【課題】 電子デバイスの挿抜を繰り返しても導体パターンの損傷を抑え、リード接触時に基板の面方向に力が加わらず変形や損傷を抑えて長寿命化を実現でき、接点部材を保持するための自由度が高いテストフィクスチャを提供する。
【解決手段】 リード３を有する電子デバイス２の電気特性を測定するテストフィクスチャ１であって、リード２が配置され特性インピーダンスが所定値となるように整合された第１の伝送線路５と、第１の伝送線路５と直交する面に構成されその面上に導体パターン１０が形成された第２の伝送線路６と、第２の伝送線路６上における第１の伝送線路５に近接した一端部に設けられ、導体パターン１０と接触する一方の接触部１１を備えるとともにリード３の先端部が接触する他方の接触部１２を備えて断面略Ｌ字形をなす接点部材７とを具備する。 （もっと読む）

【課題】近年、映像伝送が増えてマルチキャストプロトコルによる伝送の需要が増えている。そのマルチキャストデータ伝送において、簡単な伝送、明示的経路（ルート）による伝送、及び帯域保証した伝送が要求されるようになってきた。
【解決手段】本発明では、マルチキャストプロトコルによって伝送ルートを形成するにあたって、伝送ルートにある中継装置のアドレスを、参加メッセージ中（明示経路項）に明示する、もしくは各中継器のポリシーテーブルに明示し、伝送ルートにある中継器を明示することによって、伝送ルーが形成される構成とした。また、ポリシーテーブルに要求される帯域（ＱｏＳ項）を確保するとともに参加メッセージに入れる構成とし、伝送品質を確保できる伝送ルート形成を行うようにした。 （もっと読む）

【課題】 電流ブロック層に及ぶ光の損失を低減し、発光効率または増幅効率を従来よりも向上させることが可能な半導体光素子およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】 内部ストライプ構造を有する半導体光素子１００であって、半導体基板１１、第１のクラッド層１２、活性層１３、第２のクラッド層１４、エッチング阻止層１５、電流ブロック層１６、埋め込みクラッド層１７、コンタクト層１８、第１の電極１９および第２の電極２０を備え、電流ブロック層１６が、活性層１３寄りの光を吸収しない非吸収ブロック層１６ａ、基板表面寄りの光を吸収する吸収ブロック層１６ｂ、および、エッチング制御層１６ｃからなり、非吸収ブロック層１６ａが、開口部を占める埋め込みクラッド層１７よりも低い屈折率の材料からなり、吸収ブロック層１６ｂよりも活性層１３側に位置する構造を有する。 （もっと読む）

【課題】設置面の振動状態に応じてばね定数が設定でき、横方向の振動を効果的に除去できる測定装置の防振装置を提供する。
【解決手段】防振装置１は、振動する設置面６上に固定された円筒形の収納部１０内に、複数枚の弾性体１２と剛性板１３を交互に重ねて設置し、その上に皿形の受け部１５を置いたもので、受け部上に測定装置の支持部７を載せる。予想される振動モードに合せて弾性体１２の種類と枚数を選択すれば、効果的に振動を減衰し、振動モードの変化にも対応できる。支持部及び受け部の横方向の移動は、収納部内に収められることにより両者の隙間分のみ許容され、効果的に抑制される。 （もっと読む）

【課題】 製造費用が安価になり、ハードウエアの調整や換装を不要にすることができる自動レベル制御装置および自動レベル制御プログラムを提供すること。
【解決手段】 信号を発生して試験対象機器（２０）に出力する信号発生部（１１）と、信号発生部（１１）が発生した信号を分配する分配部（１２）と、分配部（１２）によって分配された信号または試験対象機器（２０）が出力した信号のうち何れかを測定する信号測定部（１３）と、信号測定部（１３）によって測定された信号の測定レベルが所望のレベルになるように信号発生部（１１）を制御する制御部（１４）とを備えて構成する。 （もっと読む）

【課題】 従来のパケット中継装置と比較して簡易に構成することができるパケット中継装置を提供すること。
【解決手段】 フロー毎に定められた最低保証帯域以下の転送レートで受信したパケットに第１のラベルを付加し、前記最低保証帯域を超えた転送レートで受信したパケットに第２のラベルを付加するラベル付加手段６ａ乃至６ｃと、中継するパケットの転送レートが制限帯域を超える場合には、中継するパケットの転送レートが前記制限帯域を超えないよう、前記第２のラベルを付加した何れかのパケットを廃棄するパケット廃棄手段７とを備える。 （もっと読む）

所定ビットレートのフレーム信号を受けて、フレーム信号の先頭データの入力タイミングに同期した同期信号を出力するフレーム同期回路と、フレーム同期回路によって出力される同期信号を受けて、フレーム信号の入力ビット位置を示す位置情報を出力する位置情報出力回路と、フレーム信号における任意のビット位置を指定する位置指定部と、位置情報出力回路によって出力される位置情報が位置指定部によって指定されたビット位置に一致するタイミングにおいてトリガ信号を出力するトリガ信号発生回路と、を備え、フレーム信号の任意のビット位置で正確にトリガが掛けられるようにしたトリガ信号発生装置。
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【課題】光導波路から出射される光信号パルスに発生するチャーピングを抑制する。
【解決手段】高周波電気信号に基づいた所定の変調周波数の帯域内で、光変調器の光導波路１９から出射される光信号パルスのチャーピングの大きさを表すαパラメータの符号が変調周波数変化に伴ってプラスからマイナスへ又はマイナスからプラスへ変化するように、中心導体２０ａにおける第１の光導波路１９ｂに対向するとともに分極を反転していない領域２１ａに対向する第１の長さＬ₁と、中心導体２０ａにおける第２の光導波路１９ａに対向するとともに分極を反転した領域２１ｂに対向する第２の長さＬ₂を設定する。 （もっと読む）

【課題】 不具合の原因を容易に特定して原因究明に要する時間を短縮する。
【解決手段】 データ処理部１１は、ハードウェア情報を記憶するハードウェア情報記憶部１１ａを有する。プログラム記憶部３は、ソフトウェア情報を記憶するソフトウェア情報記憶部１２ａを有する。セルフチェック実行部５は、ハードウェア情報及びソフトウェア情報を検出し、その結果を出力するためのセルフチェックを実行し、ハードウェア情報及びソフトウェア情報とを履歴管理するためにデータをデータベース６に格納する。データベース制御部７は、ハードウェア情報とソフトウェア情報の少なくとも一方の情報から変更の生じた情報を抽出し識別可能なように履歴一覧情報として表示部８に表示する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、光通信の高速化、長距離化、大容量化に関係する問題を解消し得る光ファイバの長手方向の偏波モード分散分布測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様によると、被測定用光ファイバの一端に所定の波長を有する光パルスを入射して戻ってくる後方散乱光における平行及び垂直偏波成分の少なくとも一方を含む前記被測定用光ファイバに関する偏波信号を出力し、予め、モデル化された光ファイバの所定のモデル変数に基づいて、前記モデル化された光ファイバに関する偏波信号をシミュレーションにより出力し、前記両偏波信号間のフィット度を判定し、前記所定の波長下で前記両信号間の所望のフィット度が得られたとき、前記光パルスの波長を変えて測定を繰り返し、算出される前記モデル化された光ファイバの波長依存性を有するモデル変数に基づいて、群遅延時間差（ＤＧＤ）を算出し、該ＤＧＤに基づいて偏波モード分散（ＰＭＤ）値を算出することを特徴とする光ファイバの長手方向の偏波モード分散分布測定方法が提供される。 （もっと読む）