Ｘ線ＣＴ装置
【課題】撮影データ量の大幅な低減と、医用画像の高精細化が可能なＸ線ＣＴ装置を提供すること。
【解決手段】実施形態のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管が被検体を中心に回転可能に配置された回転部と、前記回転部の回転を制御する回転制御部と、前記回転部の回転運動を支える固定部と、固定部と回転部が相互通信可能にＬＥＤとＰＤが配置された光送受信部と、前記光受信部の通信テストスケジュールを実行する固定部側制御部および回転部側制御部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の送信出力を規定の範囲内で可変するＬＥＤ駆動電流可変部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の受信感度を規定の範囲内で可変するＰＤアンプ増幅率可変部と、前記通信テストで前記光送受信部の通信エラーを検出する通信異常検出部と、を有する。
【解決手段】実施形態のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管が被検体を中心に回転可能に配置された回転部と、前記回転部の回転を制御する回転制御部と、前記回転部の回転運動を支える固定部と、固定部と回転部が相互通信可能にＬＥＤとＰＤが配置された光送受信部と、前記光受信部の通信テストスケジュールを実行する固定部側制御部および回転部側制御部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の送信出力を規定の範囲内で可変するＬＥＤ駆動電流可変部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の受信感度を規定の範囲内で可変するＰＤアンプ増幅率可変部と、前記通信テストで前記光送受信部の通信エラーを検出する通信異常検出部と、を有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在のＸ線ＣＴ装置は、高精細な医用画像を取得するために、ガントリの高速回転化が進んでいる。このためＸ線検出器から再構成ユニットに送信する撮影データ量が飛躍的に増加している。Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管と対向するＸ線検出部が回転する回転部で撮影データを収集し、この撮影データを再構成ユニットのある固定部へ送信するために、光を用いた非接触データ伝送装置が用いられている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
この非接触データ伝送装置は、一般的に送信にＬＥＤ(Light Emitting Diode)、受信にＰＤ(Photodiode)を使用しているが、塵、埃などの汚れにより発光性能、受光性能が劣化する。またレンズ系に結露などの症状をもたらす場合もある。塵、埃などによる性能劣化は、病院の設置環境と使用期間など依存するため、単純に予測できないという問題がある。また、ＬＥＤ、ＰＤの光部品自体の劣化も当然生じうる。
【０００４】
従来は、通信エラーが生じてから部品の交換などのメインテナンスを行っていたが、そでは装置がシステムダウンして使用不可となるため、緊急時の患者などでＣＴ検査ができないという致命的な問題を生じてしまう可能性があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−７５４８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、上記課題を解決し、システムダウンが生じる前に通信部品の性能劣化判定が行えるＸ線ＣＴ装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を達成するために、実施形態のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管が被検体を中心に回転可能に配置された回転部と、前記回転部の回転を制御する回転制御部と、前記回転部の回転運動を支える固定部と、固定部と回転部が相互通信可能にＬＥＤとＰＤが配置された光送受信部と、前記光受信部の通信テストスケジュールを実行する固定部側制御部および回転部側制御部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の送信出力を規定の範囲内で可変するＬＥＤ駆動電流可変部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の受信感度を規定の範囲内で可変するＰＤアンプ増幅率可変部と、前記通信テストで前記光送受信部の通信エラーを検出する通信異常検出部と、を有する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態におけるＸ線ＣＴ装置の基本的構成図。
【図２】同実施形態のＸ線ＣＴ装置の通信テスト機能を示すブロック構成図。
【図３】同実施形態における非接触データ伝送装置のブロック図。
【図４】同実施形態における通信テストのフローチャート図。
【図５】同実施形態における通信テストパターンの一例。
【図６】同実施形態の通信テストの結果を示す一例。
【図７】同実施形態における劣化部品の特定例。
【図８】同実施形態における通信テスト結果を表示する画面例。
【図９】同実施形態におけるメインテナンスサービスへの連絡表示例。
【図１０】同実施形態における他の通信テスト項目の例。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、発明を実施するための実施形態について図１から図１０に示す図面を参照しながら詳細に説明する。なお、Ｘ線ＣＴ装置はＸ線管とＸ線検出部とが対向して配置され、被検体の周囲を共に回転するタイプと、リング状に多数の検出素子がアレイされ、Ｘ線源のみが被検体の周囲を回転するタイプなど様々なタイプがあるが、本実施形態は光を伝送媒体とする非接触データ伝送装置を有するものであれば、いずれのタイプにも適用可能である。本実施形態の説明では、Ｘ線管とＸ線検出部とが共に回転するタイプについて説明する。
【００１０】
図１は、本実施形態におけるＸ線ＣＴ装置を示している。実施形態のＸ線ＣＴ装置は、被検体Ｐ（患者）をＸ線でスキャンするための架台（ガントリ）１１と、被検体Ｐを架台１１内に移動する寝台１２と、Ｘ線ＣＴ装置全体を制御するシステム制御部１３と、架台１１から得られた投影データを処理し、医用画像を処理する画像処理部１４とを有する。
【００１１】
架台１１は、被検体Ｐ（患者）を中心にして回転運動する回転部１５と、回転部１５を支持する固定部１６から構成される。回転部１５には、Ｘ線を発生するＸ線管１１１、被検体Ｐ（患者）を透過したＸ線を検出するＸ線検出器１１２、Ｘ線検出器１１２の検出データをデジタルデータに変換して収集するデータ収集装置（ＤＡＳ：Data Acquisition System）１１３、およびデータ収集装置１１３で取得された投影データを回転部１５外の画像処理部１４へ非接触で伝送する非接触データ伝送装置１１４から構成される。
【００１２】
システム制御部１３は、Ｘ線を発生するためにＸ線管１１１に印加する電圧を発生する高電圧発生装置１１５、スキャン条件に基づいて回転部１５を回転させる回転駆動部１１６、および被検体Ｐが横臥する寝台１２をガントリ１１内に移動させる寝台駆動部１１７を制御する。
【００１３】
画像処理部１４は、非接触データ伝送装置１１４から転送された投影データから、断面像を再構成するなどの診断に必要な医用画像を再構成するための画像処理を行い、この医用画像は、画像データ保存部１４１に保存するとともにコンソールの表示部１３１などに表示される。システム制御部１３はさらに操作者がシステム制御を行うための操作部１３２を備える。
【００１４】
図２に示すように、本実施形態のＸ線ＣＴ装置は上記一般的な装置構成に加え、非接触データ伝送装置１１４を構成する光部品の性能劣化状態を判定できる通信テストを行う機能を有する。ここでは、非接触データ伝送装置１１４の通信テストを行うにあたって必要なブロックのみを記載している。
【００１５】
非接触データ伝送装置１１４は、固定部１６側の通信制御を行う固定部側制御部２１、光を伝送媒体として回転部１５とデータ通信を行う光送受信部２２ａ、回転部１５側の通信制御を行う回転部側制御部２３、光を伝送媒体として固定部１６とデータ通信を行う光送受信部２２ｂ、および通信テストの強制終了のためのリセット部２４を有する。
【００１６】
また、固定部１６側には一つ以上の送信用ＬＥＤ２５ａ、受信用ＰＤ２６ａ（複数のＬＥＤ、ＰＤを代表して１つに符号をつける）回転部１５にも一つ以上の送信用ＬＥＤ２５ｂ、受信用ＰＤ２６ｂを有する。破線矢印で示す固定部１６から回転部１５方向のデータ通信においては、操作部１３２から送信されるスキャン条件データ（回転部１５のＸ線出力条件や、スリット、ウエッジなどのシステム制御信号）などが送信される。また、実線矢印で示す回転部１５から固定部１６へのデータ通信では被検体Ｐの投影データ等が送信される。なお、図２の送信用ＬＥＤ２５ａ、２５ｂ、受信用ＰＤ２６ａ、２６ｂの数、配置は単なる例示でありこの図により制限されない。すなわち光部品の配置数および配置位置は伝送容量、コストなどのシステム設計によって変化する。例えば、一般的には固定部１６から回転部１５への伝送量は、回転部１５から固定部１６への伝送量より少なくて済むため、回転部１５側のＰＤ２６ｂの設置数は固定部１６のＰＤ２６ａの設置数より少なくてよい。また、受信用ＰＤ２６ａ、２６ｂの設置数を送信用ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの設置数より少なくし、回転速度などで決定される伝送容量を勘案し、必要数の送信ＬＥＤ２５ａ、２５ｂを配置する。
【００１７】
さらに、システム制御部１３は、通信テストにより通信エラーを検出する通信異常検出部２７と、通信エラーが検出された場合に、通信エラーとなっている光部品（ＬＥＤ２５ａ、２５ｂ、ＰＤ２６ａ、２６ｂ）を特定するために通信エラーが生じた時の回転部１５の回転角から性能劣化した光部品を特定する劣化部品判定部２８と、通信エラー時に縮退モードで運転するかどうかを判定する縮退運転モード判定部２９を有する。
【００１８】
図３は、非接触データ伝送装置１１４のブロックを示している。固定部側制御部２１および回転部側制御部２３には、後述する通信テストのスケジュールを管理・制御を行うスケジュール制御部３１ａ、３１ｂと、固定部１６および回転部１５の光送受信部２２ａ、２２ｂには、ＬＥＤ２５ａ、２６ｂの駆動電流を制御するＬＥＤ駆動部３２ａ、３２ｂとＬＥＤ駆動部３２ａ、３２ｂの駆動電流を通信テストスケジュールで規定される範囲内で可変する電流可変部３３ａ、３３ｂを有し、さらにＰＤ２６ａ、２６ｂの受信信号をデータ識別レベルまで増幅するＰＤアンプ部３４ａ、３４ｂと、ＰＤアンプ部３４ａ、３４ｂの増幅率を通信テストスケジュールで規定される範囲内で可変する増幅率可変部３５ａ、３５ｂを有する。
【００１９】
次に図４を用いて、本実施形態で実施されるに通信テストのフローを説明する。まずステップＳＴ４０１では、通信テストを行うための通信テストモードを開始する。この通信テストモードは、Ｘ線管１１１のウォーミングアップ時に行うことが好ましい。ウォーミングアップ時に行うことによってスキャン開始までの時間を余分に消費することがない上、毎日の稼働時に非接触データ伝送装置１１４の光部品の性能劣化確認が可能となる。
【００２０】
ステップＳＴ４０２では、タイマをセットする。通信テスト中に通信エラーが生じると、固定部側制御部２１から回転部側制御部２３への制御が不可能となるため、本実施形態の通信テストでは、固定部側制御部２１と回転部側制御部２３との同期をタイマによって行い、固定部側制御部２１と回転部側制御部２３それぞれがタイマスケジュールによって通信テストを継続することとする。これにより通信テスト中に通信エラーが生じても、通信テストを中断することなく実行することが可能となる。
【００２１】
ステップＳＴ４０３では、まずＬＥＤ２５ａ、２５ｂの性能劣化テストを行う。ＬＥＤ２５ａ、２５ｂで性能劣化が生じているかどうかは、電流可変部３３ａ、３３ｂによる駆動電流の可変を行い、通信エラーが生じるかどうかで判定する。駆動電流の可変幅は、Ｘ線ＣＴ装置の仕様で定められた範囲内で可変することとし、この可変によって装置が故障することはない。本実施形態の例では±１０％の範囲で可変することとする。また固定部側ＬＥＤ２５ａ、回転部側のＬＥＤ２５ｂの駆動電流を同時に可変することとして説明する。なお、本実施形態では、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流を可変しているが、本来の目的は、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの送信出力を可変することが目的である。
【００２２】
図５は、テストスケジュールを示している。回転部１５の最初の１回転目では、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂをＸ線ＣＴ装置で規定される標準の駆動電流値で駆動し、非接触データ伝送装置１１４の通信テストを行う（０％試験）。また１回転のアイドリングの後、次の１回転では、１０％ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流を増加させ通信テストを行う（＋１０％試験）。さらに１回転のアイドリングの後、１０％ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流を減少させ通信テストを行う（−１０％試験）。この時、ＰＤアンプ３４ａ、３６ｂは規定の標準増幅率（０％）に設定し可変しない。
【００２３】
ステップＳＴ４０４では、通信エラーが生じたかどうか判断する。通信エラーが生じていれば（ＳＴ４０４：Ｎｏ）、通信異常検出部２７によりタイムアウトを検出し（ＳＴ４０５）、次のステップに進む。通信エラーがなければ、（ＳＴ４０４：Ｙｅｓ）そのまま次のステップに進む。また、通信テスト中に通信エラーが発生すれば、劣化部品判定部２８は、通信エラーが生じたＬＥＤ−ＰＤ対と、回転部１５の回転角を記録する。
【００２４】
なお、通信エラーをタイムアウトにより判定したが、通信データのパリティーチェックを行い、通信誤り率が増加していることで通信エラーを判定してもよい。
【００２５】
ステップＳＴ４０６では、ＰＤ２６ａ、２６ｂの性能劣化テストを行う。テストスケジュールは図５で示したようにＬＥＤ２５ａ、２５ｂの性能劣化テストと同様とする。
【００２６】
回転部１５の最初の１回転目では、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を装置で規定される標準の増幅率で通信テストを行う（０％試験）。また１回転のアイドリングの後、次の１回転では、１０％ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を増加させ通信テストを行う（＋１０％試験）。さらに１回転のアイドリングの後、１０％ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を減少させ通信テストを行う（−１０％試験）。この時、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流は規定の標準値（０％）に設定し可変しない。なお、本実施形態では、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を可変しているが、本来の目的は、ＰＤ２６ａ、２６ｂの光電気変換効率の劣化を判定するために受信感度を可変することが目的であるため、その他の可変方法を用いてもよい。
【００２７】
ステップＳＴ４０７では、通信エラーが生じたかどうか判断する。通信エラーが生じていれば（ＳＴ４０７：Ｎｏ）、通信異常検出部２７によりタイムアウトを検出し（ＳＴ４０８）、次のステップに進む。通信エラーがなければ、（ＳＴ４０８：Ｙｅｓ）そのまま次のステップに進む。また、通信テスト中に通信エラーが発生すれば、劣化部品判定部２８は、通信エラーが生じたＬＥＤ−ＰＤ対と、回転部１５の回転角を記録する。なお、この場合も、通信データのパリティーチェックを行い、通信誤り率が増加していることを判定して通信エラーとしてもよい。
【００２８】
ステップＳＴ４０８では、通信テストスケジュールのタイムアウトを検出する。これは、何らかの原因にて通信テストが終了しない場合に、回転部側制御部２３の制御をリセット部２４にて強制的にリセットを行うためのものである。
【００２９】
ここまでのステップにて通信テストが終了する（ＳＴ４１０）。ステップＳＴ４１１では、通信テストで通信エラーが発生したかどうかを判定する。通信テストで通信エラーが発生していれば、劣化部品判定部２８は、記録された回転角をもとに劣化部品を特定し（ＳＴ４１２）、結果表示を行う（ＳＴ４１３）。また、通信テストで通信エラーがない場合も同様に結果表示する（ＳＴ４１３）。
【００３０】
ここでＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流可変の簡便な方法を述べる。ＬＥＤ駆動部３２ａ、３２ｂは、例えばトランジスタの差動増幅器などで実現され、その駆動電流の制限は、差動増幅器の電流値を制限するカレントミラー回路に接続される抵抗にて制限することができる。また、市販のＬＥＤドライバＩＣなどを使用する場合においても駆動電流値を抵抗で制限できるものが多い。したがって、複数の抵抗（本実施形態では３つの抵抗）を切り替えられるアナログスイッチなどを用意し、通信テストスケジュールに応じて切り替える方法が簡便である。また電子ボリュームなどのＩＣを使用して抵抗値を段階的に可変してもよい。
【００３１】
また、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を可変する簡便な方法について述べる。ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂには、トランスインピーダンス型アンプやハイインピーダンス型アンプなどの種類がある。トランスインピーダンス型においては、出力の一部を入力に負帰還させる抵抗があり、この抵抗によって電流増幅率を変化できる。また、ハイインピーダンス型は、ＰＤをバイアスする抵抗でその電流増幅率を可変できる。したがって、電流増幅率を可変する複数の抵抗（本実施形態では３つの抵抗）を切り替えられるアナログスイッチなどを用意し、通信テストスケジュールに応じて切り替える方法が簡便である。
【００３２】
図６は、通信テストの結果を示している。この例では、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率が＋１０％の時、およびＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流が−１０％の時に通信エラーが生じたことがわかる。また、図７は、この時の劣化光部品の特定結果を示している。通信エラーが生じた回転角、および通信方向からその時間に通信テストを行ったＬＥＤ−ＰＤ対を特定し、さらにそのどちらが劣化しているかを判定する。例えば、ＬＥＤ２５の駆動電流が−１０％の時に通信エラーが生じていれば、ＰＤ２６の劣化と判定でき、またＰＤアンプ３４の増幅率−１０％の時に通信エラーが生じていれば、ＬＥＤ２５が劣化していると判断する。劣化した光部品の切り分けができない場合は、通信エラーを生じたＬＥＤ−ＰＤ対両方を表示する。
【００３３】
上記通信テストは、ＬＥＤの性能劣化試験では回転部１５の５回転分の時間で終了し、ＰＤの性能劣化試験も同様に５回転分の時間で終了する。すなわち１０回転分の時間で終了する。例えば１回転０．７５秒のスキャン条件では、７．５秒という短い時間にて通信テストの全試験が完了するので、性能劣化があるかどうかを確認したい場合に任意の時間で行ってもよい。しかしこの通信テストをＸ線管１１１のウォーミングアップ時に行えばスキャン開始までの時間を余分に消費することがない。
【００３４】
図８は、通信テスト結果をコンソールの表示部１３１に表示した例を示している。通信エラーが生じた場合には、「架台内の通信部品劣化で通信エラーが発生する可能性がある」旨のメッセージ８１を表示すると同時に、部品劣化が生じている場所を点滅などで表示する（図中はＬＥＤ、ＰＤの性能劣化を示す）。さらに、スキャン中に通信エラーが生じる可能性があっても装置を稼働させるかどうかを操作者に確認を求めるウインドウ８２を表示させ、運転モードを選択する。ＹＥＳを選択した場合には、通信エラーを生じる可能は残るが少なくとも現時点では通信エラーを生じない縮退運転モードで運転する。ここでいう縮退運転モードとは、特にＸ線ＣＴ装置の機能に制限を与えるものではないが、非接触データ伝送装置１１４の通信エラーが現時点では生じない状態のＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流とＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率の可変範囲の組み合わせを判断し、その駆動条件にて運転する。このため標準のＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流（０％）と標準のＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率（０％）以外の条件で運転する可能性が高い。
【００３５】
また、Ｎｏを選択した場合には、標準のＬＥＤの駆動電流（０％）と標準のＰＤアンプの増幅率（０％）で運転を継続する。この場合は、スキャン中に通信エラーが生じる可能性がある。
【００３６】
このようにユーザ側にて通信部品の性能劣化が生じていることを認識し、了解して診断を行うシステムとする。さらに装置を強制的に停止するという選択肢を設けてもよい。
【００３７】
通信テストの結果では、通信が正常に行われるＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流とＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率の組み合わせがない場合がある。この場合は運転を停止することが好ましい。これらの縮退運転モードの判断は、縮退運転モード判定部２９で行われる。
【００３８】
また、通信部品の性能劣化が生じた場合には、速やかにサービスに連絡しメインテナンスを行う必要がある。したがって本実施形態の通信テストにより通信エラーが生じた場合には、図９に示すようなメッセージ９１を表示するとともに自動的にメインテナンスサービスへ連絡する構成を採用すれば、装置が完全にストップする前にメインテナンスが可能となる。これによりシステムダウンを事前に回避できる。
【００３９】
図１０は、通信テストの他の実施形態を示している。光部品の性能劣化は、上述した光出力（電気光変換効率）、受信感度（光電気変換効率）だけでなく、ＬＥＤ、ＰＤどちらにおいても周波数特性が劣化することが多い。従って送信データのクロック周波数を規定の範囲内で可変する通信テストを行ってもよい。すなわち周波数可変部３６ａ、３６ｂを固定部側制御部２１および回転部側制御部２３にそれぞれ設け、通信テストスケジュールに加える。通信テストスケジュールは図５と同様に、標準の周波数に対して増減するようなスケジュールで構わない。
【００４０】
このように、光部品の性能劣化を判定する様々なテスト項目を追加することにより、さらにきめ細やかに光部品の性能劣化の兆候を判断できるようになる。
【００４１】
以上説明したように、本実施形態によれば、Ｘ線ＣＴ装置内の非接触データ伝送装置内に使用されるＬＥＤ、ＰＤなどの光部品に対して、塵、埃などの汚れによる発光性能、受光性能の劣化を事前に判定することが可能である。また通信テストスケジュールによる性能劣化テストをウォーミングアップ時などと並行して行えるため時間を無駄に消費することがない。またこの通信テストは光部品の性能劣化を判定しているため、たとえ通信エラーが生じても通信エラーが生じない駆動条件でＸ線ＣＴ装置を稼働することができる。完全にシステムダウンする前に部品の交換・清掃などのメインテナンスが行えるため、緊急時の患者などでＣＴ検査ができなくなるという致命的な問題を回避できる。
【００４２】
本発明は、上記実施態様に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上記実施形態では固定部側ＬＥＤ２５ａ、回転部側のＬＥＤ２５ｂの駆動電流を同時に可変したが、独立して可変することで光部品の性能劣化の程度をさらに詳細に分類することができ、縮退モードの範囲を広げることができる。例えば、本実施形態の説明では、ＬＥＤの駆動電流（＋１０％）時に、ＰＤアンプ増幅率（＋１０％）などの条件では通信テストを行っていないが、この条件下で通信エラーがない場合は縮退運転が可能となる。
【００４３】
また、本実施形態の通信テストは、装置の仕様内で光部品の動作条件を可変させるため、縮退運転モードにおいて装置を故障させる可能性がない。
【００４４】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００４５】
１１…架台（ガントリ）
１２…寝台
１３…システム制御部
１４…画像処理部
１５…回転部
１６…固定部
１１１…Ｘ線管
１１２…Ｘ線検出器
１１３…データ収集装置
１１４…非接触データ伝送装置
１１５…高電圧発生装置
１１６…回転駆動部
１１７…寝台駆動部
２１…固定部側制御部
２２ａ、２２ｂ…光送受信部
２３…回転部側制御部
２４…リセット部
２５ａ、２５ｂ…ＬＥＤ
２６ａ、２６ｂ…ＰＤ
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在のＸ線ＣＴ装置は、高精細な医用画像を取得するために、ガントリの高速回転化が進んでいる。このためＸ線検出器から再構成ユニットに送信する撮影データ量が飛躍的に増加している。Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管と対向するＸ線検出部が回転する回転部で撮影データを収集し、この撮影データを再構成ユニットのある固定部へ送信するために、光を用いた非接触データ伝送装置が用いられている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
この非接触データ伝送装置は、一般的に送信にＬＥＤ(Light Emitting Diode)、受信にＰＤ(Photodiode)を使用しているが、塵、埃などの汚れにより発光性能、受光性能が劣化する。またレンズ系に結露などの症状をもたらす場合もある。塵、埃などによる性能劣化は、病院の設置環境と使用期間など依存するため、単純に予測できないという問題がある。また、ＬＥＤ、ＰＤの光部品自体の劣化も当然生じうる。
【０００４】
従来は、通信エラーが生じてから部品の交換などのメインテナンスを行っていたが、そでは装置がシステムダウンして使用不可となるため、緊急時の患者などでＣＴ検査ができないという致命的な問題を生じてしまう可能性があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−７５４８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、上記課題を解決し、システムダウンが生じる前に通信部品の性能劣化判定が行えるＸ線ＣＴ装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を達成するために、実施形態のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管が被検体を中心に回転可能に配置された回転部と、前記回転部の回転を制御する回転制御部と、前記回転部の回転運動を支える固定部と、固定部と回転部が相互通信可能にＬＥＤとＰＤが配置された光送受信部と、前記光受信部の通信テストスケジュールを実行する固定部側制御部および回転部側制御部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の送信出力を規定の範囲内で可変するＬＥＤ駆動電流可変部と、前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の受信感度を規定の範囲内で可変するＰＤアンプ増幅率可変部と、前記通信テストで前記光送受信部の通信エラーを検出する通信異常検出部と、を有する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態におけるＸ線ＣＴ装置の基本的構成図。
【図２】同実施形態のＸ線ＣＴ装置の通信テスト機能を示すブロック構成図。
【図３】同実施形態における非接触データ伝送装置のブロック図。
【図４】同実施形態における通信テストのフローチャート図。
【図５】同実施形態における通信テストパターンの一例。
【図６】同実施形態の通信テストの結果を示す一例。
【図７】同実施形態における劣化部品の特定例。
【図８】同実施形態における通信テスト結果を表示する画面例。
【図９】同実施形態におけるメインテナンスサービスへの連絡表示例。
【図１０】同実施形態における他の通信テスト項目の例。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、発明を実施するための実施形態について図１から図１０に示す図面を参照しながら詳細に説明する。なお、Ｘ線ＣＴ装置はＸ線管とＸ線検出部とが対向して配置され、被検体の周囲を共に回転するタイプと、リング状に多数の検出素子がアレイされ、Ｘ線源のみが被検体の周囲を回転するタイプなど様々なタイプがあるが、本実施形態は光を伝送媒体とする非接触データ伝送装置を有するものであれば、いずれのタイプにも適用可能である。本実施形態の説明では、Ｘ線管とＸ線検出部とが共に回転するタイプについて説明する。
【００１０】
図１は、本実施形態におけるＸ線ＣＴ装置を示している。実施形態のＸ線ＣＴ装置は、被検体Ｐ（患者）をＸ線でスキャンするための架台（ガントリ）１１と、被検体Ｐを架台１１内に移動する寝台１２と、Ｘ線ＣＴ装置全体を制御するシステム制御部１３と、架台１１から得られた投影データを処理し、医用画像を処理する画像処理部１４とを有する。
【００１１】
架台１１は、被検体Ｐ（患者）を中心にして回転運動する回転部１５と、回転部１５を支持する固定部１６から構成される。回転部１５には、Ｘ線を発生するＸ線管１１１、被検体Ｐ（患者）を透過したＸ線を検出するＸ線検出器１１２、Ｘ線検出器１１２の検出データをデジタルデータに変換して収集するデータ収集装置（ＤＡＳ：Data Acquisition System）１１３、およびデータ収集装置１１３で取得された投影データを回転部１５外の画像処理部１４へ非接触で伝送する非接触データ伝送装置１１４から構成される。
【００１２】
システム制御部１３は、Ｘ線を発生するためにＸ線管１１１に印加する電圧を発生する高電圧発生装置１１５、スキャン条件に基づいて回転部１５を回転させる回転駆動部１１６、および被検体Ｐが横臥する寝台１２をガントリ１１内に移動させる寝台駆動部１１７を制御する。
【００１３】
画像処理部１４は、非接触データ伝送装置１１４から転送された投影データから、断面像を再構成するなどの診断に必要な医用画像を再構成するための画像処理を行い、この医用画像は、画像データ保存部１４１に保存するとともにコンソールの表示部１３１などに表示される。システム制御部１３はさらに操作者がシステム制御を行うための操作部１３２を備える。
【００１４】
図２に示すように、本実施形態のＸ線ＣＴ装置は上記一般的な装置構成に加え、非接触データ伝送装置１１４を構成する光部品の性能劣化状態を判定できる通信テストを行う機能を有する。ここでは、非接触データ伝送装置１１４の通信テストを行うにあたって必要なブロックのみを記載している。
【００１５】
非接触データ伝送装置１１４は、固定部１６側の通信制御を行う固定部側制御部２１、光を伝送媒体として回転部１５とデータ通信を行う光送受信部２２ａ、回転部１５側の通信制御を行う回転部側制御部２３、光を伝送媒体として固定部１６とデータ通信を行う光送受信部２２ｂ、および通信テストの強制終了のためのリセット部２４を有する。
【００１６】
また、固定部１６側には一つ以上の送信用ＬＥＤ２５ａ、受信用ＰＤ２６ａ（複数のＬＥＤ、ＰＤを代表して１つに符号をつける）回転部１５にも一つ以上の送信用ＬＥＤ２５ｂ、受信用ＰＤ２６ｂを有する。破線矢印で示す固定部１６から回転部１５方向のデータ通信においては、操作部１３２から送信されるスキャン条件データ（回転部１５のＸ線出力条件や、スリット、ウエッジなどのシステム制御信号）などが送信される。また、実線矢印で示す回転部１５から固定部１６へのデータ通信では被検体Ｐの投影データ等が送信される。なお、図２の送信用ＬＥＤ２５ａ、２５ｂ、受信用ＰＤ２６ａ、２６ｂの数、配置は単なる例示でありこの図により制限されない。すなわち光部品の配置数および配置位置は伝送容量、コストなどのシステム設計によって変化する。例えば、一般的には固定部１６から回転部１５への伝送量は、回転部１５から固定部１６への伝送量より少なくて済むため、回転部１５側のＰＤ２６ｂの設置数は固定部１６のＰＤ２６ａの設置数より少なくてよい。また、受信用ＰＤ２６ａ、２６ｂの設置数を送信用ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの設置数より少なくし、回転速度などで決定される伝送容量を勘案し、必要数の送信ＬＥＤ２５ａ、２５ｂを配置する。
【００１７】
さらに、システム制御部１３は、通信テストにより通信エラーを検出する通信異常検出部２７と、通信エラーが検出された場合に、通信エラーとなっている光部品（ＬＥＤ２５ａ、２５ｂ、ＰＤ２６ａ、２６ｂ）を特定するために通信エラーが生じた時の回転部１５の回転角から性能劣化した光部品を特定する劣化部品判定部２８と、通信エラー時に縮退モードで運転するかどうかを判定する縮退運転モード判定部２９を有する。
【００１８】
図３は、非接触データ伝送装置１１４のブロックを示している。固定部側制御部２１および回転部側制御部２３には、後述する通信テストのスケジュールを管理・制御を行うスケジュール制御部３１ａ、３１ｂと、固定部１６および回転部１５の光送受信部２２ａ、２２ｂには、ＬＥＤ２５ａ、２６ｂの駆動電流を制御するＬＥＤ駆動部３２ａ、３２ｂとＬＥＤ駆動部３２ａ、３２ｂの駆動電流を通信テストスケジュールで規定される範囲内で可変する電流可変部３３ａ、３３ｂを有し、さらにＰＤ２６ａ、２６ｂの受信信号をデータ識別レベルまで増幅するＰＤアンプ部３４ａ、３４ｂと、ＰＤアンプ部３４ａ、３４ｂの増幅率を通信テストスケジュールで規定される範囲内で可変する増幅率可変部３５ａ、３５ｂを有する。
【００１９】
次に図４を用いて、本実施形態で実施されるに通信テストのフローを説明する。まずステップＳＴ４０１では、通信テストを行うための通信テストモードを開始する。この通信テストモードは、Ｘ線管１１１のウォーミングアップ時に行うことが好ましい。ウォーミングアップ時に行うことによってスキャン開始までの時間を余分に消費することがない上、毎日の稼働時に非接触データ伝送装置１１４の光部品の性能劣化確認が可能となる。
【００２０】
ステップＳＴ４０２では、タイマをセットする。通信テスト中に通信エラーが生じると、固定部側制御部２１から回転部側制御部２３への制御が不可能となるため、本実施形態の通信テストでは、固定部側制御部２１と回転部側制御部２３との同期をタイマによって行い、固定部側制御部２１と回転部側制御部２３それぞれがタイマスケジュールによって通信テストを継続することとする。これにより通信テスト中に通信エラーが生じても、通信テストを中断することなく実行することが可能となる。
【００２１】
ステップＳＴ４０３では、まずＬＥＤ２５ａ、２５ｂの性能劣化テストを行う。ＬＥＤ２５ａ、２５ｂで性能劣化が生じているかどうかは、電流可変部３３ａ、３３ｂによる駆動電流の可変を行い、通信エラーが生じるかどうかで判定する。駆動電流の可変幅は、Ｘ線ＣＴ装置の仕様で定められた範囲内で可変することとし、この可変によって装置が故障することはない。本実施形態の例では±１０％の範囲で可変することとする。また固定部側ＬＥＤ２５ａ、回転部側のＬＥＤ２５ｂの駆動電流を同時に可変することとして説明する。なお、本実施形態では、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流を可変しているが、本来の目的は、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの送信出力を可変することが目的である。
【００２２】
図５は、テストスケジュールを示している。回転部１５の最初の１回転目では、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂをＸ線ＣＴ装置で規定される標準の駆動電流値で駆動し、非接触データ伝送装置１１４の通信テストを行う（０％試験）。また１回転のアイドリングの後、次の１回転では、１０％ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流を増加させ通信テストを行う（＋１０％試験）。さらに１回転のアイドリングの後、１０％ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流を減少させ通信テストを行う（−１０％試験）。この時、ＰＤアンプ３４ａ、３６ｂは規定の標準増幅率（０％）に設定し可変しない。
【００２３】
ステップＳＴ４０４では、通信エラーが生じたかどうか判断する。通信エラーが生じていれば（ＳＴ４０４：Ｎｏ）、通信異常検出部２７によりタイムアウトを検出し（ＳＴ４０５）、次のステップに進む。通信エラーがなければ、（ＳＴ４０４：Ｙｅｓ）そのまま次のステップに進む。また、通信テスト中に通信エラーが発生すれば、劣化部品判定部２８は、通信エラーが生じたＬＥＤ−ＰＤ対と、回転部１５の回転角を記録する。
【００２４】
なお、通信エラーをタイムアウトにより判定したが、通信データのパリティーチェックを行い、通信誤り率が増加していることで通信エラーを判定してもよい。
【００２５】
ステップＳＴ４０６では、ＰＤ２６ａ、２６ｂの性能劣化テストを行う。テストスケジュールは図５で示したようにＬＥＤ２５ａ、２５ｂの性能劣化テストと同様とする。
【００２６】
回転部１５の最初の１回転目では、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を装置で規定される標準の増幅率で通信テストを行う（０％試験）。また１回転のアイドリングの後、次の１回転では、１０％ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を増加させ通信テストを行う（＋１０％試験）。さらに１回転のアイドリングの後、１０％ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を減少させ通信テストを行う（−１０％試験）。この時、ＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流は規定の標準値（０％）に設定し可変しない。なお、本実施形態では、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を可変しているが、本来の目的は、ＰＤ２６ａ、２６ｂの光電気変換効率の劣化を判定するために受信感度を可変することが目的であるため、その他の可変方法を用いてもよい。
【００２７】
ステップＳＴ４０７では、通信エラーが生じたかどうか判断する。通信エラーが生じていれば（ＳＴ４０７：Ｎｏ）、通信異常検出部２７によりタイムアウトを検出し（ＳＴ４０８）、次のステップに進む。通信エラーがなければ、（ＳＴ４０８：Ｙｅｓ）そのまま次のステップに進む。また、通信テスト中に通信エラーが発生すれば、劣化部品判定部２８は、通信エラーが生じたＬＥＤ−ＰＤ対と、回転部１５の回転角を記録する。なお、この場合も、通信データのパリティーチェックを行い、通信誤り率が増加していることを判定して通信エラーとしてもよい。
【００２８】
ステップＳＴ４０８では、通信テストスケジュールのタイムアウトを検出する。これは、何らかの原因にて通信テストが終了しない場合に、回転部側制御部２３の制御をリセット部２４にて強制的にリセットを行うためのものである。
【００２９】
ここまでのステップにて通信テストが終了する（ＳＴ４１０）。ステップＳＴ４１１では、通信テストで通信エラーが発生したかどうかを判定する。通信テストで通信エラーが発生していれば、劣化部品判定部２８は、記録された回転角をもとに劣化部品を特定し（ＳＴ４１２）、結果表示を行う（ＳＴ４１３）。また、通信テストで通信エラーがない場合も同様に結果表示する（ＳＴ４１３）。
【００３０】
ここでＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流可変の簡便な方法を述べる。ＬＥＤ駆動部３２ａ、３２ｂは、例えばトランジスタの差動増幅器などで実現され、その駆動電流の制限は、差動増幅器の電流値を制限するカレントミラー回路に接続される抵抗にて制限することができる。また、市販のＬＥＤドライバＩＣなどを使用する場合においても駆動電流値を抵抗で制限できるものが多い。したがって、複数の抵抗（本実施形態では３つの抵抗）を切り替えられるアナログスイッチなどを用意し、通信テストスケジュールに応じて切り替える方法が簡便である。また電子ボリュームなどのＩＣを使用して抵抗値を段階的に可変してもよい。
【００３１】
また、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率を可変する簡便な方法について述べる。ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂには、トランスインピーダンス型アンプやハイインピーダンス型アンプなどの種類がある。トランスインピーダンス型においては、出力の一部を入力に負帰還させる抵抗があり、この抵抗によって電流増幅率を変化できる。また、ハイインピーダンス型は、ＰＤをバイアスする抵抗でその電流増幅率を可変できる。したがって、電流増幅率を可変する複数の抵抗（本実施形態では３つの抵抗）を切り替えられるアナログスイッチなどを用意し、通信テストスケジュールに応じて切り替える方法が簡便である。
【００３２】
図６は、通信テストの結果を示している。この例では、ＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率が＋１０％の時、およびＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流が−１０％の時に通信エラーが生じたことがわかる。また、図７は、この時の劣化光部品の特定結果を示している。通信エラーが生じた回転角、および通信方向からその時間に通信テストを行ったＬＥＤ−ＰＤ対を特定し、さらにそのどちらが劣化しているかを判定する。例えば、ＬＥＤ２５の駆動電流が−１０％の時に通信エラーが生じていれば、ＰＤ２６の劣化と判定でき、またＰＤアンプ３４の増幅率−１０％の時に通信エラーが生じていれば、ＬＥＤ２５が劣化していると判断する。劣化した光部品の切り分けができない場合は、通信エラーを生じたＬＥＤ−ＰＤ対両方を表示する。
【００３３】
上記通信テストは、ＬＥＤの性能劣化試験では回転部１５の５回転分の時間で終了し、ＰＤの性能劣化試験も同様に５回転分の時間で終了する。すなわち１０回転分の時間で終了する。例えば１回転０．７５秒のスキャン条件では、７．５秒という短い時間にて通信テストの全試験が完了するので、性能劣化があるかどうかを確認したい場合に任意の時間で行ってもよい。しかしこの通信テストをＸ線管１１１のウォーミングアップ時に行えばスキャン開始までの時間を余分に消費することがない。
【００３４】
図８は、通信テスト結果をコンソールの表示部１３１に表示した例を示している。通信エラーが生じた場合には、「架台内の通信部品劣化で通信エラーが発生する可能性がある」旨のメッセージ８１を表示すると同時に、部品劣化が生じている場所を点滅などで表示する（図中はＬＥＤ、ＰＤの性能劣化を示す）。さらに、スキャン中に通信エラーが生じる可能性があっても装置を稼働させるかどうかを操作者に確認を求めるウインドウ８２を表示させ、運転モードを選択する。ＹＥＳを選択した場合には、通信エラーを生じる可能は残るが少なくとも現時点では通信エラーを生じない縮退運転モードで運転する。ここでいう縮退運転モードとは、特にＸ線ＣＴ装置の機能に制限を与えるものではないが、非接触データ伝送装置１１４の通信エラーが現時点では生じない状態のＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流とＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率の可変範囲の組み合わせを判断し、その駆動条件にて運転する。このため標準のＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流（０％）と標準のＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率（０％）以外の条件で運転する可能性が高い。
【００３５】
また、Ｎｏを選択した場合には、標準のＬＥＤの駆動電流（０％）と標準のＰＤアンプの増幅率（０％）で運転を継続する。この場合は、スキャン中に通信エラーが生じる可能性がある。
【００３６】
このようにユーザ側にて通信部品の性能劣化が生じていることを認識し、了解して診断を行うシステムとする。さらに装置を強制的に停止するという選択肢を設けてもよい。
【００３７】
通信テストの結果では、通信が正常に行われるＬＥＤ２５ａ、２５ｂの駆動電流とＰＤアンプ３４ａ、３４ｂの増幅率の組み合わせがない場合がある。この場合は運転を停止することが好ましい。これらの縮退運転モードの判断は、縮退運転モード判定部２９で行われる。
【００３８】
また、通信部品の性能劣化が生じた場合には、速やかにサービスに連絡しメインテナンスを行う必要がある。したがって本実施形態の通信テストにより通信エラーが生じた場合には、図９に示すようなメッセージ９１を表示するとともに自動的にメインテナンスサービスへ連絡する構成を採用すれば、装置が完全にストップする前にメインテナンスが可能となる。これによりシステムダウンを事前に回避できる。
【００３９】
図１０は、通信テストの他の実施形態を示している。光部品の性能劣化は、上述した光出力（電気光変換効率）、受信感度（光電気変換効率）だけでなく、ＬＥＤ、ＰＤどちらにおいても周波数特性が劣化することが多い。従って送信データのクロック周波数を規定の範囲内で可変する通信テストを行ってもよい。すなわち周波数可変部３６ａ、３６ｂを固定部側制御部２１および回転部側制御部２３にそれぞれ設け、通信テストスケジュールに加える。通信テストスケジュールは図５と同様に、標準の周波数に対して増減するようなスケジュールで構わない。
【００４０】
このように、光部品の性能劣化を判定する様々なテスト項目を追加することにより、さらにきめ細やかに光部品の性能劣化の兆候を判断できるようになる。
【００４１】
以上説明したように、本実施形態によれば、Ｘ線ＣＴ装置内の非接触データ伝送装置内に使用されるＬＥＤ、ＰＤなどの光部品に対して、塵、埃などの汚れによる発光性能、受光性能の劣化を事前に判定することが可能である。また通信テストスケジュールによる性能劣化テストをウォーミングアップ時などと並行して行えるため時間を無駄に消費することがない。またこの通信テストは光部品の性能劣化を判定しているため、たとえ通信エラーが生じても通信エラーが生じない駆動条件でＸ線ＣＴ装置を稼働することができる。完全にシステムダウンする前に部品の交換・清掃などのメインテナンスが行えるため、緊急時の患者などでＣＴ検査ができなくなるという致命的な問題を回避できる。
【００４２】
本発明は、上記実施態様に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上記実施形態では固定部側ＬＥＤ２５ａ、回転部側のＬＥＤ２５ｂの駆動電流を同時に可変したが、独立して可変することで光部品の性能劣化の程度をさらに詳細に分類することができ、縮退モードの範囲を広げることができる。例えば、本実施形態の説明では、ＬＥＤの駆動電流（＋１０％）時に、ＰＤアンプ増幅率（＋１０％）などの条件では通信テストを行っていないが、この条件下で通信エラーがない場合は縮退運転が可能となる。
【００４３】
また、本実施形態の通信テストは、装置の仕様内で光部品の動作条件を可変させるため、縮退運転モードにおいて装置を故障させる可能性がない。
【００４４】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００４５】
１１…架台（ガントリ）
１２…寝台
１３…システム制御部
１４…画像処理部
１５…回転部
１６…固定部
１１１…Ｘ線管
１１２…Ｘ線検出器
１１３…データ収集装置
１１４…非接触データ伝送装置
１１５…高電圧発生装置
１１６…回転駆動部
１１７…寝台駆動部
２１…固定部側制御部
２２ａ、２２ｂ…光送受信部
２３…回転部側制御部
２４…リセット部
２５ａ、２５ｂ…ＬＥＤ
２６ａ、２６ｂ…ＰＤ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線管が被検体を中心に回転可能に配置された回転部と、
前記回転部の回転を制御する回転制御部と、
前記回転部の回転運動を支える固定部と、
固定部と回転部が相互通信可能にＬＥＤとＰＤが配置された光送受信部と、
前記光受信部の通信テストスケジュールを実行する固定部側制御部および回転部側制御部と、
前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の送信出力を規定の範囲内で可変するＬＥＤ駆動電流可変部と、
前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の受信感度を規定の範囲内で可変するＰＤアンプ増幅率可変部と、
前記通信テストで前記光送受信部の通信エラーを検出する通信異常検出部と、
を有するＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記通信テストスケジュール実行中に通信エラーを検出した場合、前記通信異常検出部の通信エラー検出時間と、その時間における前記回転制御部で制御される回転部の回転角から前記光送受信部の性能劣化を生じているＬＥＤおよびＰＤを特定する劣化部品判定部を、さらに有する請求項1記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記通信テストスケジュール実行中に通信エラーを検出した場合、前記通信テスト結果を表示する表示部をさらに有し、縮退運転モードで運転するかどうかの選択画面を表示する請求項２記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】
前記ＬＥＤ駆動電流可変部は、ＬＥＤの駆動電流を可変する複数の抵抗を有する請求項３記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
前記ＰＤアンプ増幅率可変部は、ＰＤアンプの増幅率を可変する複数の抵抗を有する請求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
前記通信異常検出部は、タイムアウトまたはパリティーチェックにより通信エラーを検出する請求項５記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
前記縮退運転モードは、前記通信テストスケジュールで通信エラーが生じない条件下で、前記ＬＥＤの駆動電流、および前記ＰＤアンプの増幅率を可変させ運転を行う請求項６記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】
前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の通信クロック周波数を規定の範囲内で可変させるための周波数可変部を、
さらに有する請求項７記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１】
Ｘ線管が被検体を中心に回転可能に配置された回転部と、
前記回転部の回転を制御する回転制御部と、
前記回転部の回転運動を支える固定部と、
固定部と回転部が相互通信可能にＬＥＤとＰＤが配置された光送受信部と、
前記光受信部の通信テストスケジュールを実行する固定部側制御部および回転部側制御部と、
前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の送信出力を規定の範囲内で可変するＬＥＤ駆動電流可変部と、
前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の受信感度を規定の範囲内で可変するＰＤアンプ増幅率可変部と、
前記通信テストで前記光送受信部の通信エラーを検出する通信異常検出部と、
を有するＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記通信テストスケジュール実行中に通信エラーを検出した場合、前記通信異常検出部の通信エラー検出時間と、その時間における前記回転制御部で制御される回転部の回転角から前記光送受信部の性能劣化を生じているＬＥＤおよびＰＤを特定する劣化部品判定部を、さらに有する請求項1記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記通信テストスケジュール実行中に通信エラーを検出した場合、前記通信テスト結果を表示する表示部をさらに有し、縮退運転モードで運転するかどうかの選択画面を表示する請求項２記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】
前記ＬＥＤ駆動電流可変部は、ＬＥＤの駆動電流を可変する複数の抵抗を有する請求項３記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
前記ＰＤアンプ増幅率可変部は、ＰＤアンプの増幅率を可変する複数の抵抗を有する請求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
前記通信異常検出部は、タイムアウトまたはパリティーチェックにより通信エラーを検出する請求項５記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
前記縮退運転モードは、前記通信テストスケジュールで通信エラーが生じない条件下で、前記ＬＥＤの駆動電流、および前記ＰＤアンプの増幅率を可変させ運転を行う請求項６記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】
前記通信テストスケジュールに従って、前記固定部側および回転部側光送受信部の通信クロック周波数を規定の範囲内で可変させるための周波数可変部を、
さらに有する請求項７記載のＸ線ＣＴ装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２０１３−８１５９５（Ｐ２０１３−８１５９５Ａ）
【公開日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２２２８９８（Ｐ２０１１−２２２８９８）
【出願日】平成２３年１０月７日（２０１１．１０．７）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年５月９日（２０１３．５．９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１０月７日（２０１１．１０．７）
【出願人】（０００００３０７８）株式会社東芝 (54,554)
【出願人】（５９４１６４５４２）東芝メディカルシステムズ株式会社 (4,066)
【Ｆターム（参考）】
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