落下試験機
【課題】試験対象物を載置するテーブル形状を変更して、装置構成が簡単でかつ小型化が図れると共に、操作も簡単な落下試験機を提供する。
【解決手段】試験対象物１０の落下試験装置２０を、基台１１に突設した支柱１２、支柱１２にスライド可能に取り付けられて基準位置に固定できる昇降部材１３、昇降部材１３を所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構１４、昇降部材１３に対して水平方向に移動可能で移動方向に対して左右に４５度ずつの角度を備える切欠部１６を備える試験対象物の載置テーブル１５、及び昇降部材１３の強制落下中に載置テーブル１５を移動させて試験対象物１０の落下範囲から取り除く水平移動機構１８とから構成する。そして、載置テーブル１５に試験対象物１０を斜めに置くことにより、落下試験時の載置テーブル１５の水平方向の移動量を低減して落下試験機を小型化した。
【解決手段】試験対象物１０の落下試験装置２０を、基台１１に突設した支柱１２、支柱１２にスライド可能に取り付けられて基準位置に固定できる昇降部材１３、昇降部材１３を所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構１４、昇降部材１３に対して水平方向に移動可能で移動方向に対して左右に４５度ずつの角度を備える切欠部１６を備える試験対象物の載置テーブル１５、及び昇降部材１３の強制落下中に載置テーブル１５を移動させて試験対象物１０の落下範囲から取り除く水平移動機構１８とから構成する。そして、載置テーブル１５に試験対象物１０を斜めに置くことにより、落下試験時の載置テーブル１５の水平方向の移動量を低減して落下試験機を小型化した。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本出願は落下試験機に関し、特に、商品を梱包した状態の梱包部材を試験対象物として所定の高さから自由落下させることにより、梱包部材の内包商品に対する保護性能を試験する落下試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
梱包部材は、電気製品等の商品を梱包し、輸送中に外部から加わる衝撃から内部の商品を保護するためのものである。落下試験機は、商品が梱包された梱包部材を試験対象物として規定の高さから自由落下させ、落下後に内部の商品が梱包部材によって確実に保護されているかどうかを試験する装置である。落下試験機は一般に、装置基台、基台に突設された支柱、支柱上をスライドして基台からの高さを変更できる昇降部材、昇降部材に取り付けられて梱包部材を保持するテーブル、及びテーブルによる梱包部材の保持を解除する保持解除装置を備えている。
【０００３】
保持解除装置は、テーブル上に保持した梱包部材にストレスを与えずに落下させるために、試験開始時に重力加速度による梱包部材の自由落下速度よりも速い速度で降下させたテーブルを、梱包部材の自由落下中に落下範囲から取り除く装置である。このような保持解除装置には、テーブルを水平方向に引き抜く方式、テーブルを円弧運動させて落下範囲から取り除く方式（特許文献１参照）、２組に分割したテーブルを梱包部材の幅方向に開く方式等がある。また、テーブルの代わりにアームで梱包部材を両側から挟んで保持し、落下試験時にアームを開く方式（特許文献２参照）や、梱包部材の上面を上方から吸引して保持し、落下試験時に吸引を解除する方式の落下試験機もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３４４２５１号公報（図５）
【０００５】
【特許文献２】特開２００３−３４４２５２号公報（図９）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の落下試験機の各方式における梱包部材の保持解除装置には以下のような問題点があった。
（梱包部材の自由落下中にテーブルを水平方向に引き抜く方式）
梱包部材が大きい場合は、梱包部材が載る部分のテーブルの長さが、梱包部材の端面から重心までの距離よりも長くなるため、テーブルを引き抜く時間が長くなり、テーブル下降距離も長くなるので、低い位置からの落下評価試験ができない。また、テーブルを水平方向に移動させる長さが必要であるので、落下試験機のサイズが大きくなる。
【０００７】
（梱包部材の自由落下中にテーブルを円弧運動させて取り除く方式）
梱包部材が大きい場合は、テーブル長さに梱包部材の長さの半分以上の支持半径が必要なため、大型梱包部材の低い位置からの落下評価試験ができない。
（２組に分割したテーブルを梱包部材の幅方向に開く方式）
駆動軸が増えることと、分割したテーブルの間隔を梱包部材の大きさによってその都度調正する必要があり、操作が煩雑である。
【０００８】
（テーブルの代わりにアームで梱包部材を両側から挟んで保持する方式）
梱包部材を両側からアームで挟むので、重い梱包部材を把持することができず、また、梱包部材の把持した部分が変形し、正確な落下評価試験ができない。
（梱包部材の上面を上方から吸引して保持する方式）
梱包部材の状面を吸引して保持するので、重い梱包部材を吸引保持することができず、また、梱包部材の吸引した部分が変形し、正確な落下評価試験ができない。
【０００９】
そこで、本出願は、前記従来の落下試験機の有する問題点を解消し、装置構成が簡単でかつ小型化が図れると共に、操作も簡単な落下試験機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前記目的を達成する本出願の落下試験機は、基台に対して垂直方向に突設された支柱、支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、昇降部材を落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び昇降部材の強制落下中に載置テーブルを試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、載置テーブルには、載置テーブルの移動方向に対して左右対称に４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１１】
本出願の落下試験機によれば、以下のような効果が得られる。
（１）大型の梱包製品でも低い位置からの落下評価が可能になる。
（２）テーブルを引抜く長さが短いため、落下試験機の全長を短くすることができる。
（３）テーブルを降下させる距離が短くなるため試験機の高さを低くすることができる。
（４）テーブルを引抜く駆動源の出力が小さくなるため落下試験機が安価になる。
（５）大物から小物まで梱包製品の大きさが変化しても無調整で落下試験が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】（ａ）はテーブル回転式の落下試験機の従来例の構成を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）の落下試験機に備えられたテーブルに試験対象物が載置された状態を示す部分側面図、（ｃ）は（ｂ）の状態からテーブルが重力加速度より大きい加速度で落下した状態を示す部分側面図、（ｄ）は（ｃ）の状態の直後にテーブルが回転して試験対象物の落下範囲から外れた状態を示す部分側面図である。
【図２】（ａ）はテーブル引抜式の落下試験機の従来例の構成を示す側面図、（ｂ）は（ａ）に示された落下試験機のテーブルに試験対象物が載置されて落下試験を行う時の、試験対象物とテーブルの落下面からの位置関係及びテーブルの引抜距離を、時間の推移と共に示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。
【図３】（ａ）〜（ｄ）は、図２（ａ）に示したテーブル引抜式の落下試験機において、テーブルに載置した試験対象物のサイズが大きすぎて落下試験に失敗する過程を時間の推移と共に示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。
【図４】（ａ）は本出願に係る落下試験機の一実施例の構成を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）に示した落下試験機のテーブルの別の実施例の構成を示す部分斜視図である。
【図５】図４に示された落下試験機のテーブルに試験対象物が載置されて落下試験を行う時の、試験対象物とテーブルの落下面からの位置関係及びテーブルの引抜距離を、時間の推移と共に（ａ）〜（ｄ）の段階で示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。
【図６】（ａ）は本出願の落下試験機のテーブルに小さな試験対象物を載置した状態を示す部分平面図、（ｂ）は本出願の落下試験機のテーブルに細長い試験対象物を載置した状態を示す部分平面図、（ｃ）は本出願の落下試験機のテーブルに大きな試験対象物を載置した状態を示す部分平面図である。
【図７】（ａ）は図４（ａ）に示した落下試験機の平面図、（ｂ）は（ａ）に示した落下試験機においてテーブルの移動方向を斜めにした変形実施例の平面図である。
【図８】（ａ）は図４（ｂ）に示したテーブルの上面に試験対象物の載置位置を示すマークを記載した実施例を示す部分斜視図、（ｂ）は図４（ｂ）に示したテーブルの上面に試験対象物を載置するための凹部を形成した実施例を示す部分斜視図、（ｃ）は図４（ａ）に示した落下試験機に転落防止治具を設けた場合の転落防止治具によるテーブル上の試験対象物の保持状態を示す部分斜視図である。
【図９】（ａ）は本出願の落下試験機の第２の実施例の構成を示すテーブル部分の部分斜視図、（ｂ）は（ａ）に示した第２の実施例の落下試験機におけるテーブルの動作を示す部分斜視図、（ｃ）は本出願の落下試験機の第２の実施例の変形例の構成を示すテーブル部分の部分斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、添付図面を用いて本出願の落下試験機の実施の形態を、具体的な実施例に基づいて詳細に説明する。なお、本出願の落下試験機の動作をより良く理解するために、一般的なテーブル回転式とテーブル引抜式の落下試験機の構成、動作及び問題点を図１から図３を用いて説明する。
【００１４】
図１（ａ）はテーブル回転式の落下試験機４０の構成を示すものである。この例の落下試験機４０には、装置の基台１、１本の支柱２、支柱２上をスライドする昇降部材３、試験対象物を保持するテーブル５及び制御装置７がある。また、昇降部材３内にはテーブル５による試験対象物の保持を解除する図示しない保持解除装置がある。昇降部材３は試験対象物の落下試験高さに合わせて支柱２の任意の位置に固定できる。落下試験時には図１（ｂ）に示すように、テーブル５に試験対象物１０が載置される。図１（ｂ）にはテーブル５を垂直方向に移動させる保持解除装置である垂直移動機構４が示されている。試験対象物１０は、例えば、電子機器を梱包した梱包部材１０である。なお、以後の説明では試験対象物１０は梱包部材１０として説明する。
【００１５】
テーブル５の上に試験対象物である梱包部材１０が載置されて落下試験が開始されると、まず、図１（ｃ）に示すように、垂直移動機構４の動作によってテーブル５が重力加速度よりも速い加速度で降下する。続いて、図１（ｄ）に示すようにテーブル回転機構６の動作によってテーブル５が回転して梱包部材１０の落下範囲から外れる。この結果、梱包部材１０が自然落下して基台１の上に落下する。落下試験機４０では、テーブル５の長さに梱包部材１０の長さの半分以上の支持半径が必要なため、大型の梱包部材１０の低い位置からの落下評価試験ができないという問題点があった。
【００１６】
図２（ａ）はテーブル引抜式の落下試験機５０の構成を示すものである。落下試験機５０には、装置の基台１、２本のガイドレール２Ｇ、支柱２Ｐ，ステー２Ｓ、ガイドレール２Ｇ上をスライドする昇降部材３、垂直移動機構４、試験対象物を保持するテーブル５Ｓ、制御装置７、テーブル引抜機構８及び落下高さ調整機構９がある。垂直移動機構４はテーブル５Ｓとテーブル引抜機構８を重力加速度より大きな加速度で下方に移動させる。テーブル引抜機構８はテーブル５Ｓを水平方向に移動させて本体内に引き込む、また、落下高さ調整機構９は梱包部材の落下試験高さに合わせて、テーブル５Ｓを任意の位置に固定できる。
【００１７】
図２（ｂ）は、落下試験時のテーブル５Ｓと梱包部材１０及び基台１との位置関係を、平面図及び側面図を併用して時間の経過と共に示すものである。図２（ｂ）の左側の部分には、テーブル５Ｓに梱包部材１０が載置された落下前の状態が示されている。この時、テーブル５Ｓの上面の落下面（基台１の上面）からの高さをＨとする。図２（ｂ）の中央の部分には、落下試験開始直後の状態が示されている。この時、テーブル５Ｓは重力加速度より大きい加速度でテーブル下降高さｈ１だけ下降する。梱包部材１０は重力加速度で自然落下中である。図２（ｂ）の右側の部分には、テーブル５Ｓがテーブル引き抜き長さＬ１だけ引き抜かれた状態が示されている。テーブル５Ｓの先端部は、図２（ａ）に示したテーブル引抜機構８により、梱包部材１０が高さＨから下降高さｈ１だけ下降するまでの間に引き抜き長さＬ１だけ移動し、この後、梱包部材１０が基台１の上に落下する。
【００１８】
図３（ａ）〜（ｄ）は、図２（ａ）に示したテーブル引抜式の落下試験機５０において、テーブル５Ｓに載置した梱包部材１０のサイズが大きすぎて落下試験に失敗する過程を、時間の推移と共に示す平面図と側面図とを組み合わせて示すものである。図３（ａ）はテーブル５Ｓに梱包部材１０が載置された落下前の状態を示すものである。図３（ｂ）はテーブル５Ｓが重力加速度より大きい加速度で高さＨから高さｈ１だけ下降した状態を示すものである。図３（ｃ）は梱包部材１０が高さＨから高さｈ１だけ下降するまでの間に、テーブル５Ｓを梱包部材１０の落下範囲から引き抜くことができず、梱包部材１０の一端がテーブル５Ｓの先端部に衝突した状態を示すものである。図３（ｄ）は梱包部材１０が基台１の上に傾いて落下した状態を示すものであり、落下試験が失敗に終わった状態を示すものである。
【００１９】
このように、梱包部材１０が大きい場合は、落下試験時に梱包部材１０が載る部分のテーブル５Ｓの長さが長く、テーブルを引き抜く時間が長くなってテーブルが梱包部材１０の落下範囲から引き抜かれる前に梱包部材１０がテーブル５Ｓまで達することがある。このような場合は落下試験が失敗に終わり、低い位置からの落下評価試験ができないという問題点があった。また、テーブルを水平方向に移動させる長さが長いのでテーブル引抜機構８を大型化してその出力を大きくする必要であり、落下試験機のサイズが大きくなるという問題点もあった。
【００２０】
図４（ａ）は、以上のような問題点を解消する本出願に係る落下試験機２０の一実施例の構成を示すものである。落下試験機２０には基台１１があり、基台１１の上には垂直に２本のガイド支柱１２が突設されている。ガイド支柱１２には、ガイド支柱１２に沿ってスライドする昇降部材１３があり、ガイド支柱１２の上端部に掛け渡された天井板１２Ｃには昇降部材１３に取り付けられたテーブル１５の落下高さを調整する落下高さ調整機構１９が設けられている。また、天井板１２Ｃと基台１１との間には補強材である２本のステー１２Ｓが設けられており、２本のステー１２Ｓの間の基台１１上には落下試験機２０の制御装置１７がある。
【００２１】
昇降部材１３は固定部１３Ｂと移動部１３Ａから構成されており、固定部１３Ｂには移動部１３Ａを固定部１３Ｂから下方に所定距離だけ、重力加速度を超える加速度で強制落下させる下方駆動機構１４が設けられている。また、昇降部材１３の移動部１３Ａには、動作板２８を介してテーブル１５が取り付けられている。テーブル１５は移動部１３Ａに取り付けられた水平移動機構であるテーブル引抜機構１８によって動作板１８が移動させられると、矢印Ｍで示す方向に移動することができる。そしてテーブル１５には、テーブル１５の移動方向Ｍに対して左右対称に４５度ずつの角度を備えるＶ字状の切欠部１６が設けられている。
【００２２】
この実施例の落下試験機２０にあるテーブル１５は、矩形のテーブルに切欠部１６を設けたものであり、落下試験機２０のテーブル１５に載置される試験対象物である梱包部材１０は、落下試験機２０の長手方向に対して斜めにテーブル１５の上に載置される。即ち、梱包部材１０の底面の隣り合う底辺が、テーブル１５の切欠部１６の近傍にある破線で示す位置に載置される。なお、この実施例のテーブル１５は、矩形の板状体にＶ字状の切欠部１６を設けたものであるが、別の実施例として、図４（ｂ）に示すように、第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒを備え、上方から見てＹ字状のテーブル２５とすることもできる。
【００２３】
図５は、図４（ｂ）に示された落下試験機２０のテーブル２５に梱包部材１０が載置されて落下試験を行う時の、梱包部材２０とテーブル１５の位置関係を、平面図と側面図とを用いて時間の経過と共に示すものである。図５の（ａ）で示す部分には、テーブル２５の上に梱包部材１０が置かれた落下前の状態が示されている。梱包部材１０の底面の隣接する２辺がテーブル２５の第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの縁部の上に載置されている。この時のテーブル２６の基台１１からの高さ（落下高さ）を高さＨであり、この高さは梱包部材１０の落下試験高さによって決まるので従来装置と同じである。
【００２４】
図５の（ｂ）で示す部分には、テーブル２５の上に梱包部材１０が置かれた状態から、テーブル２５が急降下したテーブル下降状態が示されている。テーブル２５の急降下における加速度は重力加速度より大きく、テーブル２５が急降下した状態では、梱包部材１０は宙に浮いた状態にある。テーブル２５が急降下する高さを高さｈ２とする。テーブル２５が急降下する高さを高さｈ２は、後述するようにテーブル２５の引抜き長さが従来に比べて短いので、図２（ａ）に示したテーブル５Ｓの落下高さｈ１よりも小さくすることができる。
【００２５】
図５の（ｃ）で示す部分には、テーブル２５が下降した状態から、テーブル２５が動作板２８の移動によって梱包部材１０の直下から退避した状態が示されている。テーブル２５は、重力加速度より大きい加速度で急降下した後、或いは急降下中に、図４に示したテーブル引抜機構１８によって、テーブル引抜き長さＬ２だけ移動させられる。テーブル引抜き長さＬ２は、梱包部材１０の落下範囲にテーブル２５が存在しなくなる長さである。また、テーブル２５がテーブル引抜き長さＬ２だけ移動する時間は、梱包部材１０が高さＨから高さｈ２だけ自然落下する時間よりも短い時間である。
【００２６】
一方、落下試験機２０のテーブル１５や２５は、梱包部材１０の底面の隣り合う２辺を僅かな面積で支えて梱包部材１０を保持しているので、テーブル引抜き長さＬ２は、図２に示した落下試験機５０のテーブル５Ｓの引抜き長さＬ１よりも短くて済む。このため、テーブル引抜機構１８を出力を小さくすることができ、図２に示した落下試験機５０のテーブル引抜き機構８よりも小型化することができる。また、テーブル引抜き機構１８の小型化により、ガイド支柱１２からステー１２Ｓまでの長さを短くすることができ、落下試験機２０の小型化を図ることができる。
【００２７】
更に、テーブル引抜き機構１８のテーブル引抜き長さＬ２が短く、短時間でテーブル１５や２５を梱包部材１０の落下範囲から引抜くことができるので、テーブル１５や２５の落下高さｈ２も前述のテーブル５Ｓの落下高さｈ１よりも小さくすることができる。図５の（ｄ）で示す部分には、テーブル２５が落下完了した状態が示されている。梱包部材１０は、テーブル２５の切欠部２６をすり抜けて基台１１の上に落下するので、テーブル２５の引抜き長さＬ２が小さくても、梱包部材１０は落下時にテーブル２５に接触させずに基台１１の上に落下させることができる。
【００２８】
以上のように構成された落下試験機２０では、テーブル引抜機構１８の低出力化による小型化、テーブルの落下高さの低減により、落下試験機２０のサイズの小型化が図れ、安価に製造することができる。また、この構成の落下試験機２０では、図６（ａ）〜（ｃ）に示すように、テーブル２５には種々のサイズの梱包部材１０を載置することができる。図６（ａ）はテーブル２５に小さなサイズの梱包部材１０Ｓを載置した状態を示している。また、図６（ｂ）は、テーブル２５に細長いサイズの梱包部材１０Ｌを載置した状態を示している。更に、図６（ｃ）は、テーブル２５に大きなサイズの梱包部材１０Ｂを載置した状態を示している。
【００２９】
図７（ａ）は、図４（ａ）に示した落下試験機２０を平面視した状態を示している。この実施例の落下試験機２０では、前述のように、テーブル引抜き機構１８によって動作板２８がテーブル引抜き機構１８内に引き込まれると、テーブル１５が矢印Ｍで示す方向に移動する。一方、この落下試験機２０では、落下試験機２０の長手方向に対して梱包部材１０を４５度傾けてテーブル１５の上に載置して落下試験が行われる。
【００３０】
そこで、図７（ｂ）に示す変形実施例の落下試験機３０では、テーブル引抜き機構１８を昇降部材１３に対して斜め方向に傾けて、例えば４５度傾けてガイド支柱１２の間の部分に取り付けている。そして、テーブル引抜き機構１８が駆動する動作板３８の先端部を、第１と第２のアーム３５Ｌ，３５ＲでＬ字状に形成したテーブル３５の一方の先端部に連結している。この実施例の落下試験機３０では、第１のアーム３５Ｌと第２のアーム３５Ｒがそれぞれ落下試験機３０の長手方向と短手方向に一致するので、梱包部材１０を落下試験機３０の長手方向と同じ方向にテーブル３５の上に置くことができる。そして、テーブル引抜き機構１８によって動作板３８がテーブル引抜き機構１８内に引き込まれると、テーブル３５が矢印Ｎで示す方向に移動するので、落下試験機２０と同様の落下試験を行うことができる。
【００３１】
ここで、図４（ｂ）に示したテーブル２５の変形例を説明する。図８（ａ）は、テーブル２５の上面に、梱包部材１０の載置位置を示すマーク２１を記載した実施例を示している。梱包部材１０はこのマーク２１に沿ってテーブル２５の上に置けば、落下試験をミスなく行うことができる。また、図８（ｂ）は、テーブル２５の上面の梱包部材１０を載置する位置を窪ませて凹部２２を設けた実施例を示している。梱包部材１０はこの凹部２２の中にきっちり置けば、落下試験をミスなく行うことができる。更に、図８（ｃ）は、落下試験機に転落防止治具２３を設けた実施例を示すものである。転落防止治具２３はテーブル２５が落下してもその位置が変わらないように、落下試験機の動かない部分に取り付ける。転落防止治具２３を使用する場合は、テーブル２５のサイズに対して梱包部材１０のサイズが大きい場合である。
【００３２】
図９（ａ）は、本出願の第２の実施例の落下試験機３２の構成を示すものであり、テーブル部分のみを示すものである。第２の実施例では、図４（ａ）に示した落下試験機２０におけるテーブル引抜き機構１８は不要であり、テーブル２５は昇降部材の移動部１３Ａに取付板３３によって固着しておけば良い。第２の実施例では、テーブル２５を構成する第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６に対向する端面２５Ｔに、この端面２５Ｔから出没するスライド板２４が設けられている。スライド板２４は、第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６と反対側の端面に取り付けられた水平移動機構２７によって端面２５Ｔから出没させることができる。
【００３３】
スライド板２４の上面には、梱包部材を載置する時に使用するマーク２１を施しておけば、スライド板２４上に梱包部材を正しく載置することができる。図９（ｂ）は、水平移動機構２７によってスライド板２４がテーブル２５を構成する第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの内部に没入した状態を示すものである。この構成では、テーブル引抜き機構１８が不要であり、スライド板２４の移動距離も短いので水平移動機構２７のサイズも小型化でき、落下試験機３２のサイズを小さくすることができる。
【００３４】
また、図９（ｃ）に示すように、スライド板２４の代わりに、テーブル２５を構成する第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６に対向する端面２５Ｔに、この端面２５Ｔから出没する複数のスライド突起２９を設けることもできる。スライド突起２９も、第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６と反対側の端面に取り付けられた水平移動機構２７によって端面２５Ｔから出没させることができる。スライド突起２９の中間部分には、梱包部材を載置する時に使用するマーク３１を施しておけば、スライド突起２９上に梱包部材を正しく載置することができる。マーク３１に代えてスライド突起２９の先端部側を塗装して梱包部材の載置位置を示すようにしても良い。
【００３５】
以上、本発明を特にその好ましい実施の形態を参照して詳細に説明した。本発明の容易な理解のために、本発明の具体的な形態を以下に付記する。
【００３６】
（付記１） 基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び前記昇降部材の強制落下中に前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、
前記載置テーブルには、前記載置テーブルの移動方向に対して左右対称に４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴とする落下試験機。
（付記２） 前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを前記２本の支柱を結ぶ線に対して垂直方向に移動させることを特徴とする付記１に記載の落下試験機。
（付記３） 前記載置テーブルの上方には、前記載置テーブルに対して高さ調整が可能であり、前記載置テーブルに前記試験対象物が載置された時に、前記試験対象物の前記載置テーブルからの転落を防止する転落防止治具が設けられており、
前記転落防止治具は、前記昇降部材が前記落下位置から強制落下してもの位置が変わらないように設置されていることを特徴とする付記１又は２に記載の落下試験機。
（付記４） 前記載置テーブルの切欠部に隣接する部位には、前記載置テーブルに載置する試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする付記１から３の何れかに記載の落下試験機。
（付記５） 前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを、前記２本の支柱を結ぶ線に対して斜めの方向に移動させることを特徴とする付記１から4の何れかに記載の落下試験機。
【００３７】
（付記６） 前記載置テーブルは、上方から見た時にＹ字状をしていることを特徴とする付記１から４の何れかに記載の落下試験機。
（付記７） 前記テーブルの前記切欠部に対抗する端面に所定幅の凹部が設けられており、前記試験対象物は前記凹部に載置されることを特徴とする付記１から６の何れかに記載の落下試験機。
（付記８） 前記斜めの方向が４５度であることを特徴とする付記５に記載の落下試験機。
（付記９） 前記載置テーブルは、上方から見た時にＬ字状をしており、前記動作板は前記載置テーブルの一方の先端部に接続されていることを特徴とする付記８に記載の落下試験機。
（付記１０） 基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に取り付けられ、前記昇降部材を左右に二等分する線に対してそれぞれ４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられた試験対象物の載置テーブル、前記載置テーブルの前記切欠部側の端面から出没可能に設けられた前記試験対象物の保持部材、及び前記載置テーブルの前記切欠部の反対側に設けられて前記保持部材を前記端面から出没させる水平移動機構とを備え、
前記水平移動機構は、前記昇降部材の強制落下中に前記保持部材を移動させて前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除くことを特徴とする落下試験機。
【００３８】
（付記１１） 前記保持部材が前記端面に沿って設けられた板状部材から構成されることを特徴とする付記１０に記載の落下試験機。
（付記１２） 前記保持部材が前記端面から出没する複数のピン状部材から構成されることを特徴とする付記１０に記載の落下試験機。
（付記１３） 前記保持部材には、前記試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする付記１０から１２の何れかに記載の落下試験機。
（付記１４） 前記試験対象物が電子機器を梱包した直方体の梱包部材であることを特徴とする付記１から１３の何れかに記載の落下試験機。
【符号の説明】
【００３９】
１１ 基台
１２ ガイド支柱
１３ 昇降部材
１４ テーブル下方駆動機構
１５、２５、３５ テーブル
１６、２６、３６ 切欠部
１８ テーブル引抜機構
１９ 落下高さ調整機構
２０，３０、３２ 落下試験機
２１，３１ 載置位置マーク
２２ 載置用凹部
２３ 転落防止治具
２４ スライド板
２７ 水平移動機構
２８，３８ 動作板
２９ スライドピン
３２ 取付板
【技術分野】
【０００１】
本出願は落下試験機に関し、特に、商品を梱包した状態の梱包部材を試験対象物として所定の高さから自由落下させることにより、梱包部材の内包商品に対する保護性能を試験する落下試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
梱包部材は、電気製品等の商品を梱包し、輸送中に外部から加わる衝撃から内部の商品を保護するためのものである。落下試験機は、商品が梱包された梱包部材を試験対象物として規定の高さから自由落下させ、落下後に内部の商品が梱包部材によって確実に保護されているかどうかを試験する装置である。落下試験機は一般に、装置基台、基台に突設された支柱、支柱上をスライドして基台からの高さを変更できる昇降部材、昇降部材に取り付けられて梱包部材を保持するテーブル、及びテーブルによる梱包部材の保持を解除する保持解除装置を備えている。
【０００３】
保持解除装置は、テーブル上に保持した梱包部材にストレスを与えずに落下させるために、試験開始時に重力加速度による梱包部材の自由落下速度よりも速い速度で降下させたテーブルを、梱包部材の自由落下中に落下範囲から取り除く装置である。このような保持解除装置には、テーブルを水平方向に引き抜く方式、テーブルを円弧運動させて落下範囲から取り除く方式（特許文献１参照）、２組に分割したテーブルを梱包部材の幅方向に開く方式等がある。また、テーブルの代わりにアームで梱包部材を両側から挟んで保持し、落下試験時にアームを開く方式（特許文献２参照）や、梱包部材の上面を上方から吸引して保持し、落下試験時に吸引を解除する方式の落下試験機もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３４４２５１号公報（図５）
【０００５】
【特許文献２】特開２００３−３４４２５２号公報（図９）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の落下試験機の各方式における梱包部材の保持解除装置には以下のような問題点があった。
（梱包部材の自由落下中にテーブルを水平方向に引き抜く方式）
梱包部材が大きい場合は、梱包部材が載る部分のテーブルの長さが、梱包部材の端面から重心までの距離よりも長くなるため、テーブルを引き抜く時間が長くなり、テーブル下降距離も長くなるので、低い位置からの落下評価試験ができない。また、テーブルを水平方向に移動させる長さが必要であるので、落下試験機のサイズが大きくなる。
【０００７】
（梱包部材の自由落下中にテーブルを円弧運動させて取り除く方式）
梱包部材が大きい場合は、テーブル長さに梱包部材の長さの半分以上の支持半径が必要なため、大型梱包部材の低い位置からの落下評価試験ができない。
（２組に分割したテーブルを梱包部材の幅方向に開く方式）
駆動軸が増えることと、分割したテーブルの間隔を梱包部材の大きさによってその都度調正する必要があり、操作が煩雑である。
【０００８】
（テーブルの代わりにアームで梱包部材を両側から挟んで保持する方式）
梱包部材を両側からアームで挟むので、重い梱包部材を把持することができず、また、梱包部材の把持した部分が変形し、正確な落下評価試験ができない。
（梱包部材の上面を上方から吸引して保持する方式）
梱包部材の状面を吸引して保持するので、重い梱包部材を吸引保持することができず、また、梱包部材の吸引した部分が変形し、正確な落下評価試験ができない。
【０００９】
そこで、本出願は、前記従来の落下試験機の有する問題点を解消し、装置構成が簡単でかつ小型化が図れると共に、操作も簡単な落下試験機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前記目的を達成する本出願の落下試験機は、基台に対して垂直方向に突設された支柱、支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、昇降部材を落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び昇降部材の強制落下中に載置テーブルを試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、載置テーブルには、載置テーブルの移動方向に対して左右対称に４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１１】
本出願の落下試験機によれば、以下のような効果が得られる。
（１）大型の梱包製品でも低い位置からの落下評価が可能になる。
（２）テーブルを引抜く長さが短いため、落下試験機の全長を短くすることができる。
（３）テーブルを降下させる距離が短くなるため試験機の高さを低くすることができる。
（４）テーブルを引抜く駆動源の出力が小さくなるため落下試験機が安価になる。
（５）大物から小物まで梱包製品の大きさが変化しても無調整で落下試験が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】（ａ）はテーブル回転式の落下試験機の従来例の構成を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）の落下試験機に備えられたテーブルに試験対象物が載置された状態を示す部分側面図、（ｃ）は（ｂ）の状態からテーブルが重力加速度より大きい加速度で落下した状態を示す部分側面図、（ｄ）は（ｃ）の状態の直後にテーブルが回転して試験対象物の落下範囲から外れた状態を示す部分側面図である。
【図２】（ａ）はテーブル引抜式の落下試験機の従来例の構成を示す側面図、（ｂ）は（ａ）に示された落下試験機のテーブルに試験対象物が載置されて落下試験を行う時の、試験対象物とテーブルの落下面からの位置関係及びテーブルの引抜距離を、時間の推移と共に示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。
【図３】（ａ）〜（ｄ）は、図２（ａ）に示したテーブル引抜式の落下試験機において、テーブルに載置した試験対象物のサイズが大きすぎて落下試験に失敗する過程を時間の推移と共に示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。
【図４】（ａ）は本出願に係る落下試験機の一実施例の構成を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）に示した落下試験機のテーブルの別の実施例の構成を示す部分斜視図である。
【図５】図４に示された落下試験機のテーブルに試験対象物が載置されて落下試験を行う時の、試験対象物とテーブルの落下面からの位置関係及びテーブルの引抜距離を、時間の推移と共に（ａ）〜（ｄ）の段階で示す平面図と側面図を組み合わせた説明図である。
【図６】（ａ）は本出願の落下試験機のテーブルに小さな試験対象物を載置した状態を示す部分平面図、（ｂ）は本出願の落下試験機のテーブルに細長い試験対象物を載置した状態を示す部分平面図、（ｃ）は本出願の落下試験機のテーブルに大きな試験対象物を載置した状態を示す部分平面図である。
【図７】（ａ）は図４（ａ）に示した落下試験機の平面図、（ｂ）は（ａ）に示した落下試験機においてテーブルの移動方向を斜めにした変形実施例の平面図である。
【図８】（ａ）は図４（ｂ）に示したテーブルの上面に試験対象物の載置位置を示すマークを記載した実施例を示す部分斜視図、（ｂ）は図４（ｂ）に示したテーブルの上面に試験対象物を載置するための凹部を形成した実施例を示す部分斜視図、（ｃ）は図４（ａ）に示した落下試験機に転落防止治具を設けた場合の転落防止治具によるテーブル上の試験対象物の保持状態を示す部分斜視図である。
【図９】（ａ）は本出願の落下試験機の第２の実施例の構成を示すテーブル部分の部分斜視図、（ｂ）は（ａ）に示した第２の実施例の落下試験機におけるテーブルの動作を示す部分斜視図、（ｃ）は本出願の落下試験機の第２の実施例の変形例の構成を示すテーブル部分の部分斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、添付図面を用いて本出願の落下試験機の実施の形態を、具体的な実施例に基づいて詳細に説明する。なお、本出願の落下試験機の動作をより良く理解するために、一般的なテーブル回転式とテーブル引抜式の落下試験機の構成、動作及び問題点を図１から図３を用いて説明する。
【００１４】
図１（ａ）はテーブル回転式の落下試験機４０の構成を示すものである。この例の落下試験機４０には、装置の基台１、１本の支柱２、支柱２上をスライドする昇降部材３、試験対象物を保持するテーブル５及び制御装置７がある。また、昇降部材３内にはテーブル５による試験対象物の保持を解除する図示しない保持解除装置がある。昇降部材３は試験対象物の落下試験高さに合わせて支柱２の任意の位置に固定できる。落下試験時には図１（ｂ）に示すように、テーブル５に試験対象物１０が載置される。図１（ｂ）にはテーブル５を垂直方向に移動させる保持解除装置である垂直移動機構４が示されている。試験対象物１０は、例えば、電子機器を梱包した梱包部材１０である。なお、以後の説明では試験対象物１０は梱包部材１０として説明する。
【００１５】
テーブル５の上に試験対象物である梱包部材１０が載置されて落下試験が開始されると、まず、図１（ｃ）に示すように、垂直移動機構４の動作によってテーブル５が重力加速度よりも速い加速度で降下する。続いて、図１（ｄ）に示すようにテーブル回転機構６の動作によってテーブル５が回転して梱包部材１０の落下範囲から外れる。この結果、梱包部材１０が自然落下して基台１の上に落下する。落下試験機４０では、テーブル５の長さに梱包部材１０の長さの半分以上の支持半径が必要なため、大型の梱包部材１０の低い位置からの落下評価試験ができないという問題点があった。
【００１６】
図２（ａ）はテーブル引抜式の落下試験機５０の構成を示すものである。落下試験機５０には、装置の基台１、２本のガイドレール２Ｇ、支柱２Ｐ，ステー２Ｓ、ガイドレール２Ｇ上をスライドする昇降部材３、垂直移動機構４、試験対象物を保持するテーブル５Ｓ、制御装置７、テーブル引抜機構８及び落下高さ調整機構９がある。垂直移動機構４はテーブル５Ｓとテーブル引抜機構８を重力加速度より大きな加速度で下方に移動させる。テーブル引抜機構８はテーブル５Ｓを水平方向に移動させて本体内に引き込む、また、落下高さ調整機構９は梱包部材の落下試験高さに合わせて、テーブル５Ｓを任意の位置に固定できる。
【００１７】
図２（ｂ）は、落下試験時のテーブル５Ｓと梱包部材１０及び基台１との位置関係を、平面図及び側面図を併用して時間の経過と共に示すものである。図２（ｂ）の左側の部分には、テーブル５Ｓに梱包部材１０が載置された落下前の状態が示されている。この時、テーブル５Ｓの上面の落下面（基台１の上面）からの高さをＨとする。図２（ｂ）の中央の部分には、落下試験開始直後の状態が示されている。この時、テーブル５Ｓは重力加速度より大きい加速度でテーブル下降高さｈ１だけ下降する。梱包部材１０は重力加速度で自然落下中である。図２（ｂ）の右側の部分には、テーブル５Ｓがテーブル引き抜き長さＬ１だけ引き抜かれた状態が示されている。テーブル５Ｓの先端部は、図２（ａ）に示したテーブル引抜機構８により、梱包部材１０が高さＨから下降高さｈ１だけ下降するまでの間に引き抜き長さＬ１だけ移動し、この後、梱包部材１０が基台１の上に落下する。
【００１８】
図３（ａ）〜（ｄ）は、図２（ａ）に示したテーブル引抜式の落下試験機５０において、テーブル５Ｓに載置した梱包部材１０のサイズが大きすぎて落下試験に失敗する過程を、時間の推移と共に示す平面図と側面図とを組み合わせて示すものである。図３（ａ）はテーブル５Ｓに梱包部材１０が載置された落下前の状態を示すものである。図３（ｂ）はテーブル５Ｓが重力加速度より大きい加速度で高さＨから高さｈ１だけ下降した状態を示すものである。図３（ｃ）は梱包部材１０が高さＨから高さｈ１だけ下降するまでの間に、テーブル５Ｓを梱包部材１０の落下範囲から引き抜くことができず、梱包部材１０の一端がテーブル５Ｓの先端部に衝突した状態を示すものである。図３（ｄ）は梱包部材１０が基台１の上に傾いて落下した状態を示すものであり、落下試験が失敗に終わった状態を示すものである。
【００１９】
このように、梱包部材１０が大きい場合は、落下試験時に梱包部材１０が載る部分のテーブル５Ｓの長さが長く、テーブルを引き抜く時間が長くなってテーブルが梱包部材１０の落下範囲から引き抜かれる前に梱包部材１０がテーブル５Ｓまで達することがある。このような場合は落下試験が失敗に終わり、低い位置からの落下評価試験ができないという問題点があった。また、テーブルを水平方向に移動させる長さが長いのでテーブル引抜機構８を大型化してその出力を大きくする必要であり、落下試験機のサイズが大きくなるという問題点もあった。
【００２０】
図４（ａ）は、以上のような問題点を解消する本出願に係る落下試験機２０の一実施例の構成を示すものである。落下試験機２０には基台１１があり、基台１１の上には垂直に２本のガイド支柱１２が突設されている。ガイド支柱１２には、ガイド支柱１２に沿ってスライドする昇降部材１３があり、ガイド支柱１２の上端部に掛け渡された天井板１２Ｃには昇降部材１３に取り付けられたテーブル１５の落下高さを調整する落下高さ調整機構１９が設けられている。また、天井板１２Ｃと基台１１との間には補強材である２本のステー１２Ｓが設けられており、２本のステー１２Ｓの間の基台１１上には落下試験機２０の制御装置１７がある。
【００２１】
昇降部材１３は固定部１３Ｂと移動部１３Ａから構成されており、固定部１３Ｂには移動部１３Ａを固定部１３Ｂから下方に所定距離だけ、重力加速度を超える加速度で強制落下させる下方駆動機構１４が設けられている。また、昇降部材１３の移動部１３Ａには、動作板２８を介してテーブル１５が取り付けられている。テーブル１５は移動部１３Ａに取り付けられた水平移動機構であるテーブル引抜機構１８によって動作板１８が移動させられると、矢印Ｍで示す方向に移動することができる。そしてテーブル１５には、テーブル１５の移動方向Ｍに対して左右対称に４５度ずつの角度を備えるＶ字状の切欠部１６が設けられている。
【００２２】
この実施例の落下試験機２０にあるテーブル１５は、矩形のテーブルに切欠部１６を設けたものであり、落下試験機２０のテーブル１５に載置される試験対象物である梱包部材１０は、落下試験機２０の長手方向に対して斜めにテーブル１５の上に載置される。即ち、梱包部材１０の底面の隣り合う底辺が、テーブル１５の切欠部１６の近傍にある破線で示す位置に載置される。なお、この実施例のテーブル１５は、矩形の板状体にＶ字状の切欠部１６を設けたものであるが、別の実施例として、図４（ｂ）に示すように、第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒを備え、上方から見てＹ字状のテーブル２５とすることもできる。
【００２３】
図５は、図４（ｂ）に示された落下試験機２０のテーブル２５に梱包部材１０が載置されて落下試験を行う時の、梱包部材２０とテーブル１５の位置関係を、平面図と側面図とを用いて時間の経過と共に示すものである。図５の（ａ）で示す部分には、テーブル２５の上に梱包部材１０が置かれた落下前の状態が示されている。梱包部材１０の底面の隣接する２辺がテーブル２５の第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの縁部の上に載置されている。この時のテーブル２６の基台１１からの高さ（落下高さ）を高さＨであり、この高さは梱包部材１０の落下試験高さによって決まるので従来装置と同じである。
【００２４】
図５の（ｂ）で示す部分には、テーブル２５の上に梱包部材１０が置かれた状態から、テーブル２５が急降下したテーブル下降状態が示されている。テーブル２５の急降下における加速度は重力加速度より大きく、テーブル２５が急降下した状態では、梱包部材１０は宙に浮いた状態にある。テーブル２５が急降下する高さを高さｈ２とする。テーブル２５が急降下する高さを高さｈ２は、後述するようにテーブル２５の引抜き長さが従来に比べて短いので、図２（ａ）に示したテーブル５Ｓの落下高さｈ１よりも小さくすることができる。
【００２５】
図５の（ｃ）で示す部分には、テーブル２５が下降した状態から、テーブル２５が動作板２８の移動によって梱包部材１０の直下から退避した状態が示されている。テーブル２５は、重力加速度より大きい加速度で急降下した後、或いは急降下中に、図４に示したテーブル引抜機構１８によって、テーブル引抜き長さＬ２だけ移動させられる。テーブル引抜き長さＬ２は、梱包部材１０の落下範囲にテーブル２５が存在しなくなる長さである。また、テーブル２５がテーブル引抜き長さＬ２だけ移動する時間は、梱包部材１０が高さＨから高さｈ２だけ自然落下する時間よりも短い時間である。
【００２６】
一方、落下試験機２０のテーブル１５や２５は、梱包部材１０の底面の隣り合う２辺を僅かな面積で支えて梱包部材１０を保持しているので、テーブル引抜き長さＬ２は、図２に示した落下試験機５０のテーブル５Ｓの引抜き長さＬ１よりも短くて済む。このため、テーブル引抜機構１８を出力を小さくすることができ、図２に示した落下試験機５０のテーブル引抜き機構８よりも小型化することができる。また、テーブル引抜き機構１８の小型化により、ガイド支柱１２からステー１２Ｓまでの長さを短くすることができ、落下試験機２０の小型化を図ることができる。
【００２７】
更に、テーブル引抜き機構１８のテーブル引抜き長さＬ２が短く、短時間でテーブル１５や２５を梱包部材１０の落下範囲から引抜くことができるので、テーブル１５や２５の落下高さｈ２も前述のテーブル５Ｓの落下高さｈ１よりも小さくすることができる。図５の（ｄ）で示す部分には、テーブル２５が落下完了した状態が示されている。梱包部材１０は、テーブル２５の切欠部２６をすり抜けて基台１１の上に落下するので、テーブル２５の引抜き長さＬ２が小さくても、梱包部材１０は落下時にテーブル２５に接触させずに基台１１の上に落下させることができる。
【００２８】
以上のように構成された落下試験機２０では、テーブル引抜機構１８の低出力化による小型化、テーブルの落下高さの低減により、落下試験機２０のサイズの小型化が図れ、安価に製造することができる。また、この構成の落下試験機２０では、図６（ａ）〜（ｃ）に示すように、テーブル２５には種々のサイズの梱包部材１０を載置することができる。図６（ａ）はテーブル２５に小さなサイズの梱包部材１０Ｓを載置した状態を示している。また、図６（ｂ）は、テーブル２５に細長いサイズの梱包部材１０Ｌを載置した状態を示している。更に、図６（ｃ）は、テーブル２５に大きなサイズの梱包部材１０Ｂを載置した状態を示している。
【００２９】
図７（ａ）は、図４（ａ）に示した落下試験機２０を平面視した状態を示している。この実施例の落下試験機２０では、前述のように、テーブル引抜き機構１８によって動作板２８がテーブル引抜き機構１８内に引き込まれると、テーブル１５が矢印Ｍで示す方向に移動する。一方、この落下試験機２０では、落下試験機２０の長手方向に対して梱包部材１０を４５度傾けてテーブル１５の上に載置して落下試験が行われる。
【００３０】
そこで、図７（ｂ）に示す変形実施例の落下試験機３０では、テーブル引抜き機構１８を昇降部材１３に対して斜め方向に傾けて、例えば４５度傾けてガイド支柱１２の間の部分に取り付けている。そして、テーブル引抜き機構１８が駆動する動作板３８の先端部を、第１と第２のアーム３５Ｌ，３５ＲでＬ字状に形成したテーブル３５の一方の先端部に連結している。この実施例の落下試験機３０では、第１のアーム３５Ｌと第２のアーム３５Ｒがそれぞれ落下試験機３０の長手方向と短手方向に一致するので、梱包部材１０を落下試験機３０の長手方向と同じ方向にテーブル３５の上に置くことができる。そして、テーブル引抜き機構１８によって動作板３８がテーブル引抜き機構１８内に引き込まれると、テーブル３５が矢印Ｎで示す方向に移動するので、落下試験機２０と同様の落下試験を行うことができる。
【００３１】
ここで、図４（ｂ）に示したテーブル２５の変形例を説明する。図８（ａ）は、テーブル２５の上面に、梱包部材１０の載置位置を示すマーク２１を記載した実施例を示している。梱包部材１０はこのマーク２１に沿ってテーブル２５の上に置けば、落下試験をミスなく行うことができる。また、図８（ｂ）は、テーブル２５の上面の梱包部材１０を載置する位置を窪ませて凹部２２を設けた実施例を示している。梱包部材１０はこの凹部２２の中にきっちり置けば、落下試験をミスなく行うことができる。更に、図８（ｃ）は、落下試験機に転落防止治具２３を設けた実施例を示すものである。転落防止治具２３はテーブル２５が落下してもその位置が変わらないように、落下試験機の動かない部分に取り付ける。転落防止治具２３を使用する場合は、テーブル２５のサイズに対して梱包部材１０のサイズが大きい場合である。
【００３２】
図９（ａ）は、本出願の第２の実施例の落下試験機３２の構成を示すものであり、テーブル部分のみを示すものである。第２の実施例では、図４（ａ）に示した落下試験機２０におけるテーブル引抜き機構１８は不要であり、テーブル２５は昇降部材の移動部１３Ａに取付板３３によって固着しておけば良い。第２の実施例では、テーブル２５を構成する第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６に対向する端面２５Ｔに、この端面２５Ｔから出没するスライド板２４が設けられている。スライド板２４は、第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６と反対側の端面に取り付けられた水平移動機構２７によって端面２５Ｔから出没させることができる。
【００３３】
スライド板２４の上面には、梱包部材を載置する時に使用するマーク２１を施しておけば、スライド板２４上に梱包部材を正しく載置することができる。図９（ｂ）は、水平移動機構２７によってスライド板２４がテーブル２５を構成する第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの内部に没入した状態を示すものである。この構成では、テーブル引抜き機構１８が不要であり、スライド板２４の移動距離も短いので水平移動機構２７のサイズも小型化でき、落下試験機３２のサイズを小さくすることができる。
【００３４】
また、図９（ｃ）に示すように、スライド板２４の代わりに、テーブル２５を構成する第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６に対向する端面２５Ｔに、この端面２５Ｔから出没する複数のスライド突起２９を設けることもできる。スライド突起２９も、第１のアーム２５Ｌと第２のアーム２５Ｒの切欠部１６と反対側の端面に取り付けられた水平移動機構２７によって端面２５Ｔから出没させることができる。スライド突起２９の中間部分には、梱包部材を載置する時に使用するマーク３１を施しておけば、スライド突起２９上に梱包部材を正しく載置することができる。マーク３１に代えてスライド突起２９の先端部側を塗装して梱包部材の載置位置を示すようにしても良い。
【００３５】
以上、本発明を特にその好ましい実施の形態を参照して詳細に説明した。本発明の容易な理解のために、本発明の具体的な形態を以下に付記する。
【００３６】
（付記１） 基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び前記昇降部材の強制落下中に前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、
前記載置テーブルには、前記載置テーブルの移動方向に対して左右対称に４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴とする落下試験機。
（付記２） 前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを前記２本の支柱を結ぶ線に対して垂直方向に移動させることを特徴とする付記１に記載の落下試験機。
（付記３） 前記載置テーブルの上方には、前記載置テーブルに対して高さ調整が可能であり、前記載置テーブルに前記試験対象物が載置された時に、前記試験対象物の前記載置テーブルからの転落を防止する転落防止治具が設けられており、
前記転落防止治具は、前記昇降部材が前記落下位置から強制落下してもの位置が変わらないように設置されていることを特徴とする付記１又は２に記載の落下試験機。
（付記４） 前記載置テーブルの切欠部に隣接する部位には、前記載置テーブルに載置する試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする付記１から３の何れかに記載の落下試験機。
（付記５） 前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを、前記２本の支柱を結ぶ線に対して斜めの方向に移動させることを特徴とする付記１から4の何れかに記載の落下試験機。
【００３７】
（付記６） 前記載置テーブルは、上方から見た時にＹ字状をしていることを特徴とする付記１から４の何れかに記載の落下試験機。
（付記７） 前記テーブルの前記切欠部に対抗する端面に所定幅の凹部が設けられており、前記試験対象物は前記凹部に載置されることを特徴とする付記１から６の何れかに記載の落下試験機。
（付記８） 前記斜めの方向が４５度であることを特徴とする付記５に記載の落下試験機。
（付記９） 前記載置テーブルは、上方から見た時にＬ字状をしており、前記動作板は前記載置テーブルの一方の先端部に接続されていることを特徴とする付記８に記載の落下試験機。
（付記１０） 基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に取り付けられ、前記昇降部材を左右に二等分する線に対してそれぞれ４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられた試験対象物の載置テーブル、前記載置テーブルの前記切欠部側の端面から出没可能に設けられた前記試験対象物の保持部材、及び前記載置テーブルの前記切欠部の反対側に設けられて前記保持部材を前記端面から出没させる水平移動機構とを備え、
前記水平移動機構は、前記昇降部材の強制落下中に前記保持部材を移動させて前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除くことを特徴とする落下試験機。
【００３８】
（付記１１） 前記保持部材が前記端面に沿って設けられた板状部材から構成されることを特徴とする付記１０に記載の落下試験機。
（付記１２） 前記保持部材が前記端面から出没する複数のピン状部材から構成されることを特徴とする付記１０に記載の落下試験機。
（付記１３） 前記保持部材には、前記試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする付記１０から１２の何れかに記載の落下試験機。
（付記１４） 前記試験対象物が電子機器を梱包した直方体の梱包部材であることを特徴とする付記１から１３の何れかに記載の落下試験機。
【符号の説明】
【００３９】
１１ 基台
１２ ガイド支柱
１３ 昇降部材
１４ テーブル下方駆動機構
１５、２５、３５ テーブル
１６、２６、３６ 切欠部
１８ テーブル引抜機構
１９ 落下高さ調整機構
２０，３０、３２ 落下試験機
２１，３１ 載置位置マーク
２２ 載置用凹部
２３ 転落防止治具
２４ スライド板
２７ 水平移動機構
２８，３８ 動作板
２９ スライドピン
３２ 取付板
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び前記昇降部材の強制落下中に前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、
前記載置テーブルには、前記載置テーブルの移動方向に対して左右対称に４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴とする落下試験機。
【請求項２】
前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを前記２本の支柱を結ぶ線に対して垂直方向に移動させることを特徴とする請求項１に記載の落下試験機。
【請求項３】
前記載置テーブルの上方には、前記載置テーブルに対して高さ調整が可能であり、前記載置テーブルに前記試験対象物が載置された時に、前記試験対象物の前記載置テーブルからの転落を防止する転落防止治具が設けられており、
前記転落防止治具は、前記昇降部材が前記落下位置から強制落下してもその位置が変わらないように設置されていることを特徴とする請求項１又は２に記載の落下試験機。
【請求項４】
前記載置テーブルの切欠部に隣接する部位には、前記載置テーブルに載置する試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする請求項１から３の何れか１項に記載の落下試験機。
【請求項５】
前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを、前記２本の支柱を結ぶ線に対して斜めの方向に移動させることを特徴とする請求項１から4の何れか１項に記載の落下試験機。
【請求項１】
基台に対して垂直方向に突設された支柱、前記支柱にスライド可能に取り付けられて落下位置を変更できる昇降部材、前記昇降部材を前記落下位置から所定距離だけ重力加速度を超える加速度で強制落下させる垂直移動機構、前記昇降部材に対して水平方向に移動可能に取り付けられた試験対象物の載置テーブル、及び前記昇降部材の強制落下中に前記載置テーブルを前記試験対象物の落下範囲から取り除く水平移動機構とを備え、
前記載置テーブルには、前記載置テーブルの移動方向に対して左右対称に４５度ずつの角度を備える切欠部が設けられていることを特徴とする落下試験機。
【請求項２】
前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを前記２本の支柱を結ぶ線に対して垂直方向に移動させることを特徴とする請求項１に記載の落下試験機。
【請求項３】
前記載置テーブルの上方には、前記載置テーブルに対して高さ調整が可能であり、前記載置テーブルに前記試験対象物が載置された時に、前記試験対象物の前記載置テーブルからの転落を防止する転落防止治具が設けられており、
前記転落防止治具は、前記昇降部材が前記落下位置から強制落下してもその位置が変わらないように設置されていることを特徴とする請求項１又は２に記載の落下試験機。
【請求項４】
前記載置テーブルの切欠部に隣接する部位には、前記載置テーブルに載置する試験対象物の載置位置を示すマークが印刷されていることを特徴とする請求項１から３の何れか１項に記載の落下試験機。
【請求項５】
前記支柱が所定間隔を隔てた２本の支柱であり、前記水平移動機構は、前記載置テーブルを、前記２本の支柱を結ぶ線に対して斜めの方向に移動させることを特徴とする請求項１から4の何れか１項に記載の落下試験機。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２０１２−８３１３３（Ｐ２０１２−８３１３３Ａ）
【公開日】平成２４年４月２６日（２０１２．４．２６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２２７５７２（Ｐ２０１０−２２７５７２）
【出願日】平成２２年１０月７日（２０１０．１０．７）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年４月２６日（２０１２．４．２６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年１０月７日（２０１０．１０．７）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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