自動分析装置
【課題】試料ラックに保持される試料容器内の液体サンプリングの位置を常に単一位置に
固定することで試料分注精度の向上を図ることができる自動分析装置を提供する。
【解決手段】試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサ
ンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及
び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ
１６による試料吸引ができる自動分析装置。
固定することで試料分注精度の向上を図ることができる自動分析装置を提供する。
【解決手段】試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサ
ンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及
び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ
１６による試料吸引ができる自動分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、被検体から採取された被検試料等の液体に含まれる成分を分析す
る自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動分析装置は、被検体から採取された被検試料と各検査項目の試薬に含まれる各成分
との反応によって生ずる色調変化や濁り変化を光学的に測定し、被検試料中の各検査項目
の成分濃度や酵素活性で表される分析データを生成する。
【０００３】
この自動分析装置は、サンプラ部と、サンプル分注プローブとを備えている。サンプラ
部は、各検査項目の標準試料、管理試料、被検試料等の試料を収容する試料容器を移動可
能に保持する。サンプル分注プローブは、試料容器内の試料を吸引して、試薬と反応させ
るために反応容器へ排出する。
【０００４】
自動分析装置のサンプラには、試料容器を保持する複数のラックを平行移動させるラッ
ク方式サンプラ（以下、単に、「ラック・サンプラ」と言う）と、複数のラックを回動可
能に支持するディスク方式サンプラ（以下、単に、「ディスク・サンプラ」と言う）があ
る。
【０００５】
ディスク・サンプラは、被検試料を収容した試料容器を、サンプル分注プローブで吸引
可能な位置に繰り返して停止させることができる。このため、ディスク・サンプラには、
一般患者試料容器の他に、一定間隔で繰り返して機器標準の検量（キャリブレーション）
測定を行う試料(以下、“標準”試料)を入れた試料容器や、データ精度管理の試料(以下
、“管理”試料)を入れた試料容器が載置される。これに対し、ラック・サンプラは、被
検試料ラックの設置能力の大きく、測定中に割り込み処理が可能であるので、一定間隔で
の繰り返し測定が不要な一般患者試料（以下、“一般”試料）を収容した試料容器が載置
される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平８−３５９７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述のように、ラック・サンプラは、大量の検体設置が可能で、且つ、測定中の割り込
み処理が可能である。しかし、検量測定や制御測定が難しいという課題がある。一方、デ
ィスク・サンプラは、検量測定や制御測定がしやすい反面、測定中の緊急患者試料（以下
、“緊急”試料）の割り込み処理が難にくい。更に、分注プローブのサンプリング位置が
複数箇所となり、サンプリング性能差が生じやすく測定精度が低下する問題がある。
【０００８】
本発明を解決しようとする課題は、上記問題点を解決し、試料分注精度の向上した自動
分析装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
実施形態による自動分析装置は、少なくとも一つの試料容器を保持する試料ラックを第
１のサンプラから第２のサンプラに移動する。第２サンプラに移動した試料ラックを固定
されたサンプリング位置に水平移動する。更に、その位置で試料ラックを上下方向に移動
させることで、常に単一の位置で、試料ラックに保持される試料容器内の液体吸引をする
ことができる。
【００１０】
上記目的を達成するために、実施形態の自動分析装置は、試料を収容する試料容器を保
持するための複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１のサンプラ部と、前記第１のサ
ンプラ部に設けられ、測定対象試料容器を収容する対象試料ラックを当該第１のサンプラ
部外へ移送する第１の移動機構と、前記第１の移動機構で移送される前記測定対象試料ラ
ックに保持される複数の試料容器の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、前記
第１の移動機構により前記第１のサンプラ部外へ移動された前記測定対象試料ラックを移
動可能に搭載する第２のサンプラ部と、前記第２のサンプラ部に設けられ、前記移送され
た測定対象試料ラックに保持される前記複数の試料容器をそれぞれ単一の試料分注位置へ
移動する第２の移動機構と、前記第２の移動機構が移動する前記測定対象試料ラックに保
持された前記複数の試料容器内の各識別情報を読み取る第２の容器リーダと、前記第２の
容器リーダのより識別された測定対象容器内の測定対象試料を前記単一の試料分注位置で
吸引するサンプル分注プローブとを備えることを特徴とする。
【００１１】
上記目的を達成する他の実施形態の自動分析装置は、試料を収容する複数の試料容器を
保持する複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１のサンプラ部と、前記第１のサンプ
ラ部に搭載された前記複数の試料ラック内の測定対象試料ラックを前記第１のサンプラ部
外へ移送する第１の移動機構と、前記第１のサンプラ部により移送される前記測定対象試
料ラックが保持する複数の試料容器内の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、
前記第１サンプラ部が搭載する前記複数の試料ラックとは別の複数の試料ラックを移動可
能に搭載する第２のサンプラ部と、前記第２のサンプラ部に搭載された前記複数の別試料
ラックを前記第２のサンプラ部外へ移送する第２の移動機構と、前記第２の移動機構によ
り外部に移送される試料ラックに保持された複数の試料容器内の各試料識別情報を読み取
る第２の容器リーダと、前記第１の移動機構により移動された前記複数の試料ラック及び
前記第２の移動機構に移動された前記複数の別の試料ラックに保持されたそれぞれの測定
対象試料容器を単一の試料分注位置へ配置するよう移動する第３の移動機構と、前記単一
の試料分注位置で前記測定対象試料容器内の各測定対象試料を吸引するサンプル分注プロ
ーブとを備えることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】第１実施形態に係る自動分析装置の構成を示すブロック図。
【図２】第１実施形態に係る分析部の構成図。
【図３】第１実施形態に係る試料ラックの外観図。
【図４】サンプル分注プローブを含む試料分注ユニットの構成図。
【図５】第１実施形態に係るサンプラ部の構成を示す平面図。
【図６】試料ラックがサンプル分注プローブによる試料吸引が可能な単一の試料分注位置に移動される方向を示す図。
【図７】第１実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。
【図８】第２サンプラ部及び第２移動機構の変形例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照して実施形態を説明する。
【００１４】
図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。自動分析装置
１００は、分析部２４とデータ処理部３０とを備える。分析部２４は、標準試料、管理試
料及び被検試料の各試料と試薬との混合液を測定する。データ処理部３０は、分析部２４
で測定により生成される標準データ、管理データ及び被検データに基づいて検量データ、
管理データ及び分析データを生成する。
【００１５】
自動分析装置１００は、更に、出力部４０、操作部５０及びシステム制御部５１を備え
る。出力部４０は、データ処理部３０で生成された検量データ、管理データ及び分析デー
タを出力する。操作部５０は、各検査項目の分析を行うための分析パラメータの入力及び
各種コマンド信号の入力等を行う。システム制御部５１は、分析部２４、データ処理部３
０及び出力部４０を統括して制御する。
【００１６】
図２に示す分析部２４は、反応ディスク４とサンプラ部５を備える。反応ディスク４は
、円周上に配置された複数の反応容器３を回転可能に保持する。サンプラ部５は、各試料
を収容する複数の試料容器１７を保持する試料ラック１８を支持する。
【００１７】
分析部２４は、更に、第１試薬ラック１ａ、第２試薬ラック２ａ及び試薬容器６を備え
る。試薬容器６は、各検査項目の分析に用いられる１試薬系及び２試薬系の第１試薬を収
容する。第１試薬ラック１ａは、試薬容器６を格納する試薬庫１と、試薬庫１に格納され
た試薬容器６を回動可能に支持する。第２試薬ラック２ａは、２試薬系の第１試薬と対を
なす第２試薬を収容する試薬容器７と、試薬容器７を格納する試薬庫２と、試薬庫２に格
納された試薬容器７を回動可能に支持する。
【００１８】
分析部２４は、サンプル分注プローブ１６と、試料検出器１６ａと、サンプル分注アー
ム１０とを備えている。サンプル分注プローブ１６は、サンプラ部５の試料ラック１８に
保持される試料容器１７内の試料を吸引して反応容器３内へ排出する。試料検出器１６ａ
は、サンプル分注プローブ１６の下端部と試料容器１７内の試料液面との接触を検出する
。サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を回動及び上下移動可能に支持
する。
【００１９】
分析部２４は、更に、第１試薬分注プローブ１４と、第１試薬検出器１４ａと、第１試
薬分注アーム８とを備えている。第１試薬分注プローブ１４は、試薬ラック１ａに保持さ
れた試薬容器６内の第１試薬を吸引して試料の入った反応容器３内にそれを排出する。第
１試薬検出器１４ａは、試薬容器６内の第１試薬の液面と第１試薬分注プローブ１４の下
端部との接触により第１試薬を検出する。第１試薬分注アーム８は、第１試薬分注プロー
ブ１４を回動及び上下移動可能に支持する。
【００２０】
分析部２４は、更に、試薬ラック２ａに支持された試薬容器７内の第２試薬を吸引して
第１試薬が排出された反応容器３内に排出する分注を行う第２試薬分注プローブ１５と、
試薬ラック２ａに支持された試薬容器７内の第２試薬をこの第２試薬の液面と第２試薬分
注プローブ１５の下端部との接触により検出する第２試薬検出器１５ａと、第２試薬分注
プローブ１５を回動及び上下移動可能に支持する第２試薬分注アーム９とを備えている。
【００２１】
分析部２４は、更に、反応容器３内に排出された試料及び第１試薬の混合液、又は試料
並びに第１試薬及び第２試薬の混合液を測定する測光部１３と、測光部１３で測定された
混合液の入った反応容器３内を洗浄する反応容器洗浄ユニット１２とを備えている。
【００２２】
測光部１３は、光を発する光源及びこの光源からの光を検出する検出素子を有し、反応
ディスク４の回転により光源と検出素子間を結ぶ光路と交差した反応容器３内の混合液を
透過した光を検出する。次いで、標準試料を含む混合液を透過したときの検出信号に基づ
いて、標準試料データを生成する。また、管理試料を含む混合液を透過したときの検出信
号に基づいて、管理試料データを生成する。更に、被検試料を含む混合液を透過したとき
の検出信号に基づいて、被検試料データを生成する。生成した標準試料データ、管理試料
データ、及び被検試料データの各試料データをデータ処理部３０に出力する。
【００２３】
図１に示したデータ処理部３０は、演算部３１と、データ記憶部３２とを備えている。
演算部３１は、分析部２４の測光部１３(図２)で生成された標準試料データ、管理試料デ
ータ及び被検試料データを処理して検量データ、管理データ、及び分析データを生成する
。データ記憶部３２は、演算部３１で生成された検量データ、管理データ及び分析データ
を保存する。
【００２４】
演算部３１は、測光部１３から出力された標準試料データ及びこの標準試料データの標
準試料に対して予め設定された標準値から、標準値と標準データの関係を表す検量データ
を検査項目毎に生成し、生成した検量データを出力部４０に出力すると共にデータ記憶部
３２に保存する。
【００２５】
また、演算部３１は測光部１３から出力された管理試料データに対応する検査項目の検
量データをデータ記憶部３２から読み出す。読み出した検量データを用いて前記管理試料
データから、濃度値や活性値で表される管理データを生成する。生成した管理データを出
力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。
【００２６】
更に、演算部３１は測光部１３から出力された被検試料データに対応する検査項目の検
量データをデータ記憶部３２から読み出す。読み出した検量データを用いて前記被検試料
データから、濃度値や活性値で表される分析データを生成する。生成した分析データを出
力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。
【００２７】
データ記憶部３２は、ハードディスク等のメモリデバイスを備え、演算部３１から出力
された各検量データを検査項目毎に保存する。更に、データ記憶部３２は、演算部３１か
ら出力された各検査項目の分析データを被検試料毎に保存する。
【００２８】
出力部４０は、データ処理部３０の演算部３１から出力された検量データ、管理データ
及び分析データを印刷出力する印刷部４１と表示出力する表示部４２を備えている。印刷
部４１は、プリンタなどを備え、検量データ、管理データ及び分析データを予め設定され
たフォーマットに従ってプリンタ用紙などに印刷する。
【００２９】
表示部４２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、検量データ、管理データ及び
分析データを表示する。また、自動分析装置１００で分析可能な検査項目の分析パラメー
タである、例えば分析部２４の反応容器３内に排出させる試料の量及び試薬の量等の設定
を行う分析パラメータ設定画面を表示する。また、測定対象の被検試料のサンプルＩＤ及
びその被検試料の検査項目を設定する被検試料情報設定画面を表示する。
【００３０】
操作部５０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを
備え、検査項目毎の分析パラメータを設定するための入力を行う。また、サンプルＩＤ及
び検査項目を設定するための入力を行う。また、管理試料の測定を行う間隔を入力する。
【００３１】
システム制御部５１は、ＣＰＵ及び記憶回路を備え、操作部５０からの操作により入力
された各検査項目の分析パラメータ等の入力情報を記憶回路に記憶した後、これらの入力
情報に基づいて、分析部２４、データ処理部３０及び出力部４０を統括してシステム全体
を制御する。
【００３２】
図３に示すように、試料ラック１８は、長手方向に形成された複数の（例えば５つ）開
口部１８ａと、底面先端部近傍に形成された窪み１８ｂと、窪み１８ｂの近傍に取り付け
られたＩＣチップ１８ｃとを備えている。開口部１８ａには、採血管等の試料容器１７が
１列に配列して保持される。窪み１８ｂは、試料ラック１８をサンプラ部５で移動するた
めのものである。ＩＣチップ１８ｃには、当該試料ラック１８の識別情報（ラックＩＤ）
が書き換え可能に書き込まれる。保持する試料によって、その試料ラックＩＤが、例えば
、“標準” サンプル、“管理” サンプル、“緊急” サンプル、“一般”サンプルに分
類される。
【００３３】
図４に、試料分注に関わる各ユニットの構成を示す。サンプル分注プローブ１６は、上
端及び下端に開口を有する中空の円筒を成し、下端開口から試料の吸引及び排出を行う。
上端部は可撓性チューブ２０の一端部に接続されている。サンプル分注プローブ１６と可
撓性チューブ２０は、シリンジ１９に連通している。以下、実施例の説明では、サンプル
分注プローブ１６の軸方向を上下方向、上下方向に直交する方向を水平方向とする。
【００３４】
シリンジ１９は、シリンダ１９１と、プランジャ１９２と、タンク１９３と、ポンプ１
９４と、開閉弁１９５とにより構成される。シリンダ１９１の一端部がチューブ２０の他
端部に接続され、シリンダ１９１の他端部に設けた開口にプランジャ１９２がはめ込まれ
る。タンク１９３は、サンプル分注プローブ１６、可撓性チューブ２０、シリンダ１９１
の各内部に充填されている、例えば、水等の液状圧力伝達媒体を貯留する。ポンプ１９４
は、タンク１９３に貯留された圧力伝達媒体をシリンダ１９１に供給する。開閉弁１９５
は、シリンダ１９１とポンプ１９４の間を連通している流路を開閉する。
【００３５】
試料を吸引する場合、サンプル分注プローブ１６は、水平方向へ回動して、試料ラック
１８に保持される試料容器１７の上方で停止する。その後、下方向へ移動してサンプル分
注プローブ１６の下端部が試料容器１７内の試料面と接触した位置で停止する。サンプル
分注プローブ１６の下端部と試料面との接触位置は、試料検出器１６ａ(図２)により検出
される。次いで、開閉弁１９５がシリンダ１９１とポンプ１９４間の流路を閉鎖した状態
で、プランジャ１９２を矢印Ｍ１方向へ吸引駆動することにより、試料が吸引される。
【００３６】
試料を排出する場合、サンプル分注プローブ１６は、水平方向へ回動して反応容器３の
上方で停止する。その後、下方向へ移動してサンプル分注プローブ１６の下端部が反応容
器３内の排出位置で停止する。次いで、プランジャ１９２を矢印Ｍ２方向へ駆動すること
により、試料容器１７から吸引した試料が反応容器内に排出される。
【００３７】
図５は、サンプラ部５の構成を示す。図６（ａ），（ｂ）は、サンプル分注プローブ１
６により試料の吸引が可能な位置へ移動される試料ラック１８の移動方向を示す。
【００３８】
複数の位置での試料の分注では、サンプル分注プローブ１６を各位置に移動して、各位
置において同量の試料を吸引して同量の試料を反応容器内に排出する。サンプル分注プロ
ーブ１６の移動に伴い可撓性チューブ２０も移動する。吸引位置が異なる場合、移動した
可撓性チューブ２０の撓みの違いにより、可撓性チューブ２０内の容量が異なることがあ
る。例えば、第１の位置で吸引した試料を反応容器３内へ排出する量と、第２の位置で吸
引した試料を反応容器３内へ排出する量が僅かに異なる。このため、微量の試料の分注精
度が低下する問題がある。実施例は、この問題を解決するために、サンプル分注プローブ
１６による試料の吸引位置を所定位置に固定し、その固定位置へ試料ラックを移動するも
のである。
【００３９】
図５において、サンプラ部５は、複数の試料ラック１８をベルト長手方向（ラック移動
方向）に移動可能に保持する第１のサンプラ部６０と、指定された試料ラック１８をラッ
ク移動方向に直交する方向(ラック引き込み・排出方向)に移動する第１の移動機構７０と
、複数の試料ラック１８を回動可能に支持する第２のサンプラ部８０と、第１のサンプラ
部６０から第２のサンプラ部８０へ、第１の移動機構７０により第１のサンプラ部６０か
ら第２のサンプラ８０部に移動された試料ラック１８内の試料容器１７をサンプル分注プ
ローブ１６で試料吸引可能位置へ移動する第２の移動機構９０を備えている。
【００４０】
理解し易いように、以下の第１実施形態では、第１のサンプラ部６０をラック・サンプ
ラ６０、第２のサンプラ部８０をディスク・サンプラ８０として説明する。
【００４１】
ラック・サンプラ６０は、複数の試料ラック１８を水平方向（矢印Ｌ１方向）へ移動可
能に支持する第１のベルト６１、第１ベルト６１のＬ１方向端部に隣接された第２のベル
ト６２及び第２ベルト６２のＬ１方向端部に隣接された第３のベルト６３と、第１及び第
２ベルト６１，６２上に載置された試料ラック１８を検出するラック検出器６４とを備え
ている。
【００４２】
ラック・サンプラ６０は、更に、ラック検出器６４により検出された第２ベルト６２上
の試料ラック１８のラックＩＤを非接触的に読み取る第１のラック・リーダ６５と、試料
容器１７に記載される容器内の試料を識別する識別情報（サンプルＩＤ）を読み取る第１
の容器リーダ６６とを備えている。
【００４３】
第１のベルト６１は、“一般”に分類される被検試料を収容する一般試料容器１７Ｇを
保持した複数の一般試料ラック１８Ｇが、待機領域Ａ１にベルト長手方向に狭い配列間隔
で載置される。待機領域Ａ１に載置された試料ラック１８Ｇは、ラック検出器６４に検出
されてラック移動Ｌ１方向へ移動する。
【００４４】
第１ベルト６１は、試料ラック１８Ｇをラック移動Ｌ１方向に空きスペースを作らずに
狭い間隔で配列できるので、多数の試料ラックを収容できる。
【００４５】
第２ベルト６２の割込領域Ａ２には、“緊急”に分類される被検試料を収容する緊急試
料容器１７Ｕを保持する試料ラック１８Ｕが載置される。割込領域Ａ２は、引出位置Ａ３
が設けられている。引出位置Ａ３において、緊急に測定が必要な試料容器１７Ｕを保持す
る“緊急”試料ラック１８Ｕが、第１の移動機構７０によりディスク・サンプラ８０方向
（矢印Ｌ２方向）へ引き出される。“緊急”試料ラック１８Ｕが引き出された後、第１ベ
ルト６１により移動され、ラック検出器６４により検出された試料ラック１８Ｇが引出位
置Ａ３まで移動する。
【００４６】
即ち、“緊急”被検容器１７Ｕを保持する試料ラック１８Ｕが割込領域Ａ２に載置され
ると、“一般”被検試料よりも優先して測定するために、第１ベルト６１は、待機領域Ａ
１に一般試料ラック１８Ｇが載置されていても、ベルト長軸方向（矢印Ｌ１方向）へのラ
ック移動を停止する。割込領域Ａ２の“緊急”試料ラック１８Ｕが引出位置Ａ３へ移動さ
れ、第１移動機構７０により引出位置Ａ３から引き出された後に、待機領域Ａ１に載置の
一般試料ラック１８Ｇの移動を再開する。
【００４７】
これにより、割込領域Ａ２に載置された“緊急”試料ラック１８Ｕがディスク・サンプ
ラ８０へ迅速に移動できる。
【００４８】
第３ベルト６３は、サンプル分注プローブ１６により被検試料の吸引後の試料容器を保
持する試料ラックを退避領域Ａ４に退避させる。即ち、試料吸引後の試料ラック１８Ｕは
、第１移動機構７０によりディスク・サンプラ８０からベルト短軸方向（矢印Ｌ３方向）
へ引き出され、ラック・サンプラ６０上でベルト長軸方向（Ｌ１方向）へ移動する。
【００４９】
第１のラック・リーダ６５は、第１ベルト６１から第２ベルト６２に移動された試料ラ
ック１８のラックＩＤを読み取る。第１のラック・リーダ６５は、更に、割込領域Ａ２に
載置され、ラック検出器６４により検出された試料ラック１８のラックＩＤを読み取る。
第１の容器リーダ６６は、第１のラック・リーダ６５にラックＩＤが読み取られ、第１移
動機構７０により引出位置Ａ３からＬ２方向へ移動している試料ラック１８に保持された
試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。
【００５０】
第１の移動機構７０は、ラック・サンプラ６０の下側からディスク・サンプラ８０の下
側に亘って配置され、ラック・サンプラ６０の第２ベルト６２に支持された引出位置Ａ３
の試料ラック１８をラック・サンプラ６０から第１レーン７１を経由してディスク・サン
プラ８０へ引き込む。第１移動機構７０は、また、第１レーン７１に隣接する第２レーン
７２を経由してディスク・サンプラ８０へ移動した試料ラック１８をラック・サンプラ６
０の第３ベルト６３上へ排出する。
【００５１】
尚、共通レーンを経由して、試料ラック１８をラック・サンプラ６０からディスク・サ
ンプラ８０へ引き込み、及び排出する構成にしてもよい。
【００５２】
ディスク・サンプラ８０は、円形ディスク８１と、第２のラック・リーダ８２と、第２
の容器リーダ８３とを備えている。円形ディスク８１は、ラック・サンプラ６０の第１ベ
ルト６１よりも少ない数の試料ラック１８を矢印Ｒ方向へ回転可能に支持する。第２のラ
ック・リーダ８２は、円形ディスク８１に回転された試料ラック１８のラックＩＤを非接
触的に読み取る。第２の容器リーダ８３は、第２のラック・リーダ８２にラックＩＤが読
み取られた試料ラック１８に保持される試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。
【００５３】
ディスク・サンプラ８０は、更に、液面検出器８４と、サンプラ・カバー８５とを備え
ている。液面検出器８４は、例えば、超音波式変位センサを有しており、第２の容器リー
ダ８３にサンプルＩＤが読み取られた試料容器１７内の試料の液面を検出する。サンプラ
・カバー８５は、着脱自在であり、円形のディスク８１、ディスク８１に支持された試料
ラック１８、第２のラック・リーダ８２、第２の容器リーダ８３及び液面検出器８４を覆
う。
【００５４】
ディスク８１は、中心開口部から予め設定された指定領域(図示せず)に、“標準”試料
ラック１８Ｓと“管理”試料ラック１８Ｃを放射状に配列載置する。一方、第１移動機構
７０によりラック・サンプラ６０からディスク・サンプラ８０に引き込まれた“一般”試
料ラック１８Ｇ及び“緊急”試料ラック１８Ｕは、指定領域以外の領域に放射状に配列さ
れる。ディスク１８の回転と共に第２ラック・リーダ８２により各試料ラックのラックＩ
Ｄが読み取られ、第２移動機構９０によりディスク１８内の移動可能な引出位置Ｂ１(図
面水平方向)で停止する。
【００５５】
尚、指定領域に載置された“標準”試料ラック１８Ｓと“管理”試料ラック１８Ｃは、
第１移動機構７０によりラック・サンプラ６０へは移動されず、自動分析装置１００の操
作者により指定領域から取り出されるまでディスク８１に支持される。
【００５６】
即ち、“管理”試料ラック１８Ｃは、操作者により取り出されるまでディスク８１内で
回転することができる。従って、引出位置Ｂ１で繰り返し停止させることが可能である。
これにより、“管理”試料１８Ｃを繰り返し第２移動機構９０で吸引可能な位置へ移動し
て、サンプル分注プローブ１６で吸引分注させることができる。
【００５７】
第２の容器リーダ８３は、第２の移動機構９０によりディスク内の引出位置Ｂ１でＬ１
方向及び反対Ｌ４方向に移動する試料ラック１８に保持された試料容器１７のサンプルＩ
Ｄを読み取る。
【００５８】
サンプラ・カバー８５は貫通孔８５１を有する。サンプル分注プローブ１６は、回動軌
道Ｔに沿って回動し、サンプラ・カバー８５の貫通孔８５１を介して、引出位置Ｂ１で移
動した試料ラック１８に保持される試料吸引のため、試料容器１７内に進入する。サンプ
ラ・カバー８５は、“管理”試料１８Ｃを操作部５０から入力された間隔で貫通孔８５１
の下方に移動させるときに、ディスク８１及び第２の移動機構９０の動きに対する操作者
の安全を確保するものである。
【００５９】
このため、分析部２４で測定中にサンプラ・カバー８５が取り外されると、サンプラ部
５及びサンプル分注プローブ１６の動作は停止する。サンプラ・カバー８５が再び取り付
けられると、ディスク８１は回転し、第２のラック・リーダ８２は回転しているディスク
８１上の試料ラック１８のラックＩＤを読み取り、ディスク８１に支持された全ての試料
ラック１８が再認識される。
【００６０】
尚、ディスク８１に割込領域を設け、サンプラ・カバー８５を取り外して、この割込領
域に載置された“緊急”試料ラック１８Ｕを吸引位置へ移動させて、“緊急”被検試料を
優先的に分注させるようにしてもよい。更に、ディスク・サンプラ８０はサンプリング動
作の停止中に、緊急測定対象試料を収容する緊急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊
急試料ラックをディスク・サンプラ８０内の移動可能位置に直接に設置できる構成にする
こともできる。
【００６１】
第２の移動機構９０は、第３移動機構９１及び第４移動機構９２により構成され、ディ
スク・サンプラ８０の下側に配置される。第３移動機構９１は、引出位置Ｂ１で試料ラッ
クを水平移動方向（Ｌ１、Ｌ４方向）へ移動する。第４移動機構９２は、第３移動機構９
１により移動された試料ラックを図面上下方向(図６)へ移動する。
【００６２】
ディスク・サンプラ８０の液面検出器８４により液面が検出されると、図６（ａ）に示
すように、測定ターゲット試料容器１７Ｔはサンプラ・カバー貫通孔８５１の直下に位置
する第１の吸引位置Ｂ２で停止する。サンプル分注プローブ１６による試料分注を終える
と、第１の直下吸引位置Ｂ２で停止していた測定ターゲット試料ラック１７Ｔは、Ｌ１方
向とは反対の水平Ｌ４方向へ移動してディスク内の引出位置Ｂ１で停止する。
【００６３】
このように、ラック・サンプラ６０の待機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料
ラック１８Ｔ並びにディスク・サンプラ８０の指定領域に載置された試料ラック１８Ｔを
、第１吸引位置Ｂ２へ移動することができる。
【００６４】
図６（ｂ）に示すように、第１吸引位置Ｂ２で停止した試料ラック１８Ｔは、第４移動
機構９２によりディスク上方向Ｌ５へ持ち上げられる。上方向Ｌ５に移動する測定ターゲ
ット試料容器１７Ｔ内の液面が、液面検出器８４により検出され、ディスク８１上面から
高さＨ１となる第２の吸引位置Ｂ３で停止する。
【００６５】
サンプル分注プローブ１６は、貫通孔８５１を介してサンプラ・カバー８５上方から下
方向へ移動する。第２の吸引位置Ｂ３で停止する測定対象試料ラック１８Ｔに保持された
貫通孔８５１直下にある試料容器１７Ｔ内の測定対象液面が、試料検出器８４により検出
される位置でサンプル分注プローブ１６は停止して測定対象試料を吸引する。
【００６６】
尚、試料ラック１８の底部に各開口部に連なる上下方向に延びた貫通孔８５１及びこの
貫通孔８５１を介してしてアームを上下方向へ移動する上下機構を設け、第１吸引位置Ｂ
２で停止した試料ラック１８に保持される測定試料容器をアームで真上方向へ移動し、測
定試料の液面がディスク上面から高さＨ１となる第２吸引位置Ｂ３で停止するように実施
してもよい。また、ラック・サンプラ６０に、緊急ラック引き込み口となる空き領域部を
設けて、緊急測定対象試料を収容する緊急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料
ラックを空き領域部に設置することもできる。
【００６７】
このように、ラック・サンプラ６０の待機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料
ラック１８Ｔ並びにディスク・サンプラ８０の指定領域に載置された試料ラック１８Ｔを
、第２吸引位置Ｂ３へ移動することで、サンプル分注プローブ１６直下の単一試料分注位
置で試料吸引を固定することができる。このため、異なる位置で吸引した試料を反応容器
内へ排出する際に生じる僅かな排出量差異が解消される。このため、微量の試料の分注精
度の向上を図ることができる。
【００６８】
図７は、実施例の自動分析装置の動作を示したフローチャートである。表示部４２（図
１）の分析パラメータ設定画面で設定された各検査項目の分析パラメータ、被検試料情報
設定画面で設定された測定対象の被検試料のサンプルＩＤ及び検査項目の情報がシステム
制御部５１の記憶回路に保存されている。
【００６９】
測定対象が“一般”の試料容器１７を、例えば１本保持する試料ラック１８がラック・
サンプラ６０の待機領域に載置された時、操作部５０から測定開始の操作を行うことによ
り、自動分析装置１００は動作を開始する（ステップＳ１）。
【００７０】
図１に示すシステム制御部５１の指示に基づいて、分析部２４が動作を開始する。ラッ
ク・サンプラ６０の第１のラック検出器６４が、待機領域Ａ１に載置された試料ラック１
８を検出する（ステップＳ２）。
【００７１】
その検出された試料ラック１８を、第１のベルト６１がラック移動Ｌ１方向へ移動する
。その試料ラック１８は、第２のベルト６２により更にＬ１方向のラック引出位置Ａ３へ
移動する（ステップＳ３）。
【００７２】
第１のラック・リーダ６５が、ラック引出位置Ａ３の方向へ移動する試料ラック１８の
ラックＩＤを読み取る（ステップＳ４）。第２のベルト６２は、第１のラック・リーダ６
５にラックＩＤが読み取られた試料ラック１８をラック引出位置Ａ３で停止する（ステッ
プＳ５）。
【００７３】
第１の移動機構７０は、ラック引出位置Ａ３で停止した試料ラック１８をラック引き込
みＬ２方向へ移動する（ステップＳ６）。第１の容器リーダ６６は、ラック引出位置Ａ３
からラック引き込みＬ２方向へ移動している試料ラック１８に保持された試料容器１７の
サンプルＩＤを読み取る（ステップＳ７）。
【００７４】
第１の移動機構７０が、第１の容器リーダ６６にサンプルＩＤが読み取られた試料容器
を保持する試料ラックをディスク・サンプラ８０のディスク８１上へ移動する。ディスク
８１上に移動された試料ラック１８はディスク回転Ｒ方向へ回転される（ステップＳ８）
。
【００７５】
第２のラック・リーダ８２が、ディスク８１により回転されている試料ラック１８のラ
ックＩＤを読み取る（ステップＳ９）。ディスク８１は、第１のラック・リーダ６５及び
第２のラック・リーダ８２にラックＩＤが読み取られた試料ラック１８を第１のディスク
引出位置Ｂ１で停止する（ステップＳ１０）。
【００７６】
第１のディスク引出位置Ｂ１で停止した試料ラック１８を、第２の移動機構９０内の第
３の移動機構９１が、ラック移動Ｌ１方向の第１吸引位置Ｂ２へ移動する（ステップＳ１
１）。第２の容器リーダ８３が、第３移動機構９１によりディスク引出位置Ｂ１から第１
吸引位置Ｂ２へ移動している試料ラック１８に保持された試料容器１７のサンプルＩＤを
読み取る（ステップＳ１２）。
【００７７】
液面検出器８４は、第１の容器リーダ６６及び第２の容器リーダ８３にサンプルＩＤが
読み取られた試料容器１７内の被検試料の液面を検出する（ステップＳ１３）。
【００７８】
第４の移動機構９２は、第１吸引位置Ｂ２で停止した試料ラック１８を上方へ移動して
、液面検出器８４により検出された試料容器１７内の液面がディスク８１上面から高さＨ
１となる第２吸引位置Ｂ３で停止する（ステップＳ１４）。
【００７９】
サンプル分注プローブ１６が、サンプラ・カバー８５の貫通孔８５１を通過して貫通孔
直下の試料容器１７内へ移動する。試料検出器１６ａが、試料容器１７内の測定被検試料
とプサンプル分注ローブ１６の下端部が接触する所定の高さＨの第２吸引位置Ｂ３を検出
すると、サンプル分注プローブ１６は停止して試料容器１７内の測定被検試料を吸引する
。試料吸引後、サンプル分注プローブ１６は反応容器３の上方まで回動して、排出位置で
吸引した測定被検試料を反応容器３内へ排出する。
【００８０】
測定被検試料の分注が終了した後、第４の移動機構９２は、第２吸引位置Ｂ３の試料ラ
ック１８を下方に移動して、ディスク８１面と同じ高さで試料ラック１８を停止する。第
３の移動機構９１が、停止結果された試料ラック１８をＬ４方向へ移動して引出位置Ｂ１
で停止させる。
【００８１】
ディスク８１は、第１のディスク引出位置Ｂ１で停止した試料ラック１８を回転して第
２のディスク引出位置Ｂ４で停止する。第１移動機構７０は、第２のディスク引出位置Ｂ
４の試料ラック１８を移動してラック・サンプラ６０内の第３のベルト６３上で停止する
。第３のベルト６３は、試料ラック１８をラック移動Ｌ１方向へ移動する。
【００８２】
反応容器３に排出された被検試料の測定結果により生成された分析データが出力部４０
に出力されたとき、システム制御部５１が測定の停止を指示して、自動分析装置１００は
動作を終了する（ステップＳ１５）。
【００８３】
尚、上記実施形態以外にも第１試薬の分注精度の向上を図ることができる。例えば、試
薬ラックに保持された試薬容器の内、第１試薬分注プローブ１４により第１試薬の吸引が
可能な吸引位置で停止した試薬容器１７を上下方向へ移動する上下機構を設け、第１試薬
分注プローブ１４により分注する第１試薬容器内の液面を検出する。次いで、検出した液
面が所定の高さになるまで吸引位置に停止した試薬容器を上方へ移動して停止し、停止し
た試薬容器内の第１試薬を第１試薬分注プローブ１４により吸引させることでもよい。
【００８４】
以上述べた実施形態によれば、“管理”試料をサンプル分注プローブ１６により繰り返
し分注させることができるディスク・サンプラ８０と、ディスク・サンプラ８０よりも多
数の試料ラックの収容が可能なラック・サンプラ６０を設け、ラック・サンプラ６０の待
機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料ラック１８を第１の移動機構７０によりデ
ィスク・サンプラ８０のディスク８１上へ移動することができる。
【００８５】
また、ディスク８１の指定領域に載置された試料ラック１８及び第１の移動機構７０に
より移動された試料ラック１８をディスク８１の回転により引出位置Ｂ１へ移動し、引出
位置Ｂ１へ移動した試料ラック１８を第２の移動機構９０によりサンプル分注プローブ１
６で試料吸引が可能な位置へ移動することで、単一の分注位置での試料吸引が可能になる
。
【００８６】
実施形態では、引出位置Ｂ１で停止した試料ラック１８を第３移動機構９１によりサン
プル分注プローブ１６で吸引が可能な第１吸引位置Ｂ２へ移動することができる。更に、
第１吸引位置Ｂ２で停止した試料ラック１８を第４移動機構９２によりサンプル分注プロ
ーブ１６で試料吸引が可能な第２吸引位置Ｂ３へ移動することができる。
【００８７】
これにより、サンプル分注プローブ１６の水平方向における吸引の位置を第１吸引位置
Ｂ２の１箇所に固定することができる。このため、利便性を損なうことなく試料の分注精
度の向上を図ることができる。更に、サンプル分注プローブ１６の水平方向及び上下方向
における吸引の位置を第２吸引位置Ｂ３の１箇所に固定することができるため、ラック・
サンプラ６０とディスク・サンプラ８０の夫々の利便性を損なうことなく試料の分注精度
の更なる向上を図ることができる。
【００８８】
図８に、第２サンプラ部の第２の実施形態を示す。第２の実施形態では、第２サンプラ
部として、第１実施例におけるディスク・サンプラ８０をラック・サンプラ８０ａに置き
換えと共に、第２移動機構９０を第２移動機構９０ａに置き換えて実施するものである。
また、第１吸引位置Ｂ２および第２吸引位置Ｂ２も、第１吸引位置Ｂ２ａおよび第２吸引
位置Ｂ２ａに置き換えて実施するものである。
【００８９】
第２サンプラ部であるラック・サンプラ８０ａは、第４ベルト８１ａと、ラック・リー
ダ８２ａと、容器リーダ８３ａと、液面検出器８４ａとを備えている。第４ベルト８１ａ
は、第１サンプラ部であるラック・サンプラ６０の第１ベルト６１よりも少ない数の試料
ラック１８をＬ１方向及びＬ４方向へ移動可能に支持する。
【００９０】
ラック・リーダ８２ａは、第１移動機構７０により第１サンプラ部であるラック・サン
プラ６０から第４ベルト８１ａ上へ移動される試料ラック１８のラックＩＤを非接触的に
読み取る。容器リーダ８３ａは、ラック・リーダ８２ａにラックＩＤが読み取られた試料
ラック１８に保持される試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。液面検出器８４ａは、
容器リーダ８３ａにサンプルＩＤが読み取られた試料容器１７内の試料の液面を検出する
。
【００９１】
第４ベルト８１ａは、“標準”試料ラック１８Ｓ、及び“管理”試料ラック１８Ｃを予
め設定された指定領域に配列支持する。更に、第４ベルト８１ａは、第１移動機構７０に
より第１サンプラ部であるラック・サンプラ６０から移動される“一般”試料ラック１８
Ｇ及び“緊急”試料ラック１８Ｕを、指定領域以外の領域に配列支持する。
【００９２】
試料ラック１８は、Ｌ１方向又はＬ４方向へ移動してラック・リーダ８２ａにラックＩ
Ｄが読み取られる。その後、第２移動機構９０ａにより移動可能な引出位置Ｂ１ａで停止
する。なお、指定領域に載置された試料ラック１８は、第１移動機構７０により第１サン
プラ部であるラック・サンプラ６０へは移動されずに、自動分析装置の操作者により指定
領域から取り出されるまで第４ベルト８１ａに支持される。
【００９３】
容器リーダ８３ａは、ラック・リーダ８２ａにラックＩＤが読み取られ、第４ベルト８
１ａに支持された試料ラック１８の内、第２移動機構９０ａにより引出位置Ｂ１ａから移
動している試料ラック１８に保持された試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。
【００９４】
第２移動機構９０ａは、第３移動機構９１ａと、第４移動機構９２ａにより構成される
。第３移動機構９１ａは、第２サンプラ部であるラック・サンプラ８０ａの第４ベルト８
１ａに支持された引出位置Ｂ１ａの試料ラックをＬ２方向及びＬ３方向へ移動する。第４
移動機構９２ａは、第３移動機構９１ａにより移動された試料ラック１８を上下方向へ移
動する。
【００９５】
第３移動機構９１ａは、第２サンプラ部であるラック・サンプラ８０ａのラック・リー
ダ８２ａにラックＩＤが読み取られ、引出位置Ｂ１ａで停止した試料ラック１８をＬ２方
向へ移動し、第１吸引位置Ｂ２ａで停止する。第１吸引位置Ｂ２ａは、この試料ラック１
８に保持され、第２サンプラ部８０ａの液面検出器８４ａに液面が検出された測定試料容
器１７に、サンプル分注プローブ１６が下方向への移動が可能な位置である。第３移動機
構９１ａは、更に、サンプル分注プローブ１６による試料分注を終え、第１吸引位置Ｂ２
ａで停止する試料ラック１８をＬ４方向へ移動して引出位置Ｂ１ａで停止する。
【００９６】
第４移動機構９２ａは、第１吸引位置Ｂ２ａで停止した試料ラック１８を上方向へ移動
する。そして、移動した試料ラック１８を、測定対象の試料を収容する試料容器１７内の
液面検出器８４ａにより検出された液面が第４ベルト８１ａ上面から高さＨ１となる第２
吸引位置で停止する。
【００９７】
このように、管理試料をサンプル分注プローブ１６により繰り返し分注させることがで
きる第２ラック・サンプラ８０ａと、第２ラック・サンプラ８０ａよりも多数の試料ラッ
ク１８の収容が可能な第１ラック・サンプラ６０を設け、第１ラック・サンプラ６０の待
機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料ラック１８を第１移動機構７０により第２
ラック・サンプラ８０ａの第４ベルト８１ａ上へ移動できる。
【００９８】
また、第４ベルト８１ａの指定領域に載置された試料ラック１８及び第１移動機構７０
により移動された試料ラック１８を、第４ベルト８１ａの移動により引出位置Ｂ１ａへ移
動する。
【００９９】
その引出位置Ｂ１ａへ移動した試料ラック１８を第２移動機構９０ａによりサンプル分
注プローブ１６で試料吸引可能な位置へ移動できる。
【０１００】
引出位置Ｂ１ａで停止した試料ラック１８を第３移動機構９１ａによりサンプル分注プ
ローブ１６で吸引が可能な第１吸引位置Ｂ２ａへ移動することができる。更に、第１吸引
位置Ｂ２ａで停止した試料ラックを第４移動機構９２ａによりサンプル分注プローブ１６
で試料の吸引が可能な第２吸引位置Ｂ３ａへ移動できる。
【０１０１】
これにより、サンプル分注プローブ１６の水平方向における吸引の位置を第１吸引位置
Ｂ２ａの１箇所に固定できる。このため、利便性を損なうことなく試料の分注精度の向上
を図ることができる。更に、サンプル分注プローブ１６の水平方向及び上下方向における
吸引の位置を第２吸引位置Ｂ２ａの１箇所に固定することができるため、利便性を損なう
ことなく試料の分注精度の更なる向上を図ることができる。
【０１０２】
説明した実施形態は、例として提示したものであり、その他の様々な形態で実施される
ことが可能である。例えば、第１の実施形態では、試料ラック１８の受け渡しをラック・
サンプラ６０からディスク・サンプラ８０へ行なっているが、逆にディスク・サンプラ８
０からラック・サンプラ６０へ試料ラックを受け渡しすることで、単一の試料分注位置で
試料吸引する構成にすることもできる。
【０１０３】
更に、ラック・サンプラ６０の試料分注位置とディスク・サンプラ８０の試料分注位置
とを共通の単一の試料分注位置にすることができる。即ち、ラック・サンプラ６０から引
き出された試料ラック１８とディスク・サンプラ８０から引き出された試料ラック１８と
が共通の試料分注位置に移動して、サンプル分注プローブ１６は常にその位置で試料吸引
する構成も可能である。
【０１０４】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したも
のであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これらの実施形態は、その他の
様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略
、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨
に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【０１０５】
Ａ１ 待機領域
Ａ２ 割込領域
Ａ３，Ｂ１，Ｂ４ 引出位置
Ａ４ 退避領域
Ｂ２ 第１の吸引位置
Ｂ３ 第２の吸引位置
５ サンプラ部
６０ 第１のサンプラ部
６１ 第１のベルト
６２ 第２のベルト
６３ 第３のベルト
６４ ラック検出器
６５ 第１のラック・リーダ
６６ 第１の容器リーダ
７０ 第１の移動機構
８０ 第２のサンプラ部
８１ ディスク
８２ 第２のラック・リーダ
８３ 第２の容器リーダ
８４ 液面検出器
９０ 第２の移動機構
９１ 第３の移動機構
９２ 第４の移動機構
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、被検体から採取された被検試料等の液体に含まれる成分を分析す
る自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動分析装置は、被検体から採取された被検試料と各検査項目の試薬に含まれる各成分
との反応によって生ずる色調変化や濁り変化を光学的に測定し、被検試料中の各検査項目
の成分濃度や酵素活性で表される分析データを生成する。
【０００３】
この自動分析装置は、サンプラ部と、サンプル分注プローブとを備えている。サンプラ
部は、各検査項目の標準試料、管理試料、被検試料等の試料を収容する試料容器を移動可
能に保持する。サンプル分注プローブは、試料容器内の試料を吸引して、試薬と反応させ
るために反応容器へ排出する。
【０００４】
自動分析装置のサンプラには、試料容器を保持する複数のラックを平行移動させるラッ
ク方式サンプラ（以下、単に、「ラック・サンプラ」と言う）と、複数のラックを回動可
能に支持するディスク方式サンプラ（以下、単に、「ディスク・サンプラ」と言う）があ
る。
【０００５】
ディスク・サンプラは、被検試料を収容した試料容器を、サンプル分注プローブで吸引
可能な位置に繰り返して停止させることができる。このため、ディスク・サンプラには、
一般患者試料容器の他に、一定間隔で繰り返して機器標準の検量（キャリブレーション）
測定を行う試料(以下、“標準”試料)を入れた試料容器や、データ精度管理の試料(以下
、“管理”試料)を入れた試料容器が載置される。これに対し、ラック・サンプラは、被
検試料ラックの設置能力の大きく、測定中に割り込み処理が可能であるので、一定間隔で
の繰り返し測定が不要な一般患者試料（以下、“一般”試料）を収容した試料容器が載置
される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平８−３５９７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述のように、ラック・サンプラは、大量の検体設置が可能で、且つ、測定中の割り込
み処理が可能である。しかし、検量測定や制御測定が難しいという課題がある。一方、デ
ィスク・サンプラは、検量測定や制御測定がしやすい反面、測定中の緊急患者試料（以下
、“緊急”試料）の割り込み処理が難にくい。更に、分注プローブのサンプリング位置が
複数箇所となり、サンプリング性能差が生じやすく測定精度が低下する問題がある。
【０００８】
本発明を解決しようとする課題は、上記問題点を解決し、試料分注精度の向上した自動
分析装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
実施形態による自動分析装置は、少なくとも一つの試料容器を保持する試料ラックを第
１のサンプラから第２のサンプラに移動する。第２サンプラに移動した試料ラックを固定
されたサンプリング位置に水平移動する。更に、その位置で試料ラックを上下方向に移動
させることで、常に単一の位置で、試料ラックに保持される試料容器内の液体吸引をする
ことができる。
【００１０】
上記目的を達成するために、実施形態の自動分析装置は、試料を収容する試料容器を保
持するための複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１のサンプラ部と、前記第１のサ
ンプラ部に設けられ、測定対象試料容器を収容する対象試料ラックを当該第１のサンプラ
部外へ移送する第１の移動機構と、前記第１の移動機構で移送される前記測定対象試料ラ
ックに保持される複数の試料容器の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、前記
第１の移動機構により前記第１のサンプラ部外へ移動された前記測定対象試料ラックを移
動可能に搭載する第２のサンプラ部と、前記第２のサンプラ部に設けられ、前記移送され
た測定対象試料ラックに保持される前記複数の試料容器をそれぞれ単一の試料分注位置へ
移動する第２の移動機構と、前記第２の移動機構が移動する前記測定対象試料ラックに保
持された前記複数の試料容器内の各識別情報を読み取る第２の容器リーダと、前記第２の
容器リーダのより識別された測定対象容器内の測定対象試料を前記単一の試料分注位置で
吸引するサンプル分注プローブとを備えることを特徴とする。
【００１１】
上記目的を達成する他の実施形態の自動分析装置は、試料を収容する複数の試料容器を
保持する複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１のサンプラ部と、前記第１のサンプ
ラ部に搭載された前記複数の試料ラック内の測定対象試料ラックを前記第１のサンプラ部
外へ移送する第１の移動機構と、前記第１のサンプラ部により移送される前記測定対象試
料ラックが保持する複数の試料容器内の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、
前記第１サンプラ部が搭載する前記複数の試料ラックとは別の複数の試料ラックを移動可
能に搭載する第２のサンプラ部と、前記第２のサンプラ部に搭載された前記複数の別試料
ラックを前記第２のサンプラ部外へ移送する第２の移動機構と、前記第２の移動機構によ
り外部に移送される試料ラックに保持された複数の試料容器内の各試料識別情報を読み取
る第２の容器リーダと、前記第１の移動機構により移動された前記複数の試料ラック及び
前記第２の移動機構に移動された前記複数の別の試料ラックに保持されたそれぞれの測定
対象試料容器を単一の試料分注位置へ配置するよう移動する第３の移動機構と、前記単一
の試料分注位置で前記測定対象試料容器内の各測定対象試料を吸引するサンプル分注プロ
ーブとを備えることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】第１実施形態に係る自動分析装置の構成を示すブロック図。
【図２】第１実施形態に係る分析部の構成図。
【図３】第１実施形態に係る試料ラックの外観図。
【図４】サンプル分注プローブを含む試料分注ユニットの構成図。
【図５】第１実施形態に係るサンプラ部の構成を示す平面図。
【図６】試料ラックがサンプル分注プローブによる試料吸引が可能な単一の試料分注位置に移動される方向を示す図。
【図７】第１実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。
【図８】第２サンプラ部及び第２移動機構の変形例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照して実施形態を説明する。
【００１４】
図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。自動分析装置
１００は、分析部２４とデータ処理部３０とを備える。分析部２４は、標準試料、管理試
料及び被検試料の各試料と試薬との混合液を測定する。データ処理部３０は、分析部２４
で測定により生成される標準データ、管理データ及び被検データに基づいて検量データ、
管理データ及び分析データを生成する。
【００１５】
自動分析装置１００は、更に、出力部４０、操作部５０及びシステム制御部５１を備え
る。出力部４０は、データ処理部３０で生成された検量データ、管理データ及び分析デー
タを出力する。操作部５０は、各検査項目の分析を行うための分析パラメータの入力及び
各種コマンド信号の入力等を行う。システム制御部５１は、分析部２４、データ処理部３
０及び出力部４０を統括して制御する。
【００１６】
図２に示す分析部２４は、反応ディスク４とサンプラ部５を備える。反応ディスク４は
、円周上に配置された複数の反応容器３を回転可能に保持する。サンプラ部５は、各試料
を収容する複数の試料容器１７を保持する試料ラック１８を支持する。
【００１７】
分析部２４は、更に、第１試薬ラック１ａ、第２試薬ラック２ａ及び試薬容器６を備え
る。試薬容器６は、各検査項目の分析に用いられる１試薬系及び２試薬系の第１試薬を収
容する。第１試薬ラック１ａは、試薬容器６を格納する試薬庫１と、試薬庫１に格納され
た試薬容器６を回動可能に支持する。第２試薬ラック２ａは、２試薬系の第１試薬と対を
なす第２試薬を収容する試薬容器７と、試薬容器７を格納する試薬庫２と、試薬庫２に格
納された試薬容器７を回動可能に支持する。
【００１８】
分析部２４は、サンプル分注プローブ１６と、試料検出器１６ａと、サンプル分注アー
ム１０とを備えている。サンプル分注プローブ１６は、サンプラ部５の試料ラック１８に
保持される試料容器１７内の試料を吸引して反応容器３内へ排出する。試料検出器１６ａ
は、サンプル分注プローブ１６の下端部と試料容器１７内の試料液面との接触を検出する
。サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を回動及び上下移動可能に支持
する。
【００１９】
分析部２４は、更に、第１試薬分注プローブ１４と、第１試薬検出器１４ａと、第１試
薬分注アーム８とを備えている。第１試薬分注プローブ１４は、試薬ラック１ａに保持さ
れた試薬容器６内の第１試薬を吸引して試料の入った反応容器３内にそれを排出する。第
１試薬検出器１４ａは、試薬容器６内の第１試薬の液面と第１試薬分注プローブ１４の下
端部との接触により第１試薬を検出する。第１試薬分注アーム８は、第１試薬分注プロー
ブ１４を回動及び上下移動可能に支持する。
【００２０】
分析部２４は、更に、試薬ラック２ａに支持された試薬容器７内の第２試薬を吸引して
第１試薬が排出された反応容器３内に排出する分注を行う第２試薬分注プローブ１５と、
試薬ラック２ａに支持された試薬容器７内の第２試薬をこの第２試薬の液面と第２試薬分
注プローブ１５の下端部との接触により検出する第２試薬検出器１５ａと、第２試薬分注
プローブ１５を回動及び上下移動可能に支持する第２試薬分注アーム９とを備えている。
【００２１】
分析部２４は、更に、反応容器３内に排出された試料及び第１試薬の混合液、又は試料
並びに第１試薬及び第２試薬の混合液を測定する測光部１３と、測光部１３で測定された
混合液の入った反応容器３内を洗浄する反応容器洗浄ユニット１２とを備えている。
【００２２】
測光部１３は、光を発する光源及びこの光源からの光を検出する検出素子を有し、反応
ディスク４の回転により光源と検出素子間を結ぶ光路と交差した反応容器３内の混合液を
透過した光を検出する。次いで、標準試料を含む混合液を透過したときの検出信号に基づ
いて、標準試料データを生成する。また、管理試料を含む混合液を透過したときの検出信
号に基づいて、管理試料データを生成する。更に、被検試料を含む混合液を透過したとき
の検出信号に基づいて、被検試料データを生成する。生成した標準試料データ、管理試料
データ、及び被検試料データの各試料データをデータ処理部３０に出力する。
【００２３】
図１に示したデータ処理部３０は、演算部３１と、データ記憶部３２とを備えている。
演算部３１は、分析部２４の測光部１３(図２)で生成された標準試料データ、管理試料デ
ータ及び被検試料データを処理して検量データ、管理データ、及び分析データを生成する
。データ記憶部３２は、演算部３１で生成された検量データ、管理データ及び分析データ
を保存する。
【００２４】
演算部３１は、測光部１３から出力された標準試料データ及びこの標準試料データの標
準試料に対して予め設定された標準値から、標準値と標準データの関係を表す検量データ
を検査項目毎に生成し、生成した検量データを出力部４０に出力すると共にデータ記憶部
３２に保存する。
【００２５】
また、演算部３１は測光部１３から出力された管理試料データに対応する検査項目の検
量データをデータ記憶部３２から読み出す。読み出した検量データを用いて前記管理試料
データから、濃度値や活性値で表される管理データを生成する。生成した管理データを出
力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。
【００２６】
更に、演算部３１は測光部１３から出力された被検試料データに対応する検査項目の検
量データをデータ記憶部３２から読み出す。読み出した検量データを用いて前記被検試料
データから、濃度値や活性値で表される分析データを生成する。生成した分析データを出
力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。
【００２７】
データ記憶部３２は、ハードディスク等のメモリデバイスを備え、演算部３１から出力
された各検量データを検査項目毎に保存する。更に、データ記憶部３２は、演算部３１か
ら出力された各検査項目の分析データを被検試料毎に保存する。
【００２８】
出力部４０は、データ処理部３０の演算部３１から出力された検量データ、管理データ
及び分析データを印刷出力する印刷部４１と表示出力する表示部４２を備えている。印刷
部４１は、プリンタなどを備え、検量データ、管理データ及び分析データを予め設定され
たフォーマットに従ってプリンタ用紙などに印刷する。
【００２９】
表示部４２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、検量データ、管理データ及び
分析データを表示する。また、自動分析装置１００で分析可能な検査項目の分析パラメー
タである、例えば分析部２４の反応容器３内に排出させる試料の量及び試薬の量等の設定
を行う分析パラメータ設定画面を表示する。また、測定対象の被検試料のサンプルＩＤ及
びその被検試料の検査項目を設定する被検試料情報設定画面を表示する。
【００３０】
操作部５０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを
備え、検査項目毎の分析パラメータを設定するための入力を行う。また、サンプルＩＤ及
び検査項目を設定するための入力を行う。また、管理試料の測定を行う間隔を入力する。
【００３１】
システム制御部５１は、ＣＰＵ及び記憶回路を備え、操作部５０からの操作により入力
された各検査項目の分析パラメータ等の入力情報を記憶回路に記憶した後、これらの入力
情報に基づいて、分析部２４、データ処理部３０及び出力部４０を統括してシステム全体
を制御する。
【００３２】
図３に示すように、試料ラック１８は、長手方向に形成された複数の（例えば５つ）開
口部１８ａと、底面先端部近傍に形成された窪み１８ｂと、窪み１８ｂの近傍に取り付け
られたＩＣチップ１８ｃとを備えている。開口部１８ａには、採血管等の試料容器１７が
１列に配列して保持される。窪み１８ｂは、試料ラック１８をサンプラ部５で移動するた
めのものである。ＩＣチップ１８ｃには、当該試料ラック１８の識別情報（ラックＩＤ）
が書き換え可能に書き込まれる。保持する試料によって、その試料ラックＩＤが、例えば
、“標準” サンプル、“管理” サンプル、“緊急” サンプル、“一般”サンプルに分
類される。
【００３３】
図４に、試料分注に関わる各ユニットの構成を示す。サンプル分注プローブ１６は、上
端及び下端に開口を有する中空の円筒を成し、下端開口から試料の吸引及び排出を行う。
上端部は可撓性チューブ２０の一端部に接続されている。サンプル分注プローブ１６と可
撓性チューブ２０は、シリンジ１９に連通している。以下、実施例の説明では、サンプル
分注プローブ１６の軸方向を上下方向、上下方向に直交する方向を水平方向とする。
【００３４】
シリンジ１９は、シリンダ１９１と、プランジャ１９２と、タンク１９３と、ポンプ１
９４と、開閉弁１９５とにより構成される。シリンダ１９１の一端部がチューブ２０の他
端部に接続され、シリンダ１９１の他端部に設けた開口にプランジャ１９２がはめ込まれ
る。タンク１９３は、サンプル分注プローブ１６、可撓性チューブ２０、シリンダ１９１
の各内部に充填されている、例えば、水等の液状圧力伝達媒体を貯留する。ポンプ１９４
は、タンク１９３に貯留された圧力伝達媒体をシリンダ１９１に供給する。開閉弁１９５
は、シリンダ１９１とポンプ１９４の間を連通している流路を開閉する。
【００３５】
試料を吸引する場合、サンプル分注プローブ１６は、水平方向へ回動して、試料ラック
１８に保持される試料容器１７の上方で停止する。その後、下方向へ移動してサンプル分
注プローブ１６の下端部が試料容器１７内の試料面と接触した位置で停止する。サンプル
分注プローブ１６の下端部と試料面との接触位置は、試料検出器１６ａ(図２)により検出
される。次いで、開閉弁１９５がシリンダ１９１とポンプ１９４間の流路を閉鎖した状態
で、プランジャ１９２を矢印Ｍ１方向へ吸引駆動することにより、試料が吸引される。
【００３６】
試料を排出する場合、サンプル分注プローブ１６は、水平方向へ回動して反応容器３の
上方で停止する。その後、下方向へ移動してサンプル分注プローブ１６の下端部が反応容
器３内の排出位置で停止する。次いで、プランジャ１９２を矢印Ｍ２方向へ駆動すること
により、試料容器１７から吸引した試料が反応容器内に排出される。
【００３７】
図５は、サンプラ部５の構成を示す。図６（ａ），（ｂ）は、サンプル分注プローブ１
６により試料の吸引が可能な位置へ移動される試料ラック１８の移動方向を示す。
【００３８】
複数の位置での試料の分注では、サンプル分注プローブ１６を各位置に移動して、各位
置において同量の試料を吸引して同量の試料を反応容器内に排出する。サンプル分注プロ
ーブ１６の移動に伴い可撓性チューブ２０も移動する。吸引位置が異なる場合、移動した
可撓性チューブ２０の撓みの違いにより、可撓性チューブ２０内の容量が異なることがあ
る。例えば、第１の位置で吸引した試料を反応容器３内へ排出する量と、第２の位置で吸
引した試料を反応容器３内へ排出する量が僅かに異なる。このため、微量の試料の分注精
度が低下する問題がある。実施例は、この問題を解決するために、サンプル分注プローブ
１６による試料の吸引位置を所定位置に固定し、その固定位置へ試料ラックを移動するも
のである。
【００３９】
図５において、サンプラ部５は、複数の試料ラック１８をベルト長手方向（ラック移動
方向）に移動可能に保持する第１のサンプラ部６０と、指定された試料ラック１８をラッ
ク移動方向に直交する方向(ラック引き込み・排出方向)に移動する第１の移動機構７０と
、複数の試料ラック１８を回動可能に支持する第２のサンプラ部８０と、第１のサンプラ
部６０から第２のサンプラ部８０へ、第１の移動機構７０により第１のサンプラ部６０か
ら第２のサンプラ８０部に移動された試料ラック１８内の試料容器１７をサンプル分注プ
ローブ１６で試料吸引可能位置へ移動する第２の移動機構９０を備えている。
【００４０】
理解し易いように、以下の第１実施形態では、第１のサンプラ部６０をラック・サンプ
ラ６０、第２のサンプラ部８０をディスク・サンプラ８０として説明する。
【００４１】
ラック・サンプラ６０は、複数の試料ラック１８を水平方向（矢印Ｌ１方向）へ移動可
能に支持する第１のベルト６１、第１ベルト６１のＬ１方向端部に隣接された第２のベル
ト６２及び第２ベルト６２のＬ１方向端部に隣接された第３のベルト６３と、第１及び第
２ベルト６１，６２上に載置された試料ラック１８を検出するラック検出器６４とを備え
ている。
【００４２】
ラック・サンプラ６０は、更に、ラック検出器６４により検出された第２ベルト６２上
の試料ラック１８のラックＩＤを非接触的に読み取る第１のラック・リーダ６５と、試料
容器１７に記載される容器内の試料を識別する識別情報（サンプルＩＤ）を読み取る第１
の容器リーダ６６とを備えている。
【００４３】
第１のベルト６１は、“一般”に分類される被検試料を収容する一般試料容器１７Ｇを
保持した複数の一般試料ラック１８Ｇが、待機領域Ａ１にベルト長手方向に狭い配列間隔
で載置される。待機領域Ａ１に載置された試料ラック１８Ｇは、ラック検出器６４に検出
されてラック移動Ｌ１方向へ移動する。
【００４４】
第１ベルト６１は、試料ラック１８Ｇをラック移動Ｌ１方向に空きスペースを作らずに
狭い間隔で配列できるので、多数の試料ラックを収容できる。
【００４５】
第２ベルト６２の割込領域Ａ２には、“緊急”に分類される被検試料を収容する緊急試
料容器１７Ｕを保持する試料ラック１８Ｕが載置される。割込領域Ａ２は、引出位置Ａ３
が設けられている。引出位置Ａ３において、緊急に測定が必要な試料容器１７Ｕを保持す
る“緊急”試料ラック１８Ｕが、第１の移動機構７０によりディスク・サンプラ８０方向
（矢印Ｌ２方向）へ引き出される。“緊急”試料ラック１８Ｕが引き出された後、第１ベ
ルト６１により移動され、ラック検出器６４により検出された試料ラック１８Ｇが引出位
置Ａ３まで移動する。
【００４６】
即ち、“緊急”被検容器１７Ｕを保持する試料ラック１８Ｕが割込領域Ａ２に載置され
ると、“一般”被検試料よりも優先して測定するために、第１ベルト６１は、待機領域Ａ
１に一般試料ラック１８Ｇが載置されていても、ベルト長軸方向（矢印Ｌ１方向）へのラ
ック移動を停止する。割込領域Ａ２の“緊急”試料ラック１８Ｕが引出位置Ａ３へ移動さ
れ、第１移動機構７０により引出位置Ａ３から引き出された後に、待機領域Ａ１に載置の
一般試料ラック１８Ｇの移動を再開する。
【００４７】
これにより、割込領域Ａ２に載置された“緊急”試料ラック１８Ｕがディスク・サンプ
ラ８０へ迅速に移動できる。
【００４８】
第３ベルト６３は、サンプル分注プローブ１６により被検試料の吸引後の試料容器を保
持する試料ラックを退避領域Ａ４に退避させる。即ち、試料吸引後の試料ラック１８Ｕは
、第１移動機構７０によりディスク・サンプラ８０からベルト短軸方向（矢印Ｌ３方向）
へ引き出され、ラック・サンプラ６０上でベルト長軸方向（Ｌ１方向）へ移動する。
【００４９】
第１のラック・リーダ６５は、第１ベルト６１から第２ベルト６２に移動された試料ラ
ック１８のラックＩＤを読み取る。第１のラック・リーダ６５は、更に、割込領域Ａ２に
載置され、ラック検出器６４により検出された試料ラック１８のラックＩＤを読み取る。
第１の容器リーダ６６は、第１のラック・リーダ６５にラックＩＤが読み取られ、第１移
動機構７０により引出位置Ａ３からＬ２方向へ移動している試料ラック１８に保持された
試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。
【００５０】
第１の移動機構７０は、ラック・サンプラ６０の下側からディスク・サンプラ８０の下
側に亘って配置され、ラック・サンプラ６０の第２ベルト６２に支持された引出位置Ａ３
の試料ラック１８をラック・サンプラ６０から第１レーン７１を経由してディスク・サン
プラ８０へ引き込む。第１移動機構７０は、また、第１レーン７１に隣接する第２レーン
７２を経由してディスク・サンプラ８０へ移動した試料ラック１８をラック・サンプラ６
０の第３ベルト６３上へ排出する。
【００５１】
尚、共通レーンを経由して、試料ラック１８をラック・サンプラ６０からディスク・サ
ンプラ８０へ引き込み、及び排出する構成にしてもよい。
【００５２】
ディスク・サンプラ８０は、円形ディスク８１と、第２のラック・リーダ８２と、第２
の容器リーダ８３とを備えている。円形ディスク８１は、ラック・サンプラ６０の第１ベ
ルト６１よりも少ない数の試料ラック１８を矢印Ｒ方向へ回転可能に支持する。第２のラ
ック・リーダ８２は、円形ディスク８１に回転された試料ラック１８のラックＩＤを非接
触的に読み取る。第２の容器リーダ８３は、第２のラック・リーダ８２にラックＩＤが読
み取られた試料ラック１８に保持される試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。
【００５３】
ディスク・サンプラ８０は、更に、液面検出器８４と、サンプラ・カバー８５とを備え
ている。液面検出器８４は、例えば、超音波式変位センサを有しており、第２の容器リー
ダ８３にサンプルＩＤが読み取られた試料容器１７内の試料の液面を検出する。サンプラ
・カバー８５は、着脱自在であり、円形のディスク８１、ディスク８１に支持された試料
ラック１８、第２のラック・リーダ８２、第２の容器リーダ８３及び液面検出器８４を覆
う。
【００５４】
ディスク８１は、中心開口部から予め設定された指定領域(図示せず)に、“標準”試料
ラック１８Ｓと“管理”試料ラック１８Ｃを放射状に配列載置する。一方、第１移動機構
７０によりラック・サンプラ６０からディスク・サンプラ８０に引き込まれた“一般”試
料ラック１８Ｇ及び“緊急”試料ラック１８Ｕは、指定領域以外の領域に放射状に配列さ
れる。ディスク１８の回転と共に第２ラック・リーダ８２により各試料ラックのラックＩ
Ｄが読み取られ、第２移動機構９０によりディスク１８内の移動可能な引出位置Ｂ１(図
面水平方向)で停止する。
【００５５】
尚、指定領域に載置された“標準”試料ラック１８Ｓと“管理”試料ラック１８Ｃは、
第１移動機構７０によりラック・サンプラ６０へは移動されず、自動分析装置１００の操
作者により指定領域から取り出されるまでディスク８１に支持される。
【００５６】
即ち、“管理”試料ラック１８Ｃは、操作者により取り出されるまでディスク８１内で
回転することができる。従って、引出位置Ｂ１で繰り返し停止させることが可能である。
これにより、“管理”試料１８Ｃを繰り返し第２移動機構９０で吸引可能な位置へ移動し
て、サンプル分注プローブ１６で吸引分注させることができる。
【００５７】
第２の容器リーダ８３は、第２の移動機構９０によりディスク内の引出位置Ｂ１でＬ１
方向及び反対Ｌ４方向に移動する試料ラック１８に保持された試料容器１７のサンプルＩ
Ｄを読み取る。
【００５８】
サンプラ・カバー８５は貫通孔８５１を有する。サンプル分注プローブ１６は、回動軌
道Ｔに沿って回動し、サンプラ・カバー８５の貫通孔８５１を介して、引出位置Ｂ１で移
動した試料ラック１８に保持される試料吸引のため、試料容器１７内に進入する。サンプ
ラ・カバー８５は、“管理”試料１８Ｃを操作部５０から入力された間隔で貫通孔８５１
の下方に移動させるときに、ディスク８１及び第２の移動機構９０の動きに対する操作者
の安全を確保するものである。
【００５９】
このため、分析部２４で測定中にサンプラ・カバー８５が取り外されると、サンプラ部
５及びサンプル分注プローブ１６の動作は停止する。サンプラ・カバー８５が再び取り付
けられると、ディスク８１は回転し、第２のラック・リーダ８２は回転しているディスク
８１上の試料ラック１８のラックＩＤを読み取り、ディスク８１に支持された全ての試料
ラック１８が再認識される。
【００６０】
尚、ディスク８１に割込領域を設け、サンプラ・カバー８５を取り外して、この割込領
域に載置された“緊急”試料ラック１８Ｕを吸引位置へ移動させて、“緊急”被検試料を
優先的に分注させるようにしてもよい。更に、ディスク・サンプラ８０はサンプリング動
作の停止中に、緊急測定対象試料を収容する緊急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊
急試料ラックをディスク・サンプラ８０内の移動可能位置に直接に設置できる構成にする
こともできる。
【００６１】
第２の移動機構９０は、第３移動機構９１及び第４移動機構９２により構成され、ディ
スク・サンプラ８０の下側に配置される。第３移動機構９１は、引出位置Ｂ１で試料ラッ
クを水平移動方向（Ｌ１、Ｌ４方向）へ移動する。第４移動機構９２は、第３移動機構９
１により移動された試料ラックを図面上下方向(図６)へ移動する。
【００６２】
ディスク・サンプラ８０の液面検出器８４により液面が検出されると、図６（ａ）に示
すように、測定ターゲット試料容器１７Ｔはサンプラ・カバー貫通孔８５１の直下に位置
する第１の吸引位置Ｂ２で停止する。サンプル分注プローブ１６による試料分注を終える
と、第１の直下吸引位置Ｂ２で停止していた測定ターゲット試料ラック１７Ｔは、Ｌ１方
向とは反対の水平Ｌ４方向へ移動してディスク内の引出位置Ｂ１で停止する。
【００６３】
このように、ラック・サンプラ６０の待機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料
ラック１８Ｔ並びにディスク・サンプラ８０の指定領域に載置された試料ラック１８Ｔを
、第１吸引位置Ｂ２へ移動することができる。
【００６４】
図６（ｂ）に示すように、第１吸引位置Ｂ２で停止した試料ラック１８Ｔは、第４移動
機構９２によりディスク上方向Ｌ５へ持ち上げられる。上方向Ｌ５に移動する測定ターゲ
ット試料容器１７Ｔ内の液面が、液面検出器８４により検出され、ディスク８１上面から
高さＨ１となる第２の吸引位置Ｂ３で停止する。
【００６５】
サンプル分注プローブ１６は、貫通孔８５１を介してサンプラ・カバー８５上方から下
方向へ移動する。第２の吸引位置Ｂ３で停止する測定対象試料ラック１８Ｔに保持された
貫通孔８５１直下にある試料容器１７Ｔ内の測定対象液面が、試料検出器８４により検出
される位置でサンプル分注プローブ１６は停止して測定対象試料を吸引する。
【００６６】
尚、試料ラック１８の底部に各開口部に連なる上下方向に延びた貫通孔８５１及びこの
貫通孔８５１を介してしてアームを上下方向へ移動する上下機構を設け、第１吸引位置Ｂ
２で停止した試料ラック１８に保持される測定試料容器をアームで真上方向へ移動し、測
定試料の液面がディスク上面から高さＨ１となる第２吸引位置Ｂ３で停止するように実施
してもよい。また、ラック・サンプラ６０に、緊急ラック引き込み口となる空き領域部を
設けて、緊急測定対象試料を収容する緊急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料
ラックを空き領域部に設置することもできる。
【００６７】
このように、ラック・サンプラ６０の待機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料
ラック１８Ｔ並びにディスク・サンプラ８０の指定領域に載置された試料ラック１８Ｔを
、第２吸引位置Ｂ３へ移動することで、サンプル分注プローブ１６直下の単一試料分注位
置で試料吸引を固定することができる。このため、異なる位置で吸引した試料を反応容器
内へ排出する際に生じる僅かな排出量差異が解消される。このため、微量の試料の分注精
度の向上を図ることができる。
【００６８】
図７は、実施例の自動分析装置の動作を示したフローチャートである。表示部４２（図
１）の分析パラメータ設定画面で設定された各検査項目の分析パラメータ、被検試料情報
設定画面で設定された測定対象の被検試料のサンプルＩＤ及び検査項目の情報がシステム
制御部５１の記憶回路に保存されている。
【００６９】
測定対象が“一般”の試料容器１７を、例えば１本保持する試料ラック１８がラック・
サンプラ６０の待機領域に載置された時、操作部５０から測定開始の操作を行うことによ
り、自動分析装置１００は動作を開始する（ステップＳ１）。
【００７０】
図１に示すシステム制御部５１の指示に基づいて、分析部２４が動作を開始する。ラッ
ク・サンプラ６０の第１のラック検出器６４が、待機領域Ａ１に載置された試料ラック１
８を検出する（ステップＳ２）。
【００７１】
その検出された試料ラック１８を、第１のベルト６１がラック移動Ｌ１方向へ移動する
。その試料ラック１８は、第２のベルト６２により更にＬ１方向のラック引出位置Ａ３へ
移動する（ステップＳ３）。
【００７２】
第１のラック・リーダ６５が、ラック引出位置Ａ３の方向へ移動する試料ラック１８の
ラックＩＤを読み取る（ステップＳ４）。第２のベルト６２は、第１のラック・リーダ６
５にラックＩＤが読み取られた試料ラック１８をラック引出位置Ａ３で停止する（ステッ
プＳ５）。
【００７３】
第１の移動機構７０は、ラック引出位置Ａ３で停止した試料ラック１８をラック引き込
みＬ２方向へ移動する（ステップＳ６）。第１の容器リーダ６６は、ラック引出位置Ａ３
からラック引き込みＬ２方向へ移動している試料ラック１８に保持された試料容器１７の
サンプルＩＤを読み取る（ステップＳ７）。
【００７４】
第１の移動機構７０が、第１の容器リーダ６６にサンプルＩＤが読み取られた試料容器
を保持する試料ラックをディスク・サンプラ８０のディスク８１上へ移動する。ディスク
８１上に移動された試料ラック１８はディスク回転Ｒ方向へ回転される（ステップＳ８）
。
【００７５】
第２のラック・リーダ８２が、ディスク８１により回転されている試料ラック１８のラ
ックＩＤを読み取る（ステップＳ９）。ディスク８１は、第１のラック・リーダ６５及び
第２のラック・リーダ８２にラックＩＤが読み取られた試料ラック１８を第１のディスク
引出位置Ｂ１で停止する（ステップＳ１０）。
【００７６】
第１のディスク引出位置Ｂ１で停止した試料ラック１８を、第２の移動機構９０内の第
３の移動機構９１が、ラック移動Ｌ１方向の第１吸引位置Ｂ２へ移動する（ステップＳ１
１）。第２の容器リーダ８３が、第３移動機構９１によりディスク引出位置Ｂ１から第１
吸引位置Ｂ２へ移動している試料ラック１８に保持された試料容器１７のサンプルＩＤを
読み取る（ステップＳ１２）。
【００７７】
液面検出器８４は、第１の容器リーダ６６及び第２の容器リーダ８３にサンプルＩＤが
読み取られた試料容器１７内の被検試料の液面を検出する（ステップＳ１３）。
【００７８】
第４の移動機構９２は、第１吸引位置Ｂ２で停止した試料ラック１８を上方へ移動して
、液面検出器８４により検出された試料容器１７内の液面がディスク８１上面から高さＨ
１となる第２吸引位置Ｂ３で停止する（ステップＳ１４）。
【００７９】
サンプル分注プローブ１６が、サンプラ・カバー８５の貫通孔８５１を通過して貫通孔
直下の試料容器１７内へ移動する。試料検出器１６ａが、試料容器１７内の測定被検試料
とプサンプル分注ローブ１６の下端部が接触する所定の高さＨの第２吸引位置Ｂ３を検出
すると、サンプル分注プローブ１６は停止して試料容器１７内の測定被検試料を吸引する
。試料吸引後、サンプル分注プローブ１６は反応容器３の上方まで回動して、排出位置で
吸引した測定被検試料を反応容器３内へ排出する。
【００８０】
測定被検試料の分注が終了した後、第４の移動機構９２は、第２吸引位置Ｂ３の試料ラ
ック１８を下方に移動して、ディスク８１面と同じ高さで試料ラック１８を停止する。第
３の移動機構９１が、停止結果された試料ラック１８をＬ４方向へ移動して引出位置Ｂ１
で停止させる。
【００８１】
ディスク８１は、第１のディスク引出位置Ｂ１で停止した試料ラック１８を回転して第
２のディスク引出位置Ｂ４で停止する。第１移動機構７０は、第２のディスク引出位置Ｂ
４の試料ラック１８を移動してラック・サンプラ６０内の第３のベルト６３上で停止する
。第３のベルト６３は、試料ラック１８をラック移動Ｌ１方向へ移動する。
【００８２】
反応容器３に排出された被検試料の測定結果により生成された分析データが出力部４０
に出力されたとき、システム制御部５１が測定の停止を指示して、自動分析装置１００は
動作を終了する（ステップＳ１５）。
【００８３】
尚、上記実施形態以外にも第１試薬の分注精度の向上を図ることができる。例えば、試
薬ラックに保持された試薬容器の内、第１試薬分注プローブ１４により第１試薬の吸引が
可能な吸引位置で停止した試薬容器１７を上下方向へ移動する上下機構を設け、第１試薬
分注プローブ１４により分注する第１試薬容器内の液面を検出する。次いで、検出した液
面が所定の高さになるまで吸引位置に停止した試薬容器を上方へ移動して停止し、停止し
た試薬容器内の第１試薬を第１試薬分注プローブ１４により吸引させることでもよい。
【００８４】
以上述べた実施形態によれば、“管理”試料をサンプル分注プローブ１６により繰り返
し分注させることができるディスク・サンプラ８０と、ディスク・サンプラ８０よりも多
数の試料ラックの収容が可能なラック・サンプラ６０を設け、ラック・サンプラ６０の待
機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料ラック１８を第１の移動機構７０によりデ
ィスク・サンプラ８０のディスク８１上へ移動することができる。
【００８５】
また、ディスク８１の指定領域に載置された試料ラック１８及び第１の移動機構７０に
より移動された試料ラック１８をディスク８１の回転により引出位置Ｂ１へ移動し、引出
位置Ｂ１へ移動した試料ラック１８を第２の移動機構９０によりサンプル分注プローブ１
６で試料吸引が可能な位置へ移動することで、単一の分注位置での試料吸引が可能になる
。
【００８６】
実施形態では、引出位置Ｂ１で停止した試料ラック１８を第３移動機構９１によりサン
プル分注プローブ１６で吸引が可能な第１吸引位置Ｂ２へ移動することができる。更に、
第１吸引位置Ｂ２で停止した試料ラック１８を第４移動機構９２によりサンプル分注プロ
ーブ１６で試料吸引が可能な第２吸引位置Ｂ３へ移動することができる。
【００８７】
これにより、サンプル分注プローブ１６の水平方向における吸引の位置を第１吸引位置
Ｂ２の１箇所に固定することができる。このため、利便性を損なうことなく試料の分注精
度の向上を図ることができる。更に、サンプル分注プローブ１６の水平方向及び上下方向
における吸引の位置を第２吸引位置Ｂ３の１箇所に固定することができるため、ラック・
サンプラ６０とディスク・サンプラ８０の夫々の利便性を損なうことなく試料の分注精度
の更なる向上を図ることができる。
【００８８】
図８に、第２サンプラ部の第２の実施形態を示す。第２の実施形態では、第２サンプラ
部として、第１実施例におけるディスク・サンプラ８０をラック・サンプラ８０ａに置き
換えと共に、第２移動機構９０を第２移動機構９０ａに置き換えて実施するものである。
また、第１吸引位置Ｂ２および第２吸引位置Ｂ２も、第１吸引位置Ｂ２ａおよび第２吸引
位置Ｂ２ａに置き換えて実施するものである。
【００８９】
第２サンプラ部であるラック・サンプラ８０ａは、第４ベルト８１ａと、ラック・リー
ダ８２ａと、容器リーダ８３ａと、液面検出器８４ａとを備えている。第４ベルト８１ａ
は、第１サンプラ部であるラック・サンプラ６０の第１ベルト６１よりも少ない数の試料
ラック１８をＬ１方向及びＬ４方向へ移動可能に支持する。
【００９０】
ラック・リーダ８２ａは、第１移動機構７０により第１サンプラ部であるラック・サン
プラ６０から第４ベルト８１ａ上へ移動される試料ラック１８のラックＩＤを非接触的に
読み取る。容器リーダ８３ａは、ラック・リーダ８２ａにラックＩＤが読み取られた試料
ラック１８に保持される試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。液面検出器８４ａは、
容器リーダ８３ａにサンプルＩＤが読み取られた試料容器１７内の試料の液面を検出する
。
【００９１】
第４ベルト８１ａは、“標準”試料ラック１８Ｓ、及び“管理”試料ラック１８Ｃを予
め設定された指定領域に配列支持する。更に、第４ベルト８１ａは、第１移動機構７０に
より第１サンプラ部であるラック・サンプラ６０から移動される“一般”試料ラック１８
Ｇ及び“緊急”試料ラック１８Ｕを、指定領域以外の領域に配列支持する。
【００９２】
試料ラック１８は、Ｌ１方向又はＬ４方向へ移動してラック・リーダ８２ａにラックＩ
Ｄが読み取られる。その後、第２移動機構９０ａにより移動可能な引出位置Ｂ１ａで停止
する。なお、指定領域に載置された試料ラック１８は、第１移動機構７０により第１サン
プラ部であるラック・サンプラ６０へは移動されずに、自動分析装置の操作者により指定
領域から取り出されるまで第４ベルト８１ａに支持される。
【００９３】
容器リーダ８３ａは、ラック・リーダ８２ａにラックＩＤが読み取られ、第４ベルト８
１ａに支持された試料ラック１８の内、第２移動機構９０ａにより引出位置Ｂ１ａから移
動している試料ラック１８に保持された試料容器１７のサンプルＩＤを読み取る。
【００９４】
第２移動機構９０ａは、第３移動機構９１ａと、第４移動機構９２ａにより構成される
。第３移動機構９１ａは、第２サンプラ部であるラック・サンプラ８０ａの第４ベルト８
１ａに支持された引出位置Ｂ１ａの試料ラックをＬ２方向及びＬ３方向へ移動する。第４
移動機構９２ａは、第３移動機構９１ａにより移動された試料ラック１８を上下方向へ移
動する。
【００９５】
第３移動機構９１ａは、第２サンプラ部であるラック・サンプラ８０ａのラック・リー
ダ８２ａにラックＩＤが読み取られ、引出位置Ｂ１ａで停止した試料ラック１８をＬ２方
向へ移動し、第１吸引位置Ｂ２ａで停止する。第１吸引位置Ｂ２ａは、この試料ラック１
８に保持され、第２サンプラ部８０ａの液面検出器８４ａに液面が検出された測定試料容
器１７に、サンプル分注プローブ１６が下方向への移動が可能な位置である。第３移動機
構９１ａは、更に、サンプル分注プローブ１６による試料分注を終え、第１吸引位置Ｂ２
ａで停止する試料ラック１８をＬ４方向へ移動して引出位置Ｂ１ａで停止する。
【００９６】
第４移動機構９２ａは、第１吸引位置Ｂ２ａで停止した試料ラック１８を上方向へ移動
する。そして、移動した試料ラック１８を、測定対象の試料を収容する試料容器１７内の
液面検出器８４ａにより検出された液面が第４ベルト８１ａ上面から高さＨ１となる第２
吸引位置で停止する。
【００９７】
このように、管理試料をサンプル分注プローブ１６により繰り返し分注させることがで
きる第２ラック・サンプラ８０ａと、第２ラック・サンプラ８０ａよりも多数の試料ラッ
ク１８の収容が可能な第１ラック・サンプラ６０を設け、第１ラック・サンプラ６０の待
機領域Ａ１及び割込領域Ａ２に載置された試料ラック１８を第１移動機構７０により第２
ラック・サンプラ８０ａの第４ベルト８１ａ上へ移動できる。
【００９８】
また、第４ベルト８１ａの指定領域に載置された試料ラック１８及び第１移動機構７０
により移動された試料ラック１８を、第４ベルト８１ａの移動により引出位置Ｂ１ａへ移
動する。
【００９９】
その引出位置Ｂ１ａへ移動した試料ラック１８を第２移動機構９０ａによりサンプル分
注プローブ１６で試料吸引可能な位置へ移動できる。
【０１００】
引出位置Ｂ１ａで停止した試料ラック１８を第３移動機構９１ａによりサンプル分注プ
ローブ１６で吸引が可能な第１吸引位置Ｂ２ａへ移動することができる。更に、第１吸引
位置Ｂ２ａで停止した試料ラックを第４移動機構９２ａによりサンプル分注プローブ１６
で試料の吸引が可能な第２吸引位置Ｂ３ａへ移動できる。
【０１０１】
これにより、サンプル分注プローブ１６の水平方向における吸引の位置を第１吸引位置
Ｂ２ａの１箇所に固定できる。このため、利便性を損なうことなく試料の分注精度の向上
を図ることができる。更に、サンプル分注プローブ１６の水平方向及び上下方向における
吸引の位置を第２吸引位置Ｂ２ａの１箇所に固定することができるため、利便性を損なう
ことなく試料の分注精度の更なる向上を図ることができる。
【０１０２】
説明した実施形態は、例として提示したものであり、その他の様々な形態で実施される
ことが可能である。例えば、第１の実施形態では、試料ラック１８の受け渡しをラック・
サンプラ６０からディスク・サンプラ８０へ行なっているが、逆にディスク・サンプラ８
０からラック・サンプラ６０へ試料ラックを受け渡しすることで、単一の試料分注位置で
試料吸引する構成にすることもできる。
【０１０３】
更に、ラック・サンプラ６０の試料分注位置とディスク・サンプラ８０の試料分注位置
とを共通の単一の試料分注位置にすることができる。即ち、ラック・サンプラ６０から引
き出された試料ラック１８とディスク・サンプラ８０から引き出された試料ラック１８と
が共通の試料分注位置に移動して、サンプル分注プローブ１６は常にその位置で試料吸引
する構成も可能である。
【０１０４】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したも
のであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これらの実施形態は、その他の
様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略
、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨
に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【０１０５】
Ａ１ 待機領域
Ａ２ 割込領域
Ａ３，Ｂ１，Ｂ４ 引出位置
Ａ４ 退避領域
Ｂ２ 第１の吸引位置
Ｂ３ 第２の吸引位置
５ サンプラ部
６０ 第１のサンプラ部
６１ 第１のベルト
６２ 第２のベルト
６３ 第３のベルト
６４ ラック検出器
６５ 第１のラック・リーダ
６６ 第１の容器リーダ
７０ 第１の移動機構
８０ 第２のサンプラ部
８１ ディスク
８２ 第２のラック・リーダ
８３ 第２の容器リーダ
８４ 液面検出器
９０ 第２の移動機構
９１ 第３の移動機構
９２ 第４の移動機構
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料を収容する試料容器を保持するための複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１
のサンプラ部と、
前記第１のサンプラ部に設けられ、測定対象試料容器を収容する対象試料ラックを当該
第１のサンプラ部外へ移送する第１の移動機構と、
前記第１の移動機構で移送される前記測定対象試料ラックに保持される複数の試料容器
の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、
前記第１の移動機構により前記第１のサンプラ部外へ移動された前記測定対象試料ラッ
クを移動可能に搭載する第２のサンプラ部と、
前記第２のサンプラ部に設けられ、前記移送された測定対象試料ラックに保持される前
記複数の試料容器をそれぞれ単一の試料分注位置へ移動する第２の移動機構と、
前記第２の移動機構が移動する前記測定対象試料ラックに保持された前記複数の試料容
器内の各識別情報を読み取る第２の容器リーダと、
前記第２の容器リーダのより識別された測定対象容器内の測定対象試料を前記単一の試
料分注位置で吸引するサンプル分注プローブと、
を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
試料を収容する複数の試料容器を保持する複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１
のサンプラ部と、
前記第１のサンプラ部に搭載された前記複数の試料ラック内の測定対象試料ラックを前
記第１のサンプラ部外へ移送する第１の移動機構と、
前記第１のサンプラ部により移送される前記測定対象試料ラックが保持する複数の試料
容器内の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、
前記第１サンプラ部が搭載する前記複数の試料ラックとは別の複数の試料ラックを移動
可能に搭載する第２のサンプラ部と、
前記第２のサンプラ部に搭載された前記複数の別試料ラックを前記第２のサンプラ部外
へ移送する第２の移動機構と、
前記第２の移動機構により外部に移送される試料ラックに保持された複数の試料容器内
の各試料識別情報を読み取る第２の容器リーダと、
前記第１の移動機構により移動された前記複数の試料ラック及び前記第２の移動機構に
移動された前記複数の別の試料ラックに保持されたそれぞれの測定対象試料容器を単一の
試料分注位置へ配置するよう移動する第３の移動機構と、
前記単一の試料分注位置で前記測定対象試料容器内の各測定対象試料を吸引するサンプ
ル分注プローブと、
を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
前記第２の移動機構により移動される前記測定対象試料ラックに保持される前記複数の
試料容器内の各試料液面を検出する液面検出器を有することを特徴とする請求項１に記載
の自動分析装置。
【請求項４】
前記第２の移動機構により前記第２のサンプラ部外へ移送される前記複数の別試料ラッ
クに保持される複数の試料容器内の各試料液面を検出する液面検出器を有することを特徴
とする請求項２に記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記第２の移動機構は、更に、前記単一の試料分注位置で停止した前記測定対象試料ラ
ック又は前記測定対象試料容器を上下方向へ移動する第３の移動機構を有し、
前記第３の移動機構は、測定対象試料の液面が前記液面検出器により検出される所定の
高さとなる吸引位置で前記測定対象試料ラック又は前記測定対象試料容器を停止すること
を特徴とする請求項３に記載の自動分析装置。
【請求項６】
前記第２の移動機構は、更に、前記単一の試料分注位置で停止した前記移送された別対
象試料ラック又は前記別対象試料ラックに保持された測定対象試料容器を上下方向へ移動
する第３の移動機構を有し、
前記第３の移動機構は、測定対象試料の液面が前記液面検出器により検出される所定の
高さとなる吸引位置で前記移送された別対象試料ラック又は前記別対象試料ラックに保持
された測定対象試料容器を停止することを特徴とする請求項４に記載の自動分析装置。
【請求項７】
前記第１の移動機構は、前記第１のサンプラ部に搭載された前記測定対象試料ラックを
第１のレーンを経由して前記第２のサンプラ部へ移送し、前記第２のサンプラ部内へ移動
した前記試料ラックを第２のレーンを経由して前記第１のサンプラ部へ移送することを特
徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項８】
前記第１の移動機構は、共通レーンを経由して前記第１のサンプラ部に搭載された前記
測定対象試料ラックを前記第２のサンプラへ移動し、
前記共通レーンを経由して前記第２のサンプラ部内へ移動した前記試料ラックを前記第
１のサンプラ部へ移動すること
を特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項９】
前記第１のサンプラ部は、待機領域に載置される前記複数の試料ラックを一方向へ移動
可能に支持する第１ベルトと、
前記第１のベルトの前記一方向端部に接続され、前記測定対象試料ラックを第１の移動
機構により前記割込領域に前記第１の移動機構によりに載置された前記試料ラックを前記
一方向へ移動可能に支持すると共に前記測定対象試料ラックを前記第１のサンプラ部外へ
送出する引出位置を備える割込領域を有する第２のベルトと、
で構成され、
前記割込領域に前記測定対象試料ラックが載置されたとき、前記第１のベルトは、前記
複数の試料ラックの移動を停止し、前記第１の移動機構により前記割込領域に載置された
前記測定対象試料ラックが前記引出位置から前記第２のサンプラ部へ引出された後、移動
動作を再開することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項１０】
前記第１のサンプラ部は、緊急ラック引き込み口となる空き領域部を有しており、
緊急測定対象試料を収容する緊急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料ラック
を前記空き領域部に設置することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項１１】
前記第２のサンプラ部はサンプリング動作の停止中に、緊急測定対象試料を収容する緊
急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料ラックを前記第２のサンプラ内の移動可
能位置に直接に設置できる構成にすることを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項１２】
前記第２のサンプラ部はサンプリング動作の停止中に、緊急測定対象試料を収容する緊
急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料ラックを前記第２のサンプラ内の移動可
能位置に直接に設置できる構成にすることを特徴とする請求項２に記載の自動分析装置。
【請求項１】
試料を収容する試料容器を保持するための複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１
のサンプラ部と、
前記第１のサンプラ部に設けられ、測定対象試料容器を収容する対象試料ラックを当該
第１のサンプラ部外へ移送する第１の移動機構と、
前記第１の移動機構で移送される前記測定対象試料ラックに保持される複数の試料容器
の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、
前記第１の移動機構により前記第１のサンプラ部外へ移動された前記測定対象試料ラッ
クを移動可能に搭載する第２のサンプラ部と、
前記第２のサンプラ部に設けられ、前記移送された測定対象試料ラックに保持される前
記複数の試料容器をそれぞれ単一の試料分注位置へ移動する第２の移動機構と、
前記第２の移動機構が移動する前記測定対象試料ラックに保持された前記複数の試料容
器内の各識別情報を読み取る第２の容器リーダと、
前記第２の容器リーダのより識別された測定対象容器内の測定対象試料を前記単一の試
料分注位置で吸引するサンプル分注プローブと、
を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
試料を収容する複数の試料容器を保持する複数の試料ラックを移動可能に搭載する第１
のサンプラ部と、
前記第１のサンプラ部に搭載された前記複数の試料ラック内の測定対象試料ラックを前
記第１のサンプラ部外へ移送する第１の移動機構と、
前記第１のサンプラ部により移送される前記測定対象試料ラックが保持する複数の試料
容器内の各試料識別情報を読み取る第１の容器リーダと、
前記第１サンプラ部が搭載する前記複数の試料ラックとは別の複数の試料ラックを移動
可能に搭載する第２のサンプラ部と、
前記第２のサンプラ部に搭載された前記複数の別試料ラックを前記第２のサンプラ部外
へ移送する第２の移動機構と、
前記第２の移動機構により外部に移送される試料ラックに保持された複数の試料容器内
の各試料識別情報を読み取る第２の容器リーダと、
前記第１の移動機構により移動された前記複数の試料ラック及び前記第２の移動機構に
移動された前記複数の別の試料ラックに保持されたそれぞれの測定対象試料容器を単一の
試料分注位置へ配置するよう移動する第３の移動機構と、
前記単一の試料分注位置で前記測定対象試料容器内の各測定対象試料を吸引するサンプ
ル分注プローブと、
を備えることを特徴とする自動分析装置。
【請求項３】
前記第２の移動機構により移動される前記測定対象試料ラックに保持される前記複数の
試料容器内の各試料液面を検出する液面検出器を有することを特徴とする請求項１に記載
の自動分析装置。
【請求項４】
前記第２の移動機構により前記第２のサンプラ部外へ移送される前記複数の別試料ラッ
クに保持される複数の試料容器内の各試料液面を検出する液面検出器を有することを特徴
とする請求項２に記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記第２の移動機構は、更に、前記単一の試料分注位置で停止した前記測定対象試料ラ
ック又は前記測定対象試料容器を上下方向へ移動する第３の移動機構を有し、
前記第３の移動機構は、測定対象試料の液面が前記液面検出器により検出される所定の
高さとなる吸引位置で前記測定対象試料ラック又は前記測定対象試料容器を停止すること
を特徴とする請求項３に記載の自動分析装置。
【請求項６】
前記第２の移動機構は、更に、前記単一の試料分注位置で停止した前記移送された別対
象試料ラック又は前記別対象試料ラックに保持された測定対象試料容器を上下方向へ移動
する第３の移動機構を有し、
前記第３の移動機構は、測定対象試料の液面が前記液面検出器により検出される所定の
高さとなる吸引位置で前記移送された別対象試料ラック又は前記別対象試料ラックに保持
された測定対象試料容器を停止することを特徴とする請求項４に記載の自動分析装置。
【請求項７】
前記第１の移動機構は、前記第１のサンプラ部に搭載された前記測定対象試料ラックを
第１のレーンを経由して前記第２のサンプラ部へ移送し、前記第２のサンプラ部内へ移動
した前記試料ラックを第２のレーンを経由して前記第１のサンプラ部へ移送することを特
徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項８】
前記第１の移動機構は、共通レーンを経由して前記第１のサンプラ部に搭載された前記
測定対象試料ラックを前記第２のサンプラへ移動し、
前記共通レーンを経由して前記第２のサンプラ部内へ移動した前記試料ラックを前記第
１のサンプラ部へ移動すること
を特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項９】
前記第１のサンプラ部は、待機領域に載置される前記複数の試料ラックを一方向へ移動
可能に支持する第１ベルトと、
前記第１のベルトの前記一方向端部に接続され、前記測定対象試料ラックを第１の移動
機構により前記割込領域に前記第１の移動機構によりに載置された前記試料ラックを前記
一方向へ移動可能に支持すると共に前記測定対象試料ラックを前記第１のサンプラ部外へ
送出する引出位置を備える割込領域を有する第２のベルトと、
で構成され、
前記割込領域に前記測定対象試料ラックが載置されたとき、前記第１のベルトは、前記
複数の試料ラックの移動を停止し、前記第１の移動機構により前記割込領域に載置された
前記測定対象試料ラックが前記引出位置から前記第２のサンプラ部へ引出された後、移動
動作を再開することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項１０】
前記第１のサンプラ部は、緊急ラック引き込み口となる空き領域部を有しており、
緊急測定対象試料を収容する緊急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料ラック
を前記空き領域部に設置することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項１１】
前記第２のサンプラ部はサンプリング動作の停止中に、緊急測定対象試料を収容する緊
急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料ラックを前記第２のサンプラ内の移動可
能位置に直接に設置できる構成にすることを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項１２】
前記第２のサンプラ部はサンプリング動作の停止中に、緊急測定対象試料を収容する緊
急試料容器又は緊急試料容器を保持する緊急試料ラックを前記第２のサンプラ内の移動可
能位置に直接に設置できる構成にすることを特徴とする請求項２に記載の自動分析装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１２−１８９５８６（Ｐ２０１２−１８９５８６Ａ）
【公開日】平成２４年１０月４日（２０１２．１０．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−３９２００（Ｐ２０１２−３９２００）
【出願日】平成２４年２月２４日（２０１２．２．２４）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年１０月４日（２０１２．１０．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２４年２月２４日（２０１２．２．２４）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【Ｆターム（参考）】
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