【課題】パルス出力のピーク強度を安定化する。
【解決手段】ホトダイオードで検出したパルス出力のピーク強度Ａを測定し、予め設定されていた基準ピーク強度Ｂとの差Ｂ−Ａを求める（ステップＤ１）。次に、駆動電流補正量Ｃ＝ｋ（Ｂ−Ａ）を求める（ステップＤ２）。次に、１時刻前の駆動電流Ｉ_t-1に駆動電流補正量Ｃを加算した値を新たな駆動電流Ｉ_tとし、次のパルス出力時に半導体レーザに供給する（ステップＤ３）。
【効果】パルス出力のピーク強度を検出して半導体レーザ駆動回路をフィードバック制御するため、パルス出力のピーク強度を安定化することが出来る。半導体レーザの駆動電流の制御になるため、構成が簡単になる。 （もっと読む）

【課題】反射鏡を用いて試料に照射される励起光の強度増加及び蛍光の収集効率向上を図った蛍光分光光度計において、高感度を維持しつつ真の蛍光スペクトルを取得する。
【解決手段】試料セル３と凹面鏡４、平面鏡５との間にそれぞれ遮光用のシャッタ２１、２２を挿脱可能とし、シャッタ２１、２２を挿入して遮光がされた状態での標準試料の蛍光スペクトルＦcloseと、シャッタ２１、２２を取り除いて遮光がされない状態での標準試料の蛍光スペクトルＦopenとをそれぞれ取得する。補正関数演算部９１では両スペクトルの比Ｆopen／Ｆcloseを求め、これを規格化して補正関数Ｑを算出し補正関数記憶部９２に格納する。目的試料の測定時にはシャッタ２１、２２を用いずに高感度の蛍光スペクトルＦunkを取得し、これを補正関数Ｑで除すことで凹面鏡４、平面鏡５の反射波長特性の影響を除いた真の蛍光スペクトルを算出する。 （もっと読む）

【課題】診断に障害となるアーチファクトの生起がなく歩留まりが向上した２次元画像検出装置の供給を可能にする。
【解決手段】２次元画像検出装置２の良否を判定する基準である判定欠陥画素数および判定欠陥サイズの値について、頻繁に診断に使用される画像中央部より使用頻度の少ない画像周辺部で大きな値とすることにより、歩留まりを良好に維持すると同時にアーチファクトの生起がない２次元画像検出装置２の供給が可能である。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線管装置の故障を防止したり、使用不能となる前にＸ線管装置を交換したりするとともに、Ｘ線管装置を入手するだけで、使用方法改善のための検討が行えるＸ線管装置及びそれを用いたＸ線装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線装置本体１０１に取り付けられ、フィラメント１２から放射された熱電子をターゲット１１の端面に衝突させることで、一次Ｘ線を筐体１４の出射窓１４ａから出射するＸ線管装置１０であって、Ｘ線装置本体１０１の制御部５０と通信可能とする記憶部１８を備え、記憶部１８は、制御部５０と通信することにより、フィラメント１２の前回の使用終了日時情報、フィラメント１２への通電時間情報、フィラメント１２への通電が正常に遮断されたことを示す情報、前回高電圧の印加を終了した日時情報、高電圧印加時間情報、及び、高電圧が正常に遮断されたことを示す情報からなる群から選択される少なくとも一つの情報を記憶する。 （もっと読む）

【課題】被検体の撮影又は透視を行う最中に、オペレータを介在することなく、変更するＸ線の照射面積に応じて、最適なＸ線条件に設定可能とすること。
【解決手段】Ｘ線Ｂを照射するＸ線照射手段１と、Ｘ線照射手段１のＸ線条件を設定するＸ線設定手段５１と、被検体Ｍを透過するＸ線の画像を取得する画像取得手段７と、被検体Ｍを透過するＸ線の受光エリアを計測する受光エリア計測手段５６と、被検体Ｍを透過するＸ線の透過光量を計測する光量計測手段５７と、受光エリアを変更する受光エリア変更手段８０，８１と、受光エリア及び透過光量から単位エリア透過光量を算出する算出手段５８と、予め設定した単位エリア最適量を記憶する記憶手段５９と、Ｘ線設定手段５１を制御する制御手段５２とを備え、制御手段５２は、受光エリアの変位に応じて、単位エリア透過光量が単位エリア最適量内になるようＸ線条件を設定する。 （もっと読む）

【課題】安価に構築可能で、且つ信頼性をもって動作させることができるダスト測定システム、及びその汚れ防止機構を提供する。
【解決手段】ダクト３９に設けられた光学測定系と、ダクト３９中を輸送される排ガスから光学測定系の光学素子の汚れを防止するために、光学測定系にパージエアを導入するエアパージユニット１２と、光学測定系のパージエアの導入部の位置よりもダクト３９側に設けられたフェールセーフシャッタ３ａ，３ｂと、エアパージユニット１２の電源電流を監視し、電源電流の異常を検知した場合、フェールセーフシャッタ３ａ，３ｂを駆動して光学素子を排ガスから遮断するフェールセーフシャッタコントローラ１１とを備え、光学素子により排ガス中の粒子状物質の濃度を透過測定法により測定する。 （もっと読む）

本発明は、微分型イオン移動度分析及び質量分析を実行するイオン分析装置に関する。実施形態において、装置は、微分型イオン移動度デバイスを質量分析器の真空空間内の、質量分析器よりも前段に備える。また、装置の排気システムは微分型イオン移動度デバイスを0.005kPaから40kPaの圧力で操作するように構成される。さらに装置は、50kHzから25MHzの周波数帯域の周波数を与えるデジタル非対称波形生成器を含む。実施例は優れた分解能とイオン通過を示す。イオン移動度デバイスは多重極、例えば十二重極とすることができ、径方向のイオン収束は双極子場に加えて四重極電場をデバイスに与えることにより達成できる。
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【課題】標準ガスを用いることなく装置の経時変化等を簡単な操作でチェックすることができる分光吸光分析法によるガス分析装置を提供する。
【解決手段】ガスセル１を備えた分光吸光分析装置において、同一の吸光度を有する複数の光学フィルタの１枚及び複数枚を測定光の光路Ａ中に枚数を変えて逐次に挿入し、またその挿入位置から離脱させるフィルタ挿脱機構５を備える。この構成により、標準ガスの代わりに吸光度が２倍、３倍等に異なる複数の光学フィルタを光路中に逐次に挿入して、簡便に装置の性能チェックを行うことができる。 （もっと読む）

【課題】放射線検出器に含まれる一時的に動作の不良性を示す検出素子（不定素子）の挙動が不安定な状態にあっても、診断に好適な放射線透視画像を取得することができる放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るＸ線撮影装置１は、放射線透視画像に写りこんだ動作不良素子を削除するのに用いられるマップを２つ用意している。これらのうちの１つを選択して画像に写りこむ動作不良素子を除去する。いずれのマップを使用するかは、選択部１６が選択する。選択部１６は、Ｘ線を検出することができない放射線検出素子の経時的な減少を知り、増減変化が所定の水準にまで低下したとき、第１マップに代えて第２マップを選択する。これにより、画像に写りこんだ動作不良検出素子は、的確に除去され、ＦＰＤ４の安定性に係らず、常に診断に好適な放射線透視画像を取得することができる。 （もっと読む）

【課題】 誘導回折格子法を用いて媒体中における被測定粒子群の濃度を算出する粒子検出装置を提供する。
【解決手段】 被測定粒子群を媒体中に含有する試料を収容するセル１と、電圧を印加する電源３と、電源３からの電圧印加によりセル１内に空間周期的に変化する電界を形成する電極２と、試料に測定光を照射する光源４と、試料に測定光を照射することにより発生する回折光による回折光強度を検出する検出器１５１と、電源３から電極２に電圧を印加することにより、媒体中で被測定粒子群に電気的な泳動を生じさせる印加電圧制御部３１とを備える粒子検出装置１０であって、セル１内に空間周期的に変化するように形成された電界に対応する位置に設けられ、被測定粒子群を付着する被測定粒子群付着層８と、電源３から電極２に電圧を印加することを停止した後の回折光強度に基づいて、媒体中における被測定粒子群の濃度を算出する粒子濃度算出部３５とを備える。 （もっと読む）