ＲＦＩＤ装置試験器および方法
ＲＦＩＤ装置試験器（１０）は、読み取り装置（１４）を、試験されるＲＦＩＤ装置（１２）に容量的に結合するための結合要素を含む。ＲＦＩＤ装置が適切に動作している場合、ＲＦＩＤ装置によって整流され得るおよび／または反射され得る出力ＡＣ電力信号のような出力信号を送信することによって、読み取り装置（１４）はＲＦＩＤ装置に電力を供給し得る。出力信号は、ＲＦＩＤ装置のアンテナの共振周波数とは異なる周波数を用い得る。読み取り装置は、反射されたおよび／または伝送された信号を検知し、ＲＦＩＤ装置（１４）の適切な動作を確認する。ＲＦＩＤ装置試験器（１０）はロールツーロールプロセス（８０）の一部として用いられ得て、材料のロール（７０）におけるＲＦＩＤ装置を各々試験する。短距離の容量的結合を利用することによって、複数のＲＦＩＤ装置の同時活性化によって引き起こされる難点は減少され得るかまたは回避され得る。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）タグおよびラベル検知システムの分野、また、ＲＦＩＤタグおよびラベルの検知と試験に関係する。
【背景技術】
【０００２】
（関連技術）
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）タグおよびラベル（集合的にここでは「装置」と言及される）は、識別コードを有する対象を結びつけるために幅広く用いられる。ＲＦＩＤ装置は一般にアンテナおよびアナログおよび／またはデジタル電子部品の組み合わせを有し、たとえば通信電子、データメモリ、制御論理回路などを含み得る。たとえば、ＲＦＩＤタグは車のセキュリティーロックと協働で用いられ、建物制御へのアクセスや商品および小包の追跡に用いられる。ＲＦＩＤタグおよびラベルのいくつかの例が米国特許第６，１０７，９２０号、６，２０６，２９２号、６，２６２，２９２号に見られ、これらすべては完全にここに援用される。
【０００３】
上記のように、ＲＦＩＤ装置はラベルまたはタグとして一般的に分類される。ＲＦＩＤラベルはＲＦＩＤ装置であり、付着しているか、さもなければ、対象に直接添付されている面を有する。ＲＦＩＤタグは、対照的に、たとえばプラスチックファスナー、ひも、他の固定手段を用いるなどの他の手段によって対象に対して固定されている。
【０００４】
ＲＦＩＤ装置は、電源を含む能動のタグとラベル、および電源を含まない受動のタグとラベルを含む。受動タグの場合、チップからの情報を読み出すために、「基地局」または「読み取り装置」がＲＦＩＤタグまたはラベルに励起信号を送信する。励起信号がタグまたはラベルに電圧を加え、ＲＦＩＤ回路が格納された情報を読み取り装置に伝送し戻す。「読み取り装置」は、ＲＦＩＤタグからの情報を受信しデコードする。一般的に、ＲＦＩＤタグは、個人、パッケージ、商品などを独自に識別するのに十分な情報を保持し伝送する。ＲＦＩＤタグおよびラベルはまた、一度だけ情報が書き込まれ（情報は繰り返し読み出される可能性があるが）、使用中に情報が書き込まれる可能性があるものに関して特徴づけられる。たとえば、ＲＦＩＤタグは統計情報（関連するセンサーによって検知され得る）、論理的記録、状態データなどを格納し得る。
【０００５】
ＲＦＩＤ装置に関する１つの困難点は、製造または組立プロセスの一部としてのそのような装置の動作を試験する必要性である。ＲＦＩＤ装置の組立において、装置は狭い間隔が空けられた材料のシートまたはロールの上に形成され得る。ＲＦＩＤ装置を活性化し、読み出しおよび／または検知する従来的な方法において、無線周波数（ＲＦ）フィールドを比較的長距離に、つまり中間空きスペースを越えて送信するためにアンテナが用いられる。間隔が狭いＲＦＩＤ装置を試験するのにそのような方法が適用される場合、ＲＦフィールドは複数の装置と同時に干渉するので単一のＲＦＩＤ装置を試験するのは困難であり、さまざまなＲＦＩＤ装置は互いに干渉し得る。
【０００６】
さらに、ＲＦＩＤ装置を読み取る喪失原価方法が望ましいことが認められる。
【０００７】
前述から、ＲＦＩＤ装置試験および読み取りの改善が望ましいことであることがこのように認められるであろう。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【０００８】
発明の一局面に従って、試験器から装置に電力を提供するため、また装置から試験器への信号を受信するために、ＲＦＩＤ装置試験器はＲＦＩＤ装置に容量的に結合している。
【０００９】
発明の別の局面に従って、ＲＦＩＤ装置のアンテナの共振周波数以外の周波数における出力電力信号を送信することで、ＲＦＩＤ装置試験器は試験されるＲＦＩＤ装置に電力を提供する。
【００１０】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ装置のアンテナ要素に容量的に結合するために、ＲＦＩＤ装置試験器は導電性結合要素を有する。
【００１１】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ装置試験器は輪状に形づくられた導電性結合要素を有する。
【００１２】
発明の別の局面に従って、それぞれの行に複数の装置を有し、装置の行を有する装置のウェブを試験するために、ＲＦＩＤ装置試験システムはともに動作可能に結合している複数の試験器を有する。発明の実施形態に従って、複数の試験器は、行の方向における線ではなく、ずらし配置にあり得る。
【００１３】
発明のさらなる局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法は、次のステップを含む：１）ＲＦＩＤ装置試験器をＲＦＩＤ装置のアンテナに容量的に結合するステップ；２）ＲＦＩＤ装置試験器からの出力信号を生成するステップ；３）ＲＦＩＤ装置に電力を供給するために出力信号を用いるステップ；４）ＲＦＩＤ装置においてリターン信号を生成するステップ；および試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知するステップ。
【００１４】
発明のまたさらなる局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置試験器は、次のものを含む：読み取り装置；一対の導電性の結合要素；結合要素が読み取り装置にそれぞれ電気的に結合している一対の伝送ライン；および、読み取り装置と結合要素との間の両伝送ラインに結合している抵抗。
【００１５】
発明の別の局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置とＲＦＩＤ装置試験器の組み合わせにおいて、ＲＦＩＤ装置は次のものを含む：一対のアンテナ要素を有するアンテナ；およびアンテナに動作可能に結合しているチップ。ＲＦＩＤ装置試験器は次のものを含む：読み取り装置；および読み取り装置に電気的に結合している一対の導電性の結合要素。アンテナ要素はそれぞれ結合要素に容量的に結合していて、それによって一対のコンデンサーを形成する。
【００１６】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法は、次のステップを含む：固有（ｎａｔｕｎａｌ）共振周波数からシフトした共振周波数の装置の最適な試験周波数をシフトするステップ；および固有共振周波数以外の周波数における装置を読み取るステップ。
【００１７】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）ストラップを試験する方法は、次のステップを含む：ＲＦＩＤ装置試験器をＲＦＩＤストラップの導電性リードに容量的に結合するステップ；ＲＦＩＤ装置試験器からの出力信号を生成するステップ；ＲＦＩＤストラップに電力供給するために出力信号を用いるステップ；および、試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知するステップ。
【００１８】
発明のさらなる局面に従って、それぞれが複数のＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含むウェブを試験するための試験システムは次のものを含む：ＲＦＩＤ装置の行を検知するための近接センサー；それぞれの行の複数のＲＦＩＤ装置を試験するために配列された複数の試験器；および、近接センサーと複数の試験器に動作可能に結合しているコンピュータ。コンピュータは近接センサーからの信号を受信し、試験器の動作を制御する。
【００１９】
発明のまたさらなる局面に従って、ＲＦＩＤ装置のウェブを試験する方法で、ウェブはそれぞれが複数のＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含み、その方法は次のステップを含む：近接センサーによってウェブの行の１つを検知するステップ；および近接センサーに動作可能に結合しているそれぞれの試験器を用いて行のＲＦＩＤ装置を試験するステップ。
【００２０】
前述のものおよび関連する後述を達成するために、発明は以下に完全に記載され、請求項において特に指摘される特徴を包含する。以下の記載および添付の図面は、発明の特定の実例的実施形態の詳細を示す。発明の原理が用いられ得るいくつかの方法を除いて、これらの実施形態は表示的である。図面を用いて考慮される場合、発明の以下の詳細な記載から、発明の他の対象、利点、新規性の特徴が明らかになるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
ＲＦＩＤ装置試験器は、読み取り装置を、試験されるＲＦＩＤ装置に容量的に結合させるための結合要素を含む。ＲＦＩＤ装置が適切に動作している場合に、読み取り装置は、ＲＦＩＤ装置によって整流されるおよび／または反射され得る出力ＡＣ電力信号などのような出力信号を送信することによってＲＦＩＤ装置に動力を供給し得る。出力信号は、ＲＦＩＤ装置のアンテナの共振周波数とは異なる周波数を有し得る。ＲＦＩＤ装置試験器における読み取り装置は反射されたおよび／または伝送された信号を検知し、ＲＦＩＤ装置の適切な動作を確認する。ＲＦＩＤ装置試験器はロールツーロールプロセスの一部として用いられ得て、材料のロール上のＲＦＩＤ装置を各々に試験する。近距離容量性結合を利用することにより、複数のＲＦＩＤ装置の同時活性化によって引き起こされる困難さは減少され得るかまたは回避され得る。
【００２２】
最初に図１および図２を説明すると、図示されているのは、ＲＦＩＤ装置試験器１０であって、これはＲＦＩＤ装置１２を試験するためか、さもなければＲＦＩＤ装置１２を読み取るためのものである。試験器は、読み取り装置１４を含み、また、読み取り装置１４に電気的に結合されている一対の結合要素またはカプラー１６および１８である。結合要素１６および１８は導電性要素であり、任意の幅広い適切な構成にある。結合要素１６および１８は誘電性基板層２０の上に設置され得る。さらに、試験器１０は、結合要素１６および１８の間に接続されている終端抵抗または負荷２４を含み得る。以下に詳細が記載されるように、終端抵抗２４は、結合要素１６および１８から読み取り装置１４へ信号の強さを制限する機能を果たし得る。読み取り装置１４に電力を供給するために適切な電源２６が使用され得る。
【００２３】
ＲＦＩＤ装置１２はラベルまたはタグであり得るか、またはラベルまたはタグの一部であり得て、アンテナ３０を有し、チップ３２がアンテナ３０に結合されている。チップ３２はさまざまな任意の適切な電子部品を含み得る。たとえばＲＦＩＤ装置１２のインピーダンスを変調するために上記された回路などである。アンテナ３０は、チップ３２の反対側に一対のアンテナ要素３６および３８を有するダイポール・アンテナであり得る。代替として、アンテナ３０は別のレイアウトを有し得る。アンテナ要素３６および３８はＲＦＩＤ装置１２の誘電性基板４０上に実装され得る。誘電性基板４０は、誘電性材料のロールのような誘電性材料のシートの一部であり得て、その上に他のＲＦＩＤ装置が形成される。他のＲＦＩＤ装置はＲＦＩＤ装置１２と実質的に同じであり得るかまたは代替として異なる可能性がある。特に、誘電性基板は、共に接近して間隔を空けている複数のＲＦＩＤ装置を有し得る。
【００２４】
また、図３を説明すると、ＲＦＩＤ装置試験器１０およびＲＦＩＤ装置１２は容量的に共に結合していて、ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間で電力および／または信号を伝送する。結合要素１６および１８はそれぞれアンテナ要素３６および３８に動作的に結合している。この動作的結合は、ＲＦＩＤ装置試験器の結合要素１６および１８が、図１〜３に示されているように、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８と実質的に反対となるようにＲＦＩＤ装置試験器１０およびＲＦＩＤ装置１２を配置することで生成される。そのような相対的な配置にすると、誘電性基板層２０の部分４６が結合要素１６とアンテナ要素３６の間になり、誘電性基板層２０のもう一つの部分４８は結合要素１８とアンテナ要素３８の間になる。結合要素１６と、アンテナ要素３６と、誘電性部分４６はこのように第１のコンデンサー５０として機能し、結合要素１６およびアンテナ要素３６はコンデンサー５０のプレートとなり、誘電性部分４６はコンデンサー５０の誘電体となる。同様に、結合要素１８と、アンテナ要素３８と、誘電性部分４８は第２のコンデンサー５２として機能する。
【００２５】
ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２が共に一度容量的に結合すると、電力および／または信号は２つの間で伝送され得る。読み取り装置は、出力ＡＣ信号のような出力信号を、結合要素１６および１８を備えて読み取り装置１４に結合する伝送ライン５６および５８に沿って送信し得る。コンデンサー５０および５２によって、結合要素１６および１８からアンテナ要素３６および３８に出力ＡＣ信号を伝送する。アンテナ要素３６および３８から受信されるＡＣ電力はチップ３２によって整流され得る。たとえば、チップ３２の一部であるトランジスタおよび／またはダイオードによって整流され得て、チップ３２を動かすＤＣ電力を生成する。
【００２６】
電力はチップ３２がアンテナ要素３６および３８を介してリターン信号を送信するために用いられ得る。リターン信号の送信は、ＲＦＩＤ装置１２によるリターン信号の能動伝送ではなくて受動プロセスであり得るということが認められるであろう。一例にあるように、チップ３２における回路は、ＲＦＩＤ装置１２のインピーダンスを変調するために用いられ得る。別の例にあるように、ＲＦＩＤ装置１２は試験器１０へ戻される入射（ｉｎｃｉｄｅｎｔ）信号を反射し得る。
【００２７】
ＲＦＩＤ装置１２は、入射信号に自動的に反応する受動装置であり得るか、または確実なプロトコルに適合する入射信号に反応するのみである能動装置であり得ることが認められるであろう。ＲＦＩＤ装置１２はまたその電源のような他の構成要素を有し得る。
【００２８】
ＲＦＩＤ装置１２の機能は、容量的結合ではなく長距離ＲＦフィールドによって入射エネルギーが提供されたような場合と実質的に同じであり得ることがさらに認められるであろう。代替として、ＲＦＩＤ装置１２の機能は、どのように入射エネルギーが提供されたかによって異なり得る。
【００２９】
ＲＦＩＤ装置１２によって生成されるリターン信号は、コンデンサー５０および５２を介してアンテナ要素３６および３８から結合要素１６および１８に伝送される。リターン信号はそれから伝送ライン５６および５８に沿って読み取り装置１４に転送される。終端抵抗２４は過剰な強力な信号が読み取り装置１４に到達し、おそらく読み取り装置１４に損傷を与えるのを防ぐように機能し得る。
【００３０】
読み取り装置１４はＲＦＩＤ装置１２から受信したリターン信号を解釈することができ、アンテナ３０および／またはチップ３２の機能を修正するといった、ＲＦＩＤ装置１２のすべてのまたは一部の適切な機能を確認する。適切な機能の確認は、単にＲＦＩＤ装置１２の存在を検知することを含み得て、ＲＦＩＤ装置１２が検知可能である場合、ＲＦＩＤ装置１２の機能は容認性があり、ＲＦＩＤ装置１２は試験をパスする。代替として、試験は、たとえば、リターン信号が１つ以上のパラメーターまたはパラメーターの範囲に適合するか否かを決定するといった、ＲＦＩＤ装置１２から受信するリターン信号の評価に関与し得る。ＲＦＩＤ装置１２の動作の他の試験が用いられ得ることが認められるであろう。たとえば、ＲＦＩＤ装置１２の欠陥を診断するか、さもなければＲＦＩＤ装置１２の性能を定性的に評価することなどである。
【００３１】
読み取り装置１４によって送信される出力ＡＣ電力信号およびＲＦＩＤ装置１２によって生成されるリターン信号は、明確さのために、一方は読み取り装置１４によって送信され、他方は読み取り装置１４によって受信されるというように別の信号としてこれまで記載されてきた。現実性において、信号は実際、互いに重畳され得、読み取り装置１４が出力信号とリターン信号の重畳を感知することが認められるであろう。それゆえ、読み取り装置１４によるリターン信号の解釈は、出力信号と読み取り装置１４によって感知される出力信号およびリターン信号の重畳との比較に関与し得る。
【００３２】
ＲＦＩＤ装置試験器１０は、ＲＦＩＤ装置１２に容量的に結合し、試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の短距離結合を有利に可能にする。ＲＦＩＤ装置１２は多くのＲＦＩＤ装置を備えるシートまたはロールの一部であり得て、ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の短距離の容量的結合を用いることで、空き容量に送信されたＲＦフィールドを介するＲＦＩＤ装置に結合する試験器と比べて、ＲＦＩＤ装置１２のより良い試験が達成され得る。容量的結合のＲＦＩＤ装置試験器１０の利点の１つは、短距離容量性結合が、同じロールまたはシート上にある他のＲＦＩＤ装置にエネルギーを提供する傾向がより少ないことである。試験されるＲＦＩＤ装置１２以外のＲＦＩＤ装置へのエネルギーの提供を減少または制限することで、試験においてより良い識別が発生し、このようにＲＦＩＤ装置１２の試験が改善される。
【００３３】
試験器１０からの出力信号の周波数を適切に選択することで、試験されるＲＦＩＤ装置１２以外のＲＦＩＤ装置への望ましくない結合がさらに減少され得る。これをさらに説明すると、アンテナ３０の固有共振周波数を次のように考えることは有益である。つまり、アンテナ３０がＲＦフィールド外部からのエネルギーを最大受信する地点における周波数として、また、ＲＦＩＤ装置試験器１０のほぼ近くに設置されていない場合に最大のエネルギーを送信する地点における周波数として考えることである。この固有共振周波数は、アンテナ３０のアンテナインピーダンスがチップ３２のチップインピーダンスの複雑な接合である地点での周波数である。共振周波数は、またここでＲＦＩＤ装置１２の最適動作点または最適試験周波数と言及される。アンテナ３０の共振周波数はアンテナ３０の構成に非常に依存し得ると認められる。
【００３４】
ＲＦＩＤ装置１２に容量的に結合しているＲＦＩＤ装置試験器１０の１つの利点は、ＲＦＩＤ装置試験器１０の読み取り装置１４からの出力電力信号は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０の固有共振周波数とは異なる（ＲＦＩＤ装置１２の固有最適動作点とは異なる）周波数であり得る点である。ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０に固有共振周波数とは異なる周波数における出力電力信号を有することで、より長距離の結合が、試験される望ましいＲＦＩＤ装置１２以外のＲＦＩＤ装置への出力信号の最小にされ得る。なぜならＲＦＩＤ装置のアンテナは、アンテナ３０の共振周波数とは異なる周波数における著しい電力量を受信する感受性が少ないからである。さらに、アンテナ３０の固有共振周波数とは異なる周波数における出力電力信号を有することで、小さなロールまたはシート上のさまざまなＲＦＩＤ装置のさまざまなアンテナ間でのクロスカップリングを減少し得る。
【００３５】
ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の結合自体、アンテナ３０の共振周波数（最適試験周波数）を変化させる。なぜなら、試験器１０をＲＦＩＤ装置１２の相対的に近くにすることでＲＦＩＤ装置１２周辺の環境を変化させるからである。ＲＦＩＤ装置試験器１０の１つ以上の誘電性要素６０（図１）と１つ以上の電気的に導電性要素６２（図１）は、それにより試験器１０によって、試験されるＲＦＩＤ装置１２に感知されて相互作用する環境に導入され得る。誘電性要素６０および導電性要素６２は「シフト要素」と言及され得る。なぜならＲＦＩＤ装置１２の最適な試験周波数をシフトまたは変化させる機能をするからである。図１に示されるように、誘電性要素６０は誘電性基板層２０を含み得て、導電性要素６２は結合要素１６および１８を含み得る。代替にまたはさらに、他の誘電性要素６０および／または導電性要素６２があり得て、後者は金属製導体を含み得る。位置、サイズおよび／または誘電性要素６０の構成および／または導電性要素６２は、アンテナ３０の共振周波数における望ましいシフトを生成するために選択され得る。
【００３６】
図４および５は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０の共振周波数をシフトするまたは変化させるためのさらなる誘電性要素６０および／または導電性要素６２を有するＲＦＩＤ装置試験器１０の複数部分の実例を示す。図４および５において、図解のために、ＲＦＩＤ装置１２の複数部分は、ＲＦＩＤ装置試験器１０の対応部分とはいくぶんオフセットに示される。
【００３７】
図４は、ＲＦＩＤ装置試験器１０の実施形態の複数部分を示し、ＲＦＩＤ装置試験器１０は結合要素１６および１８の隣にあるさらなる誘電性要素６０ａおよび６０ｂを含む。誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０のアンテナ要素３６および３８の各部分３６ａおよび３８ｂの上または反対に設置される。示されるように、誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、さらにＲＦＩＤ装置１２のチップ３２からであるが、他の適切な構成が利用され得ることが認められる。
【００３８】
誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、アンテナ３０をロードし、アンテナ３０のアンテナ要素３６および３８の効率的な長さを増大する機能をする。効率的な長さを増大することによって、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な試験周波数が減少する。
【００３９】
誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、適切なセラミック材料のような高誘電率誘電材料から作られ得る。適切な材料の例として四チタン酸バリウムおよび酸化チタンなどがある。
【００４０】
図５を説明すると、ＲＦＩＤ装置試験器１０の実施形態の複数部分が示され、さらなる電気的に導電性要素６２ａおよび６２ｂを有する。導電性要素６２ａおよび６２ｂは結合要素１６および１８と分離していて、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０のアンテナ要素３６および３８のほぼ近くである。導電要素６２ａおよび６２ｂはアンテナ要素３６および３８に容量的に結合していて、アンテナ要素の効率的な長さを増大する。それによってＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な動作点は減少する。
【００４１】
図５における導電性要素６２ａおよび６２ｂの構成の結果、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な動作点は減少するが、ＲＦＩＤ装置１２に相対的な導電性要素６２ａおよび６２ｂを異なって構成することで、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な動作点が増大する結果になり得ることが認められるであろう。
【００４２】
誘電性要素６０または導電性要素６２によって引き起こされる共振周波数または最適な動作点におけるシフトはローカライズされ、誘電性要素６０ａ、６０ｂおよび／または導電性要素６２ａ、６２ｂは単一のＲＦＩＤ装置１２のみの周波数をシフトするように構成され得る一方で、隣接のＲＦＩＤ装置の最適な動作点が大きく影響を受けないようにする。
【００４３】
誘電性要素６０ａおよび６０ｂと導電性要素６２ａおよび６２ｂの数および構成は変化し得て、選択されたアンテナ構成および／または望ましい試験周波数などのために最適化され得ることが認められるであろう。
【００４４】
アンテナ３０の共振周波数におけるシフトは、ＲＦＩＤ装置１２とＲＦＩＤ装置試験器１０を結合させることによって引き起こされ、近くにあり得る他のＲＦＩＤ装置からＲＦＩＤ装置１２を動作可能に分離する補助をし得る。動作可能にＲＦＩＤ装置１２を分離することで、現在試験されていない他のＲＦＩＤ装置を活性化するかまたはそれに干渉されるために、望ましくない結果に遭遇することなく、ＲＦＩＤ装置１２を試験するのがより容易であり得る。試験されるＲＦＩＤ装置１２は他のＲＦＩＤ装置よりも誘電性要素６０および導電性要素６２の近くにあり得るので、試験されるＲＦＩＤ装置１２の共振周波数シフトと比較する場合、他のＲＦＩＤ装置の共振周波数シフトは、実質的に、大きさが減少され得るかまたは全体が無効にされ得る。別の見方をすると、誘電性要素６０および／または導電性要素６２によって引き起こされる共振周波数におけるシフトは、実質的にまたは主に、試験されるＲＦＩＤ装置１２である単一のＲＦＩＤ装置に制限され得る。
【００４５】
例として、誘電性要素６０および／または導電性要素６２は適切に構成され得て、９１５ＭＨｚの最適な試験周波数を有するアンテナを２４５０ＭＨｚの最適な試験周波数にシフトさせるようにする。
【００４６】
しかし上記のＲＦＩＤ装置１２の最適な試験周波数のシフトの概念は広義概念の一例であることが認められるであろう。より広義には、１つ以上のＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトし、それからＲＦＩＤ装置を試験することで、試験は達成され得る。試験される装置は、最適な試験周波数がシフトした１つ以上のＲＦＩＤ装置であり得る（上記のように）。代替として、シフトしていない周波数（標準、典型的、通常周波数）を有する１つ以上の装置において試験が実行され得て、他の試験されていないＲＦＩＤ装置はシフトされた周波数を有する。
【００４７】
異なる最適な試験周波数シフトが試験される異なるＲＦＩＤ装置に提供され得ることがさらに認められる。異なるＲＦＩＤ装置によって周波数シフトを変えることは、同時の複数のＲＦＩＤ装置の試験を促進し得る。
【００４８】
さらに、ＲＦＩＤ装置試験器１０は複数部分を有し得て、たとえば誘電性要素６０および／または導電性要素６２が試験器１０の他の部分と分離していることが認められるであろう。
【００４９】
ＲＦＩＤ装置試験器１０の試験器動作周波数は選択され得て、試験されるＲＦＩＤ装置１２を活性化する十分なエネルギーを提供し、他のＲＦＩＤ装置に実質的なエネルギー量を提供するのを回避し、さもなければ他のＲＦＩＤ装置は試験結果に干渉する信号を生成し得る。上記の考察で提示されたように、試験器動作周波数はアンテナ３０の固有共振周波数と異なり得、そして／またはアンテナ３０の新しい共振周波数（ＲＦＩＤ装置試験器１０に近接であるためにシフトしたアンテナ３０の共振周波数）と実質的に同じであり得る。
【００５０】
代替として、試験器動作周波数は、試験器１０とＲＦＩＤ装置１２を動作可能に結合するために適切なＲＦ周波数の広範囲から選択され得る。利用されたＲＦ周波数は、アンテナの固有周波数および／または新しいアンテナの共振周波数（ＲＦＩＤ装置１２への試験器１０の近接のためにシフトした）より大きいかまたは小さい可能性がある。しかしながら、新しいアンテナ共振周波数から遠くに離れたＲＦ周波数は不適切であり得る。たとえば、周波数が減少したように任意の結合部分のために容量性パスのインピーダンスが増加するために、適切なＲＦ周波数のより低い制限があり得る。インピーダンスにおけるこの増加によってチップに電力を送るのをより困難にする可能性がある。より低い周波数制限の理由の別の例のように、チップ３２における内部整流器が後に統合フィルターを有し得て、チップ３２を実行するためのＤＣ電源を生成する補助をする。試験器１０から受信する入射ＲＦエネルギーの周波数があまりに低い場合、フィルターは整流器から出力された整流した波形を十分に平らにすることができない可能性がある。結果、チップ３２にとって受け入れられないＤＣ電源であり得る。
【００５１】
また、試験器１０の動作周波数のための適切なＲＦ周波数には、上限があり得る。周波数が増加するにつれ、チップ３２内の整流器効率は低下し、チップ３２を実行するためのＤＣエネルギーに変換される入力エネルギー率が低下する。適切な試験周波数の上限の別の理由は、チップ３２が大きな入力キャパシタンスを有する可能性があることであり、入力キャパシタンスはコンデンサー５０および５２と協働の分圧器として作用する。入力信号の周波数が増すにつれ、その結果、電力をＲＦＩＤ装置１２に結合するのがより困難になる。
【００５２】
特定例に従って、結合要素１６および１８は３ｍｍ×２０ｍｍプレートであり得る。結合要素１６および１８とアンテナ要素３６および３８との間の分離距離は約０．２ｍｍであり得る。中間誘電材料の比誘電率が３と想定すると、コンデンサー５０および５２のそれぞれのキャパシタンスは７．９７ｐＦである。
【００５３】
結合要素１６および１８が図１に示され、対応するアンテナ要素３６および３８とほぼ同じサイズである。しかしながら、結合要素１６および１８はアンテナ要素３６および３８（たとえば図２に示される）より大きいかまたは小さい可能性があることが認められるであろう。
【００５４】
ＲＦＩＤ装置試験器１０は、すでに示され、記載されたものに加えて他の構成部分を有する可能性がある。たとえば、出力ＡＣ電力信号は、互いに１８０度位相が不一致な伝送ライン５６および５８に沿って信号を送信することを含み得る。バランス伝送は位相不一致のＲＦ信号を生成するために利用され得る。
【００５５】
別の例のように、ＲＦＩＤ装置試験器１０は、読み取り装置１４と伝送ライン５６および５８との間にマッチング回路を有し得る。マッチング回路は、読み取り装置１４から伝送ライン５６および５８に伝送された信号のインピーダンスを変えるために利用され得る。たとえば、読み取り装置１４の特性インピーダンスはおよそ５０オームであり得る一方、伝送ライン５６および５８によって設定されたフィールドの望ましいインピーダンスは２００オームであり得る。マッチング回路は読み取り装置１４からの信号のインピーダンスを伝送ライン５６および５８にとっての望ましいインピーダンスにシフトするために用いられ得る。
【００５６】
図６はＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の代替の相対的な方向づけを示し、ＲＦＩＤ装置１２は図１および２と上記の方向づけと比べると反転している。図６に示される構成において、ＲＦＩＤ装置１２の誘電基板４０の部分はコンデンサー５０および５２の誘電体として作用する。ＲＦＩＤ装置試験器１０の誘電層２０（図１）はこのように略され得る。
【００５７】
さらなる代替として、コンデンサー５０および５２の誘電体としてエアギャップが用いられ得ることが認められるであろう。ＲＦＩＤ装置試験器１０および／またはＲＦＩＤ装置１２は構成または他の要素を持ち得て、ＲＦＩＤ装置試験器１０の結合要素１６および１８とＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８との間の再現可能なエアギャップを維持する。
【００５８】
図７を説明すると、ＲＦＩＤ装置試験器１０はロールツーロールプロセスで利用され得て、ロール材料７０の複数部分またはそのロール材料７０上にある複数のＲＦＩＤ装置１２を試験する。試験器１０は、位置で固定され得て、さまざまなＲＦＩＤ装置１２は、試験器１０を通り過ぎるにつれて一度に１つずつ試験される。ロール材料７０は適切に駆動され得て試験器１０を通ったＲＦＩＤ装置１２を動かす。ＲＦＩＤ装置１２は試験器１０を通って連続的に動いている可能性があるのか、または代わりに、それぞれのＲＦＩＤ装置１２はＲＦＩＤ装置試験器１０の下を通るにつれて試験される休止をとる可能性がある。さまざまなＲＦＩＤ装置の試験結果を記録するためにおよび装置が試験結果と調和するように、ＲＦＩＤ装置試験器１０はコンピュータまたは他の装置と結合し得る。
【００５９】
図７に示されるロールツーロールプロセスは、ＲＦＩＤ装置を組み立てるためのより大きなロールツーロールプロセスの一部であり得るかまたは動作可能に結合し得る。ＲＦＩＤ装置を生成するためのロールツーロール組立て法は多くの周知のステップを含み得ると認められるであろう。ステップとはたとえばさまざまな層を堆積するステップ（たとえば、接着層、金属層、および／またはプリント可能な層）、層を修正するステップ（たとえば、金属層の部分を選択的に取り除き、アンテナを作り出す）、および／またはさまざまな構成成分を堆積するステップ（たとえば、チップ）などである。ＲＦＩＤ装置のためのロールツーロール組み立て法に関するさらなる詳細は米国特許第６，４５１，１５４号に見られ得る。この特許は、完全にここに援用される。
【００６０】
ＲＦＩＤ装置試験器１０のための別の代替の構成が図８に示され、結合要素１６および１８と結合要素１６および１８をカバーしている誘電層２０ａおよび２０ｂは、車輪７６および７８の一部である。このように、結合要素１６および１８と誘電層２０ａおよび２０ｂは環状であり得るかまたは輪形であり得る。結合要素１６および１８は読み取り装置１４に結合され得る。それは他の実施形態に関して上記の結合に類似の方法で結合されている。
【００６１】
図８に示されるＲＦＩＤ装置試験器１０は、試験される複数のＲＦＩＤ装置１２を有する静止したシートにロールされ得るかまたは材料のロールにロールされ得る。代替に、ＲＦＩＤ装置試験器１０は、ＲＦＩＤ装置１２のシートまたはロールが動く間、静止状態が維持され得て車輪７６および７８に接触している。装置試験器１０は、試験器１０の結合要素１６および１８とＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８との間の一定距離を有利に維持する援助し得る。
【００６２】
しかしＲＦＩＤ装置試験器１０のための別の代替の構成が図９および１０に示されている。図９に示される試験器１０によってロールツーロールプロセスにおけるＲＦＩＤ装置１２の試験を可能にし、ＲＦＩＤ装置１２は最小時間量で結合要素の対に近接の固定関係にある。ロール材料７０が一定に動いている間でさえ同様である。さらに、図９に示される試験器１０は複数のＲＦＩＤ装置１２の試験を一度に有利に可能にする。
【００６３】
図９に示されるように、試験器１０はローラー８０を含み、ローラー８０はその上または中に複数の結合要素の対１６ａ、１８ａ；１６ｂ、１８ｂ；１６ｃ、１８ｃをローラー８０の外面８２に沿ってまたはその上に有する。ロール材料７０はさまざまなＲＦＩＤ装置１２をその上に有し、ローラー８０に巻きついている。ローラー８０の外面８２はロール材料７０と同じ速度で動き、ロール材料７０がローラー８０に関連して実質的に外れないようにする。ＲＦＩＤ装置１２はこのように一定の結合時間で結合要素１６ｃおよび１８ｃの対応する対に相対的な位置を維持する（ＲＦＩＤ装置１２を有するロール材料７０の部分がローラー８０の外面８２に接触している限りは）。ＲＦＩＤ装置１２はこのように結合時間で結合要素１６ｃおよび１８ｃの対応する対に適切に結合し得る。
【００６４】
ローラー８０およびロール材料７０の回転速度は、結合時間がＲＦＩＤ装置１８の試験が可能となるのに十分なように選択され得る。任意の回転速度でより大きな直径のローラーを用いると結合時間がより長くなることがまた認められるであろう。
【００６５】
さまざまな結合要素１６ａ〜ｃおよび１８ａ〜ｃがロータリージョイント８６を介して複数の出力を有する読み取り装置１４に結合されている。結合要素の対はローラー８０の外面８２の周りに均等な間隔を空けている可能性があり、間隔はロール材料７０上のＲＦＩＤ装置１２の間隔に対応している。ローラー８０の上に複数の結合要素の組を有することで、同時に複数のＲＦＩＤ装置１２の試験を可能にし得て、有利に試験プロセスの速度を増す。
【００６６】
図１０を説明すると、ロール材料７０は供給ロール９０からテイクアップロール９２に動く可能性がある。ローラー９６および９８はローラー８０と協働で用いられ得てローラー８０に対するロール材料７０の一部を維持する。ロール材料７０は１つ以上の適切なモーターによって供給ロール９０からテイクアップロール９２に動く得る。モーターは１つ以上のローラー８０、９６、９８および／または１つまたは両方のロール９０および９２を駆動する。
【００６７】
ロール（９０および９２）とローラー（８０、９６および９２）の構成は図１０に示され、他のローラー、機構および／または装置を含み得る非常にさまざまな適切な構成の１つを示している。
【００６８】
図９において用いられる構成におけるＲＦＩＤ試験器は結合要素１６ａ〜ｃ、１８ａ〜ｃの一部としてコイルを用い得て、このように高周波数装置ではないＲＦＩＤ装置を試験し得ることが認められるであろう。たとえば、試験器は１３．５６ＭＨｚＲＦＩＤ装置を試験するために構成され得る。このように、結合要素１６ａ〜ｃ、１８ａ〜ｃの対の間での結合は容量性であり得るかまたは代替に別の適切な機構であり得る。
【００６９】
ＲＦＩＤ装置試験器１０のさまざまな実施形態はまた読み取り装置として用いられ得て、ＲＦＩＤ装置１２の存在を検知するか、さもなければＲＦＩＤ装置１２から情報を受信することが認められる。
【００７０】
上記のような容量的な結合ＲＦＩＤ装置試験器／読み取り装置は、さまざまな適切な構成を有し得るとさらに認められるであろう。たとえば、ＲＦＩＤ装置試験器／読み取り装置は、試験されるか読み取られるＲＦＩＤ装置を受信するために、または接続されているか結合されているＲＦＩＤ装置を有する対象を受信するために、適切に形づくられたスロットまたは他の開口を有し得る。
【００７１】
上記されているように、ＲＦＩＤ装置はタグまたはラベルの一部であり得る。たとえば、ＲＦＩＤ装置はＲＦＩＤストラップであり得る。ＲＦＩＤストラップは従来のアンテナのような機能をしない導電性リードに接続しているチップを有する。例はＡｌｉｅｎ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓから利用可能なＲＦＩＤストラップを含み、Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓから利用可能なストラップはＩ−ＣＯＮＮＥＣＴという名で市場に出ている。このように試験器のさまざまな実施形態は、ＲＦＩＤストラップの導電性リードに近接に設置されるＲＦＩＤ試験器の誘電性要素を用いてＲＦＩＤストラップのロールの試験での使用に適し得る。
【００７２】
図１１および１２においてＲＦＩＤ装置試験システム１１０の実施形態が示されている。ＲＦＩＤ装置試験システム１１０は、ＲＦ試験器１２０および試験装置１２４を含む。試験装置１２４は、試験装置１２４に近接の共振周波数またはＲＦＩＤ装置１２の最適な試験周波数をシフトするためまたは変化するためのシフト要素１２６を含む。シフト要素１２６は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８の効率的な長さを減少するために誘電要素１２８ａおよび１２８ｂ（図１１）を含み得る。代替に、シフト要素１２６は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８の効率的な長さを増すために導電性要素１３０ａおよび１３０ｂ（図１２）を含み得る。このように、試験装置１２４は、図４および５に示され、上記されたＲＦＩＤ装置試験器１０に類似の方法で、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な試験周波数をシフトし得る。この共振周波数または最適な試験周波数のシフトはローカライズされ得て、ＲＦＩＤ装置のロールまたはシート１３４の上の単一なＲＦＩＤ装置１２に実質的に制限され得る。このように、実質的な他の同一なＲＦＩＤ装置に近接であるにもかかわらず、試験装置１２４によってＲＦＩＤ装置が特に試験されるのを可能にし得る。
【００７３】
ＲＦ試験器１２０は、比較的長距離のＲＦフィールドの生成およびフィールド内のＲＦＩＤ装置の存在のために発生するＲＦフィールドにおける変化の検知を通して、ＲＦＩＤ装置を読み取るための従来的なＲＦ読み取り装置であり得る。適切なＲＦ読み取り装置に関するさらなる情報は米国特許第５，６２１，１９９号および６，１７２，６０９号で見られ得て、両特許とも完全にここに援用される。
【００７４】
試験装置１２４におけるＲＦＩＤ装置１２のシフトした共振周波数および最適な試験周波数に対応する周波数においてＲＦ読み取り装置１２０にエネルギーを放出させることでＲＦＩＤ装置１２は試験され得る。この周波数は、ロールまたはシート１３４上の他のＲＦＩＤ装置の固有共振周波数と異なるので、ＲＦ試験器１２０との実質的な結合は試験される単一のＲＦＩＤ装置１２に制限され得る。試験後、シートまたはロール１３４は試験装置１２４に関連してシフトされ得て、別のＲＦＩＤ装置の試験を可能にする。このように、長距離の非容量性結合が用いられ得て、そのような装置のシートまたはロール上の各々のＲＦＩＤ装置に結合する。
【００７５】
図１１および１２に示されるＲＦＩＤ装置試験システム１１０は、ＲＦＩＤ装置試験器１０に記載されたさまざまな修正に類似の方法で適切に修正され得ることが認められるであろう。たとえば、試験装置１２４はローラーに組み込まれ得て、ロールツーロールプロセスの一部としてＲＦＩＤ装置試験システム１１０を促進する。
【００７６】
図１３および１４は、ＲＦＩＤ装置のウェブ２０２またはインレー（ｉｎｌａｙ）２０４を試験するためのＲＦＩＤ装置試験システム２００の一例を示す。試験システム２００は、ウェブ２０２がテストシステム２００を通るときにＲＦＩＤ装置２０４の行の位置を検知するために近接センサー２１０を含む。近接センサー２１０は、ウェブ２０２上の電気的に電導性材料の存在を検知する１つ以上の要素を含み、それによってＲＦＩＤ装置２０４を検知する。
【００７７】
試験システム２００はまた、ずらし（ｓｔａｇｇｅｒｅｄ）配置にあるいくつかの試験器２１２および試験をしないＲＦＩＤ装置２０４をマークするためのいくつかのマーカー２１４を含む。試験器２１２はそれぞれのＲＦＩＤ装置２０４において性能試験を実行する。試験器２１２は上記のような容量性結合を利用し得る。
【００７８】
試験器２１２が交互であることで、さまざまな試験器２１２の間を干渉することなく各々のＲＦＩＤ装置２０４を試験するのに十分な空間がある。交互に行（たとえば）に設置するのではなく、試験器２１２をずらし配置に設置することにより、試験器２１２は互いの距離を離し、互いの操作的分離を促進する。さらに、試験器２１２のずらし配置によって、さまざまな試験器２１２によって試験のずらしタイミングを可能にし得る。隣接する試験器２１２が異なる時間に作動することで、隣接試験器間で干渉する可能性は減少し、試験器２１２の操作的分離をさらに高める。
【００７９】
近接センサー２１０は、ＲＦＩＤ装置２０４のそれぞれの行の立上がりエッジを検知する。近接センサー２１０はトリガーするために試験器２１２に動作可能に結合し、適切なときにはＲＦＩＤ装置２０４を試験するために試験器２１２に結合する。試験器２１２による試験結果はマーカー２１４に利用され、たとえば、認容性パラメーター内で作動を証明しないことで試験しないＲＦＩＤ装置２０４をたとえばマークすることにより、ＲＦＩＤ装置２０４のいくつかを選択的にマークする。試験は、ＲＦＩＤ装置またはインレー２０４の定性試験を含み得る。マーカー２１４は適切なインクジェットマーカーを含み得る。
【００８０】
図１５は試験システム２００の操作的部分の例を示す。近接センサー２１０および試験器２１２は、適切なパソコンなどのコンピュータ２２０を介して、適切な入力／出力カードを用いて、ともに動作可能に結合している。近接センサー２１０は、近接センサーカード２２６に結合している各センサー２２２および２２４の一対を含む。近接センサーカード２２６は近接センサー電源および近接センサー入力／出力を含む。近接センサー２２２および２２４はキーエンスＥＤ−１３０Ｕ近接センサーであり得て、「ａｎｄ」回路でともに結ばれている。適切な近接センサーの別の例は、Ｔｕｒｃｋから利用可能な近接センサーである。近接センサーカード２２６は適切なＲＳ−２３２カードであり得る。
【００８１】
コンピュータ２２０は、試験システム２００の動作を制御する信号を受信および送信する能力のあるさまざまな適切な任意のコンピューティングシステムであり得る。試験器２１２の作動の制御に加えて、コンピュータ２２０は、たとえばＲＦＩＤ装置またはインレーを適合するシリアル番号のログを維持することによって試験結果を記録するなどの他の機能を実行し得る。コンピュータ２２０はその目的を達成するために適切なソフトウエアが提供され得る。
【００８２】
コンピュータはそこにまたはその一部に結合されるさまざまな任意の装置を有し得る。たとえば、コンピュータ２２０はキーボード、マウス、他の装置を含み得て、データの入力を可能にし、および／またはユーザーに操作されるコンピュータの制御を可能にする。コンピュータ２２０は、たとえば試験操作の状態および／または試験結果を示すディスプレイを含み得る。
【００８３】
試験器２１２は適切なスイッチ２３４に結合される試験ダイポール（アンテナ）２３０を含み、スイッチ２３４はコンピュータ２２０に結合される。同軸ケーブルまたは他の適切な導体２３６が用いられ得て、試験ダイポール２３０をスイッチ２３４に結合する。スイッチ２３４はさまざまな試験器２１２を利用して、たとえば、試験ダイポール２３０に沿って信号の送信のタイミングを制御し、試験ダイポール２３０をＲＦＩＤ装置２０４に容量的に結合して、試験のタイミングを制御する。コンピュータ２２０は近接センサー２１０からの情報を用いて試験のタイミングを制御する。それは、試験中ＲＦＩＤ装置２０４が試験ダイポール２３０に関連して適切に設置されていることを確実にし、ＲＦＩＤ装置読み取り装置２３８への出力を制御するためである。
【００８４】
図１５に示される配置によって複数の試験ダイポール２３０は読み取り装置２３８に結合し、単一の読み取り装置を用いて複数の行にある複数のＲＦＩＤ装置２０４の試験を可能にする。図１６において試験システム２００の別の可能な配置が示される。図１６に示される配置において、装置読み取り装置２３８は複数の入力を有し、複数のダイポール２３０に直接に結合されるようにしている。
【００８５】
試験システム２００は毎秒約２００個のＲＦＩＤ装置、つまり５ミリ秒あたり１個のコンピュータ２４０と２４２の対を含み、それぞれはＰＣＩカード２４４と２４６にそれぞれ結合されている。カード２４４と２４６は複数の試験器２１２にそれぞれ結合されている。試験器２１２の適切な選択はＦｅｉｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃから利用可能である。コンピュータ２４０と２４２はまたそれぞれ近接センサー２５０と２５２に結合されている。
【００８６】
図１８はシステム２００の１つの可能なタイミングを示すタイミング図３００である。近接センサー２１０は、ウェブ２０２でインレーの検知を示す入力３０４を登録する。センサー入力３０４は試験ウインドウ３０８を限定する。試験ウインドウ３０８の間、試験器２００はさまざまな動作を実行する：コンピュータ２２０から読み取り装置２３８へのコマンド３１０；読み取り装置２３８からダイポール２３０の１つへの伝送３１４；ＲＦＩＤ装置２０４のインレーからの応答３１８；読み取り装置２３８からコンピュータへの応答の伝送３２２；そして適用可能である場合に、試験をしていないＲＦＩＤ装置をマークするためにコンピュータ２２０からマーカー２１４へ信号を送信する。
【００８７】
一つの特定の実施形態または複数の実施形態に関して発明が示され、記載されてきたが、本明細書および添付の図面を読んで理解したもとで同等の変更および修正が当業者に発生することは明らかである。特に上記の要素（構成成分、組立、装置、構成など）によって実行されたさまざまな機能に関して、そのような要素を記載するのに用いられた用語（「手段」への参照を含む）は、もし代わりに示されていなければ、記載された要素（つまり、機能的に同等）の特定の機能を実行する任意の要素に対応するように意図されている。ここでの例示的実施形態または発明の実施形態で示される機能を実行する開示された構造に構造的に同等でなくともである。さらに、発明の特定の特徴が示された実施形態の複数のうち１つ以上のみの関して上記されてきた可能性があるが、そのような特徴は他の実施形態の他の特徴の１つ以上と組み合わせられる可能性がある。なぜなら任意のまたは特定の適用にとって望ましいく有利である可能性があるからである。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置に容量的に結合しているＲＦＩＤ装置試験器の概略的な側面図である。
【図２】図１のＲＦＩＤ装置試験器およびＲＦＩＤ装置の平面図である。
【図３】図１のＲＦＩＤ装置試験器およびＲＦＩＤ装置の容量的結合を示す回路図である。
【図４】ＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトする、図１のＲＦＩＤ装置試験器の実施形態の複数部分を示す平面図である。
【図５】ＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトする、図１のＲＦＩＤ装置試験器の別の実施形態の複数部分を示す平面図である。
【図６】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置に容量的に結合しているＲＦＩＤ装置試験器の交互の実施形態を示す。
【図７】本発明に従う、ロールツーロールプロセスにおいてＲＦＩＤ装置のロールを試験するＲＦＩＤ装置試験器を示す。
【図８】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験器の別の実施形態を示す図である。
【図９】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験器のまた別の実施形態を示す図である。
【図１０】ロールツーロールプロセスの一部として図９のＲＦＩＤ装置試験器を示す。
【図１１】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験システムの平面図である。
【図１２】本発明に従う、別のＲＦＩＤ装置試験システムの平面図である。
【図１３】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験システムの斜位図である。
【図１４】図１３のシステムの平面図である。
【図１５】ＲＦＩＤ試験システムの一実施形態のブロック図である。
【図１６】ＲＦＩＤ試験システムの別の実施形態のブロック図である。
【図１７】ＲＦＩＤ試験システムのまた別の実施形態のブロック図である。
【図１８】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験システムの動作の一部のタイミング図である。
【技術分野】
【０００１】
本発明はＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）タグおよびラベル検知システムの分野、また、ＲＦＩＤタグおよびラベルの検知と試験に関係する。
【背景技術】
【０００２】
（関連技術）
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）タグおよびラベル（集合的にここでは「装置」と言及される）は、識別コードを有する対象を結びつけるために幅広く用いられる。ＲＦＩＤ装置は一般にアンテナおよびアナログおよび／またはデジタル電子部品の組み合わせを有し、たとえば通信電子、データメモリ、制御論理回路などを含み得る。たとえば、ＲＦＩＤタグは車のセキュリティーロックと協働で用いられ、建物制御へのアクセスや商品および小包の追跡に用いられる。ＲＦＩＤタグおよびラベルのいくつかの例が米国特許第６，１０７，９２０号、６，２０６，２９２号、６，２６２，２９２号に見られ、これらすべては完全にここに援用される。
【０００３】
上記のように、ＲＦＩＤ装置はラベルまたはタグとして一般的に分類される。ＲＦＩＤラベルはＲＦＩＤ装置であり、付着しているか、さもなければ、対象に直接添付されている面を有する。ＲＦＩＤタグは、対照的に、たとえばプラスチックファスナー、ひも、他の固定手段を用いるなどの他の手段によって対象に対して固定されている。
【０００４】
ＲＦＩＤ装置は、電源を含む能動のタグとラベル、および電源を含まない受動のタグとラベルを含む。受動タグの場合、チップからの情報を読み出すために、「基地局」または「読み取り装置」がＲＦＩＤタグまたはラベルに励起信号を送信する。励起信号がタグまたはラベルに電圧を加え、ＲＦＩＤ回路が格納された情報を読み取り装置に伝送し戻す。「読み取り装置」は、ＲＦＩＤタグからの情報を受信しデコードする。一般的に、ＲＦＩＤタグは、個人、パッケージ、商品などを独自に識別するのに十分な情報を保持し伝送する。ＲＦＩＤタグおよびラベルはまた、一度だけ情報が書き込まれ（情報は繰り返し読み出される可能性があるが）、使用中に情報が書き込まれる可能性があるものに関して特徴づけられる。たとえば、ＲＦＩＤタグは統計情報（関連するセンサーによって検知され得る）、論理的記録、状態データなどを格納し得る。
【０００５】
ＲＦＩＤ装置に関する１つの困難点は、製造または組立プロセスの一部としてのそのような装置の動作を試験する必要性である。ＲＦＩＤ装置の組立において、装置は狭い間隔が空けられた材料のシートまたはロールの上に形成され得る。ＲＦＩＤ装置を活性化し、読み出しおよび／または検知する従来的な方法において、無線周波数（ＲＦ）フィールドを比較的長距離に、つまり中間空きスペースを越えて送信するためにアンテナが用いられる。間隔が狭いＲＦＩＤ装置を試験するのにそのような方法が適用される場合、ＲＦフィールドは複数の装置と同時に干渉するので単一のＲＦＩＤ装置を試験するのは困難であり、さまざまなＲＦＩＤ装置は互いに干渉し得る。
【０００６】
さらに、ＲＦＩＤ装置を読み取る喪失原価方法が望ましいことが認められる。
【０００７】
前述から、ＲＦＩＤ装置試験および読み取りの改善が望ましいことであることがこのように認められるであろう。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【０００８】
発明の一局面に従って、試験器から装置に電力を提供するため、また装置から試験器への信号を受信するために、ＲＦＩＤ装置試験器はＲＦＩＤ装置に容量的に結合している。
【０００９】
発明の別の局面に従って、ＲＦＩＤ装置のアンテナの共振周波数以外の周波数における出力電力信号を送信することで、ＲＦＩＤ装置試験器は試験されるＲＦＩＤ装置に電力を提供する。
【００１０】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ装置のアンテナ要素に容量的に結合するために、ＲＦＩＤ装置試験器は導電性結合要素を有する。
【００１１】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ装置試験器は輪状に形づくられた導電性結合要素を有する。
【００１２】
発明の別の局面に従って、それぞれの行に複数の装置を有し、装置の行を有する装置のウェブを試験するために、ＲＦＩＤ装置試験システムはともに動作可能に結合している複数の試験器を有する。発明の実施形態に従って、複数の試験器は、行の方向における線ではなく、ずらし配置にあり得る。
【００１３】
発明のさらなる局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法は、次のステップを含む：１）ＲＦＩＤ装置試験器をＲＦＩＤ装置のアンテナに容量的に結合するステップ；２）ＲＦＩＤ装置試験器からの出力信号を生成するステップ；３）ＲＦＩＤ装置に電力を供給するために出力信号を用いるステップ；４）ＲＦＩＤ装置においてリターン信号を生成するステップ；および試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知するステップ。
【００１４】
発明のまたさらなる局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置試験器は、次のものを含む：読み取り装置；一対の導電性の結合要素；結合要素が読み取り装置にそれぞれ電気的に結合している一対の伝送ライン；および、読み取り装置と結合要素との間の両伝送ラインに結合している抵抗。
【００１５】
発明の別の局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置とＲＦＩＤ装置試験器の組み合わせにおいて、ＲＦＩＤ装置は次のものを含む：一対のアンテナ要素を有するアンテナ；およびアンテナに動作可能に結合しているチップ。ＲＦＩＤ装置試験器は次のものを含む：読み取り装置；および読み取り装置に電気的に結合している一対の導電性の結合要素。アンテナ要素はそれぞれ結合要素に容量的に結合していて、それによって一対のコンデンサーを形成する。
【００１６】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法は、次のステップを含む：固有（ｎａｔｕｎａｌ）共振周波数からシフトした共振周波数の装置の最適な試験周波数をシフトするステップ；および固有共振周波数以外の周波数における装置を読み取るステップ。
【００１７】
発明のまた別の局面に従って、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）ストラップを試験する方法は、次のステップを含む：ＲＦＩＤ装置試験器をＲＦＩＤストラップの導電性リードに容量的に結合するステップ；ＲＦＩＤ装置試験器からの出力信号を生成するステップ；ＲＦＩＤストラップに電力供給するために出力信号を用いるステップ；および、試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知するステップ。
【００１８】
発明のさらなる局面に従って、それぞれが複数のＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含むウェブを試験するための試験システムは次のものを含む：ＲＦＩＤ装置の行を検知するための近接センサー；それぞれの行の複数のＲＦＩＤ装置を試験するために配列された複数の試験器；および、近接センサーと複数の試験器に動作可能に結合しているコンピュータ。コンピュータは近接センサーからの信号を受信し、試験器の動作を制御する。
【００１９】
発明のまたさらなる局面に従って、ＲＦＩＤ装置のウェブを試験する方法で、ウェブはそれぞれが複数のＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含み、その方法は次のステップを含む：近接センサーによってウェブの行の１つを検知するステップ；および近接センサーに動作可能に結合しているそれぞれの試験器を用いて行のＲＦＩＤ装置を試験するステップ。
【００２０】
前述のものおよび関連する後述を達成するために、発明は以下に完全に記載され、請求項において特に指摘される特徴を包含する。以下の記載および添付の図面は、発明の特定の実例的実施形態の詳細を示す。発明の原理が用いられ得るいくつかの方法を除いて、これらの実施形態は表示的である。図面を用いて考慮される場合、発明の以下の詳細な記載から、発明の他の対象、利点、新規性の特徴が明らかになるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
ＲＦＩＤ装置試験器は、読み取り装置を、試験されるＲＦＩＤ装置に容量的に結合させるための結合要素を含む。ＲＦＩＤ装置が適切に動作している場合に、読み取り装置は、ＲＦＩＤ装置によって整流されるおよび／または反射され得る出力ＡＣ電力信号などのような出力信号を送信することによってＲＦＩＤ装置に動力を供給し得る。出力信号は、ＲＦＩＤ装置のアンテナの共振周波数とは異なる周波数を有し得る。ＲＦＩＤ装置試験器における読み取り装置は反射されたおよび／または伝送された信号を検知し、ＲＦＩＤ装置の適切な動作を確認する。ＲＦＩＤ装置試験器はロールツーロールプロセスの一部として用いられ得て、材料のロール上のＲＦＩＤ装置を各々に試験する。近距離容量性結合を利用することにより、複数のＲＦＩＤ装置の同時活性化によって引き起こされる困難さは減少され得るかまたは回避され得る。
【００２２】
最初に図１および図２を説明すると、図示されているのは、ＲＦＩＤ装置試験器１０であって、これはＲＦＩＤ装置１２を試験するためか、さもなければＲＦＩＤ装置１２を読み取るためのものである。試験器は、読み取り装置１４を含み、また、読み取り装置１４に電気的に結合されている一対の結合要素またはカプラー１６および１８である。結合要素１６および１８は導電性要素であり、任意の幅広い適切な構成にある。結合要素１６および１８は誘電性基板層２０の上に設置され得る。さらに、試験器１０は、結合要素１６および１８の間に接続されている終端抵抗または負荷２４を含み得る。以下に詳細が記載されるように、終端抵抗２４は、結合要素１６および１８から読み取り装置１４へ信号の強さを制限する機能を果たし得る。読み取り装置１４に電力を供給するために適切な電源２６が使用され得る。
【００２３】
ＲＦＩＤ装置１２はラベルまたはタグであり得るか、またはラベルまたはタグの一部であり得て、アンテナ３０を有し、チップ３２がアンテナ３０に結合されている。チップ３２はさまざまな任意の適切な電子部品を含み得る。たとえばＲＦＩＤ装置１２のインピーダンスを変調するために上記された回路などである。アンテナ３０は、チップ３２の反対側に一対のアンテナ要素３６および３８を有するダイポール・アンテナであり得る。代替として、アンテナ３０は別のレイアウトを有し得る。アンテナ要素３６および３８はＲＦＩＤ装置１２の誘電性基板４０上に実装され得る。誘電性基板４０は、誘電性材料のロールのような誘電性材料のシートの一部であり得て、その上に他のＲＦＩＤ装置が形成される。他のＲＦＩＤ装置はＲＦＩＤ装置１２と実質的に同じであり得るかまたは代替として異なる可能性がある。特に、誘電性基板は、共に接近して間隔を空けている複数のＲＦＩＤ装置を有し得る。
【００２４】
また、図３を説明すると、ＲＦＩＤ装置試験器１０およびＲＦＩＤ装置１２は容量的に共に結合していて、ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間で電力および／または信号を伝送する。結合要素１６および１８はそれぞれアンテナ要素３６および３８に動作的に結合している。この動作的結合は、ＲＦＩＤ装置試験器の結合要素１６および１８が、図１〜３に示されているように、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８と実質的に反対となるようにＲＦＩＤ装置試験器１０およびＲＦＩＤ装置１２を配置することで生成される。そのような相対的な配置にすると、誘電性基板層２０の部分４６が結合要素１６とアンテナ要素３６の間になり、誘電性基板層２０のもう一つの部分４８は結合要素１８とアンテナ要素３８の間になる。結合要素１６と、アンテナ要素３６と、誘電性部分４６はこのように第１のコンデンサー５０として機能し、結合要素１６およびアンテナ要素３６はコンデンサー５０のプレートとなり、誘電性部分４６はコンデンサー５０の誘電体となる。同様に、結合要素１８と、アンテナ要素３８と、誘電性部分４８は第２のコンデンサー５２として機能する。
【００２５】
ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２が共に一度容量的に結合すると、電力および／または信号は２つの間で伝送され得る。読み取り装置は、出力ＡＣ信号のような出力信号を、結合要素１６および１８を備えて読み取り装置１４に結合する伝送ライン５６および５８に沿って送信し得る。コンデンサー５０および５２によって、結合要素１６および１８からアンテナ要素３６および３８に出力ＡＣ信号を伝送する。アンテナ要素３６および３８から受信されるＡＣ電力はチップ３２によって整流され得る。たとえば、チップ３２の一部であるトランジスタおよび／またはダイオードによって整流され得て、チップ３２を動かすＤＣ電力を生成する。
【００２６】
電力はチップ３２がアンテナ要素３６および３８を介してリターン信号を送信するために用いられ得る。リターン信号の送信は、ＲＦＩＤ装置１２によるリターン信号の能動伝送ではなくて受動プロセスであり得るということが認められるであろう。一例にあるように、チップ３２における回路は、ＲＦＩＤ装置１２のインピーダンスを変調するために用いられ得る。別の例にあるように、ＲＦＩＤ装置１２は試験器１０へ戻される入射（ｉｎｃｉｄｅｎｔ）信号を反射し得る。
【００２７】
ＲＦＩＤ装置１２は、入射信号に自動的に反応する受動装置であり得るか、または確実なプロトコルに適合する入射信号に反応するのみである能動装置であり得ることが認められるであろう。ＲＦＩＤ装置１２はまたその電源のような他の構成要素を有し得る。
【００２８】
ＲＦＩＤ装置１２の機能は、容量的結合ではなく長距離ＲＦフィールドによって入射エネルギーが提供されたような場合と実質的に同じであり得ることがさらに認められるであろう。代替として、ＲＦＩＤ装置１２の機能は、どのように入射エネルギーが提供されたかによって異なり得る。
【００２９】
ＲＦＩＤ装置１２によって生成されるリターン信号は、コンデンサー５０および５２を介してアンテナ要素３６および３８から結合要素１６および１８に伝送される。リターン信号はそれから伝送ライン５６および５８に沿って読み取り装置１４に転送される。終端抵抗２４は過剰な強力な信号が読み取り装置１４に到達し、おそらく読み取り装置１４に損傷を与えるのを防ぐように機能し得る。
【００３０】
読み取り装置１４はＲＦＩＤ装置１２から受信したリターン信号を解釈することができ、アンテナ３０および／またはチップ３２の機能を修正するといった、ＲＦＩＤ装置１２のすべてのまたは一部の適切な機能を確認する。適切な機能の確認は、単にＲＦＩＤ装置１２の存在を検知することを含み得て、ＲＦＩＤ装置１２が検知可能である場合、ＲＦＩＤ装置１２の機能は容認性があり、ＲＦＩＤ装置１２は試験をパスする。代替として、試験は、たとえば、リターン信号が１つ以上のパラメーターまたはパラメーターの範囲に適合するか否かを決定するといった、ＲＦＩＤ装置１２から受信するリターン信号の評価に関与し得る。ＲＦＩＤ装置１２の動作の他の試験が用いられ得ることが認められるであろう。たとえば、ＲＦＩＤ装置１２の欠陥を診断するか、さもなければＲＦＩＤ装置１２の性能を定性的に評価することなどである。
【００３１】
読み取り装置１４によって送信される出力ＡＣ電力信号およびＲＦＩＤ装置１２によって生成されるリターン信号は、明確さのために、一方は読み取り装置１４によって送信され、他方は読み取り装置１４によって受信されるというように別の信号としてこれまで記載されてきた。現実性において、信号は実際、互いに重畳され得、読み取り装置１４が出力信号とリターン信号の重畳を感知することが認められるであろう。それゆえ、読み取り装置１４によるリターン信号の解釈は、出力信号と読み取り装置１４によって感知される出力信号およびリターン信号の重畳との比較に関与し得る。
【００３２】
ＲＦＩＤ装置試験器１０は、ＲＦＩＤ装置１２に容量的に結合し、試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の短距離結合を有利に可能にする。ＲＦＩＤ装置１２は多くのＲＦＩＤ装置を備えるシートまたはロールの一部であり得て、ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の短距離の容量的結合を用いることで、空き容量に送信されたＲＦフィールドを介するＲＦＩＤ装置に結合する試験器と比べて、ＲＦＩＤ装置１２のより良い試験が達成され得る。容量的結合のＲＦＩＤ装置試験器１０の利点の１つは、短距離容量性結合が、同じロールまたはシート上にある他のＲＦＩＤ装置にエネルギーを提供する傾向がより少ないことである。試験されるＲＦＩＤ装置１２以外のＲＦＩＤ装置へのエネルギーの提供を減少または制限することで、試験においてより良い識別が発生し、このようにＲＦＩＤ装置１２の試験が改善される。
【００３３】
試験器１０からの出力信号の周波数を適切に選択することで、試験されるＲＦＩＤ装置１２以外のＲＦＩＤ装置への望ましくない結合がさらに減少され得る。これをさらに説明すると、アンテナ３０の固有共振周波数を次のように考えることは有益である。つまり、アンテナ３０がＲＦフィールド外部からのエネルギーを最大受信する地点における周波数として、また、ＲＦＩＤ装置試験器１０のほぼ近くに設置されていない場合に最大のエネルギーを送信する地点における周波数として考えることである。この固有共振周波数は、アンテナ３０のアンテナインピーダンスがチップ３２のチップインピーダンスの複雑な接合である地点での周波数である。共振周波数は、またここでＲＦＩＤ装置１２の最適動作点または最適試験周波数と言及される。アンテナ３０の共振周波数はアンテナ３０の構成に非常に依存し得ると認められる。
【００３４】
ＲＦＩＤ装置１２に容量的に結合しているＲＦＩＤ装置試験器１０の１つの利点は、ＲＦＩＤ装置試験器１０の読み取り装置１４からの出力電力信号は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０の固有共振周波数とは異なる（ＲＦＩＤ装置１２の固有最適動作点とは異なる）周波数であり得る点である。ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０に固有共振周波数とは異なる周波数における出力電力信号を有することで、より長距離の結合が、試験される望ましいＲＦＩＤ装置１２以外のＲＦＩＤ装置への出力信号の最小にされ得る。なぜならＲＦＩＤ装置のアンテナは、アンテナ３０の共振周波数とは異なる周波数における著しい電力量を受信する感受性が少ないからである。さらに、アンテナ３０の固有共振周波数とは異なる周波数における出力電力信号を有することで、小さなロールまたはシート上のさまざまなＲＦＩＤ装置のさまざまなアンテナ間でのクロスカップリングを減少し得る。
【００３５】
ＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の結合自体、アンテナ３０の共振周波数（最適試験周波数）を変化させる。なぜなら、試験器１０をＲＦＩＤ装置１２の相対的に近くにすることでＲＦＩＤ装置１２周辺の環境を変化させるからである。ＲＦＩＤ装置試験器１０の１つ以上の誘電性要素６０（図１）と１つ以上の電気的に導電性要素６２（図１）は、それにより試験器１０によって、試験されるＲＦＩＤ装置１２に感知されて相互作用する環境に導入され得る。誘電性要素６０および導電性要素６２は「シフト要素」と言及され得る。なぜならＲＦＩＤ装置１２の最適な試験周波数をシフトまたは変化させる機能をするからである。図１に示されるように、誘電性要素６０は誘電性基板層２０を含み得て、導電性要素６２は結合要素１６および１８を含み得る。代替にまたはさらに、他の誘電性要素６０および／または導電性要素６２があり得て、後者は金属製導体を含み得る。位置、サイズおよび／または誘電性要素６０の構成および／または導電性要素６２は、アンテナ３０の共振周波数における望ましいシフトを生成するために選択され得る。
【００３６】
図４および５は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０の共振周波数をシフトするまたは変化させるためのさらなる誘電性要素６０および／または導電性要素６２を有するＲＦＩＤ装置試験器１０の複数部分の実例を示す。図４および５において、図解のために、ＲＦＩＤ装置１２の複数部分は、ＲＦＩＤ装置試験器１０の対応部分とはいくぶんオフセットに示される。
【００３７】
図４は、ＲＦＩＤ装置試験器１０の実施形態の複数部分を示し、ＲＦＩＤ装置試験器１０は結合要素１６および１８の隣にあるさらなる誘電性要素６０ａおよび６０ｂを含む。誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０のアンテナ要素３６および３８の各部分３６ａおよび３８ｂの上または反対に設置される。示されるように、誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、さらにＲＦＩＤ装置１２のチップ３２からであるが、他の適切な構成が利用され得ることが認められる。
【００３８】
誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、アンテナ３０をロードし、アンテナ３０のアンテナ要素３６および３８の効率的な長さを増大する機能をする。効率的な長さを増大することによって、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な試験周波数が減少する。
【００３９】
誘電性要素６０ａおよび６０ｂは、適切なセラミック材料のような高誘電率誘電材料から作られ得る。適切な材料の例として四チタン酸バリウムおよび酸化チタンなどがある。
【００４０】
図５を説明すると、ＲＦＩＤ装置試験器１０の実施形態の複数部分が示され、さらなる電気的に導電性要素６２ａおよび６２ｂを有する。導電性要素６２ａおよび６２ｂは結合要素１６および１８と分離していて、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ３０のアンテナ要素３６および３８のほぼ近くである。導電要素６２ａおよび６２ｂはアンテナ要素３６および３８に容量的に結合していて、アンテナ要素の効率的な長さを増大する。それによってＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な動作点は減少する。
【００４１】
図５における導電性要素６２ａおよび６２ｂの構成の結果、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な動作点は減少するが、ＲＦＩＤ装置１２に相対的な導電性要素６２ａおよび６２ｂを異なって構成することで、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な動作点が増大する結果になり得ることが認められるであろう。
【００４２】
誘電性要素６０または導電性要素６２によって引き起こされる共振周波数または最適な動作点におけるシフトはローカライズされ、誘電性要素６０ａ、６０ｂおよび／または導電性要素６２ａ、６２ｂは単一のＲＦＩＤ装置１２のみの周波数をシフトするように構成され得る一方で、隣接のＲＦＩＤ装置の最適な動作点が大きく影響を受けないようにする。
【００４３】
誘電性要素６０ａおよび６０ｂと導電性要素６２ａおよび６２ｂの数および構成は変化し得て、選択されたアンテナ構成および／または望ましい試験周波数などのために最適化され得ることが認められるであろう。
【００４４】
アンテナ３０の共振周波数におけるシフトは、ＲＦＩＤ装置１２とＲＦＩＤ装置試験器１０を結合させることによって引き起こされ、近くにあり得る他のＲＦＩＤ装置からＲＦＩＤ装置１２を動作可能に分離する補助をし得る。動作可能にＲＦＩＤ装置１２を分離することで、現在試験されていない他のＲＦＩＤ装置を活性化するかまたはそれに干渉されるために、望ましくない結果に遭遇することなく、ＲＦＩＤ装置１２を試験するのがより容易であり得る。試験されるＲＦＩＤ装置１２は他のＲＦＩＤ装置よりも誘電性要素６０および導電性要素６２の近くにあり得るので、試験されるＲＦＩＤ装置１２の共振周波数シフトと比較する場合、他のＲＦＩＤ装置の共振周波数シフトは、実質的に、大きさが減少され得るかまたは全体が無効にされ得る。別の見方をすると、誘電性要素６０および／または導電性要素６２によって引き起こされる共振周波数におけるシフトは、実質的にまたは主に、試験されるＲＦＩＤ装置１２である単一のＲＦＩＤ装置に制限され得る。
【００４５】
例として、誘電性要素６０および／または導電性要素６２は適切に構成され得て、９１５ＭＨｚの最適な試験周波数を有するアンテナを２４５０ＭＨｚの最適な試験周波数にシフトさせるようにする。
【００４６】
しかし上記のＲＦＩＤ装置１２の最適な試験周波数のシフトの概念は広義概念の一例であることが認められるであろう。より広義には、１つ以上のＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトし、それからＲＦＩＤ装置を試験することで、試験は達成され得る。試験される装置は、最適な試験周波数がシフトした１つ以上のＲＦＩＤ装置であり得る（上記のように）。代替として、シフトしていない周波数（標準、典型的、通常周波数）を有する１つ以上の装置において試験が実行され得て、他の試験されていないＲＦＩＤ装置はシフトされた周波数を有する。
【００４７】
異なる最適な試験周波数シフトが試験される異なるＲＦＩＤ装置に提供され得ることがさらに認められる。異なるＲＦＩＤ装置によって周波数シフトを変えることは、同時の複数のＲＦＩＤ装置の試験を促進し得る。
【００４８】
さらに、ＲＦＩＤ装置試験器１０は複数部分を有し得て、たとえば誘電性要素６０および／または導電性要素６２が試験器１０の他の部分と分離していることが認められるであろう。
【００４９】
ＲＦＩＤ装置試験器１０の試験器動作周波数は選択され得て、試験されるＲＦＩＤ装置１２を活性化する十分なエネルギーを提供し、他のＲＦＩＤ装置に実質的なエネルギー量を提供するのを回避し、さもなければ他のＲＦＩＤ装置は試験結果に干渉する信号を生成し得る。上記の考察で提示されたように、試験器動作周波数はアンテナ３０の固有共振周波数と異なり得、そして／またはアンテナ３０の新しい共振周波数（ＲＦＩＤ装置試験器１０に近接であるためにシフトしたアンテナ３０の共振周波数）と実質的に同じであり得る。
【００５０】
代替として、試験器動作周波数は、試験器１０とＲＦＩＤ装置１２を動作可能に結合するために適切なＲＦ周波数の広範囲から選択され得る。利用されたＲＦ周波数は、アンテナの固有周波数および／または新しいアンテナの共振周波数（ＲＦＩＤ装置１２への試験器１０の近接のためにシフトした）より大きいかまたは小さい可能性がある。しかしながら、新しいアンテナ共振周波数から遠くに離れたＲＦ周波数は不適切であり得る。たとえば、周波数が減少したように任意の結合部分のために容量性パスのインピーダンスが増加するために、適切なＲＦ周波数のより低い制限があり得る。インピーダンスにおけるこの増加によってチップに電力を送るのをより困難にする可能性がある。より低い周波数制限の理由の別の例のように、チップ３２における内部整流器が後に統合フィルターを有し得て、チップ３２を実行するためのＤＣ電源を生成する補助をする。試験器１０から受信する入射ＲＦエネルギーの周波数があまりに低い場合、フィルターは整流器から出力された整流した波形を十分に平らにすることができない可能性がある。結果、チップ３２にとって受け入れられないＤＣ電源であり得る。
【００５１】
また、試験器１０の動作周波数のための適切なＲＦ周波数には、上限があり得る。周波数が増加するにつれ、チップ３２内の整流器効率は低下し、チップ３２を実行するためのＤＣエネルギーに変換される入力エネルギー率が低下する。適切な試験周波数の上限の別の理由は、チップ３２が大きな入力キャパシタンスを有する可能性があることであり、入力キャパシタンスはコンデンサー５０および５２と協働の分圧器として作用する。入力信号の周波数が増すにつれ、その結果、電力をＲＦＩＤ装置１２に結合するのがより困難になる。
【００５２】
特定例に従って、結合要素１６および１８は３ｍｍ×２０ｍｍプレートであり得る。結合要素１６および１８とアンテナ要素３６および３８との間の分離距離は約０．２ｍｍであり得る。中間誘電材料の比誘電率が３と想定すると、コンデンサー５０および５２のそれぞれのキャパシタンスは７．９７ｐＦである。
【００５３】
結合要素１６および１８が図１に示され、対応するアンテナ要素３６および３８とほぼ同じサイズである。しかしながら、結合要素１６および１８はアンテナ要素３６および３８（たとえば図２に示される）より大きいかまたは小さい可能性があることが認められるであろう。
【００５４】
ＲＦＩＤ装置試験器１０は、すでに示され、記載されたものに加えて他の構成部分を有する可能性がある。たとえば、出力ＡＣ電力信号は、互いに１８０度位相が不一致な伝送ライン５６および５８に沿って信号を送信することを含み得る。バランス伝送は位相不一致のＲＦ信号を生成するために利用され得る。
【００５５】
別の例のように、ＲＦＩＤ装置試験器１０は、読み取り装置１４と伝送ライン５６および５８との間にマッチング回路を有し得る。マッチング回路は、読み取り装置１４から伝送ライン５６および５８に伝送された信号のインピーダンスを変えるために利用され得る。たとえば、読み取り装置１４の特性インピーダンスはおよそ５０オームであり得る一方、伝送ライン５６および５８によって設定されたフィールドの望ましいインピーダンスは２００オームであり得る。マッチング回路は読み取り装置１４からの信号のインピーダンスを伝送ライン５６および５８にとっての望ましいインピーダンスにシフトするために用いられ得る。
【００５６】
図６はＲＦＩＤ装置試験器１０とＲＦＩＤ装置１２との間の代替の相対的な方向づけを示し、ＲＦＩＤ装置１２は図１および２と上記の方向づけと比べると反転している。図６に示される構成において、ＲＦＩＤ装置１２の誘電基板４０の部分はコンデンサー５０および５２の誘電体として作用する。ＲＦＩＤ装置試験器１０の誘電層２０（図１）はこのように略され得る。
【００５７】
さらなる代替として、コンデンサー５０および５２の誘電体としてエアギャップが用いられ得ることが認められるであろう。ＲＦＩＤ装置試験器１０および／またはＲＦＩＤ装置１２は構成または他の要素を持ち得て、ＲＦＩＤ装置試験器１０の結合要素１６および１８とＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８との間の再現可能なエアギャップを維持する。
【００５８】
図７を説明すると、ＲＦＩＤ装置試験器１０はロールツーロールプロセスで利用され得て、ロール材料７０の複数部分またはそのロール材料７０上にある複数のＲＦＩＤ装置１２を試験する。試験器１０は、位置で固定され得て、さまざまなＲＦＩＤ装置１２は、試験器１０を通り過ぎるにつれて一度に１つずつ試験される。ロール材料７０は適切に駆動され得て試験器１０を通ったＲＦＩＤ装置１２を動かす。ＲＦＩＤ装置１２は試験器１０を通って連続的に動いている可能性があるのか、または代わりに、それぞれのＲＦＩＤ装置１２はＲＦＩＤ装置試験器１０の下を通るにつれて試験される休止をとる可能性がある。さまざまなＲＦＩＤ装置の試験結果を記録するためにおよび装置が試験結果と調和するように、ＲＦＩＤ装置試験器１０はコンピュータまたは他の装置と結合し得る。
【００５９】
図７に示されるロールツーロールプロセスは、ＲＦＩＤ装置を組み立てるためのより大きなロールツーロールプロセスの一部であり得るかまたは動作可能に結合し得る。ＲＦＩＤ装置を生成するためのロールツーロール組立て法は多くの周知のステップを含み得ると認められるであろう。ステップとはたとえばさまざまな層を堆積するステップ（たとえば、接着層、金属層、および／またはプリント可能な層）、層を修正するステップ（たとえば、金属層の部分を選択的に取り除き、アンテナを作り出す）、および／またはさまざまな構成成分を堆積するステップ（たとえば、チップ）などである。ＲＦＩＤ装置のためのロールツーロール組み立て法に関するさらなる詳細は米国特許第６，４５１，１５４号に見られ得る。この特許は、完全にここに援用される。
【００６０】
ＲＦＩＤ装置試験器１０のための別の代替の構成が図８に示され、結合要素１６および１８と結合要素１６および１８をカバーしている誘電層２０ａおよび２０ｂは、車輪７６および７８の一部である。このように、結合要素１６および１８と誘電層２０ａおよび２０ｂは環状であり得るかまたは輪形であり得る。結合要素１６および１８は読み取り装置１４に結合され得る。それは他の実施形態に関して上記の結合に類似の方法で結合されている。
【００６１】
図８に示されるＲＦＩＤ装置試験器１０は、試験される複数のＲＦＩＤ装置１２を有する静止したシートにロールされ得るかまたは材料のロールにロールされ得る。代替に、ＲＦＩＤ装置試験器１０は、ＲＦＩＤ装置１２のシートまたはロールが動く間、静止状態が維持され得て車輪７６および７８に接触している。装置試験器１０は、試験器１０の結合要素１６および１８とＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８との間の一定距離を有利に維持する援助し得る。
【００６２】
しかしＲＦＩＤ装置試験器１０のための別の代替の構成が図９および１０に示されている。図９に示される試験器１０によってロールツーロールプロセスにおけるＲＦＩＤ装置１２の試験を可能にし、ＲＦＩＤ装置１２は最小時間量で結合要素の対に近接の固定関係にある。ロール材料７０が一定に動いている間でさえ同様である。さらに、図９に示される試験器１０は複数のＲＦＩＤ装置１２の試験を一度に有利に可能にする。
【００６３】
図９に示されるように、試験器１０はローラー８０を含み、ローラー８０はその上または中に複数の結合要素の対１６ａ、１８ａ；１６ｂ、１８ｂ；１６ｃ、１８ｃをローラー８０の外面８２に沿ってまたはその上に有する。ロール材料７０はさまざまなＲＦＩＤ装置１２をその上に有し、ローラー８０に巻きついている。ローラー８０の外面８２はロール材料７０と同じ速度で動き、ロール材料７０がローラー８０に関連して実質的に外れないようにする。ＲＦＩＤ装置１２はこのように一定の結合時間で結合要素１６ｃおよび１８ｃの対応する対に相対的な位置を維持する（ＲＦＩＤ装置１２を有するロール材料７０の部分がローラー８０の外面８２に接触している限りは）。ＲＦＩＤ装置１２はこのように結合時間で結合要素１６ｃおよび１８ｃの対応する対に適切に結合し得る。
【００６４】
ローラー８０およびロール材料７０の回転速度は、結合時間がＲＦＩＤ装置１８の試験が可能となるのに十分なように選択され得る。任意の回転速度でより大きな直径のローラーを用いると結合時間がより長くなることがまた認められるであろう。
【００６５】
さまざまな結合要素１６ａ〜ｃおよび１８ａ〜ｃがロータリージョイント８６を介して複数の出力を有する読み取り装置１４に結合されている。結合要素の対はローラー８０の外面８２の周りに均等な間隔を空けている可能性があり、間隔はロール材料７０上のＲＦＩＤ装置１２の間隔に対応している。ローラー８０の上に複数の結合要素の組を有することで、同時に複数のＲＦＩＤ装置１２の試験を可能にし得て、有利に試験プロセスの速度を増す。
【００６６】
図１０を説明すると、ロール材料７０は供給ロール９０からテイクアップロール９２に動く可能性がある。ローラー９６および９８はローラー８０と協働で用いられ得てローラー８０に対するロール材料７０の一部を維持する。ロール材料７０は１つ以上の適切なモーターによって供給ロール９０からテイクアップロール９２に動く得る。モーターは１つ以上のローラー８０、９６、９８および／または１つまたは両方のロール９０および９２を駆動する。
【００６７】
ロール（９０および９２）とローラー（８０、９６および９２）の構成は図１０に示され、他のローラー、機構および／または装置を含み得る非常にさまざまな適切な構成の１つを示している。
【００６８】
図９において用いられる構成におけるＲＦＩＤ試験器は結合要素１６ａ〜ｃ、１８ａ〜ｃの一部としてコイルを用い得て、このように高周波数装置ではないＲＦＩＤ装置を試験し得ることが認められるであろう。たとえば、試験器は１３．５６ＭＨｚＲＦＩＤ装置を試験するために構成され得る。このように、結合要素１６ａ〜ｃ、１８ａ〜ｃの対の間での結合は容量性であり得るかまたは代替に別の適切な機構であり得る。
【００６９】
ＲＦＩＤ装置試験器１０のさまざまな実施形態はまた読み取り装置として用いられ得て、ＲＦＩＤ装置１２の存在を検知するか、さもなければＲＦＩＤ装置１２から情報を受信することが認められる。
【００７０】
上記のような容量的な結合ＲＦＩＤ装置試験器／読み取り装置は、さまざまな適切な構成を有し得るとさらに認められるであろう。たとえば、ＲＦＩＤ装置試験器／読み取り装置は、試験されるか読み取られるＲＦＩＤ装置を受信するために、または接続されているか結合されているＲＦＩＤ装置を有する対象を受信するために、適切に形づくられたスロットまたは他の開口を有し得る。
【００７１】
上記されているように、ＲＦＩＤ装置はタグまたはラベルの一部であり得る。たとえば、ＲＦＩＤ装置はＲＦＩＤストラップであり得る。ＲＦＩＤストラップは従来のアンテナのような機能をしない導電性リードに接続しているチップを有する。例はＡｌｉｅｎ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓから利用可能なＲＦＩＤストラップを含み、Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓから利用可能なストラップはＩ−ＣＯＮＮＥＣＴという名で市場に出ている。このように試験器のさまざまな実施形態は、ＲＦＩＤストラップの導電性リードに近接に設置されるＲＦＩＤ試験器の誘電性要素を用いてＲＦＩＤストラップのロールの試験での使用に適し得る。
【００７２】
図１１および１２においてＲＦＩＤ装置試験システム１１０の実施形態が示されている。ＲＦＩＤ装置試験システム１１０は、ＲＦ試験器１２０および試験装置１２４を含む。試験装置１２４は、試験装置１２４に近接の共振周波数またはＲＦＩＤ装置１２の最適な試験周波数をシフトするためまたは変化するためのシフト要素１２６を含む。シフト要素１２６は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８の効率的な長さを減少するために誘電要素１２８ａおよび１２８ｂ（図１１）を含み得る。代替に、シフト要素１２６は、ＲＦＩＤ装置１２のアンテナ要素３６および３８の効率的な長さを増すために導電性要素１３０ａおよび１３０ｂ（図１２）を含み得る。このように、試験装置１２４は、図４および５に示され、上記されたＲＦＩＤ装置試験器１０に類似の方法で、ＲＦＩＤ装置１２の共振周波数または最適な試験周波数をシフトし得る。この共振周波数または最適な試験周波数のシフトはローカライズされ得て、ＲＦＩＤ装置のロールまたはシート１３４の上の単一なＲＦＩＤ装置１２に実質的に制限され得る。このように、実質的な他の同一なＲＦＩＤ装置に近接であるにもかかわらず、試験装置１２４によってＲＦＩＤ装置が特に試験されるのを可能にし得る。
【００７３】
ＲＦ試験器１２０は、比較的長距離のＲＦフィールドの生成およびフィールド内のＲＦＩＤ装置の存在のために発生するＲＦフィールドにおける変化の検知を通して、ＲＦＩＤ装置を読み取るための従来的なＲＦ読み取り装置であり得る。適切なＲＦ読み取り装置に関するさらなる情報は米国特許第５，６２１，１９９号および６，１７２，６０９号で見られ得て、両特許とも完全にここに援用される。
【００７４】
試験装置１２４におけるＲＦＩＤ装置１２のシフトした共振周波数および最適な試験周波数に対応する周波数においてＲＦ読み取り装置１２０にエネルギーを放出させることでＲＦＩＤ装置１２は試験され得る。この周波数は、ロールまたはシート１３４上の他のＲＦＩＤ装置の固有共振周波数と異なるので、ＲＦ試験器１２０との実質的な結合は試験される単一のＲＦＩＤ装置１２に制限され得る。試験後、シートまたはロール１３４は試験装置１２４に関連してシフトされ得て、別のＲＦＩＤ装置の試験を可能にする。このように、長距離の非容量性結合が用いられ得て、そのような装置のシートまたはロール上の各々のＲＦＩＤ装置に結合する。
【００７５】
図１１および１２に示されるＲＦＩＤ装置試験システム１１０は、ＲＦＩＤ装置試験器１０に記載されたさまざまな修正に類似の方法で適切に修正され得ることが認められるであろう。たとえば、試験装置１２４はローラーに組み込まれ得て、ロールツーロールプロセスの一部としてＲＦＩＤ装置試験システム１１０を促進する。
【００７６】
図１３および１４は、ＲＦＩＤ装置のウェブ２０２またはインレー（ｉｎｌａｙ）２０４を試験するためのＲＦＩＤ装置試験システム２００の一例を示す。試験システム２００は、ウェブ２０２がテストシステム２００を通るときにＲＦＩＤ装置２０４の行の位置を検知するために近接センサー２１０を含む。近接センサー２１０は、ウェブ２０２上の電気的に電導性材料の存在を検知する１つ以上の要素を含み、それによってＲＦＩＤ装置２０４を検知する。
【００７７】
試験システム２００はまた、ずらし（ｓｔａｇｇｅｒｅｄ）配置にあるいくつかの試験器２１２および試験をしないＲＦＩＤ装置２０４をマークするためのいくつかのマーカー２１４を含む。試験器２１２はそれぞれのＲＦＩＤ装置２０４において性能試験を実行する。試験器２１２は上記のような容量性結合を利用し得る。
【００７８】
試験器２１２が交互であることで、さまざまな試験器２１２の間を干渉することなく各々のＲＦＩＤ装置２０４を試験するのに十分な空間がある。交互に行（たとえば）に設置するのではなく、試験器２１２をずらし配置に設置することにより、試験器２１２は互いの距離を離し、互いの操作的分離を促進する。さらに、試験器２１２のずらし配置によって、さまざまな試験器２１２によって試験のずらしタイミングを可能にし得る。隣接する試験器２１２が異なる時間に作動することで、隣接試験器間で干渉する可能性は減少し、試験器２１２の操作的分離をさらに高める。
【００７９】
近接センサー２１０は、ＲＦＩＤ装置２０４のそれぞれの行の立上がりエッジを検知する。近接センサー２１０はトリガーするために試験器２１２に動作可能に結合し、適切なときにはＲＦＩＤ装置２０４を試験するために試験器２１２に結合する。試験器２１２による試験結果はマーカー２１４に利用され、たとえば、認容性パラメーター内で作動を証明しないことで試験しないＲＦＩＤ装置２０４をたとえばマークすることにより、ＲＦＩＤ装置２０４のいくつかを選択的にマークする。試験は、ＲＦＩＤ装置またはインレー２０４の定性試験を含み得る。マーカー２１４は適切なインクジェットマーカーを含み得る。
【００８０】
図１５は試験システム２００の操作的部分の例を示す。近接センサー２１０および試験器２１２は、適切なパソコンなどのコンピュータ２２０を介して、適切な入力／出力カードを用いて、ともに動作可能に結合している。近接センサー２１０は、近接センサーカード２２６に結合している各センサー２２２および２２４の一対を含む。近接センサーカード２２６は近接センサー電源および近接センサー入力／出力を含む。近接センサー２２２および２２４はキーエンスＥＤ−１３０Ｕ近接センサーであり得て、「ａｎｄ」回路でともに結ばれている。適切な近接センサーの別の例は、Ｔｕｒｃｋから利用可能な近接センサーである。近接センサーカード２２６は適切なＲＳ−２３２カードであり得る。
【００８１】
コンピュータ２２０は、試験システム２００の動作を制御する信号を受信および送信する能力のあるさまざまな適切な任意のコンピューティングシステムであり得る。試験器２１２の作動の制御に加えて、コンピュータ２２０は、たとえばＲＦＩＤ装置またはインレーを適合するシリアル番号のログを維持することによって試験結果を記録するなどの他の機能を実行し得る。コンピュータ２２０はその目的を達成するために適切なソフトウエアが提供され得る。
【００８２】
コンピュータはそこにまたはその一部に結合されるさまざまな任意の装置を有し得る。たとえば、コンピュータ２２０はキーボード、マウス、他の装置を含み得て、データの入力を可能にし、および／またはユーザーに操作されるコンピュータの制御を可能にする。コンピュータ２２０は、たとえば試験操作の状態および／または試験結果を示すディスプレイを含み得る。
【００８３】
試験器２１２は適切なスイッチ２３４に結合される試験ダイポール（アンテナ）２３０を含み、スイッチ２３４はコンピュータ２２０に結合される。同軸ケーブルまたは他の適切な導体２３６が用いられ得て、試験ダイポール２３０をスイッチ２３４に結合する。スイッチ２３４はさまざまな試験器２１２を利用して、たとえば、試験ダイポール２３０に沿って信号の送信のタイミングを制御し、試験ダイポール２３０をＲＦＩＤ装置２０４に容量的に結合して、試験のタイミングを制御する。コンピュータ２２０は近接センサー２１０からの情報を用いて試験のタイミングを制御する。それは、試験中ＲＦＩＤ装置２０４が試験ダイポール２３０に関連して適切に設置されていることを確実にし、ＲＦＩＤ装置読み取り装置２３８への出力を制御するためである。
【００８４】
図１５に示される配置によって複数の試験ダイポール２３０は読み取り装置２３８に結合し、単一の読み取り装置を用いて複数の行にある複数のＲＦＩＤ装置２０４の試験を可能にする。図１６において試験システム２００の別の可能な配置が示される。図１６に示される配置において、装置読み取り装置２３８は複数の入力を有し、複数のダイポール２３０に直接に結合されるようにしている。
【００８５】
試験システム２００は毎秒約２００個のＲＦＩＤ装置、つまり５ミリ秒あたり１個のコンピュータ２４０と２４２の対を含み、それぞれはＰＣＩカード２４４と２４６にそれぞれ結合されている。カード２４４と２４６は複数の試験器２１２にそれぞれ結合されている。試験器２１２の適切な選択はＦｅｉｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃから利用可能である。コンピュータ２４０と２４２はまたそれぞれ近接センサー２５０と２５２に結合されている。
【００８６】
図１８はシステム２００の１つの可能なタイミングを示すタイミング図３００である。近接センサー２１０は、ウェブ２０２でインレーの検知を示す入力３０４を登録する。センサー入力３０４は試験ウインドウ３０８を限定する。試験ウインドウ３０８の間、試験器２００はさまざまな動作を実行する：コンピュータ２２０から読み取り装置２３８へのコマンド３１０；読み取り装置２３８からダイポール２３０の１つへの伝送３１４；ＲＦＩＤ装置２０４のインレーからの応答３１８；読み取り装置２３８からコンピュータへの応答の伝送３２２；そして適用可能である場合に、試験をしていないＲＦＩＤ装置をマークするためにコンピュータ２２０からマーカー２１４へ信号を送信する。
【００８７】
一つの特定の実施形態または複数の実施形態に関して発明が示され、記載されてきたが、本明細書および添付の図面を読んで理解したもとで同等の変更および修正が当業者に発生することは明らかである。特に上記の要素（構成成分、組立、装置、構成など）によって実行されたさまざまな機能に関して、そのような要素を記載するのに用いられた用語（「手段」への参照を含む）は、もし代わりに示されていなければ、記載された要素（つまり、機能的に同等）の特定の機能を実行する任意の要素に対応するように意図されている。ここでの例示的実施形態または発明の実施形態で示される機能を実行する開示された構造に構造的に同等でなくともである。さらに、発明の特定の特徴が示された実施形態の複数のうち１つ以上のみの関して上記されてきた可能性があるが、そのような特徴は他の実施形態の他の特徴の１つ以上と組み合わせられる可能性がある。なぜなら任意のまたは特定の適用にとって望ましいく有利である可能性があるからである。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置に容量的に結合しているＲＦＩＤ装置試験器の概略的な側面図である。
【図２】図１のＲＦＩＤ装置試験器およびＲＦＩＤ装置の平面図である。
【図３】図１のＲＦＩＤ装置試験器およびＲＦＩＤ装置の容量的結合を示す回路図である。
【図４】ＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトする、図１のＲＦＩＤ装置試験器の実施形態の複数部分を示す平面図である。
【図５】ＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトする、図１のＲＦＩＤ装置試験器の別の実施形態の複数部分を示す平面図である。
【図６】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置に容量的に結合しているＲＦＩＤ装置試験器の交互の実施形態を示す。
【図７】本発明に従う、ロールツーロールプロセスにおいてＲＦＩＤ装置のロールを試験するＲＦＩＤ装置試験器を示す。
【図８】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験器の別の実施形態を示す図である。
【図９】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験器のまた別の実施形態を示す図である。
【図１０】ロールツーロールプロセスの一部として図９のＲＦＩＤ装置試験器を示す。
【図１１】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験システムの平面図である。
【図１２】本発明に従う、別のＲＦＩＤ装置試験システムの平面図である。
【図１３】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験システムの斜位図である。
【図１４】図１３のシステムの平面図である。
【図１５】ＲＦＩＤ試験システムの一実施形態のブロック図である。
【図１６】ＲＦＩＤ試験システムの別の実施形態のブロック図である。
【図１７】ＲＦＩＤ試験システムのまた別の実施形態のブロック図である。
【図１８】本発明に従う、ＲＦＩＤ装置試験システムの動作の一部のタイミング図である。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
ＲＦＩＤ装置試験器を該ＲＦＩＤ装置のアンテナへ容量的に結合することと、
該ＲＦＩＤ装置試験器から出力信号を生成することと、
該ＲＦＩＤ装置に電力を供給するために該出力信号を使用することと、
該ＲＦＩＤ装置においてリターン信号を生成することと、
該試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知することと
を包含する方法。
【請求項２】
前記出力信号を生成することは、前記アンテナの固有共振周波数とは異なる信号周波数において該出力信号を生成することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
生成する前に、前記アンテナの前記固有共振周波数からシフトされた共振周波数へ該アンテナの最適な試験周波数をシフトすることをさらに包含する、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記最適な試験周波数がシフトすることは該最適な試験周波数が減少することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記最適な試験周波数が減少することは、誘電性要素を前記アンテナ要素へ近接させることを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記最適な試験周波数が減少することは、前記アンテナ要素の一部が誘電性要素とオーバーラップすることを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項７】
前記誘電性要素がセラミック材料を含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記セラミック材料が四チタン酸バリウムおよび酸化チタンから成るグループから選択された材料を含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記最適な試験周波数が減少することは、導電性要素を前記アンテナ要素に近接させることを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項１０】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、該最適な試験周波数の増加を含む、請求項３に記載の方法。
【請求項１１】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、導電性要素を前記アンテナのアンテナ要素に近接させることを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記シフトは、前記ＲＦＩＤ装置と前記試験器の少なくとも一部を近接させることを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項１３】
前記信号周波数を生成することは、前記シフトした共振周波数と実質的に同じ周波数を生成することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項１４】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が前記読み取り装置に電気的に結合している結合要素を含み、
該ＲＦＩＤ装置の前記アンテナはアンテナ要素を含み、
前記容量的な結合は、前記結合要素とそれぞれの該アンテナ要素の整列を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１５】
前記結合要素が誘電層に添付されていて、
前記整列は、該結合要素と前記アンテナ要素との間に該誘電層の一部を有する、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記結合要素がローラーの一部であって、
前記ＲＦＩＤ装置はロール材料の一部であって、
前記整列は、該ＲＦＩＤ装置を有する該ロール材料の一部を、該ローラーが回転するとき該結合要素とのアライメントを導く、請求項１４に記載の方法。
【請求項１７】
前記整列はロールツーロールプロセスの一部である、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記ＲＦＩＤ装置は、他のＲＦＩＤ装置を上に有するシートまたはロールの一部である、請求項１に記載の方法。
【請求項１９】
前記容量的結合は、前記ＲＦＩＤ装置試験器の関連位置および前記シートまたはロールのシフトを含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記シフトは前記シートまたはロールの移動を含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記シートまたはロールがロールであり、
該ロールの移動はロールツーロールプロセスの一部である、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記シフトは前記ＲＦＩＤ装置試験器を移動することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２３】
前記ＲＦＩＤ装置試験器は循環式結合要素を有し、
該ＲＦＩＤ装置試験器を移動することは、前記シートまたはロール上で該ＲＦＩＤ装置試験器を回転することを含む、請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】
前記リターン信号を検知することは、
前記アンテナから前記ＲＦＩＤ装置試験器の結合要素へ該リターン信号を容量的に伝送することと、
該結合要素から前記読み取り装置へ該リターン信号を転送することとを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項２５】
前記転送することは、前記読み取り装置とそれぞれの前記結合要素を電気的に接続する一対の伝送ラインに結合する抵抗を通った前記リターン信号を転送することを含む、請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）ストラップを試験する方法であって、該方法は、
ＲＦＩＤ装置試験器を該ＲＦＩＤストラップの導電性リードに容量的に結合することとと、
該ＲＦＩＤ装置試験器から出力信号を生成することと、
該ＲＦＩＤストラップに電力を供給するために該出力信号を用いることと、
該ＲＦＩＤストラップにリターン信号を生成することと、
該試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知することと
を包含する、方法。
【請求項２７】
読み取り装置と、
一対の導電性結合要素と、
それぞれの該結合要素を該読み取り装置に電気的に結合する一対の伝送ラインと、
該読み取り装置と該結合要素との間の該伝送ラインの両方に結合している抵抗と
を備える、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置試験器。
【請求項２８】
前記結合要素のそれぞれの外面に誘電材料をさらに備える、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項２９】
前記誘電材料が誘電層の複数部分である、請求項２８に記載の装置試験器。
【請求項３０】
前記結合材料が実質的に平面である、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３１】
前記結合要素が輪状に形づくられている、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３２】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするための誘電性要素をさらに備える、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３３】
前記誘電性要素がセラミック要素を含む、請求項３２に記載の装置試験器。
【請求項３４】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするためのさらなる導電性要素をさらに備える、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３５】
ＲＦＩＤ装置との結合において、該ＲＦＩＤ装置は、前記結合要素と容量的に結合しているアンテナを含む、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３６】
前記結合要素がローラーの一部である、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３７】
前記結合要素が前記ローラーの外面にある、請求項３６に記載の装置試験器。
【請求項３８】
前記ロールの外面に結合要素のさらなる対をさらに備え、
結合要素の該さらなる対はまた前記読み取り装置に結合している、
請求項３７に記載の装置試験器。
【請求項３９】
結合要素の前記対は、およそ前記ローラーの外面ほど実質的に均等に周囲に間隔を空けている、請求項３８に記載の装置試験器。
【請求項４０】
前記アンテナが一対のアンテナ要素を含み、
該アンテナ要素のそれぞれは前記結合要素のそれぞれに容量的に結合している、請求項３５に記載の結合。
【請求項４１】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置とＲＦＩＤ装置試験器の結合であって、
一対のアンテナ要素を有するアンテナと、該アンテナに動作可能に結合しているチップとを含む該ＲＦＩＤ装置と、
読み取り装置と、該読み取り装置に電気的に結合している一対の電気的導電性結合要素とを含む該ＲＦＩＤ装置試験器と
を備え、
該アンテナ要素はそれぞれの該結合要素とそれぞれ容量的に結合していて、それによって一対のコンデンサーを形成する、ＲＦＩＤ装置およびＲＦＩＤ装置試験器の結合。
【請求項４２】
誘電性材料をさらに備え、
該誘電性材料が、前記結合要素とそれぞれの前記コンデンサーの前記アンテナ要素との間において、該コンデンサーの複数部分である、請求項４１に記載の結合。
【請求項４３】
前記誘電性材料が前記ＲＦＩＤ装置の複数部分である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４４】
前記誘電性材料が前記ＲＦＩＤ装置試験器の複数部分である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４５】
前記誘電性材料が単一誘電層の部分である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４６】
前記結合要素を前記読み取り装置に電気的に結合するそれぞれの伝送ラインと、
該伝送ライン間の抵抗と
をさらに備える、請求項４２に記載の結合。
【請求項４７】
前記ＲＦＩＤが、ＲＦＩＤ装置のウェブの一部である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４８】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が、導電性材料の存在を検出する近接センサーに動作可能に結合している、請求項４２に記載の結合。
【請求項４９】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が、選択的にＲＦＩＤ装置をマークするマーカーに動作可能に結合している、請求項４２に記載の結合。
【請求項５０】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
固有共振周波数からシフトした共振周波数に該装置の最適な試験周波数をシフトすることと、
該固有共振周波数以外の周波数において該装置を読み取ることと
を包含する、方法。
【請求項５１】
前記読み取りは、ほぼ前記シフトした共振周波数において、前記装置の読み取りを含む、請求項５０に記載の方法。
【請求項５２】
前記シフトは、前記最適な試験周波数をシフトするシフト要素に近接に前記装置を設置することを含む、請求項５０に記載の方法。
【請求項５３】
前記シフト要素は誘電性要素を含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項５４】
前記誘電性要素がセラミック材料を含む、請求項５３に記載の方法。
【請求項５５】
前記シフト要素は導電性要素を含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項５６】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りをまた実行するＲＦＩＤ装置試験器の複数部分である、請求項５２に記載の方法。
【請求項５７】
前記読み取りは、前記試験器と前記装置の容量的結合を含む、請求項５６に記載の方法。
【請求項５８】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りを実行するＲＦＩＤ装置試験器とは別の試験装置の一部である、請求項５２に記載の方法。
【請求項５９】
前記読み取りは、読み取り装置を前記装置に結合する無線周波数を含む、請求項５８に記載の方法。
【請求項６０】
前記ＲＦＩＤ装置はアンテナ要素を有するアンテナを含み、
前記シフトは、該アンテナ要素が前記シフト要素と少なくとも部分的にオーバーラップすることを含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項６１】
前記シフトは、前記シフト要素を前記装置のアンテナに容量的に結合することを含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項６２】
試験されたＲＦＩＤ装置である該装置が、他のＲＦＩＤ装置を有するシートまたはロール上にあり、
前記設置は、他の任意のＲＦＩＤ装置よりも該試験されたＲＦＩＤ装置の近くに前記シフト要素を設置することを含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項６３】
それぞれが複数のＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含むウェブを試験するための試験システムであって、該試験システムは、
ＲＦＩＤ装置の行を検知するための近接センサーと、
それぞれの該行の該複数のＲＦＩＤ装置を試験するために配列された複数の試験器と、
該近接センサーおよび該複数の試験器に動作可能に結合されたコンピュータとを備え、
該コンピュータが該近接センサーから信号を受信し、試験器の動作を制御する、試験システム。
【請求項６４】
前記試験器は、試験中、前記ＲＦＩＤ装置に容量的に結合している、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６５】
前記試験器はそれぞれ、前記ウェブに近接となるように構成された一対の導電性要素を含む、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６６】
前記試験器による試験に基づいて前記ＲＦＩＤ装置を選択的にマークするために、前記コンピュータに動作可能に結合している１つ以上のマーカーをさらに備える、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６７】
前記マーカーがインクジェットマーカーを含む、請求項６６に記載の試験システム。
【請求項６８】
前記試験器が前記ウェブに関してずらされた配置にあり、前記行のいずれか１つの異なる前記ＲＦＩＤ装置が異なる時間においてそれぞれの該試験器の近接を通る、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６９】
前記近接センサーが、前記ウェブの部分上における導電性材料の存在を検知するために構成されたセンサーを含む、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項７０】
ＲＦＩＤ装置のウェブを試験する方法であって、該ウェブはそれぞれが複数の該ＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含み、該方法は、
近接センサーによって該ウェブの該行のいずれか１つを検知することと、
該近接センサーに動作可能に結合するそれぞれの試験器を用いて、該行の該ＲＦＩＤ装置を試験することと
を包含する、方法。
【請求項７１】
前記試験は、前記試験器を前記行のそれぞれの前記ＲＦＩＤ装置に容量的に結合することを含む、請求項７０に記載の方法。
【請求項７２】
前記試験器は前記ウェブに関してずらされた配置にあり、
前記試験は、異なる時間に前記行の異なる前記ＲＦＩＤ装置の試験を含む、請求項７０に記載の方法。
【請求項７３】
前記試験をしない前記ＲＦＩＤ装置を選択的にマークすることをさらに包含する、請求項７０に記載の方法。
【請求項７４】
前記マークすることは、１つ以上のインクジェットマーカーを用いてマークすることを含む、請求項７３に記載の方法。
【請求項７５】
前記近接センサーおよび前記試験器は、該近接センサーからの信号を受信し、該試験器に制御信号を送信するコンピュータに動作可能に結合している、請求項７０に記載の方法。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
ＲＦＩＤ装置試験器を該ＲＦＩＤ装置のアンテナへ容量的に結合することと、
該ＲＦＩＤ装置試験器から出力信号を生成することと、
該ＲＦＩＤ装置に電力を供給するために該出力信号を使用することと、
該ＲＦＩＤ装置においてリターン信号を生成することと、
該試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知することと
を包含する方法。
【請求項２】
前記出力信号を生成することは、前記アンテナの固有共振周波数とは異なる信号周波数において該出力信号を生成することを含み、
該出力信号を生成する前に、該アンテナの該固有共振周波数からシフトされた共振周波数へ該アンテナの最適な試験周波数をシフトすることをさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記最適な試験周波数がシフトすることは該最適な試験周波数が減少することを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記最適な試験周波数が減少することは、誘電性要素を前記アンテナのアンテナ要素へ近接させることを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記最適な試験周波数が減少することは、導電性要素を前記アンテナのアンテナ要素に近接させることを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項６】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、該最適な試験周波数の増加を含む、請求項２に記載の方法。
【請求項７】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、導電性要素を前記アンテナのアンテナ要素に近接させることを含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記信号周波数を生成することは、前記シフトした共振周波数と実質的に同じ周波数を生成することを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項９】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が前記読み取り装置に電気的に結合している結合要素を含み、
該ＲＦＩＤ装置の前記アンテナはアンテナ要素を含み、
前記容量的な結合は、前記結合要素とそれぞれの該アンテナ要素の整列を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記結合要素が誘電層に添付されていて、
前記整列は、該結合要素と前記アンテナ要素との間に該誘電層の一部を有する、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記結合要素がローラーの一部であって、
前記ＲＦＩＤ装置はロール材料の一部であって、
前記整列は、該ＲＦＩＤ装置を有する該ロール材料の一部を、該ローラー回転するとき該結合要素とのアライメントを導く、請求項９に記載の方法。
【請求項１２】
前記ＲＦＩＤ装置が、他のＲＦＩＤ装置を上に有するシートまたはロールの一部であり、
前記容量的結合は、前記ＲＦＩＤ装置試験器および該シートまたはロールの関連位置をシフトすることを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記シフトは前記シートまたはロールの移動を含み、
該シートまたはロールがロールであり、
該ロールの移動はロールツーロールプロセスの一部である、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記シフトは前記ＲＦＩＤ装置試験器を移動することを含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
前記ＲＦＩＤ装置試験器は循環式結合要素を有し、
該ＲＦＩＤ装置試験器を移動することは、前記シートまたはロール上で該ＲＦＩＤ装置試験器を回転することを含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
読み取り装置と、
一対の電気性結合要素と、
それぞれの該結合要素を該読み取り装置に電気的に結合する一対の伝送ラインと、
該読み取り装置と該結合要素との間の該伝送ラインの両方に結合している抵抗と
を備える、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置試験器。
【請求項１７】
前記結合要素のそれぞれの外面に誘電材料をさらに備える、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項１８】
前記誘電材料が誘電層の複数部分である、請求項１７に記載の装置試験器。
【請求項１９】
前記結合材料が実質的に平面である、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２０】
前記結合要素が輪状に形づくられている、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２１】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするための誘電性要素をさらに備える、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２２】
前記誘電性要素がセラミック要素を含む、請求項２１に記載の装置試験器。
【請求項２３】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするためのさらなる誘電性要素をさらに備える、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２４】
ＲＦＩＤ装置との結合において、該ＲＦＩＤ装置は、前記結合要素と容量的に結合しているアンテナを含む、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２５】
前記結合要素がローラーの一部である、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２６】
前記結合要素が前記ローラーの外面にある、請求項２５に記載の装置試験器。
【請求項２７】
前記ロールの外面に結合要素のさらなる対をさらに備え、
結合要素の該さらなる対はまた前記読み取り装置に結合している、
請求項２６に記載の装置試験器。
【請求項２８】
結合要素の前記対は、およそ前記ローラーの外面ほど実質的に均等に周囲に間隔を空けている、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項２９】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
固有共振周波数からシフトした共振周波数に該装置の最適な試験周波数をシフトすることと、
該固有共振周波数以外の周波数において該装置を読み取ることと
を包含する、方法。
【請求項３０】
前記読み取りは、ほぼ前記シフトした共振周波数において、前記装置の読み取りを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記シフトは、前記最適な試験周波数をシフトするシフト要素に近接に前記装置を設置することを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記シフト要素は誘電性要素を含む、請求項３１に記載の方法。
【請求項３３】
前記シフト要素は導電性要素を含む、請求項３１に記載の方法。
【請求項３４】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りをまた実行するＲＦＩＤ装置試験器の複数部分である、請求項３１に記載の方法。
【請求項３５】
前記読み取りは、前記試験器と前記装置の容量的結合を含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項３６】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りを実行するＲＦＩＤ装置試験器とは別の試験装置の一部である、請求項３１に記載の方法。
【請求項１】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
ＲＦＩＤ装置試験器を該ＲＦＩＤ装置のアンテナへ容量的に結合することと、
該ＲＦＩＤ装置試験器から出力信号を生成することと、
該ＲＦＩＤ装置に電力を供給するために該出力信号を使用することと、
該ＲＦＩＤ装置においてリターン信号を生成することと、
該試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知することと
を包含する方法。
【請求項２】
前記出力信号を生成することは、前記アンテナの固有共振周波数とは異なる信号周波数において該出力信号を生成することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
生成する前に、前記アンテナの前記固有共振周波数からシフトされた共振周波数へ該アンテナの最適な試験周波数をシフトすることをさらに包含する、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記最適な試験周波数がシフトすることは該最適な試験周波数が減少することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記最適な試験周波数が減少することは、誘電性要素を前記アンテナ要素へ近接させることを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記最適な試験周波数が減少することは、前記アンテナ要素の一部が誘電性要素とオーバーラップすることを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項７】
前記誘電性要素がセラミック材料を含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記セラミック材料が四チタン酸バリウムおよび酸化チタンから成るグループから選択された材料を含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記最適な試験周波数が減少することは、導電性要素を前記アンテナ要素に近接させることを含む、請求項４に記載の方法。
【請求項１０】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、該最適な試験周波数の増加を含む、請求項３に記載の方法。
【請求項１１】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、導電性要素を前記アンテナのアンテナ要素に近接させることを含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記シフトは、前記ＲＦＩＤ装置と前記試験器の少なくとも一部を近接させることを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項１３】
前記信号周波数を生成することは、前記シフトした共振周波数と実質的に同じ周波数を生成することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項１４】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が前記読み取り装置に電気的に結合している結合要素を含み、
該ＲＦＩＤ装置の前記アンテナはアンテナ要素を含み、
前記容量的な結合は、前記結合要素とそれぞれの該アンテナ要素の整列を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１５】
前記結合要素が誘電層に添付されていて、
前記整列は、該結合要素と前記アンテナ要素との間に該誘電層の一部を有する、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記結合要素がローラーの一部であって、
前記ＲＦＩＤ装置はロール材料の一部であって、
前記整列は、該ＲＦＩＤ装置を有する該ロール材料の一部を、該ローラーが回転するとき該結合要素とのアライメントを導く、請求項１４に記載の方法。
【請求項１７】
前記整列はロールツーロールプロセスの一部である、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記ＲＦＩＤ装置は、他のＲＦＩＤ装置を上に有するシートまたはロールの一部である、請求項１に記載の方法。
【請求項１９】
前記容量的結合は、前記ＲＦＩＤ装置試験器の関連位置および前記シートまたはロールのシフトを含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記シフトは前記シートまたはロールの移動を含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記シートまたはロールがロールであり、
該ロールの移動はロールツーロールプロセスの一部である、請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】
前記シフトは前記ＲＦＩＤ装置試験器を移動することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２３】
前記ＲＦＩＤ装置試験器は循環式結合要素を有し、
該ＲＦＩＤ装置試験器を移動することは、前記シートまたはロール上で該ＲＦＩＤ装置試験器を回転することを含む、請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】
前記リターン信号を検知することは、
前記アンテナから前記ＲＦＩＤ装置試験器の結合要素へ該リターン信号を容量的に伝送することと、
該結合要素から前記読み取り装置へ該リターン信号を転送することとを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項２５】
前記転送することは、前記読み取り装置とそれぞれの前記結合要素を電気的に接続する一対の伝送ラインに結合する抵抗を通った前記リターン信号を転送することを含む、請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）ストラップを試験する方法であって、該方法は、
ＲＦＩＤ装置試験器を該ＲＦＩＤストラップの導電性リードに容量的に結合することとと、
該ＲＦＩＤ装置試験器から出力信号を生成することと、
該ＲＦＩＤストラップに電力を供給するために該出力信号を用いることと、
該ＲＦＩＤストラップにリターン信号を生成することと、
該試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知することと
を包含する、方法。
【請求項２７】
読み取り装置と、
一対の導電性結合要素と、
それぞれの該結合要素を該読み取り装置に電気的に結合する一対の伝送ラインと、
該読み取り装置と該結合要素との間の該伝送ラインの両方に結合している抵抗と
を備える、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置試験器。
【請求項２８】
前記結合要素のそれぞれの外面に誘電材料をさらに備える、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項２９】
前記誘電材料が誘電層の複数部分である、請求項２８に記載の装置試験器。
【請求項３０】
前記結合材料が実質的に平面である、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３１】
前記結合要素が輪状に形づくられている、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３２】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするための誘電性要素をさらに備える、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３３】
前記誘電性要素がセラミック要素を含む、請求項３２に記載の装置試験器。
【請求項３４】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするためのさらなる導電性要素をさらに備える、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３５】
ＲＦＩＤ装置との結合において、該ＲＦＩＤ装置は、前記結合要素と容量的に結合しているアンテナを含む、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３６】
前記結合要素がローラーの一部である、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項３７】
前記結合要素が前記ローラーの外面にある、請求項３６に記載の装置試験器。
【請求項３８】
前記ロールの外面に結合要素のさらなる対をさらに備え、
結合要素の該さらなる対はまた前記読み取り装置に結合している、
請求項３７に記載の装置試験器。
【請求項３９】
結合要素の前記対は、およそ前記ローラーの外面ほど実質的に均等に周囲に間隔を空けている、請求項３８に記載の装置試験器。
【請求項４０】
前記アンテナが一対のアンテナ要素を含み、
該アンテナ要素のそれぞれは前記結合要素のそれぞれに容量的に結合している、請求項３５に記載の結合。
【請求項４１】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置とＲＦＩＤ装置試験器の結合であって、
一対のアンテナ要素を有するアンテナと、該アンテナに動作可能に結合しているチップとを含む該ＲＦＩＤ装置と、
読み取り装置と、該読み取り装置に電気的に結合している一対の電気的導電性結合要素とを含む該ＲＦＩＤ装置試験器と
を備え、
該アンテナ要素はそれぞれの該結合要素とそれぞれ容量的に結合していて、それによって一対のコンデンサーを形成する、ＲＦＩＤ装置およびＲＦＩＤ装置試験器の結合。
【請求項４２】
誘電性材料をさらに備え、
該誘電性材料が、前記結合要素とそれぞれの前記コンデンサーの前記アンテナ要素との間において、該コンデンサーの複数部分である、請求項４１に記載の結合。
【請求項４３】
前記誘電性材料が前記ＲＦＩＤ装置の複数部分である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４４】
前記誘電性材料が前記ＲＦＩＤ装置試験器の複数部分である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４５】
前記誘電性材料が単一誘電層の部分である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４６】
前記結合要素を前記読み取り装置に電気的に結合するそれぞれの伝送ラインと、
該伝送ライン間の抵抗と
をさらに備える、請求項４２に記載の結合。
【請求項４７】
前記ＲＦＩＤが、ＲＦＩＤ装置のウェブの一部である、請求項４２に記載の結合。
【請求項４８】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が、導電性材料の存在を検出する近接センサーに動作可能に結合している、請求項４２に記載の結合。
【請求項４９】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が、選択的にＲＦＩＤ装置をマークするマーカーに動作可能に結合している、請求項４２に記載の結合。
【請求項５０】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
固有共振周波数からシフトした共振周波数に該装置の最適な試験周波数をシフトすることと、
該固有共振周波数以外の周波数において該装置を読み取ることと
を包含する、方法。
【請求項５１】
前記読み取りは、ほぼ前記シフトした共振周波数において、前記装置の読み取りを含む、請求項５０に記載の方法。
【請求項５２】
前記シフトは、前記最適な試験周波数をシフトするシフト要素に近接に前記装置を設置することを含む、請求項５０に記載の方法。
【請求項５３】
前記シフト要素は誘電性要素を含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項５４】
前記誘電性要素がセラミック材料を含む、請求項５３に記載の方法。
【請求項５５】
前記シフト要素は導電性要素を含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項５６】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りをまた実行するＲＦＩＤ装置試験器の複数部分である、請求項５２に記載の方法。
【請求項５７】
前記読み取りは、前記試験器と前記装置の容量的結合を含む、請求項５６に記載の方法。
【請求項５８】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りを実行するＲＦＩＤ装置試験器とは別の試験装置の一部である、請求項５２に記載の方法。
【請求項５９】
前記読み取りは、読み取り装置を前記装置に結合する無線周波数を含む、請求項５８に記載の方法。
【請求項６０】
前記ＲＦＩＤ装置はアンテナ要素を有するアンテナを含み、
前記シフトは、該アンテナ要素が前記シフト要素と少なくとも部分的にオーバーラップすることを含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項６１】
前記シフトは、前記シフト要素を前記装置のアンテナに容量的に結合することを含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項６２】
試験されたＲＦＩＤ装置である該装置が、他のＲＦＩＤ装置を有するシートまたはロール上にあり、
前記設置は、他の任意のＲＦＩＤ装置よりも該試験されたＲＦＩＤ装置の近くに前記シフト要素を設置することを含む、請求項５２に記載の方法。
【請求項６３】
それぞれが複数のＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含むウェブを試験するための試験システムであって、該試験システムは、
ＲＦＩＤ装置の行を検知するための近接センサーと、
それぞれの該行の該複数のＲＦＩＤ装置を試験するために配列された複数の試験器と、
該近接センサーおよび該複数の試験器に動作可能に結合されたコンピュータとを備え、
該コンピュータが該近接センサーから信号を受信し、試験器の動作を制御する、試験システム。
【請求項６４】
前記試験器は、試験中、前記ＲＦＩＤ装置に容量的に結合している、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６５】
前記試験器はそれぞれ、前記ウェブに近接となるように構成された一対の導電性要素を含む、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６６】
前記試験器による試験に基づいて前記ＲＦＩＤ装置を選択的にマークするために、前記コンピュータに動作可能に結合している１つ以上のマーカーをさらに備える、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６７】
前記マーカーがインクジェットマーカーを含む、請求項６６に記載の試験システム。
【請求項６８】
前記試験器が前記ウェブに関してずらされた配置にあり、前記行のいずれか１つの異なる前記ＲＦＩＤ装置が異なる時間においてそれぞれの該試験器の近接を通る、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項６９】
前記近接センサーが、前記ウェブの部分上における導電性材料の存在を検知するために構成されたセンサーを含む、請求項６３に記載の試験システム。
【請求項７０】
ＲＦＩＤ装置のウェブを試験する方法であって、該ウェブはそれぞれが複数の該ＲＦＩＤ装置を有する複数の行を含み、該方法は、
近接センサーによって該ウェブの該行のいずれか１つを検知することと、
該近接センサーに動作可能に結合するそれぞれの試験器を用いて、該行の該ＲＦＩＤ装置を試験することと
を包含する、方法。
【請求項７１】
前記試験は、前記試験器を前記行のそれぞれの前記ＲＦＩＤ装置に容量的に結合することを含む、請求項７０に記載の方法。
【請求項７２】
前記試験器は前記ウェブに関してずらされた配置にあり、
前記試験は、異なる時間に前記行の異なる前記ＲＦＩＤ装置の試験を含む、請求項７０に記載の方法。
【請求項７３】
前記試験をしない前記ＲＦＩＤ装置を選択的にマークすることをさらに包含する、請求項７０に記載の方法。
【請求項７４】
前記マークすることは、１つ以上のインクジェットマーカーを用いてマークすることを含む、請求項７３に記載の方法。
【請求項７５】
前記近接センサーおよび前記試験器は、該近接センサーからの信号を受信し、該試験器に制御信号を送信するコンピュータに動作可能に結合している、請求項７０に記載の方法。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
ＲＦＩＤ装置試験器を該ＲＦＩＤ装置のアンテナへ容量的に結合することと、
該ＲＦＩＤ装置試験器から出力信号を生成することと、
該ＲＦＩＤ装置に電力を供給するために該出力信号を使用することと、
該ＲＦＩＤ装置においてリターン信号を生成することと、
該試験器の一部である読み取り装置を介してリターン信号を検知することと
を包含する方法。
【請求項２】
前記出力信号を生成することは、前記アンテナの固有共振周波数とは異なる信号周波数において該出力信号を生成することを含み、
該出力信号を生成する前に、該アンテナの該固有共振周波数からシフトされた共振周波数へ該アンテナの最適な試験周波数をシフトすることをさらに包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記最適な試験周波数がシフトすることは該最適な試験周波数が減少することを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記最適な試験周波数が減少することは、誘電性要素を前記アンテナのアンテナ要素へ近接させることを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記最適な試験周波数が減少することは、導電性要素を前記アンテナのアンテナ要素に近接させることを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項６】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、該最適な試験周波数の増加を含む、請求項２に記載の方法。
【請求項７】
前記最適な試験周波数をシフトすることは、導電性要素を前記アンテナのアンテナ要素に近接させることを含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記信号周波数を生成することは、前記シフトした共振周波数と実質的に同じ周波数を生成することを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項９】
前記ＲＦＩＤ装置試験器が前記読み取り装置に電気的に結合している結合要素を含み、
該ＲＦＩＤ装置の前記アンテナはアンテナ要素を含み、
前記容量的な結合は、前記結合要素とそれぞれの該アンテナ要素の整列を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記結合要素が誘電層に添付されていて、
前記整列は、該結合要素と前記アンテナ要素との間に該誘電層の一部を有する、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記結合要素がローラーの一部であって、
前記ＲＦＩＤ装置はロール材料の一部であって、
前記整列は、該ＲＦＩＤ装置を有する該ロール材料の一部を、該ローラー回転するとき該結合要素とのアライメントを導く、請求項９に記載の方法。
【請求項１２】
前記ＲＦＩＤ装置が、他のＲＦＩＤ装置を上に有するシートまたはロールの一部であり、
前記容量的結合は、前記ＲＦＩＤ装置試験器および該シートまたはロールの関連位置をシフトすることを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記シフトは前記シートまたはロールの移動を含み、
該シートまたはロールがロールであり、
該ロールの移動はロールツーロールプロセスの一部である、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記シフトは前記ＲＦＩＤ装置試験器を移動することを含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
前記ＲＦＩＤ装置試験器は循環式結合要素を有し、
該ＲＦＩＤ装置試験器を移動することは、前記シートまたはロール上で該ＲＦＩＤ装置試験器を回転することを含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
読み取り装置と、
一対の電気性結合要素と、
それぞれの該結合要素を該読み取り装置に電気的に結合する一対の伝送ラインと、
該読み取り装置と該結合要素との間の該伝送ラインの両方に結合している抵抗と
を備える、ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置試験器。
【請求項１７】
前記結合要素のそれぞれの外面に誘電材料をさらに備える、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項１８】
前記誘電材料が誘電層の複数部分である、請求項１７に記載の装置試験器。
【請求項１９】
前記結合材料が実質的に平面である、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２０】
前記結合要素が輪状に形づくられている、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２１】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするための誘電性要素をさらに備える、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２２】
前記誘電性要素がセラミック要素を含む、請求項２１に記載の装置試験器。
【請求項２３】
前記装置試験器に近接に設置されたＲＦＩＤ装置の最適な試験周波数をシフトするためのさらなる誘電性要素をさらに備える、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２４】
ＲＦＩＤ装置との結合において、該ＲＦＩＤ装置は、前記結合要素と容量的に結合しているアンテナを含む、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２５】
前記結合要素がローラーの一部である、請求項１６に記載の装置試験器。
【請求項２６】
前記結合要素が前記ローラーの外面にある、請求項２５に記載の装置試験器。
【請求項２７】
前記ロールの外面に結合要素のさらなる対をさらに備え、
結合要素の該さらなる対はまた前記読み取り装置に結合している、
請求項２６に記載の装置試験器。
【請求項２８】
結合要素の前記対は、およそ前記ローラーの外面ほど実質的に均等に周囲に間隔を空けている、請求項２７に記載の装置試験器。
【請求項２９】
ＲＦＩＤ（ｒａｄｉｏ ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）装置を試験する方法であって、該方法は、
固有共振周波数からシフトした共振周波数に該装置の最適な試験周波数をシフトすることと、
該固有共振周波数以外の周波数において該装置を読み取ることと
を包含する、方法。
【請求項３０】
前記読み取りは、ほぼ前記シフトした共振周波数において、前記装置の読み取りを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項３１】
前記シフトは、前記最適な試験周波数をシフトするシフト要素に近接に前記装置を設置することを含む、請求項２９に記載の方法。
【請求項３２】
前記シフト要素は誘電性要素を含む、請求項３１に記載の方法。
【請求項３３】
前記シフト要素は導電性要素を含む、請求項３１に記載の方法。
【請求項３４】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りをまた実行するＲＦＩＤ装置試験器の複数部分である、請求項３１に記載の方法。
【請求項３５】
前記読み取りは、前記試験器と前記装置の容量的結合を含む、請求項３４に記載の方法。
【請求項３６】
前記シフト要素は、前記装置の読み取りを実行するＲＦＩＤ装置試験器とは別の試験装置の一部である、請求項３１に記載の方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【公表番号】特表２００６−５１８５２１（Ｐ２００６−５１８５２１Ａ）
【公表日】平成１８年８月１０日（２００６．８．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−５０３５４６（Ｐ２００６−５０３５４６）
【出願日】平成１６年２月１３日（２００４．２．１３）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２００４／００４２２７
【国際公開番号】ＷＯ２００４／０７２８９２
【国際公開日】平成１６年８月２６日（２００４．８．２６）
【出願人】（５９４１７７３９１）エーブリー デニソン コーポレイション (26)
【氏名又は名称原語表記】Ａｖｅｒｙ Ｄｅｎｎｉｓｏｎ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ
【Ｆターム（参考）】
【公表日】平成１８年８月１０日（２００６．８．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成１６年２月１３日（２００４．２．１３）
【国際出願番号】ＰＣＴ／ＵＳ２００４／００４２２７
【国際公開番号】ＷＯ２００４／０７２８９２
【国際公開日】平成１６年８月２６日（２００４．８．２６）
【出願人】（５９４１７７３９１）エーブリー デニソン コーポレイション (26)
【氏名又は名称原語表記】Ａｖｅｒｙ Ｄｅｎｎｉｓｏｎ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ
【Ｆターム（参考）】
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