説明

重合体、レジスト組成物及びレジストパターン形成方法

【課題】リソグラフィー特性及びパターン形状に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物用として有用な新規重合体、及び該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生する、下記式で表されるアニオン部位を有し、かつ、露光により酸を発生する構成単位を有する重合体;該重合体を含有するレジスト組成物;及び該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法。


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【特許請求の範囲】
【請求項1】
主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生するアニオン部位を有し、かつ、
露光により酸を発生する構成単位(a0)を有する重合体。
【請求項2】
前記主鎖の少なくとも一方の末端に下記一般式(I−1)で表される基を有する、請求項1に記載の重合体。
【化1】

[式中、Rは炭素数1〜10の炭化水素基であり、Zは炭素数1〜10の炭化水素基又はシアノ基であり、RとZとは相互に結合して環を形成していてもよい。Xは2価の連結基であって、−O−C(=O)−、−NH−C(=O)−、及び−NH−C(=NH)−のいずれかを、少なくとも式中のQと接する末端に有する。pは1〜3の整数である。Qは(p+1)価の炭化水素基であり、pが1の場合のみ、Qは単結合であってもよい。Rは単結合、置換基を有していてもよいアルキレン基、又は置換基を有していてもよい芳香族基であり、q0又は1であり、rは0〜8の整数であり、Mは有機カチオンである。]
【請求項3】
下記一般式(I)で表される化合物からなるラジカル重合開始剤を用いたラジカル重合により得られるラジカル重合体である請求項2に記載の重合体。
【化2】

[式中、Rは炭素数1〜10の炭化水素基であり、Zは炭素数1〜10の炭化水素基又はシアノ基であり、RとZとは相互に結合して環を形成していてもよい。Xは2価の連結基であって、−O−C(=O)−、−NH−C(=O)−、及び−NH−C(=NH)−のいずれかを、少なくとも式中のQと接する末端に有する。pは1〜3の整数である。Qは(p+1)価の炭化水素基であり、pが1の場合のみ、Qは単結合であってもよい。Rは単結合、置換基を有していてもよいアルキレン基、又は置換基を有していてもよい芳香族基であり、q、rはそれぞれ独立に0又は1であり、Mは有機カチオンである。式中の複数のR、Z、X、p、Q、R、q、r、Mはそれぞれ同じであっても異なっていてもよい。]
【請求項4】
前記構成単位(a0)が、下記一般式(a0−1)又は(a0−2)で表される基を有する請求項1〜3のいずれか一項に記載の重合体。
【化3】

[式中、Q、Qはそれぞれ独立に単結合又は2価の連結基であり、R、R、Rはそれぞれ独立に有機基であり、R、Rは相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成していてもよく、Vは対アニオンである。Aはアニオンを含む有機基であり、Mm+は対カチオンであり、mは1〜3の整数である。]
【請求項5】
さらに、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位(a1)を有する、請求項1〜4のいずれか一項に記載の重合体。
【請求項6】
請求項1〜5のいずれか一項に記載の重合体を含有するレジスト組成物。
【請求項7】
酸の作用により現像液に対する溶解性が変化し、かつ、露光により酸を発生する基材成分(A)を含有するレジスト組成物であって、
前記基材成分(A)が、請求項5に記載の重合体を含有するレジスト組成物。
【請求項8】
支持体上に、請求項6又は7に記載のレジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、及び前記レジスト膜を現像してレジストパターンを形成する工程を含むレジストパターン形成方法。

【公開番号】特開2013−40296(P2013−40296A)
【公開日】平成25年2月28日(2013.2.28)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−179004(P2011−179004)
【出願日】平成23年8月18日(2011.8.18)
【出願人】(000220239)東京応化工業株式会社 (1,407)
【Fターム(参考)】