説明

試験細片の再使用を防止する方法および検体測定システムでの試験細片の再使用を防止する方法

【課題】既に使用された試験細片が再び使用されるのを防止するための方法を提供する。
【解決手段】検体測定システムでの試験細片の再使用防止する方法は、試験細片をメータに挿入する過程と、試験細片上の第1の電気的接触ゾーン及び第2の電気的接触ゾーンが電気的に連続であるか否かを検出し、電気的に連続である場合に測定シーケンスを開始する過程と、生理的サンプルを使い捨て式の試験細片に加える過程と、検体の濃度に相当する信号を試験細片から測定する過程と、第1の電気的接触ゾーン及び第2の電気的接触ゾーンの間の壊すことができるリンクを破壊するのに十分な電圧を第1の電気的接触ゾーン及び第2の電気的接触ゾーンの間に加える過程とを有する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
関連出願に対するクロス−リファレンス
本出願が主張する優先権の基礎となる米国特許出願は、本明細書で参照文献として引用される2002年10月30日に出願された同時係属中の米国仮特許出願第60/422,228号「血液を抽出するために皮膚を切開する改良された方法(Improved Method of Lancing Skin for the Extraction of Blood)」(代理人整理番号:LFS−0264)に関連している。上記米国特許出願は、本明細書で参照文献として引用される2001年12月19日に出願された同時係属中の国際特許出願第PCT/GB01/05634号「検体の測定(Analyte Measurement)」にも関連している。上記米国特許出願は、本明細書で参照文献として引用される2003年3月28日に出願された同時係属中の米国仮特許出願第60/458,242号「検体を測定するための一体化されたランセットおよび試験細片(Integrated Lance and Strip for Analyte Measurement)」(代理人整理番号:LFS−5011)にも関連している。上記米国特許出願は、本明細書で参照文献として引用される2003年3月28日に出願された同時係属中の米国仮特許出願第60/459,465号「一体化されたランセットおよび試験細片を用いた検体の測定方法(Method of Analyte Measurement Using Integrated Lance and Strip)」(代理人整理番号:LFS−5012)に関連している。上記米国特許出願は、2004年6月29日に出願された米国特許出願第10/882,044号「試験細片の再使用を防止する検体測定システム(An Analyte Measurement System which Prevents the Reuse of a Test Strip)」(代理人整理番号:LFS−5045)にも関連している。
【0002】
本発明は、大まかに言って血液、間質液、または尿のような生理的液体中のグルコースなどの検体またはインジケーターを測定する試験細片に関する。より詳しく言うと、本発明はそのような試験細片の再使用を防止する方法に関する。
【背景技術】
【0003】
本発明は血液、間質液、または尿のような生理的液体中のグルコースなどの検体またはインジケーターを測定するための試験細片の再使用を防止する方法である。本発明は針、ブレード、またはその他の鋭利なすなわち皮膚を穿刺する器具のような一体化されたランセットを組み込んだ試験細片の再使用を防止する方法にも関連している。例えばグルコース試験細片のようないくつかのタイプの医療器具は一度だけ検査に使用されそして廃棄されることが意図されていた。この要件は多くの試験細片の試薬が2度グルコースを測定するのに適していないために必要とされることが多い。しかし、使用者がはからずも既に使用された試験細片で検査を行うことは起こりえる。この2度の使用はグルコースメーターがグルコースを測定し結果を出力する場合に問題となる可能性がある。したがって、一度だけ使用される試験細片およびメーターに対して既に使用された試験細片が再び使用されるのを防止するための方法が規定されていることが望ましい。
【0004】
最近では、マイクロ・ニードル(例えばランセット)および試験細片(例えば電気化学に基づくおよび測光法に基づくバイオセンサー)がひとつの医療器具として一体化されている。これらの一体化された医療器具は関連するメーターと共にグルコースなどのさまざまな検体を監視するために用いられる。状況に応じて、バイオセンサーは間欠的な一度だけ使用するフォーマット、準連続的なフォーマット、または連続的なフォーマットで検体を監視するように設計される。マイクロ・ニードルとバイオセンサーを一体化することによって使用者がサンプル部位からのサンプルの抽出とそれに続くサンプルのバイオセンサーへの移送とを調和させる必要がなくなり監視手順が簡単にされる。この監視手順の簡単化が小型のマイクロ・ニードルおよび少量のサンプルと相まって痛みをも低減する。
【0005】
試験細片が切開器具と組み合わされている場合には、試験細片を再び使用することが相互汚染をもたらすこともあるという別の潜在的な課題がある。一体化された器具の切開部分には血液が残留していることがあり、別の使用者がはからずもその試験細片を使用するとその残留した血液がその別の使用者への感染を引き起こすことがある。したがって、メーターおよび試験細片システムに対して既に使用された試験細片が切開機構を発射するのを防止する方法が存在することも望ましい。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
本発明は、既に使用された試験細片が再び使用されるのを防止するための方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明は検体測定システムで試験細片の再使用を防止する方法を指向していて、その方法は、試験細片をメーターに挿入する過程と、メーターを用いて第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンが電気的に連続であるか否かを検出する過程と、使い捨て式の試験細片に生理的サンプルを加える過程と、検体の濃度に相当する信号を試験細片から測定する過程と、第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間の壊すことができるリンクを破壊するのに十分な電圧を第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間に加える過程とを有する。
【0008】
本発明の別の実施の形態では、試験細片の再使用を防止する方法は、第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンよりも高い抵抗値を有するヒューズゾーンを第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間に設ける過程をさらに有する。
【0009】
本発明に基づく方法の別の実施の形態では、検体測定システムでは導電性のトレースが正の温度係数の抵抗値を有し、導電性のトレースが炭素、銀、白金、パラジウム、金、Ir、Pt、タングステン、銅、およびアルミからなる集合から選択された材料からなる。本発明のさらに別の実施の形態では、ヒューズゾーンは予め決められた電圧が第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間に加えられたときに溶けて開回路を形成し、ここで予め決められた電圧は実質的に1.5Vから実質的に30Vまでの範囲内にあることもある。
【0010】
本発明の方法のさらに別の実施の形態では、検体測定システムは、一体化されたランセット;作動電極および基準電極;作動電極の少なくとも一部の上に配置され酸化還元媒介物質および酸化還元酵素からなる試薬層;およびシリカ充填剤のうちのひとつまたは複数をさらに含んでいることもある。
【発明の効果】
【0011】
本発明によれば、既に使用された試験細片を特定して使用済みの試験細片による汚染および感染を防止できる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
本発明の新規な特徴が特許請求の範囲に詳細に記載されている。本発明の特徴および利点は本発明の原理が用いられた例示的な実施の形態を記載した以下の詳細な説明および添付の図面を参照してより良好に理解されるであろう。
【0013】
図1は本発明に基づく試験細片20の上部斜視図である。この実施の形態では試験細片20は、この場合には上部層34である第1の部分;この場合には接着層38である固定機構;および、この場合には底部層36である第2の部分を含んでいる。この例示的な実施の形態では、底部層36は基板53上に配置された導電層を含んでいる。導電層は第1の作動電極48、第2の作動電極50、基準電極52、およびここでは壊すことのできる導電性パッドの形態のヒューズ100などの壊すことができる機構を含んでいる。第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52は、導電性パッドの形態であることもある。上部層34はサンプル受容チャンバ41の屋根(ルーフ)を含んでいる。本発明のある実施の形態では、上部層34は図1に示されているように一体化されたランセット22、補強リブ24、側面のエンボススペーサ26、ベント30、遠位のエンボススペーサ28、および位置決め孔32をさらに含んでいる。一体化されたランセット22を組み込んだ上部層34は切開第1部分として知られていることもあることが注意されなければならない。
【0014】
試験細片20は長方形またはその他の形状であることもあり、接着層38のような固定機構を用いて上部層34を底部層36に取り付けるようにして構成されている。本発明のある実施の形態では、試験細片20は実質的に5.6mm(0.22インチ)の幅および実質的に14mm(0.55インチ)の長さを有していることもある。図1の実施の形態では、試験細片20の近位の端部はヒューズ100を含んでいて、試験細片20の遠位の端部は一体化されたランセット22を含んでいる。
【0015】
試験細片20は、サンプル受容チャンバ41の床、壁、および屋根に各々相当する底部層36、接着層38、および上部層34からなる積層体によって形成されたサンプル受容チャンバ41を含んでいる。試験細片20は、例えば、例えば血液または間質液のような体の液体中のグルコースの量を測定するために電気化学的に用いられるグルコース試験細片であることもある。その代わりにまたはそれに加えて、試験細片20は例えば粘性、キャパシタンス、抵抗値、およびそれらに類似の値のような体の液体の物理的な特性を測定する凝固センサーであることもある。
【0016】
試験細片20に一体化されたランセット22を用いることによってサンプルをサンプル受容チャンバ41に手作業で移送する過程を省くことができ試験がより簡単になる。多くの従来のセンサーシステムは専用の切開器具を用いた切開過程とその後の試験細片にサンプルが添加されるように試験細片を手作業で操作する過程とを必要とする。一体化されたランセットを使用することによってランセット22を取り除くことなく体の液体が切開部からサンプル受容チャンバ41へ途切れることなく流れるようにできる。
【0017】
本発明のある実施の形態では、ヒューズ100が例えばスクリーン印刷、スパッタリング、蒸着、無電解めっき、インクジェット、昇華、化学蒸着、およびそれらに類似の方法のようなプロセスによって基板53上に配置される。ヒューズ100の形状は、図2に示されているもののように決められたパターンで導電性材料を選択的に通過させるスクリーンを用いて形成されていることもある。ヒューズ100に用いられる適切な材料には、炭素、銀、白金、パラジウム、金、Ir(イリジウム)、Pt(白金)、タングステン、銅、アルミ、およびそれらの類似物などがある。本発明のある実施の形態では、ヒューズ100は第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52を配置する同じプリントサイクルの間に配置されることもあり、したがって、ヒューズ100を形成する過程は実行するのに簡単かつ廉価になることもある。
【0018】
図1に示されているように、ヒューズ100は一体化されたランセット22から最も離れた端部である試験細片20の近位の端部に配置されている。ヒューズ100は第1の電気的接触ゾーン101、第2の電気的接触ゾーン102、およびヒューズゾーン103を含んでいる。第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102は幅W1を有し第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の間に電圧を印加できるメーターと電気的に結合できるように配置されている。本発明のある実施の形態では、ヒューズゾーン103はW1よりも短い幅W2を有していることもある。さらに、ヒューズゾーン103は第1の電気的接触ゾーン101と第2の電気的接触ゾーン102との間に配置されている。ヒューズ100はヒューズゾーン103に相当するより狭いすなわちウエストの形をした幅W2を備えたほぼ長方形の形状を有していることもある。ヒューズゾーン103は第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102よりも高い抵抗値を有しいてある値の電圧が第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の間に印加されたときにヒューズゾーン103がとぶすなわち溶発するように設計されている。本発明のある実施の形態では、ヒューズゾーン103は実質的に0.5Ωから実質的に1000Ωまでの範囲内の抵抗値を有していることもある。ヒューズゾーン103は第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102よりも高い抵抗値を有するので適切な電圧が加えられると、ヒューズゾーン103は熱くなりそしてついには溶けて開回路を形成する。
【0019】
底部層36の一部として、第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52が基板53上に配置されている。ヒューズ100と同じように、第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52はヒューズ100に関して上述された方法のいずれかひとつを用いて配置されることもあり、さらにヒューズ100と同時に製造すなわち配置されることもある。第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52は決められたパターンで導電性材料を選択的に通過させるスクリーンを用いて形成されることもある。第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52を形成するために用いられることがある適切な材料には、Au、Pd、Ir、Pt、Rh、銀、塩化銀、ステンレス鋼、ドープされた酸化スズ、炭素、およびそれらの類似物などがある。本発明に用いるのに適した電極の形状の実行できる実施の形態には、本明細書でその開示内容が参照文献として引用される米国特許第6,716,577号明細書、米国特許第6,620,310号明細書、米国特許第6,558,528号明細書、米国特許第6,475,372号明細書、米国特許第6,193,873号明細書、米国特許第5,708,247号明細書、米国特許第5,951,836号明細書、米国特許第6,241,862号明細書、米国特許第6,284,125号明細書、米国特許第6,444,115号明細書、国際特許出願公開WO/0167099号公報、国際特許出願公開WO/0173124号公報、国際特許出願公開WO/0173109号公報、国際特許出願公開WO/0206806号公報に記載されたものなどがある。
【0020】
底部層36の一部としての基板53はプラスチック、ガラス、セラミック、およびそれらの類似物などの電気的な絶縁材料であることもある。本発明の好ましい実施の形態では、基板53は例えばナイロン、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリ塩化ビニル、ポリエチレン、ポリプロピレン、およびPETGなどのプラスチックであることもある。本発明のある実施の形態では、基板53を形成するために用いられる材料はデュポン・テイジン・フィルムス(DuPont Teijin Films)によって製造されたポリエステル材料(商品名:メリネックス(Melinex:登録商標)ST328)であることもある。
【0021】
底部層36の一部としての絶縁層44は、液体サンプルによって湿らされる電極領域を画定するために導電層の一部の上にプリントまたは配置されることもある。本発明のある実施の形態では、絶縁層44はヒューズ100に関して上述されたいずれかの方法を用いてプリントされていることもある。本発明の好ましい実施の形態では、絶縁層44は平床式プロセス(flat bed process)または連続ウエブプロセス(continuous web process)でスクリーン印刷法を用いてプリントされることもある。絶縁層44として用いるのに適した材料には、エルコン・インコーポレーテッド(Ercon, Inc.)から販売されているエルコンE6110−116ジェット・ブラック・インシュレイヤー・インク(Ercon E6110-116 Jet Black Insulayer Ink)がある。さまざまな異なるタイプの絶縁材料が本発明に用いるのに適していることが当業者には適切に評価されるはずである。本発明のある実施の形態では、絶縁層44は1μmから100μmまでの高さを有し、より好ましくは5μmから25μmまでの高さを有し、さらにより好ましくは実質的に5μmの高さを有する。
【0022】
底部層36の一部として、試薬層46はヒューズ100に関して上述された方法のいずれかを用いてプリントされることもある。本発明の好ましい実施の形態では、試薬層46はスクリーン印刷法を用いてプリントされることもある。本発明で用いるための適切な試薬または酵素インクの非限定的な例は付与された米国特許第5,708,247号明細書および米国特許第6,046,051号明細書;公開された国際特許出願WO01/67099号明細書および国際特許出願WO01/73124号明細書に見出すことができる。試験細片20がグルコースセンサーである本発明のある実施の形態では、試薬層46は酸化還元酵素および酸化還元媒介物質を含んでいることがある。酸化還元酵素の例には、グルコースオキシダーゼ、メトキサチン(methoxatin)コファクターまたはニコチンアミドアデニンジヌクレオチドコファクターを用いるグルコースデヒドロゲナーゼなどがある。酸化還元媒介物質の例には、フェリシアニド、フェナジンエトサルフェート、フェナジンメトサルフェート、フェニレンジアミン、1−メトキシ−フェナジンメトサルフェート、2,6−ジメチル−1,4−ベンゾキノン、2,5−ジクロロ−1,4−ベンゾキノン、フェノチアジン誘導体、フェノキサジン誘導体、金属ポルフィリン誘導体、フタロシアニン誘導体、ビオロゲン誘導体、フェロセン誘導体、オスミウムビピリジル錯体、ルテニウム錯体、およびそれらの類似物などがある。上述された酵素インクの変種が本発明で用いるのに適していることもあることが当業者には適切に評価されるはずである。本発明のある実施の形態では、試薬層46は1μmから100μmまでの高さを有し、より好ましくは5μmから25μmまでの高さを有する。
【0023】
本発明のある実施の形態では、接着層38はサンプル受容チャンバ41の壁の少なくとも一部を含んでいる。接着層38は絶縁層44の一部および/または試薬層46の一部の上部にプリントまたは配置されていて試験細片20内のサンプル受容チャンバ41を少なくとも部分的に形成している。接着層38をプリントするための方法の例としては、スクリーン印刷、グラビア印刷、スロットコーティングなどがある。別の実施の形態では、接着層38は両面感圧接着剤、UV硬化接着剤、熱活性化接着剤(heat activated adhesive)、または熱硬化プラスチックであることもある。非限定的な例として、接着層38は例えばイギリス国ハートフォードシャー州トリング(Tring, Herts, United Kingdom)のテープ・スペシャルティーズ・エル・ティー・ディー(Tape Specialties LTD)から部品番号#A6435として市販されている水ベースのアクリルコポリマー感圧接着剤のような感圧接着剤をスクリーン印刷することによって形成されることもある。
【0024】
本発明のある実施の形態では、接着層38の高さは4μmから140μmまでの範囲内にあることもある。接着層の高さの最小値は、上部層34が試薬層46と物理的に接触して試薬層46に損傷が与えられるようになることは好ましくないので試薬層46の高さによって制約されている。接着層の高さの最大値は試験細片20の全体のサンプル体積を低減するという要望によって制約されている。選択された接着剤の高さに影響するその他の要因は酸化還元媒介物質の酸化に関する準無限の拡散の条件(すなわち、電極から十分に離れた酸化還元媒介物質の濃度が電気化学的反応によってかき乱されていないこと)を維持するという要望であることもある。
【0025】
本発明のある実施の形態では、接着層38は側面の隙間領域40および遠位の隙間領域42をさらに含んでいる。側面の隙間領域40および遠位の隙間領域42は、上部層34がサンプル受容チャンバ41の屋根を形成するように側面のエンボススペーサ26が絶縁層44と結合できる領域を提供するために用いられることもある。接着層38は少なくとも側面のエンボススペーサ26および遠位のエンボススペーサ28の周りで側面のエンボススペーサ26および遠位のエンボススペーサ28よりも僅かに大きい高さを有していてそれらのエンボススペーサが上部層34および底部層36の間で接着層38の高さが圧縮されるのを制限する機械的なストップを提供するようになっていなければならない。したがって、エンボススペーサまたはその他の機械的な突出部が熱活性化接着剤または熱硬化接着剤を用いた場合にサンプル受容チャンバの高さを抑制することを援助している。
【0026】
図3は底部を斜に見た一体化されたランセット22、補強リブ24、側面のエンボススペーサ26、および遠位のエンボススペーサ28の局部的構造を示した上部層34の底部斜視図である。上部層34は、例えば、金、白金、ステンレス鋼、銀、およびパラジウム、またはエンボス加工できるようにする適切な延性を有するその他の適切な金属のようなシート状の導電性材料からなることもある。ステンレス鋼を用いる場合、金属は材料のコストを低減するために金、白金、ステンレス鋼、銀、およびパラジウムなどでめっきされていることもある。上部層34、側面のエンボススペーサ26、および遠位のエンボススペーサ28の構造は例えばアメリカ合衆国ミネソタ州アノカ(Anoka, Minnesota)のメイヤー・ツール・アンド・エンジニアリング(Meier Tool and Engineering)によって実施されているスタンピング・プロセスによって行われることもある。側面のエンボススペーサ26および遠位のエンボススペーサ28の高さは実質的に4μmから130μmまでの範囲内にあることもあり、より好ましくは実質的に50μmから110μmまでの範囲内にあることもあり、さらにより好ましくは実質的に80μmから105μmまでの範囲内にあることもある。ベント30が例えば上部層34を穿孔することによって形成されることもある。本発明のある実施の形態では、ベント30は側面のエンボススペーサ26に隣接している。ベント30はサンプル受容チャンバ41の壁の一部を部分的に画定し体の液体を一体化されたランセット22からサンプル受容チャンバ41へ移送するのを容易にするために用いられることもある。位置決め孔32は上部層34を形成するスタンピング・プロセスの間に形成されることもある。
【0027】
本発明のある実施の形態として、一体化されたランセット22は上部層34の一体化された部分として製造されることもある。一体化されたランセット22はスタンピング・プロセス中に形成されることもありその場合にランセット22は「V」形の開いた溝の形状を有する。一体化されたランセット22の構造に関するより詳細は本明細書で参照文献として引用される米国仮特許出願第60/458,242号明細書および米国仮特許出願第60/459,465号明細書に見出される。本発明のいくつかの実施の形態では、上部層34は試験細片20の毛管引力を増加するために界面活性剤でコーティングされているか親水性の表面処理が施されていることもある。界面活性剤のコーティングの非限定的な例として、Tween−80、JBR−515、Niaproof、およびTergiolなどがある。一体化されたランセット22は図1および図3に示されているように一体化されたランセット22の構造上の一体性を強化し一体化されたランセット22からサンプル受容チャンバ41への流体の流れを援助するための補強リブ24をさらに含んでいることもある。
【0028】
図4は本発明のある実施の形態に基づく試験細片が再使用されるのを防止する方法を記載したフロー図を示している。ステップ410では、メーターが第1の作動電極48、第2の作動電極50、基準電極52、第1の電気的接触ゾーン101、および第2の電気的接触ゾーン102と電気的に接触するように試験細片20に結合される。次に、メーターはステップ420に示されているように第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の間のヒューズ100が連続しているか否かの探査を含むシステムチェックを実行する。ステップ430では、メーターがヒューズ100が連続していると判定した場合、メーターは起動し、および/または、使用者に切開機構を発射することを促すテストを開始する。ヒューズ100が連続している場合、メーターはステップ440で生理的サンプルを分析するテストを実行する。次に、メーターは分析結果を出力しヒューズ100をとばす。図2Bは不連続ゾーン104を含んでいるとばされたヒューズの部分的な平面図を示している。本発明の別の実施の形態では、ヒューズ100がステップ430の後でとばされれば試験細片が生理的サンプルにさらされた後に確実に再使用されないようにできるのでヒューズ100はステップ430の後のどのタイミングでとばされてもよい。本発明のある実施の形態では、メーターは実質的に1.5Vから実質的に30Vまでの範囲内の一定の電圧を第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の間に印加することがある。本発明の別の実施の形態では、メーターは実質的に20μAから実質的に1500μAまでの範囲内の一定の電流を第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の間に流すために可変の電圧を印加することもある。要約すると、本発明の方法は使用者が試験細片を一度だけ使用することを確実にするための強固な方策を提供する。
【0029】
さらに、本発明の方法は試験細片が既に使用されたか否かを判定し使用者が使用済みの試験細片を再び使用するのを防止することができる。メーターがヒューズ100が不連続であると判定した場合、ステップ460に示されているようにメーターは停止し、および/または、試験細片が欠陥のある/使用済みであることを示すエラーメッセージを出力する。
【0030】
ヒューズ100の目的は試験細片20が再び使用される可能性を低減し実質的にその可能性をなくすことである。本発明のある実施の形態は一体化されたランセット22を備えた上部層34を含んでいる。したがって、試験細片20の再使用は生理的液体の相互汚染または使用者の感染を引き起こす。したがって、試験細片20が既に使用されたか否かをメーターが判定できるようにするヒューズ100を備えることが望ましい。メーターは試験細片20が試験に使用された後にヒューズ100を壊すように、またはある場合にはヒューズ100をとばすように設計されている。メーターが試験細片20が既に使用されていると(例えば、ヒューズ100が壊されているまたはヒューズ100がとばされていることを検査して)判定した場合、メーターはエラーメッセージを出力し、および/または、テストの開始を妨げる。しかし、メーターが試験細片20がまだ使用されていないと判定した場合には、メーターは一体化されたランセット22を皮膚に向けて発射するか使用者がスイッチを駆動させてランセット22を発射するように促すことによってテストを開始する。
【0031】
図5は本発明の試験細片20と電気的に接触するようになるよう適合されたメーター500の簡単化された模式図である。メーター500は細片挿入ポート590、ひとつまたは複数の作動電極を用いてグルコースを測定する手段、試験細片20が生理的液体の試験に既に使用されたか否かを判定する手段、およびヒューズ100をとばす手段を含んでいる。
【0032】
細片挿入ポート590は試験細片20の一部がメーター500に挿入されるようにするメーター500内の開口またはオリフィスを含んでいる。より詳しく言うと、試験細片20の近位の端部は第1の作動電極48、第2の作動電極50、基準電極52、およびヒューズ100との電気的接触が確立されるようにメーター500に挿入されることもある。図6は試験細片20の近位の端部と電気的に接触するようになるメーター500の例を示している。
【0033】
グルコースを測定する手段は第1の作動電極接触部510、第2の作動電極接触部520、基準電極接触部550、第1のテスト電圧源560、および第2のテスト電圧源570を含んでいる。メーター500は、図6に示されているように、第1の作動電極接触部510、第2の作動電極接触部520、および基準電極接触部550が、各々第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52と電気的に接触するようになるように設計されている。グルコースの測定を実施する場合、第1のテスト電圧源560は第1の電圧E1を第1の作動電極48および基準電極52の間に供給することもある。同様にして、第2のテスト電圧源570は第2の電圧E2を第2の作動電極50および基準電極52の間に供給することもある。本発明のある実施の形態では、E1およびE2は実質的に−100mVから実質的に700mVまでの範囲内にあることもあり、より好ましくは実質的に0mVから実質的に400mVまでの範囲内にあることもある。生理的サンプルが第1の作動電極48、第2の作動電極50、および基準電極52が生理的サンプルで覆われるように加えられる。次に、生理的サンプルが加えられたことによって試薬層46が水和されて生理的サンプル中に存在するグルコースに比例する量のフェロシアニドが生み出される。本発明のある実施の形態では、メーター500は電流を測定する能力をも含み、その電流測定能力によってサンプルが加えられてから約5秒後に第1の作動電極48および第2の作動電極50の両方に対する酸化電流が測定されるようになる。こうして測定された電流はグルコースの濃度と相関関係を有することもあり電流の測定値がメーター500のLCD画面に表示される。
【0034】
試験細片20が生理的液体の試験に既に用いられたか否かを判定するための手段は、第1の連続接触部530、第2の連続接触部540、および連続電圧源580を含んでいる。メーター500は図6に示されているように第1の連続接触部530および第2の連続接触部540が各々第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102と電気的に接触するようになるように設計されている。試験細片20をメーター500に挿入すると、連続電圧源580は一定の電圧E3を第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の間に供給することもある。次にメーター500は測定された電流の値(ほぼ零の電流値ではない値)によって判定されることもある第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の電気的な連続性を試験細片20に問い合わせる。ヒューズ100が連続していると判定された場合、グルコースの測定が開始できるようになる。ヒューズ100が連続していないと判定された場合、グルコースの測定は開始されず、および/または、メーター500が停止される。
【0035】
本発明の別の実施の形態では、連続電圧源は第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の間に一定の電流が流れるように可変の電圧を供給することもある。次にメーター500は測定された有限の電圧値(無限の電圧値ではない値)によって判定されることもある第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102の電気的な連続性を試験細片20に問い合わせる。
【0036】
ヒューズ100をとばす手段は第1の連続接触部530および第2の連続接触部540の間に加えられる電圧源または電流源を含んでいる。メーター500は第1の連続接触部530および第2の連続接触部540が第1の電気的接触ゾーン101および第2の電気的接触ゾーン102と電気的に接触するようになるように設計されているので、ヒューズ100をとばすのに十分強い電圧または電流がヒューズ100に加えられることもある。
【0037】
本発明の利点は、試験細片がメーターに挿入された直後に既に使用された試験細片を特定するので従来の方法に比べてより信頼性が高いことである。このような迅速な検出能力は一体化されたランセット22を備えた試験細片では再使用が汚染および感染の源になる可能性があるので一体化されたランセット22を備えた試験細片で特に有益である。
【0038】
本発明の別の利点は、試験細片に加えられた液体サンプルが乾燥している場合にも既に使用された試験細片をメーターによって特定できることである。使用された試験細片を特定するためのインピーダンス法は液体が試験細片内に存在することを必要とする。
【0039】
本発明の別の利点は、ヒューズが低コストで試験細片に追加されることである。電極を試験細片上に追加してプリントすることは簡単な製造過程である。
【0040】
本発明の別の利点は、ヒューズが連続しているか否かを判定するために必要な回路が非常に簡単で低コストであることである。
【0041】
本発明の好ましい実施の形態が本明細書で説明されたが、当業者にはそれらの実施の形態が例示の目的のみで説明されたことは明らかであろう。さまざまな変更、変形、および置換がいまや当業者には本発明から逸脱することなく思いつくことができるであろう。
【0042】
本明細書に記載された本発明の実施の形態のさまざまな変形が本発明を実施するときに用いられることがあるということが理解されなければならない。特許請求の範囲の記載が本発明の範囲を定義することおよび特許請求の範囲の記載の範囲内の方法および構造およびそれらの等価が特許請求の範囲に包含されることが意図されている。
【0043】
この発明の具体的な実施態様は以下の通りである。
(1)検体測定システムでの試験細片の再使用を防止する方法であって、
試験細片をメーターに挿入する過程と、
上記試験細片上の第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンが電気的に連続であるか否かを検出し、電気的に連続である場合に測定シーケンスを開始する過程と、
生理的サンプルを使い捨て式の上記試験細片に加える過程と、
検体の濃度に相当する信号を上記試験細片から測定する過程と、
上記第1の電気的接触ゾーンおよび上記第2の電気的接触ゾーンの間の壊すことができるリンクを破壊するのに十分な電圧を上記第1の電気的接触ゾーンおよび上記第2の電気的接触ゾーンの間に加える過程と
を有する、検体測定システムでの試験細片の再使用を防止する方法。
(2)壊すことができるリンクが第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間に配置されたヒューズゾーンからなる、上記実施態様(1)記載の方法。
(3)ヒューズゾーンが第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンよりも高い抵抗値を有する、上記実施態様(2)記載の方法。
(4)壊すことができるリンクが炭素、銀、白金、パラジウム、金、Ir、Pt、タングステン、銅、およびアルミからなる集合から選択された材料からなる、上記実施態様(1)記載の方法。
(5)ヒューズゾーンが正の温度係数の抵抗値を有する、上記実施態様(2)記載の方法。
【0044】
(6)ヒューズゾーンが予め決められた電圧が第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間に加えられたときに溶ける、上記実施態様(5)記載の方法。
(7)予め決められた電圧が実質的に1.5Vから実質的に30Vまでの範囲内にある、上記実施態様(6)記載の方法。
(8)試験細片が一体化されたランセットをさらに有する、上記実施態様(1)記載の方法。
(9)検体がグルコースからなる、上記実施態様(1)記載の方法。
(10)試験細片が作動電極および基準電極をさらに有する、上記実施態様(1)記載の方法。
【0045】
(11)試薬層が作動電極の少なくとも一部の上に配置されている、上記実施態様(10)記載の方法。
(12)試薬層が酸化還元媒介物質および酸化還元酵素を含む、上記実施態様(11)記載の方法。
(13)試薬層がシリカ充填剤を含む、上記実施態様(11)記載の方法。
(14)試験細片の再使用を防止する方法であって、
複数の電気的接触部と、体の液体を受容するように適合され上記電気的接触部のうちの第1の対の電気的接触部に結合されたサンプルチャンバと、上記電気的接触部のうちの第2の対の電気的接触部に結合された壊すことができるリンクとを有する試験細片を提供する過程と、
上記壊すことができるリンクを破壊するのに十分な予め決められた電圧を上記第2の対の電気的接触部間に加える過程と
を有する、試験細片の再使用を防止する方法。
(15)壊すことができるリンクがヒューズからなる、上記実施態様(14)記載の方法。
(16)予め決められた電圧が実質的に1.5Vから実質的に30Vまでの範囲内にある、上記実施態様(15)記載の方法。
【産業上の利用可能性】
【0046】
本発明は、試験細片の再使用を防止して試験細片を用いた検査による汚染および感染を防止する分野での用途がある。
【図面の簡単な説明】
【0047】
【図1】一体化されたランセットおよびヒューズを備えた試験細片の実施の形態の分解上部斜視図である。
【図2A】連続した導電性パスを有するヒューズの部分的な平面図である。
【図2B】不連続な導電性パスを有するヒューズの部分的な平面図である。
【図3】一体化されたランセットを備えた試験細片の実施の形態の上部層の底部から見た斜視図である。
【図4】本発明に基づく再使用を防止する方法を例示したフロー図である。
【図5】本発明の試験細片と電気的に接触するように適合されたメーターの簡単化された模式図である。
【図6】本発明の試験細片と連結されたメーターの簡単化された模式図である。
【符号の説明】
【0048】
20 試験細片
22 ランセット
24 補強リブ
26 側面のエンボススペーサ
28 遠位のエンボススペーサ
30 ベント
32 位置決め孔
34 上部層
36 底部層
38 接着層
40 側面の隙間領域
41 サンプル受容チャンバ
42 遠位の隙間領域
44 絶縁層
46 試薬層
48 第1の作動電極
50 第2の作動電極
52 基準電極
53 基板
100 ヒューズ
101 第1の電気的接触ゾーン
102 第2の電気的接触ゾーン
103 ヒューズゾーン
104 不連続ゾーン
500 メーター
510 第1の作動電極接触部
520 第2の作動電極接触部
530 第1の連続接触部
540 第2の連続接触部
550 基準電極接触部
560 第1のテスト電圧源
570 第2のテスト電圧源
580 連続電圧源
590 細片挿入ポート

【特許請求の範囲】
【請求項1】
検体測定システムでの試験細片の再使用を防止する方法であって、
試験細片をメーターに挿入する過程と、
上記試験細片上の第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンが電気的に連続であるか否かを検出し、電気的に連続である場合に測定シーケンスを開始する過程と、
生理的サンプルを使い捨て式の上記試験細片に加える過程と、
検体の濃度に相当する信号を上記試験細片から測定する過程と、
上記第1の電気的接触ゾーンおよび上記第2の電気的接触ゾーンの間の壊すことができるリンクを破壊するのに十分な電圧を上記第1の電気的接触ゾーンおよび上記第2の電気的接触ゾーンの間に加える過程と
を有する、検体測定システムでの試験細片の再使用を防止する方法。
【請求項2】
壊すことができるリンクが第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間に配置されたヒューズゾーンからなる、請求項1記載の方法。
【請求項3】
ヒューズゾーンが第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンよりも高い抵抗値を有する、請求項2記載の方法。
【請求項4】
壊すことができるリンクが炭素、銀、白金、パラジウム、金、Ir、Pt、タングステン、銅、およびアルミからなる集合から選択された材料からなる、請求項1記載の方法。
【請求項5】
ヒューズゾーンが正の温度係数の抵抗値を有する、請求項2記載の方法。
【請求項6】
ヒューズゾーンが予め決められた電圧が第1の電気的接触ゾーンおよび第2の電気的接触ゾーンの間に加えられたときに溶ける、請求項5記載の方法。
【請求項7】
予め決められた電圧が実質的に1.5Vから実質的に30Vまでの範囲内にある、請求項6記載の方法。
【請求項8】
試験細片が一体化されたランセットをさらに有する、請求項1記載の方法。
【請求項9】
検体がグルコースからなる、請求項1記載の方法。
【請求項10】
試験細片が作動電極および基準電極をさらに有する、請求項1記載の方法。
【請求項11】
試薬層が作動電極の少なくとも一部の上に配置されている、請求項10記載の方法。
【請求項12】
試薬層が酸化還元媒介物質および酸化還元酵素を含む、請求項11記載の方法。
【請求項13】
試薬層がシリカ充填剤を含む、請求項11記載の方法。
【請求項14】
試験細片の再使用を防止する方法であって、
複数の電気的接触部と、体の液体を受容するように適合され上記電気的接触部のうちの第1の対の電気的接触部に結合されたサンプルチャンバと、上記電気的接触部のうちの第2の対の電気的接触部に結合された壊すことができるリンクとを有する試験細片を提供する過程と、
上記壊すことができるリンクを破壊するのに十分な予め決められた電圧を上記第2の対の電気的接触部間に加える過程と
を有する、試験細片の再使用を防止する方法。
【請求項15】
壊すことができるリンクがヒューズからなる、請求項14記載の方法。
【請求項16】
予め決められた電圧が実質的に1.5Vから実質的に30Vまでの範囲内にある、請求項15記載の方法。

【図1】
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【図2A】
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【図2B】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【公開番号】特開2006−38841(P2006−38841A)
【公開日】平成18年2月9日(2006.2.9)
【国際特許分類】
【外国語出願】
【出願番号】特願2005−188654(P2005−188654)
【出願日】平成17年6月28日(2005.6.28)
【出願人】(596159500)ライフスキャン・インコーポレイテッド (100)
【氏名又は名称原語表記】Lifescan,Inc.
【住所又は居所原語表記】1000 Gibraltar Drive,Milpitas,California 95035,United States of America
【Fターム(参考)】