試験装置及び試験装置を用いた試験方法
【課題】読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置及び試験装置でテストする方法を開示する。
【解決手段】前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。前記マルチチャネル前置増幅器の第１チャネルは前記読取り／書込みヘッドに接続するためのコネクタを有する。前記マルチチャネル前置増幅器の１以上の他のチャネルは、前記測定システムに接続しているか、又は、別の装置と接続するためのコネクタであって該別の装置を前記測定システムにインターフェースで接続するためのものを有する。
【解決手段】前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。前記マルチチャネル前置増幅器の第１チャネルは前記読取り／書込みヘッドに接続するためのコネクタを有する。前記マルチチャネル前置増幅器の１以上の他のチャネルは、前記測定システムに接続しているか、又は、別の装置と接続するためのコネクタであって該別の装置を前記測定システムにインターフェースで接続するためのものを有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験装置及び試験装置を用いた試験方法に関する。
【０００２】
実施形態において、概して、本発明は、従来技術において「スピンスタンド」又は「ダイナミック電気試験機」として一般に知られているようなヘッドメディア試験装置に関する。スピンスタンドは従来技術において研究開発中に用いられるツールとして最初に開発され、それにより、ディスクドライブの様々なコンポーネント（例えばヘッド、ディスク、チャネル）の性能を評価及び最適化することができた。今では、各製造された読取り／書込みヘッド又はディスクを、ディスクドライブユニットに組み入れる前にテストするためにディスクドライブ製造の分野にスピンスタンドを用いるということも見られる。
【背景技術】
【０００３】
典型的なスピンスタンドは、試験用ディスクを上に設けて回転することができるモーター駆動のスピンドル、及び、試験用読取り／書込みヘッドを保持して位置決めするためのヘッドロード機構を具備する。通常、常にという訳ではないが、ヘッドはテストされる時にヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）に組み込まれている。スピンスタンドは、スピンスタンドコントローラ及び測定システムも有する。スピンスタンドコントローラは、スピンスタンドの力学的側面（例えば、ディスクの回転をつけること、ディスクにヘッドを載せること、及び、ディスク上の望ましい位置にヘッドを微細に位置決めすること）の制御に関与している。測定システム（読取り／書込みアナライザーとしても知られている）は、ヘッドでディスク上のトラックにテストデータを書込み、続いて該ヘッドで該テストデータをリードバックする、該データを測定及び分析する、及び、結果をユーザーに表示するように配置されている。加えて、スピンスタンドで行われた測定を分析及び表示するために、専用のパラメトリック測定電子機器、スペクトラムアナライザー又はオシロスコープが設けられても良い。データがそれに基づいて書込み及び／又はリードバックされる様々なパラメーターは、測定システムによって制御及び変更されてもよく、これにより被試験部の性能及び特性を様々な条件下で調査することができる。このようにして、例えば、ビット誤り率（ＢＥＲ）バスタブ、トラック・スクイーズ、トラックセンター、読取り／書込みオフセット、上書き等の一連のテストを行うことができる。
【０００４】
前置増幅器（又は単にプリアンプという）は、信号経路において読取り／書込みヘッドと測定システムとの間に接続されている。これにより、データを書込む時に適切な駆動電圧がヘッドに供給され、また、データを読取る時にヘッドによって拾われた比較的弱い信号が測定システムによる処理に好適な形態になるように増幅される。加えて、多くのディスクドライブは、データ書込み操作中、ヘッド−メディア分離を制御された距離で維持することに浮上高さ制御を用いる。随意に、前置増幅器は、スライダ素子の突起部に影響を与える熱を発生させるためにスライダ上の抵抗加熱素子にプログラムできる定電力を届けることによって浮上高制御を補助することができるヒーター回路（heater circuitry）を有してもよい。
【０００５】
最も知られているスピンスタンドはカートリッジ型又はブロック型の機械的アーキテクチャを用い、これにより、ヘッドがスピンスタンドに受容される。このようなスキームにおいては、ＨＧＡはスピンスタンドとは離れて最初にカートリッジタイプの機器に搭載されてテストのために準備され、その後順にスピンスタンドに搭載される。前記カートリッジには前置増幅器も設けられる。カートリッジにＨＧＡを設ける際には、オペレーターは非常に精密にＨＧＡをカートリッジに整列させ、また、ＨＧＡと前置増幅器との間を電気的に接続する。そして、カートリッジは機械的及び電気的にスピンスタンド及び測定システムに取り付けられる。
【０００６】
他のスキームにおいて、ノンカートリッジ型ヘッドテストの使用が知られている。例えば、特許文献１（発明の名称「読取り／書込みヘッドをスピンスタンドに搭載する方法及び装置」、本願の出願人とシーゲイト・テクノロジーＬＬＣの共願）は、ＨＧＡをスピンスタンドに搭載するための装置を開示している。このようなスキームにおいて、スピンスタンドは試験用にＨＧＡを保持するための所謂「テスト部（test nest）」と、該テスト部に隣接して搭載されたプリアンプボードとを有する。テスト部がＨＧＡを固定し、ＨＧＡを前置増幅器に接続するためにスピンスタンドによってＨＧＡの電気的接続が電気的に接続される。ノンカートリッジ型ヘッド試験装置の他の例は、特許文献２及び特許文献３（本願の出願人とシーゲイト・テクノロジーＬＬＣの共願）に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国特許公開第２００８／００６１７７６号
【特許文献２】国際公開第ＷＯ２０１０／１２７９６７号
【特許文献３】国際公開第ＷＯ２０１１／０４８０７５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しばしば、同じスピンスタンドで異なる種類のＨＧＡをテストすることが望ましい。前記前置増幅器は通常製品固有の市販の部品、すなわちテストされるヘッドの電気特性を考慮するものである。したがって、典型的には存在する複数のスピンスタンドは、異なる種類のテストされたＨＧＡごとに別々の前置増幅器を用いる。これは、異なるヘッドを交換することはそのプリアンプボードを交換することであることを意味する。これは新しいプリアンプを考慮するための時間のかかる測定システムの再較正及びセットアップにつながる。
【０００９】
更に、従来、ＨＧＡは２種類売られている。すなわち、ディスクプラッタの上側をテストするアップ・ヘッド、及び、ディスクプラッタの下側をテストするダウン・ヘッドである。ヘッドを交換する以外にスピンスタンド又は電子機器の再設定が最小限又は不要で、スピンスタンドでアップ・ヘッド及びダウン・ヘッドをテストできることが望ましい。この場合、従来技術においては、各ヘッドに別々の前置増幅器が設けられた。これは、前置増幅器３に及び前置増幅器３から来る信号を測定システム５に送るために信号経路において外部マルチプレクサー、スイッチ及び／又はスプリット４等を使用しなければならないことを意味する。これにより、１以上の選択されたプリアンプ３を、例えば、マルチプレクサー４に好適な制御信号を供給することによって被試験ヘッド１、２と共に用いるために選択することができる。しかしながら、この配置には、ヘッド１、２と測定システム５の間の信号経路におけるコンポーネントの長さ及び数を増加させるという欠点がある。ここから分かるように、ヘッド１、２が捉えた信号は非常に弱く、したがって、これらに影響を与えるいかなる信号歪み又はノイズも最小限にすることが重要である。したがって、信号経路において増設のコンポーネントを回避することによって、重要な意味を持つ信号経路をできる限り短くシンプルに保つことが重要である。また、これらの配置は、マルチプルプリアンプボード（multiple preamp board）を合わせるようにテスト部を設計する際の複雑さを増すことにつながり、また、これらの実装は高価である。
【００１０】
また、プリアンプの性能を判断する、及び、システム中の起こり得るエラーを突き止めるために、プリアンプについて較正及び／又は診断できることが望ましい。装置が、ＢＩＳＴ（ビルトインセフルテスト、Built In Self Test）として知られるエンドツーエンドセルフテスト（end-to-end self testing）を行える（すなわち、マシンが自身をテストすることができる）ことが望ましい。従来技術における配置は、これらの機能についてほとんど準備しておらず、一般的にこの点において不十分である。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の第１アスペクトによれば、読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置が提供され、該試験装置は、
試験中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び
複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備し、
前記マルチチャネル前置増幅器の第１チャネルは前記読取り／書込みヘッドに接続するためのコネクタを有し、
前記マルチチャネル前置増幅器の１以上の他のチャネルは、前記測定システムに接続しているか、又は、別の装置と接続するためのコネクタであって該別の装置を前記測定システムにインターフェースで接続するためのものを有する。
【００１２】
マルチチャネル前置増幅器を用いることによって、１つだけの前置増幅器を用いて、１つより多くの機器を前記測定システムにインターフェースで接続させることができる。これにより、必要なコンポーネントを最小限に抑えることができ、信号経路において外部マルチプレクサー又はスプリットが必要ないことを意味し、したがって、重要な意味を持つ信号経路を短く保つことができる。これにより、従来技術の配置と比べて、複数のヘッドを簡素化した信号経路でテストすることができる。機械的設定も簡易化され、プリアンプボードは１つしか必要ない。これは、１つのテスト部設計（a single test nest design）を有するスピンスタンドに用いた時に特に有利である。また、これは、互いにオフセットする前置増幅器の集積回路のダイス（dies）を有する複数の前置増幅器を用いる従来技術における問題を解決し、結果として信号経路における違いになる。
【００１３】
マルチチャネル前置増幅器を用いることによって、後述する従来技術の配置と比べて機能性の追加も可能である。例えば、これにより、予備プリアンプチャネル及び新しい試験方法を用いてヘッドインターフェースにおいて診断及び較正機能を実装することが可能である。
【００１４】
従来技術において、もし１つより多くの機器が測定されること（例えば、測定システムにインターフェースで接続された２つの読取り／書込みヘッド）が望まれるのであれば、従来においては、測定される機器ごとに別々の前置増幅器を用いることによって達成した。２つの前置増幅器へ／からの信号は、測定システムとインターフェースで接続される前に、信号経路においてスプリッター及びマルチプレクサー等を通じて結集される。これにより、より多くのコンポーネント（信号経路にノイズを生じさせ、測定で用いられる正確な信号を劣化させる傾向がある）を有するより長くより複雑な信号経路を形成することができる。
【００１５】
これに対して、本願発明は、各測定源に１つのチャネルを有するマルチチャネル前置増幅器を用いる。これにより、信号経路における余分なコンポーネントを除くことができ、信号のより高い忠実度につながる。また、これにより前置増幅器を保持するためのプリアンプボードの設計がシンプルになり、前置増幅器の制御をアレンジしやすくなる。この配置は、従来技術のスキームよりも少ないプリアンプボード（好ましくは１つだけ）及びサポート電子機器しか必要でなく、それにより、製造のコスト及び複雑さを著しく低減させることができる。
【００１６】
典型的には、信号源（例えば、測定システム）からデータ入力信号を受信し、選択されたチャネル上のヘッド書込み素子が、ヘッドでそのデータを書込むのに適した電流／電圧で駆動されるように、読取りヘッド及び書込みヘッドと共に用いる前置増幅器が配置される。また、前置増幅器は、選択されたチャネルの読取り／書込みヘッドの読取り素子から信号を受信し、該信号を増幅し、増幅された信号を測定システムにデータ信号出力を通じて伝達するように配置される。また、前置増幅器は、随意に、前置増幅器のチャネルの上にある読取り／書込みヘッドの発熱素子にヒーター電流を供給することができる。
【００１７】
好ましい実施形態においては、試験装置は、読取り／書込みヘッドによって書込む及び読取ることができる磁気ディスク媒体を搭載する及び回転するためのスピンドルを有する試験装置である。しかしながら、他の形態のメディアを用いてもよく、他の形態の試験装置を用いてもよい。いずれにしても、「試験装置」によって行われるテストは、ディスクドライブユニット（例えば、ヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）等）に組み込まれていない読取り／書込みヘッドをテストするためのものである。
【００１８】
一実施形態においては、前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルが、別の読取り／書込みヘッドと接続するためのコネクタを有する。
【００１９】
これにより、信号経路に追加の前置増幅器及びスプリッター／マルチプレクサーを導入することで、信号経路を複雑にすることなく異なるヘッドをテストすることができる。また、これにより、プリアンプボードは１つだけしか必要ないため、テスト部の設計を簡素化できる。好ましい実施形態においては、前置増幅器の２つのチャネルに接続させてアップ・ヘッド及びダウン・ヘッドをテストすることができる。前置増幅器の更に多くのチャネルを必要であればヘッドに接続することができ、これにより、例えば、バンク書込みモードテストを複数のヘッドにおいて行うことができる。
【００２０】
一実施形態においては、前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、疑似ヘッド回路（simulated head circuitry）に接続されている。
【００２１】
これにより、前記測定システムで較正及び診断テストを行うことができる。前記測定システムは、疑似ヘッド回路の特性を測定することができ、これらの特性を、データを読取る／書込む時に、実際の読取り／書込みヘッドから得た値と比較することができる。この比較は診断に用いることができる。例えば、測定した疑似ヘッドの値が想定範囲内で、一方、実際のヘッドの値が想定範囲外である場合、ヘッドに成された電気的接続に問題がある可能性があると判定することができる。
【００２２】
疑似ヘッドはバンクモードヘッドテストの一部として書込まれることも可能である。このモードにおいて、これらのオペレーション条件で被試験ヘッドをテストできるように、マルチプルヘッドの書込みをすぐにシミュレーションすることが望まれている。したがって、この設定は、バンクモードテストの一部として１以上の疑似ヘッドと共に、被試験ヘッドへの書込みに用いることができる。
【００２３】
一実施形態においては、前記疑似ヘッド回路は、複素インピーダンスネットワークを具備する。これは、直列及び／又は並列に接続された１以上のレジスタ、コンデンサ及び／又はインダクタを具備し、望ましい公称測定値（例えば、抵抗又はリアクタンス）を有するネットワークを形成する。これにより、例えば、較正又は診断テストのために、実際のヘッドを測定した測定値と、疑似ヘッドを測定した測定値とを比較することができる。
【００２４】
一実施形態においては、前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、テスト信号源に接続されている又は接続可能である。
【００２５】
これにより、予備前置増幅器チャネルにカスタムテスト信号を注入することによって向上したテストが可能である。該信号は前置増幅器によって増幅され、読取り／書込みヘッドによって読取られた本物の信号であるかのように、測定システムに伝達される。そして、測定システムで受信された実際のテスト信号と、理論上のテスト信号とを比較することができる。これにより、試験装置及び／又は測定システムを較正することができる。また、これにより診断を行うことができる。例えば、ヘッドによってデータが書込まれ、続いてリードバックされ、想定範囲外のパラメーターであると分かった時には、予備プリアンプチャネルに既知のテスト信号を注入することによって、可能性のある誤りを調査することができる。測定システムが受信した信号が予想どおりである場合には、読取りチャネルよりも書込みチャネルに誤りがあることを意味する。
【００２６】
テスト信号はいかなる好適な手段で発生させてもよい。一実施形態において、前記試験装置は、テスト信号を発生させるために配置され、前記他のチャネルに接続されたテスト信号発生回路を具備する。テスト信号発生回路は、任意波形発生器、又は、正弦波発生器等のより簡素な波形発生器によって設けられても良い。前記回路は、ＦＰＧＡアレイ又はいかなる他の好適な回路によって設けられてもよい。回路は前置増幅器を保持する基板と同じ基板上に設けられてもよいし、又は、いくつかの形態においては、後述するように共通インターフェースボード上に設けられてもよい。
【００２７】
別の実施例においては、前記前置増幅器が、前記読取り／書込みヘッドに書込まれるデータを前記測定システムから受信するために、前記測定システムとインターフェースで接続するための書込みデータ信号コネクタを有し、
前記測定システムから受信した制御信号に応じて、前記書込みデータ信号コネクタが前記他のチャネルと接続するように前記試験装置が配置され、その結果、使用時、前記測定システムから受信したテスト信号が前記他のチャネルに接続される。好ましくは、前記読取り／書込みヘッドから読取ったデータを前記測定システムに送信するために、前記前置増幅器が、前記測定システムとインターフェースで接続するための読取りデータ信号コネクタを有し、前記前置増幅器が、前記読取りデータ信号コネクタを通じて前記測定システムから前記制御信号を受信するように配置されている。したがって、実際には、測定システムと前置増幅器との間のデータコネクタ（通常、ヘッドに書込まれるデータの前置増幅器への送信及びヘッドから読取られたデータの返送に用いられる）は、前置増幅器のチャネルへのテスト信号の送出に利用される。
【００２８】
好ましくは、前置増幅器は、測定システムから書込みデータ（前置増幅器チャネルの１つに設けられた読取り／書込みヘッドに書込まれる）を受信するための書込みデータ信号コネクタ、及び、前置増幅器チャネルの１つから（例えば、読取り／書込みヘッドの読取り素子から）読取られた増幅された信号を測定システムに伝送するための読取りデータ信号コネクタを有する。データ信号コネクタを前置増幅器のチャネルに接続するための回路は、前置増幅器が搭載されたプリアンプボードに設けてもよいし、いかなる好適な論理回路であってもよい。
【００２９】
一実施形態においては、前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が以下を具備することを特徴とする。
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるもの。
【００３０】
これにより、試験装置及び／又は測定システムを、前置増幅器に関するメモリから得られた情報に従って設定することができる。適切な接続を通じて測定システムでメモリを直接読取ることができると考えられている。或いは、好ましい実施形態において、前置増幅器と測定システムとの間に介在し、且つ、該情報を測定システムに伝達する及び／又は該情報に従って自身の設定をする共通インターフェースボードでメモリを読取ることができると考えられている。したがって、前記システムにおいて異なる前置増幅器ボードを用いることができる。異なるマルチチャネル前置増幅器を異なるタイプの読取り／書込みヘッドに用いるようにするのに有用である。前記システムは前置増幅器ボード上のメモリから適切な情報を読取り、適切に自身の設定を行う。
【００３１】
一実施形態においては、前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が共通インターフェースボードを具備し、該共通インターフェースボードが、制御インターフェースを通じて前記測定システムから制御信号を受信し、前記前置増幅器に設定可能な電力供給を提供し、及び／又は前記前置増幅器に設定可能な制御信号を送出するように配置されており、その結果、前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器との間に共通インターフェースを提供する。
【００３２】
この実施形態においては、使用中の前置増幅器に従って、共通インターフェースボードが前置増幅器ボードへの電力供給及び制御ラインを設定する。これは、毎回測定システムを再設定することなく、異なる制御及び電源条件を有する異なる前置増幅器を用いることができることを意味する。その代わりに、共通インターフェースボードは、測定システムからの制御信号を前置増幅器への適切な制御信号に変換し、前置増幅器に必要な電力を供給する。
【００３３】
一実施形態においては、前記試験装置は、前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記メモリインターフェースを通じて情報を読取る、及び、前記共通インターフェースボードの前記測定システムとの制御インターフェースを通じて、該情報を前記測定システムに伝達する動作が可能である。
【００３４】
一実施形態においては、前記メモリが記憶した前記情報が、以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含む。
ａ）前記前置増幅器チャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの公称測定値（nominal measurement values）、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【００３５】
接続情報は、チャネルにおけるヘッドの種類（例えば、アップ・ヘッド又はダウン・ヘッド）、疑似ヘッドがチャネルに接続しているか、チャネルがテスト信号を受信するように設定されているか、チャネルが接続を有していないか等を含む。前記情報は、測定システム又は中間回路基板（例えば、好ましい実施形態においては共通インターフェースボード）によって潜在的に読取られてもよい。
【００３６】
一実施形態においては、前記試験装置は、前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリであって、該情報が少なくとも、前記前置増幅器の電源条件、及び／又は、前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含むもの、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記前置増幅器のインターフェース設定を読取る、及び、前記情報に従って、前記制御信号及び／又は前置増幅器への電力供給を設定する動作が可能である。
【００３７】
これにより、共通インターフェースカードが自動的に前置増幅器の種類を検出し、それに正しい電力及び／又は制御信号を供給することができる。
【００３８】
本発明の第２アスペクトによって、試験装置でテストする方法が提供され、該方法は以下の工程を含む。
読取り／書込みヘッドを前記試験装置に取り付ける工程、
前記試験装置のマルチチャネル前置増幅器を測定システムに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つのチャネルを前記読取り／書込みヘッドに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを別の機器に接続する工程、及び
前記測定システムの制御下で、前記読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程。
【００３９】
一実施形態においては、前記方法は、前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを前記試験装置の別の読取り／書込みヘッドに接続する工程、及び、前記測定システムの制御下で、該読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程を含む。
【００４０】
一実施形態においては、前記方法は、前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを、前記試験装置の別の読取り／書込みヘッド、又は、疑似ヘッドに接続する工程、及び、バンク−書込みテストを行う工程を含む。
【００４１】
一実施形態においては、少なくとも１つの他のチャネルが疑似ヘッド回路に接続されており、該方法が
前記疑似ヘッドの測定値を測定する工程、及び
前記測定した値を、前記試験装置又は測定システムの較正、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りの診断に用いる工程を含む。
【００４２】
一実施形態においては、前記疑似ヘッド回路が、複素インピーダンスネットワークを具備する。
【００４３】
一実施形態においては、前記方法は、テスト信号を少なくとも１つの他のチャネルに供給する工程、及び
前記試験装置又は測定システムを較正するため、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りを診断するために、前記テスト信号を前記測定システムで測定する工程を含む。
【００４４】
一実施形態においては、前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられており、該方法が、
前記プリアンプボード上のメモリの上に設けられた前記前置増幅器に関する情報を記憶する工程、及び
前記メモリから情報を読取り、該情報に従って前記試験装置又は測定システムを設定する工程を含む。
【００４５】
一実施形態においては、前記情報が以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含むことを特徴とする。
ａ）前記プリアンプチャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの公称測定値、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【００４６】
一実施形態においては、前記前置増幅器はプリアンプボードの上に設けられており、
前記試験装置が、前記測定システムと前記プリアンプボードの間においてインターフェースで接続された共通インターフェースボードを有し、前記方法が
前記共通インターフェースボードにおいて、前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定に関して情報を受信する工程、及び
前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器の間の共通インターフェースを提供するように、該情報にしたがって、前記共通インターフェースボードが、電力供給を前記前置増幅器に、及び／又は、制御信号を前記前置増幅器に提供する工程を含む。
【００４７】
一実施形態においては、前記プリアンプボードが、前記前置増幅器に関する情報を記憶するためのメモリを有し、前記方法が、
前記共通インターフェースボードで前記情報を前記メモリから読取る工程、及び
該情報を前記測定システムに伝達する工程を含む。
【００４８】
一実施形態においては、前記メモリが、少なくとも前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含む情報を記憶する。
【００４９】
一実施形態においては、前記方法が、前記試験装置からテストされた読取り／書込みヘッドを取り外す工程、及び、
該ヘッドを新しい試験用読取り／書込みヘッドに取り替える工程を含む。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
添付の図面を参照して例を挙げながら本願発明の実施形態を説明する。
【００５１】
【図１】図１は、スピンスタンドにおいてマルチプルヘッドをテストするための前置増幅器の従来技術の配置を示す。
【図２】図２は、本願発明の実施形態に係るスピンスタンドの例を概略的に示す。
【図３】図３は、本願発明の実施形態に係るプリアンプボード及び共通インターフェースボードの例を概略的に示す。
【発明を実施するための形態】
【００５２】
図２は、スピンスタンド１０の模式図を示す。スピンスタンド１０は機械的にはいかなる好適な既知の種類であってよい。好ましいスピンスタンド１０は、試験用ディスク１２を上に設け回転させることができるモーター駆動のスピンドル１１、及び、試験用読取り／書込みヘッド１００を保持し位置決めするためのヘッドロード機構１３を具備する。ヘッド１００は、これをテストする時には、ヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）に組み込まれていることが好ましいが、他の配置も可能である。ここまでに記述した様々なスピンスタンド１０の実装方法は従来技術において知られているため、これらのスピンスタンドのアスペクトはここでは詳細に説明しない。
【００５３】
また、スピンスタンド１０はスピンスタンドコントローラ１５及び測定システム２０を具備する。これらは典型的には、測定システム２０がどのようなテストを行おうともそれに特有と思われる、スピンスタンドコントローラ１５及び測定システムのための適切な拡張カード及び／又はスタンドアローンモジュールを有するコンピュータ２５によって提供される。スピンスタンドコントローラ１５がスピンスタンド１０の機械的アスペクトの制御を担っている。これらについてここで詳しく説明しないが、例えば、ディスク１２をスピンアップ／ダウンする、ヘッド１００をディスク１２に載せる、及びヘッド１００をディスク１２上のトラックに微細に位置決めする等のタスクを含む。
【００５４】
測定システム２０は、ヘッド１００でテストデータをディスク１２に書込み、続いて、ヘッド１００でディスク１２からテストデータをリードバックするように配置されている。プリアンプボード５０はヘッド１００と測定システム２０との間に接続されている（詳細な説明が後述されている）。測定システム２０は、ディスク１２からリードバックしたデータを測定及び分析し、結果をユーザーに表示する。加えて、スピンスタンド１０で行った測定を分析及び表示するために、専用のパラメトリック測定電子機器、スペクトラムアナライザー又はオシロスコープ３０を備えてもよい。
【００５５】
様々なパラメーター（これらに基づきデータが書込まれる及び／又はリードバックされる）は測定システム２０及び／又はスピンスタンドコントローラ１５によって制御及び変更されてもよく、これにより、ヘッド１００又はディスク１２の性能及び特性を様々な条件下で調査することができる。このようにして、例えば、ビット誤り率（ＢＥＲ）バスタブ、トラック・スクイーズ、トラックセンター、読取り／書込みオフセット、上書き等の一連のテストを行うことができる。
【００５６】
図３は、本願発明の実施形態におけるプリアンプボード５０を示す。プリアンプボード５０はマルチチャネル前置増幅器５１を具備する。この例において、前記前置増幅器５１は、読取り／書込みヘッドに接続するための４つのプリアンプチャネル（チャネルＣＨ０、ＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３）を有する。下記から分かるように、全てのプリアンプチャネルが必ずしも実際に読取り／書込みヘッドと接続していなくてもよい。また、個別の適用によって前置増幅器は異なる複数のチャネルを有してもよい。
【００５７】
各プリアンプチャネルＣＨ０、ＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３は、読取り／書込みヘッドへ／からの接続を形成するための様々な信号ラインを含むものである。典型的には、各プリアンプチャネルは、ヘッドの読取り素子からデータを読取るための読取り信号ライン、ヘッドの書込み素子へデータを書込むための書込み信号ライン、及びヘッドの発熱素子を駆動させるためのヒーター信号ラインを有する。
【００５８】
この例において、前置増幅器５１は、書込みヘッド及びＴＧＭＲ読取りヘッドバイアスを駆動するための薄膜書込みヘッドドライバ、及び読取り信号を処理するための増幅を備える。ここから分かるように、前置増幅器５１の特定のパラメーターは被試験ヘッド１００に合わせて選択される。
【００５９】
ほとんどのディスクドライブは、データ書込み操作中、ヘッドとメディアとを離して制御された距離に維持するために浮上高制御を用いる。前置増幅器５１におけるヒーター回路は、スライダの突起部に熱及び影響を与えるために、プログラムできる定電力を、ヘッド１００のスライダの抵抗加熱素子に供給することによって、浮上高制御を提供することができる。別の実施形態においては、前置増幅器５１への別のソースからヒーター信号がヘッドに選択的に供給されてもよい。例えば、測定システム２０は、ヒーター信号をデジタル／アナログ変換器を介して直接ヘッドに提供することができる。
【００６０】
前置増幅器５１は読取りデータチャネル（ＲＤ）及び書込みデータチャネル（ＷＲ）も有する。読取りデータチャネル（ＲＤ）は、ヘッドチャネルＣＨ０〜ＣＨ３の１つに取り付けられた選択されたヘッドの読取り素子から増幅された信号を出力する。書込みデータチャネル（ＷＲ）は、ヘッドによってディスクに書込まれる及び選択されたヘッドチャネルＣＨ０〜ＣＨ３の書込み素子を駆動する書込み信号を受信する。プリアンプボード５０は前置増幅器５１の読取りデータチャネル（ＲＤ）及び書込みデータチャネル（ＷＲ）と通じたコネクタ５２、５３を有し、これらにより測定システム２０へ／からの接続を形成することができる。これらは、典型的には、ＭＣＸ ＲＦコネクタ、又は他の好適なＲＦコネクタである。
【００６１】
したがって、前置増幅器５１は読取り／書込みヘッド１００と測定システム２０との間に接続され、その結果、データを書込む時にヘッド１００に適切な駆動電圧を供給することができ、測定システム２０が処理するのに好適な形になるようにデータを読取る時にヘッド１００が捉えた比較的弱い信号を増幅することができる。
【００６２】
この例において、プリアンプボード５０は、アップ・ヘッド１００（ディスクの上面の読取り／書込みに用いられる）及びダウン・ヘッド１００（ディスクの下面の読取り／書込みに用いられる）にそれぞれ接続されたプリアンプチャネル０（ＣＨ０）及びプリアンプチャネル３（ＣＨ３）を有する。プリアンプボード５０は、 ２つのチャネルＣＨ０及びＣＨ３と通信する、２つのヘッド１００に接続するためのヘッドコネクタ５４を有する。ヘッドコネクタ５４は、それ自体は従来技術で知られているポゴピンブロック（すなわち、バネで留められたプローブ）を具備してもよく、これに対して、ヘッド１００とプリアンプボード５０との間の電気的接続を形成するために、ＨＧＡ１００のＦＯＳコンタクトを固定することができる。
【００６３】
プリアンプチャネル１（ＣＨ１）は、カスタム読取りヘッド信号を注入するテスト信号に接続されている。このカスタム読取りヘッド信号は、プリアンプ較正チェック及び測定システム読取り信号経路診断チェックに用いられる。例えば、システム広帯域及び狭帯域診断チェックを行うことができる。これについて詳しくは後述する。
【００６４】
プリアンプチャネル２（ＣＨ２）は疑似ヘッド回路５５に接続されている。好ましくは、この回路５５は、それぞれチャネルの読取り、書込み及びヒーターの信号経路に接続された、公称の読取りヘッド、書込みヘッド及びヒーターの値の複数のレジスタを含む。或いは、いずれのチャネルの回路も、複素インピーダンスネットワークを形成するために、レジスタ、キャパシタ及びインダクタコンポーネントの組み合わせであってもよい。これらのコンポーネントは、前置増幅器５１に近接してプリアンプボード５０上に位置することが好ましい。
【００６５】
そして、プリアンプチャネル２（ＣＨ２）は診断チェックに利用することができる。例えば、測定システム２０において予想外の測定が検出された場合には、これは、システム全体のどこかの問題を示している可能性がある。これは様々な場所で起こる可能性があり、例えば、ヘッド、チャネル、又は測定システムが挙げられる。エラーを突き止めることを助けるために行われる有益なチェックは、関係するチャネルで測定値（例えば、抵抗及び／又はリアクタンス値）を測定し、ヘッドの既知の測定値と比較することである。測定したヘッドの値が予測値から離れているのに対して、測定した疑似ヘッドの値が予測値に近い場合には、これにより、例えば、問題は、前置増幅器のセットアップ又は測定システムにあるのではなく、ヘッド又はヘッドに行われた接続にある可能性が高いと決定することができる。
【００６６】
また、前置増幅器５１は、前置増幅器５１及び前置増幅器５１の制御に用いられる制御ライン（制御Ｉ／Ｆ（インターフェース））に電力を供給する複数のパワーサプライライン（パワー）を有する。
【００６７】
共通インターフェースボード（ＣＩＢ）７０は、プリアンプボード５０の機能性を制御するために設けられている。好ましくは、ＣＩＢ７０は、プリアンプボード５０とは別の基板であり、その結果、汎用プリアンプ制御インターフェースを測定システム２０に提供することができ、これにより、前置増幅器５１が用いられている測定システム２０に目につかないように前置増幅器５０を測定システム２０にインターフェースで接続することができる。これにより、被試験ヘッドに応じてシンプルに且つ速くプリアンプボード５０を交換することができる。好ましいＣＩＢ７０はほとんどの現在の前置増幅器と共に用いることができ、将来のほとんどの前置増幅器の設計とも用いることができると思われる。より詳しく後述するように、ＣＩＢ７０はプリアンプへの電力供給を制御し、プリアンプ制御インターフェースを提供し、テスト信号機能を提供する。
【００６８】
ＣＩＢ７０は好ましくは論理演算及び基板の制御を処理するために、ＦＰＧＡ又は類似のプロセッサを包含する。また、ＣＩＢ７０はコミュニケーションインターフェース７４（例えばＸＢＵＳインターフェース）を有し、これにより測定システム２０と通信することができる。また、ＣＩＢ７０は、前置増幅器５１を制御するための設定可能な論理制御ライン（制御Ｉ／Ｆ）７１、及び、前置増幅器５１に適切な電力を提供するための設定可能なパワーサプライライン（電力制御）７２を含む。
【００６９】
異なる種類及び設定のマルチチャネル前置増幅器５１の使用を可能にするために、プリアンプボード５０は、プリアンプボード５０及び前置増幅器５１の設定の詳細を記憶するメモリ５６（例えば、シリアルＥＥＰＲＯＭ）を有する。これは、前置増幅器５１の電力供給条件、前置増幅器５１への制御ラインの設定、前置増幅器５１のための較正データ、前置増幅器５１のチャネルＣＨ０〜ＣＨ３への接続（すなわち、各チャネルがアップ・ヘッド、ダウン・ヘッド、疑似ヘッド５５（すなわち、レジスタ、キャパシタ、インダクタ等を含む複素インピーダンスネットワーク）又はテスト信号入力等に接続しているか否か）、並びに、疑似ヘッドの測定値（すなわち、抵抗／リアクタンス）の詳細を保持してもよい。
【００７０】
システムの起動において、測定システム２０は、そのインターフェース７４を介してＣＩＢ７０に、ＥＥＰＲＯＭパワーライン７５を介してＥＥＰＲＯＭ５６の電源を入れるよう指示する。そして、前置増幅器５１及びプリアンプボード５０の設定は、ＣＩＢ７０によってＥＥＰＲＯＭデータライン７６を介してＥＥＰＲＯＭメモリ５６から読取られる。
【００７１】
メモリ５６から読取った情報は、前置増幅器５１の電源条件を含む。パワーサプライライン７２は、適切な電圧を前置増幅器５１に供給するように設定可能である。例えば、異なる前置増幅器は異なる電圧（例えば、２．５Ｖ又は３Ｖ又は５Ｖ等）で電力供給レールを用いてもよい。または、前置増幅器は異なる極性（例えば、＋Ｖ及びＧＮＤ、又は＋Ｖ、０及び−Ｖ、又は＋Ｖ及び−Ｖ等）で電力供給を用いてもよい。好ましい実施形態において、ＣＩＢ７０には、前置増幅器にとって適切な単数又は複数のレベルで選択されたプログラム可能な電源から電力が供給される。ＣＩＢ７０は必要に応じて前置増幅器５１に電力を切り替える。例えば、起動において、前置増幅器５１は−Ｖレールの前に＋Ｖレールに電源が入れられる必要があることがある。メモリ５６から読取った要求に従って前置増幅器５１の電源を入れるために、ＣＩＢ７０はパワーサプライラインの電源を入れる。
【００７２】
メモリ５６から読取った情報はまた、どのように前置増幅器５１にインターフェースで接続するか、及び、特に、どのような種類及び形式の制御信号が要求されているかをＣＩＢ７０に伝達する。これにより、ＣＩＢ７０は、特に使用されるプリアンプボード５０に関係なく共通インターフェースをプリアンプボード５０にそして測定システム２０に提供することができる。信号制御ライン７１は、例えば、前置増幅器５１の要件によって１つのＲ／Ｗライン又は別々のＲライン及びＷラインに設定することができる前置増幅器５０への読取り書込み信号を含んでもよい。他の制御ライン７１は汎用のアナログ入力及びアナログ出力ラインに設定することができる。好ましくは、これらのラインは信号レベル用に設定されてもよい。例えば、これは、ＦＰＧＡで用いられているデジタル信号を前置増幅器５１のためにアナログ信号に変換するために、アナログ入力についてはデジタル−アナログ変換器経由で、アナログ出力についてはアナログ−デジタル変換器経由で、上記ラインをＦＰＧＡラインにインターフェースで接続することによって成し得る。このようにして、これらのラインは、制御ライン７１の機能に従って、どのような好適な電圧（例えば、０Ｖと１０Ｖの間、より好ましくは１．１Ｖと３．６Ｖの間、のいずれの電圧レベル）にも設定可能である。したがって、ＦＰＧＡによって実装された好適な制御によって、いかなる形式の論理制御信号も前置増幅器５１へ送信することも、前置増幅器５１から受信するもできる。これにより、おおむねどの前置増幅器５１も測定システムにインターフェースで接続することができる。
【００７３】
また、ＣＩＢ７０を、前置増幅器５１の較正チェックを実行するように配置することができる。例えば、読取り、書込み及び発熱素子の各ケースにおいて、未加工の測定値を実効値と比較することによって、アップ・ヘッド、ダウン・ヘッド及び疑似ヘッドの抵抗／リアクタンス較正データを得ることができる。同様に、アップ・ヘッド及びダウン・ヘッドのために読取り電圧及び電流バイアスを計算する、書込み電流較正、ヒーター電圧較正など他の較正を行ってもよい。これらの値は、前置増幅器５１の特定の特性、及び、前置増幅器５１と測定システム２０との間の接続を補うために、プリアンプボード５０上のＥＥＰＲＯＭメモリ５６に記憶されてもよいし、試験中にダウンロードされてもよい。ＣＩＢ７０に、又は、ＣＩＢ７０若しくはプリアンプボード５０とインターフェースで接続する別の基板に、較正制御回路を設けてもよい。
【００７４】
また、ＣＩＢ７０は、ＥＥＰＲＯＭメモリ５６からプリアンプチャネルＣＨ０〜ＣＨ３の数、及び、それぞれがどのように利用されているか（例えば、アップ・ヘッドに接続している、又はダウン・ヘッドに接続している、又は疑似ヘッド５４に接続している、又はテスト信号７３に接続している、又は接続していない）を読取る。この情報は測定システム２０に伝達され、試験に使用される。したがって、プリアンプチャネルの使用はオンザフライで読取ることができ、システムはそれに応じて設定することができる。
【００７５】
メモリ５６から読取られた情報が、プリアンプチャネルが疑似ヘッドに接続されているである場合には、疑似ヘッドの測定値（例えば、抵抗/リアクタンス）を、ＣＩＢ７０によってメモリ５６から読取ることもできる。そして、これらの公称値は測定システム２０に伝達される。そして、測定システム２０は疑似ヘッドの測定値（例えば、抵抗／リアクタンス）を測定することができ、診断試験を行うために、これらをメモリ５６から読取られた公称値と比較することができる。これは、各サブ-チャネルについて（すなわち、読取りヘッド、書込みヘッド、又は発熱素子について）、別々に行うこともできる。
【００７６】
また、ＣＩＢ７０は、試験及び較正のために、テスト信号７３を前置増幅器５１に供給することができる。これは、ＣＩＢ７０のいかなる好適な任意波形発生回路によって作り出されたいずれのものであってもよい。例えば、多くのＦＰＧＡが、ＦＰＧＡの中にプログラム化されているデータから任意波形を発生させるための機能を有する。テスト波形としては、例えば既知の周波数及び振幅の正弦曲線が挙げられる。
【００７７】
別の実施形態においては、プリアンプボード５０が、測定システム書込み信号コネクタ５３を通じてテスト信号を受信し、測定システム２０からの制御信号に応じてそのように指示された時にこの信号をテスト信号入力ＣＨ１に接続するようにプリアンプボード５０を設定することができる。好ましくは、この実施形態において、書込み信号をテスト信号入力ＣＨ１に「切り替える」制御信号は、測定システム読取り信号コネクタ５２を通じて測定システム２０によって送出される。
【００７８】
テスト信号によって様々な診断を行うことができる。例えば、ヘッド１００から戻された測定された信号が予測したパラメーターの範囲外である場合には、システムに起こり得るエラーがある（システムの多くの素子のいずれか１つに潜在的にあるのかもしれない）。例えば、テストデータのディスクへの書込みに問題があるのかもしれない。或いは、データは正しくディスクに書込まれるが、データのリードバックに問題が発生するのかもしれない。このような状況において、テスト信号機能は、既知の周波数又は振幅の信号をプリアンプの「予備」チャネル（すなわちこの例においてはプリアンプチャネル１（ＣＨ１））に注入するのに用いてもよい。そして、まるでディスク１２を読取って読取り／書込みヘッド１００によって捉えられた実信号であるかのように、これは通常どおり前置増幅器５１によって増幅され、測定システム２０に伝達される。そして、測定システム２０の信号が予測されたパラメーターの範囲内であるかチェックされ、この時点で、システムの書込み回路又は読取り回路にエラーがあるか判断されてもよい。
【００７９】
このやり方は図１に示したような従来技術のアプローチ（テスト信号が用意された場合には、直ぐに測定システム２０に（例えば、テスト信号の表示に用いられるオシロスコープのテスト入力に）注入される）とは異なる。これから、システムの問題が読取り回路又は書込み回路にあるか決定することはできない。本願の配置は有利に、更に下流に信号を注入するため、前置増幅器５１自身を通じて伝達され、したがって、これは試験における因子である。
【００８０】
ディスクドライブの製造において、サーボトラック書込み時に、ヘッドディスクアッセンブリのフォーマットの一部として「バンク書込みモード」を用いることが知られている。データ記憶容量を増加するために、現代のディスクドライブはしばしば１つより多くのディスクプラッタを有する。これは、ディスクドライブが複数の読取り／書込みヘッドを、各プラッタの各面に１つ有することを意味する。サーボバンク書込みモードにおいて、ディスク／ヘッドアッセンブリがフォーマットされる時には、全てのヘッドが同時にディスクにサーボトラックウェッジを書込むように書込まれている。読取り／書込みヘッドの操作パラメーターは、通常の書込み操作と比べて、バンク書込みモードが異なる。特に、全てのヘッドが最大限の読取り／書込みバイアスを有するための追加の電力損失が、前置増幅器に求められる熱的条件を超えるかもしれないため、サーボバンク書込みモード中、全ての読取りチャネルのためのバイアス電流は出されない。ヘッドがディスクドライブに組み入れられる前に、テスト環境においてこのモードでヘッドをテストすることは有益である。
【００８１】
マルチチャネル前置増幅器５１の使用は、バンク書込みモードでのヘッド１００のテストにおいて利点がある。これは、単に適切な数のチャネルと共に前置増幅器５１を用いて、各ヘッドが前置増幅器５１のチャネルに接続できるようにし、読取り／書込みヘッドをこのモードでテストすることによって達成することができる。典型的には、被試験ヘッド１００が１つの前置増幅器チャネルに取り付けられ、１以上の疑似ヘッドが他の前置増幅器チャネルに取り付けられ、そして、書込みバンクモードの前置増幅器によってデータがこれらに書込まれる。これにより、ヘッドをこのモードのオペレーションでテストすることができ、サーボモード操作におけるオペレーション及び性能特性のより正確な表現を達成することができる。これは、各ヘッドに別々のプリアンプボードを有する従来技術の配置では実施できなかったことであり、従来技術を用いて書込みバンクモードでヘッドをテストすることはできなかった。
【００８２】
好適なマルチチャネル前置増幅器は商業的に広く入手可能である。実際、このような増幅器は、ディスクドライブが複数のヘッドを有してもいい場合に、時々ディスクドライブユニット自身に用いられている。これにも関わらず、これまでに誰も、本明細書に説明した利点を達成するために、このような前置増幅器を本明細書に記載したようにスピンスタンドとの関連で用いることを思いつかなかった。
【００８３】
したがって、まとめると、好ましい実施形態は、読取り／書込みヘッドを測定システムにインターフェースで接続するためにマルチチャネル前置増幅器を用いて、従来技術の配置に比べて簡素化した信号経路を達成する。較正及び診断チェックを助けるために疑似ヘッド又はテスト信号などの他の機能を設けるために、予備チャネルを用いることができる。
【００８４】
例示においては４つのチャネルプリアンプを用いているが、より多くのチャネルを有する前置増幅器を用いて、異なる公称のヘッド抵抗／リアクタンスの値を有する追加の測定ヘッド及び／又は追加の疑似ヘッド回路を設けることができ、又は、疑似ヘッドモデルを被試験ヘッドと同時に書込まれることが可能な未使用のチャネルに取り付けることによってバンク書込みモードテストを可能にすることができる。
【００８５】
本発明の実施形態は特定の示された例を参照して説明された。しかしながら、当然のことながら、本発明の範囲内において説明した例示を変形及び変更してもよい。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験装置及び試験装置を用いた試験方法に関する。
【０００２】
実施形態において、概して、本発明は、従来技術において「スピンスタンド」又は「ダイナミック電気試験機」として一般に知られているようなヘッドメディア試験装置に関する。スピンスタンドは従来技術において研究開発中に用いられるツールとして最初に開発され、それにより、ディスクドライブの様々なコンポーネント（例えばヘッド、ディスク、チャネル）の性能を評価及び最適化することができた。今では、各製造された読取り／書込みヘッド又はディスクを、ディスクドライブユニットに組み入れる前にテストするためにディスクドライブ製造の分野にスピンスタンドを用いるということも見られる。
【背景技術】
【０００３】
典型的なスピンスタンドは、試験用ディスクを上に設けて回転することができるモーター駆動のスピンドル、及び、試験用読取り／書込みヘッドを保持して位置決めするためのヘッドロード機構を具備する。通常、常にという訳ではないが、ヘッドはテストされる時にヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）に組み込まれている。スピンスタンドは、スピンスタンドコントローラ及び測定システムも有する。スピンスタンドコントローラは、スピンスタンドの力学的側面（例えば、ディスクの回転をつけること、ディスクにヘッドを載せること、及び、ディスク上の望ましい位置にヘッドを微細に位置決めすること）の制御に関与している。測定システム（読取り／書込みアナライザーとしても知られている）は、ヘッドでディスク上のトラックにテストデータを書込み、続いて該ヘッドで該テストデータをリードバックする、該データを測定及び分析する、及び、結果をユーザーに表示するように配置されている。加えて、スピンスタンドで行われた測定を分析及び表示するために、専用のパラメトリック測定電子機器、スペクトラムアナライザー又はオシロスコープが設けられても良い。データがそれに基づいて書込み及び／又はリードバックされる様々なパラメーターは、測定システムによって制御及び変更されてもよく、これにより被試験部の性能及び特性を様々な条件下で調査することができる。このようにして、例えば、ビット誤り率（ＢＥＲ）バスタブ、トラック・スクイーズ、トラックセンター、読取り／書込みオフセット、上書き等の一連のテストを行うことができる。
【０００４】
前置増幅器（又は単にプリアンプという）は、信号経路において読取り／書込みヘッドと測定システムとの間に接続されている。これにより、データを書込む時に適切な駆動電圧がヘッドに供給され、また、データを読取る時にヘッドによって拾われた比較的弱い信号が測定システムによる処理に好適な形態になるように増幅される。加えて、多くのディスクドライブは、データ書込み操作中、ヘッド−メディア分離を制御された距離で維持することに浮上高さ制御を用いる。随意に、前置増幅器は、スライダ素子の突起部に影響を与える熱を発生させるためにスライダ上の抵抗加熱素子にプログラムできる定電力を届けることによって浮上高制御を補助することができるヒーター回路（heater circuitry）を有してもよい。
【０００５】
最も知られているスピンスタンドはカートリッジ型又はブロック型の機械的アーキテクチャを用い、これにより、ヘッドがスピンスタンドに受容される。このようなスキームにおいては、ＨＧＡはスピンスタンドとは離れて最初にカートリッジタイプの機器に搭載されてテストのために準備され、その後順にスピンスタンドに搭載される。前記カートリッジには前置増幅器も設けられる。カートリッジにＨＧＡを設ける際には、オペレーターは非常に精密にＨＧＡをカートリッジに整列させ、また、ＨＧＡと前置増幅器との間を電気的に接続する。そして、カートリッジは機械的及び電気的にスピンスタンド及び測定システムに取り付けられる。
【０００６】
他のスキームにおいて、ノンカートリッジ型ヘッドテストの使用が知られている。例えば、特許文献１（発明の名称「読取り／書込みヘッドをスピンスタンドに搭載する方法及び装置」、本願の出願人とシーゲイト・テクノロジーＬＬＣの共願）は、ＨＧＡをスピンスタンドに搭載するための装置を開示している。このようなスキームにおいて、スピンスタンドは試験用にＨＧＡを保持するための所謂「テスト部（test nest）」と、該テスト部に隣接して搭載されたプリアンプボードとを有する。テスト部がＨＧＡを固定し、ＨＧＡを前置増幅器に接続するためにスピンスタンドによってＨＧＡの電気的接続が電気的に接続される。ノンカートリッジ型ヘッド試験装置の他の例は、特許文献２及び特許文献３（本願の出願人とシーゲイト・テクノロジーＬＬＣの共願）に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国特許公開第２００８／００６１７７６号
【特許文献２】国際公開第ＷＯ２０１０／１２７９６７号
【特許文献３】国際公開第ＷＯ２０１１／０４８０７５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しばしば、同じスピンスタンドで異なる種類のＨＧＡをテストすることが望ましい。前記前置増幅器は通常製品固有の市販の部品、すなわちテストされるヘッドの電気特性を考慮するものである。したがって、典型的には存在する複数のスピンスタンドは、異なる種類のテストされたＨＧＡごとに別々の前置増幅器を用いる。これは、異なるヘッドを交換することはそのプリアンプボードを交換することであることを意味する。これは新しいプリアンプを考慮するための時間のかかる測定システムの再較正及びセットアップにつながる。
【０００９】
更に、従来、ＨＧＡは２種類売られている。すなわち、ディスクプラッタの上側をテストするアップ・ヘッド、及び、ディスクプラッタの下側をテストするダウン・ヘッドである。ヘッドを交換する以外にスピンスタンド又は電子機器の再設定が最小限又は不要で、スピンスタンドでアップ・ヘッド及びダウン・ヘッドをテストできることが望ましい。この場合、従来技術においては、各ヘッドに別々の前置増幅器が設けられた。これは、前置増幅器３に及び前置増幅器３から来る信号を測定システム５に送るために信号経路において外部マルチプレクサー、スイッチ及び／又はスプリット４等を使用しなければならないことを意味する。これにより、１以上の選択されたプリアンプ３を、例えば、マルチプレクサー４に好適な制御信号を供給することによって被試験ヘッド１、２と共に用いるために選択することができる。しかしながら、この配置には、ヘッド１、２と測定システム５の間の信号経路におけるコンポーネントの長さ及び数を増加させるという欠点がある。ここから分かるように、ヘッド１、２が捉えた信号は非常に弱く、したがって、これらに影響を与えるいかなる信号歪み又はノイズも最小限にすることが重要である。したがって、信号経路において増設のコンポーネントを回避することによって、重要な意味を持つ信号経路をできる限り短くシンプルに保つことが重要である。また、これらの配置は、マルチプルプリアンプボード（multiple preamp board）を合わせるようにテスト部を設計する際の複雑さを増すことにつながり、また、これらの実装は高価である。
【００１０】
また、プリアンプの性能を判断する、及び、システム中の起こり得るエラーを突き止めるために、プリアンプについて較正及び／又は診断できることが望ましい。装置が、ＢＩＳＴ（ビルトインセフルテスト、Built In Self Test）として知られるエンドツーエンドセルフテスト（end-to-end self testing）を行える（すなわち、マシンが自身をテストすることができる）ことが望ましい。従来技術における配置は、これらの機能についてほとんど準備しておらず、一般的にこの点において不十分である。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の第１アスペクトによれば、読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置が提供され、該試験装置は、
試験中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び
複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備し、
前記マルチチャネル前置増幅器の第１チャネルは前記読取り／書込みヘッドに接続するためのコネクタを有し、
前記マルチチャネル前置増幅器の１以上の他のチャネルは、前記測定システムに接続しているか、又は、別の装置と接続するためのコネクタであって該別の装置を前記測定システムにインターフェースで接続するためのものを有する。
【００１２】
マルチチャネル前置増幅器を用いることによって、１つだけの前置増幅器を用いて、１つより多くの機器を前記測定システムにインターフェースで接続させることができる。これにより、必要なコンポーネントを最小限に抑えることができ、信号経路において外部マルチプレクサー又はスプリットが必要ないことを意味し、したがって、重要な意味を持つ信号経路を短く保つことができる。これにより、従来技術の配置と比べて、複数のヘッドを簡素化した信号経路でテストすることができる。機械的設定も簡易化され、プリアンプボードは１つしか必要ない。これは、１つのテスト部設計（a single test nest design）を有するスピンスタンドに用いた時に特に有利である。また、これは、互いにオフセットする前置増幅器の集積回路のダイス（dies）を有する複数の前置増幅器を用いる従来技術における問題を解決し、結果として信号経路における違いになる。
【００１３】
マルチチャネル前置増幅器を用いることによって、後述する従来技術の配置と比べて機能性の追加も可能である。例えば、これにより、予備プリアンプチャネル及び新しい試験方法を用いてヘッドインターフェースにおいて診断及び較正機能を実装することが可能である。
【００１４】
従来技術において、もし１つより多くの機器が測定されること（例えば、測定システムにインターフェースで接続された２つの読取り／書込みヘッド）が望まれるのであれば、従来においては、測定される機器ごとに別々の前置増幅器を用いることによって達成した。２つの前置増幅器へ／からの信号は、測定システムとインターフェースで接続される前に、信号経路においてスプリッター及びマルチプレクサー等を通じて結集される。これにより、より多くのコンポーネント（信号経路にノイズを生じさせ、測定で用いられる正確な信号を劣化させる傾向がある）を有するより長くより複雑な信号経路を形成することができる。
【００１５】
これに対して、本願発明は、各測定源に１つのチャネルを有するマルチチャネル前置増幅器を用いる。これにより、信号経路における余分なコンポーネントを除くことができ、信号のより高い忠実度につながる。また、これにより前置増幅器を保持するためのプリアンプボードの設計がシンプルになり、前置増幅器の制御をアレンジしやすくなる。この配置は、従来技術のスキームよりも少ないプリアンプボード（好ましくは１つだけ）及びサポート電子機器しか必要でなく、それにより、製造のコスト及び複雑さを著しく低減させることができる。
【００１６】
典型的には、信号源（例えば、測定システム）からデータ入力信号を受信し、選択されたチャネル上のヘッド書込み素子が、ヘッドでそのデータを書込むのに適した電流／電圧で駆動されるように、読取りヘッド及び書込みヘッドと共に用いる前置増幅器が配置される。また、前置増幅器は、選択されたチャネルの読取り／書込みヘッドの読取り素子から信号を受信し、該信号を増幅し、増幅された信号を測定システムにデータ信号出力を通じて伝達するように配置される。また、前置増幅器は、随意に、前置増幅器のチャネルの上にある読取り／書込みヘッドの発熱素子にヒーター電流を供給することができる。
【００１７】
好ましい実施形態においては、試験装置は、読取り／書込みヘッドによって書込む及び読取ることができる磁気ディスク媒体を搭載する及び回転するためのスピンドルを有する試験装置である。しかしながら、他の形態のメディアを用いてもよく、他の形態の試験装置を用いてもよい。いずれにしても、「試験装置」によって行われるテストは、ディスクドライブユニット（例えば、ヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）等）に組み込まれていない読取り／書込みヘッドをテストするためのものである。
【００１８】
一実施形態においては、前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルが、別の読取り／書込みヘッドと接続するためのコネクタを有する。
【００１９】
これにより、信号経路に追加の前置増幅器及びスプリッター／マルチプレクサーを導入することで、信号経路を複雑にすることなく異なるヘッドをテストすることができる。また、これにより、プリアンプボードは１つだけしか必要ないため、テスト部の設計を簡素化できる。好ましい実施形態においては、前置増幅器の２つのチャネルに接続させてアップ・ヘッド及びダウン・ヘッドをテストすることができる。前置増幅器の更に多くのチャネルを必要であればヘッドに接続することができ、これにより、例えば、バンク書込みモードテストを複数のヘッドにおいて行うことができる。
【００２０】
一実施形態においては、前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、疑似ヘッド回路（simulated head circuitry）に接続されている。
【００２１】
これにより、前記測定システムで較正及び診断テストを行うことができる。前記測定システムは、疑似ヘッド回路の特性を測定することができ、これらの特性を、データを読取る／書込む時に、実際の読取り／書込みヘッドから得た値と比較することができる。この比較は診断に用いることができる。例えば、測定した疑似ヘッドの値が想定範囲内で、一方、実際のヘッドの値が想定範囲外である場合、ヘッドに成された電気的接続に問題がある可能性があると判定することができる。
【００２２】
疑似ヘッドはバンクモードヘッドテストの一部として書込まれることも可能である。このモードにおいて、これらのオペレーション条件で被試験ヘッドをテストできるように、マルチプルヘッドの書込みをすぐにシミュレーションすることが望まれている。したがって、この設定は、バンクモードテストの一部として１以上の疑似ヘッドと共に、被試験ヘッドへの書込みに用いることができる。
【００２３】
一実施形態においては、前記疑似ヘッド回路は、複素インピーダンスネットワークを具備する。これは、直列及び／又は並列に接続された１以上のレジスタ、コンデンサ及び／又はインダクタを具備し、望ましい公称測定値（例えば、抵抗又はリアクタンス）を有するネットワークを形成する。これにより、例えば、較正又は診断テストのために、実際のヘッドを測定した測定値と、疑似ヘッドを測定した測定値とを比較することができる。
【００２４】
一実施形態においては、前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、テスト信号源に接続されている又は接続可能である。
【００２５】
これにより、予備前置増幅器チャネルにカスタムテスト信号を注入することによって向上したテストが可能である。該信号は前置増幅器によって増幅され、読取り／書込みヘッドによって読取られた本物の信号であるかのように、測定システムに伝達される。そして、測定システムで受信された実際のテスト信号と、理論上のテスト信号とを比較することができる。これにより、試験装置及び／又は測定システムを較正することができる。また、これにより診断を行うことができる。例えば、ヘッドによってデータが書込まれ、続いてリードバックされ、想定範囲外のパラメーターであると分かった時には、予備プリアンプチャネルに既知のテスト信号を注入することによって、可能性のある誤りを調査することができる。測定システムが受信した信号が予想どおりである場合には、読取りチャネルよりも書込みチャネルに誤りがあることを意味する。
【００２６】
テスト信号はいかなる好適な手段で発生させてもよい。一実施形態において、前記試験装置は、テスト信号を発生させるために配置され、前記他のチャネルに接続されたテスト信号発生回路を具備する。テスト信号発生回路は、任意波形発生器、又は、正弦波発生器等のより簡素な波形発生器によって設けられても良い。前記回路は、ＦＰＧＡアレイ又はいかなる他の好適な回路によって設けられてもよい。回路は前置増幅器を保持する基板と同じ基板上に設けられてもよいし、又は、いくつかの形態においては、後述するように共通インターフェースボード上に設けられてもよい。
【００２７】
別の実施例においては、前記前置増幅器が、前記読取り／書込みヘッドに書込まれるデータを前記測定システムから受信するために、前記測定システムとインターフェースで接続するための書込みデータ信号コネクタを有し、
前記測定システムから受信した制御信号に応じて、前記書込みデータ信号コネクタが前記他のチャネルと接続するように前記試験装置が配置され、その結果、使用時、前記測定システムから受信したテスト信号が前記他のチャネルに接続される。好ましくは、前記読取り／書込みヘッドから読取ったデータを前記測定システムに送信するために、前記前置増幅器が、前記測定システムとインターフェースで接続するための読取りデータ信号コネクタを有し、前記前置増幅器が、前記読取りデータ信号コネクタを通じて前記測定システムから前記制御信号を受信するように配置されている。したがって、実際には、測定システムと前置増幅器との間のデータコネクタ（通常、ヘッドに書込まれるデータの前置増幅器への送信及びヘッドから読取られたデータの返送に用いられる）は、前置増幅器のチャネルへのテスト信号の送出に利用される。
【００２８】
好ましくは、前置増幅器は、測定システムから書込みデータ（前置増幅器チャネルの１つに設けられた読取り／書込みヘッドに書込まれる）を受信するための書込みデータ信号コネクタ、及び、前置増幅器チャネルの１つから（例えば、読取り／書込みヘッドの読取り素子から）読取られた増幅された信号を測定システムに伝送するための読取りデータ信号コネクタを有する。データ信号コネクタを前置増幅器のチャネルに接続するための回路は、前置増幅器が搭載されたプリアンプボードに設けてもよいし、いかなる好適な論理回路であってもよい。
【００２９】
一実施形態においては、前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が以下を具備することを特徴とする。
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるもの。
【００３０】
これにより、試験装置及び／又は測定システムを、前置増幅器に関するメモリから得られた情報に従って設定することができる。適切な接続を通じて測定システムでメモリを直接読取ることができると考えられている。或いは、好ましい実施形態において、前置増幅器と測定システムとの間に介在し、且つ、該情報を測定システムに伝達する及び／又は該情報に従って自身の設定をする共通インターフェースボードでメモリを読取ることができると考えられている。したがって、前記システムにおいて異なる前置増幅器ボードを用いることができる。異なるマルチチャネル前置増幅器を異なるタイプの読取り／書込みヘッドに用いるようにするのに有用である。前記システムは前置増幅器ボード上のメモリから適切な情報を読取り、適切に自身の設定を行う。
【００３１】
一実施形態においては、前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が共通インターフェースボードを具備し、該共通インターフェースボードが、制御インターフェースを通じて前記測定システムから制御信号を受信し、前記前置増幅器に設定可能な電力供給を提供し、及び／又は前記前置増幅器に設定可能な制御信号を送出するように配置されており、その結果、前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器との間に共通インターフェースを提供する。
【００３２】
この実施形態においては、使用中の前置増幅器に従って、共通インターフェースボードが前置増幅器ボードへの電力供給及び制御ラインを設定する。これは、毎回測定システムを再設定することなく、異なる制御及び電源条件を有する異なる前置増幅器を用いることができることを意味する。その代わりに、共通インターフェースボードは、測定システムからの制御信号を前置増幅器への適切な制御信号に変換し、前置増幅器に必要な電力を供給する。
【００３３】
一実施形態においては、前記試験装置は、前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記メモリインターフェースを通じて情報を読取る、及び、前記共通インターフェースボードの前記測定システムとの制御インターフェースを通じて、該情報を前記測定システムに伝達する動作が可能である。
【００３４】
一実施形態においては、前記メモリが記憶した前記情報が、以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含む。
ａ）前記前置増幅器チャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの公称測定値（nominal measurement values）、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【００３５】
接続情報は、チャネルにおけるヘッドの種類（例えば、アップ・ヘッド又はダウン・ヘッド）、疑似ヘッドがチャネルに接続しているか、チャネルがテスト信号を受信するように設定されているか、チャネルが接続を有していないか等を含む。前記情報は、測定システム又は中間回路基板（例えば、好ましい実施形態においては共通インターフェースボード）によって潜在的に読取られてもよい。
【００３６】
一実施形態においては、前記試験装置は、前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリであって、該情報が少なくとも、前記前置増幅器の電源条件、及び／又は、前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含むもの、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記前置増幅器のインターフェース設定を読取る、及び、前記情報に従って、前記制御信号及び／又は前置増幅器への電力供給を設定する動作が可能である。
【００３７】
これにより、共通インターフェースカードが自動的に前置増幅器の種類を検出し、それに正しい電力及び／又は制御信号を供給することができる。
【００３８】
本発明の第２アスペクトによって、試験装置でテストする方法が提供され、該方法は以下の工程を含む。
読取り／書込みヘッドを前記試験装置に取り付ける工程、
前記試験装置のマルチチャネル前置増幅器を測定システムに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つのチャネルを前記読取り／書込みヘッドに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを別の機器に接続する工程、及び
前記測定システムの制御下で、前記読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程。
【００３９】
一実施形態においては、前記方法は、前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを前記試験装置の別の読取り／書込みヘッドに接続する工程、及び、前記測定システムの制御下で、該読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程を含む。
【００４０】
一実施形態においては、前記方法は、前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを、前記試験装置の別の読取り／書込みヘッド、又は、疑似ヘッドに接続する工程、及び、バンク−書込みテストを行う工程を含む。
【００４１】
一実施形態においては、少なくとも１つの他のチャネルが疑似ヘッド回路に接続されており、該方法が
前記疑似ヘッドの測定値を測定する工程、及び
前記測定した値を、前記試験装置又は測定システムの較正、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りの診断に用いる工程を含む。
【００４２】
一実施形態においては、前記疑似ヘッド回路が、複素インピーダンスネットワークを具備する。
【００４３】
一実施形態においては、前記方法は、テスト信号を少なくとも１つの他のチャネルに供給する工程、及び
前記試験装置又は測定システムを較正するため、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りを診断するために、前記テスト信号を前記測定システムで測定する工程を含む。
【００４４】
一実施形態においては、前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられており、該方法が、
前記プリアンプボード上のメモリの上に設けられた前記前置増幅器に関する情報を記憶する工程、及び
前記メモリから情報を読取り、該情報に従って前記試験装置又は測定システムを設定する工程を含む。
【００４５】
一実施形態においては、前記情報が以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含むことを特徴とする。
ａ）前記プリアンプチャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの公称測定値、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【００４６】
一実施形態においては、前記前置増幅器はプリアンプボードの上に設けられており、
前記試験装置が、前記測定システムと前記プリアンプボードの間においてインターフェースで接続された共通インターフェースボードを有し、前記方法が
前記共通インターフェースボードにおいて、前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定に関して情報を受信する工程、及び
前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器の間の共通インターフェースを提供するように、該情報にしたがって、前記共通インターフェースボードが、電力供給を前記前置増幅器に、及び／又は、制御信号を前記前置増幅器に提供する工程を含む。
【００４７】
一実施形態においては、前記プリアンプボードが、前記前置増幅器に関する情報を記憶するためのメモリを有し、前記方法が、
前記共通インターフェースボードで前記情報を前記メモリから読取る工程、及び
該情報を前記測定システムに伝達する工程を含む。
【００４８】
一実施形態においては、前記メモリが、少なくとも前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含む情報を記憶する。
【００４９】
一実施形態においては、前記方法が、前記試験装置からテストされた読取り／書込みヘッドを取り外す工程、及び、
該ヘッドを新しい試験用読取り／書込みヘッドに取り替える工程を含む。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
添付の図面を参照して例を挙げながら本願発明の実施形態を説明する。
【００５１】
【図１】図１は、スピンスタンドにおいてマルチプルヘッドをテストするための前置増幅器の従来技術の配置を示す。
【図２】図２は、本願発明の実施形態に係るスピンスタンドの例を概略的に示す。
【図３】図３は、本願発明の実施形態に係るプリアンプボード及び共通インターフェースボードの例を概略的に示す。
【発明を実施するための形態】
【００５２】
図２は、スピンスタンド１０の模式図を示す。スピンスタンド１０は機械的にはいかなる好適な既知の種類であってよい。好ましいスピンスタンド１０は、試験用ディスク１２を上に設け回転させることができるモーター駆動のスピンドル１１、及び、試験用読取り／書込みヘッド１００を保持し位置決めするためのヘッドロード機構１３を具備する。ヘッド１００は、これをテストする時には、ヘッドジンバルアセンブリ（ＨＧＡ）に組み込まれていることが好ましいが、他の配置も可能である。ここまでに記述した様々なスピンスタンド１０の実装方法は従来技術において知られているため、これらのスピンスタンドのアスペクトはここでは詳細に説明しない。
【００５３】
また、スピンスタンド１０はスピンスタンドコントローラ１５及び測定システム２０を具備する。これらは典型的には、測定システム２０がどのようなテストを行おうともそれに特有と思われる、スピンスタンドコントローラ１５及び測定システムのための適切な拡張カード及び／又はスタンドアローンモジュールを有するコンピュータ２５によって提供される。スピンスタンドコントローラ１５がスピンスタンド１０の機械的アスペクトの制御を担っている。これらについてここで詳しく説明しないが、例えば、ディスク１２をスピンアップ／ダウンする、ヘッド１００をディスク１２に載せる、及びヘッド１００をディスク１２上のトラックに微細に位置決めする等のタスクを含む。
【００５４】
測定システム２０は、ヘッド１００でテストデータをディスク１２に書込み、続いて、ヘッド１００でディスク１２からテストデータをリードバックするように配置されている。プリアンプボード５０はヘッド１００と測定システム２０との間に接続されている（詳細な説明が後述されている）。測定システム２０は、ディスク１２からリードバックしたデータを測定及び分析し、結果をユーザーに表示する。加えて、スピンスタンド１０で行った測定を分析及び表示するために、専用のパラメトリック測定電子機器、スペクトラムアナライザー又はオシロスコープ３０を備えてもよい。
【００５５】
様々なパラメーター（これらに基づきデータが書込まれる及び／又はリードバックされる）は測定システム２０及び／又はスピンスタンドコントローラ１５によって制御及び変更されてもよく、これにより、ヘッド１００又はディスク１２の性能及び特性を様々な条件下で調査することができる。このようにして、例えば、ビット誤り率（ＢＥＲ）バスタブ、トラック・スクイーズ、トラックセンター、読取り／書込みオフセット、上書き等の一連のテストを行うことができる。
【００５６】
図３は、本願発明の実施形態におけるプリアンプボード５０を示す。プリアンプボード５０はマルチチャネル前置増幅器５１を具備する。この例において、前記前置増幅器５１は、読取り／書込みヘッドに接続するための４つのプリアンプチャネル（チャネルＣＨ０、ＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３）を有する。下記から分かるように、全てのプリアンプチャネルが必ずしも実際に読取り／書込みヘッドと接続していなくてもよい。また、個別の適用によって前置増幅器は異なる複数のチャネルを有してもよい。
【００５７】
各プリアンプチャネルＣＨ０、ＣＨ１、ＣＨ２、ＣＨ３は、読取り／書込みヘッドへ／からの接続を形成するための様々な信号ラインを含むものである。典型的には、各プリアンプチャネルは、ヘッドの読取り素子からデータを読取るための読取り信号ライン、ヘッドの書込み素子へデータを書込むための書込み信号ライン、及びヘッドの発熱素子を駆動させるためのヒーター信号ラインを有する。
【００５８】
この例において、前置増幅器５１は、書込みヘッド及びＴＧＭＲ読取りヘッドバイアスを駆動するための薄膜書込みヘッドドライバ、及び読取り信号を処理するための増幅を備える。ここから分かるように、前置増幅器５１の特定のパラメーターは被試験ヘッド１００に合わせて選択される。
【００５９】
ほとんどのディスクドライブは、データ書込み操作中、ヘッドとメディアとを離して制御された距離に維持するために浮上高制御を用いる。前置増幅器５１におけるヒーター回路は、スライダの突起部に熱及び影響を与えるために、プログラムできる定電力を、ヘッド１００のスライダの抵抗加熱素子に供給することによって、浮上高制御を提供することができる。別の実施形態においては、前置増幅器５１への別のソースからヒーター信号がヘッドに選択的に供給されてもよい。例えば、測定システム２０は、ヒーター信号をデジタル／アナログ変換器を介して直接ヘッドに提供することができる。
【００６０】
前置増幅器５１は読取りデータチャネル（ＲＤ）及び書込みデータチャネル（ＷＲ）も有する。読取りデータチャネル（ＲＤ）は、ヘッドチャネルＣＨ０〜ＣＨ３の１つに取り付けられた選択されたヘッドの読取り素子から増幅された信号を出力する。書込みデータチャネル（ＷＲ）は、ヘッドによってディスクに書込まれる及び選択されたヘッドチャネルＣＨ０〜ＣＨ３の書込み素子を駆動する書込み信号を受信する。プリアンプボード５０は前置増幅器５１の読取りデータチャネル（ＲＤ）及び書込みデータチャネル（ＷＲ）と通じたコネクタ５２、５３を有し、これらにより測定システム２０へ／からの接続を形成することができる。これらは、典型的には、ＭＣＸ ＲＦコネクタ、又は他の好適なＲＦコネクタである。
【００６１】
したがって、前置増幅器５１は読取り／書込みヘッド１００と測定システム２０との間に接続され、その結果、データを書込む時にヘッド１００に適切な駆動電圧を供給することができ、測定システム２０が処理するのに好適な形になるようにデータを読取る時にヘッド１００が捉えた比較的弱い信号を増幅することができる。
【００６２】
この例において、プリアンプボード５０は、アップ・ヘッド１００（ディスクの上面の読取り／書込みに用いられる）及びダウン・ヘッド１００（ディスクの下面の読取り／書込みに用いられる）にそれぞれ接続されたプリアンプチャネル０（ＣＨ０）及びプリアンプチャネル３（ＣＨ３）を有する。プリアンプボード５０は、 ２つのチャネルＣＨ０及びＣＨ３と通信する、２つのヘッド１００に接続するためのヘッドコネクタ５４を有する。ヘッドコネクタ５４は、それ自体は従来技術で知られているポゴピンブロック（すなわち、バネで留められたプローブ）を具備してもよく、これに対して、ヘッド１００とプリアンプボード５０との間の電気的接続を形成するために、ＨＧＡ１００のＦＯＳコンタクトを固定することができる。
【００６３】
プリアンプチャネル１（ＣＨ１）は、カスタム読取りヘッド信号を注入するテスト信号に接続されている。このカスタム読取りヘッド信号は、プリアンプ較正チェック及び測定システム読取り信号経路診断チェックに用いられる。例えば、システム広帯域及び狭帯域診断チェックを行うことができる。これについて詳しくは後述する。
【００６４】
プリアンプチャネル２（ＣＨ２）は疑似ヘッド回路５５に接続されている。好ましくは、この回路５５は、それぞれチャネルの読取り、書込み及びヒーターの信号経路に接続された、公称の読取りヘッド、書込みヘッド及びヒーターの値の複数のレジスタを含む。或いは、いずれのチャネルの回路も、複素インピーダンスネットワークを形成するために、レジスタ、キャパシタ及びインダクタコンポーネントの組み合わせであってもよい。これらのコンポーネントは、前置増幅器５１に近接してプリアンプボード５０上に位置することが好ましい。
【００６５】
そして、プリアンプチャネル２（ＣＨ２）は診断チェックに利用することができる。例えば、測定システム２０において予想外の測定が検出された場合には、これは、システム全体のどこかの問題を示している可能性がある。これは様々な場所で起こる可能性があり、例えば、ヘッド、チャネル、又は測定システムが挙げられる。エラーを突き止めることを助けるために行われる有益なチェックは、関係するチャネルで測定値（例えば、抵抗及び／又はリアクタンス値）を測定し、ヘッドの既知の測定値と比較することである。測定したヘッドの値が予測値から離れているのに対して、測定した疑似ヘッドの値が予測値に近い場合には、これにより、例えば、問題は、前置増幅器のセットアップ又は測定システムにあるのではなく、ヘッド又はヘッドに行われた接続にある可能性が高いと決定することができる。
【００６６】
また、前置増幅器５１は、前置増幅器５１及び前置増幅器５１の制御に用いられる制御ライン（制御Ｉ／Ｆ（インターフェース））に電力を供給する複数のパワーサプライライン（パワー）を有する。
【００６７】
共通インターフェースボード（ＣＩＢ）７０は、プリアンプボード５０の機能性を制御するために設けられている。好ましくは、ＣＩＢ７０は、プリアンプボード５０とは別の基板であり、その結果、汎用プリアンプ制御インターフェースを測定システム２０に提供することができ、これにより、前置増幅器５１が用いられている測定システム２０に目につかないように前置増幅器５０を測定システム２０にインターフェースで接続することができる。これにより、被試験ヘッドに応じてシンプルに且つ速くプリアンプボード５０を交換することができる。好ましいＣＩＢ７０はほとんどの現在の前置増幅器と共に用いることができ、将来のほとんどの前置増幅器の設計とも用いることができると思われる。より詳しく後述するように、ＣＩＢ７０はプリアンプへの電力供給を制御し、プリアンプ制御インターフェースを提供し、テスト信号機能を提供する。
【００６８】
ＣＩＢ７０は好ましくは論理演算及び基板の制御を処理するために、ＦＰＧＡ又は類似のプロセッサを包含する。また、ＣＩＢ７０はコミュニケーションインターフェース７４（例えばＸＢＵＳインターフェース）を有し、これにより測定システム２０と通信することができる。また、ＣＩＢ７０は、前置増幅器５１を制御するための設定可能な論理制御ライン（制御Ｉ／Ｆ）７１、及び、前置増幅器５１に適切な電力を提供するための設定可能なパワーサプライライン（電力制御）７２を含む。
【００６９】
異なる種類及び設定のマルチチャネル前置増幅器５１の使用を可能にするために、プリアンプボード５０は、プリアンプボード５０及び前置増幅器５１の設定の詳細を記憶するメモリ５６（例えば、シリアルＥＥＰＲＯＭ）を有する。これは、前置増幅器５１の電力供給条件、前置増幅器５１への制御ラインの設定、前置増幅器５１のための較正データ、前置増幅器５１のチャネルＣＨ０〜ＣＨ３への接続（すなわち、各チャネルがアップ・ヘッド、ダウン・ヘッド、疑似ヘッド５５（すなわち、レジスタ、キャパシタ、インダクタ等を含む複素インピーダンスネットワーク）又はテスト信号入力等に接続しているか否か）、並びに、疑似ヘッドの測定値（すなわち、抵抗／リアクタンス）の詳細を保持してもよい。
【００７０】
システムの起動において、測定システム２０は、そのインターフェース７４を介してＣＩＢ７０に、ＥＥＰＲＯＭパワーライン７５を介してＥＥＰＲＯＭ５６の電源を入れるよう指示する。そして、前置増幅器５１及びプリアンプボード５０の設定は、ＣＩＢ７０によってＥＥＰＲＯＭデータライン７６を介してＥＥＰＲＯＭメモリ５６から読取られる。
【００７１】
メモリ５６から読取った情報は、前置増幅器５１の電源条件を含む。パワーサプライライン７２は、適切な電圧を前置増幅器５１に供給するように設定可能である。例えば、異なる前置増幅器は異なる電圧（例えば、２．５Ｖ又は３Ｖ又は５Ｖ等）で電力供給レールを用いてもよい。または、前置増幅器は異なる極性（例えば、＋Ｖ及びＧＮＤ、又は＋Ｖ、０及び−Ｖ、又は＋Ｖ及び−Ｖ等）で電力供給を用いてもよい。好ましい実施形態において、ＣＩＢ７０には、前置増幅器にとって適切な単数又は複数のレベルで選択されたプログラム可能な電源から電力が供給される。ＣＩＢ７０は必要に応じて前置増幅器５１に電力を切り替える。例えば、起動において、前置増幅器５１は−Ｖレールの前に＋Ｖレールに電源が入れられる必要があることがある。メモリ５６から読取った要求に従って前置増幅器５１の電源を入れるために、ＣＩＢ７０はパワーサプライラインの電源を入れる。
【００７２】
メモリ５６から読取った情報はまた、どのように前置増幅器５１にインターフェースで接続するか、及び、特に、どのような種類及び形式の制御信号が要求されているかをＣＩＢ７０に伝達する。これにより、ＣＩＢ７０は、特に使用されるプリアンプボード５０に関係なく共通インターフェースをプリアンプボード５０にそして測定システム２０に提供することができる。信号制御ライン７１は、例えば、前置増幅器５１の要件によって１つのＲ／Ｗライン又は別々のＲライン及びＷラインに設定することができる前置増幅器５０への読取り書込み信号を含んでもよい。他の制御ライン７１は汎用のアナログ入力及びアナログ出力ラインに設定することができる。好ましくは、これらのラインは信号レベル用に設定されてもよい。例えば、これは、ＦＰＧＡで用いられているデジタル信号を前置増幅器５１のためにアナログ信号に変換するために、アナログ入力についてはデジタル−アナログ変換器経由で、アナログ出力についてはアナログ−デジタル変換器経由で、上記ラインをＦＰＧＡラインにインターフェースで接続することによって成し得る。このようにして、これらのラインは、制御ライン７１の機能に従って、どのような好適な電圧（例えば、０Ｖと１０Ｖの間、より好ましくは１．１Ｖと３．６Ｖの間、のいずれの電圧レベル）にも設定可能である。したがって、ＦＰＧＡによって実装された好適な制御によって、いかなる形式の論理制御信号も前置増幅器５１へ送信することも、前置増幅器５１から受信するもできる。これにより、おおむねどの前置増幅器５１も測定システムにインターフェースで接続することができる。
【００７３】
また、ＣＩＢ７０を、前置増幅器５１の較正チェックを実行するように配置することができる。例えば、読取り、書込み及び発熱素子の各ケースにおいて、未加工の測定値を実効値と比較することによって、アップ・ヘッド、ダウン・ヘッド及び疑似ヘッドの抵抗／リアクタンス較正データを得ることができる。同様に、アップ・ヘッド及びダウン・ヘッドのために読取り電圧及び電流バイアスを計算する、書込み電流較正、ヒーター電圧較正など他の較正を行ってもよい。これらの値は、前置増幅器５１の特定の特性、及び、前置増幅器５１と測定システム２０との間の接続を補うために、プリアンプボード５０上のＥＥＰＲＯＭメモリ５６に記憶されてもよいし、試験中にダウンロードされてもよい。ＣＩＢ７０に、又は、ＣＩＢ７０若しくはプリアンプボード５０とインターフェースで接続する別の基板に、較正制御回路を設けてもよい。
【００７４】
また、ＣＩＢ７０は、ＥＥＰＲＯＭメモリ５６からプリアンプチャネルＣＨ０〜ＣＨ３の数、及び、それぞれがどのように利用されているか（例えば、アップ・ヘッドに接続している、又はダウン・ヘッドに接続している、又は疑似ヘッド５４に接続している、又はテスト信号７３に接続している、又は接続していない）を読取る。この情報は測定システム２０に伝達され、試験に使用される。したがって、プリアンプチャネルの使用はオンザフライで読取ることができ、システムはそれに応じて設定することができる。
【００７５】
メモリ５６から読取られた情報が、プリアンプチャネルが疑似ヘッドに接続されているである場合には、疑似ヘッドの測定値（例えば、抵抗/リアクタンス）を、ＣＩＢ７０によってメモリ５６から読取ることもできる。そして、これらの公称値は測定システム２０に伝達される。そして、測定システム２０は疑似ヘッドの測定値（例えば、抵抗／リアクタンス）を測定することができ、診断試験を行うために、これらをメモリ５６から読取られた公称値と比較することができる。これは、各サブ-チャネルについて（すなわち、読取りヘッド、書込みヘッド、又は発熱素子について）、別々に行うこともできる。
【００７６】
また、ＣＩＢ７０は、試験及び較正のために、テスト信号７３を前置増幅器５１に供給することができる。これは、ＣＩＢ７０のいかなる好適な任意波形発生回路によって作り出されたいずれのものであってもよい。例えば、多くのＦＰＧＡが、ＦＰＧＡの中にプログラム化されているデータから任意波形を発生させるための機能を有する。テスト波形としては、例えば既知の周波数及び振幅の正弦曲線が挙げられる。
【００７７】
別の実施形態においては、プリアンプボード５０が、測定システム書込み信号コネクタ５３を通じてテスト信号を受信し、測定システム２０からの制御信号に応じてそのように指示された時にこの信号をテスト信号入力ＣＨ１に接続するようにプリアンプボード５０を設定することができる。好ましくは、この実施形態において、書込み信号をテスト信号入力ＣＨ１に「切り替える」制御信号は、測定システム読取り信号コネクタ５２を通じて測定システム２０によって送出される。
【００７８】
テスト信号によって様々な診断を行うことができる。例えば、ヘッド１００から戻された測定された信号が予測したパラメーターの範囲外である場合には、システムに起こり得るエラーがある（システムの多くの素子のいずれか１つに潜在的にあるのかもしれない）。例えば、テストデータのディスクへの書込みに問題があるのかもしれない。或いは、データは正しくディスクに書込まれるが、データのリードバックに問題が発生するのかもしれない。このような状況において、テスト信号機能は、既知の周波数又は振幅の信号をプリアンプの「予備」チャネル（すなわちこの例においてはプリアンプチャネル１（ＣＨ１））に注入するのに用いてもよい。そして、まるでディスク１２を読取って読取り／書込みヘッド１００によって捉えられた実信号であるかのように、これは通常どおり前置増幅器５１によって増幅され、測定システム２０に伝達される。そして、測定システム２０の信号が予測されたパラメーターの範囲内であるかチェックされ、この時点で、システムの書込み回路又は読取り回路にエラーがあるか判断されてもよい。
【００７９】
このやり方は図１に示したような従来技術のアプローチ（テスト信号が用意された場合には、直ぐに測定システム２０に（例えば、テスト信号の表示に用いられるオシロスコープのテスト入力に）注入される）とは異なる。これから、システムの問題が読取り回路又は書込み回路にあるか決定することはできない。本願の配置は有利に、更に下流に信号を注入するため、前置増幅器５１自身を通じて伝達され、したがって、これは試験における因子である。
【００８０】
ディスクドライブの製造において、サーボトラック書込み時に、ヘッドディスクアッセンブリのフォーマットの一部として「バンク書込みモード」を用いることが知られている。データ記憶容量を増加するために、現代のディスクドライブはしばしば１つより多くのディスクプラッタを有する。これは、ディスクドライブが複数の読取り／書込みヘッドを、各プラッタの各面に１つ有することを意味する。サーボバンク書込みモードにおいて、ディスク／ヘッドアッセンブリがフォーマットされる時には、全てのヘッドが同時にディスクにサーボトラックウェッジを書込むように書込まれている。読取り／書込みヘッドの操作パラメーターは、通常の書込み操作と比べて、バンク書込みモードが異なる。特に、全てのヘッドが最大限の読取り／書込みバイアスを有するための追加の電力損失が、前置増幅器に求められる熱的条件を超えるかもしれないため、サーボバンク書込みモード中、全ての読取りチャネルのためのバイアス電流は出されない。ヘッドがディスクドライブに組み入れられる前に、テスト環境においてこのモードでヘッドをテストすることは有益である。
【００８１】
マルチチャネル前置増幅器５１の使用は、バンク書込みモードでのヘッド１００のテストにおいて利点がある。これは、単に適切な数のチャネルと共に前置増幅器５１を用いて、各ヘッドが前置増幅器５１のチャネルに接続できるようにし、読取り／書込みヘッドをこのモードでテストすることによって達成することができる。典型的には、被試験ヘッド１００が１つの前置増幅器チャネルに取り付けられ、１以上の疑似ヘッドが他の前置増幅器チャネルに取り付けられ、そして、書込みバンクモードの前置増幅器によってデータがこれらに書込まれる。これにより、ヘッドをこのモードのオペレーションでテストすることができ、サーボモード操作におけるオペレーション及び性能特性のより正確な表現を達成することができる。これは、各ヘッドに別々のプリアンプボードを有する従来技術の配置では実施できなかったことであり、従来技術を用いて書込みバンクモードでヘッドをテストすることはできなかった。
【００８２】
好適なマルチチャネル前置増幅器は商業的に広く入手可能である。実際、このような増幅器は、ディスクドライブが複数のヘッドを有してもいい場合に、時々ディスクドライブユニット自身に用いられている。これにも関わらず、これまでに誰も、本明細書に説明した利点を達成するために、このような前置増幅器を本明細書に記載したようにスピンスタンドとの関連で用いることを思いつかなかった。
【００８３】
したがって、まとめると、好ましい実施形態は、読取り／書込みヘッドを測定システムにインターフェースで接続するためにマルチチャネル前置増幅器を用いて、従来技術の配置に比べて簡素化した信号経路を達成する。較正及び診断チェックを助けるために疑似ヘッド又はテスト信号などの他の機能を設けるために、予備チャネルを用いることができる。
【００８４】
例示においては４つのチャネルプリアンプを用いているが、より多くのチャネルを有する前置増幅器を用いて、異なる公称のヘッド抵抗／リアクタンスの値を有する追加の測定ヘッド及び／又は追加の疑似ヘッド回路を設けることができ、又は、疑似ヘッドモデルを被試験ヘッドと同時に書込まれることが可能な未使用のチャネルに取り付けることによってバンク書込みモードテストを可能にすることができる。
【００８５】
本発明の実施形態は特定の示された例を参照して説明された。しかしながら、当然のことながら、本発明の範囲内において説明した例示を変形及び変更してもよい。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置であって、該試験装置は、
テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び
複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備し、
前記マルチチャネル前置増幅器の第１チャネルは前記読取り／書込みヘッドに接続するためのコネクタを有し、
前記マルチチャネル前置増幅器の１以上の他のチャネルは、前記測定システムに接続しているか、又は、別の装置と接続するためのコネクタであって、該別の装置を前記測定システムにインターフェースで接続するためのものを有する。
【請求項２】
前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルが、別の読取り／書込みヘッドと接続するためのコネクタを有することを特徴とする、請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、疑似ヘッド回路に接続されていることを特徴とする、請求項１又は２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記疑似ヘッド回路が、複素インピーダンスネットワークを具備することを特徴とする、請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、テスト信号源に接続されている又は接続可能であることを特徴とする、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の試験装置。
【請求項６】
テスト信号を発生させるために配置され、前記他のチャネルに接続されたテスト信号発生回路を具備することを特徴とする、請求項５に記載の試験装置。
【請求項７】
前記前置増幅器が、前記読取り／書込みヘッドに書込まれるデータを前記測定システムから受信するために、前記測定システムとインターフェースで接続するための書込みデータ信号コネクタを有し、
前記測定システムから受信した制御信号に応じて、前記書込みデータ信号コネクタが前記他のチャネルと接続するように前記試験装置が配置され、その結果、使用時、前記測定システムから受信したテスト信号が前記他のチャネルに接続されることを特徴とする、請求項５に記載の試験装置。
【請求項８】
前記読取り／書込みヘッドから読取ったデータを前記測定システムに送信するために、前記前置増幅器が、前記測定システムとインターフェースで接続するための読取りデータ信号コネクタを有し、
前記前置増幅器が、前記読取りデータ信号コネクタを通じて前記測定システムから前記制御信号を受信するように配置されていることを特徴とする、請求項７に記載の試験装置。
【請求項９】
前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が以下を具備することを特徴とする、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の試験装置。
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるもの。
【請求項１０】
前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が共通インターフェースボードを具備し、該共通インターフェースボードが、制御インターフェースを通じて前記測定システムから制御信号を受信し、前記前置増幅器に設定可能な電力供給を提供し、及び／又は前記前置増幅器に設定可能な制御信号を送出するように配置されており、その結果、前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器との間に共通インターフェースを提供することを特徴とする、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の試験装置。
【請求項１１】
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記メモリインターフェースを通じて情報を読取る、及び、前記共通インターフェースボードの前記測定システムとの制御インターフェースを通じて、該情報を前記測定システムに伝達する動作が可能であることを特徴とする、請求項１０に記載の試験装置。
【請求項１２】
前記メモリが記憶した前記情報が、以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含むことを特徴とする、請求項９乃至１１のいずれか１項に記載の試験装置。
ａ）前記前置増幅器チャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの公称測定値、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【請求項１３】
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリであって、該情報が少なくとも、前記前置増幅器の電源条件、及び／又は、前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含むもの、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記前置増幅器のインターフェース設定を読取る、及び、前記情報に従って、前記制御信号及び／又は前置増幅器への電力供給を設定する動作が可能であることを特徴とする、請求項１０に記載の試験装置。
【請求項１４】
試験装置でテストする方法であって、該方法は以下の工程を含む。
読取り／書込みヘッドを前記試験装置に取り付ける工程、
前記試験装置のマルチチャネル前置増幅器を測定システムに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つのチャネルを前記読取り／書込みヘッドに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを別の機器に接続する工程、及び
前記測定システムの制御下で、前記読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程。
【請求項１５】
前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを前記試験装置の別の読取り／書込みヘッドに接続する工程、及び、前記測定システムの制御下で、該読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程を含むことを特徴とする、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを、前記試験装置の別の読取り／書込みヘッド、又は、疑似ヘッドに接続する工程、及び
バンク−書込みテストを行う工程を含むことを特徴とする、請求項１４に記載の方法。
【請求項１７】
少なくとも１つの他のチャネルが疑似ヘッド回路に接続されており、該方法が
前記疑似ヘッドの測定値を測定する工程、及び
前記測定した値を、前記試験装置又は測定システムの較正、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りの診断に用いる工程を含むことを特徴とする、請求項１４又は１５に記載の方法。
【請求項１８】
前記疑似ヘッド回路が、複素インピーダンスネットワークを具備することを特徴とする、請求項１６又は１７に記載の方法。
【請求項１９】
テスト信号を少なくとも１つの他のチャネルに供給する工程、及び
前記試験装置又は測定システムを較正するため、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りを診断するために、前記テスト信号を前記測定システムで測定する工程を含むことを特徴とする、請求項１４乃至１８のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２０】
前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられており、該方法が、
前記プリアンプボード上のメモリの上に設けられた前記前置増幅器に関する情報を記憶する工程、及び
前記メモリから情報を読取り、該情報に従って前記試験装置又は測定システムを設定する工程を含むことを特徴とする、請求項１４乃至１９のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２１】
前記情報が以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含むことを特徴とする、請求項２０に記載の方法。
ａ）前記プリアンプチャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの測定値、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【請求項２２】
前記前置増幅器はプリアンプボードの上に設けられており、
前記試験装置が、前記測定システムと前記プリアンプボードの間においてインターフェースで接続された共通インターフェースボードを有し、前記方法が
前記共通インターフェースボードにおいて、前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定に関して情報を受信する工程、及び
前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器の間の共通インターフェースを提供するように、該情報にしたがって、前記共通インターフェースボードが、電力供給を前記前置増幅器に、及び／又は、制御信号を前記前置増幅器に提供する工程を含むことを特徴とする、請求項１４至２１のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２３】
前記プリアンプボードが、前記前置増幅器に関する情報を記憶するためのメモリを有し、前記方法が、
前記共通インターフェースボードで前記情報を前記メモリから読取る工程、及び
該情報を前記測定システムに伝達する工程を含むことを特徴とする、請求項２２に記載のシステム。
【請求項２４】
前記メモリが、少なくとも前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含む情報を記憶することを特徴とする、請求項２３に記載のシステム。
【請求項２５】
前記試験装置からテストされた読取り／書込みヘッドを取り外す工程、及び、
該ヘッドを新しい試験用読取り／書込みヘッドに取り替える工程を含むことを特徴とする、請求項１４乃至２４のいずれか１項に記載のシステム。
【請求項１】
読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置であって、該試験装置は、
テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び
複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備し、
前記マルチチャネル前置増幅器の第１チャネルは前記読取り／書込みヘッドに接続するためのコネクタを有し、
前記マルチチャネル前置増幅器の１以上の他のチャネルは、前記測定システムに接続しているか、又は、別の装置と接続するためのコネクタであって、該別の装置を前記測定システムにインターフェースで接続するためのものを有する。
【請求項２】
前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルが、別の読取り／書込みヘッドと接続するためのコネクタを有することを特徴とする、請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、疑似ヘッド回路に接続されていることを特徴とする、請求項１又は２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記疑似ヘッド回路が、複素インピーダンスネットワークを具備することを特徴とする、請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
前記前置増幅器の少なくとも１つのチャネルが、テスト信号源に接続されている又は接続可能であることを特徴とする、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の試験装置。
【請求項６】
テスト信号を発生させるために配置され、前記他のチャネルに接続されたテスト信号発生回路を具備することを特徴とする、請求項５に記載の試験装置。
【請求項７】
前記前置増幅器が、前記読取り／書込みヘッドに書込まれるデータを前記測定システムから受信するために、前記測定システムとインターフェースで接続するための書込みデータ信号コネクタを有し、
前記測定システムから受信した制御信号に応じて、前記書込みデータ信号コネクタが前記他のチャネルと接続するように前記試験装置が配置され、その結果、使用時、前記測定システムから受信したテスト信号が前記他のチャネルに接続されることを特徴とする、請求項５に記載の試験装置。
【請求項８】
前記読取り／書込みヘッドから読取ったデータを前記測定システムに送信するために、前記前置増幅器が、前記測定システムとインターフェースで接続するための読取りデータ信号コネクタを有し、
前記前置増幅器が、前記読取りデータ信号コネクタを通じて前記測定システムから前記制御信号を受信するように配置されていることを特徴とする、請求項７に記載の試験装置。
【請求項９】
前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が以下を具備することを特徴とする、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の試験装置。
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるもの。
【請求項１０】
前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられ、前記試験装置が共通インターフェースボードを具備し、該共通インターフェースボードが、制御インターフェースを通じて前記測定システムから制御信号を受信し、前記前置増幅器に設定可能な電力供給を提供し、及び／又は前記前置増幅器に設定可能な制御信号を送出するように配置されており、その結果、前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器との間に共通インターフェースを提供することを特徴とする、請求項１乃至８のいずれか１項に記載の試験装置。
【請求項１１】
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリ、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記メモリインターフェースを通じて情報を読取る、及び、前記共通インターフェースボードの前記測定システムとの制御インターフェースを通じて、該情報を前記測定システムに伝達する動作が可能であることを特徴とする、請求項１０に記載の試験装置。
【請求項１２】
前記メモリが記憶した前記情報が、以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含むことを特徴とする、請求項９乃至１１のいずれか１項に記載の試験装置。
ａ）前記前置増幅器チャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの公称測定値、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【請求項１３】
前記前置増幅器に関する情報を記憶するための、前記プリアンプボードの上に設けられたメモリであって、該情報が少なくとも、前記前置増幅器の電源条件、及び／又は、前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含むもの、及び
前記プリアンプボードの上に設けられたメモリインターフェースであって、それを通じて前記情報を読取ることが可能であるものを具備し、
前記共通インターフェースボードが、前記メモリから前記前置増幅器のインターフェース設定を読取る、及び、前記情報に従って、前記制御信号及び／又は前置増幅器への電力供給を設定する動作が可能であることを特徴とする、請求項１０に記載の試験装置。
【請求項１４】
試験装置でテストする方法であって、該方法は以下の工程を含む。
読取り／書込みヘッドを前記試験装置に取り付ける工程、
前記試験装置のマルチチャネル前置増幅器を測定システムに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つのチャネルを前記読取り／書込みヘッドに接続する工程、
前記マルチチャネル前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを別の機器に接続する工程、及び
前記測定システムの制御下で、前記読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程。
【請求項１５】
前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを前記試験装置の別の読取り／書込みヘッドに接続する工程、及び、前記測定システムの制御下で、該読取り／書込みヘッドでデータを読取る及び／又は書込むことによって、前記試験装置でテストする工程を含むことを特徴とする、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記前置増幅器の少なくとも１つの他のチャネルを、前記試験装置の別の読取り／書込みヘッド、又は、疑似ヘッドに接続する工程、及び
バンク−書込みテストを行う工程を含むことを特徴とする、請求項１４に記載の方法。
【請求項１７】
少なくとも１つの他のチャネルが疑似ヘッド回路に接続されており、該方法が
前記疑似ヘッドの測定値を測定する工程、及び
前記測定した値を、前記試験装置又は測定システムの較正、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りの診断に用いる工程を含むことを特徴とする、請求項１４又は１５に記載の方法。
【請求項１８】
前記疑似ヘッド回路が、複素インピーダンスネットワークを具備することを特徴とする、請求項１６又は１７に記載の方法。
【請求項１９】
テスト信号を少なくとも１つの他のチャネルに供給する工程、及び
前記試験装置又は測定システムを較正するため、又は、前記試験装置又は測定システムにおける誤りを診断するために、前記テスト信号を前記測定システムで測定する工程を含むことを特徴とする、請求項１４乃至１８のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２０】
前記前置増幅器がプリアンプボード上に設けられており、該方法が、
前記プリアンプボード上のメモリの上に設けられた前記前置増幅器に関する情報を記憶する工程、及び
前記メモリから情報を読取り、該情報に従って前記試験装置又は測定システムを設定する工程を含むことを特徴とする、請求項１４乃至１９のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２１】
前記情報が以下の１つ又はいずれかの組み合わせを含むことを特徴とする、請求項２０に記載の方法。
ａ）前記プリアンプチャネルの前記接続、
ｂ）プリアンプチャネルに取り付けられた疑似ヘッドの測定値、
ｃ）前記前置増幅器の電力供給条件、
ｄ）前記前置増幅器の制御インターフェース設定、及び
ｅ）前記前置増幅器のための較正データ。
【請求項２２】
前記前置増幅器はプリアンプボードの上に設けられており、
前記試験装置が、前記測定システムと前記プリアンプボードの間においてインターフェースで接続された共通インターフェースボードを有し、前記方法が
前記共通インターフェースボードにおいて、前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定に関して情報を受信する工程、及び
前記共通インターフェースボードが前記測定システムと前記前置増幅器の間の共通インターフェースを提供するように、該情報にしたがって、前記共通インターフェースボードが、電力供給を前記前置増幅器に、及び／又は、制御信号を前記前置増幅器に提供する工程を含むことを特徴とする、請求項１４至２１のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２３】
前記プリアンプボードが、前記前置増幅器に関する情報を記憶するためのメモリを有し、前記方法が、
前記共通インターフェースボードで前記情報を前記メモリから読取る工程、及び
該情報を前記測定システムに伝達する工程を含むことを特徴とする、請求項２２に記載のシステム。
【請求項２４】
前記メモリが、少なくとも前記前置増幅器の電源条件及び／又は前記前置増幅器の制御インターフェース設定を含む情報を記憶することを特徴とする、請求項２３に記載のシステム。
【請求項２５】
前記試験装置からテストされた読取り／書込みヘッドを取り外す工程、及び、
該ヘッドを新しい試験用読取り／書込みヘッドに取り替える工程を含むことを特徴とする、請求項１４乃至２４のいずれか１項に記載のシステム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図２】
【図３】
【公開番号】特開２０１２−１６９０３０（Ｐ２０１２−１６９０３０Ａ）
【公開日】平成２４年９月６日（２０１２．９．６）
【国際特許分類】
【外国語出願】
【出願番号】特願２０１２−１４３９４（Ｐ２０１２−１４３９４）
【出願日】平成２４年１月２６日（２０１２．１．２６）
【出願人】（５０７３０４６０５）ザイラテックス テクノロジー リミテッド (7)
【氏名又は名称原語表記】ＸＹＲＡＴＥＸ ＴＥＣＨＮＯＬＯＧＹ ＬＩＭＩＴＥＤ
【住所又は居所原語表記】Ｌａｎｇｓｔｏｎｅ Ｒｏａｄ， Ｈａｖａｎｔ， Ｈａｍｐｓｈｉｒｅ ＰＯ９ １ＳＡ， Ｕｎｉｔｅｄ Ｋｉｎｇｄｏｍ
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年９月６日（２０１２．９．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−１４３９４（Ｐ２０１２−１４３９４）
【出願日】平成２４年１月２６日（２０１２．１．２６）
【出願人】（５０７３０４６０５）ザイラテックス テクノロジー リミテッド (7)
【氏名又は名称原語表記】ＸＹＲＡＴＥＸ ＴＥＣＨＮＯＬＯＧＹ ＬＩＭＩＴＥＤ
【住所又は居所原語表記】Ｌａｎｇｓｔｏｎｅ Ｒｏａｄ， Ｈａｖａｎｔ， Ｈａｍｐｓｈｉｒｅ ＰＯ９ １ＳＡ， Ｕｎｉｔｅｄ Ｋｉｎｇｄｏｍ
【Ｆターム（参考）】
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