自動分析装置及びプローブ昇降方法
【課題】被検試料を精度よく分注することができる自動分析装置及びプローブ昇降方法を提供すること。
【解決手段】自動分析装置は、被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブ９と、試料容器に対して試料プローブを昇降するプローブ昇降機構１０と、所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための被検試料の吸引動作は行われ、第１測定項目の測定のための被検試料の吸引動作における試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、第２測定項目の測定のための被検試料の吸引動作における試料プローブの試料液面への突入速度を遅くするようにプローブ昇降機構を制御する制御部３２とを具備する。
【解決手段】自動分析装置は、被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブ９と、試料容器に対して試料プローブを昇降するプローブ昇降機構１０と、所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための被検試料の吸引動作は行われ、第１測定項目の測定のための被検試料の吸引動作における試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、第２測定項目の測定のための被検試料の吸引動作における試料プローブの試料液面への突入速度を遅くするようにプローブ昇降機構を制御する制御部３２とを具備する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液体中に含まれている成分を分析する自動分析装置及びその分注方法に係り、特に、ヒトの血液や尿などの体液を分注して体液に含まれる成分を自動的に測定する自動分析装置及びプローブ昇降方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動分析装置は、反応容器に分注した被検試料と分析を行う生化学や免疫などの測定項目に該当する試薬との混合液の反応によって生ずる色調などの変化を光の透過量を測定することにより、被検試料中の様々な被測定物質の濃度や酵素の活性を測定する。
【０００３】
この自動分析装置では、被検試料毎に分析条件の設定により測定可能になった多数の項目の中から、検査に応じて選択された測定項目の測定が行われる。そして、被検試料及び測定項目に該当する試薬は、サンプル及び試薬分注プローブにより反応容器に分注され、反応容器に分注された被検試料及び試薬は撹拌子により混合され、混合された混合液は測光部により測定される。更に、被検試料及び試薬に接触したサンプル及び試薬分注プローブ、混合液に接触した反応容器及び撹拌子は、洗浄された後に繰り返し測定に使用される。
【０００４】
最近の自動分析装置では、多数の被検試料及び多項目の高速処理が可能なように、被検試料の測定動作を一定の短い分析サイクル内に入るように、各分析ユニットを互いに連動させしかも高速で動作させている。
【０００５】
そして、被検試料の分注では、１分析サイクルの間に、吸引及び吐出動作を行うサンプル分注ポンプとサンプル分注プローブ間のチューブ、及びサンプル分注プローブ内に封入された水などの圧力伝達媒体を介して、サンプル分注プローブから試料容器内の被検試料を吸引し、サンプル分注アームで水平及び上降下させたサンプル分注プローブから吸引した被検試料を反応容器に吐出する。
【０００６】
被検試料を複数回分注する場合の１回目の分注における吸引動作では、サンプル分注プローブの試料容器上方への水平移動と共にサンプル分注プローブ内にまずエアを吸引する。次に、試料容器の上方への水平移動の後のエアを吸引する。次に、試料容器内の被検試料に向けてサンプル分注プローブを降下し、サンプル分注プローブが試料容器内の被検試料に突入した時に、被検試料の液面を検出器で検出する。そして、その検出位置から被検試料の吸引が可能な程度の浅い吸引位置で停止させる。
【０００７】
サンプル分注プローブが降下した後に、試料容器からサンプル分注プローブ内にダミーの被検試料及び測定用の１回目の分注に応じた被検試料を吸引し、反応容器に測定用の１回目の被検試料だけを吐出する。
【０００８】
ｎ回目（ｎ≧２）の分注では、１回目と同様のタイミングで動作し、サンプル分注プローブ内に測定用のｎ回目の分注に応じた被検試料だけを吸引した後、反応容器に測定用のｎ回目の被検試料だけを吐出する。その被検試料のすべての分注が終了した後に１回目のときに吸引したエア及びダミーの被検試料を排出し、排出後にサンプル分注プローブの内外の洗浄を行う。
【０００９】
この１回目の分注における吸引により、サンプル分注プローブ内に形成されたエア及びダミーの被検試料の層は、サンプル分注プローブ内に吸引された測定用の毎回の被検試料を圧力伝達媒体から隔離し、圧力伝達媒体の拡散などによる混入で測定用の被検試料が希釈されて被検試料の分注精度が低下するのを防ぐために設けられることが知られている（例えば、特許文献１参照）
しかしながら、分注における吸引のときに、サンプル分注プローブを試料容器内の被検試料に高速で突入させるため、同じ被検試料からの分注回数が増えると吸引位置に停止した時の衝撃の回数が増えて、サンプル分注プローブ内のエア層に圧力伝達媒体が混入して一部のエアが分散し、エア層が薄くなる問題や、エア層が薄くなることにより圧力伝達媒体が混入して１回目に形成されたダミー被検試料が希釈される問題がある。この問題により、同じ被検試料からの分注回数が増えると、その被検試料の分注精度を悪化させる問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−１６２４０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明の目的は、被検試料を精度よく分注することができる自動分析装置及びプローブ昇降方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作は行われ、前記第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、前記第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部とを具備することを特徴とする自動分析装置を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示す図である。
【図２】図２は、本発明の実施例に係る分析部の構成を示す斜視図である。
【図３】図３は、本発明の実施例に係るサンプル部と反応部の構成の一部を示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施例に係るサンプル分注工程の構成を示す図である。
【図５】図５は、本発明の実施例に係る１回目のサンプル分注工程を示すフローチャートである。
【図６】図６は、本発明の実施例に係るｎ回目のサンプル分注工程を示すフローチャートである。
【図７Ａ】図７Ａは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階のエア吸引動作を示す図である。
【図７Ｂ】図７Ｂは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階のダミー吸引動作を示す図である。
【図７Ｃ】図７Ｃは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階の１回目の試料吸引動作を示す図である。
【図７Ｄ】図７Ｄは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階の２回目の試料吸引動作を示す図である。
【図８】図８は、本発明の実施例に係る１回目のサンプル分注工程とｎ回目のサンプル分注工程とを示すタイミングチャートである。
【図９Ａ】図９Ａは、本発明の実施例に係る被検試料を吸引するための１回目のサンプル分注プローブの降下の動作を示す図である。
【図９Ｂ】図９Ｂは、本発明の実施例に係る被検試料を吸引するためのｎ回目のサンプル分注プローブの降下の動作を示す図である。
【図１０Ａ】図１０Ａは、図９Ａ、図９Ｂに対応するサンプル分注プローブの速度シーケンスを示す図である。
【図１０Ｂ】図１０Ｂは、図９Ａ、図９Ｂに対応するサンプル分注プローブの他の速度シーケンスを示す図である。
【図１１】図１１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の動作を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、本発明の実施例に係る測定項目設定画面の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、本発明の実施例に係る測定項目設定画面から選択入力された被検試料毎の各測定項目に対応するサンプル分注工程を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図１乃至図１３を参照して説明する。図１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置１００は、様々な測定項目のキャリブレータや被検試料毎に選択入力された測定項目を測定する分析部１９と、分析部１９の測定動作の制御を行う分析制御部３０と、分析部１９から出力された分析信号を処理して分析データを生成する分析データ処理部４０と、分析データ処理部４０からの分析データを出力する出力部５０と、測定項目毎の分析条件の設定や被検試料毎の測定項目の選択入力、各種コマンド信号を入力する操作部６０と、上述したこれらのユニットを統括して制御するシステム制御部７０とを備えている。
【００１５】
分析部１９は、測定項目毎のキャリブレータ、被検試料などのサンプルを取り扱う分析ユニットなどを有するサンプル部２０と、サンプルの測定項目の成分と化学反応させるための試薬を取り扱う分析ユニットなどを有する試薬部２１と、サンプルと試薬の混合液の測定するための分析ユニットなどを有する反応部２２とを備えている。そして、キャリブレータや被検試料の測定により生成されたキャリブレータ信号や分析信号などは、反応部２２から分析データ処理部４０に出力される。
【００１６】
分析制御部３０は、分析部１９の分析ユニットなどを駆動する各機構を有する機構部３１と、機構部３１の各機構を制御する制御部３２とを備えている。
【００１７】
分析データ処理部４０は、分析部１９の反応部２２から出力されたキャリブレータ信号や分析信号などから、各測定項目のキャリブレーションテーブルの作成、各被検試料の各測定項目の分析データの算出などを行う演算部４１と、演算部４１で作成されたキャリブレーションテーブルや算出された分析データなどが保存される記憶部４２とを備えている。
【００１８】
演算部４１は、分析部１９の反応部２２から出力された各測定項目のキャリブレータ信号から各測定項目のキャリブレーションテーブルを作成して、出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。また、分析部１９の反応部２２から出力された各被検試料の各測定項目の分析信号に対して、記憶部４２から測定項目のキャリブレーションテーブルを読み出した後、このキャリブレーションテーブルを用いて分析データを算出して、出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。
【００１９】
記憶部４２は、ハードディスクなどを備え、演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどが被検試料毎に保存される。
【００２０】
出力部５０は、分析データ処理部４０の演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを印刷出力する印刷部５１及び表示出力する表示部５２を備えている。
【００２１】
印刷部５１は、プリンタなどを備え、分析データ処理部４０の演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ用紙などに印刷出力する。
【００２２】
表示部５２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、分析データ処理部４０の演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブルや分析データ、被検体のＩＤ及び氏名などを入力する被検体情報入力画面、測定項目毎の分析条件を設定するための分析条件設定画面、被検試料毎に測定項目を選択設定するための測定項目設定画面などの表示を行う。
【００２３】
操作部６０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、測定項目毎の分析条件の設定、被検体の被検体ＩＤや被検体名などの被検体情報の入力、被検試料毎の測定項目の選択入力、各測定項目のキャリブレーションや被検試料測定などの様々な操作が行われる。
【００２４】
システム制御部７０は、図示しないＣＰＵと記憶回路を備え、操作部６０から供給される操作者のコマンド信号、測定項目の分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目などの情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部１９を構成する各分析ユニットなどを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、キャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出と出力などシステム全体の制御を行う。
【００２５】
次に、図２乃至図３を参照して、分析部１９及び分析制御部３０の構成の詳細を説明する。図２は、分析部１９のサンプル部２０、試薬部２１、及び反応部２２の構成を説明するための斜視図である。
【００２６】
サンプル部２０は、キャリブレータ、被検試料などのサンプルを収容した試料容器１７と、サンプルを収容した試料容器１７を回動可能に保持するディスクサンプラ６と、ディスクサンプラ６の試料容器１７からサンプルを吸引して反応部２２の吐出位置から吐出し、同一サンプルの吸引及び吐出による分注終了毎に図示しないサンプル分注プローブ洗浄用位置の洗浄プールで洗浄されるサンプル分注プローブ１６と、このサンプル分注プローブ１６をキャリブレータ吸引用位置又は被検試料吸引用位置、反応部２２のサンプル吐出用位置、及びサンプル分注プローブ洗浄用位置の各位置間の水平移動、及び各位置での上降下を可能に保持するサンプル分注アーム１０とを備えている。
【００２７】
サンプル分注アーム１０は、プローブ昇降機構を有する。このプローブ昇降機構は、サンプル分注アーム１０の昇降速度を調整可能に構成される。プローブ昇降機構によるサンプル分注アーム１０の昇降速度は、制御部３２の制御下にある。このプローブ昇降機構によるサンプル分注アーム１０の昇降速度、特に降下速度の制御の詳細については後述する。
【００２８】
また、サンプル部２０は、キャリブレータ吸引用位置又は被検試料吸引用位置に水平移動した後に、降下したサンプル分注プローブ１６の先端部が試料容器１７内のサンプルに突入した時に、そのサンプルの液面を検出する検出器１８ａを備え、検出されたサンプルの検出信号は、分析制御部３０の制御部３２に出力される。そして、サンプル分注プローブ１６は、検出器１８ａからの検出信号に基づく制御部３２の制御により、その液面からサンプルの吸引が可能な所定の深さの吸引位置で停止する。
【００２９】
なお、サンプル分注プローブ１６の停止位置が被検試料の液面から深すぎると、サンプル分注プローブ１６の外側の上方にまでサンプルが付着し、その後、上方に付着したサンプルが下方に移動する。そして、サンプル吐出時には、設定料のサンプルと共に下方に移動したサンプルも吐出されてしまう問題がある。また、同一サンプルの分注終了後に、サンプル分注プローブ洗浄用位置の洗浄プールで洗浄するときに、サンプル分注プローブ１６の外側の上方まで洗浄するのは困難である。このような問題を避けるため、液面からサンプルの吸引が可能な程度の浅い例えば２ｍｍ程度の所定の深さの吸引位置で停止するようになっている。
【００３０】
試薬部２１は、第１試薬部２１ａと第２試薬部２１ｂとで構成されている。第１試薬部２１ａは、サンプルに対して選択的に反応する第１試薬が入った試薬ボトル７ａ、この試薬ボトル７ａを収納する試薬ラック１ａと、この試薬ラック１ａを回動可能に保持する試薬庫２とを備えている。また、第２試薬部２１ｂは、第１試薬と対をなす第２試薬が入った試薬ボトル７ｂと、この試薬ボトル７ｂを収納する試薬ラック１ｂと、この試薬ラック１ｂを回動可能に保持する試薬庫３とを備えている。
【００３１】
また、第１試薬部２１ａは、第１試薬吸引用位置に停止した試薬ボトル７ａから第１試薬を吸引して反応部２２の第１試薬吐出用位置から吐出するプローブであって、第１試薬分注終了毎に第１試薬分注プローブ洗浄用位置の洗浄プールで洗浄される第１試薬分注プローブ１４を備えている。同様に第２試薬部２１ｂは、第２試薬吸引用位置に停止した試薬ボトル７ｂから第２試薬を吸引して反応部２２の第２試薬吐出用位置から吐出するプローブであって、第２試薬分注終了毎に第２試薬洗浄用位置の洗浄プールで洗浄される第２試薬分注プローブ１５を備えている。
【００３２】
更に、第１試薬部２１ａは、第１試薬分注プローブ１４を第１試薬吸引用位置、反応部２２の第１試薬吐出用位置、及び第１試薬分注プローブ洗浄用位置の各位置間で水平移動、及び各位置で上降下を可能に保持する第１試薬分注アーム８を備えている。同様に第２試薬部２１ｂは、第２試薬分注プローブ１５を第２試薬吸引用位置、反応部２２の第２試薬吐出用位置、及び第２試薬分注プローブ洗浄用位置の各位置間で水平移動、及び各位置で上降下を可能に保持する第２試薬分注アーム９を備えている。
【００３３】
反応部２２は、サンプル吐出用位置に停止したサンプル分注プローブ１６から吐出されたサンプルと、第１試薬吐出用位置に停止した第１試薬分注プローブ１４から吐出された第１試薬と、第２試薬吐出用位置に停止した第２試薬分注プローブ１５から吐出された第２試薬とを受入れる円周上に複数配置された反応容器４と、この反応容器４を回転可能に保持する反応ディスク５とを備えている。そして、反応ディスク５は、例えば４．５秒の分析サイクルで反時計回りに回転して停止し、例えば４分析サイクルで１周と１個分の反応容器４を加算した角度だけ回転する。
【００３４】
また、反応部２２は、第１撹拌用位置に停止した反応容器４内のサンプル及び第１試薬の混合液を撹拌する攪拌ユニットであって、この混合液の撹拌終了毎に第１撹拌洗浄用位置の洗浄プールで洗浄する第１撹拌子を、第１撹拌用位置と第１撹拌子洗浄用位置間を回動、及び各位置での上降下を可能に保持する第１撹拌ユニット１１ａを備えている。
【００３５】
また、反応部２２は、第２撹拌用位置に停止した反応容器４内のサンプル、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する攪拌ユニットであって、この混合液の撹拌終了毎に第２撹拌子洗浄用位置の洗浄プールで洗浄する第２撹拌子を、第２撹拌用位置と第２撹拌洗浄用位置間を回動、及び各位置での上降下を可能に保持する第２撹拌ユニット１１ｂを備えている。
【００３６】
更に、反応部２２は、第１或いは第２撹拌後の混合液の入った反応容器４が測光位置を通過する時に光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定して分析信号を生成する測光ユニット１３と、洗浄及び乾燥用位置に停止した反応容器４内の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器４内を洗浄する洗浄ノズル及び乾燥する乾燥ノズルを上降下可能に保持する洗浄ユニット１２とを備えている。そして、反応容器４は、洗浄ユニット１２で洗浄及び乾燥された後、再び測定に使用される。
【００３７】
次に、分析制御部３０の機構部３１の構成を説明する。
この機構部３１は、サンプル部２０のディスクサンプラ６、第１試薬部２１ａの試薬庫２、及び第２試薬部２１ｂの試薬庫３を各回動する機構、反応部２２の反応ディスク５を回転する機構、サンプル部２０のサンプル分注アーム１０、第１試薬部２１ａの第１試薬分注アーム８、第２試薬部２１ｂの第２試薬分注アーム９、反応部２２の第１撹拌ユニット１１ａ、及び第２撹拌ユニット１１ｂを各回動及び上降下する機構、反応部２２の洗浄ユニット１２の上降下を行う機構を備えている。
【００３８】
また、機構部３１は、水などの圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ１６内へのサンプルの吸引や、サンプル分注プローブ１６からのサンプルの吐出を行わせるサンプル分注ポンプ１０ａを駆動する機構を備えている。また、第１試薬分注プローブ１４から第１試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを駆動する機構、第２試薬分注プローブ１５から第２試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを駆動する機構を備えている。また、第１撹拌ユニット１１ａの第１撹拌子を撹拌駆動する機構、第２撹拌ユニット１１ｂの第２撹拌子を撹拌駆動する機構を備えている。また、洗浄ユニット１２の洗浄ノズルから洗浄液の吐出及び吸引を行う洗浄ポンプを駆動する機構を備えている。また、洗浄ユニット１２の乾燥ノズルから吸引を行う乾燥ポンプを駆動する機構等を備えている。
【００３９】
制御部３２は、機構部３１の各機構を制御する制御回路を備えている。制御部３２からの信号に基づき機構部３１は分析サイクル単位で、ディスクサンプラ６、試薬庫２、試薬庫３、反応ディスク５、サンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、第２試薬分注アーム９、第１撹拌ユニット１１ａ、第２撹拌ユニット１１ｂ、洗浄ユニット１２、サンプル分注ポンプ１０ａ、試薬ポンプ、第１撹拌子、第２撹拌子、洗浄ポンプ、乾燥ポンプなどを作動する。
【００４０】
また、制御部３２は、サンプル部２０の検出器１８ａから出力されたサンプルの検出信号に基づいて、機構部３１のサンプル分注アーム１０を駆動する機構（例えば、ステッピングモータ）を制御し、サンプル分注プローブ１６をそのサンプルの吸引位置に停止させる。
【００４１】
図３は、分析部１９のサンプル部２０と反応部２２の構成の一部を上から見た図である。サンプル分注アーム１０は、中央の回動軸を中心として上死点における高さで矢印Ｒ１及びＲ２方向に回動して、上死点におけるサンプル分注プローブ１６を図３に破線で示した移動軌跡に沿って水平移動する。
【００４２】
このサンプル分注プローブ１６の移動軌跡上には、反応部２２上のサンプル吐出用位置Ｔ１と、サンプル部２０上の被検試料吸引用位置Ｔ２及びキャリブレータ吸引用位置Ｔ３と、サンプル吐出用位置Ｔ１と被検試料吸引用位置Ｔ２及びキャリブレータ吸引用位置Ｔ３の間に位置するサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４とがある。そして、サンプル分注プローブ１６は、サンプル吐出用位置Ｔ１と被検試料吸引用位置Ｔ２の間、サンプル吐出用位置Ｔ１とサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４の間、及びサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４と被検試料吸引用位置Ｔ２及びキャリブレータ吸引用位置Ｔ３の間を水平移動する。
【００４３】
即ち、サンプル分注プローブ１６は、被検試料の入った試料容器１７などを保持するディスクサンプラ６がＲ１又はＲ２方向に回動した後、被検試料吸引用位置Ｔ２の下方に停止したところの所定の試料容器１７から被検試料を吸引する。そして、反応部２２上のサンプル吐出用位置Ｔ１に水平移動され、その下方に停止したところの所定の反応容器４に吸引した被検試料を吐出する。その後、その試料容器１７のサンプル分注終了毎にサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４の下方にある洗浄プールで洗浄される。
【００４４】
次に、図１乃至図１０Ｂを参照して、被検試料を分注するサンプル分注動作の詳細を説明する。図４は、被検試料を分注するサンプル分注工程を示した図である。
【００４５】
このサンプル分注工程Ｓ１は、被検試料吸引用位置Ｔ２の試料容器１７に収容された被検試料を１回目に分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０と、被検試料をｎ回目（ｎ≧２）に分注する第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０から構成される。そして、システム制御部７０からの測定の指示に基づいて、分析制御部３０の制御部３２は機構部３１の上述した各機構を制御して反応ディスク５、サンプル分注アーム１０、サンプル分注ポンプ１０ａなどの各分析ユニットを駆動する。
【００４６】
第１のサンプル分注工程Ｓ１０は、被検試料吸引用位置Ｔ２に停止した試料容器１７の被検試料を１回目に分注するときに実行し、第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０は、第１のサンプル分注工程Ｓ１０と同じ要領で同じ被検試料を複数回分注するときのｎ回目の分注のときに実行する。そして、各サンプル分注工程は夫々１分析サイクルの間に実行される。図５は、図４に示した第１のサンプル分注工程Ｓ１０の詳細を示したフローチャートである。第１のサンプル分注工程Ｓ１０は、サンプル分注アーム１０の動作によるステップＳ１１，Ｓ１３，Ｓ１５，Ｓ１６，Ｓ１７，Ｓ１９，Ｓ２０と、サンプル分注ポンプ１０ａの動作によるステップ１２，Ｓ１４，Ｓ１８とにより構成される。また、ステップＳ１２，Ｓ１４におけるサンプル分注ポンプ１０ａによるサンプル分注プローブ１６内への吸引動作を図７Ａ、図７Ｂ、図７Ｃに示す。
【００４７】
まずサンプル分注アーム１０は、図３のＲ２方向に回動してホームポジションであるサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４から被検試料吸引用位置Ｔ２にサンプル分注プローブ１６を水平移動する（ステップＳ１１）。
【００４８】
サンプル分注プローブ１６の水平移動に並行して、サンプル分注ポンプ１０ａは、図７Ａに示したエアの吸引動作を行い、サンプル分注プローブ１６内にエアを吸引させる（ステップＳ１２）。
【００４９】
サンプル分注ポンプ１０ａ内へのエアの吸引後に、サンプル分注アーム１０は、被検試料吸引用位置Ｔ２の下方に停止した測定対象の試料容器１７内の被検試料に向けてサンプル分注プローブ１６を降下する。そして、サンプル分注プローブ１６を第１の速度ｖ１でその被検試料に突入させ、検出器１８ａで検出される検出位置（第１の検出位置）から減速して吸引位置（第１の停止位置）で停止させる（ステップＳ１３）。
【００５０】
なお、以下の説明において、サンプル分注プローブ１６の降下／上昇の動作には、実際には、加速／減速期間が含まれる。つまり、プローブ１６の降下／上昇に際しては、所定速度まで加速し、所定速度に達した時点で定速移動に移行し、減速して停止する。ここでは説明の便宜上、加速／減速についての説明は省略する。
【００５１】
サンプル分注プローブ１６の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、被検試料を測定するための１回目の被検試料の吸引動作を行う。この時、試料容器１７からサンプル分注プローブ１６内に図７Ｂに示すように測定に使用しないダミーの被検試料を吸引させた後、１回目の分注として図７Ｃに示すように予め設定されたサンプル量に応じた測定用の被検試料を吸引させる（ステップＳ１４）。
【００５２】
なお、被検試料は、サンプル分注ポンプ１０ａとサンプル分注プローブ１６間の流路に封入された圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ１６から吸引及び吐出される。サンプル分注プローブ１６内に吸引された測定用の１回目の被検試料と圧力伝達媒体の間には、エアの層及び測定に使用されないダミーの被検試料層が設けられる。このエア層及びダミー層により圧力伝達媒体の混入による測定用の被検試料の希釈を防ぐことができる。 １回目の被検試料の吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を被検試料吸引用位置Ｔ２まで上昇する（ステップＳ１５）。
【００５３】
被検試料吸引用位置Ｔ２への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、図３のＲ１方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に水平移動する（ステップＳ１６）。
【００５４】
サンプル吐出用位置Ｔ１への水平移動後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止した反応容器４の吐出位置まで降下する（ステップＳ１７）。
【００５５】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、１回目の被検試料をサンプル分注プローブ１６から反応容器４に吐出させる（ステップＳ１８）。
【００５６】
１回目の被検試料吐出動作の後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１まで上昇する（ステップＳ１９）。
【００５７】
サンプル吐出用位置Ｔ１への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、Ｒ２方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をホームポジションに水平移動する（ステップＳ２０）。
【００５８】
図６は、図４に示した第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０の詳細を示したフローチャートである。第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０は、サンプル分注アーム１０の動作によるステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３４，Ｓ３５，Ｓ３６，Ｓ３８，Ｓ３９と、サンプル分注ポンプ１０ａの動作によるステップ３３，Ｓ３７とにより構成される。また、ステップＳ３３におけるサンプル分注ポンプ１０ａによるサンプル分注プローブ１６内への吸引動作を図７Ｄに示す。
【００５９】
サンプル分注アーム１０は、Ｒ２方向に回動してホームポジションから被検試料吸引用位置Ｔ２にサンプル分注プローブ１６を水平移動する（ステップＳ３１）。
【００６０】
サンプル分注プローブ１６の水平移動後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を降下する。この時、サンプル分注プローブ１６を第１の速度ｖ１よりも遅い第２の速度ｖ２で１回目と同じ被検試料に突入させ、検出器１８ａで検出位置（第ｎの検出位置）から減速して吸引位置（第ｎの停止位置）で停止させる（ステップＳ３２）。サンプル分注プローブ１６の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、１回目と同じ被検試料に対するｎ回目の分注における被検試料の吸引動作を行う。この時、図７Ｄに示すように、１回目に吸引したエア及びダミーの被検試料を残した状態で、ｎ回目の設定サンプル量に応じた測定用の被検試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引させる（ステップＳ３３）。
【００６１】
ｎ回目の被検試料の吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を被検試料吸引用位置Ｔ２まで上昇する（ステップＳ３４）。
【００６２】
被検試料吸引用位置Ｔ２への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、Ｒ１方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に水平移動する（ステップＳ３５）。
【００６３】
サンプル吐出用位置Ｔ１への水平移動後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止した反応容器４の吐出位置まで降下する（ステップＳ３６）。
【００６４】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、ｎ回目の被検試料をサンプル分注プローブ１６から反応容器４に吐出させる（ステップＳ３７）。
【００６５】
ｎ回目の被検試料吐出動作の後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１まで上昇する（ステップＳ３８）。
【００６６】
サンプル吐出用位置Ｔ１への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、Ｒ２方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をホームポジションに水平移動する（ステップＳ３９）。
【００６７】
そして、同一被検試料の最後の測定項目のサンプル分注が終了した次の分析サイクルで、サンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４に設けられる洗浄プールで、サンプル分注プローブ１６からエア及びダミーの被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６を洗浄するための動作を行う。洗浄後に、サンプル分注プローブ１６は、ホームポジションに上昇して次の被検試料の分注に備えて待機する。
【００６８】
このように、第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０では、第１のサンプル分注工程Ｓ１０におけるステップＳ１２のサンプル分注プローブ１６内へのエア吸引動作、及びステップＳ１４のサンプル分注プローブ１６内へのダミーの被検試料の吸引動作を含んでいない。１サンプル分注工程は１分析サイクルと設定していることから、第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０では、第１のサンプル分注工程Ｓ１０のステップＳ１２，Ｓ１４の動作時間を、ステップＳ３２の動作時間に割り当てることができる。
【００６９】
図８は、図５及び図６に示した第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０における各ステップのタイミングを示したタイミングチャートである。
【００７０】
このタイミングチャート８０の上側には、第１のサンプル分注工程Ｓ１０のステップＳ１１乃至Ｓ２０に対応したサンプル分注アーム１０の回動及び上降下とサンプル分注ポンプ１０ａの吸引及び吐出の動作タイミングが表されている。また、下側には第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０のステップＳ３１乃至Ｓ３９に対応したサンプル分注アーム１０の回動及び上降下とサンプル分注ポンプ１０ａの吸引及び吐出の動作タイミングが表されている。
【００７１】
そして、各動作のタイミングは、各測定項目の分析条件に最大サンプル量が設定されたときに、１分析サイクルの間にディスクサンプラ６に配置され吸引が可能な最低の高さに被検試料の液面を設定した試料容器１７から、最大サンプル量の被検試料を吸引し、更に反応容器４に吸引した最大サンプル量の被検試料を吐出することが可能なように割り当てられている。
【００７２】
まず、第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０におけるサンプル分注アーム１０の動作のタイミングを説明する。タイミングチャート８０の第１のサンプル分注工程Ｓ１０におけるステップＳ１１，Ｓ１３，Ｓ１５，Ｓ１６，Ｓ１７，Ｓ１９，Ｓ２０、及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０におけるステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３４，Ｓ３５，Ｓ３６，Ｓ３８，Ｓ３９の「回動」、「降下」、及び「上昇」は、サンプル分注アーム１０の回動動作及び上降下動作と時間を示している。
【００７３】
また、ステップＳ１３，Ｓ３２の「降下」及びステップＳ１５，Ｓ３４の「上昇」には、吸引が可能な最低の高さに被検試料の液面を設定した試料容器１７内の吸引位置と被検試料吸引用位置Ｔ２の間を上降下するのに要する時間が割り当てられている。
【００７４】
第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０のステップＳ１１，Ｓ１６，Ｓ２０，Ｓ３１，Ｓ３５，Ｓ３９における「水平移動」の動作開始及び終了タイミングは分析サイクル毎に不変である。また、ステップＳ１３，Ｓ１５，Ｓ１７，Ｓ１９，Ｓ３２，Ｓ３４，Ｓ３６，Ｓ３８における「降下」及び「上昇」における分析サイクル毎の動作開始のタイミングも不変であり、動作終了タイミングは試料容器１７内の被検試料の液面の高さによって変わる。即ち、その被検試料の液面が低い位置にあるほど「降下」及び「上昇」に時間を要し、動作終了のタイミングが遅くなる。
【００７５】
次に、第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０におけるサンプル分注ポンプ１０ａの動作のタイミングを説明する。タイミングチャート８０の第１のサンプル分注工程Ｓ１０におけるステップＳ１２，Ｓ１４，Ｓ１８及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０におけるステップＳ３３，Ｓ３７の「エア吸引」、「被検試料吸引」、及び「被検試料吐出」は、サンプル分注ポンプ１０ａのエア吸引動作、被検試料吸引動作、及び被検試料吐出動作とその動作時間に対応している。この動作時間には、各測定項目の分析条件に最大サンプル量が設定されたときに、その最大サンプル量を吸引及び吐出するのに要する時間が割り当てられている。
【００７６】
第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０の各ステップにおける動作開始タイミング、及びステップＳ１２における「エア吸引」の動作終了のタイミングは不変であり、ステップＳ１４，Ｓ１８，Ｓ３３，Ｓ３７における動作終了のタイミングは、測定項目毎に設定されたサンプル量によって変わる。即ち、設定されたサンプル量が多いほど「被検試料吸引」及び「被検試料吐出」に時間を要し、動作終了のタイミングが遅くなる。
【００７７】
次に、第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０共に同じ動作が含まれるステップの動作タイミングを対比させて説明する。
【００７８】
ステップＳ１１は、ステップＳ３１と同じタイミングで動作を開始し、同じ動作時間が割り当てられている。ステップＳ１５乃至Ｓ２０は、夫々ステップＳ３４乃至Ｓ３９と同じタイミングで動作を開始し、同じ動作時間が割り当てられている。
【００７９】
ステップＳ１４は、「被検試料吸引」の内のダミーの被検試料を吸引する分だけステップＳ３３よりも早く動作を開始し、同じ動作終了タイミングが割り当てられている。
【００８０】
被検試料吸引用位置Ｔ２から被検試料の吸引位置にサンプル分注プローブ１６を降下させるステップＳ３２では、ステップＳ１２の「エア吸引」の動作がないのでステップＳ１３よりも早いタイミングで動作を開始し、ステップＳ１４で吸引する被検試料の内のダミーの吸引が不要な分だけステップＳ１３よりも遅い動作終了タイミングが割り当てられている。これにより、ステップＳ３２では、サンプル分注プローブ１６を第１の速度ｖ１よりも遅い第２の速度ｖ２で試料容器１７内の被検試料に突入させることができる。
【００８１】
図９Ａ、図９Ｂは、ステップＳ１３，Ｓ３２におけるサンプル分注プローブ１６の降下動作の一例を示した図である。図９Ａは、図１０Ａ（一点鎖線）とともに、ステップＳ１３でプローブ起点（最も高い位置）Ｔ２から最下点（第１の停止位置）まで降下するサンプル分注プローブ１６の１回目の動作を示している。図９Ａに示すように、サンプル分注プローブ１６は、突入前区間Ｌ11において、速度Ｖ11で降下する。サンプル分注プローブ１６は、その速度Ｖ12（Ｖ12＝Ｖ11）を維持したまま、液面を中心としたその前後所定距離の区間（突入区間）Ｌ12を通過して、所定の最下位置で停止する。突入区間Ｌ12のいずれかの位置で、サンプル分注プローブ１６は試料容器１７内の被検試料に突入する。突入前区間Ｌ11から突入区間Ｌ12にわたって一定速度で降下するのは、液面の高さが不明であることをその理由とする。
【００８２】
図９Ｂは、図１０Ａ（二点鎖線）とともに、ステップＳ３２でプローブ起点Ｔ２から最下点まで降下するサンプル分注プローブ１６の２回目以降の動作を示している。なお、２回目以降では、制御部３２は、１回目の降下動作の中でプローブ１６の先端に取り付けられたセンサの出力変化に基づいて被検試料の液面の高さを認識している。従って２回目以降のプローブ１６の降下動作では、突入前区間Ｌ21と、突入区間Ｌ22とは区別されることができる。
【００８３】
図９Ｂに示すように、サンプル分注プローブ１６は、突入前区間Ｌ21において、速度Ｖ21で降下する。速度Ｖ21は、後述の突入区間Ｌ22の降下速度Ｖ22より速く設定される。また、速度Ｖ21は、１回目の降下動作における突入前区間Ｌ11の降下速度Ｖ11よりも速く設定される。
【００８４】
突入前区間Ｌ21を高速で通過して突入区間Ｌ22において、サンプル分注プローブ１６の降下速度Ｖ22は、突入前区間Ｌ21の速度Ｖ21よりも遅くされる。この降下速度Ｖ22は、１回目の突入区間Ｌ12の速度Ｖ12よりも遅くされる。その遅い降下速度Ｖ22を維持したまま、突入区間Ｌ22のほぼ中央位置で、サンプル分注プローブ１６は試料容器１７内の被検試料に突入する。
【００８５】
サンプル分注プローブ１６が被検試料にできるだけ遅い速度で突入することにより、その被検試料の分注精度の悪化を抑制でき、またコンタミネーションを軽減できる。
【００８６】
ステップＳ３２のｎ回目の動作で、サンプル分注プローブ１６の降下に使うことができる時間Ｔｎは、図８のｎ回目のサンプル分注工程を１回目のサンプル分注工程と比較して理解され得るように、１回目の降下に要する時間Ｔ１よりも長時間を確保することができる。その理由は、１回目の動作で必要であったエア−吸引及びダミー吸引がｎ回目の動作では不要になることにある。
【００８７】
上記の通り、制御部３２は、被検試料の１回目の吸引のための被検試料の液面へのサンプル分注プローブ１６の突入速度よりも、被検試料のｎ回目（ｎ≧２）の吸引のための被検試料の液面へのサンプル分注プローブ１６の突入速度を遅くする。制御部３２は、ｎ回目の吸引において、被検試料の液面を中心とした前後所定距離の区間Ｌ22におけるサンプル分注プローブ１６の突入速度Ｖ22よりも速い速度Ｖ21で、サンプル分注プローブ１６を突入の前段階の区間Ｌ21を降下させるためにプローブ昇降機構を制御する。制御部３２は、１回目の吸引において、プローブ１６を一定速度で降下させる。制御部３２は、１回目の吸引においてプローブ１６を一定の速度Ｖ11（＝Ｖ12）で降下させ、ｎ回目の吸引において被検試料の液面へのプローブ１６の突入速度Ｖ22よりも速く且つ速度Ｖ11よりも速い速度Ｖ21で降下させる。
【００８８】
図１０Ｂに示すように、制御部３２は、１回目の吸引においてプローブ１６を区間Ｌ11,Ｌ12にわたって、一定速度Ｖ11で降下させ、ｎ回目の吸引においてプローブ１６を区間Ｌ21,Ｌ22にわたって、速度Ｖ11よりも遅い一定速度Ｖ21（＝Ｖ22）で降下させてもよい。
【００８９】
なお、上記実施例に限定されるものではなく、ｎ回目の吸引のときに、サンプル分注プローブ１６を第２の速度ｖ２よりも遅い第３の速度ｖ３で試料容器１７内の被検試料に突入させるようにしてもよい。この場合の実施例を以下に説明する。
【００９０】
（ｎ−１）回目の吸引に際し、被検試料吸引用位置Ｔ２から第（ｎ−１）の検出位置までサンプル分注プローブ１６を降下させるためにサンプル分注アーム１０の駆動機構の例えばステッピングモータに供給した駆動パルス数を制御部３２の内部記憶回路に記憶しておく。そして、その記憶した駆動パルス数に基づいて被検試料吸引用位置Ｔ２から第（ｎ−１）の検出位置よりも上方の第（ｎ−１）ａの位置、及び第（ｎ−１）ａの位置よりも下方で第（ｎ−１）の検出位置よりも上方の第（ｎ−１）ｂの位置にサンプル分注プローブ１６を降下させるのに要する駆動パルス数を制御部３２に算出させる。
【００９１】
そして、ｎ回目の吸引のときに、（ｎ−１）回目の吸引のときに算出した駆動パルス数に基づいて、サンプル分注プローブ１６を被検試料吸引用位置Ｔ２から第１の速度ｖ１よりも速い第４の速度ｖ４で第（ｎ−１）aの位置まで降下する。次いで、第（ｎ−１）ａの位置から第（ｎ−１）ｂの位置まで減速した後、一旦停止し又は連続して第（ｎ−１）ｂの位置から第４の速度ｖ４よる降下で余った時間を割り当てることにより可能となる第２の速度ｖ２よりも遅い第３の速度ｖ３でサンプル分注プローブ１６を降下して試料容器１７内の被検試料に突入させ、検出器１８ａで検出される第ｎの検出位置から減速して第ｎの停止位置で停止させるようにする。これにより、第２の速度ｖ２よりも遅い第３の速度ｖ３で被検試料に突入させることができるので、停止位置に停止させたときの衝撃を第２の速度ｖ２のときよりも小さくすることができる。
【００９２】
このように、被検試料をｎ回目に吸引するときに、１回目の第１の速度ｖ１よりも遅い第２の速度ｖ２又は第３の速度ｖ３で試料容器１７の被検試料にサンプル分注プローブ１６を突入させることにより、吸引位置で停止させたときの衝撃を１回目よりも小さくすることができる。これにより、２回目以降の分注でサンプル分注プローブ１６内の１回目の吸引で形成されたエア層が薄くなるのを低減し、この低減により１回目に吸引したダミー被検試料が希釈されるのを低減することが可能となり、同一の被検試料を複数回分注したときの２回目以降の被検試料を精度よく分注することができる。
【００９３】
また、実際に動作させた実験結果によれば、サンプル分注プローブ１６を介して、前に分注した被検試料が、次の被検試料が収容された試料容器内１７内に持ち込まれるを低減することができる。
【００９４】
次に、図１乃至図１３を参照して、自動分析装置１００の動作を説明する。図１１は、自動分析装置１００の動作の一例を示したフローチャートである。図１２は、表示部５２に表示される測定項目設定画面の一例を示す。図１３は、測定項目設定画面から選択入力された被検試料毎の各測定項目に対応するサンプル分注工程を示す。
【００９５】
操作部６０からのキャリブレーション操作により、分析データ処理部４０の記憶部４２には予め各測定項目のキャリブレーションテーブルが保存されている。また、操作部６０からの測定項目選択入力により、システム制御部７０の内部記憶回路には、被検試料毎に選択入力された測定項目が保存されている。
【００９６】
図１２は、表示部５２に表示される選択入力された測定項目設定画面の一例を示した図である。この測定項目設定画面５３は、被検体情報入力画面で入力された被検体のＩＤを表示する「ＩＤ」の欄と、項目名を略称で表示する「項目」の欄と、「ＩＤ」の欄に表示された被検体のＩＤ毎に「項目」の欄に表示された項目名の測定項目を設定するための測定項目設定エリア５３ａから構成される。
【００９７】
「ＩＤ」の欄には、予め入力された例えば「１」乃至「３」の被検体のＩＤが表示されている。また、「項目」の欄には、例えば「ＧＯＴ」、「ＧＰＴ」、「Ｃａ」、「ＴＰ」などの項目名が表示されている。
【００９８】
測定項目設定エリア５３ａには、「ＩＤ」の欄の各被検体のＩＤに対応した「項目」の欄の項目名が設定された場合には「○」が表示され、設定されない場合には「・」が表示される。そして、操作部６０から例えば「ＩＤ」の欄に表示された「１」に対して、「ＧＯＴ」、「ＧＰＴ」、「Ｃａ」、及び「ＴＰ」が設定されると、測定項目設定エリア５３ａに１テスト乃至４テスト欄に「○」が表示される。
【００９９】
また、「ＩＤ」の欄に表示された「２」に対して「ＧＰＴ」及び「ＴＰ」が設定されると、測定項目設定エリア５３ａに５テスト及び６テスト欄に「○」が表示され、「ＩＤ」の欄に表示された「３」に対して「Ｃａ」が設定されると、測定項目設定エリア５３ａに７テスト欄に「○」が表示される。
【０１００】
測定項目設定画面５３から設定入力された測定項目設定情報は、システム制御部７０の内部記憶回路に保存される。そして、被検試料の測定は測定項目設定画面５３から選択入力された測定項目の情報に基づいて行われ、「ＩＤ」の最上段の「１」に対応した被検試料から順に、各被検体のＩＤの左の設定された測定項目「ＧＯＴ」から順に測定されることになる。
【０１０１】
まず、操作部６０からの測定開始操作により、自動分析装置１００は動作を開始する（図１１のステップＳ１）。
【０１０２】
システム制御部７０は、分析制御部３０、分析データ処理部４０、及び出力部５０に、内部記憶回路に保存されている被検試料毎の測定項目の測定を指示する。分析制御部３０の制御部３２は、分析部１９の各分析ユニットを一旦ホームポジションに移動させてから測定動作を開始させる（図１１のステップＳ２）。
【０１０３】
図１３に示すように、測定動作を開始した分析部１９は、１分析サイクルにて測定項目設定画面５３で選択入力された被検体ＩＤ「１」の「ＧＯＴ」を測定するための被検試料を分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０を実行する。また、２乃至４分析サイクルにて「ＧＰＴ」、「Ｃａ」、及び「ＴＰ」を測定するための第２乃至第４のサンプル分注工程Ｓ３０を実行する（図１１のステップＳ３）。
【０１０４】
第１のサンプル分注工程Ｓ１０では、サンプル分注アーム１０は、Ｒ１方向に回動してサンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４から被検体ＩＤ「１」の被検試料を収容した試料容器１７が停止した被検試料吸引用位置Ｔ２に水平移動する。サンプル分注プローブ１６の水平移動動作と並行して、サンプル分注ポンプ１０ａはサンプル分注プローブ１６内にエアを吸引させる。
【０１０５】
サンプル分注ポンプ１０ａのエア吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、被検試料吸引用位置Ｔ２でサンプル分注プローブ１６を降下して第１の速度ｖ１でその被検試料に突入させ、更に検出器１８ａに検出される第１の検出位置から減速して第１の停止位置で停止させる。
【０１０６】
サンプル分注プローブ１６の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注プローブ１６内にダミーの被検試料及び「ＧＯＴ」（図１２の１テスト）の被検試料を試料容器１７から吸引する動作を行う。
【０１０７】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、上昇、Ｒ２方向への回動、及び降下動作により、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止した反応容器４の吐出位置に移動する。
【０１０８】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注プローブ１６から「ＧＯＴ」の被検試料を反応容器４に吐出させる。
【０１０９】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吐出動作後に、サンプル分注アーム１０は、上昇及びＲ１方向への回動により、サンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４に移動する。
【０１１０】
被検体ＩＤ「１」の「ＧＰＴ」の被検試料を分注するための第２のサンプル分注工程Ｓ３０は、第１のサンプル分注工程Ｓ１０から連続して実行される。
【０１１１】
サンプル分注アーム１０は、Ｒ１方向に回動してサンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４から被検試料を収容した試料容器１７の被検試料吸引用位置Ｔ２に水平移動した後、更に降下して第２の速度ｖ２で被検体ＩＤ「１」の被検試料に突入させ、更に検出器１８ａに検出される第２の検出位置から減速して第２の停止位置で停止させる。
【０１１２】
サンプル分注プローブ１６の下移後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注プローブ１６内に「ＧＰＴ」（図１２の２テスト）の被検試料を吸引させる。
【０１１３】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吸引後に、サンプル分注アーム１０は、上昇、Ｒ２方向への回動、及び降下動作により、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止している反応容器４の吐出位置に移動する。
【０１１４】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、吸引動作を行い、サンプル分注プローブ１６から「ＧＰＴ」の被検試料を反応容器４に吐出させる。
【０１１５】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吐出後に、サンプル分注アーム１０は、上昇及びＲ１方向への回動により、サンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４に移動する。
【０１１６】
次に、図１３の３及び４分析サイクルでは、分析部１９は、２分析サイクルの動作と同様にして、夫々被検体ＩＤ「１」の「Ｃａ」及び「ＴＰ」の被検試料を分注するための第３及び第４のサンプル分注工程Ｓ３０を実行する。
【０１１７】
次に、図１３の５分析サイクルでは、分析部１９は、サンプル分注プローブ１６内のエア及び被検体ＩＤ「１」のダミー被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６に付着した被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄動作を実行する（図１１のステップＳ４）。
【０１１８】
即ち、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６の先端部がサンプル分注プローブ洗浄用位置に設けられた洗浄プールの洗浄液吐出口に達するまで降下して停止する。
【０１１９】
サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注プローブ１６の内壁洗浄を行う。また、洗浄プールの洗浄液吐出口からの洗浄液によりサンプル分注プローブ１６の外壁も洗浄される。
【０１２０】
サンプル分注プローブ１６の洗浄の後に、図１３の６分析サイクルでは、分析部１９は、被検体ＩＤ「２」の「ＧＰＴ」を測定するための被検試料を分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０を実行し、図１３の７分析サイクルでは、被検体ＩＤ「２」の「ＴＰ」を測定するための被検試料を分注する第２のサンプル分注工程Ｓ３０を実行し（図１１のステップＳ５）。
【０１２１】
そして、図１３の８分析サイクルでは、分析部１９は、サンプル分注プローブ１６内のエア及び被検体ＩＤ「２」のダミー被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６に付着した被検体ＩＤ「２」の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄動作をする（図１１のステップＳ６）。
【０１２２】
次に、図１３の９分析サイクルでは、分析部１９は、被検体ＩＤ「３」の「Ｃａ」を測定するための被検試料を分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０を実行する（図１１のステップＳ７）。
【０１２３】
そして、図１３の１０分析サイクルでは、分析部１９は、サンプル分注プローブ１６内のエア及び被検体ＩＤ「３」のダミー被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６に付着した被検体ＩＤ「３」の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄動作をする（図１１のステップＳ８）。
【０１２４】
これらの動作を繰り返し実行して、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料を分注しサンプル分注プローブ洗浄動作をした後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料が分注された反応容器４が第１試薬吐出用位置に停止した時に、第１試薬分注プローブ１４から各反応容器４の測定項目に該当する第１試薬が吐出される（図１１のステップＳ９）。第１試薬が吐出された後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料と第１試薬の混合液が入った反応容器４が第１撹拌位置に停止した時に、第１撹拌ユニット１１ａの第１撹拌子によって各反応容器４内の混合液が撹拌される（図１１のステップＳ１０）。
【０１２５】
第１の撹拌の後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料と第１試薬の混合液が入った反応容器４が第２試薬吐出用位置に停止した時に、第２試薬分注プローブ１５から各反応容器４に「ＧＯＴ」、「ＧＰＴ」、「Ｃａ」の２試薬系の測定項目に該当する第２試薬が吐出される（図１１のステップＳ１１）。
【０１２６】
第２試薬の吐出の後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液が入った反応容器４が第２撹拌用位置に停止した時に、第２撹拌ユニット１１ｂの第２撹拌子によって反応容器４内の混合液が撹拌される（図１１のステップＳ１２）。
【０１２７】
第２の撹拌の後に、被検試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液や、被検試料及び第１試薬の混合液が入った反応容器４が測光位置を通過した時に、測光ユニット１３は、反応容器４に光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定する。そして、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料の各測定項目の分析信号を生成して分析データ処理部４０に出力する（図１１のステップＳ１３）。
【０１２８】
測定の後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料の混合液が入った反応容器４が洗浄及び乾燥用位置に停止した時に、洗浄ユニット１２は、反応容器４内の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器４内を洗浄及び乾燥する（図１１のステップＳ１４）。分析データ処理部４０の演算部４１は、測光ユニット１３から出力された分析信号から各被検試料の各測定項目の分析データを生成して記憶部４２に保存すると共に、出力部５０に出力する（図１１のステップＳ１５）。
【０１２９】
そして、全ての反応容器４の洗浄及び乾燥が終了し、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の全ての測定項目の分析データが出力された時点で、自動分析装置１００は、測定動作を終了する（図１１のステップＳ１６）。
【０１３０】
以上述べた本発明の実施例によれば、同じ被検試料を複数回分注する場合、１回目の分注の動作の内の２回目以降の分注で不要となる動作の時間を、試料容器１７の上方から被検試料を吸引するために降下するサンプル分注プローブ１６の動作時間に割り当てることにより、２回目以降の分注における吸引のときに１回目よりも遅い速度でサンプル分注プローブ１６を試料容器１７内の被検試料に突入させることができる。これにより、同一の被検試料を複数回分注したときの２回目以降における被検試料の分注精度の向上が可能となり、被検試料を精度よく測定することができる。
【０１３１】
なお、本発明は上記実施例そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施例に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施例に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施例にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【０１３２】
１００…自動分析装置、１９…分析部、３０…分析制御部、４０…分析データ処理部、５０…出力部、６０…操作部、７０…システム制御部。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液体中に含まれている成分を分析する自動分析装置及びその分注方法に係り、特に、ヒトの血液や尿などの体液を分注して体液に含まれる成分を自動的に測定する自動分析装置及びプローブ昇降方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動分析装置は、反応容器に分注した被検試料と分析を行う生化学や免疫などの測定項目に該当する試薬との混合液の反応によって生ずる色調などの変化を光の透過量を測定することにより、被検試料中の様々な被測定物質の濃度や酵素の活性を測定する。
【０００３】
この自動分析装置では、被検試料毎に分析条件の設定により測定可能になった多数の項目の中から、検査に応じて選択された測定項目の測定が行われる。そして、被検試料及び測定項目に該当する試薬は、サンプル及び試薬分注プローブにより反応容器に分注され、反応容器に分注された被検試料及び試薬は撹拌子により混合され、混合された混合液は測光部により測定される。更に、被検試料及び試薬に接触したサンプル及び試薬分注プローブ、混合液に接触した反応容器及び撹拌子は、洗浄された後に繰り返し測定に使用される。
【０００４】
最近の自動分析装置では、多数の被検試料及び多項目の高速処理が可能なように、被検試料の測定動作を一定の短い分析サイクル内に入るように、各分析ユニットを互いに連動させしかも高速で動作させている。
【０００５】
そして、被検試料の分注では、１分析サイクルの間に、吸引及び吐出動作を行うサンプル分注ポンプとサンプル分注プローブ間のチューブ、及びサンプル分注プローブ内に封入された水などの圧力伝達媒体を介して、サンプル分注プローブから試料容器内の被検試料を吸引し、サンプル分注アームで水平及び上降下させたサンプル分注プローブから吸引した被検試料を反応容器に吐出する。
【０００６】
被検試料を複数回分注する場合の１回目の分注における吸引動作では、サンプル分注プローブの試料容器上方への水平移動と共にサンプル分注プローブ内にまずエアを吸引する。次に、試料容器の上方への水平移動の後のエアを吸引する。次に、試料容器内の被検試料に向けてサンプル分注プローブを降下し、サンプル分注プローブが試料容器内の被検試料に突入した時に、被検試料の液面を検出器で検出する。そして、その検出位置から被検試料の吸引が可能な程度の浅い吸引位置で停止させる。
【０００７】
サンプル分注プローブが降下した後に、試料容器からサンプル分注プローブ内にダミーの被検試料及び測定用の１回目の分注に応じた被検試料を吸引し、反応容器に測定用の１回目の被検試料だけを吐出する。
【０００８】
ｎ回目（ｎ≧２）の分注では、１回目と同様のタイミングで動作し、サンプル分注プローブ内に測定用のｎ回目の分注に応じた被検試料だけを吸引した後、反応容器に測定用のｎ回目の被検試料だけを吐出する。その被検試料のすべての分注が終了した後に１回目のときに吸引したエア及びダミーの被検試料を排出し、排出後にサンプル分注プローブの内外の洗浄を行う。
【０００９】
この１回目の分注における吸引により、サンプル分注プローブ内に形成されたエア及びダミーの被検試料の層は、サンプル分注プローブ内に吸引された測定用の毎回の被検試料を圧力伝達媒体から隔離し、圧力伝達媒体の拡散などによる混入で測定用の被検試料が希釈されて被検試料の分注精度が低下するのを防ぐために設けられることが知られている（例えば、特許文献１参照）
しかしながら、分注における吸引のときに、サンプル分注プローブを試料容器内の被検試料に高速で突入させるため、同じ被検試料からの分注回数が増えると吸引位置に停止した時の衝撃の回数が増えて、サンプル分注プローブ内のエア層に圧力伝達媒体が混入して一部のエアが分散し、エア層が薄くなる問題や、エア層が薄くなることにより圧力伝達媒体が混入して１回目に形成されたダミー被検試料が希釈される問題がある。この問題により、同じ被検試料からの分注回数が増えると、その被検試料の分注精度を悪化させる問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−１６２４０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明の目的は、被検試料を精度よく分注することができる自動分析装置及びプローブ昇降方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作は行われ、前記第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、前記第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部とを具備することを特徴とする自動分析装置を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示す図である。
【図２】図２は、本発明の実施例に係る分析部の構成を示す斜視図である。
【図３】図３は、本発明の実施例に係るサンプル部と反応部の構成の一部を示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施例に係るサンプル分注工程の構成を示す図である。
【図５】図５は、本発明の実施例に係る１回目のサンプル分注工程を示すフローチャートである。
【図６】図６は、本発明の実施例に係るｎ回目のサンプル分注工程を示すフローチャートである。
【図７Ａ】図７Ａは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階のエア吸引動作を示す図である。
【図７Ｂ】図７Ｂは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階のダミー吸引動作を示す図である。
【図７Ｃ】図７Ｃは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階の１回目の試料吸引動作を示す図である。
【図７Ｄ】図７Ｄは、本発明の実施例に係る被検試料の吸引段階の２回目の試料吸引動作を示す図である。
【図８】図８は、本発明の実施例に係る１回目のサンプル分注工程とｎ回目のサンプル分注工程とを示すタイミングチャートである。
【図９Ａ】図９Ａは、本発明の実施例に係る被検試料を吸引するための１回目のサンプル分注プローブの降下の動作を示す図である。
【図９Ｂ】図９Ｂは、本発明の実施例に係る被検試料を吸引するためのｎ回目のサンプル分注プローブの降下の動作を示す図である。
【図１０Ａ】図１０Ａは、図９Ａ、図９Ｂに対応するサンプル分注プローブの速度シーケンスを示す図である。
【図１０Ｂ】図１０Ｂは、図９Ａ、図９Ｂに対応するサンプル分注プローブの他の速度シーケンスを示す図である。
【図１１】図１１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の動作を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、本発明の実施例に係る測定項目設定画面の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、本発明の実施例に係る測定項目設定画面から選択入力された被検試料毎の各測定項目に対応するサンプル分注工程を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図１乃至図１３を参照して説明する。図１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置１００は、様々な測定項目のキャリブレータや被検試料毎に選択入力された測定項目を測定する分析部１９と、分析部１９の測定動作の制御を行う分析制御部３０と、分析部１９から出力された分析信号を処理して分析データを生成する分析データ処理部４０と、分析データ処理部４０からの分析データを出力する出力部５０と、測定項目毎の分析条件の設定や被検試料毎の測定項目の選択入力、各種コマンド信号を入力する操作部６０と、上述したこれらのユニットを統括して制御するシステム制御部７０とを備えている。
【００１５】
分析部１９は、測定項目毎のキャリブレータ、被検試料などのサンプルを取り扱う分析ユニットなどを有するサンプル部２０と、サンプルの測定項目の成分と化学反応させるための試薬を取り扱う分析ユニットなどを有する試薬部２１と、サンプルと試薬の混合液の測定するための分析ユニットなどを有する反応部２２とを備えている。そして、キャリブレータや被検試料の測定により生成されたキャリブレータ信号や分析信号などは、反応部２２から分析データ処理部４０に出力される。
【００１６】
分析制御部３０は、分析部１９の分析ユニットなどを駆動する各機構を有する機構部３１と、機構部３１の各機構を制御する制御部３２とを備えている。
【００１７】
分析データ処理部４０は、分析部１９の反応部２２から出力されたキャリブレータ信号や分析信号などから、各測定項目のキャリブレーションテーブルの作成、各被検試料の各測定項目の分析データの算出などを行う演算部４１と、演算部４１で作成されたキャリブレーションテーブルや算出された分析データなどが保存される記憶部４２とを備えている。
【００１８】
演算部４１は、分析部１９の反応部２２から出力された各測定項目のキャリブレータ信号から各測定項目のキャリブレーションテーブルを作成して、出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。また、分析部１９の反応部２２から出力された各被検試料の各測定項目の分析信号に対して、記憶部４２から測定項目のキャリブレーションテーブルを読み出した後、このキャリブレーションテーブルを用いて分析データを算出して、出力部５０に出力すると共に記憶部４２に保存する。
【００１９】
記憶部４２は、ハードディスクなどを備え、演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどが被検試料毎に保存される。
【００２０】
出力部５０は、分析データ処理部４０の演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを印刷出力する印刷部５１及び表示出力する表示部５２を備えている。
【００２１】
印刷部５１は、プリンタなどを備え、分析データ処理部４０の演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ用紙などに印刷出力する。
【００２２】
表示部５２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、分析データ処理部４０の演算部４１から出力されたキャリブレーションテーブルや分析データ、被検体のＩＤ及び氏名などを入力する被検体情報入力画面、測定項目毎の分析条件を設定するための分析条件設定画面、被検試料毎に測定項目を選択設定するための測定項目設定画面などの表示を行う。
【００２３】
操作部６０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、測定項目毎の分析条件の設定、被検体の被検体ＩＤや被検体名などの被検体情報の入力、被検試料毎の測定項目の選択入力、各測定項目のキャリブレーションや被検試料測定などの様々な操作が行われる。
【００２４】
システム制御部７０は、図示しないＣＰＵと記憶回路を備え、操作部６０から供給される操作者のコマンド信号、測定項目の分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目などの情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部１９を構成する各分析ユニットなどを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、キャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出と出力などシステム全体の制御を行う。
【００２５】
次に、図２乃至図３を参照して、分析部１９及び分析制御部３０の構成の詳細を説明する。図２は、分析部１９のサンプル部２０、試薬部２１、及び反応部２２の構成を説明するための斜視図である。
【００２６】
サンプル部２０は、キャリブレータ、被検試料などのサンプルを収容した試料容器１７と、サンプルを収容した試料容器１７を回動可能に保持するディスクサンプラ６と、ディスクサンプラ６の試料容器１７からサンプルを吸引して反応部２２の吐出位置から吐出し、同一サンプルの吸引及び吐出による分注終了毎に図示しないサンプル分注プローブ洗浄用位置の洗浄プールで洗浄されるサンプル分注プローブ１６と、このサンプル分注プローブ１６をキャリブレータ吸引用位置又は被検試料吸引用位置、反応部２２のサンプル吐出用位置、及びサンプル分注プローブ洗浄用位置の各位置間の水平移動、及び各位置での上降下を可能に保持するサンプル分注アーム１０とを備えている。
【００２７】
サンプル分注アーム１０は、プローブ昇降機構を有する。このプローブ昇降機構は、サンプル分注アーム１０の昇降速度を調整可能に構成される。プローブ昇降機構によるサンプル分注アーム１０の昇降速度は、制御部３２の制御下にある。このプローブ昇降機構によるサンプル分注アーム１０の昇降速度、特に降下速度の制御の詳細については後述する。
【００２８】
また、サンプル部２０は、キャリブレータ吸引用位置又は被検試料吸引用位置に水平移動した後に、降下したサンプル分注プローブ１６の先端部が試料容器１７内のサンプルに突入した時に、そのサンプルの液面を検出する検出器１８ａを備え、検出されたサンプルの検出信号は、分析制御部３０の制御部３２に出力される。そして、サンプル分注プローブ１６は、検出器１８ａからの検出信号に基づく制御部３２の制御により、その液面からサンプルの吸引が可能な所定の深さの吸引位置で停止する。
【００２９】
なお、サンプル分注プローブ１６の停止位置が被検試料の液面から深すぎると、サンプル分注プローブ１６の外側の上方にまでサンプルが付着し、その後、上方に付着したサンプルが下方に移動する。そして、サンプル吐出時には、設定料のサンプルと共に下方に移動したサンプルも吐出されてしまう問題がある。また、同一サンプルの分注終了後に、サンプル分注プローブ洗浄用位置の洗浄プールで洗浄するときに、サンプル分注プローブ１６の外側の上方まで洗浄するのは困難である。このような問題を避けるため、液面からサンプルの吸引が可能な程度の浅い例えば２ｍｍ程度の所定の深さの吸引位置で停止するようになっている。
【００３０】
試薬部２１は、第１試薬部２１ａと第２試薬部２１ｂとで構成されている。第１試薬部２１ａは、サンプルに対して選択的に反応する第１試薬が入った試薬ボトル７ａ、この試薬ボトル７ａを収納する試薬ラック１ａと、この試薬ラック１ａを回動可能に保持する試薬庫２とを備えている。また、第２試薬部２１ｂは、第１試薬と対をなす第２試薬が入った試薬ボトル７ｂと、この試薬ボトル７ｂを収納する試薬ラック１ｂと、この試薬ラック１ｂを回動可能に保持する試薬庫３とを備えている。
【００３１】
また、第１試薬部２１ａは、第１試薬吸引用位置に停止した試薬ボトル７ａから第１試薬を吸引して反応部２２の第１試薬吐出用位置から吐出するプローブであって、第１試薬分注終了毎に第１試薬分注プローブ洗浄用位置の洗浄プールで洗浄される第１試薬分注プローブ１４を備えている。同様に第２試薬部２１ｂは、第２試薬吸引用位置に停止した試薬ボトル７ｂから第２試薬を吸引して反応部２２の第２試薬吐出用位置から吐出するプローブであって、第２試薬分注終了毎に第２試薬洗浄用位置の洗浄プールで洗浄される第２試薬分注プローブ１５を備えている。
【００３２】
更に、第１試薬部２１ａは、第１試薬分注プローブ１４を第１試薬吸引用位置、反応部２２の第１試薬吐出用位置、及び第１試薬分注プローブ洗浄用位置の各位置間で水平移動、及び各位置で上降下を可能に保持する第１試薬分注アーム８を備えている。同様に第２試薬部２１ｂは、第２試薬分注プローブ１５を第２試薬吸引用位置、反応部２２の第２試薬吐出用位置、及び第２試薬分注プローブ洗浄用位置の各位置間で水平移動、及び各位置で上降下を可能に保持する第２試薬分注アーム９を備えている。
【００３３】
反応部２２は、サンプル吐出用位置に停止したサンプル分注プローブ１６から吐出されたサンプルと、第１試薬吐出用位置に停止した第１試薬分注プローブ１４から吐出された第１試薬と、第２試薬吐出用位置に停止した第２試薬分注プローブ１５から吐出された第２試薬とを受入れる円周上に複数配置された反応容器４と、この反応容器４を回転可能に保持する反応ディスク５とを備えている。そして、反応ディスク５は、例えば４．５秒の分析サイクルで反時計回りに回転して停止し、例えば４分析サイクルで１周と１個分の反応容器４を加算した角度だけ回転する。
【００３４】
また、反応部２２は、第１撹拌用位置に停止した反応容器４内のサンプル及び第１試薬の混合液を撹拌する攪拌ユニットであって、この混合液の撹拌終了毎に第１撹拌洗浄用位置の洗浄プールで洗浄する第１撹拌子を、第１撹拌用位置と第１撹拌子洗浄用位置間を回動、及び各位置での上降下を可能に保持する第１撹拌ユニット１１ａを備えている。
【００３５】
また、反応部２２は、第２撹拌用位置に停止した反応容器４内のサンプル、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する攪拌ユニットであって、この混合液の撹拌終了毎に第２撹拌子洗浄用位置の洗浄プールで洗浄する第２撹拌子を、第２撹拌用位置と第２撹拌洗浄用位置間を回動、及び各位置での上降下を可能に保持する第２撹拌ユニット１１ｂを備えている。
【００３６】
更に、反応部２２は、第１或いは第２撹拌後の混合液の入った反応容器４が測光位置を通過する時に光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定して分析信号を生成する測光ユニット１３と、洗浄及び乾燥用位置に停止した反応容器４内の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器４内を洗浄する洗浄ノズル及び乾燥する乾燥ノズルを上降下可能に保持する洗浄ユニット１２とを備えている。そして、反応容器４は、洗浄ユニット１２で洗浄及び乾燥された後、再び測定に使用される。
【００３７】
次に、分析制御部３０の機構部３１の構成を説明する。
この機構部３１は、サンプル部２０のディスクサンプラ６、第１試薬部２１ａの試薬庫２、及び第２試薬部２１ｂの試薬庫３を各回動する機構、反応部２２の反応ディスク５を回転する機構、サンプル部２０のサンプル分注アーム１０、第１試薬部２１ａの第１試薬分注アーム８、第２試薬部２１ｂの第２試薬分注アーム９、反応部２２の第１撹拌ユニット１１ａ、及び第２撹拌ユニット１１ｂを各回動及び上降下する機構、反応部２２の洗浄ユニット１２の上降下を行う機構を備えている。
【００３８】
また、機構部３１は、水などの圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ１６内へのサンプルの吸引や、サンプル分注プローブ１６からのサンプルの吐出を行わせるサンプル分注ポンプ１０ａを駆動する機構を備えている。また、第１試薬分注プローブ１４から第１試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを駆動する機構、第２試薬分注プローブ１５から第２試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを駆動する機構を備えている。また、第１撹拌ユニット１１ａの第１撹拌子を撹拌駆動する機構、第２撹拌ユニット１１ｂの第２撹拌子を撹拌駆動する機構を備えている。また、洗浄ユニット１２の洗浄ノズルから洗浄液の吐出及び吸引を行う洗浄ポンプを駆動する機構を備えている。また、洗浄ユニット１２の乾燥ノズルから吸引を行う乾燥ポンプを駆動する機構等を備えている。
【００３９】
制御部３２は、機構部３１の各機構を制御する制御回路を備えている。制御部３２からの信号に基づき機構部３１は分析サイクル単位で、ディスクサンプラ６、試薬庫２、試薬庫３、反応ディスク５、サンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、第２試薬分注アーム９、第１撹拌ユニット１１ａ、第２撹拌ユニット１１ｂ、洗浄ユニット１２、サンプル分注ポンプ１０ａ、試薬ポンプ、第１撹拌子、第２撹拌子、洗浄ポンプ、乾燥ポンプなどを作動する。
【００４０】
また、制御部３２は、サンプル部２０の検出器１８ａから出力されたサンプルの検出信号に基づいて、機構部３１のサンプル分注アーム１０を駆動する機構（例えば、ステッピングモータ）を制御し、サンプル分注プローブ１６をそのサンプルの吸引位置に停止させる。
【００４１】
図３は、分析部１９のサンプル部２０と反応部２２の構成の一部を上から見た図である。サンプル分注アーム１０は、中央の回動軸を中心として上死点における高さで矢印Ｒ１及びＲ２方向に回動して、上死点におけるサンプル分注プローブ１６を図３に破線で示した移動軌跡に沿って水平移動する。
【００４２】
このサンプル分注プローブ１６の移動軌跡上には、反応部２２上のサンプル吐出用位置Ｔ１と、サンプル部２０上の被検試料吸引用位置Ｔ２及びキャリブレータ吸引用位置Ｔ３と、サンプル吐出用位置Ｔ１と被検試料吸引用位置Ｔ２及びキャリブレータ吸引用位置Ｔ３の間に位置するサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４とがある。そして、サンプル分注プローブ１６は、サンプル吐出用位置Ｔ１と被検試料吸引用位置Ｔ２の間、サンプル吐出用位置Ｔ１とサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４の間、及びサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４と被検試料吸引用位置Ｔ２及びキャリブレータ吸引用位置Ｔ３の間を水平移動する。
【００４３】
即ち、サンプル分注プローブ１６は、被検試料の入った試料容器１７などを保持するディスクサンプラ６がＲ１又はＲ２方向に回動した後、被検試料吸引用位置Ｔ２の下方に停止したところの所定の試料容器１７から被検試料を吸引する。そして、反応部２２上のサンプル吐出用位置Ｔ１に水平移動され、その下方に停止したところの所定の反応容器４に吸引した被検試料を吐出する。その後、その試料容器１７のサンプル分注終了毎にサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４の下方にある洗浄プールで洗浄される。
【００４４】
次に、図１乃至図１０Ｂを参照して、被検試料を分注するサンプル分注動作の詳細を説明する。図４は、被検試料を分注するサンプル分注工程を示した図である。
【００４５】
このサンプル分注工程Ｓ１は、被検試料吸引用位置Ｔ２の試料容器１７に収容された被検試料を１回目に分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０と、被検試料をｎ回目（ｎ≧２）に分注する第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０から構成される。そして、システム制御部７０からの測定の指示に基づいて、分析制御部３０の制御部３２は機構部３１の上述した各機構を制御して反応ディスク５、サンプル分注アーム１０、サンプル分注ポンプ１０ａなどの各分析ユニットを駆動する。
【００４６】
第１のサンプル分注工程Ｓ１０は、被検試料吸引用位置Ｔ２に停止した試料容器１７の被検試料を１回目に分注するときに実行し、第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０は、第１のサンプル分注工程Ｓ１０と同じ要領で同じ被検試料を複数回分注するときのｎ回目の分注のときに実行する。そして、各サンプル分注工程は夫々１分析サイクルの間に実行される。図５は、図４に示した第１のサンプル分注工程Ｓ１０の詳細を示したフローチャートである。第１のサンプル分注工程Ｓ１０は、サンプル分注アーム１０の動作によるステップＳ１１，Ｓ１３，Ｓ１５，Ｓ１６，Ｓ１７，Ｓ１９，Ｓ２０と、サンプル分注ポンプ１０ａの動作によるステップ１２，Ｓ１４，Ｓ１８とにより構成される。また、ステップＳ１２，Ｓ１４におけるサンプル分注ポンプ１０ａによるサンプル分注プローブ１６内への吸引動作を図７Ａ、図７Ｂ、図７Ｃに示す。
【００４７】
まずサンプル分注アーム１０は、図３のＲ２方向に回動してホームポジションであるサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４から被検試料吸引用位置Ｔ２にサンプル分注プローブ１６を水平移動する（ステップＳ１１）。
【００４８】
サンプル分注プローブ１６の水平移動に並行して、サンプル分注ポンプ１０ａは、図７Ａに示したエアの吸引動作を行い、サンプル分注プローブ１６内にエアを吸引させる（ステップＳ１２）。
【００４９】
サンプル分注ポンプ１０ａ内へのエアの吸引後に、サンプル分注アーム１０は、被検試料吸引用位置Ｔ２の下方に停止した測定対象の試料容器１７内の被検試料に向けてサンプル分注プローブ１６を降下する。そして、サンプル分注プローブ１６を第１の速度ｖ１でその被検試料に突入させ、検出器１８ａで検出される検出位置（第１の検出位置）から減速して吸引位置（第１の停止位置）で停止させる（ステップＳ１３）。
【００５０】
なお、以下の説明において、サンプル分注プローブ１６の降下／上昇の動作には、実際には、加速／減速期間が含まれる。つまり、プローブ１６の降下／上昇に際しては、所定速度まで加速し、所定速度に達した時点で定速移動に移行し、減速して停止する。ここでは説明の便宜上、加速／減速についての説明は省略する。
【００５１】
サンプル分注プローブ１６の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、被検試料を測定するための１回目の被検試料の吸引動作を行う。この時、試料容器１７からサンプル分注プローブ１６内に図７Ｂに示すように測定に使用しないダミーの被検試料を吸引させた後、１回目の分注として図７Ｃに示すように予め設定されたサンプル量に応じた測定用の被検試料を吸引させる（ステップＳ１４）。
【００５２】
なお、被検試料は、サンプル分注ポンプ１０ａとサンプル分注プローブ１６間の流路に封入された圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ１６から吸引及び吐出される。サンプル分注プローブ１６内に吸引された測定用の１回目の被検試料と圧力伝達媒体の間には、エアの層及び測定に使用されないダミーの被検試料層が設けられる。このエア層及びダミー層により圧力伝達媒体の混入による測定用の被検試料の希釈を防ぐことができる。 １回目の被検試料の吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を被検試料吸引用位置Ｔ２まで上昇する（ステップＳ１５）。
【００５３】
被検試料吸引用位置Ｔ２への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、図３のＲ１方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に水平移動する（ステップＳ１６）。
【００５４】
サンプル吐出用位置Ｔ１への水平移動後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止した反応容器４の吐出位置まで降下する（ステップＳ１７）。
【００５５】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、１回目の被検試料をサンプル分注プローブ１６から反応容器４に吐出させる（ステップＳ１８）。
【００５６】
１回目の被検試料吐出動作の後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１まで上昇する（ステップＳ１９）。
【００５７】
サンプル吐出用位置Ｔ１への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、Ｒ２方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をホームポジションに水平移動する（ステップＳ２０）。
【００５８】
図６は、図４に示した第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０の詳細を示したフローチャートである。第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０は、サンプル分注アーム１０の動作によるステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３４，Ｓ３５，Ｓ３６，Ｓ３８，Ｓ３９と、サンプル分注ポンプ１０ａの動作によるステップ３３，Ｓ３７とにより構成される。また、ステップＳ３３におけるサンプル分注ポンプ１０ａによるサンプル分注プローブ１６内への吸引動作を図７Ｄに示す。
【００５９】
サンプル分注アーム１０は、Ｒ２方向に回動してホームポジションから被検試料吸引用位置Ｔ２にサンプル分注プローブ１６を水平移動する（ステップＳ３１）。
【００６０】
サンプル分注プローブ１６の水平移動後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を降下する。この時、サンプル分注プローブ１６を第１の速度ｖ１よりも遅い第２の速度ｖ２で１回目と同じ被検試料に突入させ、検出器１８ａで検出位置（第ｎの検出位置）から減速して吸引位置（第ｎの停止位置）で停止させる（ステップＳ３２）。サンプル分注プローブ１６の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、１回目と同じ被検試料に対するｎ回目の分注における被検試料の吸引動作を行う。この時、図７Ｄに示すように、１回目に吸引したエア及びダミーの被検試料を残した状態で、ｎ回目の設定サンプル量に応じた測定用の被検試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引させる（ステップＳ３３）。
【００６１】
ｎ回目の被検試料の吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を被検試料吸引用位置Ｔ２まで上昇する（ステップＳ３４）。
【００６２】
被検試料吸引用位置Ｔ２への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、Ｒ１方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に水平移動する（ステップＳ３５）。
【００６３】
サンプル吐出用位置Ｔ１への水平移動後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止した反応容器４の吐出位置まで降下する（ステップＳ３６）。
【００６４】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、ｎ回目の被検試料をサンプル分注プローブ１６から反応容器４に吐出させる（ステップＳ３７）。
【００６５】
ｎ回目の被検試料吐出動作の後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１まで上昇する（ステップＳ３８）。
【００６６】
サンプル吐出用位置Ｔ１への上昇後に、サンプル分注アーム１０は、Ｒ２方向に回動してサンプル分注分注プローブ１６をホームポジションに水平移動する（ステップＳ３９）。
【００６７】
そして、同一被検試料の最後の測定項目のサンプル分注が終了した次の分析サイクルで、サンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４に設けられる洗浄プールで、サンプル分注プローブ１６からエア及びダミーの被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６を洗浄するための動作を行う。洗浄後に、サンプル分注プローブ１６は、ホームポジションに上昇して次の被検試料の分注に備えて待機する。
【００６８】
このように、第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０では、第１のサンプル分注工程Ｓ１０におけるステップＳ１２のサンプル分注プローブ１６内へのエア吸引動作、及びステップＳ１４のサンプル分注プローブ１６内へのダミーの被検試料の吸引動作を含んでいない。１サンプル分注工程は１分析サイクルと設定していることから、第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０では、第１のサンプル分注工程Ｓ１０のステップＳ１２，Ｓ１４の動作時間を、ステップＳ３２の動作時間に割り当てることができる。
【００６９】
図８は、図５及び図６に示した第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０における各ステップのタイミングを示したタイミングチャートである。
【００７０】
このタイミングチャート８０の上側には、第１のサンプル分注工程Ｓ１０のステップＳ１１乃至Ｓ２０に対応したサンプル分注アーム１０の回動及び上降下とサンプル分注ポンプ１０ａの吸引及び吐出の動作タイミングが表されている。また、下側には第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０のステップＳ３１乃至Ｓ３９に対応したサンプル分注アーム１０の回動及び上降下とサンプル分注ポンプ１０ａの吸引及び吐出の動作タイミングが表されている。
【００７１】
そして、各動作のタイミングは、各測定項目の分析条件に最大サンプル量が設定されたときに、１分析サイクルの間にディスクサンプラ６に配置され吸引が可能な最低の高さに被検試料の液面を設定した試料容器１７から、最大サンプル量の被検試料を吸引し、更に反応容器４に吸引した最大サンプル量の被検試料を吐出することが可能なように割り当てられている。
【００７２】
まず、第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０におけるサンプル分注アーム１０の動作のタイミングを説明する。タイミングチャート８０の第１のサンプル分注工程Ｓ１０におけるステップＳ１１，Ｓ１３，Ｓ１５，Ｓ１６，Ｓ１７，Ｓ１９，Ｓ２０、及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０におけるステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３４，Ｓ３５，Ｓ３６，Ｓ３８，Ｓ３９の「回動」、「降下」、及び「上昇」は、サンプル分注アーム１０の回動動作及び上降下動作と時間を示している。
【００７３】
また、ステップＳ１３，Ｓ３２の「降下」及びステップＳ１５，Ｓ３４の「上昇」には、吸引が可能な最低の高さに被検試料の液面を設定した試料容器１７内の吸引位置と被検試料吸引用位置Ｔ２の間を上降下するのに要する時間が割り当てられている。
【００７４】
第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０のステップＳ１１，Ｓ１６，Ｓ２０，Ｓ３１，Ｓ３５，Ｓ３９における「水平移動」の動作開始及び終了タイミングは分析サイクル毎に不変である。また、ステップＳ１３，Ｓ１５，Ｓ１７，Ｓ１９，Ｓ３２，Ｓ３４，Ｓ３６，Ｓ３８における「降下」及び「上昇」における分析サイクル毎の動作開始のタイミングも不変であり、動作終了タイミングは試料容器１７内の被検試料の液面の高さによって変わる。即ち、その被検試料の液面が低い位置にあるほど「降下」及び「上昇」に時間を要し、動作終了のタイミングが遅くなる。
【００７５】
次に、第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０におけるサンプル分注ポンプ１０ａの動作のタイミングを説明する。タイミングチャート８０の第１のサンプル分注工程Ｓ１０におけるステップＳ１２，Ｓ１４，Ｓ１８及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０におけるステップＳ３３，Ｓ３７の「エア吸引」、「被検試料吸引」、及び「被検試料吐出」は、サンプル分注ポンプ１０ａのエア吸引動作、被検試料吸引動作、及び被検試料吐出動作とその動作時間に対応している。この動作時間には、各測定項目の分析条件に最大サンプル量が設定されたときに、その最大サンプル量を吸引及び吐出するのに要する時間が割り当てられている。
【００７６】
第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０の各ステップにおける動作開始タイミング、及びステップＳ１２における「エア吸引」の動作終了のタイミングは不変であり、ステップＳ１４，Ｓ１８，Ｓ３３，Ｓ３７における動作終了のタイミングは、測定項目毎に設定されたサンプル量によって変わる。即ち、設定されたサンプル量が多いほど「被検試料吸引」及び「被検試料吐出」に時間を要し、動作終了のタイミングが遅くなる。
【００７７】
次に、第１及び第ｎのサンプル分注工程Ｓ１０，Ｓ３０共に同じ動作が含まれるステップの動作タイミングを対比させて説明する。
【００７８】
ステップＳ１１は、ステップＳ３１と同じタイミングで動作を開始し、同じ動作時間が割り当てられている。ステップＳ１５乃至Ｓ２０は、夫々ステップＳ３４乃至Ｓ３９と同じタイミングで動作を開始し、同じ動作時間が割り当てられている。
【００７９】
ステップＳ１４は、「被検試料吸引」の内のダミーの被検試料を吸引する分だけステップＳ３３よりも早く動作を開始し、同じ動作終了タイミングが割り当てられている。
【００８０】
被検試料吸引用位置Ｔ２から被検試料の吸引位置にサンプル分注プローブ１６を降下させるステップＳ３２では、ステップＳ１２の「エア吸引」の動作がないのでステップＳ１３よりも早いタイミングで動作を開始し、ステップＳ１４で吸引する被検試料の内のダミーの吸引が不要な分だけステップＳ１３よりも遅い動作終了タイミングが割り当てられている。これにより、ステップＳ３２では、サンプル分注プローブ１６を第１の速度ｖ１よりも遅い第２の速度ｖ２で試料容器１７内の被検試料に突入させることができる。
【００８１】
図９Ａ、図９Ｂは、ステップＳ１３，Ｓ３２におけるサンプル分注プローブ１６の降下動作の一例を示した図である。図９Ａは、図１０Ａ（一点鎖線）とともに、ステップＳ１３でプローブ起点（最も高い位置）Ｔ２から最下点（第１の停止位置）まで降下するサンプル分注プローブ１６の１回目の動作を示している。図９Ａに示すように、サンプル分注プローブ１６は、突入前区間Ｌ11において、速度Ｖ11で降下する。サンプル分注プローブ１６は、その速度Ｖ12（Ｖ12＝Ｖ11）を維持したまま、液面を中心としたその前後所定距離の区間（突入区間）Ｌ12を通過して、所定の最下位置で停止する。突入区間Ｌ12のいずれかの位置で、サンプル分注プローブ１６は試料容器１７内の被検試料に突入する。突入前区間Ｌ11から突入区間Ｌ12にわたって一定速度で降下するのは、液面の高さが不明であることをその理由とする。
【００８２】
図９Ｂは、図１０Ａ（二点鎖線）とともに、ステップＳ３２でプローブ起点Ｔ２から最下点まで降下するサンプル分注プローブ１６の２回目以降の動作を示している。なお、２回目以降では、制御部３２は、１回目の降下動作の中でプローブ１６の先端に取り付けられたセンサの出力変化に基づいて被検試料の液面の高さを認識している。従って２回目以降のプローブ１６の降下動作では、突入前区間Ｌ21と、突入区間Ｌ22とは区別されることができる。
【００８３】
図９Ｂに示すように、サンプル分注プローブ１６は、突入前区間Ｌ21において、速度Ｖ21で降下する。速度Ｖ21は、後述の突入区間Ｌ22の降下速度Ｖ22より速く設定される。また、速度Ｖ21は、１回目の降下動作における突入前区間Ｌ11の降下速度Ｖ11よりも速く設定される。
【００８４】
突入前区間Ｌ21を高速で通過して突入区間Ｌ22において、サンプル分注プローブ１６の降下速度Ｖ22は、突入前区間Ｌ21の速度Ｖ21よりも遅くされる。この降下速度Ｖ22は、１回目の突入区間Ｌ12の速度Ｖ12よりも遅くされる。その遅い降下速度Ｖ22を維持したまま、突入区間Ｌ22のほぼ中央位置で、サンプル分注プローブ１６は試料容器１７内の被検試料に突入する。
【００８５】
サンプル分注プローブ１６が被検試料にできるだけ遅い速度で突入することにより、その被検試料の分注精度の悪化を抑制でき、またコンタミネーションを軽減できる。
【００８６】
ステップＳ３２のｎ回目の動作で、サンプル分注プローブ１６の降下に使うことができる時間Ｔｎは、図８のｎ回目のサンプル分注工程を１回目のサンプル分注工程と比較して理解され得るように、１回目の降下に要する時間Ｔ１よりも長時間を確保することができる。その理由は、１回目の動作で必要であったエア−吸引及びダミー吸引がｎ回目の動作では不要になることにある。
【００８７】
上記の通り、制御部３２は、被検試料の１回目の吸引のための被検試料の液面へのサンプル分注プローブ１６の突入速度よりも、被検試料のｎ回目（ｎ≧２）の吸引のための被検試料の液面へのサンプル分注プローブ１６の突入速度を遅くする。制御部３２は、ｎ回目の吸引において、被検試料の液面を中心とした前後所定距離の区間Ｌ22におけるサンプル分注プローブ１６の突入速度Ｖ22よりも速い速度Ｖ21で、サンプル分注プローブ１６を突入の前段階の区間Ｌ21を降下させるためにプローブ昇降機構を制御する。制御部３２は、１回目の吸引において、プローブ１６を一定速度で降下させる。制御部３２は、１回目の吸引においてプローブ１６を一定の速度Ｖ11（＝Ｖ12）で降下させ、ｎ回目の吸引において被検試料の液面へのプローブ１６の突入速度Ｖ22よりも速く且つ速度Ｖ11よりも速い速度Ｖ21で降下させる。
【００８８】
図１０Ｂに示すように、制御部３２は、１回目の吸引においてプローブ１６を区間Ｌ11,Ｌ12にわたって、一定速度Ｖ11で降下させ、ｎ回目の吸引においてプローブ１６を区間Ｌ21,Ｌ22にわたって、速度Ｖ11よりも遅い一定速度Ｖ21（＝Ｖ22）で降下させてもよい。
【００８９】
なお、上記実施例に限定されるものではなく、ｎ回目の吸引のときに、サンプル分注プローブ１６を第２の速度ｖ２よりも遅い第３の速度ｖ３で試料容器１７内の被検試料に突入させるようにしてもよい。この場合の実施例を以下に説明する。
【００９０】
（ｎ−１）回目の吸引に際し、被検試料吸引用位置Ｔ２から第（ｎ−１）の検出位置までサンプル分注プローブ１６を降下させるためにサンプル分注アーム１０の駆動機構の例えばステッピングモータに供給した駆動パルス数を制御部３２の内部記憶回路に記憶しておく。そして、その記憶した駆動パルス数に基づいて被検試料吸引用位置Ｔ２から第（ｎ−１）の検出位置よりも上方の第（ｎ−１）ａの位置、及び第（ｎ−１）ａの位置よりも下方で第（ｎ−１）の検出位置よりも上方の第（ｎ−１）ｂの位置にサンプル分注プローブ１６を降下させるのに要する駆動パルス数を制御部３２に算出させる。
【００９１】
そして、ｎ回目の吸引のときに、（ｎ−１）回目の吸引のときに算出した駆動パルス数に基づいて、サンプル分注プローブ１６を被検試料吸引用位置Ｔ２から第１の速度ｖ１よりも速い第４の速度ｖ４で第（ｎ−１）aの位置まで降下する。次いで、第（ｎ−１）ａの位置から第（ｎ−１）ｂの位置まで減速した後、一旦停止し又は連続して第（ｎ−１）ｂの位置から第４の速度ｖ４よる降下で余った時間を割り当てることにより可能となる第２の速度ｖ２よりも遅い第３の速度ｖ３でサンプル分注プローブ１６を降下して試料容器１７内の被検試料に突入させ、検出器１８ａで検出される第ｎの検出位置から減速して第ｎの停止位置で停止させるようにする。これにより、第２の速度ｖ２よりも遅い第３の速度ｖ３で被検試料に突入させることができるので、停止位置に停止させたときの衝撃を第２の速度ｖ２のときよりも小さくすることができる。
【００９２】
このように、被検試料をｎ回目に吸引するときに、１回目の第１の速度ｖ１よりも遅い第２の速度ｖ２又は第３の速度ｖ３で試料容器１７の被検試料にサンプル分注プローブ１６を突入させることにより、吸引位置で停止させたときの衝撃を１回目よりも小さくすることができる。これにより、２回目以降の分注でサンプル分注プローブ１６内の１回目の吸引で形成されたエア層が薄くなるのを低減し、この低減により１回目に吸引したダミー被検試料が希釈されるのを低減することが可能となり、同一の被検試料を複数回分注したときの２回目以降の被検試料を精度よく分注することができる。
【００９３】
また、実際に動作させた実験結果によれば、サンプル分注プローブ１６を介して、前に分注した被検試料が、次の被検試料が収容された試料容器内１７内に持ち込まれるを低減することができる。
【００９４】
次に、図１乃至図１３を参照して、自動分析装置１００の動作を説明する。図１１は、自動分析装置１００の動作の一例を示したフローチャートである。図１２は、表示部５２に表示される測定項目設定画面の一例を示す。図１３は、測定項目設定画面から選択入力された被検試料毎の各測定項目に対応するサンプル分注工程を示す。
【００９５】
操作部６０からのキャリブレーション操作により、分析データ処理部４０の記憶部４２には予め各測定項目のキャリブレーションテーブルが保存されている。また、操作部６０からの測定項目選択入力により、システム制御部７０の内部記憶回路には、被検試料毎に選択入力された測定項目が保存されている。
【００９６】
図１２は、表示部５２に表示される選択入力された測定項目設定画面の一例を示した図である。この測定項目設定画面５３は、被検体情報入力画面で入力された被検体のＩＤを表示する「ＩＤ」の欄と、項目名を略称で表示する「項目」の欄と、「ＩＤ」の欄に表示された被検体のＩＤ毎に「項目」の欄に表示された項目名の測定項目を設定するための測定項目設定エリア５３ａから構成される。
【００９７】
「ＩＤ」の欄には、予め入力された例えば「１」乃至「３」の被検体のＩＤが表示されている。また、「項目」の欄には、例えば「ＧＯＴ」、「ＧＰＴ」、「Ｃａ」、「ＴＰ」などの項目名が表示されている。
【００９８】
測定項目設定エリア５３ａには、「ＩＤ」の欄の各被検体のＩＤに対応した「項目」の欄の項目名が設定された場合には「○」が表示され、設定されない場合には「・」が表示される。そして、操作部６０から例えば「ＩＤ」の欄に表示された「１」に対して、「ＧＯＴ」、「ＧＰＴ」、「Ｃａ」、及び「ＴＰ」が設定されると、測定項目設定エリア５３ａに１テスト乃至４テスト欄に「○」が表示される。
【００９９】
また、「ＩＤ」の欄に表示された「２」に対して「ＧＰＴ」及び「ＴＰ」が設定されると、測定項目設定エリア５３ａに５テスト及び６テスト欄に「○」が表示され、「ＩＤ」の欄に表示された「３」に対して「Ｃａ」が設定されると、測定項目設定エリア５３ａに７テスト欄に「○」が表示される。
【０１００】
測定項目設定画面５３から設定入力された測定項目設定情報は、システム制御部７０の内部記憶回路に保存される。そして、被検試料の測定は測定項目設定画面５３から選択入力された測定項目の情報に基づいて行われ、「ＩＤ」の最上段の「１」に対応した被検試料から順に、各被検体のＩＤの左の設定された測定項目「ＧＯＴ」から順に測定されることになる。
【０１０１】
まず、操作部６０からの測定開始操作により、自動分析装置１００は動作を開始する（図１１のステップＳ１）。
【０１０２】
システム制御部７０は、分析制御部３０、分析データ処理部４０、及び出力部５０に、内部記憶回路に保存されている被検試料毎の測定項目の測定を指示する。分析制御部３０の制御部３２は、分析部１９の各分析ユニットを一旦ホームポジションに移動させてから測定動作を開始させる（図１１のステップＳ２）。
【０１０３】
図１３に示すように、測定動作を開始した分析部１９は、１分析サイクルにて測定項目設定画面５３で選択入力された被検体ＩＤ「１」の「ＧＯＴ」を測定するための被検試料を分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０を実行する。また、２乃至４分析サイクルにて「ＧＰＴ」、「Ｃａ」、及び「ＴＰ」を測定するための第２乃至第４のサンプル分注工程Ｓ３０を実行する（図１１のステップＳ３）。
【０１０４】
第１のサンプル分注工程Ｓ１０では、サンプル分注アーム１０は、Ｒ１方向に回動してサンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４から被検体ＩＤ「１」の被検試料を収容した試料容器１７が停止した被検試料吸引用位置Ｔ２に水平移動する。サンプル分注プローブ１６の水平移動動作と並行して、サンプル分注ポンプ１０ａはサンプル分注プローブ１６内にエアを吸引させる。
【０１０５】
サンプル分注ポンプ１０ａのエア吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、被検試料吸引用位置Ｔ２でサンプル分注プローブ１６を降下して第１の速度ｖ１でその被検試料に突入させ、更に検出器１８ａに検出される第１の検出位置から減速して第１の停止位置で停止させる。
【０１０６】
サンプル分注プローブ１６の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注プローブ１６内にダミーの被検試料及び「ＧＯＴ」（図１２の１テスト）の被検試料を試料容器１７から吸引する動作を行う。
【０１０７】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吸引動作後に、サンプル分注アーム１０は、上昇、Ｒ２方向への回動、及び降下動作により、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止した反応容器４の吐出位置に移動する。
【０１０８】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注プローブ１６から「ＧＯＴ」の被検試料を反応容器４に吐出させる。
【０１０９】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吐出動作後に、サンプル分注アーム１０は、上昇及びＲ１方向への回動により、サンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４に移動する。
【０１１０】
被検体ＩＤ「１」の「ＧＰＴ」の被検試料を分注するための第２のサンプル分注工程Ｓ３０は、第１のサンプル分注工程Ｓ１０から連続して実行される。
【０１１１】
サンプル分注アーム１０は、Ｒ１方向に回動してサンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４から被検試料を収容した試料容器１７の被検試料吸引用位置Ｔ２に水平移動した後、更に降下して第２の速度ｖ２で被検体ＩＤ「１」の被検試料に突入させ、更に検出器１８ａに検出される第２の検出位置から減速して第２の停止位置で停止させる。
【０１１２】
サンプル分注プローブ１６の下移後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注プローブ１６内に「ＧＰＴ」（図１２の２テスト）の被検試料を吸引させる。
【０１１３】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吸引後に、サンプル分注アーム１０は、上昇、Ｒ２方向への回動、及び降下動作により、サンプル分注プローブ１６をサンプル吐出用位置Ｔ１に停止している反応容器４の吐出位置に移動する。
【０１１４】
サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注ポンプ１０ａは、吸引動作を行い、サンプル分注プローブ１６から「ＧＰＴ」の被検試料を反応容器４に吐出させる。
【０１１５】
サンプル分注ポンプ１０ａの被検試料吐出後に、サンプル分注アーム１０は、上昇及びＲ１方向への回動により、サンプル分注プローブ１６をサンプル分注プローブ洗浄用位置Ｔ４に移動する。
【０１１６】
次に、図１３の３及び４分析サイクルでは、分析部１９は、２分析サイクルの動作と同様にして、夫々被検体ＩＤ「１」の「Ｃａ」及び「ＴＰ」の被検試料を分注するための第３及び第４のサンプル分注工程Ｓ３０を実行する。
【０１１７】
次に、図１３の５分析サイクルでは、分析部１９は、サンプル分注プローブ１６内のエア及び被検体ＩＤ「１」のダミー被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６に付着した被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄動作を実行する（図１１のステップＳ４）。
【０１１８】
即ち、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６の先端部がサンプル分注プローブ洗浄用位置に設けられた洗浄プールの洗浄液吐出口に達するまで降下して停止する。
【０１１９】
サンプル分注ポンプ１０ａは、サンプル分注アーム１０の降下後に、サンプル分注プローブ１６の内壁洗浄を行う。また、洗浄プールの洗浄液吐出口からの洗浄液によりサンプル分注プローブ１６の外壁も洗浄される。
【０１２０】
サンプル分注プローブ１６の洗浄の後に、図１３の６分析サイクルでは、分析部１９は、被検体ＩＤ「２」の「ＧＰＴ」を測定するための被検試料を分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０を実行し、図１３の７分析サイクルでは、被検体ＩＤ「２」の「ＴＰ」を測定するための被検試料を分注する第２のサンプル分注工程Ｓ３０を実行し（図１１のステップＳ５）。
【０１２１】
そして、図１３の８分析サイクルでは、分析部１９は、サンプル分注プローブ１６内のエア及び被検体ＩＤ「２」のダミー被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６に付着した被検体ＩＤ「２」の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄動作をする（図１１のステップＳ６）。
【０１２２】
次に、図１３の９分析サイクルでは、分析部１９は、被検体ＩＤ「３」の「Ｃａ」を測定するための被検試料を分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０を実行する（図１１のステップＳ７）。
【０１２３】
そして、図１３の１０分析サイクルでは、分析部１９は、サンプル分注プローブ１６内のエア及び被検体ＩＤ「３」のダミー被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６に付着した被検体ＩＤ「３」の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄動作をする（図１１のステップＳ８）。
【０１２４】
これらの動作を繰り返し実行して、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料を分注しサンプル分注プローブ洗浄動作をした後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料が分注された反応容器４が第１試薬吐出用位置に停止した時に、第１試薬分注プローブ１４から各反応容器４の測定項目に該当する第１試薬が吐出される（図１１のステップＳ９）。第１試薬が吐出された後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料と第１試薬の混合液が入った反応容器４が第１撹拌位置に停止した時に、第１撹拌ユニット１１ａの第１撹拌子によって各反応容器４内の混合液が撹拌される（図１１のステップＳ１０）。
【０１２５】
第１の撹拌の後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料と第１試薬の混合液が入った反応容器４が第２試薬吐出用位置に停止した時に、第２試薬分注プローブ１５から各反応容器４に「ＧＯＴ」、「ＧＰＴ」、「Ｃａ」の２試薬系の測定項目に該当する第２試薬が吐出される（図１１のステップＳ１１）。
【０１２６】
第２試薬の吐出の後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液が入った反応容器４が第２撹拌用位置に停止した時に、第２撹拌ユニット１１ｂの第２撹拌子によって反応容器４内の混合液が撹拌される（図１１のステップＳ１２）。
【０１２７】
第２の撹拌の後に、被検試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液や、被検試料及び第１試薬の混合液が入った反応容器４が測光位置を通過した時に、測光ユニット１３は、反応容器４に光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定する。そして、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料の各測定項目の分析信号を生成して分析データ処理部４０に出力する（図１１のステップＳ１３）。
【０１２８】
測定の後に、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の被検試料の混合液が入った反応容器４が洗浄及び乾燥用位置に停止した時に、洗浄ユニット１２は、反応容器４内の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器４内を洗浄及び乾燥する（図１１のステップＳ１４）。分析データ処理部４０の演算部４１は、測光ユニット１３から出力された分析信号から各被検試料の各測定項目の分析データを生成して記憶部４２に保存すると共に、出力部５０に出力する（図１１のステップＳ１５）。
【０１２９】
そして、全ての反応容器４の洗浄及び乾燥が終了し、被検体ＩＤ「１」乃至「３」の全ての測定項目の分析データが出力された時点で、自動分析装置１００は、測定動作を終了する（図１１のステップＳ１６）。
【０１３０】
以上述べた本発明の実施例によれば、同じ被検試料を複数回分注する場合、１回目の分注の動作の内の２回目以降の分注で不要となる動作の時間を、試料容器１７の上方から被検試料を吸引するために降下するサンプル分注プローブ１６の動作時間に割り当てることにより、２回目以降の分注における吸引のときに１回目よりも遅い速度でサンプル分注プローブ１６を試料容器１７内の被検試料に突入させることができる。これにより、同一の被検試料を複数回分注したときの２回目以降における被検試料の分注精度の向上が可能となり、被検試料を精度よく測定することができる。
【０１３１】
なお、本発明は上記実施例そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施例に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施例に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施例にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【０１３２】
１００…自動分析装置、１９…分析部、３０…分析制御部、４０…分析データ処理部、５０…出力部、６０…操作部、７０…システム制御部。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作は行われ、前記第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、前記第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
前記試料容器内の前記被検試料の液面を検出する液面検出部と、
所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための第１の被検試料の吸引動作の後に、前記複数の測定項目のうちの第２測定項目の測定のための第２の被検試料の吸引動作が行われ、前記第１の吸引動作の際に前記液面検出部によって検出された液面高さに基づく所定区間における第１の被検試料の吸引動作の際の前記試料プローブの下降速度よりも、前記所定区間における第２の被検試料の吸引動作の際の前記試料プローブの下降速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
前記第１測定項目のための前記被検試料の吸引動作は、前記複数の測定項目のための前記被検試料の吸引動作の中で、最初に行われることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作と、前記第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作とが連続で行われることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記試料分注プローブを洗浄する洗浄部を更に備え、
前記制御部は、前記洗浄部が前記試料プローブの洗浄動作を行った後に所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作が行われ、当該第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作は行われるように前記プローブ昇降機構を制御することを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項６】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
第１の被検試料についての試料プローブによる複数回の吸引動作の後に第２の被検試料について試料プローブによる吸引動作を行う場合、前記第１の被検試料についての前記試料プローブによる前記複数回の吸引動作のうち最後の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、前記第２の被検試料についての前記試料プローブによる吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項７】
前記試料分注プローブを洗浄する洗浄部を更に備え、
前記制御部は、前記第１の被検試料についての試料プローブによる複数回の吸引動作後、前記洗浄部が前記試料プローブの洗浄動作を行った後に前記第２の被検試料について試料プローブによる吸引動作を行うように前記プローブ昇降機構を制御することを特徴とする請求項６記載の自動分析装置。
【請求項８】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
前記試料分注プローブを洗浄する洗浄部と、
前記洗浄部による前記試料分注プローブの洗浄を行った直後の前記被検試料の吸引動作における前記前記試料プローブの試料液面への突入速度よりも、前記試料分注プローブの洗浄を行った直後の前記被検試料の吸引動作以外の吸引動作における前記前記試料プローブの試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項１】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作は行われ、前記第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、前記第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
前記試料容器内の前記被検試料の液面を検出する液面検出部と、
所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための第１の被検試料の吸引動作の後に、前記複数の測定項目のうちの第２測定項目の測定のための第２の被検試料の吸引動作が行われ、前記第１の吸引動作の際に前記液面検出部によって検出された液面高さに基づく所定区間における第１の被検試料の吸引動作の際の前記試料プローブの下降速度よりも、前記所定区間における第２の被検試料の吸引動作の際の前記試料プローブの下降速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
前記第１測定項目のための前記被検試料の吸引動作は、前記複数の測定項目のための前記被検試料の吸引動作の中で、最初に行われることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作と、前記第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作とが連続で行われることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記試料分注プローブを洗浄する洗浄部を更に備え、
前記制御部は、前記洗浄部が前記試料プローブの洗浄動作を行った後に所定の被検試料に設定される複数の測定項目のうちの第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作が行われ、当該第１測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作の後に、第２測定項目の測定のための前記被検試料の吸引動作は行われるように前記プローブ昇降機構を制御することを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
【請求項６】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
第１の被検試料についての試料プローブによる複数回の吸引動作の後に第２の被検試料について試料プローブによる吸引動作を行う場合、前記第１の被検試料についての前記試料プローブによる前記複数回の吸引動作のうち最後の吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度よりも、前記第２の被検試料についての前記試料プローブによる吸引動作における前記試料プローブの前記試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【請求項７】
前記試料分注プローブを洗浄する洗浄部を更に備え、
前記制御部は、前記第１の被検試料についての試料プローブによる複数回の吸引動作後、前記洗浄部が前記試料プローブの洗浄動作を行った後に前記第２の被検試料について試料プローブによる吸引動作を行うように前記プローブ昇降機構を制御することを特徴とする請求項６記載の自動分析装置。
【請求項８】
被検試料を試料容器から吸引し、反応容器に吐出するための試料プローブと、
前記試料容器に対して前記試料プローブを昇降するプローブ昇降機構と、
前記試料分注プローブを洗浄する洗浄部と、
前記洗浄部による前記試料分注プローブの洗浄を行った直後の前記被検試料の吸引動作における前記前記試料プローブの試料液面への突入速度よりも、前記試料分注プローブの洗浄を行った直後の前記被検試料の吸引動作以外の吸引動作における前記前記試料プローブの試料液面への突入速度を遅くするように前記プローブ昇降機構を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする自動分析装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７Ａ】
【図７Ｂ】
【図７Ｃ】
【図７Ｄ】
【図８】
【図９Ａ】
【図９Ｂ】
【図１０Ａ】
【図１０Ｂ】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７Ａ】
【図７Ｂ】
【図７Ｃ】
【図７Ｄ】
【図８】
【図９Ａ】
【図９Ｂ】
【図１０Ａ】
【図１０Ｂ】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【公開番号】特開２０１２−８３３６９（Ｐ２０１２−８３３６９Ａ）
【公開日】平成２４年４月２６日（２０１２．４．２６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−１７２３４（Ｐ２０１２−１７２３４）
【出願日】平成２４年１月３０日（２０１２．１．３０）
【分割の表示】特願２００７−１５１９８（Ｐ２００７−１５１９８）の分割
【原出願日】平成１９年１月２５日（２００７．１．２５）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年４月２６日（２０１２．４．２６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２４年１月３０日（２０１２．１．３０）
【分割の表示】特願２００７−１５１９８（Ｐ２００７−１５１９８）の分割
【原出願日】平成１９年１月２５日（２００７．１．２５）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【Ｆターム（参考）】
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