説明

自動分析装置

【課題】分注プローブを洗浄液で洗浄するメンテナンス機能は、分注プローブの洗浄を実施して分注プローブの汚れが解消された状況でも分注プローブを洗浄液で洗浄するため、洗浄液の無駄使いが発生する。さらに、当該機能は実行時間が長いため、測定開始前、装置立上げ時の自動メンテナンス起動機能に当該機能が登録されていた場合、測定を開始するまでの時間、装置が立ち上がるまでの時間がかかってしまう。
【解決手段】測定時の分注プローブ洗浄動作が実施されたか否かを監視し、分注プローブ洗浄が実施された後の自動メンテナンス起動機能に登録された分注プローブ洗浄メンテナンスでは分注プローブの洗浄動作を省略する。また、分注プローブ洗浄が未実施の場合はオペレータにアラームで通知し、分注プローブの洗浄を促すことを特徴とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、血液,尿などの生体サンプルを分析する自動分析装置に係り、特に測定時の分注プローブ洗浄の実施状況を監視し、自動メンテナンス起動機能に登録された分注プローブ洗浄メンテナンスの分注プローブ洗浄処理の実施要否を判断する自動分析装置に関する。
【背景技術】
【0002】
分注プローブは試薬,サンプルを吸引,吐出する機構であるが、使用した試薬によりサンプリング精度の不良,詰まりが発生する。または、ある患者のサンプルが他の患者のサンプルに混入してしまうクロス・コンタミネーションが発生する可能性があるため、状況に応じて分注プローブを洗浄液で洗浄する必要がある。分注プローブの洗浄は、分析中に随時行うものと、分析装置の立ち上げ時に測定準備のために洗浄するものがある。後者の洗浄を自動的に行う技術が特許文献1に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開平2−80962号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
分注プローブを洗浄液で洗浄するメンテナンス機能は、分注プローブの洗浄を実施して分注プローブの汚れが解消された状況でも分注プローブを洗浄液で洗浄するため、洗浄液の無駄使いが発生する。さらに、当該機能は実行時間が長いため、測定開始前、装置立上げ時の自動メンテナンス起動機能に当該機能が登録されていた場合、測定を開始するまでの時間、装置が立ち上がるまでの時間がかかってしまう。
【0005】
また、オペレータは分注プローブ洗浄が実施されたかどうか分からないため、分注プローブの洗浄タイミングが正確に把握できない点である。
【課題を解決するための手段】
【0006】
測定時の分注プローブ洗浄動作が実施されたか否かを監視し、分注プローブ洗浄が実施された後の自動メンテナンス起動機能に登録された分注プローブ洗浄メンテナンスでは分注プローブの洗浄動作を省略する。また、分注プローブ洗浄が未実施の場合はオペレータにアラームで通知し、分注プローブの洗浄を促すことを特徴とする。
【発明の効果】
【0007】
従来の分注プローブ洗浄メンテナンスは、分注プローブの洗浄が必要か否かに関係なく常に分注プローブ洗浄処理を実施していた。本発明では、他検体の測定結果に影響を及ぼす場合だけ分注プローブの洗浄処理を実施することにより、洗浄液の使用量を大幅に削減でき、また測定開始までの時間、装置立上げ時間が短縮できることにより一日当りの測定検体数を増やすことが可能となる。さらに、分注プローブの洗浄が未実施の場合は、オペレータにアラームにて通知することにより分注プローブの洗浄タイミングを正確に把握することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】本発明の一実施例である自動分析装置の全体構成図。
【図2】本発明の仕組みを示した図。
【図3】分注プローブ洗浄の実施,未実施を確認する処理フロー。
【図4】測定時の分注プローブ洗浄要否情報の更新処理フロー。
【図5】分注プローブ洗浄メンテナンス実行時の分注プローブ洗浄要否情報の更新処理フロー。
【図6】自動メンテナンス起動機能に登録された分注プローブ洗浄メンテナンスの動作がスキップされることを示す処理フロー。
【図7】分注プローブ洗浄通知,分注プローブ洗浄メンテナンス実行を示す図。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下に、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。
【0010】
図1は、生体サンプルとして血液,尿などを分析することが可能な自動分析装置の概略構成図である。
【0011】
サンプルの設置されたラック1が搬送機構3により引き込まれ、そのラック1に保持されて、サンプル吸引位置に位置付けられた検体(サンプル)2は、サンプルプローブ4にて吸引され、反応ディスク9の反応容器5に検体(サンプル)分注位置において放出される。検体が放出された反応容器5は、反応ディスク9の回転により、第1の試薬分注位置に移動され、そこで、その反応容器5には試薬ディスク15に保持されている試薬カセット16内の第1の試薬が、第1の試薬プローブ11により分注される。第1の試薬が分注された反応容器5は、攪拌位置に移動され、そこで攪拌装置6によりサンプルと第1の試薬との攪拌が行われる。
【0012】
更に、第2の試薬の添加が必要な場合は、攪拌処理済みの反応容器5は、第2の試薬分注位置に移動され、そこで、反応容器5には、試薬ディスク15に保持されている第1試薬と同じ試薬カセット16内の第2の試薬が第2の試薬プローブ13によって分注される。分注済みの反応容器5は、攪拌位置に移動され、そこで、攪拌装置7により反応容器5内の検体,第1の試薬及び第2の試薬の攪拌が行われ、その反応液が生成される。
【0013】
反応液が入った反応容器5は測定位置に移動され、そこで、検出光学装置10により反応液の多波長吸光度測定が行われる。
【0014】
検出光学装置10から出力された信号は、図には明示されていないアナログ・ディジタル変換器の処理を受ける。このデータに基づいて、検量線の式を求めて検量線を作成し、キャリブレーションの成否が判定されて、この成否が記憶部32に送信される。ここで、キャリブレーションの成功とは、検量線が作成され、作成された検量線が、過去の経験的に得られた検量線から大きく逸脱していないことをいい、キャリブレーションの失敗とは、検量線が作成されない、または、作成された検量線が、過去の経験的に得られた検量線から大きく逸脱していることをいう。コントローラ20には、過去に経験的に得られた検量線のデータと、逸脱許可範囲に関するデータを備えておき、このデータに基づいて、キャリブレーションの成否を判定する。
【0015】
なお、コントローラ20は、キャリブレーションの成否の判定を行わず、得られた検量線の式に関する情報を記憶部32に送信し、記憶部32において、過去に経験的に得られた検量線のデータと、逸脱許可範囲に関するデータを備えておき、キャリブレーションの成否の判定を行うようにしてもよい。
【0016】
精度管理試料の設置されたラック1が搬送機構3により引き込まれ、標準液試料同様に反応液の多波長吸光度測定が行われる。ここで、精度管理とは、既知の濃度の試料(精度管理検体)を測定して、この測定結果が所定の範囲内におさまっているか否かを判定することにより、自動分析装置及び試薬等が良好な状態を保っているか否かをチェックする作業のことである。
【0017】
検出光学装置10から出力された信号を標準液試料と同様に、アナログ・ディジタル変換器で処理を行う。このデータに基づいて、コントローラ20において、精度管理の成否が判定される。ここで、精度管理の成功とは、精度が測定され、測定された精度が所定の精度を保っている状態をいう。精度管理の失敗とは、精度が測定されない、あるいは、測定された精度が所定の精度を保っていない状態をいう。判定された精度管理の成否は、記憶部32に送信される。
【0018】
なお、コントローラ20は精度管理の成否の判定を行わず、測定できたかできないかの情報、測定できた場合の測定値の情報のみを記憶部32に送信し、記憶部32において精度管理の成否の判定を行うようにしてもよい。
【0019】
操作部31は例えばキーボードやCRTから構成され、検量線情報の表示,精度管理情報の表示,入力操作などを行うものである。記憶部32はハードディスクなどから構成され、分析パラメータ,試薬情報,検量線情報,精度管理情報などを記憶している。
【0020】
図2は本発明の仕組みを示した図である。
【0021】
制御部ではホスト、または画面より依頼されたサンプル種別,項目を管理する依頼テーブル204,サンプルプローブ洗浄条件テーブル202、および試薬プローブ洗浄条件テーブル203の各々の情報を検体管理205が一元管理する分析依頼テーブル206の情報を分析部へ送信する。
【0022】
分析部では、スケジュール管理208が受信した分析依頼情報からサンプル分注,試薬分注,サンプルプローブ洗浄,試薬プローブ洗浄を動作実行テーブル209にテスト項目単位に作成する。また、動作実行テーブルには実行状況情報があり、実行状況監視210が監視する。実行状況が完了になった時点、または動作中に異常が発生して中断した時点で制御部に対して、サンプルプローブ,試薬プローブ洗浄の実施,未実施を報告する。
【0023】
制御部では分析部から報告された分注プローブ洗浄実施テーブル207の情報のサンプルプローブ,試薬プローブ洗浄フラグを元に分注プローブ洗浄要否テーブル201のサンプルプローブ,試薬プローブの洗浄要否フラグを設定し、記憶する。
【0024】
図3は分注プローブ洗浄の実施,未実施監視処理フローである。
【0025】
まず、動作実行テーブルの実行状況を取得する301。実行状況302が実行完了の場合は、サンプルプローブ洗浄フラグ303,試薬プローブ洗浄フラグ304に1(実施)を設定する。サンプルプローブの洗浄指定がある場合、サンプルプローブ洗浄の実施,未実施を判定(305)し、未実施の場合はサンプルプローブ洗浄フラグに0(未実施)を設定する。同様に試薬プローブについても試薬プローブの洗浄指定がある場合、試薬プローブ洗浄の実施,未実施を判定(307)し、未実施の場合は試薬プローブ洗浄フラグを0(未実施)に設定し(308)、上記処理結果を報告する(309)。
【0026】
図4は測定時のサンプルプローブ,試薬プローブ洗浄要否テーブル更新処理フローである。
【0027】
サンプルプローブ洗浄要否フラグ401,試薬プローブ洗浄要否フラグ402に0(洗浄不要)を設定する。分注プローブ洗浄実施テーブルの情報を取得(403)し、サンプルプローブ洗浄フラグ404が0(未実施)の場合はサンプルプローブ洗浄要否フラグを1(洗浄要)に設定(405)し、試薬プローブ洗浄フラグ406が0(未実施)の場合は試薬プローブ洗浄要否フラグを1(洗浄要)に設定する(407)。
【0028】
図5は分注プローブ洗浄メンテナンス実行時のサンプルプローブ,試薬プローブ洗浄要否テーブル更新処理フローである。
【0029】
メンテナンス完了後にサンプルプローブ洗浄メンテナンス、または試薬プローブ洗浄メンテナンスが実行されたか否かを判定し、実行されたメンテナンスがサンプルプローブ洗浄メンテナンス実行の場合(501)、サンプルプローブ洗浄要否フラグを0(洗浄不要)に設定(502)し、同様に試薬プローブ洗浄メンテナンス実行の場合(503)、試薬プルプローブ洗浄要否フラグを0(洗浄不要)に設定(504)する。
【0030】
図6は自動メンテナンス起動機能に登録された分注プローブ洗浄メンテナンスで分注プローブ洗浄が省略されるフローである。
【0031】
自動メンテナンス起動機能に登録されたメンテナンス情報を取得(601)し、登録されているメンテナンスについて、ひとつひとつ確認する(602)。登録されているメンテナンスがサンプルプローブ洗浄メンテナンス(603)の場合、サンプルプローブ洗浄要否フラグを判定(604)し、サンプルプローブ洗浄要否フラグが0(実施不要)の場合はサンプルプローブ洗浄メンテナンスは実行しない。同様に登録されているメンテナンスが試薬プローブ洗浄メンテナンス(605)の場合、試薬プローブ洗浄要否フラグを判定(606)し、試薬プローブ洗浄要否フラグが0(実施不要)の場合は試薬プローブ洗浄メンテナンスは実行しない。サンプルプローブ洗浄要否フラグ,試薬プローブ洗浄要否フラグが1(実施要)の場合はサンプルプローブ洗浄,試薬プローブ洗浄メンテナンス実行を指示する(607)。
【0032】
図7はオペレータへのアラーム通知,試薬プローブ洗浄メンテナンス画面の図である。
アラーム画面701には、試薬プローブ洗浄を促す内容を出力することにより、オペレータがメンテナンス画面702の試薬プローブ洗浄を実施できることを示す。
【符号の説明】
【0033】
1 検体ラック
2 検体(サンプル)容器
3 ラック搬送ライン
4 検体分注プローブ
5 反応容器
6,7 撹拌機構
8 洗浄機構
9 反応ディスク
10 検出光学装置
11,13 試薬分注プローブ
12 試薬開封機構
14 カセット搬送機構
15 試薬ディスク
16 試薬カセット
17 試薬バーコード読取装置
18 試薬カセット投入口
20 コントローラ
31 操作部
32 記憶部

【特許請求の範囲】
【請求項1】
液体を所定量吸引する分注プローブと、該分注プローブで吸引した液体を吐出する反応容器と、該分注プローブを洗浄する洗浄機構と、を備えた自動分析装置において、
前記分注プローブを前記洗浄機構で洗浄したか否かを記憶する記憶機構と、
該記憶機構に記憶された洗浄の有無の情報に基づき、前記洗浄機構での前記分注プローブの洗浄動作を制御する制御機構を備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項2】
請求項1記載の自動分析装置において、
前記分注プローブの洗浄を予め定めた時刻に実施する自動メンテナンス機能を備え、前記記憶機構に記憶された洗浄の有無の情報に基づき、該自動メンテナンス機構での前記分注プローブの洗浄動作を制御する制御機構を備えたことを特徴とする自動分析装置。
【請求項3】
請求項1記載の自動分析装置において、
分注プローブの洗浄が未実施であることを通知する通知機構を備えたことを特徴とする自動分析装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【公開番号】特開2012−21858(P2012−21858A)
【公開日】平成24年2月2日(2012.2.2)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−159251(P2010−159251)
【出願日】平成22年7月14日(2010.7.14)
【出願人】(501387839)株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Fターム(参考)】