑似水垢の形成方法は提案されていないのが現状である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は、以上の通りの事情に鑑みてなされたものであり、従来提案されていなかった疑似水垢を形成する方法を提供することを課題としている。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明は、上記の課題を解決するために、第1には、溶性ケイ酸と炭酸カルシウムを含む水溶液を基材に付着させ、基材に付着した水溶液を自然乾燥することを特徴としている。
【0006】
第2には、水溶液を基材に複数回繰り返して付着させることを特徴としている。
【0007】
第3には、水溶液は、溶性ケイ酸を50mg/L以上含むことを特徴としている。
【0008】
第4には、水溶液は、炭酸カルシウムを100mg/L以上含むことを特徴としている。
【発明の効果】
【0009】
上記第1の発明によれば、水溶液を基材に付着させて、自然乾燥するという簡便な方法によって、容易に疑似水垢を形成することができる。そして、形成される疑似水垢は、一般的な水垢と同じものであるため、水垢除去剤、水垢除去方法等の評価用として使用することができる。
【0010】
また、上記第2の発明によって、容易に疑似水垢の形成量を増やすことができる。
【0011】
さらに第3、4の発明によって、水溶液の付着、自然乾燥の1サイクルあたりに形成される疑似水垢の形成量を増やすことができるため、水垢除去剤、水垢除去方法等の効果を検討する際には、自然形成するよりも容易に疑似水垢を形成することができる。また、溶性ケイ酸を50mg/L以上、炭酸カルシウムを100mg/L以上という数値規定の下限は、それぞれ全国で最も高い含有量であり、溶性ケイ酸を50mg/L以上、炭酸カルシウムを100mg/L以上として作製した疑似水垢は、水垢除去剤や水垢除去方法等を評価する上での指標とすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
以下、本発明について詳しく説明する。
【0013】
本発明は、溶性ケイ酸と炭酸カルシウムを含む水溶液を基材に付着させ、基材に付着した水溶液を自然乾燥することを特徴とする疑似水垢の形成方法である。これは、以下のような知見に基づいてなされたものである。
【0014】
水に含まれる水垢成分としては、溶性ケイ酸と炭酸カルシウムの2成分が存在することが知られている。これが、シリカと炭酸カルシウムからなる水垢となる。Siは火山性岩石の主要構成元素であり、Caは石灰岩の主元素であり、これらは成因、地質的に全く異なるため、SiとCaが同時に多く含まれている地域は存在しないものと、本発明者らは当初認識していたため、溶性ケイ酸と炭酸カルシウムを含む水溶液を別々に作製しようと考えていた。
【0015】
しかしながら、西日本における炭酸カルシウムと溶性ケイ酸との相関図を調査した結果、水は複雑な地質経路を辿り、様々な元素が溶けるので単純な相関にはならないことがわかった。
【0016】
さらに、水垢は以下のようなメカニズムで固着することがわかった。
(1)基材表面に水が付着する。水中では溶性ケイ酸は比較的低分子の状態(モノケイ酸、Si(OH)等)で存在している。この時点では基材表面との固着は起こっていないため、水垢は形成されていない。
(2)水が蒸発し濃縮が起こる。すると低分子であった溶性ケイ酸はSi−O−Si結合を形成して重合し、コロイド状態となる。また、溶性ケイ酸のSiと基材の表面のOH基と結合を始める。また、炭酸カルシウム等の塩も析出し始める。
(3)水が完全に蒸発すると溶性ケイ酸はシリカとなって、基材の表面と化学結合によって固着され、シリカ中に炭酸カルシウム等の塩類も析出し、水垢が形成される。ただし、再度水に触れると水への溶解度の大きい塩化ナトリウム、硫酸カルシウム等は水とともに溶出してしまい、溶解度の小さい炭酸カルシウムは溶出せずに水垢の構成成分となる。つまり、溶性ケイ酸が含有されていなければ、炭酸カルシウムとシリカからなる水垢が形成されない。実際、炭酸カルシウムのみの水溶液を用いた場合、基材に固着する疑似水垢は形成されなかった。
【0017】
このような知見により、疑似水垢の元となる水溶液は、炭酸カルシウムと溶性ケイ酸をどちらも含む水溶液とした。
【0018】
また、本発明は、水溶液を基材に複数回繰り返して付着させることによって、疑似水垢の量を増やすこともできる。なお、水溶液を基材に複数回繰り返して付着させるとは、いったん水溶液を自然乾燥させた後に、再度水溶液を付着させることを繰り返すことであることは言うまでもない。
【0019】
また、本発明は、水溶液に溶性ケイ酸を50mg/L以上、炭酸カルシウムを100mg/L以上含ませることによって、水溶液の付着、自然乾燥の1サイクルあたりに形成される疑似水垢の形成量を増やすことができるため、水垢除去剤、水垢除去方法等の効果を検討する際には、水道水によって形成するよりも容易に疑似水垢を形成することができる。また、溶性ケイ酸を50mg/L以上、炭酸カルシウムを100mg/L以上という数値規定の下限は、それぞれ全国で最も高い含有量であり、溶性ケイ酸を50mg/L以上、炭酸カルシウムを100mg/L以上として作製した疑似水垢は、水垢除去剤や水垢除去方法等を評価する上での指標とすることができる。
【0020】
本発明で用いる基材とは、実質的には、水垢形成が問題となるような基材であって、上記のようなメカニズムを考慮すれば、表面にOH基があるようなものである。より具体的には、ガラス質の表面を有するものは、水垢が形成されやすいため、本発明を積極的に用いることができる。例えば、トイレ、シンク、コップ、窓、親水コーティングされた車体等は、水で洗うという機会が多いため、積極的に用いることができる。
【実施例】
【0021】
以下、実施例に基づいて本発明をさらに詳しく説明する。
【0022】
<水溶液の調整>
水溶液の調整に際し、水の成分は地域によってばらつきがあるため、全国どの地域にも対応できるように、「水道水としての生活利用上、あるいは水道施設の管理上障害が生じるおそれのない水準」として定められている最大値(溶性ケイ酸(SiO)80mg/L、炭酸カルシウム(CaCO)300mg/L)(平成15年度水道統計水質編(社)日本水道協会)を参考として、溶性ケイ酸(SiO)100mg/L、炭酸カルシウム(CaCO)300mg/Lとすることとした。なお、参考としては、全国平均は、溶性ケイ酸(SiO)22mg/L、炭酸カルシウム(CaCO)51mg/Lである(平成15年度水道統計水質編(社)日本水道協会)。また、pHによって疑似水垢の形成過程が変化することを避けるため、水溶液のpHは中性付近とし、具体的にはpH6.5〜7.5となるように調節するものとした。以下、実施例における水溶液の調整方法を示す。
(i)1Lのビーカーに炭酸カルシウム(CaCO)(市販品、特級)を0.5g電子天秤で秤量し、蒸留水を約800mL加えた。
(ii)pHメーターでpHが5.0〜6.0になるまで0.1M塩酸(市販品、特級)を加えた(約70mL)。
(iii)1000mLのメスフラスコに移し、蒸留水を加えてメスアップした。
(iv)一晩放置し、翌日全量を定性ろ紙でろ過した。そして、pHが6.5〜7.5内にあるのを確認後、デジタルタイトレータ(HACH社製16900−01型)でCaCO濃度を測定した(結果460mg/Lであった)。
(v)460mg/Lの炭酸カルシウム溶液196mLにSi1000ppm標準液(市販品、原子吸光分析用)を14mL加え、攪拌した。この際、Si標準液はpHが10〜11であるため、一旦炭酸カルシウムが析出し白濁した。
(vi)0.1M塩酸(市販品、特級)を加え攪拌し、炭酸カルシウムを溶解させて、水溶液を透明にした(0.5M塩酸50mLを加えた)。
(vii)pHメーターにてpHを測定し、pH6.5〜7.5の間にあることを確認した。なお、pH6.5〜7.5の間にない場合には、0.1M塩酸で調節する必要がある。
(viii)蒸留水(40mL)を加えて合計300mLとした。これが、疑似水垢形成用の水溶液である。
(ix)水溶液中のSi濃度を、分光光度計(HACH社製DR4000シリカ高レンジ)を使用し、ケイモリブデン酸法により吸光度から測定した(結果、SiO換算で100mg/L)。また、デジタルタイトレータ(HACH社製16900−01型)でCaCO濃度を測定した(結果300mg/Lであった)。
【0023】
<基材表面への疑似水垢形成>
(i)基材は、便器とした。そして、ステンレストレイ上に、(a)実際の便器から切り出し、切り出す前と同じ角度で冶具に設置固定した曲面基材、(b)便器の中で水垢が形成されやすい場所である最小の傾き部分と同じ傾きになるように冶具に設置固定した平板基材、の2種類の基材を準備した。なお、基材をあらかじめ中性洗剤で洗浄し、イオン交換水ですすいだ後、乾燥させたものを用いた。
(ii)疑似水垢形成用の水溶液(Si濃度、SiO換算100mg/L、CaCO濃度、300mg/L)を、(a)、(b)の基材それぞれにかけ流した。
(iii)流れ落ちずに基材に残って付着している水溶液を、常温、自然乾燥によって、完全に乾燥させた。
(iv)かけ流し(ii)、乾燥(iii)を30回繰り返した。
(v)イオン交換水で表面をすすいだ後、常温、自然乾燥で全面を完全に乾燥した。
(vi)(a)(b)どちらの基材にも、自然に形成される水垢のような状態で、白色の疑似水垢が形成されていることが確認された。図1は、疑似水垢が形成された平板基材(b)の写真であり、図2は、図1の平板基材(b)にメチレンブルーをかけ流して疑似水垢を着色したものである。
【0024】
なお、強制的に乾燥させて形成した疑似水垢や、スプレーで基材全面が濡れるように水溶液を散布して形成した疑似水垢も作製したところ、実際に疑似水垢は形成されるものの、その量が多すぎてしまい、水垢量を自然に形成される水垢のように再現するためには、基材にかけ流す方法が好ましいことがわかった。
【0025】
以上のように、溶性ケイ酸と炭酸カルシウムを含む水溶液を基材に付着させ、基材に付着した水溶液を自然乾燥することによって、疑似水垢を形成することができることが示された。ただし、細部については、上記実施例に限定されないことは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【0026】
【図1】疑似水垢が形成された平板基材(b)の写真である。
【図2】図1の平板基材(b)にメチレンブルーをかけ流して疑似水垢を着色したものである。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
溶性ケイ酸と炭酸カルシウムを含む水溶液を基材に付着させ、基材に付着した水溶液を自然乾燥することを特徴とする疑似水垢の形成方法。
【請求項2】
水溶液を基材に複数回繰り返して付着させることを特徴とする請求項1に記載の疑似水垢の形成方法。
【請求項3】
水溶液は、溶性ケイ酸を50mg/L以上含むことを特徴とする請求項1または2に記載の疑似水垢の形成方法。
【請求項4】
水溶液は、炭酸カルシウムを100mg/L以上含むことを特徴とする請求項1ないし3いずれか一項に記載の疑似水垢の形成方法。

【図1】
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【図2】
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【公開番号】特開2008−241403(P2008−241403A)
【公開日】平成20年10月9日(2008.10.9)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−81017(P2007−81017)
【出願日】平成19年3月27日(2007.3.27)
【出願人】(000005832)松下電工株式会社 (17,916)
【Fターム(参考)】