自動分析装置および自動分析方法
【課題】測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置を実現する。
【解決手段】複数の検出器２０４〜２０６で複数の角度でデータを取得する。検出データ選択部１８ａにより、その中の一つの検出器によって取得した信号を基準信号として選択する。第１選択データ処理部１８ｂの近似式選択部１８ｂ１で適用する近似式を選択し、選択した近似式を用いて近似式計算部１８ｂ２により近似式が計算される。変動率計算部１８ｂ３により基準信号の変動率が求められる。検出器２０５の信号は第２選択データ処理部１８ｃにより保持され、データ補正部１８ｄにより基準信号の変動率で除されることによって行われる。補正した信号データを用いて濃度演算処理部１８ｅにより濃度演算が行われ、結果出力部１８ｆによりＣＲＴ等に結果が出力される。
【解決手段】複数の検出器２０４〜２０６で複数の角度でデータを取得する。検出データ選択部１８ａにより、その中の一つの検出器によって取得した信号を基準信号として選択する。第１選択データ処理部１８ｂの近似式選択部１８ｂ１で適用する近似式を選択し、選択した近似式を用いて近似式計算部１８ｂ２により近似式が計算される。変動率計算部１８ｂ３により基準信号の変動率が求められる。検出器２０５の信号は第２選択データ処理部１８ｃにより保持され、データ補正部１８ｄにより基準信号の変動率で除されることによって行われる。補正した信号データを用いて濃度演算処理部１８ｅにより濃度演算が行われ、結果出力部１８ｆによりＣＲＴ等に結果が出力される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象に光を照射して測定対象にて散乱する光を測定する自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
サンプルに含まれる成分量を分析する分析装置として、光源からの光を、サンプル、又はサンプルと試薬とが混合した反応液に照射して得られる単一又は複数の波長の透過光量を測定し吸光度を算出して、Lambert-Beerの法則に従い、吸光度と濃度の関係から成分量を割り出す自動分析装置が広く用いられている。
【０００３】
これらの自動分析装置においては、回転と停止を繰り返すセルディスクに、反応液を保持する多数のセルが円周状に並べられ、セルディスク回転中に、予め配置された透過光測定部により、一定の時間間隔で吸光度の経時変化が測定される。
【０００４】
自動分析装置は透過光量を測定するシステムを備える一方、反応液の反応には、基質と酵素との呈色反応と、抗原と抗体との凝集反応の大きく２種類の反応が用いられている。前者は生化学分析であり、検査項目としてＬＤＨ（乳酸脱水素酵素）、ＡＬＰ（アルカリホスファターゼ）、ＡＳＴ（アスパラギン酸オキソグルタル酸アミノトンラフェナーゼ）などがある。
【０００５】
後者は免疫分析であり、検査項目としてＣＲＰ（Ｃ反応性蛋白）、ＩｇＧ（免疫グロブリン）、ＲＦ（リウマトイド因子）などがある。後者の免疫分析で測定される測定物質は血中濃度が低く高感度が要求される。これまでも、ラテックス粒子の表面に抗体を感作（結合）させた試薬を用い、サンプル中に含まれる成分を認識し凝集させる際に、反応液に光を投光し、ラテックス凝集塊に散乱されずに透過した光量を測定することでサンプル中に含まれる成分量を定量するラテックス免疫凝集法での高感度化が図られてきた。
【０００６】
さらに装置としては、透過光量を測定するのではなく、散乱光量を測定することによる高感度化も試みられている。例えば、ダイアフラムを用いて透過光と散乱光とを分離し、吸光度と散乱光を同時に測定するシステム（特許文献１参照）や、凝集反応が進んだ結果形成される大きな凝集塊での反射散乱光計測による高濃度側での精度を高める構成（特許文献２参照）、反応容器前後に積分球を用いて前方散乱光と後方散乱光のそれぞれの平均光量を測定し、セル位置ずれによる濁度変化を補正する方法（特許文献３参照）等が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００１−１４１６５４号公報
【特許文献２】特開２００８−８７９４号公報
【特許文献３】特開平１０−３３２５８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、散乱光を用いた自動分析装置の場合、測定対象物によって起こる光の散乱と同様に、気泡や異物が測定光路中に存在した場合や反応容器に付いた傷等も散乱光成分として現れ、ノイズ成分として測定値に影響を与える。
【０００９】
また、ラテックス粒子反応を用いた反応では、粒子固有のブラウン運動、あるいは溶液の対流等、溶液中の粒子が介在することによって、散乱光が揺らぎ、同様にノイズ成分として測定値に影響を与えてしまう。
【００１０】
ノイズの影響を低減するため、検出器からの出力を一定時間積分することによりＳ／Ｎ比特性を改善する方法があるが、積分時間は測定対象の時間的変化により制約があるだけでなく、反応容器内に気泡などの異物が偶発的に付着した場合はＳ／Ｎ比特性の改善効果を望めない。
【００１１】
気泡や異物、反応容器の傷による散乱光や、粒子ゆらぎによって起こる散乱光と、測定対象物の反応によって起こる散乱光とを分離する場合、気泡等による散乱光は、偶発的あるいはランダムに発生するため、これらによる散乱光を事前に予測することや、事象が発生した後に成分を切り分けることは困難である。
【００１２】
本発明の目的は、散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成される。
【００１４】
反応容器を通過した光を、光源に対し異なる角度で設置された複数の光検出素子により検出し、複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の検出信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の検出信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の検出信号を補正し、補正した検出信号に基づいて、上記試料を分析する。
【発明の効果】
【００１５】
散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体構成図である。
【図２】本発明の一実施例における検出系の説明図である。
【図３】本発明の一実施例における検出系の変形例の説明図である。
【図４】本発明の一実施例における検出系の測定結果を示すグラフである。
【図５】本発明の一実施例における複数の角度で取得したデータの相関グラフである。
【図６】本発明の一実施例におけるデータ処理のフローチャートである。
【図７】本発明の一実施例における演算処理の結果を示したグラフである。
【図８】本発明の一実施例における演算処理部の機能ブロック図である。
【図９】本発明の一実施例における表示画面（パラメータ選択手段）の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施例について添付図面を参照して説明する。
【実施例】
【００１８】
最初に、図１を用いて、本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体構成について説明する。図１は、本発明の一実施形態による自動分析装置の全体概略構成図である。
【００１９】
図１において、間欠回転可能な反応ディスク１には、透光性材料からなる多数の反応容器２が円周状に配列されている。反応ディスク１上の反応容器２は、恒温槽３によって所定の温度（例えば３７°Ｃ）に維持される。恒温槽３内には流体が収容され、この流体は恒温維持装置４により温度調整される。
【００２０】
サンプルディスク５上には、血液又は尿のような生体サンプルを収容した多数の検体容器６が配置される。可動アーム７に取り付けられたピペットノズル８は、サンプルディスク５の吸入位置に位置した検体容器６から所定量のサンプルを吸入し、吸入したサンプルを反応ディスク１上の吐出位置にある反応容器２内に吐出する。
【００２１】
試薬保冷庫９Ａ、９Ｂ内にそれぞれ配置されている試薬ディスク上には、バーコードのような試薬識別情報を表示したラベルが貼られた複数の試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂ が配置される。これらの試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂには、自動分析装置によって分析され得る分析項目に対応する試薬液が収容されている。
【００２２】
各試薬保冷庫９Ａ、９Ｂに付属されたバーコード読み取り装置３４Ａ、３４Ｂは、試薬登録時に、各試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂの外壁に表示されているバーコードを読み取る。バーコード読み取り装置３４Ａ、３４Ｂにより読み取られた試薬情報は、試薬ディスク上のポジションと共に後述するメモリ１１に登録される。
【００２３】
各試薬分注機構１２Ａ、１２Ｂにおける試薬用ピペットノズルは、反応ディスク１上の試薬受け入れ位置に位置付けられる検査項目に応じた試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂから試薬液を吸入し、該当する反応容器２内へ吐出する。
【００２４】
反応容器２内に収容されたサンプルと試薬の混合物は、撹拌機構１３Ａ、１３Ｂにより撹拌される。反応容器２の列は、光源１４と散乱光度計１５とによって挟まれた測光位置を通るように回転移動される。散乱光度計１５は、光軸上に多波長吸光光度計を備えても良く、散乱光と透過光との両方を使って濃度演算を行っても良い。なお、散乱光度計１５内の検出器の配置については図２を使って後述する。
【００２５】
各反応容器２内におけるサンプルと試薬との反応液は、反応ディスク１の回転動作中に検出器１５の前を横切る度に測光される。サンプル毎に測定されたアナログ信号は、Ａ／Ｄ変換器１６に入力される。反応ディスク１の近傍に配置されている反応容器洗浄機構１７は、使用済みの反応容器２の内部を洗浄することにより、反応容器の繰り返しの使用を可能にする。
【００２６】
次に、図１の自動分析装置における制御系及び信号処理系について簡単に説明する。コンピュータ（演算処理部）１８は、インターフェース１９を介して、サンプル分注制御部２０、試薬分注制御部２１、Ａ／Ｄ変換器１６に接続されている。コンピュータ１８は、サンプル分注制御部２０に対して指令を送り、サンプルの分注動作を制御する。また、コンピュータ１８は、試薬分注制御部２１に対して指令を送り、試薬の分注動作を制御する。
【００２７】
検出器１５から供給され、Ａ／Ｄ変換器１６によってディジタル信号に変換された測光値は、コンピュータ１８に取り込まれる。
【００２８】
インターフェース１９には、分析結果等を印字するためのプリンタ２２、記憶装置であるメモリ１１やＦＤ等の外部出力メディア２３、操作指令等を入力するためのキーボード２４、画面表示するためのＣＲＴディスプレイ２５が接続されている。画面表示装置としては、ＣＲＴディスプレイの他に液晶ディスプレイなどを採用できる。メモリ１１は、例えばハードディスクメモリ又は外部メモリにより構成される。メモリ１１には、各操作者のパスワード、各画面の表示レベル、分析パラメータ、分析項目依頼内容、キャリブレーション結果、分析結果等の情報が記憶される。
【００２９】
次に、図１に示した自動分析装置におけるサンプルの分析動作を説明する。
【００３０】
自動分析装置によって分析可能な項目に関する分析パラメータは、予めキーボード２４のような情報入力装置を介して入力されておリ、メモリ１１に記憶されている。操作者は、後述する操作機能画面を用いて各サンプルに依頼されている検査項目を選択する。
【００３１】
この際に、患者ＩＤなどの情報もキーボード２４から入力される。各サンプルに対して指示された検査項目を分析するために、ピペットノズル８は、分析パラメータにしたがって、検体容器６から反応容器２へ所定量のサンプルを分注する。
【００３２】
サンプルを受け入れた反応容器２は、反応ディスク１の回転によって移送され、試薬受け入れ位置に停止する。試薬分注機構１２Ａ、１２Ｂのピペットノズル８は、該当する検査項目の分析パラメータにしたがって、反応容器２に所定量の試薬液を分注する。サンプルと試薬の分注順序は、この例とは逆に、サンプルより試薬が先であってもよい。
【００３３】
その後、撹拌機構１３Ａ、１３Ｂにより、サンプルと試薬との撹拌が行われ、混合される。この反応容器２が、測光位置を横切る時、散乱光度計１５により反応液の散乱光が測光される。測光された散乱光は、Ａ／Ｄ変換器１６により光量に比例した数値に変換され、インターフェース１９を経由して、コンピュータ１８に取り込まれる。この変換された数値を用い、検査項目毎に指定された分析法により予め測定しておいた検量線に基づき、濃度データに変換される。各検査項目の分析結果としての成分濃度データは、プリンタ２２やＣＲＴ２５の画面に出力される。
【００３４】
以上の測定動作が実行される前に、操作者は、分析測定に必要な種々のパラメータの設定や試料の登録を、ＣＲＴ２５の操作画面を介して行う。また、操作者は、測定後の分析結果をＣＲＴ２５上の操作画面により確認する。
【００３５】
次に、図２を用いて図１中の光源１４および散乱光度計１５の構成の詳細を説明する。
【００３６】
図２は光源１４（２０１）／反応容器２（２０２）／散乱光度計１５（２０４、２０５、２０６）の説明図である。
【００３７】
図２において、光源２０１から発せられた光は、測定対象物２０３が分注された反応容器２０２に入射される。反応容器２０２内で入射した光は測定対象物２０３に衝突し散乱される。散乱した光は、図２の例では、透過光とθ１の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０４が配置され、透過光とθ２の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０５が配置される。また、透過光とθ３の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０６が配置されている。
【００３８】
検出器２０４〜２０６は、光源２０１からの入射光に対して、Ｚ軸方向（図２の上下方向）に沿って直列に配しているが、Ｘ軸方向（図２の左右方法）、Ｙ軸方向（図２の紙面表側から裏側に向かう方向）に配置しても良い。
【００３９】
また、直線上に配置された複数の光検出素子からなる一つの検出器とすることもできる。
【００４０】
さらに、検出器２０４〜２０６は、離散的に配置する必要は無く、２次元的な位置情報を分解することが可能な一つの検出器３０１（図３に示す）であっても良い。ここで、検出器３０１は複数の検出素子を有し、光源に対して異なる角度で設置された２次元的な配置構成とすることができる。この場合、互いに直交する２つの直線上に２次元的に複数の検出素子を配列してもよい。
【００４１】
反応容器２０２から検出器２０４〜２０６までの途中経路に気泡や傷２０７があった場合には、検出器２０４〜２０６で受光する光は影響を受けることとなる。
【００４２】
次に、図４は検出器２０４〜２０６で受光した判定信号の試料と試薬との反応過程における変化の１例を示すグラフである。図４において、縦軸は、光量に比例して増大する測定信号値を示し、横軸は測定点（測定回数）を示している。反応過程は、反応容器２０２が、反応ディスク１の円周上に配置され、検出器２０４〜２０６の前を一定時間毎に通過し、測定開始から終了までの反応の進み具合を経時的に複数回プロットしたものである。
【００４３】
図４の（ａ）は、検出器２０４の信号変化の過程を示し、図４の（ｂ）は検出器２０５の信号変化の過程を示している。散乱光量は、透過光からの角度によって異なるため、受光する検出器によって光量も変化するが、図２に示した例では、角度θ１に配置された検出器２０４の測定信号値である光量が、角度θ２に配置された検出器２０５の測定信号値である光量より小さくなっている。
【００４４】
また、測定開始から終了までの反応に関して、単純な直線、あるいは曲線では近似できない程度のノイズ成分が重なっている。前述したように、これらのノイズ成分は、測定光路中に存在する異物や気泡によって偶発的に発生することや、粒子固有のブラウン運動、溶液の対流が影響していることが、これまで発明者らが検証を重ねてきた結果、明らかになってきた。
【００４５】
図５は、検出器２０４の受光信号と検出器２０５の受光信号との間の相関を示すグラフである。図５に示した例では、検出器２０４と２０５との信号の回帰曲線として１次の回帰曲線（直線）を最小二乗法で算出している。
【００４６】
図５に示した回帰曲線（直線）から、両者の信号は非常によい相関を持っており、両者の信号を用いて演算処理することによって、効果的にノイズ低減が図れることが明らかとなった。
【００４７】
次に、図６、図７、図８を参照して、複数の検出器で受光した信号成分を用いてノイズを除去するアルゴリズムについて説明する。図６は動作フローチャートであり、図７は、アルゴリズムを用いて補正したデータを示すグラフ、図８は、アルゴリズムを実行するためのコンピュータ１８の内部機能ブロック図である。
【００４８】
まず、複数の検出器２０４〜２０６で複数の角度でデータを取得する（図６のステップ（ｂ））。そして、検出データ選択部１８ａにより、その中の一つの検出器によって取得した測定信号を基準信号として選択する（図６のステップ（ｃ）、（ｄ））。
【００４９】
次に、第１選択データ処理部１８ｂの近似式選択部１８ｂ１において、適用する近似式を選択し、選択した近似式を用いて近似式計算部１８ｂ２により近似式が計算される（図６のステップ（ｅ））。この近似式により、基準信号に対して仮想のベースラインが導かれる。この仮想のベースラインは多項式近似によって実施する。なお、本発明の一実施例では、検出器２０４（角度θ１）の測定信号を基準信号とした例を示す。また、本発明の一実施例では、反応の時間経過に伴い、１６回の測定を実施している。
【００５０】
近似式の計算は、図４の（ａ）中の、測定ポイント第１の点及び第２の点の平均値を導き、さらに第１５の点及び、第１６の点の平均値を導く。そして、両値を一次式で結んだ直線を規格化多項式、すなわち仮想のベースラインとする。この仮想のベースラインを、偶発的なノイズや粒子ゆらぎのない理想的な反応曲線（直線）とし、次に、変動率計算部１８ｂ３により基準信号の変動率が求められる（図６のステップ（ｆ））。
【００５１】
具体的には、各測定点の測定信号値をベースラインの値（基準データ）で除した値を求める。この基準信号の変動率を用いて、濃度計算に用いたい主信号の補正を実施する。本発明の一実施例では検出器２０５（角度θ２）の測定信号を補正する例を示す。具体的には検出器２０５（角度θ２）の測定信号は第２選択データ処理部１８ｃにより保持され、データ補正部１８ｄにより、基準信号の変動率で除されることによって行われる（図６のステップ（ｇ））。
【００５２】
上述したように、図７は上記アルゴリズムを用いて補正したデータを示す。最後に、この補正した信号データを用いて、濃度演算処理部１８ｅにより濃度演算が行われ（図６のステップ（ｈ））、結果出力部１８ｆにより、ＣＲＴ２５等に結果が出力されて終了する（図６のステップ（ｉ））。
【００５３】
近似式の選択、多項式の近似次数、分析に使用する設定ポイント、ベースラインを設定するための検出器（サブ検出器）及びデータを補正する検出器（メイン検出器）の設定は、ＣＲＴ２５の表示画面（選択手段）を用いて行われる。
【００５４】
図９は、ＣＲＴ２５による分析設定画面の一例を示す図である。図９に示した例においては、近似式選択項目として、多項式近似か、２点間直線近似かのいずれかを選択することができる。また、多項式近似を選択した場合は、近似次数を選択でき、２点間直線近似を選択した場合は、演算する区間である設定ポイントを設定することができる。多項式近似を選択した場合も、演算する区間である設定ポイントを設定することができる。
【００５５】
なお、規格化多項式、すなわち仮想のベースラインを導くための数式は、上述した例の他、最小二乗法により決定してもよい。
【００５６】
また、本発明の一実施例においては、第１点目、第２点目、第１５点目、第１６点目をそれぞれ用いて規格化多項式を導出したが、この選択は任意に決定することが可能である。ここで注意が必要なのは、多項式近似をする場合、近似式の精度を考慮し、少なくとも５点以上の測定点があることが望ましい。
【００５７】
それぞれのパラメータ設定に関しては、自動分析装置の設定画面上からそれぞれ設定する構成としている。なお分析条件の設定は、装置の設定画面から必ずしも設定する必要は無く、固定の条件であれば予め装置の記憶領域に記憶させた値を使っても良い。
【００５８】
また、上述した例においては、３つの検出器２０４〜２０６のうちの、検出器２０４の測定信号を用いてベースラインを算出し、算出したベースラインを用いて、検出器２０５の測定信号を補正する例であるが、検出器２０４〜２０６のうちのいずれの検出器の測定信号をベースライン算出用に用いるか、算出したベースラインを用いていずれの検出器の測定信号を補正するかは、測定項目によって適切な角度の検出器が選択される（複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択する）。
【００５９】
以上のように、本発明の一実施例によれば、試料からの散乱光を少なくとも２つの互いに異なる散乱角度で検出し、いずれか一つの散乱光測定信号値を用いて、ベースラインを算出し、算出したベースラインを用いて、ベースライン算出に用いた散乱角度とは異なる散乱角度の散乱側定信号値を補正し、補正した散乱光を用いて、試料の濃度演算を行うように構成したので、散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することができる。
【符号の説明】
【００６０】
１・・・反応ディスク、２・・・反応容器、３・・・恒温槽、４・・・恒温維持装置、５・・・サンプルディスク、６・・・検体容器、７・・・可動アーム、８・・・ピペットノズル、９Ａ、９Ｂ・・・試薬保冷庫、１１・・・メモリ、１２Ａ、１２Ｂ・・・試薬用ピペットノズル、１５・・・フォトダイオード、１８・・・コンピュータ、１８ａ・・・検出データ選択部、１８ｂ・・・第１選択データ処理部、１８ｂ１・・・近似式選択部、１８ｂ２・・・近似式計算部、１８ｂ３・・・変動率計算部、１８ｃ・・・第２選択データ処理部、１８ｄ・・・データ補正部、１８ｅ・・・濃度演算処理部、１８ｆ・・・結果出力部、１９・・・インターフェース、２５・・・ＣＲＴ（選択手段）、２０１・・・光源、２０２・・・反応容器、２０３・・・測定対象物、２０４〜２０６、３０１・・・検出器、２０７・・・気泡や傷
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象に光を照射して測定対象にて散乱する光を測定する自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
サンプルに含まれる成分量を分析する分析装置として、光源からの光を、サンプル、又はサンプルと試薬とが混合した反応液に照射して得られる単一又は複数の波長の透過光量を測定し吸光度を算出して、Lambert-Beerの法則に従い、吸光度と濃度の関係から成分量を割り出す自動分析装置が広く用いられている。
【０００３】
これらの自動分析装置においては、回転と停止を繰り返すセルディスクに、反応液を保持する多数のセルが円周状に並べられ、セルディスク回転中に、予め配置された透過光測定部により、一定の時間間隔で吸光度の経時変化が測定される。
【０００４】
自動分析装置は透過光量を測定するシステムを備える一方、反応液の反応には、基質と酵素との呈色反応と、抗原と抗体との凝集反応の大きく２種類の反応が用いられている。前者は生化学分析であり、検査項目としてＬＤＨ（乳酸脱水素酵素）、ＡＬＰ（アルカリホスファターゼ）、ＡＳＴ（アスパラギン酸オキソグルタル酸アミノトンラフェナーゼ）などがある。
【０００５】
後者は免疫分析であり、検査項目としてＣＲＰ（Ｃ反応性蛋白）、ＩｇＧ（免疫グロブリン）、ＲＦ（リウマトイド因子）などがある。後者の免疫分析で測定される測定物質は血中濃度が低く高感度が要求される。これまでも、ラテックス粒子の表面に抗体を感作（結合）させた試薬を用い、サンプル中に含まれる成分を認識し凝集させる際に、反応液に光を投光し、ラテックス凝集塊に散乱されずに透過した光量を測定することでサンプル中に含まれる成分量を定量するラテックス免疫凝集法での高感度化が図られてきた。
【０００６】
さらに装置としては、透過光量を測定するのではなく、散乱光量を測定することによる高感度化も試みられている。例えば、ダイアフラムを用いて透過光と散乱光とを分離し、吸光度と散乱光を同時に測定するシステム（特許文献１参照）や、凝集反応が進んだ結果形成される大きな凝集塊での反射散乱光計測による高濃度側での精度を高める構成（特許文献２参照）、反応容器前後に積分球を用いて前方散乱光と後方散乱光のそれぞれの平均光量を測定し、セル位置ずれによる濁度変化を補正する方法（特許文献３参照）等が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００１−１４１６５４号公報
【特許文献２】特開２００８−８７９４号公報
【特許文献３】特開平１０−３３２５８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、散乱光を用いた自動分析装置の場合、測定対象物によって起こる光の散乱と同様に、気泡や異物が測定光路中に存在した場合や反応容器に付いた傷等も散乱光成分として現れ、ノイズ成分として測定値に影響を与える。
【０００９】
また、ラテックス粒子反応を用いた反応では、粒子固有のブラウン運動、あるいは溶液の対流等、溶液中の粒子が介在することによって、散乱光が揺らぎ、同様にノイズ成分として測定値に影響を与えてしまう。
【００１０】
ノイズの影響を低減するため、検出器からの出力を一定時間積分することによりＳ／Ｎ比特性を改善する方法があるが、積分時間は測定対象の時間的変化により制約があるだけでなく、反応容器内に気泡などの異物が偶発的に付着した場合はＳ／Ｎ比特性の改善効果を望めない。
【００１１】
気泡や異物、反応容器の傷による散乱光や、粒子ゆらぎによって起こる散乱光と、測定対象物の反応によって起こる散乱光とを分離する場合、気泡等による散乱光は、偶発的あるいはランダムに発生するため、これらによる散乱光を事前に予測することや、事象が発生した後に成分を切り分けることは困難である。
【００１２】
本発明の目的は、散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成される。
【００１４】
反応容器を通過した光を、光源に対し異なる角度で設置された複数の光検出素子により検出し、複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の検出信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の検出信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の検出信号を補正し、補正した検出信号に基づいて、上記試料を分析する。
【発明の効果】
【００１５】
散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体構成図である。
【図２】本発明の一実施例における検出系の説明図である。
【図３】本発明の一実施例における検出系の変形例の説明図である。
【図４】本発明の一実施例における検出系の測定結果を示すグラフである。
【図５】本発明の一実施例における複数の角度で取得したデータの相関グラフである。
【図６】本発明の一実施例におけるデータ処理のフローチャートである。
【図７】本発明の一実施例における演算処理の結果を示したグラフである。
【図８】本発明の一実施例における演算処理部の機能ブロック図である。
【図９】本発明の一実施例における表示画面（パラメータ選択手段）の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施例について添付図面を参照して説明する。
【実施例】
【００１８】
最初に、図１を用いて、本発明の一実施例が適用される自動分析装置の全体構成について説明する。図１は、本発明の一実施形態による自動分析装置の全体概略構成図である。
【００１９】
図１において、間欠回転可能な反応ディスク１には、透光性材料からなる多数の反応容器２が円周状に配列されている。反応ディスク１上の反応容器２は、恒温槽３によって所定の温度（例えば３７°Ｃ）に維持される。恒温槽３内には流体が収容され、この流体は恒温維持装置４により温度調整される。
【００２０】
サンプルディスク５上には、血液又は尿のような生体サンプルを収容した多数の検体容器６が配置される。可動アーム７に取り付けられたピペットノズル８は、サンプルディスク５の吸入位置に位置した検体容器６から所定量のサンプルを吸入し、吸入したサンプルを反応ディスク１上の吐出位置にある反応容器２内に吐出する。
【００２１】
試薬保冷庫９Ａ、９Ｂ内にそれぞれ配置されている試薬ディスク上には、バーコードのような試薬識別情報を表示したラベルが貼られた複数の試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂ が配置される。これらの試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂには、自動分析装置によって分析され得る分析項目に対応する試薬液が収容されている。
【００２２】
各試薬保冷庫９Ａ、９Ｂに付属されたバーコード読み取り装置３４Ａ、３４Ｂは、試薬登録時に、各試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂの外壁に表示されているバーコードを読み取る。バーコード読み取り装置３４Ａ、３４Ｂにより読み取られた試薬情報は、試薬ディスク上のポジションと共に後述するメモリ１１に登録される。
【００２３】
各試薬分注機構１２Ａ、１２Ｂにおける試薬用ピペットノズルは、反応ディスク１上の試薬受け入れ位置に位置付けられる検査項目に応じた試薬ボトル１０Ａ、１０Ｂから試薬液を吸入し、該当する反応容器２内へ吐出する。
【００２４】
反応容器２内に収容されたサンプルと試薬の混合物は、撹拌機構１３Ａ、１３Ｂにより撹拌される。反応容器２の列は、光源１４と散乱光度計１５とによって挟まれた測光位置を通るように回転移動される。散乱光度計１５は、光軸上に多波長吸光光度計を備えても良く、散乱光と透過光との両方を使って濃度演算を行っても良い。なお、散乱光度計１５内の検出器の配置については図２を使って後述する。
【００２５】
各反応容器２内におけるサンプルと試薬との反応液は、反応ディスク１の回転動作中に検出器１５の前を横切る度に測光される。サンプル毎に測定されたアナログ信号は、Ａ／Ｄ変換器１６に入力される。反応ディスク１の近傍に配置されている反応容器洗浄機構１７は、使用済みの反応容器２の内部を洗浄することにより、反応容器の繰り返しの使用を可能にする。
【００２６】
次に、図１の自動分析装置における制御系及び信号処理系について簡単に説明する。コンピュータ（演算処理部）１８は、インターフェース１９を介して、サンプル分注制御部２０、試薬分注制御部２１、Ａ／Ｄ変換器１６に接続されている。コンピュータ１８は、サンプル分注制御部２０に対して指令を送り、サンプルの分注動作を制御する。また、コンピュータ１８は、試薬分注制御部２１に対して指令を送り、試薬の分注動作を制御する。
【００２７】
検出器１５から供給され、Ａ／Ｄ変換器１６によってディジタル信号に変換された測光値は、コンピュータ１８に取り込まれる。
【００２８】
インターフェース１９には、分析結果等を印字するためのプリンタ２２、記憶装置であるメモリ１１やＦＤ等の外部出力メディア２３、操作指令等を入力するためのキーボード２４、画面表示するためのＣＲＴディスプレイ２５が接続されている。画面表示装置としては、ＣＲＴディスプレイの他に液晶ディスプレイなどを採用できる。メモリ１１は、例えばハードディスクメモリ又は外部メモリにより構成される。メモリ１１には、各操作者のパスワード、各画面の表示レベル、分析パラメータ、分析項目依頼内容、キャリブレーション結果、分析結果等の情報が記憶される。
【００２９】
次に、図１に示した自動分析装置におけるサンプルの分析動作を説明する。
【００３０】
自動分析装置によって分析可能な項目に関する分析パラメータは、予めキーボード２４のような情報入力装置を介して入力されておリ、メモリ１１に記憶されている。操作者は、後述する操作機能画面を用いて各サンプルに依頼されている検査項目を選択する。
【００３１】
この際に、患者ＩＤなどの情報もキーボード２４から入力される。各サンプルに対して指示された検査項目を分析するために、ピペットノズル８は、分析パラメータにしたがって、検体容器６から反応容器２へ所定量のサンプルを分注する。
【００３２】
サンプルを受け入れた反応容器２は、反応ディスク１の回転によって移送され、試薬受け入れ位置に停止する。試薬分注機構１２Ａ、１２Ｂのピペットノズル８は、該当する検査項目の分析パラメータにしたがって、反応容器２に所定量の試薬液を分注する。サンプルと試薬の分注順序は、この例とは逆に、サンプルより試薬が先であってもよい。
【００３３】
その後、撹拌機構１３Ａ、１３Ｂにより、サンプルと試薬との撹拌が行われ、混合される。この反応容器２が、測光位置を横切る時、散乱光度計１５により反応液の散乱光が測光される。測光された散乱光は、Ａ／Ｄ変換器１６により光量に比例した数値に変換され、インターフェース１９を経由して、コンピュータ１８に取り込まれる。この変換された数値を用い、検査項目毎に指定された分析法により予め測定しておいた検量線に基づき、濃度データに変換される。各検査項目の分析結果としての成分濃度データは、プリンタ２２やＣＲＴ２５の画面に出力される。
【００３４】
以上の測定動作が実行される前に、操作者は、分析測定に必要な種々のパラメータの設定や試料の登録を、ＣＲＴ２５の操作画面を介して行う。また、操作者は、測定後の分析結果をＣＲＴ２５上の操作画面により確認する。
【００３５】
次に、図２を用いて図１中の光源１４および散乱光度計１５の構成の詳細を説明する。
【００３６】
図２は光源１４（２０１）／反応容器２（２０２）／散乱光度計１５（２０４、２０５、２０６）の説明図である。
【００３７】
図２において、光源２０１から発せられた光は、測定対象物２０３が分注された反応容器２０２に入射される。反応容器２０２内で入射した光は測定対象物２０３に衝突し散乱される。散乱した光は、図２の例では、透過光とθ１の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０４が配置され、透過光とθ２の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０５が配置される。また、透過光とθ３の角度をなす位置に検出器（検出素子）２０６が配置されている。
【００３８】
検出器２０４〜２０６は、光源２０１からの入射光に対して、Ｚ軸方向（図２の上下方向）に沿って直列に配しているが、Ｘ軸方向（図２の左右方法）、Ｙ軸方向（図２の紙面表側から裏側に向かう方向）に配置しても良い。
【００３９】
また、直線上に配置された複数の光検出素子からなる一つの検出器とすることもできる。
【００４０】
さらに、検出器２０４〜２０６は、離散的に配置する必要は無く、２次元的な位置情報を分解することが可能な一つの検出器３０１（図３に示す）であっても良い。ここで、検出器３０１は複数の検出素子を有し、光源に対して異なる角度で設置された２次元的な配置構成とすることができる。この場合、互いに直交する２つの直線上に２次元的に複数の検出素子を配列してもよい。
【００４１】
反応容器２０２から検出器２０４〜２０６までの途中経路に気泡や傷２０７があった場合には、検出器２０４〜２０６で受光する光は影響を受けることとなる。
【００４２】
次に、図４は検出器２０４〜２０６で受光した判定信号の試料と試薬との反応過程における変化の１例を示すグラフである。図４において、縦軸は、光量に比例して増大する測定信号値を示し、横軸は測定点（測定回数）を示している。反応過程は、反応容器２０２が、反応ディスク１の円周上に配置され、検出器２０４〜２０６の前を一定時間毎に通過し、測定開始から終了までの反応の進み具合を経時的に複数回プロットしたものである。
【００４３】
図４の（ａ）は、検出器２０４の信号変化の過程を示し、図４の（ｂ）は検出器２０５の信号変化の過程を示している。散乱光量は、透過光からの角度によって異なるため、受光する検出器によって光量も変化するが、図２に示した例では、角度θ１に配置された検出器２０４の測定信号値である光量が、角度θ２に配置された検出器２０５の測定信号値である光量より小さくなっている。
【００４４】
また、測定開始から終了までの反応に関して、単純な直線、あるいは曲線では近似できない程度のノイズ成分が重なっている。前述したように、これらのノイズ成分は、測定光路中に存在する異物や気泡によって偶発的に発生することや、粒子固有のブラウン運動、溶液の対流が影響していることが、これまで発明者らが検証を重ねてきた結果、明らかになってきた。
【００４５】
図５は、検出器２０４の受光信号と検出器２０５の受光信号との間の相関を示すグラフである。図５に示した例では、検出器２０４と２０５との信号の回帰曲線として１次の回帰曲線（直線）を最小二乗法で算出している。
【００４６】
図５に示した回帰曲線（直線）から、両者の信号は非常によい相関を持っており、両者の信号を用いて演算処理することによって、効果的にノイズ低減が図れることが明らかとなった。
【００４７】
次に、図６、図７、図８を参照して、複数の検出器で受光した信号成分を用いてノイズを除去するアルゴリズムについて説明する。図６は動作フローチャートであり、図７は、アルゴリズムを用いて補正したデータを示すグラフ、図８は、アルゴリズムを実行するためのコンピュータ１８の内部機能ブロック図である。
【００４８】
まず、複数の検出器２０４〜２０６で複数の角度でデータを取得する（図６のステップ（ｂ））。そして、検出データ選択部１８ａにより、その中の一つの検出器によって取得した測定信号を基準信号として選択する（図６のステップ（ｃ）、（ｄ））。
【００４９】
次に、第１選択データ処理部１８ｂの近似式選択部１８ｂ１において、適用する近似式を選択し、選択した近似式を用いて近似式計算部１８ｂ２により近似式が計算される（図６のステップ（ｅ））。この近似式により、基準信号に対して仮想のベースラインが導かれる。この仮想のベースラインは多項式近似によって実施する。なお、本発明の一実施例では、検出器２０４（角度θ１）の測定信号を基準信号とした例を示す。また、本発明の一実施例では、反応の時間経過に伴い、１６回の測定を実施している。
【００５０】
近似式の計算は、図４の（ａ）中の、測定ポイント第１の点及び第２の点の平均値を導き、さらに第１５の点及び、第１６の点の平均値を導く。そして、両値を一次式で結んだ直線を規格化多項式、すなわち仮想のベースラインとする。この仮想のベースラインを、偶発的なノイズや粒子ゆらぎのない理想的な反応曲線（直線）とし、次に、変動率計算部１８ｂ３により基準信号の変動率が求められる（図６のステップ（ｆ））。
【００５１】
具体的には、各測定点の測定信号値をベースラインの値（基準データ）で除した値を求める。この基準信号の変動率を用いて、濃度計算に用いたい主信号の補正を実施する。本発明の一実施例では検出器２０５（角度θ２）の測定信号を補正する例を示す。具体的には検出器２０５（角度θ２）の測定信号は第２選択データ処理部１８ｃにより保持され、データ補正部１８ｄにより、基準信号の変動率で除されることによって行われる（図６のステップ（ｇ））。
【００５２】
上述したように、図７は上記アルゴリズムを用いて補正したデータを示す。最後に、この補正した信号データを用いて、濃度演算処理部１８ｅにより濃度演算が行われ（図６のステップ（ｈ））、結果出力部１８ｆにより、ＣＲＴ２５等に結果が出力されて終了する（図６のステップ（ｉ））。
【００５３】
近似式の選択、多項式の近似次数、分析に使用する設定ポイント、ベースラインを設定するための検出器（サブ検出器）及びデータを補正する検出器（メイン検出器）の設定は、ＣＲＴ２５の表示画面（選択手段）を用いて行われる。
【００５４】
図９は、ＣＲＴ２５による分析設定画面の一例を示す図である。図９に示した例においては、近似式選択項目として、多項式近似か、２点間直線近似かのいずれかを選択することができる。また、多項式近似を選択した場合は、近似次数を選択でき、２点間直線近似を選択した場合は、演算する区間である設定ポイントを設定することができる。多項式近似を選択した場合も、演算する区間である設定ポイントを設定することができる。
【００５５】
なお、規格化多項式、すなわち仮想のベースラインを導くための数式は、上述した例の他、最小二乗法により決定してもよい。
【００５６】
また、本発明の一実施例においては、第１点目、第２点目、第１５点目、第１６点目をそれぞれ用いて規格化多項式を導出したが、この選択は任意に決定することが可能である。ここで注意が必要なのは、多項式近似をする場合、近似式の精度を考慮し、少なくとも５点以上の測定点があることが望ましい。
【００５７】
それぞれのパラメータ設定に関しては、自動分析装置の設定画面上からそれぞれ設定する構成としている。なお分析条件の設定は、装置の設定画面から必ずしも設定する必要は無く、固定の条件であれば予め装置の記憶領域に記憶させた値を使っても良い。
【００５８】
また、上述した例においては、３つの検出器２０４〜２０６のうちの、検出器２０４の測定信号を用いてベースラインを算出し、算出したベースラインを用いて、検出器２０５の測定信号を補正する例であるが、検出器２０４〜２０６のうちのいずれの検出器の測定信号をベースライン算出用に用いるか、算出したベースラインを用いていずれの検出器の測定信号を補正するかは、測定項目によって適切な角度の検出器が選択される（複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択する）。
【００５９】
以上のように、本発明の一実施例によれば、試料からの散乱光を少なくとも２つの互いに異なる散乱角度で検出し、いずれか一つの散乱光測定信号値を用いて、ベースラインを算出し、算出したベースラインを用いて、ベースライン算出に用いた散乱角度とは異なる散乱角度の散乱側定信号値を補正し、補正した散乱光を用いて、試料の濃度演算を行うように構成したので、散乱光を用いる自動分析装置において、測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のＳ／Ｎ比特性を改善可能な自動分析装置及び方法を実現することができる。
【符号の説明】
【００６０】
１・・・反応ディスク、２・・・反応容器、３・・・恒温槽、４・・・恒温維持装置、５・・・サンプルディスク、６・・・検体容器、７・・・可動アーム、８・・・ピペットノズル、９Ａ、９Ｂ・・・試薬保冷庫、１１・・・メモリ、１２Ａ、１２Ｂ・・・試薬用ピペットノズル、１５・・・フォトダイオード、１８・・・コンピュータ、１８ａ・・・検出データ選択部、１８ｂ・・・第１選択データ処理部、１８ｂ１・・・近似式選択部、１８ｂ２・・・近似式計算部、１８ｂ３・・・変動率計算部、１８ｃ・・・第２選択データ処理部、１８ｄ・・・データ補正部、１８ｅ・・・濃度演算処理部、１８ｆ・・・結果出力部、１９・・・インターフェース、２５・・・ＣＲＴ（選択手段）、２０１・・・光源、２０２・・・反応容器、２０３・・・測定対象物、２０４〜２０６、３０１・・・検出器、２０７・・・気泡や傷
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を、試料が収容された反応容器に照射し、上記反応容器を通過した光を光検出手段により検出し、検出した光に基づいて演算処理部が上記反応容器内の試料を分析する自動分析装置において、
上記検出手段は、光源に対して異なる角度で設置された複数の光検出素子を有し、上記演算処理部は、上記複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の測定信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１に記載の自動分析装置において、
上記検出素子の複数の測定信号は、検出時刻が互いに異なる複数の測定信号であり、上記演算処理部は、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号のそれぞれの変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項２に記載の自動分析装置において、上記検出素子の複数の測定信号は、互いに異なる検出時刻により検出された信号であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項１に記載の自動分析装置において、上記検出手段の複数の検出素子は、２次元的に配列されていることを特徴とする自動分析装置。
【請求項５】
請求項２に記載の自動分析装置において、上記基準データは、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号から算出した近似式であり、上記演算処理部は、算出した近似式で得られる信号値を、上記近似式により得られる信号値で除して変動率を算出し、算出した変動率で、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を除することにより補正することを特徴とする自動分析装置。
【請求項６】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式は、選択した一つの検出素子の測定信号のうちの異なる２つの測定信号によって決定した直線を示す直線式であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項７】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式は、最小二乗法により算出した直線式であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項８】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項９】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式を演算する区間を選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項１０】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項１１】
請求項８に記載の自動分析装置において、上記選択手段は、選択項目を表示する表示画面であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項１２】
光源からの光を、試料が収容された反応容器に照射し、上記反応容器を通過した光を検出し、検出した光に基づいて上記反応容器内の試料を分析する自動分析方法において、
上記反応容器を通過した光を、光源に対して異なる角度で設置された複数の光検出素子により検出し、上記複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の測定信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の測地信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載の自動分析方法において、
上記複数の検出素子の測定信号は、検出時刻が互いに異なる複数の測定信号であり、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号のそれぞれの変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子の測定信号は、互いに異なる検出時刻により検出された信号であることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１５】
請求項１２に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子は、２次元的に配列されていることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１６】
請求項１３に記載の自動分析方法において、上記基準データは、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号から算出した近似式であり、算出した近似式で得られる信号値を、上記近似式により得られる信号値で除して変動率を算出し、算出した変動率で、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を除することにより補正することを特徴とする自動分析方法。
【請求項１７】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式は、選択した一つの検出素子の測定信号のうちの異なる２つの測定信号によって決定した直線を示す直線式であることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１８】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式は、最小二乗法により算出した直線式であることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１９】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択することを特徴とする自動分析方法。
【請求項２０】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式を演算する区間を選択することを特徴とする自動分析方法。
【請求項２１】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択することを特徴とする自動分析方法。
【請求項２２】
請求項１９に記載の自動分析装置において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択は、選択項目を表示する表示画面により行われることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１】
光源からの光を、試料が収容された反応容器に照射し、上記反応容器を通過した光を光検出手段により検出し、検出した光に基づいて演算処理部が上記反応容器内の試料を分析する自動分析装置において、
上記検出手段は、光源に対して異なる角度で設置された複数の光検出素子を有し、上記演算処理部は、上記複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の測定信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
請求項１に記載の自動分析装置において、
上記検出素子の複数の測定信号は、検出時刻が互いに異なる複数の測定信号であり、上記演算処理部は、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号のそれぞれの変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
請求項２に記載の自動分析装置において、上記検出素子の複数の測定信号は、互いに異なる検出時刻により検出された信号であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項４】
請求項１に記載の自動分析装置において、上記検出手段の複数の検出素子は、２次元的に配列されていることを特徴とする自動分析装置。
【請求項５】
請求項２に記載の自動分析装置において、上記基準データは、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号から算出した近似式であり、上記演算処理部は、算出した近似式で得られる信号値を、上記近似式により得られる信号値で除して変動率を算出し、算出した変動率で、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を除することにより補正することを特徴とする自動分析装置。
【請求項６】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式は、選択した一つの検出素子の測定信号のうちの異なる２つの測定信号によって決定した直線を示す直線式であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項７】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式は、最小二乗法により算出した直線式であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項８】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項９】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記近似式を演算する区間を選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項１０】
請求項５に記載の自動分析装置において、上記複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択する選択手段を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項１１】
請求項８に記載の自動分析装置において、上記選択手段は、選択項目を表示する表示画面であることを特徴とする自動分析装置。
【請求項１２】
光源からの光を、試料が収容された反応容器に照射し、上記反応容器を通過した光を検出し、検出した光に基づいて上記反応容器内の試料を分析する自動分析方法において、
上記反応容器を通過した光を、光源に対して異なる角度で設置された複数の光検出素子により検出し、上記複数の検出素子のうちの選択した一つの検出素子の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する上記選択した一つの検出素子の測定信号の変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の測地信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載の自動分析方法において、
上記複数の検出素子の測定信号は、検出時刻が互いに異なる複数の測定信号であり、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号に基づいて基準データを算出し、算出した基準データに対する、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号のそれぞれの変動率を算出し、算出した変動率に基づいて、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を補正し、補正した測定信号に基づいて、上記試料を分析することを特徴とする自動分析方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子の測定信号は、互いに異なる検出時刻により検出された信号であることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１５】
請求項１２に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子は、２次元的に配列されていることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１６】
請求項１３に記載の自動分析方法において、上記基準データは、上記選択した一つの検出素子の複数の測定信号から算出した近似式であり、算出した近似式で得られる信号値を、上記近似式により得られる信号値で除して変動率を算出し、算出した変動率で、上記選択した一つの検出素子とは異なる検出素子の複数の測定信号を除することにより補正することを特徴とする自動分析方法。
【請求項１７】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式は、選択した一つの検出素子の測定信号のうちの異なる２つの測定信号によって決定した直線を示す直線式であることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１８】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式は、最小二乗法により算出した直線式であることを特徴とする自動分析方法。
【請求項１９】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択することを特徴とする自動分析方法。
【請求項２０】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記近似式を演算する区間を選択することを特徴とする自動分析方法。
【請求項２１】
請求項１６に記載の自動分析方法において、上記複数の検出素子のうちのいずれを近似式算出に使用する検出素子とするか、変動率による補正に使用する検出素子とするかを選択することを特徴とする自動分析方法。
【請求項２２】
請求項１９に記載の自動分析装置において、上記近似式が、多項近似式か２点間直線かのいずれかを選択は、選択項目を表示する表示画面により行われることを特徴とする自動分析方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１２−７９２１（Ｐ２０１２−７９２１Ａ）
【公開日】平成２４年１月１２日（２０１２．１．１２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−１４２２５９（Ｐ２０１０−１４２２５９）
【出願日】平成２２年６月２３日（２０１０．６．２３）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１月１２日（２０１２．１．１２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年６月２３日（２０１０．６．２３）
【出願人】（５０１３８７８３９）株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Ｆターム（参考）】
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