説明

X線成分計測装置

【課題】複数のエネルギー帯のX線を用いて測定対象の成分を計測できるとともに、測定対象に応じて識別すべきエネルギー帯を容易に変更できるX線成分計測装置を提供する。
【解決手段】X線発生器10から照射されたX線は、計測対象30を透過して、X線検出器20に入射する。X線検出器20は、量子計数方式の検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する。X線検出器20により計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出することができる。しきい値は、測定対象に応じて変更でき、しきい値を3個以上にとると、4種類以上の成分比を算出することができる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、X線成分計測装置に関し、具体的には量子計数方式の検出器を使用するX線成分計測装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来のX線検査には、(1)透過画像として内部構造や欠陥を検出する透過画像法、(2)X線の密度による減衰から物質の厚みを計測する密度法、(3)測定対象の透過画像を多方向から撮影し、画像再構成計算によって3次元構造を再現するX線CT法、(4)X線ビームを照射して発生する蛍光X線スペクトルを分析して元素を特定する蛍光分析法、がよく用いられている。(1)から(3)は測定対象の形態情報を提供する方法であり、(4)は測定対象の表面のみの成分情報を提供する方法として、用途に合わせて個別に使われている。
【0003】
(1)の透過画像法は、最も一般的な検査方法で、電子部品、プリント基板、電池等の内部構造を2次元的に可視化するのに用いられている。しかし、X線照射方向が重なって見えるために、長さや面積、欠陥の大きさなどを定量的に計測することは難しい。
【0004】
(2)のX線減衰から物質の厚みすなわち物質の透過距離を推定する方法では、ガンマ線のような単色放射線源を使用する。これは、フォトンのエネルギー毎に決まっている構成物質固有の減衰定数を計算式(Beer−Lambert則)で使用するためである。ただし、構成物質が複数の場合は、合算した透過率のデータしか得られないため、物質ごとの成分比を求めることはできない。この密度法に属するX線骨密度計では、X線のような幅広いスペクトルの放射線を使うことも可能である。しかし、幅のあるスペクトルに対する平均的なX線減衰が得られることとなり、計測精度が低下する。したがって、人体骨など測定対象ごとに経験的なパラメータを設定して使用しているのが現状である。
【0005】
構成成分の分布を3次元像として計測できるのは(3)のX線CT法である。X線CT法では、測定対象の全周方向から約360角度以上の透過画像を取得し、画像再構成という計算処理を行った後に、3次元断層像を得る。したがって、特殊なハードウエアとソフトウエアが必要となり、撮影時間もかなり長くかかる。(4)のX線蛍光分析法は、細く絞った励起用のX線ビームを測定対象に照射して、表面付近から発生する2次的な蛍光X線スペクトルを測定することで、その領域内の元素を特定する方法である。蛍光X線のエネルギーは低いので、内部から発生した蛍光X線は検出器には到達しない。そのため、表面の元素マッピングに限られる。また、スペクトルが解析可能な波形となるまでに、スペクトルのピークあたり1000カウント以上のフォトン数を必要とするため、1点の測定に数分、表面のマッピングに数時間以上かかることが多い。
【0006】
実際のX線検査では、人体に対するX線被曝の制限や、オンラインでのハイスループット部品検査が求められており、短時間でのX線計測が望まれている。さらに、X線計測でも、形状のみならず、物質成分の同定、構成成分比、成分ごとの厚みなど、従来のX線検査における計測データ以上のデータが求められ、従来の白色X線の減衰のみによる計測では対応できない状況になってきている。
【0007】
X線管から発生するX線は、管電圧に相当するフォトンエネルギーを最大エネルギーとして、幅広いスペクトルを持っている。X線計測においても、可視光レーザーのように単色成分のみを発生させる発生器があれば、計測手法が大きく進展する。しかし、現在のところ、単色X線を発生させる装置は、放射光施設や大出力X線源からモノクロメータで単色成分を取り出すX線回折装置に限られており、検査現場で単色X線を利用することは容易ではない。X線検査では、低コストで、容易に使用できる普及型の計測装置に対するニーズが高い。
【0008】
X線を使って短時間のうちに物質を識別するため、例えば、医療分野では、二重エネルギーエックス線吸収法(Dual Energy X-ray Absorptiometry:DEXA)が開発され、骨密度計測に利用されてきた(特許文献1参照)。DEXAはX線の白色スペクトルの平均的な2つのエネルギー帯を利用して、X線透過経路の骨部分厚さの推定値と投影画像における骨部分面積から、近似的に骨密度(単位面積あたりの骨量)を算出する手法である。
【0009】
図1(a)(b)は、DEXAで用いられる従来の二重エネルギーX線発生方法を説明する図である。図1(a)は、パルススイッチングを使用して得られる2つの異なるスペクトルを示す。図2(b)は、フィルタを使用して得られる高エネルギー帯と低エネルギー帯に2つのピークをもつスペクトルを示す。
【0010】
パルススイッチングは、X線源の管電圧をスイッチングして、異なるスペクトルをもつ2つのX線を得るものである。しかし、この方法では、2度のX線照射が必要で、人体に対する被曝量が増えるという問題がある。
【0011】
フィルタは、金属物質固有の急峻な吸収特性を利用した金属フィルタであり、X線源の透過窓に配置される。したがって、フィルタを介在させることにより、全体的なフォトン強度が下がり、信号として取り出すべきフォトン強度をも下げてしまうという問題がある。
【0012】
また、DEXA法では骨密度の測定が目的であったため、空間的な解像度はあまり重視されてこなかった。
【0013】
なお、放射線を用いたCT装置の検出器として特定のエネルギーのフォトンの個数を計数する検出器を用いるもの、あるいはX線検査の検出器としてX線エネルギー帯に弁別してそれぞれの強度を求めるX線検査装置が提案されている。(特許文献2、3参照)
特許文献2は、フォトンエネルギーを識別する検出器を用いて構成成分分析とその分布を求めるCT装置が記載されているが、CT装置では全周方向の投影データを収集し、画像再構成という計算処理によって、構成成分の分布を再現するため、データ収集と画像再構成に多くの時間を必要とし、複雑で高価なハードウエアを必要とする。また、画像再構成計算処理は、1枚の投影画像から、構成成分比を算出するものではない。
特許文献3は、フォトンカウンティング動作による半導体イメージャーと高エネルギーX線源を用いた低被曝X線検出装置を提供するもので、エネルギーレベルごとの強度画像信号からRGB画像信号を作成し、表示を行うもので、2つのX線エネルギーを使って物質の判別をする空港の手荷物検査と同様の原理である。しかし、エネルギーレベルごと、画素ごとの減衰データを使って、構成成分比を算出する演算処理に関する記載は全くない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0014】
【特許文献1】特開平07−284491号公報
【特許文献2】特開2004−77132号公報
【特許文献3】特開2007−271468号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0015】
本発明は、上記問題点に鑑み、複数のエネルギー帯のX線を用いて測定対象の成分を計測できるとともに、測定対象に応じてX線のエネルギー帯の数を容易に変更できるX線成分計測装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0016】
本発明のX線成分計測装置は、計測対象にX線を照射するX線発生器と、前記計測対象を透過したX線が入射するX線検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する画素を有するX線検出器と、前記計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出する成分比算出手段と、を備える。
前記予め設定されたしきい値は3個以上であり、前記成分比算出手段は4種類以上の成分比を算出するようにしてもよい。
前記計測対象を人体として、前記成分比算出手段は人体成分の成分比を算出するようにしてもよい。
前記計測対象を工業材料として、成分比算出手段は工業材料成分の成分比を算出するようにしてもよい。
【発明の効果】
【0017】
本発明のX線成分計測装置は、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する画素を有するX線検出器を用いるので、複数のエネルギー帯のX線を用いて測定対象の成分を計測できるとともに、X線検出器の設定を変更するだけで、測定対象に応じてX線のエネルギー帯の数を容易に変更できる。
特に、予め設定されたしきい値を3個以上に設定すると、従来の装置ではできなかった4種類以上の成分について識別でき、その成分比を算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【0018】
【図1】(a)(b)は、従来の二重エネルギーX線発生方法を示す図である。
【図2】本実施形態のX線成分計測装置の一例を示す概略図である。
【図3】本実施形態の量子計数タイプの検出器を説明する図である。
【図4】本実施形態の量子計数タイプの検出器におけるX線エネルギー帯の分離方法を説明する図である。
【図5】(a)(b)は、本実施形態の量子計数タイプの検出器の特徴を従来のX線検出器との対比で示す図である。
【図6】本実施形態の量子計数タイプの検出器におけるX線エネルギー帯分離方法を説明する図である。
【図7】(a)(b)は、本実施形態の量子計数タイプの検出器におけるX線エネルギー帯設定方法を説明する図である。
【図8】他の実施形態のX線成分計測装置の一例を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【0019】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
図2は、本発明の一実施形態であるX線成分計測装置の一例を説明する概略図である。X線成分計測装置は、X線を照射するためのX線発生器10と、入射したX線を検出するためのX線検出器20とからなる。
【0020】
X線発生器10は、内部を真空に排気した後密封して形成された密封管内に、電子線を発生するカソード(図示せず)と、発生した電子線が収束して衝突するターゲット(図示せず)とを備え、収束電子線が衝突したターゲットから発生するX線をX線窓11から取り出す。X線窓11には、シート状のX線を照射するためにスリット上のコリメータ15が設けられる。コリメータ15はX線窓に平行に回転可能である。X線発生器10は、X線発生器を支持する平面に平行に移動可能である。X線発生器10は、コリメータ15の長手方向と直交する方向に移動することにより、照射X線を平面状に走査することができる。
【0021】
測定対象30は、X線発生器10とX線検出器20との間に配置される。本実施形態では、測定対象30は骨密度を計測する人体である。
【0022】
X線検出器20は、X線発生器10から照射され、測定対象30を透過するX線を受光可能に配置される。本実施形態では、X線検出器20は、X線発生器10のコリメータ15から照射されるX線を検出可能なラインセンサである。
【0023】
X線検出器20は、量子計数方式の検出器である。量子計数方式の検出器は、入射するフォトンのエネルギーを識別して、予め設定したしきい値で区切られたエネルギー帯に含まれるフォトン数をカウントする。そして、各エネルギー帯に属するフォトン数を、画素ごとに、露光時間中に積算していく。さらに、X線検出器20は、一辺が1mm以下、例えば0.5mmの複数の微小画素を一列に並べた検出面を備え、検出位置に関する情報も取得可能となっている。
【0024】
X線検出器20は、X線検出器20の支持体40に移動可能に支持される。X線検出器20は、X線発生器10の移動に応じて、X線発生器10と平行に移動して、測定対象30を透過するX線を受光する。X線発生器10から照射されるX線は、計測対象を平面的に走査することになり、透過X線画像が得られる。図2では、X線発生器10とX線検出器20の移動方向は矢印で示されている。
【0025】
X線発生器10とX線検出器20とは、図2の矢印が示す方向と直交する方向にも移動可能である。したがって、コリメータ15を90度回転させることにより、例えば縦方向と横方向のような2方向の操作が可能である。X線発生器10、X線検出器20の移動速度は、計測対象を走査する速度でもあるので、X線減衰、検出器の蓄積時間、被爆量を考慮して決定される。なお、X線検出器20はラインセンサに限らず、微小画素をマトリクス状に配列した平面センサとすることもできる。X線検出器20を平面センサとすると、X線発生器X線検出器20を移動させないでX線画像を取得することができる。
【0026】
図3は、本実施形態の量子計数方式の検出器の概要を説明する図である。量子計数方式の検出器では、入射する個々のX線フォトンエネルギーを波高値としてカウントし、設定したしきい値で区分けされたエネルギー帯に属するフォトン数を、画素ごとに、露光時間中に積算していく。
【0027】
21は、本実施形態の検出器の1画素となるたとえばCdTeからなる半導体検出ユニットである。21−1は、半導体に印加されるバイアス電圧である。22は、半導体検出ユニット21から出力された信号を増幅する増幅素子である。23−1〜23−5は、増幅素子22からの信号を設定されたしきい値によりX線エネルギーを弁別する比較器である。24−1〜24−5は、比較器23−1〜23−5で弁別されたエネルギー帯ごとの信号をカウントするカウンタである。26は、カウンタの出力を読み出すカウンタ読み出し回路である。27は、カウンタ読み出し回路26からのカウント結果が入力され、必要な処理がされる信号処理回路である。
【0028】
X線検出器20は、半導体検出ユニット21、増幅素子22、比較器23−1〜23−5、カウンタ24−1〜24−5、カウンタ読み出し回路26と、信号処理回路27とを有する。29は、パーソナルコンピュータのようなコンピュータであって、X線検出器20の出力端である信号処理回路27に接続される。本実施形態では、コンピュータ29に後述する方程式(6)を解くプログラムがロードされていて、X線検出器20の出力結果に基づいて、成分比を算出する成分比算出手段として機能する。なお、成分比算出手段はX線検出器20に組み込まれてもよく、またハードウエアで形成されてもよい。
【0029】
図4は、量子計数検出器におけるX線エネルギー帯の分離方法の一例を説明する図である。図4では、量子計数検出器にしきい値T1〜T4を設定して、エネルギー窓E1、E2、E3を設定する。量子計数検出器には、白色スペクトルのX線がそのまま入射するが、入射フォトンの波高をエネルギー窓E1〜E3に応じて弁別する。なお、しきい値T1より低いエネルギーはノイズとして処理する。そして、各画素ごとに、各エネルギー窓E1〜E3のカウント値を積算することで、エネルギー窓E1〜E3で弁別されたエネルギーに対する透過X線強度が求められる。
【0030】
図5(a)(b)は、本実施形態の量子計数方式の検出器の特徴を従来のX線検出器との対比で示す図である。
図5(a)に示すように、従来のX線検出器は、検出器にエネルギー識別機能がない電荷積分方式であるので、すべてのフォトンエネルギーによる寄与が投影プロファイルとして記録される。
図5(b)に示すように、本実施形態の量子計数方式の検出器では、エネルギー窓E1〜E3の幅で決まるエネルギーをもつX線フォトンのみがカウントされるので、単色性は大幅に改善される。なお、エネルギー窓の幅が小さいほど単色性が高まるが、同時にカウント数が減少するとともに、計測時間も長くなるので、窓幅は実際の計測対象に即して決定される。
【0031】
本実施形態では、X線発生器に特別な機構を設ける必要は無く、検出器側の信号処理だけで、複数のエネルギー帯のX線を分離してカウントすることができる。これを用いることで、2つのエネルギー帯で3種類の物質の識別しかできないDEXA法に比べ、単色性および空間分解能を高めることができ、複数の物質の識別が容易となる。さらに、3つ以上のエネルギー帯で4種類以上の物質の識別も検出器の設定で可能となる。この方法を、本明細書では、MEXA法(多重エネルギーエックス線吸収法:Multi-Energy X-ray Absorptiometry)という。
【0032】
MEXA法では、計測対象を透過する異なるエネルギーのX線吸収強度に関する連立方程式において、画素ごとに未知数となるX線透過経路の成分比率を解くことで、構成成分量が求められる。例として、3つのエネルギー帯で4つの物質を識別する場合の方程式を(1)〜(5)に示す。
【数1】

ここで、記号の意味は以下のとおりである。
μm:平均線吸収係数
μi:各成分ごとの線吸収係数
I:透過X線強度
0:入射X線強度
j:j番目のエネルギー帯の平均フォトンエネルギー(例:j=1〜3)
d:透過距離
αi:成分比率(例:i=1〜4)
これらの式は、未知数αiに関する連立1次方程式となる。各エネルギーE1〜E3に対して、予め各成分のみの線吸収係数μi(Ej)求めることで、下記式(6)左辺の線吸収係数マトリックスが求まる。例えば、1を骨、2を組織、3を脂肪、4を軟骨あるいは椎間板の場合、μ1(Ej)、μ2(Ej)、μ3(Ej)、μ4(Ej)(例:j=1〜3、エネルギー帯)は、骨のみ、組織のみ、脂肪のみ、軟骨あるいは椎間板のみの体系を用いて、予備実験を行って事前にもとめておく。
【0033】
次いで、本実施形態のX線成分計測装置によってX線強度の減衰を計測することで右辺のX線強度ベクトルを求める。その後、下記の方程式(6)を解き、成分比率αi(i=1〜4)を求める。つまり、3つのエネルギー帯を識別するために、3個のしきい値を検出器側で設定することで、方程式(6)を解くことができる。なお、本実施形態のX線成分計測装置に、式(6)を解いて画素ごとに各成分比率を求めるアルゴリズムを作成して格納し、表示する機能をもたせるようにしてもよい。
【0034】
【数2】

【0035】
ここで、3個T1、T2、T3のしきい値をエネルギーの昇順に設定したとすると、エネルギー帯は、0〜T1、T1〜T2、T2〜T3、T3〜上限となり、形式上4つのエネルギー帯ができる。しかしながら、最も低いエネルギー帯0〜T1のしきい値T1以下の信号は、ノイズとしてカウントしない。したがって、設定したしきい値の数と、エネルギー帯の数は等しくなる。換言すると、MEXA法によると、検出器側で、X線スペクトルを区切るしきい値の設定数と同数のエネルギー帯が設定される。式(1)〜(6)では、3つのエネルギー帯を設定したことにより、α〜αの4個の成分比が得られた。以上のように、本実施形態では、エネルギー帯の数に対して(エネルギー帯の数+1)個の成分比を算出することができる。ただし、各成分比率が精度良く求められるためには、式(2)〜(4)が独立となるように、X線エネルギーE1〜E3を適切に選択する必要がある。
【0036】
図6は、量子計数タイプの検出器におけるX線エネルギー帯の選択方法の一例を説明する図である。図6は、骨、体組織、脂肪、椎間板の4種類の成分比を計測する場合の、骨、体組織、脂肪、椎間板の質量減衰係数(MAC:Mass Attenuation Coefficient)のフォトンエネルギーによる変化を示している。
【0037】
骨や組織の場合、100keVを境にして光電領域と散乱領域とに分かれている。X線吸収係数μは密度と物質に固有の質量減衰係数の積なので、密度差が小さい柔らかい組織では原子番号で質量減衰係数が大きく変わる光電領域のエネルギーを選択するのが好ましい。また、硬い組織では質量減衰係数が密度で変化しやすい散乱領域のエネルギーを選択するのが好ましい。図6では、選択されたエネルギー帯E1、E2、E3の位置を示している。このように、計測対象の成分組織に応じてエネルギーを選択することで、式(2)〜(4)の独立性を高めることができる。連立方程式の個々の式の独立性を高めることにより、連立方程式の解として算出される成分比の精度が向上する。
【0038】
図7は、本実施形態の量子計数タイプの検出器のエネルギー帯設定方法を説明する図である。図7(a)は、X線スペクトルに対して、エネルギーが大きくなる順に5つのしきい値T1〜T5を設定し、連続する5つのエネルギー帯E1〜E5を設定する場合を示す。エネルギー帯E1〜E4は、連続する2つのしきい値ではさまれるエネルギー帯である。さらに、X線管電圧の最大値でフォトンエネルギーの上限が決まるので、設定したしきい値の最大値T5からフォトンエネルギーの上限までをエネルギー帯E5とするものである。なお、しきい値T1以下のX線はノイズとみなしてカウントしない。
【0039】
図7(b)は、図7(a)と同様のエネルギー帯を設定し、連続しない3つのエネルギー帯E11、E12、E13を使用する例を示す。しきい値T1〜T5は、計測対象に応じて適切な値を選択することがき、しきい値の数、しきい値の間隔も適宜設定できる。
【0040】
図7(a)(b)の両方で、しきい値の設定間隔を小さくとると、より単色性の高いX線エネルギーが得られるが、フォトン数は減少するので、より強度の高いX線発生器を用いるなどの対策が必要である。
【0041】
本実施形態では、検出器側で複数のしきい値を設定してエネルギー帯を分離するので、エネルギー帯の設定をソフトウエアとして容易に実現可能である。さらに、X線の減衰を引き起こすことなく、より幅の狭い、複数の、異なるX線エネルギー帯を抽出することができる。3個のしきい値を設定すれば3個のエネルギー帯が得られ、4種類の物質の識別が可能となる。本実施形態の検出器では、最大5個のしきい値を設定して5個のエネルギー帯を使い、6種類の物質の判別が可能である。しかし、検出器の信号処理部の制限からしきい値の数が制限されるのであって、原理的には、設定できるしきい値には限界はない。
【0042】
本実施形態は、疾患の早期発見や定期検診による経時変化の観察に適用できるX線検査装置として使用可能である。量子計数方式の検出器で3個のしきい値を設定するだけで、従来の骨、脂肪、組織の3種類に加え、診断や治癒効果を判定するために必要な軟骨や椎間板等の組織の判別が可能となる。さらに、空間分解能が高く、骨内部の微細構造の検知も可能となる。
【0043】
図8は、本発明の他の実施形態であるX線成分計測装置の一例を示す図である。
例えば、パソコン等の液晶パネルに使われる偏光板,位相差フィルム,輝度向上フィルム,拡散フィルム,プリズムフィルム,反射フィルムなどの光学系多層フィルム、太陽電池やリチウム電池電極材、フレキシブル配線基板、多層プリント基板、紙・不織布等シート材の欠陥検出や厚さ計測など、製造ライン中や二次プロセスラインで非接触・非破壊出での品質管理、工程管理に関する検査ニーズが高い。
図8は、多層フィルム60のフィルム組成を計測する装置である。図2の装置と共通する部材には共通の番号を付している。図8の例では、X線発生器10とX線検出器20とは固定されている。多層フィルム60が、コリメータ15から照射されるシート状のX線の断面の長手方向と直交する方向に、試料移動機構80により移動する。多層フィルム60の移動により、X線の走査が行われる。図8の装置においても、多層フィルム60を形成するフィルムの種類に応じてX線検出器20のエネルギー帯を設定することにより、多層フィルム60の成分比が算出される。
【0044】
従来、産業用のX線検査装置は形態情報の取得が中心であった。これに対し、本実施形態は、複数画素をもつ量子計数型検出器を使うことによって、3つ以上のエネルギー帯のX線を識別してカウントし、複数画素ごとに透過経路に沿った成分比率を算出して、異なる材質の空間分布を求める。材料組成を定量的に計測できるため、層が明確に分離されていなくても、透過経路の積算値として、組成を算出できる。そのため、高分子材料中にガラス繊維フィラーが分散した複合材料や、太陽電池の層構造評価等にも適用可能である。
【0045】
本発明の適用範囲は広く、これまでX線検査が適用されていた多くの技術分野に適用可能である。主な例を以下に示す。
(骨密度計測)
上述のように、骨密度計測に関し、利用するX線エネルギー帯を1個追加して3つのエネルギー帯のX線減衰を計測することで、4種類の成分比を算出することが可能である。これにより、骨そしょう症などの骨疾患診断で重要となる腰椎部の椎間板や、頚部、膝、踵等の軟骨成分の検出、骨・軟骨再生医療の治療効果の検証等が可能となる。
【0046】
(体組成診断)
検出器側の設定を変更することで利用するエネルギー帯を設定することができるので、骨密度計測と同様の手法で、骨を含まない部分の脂肪率の測定や、肺や内臓疾患等の診断など、人体組織の成分比の変化を、短時間に、低被曝で検出することができる。
【0047】
(工業部材の組成成分検査)
構成成分の線吸収係数と透過率のデータを整備することができれば、測定対象を人体に限定せず、様々な工業部材に、MEXA法を適用することができる。たとえば、フレキシブル基板や多層プリント基板などでは、銅、金、インジウム、ガリウム、砒素、リン、シリコンなどの元素が含まれた多層基板を製造プロセスで使用するが、その工程管理や品質管理のために、厚さや組成比を高速にモニタリングする必要がある。また、これらには、金属元素のほか、保護材として高分子プラスチックの多層フィルムを使用する場合がある。このように、多様な材質からなる工業部材の成分比率を求めるには、より多くのエネルギー帯を使って、より多くの成分比を算出できるMEXA法が有効である。したがって、フレキシブル基板や多層プリント基板品質検査、電子板組成分布計測、液晶パネル製造プロセス、炭素繊維・ガラス繊維強化複合高分子材料検査等、多層フィルム厚さが数ミクロン〜数百ミクロンの層ごとの厚さ計測が必要な、様々な分野に本発明を適用できる。なお、X線を使った膜厚さ計測法として、X線反射率法もあるが、その適応範囲は1μm以下の、ナノメータオーダーの膜厚さ計測であり、本発明とは適用範囲が異なる。
【0048】
(廃棄物分類)
近年、希少資源の有効利用が求められているが、パソコン等の電子機器や廃基板を、資源として回収すべき元素ごとに分類する方法はない。バルク廃材に含まれる元素の成分比を、本発明のMEXA法で計測し、予め分類することで、資源回収の有効利用や省エネが実現できる。
【0049】
なお、本実施形態は、一方向からのX線照射による透過データから成分比を算出するものであるが、これを用いて、従来のX線CT装置のように、多方向からX線照射を行い、角度ごとの成分比データから画像再構成を行い、特定成分の3次元空間分布を求めることも可能である。
【実施例1】
【0050】
(骨密度計測における組織成分計測)
従来の骨密度計測では、腰椎正面の腰椎椎体1から4までの4椎体部分や、大腿骨近位部の頸部を、DEXA法を用いて測定してきた。DEXA法で検出可能な骨、脂肪、非脂肪組織の平均密度は、それぞれ1.92cm3、0.95cm3、1.02cm3である。一方、骨疾患で重要となる軟骨や椎間板などは1.10cm3なので、密度と減衰係数で透過率が決まるX線で、軟骨や椎間板の検出も可能となる。
【0051】
なお、本計測事例では、浜松ホトニクス社製、エネルギー弁別型64ch、CdTe放射線ラインセンサC10413を使用して計測系を構築する。
【0052】
あるエネルギーにおける、単一物質のX線透過率は、近似的に単色成分を仮定すると、Exp(−ρνt)となる。ここで、ρは密度(g/cm3)、νは質量減衰係数(cm2/g)、tは透過長さ(cm)である。もし、仮にE1=40keV、E2=80keV、E3=120keVの3つのエネルギーを使うと仮定すると、各エネルギー帯における質量減衰係数は、以下のようになる。
【表1】

これに各成分の密度をかけた線吸収係数マトリックス[単位:cm-1]は、以下のようになる。
【表2】

透過長さを、腰椎部分を含む人体腹部の厚みt=30cmと設定すると、上記線吸収係数マトリックスと、各エネルギー40、80、120keVでの腹部透過率から、成分比α〜α(1=骨、2=脂肪、3=体組織、4=椎間板)が求められる。仮に、X線透過I/I0がE1、E2、E3の各エネルギーで、経験的に0.0025%、0.5%、1.5%と仮定すると、MEXA法の式(6)の右辺の項(-1/d)log(I/I0(Ej))(j=1〜3)は、40keV、80keV、120keVに対して、0.355、0.176、0.142となる。
【0053】
これらを式(2)〜(5)の右辺に代入して、式(2)〜(5)を、4つの独立変数からなる連立1次方程式として解くと、その結果、α1〜α4は、0.17、0.32、0.43、0.09となる。これから求められる各成分の透過経路における長さは、5.0cm、9.4cm、12.9cm、2.6cmとなる。その合計は29.9cmとなり、当初設定した厚み30cmにほぼ等しくなる。ただし、各層の計算結果長さを設定値で除した誤差は、−0.3%、−4.9%、+0.4%、+13.5%である。したがって、測定精度をより向上させるために、より適切なパラメータの選択が必要となる。
【表3】

このようにして、各エネルギーでのX線透過率を利用して、X線焦点と検出器画素を結ぶ透過経路に沿った人体の組成比率が求められる。これを他の画素でも同様に計測することで、骨や脂肪等の深部に及ぶ空間的な組成比率を求めることが可能となる。
【実施例2】
【0054】
(乳がん検査における組織成分計測)
現在、女性の罹患するがん1位は、乳がんで、発症率は23人に1人との報告がある。0期といわれる初期の乳がんは、乳管や小葉と呼ばれる組織の中にとどまっているが、進行度I期では、しこりが発生し、その大きさが0.5センチ以下から2センチまで認められる。その検査には、乳房のX線透視画像によるマンモグラフィ検査が行われており、大きさや形、石灰化の有無がわかる。乳がんの約半数は石灰化するが、マンモグラフィでは、触診では発見できない5mm以下の石灰化を検出できる。
【0055】
そこで、本願のMEXA法の乳がん組成成分計測への適用可能性を検討した。圧迫乳房厚4cmのうち、脂肪部分が2cm、乳腺部が1.5cm、石灰化(Ca:カルシウム)部位が0.5cmと設定する。X線照射条件として、通常行われているモリブデンターゲットX線管による24keVと、ロジウムターゲットX線管による32keVを2つのエネルギー帯として選択した。識別する組織が3種類なので、利用するエネルギー帯を2つ使うことで、3つの成分比を算出できる。
【0056】
なお、本計測事例では、浜松ホトニクス社製、エネルギー弁別型64ch、CdTe放射線ラインセンサC10413を使用して計測系を構築する。
【0057】
脂肪、乳腺、カルシウムの平均密度は、それぞれ0.95g/cm3、1.02g/cm3、1.55g/cm3である。あるエネルギーにおける、単一物質のX線透過率は、近似的に単色成分を仮定すると、Exp(−ρμt)となる。ここで、ρは密度(g/cm3)、μは質量減衰係数(cm2/g)、tは透過長さ(cm)である。
【0058】
いま、E1=24keV、E2=32keVの2つのエネルギーを使う場合、各エネルギー帯における質量減衰係数は、以下のようになる。
【表4】

これに各成分の密度をかけた線吸収係数マトリックス[単位:cm-1]は、以下のようになる。
【表5】

透過長さを、圧迫乳房の総厚みt=4.0cmと設定すると、上記線吸収係数マトリックスと、各エネルギーE1=24keV、E2=32keVでの乳房透過率から、成分比α1〜α3(1=脂肪、2=乳房組織、3=カルシウム)が求められる。仮に、X線透過率I/I0がE1、E2の各エネルギーで、経験的に0.05%、2.2%と仮定すると、MEXA法の式(6)の右辺の項、(1/d)log(I/I0(Ei))は、24keV、32keVに対して、1.90、0.96となる。これらを式(2)〜(4)の右辺に代入して、式(2)〜(4)を、3つの独立変数からなる連立1次方程式として解くと、その結果、α1〜α3は、0.473、0.402、0.125となる(表6参照)。これから求められる各成分の透過経路における長さは、1.9cm、1.6cm、0.5cmとなる。その合計は4.0cmとなり、当初設定した厚みにほぼ等しくなる。ただし、各層の計算結果長さを設定値で除した誤差は、+5.4%、−7.3%、+0.2%である。測定精度をより向上させるためには、より適切なパラメータの選択が必要となる。
【表6】

このようにして、各エネルギーでのX線透過率を利用して、X線焦点と検出器画素を結ぶ透過経路に沿った各組織の厚さ比率が求められる。これを他の画素でも同様に計測することで、マンモグラフィにおいてもMEXA法を適用することにより、組織および石灰化の空間的な分布を求めることが可能となる。
【0059】
以上説明した本実施形態の利点を他の装置との対比して述べると以下のとおりである。
現時点で、高強度の単色X線は、放射光施設あるいはX線回折装置に限られている。放射光施設の光源ではエネルギーを可変にできるので、複数のエネルギー帯のX線を都度ごとに取り出すことができるが、施設利用時間等の制限を受けるため、低コストで容易に使用できる普及型の計測装置とはならない。また、X線回折装置のX線源では、モノクロメータで単色成分を取り出しているが、一つのエネルギー帯しか取り出すことができないため、本発明が対象とする成分分析には適していない。
【0060】
単色の放射線源として、ラジオアイソトープ(RI)を使う方法も考えられるが、2つ以上のエネルギーを利用するには、放出するフォトンエネルギーが異なる2種類以上のRIを使用する。通常、RIの放射線発生数はX線管に比べてはるかに小さいため、測定時間が極端に長くなる。これを補うため、高強度のRIを交換しながら使用することも可能であるが、放射性物質の取り扱いと管理に、かなりの危険と煩雑さが伴う。
【0061】
したがって、放射線源として、X線管球を使う装置が最も実用的となりうる。本発明では、検出器側でエネルギー帯を設定することができ、ハードウエアの変更なしに、測定対象や測定部位に合わせて最適なエネルギー帯を選択することができる。さらに、判別物質の数に合わせてエネルギー帯の数を容易に変化させることができる。従来のDEXAのように、X線発生器側でハード的に異なるエネルギー帯を固定して生成する場合は、エネルギー帯の位置や数を変えることは容易ではない。
【0062】
本実施形態では、X線発生器側からはそのまま白色スペクトルを発生させ、検出器側で複数のしきい値を設定し、これを超えるエネルギーのフォトン数のみをカウントすることで、入射フォトンエネルギーを識別してエネルギー帯ごとにカウントし、複数のエネルギー帯を同時に検出する量子計数方式を採用する。従来のX線検査機器の検出器側には、入射フォトンのエネルギーを識別する機能がなく、全てのエネルギーのフォトンを合算して強度のみを記録する、電荷積分方式の検出器が用いられてきた。
【0063】
従来、X線スペクトルを計測する装置は、MCA(Multi−Channel Analyzer)として市販されている。しかし、これらは1つの受光部が独立した検査装置となっており、高精度にエネルギー分解可能ではあるが、比較的大きな受光部の1経路の情報しか得られないため、測定対象全体の形態をカバーするには、長時間のマッピングが必要となる。
【0064】
骨密度計や液晶パネル、フレキシブル基板、多層プリント基板等の計測装置では、透過経路の成分比の空間的な分布も重要な情報となることから、成分比と同時に形状、すなわち、検出位置に関する情報を記録する必要がある。本願の量子計数方式複数画素検出器は、1mm以下の複数の微小画素で構成され、一つ一つの画素が、MCAほどの分解能は持っていないが、入射フォトンエネルギーを識別して複数のエネルギー帯に分類する機能を有する。
【0065】
本実施形態では、しきい値の数だけエネルギー帯を設定できるので、従来のDEXA法のように2つのエネルギー帯で3種類の物質の識別に限定されない。さらに、検出器側でソフト的に複数のしきい値を設定してエネルギー帯を分離するので、X線側の減衰はなく、より幅の狭いエネルギー帯で単色性の高い、異なるX線エネルギー帯を抽出して、物質判別に利用することができる。
【0066】
適用例として、従来のDEXA法で検出可能なのは、骨、脂肪、非脂肪組織であるが、4種類の物質が識別可能となれば、骨疾患で重要となる軟骨や椎間板などの検出も可能になり、診断や治療効果の検証に大きな寄与が期待できる。
【0067】
さらに、工業部材や建築物、電子材料などではより多くの物質を識別するニーズは高いため、従来法を超えて、3つ以上のエネルギー帯を使い、4種類以上の物質の識別と空間分布を得られるMEXA法のメリットは大きいと考えられる。
【符号の説明】
【0068】
10 X線発生器
11 X線窓
15 コリメータ
20 X線検出器
30 測定対象
40 X線検出器の支持体
60 多層フィルム
80 試料移動機構

【特許請求の範囲】
【請求項1】
計測対象にX線を照射するX線発生器と、
前記計測対象を透過したX線が入射するX線検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する画素を有するX線検出器と、
前記計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出する成分比算出手段と、
を備えることを特徴とするX線成分計測装置。
【請求項2】
前記予め設定されたしきい値は3個以上であり、前記成分比算出手段は4種類以上の成分比を算出することを特徴とする請求項1に記載のX成分計測装置。
【請求項3】
前記計測対象を人体として、前記成分比算出手段は人体成分の成分比を算出することを特徴とする請求項1または2に記載のX線成分計測装置。
【請求項4】
前記計測対象を工業材料として、成分比算出手段は工業材料成分の成分比を算出することを特徴とする請求項1または2に記載のX線成分計測装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【公開番号】特開2011−24773(P2011−24773A)
【公開日】平成23年2月10日(2011.2.10)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−173447(P2009−173447)
【出願日】平成21年7月24日(2009.7.24)
【出願人】(301021533)独立行政法人産業技術総合研究所 (6,529)
【Fターム(参考)】