説明

Si−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法

【課題】Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に、発光性改質部を形成可能としたSi−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法を提供することを目的とする。
【解決手段】Si−O−Si結合を含む化合物としてのシリコーン1の表面乃至は内部に、波長266nm未満のレーザー光をマスク3又はレンズ4を通して照射することにより、酸化ケイ素の発光性改質部を形成する。これにより、Si−O−Si結合を含む化合物を基礎とした新規発光デバイスの作製法を確立することができる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、発光性改質部を形成するための化合物の改質法及びデバイスに係り、とくにSi−O−Si結合を含む化合物に、波長266nm未満の光を照射することにより、従来困難とされてきたSi−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部への発光性改質部の形成が可能な、Si−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法に関する。
【背景技術】
【0002】
オプトエレクトロニクス、フォトニクス、バイオ/メディカルあるいは福祉工学分野において、発光デバイスは必要不可欠である。現在発光デバイスは、ケイ素やシリカガラスなどリジッドな基体上に形成されることが多い。このことが、デバイスの軽量性、耐衝撃性、耐候性、フレキシブル性などの点において使用を制限していた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に、発光性改質部を形成することにより、Si−O−Si結合を含む化合物を基礎とした新規発光デバイスの作製法の確立を課題とする。
【0004】
そこで、本発明は、上記の点に鑑み、Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に、発光性改質部を形成可能としたSi−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法を提供することを目的とする。
【0005】
本発明のその他の目的や新規な特徴は後述の実施の形態において明らかにする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記目的を達成するために、本発明のある態様のSi−O−Si結合を含む化合物の改質法は、Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に、波長266nm未満の光を照射することにより、発光性改質部を形成することを特徴としている。
【0007】
前記Si−O−Si結合を含む化合物の改質法において、前記Si−O−Si結合を含む化合物への光照射を真空中又は非酸化雰囲気中で行ってもよい。また、前記光照射以前より前記Si−O−Si結合を含む化合物を真空中又は非酸化雰囲気中に配置しておいてもよい。
【0008】
前記Si−O−Si結合を含む化合物の改質法において、前記Si−O−Si結合を含む化合物の表面にマスクを配置し、前記マスクの開口部を通して前記波長266nm未満の光を照射してもよいし、あるいは前記Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に光学素子を通して前記波長266nm未満の光を集光照射してもよい。
【0009】
本発明の別の態様のデバイス作製法は、前記Si−O−Si結合を含む化合物の改質法によって、Si−O−Si結合を含む化合物の表面又は内部に、発光性材料を形成したことを特徴としている。
【発明の効果】
【0010】
本発明によれば、Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に、発光性改質部を形成することにより、Si−O−Si結合を含む化合物を基礎とした新規発光デバイスの作製法を確立できる。
【0011】
また、マスクや集光のための光学素子等を用いる場合、発光性改質部を位置選択的並びに空間選択的に形成可能であり、さらに、Si−O−Si結合を含む化合物としてシリコーンゴム等のフレキシブル材料を選択することで、Si−O−Si結合を含む化合物を基礎とした新規フレキシブル発光デバイスを作製可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【0012】
以下、本発明を実施するための最良の形態として、Si−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法の実施の形態を図面に従って説明する。
【0013】
図1で本発明に係るSi−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法の実施の形態を示す。
【0014】
図1(A)は、Si−O−Si結合を含む化合物表面に発光性改質層を形成する場合の実施の形態1で用いる実験概略構成であり、Si−O−Si結合を含む化合物としてのシリコーン1の表面にはマスク3が配置され、波長266nm未満のレーザー光2がマスク3の開口部を通してシリコーン1表面に照射される。
【0015】
前記マスク3の開口部を通して光照射を受けたシリコーン1の表面には発光性改質層が形成される。この発光性改質層は、酸化ケイ素であるが、化学量論組成ではない(二酸化ケイ素ではない)ものである。発光性改質層については後述の実施例で詳述する。
【0016】
大気中若しくは酸化雰囲気中でレーザー光2を照射する場合、レーザー光波長が190nm以下になると化学量論組成の二酸化ケイ素が主に改質層として形成されるようになり、発光性が無くなるので、照射するレーザー光は190nmより長く、266nmより短い波長であることが望ましい。
【0017】
また、真空中又は非酸化雰囲気中で前記レーザー光の照射を行う場合、大気中若しくは酸化雰囲気中における場合よりも短い波長(つまり190nm以下の波長)でも化学量論組成ではない酸化ケイ素が形成されやすくなると考えられる。
【0018】
さらに、シリコーン1が、内部に酸素分子が入り込んでいるシリコーンゴム等の場合には、内部の酸素分子を除外するために、前記レーザー光の照射以前よりシリコーン1を真空中又は非酸化雰囲気中に配置しておくことがいっそう好ましい。
【0019】
この実施の形態1によれば、次の通りの効果を得ることができる。
【0020】
(1) シリコーン1にマスク3を通してレーザー光2を照射することで、位置選択的に発光性改質層を形成することができる。すなわち、所望の開口部形状のマスク3を用いることにより、開口部位置で規定された所望の位置に、開口部形状及び大きさで規定された所望の形状及び大きさの発光性改質層を、シリコーン1表面に形成することができる。
【0021】
(2) Si−O−Si結合を含む化合物としてのシリコーン1への光照射を真空中又は非酸化雰囲気中で行うことで、大気中若しくは酸化雰囲気中より短い波長の光でも化学量論組成ではない酸化ケイ素(発光性改質層)を形成可能である。さらに、シリコーン1内部の酸素分子を除外するために前記光照射以前よりシリコーン1を真空中又は非酸化雰囲気中に配置しておくことで、内部に酸素分子が入り込んでいるシリコーンゴム等の化合物に対しても発光性改質層を短い波長の光照射で形成可能となる。
【0022】
(3) 発光性改質層を設けるシリコーン1としてフレキシブルなシリコーンゴム等の材料を採用することで、発光性材料が形成されたフレキシブル発光デバイスを作製できる。
【0023】
図1(B)は、Si−O−Si結合を含む化合物内部に発光性改質部を形成する場合の実施の形態2で用いる実験概略構成であり、シリコーン1内部に波長266nm未満のレーザー光2が光学素子としてのレンズ4を介して集光照射される。
【0024】
この場合、シリコーン1は精密に三次元的に微動可能であり、結果的にレーザー光2が精密に三次元的に走査される。
【0025】
この実施の形態2においても、大気中若しくは酸化雰囲気中でレーザー光2を照射する場合、レーザー光の波長が短くなると化学量論組成の二酸化ケイ素が改質層として形成されるようになり、発光性が無くなるので、照射するレーザー光は190nmより長く、266nmより短い波長であることが望ましい。
【0026】
また、真空中又は非酸化雰囲気中で前記レーザー光の照射を行う場合、大気中若しくは酸化雰囲気中より短い波長でも化学量論組成ではない酸化ケイ素が形成されやすくなると考えられ、さらに、シリコーン1が、内部に酸素分子が入り込んでいるシリコーンゴム等の場合には、内部の酸素分子を除外するために、前記レーザー光の照射以前よりシリコーン1を真空中又は非酸化雰囲気中に配置しておくことがいっそう好ましい。
【0027】
この実施の形態2によれば、シリコーン1の内部にレーザー光2の焦点位置を合わせることで、位置選択的並びに空間選択的(三次元的)に発光性改質部を形成することができる。その他の作用効果は、実施の形態1と同様である。
【0028】
なお、図1(B)において、レーザー光2の焦点位置をシリコーン1の表面に合わせることにより、シリコーン1表面の所望の位置に、所望の形状及び大きさの発光性改質層を形成することもできる。
【0029】
また、図1(A),(B)において波長266nm未満のレーザー光をシリコーン1に照射したが、レーザー光に限定されるものではない。
【実施例】
【0030】
以下、本発明に係るSi−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法を実施例で詳述する。
【0031】
図1(A)の実験概略構成において、レーザー光2として波長193nmのArFエキシマレーザーを用いた。レーザー光照射部分でのエネルギー密度は、約30mJ/cm/pulse一定とした。また、パルス繰り返し周波数は10Hz一定とした。レーザー光照射時間は10〜60分まで変化させた。シリコーン1としてはシリコーンゴムを用い、その厚さは0.5mm及び2mmとした。実験は大気中で行った。いずれのシリコーンゴムの厚さの場合も、発光性改質層を表面に形成できた。
【0032】
図2は、60分間のレーザー光照射により、シリコーンゴム表面に発光性改質層を形成した試料の写真図である。改質された試料に、波長325nmのHe−Cdレーザー光を照射すると、改質層からの強い白色蛍光が観察された。この蛍光スペクトルは、試料のポストアニーリングにより変化することも判明した。
【0033】
発光性改質層の化学組成を、X線光電子分光分析及び赤外分光分析により調べた。その結果、発光性改質層は、酸化ケイ素であることがわかった。しかし、この酸化ケイ素層は、化学量論組成ではない(二酸化ケイ素ではない)こともわかった。また、この改質層には、炭素は全く混入していないことも判明した。
【0034】
ArFエキシマレーザーに代えて、Nd:YAGレーザーの第4高調波(波長266nm)を用いた場合、上記のような発光性改質層は全く形成されず、代わりにシリコーンゴム表面には炭素が析出した。
【0035】
ArFエキシマレーザーに代えて、波長157nmのFレーザー光を用いた場合(エネルギー密度:約10mJ/cm/pulse一定、パルス繰り返し周波数:10Hz一定)、上記のような発光性改質層は全く形成されず、代わりにシリコーンゴム表面には二酸化ケイ素層が形成された。しかし、シリコーンゴムを予め真空中(10−4pa)で64時間保持し、その後引き続きFレーザー光を照射すると、シリコーンゴム表面には発光性改質層が形成された。
【0036】
これは、真空中に予めシリコーンゴムを放置しておくことで、シリコーンゴム中の酸素分子がシリコーンゴムから除外され、発光性改質層が形成されやすい状態(化学量論組成の二酸化ケイ素が形成されにくい状態)になったからだと思われる。
【0037】
以上本発明の実施の形態及び実施例について説明してきたが、本発明はこれに限定されることなく請求項の記載の範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当業者には自明であろう。
【産業上の利用可能性】
【0038】
本発明によれば、Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に、波長266nm未満の光を照射することにより、従来困難とされてきたSi−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部への発光性改質層の形成が可能であり、また前記発光性改質層を位置選択的並びに空間選択的に行うことも可能となる。その結果、本発明は、電気、電子分野のみならずオプトエレクトロニクス、フォトニクス、バイオ/メディカルあるいは福祉工学分野でのデバイス作製の基盤技術として利用可能であるなど多機能マイクロ/ナノデバイス作製のための必要不可欠な技術となる。
【0039】
また、本発明は、これら分野にとどまらず、今後マイクロ・ナノマシーニング技術を利用して発展するデバイス作製の分野に多大に利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【0040】
【図1】本発明に係るSi−O−Si結合を含む化合物の改質法及びデバイス作製法の実施の形態であって、(A)はマスクを用いる実施の形態1、(B)は光学素子としてのレンズを用いる実施の形態2を示す構成図である。
【図2】本発明の実施例において、発光性改質層が形成されたシリコーンゴムに、He−Cdレーザー光を照射することにより、白色蛍光が観察された写真図である。本発明の実施例によって形成された
【符号の説明】
【0041】
1 シリコーン
2 レーザー光
3 マスク
4 レンズ

【特許請求の範囲】
【請求項1】
Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に、波長266nm未満の光を照射することにより、発光性改質部を形成することを特徴とするSi−O−Si結合を含む化合物の改質法。
【請求項2】
前記Si−O−Si結合を含む化合物への光照射を真空中又は非酸化雰囲気中で行う請求項1記載のSi−O−Si結合を含む化合物の改質法。
【請求項3】
前記光照射以前より前記Si−O−Si結合を含む化合物を真空中又は非酸化雰囲気中に配置しておく請求項2記載のSi−O−Si結合を含む化合物の改質法。
【請求項4】
前記Si−O−Si結合を含む化合物の表面にマスクを配置し、前記マスクの開口部を通して前記波長266nm未満の光を照射する請求項1,2又は3記載のSi−O−Si結合を含む化合物の改質法。
【請求項5】
前記Si−O−Si結合を含む化合物表面乃至は内部に光学素子を通して前記波長266nm未満の光を集光照射する請求項1,2又は3記載のSi−O−Si結合を含む化合物の改質法。
【請求項6】
請求項1,2,3,4又は5記載のSi−O−Si結合を含む化合物の改質法で、Si−O−Si結合を含む化合物の表面又は内部に、発光性材料を形成することを特徴とするデバイス作製法。

【図1】
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【図2】
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【公開番号】特開2008−115334(P2008−115334A)
【公開日】平成20年5月22日(2008.5.22)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−302052(P2006−302052)
【出願日】平成18年11月7日(2006.11.7)
【出願人】(390014306)防衛省技術研究本部長 (169)
【Fターム(参考)】