質量分析器内のイオン流束を計算するためのシステムおよび方法
イオン流束を計算するためのシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析器は、分析期間中に複数のパルスによってサンプルからイオンのビームを発するためのイオン源と、前記イオン源の下流に配置される検出器とを含む。すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックが提供される。さらに、検出器とクロックとに動作可能に結合され、分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置が提供される。制御装置はさらに、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つビンについて、分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、質量分析の分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
サンプルの質量スペクトルを作成し、その組成を決定するのに質量分析器が用いられる。これは、サンプルをイオン化し、異なる質量のイオンを分離し、イオン流束の強度を測定し、それらの相対存在度を記録することにより通常実施される。例えば、飛行時間（ＴＯＦ）質量分析器では、イオンがパルス化され、所定の飛行経路を移動する。イオンは引き続いて検出器によって記録される。イオンが検出器に達するのに必要な時間である「飛行時間」は、イオンの質量電荷数（ｍ／ｚ）を計算するのに用いられる場合もある。
【０００３】
しかしながら、今日まで、質量分析器で典型的に用いられる（アノードとしても知られている）検出器は、特定の時間セグメントあるいはビン中の１つ以上のイオン衝撃を区別することができない。結果として、ビン期間中に２つ以上のイオンが検出器に影響を与えると、検出器が判定できなくなる。情報が失われ、分析器の動作範囲が減少する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
したがって、出願人らは、質量分析において、さらに効率的にイオン流束を計算するシステムおよび方法に対する必要性を認識した。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
一態様において、本発明は、分析期間中にサンプルに対する少なくとも１つのイオン流束を計算する方法に関する。本方法は、
（ａ）おのおののパルス中にイオンのビームがサンプルから放出される複数のパルスを生成するステップと、
（ｂ）すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するステップと、
（ｃ）各パルスの間にイオンが検出器に与える衝撃を検出するステップと、
（ｄ）分析期間中にパルスの合計数を決定するステップと、
（ｅ）繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、対応パルス時間セグメント中にイオン衝撃が検出されなかったパルス数を決定するステップと、
（ｆ）イオン流束が計算され、ここで、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率にイオン流束が関連付けられるステップと、を含む。
【０００６】
別の態様において、本発明は質量分析器に関するものである。質量分析器は、分析期間中に複数のパルスによってサンプルからイオンのビームを発するためのイオン源と、前記イオン源の下流に配置される検出器とを含む。すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックが提供される。さらに、検出器とクロックとに動作可能に結合され、分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置が提供される。制御装置はさらに、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つビンについて、分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成される。制御装置はまた、少なくとも１つのビンに対応するイオン流束を計算するように構成され、ここで、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるように前記イオン流束が計算される。
【０００７】
さらなる態様において、本発明は、サンプルに対して少なくとも１つのイオン流束を計算するための方法に関する。本方法は、
（ａ）イオンのグループ内の各イオンが同グループ内の他の全てのイオンと実質的に同じｍ／ｚをもつグループをサンプルから集めるステップと、
（ｂ）イオンのグループを放出するステップと、
（ｃ）所定の検出期間中に、放出されたイオンの検出器への衝撃を検出するステップと、
（ｄ）放出されたイオンの衝撃を検出器が検出しなかった検出期間内の合計時間を決定するステップと、
（ｅ）イオンのイオン流束を計算し、ここで前記イオン流束が検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるステップと、を含む。
【０００８】
さらに別の態様において、本発明は、光源、検出器、クロック、および制御装置を含む質量分析器に関する。イオン源は、イオンのグループ内の各イオンが同グループ内の他の全てのイオンと実質的に同じｍ／ｚをもつグループをサンプルから放出するように構成される。検出器は前記イオン源の下流に配置され、所定の検出期間中に、放出されたイオンの検出器に対する衝撃を検出するように構成される。クロックは、放出されたイオンの衝撃を検出器が検出しなかった検出期間内の合計時間を決定するように構成される。制御装置は、検出器とクロックとに動作可能に結合され、イオンのイオン流束を計算するように構成され、ここで、前記イオン流束が、検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
ここで本発明は、単に例であるが、同じ符号が同様の部品を示す以下の図面を参照して記述される。
【００１０】
本明細書で用いられる場合、
「検出器」は、検出器により測定されるイオン数に対応するアナログ信号あるいはデジタル信号のいずれかを出力するイオン検出器を意味する。
【００１１】
「分析期間」は、検出器からの信号が分析で用いられる持続時間を意味する。
【００１２】
「ビン」は、１つあるいは繰り返し可能な一連のビンで構成できる分析期間の時間の１つ以上のセグメントを意味する。各ビンは、特定のｍ／ｚ値あるいはｍ／ｚ値の範囲に対応させることができる。
【００１３】
「ビン期間」は、単一ビンの持続時間を意味する。
【００１４】
「イオンビーム」は、イオンの不連続なグループ、イオンの連続ストリーム、あるいはイオンの擬似連続ストリームを全般的に意味する。
【００１５】
「パルス」は、質量分析のためにイオンを放出させるのに用いられる波形を全般的に意味する。パルスの立ち上がり区間といったパルスの一部を用いて一連のビンを開始させることができる。同様に、イオンのビームをパルス化してイオンのパルス化ビームを生成するか、あるいはさらに、パルスを用いてイオンのビームの分析期間を開始することができる。
【００１６】
図１を参照すると、本発明により作製され、全体が１０で示されるＴＯＦ質量分析器が示される。分析器１０は、適切にプログラムされたイオン流束計算エンジン１４を有するプロセッサまたは中央演算処理装置（ＣＰＵ）１２を備える。（典型的には、キーボードあるいは制御ボタンといった入力構成要素１６Ａと、ディスプレイ１６Ｂといった出力構成要素を含む）入力／出力（Ｉ／Ｏ）装置１６も同様にＣＰＵ１２に対して動作可能に結合される。好ましくは、データ記憶装置１７も同様に設けられる。ＣＰＵ１２はまた、以下でさらに詳細に論じる繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成される（計算エンジン１４の一部を形成する場合もある）クロックモジュール１８を含む。
【００１７】
分析器１０はまた、分析されるサンプルから生成されるイオンビームを放出するように構成されるイオン源２０を含む。当然のことながら、イオン源２０からのイオンビームはイオンの連続ストリームの形態が可能であるか、あるいはストリームはパルス化されてイオンのパルス化ビームを生成することが可能であるか、あるいはイオン源２０は、イオンのパルス化ビームが放出される一連のパルスを生成するように構成することが可能である。典型的には、パルス数は分析期間中に約１０，０００個の場合もあるが、この数は用途に応じて増減できる。
【００１８】
したがって、当然のことながら、イオン源２０は、例えば（ガスクロマトグラフィ源とともに用いられることのある）電子衝撃、化学イオン化、または電界イオン化イオン源といった連続イオン源、あるいは（液体クロマトグラフィ源とともに用いられる場合のある）電気スプレーまたは大気圧化学イオン化イオン源、あるいは脱離電気スプレーイオン化（ＤＥＳＩ）、あるいはレーザ脱離イオン化源で構成できる。マトリックス支援レーザ脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）といったレーザ脱離イオン化源は、典型的には、イオンのパルス化ビームの放出される一連のパルスを生成することができる。イオン源２０はまた、（図示されていない）従来技術で公知のとおり、多重極イオンガイド、リングガイドといったイオン伝送イオンガイド、あるいは四重極マスフィルタといったイオンマスフィルタ、あるいはイオントラップ装置を備えることが可能である。簡潔さのため、イオン源２０という用語は、化合物からイオンを発生させる構成要素を記述し、分析対象イオンの検出で利用可能にするものに用いた。タンデムマスフィルタおよびイオントラップで構成されるシステムといった他のタイプのイオン源２０が同様に用いられる場合もある。
【００１９】
イオン源２０の下流に置くことのできる（１つ以上のアノード２３を有する）検出器２２は、放出イオンの経路上に同様に設けられる。光学素子２４、あるいは静電レンズといった他の集束要素はまた、イオンを検出器２２に収束させるために、イオン源２０と検出器２２との間で、放出イオンの経路内に設けることができる。
【００２０】
図２は、分析期間中に分析器システム１０によって実行され、全体が１００で示される方法のステップを示す。（典型的にはＩ／Ｏ装置を通して）分析期間をユーザが開始するという命令を受けとると、計算エンジン１４は分析期間（ブロック１０２）を始めるようにプログラムされる。分析期間が始まると、イオン源２０からイオンビームが放出される（ブロック１０４）。前述のとおり、これらのイオンは一連のパルスで、あるいは連続ストリームで放出できる。典型的には、分析期間が始まる前に、エンジン１４によりクロック１８が繰り返し可能な一連のビンを決定し、一連のビンは分析期間中に繰り返すことが可能である（ブロック１０６）。繰り返し可能な一連のビンにおける各ビンのビン期間が他の全てのビンと等しい長さである必要はない。当然のことながら、ＴＯＦ質量分析器において、例えば、イオンのビームがパルス形態（上で定義されたとおりイオンのパルス化ビーム）で放出されると、すべてのパルスについて、繰り返し可能な一連のビンにおける各ビンに対して、クロック１８は対応パルス時間セグメントを生成するか、あるいは追跡する。結果として、「飛行時間」分析は、分析期間中の対応パルス時間セグメントに対して集められるデータに基づいて実施できる。典型的には、ビン期間は通常、アノード２３の「不感」時間、すなわち、例だけであるが約１４ｎｓの、アノード２３がイオン衝撃を検出してから、後のイオン衝撃を検出できるように再設定するまでの間の期間に関連付けるように決定される。
【００２１】
すべてのパルス中において、１つ以上のイオンがアノード２３に衝撃を与える毎に、衝撃信号がアノード２３から送られ、この信号はエンジン１４で受信され、エンジン１４はまた、そのアノード２３に対して、衝撃信号が送られるパルス時間セグメントに対応するビンデータを追跡してデータ記憶装置に保存する（ブロック１０８）。計算エンジン１４はまた、分析期間におけるパルス数をカウントするか、あるいは決定するようにプログラムされる（ブロック１１０）。典型的には、パルス数は、ユーザによる用途に対してあらかじめ決められ、分析期間の開始前にＣＰＵ１２内に入力される。一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、各アノード２３に対して、計算エンジン１４は、衝撃信号がアノード２３から受信されなかった分析期間中の対応パルス時間セグメントの数を決定するようにさらにプログラムされる（ブロック１１２）。
【００２２】
精度を改善するため、ブロック１１２において、アノード２３から衝撃信号が受信されず、さらにアノード２３が有効でイオン衝撃を検出できる対応パルス時間セグメントの数を計算するように構成されることが全般的に好ましい。前述のとおり、イオンが検出器２２上のアノード２３に衝撃を与えると、その後の短期間（典型的には、およそ１４ｎｓ）にわたり、アノード２３（あるいはチャネル）は「不感」になり、イオンの衝撃を検出することができなくなる。したがって、精度を改善するために、検出器２２のアノード２３の「不感時間」内でイオン衝撃が検出された対応パルス時間セグメントを計算エンジン１４が除外するのが好ましい。
【００２３】
分析期間が終わると（ブロック１１４）、エンジン１４は、各アノード２３とは別個にサンプルからイオンビームの１つ以上のイオン流束を計算するように構成される（ブロック１１６）。これは、繰り返し可能な一連のビンにおける１つのビン（またはビンの範囲）に対応するイオン衝撃データを分析することで実施される。典型的には、各アノード２３について、おのおの慎重なｍ／ｚ、あるいは繰り返し可能な一連のビンでカバーされる全質量範囲にわたる間隔に対して計算される。
【００２４】
当然のことながら、「イオン流束を計算する」、あるいはこれに似たような表現は、実際のイオン流束の推定値を計算することを意味するものである。イオン流束はパルス時間セグメント中でイオンを検出しない確率に関連付けられる。好ましくは、イオン流束は以下の式で計算される。
（式１）ψ＊＝−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））
ここで、ψ＊は（実際のイオン流束を示すＷと対比される）推定イオン流束を示し、ｐ（ｘ＝０）は、繰り返し可能な一連のビンにおける特定ビン（あるいはビンの間隔）に対応するパルス時間セグメント中に（ブロック１１２における計算エンジン１４で決定される）イオンを検出しない確率を示す。
【００２５】
エンジン１４はまた、式１で計算されるイオン流束に対する信頼区間を計算するように構成される場合もある（ブロック１１８）。信頼度はまず以下の式で計算され得る。
【００２６】
【化１】
【００２７】
【化２】
の間よりもψ＊とψとの間の差を定義する方が都合がよい。流束許容差ｔが次式（式３）で定義される場合、
（式３） ｔ＝｜ψ−ψ＊｜／ψ
信頼区間ｃは次式で計算され得る。
【００２８】
【化３】
ｃは、信頼区間を示し、ψ＊は、式１で計算される推定イオン流束を示し、ｔは、（Ｉ／Ｏ装置１６を通してユーザが入力する）推定イオン流束に対する許容値あるいは所望の相対誤差を示す。
【００２９】
背景説明として、初期のイオン速度に差があるために、同一のｍ／ｚ（質量／電荷）のビーム収束（および他の効果の）イオンは、ＴＯＦ機器において、同じ瞬間（すなわち、繰り返し可能な一連のビンにおける同一ビンに対応する同一時間ビンまたはパルス時間セグメント内）に検出器２２に対して衝撃を与えない。測定されたイオンのｍ／ｚと実際のｍ／ｚとの間の差（記録されたｍ／ｚ−実際のｍ／ｚ）はランダムな変数であり、平均＝０で標準偏差σの正規分布になるが、ここでσの値はシステム１０の特性に依存するものの、モデルには無関係であり、有効な仮定としてσは分析中に同じ状態を維持する点だけを重要とする。さらに、イオンが何らかのパルスの分布に似ており、流束が繰り返し可能な一連のビンにおける各ビンに対するパルス座標にわたって一定であるとする。
【００３０】
各ビンに対するイオン検出は、対応するビンでイオン流束に等しいパラメータλを用いてポアソン過程としてモデル化できる。
【００３１】
【化４】
イオン流束は以下の式で計算される。
【００３２】
【化５】
ここで、ψ＊は実際のイオン流束ψの推定値である。検出器２２が、放出されるのと同じ程度のイオンを検出できれば、ψ＊の信頼度は母集団の大きさ（すなわち、検出器２２（またはアノード２３）が不感でなかったパルス数）だけに依存する。
【００３３】
実際には、上で説明したとおり、検出器２２に対する制限のため、測定されたイオン流束は常にψと等しいか、それより小さい。例えば、２つのイオンが、４つの等しい大きさのアノード２３を有する検出器２２に達すると、４つのアノードがすべて有効であると仮定すれば、両方のイオンを検出する確率は．７５になる。検出器２２に衝撃を与える（４個までの）全イオンを検出してカウントする確率は、イオンの数がさらに多くなれば低下する。この例は、上記の式６による信頼性の低い流束の推定値がどのようになるかを示している。
【００３４】
あるいは、アノード２３に達するイオンが０個であれば、カウントされるのは０個であり、すなわち以下の式となる。
【００３５】
【化６】
ここで、確率ｐ（０）は、放出されるイオン数に対して信頼できる統計量である。
【００３６】
検出器２２に影響を与え（カウントしない）イオンがパラメータλ＝ψのポアソン過程であり、ここでψが実際のイオン流束と仮定すると、式１は式５および７から導かれる。
【００３７】
「ゼロカウント」の確率を計測することで、実際のイオン流束は、式６よりも高い信頼度で式１から推定できる。
【００３８】
システム１０は、式１によってイオン流束を計算するものとして示され、記述されてきたが、本発明の精神から離れることなく、この式を変形したものが用いられる場合もあることは理解されるべきである。
【００３９】
本方法は、飛行時間型質量分析器に関連付けられた計数システムに対する用途で記述されたが、イオン計数が用いられ、イオン到達時間がランダムな質量分析器に対しても本方法は適用できることは明らかである。
【００４０】
例えば、三重四極子質量分析器システムにおいて、１つの質量電荷値（あるいは、前駆／製品質量値の一つの組み合わせ）のイオンを伝送し、一定期間、例えば１００ミリ秒にわたってイオン強度を測定するように質量分析器を設定するのが一般的である。この時間間隔中、イオンは平均速度で検出器に達する。測定時間中に到達するイオン数をカウントし、測定時間間隔（例えば、１００ｍｓ）で分割することでイオン計数率が決定される。
【００４１】
しかしながら、検出器（典型的にはチャネル型電子増倍管）、増幅器および弁別器の応答時間のために、検出器システムは実効離散時間ビンを有する。１つの応答時間中に２つ以上のイオンが検出器に達すれば、１つのイオンだけがカウントされる。検出器システムの典型的な応答時間は約１５ナノ秒である。したがって、応答時間が既知であれば、こういった計数システムに対して計数補正を行うことができる。測定時間を有効時間ビン（おのおの１５ｎｓ長）に分割することで、「０カウントのビン」数が測定でき、式４を用いて補正値を得ることができる。
【００４２】
例えば、測定時間が１００ミリ秒であり、この時間で合計１，００，０００個のイオンがカウントされ、検出器システムの応答時間が１５ｎｓであることが分かっていれば、以下の補正が適用できる。
測定カウント数＝１ｅ６
１００ミリ秒の時間ビン数＝６．６６ｅ６
１５ｎｓ時間ビン当たりの測定イオン数＝１ｅ６／６．６６ｅ６＝０．１６
０カウント時間ビンの確率＝０．８４
イオン流束は以下の式で計算される。
（式１Ａ）ψ＝−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））
したがって、−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））＝０．１７４
このように、時間ビン当たり補正イオンカウントが０．１７４であるため、１００ミリ秒当たりの補正イオンカウントは１．１６ｅ６である。
【００４３】
この場合、不感時間が時間ビンと同じであるため、不感時間に対して別個の補正はない。
【００４４】
このように、本明細書で示されて記述されたものは本主題発明の好ましい実施形態を構成するが、範囲が添付請求項で規定される本主題発明から離れることなく、種々の変更を行うことができることを理解するべきである。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】図１は、本発明により作製された質量分析器の略線図である。
【図２】図２は、本発明の方法のステップを示すフロー図である。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、質量分析の分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
サンプルの質量スペクトルを作成し、その組成を決定するのに質量分析器が用いられる。これは、サンプルをイオン化し、異なる質量のイオンを分離し、イオン流束の強度を測定し、それらの相対存在度を記録することにより通常実施される。例えば、飛行時間（ＴＯＦ）質量分析器では、イオンがパルス化され、所定の飛行経路を移動する。イオンは引き続いて検出器によって記録される。イオンが検出器に達するのに必要な時間である「飛行時間」は、イオンの質量電荷数（ｍ／ｚ）を計算するのに用いられる場合もある。
【０００３】
しかしながら、今日まで、質量分析器で典型的に用いられる（アノードとしても知られている）検出器は、特定の時間セグメントあるいはビン中の１つ以上のイオン衝撃を区別することができない。結果として、ビン期間中に２つ以上のイオンが検出器に影響を与えると、検出器が判定できなくなる。情報が失われ、分析器の動作範囲が減少する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
したがって、出願人らは、質量分析において、さらに効率的にイオン流束を計算するシステムおよび方法に対する必要性を認識した。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
一態様において、本発明は、分析期間中にサンプルに対する少なくとも１つのイオン流束を計算する方法に関する。本方法は、
（ａ）おのおののパルス中にイオンのビームがサンプルから放出される複数のパルスを生成するステップと、
（ｂ）すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するステップと、
（ｃ）各パルスの間にイオンが検出器に与える衝撃を検出するステップと、
（ｄ）分析期間中にパルスの合計数を決定するステップと、
（ｅ）繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、対応パルス時間セグメント中にイオン衝撃が検出されなかったパルス数を決定するステップと、
（ｆ）イオン流束が計算され、ここで、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率にイオン流束が関連付けられるステップと、を含む。
【０００６】
別の態様において、本発明は質量分析器に関するものである。質量分析器は、分析期間中に複数のパルスによってサンプルからイオンのビームを発するためのイオン源と、前記イオン源の下流に配置される検出器とを含む。すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックが提供される。さらに、検出器とクロックとに動作可能に結合され、分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置が提供される。制御装置はさらに、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つビンについて、分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成される。制御装置はまた、少なくとも１つのビンに対応するイオン流束を計算するように構成され、ここで、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるように前記イオン流束が計算される。
【０００７】
さらなる態様において、本発明は、サンプルに対して少なくとも１つのイオン流束を計算するための方法に関する。本方法は、
（ａ）イオンのグループ内の各イオンが同グループ内の他の全てのイオンと実質的に同じｍ／ｚをもつグループをサンプルから集めるステップと、
（ｂ）イオンのグループを放出するステップと、
（ｃ）所定の検出期間中に、放出されたイオンの検出器への衝撃を検出するステップと、
（ｄ）放出されたイオンの衝撃を検出器が検出しなかった検出期間内の合計時間を決定するステップと、
（ｅ）イオンのイオン流束を計算し、ここで前記イオン流束が検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるステップと、を含む。
【０００８】
さらに別の態様において、本発明は、光源、検出器、クロック、および制御装置を含む質量分析器に関する。イオン源は、イオンのグループ内の各イオンが同グループ内の他の全てのイオンと実質的に同じｍ／ｚをもつグループをサンプルから放出するように構成される。検出器は前記イオン源の下流に配置され、所定の検出期間中に、放出されたイオンの検出器に対する衝撃を検出するように構成される。クロックは、放出されたイオンの衝撃を検出器が検出しなかった検出期間内の合計時間を決定するように構成される。制御装置は、検出器とクロックとに動作可能に結合され、イオンのイオン流束を計算するように構成され、ここで、前記イオン流束が、検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
ここで本発明は、単に例であるが、同じ符号が同様の部品を示す以下の図面を参照して記述される。
【００１０】
本明細書で用いられる場合、
「検出器」は、検出器により測定されるイオン数に対応するアナログ信号あるいはデジタル信号のいずれかを出力するイオン検出器を意味する。
【００１１】
「分析期間」は、検出器からの信号が分析で用いられる持続時間を意味する。
【００１２】
「ビン」は、１つあるいは繰り返し可能な一連のビンで構成できる分析期間の時間の１つ以上のセグメントを意味する。各ビンは、特定のｍ／ｚ値あるいはｍ／ｚ値の範囲に対応させることができる。
【００１３】
「ビン期間」は、単一ビンの持続時間を意味する。
【００１４】
「イオンビーム」は、イオンの不連続なグループ、イオンの連続ストリーム、あるいはイオンの擬似連続ストリームを全般的に意味する。
【００１５】
「パルス」は、質量分析のためにイオンを放出させるのに用いられる波形を全般的に意味する。パルスの立ち上がり区間といったパルスの一部を用いて一連のビンを開始させることができる。同様に、イオンのビームをパルス化してイオンのパルス化ビームを生成するか、あるいはさらに、パルスを用いてイオンのビームの分析期間を開始することができる。
【００１６】
図１を参照すると、本発明により作製され、全体が１０で示されるＴＯＦ質量分析器が示される。分析器１０は、適切にプログラムされたイオン流束計算エンジン１４を有するプロセッサまたは中央演算処理装置（ＣＰＵ）１２を備える。（典型的には、キーボードあるいは制御ボタンといった入力構成要素１６Ａと、ディスプレイ１６Ｂといった出力構成要素を含む）入力／出力（Ｉ／Ｏ）装置１６も同様にＣＰＵ１２に対して動作可能に結合される。好ましくは、データ記憶装置１７も同様に設けられる。ＣＰＵ１２はまた、以下でさらに詳細に論じる繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成される（計算エンジン１４の一部を形成する場合もある）クロックモジュール１８を含む。
【００１７】
分析器１０はまた、分析されるサンプルから生成されるイオンビームを放出するように構成されるイオン源２０を含む。当然のことながら、イオン源２０からのイオンビームはイオンの連続ストリームの形態が可能であるか、あるいはストリームはパルス化されてイオンのパルス化ビームを生成することが可能であるか、あるいはイオン源２０は、イオンのパルス化ビームが放出される一連のパルスを生成するように構成することが可能である。典型的には、パルス数は分析期間中に約１０，０００個の場合もあるが、この数は用途に応じて増減できる。
【００１８】
したがって、当然のことながら、イオン源２０は、例えば（ガスクロマトグラフィ源とともに用いられることのある）電子衝撃、化学イオン化、または電界イオン化イオン源といった連続イオン源、あるいは（液体クロマトグラフィ源とともに用いられる場合のある）電気スプレーまたは大気圧化学イオン化イオン源、あるいは脱離電気スプレーイオン化（ＤＥＳＩ）、あるいはレーザ脱離イオン化源で構成できる。マトリックス支援レーザ脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）といったレーザ脱離イオン化源は、典型的には、イオンのパルス化ビームの放出される一連のパルスを生成することができる。イオン源２０はまた、（図示されていない）従来技術で公知のとおり、多重極イオンガイド、リングガイドといったイオン伝送イオンガイド、あるいは四重極マスフィルタといったイオンマスフィルタ、あるいはイオントラップ装置を備えることが可能である。簡潔さのため、イオン源２０という用語は、化合物からイオンを発生させる構成要素を記述し、分析対象イオンの検出で利用可能にするものに用いた。タンデムマスフィルタおよびイオントラップで構成されるシステムといった他のタイプのイオン源２０が同様に用いられる場合もある。
【００１９】
イオン源２０の下流に置くことのできる（１つ以上のアノード２３を有する）検出器２２は、放出イオンの経路上に同様に設けられる。光学素子２４、あるいは静電レンズといった他の集束要素はまた、イオンを検出器２２に収束させるために、イオン源２０と検出器２２との間で、放出イオンの経路内に設けることができる。
【００２０】
図２は、分析期間中に分析器システム１０によって実行され、全体が１００で示される方法のステップを示す。（典型的にはＩ／Ｏ装置を通して）分析期間をユーザが開始するという命令を受けとると、計算エンジン１４は分析期間（ブロック１０２）を始めるようにプログラムされる。分析期間が始まると、イオン源２０からイオンビームが放出される（ブロック１０４）。前述のとおり、これらのイオンは一連のパルスで、あるいは連続ストリームで放出できる。典型的には、分析期間が始まる前に、エンジン１４によりクロック１８が繰り返し可能な一連のビンを決定し、一連のビンは分析期間中に繰り返すことが可能である（ブロック１０６）。繰り返し可能な一連のビンにおける各ビンのビン期間が他の全てのビンと等しい長さである必要はない。当然のことながら、ＴＯＦ質量分析器において、例えば、イオンのビームがパルス形態（上で定義されたとおりイオンのパルス化ビーム）で放出されると、すべてのパルスについて、繰り返し可能な一連のビンにおける各ビンに対して、クロック１８は対応パルス時間セグメントを生成するか、あるいは追跡する。結果として、「飛行時間」分析は、分析期間中の対応パルス時間セグメントに対して集められるデータに基づいて実施できる。典型的には、ビン期間は通常、アノード２３の「不感」時間、すなわち、例だけであるが約１４ｎｓの、アノード２３がイオン衝撃を検出してから、後のイオン衝撃を検出できるように再設定するまでの間の期間に関連付けるように決定される。
【００２１】
すべてのパルス中において、１つ以上のイオンがアノード２３に衝撃を与える毎に、衝撃信号がアノード２３から送られ、この信号はエンジン１４で受信され、エンジン１４はまた、そのアノード２３に対して、衝撃信号が送られるパルス時間セグメントに対応するビンデータを追跡してデータ記憶装置に保存する（ブロック１０８）。計算エンジン１４はまた、分析期間におけるパルス数をカウントするか、あるいは決定するようにプログラムされる（ブロック１１０）。典型的には、パルス数は、ユーザによる用途に対してあらかじめ決められ、分析期間の開始前にＣＰＵ１２内に入力される。一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、各アノード２３に対して、計算エンジン１４は、衝撃信号がアノード２３から受信されなかった分析期間中の対応パルス時間セグメントの数を決定するようにさらにプログラムされる（ブロック１１２）。
【００２２】
精度を改善するため、ブロック１１２において、アノード２３から衝撃信号が受信されず、さらにアノード２３が有効でイオン衝撃を検出できる対応パルス時間セグメントの数を計算するように構成されることが全般的に好ましい。前述のとおり、イオンが検出器２２上のアノード２３に衝撃を与えると、その後の短期間（典型的には、およそ１４ｎｓ）にわたり、アノード２３（あるいはチャネル）は「不感」になり、イオンの衝撃を検出することができなくなる。したがって、精度を改善するために、検出器２２のアノード２３の「不感時間」内でイオン衝撃が検出された対応パルス時間セグメントを計算エンジン１４が除外するのが好ましい。
【００２３】
分析期間が終わると（ブロック１１４）、エンジン１４は、各アノード２３とは別個にサンプルからイオンビームの１つ以上のイオン流束を計算するように構成される（ブロック１１６）。これは、繰り返し可能な一連のビンにおける１つのビン（またはビンの範囲）に対応するイオン衝撃データを分析することで実施される。典型的には、各アノード２３について、おのおの慎重なｍ／ｚ、あるいは繰り返し可能な一連のビンでカバーされる全質量範囲にわたる間隔に対して計算される。
【００２４】
当然のことながら、「イオン流束を計算する」、あるいはこれに似たような表現は、実際のイオン流束の推定値を計算することを意味するものである。イオン流束はパルス時間セグメント中でイオンを検出しない確率に関連付けられる。好ましくは、イオン流束は以下の式で計算される。
（式１）ψ＊＝−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））
ここで、ψ＊は（実際のイオン流束を示すＷと対比される）推定イオン流束を示し、ｐ（ｘ＝０）は、繰り返し可能な一連のビンにおける特定ビン（あるいはビンの間隔）に対応するパルス時間セグメント中に（ブロック１１２における計算エンジン１４で決定される）イオンを検出しない確率を示す。
【００２５】
エンジン１４はまた、式１で計算されるイオン流束に対する信頼区間を計算するように構成される場合もある（ブロック１１８）。信頼度はまず以下の式で計算され得る。
【００２６】
【化１】
【００２７】
【化２】
の間よりもψ＊とψとの間の差を定義する方が都合がよい。流束許容差ｔが次式（式３）で定義される場合、
（式３） ｔ＝｜ψ−ψ＊｜／ψ
信頼区間ｃは次式で計算され得る。
【００２８】
【化３】
ｃは、信頼区間を示し、ψ＊は、式１で計算される推定イオン流束を示し、ｔは、（Ｉ／Ｏ装置１６を通してユーザが入力する）推定イオン流束に対する許容値あるいは所望の相対誤差を示す。
【００２９】
背景説明として、初期のイオン速度に差があるために、同一のｍ／ｚ（質量／電荷）のビーム収束（および他の効果の）イオンは、ＴＯＦ機器において、同じ瞬間（すなわち、繰り返し可能な一連のビンにおける同一ビンに対応する同一時間ビンまたはパルス時間セグメント内）に検出器２２に対して衝撃を与えない。測定されたイオンのｍ／ｚと実際のｍ／ｚとの間の差（記録されたｍ／ｚ−実際のｍ／ｚ）はランダムな変数であり、平均＝０で標準偏差σの正規分布になるが、ここでσの値はシステム１０の特性に依存するものの、モデルには無関係であり、有効な仮定としてσは分析中に同じ状態を維持する点だけを重要とする。さらに、イオンが何らかのパルスの分布に似ており、流束が繰り返し可能な一連のビンにおける各ビンに対するパルス座標にわたって一定であるとする。
【００３０】
各ビンに対するイオン検出は、対応するビンでイオン流束に等しいパラメータλを用いてポアソン過程としてモデル化できる。
【００３１】
【化４】
イオン流束は以下の式で計算される。
【００３２】
【化５】
ここで、ψ＊は実際のイオン流束ψの推定値である。検出器２２が、放出されるのと同じ程度のイオンを検出できれば、ψ＊の信頼度は母集団の大きさ（すなわち、検出器２２（またはアノード２３）が不感でなかったパルス数）だけに依存する。
【００３３】
実際には、上で説明したとおり、検出器２２に対する制限のため、測定されたイオン流束は常にψと等しいか、それより小さい。例えば、２つのイオンが、４つの等しい大きさのアノード２３を有する検出器２２に達すると、４つのアノードがすべて有効であると仮定すれば、両方のイオンを検出する確率は．７５になる。検出器２２に衝撃を与える（４個までの）全イオンを検出してカウントする確率は、イオンの数がさらに多くなれば低下する。この例は、上記の式６による信頼性の低い流束の推定値がどのようになるかを示している。
【００３４】
あるいは、アノード２３に達するイオンが０個であれば、カウントされるのは０個であり、すなわち以下の式となる。
【００３５】
【化６】
ここで、確率ｐ（０）は、放出されるイオン数に対して信頼できる統計量である。
【００３６】
検出器２２に影響を与え（カウントしない）イオンがパラメータλ＝ψのポアソン過程であり、ここでψが実際のイオン流束と仮定すると、式１は式５および７から導かれる。
【００３７】
「ゼロカウント」の確率を計測することで、実際のイオン流束は、式６よりも高い信頼度で式１から推定できる。
【００３８】
システム１０は、式１によってイオン流束を計算するものとして示され、記述されてきたが、本発明の精神から離れることなく、この式を変形したものが用いられる場合もあることは理解されるべきである。
【００３９】
本方法は、飛行時間型質量分析器に関連付けられた計数システムに対する用途で記述されたが、イオン計数が用いられ、イオン到達時間がランダムな質量分析器に対しても本方法は適用できることは明らかである。
【００４０】
例えば、三重四極子質量分析器システムにおいて、１つの質量電荷値（あるいは、前駆／製品質量値の一つの組み合わせ）のイオンを伝送し、一定期間、例えば１００ミリ秒にわたってイオン強度を測定するように質量分析器を設定するのが一般的である。この時間間隔中、イオンは平均速度で検出器に達する。測定時間中に到達するイオン数をカウントし、測定時間間隔（例えば、１００ｍｓ）で分割することでイオン計数率が決定される。
【００４１】
しかしながら、検出器（典型的にはチャネル型電子増倍管）、増幅器および弁別器の応答時間のために、検出器システムは実効離散時間ビンを有する。１つの応答時間中に２つ以上のイオンが検出器に達すれば、１つのイオンだけがカウントされる。検出器システムの典型的な応答時間は約１５ナノ秒である。したがって、応答時間が既知であれば、こういった計数システムに対して計数補正を行うことができる。測定時間を有効時間ビン（おのおの１５ｎｓ長）に分割することで、「０カウントのビン」数が測定でき、式４を用いて補正値を得ることができる。
【００４２】
例えば、測定時間が１００ミリ秒であり、この時間で合計１，００，０００個のイオンがカウントされ、検出器システムの応答時間が１５ｎｓであることが分かっていれば、以下の補正が適用できる。
測定カウント数＝１ｅ６
１００ミリ秒の時間ビン数＝６．６６ｅ６
１５ｎｓ時間ビン当たりの測定イオン数＝１ｅ６／６．６６ｅ６＝０．１６
０カウント時間ビンの確率＝０．８４
イオン流束は以下の式で計算される。
（式１Ａ）ψ＝−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））
したがって、−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））＝０．１７４
このように、時間ビン当たり補正イオンカウントが０．１７４であるため、１００ミリ秒当たりの補正イオンカウントは１．１６ｅ６である。
【００４３】
この場合、不感時間が時間ビンと同じであるため、不感時間に対して別個の補正はない。
【００４４】
このように、本明細書で示されて記述されたものは本主題発明の好ましい実施形態を構成するが、範囲が添付請求項で規定される本主題発明から離れることなく、種々の変更を行うことができることを理解するべきである。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】図１は、本発明により作製された質量分析器の略線図である。
【図２】図２は、本発明の方法のステップを示すフロー図である。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分析期間中にサンプルに対して少なくとも１つのイオン流束を計算する方法であって、前記方法が、
（ａ）複数のパルスを生成するステップであって、各パルス中にイオンビームが前記サンプルから放出される、ステップと、
（ｂ）繰り返し可能な一連のビンを決定するステップであって、前記繰り返し可能な一連のビンの各ビンが、それぞれのパルスの対応パルス時間セグメントに対応する、ステップと、
（ｃ）各パルス中にイオンが検出器に与える衝撃を検出するステップと、
（ｄ）前記分析期間中にパルスの合計数を決定するステップと、
（ｅ）前記繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、イオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するステップと、
（ｆ）前記イオン流束を計算し、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率に前記イオン流束が関連付けられるステップと
を含む、方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法であって、前記イオン流速が実質的に式ψ＝−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））により計算され、
（ａ）ψが前記イオン流束を示し、
（ｂ）ｐ（ｘ＝０）が、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率を示す、方法。
【請求項３】
ステップ（ｄ）が、イオン衝撃の検出されなかった前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメントの数を決定することをさらに含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
ステップ（ｄ）がさらに、イオン衝撃の検出できなかった前記少なくとも１つのビンに対応する対応パルス時間セグメントの数を決定することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
（ａ）分析期間中に複数のパルスを通してサンプルからイオンビームを放出するイオン源と、
（ｂ）前記イオン源の下流に置かれる検出器と、
（ｃ）繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックであって、前記繰り返し可能な一連のビンの各ビンが、それぞれのパルスの対応パルス時間セグメントに対応する、クロックと、
（ｄ）前記検出器と前記クロックとに動作可能に結合され、前記分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置と、
を備え、
（ｅ）前記制御装置はさらに、前記繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、前記分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成され、
（ｆ）前記制御装置は、前記少なくとも１つのビンに対応するイオン流束を計算するように構成され、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるように前記イオン流束が計算される、質量分析器。
【請求項６】
請求項５に記載の質量分析器であって、前記制御装置が、式ψ＝ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））に関連付けられた前記イオン流束を計算するように構成され、
（ａ）ψが前記イオン流束を示し、
（ｂ）ｐ（ｘ＝０）が、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率を示す、質量分析器。
【請求項７】
前記制御装置がさらに、イオン衝撃が検出されなかった前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメントの数を決定するように構成される、請求項６に記載の質量分析器。
【請求項８】
前記制御装置がさらに、前記検出器がイオン衝撃を検出できなかった前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメントの数を決定するように構成される、請求項７に記載の質量分析器。
【請求項９】
サンプルに対して少なくとも１つのイオン流束を計算する方法であって、前記方法が、
（ａ）イオンのグループ内の各イオンが前記グループ内の他の全イオンと実質的に同じｍ／ｚをもつ前記グループを前記サンプルから集めるステップと、
（ｂ）イオンの前記グループを放出するステップと、
（ｃ）所定の検出期間中に、放出されたイオンの検出器への衝撃を検出するステップと、
（ｄ）放出されたイオンの前記衝撃を前記検出器が検出しなかった前記検出期間内の合計時間を決定するステップと、
（ｅ）前記イオンの前記イオン流束を計算し、前記イオン流束が前記検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるステップと、
を含む方法。
【請求項１０】
（ａ）イオンのグループ内の各イオンが前記グループ内の他の全イオンと実質的に同じｍ／ｚをもつ前記グループを前記サンプルから放出するイオン源と、
（ｂ）前記イオン源の下流に配置され、所定の検出期間中に、放出されたイオンの前記検出器に対する衝撃を検出するように構成される検出器と、
（ｃ）放出されたイオンの前記衝撃を前記検出器が検出しなかった前記検出期間内の合計時間を決定するように構成されるクロックと、
（ｄ）前記検出器と前記クロックとに動作可能に結合され、前記イオンのイオン流束を計算するように構成され、前記イオン流束が、前記検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられる制御装置と、
を備える質量分析器。
【請求項１】
分析期間中にサンプルに対して少なくとも１つのイオン流束を計算する方法であって、前記方法が、
（ａ）複数のパルスを生成するステップであって、各パルス中にイオンビームが前記サンプルから放出される、ステップと、
（ｂ）繰り返し可能な一連のビンを決定するステップであって、前記繰り返し可能な一連のビンの各ビンが、それぞれのパルスの対応パルス時間セグメントに対応する、ステップと、
（ｃ）各パルス中にイオンが検出器に与える衝撃を検出するステップと、
（ｄ）前記分析期間中にパルスの合計数を決定するステップと、
（ｅ）前記繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、イオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するステップと、
（ｆ）前記イオン流束を計算し、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率に前記イオン流束が関連付けられるステップと
を含む、方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法であって、前記イオン流速が実質的に式ψ＝−ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））により計算され、
（ａ）ψが前記イオン流束を示し、
（ｂ）ｐ（ｘ＝０）が、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率を示す、方法。
【請求項３】
ステップ（ｄ）が、イオン衝撃の検出されなかった前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメントの数を決定することをさらに含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
ステップ（ｄ）がさらに、イオン衝撃の検出できなかった前記少なくとも１つのビンに対応する対応パルス時間セグメントの数を決定することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
（ａ）分析期間中に複数のパルスを通してサンプルからイオンビームを放出するイオン源と、
（ｂ）前記イオン源の下流に置かれる検出器と、
（ｃ）繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックであって、前記繰り返し可能な一連のビンの各ビンが、それぞれのパルスの対応パルス時間セグメントに対応する、クロックと、
（ｄ）前記検出器と前記クロックとに動作可能に結合され、前記分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置と、
を備え、
（ｅ）前記制御装置はさらに、前記繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つのビンについて、前記分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成され、
（ｆ）前記制御装置は、前記少なくとも１つのビンに対応するイオン流束を計算するように構成され、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるように前記イオン流束が計算される、質量分析器。
【請求項６】
請求項５に記載の質量分析器であって、前記制御装置が、式ψ＝ｌｎ（ｐ（ｘ＝０））に関連付けられた前記イオン流束を計算するように構成され、
（ａ）ψが前記イオン流束を示し、
（ｂ）ｐ（ｘ＝０）が、前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメント中にイオン衝撃を検出しない確率を示す、質量分析器。
【請求項７】
前記制御装置がさらに、イオン衝撃が検出されなかった前記繰り返し可能な一連のビンにおける前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメントの数を決定するように構成される、請求項６に記載の質量分析器。
【請求項８】
前記制御装置がさらに、前記検出器がイオン衝撃を検出できなかった前記少なくとも１つのビンに対応するパルス時間セグメントの数を決定するように構成される、請求項７に記載の質量分析器。
【請求項９】
サンプルに対して少なくとも１つのイオン流束を計算する方法であって、前記方法が、
（ａ）イオンのグループ内の各イオンが前記グループ内の他の全イオンと実質的に同じｍ／ｚをもつ前記グループを前記サンプルから集めるステップと、
（ｂ）イオンの前記グループを放出するステップと、
（ｃ）所定の検出期間中に、放出されたイオンの検出器への衝撃を検出するステップと、
（ｄ）放出されたイオンの前記衝撃を前記検出器が検出しなかった前記検出期間内の合計時間を決定するステップと、
（ｅ）前記イオンの前記イオン流束を計算し、前記イオン流束が前記検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられるステップと、
を含む方法。
【請求項１０】
（ａ）イオンのグループ内の各イオンが前記グループ内の他の全イオンと実質的に同じｍ／ｚをもつ前記グループを前記サンプルから放出するイオン源と、
（ｂ）前記イオン源の下流に配置され、所定の検出期間中に、放出されたイオンの前記検出器に対する衝撃を検出するように構成される検出器と、
（ｃ）放出されたイオンの前記衝撃を前記検出器が検出しなかった前記検出期間内の合計時間を決定するように構成されるクロックと、
（ｄ）前記検出器と前記クロックとに動作可能に結合され、前記イオンのイオン流束を計算するように構成され、前記イオン流束が、前記検出期間中にイオン衝撃を検出しない確率に関連付けられる制御装置と、
を備える質量分析器。
【図１】
【図２】
【図２】
【公表番号】特表２００９−５２２５５７（Ｐ２００９−５２２５５７Ａ）
【公表日】平成２１年６月１１日（２００９．６．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−５４８９１０（Ｐ２００８−５４８９１０）
【出願日】平成１９年１月４日（２００７．１．４）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＣＡ２００７／０００００９
【国際公開番号】ＷＯ２００７／０７６６０５
【国際公開日】平成１９年７月１２日（２００７．７．１２）
【出願人】（５０８１５３８５５）エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ， ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド， ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン (17)
【出願人】（５０５１２３６９７）アプレラ コーポレイション (21)
【Ｆターム（参考）】
【公表日】平成２１年６月１１日（２００９．６．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年１月４日（２００７．１．４）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＣＡ２００７／０００００９
【国際公開番号】ＷＯ２００７／０７６６０５
【国際公開日】平成１９年７月１２日（２００７．７．１２）
【出願人】（５０８１５３８５５）エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ， ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド， ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン (17)
【出願人】（５０５１２３６９７）アプレラ コーポレイション (21)
【Ｆターム（参考）】
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