篩振動装置
【課題】粉体測定装置に用いるのに適した、堅牢で扱いやすい篩振動装置を提供する。
【解決手段】粉体物性測定装置に設けられる篩振動装置２０は、一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバー２７と、振動レバー２７の支点部を、振動レバー２７が垂直面内で回動可能であるように支持する軸受部２６と、振動レバー２７の作用点部に設けられた篩取付枠２９と、振動レバー２７を力点部で支える弾性支持体３３と、振動レバー２７の力点部に対し吸引力および／または反発力を及ぼし、振動レバー２７を振動させる電磁石３１と、を備える。篩振動装置２０は架台構造上に設置された第１デッキ２２と、その上に弾性支持体２３で支持された第２デッキ２４を備え、第２デッキ２４に軸受部２６と弾性支持体３３、及び電磁石３１が支持されている。
【解決手段】粉体物性測定装置に設けられる篩振動装置２０は、一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバー２７と、振動レバー２７の支点部を、振動レバー２７が垂直面内で回動可能であるように支持する軸受部２６と、振動レバー２７の作用点部に設けられた篩取付枠２９と、振動レバー２７を力点部で支える弾性支持体３３と、振動レバー２７の力点部に対し吸引力および／または反発力を及ぼし、振動レバー２７を振動させる電磁石３１と、を備える。篩振動装置２０は架台構造上に設置された第１デッキ２２と、その上に弾性支持体２３で支持された第２デッキ２４を備え、第２デッキ２４に軸受部２６と弾性支持体３３、及び電磁石３１が支持されている。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は粉体測定装置に用いられる篩振動装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
粉体の物性値は、安息角、崩潰角、スパチュラ角、ゆるめ・固めかさ密度、圧縮度、凝集度、分散度、差角など、様々なパラメータをもって測定される。これらの物性値を測定する装置については、特許文献１に例を見ることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第２７９８８２７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
粉体の物性を正確に測定するためには、測定前に試料粉体を篩にかける必要がある。特許文献１に記載された装置も振動装置で振動せしめられる篩を備えている。しかし、従来装置では篩や試料粉体の重量により振幅が変わったり、あるいは、本来前後左右が平行に振動すべき篩が偏って振動したりするなど、さらには時間の経過とともに振幅が変わるなど、振動を安定させることが難しかった。
【０００５】
本発明は、上記問題に鑑みなされたものであり、堅牢で、時間の経過に関わらず一定の振幅で振動させることができる篩振動装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の篩振動装置は、一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバーと、前記振動レバーの支点部を、当該振動レバーが垂直面内で回動可能であるように支持する軸受部と、前記振動レバーの前記作用点部に設けられた篩取付枠と、前記振動レバーを前記力点部で支える弾性支持体と、前記振動レバーの前記力点部に対し吸引力および／または反発力を及ぼし、前記振動レバーを振動させる電磁石と、を備える。
【０００７】
本発明の篩振動装置において、当該篩振動装置の架台構造上に設置された第１デッキと、当該第１デッキ上に弾性支持体で支持された第２デッキとを備え、前記第２デッキに前記軸受部と前記振動レバー用の弾性支持体、及び前記電磁石が支持されている。
【０００８】
本発明の篩振動装置において、前記振動レバー用の弾性支持体は、前記振動レバーの前記力点部に近接した位置において、前記支点部と前記作用点部を結ぶ線と直角に交差する線上に、前記線同士の交差点を挟んで対称をなす形で２個配置される。
【０００９】
本発明の篩振動装置において、前記振動レバーには、前記支点部と前記作用点部を結ぶ方向と直角に交差する方向に延びる横桁が取り付けられ、前記横桁の中で前記振動レバーの横幅より突き出した部分に前記振動レバー用の弾性支持体が取り付けられる。
【００１０】
本発明の篩振動装置において、前記振動レバーの振幅を検知する振動センサーが設けられ、前記電磁石を制御する制御装置は、前記振動センサーからの出力信号を受けて前記振動レバーの振動を調整する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によると、一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバーを、支点部を支持する軸受部と、力点部を支える弾性支持体で支持し、振動レバーの力点部に対し電磁石で吸引力および／または反発力を及ぼして、振動レバーを振動させることにより、作用点部に設けられた篩取付枠に振動を伝えるものであるから、前後左右の振動の偏りを抑え、かつ、振動に伴う内部発熱で弾性支持体の弾性率などが経時変化することによる影響を少なくし、長時間安定した振動を付与することができる。さらに、構造が堅牢であるため篩や試料粉体の重量によって振幅が減少することもなく、試料粉体を均一に篩うことができる。また、電磁石に流す電流を調整することにより、振幅を任意に変えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】粉体物性測定装置の概略正面図である。
【図２】粉体物性測定装置の概略側面図である。
【図３】安息角測定について説明する概略断面図である。
【図４】スパチュラ角測定について説明する概略断面図である。
【図５】かさ密度測定について説明する概略断面図である。
【図６】凝集度測定について説明する概略断面図である。
【図７】篩振動装置の概略側面図である。
【図８】篩振動装置の概略上面図である。
【図９】篩振動装置の概略正面図である。
【図１０】粉体物性測定装置のブロック構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明に係る篩振動装置は、粉体物性測定装置１における、粉体堆積層の安息角、スパチュラ角、崩潰角、ゆるめかさ密度、固めかさ密度、凝集度測定の際に使用される。
【００１４】
粉体物性測定装置１の外観を構成する二大要素は、本体２と、その前部を覆うカバー３である。本体２は図示しない架台構造の外側を板金製の筐体４で囲んだものであり、高さ調整可能な複数の支持脚５により支持面の上に支持される。カバー３は透明な合成樹脂により主要部が形成されており、左右一対のアーム６で本体２の左右両側面に取り付けられる。アーム６の先端は本体２に連結する支点部７となり、カバー３は支点部７を中心として垂直面内で回動する。
【００１５】
カバー３を下ろすと図２の実線状態となる。この時カバー３で囲い込まれる空間が図３、４に示す測定室１０となる。前述の通りカバー３は主要部が透明であるため、カバー３を下ろした状態でも測定室１０の内部を見通すことができ、作業者は試料の状況等を目視で確認しながら、粉塵の影響を受けることなく測定作業を行うことができる。
【００１６】
カバー３の正面には手掛け部３ａが形成されており、そこに手を掛けて、カバー３を図２の仮想線の位置まで引き上げることができる。図２の仮想線の位置まで引き上げたときは、カバー３は手を離してもその位置に留まっている。このように測定室１０を開放状態にした上で、作業者は測定済みの試料や測定に供した用具の片付け、新たな測定作業のセッティング、保守点検作業などを行う。測定室１０を開放状態にしておく必要がなくなったときはカバー３を下ろす。支点部７でカバー３を支える軸にはダンパーが組み合わせられており、下ろす途中で手を離せばカバー３はゆっくりと降下し、衝撃を与えることなく静かに閉じる。
【００１７】
粉体物性測定装置１は、試料粉体を篩にかける篩振動装置を備える。図７から図９に篩振動装置２０の構造を示す。
【００１８】
篩振動装置２０は、粉体物性測定装置１の架台構造を自身の架台構造として利用している。架台構造から複数本のコラム２１が立ち上がり、これら複数本のコラム２１により、肉厚の金属板からなる第１デッキ２２が水平に支持される。第１デッキ２２の上には、複数の弾性支持体２３により、これも肉厚の金属板からなる第２デッキ２４が水平に支持される。
【００１９】
弾性支持体２３は、ゴムや軟質合成樹脂のような弾性物質を、円筒形のブロックの形に成型した防振ゴムであり、第２デッキ２４の荷重を支える。弾性支持体２３及び後述の弾性支持体３３は、バネのような緩衝材であってもよいが、減衰効果を備えていることが好ましい。
【００２０】
弾性支持体２３の両端にはボルト２５が設けられている。この弾性支持体２３を介して
第１デッキ２２と第２デッキ２４とを連結するので、第１デッキ２２と第２デッキ２４との間では、互いに防振保持されることになる。
【００２１】
第２デッキ２４の上面には錘９０が載置される。錘９０は左右対称に２個設けられ、それぞれ図示しないボルトで第２デッキ２４に取り付けられる。錘９０は第２デッキ２４の重量を増加させるものであり、これにより、弾性支持体３３を挟んで取り付けられる振動レバー２７と第２デッキ２４との重量差が確保され、振動レバー２７を安定的に、かつ効果的に振動させることができる。
【００２２】
左右の錘９０の上端同士は連結板９１で連結される。これにより、錘９０は第２デッキ２４の上に安定して保持される。
【００２３】
コラム２１、第１デッキ２２、及び第２デッキ２４は筐体４の内部に位置している。第２デッキ２４の上面には、図７において右端となる箇所に軸受２６が固定されている。軸受２６には鋼製の角パイプからなる振動レバー２７の一端が支軸２８で取り付けられている。振動レバー２７は支軸２８を中心として垂直面内で回動可能であり、振動レバー２７において支軸２８の箇所が支点部、その反対側の端が作用点部、それらの中間が力点部となる。
【００２４】
振動レバー２７の作用点部は筐体４の内部から測定室１０に突き出すものであり、ここにはリング状の篩取付枠２９が固定される。振動レバー２７の力点部には磁極片３０が固定され、それに対向する電磁石３１が第２デッキ２４に取り付けられている。
【００２５】
振動レバー２７の上面には、力点部に近接した位置に、肉厚の金属板からなる横桁３２が、両端を振動レバー２７の横幅より突き出す形で溶接固定されている。横桁３２は振動レバー２７の支点部と作用点部を結ぶ方向と直角に交差する方向に延びる。横桁３２は振動レバー２７に振動を伝達するための板状の部材で、振動レバー２７から突き出す両端部分にそれぞれ弾性支持体３３が取り付けられ、この弾性支持体３３を介して第２デッキ２４上に支持される。
【００２６】
弾性支持体３３は、ゴムや軟質合成樹脂のような弾性物質を、円筒形のブロックの形に成型した防振ゴムであり、横桁３２と振動レバー２７及び篩取付枠２９、篩取付枠２９に取り付けられる篩４０と篩押さえ４１、篩４０と篩押さえ４１を篩取付枠２９に固定する締結具５３、篩４０に投入される試料粉体の重量を含めた荷重を支える。弾性支持体３３の両端の中心にはボルト３４が設けられており、この弾性支持体３３を介して第２デッキ２４と横桁３２とを連結するので、第２デッキ２４と横桁３２及び振動レバー２７との間では、互いに防振保持されることになる。
【００２７】
図８に示す通り、第２デッキ２４は計４個の弾性支持体２３を介して第１デッキ２２に取り付けられ、横桁３２は計２個の振動レバー用の弾性支持体３３を介して第２デッキ２４に取り付けられる。ここに示した弾性支持体２３の数は、第１デッキ２２と第２デッキ２４とを保持するのに十分なものである。弾性支持体３３は第２デッキ２４を土台として振動レバー２７を上下方向に所定の振幅で振動させるためのもので、弾性体の特性のうち主として反発力を利用するものである。なお、４個と２個という弾性支持体２３と弾性支持体３３の数はあくまでも例示であり、必ずしも発明を限定するものではない。
【００２８】
篩取付枠２９に取り付けられる篩４０は、外径約８２ｍｍ、内径約７５ｍｍである。篩取付枠２９の中で、振動レバー先端側と支軸側との距離は約９２ｍｍである。支軸２８から篩取付枠２９の開口の中心までの距離は約４０７．５ｍｍである。
【００２９】
振動レバー２７は第２デッキ２４に対して平行に振動するのではなく、支軸２８を支点として上下に振れる。そのため、篩取付枠２９の先端側と支軸側とでは、厳密には振幅は異なることになる。しかし、支点となる支軸２８までの長さを十分に取っているため、両地点における振幅差は無視できる範囲であるといえる。例えば、篩４０の中心の振幅を約１ｍｍに設定した場合、篩４０の先端側内面の振幅と支軸側内面の振幅はそれぞれ約１．１ｍｍと約０．９ｍｍとなる。この値の差は、振動の均一さが要求される凝集度測定においても、振動の安定性が得られることを考慮すれば、十分に許容されるものといえる。
【００３０】
電磁石３１に電流を流すと磁界が生じ、その磁界によって磁極片３０は下方に吸引される。弾性支持体３３は圧縮され、振動レバー２７は支軸２８を支点に図７において反時計まわりに振れ、篩取付枠２９が降下する。次に、電磁石３１に流れていた電流が途絶えると吸引力がなくなり、振動レバー２７は弾性支持体３３の反発弾性力で図７において時計まわりに振れ、篩取付枠２９は上昇する。こうして、電磁石３１に交流電流を流せば、篩取付枠２９は上下方向に細かく振動することになる。
【００３１】
ここで、横桁３２への弾性支持体３３の取付位置は、振動レバー２７の力点部において、振動レバー２７の支点部と作用点部を結ぶ線と直角に交差する線上に、線同士の交差点を挟んで対称をなす形に設定されている。すなわち弾性支持体３３の取付位置は、振動レバー２７に対して左右対称位置であり、振動レバー２７の支点である支軸２８から等距離でもある位置に設定される。こうすることで、弾性支持体３３に掛かる荷重は等しくなり、振動レバー２７は左右への揺れがない安定した振動を行うことができる。
【００３２】
上記構成では電磁石３１で磁極片３０を吸引して振動レバー２７を振動させるものとしたが、磁極片を永久磁石に代え、電磁石３１が永久磁石に対し及ぼす反発力で振動レバー２７を振動させるといった構成も可能である。
【００３３】
一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバー２７を、支点部を支持する軸受部２６と、力点部近傍において、支点部から十分な距離を有し、支点部に対する場合と作用点部に対する場合のいずれにおいても互いに等しい距離間隔をもって配置された２個の弾性支持体３３で支持し、振動レバー２７の力点部に対し電磁石３１で吸引力および／または反発力を及ぼして、振動レバー２７を振動させることにより、作用点部に設けられた篩取付枠２９に振動を伝えるものであるから、前後左右の振動の偏りを抑え、かつ、振動に伴う弾性支持体の内部発熱によって弾性支持体の弾性率などが経時変化することによる影響を少なくでき、長時間安定した振動を付与することができる。さらに、構造が堅牢であるため篩４０や試料粉体の重量によって振幅が減少することもなく、試料粉体を均一に篩うことができる。また、電磁石３１に流す電流を調整することにより、振幅を任意に変えることができる。
【００３４】
振動レバー２７に対し、篩取付枠２９の部分の振幅を所定の振幅値に調整するための振動センサー７３が設けられる。振動センサー７３の取り付け位置は、篩取付枠２９に近くかつ試料粉体に直接触れない箇所、例えば筐体４内の振動レバー２７の下部で、筐体４の前面パネル（図示せず）に近い箇所に設定される。
【００３５】
振動センサー７３としては、例えば非接触式変位センサーが用いられる。振動レバー２７の下部に取り付けられたＬ字形金具７４の水平部（Ｌの字の横画）が振動センサー７３によって検知される面となる。振動センサー７３が出力する振動信号は制御装置７０に送られ、制御部７０は初期の設定値との差を逐次検知しつつ電磁石３１の電流を調整し、篩取付枠２９の部分が所定の振幅値を維持するようにする。
【００３６】
振動センサー７３用の非接触式変位センサーとしては、例えばオムロン株式会社製リニア近接センサー（センサヘッド：Ｅ２ＣＡ−Ｘ１０Ａ ３Ｍ、センサアンプ：Ｅ２ＣＡ−ＡＬ４Ｆ）を使用することができる。これ以外にも、株式会社キーエンス製のＥＸ−４１６、株式会社サンエテック製のＳＳ−２０３などが使用可能である。ここに具体例を示したセンサーは、仕様を含め、発明に限定的な意味合いをもたらすものではない。
【００３７】
図３には安息角測定用のセッティングが示されている。篩取付枠２９の上面には篩４０の上に篩押さえ４１を重ねて載置する。篩取付枠２９の下面には安息角測定用漏斗４２を取り付け、これらを締結具５３で篩取付枠２９に固定している。安息角測定用漏斗４２の下方にはブラケット４４により支持された安息角測定テーブル４３が配置されている。
【００３８】
安息角測定テーブル４３の下にはそこからこぼれた試料を受けるバット４５が配置される。バット４５は筐体４の内部から測定室１０に突き出す垂直な支持軸４６により支持されている。支持軸４６は図１０に示す支持軸昇降モータ４７により昇降せしめられるものであり、支持軸昇降モータ３６はモータドライバ４８で駆動される。
【００３９】
図４にはスパチュラ角測定用のセッティングが示されている。図３の安息角測定用セッティングで安息角測定用漏斗４２であったものがスパチュラ角測定用シュート４９に置き換えられ、安息角測定テーブル４３とそれを支えるブラケット４４の組み合わせがスパチュラ角測定ブレード５０とそれを支えるブラケット５１の組み合わせに置き換えられている。このときバット４５上には、スパチュラ角測定ブレード５０を囲む囲枠５２を設置する。
【００４０】
粉体堆積層支持装置、すなわち安息角測定テーブル４３とスパチュラ角測定ブレード５０は、ブラケット４４または５１により、筐体４の内部に配置された衝撃付与装置６０のベース６１に連結される。
【００４１】
衝撃付与装置６０は、ベース６１から垂直に立ち上がるガイドポール６２を有する。ガイドポール６２は衝撃錘６３を上下自在に案内する。衝撃錘６３を持ち上げてガイドポール６２の根元に落下させることにより、ベース６１に振動が生じ、その振動がブラケット４４またはブラケット５１を介して安息角測定テーブル４３またはスパチュラ角測定ブレード５０に伝わる仕組みである。
【００４２】
図５にはかさ密度測定用のセッティングが示されている。篩４０には篩押さえ４１を重ね、篩取付枠２９の下面には上段シュート５４を取り付け、これらを締結具５３で篩取付枠２９に固定している。上段シュート５４の下にはブラケット５５で支持された下段シュート５６が配置されている。タッピング台８０には測定カップ８１が取り付けられる。測定カップ８１にはキャップ８１ａが取り付けられている。測定室１０の床の上にはバット４５が置かれている。測定カップ８１は、容積が１０ｍｌ、２５ｍｌ、５０ｍｌ、１００ｍｌのものが用いられる。
【００４３】
図６には凝集度測定用のセッティングが示されている。篩取付枠２９には網目の異なる３個の篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃが積み重ねられる。篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃは、上のものほど網目が粗く、下のものほど網目が細かい。すなわち篩５７ａが粗目、篩５７ｂが中目、篩５７ｃが細目ということになる。一番上の篩５７ａの上には篩押さえ４１を重ね、篩押さえ４１から篩５７ｃまでを締結具５３で篩取付枠２９に固定する。篩取付枠２９の下においては、バット４５を篩５７ｃの下まで上げて、篩５７ｃを通過した試料粉体を受け取らせる。なお、バット４５に代え、受皿として篩受けを篩５７ｃの下に配置し、締結具５３で固定してもよい。
【００４４】
粉体物性測定装置１の動作制御は、図１０に示す制御装置７０によって行われる。制御装置７０は、パーソナルコンピュータ７１と、パーソナルコンピュータ７１より指令を受けて各構成要素を制御するメイン制御部７２を含む。制御装置７０には、電磁石３１、支持軸昇降モータ４７とモータドライバ４８、振動センサー７３といった既出の構成要素の他に、表示装置７５が接続される。表示装置７５は外付けのモニター装置などにより構成され、測定データや計算結果などの表示を行う。
【００４５】
安息角は次のようにして測定する。図３のセッティングにおいて、篩押さえ４１及び篩４０に試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させると、篩４０を通過した試料粉体が安息角測定用漏斗４２に入る。安息角測定用漏斗４２は試料粉体を集束させ、安息角測定テーブル４３の上に注ぐ。試料粉体は安息角測定テーブル４３の上に円錐形に堆積する。そこから、例えば特許第４１５５９４２号公報に開示された計算手法で、安息角を求める。
【００４６】
安息角測定後、衝撃付与装置６０で所定回数（３回）の衝撃を発生させると、安息角をなしていた粉体堆積層が崩潰する。この状態で崩潰角を測定する。ここで、崩潰角とは、安息角を形成していた粉体堆積層が、衝撃にともない形を変えた後の粉体堆積層の傾斜角のことである。
【００４７】
崩潰角の測定後、差角を算出する。ここで、差角とは、安息角から崩潰角を引いた角度のことで、その大きさから粉体の噴流性（フラッシング性）を推測することができる。
【００４８】
スパチュラ角は次のようにして測定する。図４のセッティングにおいて、バット４５をブラケット５１にほぼ密着する高さまで持ち上げる。その状態で篩押さえ４１及び篩４０に試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させる。篩４０を通過した試料粉体はスパチュラ角測定用シュート４９に入る。スパチュラ角測定用シュート４９は試料粉体を集束させ、スパチュラ角測定ブレード５０の上に注ぐ。試料粉体はスパチュラ角測定ブレード５０の上に積もる。なお、スパチュラ角測定のため試料粉体を供給する際、スパチュラ角測定ブレード５０を囲枠５２内にセットした後、試料粉体を篩にかけないで直接手でスパチュラ角測定ブレード５０上に盛るようにしてもよい。
【００４９】
スパチュラ角測定ブレード５０がすっかり試料粉体に埋もれたところでバット４５と囲枠５２を降下させると、スパチュラ角測定ブレード５０の上には連続した山形状の粉体堆積層が残る。そこから、例えば特許第４１５５９４２号公報に開示された計算手法で、この粉体堆積層の傾斜角を求める。
【００５０】
その後、衝撃付与装置６０で所定回数の衝撃を発生させて粉体堆積層を崩潰させる。この状態で、粉体堆積層の傾斜角を求め、崩潰前と崩潰後の傾斜角の平均値を算出する。この値がスパチュラ角である。
【００５１】
かさ密度は次のようにして測定する。図５のセッティングにおいて、篩押さえ４１及び篩４０に試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させると、篩４０を通過した試料粉体が上段シュート５４と下段シュート５６を通じて落下し、測定カップ８１に入る。試料粉体が測定カップ８１から溢れたら試料粉体の投入をやめ、試料粉体をすり切る。次いで測定カップ８１をタッピング台８０から取り外し、電子天秤等の質量測定装置に載せて質量を測定する。その質量を測定カップ８１の容積で除した値が、ゆるめかさ密度となる。
【００５２】
次いで測定カップ８１にキャップ８１ａを被せてタッピング台８０に戻し、試料粉体を投入しつつタッピングを行う。所定回数または所定時間タッピングを行った後、キャップ８１ａを取り外し、試料粉体をすり切る。その後測定カップ８１をタッピング台８０から取り外し、電子天秤等の質量測定装置に載せて質量を測定する。その質量を測定カップ８１の容積で除した値が、固めかさ密度となる。
【００５３】
凝集度は次のようにして測定する。図６のセッティングにおいて、篩押さえ４１、及び三段の篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃの中で一番上の篩５７ａに所定量の試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させる。この測定の場合には振動の強さを示す振幅と振動時間を予め設定しておく。所定時間の振動後、篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃ及び篩受け５８に残った試料粉体の質量を測定する。その測定値より、試料粉体の物性評価値としての凝集度を求めることができる。
【００５４】
凝集度の測定にあたって使用する篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃの組み合わせは、試料粉体の粒子径により、その都度設定される。例えば、平均粒子径９μｍのプリンタ用トナーが試料粉体である場合、篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃには、網目が１５０μｍ、７５μｍ、４５μｍのものが選択される。篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃの網目は、試料粉体が全て通過する大きさでなければならない。
【００５５】
以上、本発明の実施形態につき説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実施することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明は粉体測定装置用篩振動装置に広く利用可能である。
【符号の説明】
【００５７】
１ 粉体物性測定装置
２ 本体
３ カバー
１０ 測定室
２０ 篩振動装置
２２ 第１デッキ
２３ 弾性支持体
２４ 第２デッキ
２６ 軸受部
２７ 振動レバー
２９ 篩取付枠
３１ 電磁石
３３ 弾性支持体
４０ 篩
４１ 篩押さえ
４２ 安息角測定用漏斗
４３ 安息角測定テーブル
４９ スパチュラ角測定用シュート
５０ スパチュラ角測定ブレード
５４ 上段シュート
５６ 下段シュート
５７ａ 篩（粗目）
５７ｂ 篩（中目）
５７ｃ 篩（細目）
５８ 篩受け
６０ 衝撃付与装置
７３ 振動センサー
７４ Ｌ字形金具
８０ タッピング台
８１ 測定カップ
８１ａ キャップ
９０ 錘
９１ 連結板
【技術分野】
【０００１】
本発明は粉体測定装置に用いられる篩振動装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
粉体の物性値は、安息角、崩潰角、スパチュラ角、ゆるめ・固めかさ密度、圧縮度、凝集度、分散度、差角など、様々なパラメータをもって測定される。これらの物性値を測定する装置については、特許文献１に例を見ることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第２７９８８２７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
粉体の物性を正確に測定するためには、測定前に試料粉体を篩にかける必要がある。特許文献１に記載された装置も振動装置で振動せしめられる篩を備えている。しかし、従来装置では篩や試料粉体の重量により振幅が変わったり、あるいは、本来前後左右が平行に振動すべき篩が偏って振動したりするなど、さらには時間の経過とともに振幅が変わるなど、振動を安定させることが難しかった。
【０００５】
本発明は、上記問題に鑑みなされたものであり、堅牢で、時間の経過に関わらず一定の振幅で振動させることができる篩振動装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の篩振動装置は、一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバーと、前記振動レバーの支点部を、当該振動レバーが垂直面内で回動可能であるように支持する軸受部と、前記振動レバーの前記作用点部に設けられた篩取付枠と、前記振動レバーを前記力点部で支える弾性支持体と、前記振動レバーの前記力点部に対し吸引力および／または反発力を及ぼし、前記振動レバーを振動させる電磁石と、を備える。
【０００７】
本発明の篩振動装置において、当該篩振動装置の架台構造上に設置された第１デッキと、当該第１デッキ上に弾性支持体で支持された第２デッキとを備え、前記第２デッキに前記軸受部と前記振動レバー用の弾性支持体、及び前記電磁石が支持されている。
【０００８】
本発明の篩振動装置において、前記振動レバー用の弾性支持体は、前記振動レバーの前記力点部に近接した位置において、前記支点部と前記作用点部を結ぶ線と直角に交差する線上に、前記線同士の交差点を挟んで対称をなす形で２個配置される。
【０００９】
本発明の篩振動装置において、前記振動レバーには、前記支点部と前記作用点部を結ぶ方向と直角に交差する方向に延びる横桁が取り付けられ、前記横桁の中で前記振動レバーの横幅より突き出した部分に前記振動レバー用の弾性支持体が取り付けられる。
【００１０】
本発明の篩振動装置において、前記振動レバーの振幅を検知する振動センサーが設けられ、前記電磁石を制御する制御装置は、前記振動センサーからの出力信号を受けて前記振動レバーの振動を調整する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によると、一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバーを、支点部を支持する軸受部と、力点部を支える弾性支持体で支持し、振動レバーの力点部に対し電磁石で吸引力および／または反発力を及ぼして、振動レバーを振動させることにより、作用点部に設けられた篩取付枠に振動を伝えるものであるから、前後左右の振動の偏りを抑え、かつ、振動に伴う内部発熱で弾性支持体の弾性率などが経時変化することによる影響を少なくし、長時間安定した振動を付与することができる。さらに、構造が堅牢であるため篩や試料粉体の重量によって振幅が減少することもなく、試料粉体を均一に篩うことができる。また、電磁石に流す電流を調整することにより、振幅を任意に変えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】粉体物性測定装置の概略正面図である。
【図２】粉体物性測定装置の概略側面図である。
【図３】安息角測定について説明する概略断面図である。
【図４】スパチュラ角測定について説明する概略断面図である。
【図５】かさ密度測定について説明する概略断面図である。
【図６】凝集度測定について説明する概略断面図である。
【図７】篩振動装置の概略側面図である。
【図８】篩振動装置の概略上面図である。
【図９】篩振動装置の概略正面図である。
【図１０】粉体物性測定装置のブロック構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明に係る篩振動装置は、粉体物性測定装置１における、粉体堆積層の安息角、スパチュラ角、崩潰角、ゆるめかさ密度、固めかさ密度、凝集度測定の際に使用される。
【００１４】
粉体物性測定装置１の外観を構成する二大要素は、本体２と、その前部を覆うカバー３である。本体２は図示しない架台構造の外側を板金製の筐体４で囲んだものであり、高さ調整可能な複数の支持脚５により支持面の上に支持される。カバー３は透明な合成樹脂により主要部が形成されており、左右一対のアーム６で本体２の左右両側面に取り付けられる。アーム６の先端は本体２に連結する支点部７となり、カバー３は支点部７を中心として垂直面内で回動する。
【００１５】
カバー３を下ろすと図２の実線状態となる。この時カバー３で囲い込まれる空間が図３、４に示す測定室１０となる。前述の通りカバー３は主要部が透明であるため、カバー３を下ろした状態でも測定室１０の内部を見通すことができ、作業者は試料の状況等を目視で確認しながら、粉塵の影響を受けることなく測定作業を行うことができる。
【００１６】
カバー３の正面には手掛け部３ａが形成されており、そこに手を掛けて、カバー３を図２の仮想線の位置まで引き上げることができる。図２の仮想線の位置まで引き上げたときは、カバー３は手を離してもその位置に留まっている。このように測定室１０を開放状態にした上で、作業者は測定済みの試料や測定に供した用具の片付け、新たな測定作業のセッティング、保守点検作業などを行う。測定室１０を開放状態にしておく必要がなくなったときはカバー３を下ろす。支点部７でカバー３を支える軸にはダンパーが組み合わせられており、下ろす途中で手を離せばカバー３はゆっくりと降下し、衝撃を与えることなく静かに閉じる。
【００１７】
粉体物性測定装置１は、試料粉体を篩にかける篩振動装置を備える。図７から図９に篩振動装置２０の構造を示す。
【００１８】
篩振動装置２０は、粉体物性測定装置１の架台構造を自身の架台構造として利用している。架台構造から複数本のコラム２１が立ち上がり、これら複数本のコラム２１により、肉厚の金属板からなる第１デッキ２２が水平に支持される。第１デッキ２２の上には、複数の弾性支持体２３により、これも肉厚の金属板からなる第２デッキ２４が水平に支持される。
【００１９】
弾性支持体２３は、ゴムや軟質合成樹脂のような弾性物質を、円筒形のブロックの形に成型した防振ゴムであり、第２デッキ２４の荷重を支える。弾性支持体２３及び後述の弾性支持体３３は、バネのような緩衝材であってもよいが、減衰効果を備えていることが好ましい。
【００２０】
弾性支持体２３の両端にはボルト２５が設けられている。この弾性支持体２３を介して
第１デッキ２２と第２デッキ２４とを連結するので、第１デッキ２２と第２デッキ２４との間では、互いに防振保持されることになる。
【００２１】
第２デッキ２４の上面には錘９０が載置される。錘９０は左右対称に２個設けられ、それぞれ図示しないボルトで第２デッキ２４に取り付けられる。錘９０は第２デッキ２４の重量を増加させるものであり、これにより、弾性支持体３３を挟んで取り付けられる振動レバー２７と第２デッキ２４との重量差が確保され、振動レバー２７を安定的に、かつ効果的に振動させることができる。
【００２２】
左右の錘９０の上端同士は連結板９１で連結される。これにより、錘９０は第２デッキ２４の上に安定して保持される。
【００２３】
コラム２１、第１デッキ２２、及び第２デッキ２４は筐体４の内部に位置している。第２デッキ２４の上面には、図７において右端となる箇所に軸受２６が固定されている。軸受２６には鋼製の角パイプからなる振動レバー２７の一端が支軸２８で取り付けられている。振動レバー２７は支軸２８を中心として垂直面内で回動可能であり、振動レバー２７において支軸２８の箇所が支点部、その反対側の端が作用点部、それらの中間が力点部となる。
【００２４】
振動レバー２７の作用点部は筐体４の内部から測定室１０に突き出すものであり、ここにはリング状の篩取付枠２９が固定される。振動レバー２７の力点部には磁極片３０が固定され、それに対向する電磁石３１が第２デッキ２４に取り付けられている。
【００２５】
振動レバー２７の上面には、力点部に近接した位置に、肉厚の金属板からなる横桁３２が、両端を振動レバー２７の横幅より突き出す形で溶接固定されている。横桁３２は振動レバー２７の支点部と作用点部を結ぶ方向と直角に交差する方向に延びる。横桁３２は振動レバー２７に振動を伝達するための板状の部材で、振動レバー２７から突き出す両端部分にそれぞれ弾性支持体３３が取り付けられ、この弾性支持体３３を介して第２デッキ２４上に支持される。
【００２６】
弾性支持体３３は、ゴムや軟質合成樹脂のような弾性物質を、円筒形のブロックの形に成型した防振ゴムであり、横桁３２と振動レバー２７及び篩取付枠２９、篩取付枠２９に取り付けられる篩４０と篩押さえ４１、篩４０と篩押さえ４１を篩取付枠２９に固定する締結具５３、篩４０に投入される試料粉体の重量を含めた荷重を支える。弾性支持体３３の両端の中心にはボルト３４が設けられており、この弾性支持体３３を介して第２デッキ２４と横桁３２とを連結するので、第２デッキ２４と横桁３２及び振動レバー２７との間では、互いに防振保持されることになる。
【００２７】
図８に示す通り、第２デッキ２４は計４個の弾性支持体２３を介して第１デッキ２２に取り付けられ、横桁３２は計２個の振動レバー用の弾性支持体３３を介して第２デッキ２４に取り付けられる。ここに示した弾性支持体２３の数は、第１デッキ２２と第２デッキ２４とを保持するのに十分なものである。弾性支持体３３は第２デッキ２４を土台として振動レバー２７を上下方向に所定の振幅で振動させるためのもので、弾性体の特性のうち主として反発力を利用するものである。なお、４個と２個という弾性支持体２３と弾性支持体３３の数はあくまでも例示であり、必ずしも発明を限定するものではない。
【００２８】
篩取付枠２９に取り付けられる篩４０は、外径約８２ｍｍ、内径約７５ｍｍである。篩取付枠２９の中で、振動レバー先端側と支軸側との距離は約９２ｍｍである。支軸２８から篩取付枠２９の開口の中心までの距離は約４０７．５ｍｍである。
【００２９】
振動レバー２７は第２デッキ２４に対して平行に振動するのではなく、支軸２８を支点として上下に振れる。そのため、篩取付枠２９の先端側と支軸側とでは、厳密には振幅は異なることになる。しかし、支点となる支軸２８までの長さを十分に取っているため、両地点における振幅差は無視できる範囲であるといえる。例えば、篩４０の中心の振幅を約１ｍｍに設定した場合、篩４０の先端側内面の振幅と支軸側内面の振幅はそれぞれ約１．１ｍｍと約０．９ｍｍとなる。この値の差は、振動の均一さが要求される凝集度測定においても、振動の安定性が得られることを考慮すれば、十分に許容されるものといえる。
【００３０】
電磁石３１に電流を流すと磁界が生じ、その磁界によって磁極片３０は下方に吸引される。弾性支持体３３は圧縮され、振動レバー２７は支軸２８を支点に図７において反時計まわりに振れ、篩取付枠２９が降下する。次に、電磁石３１に流れていた電流が途絶えると吸引力がなくなり、振動レバー２７は弾性支持体３３の反発弾性力で図７において時計まわりに振れ、篩取付枠２９は上昇する。こうして、電磁石３１に交流電流を流せば、篩取付枠２９は上下方向に細かく振動することになる。
【００３１】
ここで、横桁３２への弾性支持体３３の取付位置は、振動レバー２７の力点部において、振動レバー２７の支点部と作用点部を結ぶ線と直角に交差する線上に、線同士の交差点を挟んで対称をなす形に設定されている。すなわち弾性支持体３３の取付位置は、振動レバー２７に対して左右対称位置であり、振動レバー２７の支点である支軸２８から等距離でもある位置に設定される。こうすることで、弾性支持体３３に掛かる荷重は等しくなり、振動レバー２７は左右への揺れがない安定した振動を行うことができる。
【００３２】
上記構成では電磁石３１で磁極片３０を吸引して振動レバー２７を振動させるものとしたが、磁極片を永久磁石に代え、電磁石３１が永久磁石に対し及ぼす反発力で振動レバー２７を振動させるといった構成も可能である。
【００３３】
一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバー２７を、支点部を支持する軸受部２６と、力点部近傍において、支点部から十分な距離を有し、支点部に対する場合と作用点部に対する場合のいずれにおいても互いに等しい距離間隔をもって配置された２個の弾性支持体３３で支持し、振動レバー２７の力点部に対し電磁石３１で吸引力および／または反発力を及ぼして、振動レバー２７を振動させることにより、作用点部に設けられた篩取付枠２９に振動を伝えるものであるから、前後左右の振動の偏りを抑え、かつ、振動に伴う弾性支持体の内部発熱によって弾性支持体の弾性率などが経時変化することによる影響を少なくでき、長時間安定した振動を付与することができる。さらに、構造が堅牢であるため篩４０や試料粉体の重量によって振幅が減少することもなく、試料粉体を均一に篩うことができる。また、電磁石３１に流す電流を調整することにより、振幅を任意に変えることができる。
【００３４】
振動レバー２７に対し、篩取付枠２９の部分の振幅を所定の振幅値に調整するための振動センサー７３が設けられる。振動センサー７３の取り付け位置は、篩取付枠２９に近くかつ試料粉体に直接触れない箇所、例えば筐体４内の振動レバー２７の下部で、筐体４の前面パネル（図示せず）に近い箇所に設定される。
【００３５】
振動センサー７３としては、例えば非接触式変位センサーが用いられる。振動レバー２７の下部に取り付けられたＬ字形金具７４の水平部（Ｌの字の横画）が振動センサー７３によって検知される面となる。振動センサー７３が出力する振動信号は制御装置７０に送られ、制御部７０は初期の設定値との差を逐次検知しつつ電磁石３１の電流を調整し、篩取付枠２９の部分が所定の振幅値を維持するようにする。
【００３６】
振動センサー７３用の非接触式変位センサーとしては、例えばオムロン株式会社製リニア近接センサー（センサヘッド：Ｅ２ＣＡ−Ｘ１０Ａ ３Ｍ、センサアンプ：Ｅ２ＣＡ−ＡＬ４Ｆ）を使用することができる。これ以外にも、株式会社キーエンス製のＥＸ−４１６、株式会社サンエテック製のＳＳ−２０３などが使用可能である。ここに具体例を示したセンサーは、仕様を含め、発明に限定的な意味合いをもたらすものではない。
【００３７】
図３には安息角測定用のセッティングが示されている。篩取付枠２９の上面には篩４０の上に篩押さえ４１を重ねて載置する。篩取付枠２９の下面には安息角測定用漏斗４２を取り付け、これらを締結具５３で篩取付枠２９に固定している。安息角測定用漏斗４２の下方にはブラケット４４により支持された安息角測定テーブル４３が配置されている。
【００３８】
安息角測定テーブル４３の下にはそこからこぼれた試料を受けるバット４５が配置される。バット４５は筐体４の内部から測定室１０に突き出す垂直な支持軸４６により支持されている。支持軸４６は図１０に示す支持軸昇降モータ４７により昇降せしめられるものであり、支持軸昇降モータ３６はモータドライバ４８で駆動される。
【００３９】
図４にはスパチュラ角測定用のセッティングが示されている。図３の安息角測定用セッティングで安息角測定用漏斗４２であったものがスパチュラ角測定用シュート４９に置き換えられ、安息角測定テーブル４３とそれを支えるブラケット４４の組み合わせがスパチュラ角測定ブレード５０とそれを支えるブラケット５１の組み合わせに置き換えられている。このときバット４５上には、スパチュラ角測定ブレード５０を囲む囲枠５２を設置する。
【００４０】
粉体堆積層支持装置、すなわち安息角測定テーブル４３とスパチュラ角測定ブレード５０は、ブラケット４４または５１により、筐体４の内部に配置された衝撃付与装置６０のベース６１に連結される。
【００４１】
衝撃付与装置６０は、ベース６１から垂直に立ち上がるガイドポール６２を有する。ガイドポール６２は衝撃錘６３を上下自在に案内する。衝撃錘６３を持ち上げてガイドポール６２の根元に落下させることにより、ベース６１に振動が生じ、その振動がブラケット４４またはブラケット５１を介して安息角測定テーブル４３またはスパチュラ角測定ブレード５０に伝わる仕組みである。
【００４２】
図５にはかさ密度測定用のセッティングが示されている。篩４０には篩押さえ４１を重ね、篩取付枠２９の下面には上段シュート５４を取り付け、これらを締結具５３で篩取付枠２９に固定している。上段シュート５４の下にはブラケット５５で支持された下段シュート５６が配置されている。タッピング台８０には測定カップ８１が取り付けられる。測定カップ８１にはキャップ８１ａが取り付けられている。測定室１０の床の上にはバット４５が置かれている。測定カップ８１は、容積が１０ｍｌ、２５ｍｌ、５０ｍｌ、１００ｍｌのものが用いられる。
【００４３】
図６には凝集度測定用のセッティングが示されている。篩取付枠２９には網目の異なる３個の篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃが積み重ねられる。篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃは、上のものほど網目が粗く、下のものほど網目が細かい。すなわち篩５７ａが粗目、篩５７ｂが中目、篩５７ｃが細目ということになる。一番上の篩５７ａの上には篩押さえ４１を重ね、篩押さえ４１から篩５７ｃまでを締結具５３で篩取付枠２９に固定する。篩取付枠２９の下においては、バット４５を篩５７ｃの下まで上げて、篩５７ｃを通過した試料粉体を受け取らせる。なお、バット４５に代え、受皿として篩受けを篩５７ｃの下に配置し、締結具５３で固定してもよい。
【００４４】
粉体物性測定装置１の動作制御は、図１０に示す制御装置７０によって行われる。制御装置７０は、パーソナルコンピュータ７１と、パーソナルコンピュータ７１より指令を受けて各構成要素を制御するメイン制御部７２を含む。制御装置７０には、電磁石３１、支持軸昇降モータ４７とモータドライバ４８、振動センサー７３といった既出の構成要素の他に、表示装置７５が接続される。表示装置７５は外付けのモニター装置などにより構成され、測定データや計算結果などの表示を行う。
【００４５】
安息角は次のようにして測定する。図３のセッティングにおいて、篩押さえ４１及び篩４０に試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させると、篩４０を通過した試料粉体が安息角測定用漏斗４２に入る。安息角測定用漏斗４２は試料粉体を集束させ、安息角測定テーブル４３の上に注ぐ。試料粉体は安息角測定テーブル４３の上に円錐形に堆積する。そこから、例えば特許第４１５５９４２号公報に開示された計算手法で、安息角を求める。
【００４６】
安息角測定後、衝撃付与装置６０で所定回数（３回）の衝撃を発生させると、安息角をなしていた粉体堆積層が崩潰する。この状態で崩潰角を測定する。ここで、崩潰角とは、安息角を形成していた粉体堆積層が、衝撃にともない形を変えた後の粉体堆積層の傾斜角のことである。
【００４７】
崩潰角の測定後、差角を算出する。ここで、差角とは、安息角から崩潰角を引いた角度のことで、その大きさから粉体の噴流性（フラッシング性）を推測することができる。
【００４８】
スパチュラ角は次のようにして測定する。図４のセッティングにおいて、バット４５をブラケット５１にほぼ密着する高さまで持ち上げる。その状態で篩押さえ４１及び篩４０に試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させる。篩４０を通過した試料粉体はスパチュラ角測定用シュート４９に入る。スパチュラ角測定用シュート４９は試料粉体を集束させ、スパチュラ角測定ブレード５０の上に注ぐ。試料粉体はスパチュラ角測定ブレード５０の上に積もる。なお、スパチュラ角測定のため試料粉体を供給する際、スパチュラ角測定ブレード５０を囲枠５２内にセットした後、試料粉体を篩にかけないで直接手でスパチュラ角測定ブレード５０上に盛るようにしてもよい。
【００４９】
スパチュラ角測定ブレード５０がすっかり試料粉体に埋もれたところでバット４５と囲枠５２を降下させると、スパチュラ角測定ブレード５０の上には連続した山形状の粉体堆積層が残る。そこから、例えば特許第４１５５９４２号公報に開示された計算手法で、この粉体堆積層の傾斜角を求める。
【００５０】
その後、衝撃付与装置６０で所定回数の衝撃を発生させて粉体堆積層を崩潰させる。この状態で、粉体堆積層の傾斜角を求め、崩潰前と崩潰後の傾斜角の平均値を算出する。この値がスパチュラ角である。
【００５１】
かさ密度は次のようにして測定する。図５のセッティングにおいて、篩押さえ４１及び篩４０に試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させると、篩４０を通過した試料粉体が上段シュート５４と下段シュート５６を通じて落下し、測定カップ８１に入る。試料粉体が測定カップ８１から溢れたら試料粉体の投入をやめ、試料粉体をすり切る。次いで測定カップ８１をタッピング台８０から取り外し、電子天秤等の質量測定装置に載せて質量を測定する。その質量を測定カップ８１の容積で除した値が、ゆるめかさ密度となる。
【００５２】
次いで測定カップ８１にキャップ８１ａを被せてタッピング台８０に戻し、試料粉体を投入しつつタッピングを行う。所定回数または所定時間タッピングを行った後、キャップ８１ａを取り外し、試料粉体をすり切る。その後測定カップ８１をタッピング台８０から取り外し、電子天秤等の質量測定装置に載せて質量を測定する。その質量を測定カップ８１の容積で除した値が、固めかさ密度となる。
【００５３】
凝集度は次のようにして測定する。図６のセッティングにおいて、篩押さえ４１、及び三段の篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃの中で一番上の篩５７ａに所定量の試料粉体を投入し、篩取付枠２９を振動させる。この測定の場合には振動の強さを示す振幅と振動時間を予め設定しておく。所定時間の振動後、篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃ及び篩受け５８に残った試料粉体の質量を測定する。その測定値より、試料粉体の物性評価値としての凝集度を求めることができる。
【００５４】
凝集度の測定にあたって使用する篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃの組み合わせは、試料粉体の粒子径により、その都度設定される。例えば、平均粒子径９μｍのプリンタ用トナーが試料粉体である場合、篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃには、網目が１５０μｍ、７５μｍ、４５μｍのものが選択される。篩５７ａ、５７ｂ、５７ｃの網目は、試料粉体が全て通過する大きさでなければならない。
【００５５】
以上、本発明の実施形態につき説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実施することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明は粉体測定装置用篩振動装置に広く利用可能である。
【符号の説明】
【００５７】
１ 粉体物性測定装置
２ 本体
３ カバー
１０ 測定室
２０ 篩振動装置
２２ 第１デッキ
２３ 弾性支持体
２４ 第２デッキ
２６ 軸受部
２７ 振動レバー
２９ 篩取付枠
３１ 電磁石
３３ 弾性支持体
４０ 篩
４１ 篩押さえ
４２ 安息角測定用漏斗
４３ 安息角測定テーブル
４９ スパチュラ角測定用シュート
５０ スパチュラ角測定ブレード
５４ 上段シュート
５６ 下段シュート
５７ａ 篩（粗目）
５７ｂ 篩（中目）
５７ｃ 篩（細目）
５８ 篩受け
６０ 衝撃付与装置
７３ 振動センサー
７４ Ｌ字形金具
８０ タッピング台
８１ 測定カップ
８１ａ キャップ
９０ 錘
９１ 連結板
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバーと、
前記振動レバーの支点部を、当該振動レバーが垂直面内で回動可能であるように支持する軸受部と、
前記振動レバーの前記作用点部に設けられた篩取付枠と、
前記振動レバーを前記力点部で支える弾性支持体と、
前記振動レバーの前記力点部に対し吸引力および／または反発力を及ぼし、前記振動レバーを振動させる電磁石と、
を備えることを特徴とする篩振動装置。
【請求項２】
当該篩振動装置の架台構造上に設置された第１デッキと、当該第１デッキ上に弾性支持体で支持された第２デッキとを備え、前記第２デッキに前記軸受部と前記振動レバー用の弾性支持体、及び前記電磁石が支持されていることを特徴とする請求項１に記載の篩振動装置。
【請求項３】
前記振動レバー用の弾性支持体は、前記振動レバーの前記力点部に近接した位置において、前記支点部と前記作用点部を結ぶ線と直角に交差する線上に、前記線同士の交差点を挟んで対称をなす形で２個配置されることを特徴とする請求項１または２に記載の篩振動装置。
【請求項４】
前記振動レバーには、前記支点部と前記作用点部を結ぶ方向と直角に交差する方向に延びる横桁が取り付けられ、前記横桁の中で前記振動レバーの横幅より突き出した部分に前記振動レバー用の弾性支持体が取り付けられることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の篩振動装置。
【請求項５】
前記振動レバーの振幅を検知する振動センサーが設けられ、前記電磁石を制御する制御装置は、前記振動センサーからの出力信号を受けて前記振動レバーの振動を調整することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の篩振動装置。
【請求項１】
一端が支点部、他端が作用点部となり、中間に力点部を有する振動レバーと、
前記振動レバーの支点部を、当該振動レバーが垂直面内で回動可能であるように支持する軸受部と、
前記振動レバーの前記作用点部に設けられた篩取付枠と、
前記振動レバーを前記力点部で支える弾性支持体と、
前記振動レバーの前記力点部に対し吸引力および／または反発力を及ぼし、前記振動レバーを振動させる電磁石と、
を備えることを特徴とする篩振動装置。
【請求項２】
当該篩振動装置の架台構造上に設置された第１デッキと、当該第１デッキ上に弾性支持体で支持された第２デッキとを備え、前記第２デッキに前記軸受部と前記振動レバー用の弾性支持体、及び前記電磁石が支持されていることを特徴とする請求項１に記載の篩振動装置。
【請求項３】
前記振動レバー用の弾性支持体は、前記振動レバーの前記力点部に近接した位置において、前記支点部と前記作用点部を結ぶ線と直角に交差する線上に、前記線同士の交差点を挟んで対称をなす形で２個配置されることを特徴とする請求項１または２に記載の篩振動装置。
【請求項４】
前記振動レバーには、前記支点部と前記作用点部を結ぶ方向と直角に交差する方向に延びる横桁が取り付けられ、前記横桁の中で前記振動レバーの横幅より突き出した部分に前記振動レバー用の弾性支持体が取り付けられることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の篩振動装置。
【請求項５】
前記振動レバーの振幅を検知する振動センサーが設けられ、前記電磁石を制御する制御装置は、前記振動センサーからの出力信号を受けて前記振動レバーの振動を調整することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の篩振動装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２０１２−２３９９２６（Ｐ２０１２−２３９９２６Ａ）
【公開日】平成２４年１２月１０日（２０１２．１２．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１０８９６０（Ｐ２０１１−１０８９６０）
【出願日】平成２３年５月１６日（２０１１．５．１６）
【出願人】（０００１１３３５５）ホソカワミクロン株式会社 (43)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１２月１０日（２０１２．１２．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年５月１６日（２０１１．５．１６）
【出願人】（０００１１３３５５）ホソカワミクロン株式会社 (43)
【Ｆターム（参考）】
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