【課題】本発明は、アライメントマーカの検出順序に依存しない先頭レーン検出回路及び方法並びにデスキュー回路及び方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明の先頭レーン検出回路は、基準レーンを設定する基準レーン設定部１２と、アライメントマーカのタイミング信号Ｔ_０〜Ｔ_１９が入力され、基準レーン＃０のタイミング信号Ｔ_０の時点から基準レーン＃０以外のレーンのタイミング信号Ｔ_１〜Ｔ_１９の時点までの遅延時間ΔＴ_１〜ΔＴ_１９を測定する時間測定部１１と、全てのレーンの遅延時間ΔＴ_１〜ΔＴ_１９を測定する前に所定時間を経過すると基準レーンを順次変更する基準レーン変更部１４と、所定時間内に全てのレーンの遅延時間ΔＴ_１〜ΔＴ_１９を測定すると、基準レーンのレーン番号＃０を先頭レーンのレーン番号に決定する先頭レーン決定部１３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】単一的な手段による、かつ連続的に一連のマーカ操作により、ゾーンマーカの所定幅と測定波形の表示範囲との相対的な大きさの調整をスムースに行う。
【解決手段】波形が表示されている表示部１２上で、操作者によるマーカ操作により指針１５０を縦軸方向へ移動させたときは、ゾーン制御部６３は、指針が移動した相対距離を検知しその相対距離に対応したゾーンマーカの所定幅を変更し、次に横軸方向へ指針が移動されたときの移動量を検知し、ゾ−ンマーカ生成部６４が、変更された所定幅のゾーンマーカを、検知された移動量に応じた位置に移動させる構成とした。 （もっと読む）

【課題】ＣＤＲを用いずにデータの受信を可能にする。
【解決手段】データ処理部４は、シフトされたデータの変化点に基づくヒストグラム上で計数値が最大値を示すビットの位置を変化点とし、この変化点から次の変化点までの略中央にデータの取得位置が来るべくシフト量を算出する。タイミング制御部６は、リファレンスクロックと同期が取れ、入力データのビットレートに応じたクロックを出力し、このクロックの周期を、シフト量が所定の限界処理ビットを超えたときに入力データをシフトするクロックの１周期だけ増減して調整する。ＦＩＦＯ５は、ドロップされたデータを順次取り込んで保持する。この保持されたデータは、シフト量が限界処理ビットを超えたか否かに応じたタイミング制御部６のクロックのタイミングにより取り出される。 （もっと読む）

【課題】本発明は、光コヒーレント検波器を簡易に評価することのできる光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器４１の試験を行う光コヒーレント検波器評価装置１０１であって、光源１１と、光分岐部１５と、分岐光の一方を透過又は遮光する第１の光シャッタ１６と、分岐光の一方を光コヒーレント検波器４１に出力する第１の光出力部１７と、分岐光の他方を透過又は遮光する第２の光シャッタ１８と、分岐光の他方を光コヒーレント検波器４１に出力する第２の光出力部１９と、分岐光の一方を遅延させる光遅延器２０と、分岐光の一方の偏波状態を変化させる偏波コントローラ２１と、光コヒーレント検波器４１からの出力光が入力される二信号入力部２２と、二信号処理部２６と、二信号制御部２８と、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＯＴＤＲ測定及び光強度測定を行うことの可能な光測定装置及び光ファイバ線路試験方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明の光測定装置は、被測定光ファイバ１００のＯＴＤＲ測定を行う接続部１４と、レーザモジュール１２と、第１の受光器１５と、光カプラ１３と、ＯＴＤＲ測定部１８−１と、を備えた光測定装置において、第２の受光器２１と、第２の受光器２１で受光した光の光強度を測定する光強度測定部１８−２と、を備え、光カプラ１３は、接続部１４に入射された信号光Ｓ_１をレーザモジュール１２に出射し、当該信号光Ｓ_１がレーザモジュール１２で反射した反射光Ｓ_２を第２の受光器２１に出射し、光強度測定部１８−２は、信号光Ｓ_１の光強度を測定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、パルス幅の狭い第１のパルス光Ｐ_Ｆ１がダミーファイバ１３で散乱された第１の戻り光Ｐ_Ｂ１の光レベルを測定する第１の測定手順Ｓ１０１と、パルス幅の広い第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３及び被測定光ファイバ１００で散乱された第２の戻り光Ｐ_Ｂ２の光レベルを測定する第２の測定手順Ｓ１０２と、第１のパルス幅、第２のパルス幅及び第１の戻り光の光レベルＰ_Ｂ１を用いて、第２のパルス光Ｐ_Ｆ２がダミーファイバ１３で散乱された被測定光ファイバが接続される側のダミーファイバ１３の端である入出力端の戻り光の光レベルを算出する入出力端戻り光レベル算出手順Ｓ１０３と、を順に有する。 （もっと読む）

【課題】従来よりも構造が簡易で位相可変量が大きく、小型で高周波特性に優れた可変位相器を提供する。
【解決手段】第１の誘電体基板１０と、第１の誘電体基板１０の上面１０ｂ上に形成され、信号を伝播させる信号線路１１と、を含む伝送線路１０１、１０２を有し、伝送線路１０１、１０２は、信号線路１１の上方に第２の誘電体基板２０を配置した第１の伝送線路１０１と、信号線路１１上方に第２の誘電体基板２０と異なる誘電率の異誘電率部２３を配置した、第１の伝送線路１０１とは実効誘電率が異なる第２の伝送線路１０２と、からなり、第２の誘電体基板２０と異誘電率部２３は、第１の誘電体基板１０の上面１０ｂに沿って移動可能に配置され、前記移動によって伝送線路１０１、１０２における第１の伝送線路１０１と第２の伝送線路１０２の伝送路長比率が可変される。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ＮＴＰサーバや衛星と通信を行えない環境においても、一方向の遅延時間を正確に測定可能な遅延測定システム及び遅延測定方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明の遅延測定システムは、送信側遅延測定装置１０及び受信側遅延測定装置２０が共通クロック源３０からの共通時刻Ｔ_Ｏを取得して共通時刻Ｔ_Ｏに時刻同期する送信側クロック部１２及び受信側クロック部２２を備え、送信側遅延測定装置１０及び受信側遅延測定装置２０が共通時刻Ｔ_Ｏを取得できない環境下においても互いに時刻同期を維持することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、任意の遅延ストレスを簡易に与えて分散トレランスの試験をすることが可能な光ストレス発生装置及び光ストレス発生方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明の光ストレス発生装置は、２つの光入力ポート２１ａ，２１ｂ及び２つの光出力ポート２２ａ，２２ｂを有し、光入力ポート２１ａに変調信号光Ｌ_Ｉが入力され、光入力ポート２１ａに入力された変調信号光を２つに分岐して光出力ポート２２ａ，２２ｂから出力する光合分波部１２と、光出力ポート２２ａからの変調信号光Ｌ_Ｄを増幅して光入力ポート２１ｂに出力する光増幅部１３と、を備え、光合分波部１２は、光入力ポート２１ｂに入力された光増幅部１３からの変調信号光Ｌ_ＡＭＰと光入力ポート２１ａに入力された変調信号光Ｌ_Ｉとを合波し、合波した光を２つに分岐して光出力ポート２２ａ，２２ｂから出力する。 （もっと読む）

【課題】被試験端末のレイテンシをユーザに容易に識別させることができるシーケンス試験装置及びシーケンス試験方法を提供する。
【解決手段】シーケンス試験装置４０は、基準レイテンシを設定するレイテンシ設定部４１と、被試験端末としてのノードＡ１０、ノードＢ２０、ノードＣ３０の実レイテンシを取得する実レイテンシ取得部４３と、基準レイテンシと実レイテンシとの差分を示す差分レイテンシを算出する差分算出部４５と、差分レイテンシを複数の段階に分類するしきい値を設定するしきい値設定部４６と、差分レイテンシを識別表示する表示条件を設定する表示条件設定部４８と、しきい値に基づいて差分レイテンシを識別表示する表示部５０と、を備える。 （もっと読む）