自動分析装置およびその制御方法
【課題】水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器内の溶液の液面高さや、希釈容器に吐出される溶液の単位時間当たりの流量を測定することができる自動分析装置を提供する。
【解決手段】自動分析装置において、制御部は、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の液体に接触していない状態で電解質測定部にて測定した起電力Ｅ０を記憶部に記憶し、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の液体に接触する状態までの過程で電解質測定部によって得られた起電力Ｅｎと記憶部に記憶している起電力Ｅ０とに基づいて、希釈容器２０３内の液体の液面高さを検出する処理を制御する。そして、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となったことを判断して、希釈容器２０３内の液体の液面高さを検出する。
【解決手段】自動分析装置において、制御部は、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の液体に接触していない状態で電解質測定部にて測定した起電力Ｅ０を記憶部に記憶し、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の液体に接触する状態までの過程で電解質測定部によって得られた起電力Ｅｎと記憶部に記憶している起電力Ｅ０とに基づいて、希釈容器２０３内の液体の液面高さを検出する処理を制御する。そして、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となったことを判断して、希釈容器２０３内の液体の液面高さを検出する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動分析装置の技術に関し、特に、生体液中のイオン分析に使用する電解質測定装置、およびこの電解質測定装置を含む生化学自動分析装置、さらにこれらの制御方法に適用して有効な技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
血液中に存在するＮａイオン、Ｋイオン、Ｃｌイオン等の各種イオンの定量測定においては、イオン選択性電極（ＩＳＥ；Ｉｏｎ Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ）を用いて起電力測定を行って分析する方法が主流である。
【０００３】
イオン選択性電極を用いた測定法には、試料溶液を希釈液で希釈し測定する希釈法と、試料溶液を希釈無しに測定する非希釈法がある。小形緊急検査装置などを除いてほとんどの自動分析装置に搭載されている電解質測定装置では希釈法が採用されている。希釈法では、希釈カップや反応セル等の容器（以下、希釈容器）で試料溶液を希釈液で希釈し、この希釈された試料溶液（以下、希釈試料溶液）をイオン選択性電極に供給して電解質濃度測定を行う。
【０００４】
一般的に、希釈法を採用した電解質測定装置で使用する希釈容器は、繰り返し使用する。このような希釈法を採用した電解質測定装置が、例えば特許文献１に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−５７３６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述した特許文献１を含む従来の電解質測定装置で採用されている希釈法では、すべての試料溶液を希釈容器にて希釈した後、測定することになる。そのため、以前測定した試料溶液が希釈容器に残っていると、誤測定の原因となる。一方、希釈容器の清掃は、検査技師が綿棒などを用いて定期的に清掃してもらうことで対応している。
【０００７】
希釈容器を自動で洗浄する機構を設けるのが理想であるが、純水等の洗浄液で希釈容器を洗浄する場合、洗浄液が希釈容器から溢れずに希釈容器全体を洗浄するようにする必要がある。そのためには、希釈容器内にどれだけの洗浄水が入ったかを監視する必要がある。監視のため、例えば、水位センサや圧力センサを液面検知センサとして使用することで液面高さを測定する方法が考えられる。
【０００８】
しかし、水位センサを設置すると試料溶液間での汚染による測定不良（キャリーオーバー）が生じやすくなるという課題がある。また、圧力センサ等を設置することで液面高さを測定する方法もあるが、装置構成が複雑になるという課題がある。
【０００９】
そこで、本発明は上述したような課題に鑑みてなされたものであり、その代表的な目的は、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器内の溶液の液面高さや、希釈容器に吐出される溶液の単位時間当たりの流量を測定することができる自動分析装置を提供することにある。
【００１０】
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
【００１２】
すなわち、代表的な自動分析装置は、電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、前記電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部と、液体を保持する容器と、前記容器に液体を分注する分注部と、前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部に供給するシッパーノズルと、前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部とを備える。特に、前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて測定した起電力（Ｅ０）を前記記憶部に記憶し、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態までの過程で前記電解質測定部によって得られた起電力（Ｅｎ）と前記記憶部に記憶している起電力（Ｅ０）とに基づいて、前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御することを特徴とする。
【００１３】
また、代表的な自動分析装置の制御方法は、前記制御部の制御として、前記シッパーノズルを用いて前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの流路間を液体で満たすステップと、前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの間に生じる起電力に基づいて、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するための基準となる起電力（Ｅ０）を得るステップとを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。
【００１５】
すなわち、代表的な効果は、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器内の溶液の液面高さや、希釈容器に吐出される溶液の単位時間当たりの流量を測定することができる。この結果、構造が単純で信頼性の高い電解質測定装置を含む自動分析装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の全体構成の一例を示す概略構成図である。
【図２】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置の構成の一例を示す概略構成図である。
【図３】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、この電解質測定装置の測定系が変化した場合の測定起電力の電位と希釈容器内の溶液の液面高さとの関係の一例を示す説明図である。
【図４】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの一例を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの別の一例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、希釈容器内の溶液の流量測定処理フローの一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下の実施の形態においては、便宜上その必要があるときは、複数の実施の形態またはセクションに分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらは互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等（個数、数値、量、範囲等を含む）に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良い。
【００１８】
さらに、以下の実施の形態において、その構成要素（要素ステップ等も含む）は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。
【００１９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００２０】
＜本発明の実施の形態の概要＞
本発明の実施の形態に係る自動分析装置（一例として、（）内に図２等の対応する構成要素を付記）は、電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部（イオン選択電極２０４〜２０６と比較電極２０７等）と、電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部（記憶装置１２）と、液体を保持する容器（希釈容器２０３）と、容器に液体を分注する分注部（プローブ２０２とシリンジ２０９，２１０と電磁弁２１５〜２１８等）と、容器内の液体を吸引し、電解質測定部に供給するシッパーノズル（シッパーノズル２２２）と、容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部（制御部１３）とを備える。特に、制御部は、シッパーノズルが容器内の液体に接触していない状態で電解質測定部にて測定した起電力（Ｅ０）を記憶部に記憶し、容器への液体の分注を繰り返している過程で電解質測定部によって得られた起電力（Ｅｎ）と記憶部に記憶している起電力（Ｅ０）とに基づいて、容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御することを特徴とする。
【００２１】
また、本発明の実施の形態に係る自動分析装置の制御方法（一例として、（）内に図４の対応するステップを付記）は、制御部の制御として、シッパーノズルを用いて容器内の液体を吸引し、電解質測定部とシッパーノズルとの流路間を液体で満たすステップ（Ｓ１）と、電解質測定部とシッパーノズルとの間に生じる起電力に基づいて、容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するための基準となる起電力（Ｅ０）を得るステップ（Ｓ３）とを有することを特徴とする。
【００２２】
以上説明した本発明の実施の形態の概要に基づいた実施の形態を、以下において具体的に説明する。以下に説明する実施の形態は本発明を用いた一例であり、本発明は以下の実施の形態により限定されるものではない。
【００２３】
＜実施の形態＞
＜＜自動分析装置の全体構成および動作＞＞
図１を用いて、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成および動作について説明する。図１は、この自動分析装置の全体構成の一例を示す概略構成図である。ここでは、生化学自動分析装置を例に説明する。
【００２４】
図１において、１はサンプルディスク、２は試薬ディスク、３は反応ディスク、４は反応槽、５はサンプリング機構、６は試薬分注機構、７は攪拌機構、８は測光機構、９は洗浄機構、１０はコンピュータ（ＰＣ）、１１は電解質測定部、１２は記憶装置、１３は制御部、１４は圧電素子ドライバ、１５は攪拌機構コントローラ、１６は試料容器、１７は円形サンプルディスク、１８は試薬ボトル、１９は円形試薬ディスク、２０は保冷庫、２１は反応容器、２２は反応容器ホルダ、２３は駆動機構、２４はサンプルプローブ、２５はサンプルプローブ支承軸、２６はサンプルプローブアーム、２７は試薬プローブ、２８は試薬プローブ支承軸、２９は試薬プローブアーム、３０は電解質測定用サンプリング機構、３１は固定部、３３はノズル、３４は上下駆動機構、３５は電解質測定用サンプルプローブ、３６は電解質測定用サンプルプローブ支承軸、３７は電解質測定用サンプルプローブアームである。
【００２５】
本実施の形態に係る自動分析装置は、主に、複数の試料容器１６が載置されるサンプルディスク１と、複数の試薬ボトル１８が載置される試薬ディスク２と、複数の反応容器２１が載置される反応ディスク３と、サンプルディスク１と反応ディスク３との近傍に設置されたサンプリング機構５と、試薬ディスク２と反応ディスク３との近傍に設置された試薬分注機構６と、反応ディスク３の近傍に設置された攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、および電解質測定用サンプリング機構３０等を有して構成される。
【００２６】
サンプルディスク１は、円形サンプルディスク１７上に、分析対象の試料（サンプルとも記す）を収容する複数の試料容器１６が円周上に並んで載置されている。このサンプルディスク１の近傍には、サンプリング機構５が設置されている。このサンプリング機構５は、該当する試料容器１６から試料を吸入し、この試料を該当する反応容器２１に吐出するサンプルプローブ２４がサンプルプローブ支承軸２５に固定されたサンプルプローブアーム２６に取り付けられている。
【００２７】
試薬ディスク２は、円形試薬ディスク１９上に、試薬を収納する複数の試薬ボトル１８が円周上に並んで載置されている。この試薬ディスク２には、保冷庫２０が設置されている。また、この試薬ディスク２の近傍には、試薬分注機構６が設置されている。この試薬分注機構６は、該当する試薬ボトル１８から試薬を吸入し、この試薬を該当する反応容器２１に吐出する試薬プローブ２７が試薬プローブ支承軸２８に固定された試薬プローブアーム２９に取り付けられている。
【００２８】
反応ディスク３は、複数の反応容器２１が保持される複数の反応容器ホルダ２２が円周上に並んで載置されている。この反応ディスク３には、反応槽４が設置されている。この反応ディスク３は、駆動機構２３により間欠回転可能となっている。また、この反応ディスク３の近傍には、攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、電解質測定用サンプリング機構３０等が設置されている。
【００２９】
攪拌機構７は、反応容器２１内の内容物（試料と試薬）を攪拌するための機構であり、圧電素子ドライバ１４、攪拌機構コントローラ１５等から構成される。測光機構８は、反応容器２１内の内容物を透過した透過光および内容物にて散乱した散乱光を測定するための機構であり、図示しない光源や検出器等から構成される。洗浄機構９は、反応容器２１内を洗浄するための機構であり、ノズル３３、上下駆動機構３４等から構成される。
【００３０】
電解質測定部１１は、試料の電解質測定を行うための装置であり、図２において後述するイオン選択電極や比較電極等から構成される。電解質測定用サンプリング機構３０は、試料を電解質測定部１１に分注するための機構であり、試料を吸入する電解質測定用サンプルプローブ３５が電解質測定用サンプルプローブ支承軸３６に固定された電解質測定用サンプルプローブアーム３７に取り付けられている。
【００３１】
これらのサンプルディスク１、試薬ディスク２、反応ディスク３、サンプリング機構５、試薬分注機構６、攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、および電解質測定用サンプリング機構３０は、それぞれ制御部１３に接続され、さらにコンピュータ１０に接続されて、各動作が制御されるようになっている。また、制御部１３には、記憶装置１２に接続されている。
【００３２】
コンピュータ１０は、例えば演算処理機能や記憶機能等を含む本体、キーボードやマウス等の入力部、液晶やＣＲＴ等の表示部から構成され、測定試料の情報や、測定項目の登録、分析パラメータ等を設定する。記憶装置１２には、分析パラメータ、各試薬ボトルの分析可能回数、最大分析可能回数、キャリブレーション結果、分析結果等や、分注動作を評価する判定プロセス、また予め保持する判定に必要なデータなどを記憶保持している。なお、記憶装置１２に記憶保持する情報は、コンピュータ１０に付属する記憶媒体に記憶されても良いし、個別の記憶データベースとして記憶装置１２のように単独で存在しても良い。
【００３３】
以上のように構成される自動分析装置において、試料の比色分析は、以下のようにサンプリング、試薬分注、攪拌、測光、反応容器の洗浄、濃度換算等のデータ処理の順番に実施される。
【００３４】
サンプルディスク１、試薬ディスク２、反応ディスク３、サンプリング機構５、試薬分注機構６、攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、および電解質測定用サンプリング機構３０は、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。
【００３５】
まず、サンプルディスク１上には、分析される試料を収容した複数の試料容器１６が円周上に並んで設置されており、この分析される試料の順番に従ってサンプリング機構５のサンプルプローブ２４の下まで移動する。試料容器１６中の試料は、サンプリング機構５に連結された試料用ポンプ（図示せず）により、反応ディスク３上の反応容器２１の中に所定量分注される。
【００３６】
さらに、試料を分注された反応容器２１は、反応槽４の中を第１試薬添加位置まで移動する。移動した反応容器２１には、試薬分注機構６の試薬プローブ２７に連結された試薬用ポンプ（図示せず）により、試薬ディスク２上の試薬ボトル１８から吸引された試薬が所定量加えられる。第１試薬添加後の反応容器２１は、攪拌機構７の位置まで移動し、最初の攪拌が行われる。このような試薬の添加−攪拌が、例えば第１〜第４試薬について行われる。
【００３７】
続いて、内容物が攪拌された反応容器２１は、測光機構８において、光源から発した光束中を通過し、この時の吸光度は多波長光度計により検知される。検知された前記吸光度の信号は制御部１３に入り、試料の濃度に変換される。また、制御部１３では同時に吸光度に基づいた異常の判定を行う。
【００３８】
また、試料の電解質測定は、試料を電解質測定用サンプリング機構３０で電解質測定部１１に分注して行う。なお、電解質測定部１１への分注は、サンプリング機構５で行っても良い。
【００３９】
そして、濃度変換されたデータは、記憶装置１２に記憶され、コンピュータ１０に付属する表示装置に表示される。測光の終了した前記反応容器２１は、洗浄機構９の位置まで移動し、洗浄され、次の分析に供される。
【００４０】
以上のように、本実施の形態に係る自動分析装置においては、サンプリング、試薬分注、攪拌、測光、反応容器の洗浄、濃度換算等のデータ処理を順番に実施して、試料の比色分析を行うことができる。
【００４１】
＜＜電解質測定装置の構成および動作＞＞
図２を用いて、前述した自動分析装置に含まれる電解質測定装置（電解質測定部１１とその周辺の電磁弁やシリンジ等の機構部を含む部分）の構成および動作について説明する。図２は、この電解質測定装置の一例を示す概略構成図である。
【００４２】
図２において、２０１は試料容器、２０２はプローブ、２０３は希釈容器、２０４はＮａイオン選択電極、２０５はＫイオン選択電極、２０６はＣｌイオン選択電極、２０７は比較電極、２０８はシッパーシリンジ、２０９は内部標準液シリンジ、２１０は希釈液シリンジ、２１１はピンチバルブ、２１２は比較電極用二方電磁弁、２１３はシッパーシリンジ吸引用二方電磁弁、２１４は廃液吐出用二方電磁弁、２１５は内部標準液吐出用二方電磁弁、２１６は内部標準液吸引用二方電磁弁、２１７は希釈液吐出用二方電磁弁、２１８は希釈液吸引用二方電磁弁、２１９は比較電極液ボトル、２２０は内部標準液ボトル、２２１は希釈液ボトル、２２２はシッパーノズル、２２３は希釈液用ヒーター、２２４は内部標準液用ヒーター、２２５は希釈容器用ヒーター、２２６はイオン選択電極用ヒーター、２２７は比較電極用ヒーター、２２８は真空ノズルである。
【００４３】
本実施の形態における電解質測定装置は、主に、電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部と、液体を保持する希釈容器２０３と、希釈容器２０３に液体を分注する分注部と、希釈容器２０３内の液体を吸引し、電解質測定部に供給するシッパーノズル２２２と、希釈容器２０３内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部等を備えて構成される。
【００４４】
電解質測定部は、Ｎａイオン選択電極２０４、Ｋイオン選択電極２０５、およびＣｌイオン選択電極２０６と、比較電極２０７等から構成される。電解質測定部の周辺には、シッパーノズル２２２からＮａイオン選択電極２０４、Ｋイオン選択電極２０５、Ｃｌイオン選択電極２０６までの流路に希釈容器２０３内の希釈試料溶液（試料溶液が希釈液で希釈された溶液）、または内部標準液を吸引して満たすためのシッパーシリンジ２０８、およびシッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３が設けられ、また、比較電極液ボトル２１９から比較電極２０７までの流路に比較電極液ボトル２１９の比較電極液を満たすための比較電極用二方電磁弁２１２が設けられている。
【００４５】
分注部は、試料容器２０１の試料溶液を吸引して希釈容器２０３に吐出するプローブ２０２と、希釈液ボトル２２１の希釈液を吸引して希釈容器２０３に吐出する希釈液吸引用二方電磁弁２１８、希釈液シリンジ２１０、および希釈液吐出用二方電磁弁２１７と、内部標準液ボトル２２０の内部標準液を吸引して希釈容器２０３に吐出する内部標準液吸引用二方電磁弁２１６、内部標準液シリンジ２０９、および内部標準液吐出用二方電磁弁２１５等から構成される。
【００４６】
シッパーノズル２２２は、希釈容器２０３内の希釈試料溶液または内部標準液を吸引するノズルである。また、このシッパーノズル２２２は、上下方向に駆動可能であり、希釈容器２０３に対して上限点から一定量ずつ下降することができる構造となっている。
【００４７】
この電解質測定装置において、例えば、希釈容器２０３は図１に示した反応容器２１に対応し、また、シッパーノズル２２２は図１に示した電解質測定用サンプリング機構３０の電解質測定用サンプルプローブ３５に対応する。さらに、これに限られるものではないが、イオン選択電極２０４〜２０６や比較電極２０７等は図１に示した電解質測定部１１に含まれる。さらに、電解質測定装置を構成する記憶部は図１に示した記憶装置１２（あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に対応し、また、制御部は図１に示した制御部１３（あるいはコンピュータ１０も含む）に対応する。この制御部１３は、図４〜図６において後述する、希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理フローや希釈容器２０３内の溶液の流量測定処理フロー等を制御する。
【００４８】
以上のように構成される電解質測定装置において、まずこの電解質測定装置の動作について図２を用いて説明する。この電解質測定装置の動作は、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。
【００４９】
図２において、試料容器２０１の試料溶液はプローブ２０２にて設定量吸引され、希釈容器２０３に吐出される。そして、希釈液ボトル２２１の希釈液は、希釈液吸引用二方電磁弁２１８、希釈液シリンジ２１０、希釈液吐出用二方電磁弁２１７の動作により希釈容器２０３に吐出され、試料容器２０１から希釈容器２０３に吐出された試料溶液が希釈される。
【００５０】
ピンチバルブ２１１が閉じた状態で、シッパーシリンジ２０８、シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３の動作により、比較電極液ボトル２１９の比較電極液は、比較電極用二方電磁弁２１２を介して、比較電極２０７まで吸引される。次に、希釈容器２０３にて希釈された希釈試料溶液は、ピンチバルブ２１１が開いた状態で、シッパーシリンジ２０８、シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３の動作により、シッパーノズル２２２からＮａイオン選択電極２０４、Ｋイオン選択電極２０５、Ｃｌイオン選択電極２０６まで吸引される。そして、比較電極２０７とイオン選択電極２０４，２０５，２０６との間に生じる起電力が測定される。希釈容器２０３に残された希釈試料溶液は、真空ノズル２２８で除去される。
【００５１】
一方、内部標準液ボトル２２０の内部標準液は、内部標準液吸引用二方電磁弁２１６、内部標準液シリンジ２０９、内部標準液吐出用二方電磁弁２１５の動作により、希釈容器２０３に吐出される。希釈試料溶液と内部標準液が交互にシッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６まで吸引されて、比較電極２０７とイオン選択電極２０４，２０５，２０６との間に生じる起電力が測定される。希釈容器２０３に残された内部標準液は、真空ノズル２２８で除去される。
【００５２】
理想状態において、比較電極２０７とイオン選択電極２０４，２０５，２０６との間に生じる起電力は、
Ｅ＝Ｅ’＋２．３０３×ＲＴ／ｎＦ×ｌｏｇ（ｆ×Ｃｉ）……（１）
Ｅ：起電力
Ｅ’：測定系により定まる一定起電力
Ｒ：気体定数
Ｔ：絶対温度
Ｆ：ファラデー定数
ｆ：活量係数
Ｃｉ：イオン（ｉ）の濃度
ｎ：イオン（ｉ）の電荷数
以上の計算式で表される。
【００５３】
式（１）より、起電力は絶対温度に依存するため、電解質測定装置の希釈容器２０３、希釈容器２０３内の溶液および電解質測定部は恒温制御されている。試料濃度は、内部標準液と試料溶液の起電力の差とあらかじめ作成しておいた検量線から算出する。測定が終了した試料や内部標準液は、廃液吐出用二方電磁弁２１４の開閉により、廃液流路から装置外に排出される。
【００５４】
なお、内部標準液および希釈液は、内部標準液吐出用二方電磁弁２１５および希釈液吐出用二方電磁弁２１７を通過後、内部標準液用ヒーター２２４および希釈液用ヒーター２２３により温められる。また、希釈容器２０３、イオン選択電極２０４，２０５，２０６、および比較電極２０７は、それぞれ、希釈容器用ヒーター２２５、イオン選択電極用ヒーター２２６、および比較電極用ヒーター２２７により温度制御されている。
【００５５】
＜＜電解質測定装置の測定系が変化した場合の状態変化＞＞
続いて、前述した電解質測定装置の動作において、この電解質測定装置の測定系が変化した場合について図３を用いて説明する。図３は、この電解質測定装置の測定系が変化した場合の測定起電力の電位と希釈容器内の溶液の液面高さとの関係の一例を示す説明図である。
【００５６】
電解質測定装置の測定系が変化すると、前述した式（１）の測定系により定まる一定起電力Ｅ’が変化し、得られる起電力Ｅも変わる。例えば、イオン選択電極２０４，２０５，２０６と電気的に導通したシッパーノズル２２２が、希釈容器２０３内の溶液と非接触の状態（図３に示す状態１）と接触の状態（図３に示す状態２）とでは測定系が異なるため、仮に同一試料が電極内に満たされていたとしても、得られる起電力は異なる。
【００５７】
通常の電解質測定では、測定系によって決まる起電力Ｅ’が一定となるように試料を測定し、得られた起電力から試料濃度の算出を行う。一方、本実施の形態では、濃度起因による起電力の変化が無いように同一の電解質溶液を測定する。この場合、測定系が変化しなければ（希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が非接触ならば（状態１））、得られる起電力は一定であり、測定系が変化すれば（希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が接触すれば（状態２））、測定系によって決まる起電力Ｅ’が変化し、得られる起電力Ｅも変化する。
【００５８】
そこで、本実施の形態における電解質測定装置においては、この希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が非接触の状態１と、希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が接触の状態２との状態変化に着目して、以下において具体的に説明するように、希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理、希釈容器２０３内の溶液の流量測定処理を行うものである。
【００５９】
＜＜希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フロー（１）＞＞
前述した図２を参照しながら、図４を用いて、前述した電解質測定装置における希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローについて説明する。図４は、この希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの一例を示すフローチャートである。
【００６０】
この希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローは、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。すなわち、制御部１３は、例えばコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触していない状態で電解質測定部にて測定した起電力Ｅ０を記憶部に記憶し、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程で電解質測定部によって得られた起電力Ｅｎと記憶部に記憶している起電力Ｅ０とに基づいて、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する処理を制御するものである。
【００６１】
さらに、制御部１３は、このコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、希釈容器２０３への溶液の分注を繰り返している過程で、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が規定値以上となったことを判断する機能も実現する。この判断する機能の閾値ΔＥとなる規定値を記憶する規定値記憶部は、記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体に設けられている。
【００６２】
まず、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する前準備として、廃液吐出用二方電磁弁２１４の開閉により、流路内の古い内部標準液を廃液流路から装置外へ排出する。また、内部標準液ボトル２２０の内部標準液を内部標準液吸引用二方電磁弁２１６、内部標準液シリンジ２０９、内部標準液吐出用二方電磁弁２１５の動作により、希釈容器２０３に吐出する。
【００６３】
ステップＳ１の電解質溶液吸引において、希釈容器２０３に吐出された内部標準液を、シッパーシリンジ２０８、シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３、ピンチバルブ２１１により、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６まで吸引する。この動作を複数回実施し、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６までを新しい内部標準液で満たし、イオン選択電極２０４，２０５，２０６とシッパーノズル２２２の先端が導通された状態とする。
【００６４】
次に、ステップＳ２のシッパーノズル先端位置制御において、シッパーノズル２２２を検出したい液面高さまで駆動し、停止させる。そして、ステップＳ３の起電力Ｅ０測定において、希釈容器２０３内の残液を真空ノズル２２８で除去した後、シッパーノズル２２２の高さを維持した状態で起電力Ｅ０を測定し、得られた起電力Ｅ０を記憶部（記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に記録する。
【００６５】
さらに、ステップＳ４の希釈容器への溶液吐出において、希釈容器２０３に溶液を一定量吐出する。この溶液には、純水や洗剤、希釈液、内部標準液などを用いる。この状態で、ステップＳ５の起電力Ｅｎ（１回目はｎ＝１）測定において、ステップＳ３で測定した内部標準液の起電力Ｅｎを再度測定する。
【００６６】
続いて、ステップＳ６において、ステップＳ３で記憶部に記録した起電力Ｅ０とステップＳ５で測定した起電力Ｅｎとに基づいて、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定を行う。例えば、溶液がシッパーノズル２２２に達した場合、ステップＳ５で得られる起電力ＥｎはステップＳ３で得られる起電力Ｅ０と異なる。そこで、ＥｎとＥ０の差（｜Ｅｎ−Ｅ０｜）を測定し、この差と事前に決められた閾値（ΔＥ）とを比較する。
【００６７】
このステップＳ６での比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥ）場合（Ｙｅｓ）、希釈容器２０３内の液面がシッパーノズル２２２の先端に達したことになる。この場合に、ステップＳ７の液面検出において、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００６８】
一方、ステップＳ６の比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より小さい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＜ΔＥ）場合（Ｎｏ）、希釈容器２０３内の液面がシッパーノズル２２２の先端に達していないことになる。この場合は、ステップＳ４の希釈容器への溶液吐出から、ステップＳ５の起電力Ｅｎ（２回目はｎ＝２、以降順に３回目はｎ＝３、…）測定、ステップＳ６の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定までを、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなるまで繰り返し、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなった際に、ステップＳ７において希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００６９】
このように、図４に示す希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理フローの例においては、希釈容器２０３に溶液を一定量ずつ吐出し、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定条件が成立するまで動作を繰り返すことで、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出することができる。
【００７０】
＜＜希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フロー（２）＞＞
図５を用いて、前述した図４に示した希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローとは別の例について説明する。図５は、この別の希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの一例を示すフローチャートである。ここでは、図４と異なる部分を主に説明する。
【００７１】
この希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローにおいて、制御部１３は、例えばコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、希釈容器２０３へのシッパーノズル２２２の下降を繰り返している過程で、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が規定値（閾値ΔＥ）以上となったことを判断する機能も実現する。
【００７２】
まず、ステップＳ１１の電解質溶液吸引において、希釈容器２０３に吐出された内部標準液を吸引し、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６までを新しい内部標準液で満たし、イオン選択電極２０４，２０５，２０６とシッパーノズル２２２の先端が導通された状態とする。
【００７３】
次に、ステップＳ１２のシッパーノズル上限点移動において、シッパーノズル２２２を上限点まで駆動し、停止させる。そして、ステップＳ１３の起電力Ｅ０測定において、希釈容器２０３内の残液を真空ノズル２２８で除去した後、シッパーノズル２２２の高さを維持した状態で起電力Ｅ０を測定し、得られた起電力Ｅ０を記憶部に記録する。
【００７４】
さらに、ステップＳ１４の希釈容器への溶液吐出において、希釈容器２０３に純水や洗剤、希釈液、内部標準液などの溶液を吐出する。そして、ステップＳ１５のシッパーノズル一定量下降・下降量記録において、シッパーノズル２２２を一定量下降させ、この下降量を記憶部（記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に記録する。この状態で、ステップＳ１６の起電力Ｅｎ測定において、ステップＳ１３で測定した内部標準液の起電力Ｅｎを再度測定する。
【００７５】
続いて、ステップＳ１７の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定において、ＥｎとＥ０の差（｜Ｅｎ−Ｅ０｜）と閾値（ΔＥ）とを比較する。この比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥ）場合（Ｙｅｓ）、ステップＳ１８の液面検出において、シッパーノズル２２２の高さから、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００７６】
一方、ステップＳ１７の比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より小さい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＜ΔＥ）場合（Ｎｏ）、液面高さ検出不能とモニタ（コンピュータ１０のモニタ）に出力するとともに、ステップＳ１５のシッパーノズル一定量下降・下降量記録から、ステップＳ１６の起電力Ｅｎ測定、ステップＳ１７の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定までを、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなるまで繰り返し、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなった際に、ステップＳ１８において希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００７７】
このように、図５に示す希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理フローの例においては、シッパーノズル２２２を一定量ずつ下降させ、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定条件が成立するまで動作を繰り返すことで、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出することができる。
【００７８】
＜＜希釈容器内の溶液の流量測定処理フロー＞＞
図６を用いて、前述した図４および図５に示した希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローとは別の観点で、前述した電解質測定装置における希釈容器内の溶液の流量測定処理フローについて説明する。図６は、この希釈容器内の溶液の流量測定処理フローの一例を示すフローチャートである。ここでは、図４および図５と異なる部分を主に説明する。
【００７９】
この希釈容器内の溶液の流量測定処理フローは、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。すなわち、制御部１３は、例えばコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、希釈容器２０３への溶液の分注を繰り返している過程で、溶液を分注部で希釈容器２０３に分注を開始してから、起電力（Ｅｎ）と起電力（Ｅ０）との差が規定値（閾値ΔＥ）以上となるまでの時間を計測し、この計測した時間から分注部で希釈容器２０３に分注される溶液の流量を算出する機能も実現する。
【００８０】
まず、ステップＳ２１の電解質溶液吸引において、希釈容器２０３に吐出された内部標準液を吸引し、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６までを新しい内部標準液で満たし、イオン選択電極２０４，２０５，２０６とシッパーノズル２２２の先端が導通された状態とする。
【００８１】
次に、ステップＳ２２のシッパーノズル先端位置制御において、シッパーノズル２２２の先端に達するのに必要な溶液量が設定値になるように、シッパーノズル２２２を検出したい液面高さまで駆動し、停止させる。そして、ステップＳ２３の起電力Ｅ０測定において、希釈容器２０３内の残液を真空ノズル２２８で除去した後、シッパーノズル２２２の高さを維持した状態で起電力Ｅ０を測定し、得られた起電力Ｅ０を記憶部に記録する。
【００８２】
さらに、ステップＳ２４の希釈容器への一定時間溶液吐出・吐出時間記録において、希釈容器２０３に純水や洗剤、希釈液、内部標準液などの溶液を一定時間吐出し、この吐出時間を記憶部（記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に記録する。この状態で、ステップＳ２５の起電力Ｅｎ測定において、ステップＳ２３で測定した内部標準液の起電力Ｅｎを再度測定する。
【００８３】
続いて、ステップＳ２６の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定において、ＥｎとＥ０の差（｜Ｅｎ−Ｅ０｜）と閾値（ΔＥ）とを比較する。この比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥ）場合（Ｙｅｓ）、ステップＳ２７の吐出時間からの流量算出において、ステップＳ２４で記録した吐出時間の総吐出時間と、シッパーノズル２２２の先端に達するのに必要な溶液量（設定値）から、希釈容器２０３に吐出された平均流量や単位時間当たりの流量を算出する。
【００８４】
一方、ステップＳ２６の比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より小さい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＜ΔＥ）場合（Ｎｏ）、流量測定不能と出力するとともに、ステップＳ２４の希釈容器への一定時間溶液吐出・吐出時間記録から、ステップＳ２５の起電力Ｅｎ測定、ステップＳ２６の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定までを、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなるまで繰り返し、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなった際に、ステップＳ２７において希釈容器２０３に吐出された平均流量や単位時間当たりの流量を算出する。
【００８５】
このように、図６に示す希釈容器２０３内の溶液の流量測定処理フローの例においては、希釈容器２０３に一定時間ずつ溶液を吐出し、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定条件が成立するまで動作を繰り返すことで、希釈容器２０３に吐出された溶液の平均流量や単位時間当たりの流量を測定することができる。
【００８６】
＜＜実施の形態の効果＞＞
以上説明した本実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置によれば、イオン選択電極２０４〜２０６と比較電極２０７等を含む電解質測定部と、記憶装置１２等の記憶部と、希釈容器２０３と、プローブ２０２とシリンジ２０９，２１０と電磁弁２１５〜２１８等を含む分注部と、シッパーノズル２２２と、制御部１３等を備えることで、以下のような効果を得ることができる。
【００８７】
（１）シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触していない状態で電解質測定部にて起電力Ｅ０を測定し、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程で電解質測定部によって起電力Ｅｎを測定し、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０とに基づいて、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出することができる。
【００８８】
（２）シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程では、希釈容器２０３への溶液の分注を繰り返し、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となったことを判断して、希釈容器２０３内の溶液が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出することで、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを測定することができる。
【００８９】
（３）シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程では、希釈容器２０３へのシッパーノズル２２２の下降を繰り返し、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となったことを判断して、希釈容器２０３内の溶液が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出することで、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを測定することができる。
【００９０】
（４）溶液を分注部で希釈容器２０３に分注を開始してから、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となるまでの時間を計測し、この計測した時間から分注部で希釈容器２０３に分注される溶液の流量を算出することで、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器２０３に吐出される溶液の平均流量や単位時間当たりの流量を測定することができる。
【００９１】
（５）上記（１）〜（４）により、構造が単純で信頼性の高い電解質測定装置を提供することができる。
【００９２】
（６）上記（１）〜（４）により、従来行ってきた検査技師による希釈容器２０３の清掃が不要になり、検査技師の負担軽減に貢献することができる。
【００９３】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００９４】
本発明の自動分析装置は、特に、生体液中のイオン分析に使用する電解質測定装置、およびこの電解質測定装置を含む生化学自動分析装置、さらにこれらの制御方法に適用して有効である。
【符号の説明】
【００９５】
１…サンプルディスク、２…試薬ディスク、３…反応ディスク、４…反応槽、５…サンプリング機構、６…試薬分注機構、７…攪拌機構、８…測光機構、９…洗浄機構、１０…コンピュータ、１１…電解質測定部、１２…記憶装置、１３…制御部、１４…圧電素子ドライバ、１５…攪拌機構コントローラ、１６…試料容器、１７…円形サンプルディスク、１８…試薬ボトル、１９…円形試薬ディスク、２０…保冷庫、２１…反応容器、２２…反応容器ホルダ、２３…駆動機構、２４…サンプルプローブ、２５…サンプルプローブ支承軸、２６…サンプルプローブアーム、２７…試薬プローブ、２８…試薬プローブ支承軸、２９…試薬プローブアーム、３０…電解質測定用サンプリング機構、３１…固定部、３３…ノズル、３４…上下駆動機構、３５…電解質測定用サンプルプローブ、３６…電解質測定用サンプルプローブ支承軸、３７…電解質測定用サンプルプローブアーム、
２０１…試料容器、２０２…プローブ、２０３…希釈容器、２０４…Ｎａイオン選択電極、２０５…Ｋイオン選択電極、２０６…Ｃｌイオン選択電極、２０７…比較電極、２０８…シッパーシリンジ、２０９…内部標準液シリンジ、２１０…希釈液シリンジ、２１１…ピンチバルブ、２１２…比較電極用二方電磁弁、２１３…シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁、２１４…廃液吐出用二方電磁弁、２１５…内部標準液吐出用二方電磁弁、２１６…内部標準液吸引用二方電磁弁、２１７…希釈液吐出用二方電磁弁、２１８…希釈液吸引用二方電磁弁、２１９…比較電極液ボトル、２２０…内部標準液ボトル、２２１…希釈液ボトル、２２２…シッパーノズル、２２３…希釈液用ヒーター、２２４…内部標準液用ヒーター、２２５…希釈容器用ヒーター、２２６…イオン選択電極用ヒーター、２２７…比較電極用ヒーター、２２８…真空ノズル。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自動分析装置の技術に関し、特に、生体液中のイオン分析に使用する電解質測定装置、およびこの電解質測定装置を含む生化学自動分析装置、さらにこれらの制御方法に適用して有効な技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
血液中に存在するＮａイオン、Ｋイオン、Ｃｌイオン等の各種イオンの定量測定においては、イオン選択性電極（ＩＳＥ；Ｉｏｎ Ｓｅｌｅｃｔｉｖｅ Ｅｌｅｃｔｒｏｄｅ）を用いて起電力測定を行って分析する方法が主流である。
【０００３】
イオン選択性電極を用いた測定法には、試料溶液を希釈液で希釈し測定する希釈法と、試料溶液を希釈無しに測定する非希釈法がある。小形緊急検査装置などを除いてほとんどの自動分析装置に搭載されている電解質測定装置では希釈法が採用されている。希釈法では、希釈カップや反応セル等の容器（以下、希釈容器）で試料溶液を希釈液で希釈し、この希釈された試料溶液（以下、希釈試料溶液）をイオン選択性電極に供給して電解質濃度測定を行う。
【０００４】
一般的に、希釈法を採用した電解質測定装置で使用する希釈容器は、繰り返し使用する。このような希釈法を採用した電解質測定装置が、例えば特許文献１に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−５７３６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述した特許文献１を含む従来の電解質測定装置で採用されている希釈法では、すべての試料溶液を希釈容器にて希釈した後、測定することになる。そのため、以前測定した試料溶液が希釈容器に残っていると、誤測定の原因となる。一方、希釈容器の清掃は、検査技師が綿棒などを用いて定期的に清掃してもらうことで対応している。
【０００７】
希釈容器を自動で洗浄する機構を設けるのが理想であるが、純水等の洗浄液で希釈容器を洗浄する場合、洗浄液が希釈容器から溢れずに希釈容器全体を洗浄するようにする必要がある。そのためには、希釈容器内にどれだけの洗浄水が入ったかを監視する必要がある。監視のため、例えば、水位センサや圧力センサを液面検知センサとして使用することで液面高さを測定する方法が考えられる。
【０００８】
しかし、水位センサを設置すると試料溶液間での汚染による測定不良（キャリーオーバー）が生じやすくなるという課題がある。また、圧力センサ等を設置することで液面高さを測定する方法もあるが、装置構成が複雑になるという課題がある。
【０００９】
そこで、本発明は上述したような課題に鑑みてなされたものであり、その代表的な目的は、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器内の溶液の液面高さや、希釈容器に吐出される溶液の単位時間当たりの流量を測定することができる自動分析装置を提供することにある。
【００１０】
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
【００１２】
すなわち、代表的な自動分析装置は、電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、前記電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部と、液体を保持する容器と、前記容器に液体を分注する分注部と、前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部に供給するシッパーノズルと、前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部とを備える。特に、前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて測定した起電力（Ｅ０）を前記記憶部に記憶し、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態までの過程で前記電解質測定部によって得られた起電力（Ｅｎ）と前記記憶部に記憶している起電力（Ｅ０）とに基づいて、前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御することを特徴とする。
【００１３】
また、代表的な自動分析装置の制御方法は、前記制御部の制御として、前記シッパーノズルを用いて前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの流路間を液体で満たすステップと、前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの間に生じる起電力に基づいて、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するための基準となる起電力（Ｅ０）を得るステップとを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。
【００１５】
すなわち、代表的な効果は、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器内の溶液の液面高さや、希釈容器に吐出される溶液の単位時間当たりの流量を測定することができる。この結果、構造が単純で信頼性の高い電解質測定装置を含む自動分析装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の全体構成の一例を示す概略構成図である。
【図２】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置の構成の一例を示す概略構成図である。
【図３】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、この電解質測定装置の測定系が変化した場合の測定起電力の電位と希釈容器内の溶液の液面高さとの関係の一例を示す説明図である。
【図４】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの一例を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの別の一例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置において、希釈容器内の溶液の流量測定処理フローの一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下の実施の形態においては、便宜上その必要があるときは、複数の実施の形態またはセクションに分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらは互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等（個数、数値、量、範囲等を含む）に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良い。
【００１８】
さらに、以下の実施の形態において、その構成要素（要素ステップ等も含む）は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。
【００１９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００２０】
＜本発明の実施の形態の概要＞
本発明の実施の形態に係る自動分析装置（一例として、（）内に図２等の対応する構成要素を付記）は、電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部（イオン選択電極２０４〜２０６と比較電極２０７等）と、電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部（記憶装置１２）と、液体を保持する容器（希釈容器２０３）と、容器に液体を分注する分注部（プローブ２０２とシリンジ２０９，２１０と電磁弁２１５〜２１８等）と、容器内の液体を吸引し、電解質測定部に供給するシッパーノズル（シッパーノズル２２２）と、容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部（制御部１３）とを備える。特に、制御部は、シッパーノズルが容器内の液体に接触していない状態で電解質測定部にて測定した起電力（Ｅ０）を記憶部に記憶し、容器への液体の分注を繰り返している過程で電解質測定部によって得られた起電力（Ｅｎ）と記憶部に記憶している起電力（Ｅ０）とに基づいて、容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御することを特徴とする。
【００２１】
また、本発明の実施の形態に係る自動分析装置の制御方法（一例として、（）内に図４の対応するステップを付記）は、制御部の制御として、シッパーノズルを用いて容器内の液体を吸引し、電解質測定部とシッパーノズルとの流路間を液体で満たすステップ（Ｓ１）と、電解質測定部とシッパーノズルとの間に生じる起電力に基づいて、容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するための基準となる起電力（Ｅ０）を得るステップ（Ｓ３）とを有することを特徴とする。
【００２２】
以上説明した本発明の実施の形態の概要に基づいた実施の形態を、以下において具体的に説明する。以下に説明する実施の形態は本発明を用いた一例であり、本発明は以下の実施の形態により限定されるものではない。
【００２３】
＜実施の形態＞
＜＜自動分析装置の全体構成および動作＞＞
図１を用いて、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成および動作について説明する。図１は、この自動分析装置の全体構成の一例を示す概略構成図である。ここでは、生化学自動分析装置を例に説明する。
【００２４】
図１において、１はサンプルディスク、２は試薬ディスク、３は反応ディスク、４は反応槽、５はサンプリング機構、６は試薬分注機構、７は攪拌機構、８は測光機構、９は洗浄機構、１０はコンピュータ（ＰＣ）、１１は電解質測定部、１２は記憶装置、１３は制御部、１４は圧電素子ドライバ、１５は攪拌機構コントローラ、１６は試料容器、１７は円形サンプルディスク、１８は試薬ボトル、１９は円形試薬ディスク、２０は保冷庫、２１は反応容器、２２は反応容器ホルダ、２３は駆動機構、２４はサンプルプローブ、２５はサンプルプローブ支承軸、２６はサンプルプローブアーム、２７は試薬プローブ、２８は試薬プローブ支承軸、２９は試薬プローブアーム、３０は電解質測定用サンプリング機構、３１は固定部、３３はノズル、３４は上下駆動機構、３５は電解質測定用サンプルプローブ、３６は電解質測定用サンプルプローブ支承軸、３７は電解質測定用サンプルプローブアームである。
【００２５】
本実施の形態に係る自動分析装置は、主に、複数の試料容器１６が載置されるサンプルディスク１と、複数の試薬ボトル１８が載置される試薬ディスク２と、複数の反応容器２１が載置される反応ディスク３と、サンプルディスク１と反応ディスク３との近傍に設置されたサンプリング機構５と、試薬ディスク２と反応ディスク３との近傍に設置された試薬分注機構６と、反応ディスク３の近傍に設置された攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、および電解質測定用サンプリング機構３０等を有して構成される。
【００２６】
サンプルディスク１は、円形サンプルディスク１７上に、分析対象の試料（サンプルとも記す）を収容する複数の試料容器１６が円周上に並んで載置されている。このサンプルディスク１の近傍には、サンプリング機構５が設置されている。このサンプリング機構５は、該当する試料容器１６から試料を吸入し、この試料を該当する反応容器２１に吐出するサンプルプローブ２４がサンプルプローブ支承軸２５に固定されたサンプルプローブアーム２６に取り付けられている。
【００２７】
試薬ディスク２は、円形試薬ディスク１９上に、試薬を収納する複数の試薬ボトル１８が円周上に並んで載置されている。この試薬ディスク２には、保冷庫２０が設置されている。また、この試薬ディスク２の近傍には、試薬分注機構６が設置されている。この試薬分注機構６は、該当する試薬ボトル１８から試薬を吸入し、この試薬を該当する反応容器２１に吐出する試薬プローブ２７が試薬プローブ支承軸２８に固定された試薬プローブアーム２９に取り付けられている。
【００２８】
反応ディスク３は、複数の反応容器２１が保持される複数の反応容器ホルダ２２が円周上に並んで載置されている。この反応ディスク３には、反応槽４が設置されている。この反応ディスク３は、駆動機構２３により間欠回転可能となっている。また、この反応ディスク３の近傍には、攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、電解質測定用サンプリング機構３０等が設置されている。
【００２９】
攪拌機構７は、反応容器２１内の内容物（試料と試薬）を攪拌するための機構であり、圧電素子ドライバ１４、攪拌機構コントローラ１５等から構成される。測光機構８は、反応容器２１内の内容物を透過した透過光および内容物にて散乱した散乱光を測定するための機構であり、図示しない光源や検出器等から構成される。洗浄機構９は、反応容器２１内を洗浄するための機構であり、ノズル３３、上下駆動機構３４等から構成される。
【００３０】
電解質測定部１１は、試料の電解質測定を行うための装置であり、図２において後述するイオン選択電極や比較電極等から構成される。電解質測定用サンプリング機構３０は、試料を電解質測定部１１に分注するための機構であり、試料を吸入する電解質測定用サンプルプローブ３５が電解質測定用サンプルプローブ支承軸３６に固定された電解質測定用サンプルプローブアーム３７に取り付けられている。
【００３１】
これらのサンプルディスク１、試薬ディスク２、反応ディスク３、サンプリング機構５、試薬分注機構６、攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、および電解質測定用サンプリング機構３０は、それぞれ制御部１３に接続され、さらにコンピュータ１０に接続されて、各動作が制御されるようになっている。また、制御部１３には、記憶装置１２に接続されている。
【００３２】
コンピュータ１０は、例えば演算処理機能や記憶機能等を含む本体、キーボードやマウス等の入力部、液晶やＣＲＴ等の表示部から構成され、測定試料の情報や、測定項目の登録、分析パラメータ等を設定する。記憶装置１２には、分析パラメータ、各試薬ボトルの分析可能回数、最大分析可能回数、キャリブレーション結果、分析結果等や、分注動作を評価する判定プロセス、また予め保持する判定に必要なデータなどを記憶保持している。なお、記憶装置１２に記憶保持する情報は、コンピュータ１０に付属する記憶媒体に記憶されても良いし、個別の記憶データベースとして記憶装置１２のように単独で存在しても良い。
【００３３】
以上のように構成される自動分析装置において、試料の比色分析は、以下のようにサンプリング、試薬分注、攪拌、測光、反応容器の洗浄、濃度換算等のデータ処理の順番に実施される。
【００３４】
サンプルディスク１、試薬ディスク２、反応ディスク３、サンプリング機構５、試薬分注機構６、攪拌機構７、測光機構８、洗浄機構９、電解質測定部１１、および電解質測定用サンプリング機構３０は、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。
【００３５】
まず、サンプルディスク１上には、分析される試料を収容した複数の試料容器１６が円周上に並んで設置されており、この分析される試料の順番に従ってサンプリング機構５のサンプルプローブ２４の下まで移動する。試料容器１６中の試料は、サンプリング機構５に連結された試料用ポンプ（図示せず）により、反応ディスク３上の反応容器２１の中に所定量分注される。
【００３６】
さらに、試料を分注された反応容器２１は、反応槽４の中を第１試薬添加位置まで移動する。移動した反応容器２１には、試薬分注機構６の試薬プローブ２７に連結された試薬用ポンプ（図示せず）により、試薬ディスク２上の試薬ボトル１８から吸引された試薬が所定量加えられる。第１試薬添加後の反応容器２１は、攪拌機構７の位置まで移動し、最初の攪拌が行われる。このような試薬の添加−攪拌が、例えば第１〜第４試薬について行われる。
【００３７】
続いて、内容物が攪拌された反応容器２１は、測光機構８において、光源から発した光束中を通過し、この時の吸光度は多波長光度計により検知される。検知された前記吸光度の信号は制御部１３に入り、試料の濃度に変換される。また、制御部１３では同時に吸光度に基づいた異常の判定を行う。
【００３８】
また、試料の電解質測定は、試料を電解質測定用サンプリング機構３０で電解質測定部１１に分注して行う。なお、電解質測定部１１への分注は、サンプリング機構５で行っても良い。
【００３９】
そして、濃度変換されたデータは、記憶装置１２に記憶され、コンピュータ１０に付属する表示装置に表示される。測光の終了した前記反応容器２１は、洗浄機構９の位置まで移動し、洗浄され、次の分析に供される。
【００４０】
以上のように、本実施の形態に係る自動分析装置においては、サンプリング、試薬分注、攪拌、測光、反応容器の洗浄、濃度換算等のデータ処理を順番に実施して、試料の比色分析を行うことができる。
【００４１】
＜＜電解質測定装置の構成および動作＞＞
図２を用いて、前述した自動分析装置に含まれる電解質測定装置（電解質測定部１１とその周辺の電磁弁やシリンジ等の機構部を含む部分）の構成および動作について説明する。図２は、この電解質測定装置の一例を示す概略構成図である。
【００４２】
図２において、２０１は試料容器、２０２はプローブ、２０３は希釈容器、２０４はＮａイオン選択電極、２０５はＫイオン選択電極、２０６はＣｌイオン選択電極、２０７は比較電極、２０８はシッパーシリンジ、２０９は内部標準液シリンジ、２１０は希釈液シリンジ、２１１はピンチバルブ、２１２は比較電極用二方電磁弁、２１３はシッパーシリンジ吸引用二方電磁弁、２１４は廃液吐出用二方電磁弁、２１５は内部標準液吐出用二方電磁弁、２１６は内部標準液吸引用二方電磁弁、２１７は希釈液吐出用二方電磁弁、２１８は希釈液吸引用二方電磁弁、２１９は比較電極液ボトル、２２０は内部標準液ボトル、２２１は希釈液ボトル、２２２はシッパーノズル、２２３は希釈液用ヒーター、２２４は内部標準液用ヒーター、２２５は希釈容器用ヒーター、２２６はイオン選択電極用ヒーター、２２７は比較電極用ヒーター、２２８は真空ノズルである。
【００４３】
本実施の形態における電解質測定装置は、主に、電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部と、液体を保持する希釈容器２０３と、希釈容器２０３に液体を分注する分注部と、希釈容器２０３内の液体を吸引し、電解質測定部に供給するシッパーノズル２２２と、希釈容器２０３内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部等を備えて構成される。
【００４４】
電解質測定部は、Ｎａイオン選択電極２０４、Ｋイオン選択電極２０５、およびＣｌイオン選択電極２０６と、比較電極２０７等から構成される。電解質測定部の周辺には、シッパーノズル２２２からＮａイオン選択電極２０４、Ｋイオン選択電極２０５、Ｃｌイオン選択電極２０６までの流路に希釈容器２０３内の希釈試料溶液（試料溶液が希釈液で希釈された溶液）、または内部標準液を吸引して満たすためのシッパーシリンジ２０８、およびシッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３が設けられ、また、比較電極液ボトル２１９から比較電極２０７までの流路に比較電極液ボトル２１９の比較電極液を満たすための比較電極用二方電磁弁２１２が設けられている。
【００４５】
分注部は、試料容器２０１の試料溶液を吸引して希釈容器２０３に吐出するプローブ２０２と、希釈液ボトル２２１の希釈液を吸引して希釈容器２０３に吐出する希釈液吸引用二方電磁弁２１８、希釈液シリンジ２１０、および希釈液吐出用二方電磁弁２１７と、内部標準液ボトル２２０の内部標準液を吸引して希釈容器２０３に吐出する内部標準液吸引用二方電磁弁２１６、内部標準液シリンジ２０９、および内部標準液吐出用二方電磁弁２１５等から構成される。
【００４６】
シッパーノズル２２２は、希釈容器２０３内の希釈試料溶液または内部標準液を吸引するノズルである。また、このシッパーノズル２２２は、上下方向に駆動可能であり、希釈容器２０３に対して上限点から一定量ずつ下降することができる構造となっている。
【００４７】
この電解質測定装置において、例えば、希釈容器２０３は図１に示した反応容器２１に対応し、また、シッパーノズル２２２は図１に示した電解質測定用サンプリング機構３０の電解質測定用サンプルプローブ３５に対応する。さらに、これに限られるものではないが、イオン選択電極２０４〜２０６や比較電極２０７等は図１に示した電解質測定部１１に含まれる。さらに、電解質測定装置を構成する記憶部は図１に示した記憶装置１２（あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に対応し、また、制御部は図１に示した制御部１３（あるいはコンピュータ１０も含む）に対応する。この制御部１３は、図４〜図６において後述する、希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理フローや希釈容器２０３内の溶液の流量測定処理フロー等を制御する。
【００４８】
以上のように構成される電解質測定装置において、まずこの電解質測定装置の動作について図２を用いて説明する。この電解質測定装置の動作は、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。
【００４９】
図２において、試料容器２０１の試料溶液はプローブ２０２にて設定量吸引され、希釈容器２０３に吐出される。そして、希釈液ボトル２２１の希釈液は、希釈液吸引用二方電磁弁２１８、希釈液シリンジ２１０、希釈液吐出用二方電磁弁２１７の動作により希釈容器２０３に吐出され、試料容器２０１から希釈容器２０３に吐出された試料溶液が希釈される。
【００５０】
ピンチバルブ２１１が閉じた状態で、シッパーシリンジ２０８、シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３の動作により、比較電極液ボトル２１９の比較電極液は、比較電極用二方電磁弁２１２を介して、比較電極２０７まで吸引される。次に、希釈容器２０３にて希釈された希釈試料溶液は、ピンチバルブ２１１が開いた状態で、シッパーシリンジ２０８、シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３の動作により、シッパーノズル２２２からＮａイオン選択電極２０４、Ｋイオン選択電極２０５、Ｃｌイオン選択電極２０６まで吸引される。そして、比較電極２０７とイオン選択電極２０４，２０５，２０６との間に生じる起電力が測定される。希釈容器２０３に残された希釈試料溶液は、真空ノズル２２８で除去される。
【００５１】
一方、内部標準液ボトル２２０の内部標準液は、内部標準液吸引用二方電磁弁２１６、内部標準液シリンジ２０９、内部標準液吐出用二方電磁弁２１５の動作により、希釈容器２０３に吐出される。希釈試料溶液と内部標準液が交互にシッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６まで吸引されて、比較電極２０７とイオン選択電極２０４，２０５，２０６との間に生じる起電力が測定される。希釈容器２０３に残された内部標準液は、真空ノズル２２８で除去される。
【００５２】
理想状態において、比較電極２０７とイオン選択電極２０４，２０５，２０６との間に生じる起電力は、
Ｅ＝Ｅ’＋２．３０３×ＲＴ／ｎＦ×ｌｏｇ（ｆ×Ｃｉ）……（１）
Ｅ：起電力
Ｅ’：測定系により定まる一定起電力
Ｒ：気体定数
Ｔ：絶対温度
Ｆ：ファラデー定数
ｆ：活量係数
Ｃｉ：イオン（ｉ）の濃度
ｎ：イオン（ｉ）の電荷数
以上の計算式で表される。
【００５３】
式（１）より、起電力は絶対温度に依存するため、電解質測定装置の希釈容器２０３、希釈容器２０３内の溶液および電解質測定部は恒温制御されている。試料濃度は、内部標準液と試料溶液の起電力の差とあらかじめ作成しておいた検量線から算出する。測定が終了した試料や内部標準液は、廃液吐出用二方電磁弁２１４の開閉により、廃液流路から装置外に排出される。
【００５４】
なお、内部標準液および希釈液は、内部標準液吐出用二方電磁弁２１５および希釈液吐出用二方電磁弁２１７を通過後、内部標準液用ヒーター２２４および希釈液用ヒーター２２３により温められる。また、希釈容器２０３、イオン選択電極２０４，２０５，２０６、および比較電極２０７は、それぞれ、希釈容器用ヒーター２２５、イオン選択電極用ヒーター２２６、および比較電極用ヒーター２２７により温度制御されている。
【００５５】
＜＜電解質測定装置の測定系が変化した場合の状態変化＞＞
続いて、前述した電解質測定装置の動作において、この電解質測定装置の測定系が変化した場合について図３を用いて説明する。図３は、この電解質測定装置の測定系が変化した場合の測定起電力の電位と希釈容器内の溶液の液面高さとの関係の一例を示す説明図である。
【００５６】
電解質測定装置の測定系が変化すると、前述した式（１）の測定系により定まる一定起電力Ｅ’が変化し、得られる起電力Ｅも変わる。例えば、イオン選択電極２０４，２０５，２０６と電気的に導通したシッパーノズル２２２が、希釈容器２０３内の溶液と非接触の状態（図３に示す状態１）と接触の状態（図３に示す状態２）とでは測定系が異なるため、仮に同一試料が電極内に満たされていたとしても、得られる起電力は異なる。
【００５７】
通常の電解質測定では、測定系によって決まる起電力Ｅ’が一定となるように試料を測定し、得られた起電力から試料濃度の算出を行う。一方、本実施の形態では、濃度起因による起電力の変化が無いように同一の電解質溶液を測定する。この場合、測定系が変化しなければ（希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が非接触ならば（状態１））、得られる起電力は一定であり、測定系が変化すれば（希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が接触すれば（状態２））、測定系によって決まる起電力Ｅ’が変化し、得られる起電力Ｅも変化する。
【００５８】
そこで、本実施の形態における電解質測定装置においては、この希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が非接触の状態１と、希釈容器２０３内の溶液とシッパーノズル２２２が接触の状態２との状態変化に着目して、以下において具体的に説明するように、希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理、希釈容器２０３内の溶液の流量測定処理を行うものである。
【００５９】
＜＜希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フロー（１）＞＞
前述した図２を参照しながら、図４を用いて、前述した電解質測定装置における希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローについて説明する。図４は、この希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの一例を示すフローチャートである。
【００６０】
この希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローは、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。すなわち、制御部１３は、例えばコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触していない状態で電解質測定部にて測定した起電力Ｅ０を記憶部に記憶し、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程で電解質測定部によって得られた起電力Ｅｎと記憶部に記憶している起電力Ｅ０とに基づいて、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する処理を制御するものである。
【００６１】
さらに、制御部１３は、このコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、希釈容器２０３への溶液の分注を繰り返している過程で、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が規定値以上となったことを判断する機能も実現する。この判断する機能の閾値ΔＥとなる規定値を記憶する規定値記憶部は、記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体に設けられている。
【００６２】
まず、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する前準備として、廃液吐出用二方電磁弁２１４の開閉により、流路内の古い内部標準液を廃液流路から装置外へ排出する。また、内部標準液ボトル２２０の内部標準液を内部標準液吸引用二方電磁弁２１６、内部標準液シリンジ２０９、内部標準液吐出用二方電磁弁２１５の動作により、希釈容器２０３に吐出する。
【００６３】
ステップＳ１の電解質溶液吸引において、希釈容器２０３に吐出された内部標準液を、シッパーシリンジ２０８、シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁２１３、ピンチバルブ２１１により、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６まで吸引する。この動作を複数回実施し、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６までを新しい内部標準液で満たし、イオン選択電極２０４，２０５，２０６とシッパーノズル２２２の先端が導通された状態とする。
【００６４】
次に、ステップＳ２のシッパーノズル先端位置制御において、シッパーノズル２２２を検出したい液面高さまで駆動し、停止させる。そして、ステップＳ３の起電力Ｅ０測定において、希釈容器２０３内の残液を真空ノズル２２８で除去した後、シッパーノズル２２２の高さを維持した状態で起電力Ｅ０を測定し、得られた起電力Ｅ０を記憶部（記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に記録する。
【００６５】
さらに、ステップＳ４の希釈容器への溶液吐出において、希釈容器２０３に溶液を一定量吐出する。この溶液には、純水や洗剤、希釈液、内部標準液などを用いる。この状態で、ステップＳ５の起電力Ｅｎ（１回目はｎ＝１）測定において、ステップＳ３で測定した内部標準液の起電力Ｅｎを再度測定する。
【００６６】
続いて、ステップＳ６において、ステップＳ３で記憶部に記録した起電力Ｅ０とステップＳ５で測定した起電力Ｅｎとに基づいて、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定を行う。例えば、溶液がシッパーノズル２２２に達した場合、ステップＳ５で得られる起電力ＥｎはステップＳ３で得られる起電力Ｅ０と異なる。そこで、ＥｎとＥ０の差（｜Ｅｎ−Ｅ０｜）を測定し、この差と事前に決められた閾値（ΔＥ）とを比較する。
【００６７】
このステップＳ６での比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥ）場合（Ｙｅｓ）、希釈容器２０３内の液面がシッパーノズル２２２の先端に達したことになる。この場合に、ステップＳ７の液面検出において、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００６８】
一方、ステップＳ６の比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より小さい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＜ΔＥ）場合（Ｎｏ）、希釈容器２０３内の液面がシッパーノズル２２２の先端に達していないことになる。この場合は、ステップＳ４の希釈容器への溶液吐出から、ステップＳ５の起電力Ｅｎ（２回目はｎ＝２、以降順に３回目はｎ＝３、…）測定、ステップＳ６の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定までを、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなるまで繰り返し、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなった際に、ステップＳ７において希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００６９】
このように、図４に示す希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理フローの例においては、希釈容器２０３に溶液を一定量ずつ吐出し、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定条件が成立するまで動作を繰り返すことで、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出することができる。
【００７０】
＜＜希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フロー（２）＞＞
図５を用いて、前述した図４に示した希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローとは別の例について説明する。図５は、この別の希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローの一例を示すフローチャートである。ここでは、図４と異なる部分を主に説明する。
【００７１】
この希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローにおいて、制御部１３は、例えばコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、希釈容器２０３へのシッパーノズル２２２の下降を繰り返している過程で、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が規定値（閾値ΔＥ）以上となったことを判断する機能も実現する。
【００７２】
まず、ステップＳ１１の電解質溶液吸引において、希釈容器２０３に吐出された内部標準液を吸引し、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６までを新しい内部標準液で満たし、イオン選択電極２０４，２０５，２０６とシッパーノズル２２２の先端が導通された状態とする。
【００７３】
次に、ステップＳ１２のシッパーノズル上限点移動において、シッパーノズル２２２を上限点まで駆動し、停止させる。そして、ステップＳ１３の起電力Ｅ０測定において、希釈容器２０３内の残液を真空ノズル２２８で除去した後、シッパーノズル２２２の高さを維持した状態で起電力Ｅ０を測定し、得られた起電力Ｅ０を記憶部に記録する。
【００７４】
さらに、ステップＳ１４の希釈容器への溶液吐出において、希釈容器２０３に純水や洗剤、希釈液、内部標準液などの溶液を吐出する。そして、ステップＳ１５のシッパーノズル一定量下降・下降量記録において、シッパーノズル２２２を一定量下降させ、この下降量を記憶部（記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に記録する。この状態で、ステップＳ１６の起電力Ｅｎ測定において、ステップＳ１３で測定した内部標準液の起電力Ｅｎを再度測定する。
【００７５】
続いて、ステップＳ１７の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定において、ＥｎとＥ０の差（｜Ｅｎ−Ｅ０｜）と閾値（ΔＥ）とを比較する。この比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥ）場合（Ｙｅｓ）、ステップＳ１８の液面検出において、シッパーノズル２２２の高さから、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００７６】
一方、ステップＳ１７の比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より小さい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＜ΔＥ）場合（Ｎｏ）、液面高さ検出不能とモニタ（コンピュータ１０のモニタ）に出力するとともに、ステップＳ１５のシッパーノズル一定量下降・下降量記録から、ステップＳ１６の起電力Ｅｎ測定、ステップＳ１７の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定までを、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなるまで繰り返し、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなった際に、ステップＳ１８において希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出する。
【００７７】
このように、図５に示す希釈容器２０３内の溶液の液面高さ検出処理フローの例においては、シッパーノズル２２２を一定量ずつ下降させ、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定条件が成立するまで動作を繰り返すことで、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出することができる。
【００７８】
＜＜希釈容器内の溶液の流量測定処理フロー＞＞
図６を用いて、前述した図４および図５に示した希釈容器内の溶液の液面高さ検出処理フローとは別の観点で、前述した電解質測定装置における希釈容器内の溶液の流量測定処理フローについて説明する。図６は、この希釈容器内の溶液の流量測定処理フローの一例を示すフローチャートである。ここでは、図４および図５と異なる部分を主に説明する。
【００７９】
この希釈容器内の溶液の流量測定処理フローは、制御部１３によりコンピュータ１０を介して制御される。すなわち、制御部１３は、例えばコンピュータ１０上で動作する装置立ち上げ時の制御プログラムに基づいて、希釈容器２０３への溶液の分注を繰り返している過程で、溶液を分注部で希釈容器２０３に分注を開始してから、起電力（Ｅｎ）と起電力（Ｅ０）との差が規定値（閾値ΔＥ）以上となるまでの時間を計測し、この計測した時間から分注部で希釈容器２０３に分注される溶液の流量を算出する機能も実現する。
【００８０】
まず、ステップＳ２１の電解質溶液吸引において、希釈容器２０３に吐出された内部標準液を吸引し、シッパーノズル２２２からイオン選択電極２０４，２０５，２０６までを新しい内部標準液で満たし、イオン選択電極２０４，２０５，２０６とシッパーノズル２２２の先端が導通された状態とする。
【００８１】
次に、ステップＳ２２のシッパーノズル先端位置制御において、シッパーノズル２２２の先端に達するのに必要な溶液量が設定値になるように、シッパーノズル２２２を検出したい液面高さまで駆動し、停止させる。そして、ステップＳ２３の起電力Ｅ０測定において、希釈容器２０３内の残液を真空ノズル２２８で除去した後、シッパーノズル２２２の高さを維持した状態で起電力Ｅ０を測定し、得られた起電力Ｅ０を記憶部に記録する。
【００８２】
さらに、ステップＳ２４の希釈容器への一定時間溶液吐出・吐出時間記録において、希釈容器２０３に純水や洗剤、希釈液、内部標準液などの溶液を一定時間吐出し、この吐出時間を記憶部（記憶装置１２あるいはコンピュータ１０内の記憶領域や付属の記憶媒体）に記録する。この状態で、ステップＳ２５の起電力Ｅｎ測定において、ステップＳ２３で測定した内部標準液の起電力Ｅｎを再度測定する。
【００８３】
続いて、ステップＳ２６の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定において、ＥｎとＥ０の差（｜Ｅｎ−Ｅ０｜）と閾値（ΔＥ）とを比較する。この比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥ）場合（Ｙｅｓ）、ステップＳ２７の吐出時間からの流量算出において、ステップＳ２４で記録した吐出時間の総吐出時間と、シッパーノズル２２２の先端に達するのに必要な溶液量（設定値）から、希釈容器２０３に吐出された平均流量や単位時間当たりの流量を算出する。
【００８４】
一方、ステップＳ２６の比較の結果、ＥｎとＥ０の差が閾値より小さい（｜Ｅｎ−Ｅ０｜＜ΔＥ）場合（Ｎｏ）、流量測定不能と出力するとともに、ステップＳ２４の希釈容器への一定時間溶液吐出・吐出時間記録から、ステップＳ２５の起電力Ｅｎ測定、ステップＳ２６の｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定までを、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなるまで繰り返し、ＥｎとＥ０の差が閾値より大きくなった際に、ステップＳ２７において希釈容器２０３に吐出された平均流量や単位時間当たりの流量を算出する。
【００８５】
このように、図６に示す希釈容器２０３内の溶液の流量測定処理フローの例においては、希釈容器２０３に一定時間ずつ溶液を吐出し、｜Ｅｎ−Ｅ０｜＞ΔＥの判定条件が成立するまで動作を繰り返すことで、希釈容器２０３に吐出された溶液の平均流量や単位時間当たりの流量を測定することができる。
【００８６】
＜＜実施の形態の効果＞＞
以上説明した本実施の形態に係る自動分析装置に含まれる電解質測定装置によれば、イオン選択電極２０４〜２０６と比較電極２０７等を含む電解質測定部と、記憶装置１２等の記憶部と、希釈容器２０３と、プローブ２０２とシリンジ２０９，２１０と電磁弁２１５〜２１８等を含む分注部と、シッパーノズル２２２と、制御部１３等を備えることで、以下のような効果を得ることができる。
【００８７】
（１）シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触していない状態で電解質測定部にて起電力Ｅ０を測定し、シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程で電解質測定部によって起電力Ｅｎを測定し、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０とに基づいて、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを検出することができる。
【００８８】
（２）シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程では、希釈容器２０３への溶液の分注を繰り返し、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となったことを判断して、希釈容器２０３内の溶液が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出することで、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを測定することができる。
【００８９】
（３）シッパーノズル２２２が希釈容器２０３内の溶液に接触する状態までの過程では、希釈容器２０３へのシッパーノズル２２２の下降を繰り返し、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となったことを判断して、希釈容器２０３内の溶液が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出することで、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器２０３内の溶液の液面高さを測定することができる。
【００９０】
（４）溶液を分注部で希釈容器２０３に分注を開始してから、起電力Ｅｎと起電力Ｅ０との差が閾値ΔＥ以上となるまでの時間を計測し、この計測した時間から分注部で希釈容器２０３に分注される溶液の流量を算出することで、水位センサや圧力センサ等の機構を設置することなく、希釈容器２０３に吐出される溶液の平均流量や単位時間当たりの流量を測定することができる。
【００９１】
（５）上記（１）〜（４）により、構造が単純で信頼性の高い電解質測定装置を提供することができる。
【００９２】
（６）上記（１）〜（４）により、従来行ってきた検査技師による希釈容器２０３の清掃が不要になり、検査技師の負担軽減に貢献することができる。
【００９３】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００９４】
本発明の自動分析装置は、特に、生体液中のイオン分析に使用する電解質測定装置、およびこの電解質測定装置を含む生化学自動分析装置、さらにこれらの制御方法に適用して有効である。
【符号の説明】
【００９５】
１…サンプルディスク、２…試薬ディスク、３…反応ディスク、４…反応槽、５…サンプリング機構、６…試薬分注機構、７…攪拌機構、８…測光機構、９…洗浄機構、１０…コンピュータ、１１…電解質測定部、１２…記憶装置、１３…制御部、１４…圧電素子ドライバ、１５…攪拌機構コントローラ、１６…試料容器、１７…円形サンプルディスク、１８…試薬ボトル、１９…円形試薬ディスク、２０…保冷庫、２１…反応容器、２２…反応容器ホルダ、２３…駆動機構、２４…サンプルプローブ、２５…サンプルプローブ支承軸、２６…サンプルプローブアーム、２７…試薬プローブ、２８…試薬プローブ支承軸、２９…試薬プローブアーム、３０…電解質測定用サンプリング機構、３１…固定部、３３…ノズル、３４…上下駆動機構、３５…電解質測定用サンプルプローブ、３６…電解質測定用サンプルプローブ支承軸、３７…電解質測定用サンプルプローブアーム、
２０１…試料容器、２０２…プローブ、２０３…希釈容器、２０４…Ｎａイオン選択電極、２０５…Ｋイオン選択電極、２０６…Ｃｌイオン選択電極、２０７…比較電極、２０８…シッパーシリンジ、２０９…内部標準液シリンジ、２１０…希釈液シリンジ、２１１…ピンチバルブ、２１２…比較電極用二方電磁弁、２１３…シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁、２１４…廃液吐出用二方電磁弁、２１５…内部標準液吐出用二方電磁弁、２１６…内部標準液吸引用二方電磁弁、２１７…希釈液吐出用二方電磁弁、２１８…希釈液吸引用二方電磁弁、２１９…比較電極液ボトル、２２０…内部標準液ボトル、２２１…希釈液ボトル、２２２…シッパーノズル、２２３…希釈液用ヒーター、２２４…内部標準液用ヒーター、２２５…希釈容器用ヒーター、２２６…イオン選択電極用ヒーター、２２７…比較電極用ヒーター、２２８…真空ノズル。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、
前記電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部と、
液体を保持する容器と、
前記容器に液体を分注する分注部と、
前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部に供給するシッパーノズルと、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて測定した起電力（Ｅ０）を前記記憶部に記憶し、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態までの過程で前記電解質測定部によって得られた起電力（Ｅｎ）と前記記憶部に記憶している起電力（Ｅ０）とに基づいて、前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部とを備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１記載の自動分析装置において、さらに、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差を判断するための規定値を記憶する規定値記憶部を備え、
前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が前記規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体の液面高さを検出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項１記載の自動分析装置において、さらに、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差を判断するための規定値を記憶する規定値記憶部を備え、
前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記シッパーノズルの下降を繰り返している過程で、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が前記規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体の液面高さを検出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項１記載の自動分析装置において、さらに、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差を判断するための規定値を記憶する規定値記憶部を備え、
前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記液体を前記分注部で前記容器に分注を開始してから、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が前記規定値以上となるまでの時間を計測し、この計測した時間から前記分注部で前記容器に分注される前記液体の流量を算出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項５】
電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、
液体を保持する容器と、
前記容器に液体を分注する分注部と、
前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部に供給するシッパーノズルと、
前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部とを備えた自動分析装置の制御方法において、
前記制御部の制御として、
前記シッパーノズルを用いて前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの流路間を液体で満たすステップと、
前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの間に生じる起電力に基づいて、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するための基準となる起電力（Ｅ０）を得るステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【請求項６】
請求項５記載の自動分析装置の制御方法において、
前記起電力（Ｅ０）を得るステップは、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて前記起電力（Ｅ０）を測定するステップであり、
前記制御部の制御として、さらに、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記電解質測定部によって起電力（Ｅｎ）を測定するステップと、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【請求項７】
請求項５記載の自動分析装置の制御方法において、
前記起電力（Ｅ０）を得るステップは、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて前記起電力（Ｅ０）を測定するステップであり、
前記制御部の制御として、さらに、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記シッパーノズルの下降を繰り返している過程で、前記電解質測定部によって起電力（Ｅｎ）を測定するステップと、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【請求項８】
請求項５記載の自動分析装置の制御方法において、
前記起電力（Ｅ０）を得るステップは、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて前記起電力（Ｅ０）を測定するステップであり、
前記制御部の制御として、さらに、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記液体を前記分注部で前記容器に分注を開始してから、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が規定値以上となるまでの時間を計測するステップと、
前記計測した時間から前記分注部で前記容器に分注される前記液体の流量を算出するステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【請求項１】
電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、
前記電解質測定部にて測定した起電力を記憶する記憶部と、
液体を保持する容器と、
前記容器に液体を分注する分注部と、
前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部に供給するシッパーノズルと、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて測定した起電力（Ｅ０）を前記記憶部に記憶し、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態までの過程で前記電解質測定部によって得られた起電力（Ｅｎ）と前記記憶部に記憶している起電力（Ｅ０）とに基づいて、前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部とを備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１記載の自動分析装置において、さらに、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差を判断するための規定値を記憶する規定値記憶部を備え、
前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が前記規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体の液面高さを検出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項１記載の自動分析装置において、さらに、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差を判断するための規定値を記憶する規定値記憶部を備え、
前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記シッパーノズルの下降を繰り返している過程で、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が前記規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体の液面高さを検出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項１記載の自動分析装置において、さらに、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差を判断するための規定値を記憶する規定値記憶部を備え、
前記制御部は、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記液体を前記分注部で前記容器に分注を開始してから、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が前記規定値以上となるまでの時間を計測し、この計測した時間から前記分注部で前記容器に分注される前記液体の流量を算出することを特徴とする自動分析装置。
【請求項５】
電極法により液中の電解質を測定する電解質測定部と、
液体を保持する容器と、
前記容器に液体を分注する分注部と、
前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部に供給するシッパーノズルと、
前記容器内の液体の液面高さを検出する処理を制御する制御部とを備えた自動分析装置の制御方法において、
前記制御部の制御として、
前記シッパーノズルを用いて前記容器内の液体を吸引し、前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの流路間を液体で満たすステップと、
前記電解質測定部と前記シッパーノズルとの間に生じる起電力に基づいて、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するための基準となる起電力（Ｅ０）を得るステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【請求項６】
請求項５記載の自動分析装置の制御方法において、
前記起電力（Ｅ０）を得るステップは、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて前記起電力（Ｅ０）を測定するステップであり、
前記制御部の制御として、さらに、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記電解質測定部によって起電力（Ｅｎ）を測定するステップと、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【請求項７】
請求項５記載の自動分析装置の制御方法において、
前記起電力（Ｅ０）を得るステップは、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて前記起電力（Ｅ０）を測定するステップであり、
前記制御部の制御として、さらに、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記シッパーノズルの下降を繰り返している過程で、前記電解質測定部によって起電力（Ｅｎ）を測定するステップと、
前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が規定値以上となったことを判断して、前記容器内の液体が所定量、あるいは所定の液面高さまで収容されていることを検出するステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【請求項８】
請求項５記載の自動分析装置の制御方法において、
前記起電力（Ｅ０）を得るステップは、前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触していない状態で前記電解質測定部にて前記起電力（Ｅ０）を測定するステップであり、
前記制御部の制御として、さらに、
前記シッパーノズルが前記容器内の液体に接触する状態まで前記容器への前記液体の分注を繰り返している過程で、前記液体を前記分注部で前記容器に分注を開始してから、前記起電力（Ｅｎ）と前記起電力（Ｅ０）との差が規定値以上となるまでの時間を計測するステップと、
前記計測した時間から前記分注部で前記容器に分注される前記液体の流量を算出するステップとを有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２０１３−２４７９９（Ｐ２０１３−２４７９９Ａ）
【公開日】平成２５年２月４日（２０１３．２．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１６１９８４（Ｐ２０１１−１６１９８４）
【出願日】平成２３年７月２５日（２０１１．７．２５）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年２月４日（２０１３．２．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年７月２５日（２０１１．７．２５）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
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