説明

株式会社島津製作所により出願された特許

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【課題】ターボ分子ポンプに一体的に取り付けられる制御ユニットを小型化し、または製造コストを低減する。
【解決手段】上ケース12はフランジ12aの貫通孔51に挿通された締結部材61により外部装置の第1の取付部材91に締結される。上ケース12に締結された第1のベース14はフランジ14bの貫通孔52に挿通された締結部材63により外部装置の第2の取付部材92に締結される。制御ユニット70は締結部材65により第2のベース15に締結される。締結部材65にはロータ30の破壊時のトルクが作用しないので、締結部材65および制御ユニット70のケースを、強度が小さいものとすることができる。 (もっと読む)


【課題】培地に気泡が混入することを防止することができる細胞培養システム及びそれを用いた細胞培養方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る細胞培養システム1は、細胞が収容される培養室300と、外部への開口を有する液状の培地を貯留する培地貯留部111と、前記培養室300と前記培地貯留部111とを繋ぐ培地導入流路112と、前記培養室300に連通した培地排出流路122とを有する細胞培養デバイス10と、前記培地排出流路122に接続され、前記培養室300内を吸引することにより前記培地貯留部111内の培地を前記培養室300に送液する送液機構20とを備える。 (もっと読む)


【課題】 イオントラップToF装置の、特にMS2及びMS3分析モードにおいて、イオンスループット速度及びスペクトル取得速度を改良する。
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置(1)が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス(10)と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス(10)の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。 (もっと読む)


【課題】或るMS1ピークをプリカーサイオンとしたMS2分析を実行する前にそのMS2分析結果を利用した物質同定の確率を定量的に推定することにより、同定作業の効率向上を図る。
【解決手段】同定確率推定モデル構築部32は、既知試料から得られた多数の分画試料をMS1、MS2分析し、同定を行った結果(成功/失敗)から、同定成功の確率が高いMS1ピークのm/z及びSN比を把握し、MS1ピークを順位付けするパラメータと、その順位に従ってMS2分析及び同定を行った場合の分析累積数と同定成功数との関係を示す同定確率推定モデルを表すパラメータを求め、記憶部33に記憶しておく。目的試料中の物質同定に際しては、分析により得られたMS1ピークについてMS1ピーク順位付けパラメータを用いて近似順位を求め、同定確率推定モデルを参照して近似順位から同定確率推定値を求める。例えば同定確率がを基にMS1ピークを選択しMS2分析することで効率良く網羅的同定が可能である。 (もっと読む)


【課題】撮像装置とキャリブレーションマークとの位置関係に係わらず、撮像装置をキャリブレーションするに十分な、キャリブレーションマークの撮像画像を取得する。
【解決手段】単一のキャリブレーションマークを複数回撮像することによって、複数の基準マークが配置されたキャリブレーションを撮像したときと同様の画像マークを取得し、この画像マークに基づいて撮像装置について中心位置、取り付け角度、分解能等のキャリブレーションを行う。単一のキャリブレーションマークを異なる撮像位置で複数回撮像して画像マークを取得する撮像工程と、複数回の撮像で取得したキャリブレーションマークの各画像マークを用いて、複数個の画像マークを有した撮像画像を形成する撮像画像形成工程と、撮像画像の画像マークの位置と撮像画像上の基準位置とに基づいて、撮像装置のキャリブレーション情報を算出するキャリブレーション情報算出工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】1つの装置で、分析目的に応じた高感度の測定と測定質量範囲の広い測定とを自由に選択可能とする。
【解決手段】四重極電源部4において、高周波電源401による高周波電圧の周波数を切り替え可能とするとともに、四重極マスフィルタ2の浮遊容量に並列に可変コンデンサ402、403を設ける。感度優先の高感度モードでは質量範囲の広さを優先する高質量モードよりも、高周波電圧の周波数を高くするとともに、可変コンデンサ402、403の容量値を大きくする。LC共振回路を形成する容量値が大きくなることでLC共振条件に基づく周波数が上がり、高い周波数の高周波電圧をLC共振させて振幅を増幅することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】 エジェクタや吸引パイプやエアロゾル移送パイプ等の吸入管を取り外すことなく、容易に洗浄できる粒度分布測定装置の洗浄方法及びその洗浄方法が用いられる粒度分布測定装置を提供する。
【解決手段】 被測定物Sが収容されるサンプル供給装置30と、光強度分布取得部41と、光強度分布取得部41で取得された光強度分布を用いて、被測定物Sに含まれる被測定粒子群の粒度分布を算出する粒度分布算出部43とを備え、測定空間の一端部は、吸入管24a、24b、24fを介してサンプル供給装置30と連結されるとともに、測定空間の他端部は、排出管91と連結されている粒度分布測定装置1の洗浄方法であって、サンプル供給装置30に洗浄用粒子群を含む被測定物Sを収容する収容工程と、洗浄用粒子群を含む被測定物Sを、吸入管24a、24b、24fと測定空間と排出管91とを通過させる通過工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】TFTアレイ検査装置において、基板内で絶縁破壊(ESD)を生じさせることなく、基板に帯電した電荷を放電する。
【解決手段】プローバーを基板に配置し、プローバーを介して検査信号を基板に供給し、基板上に形成されたTFTアレイを検査するTFTアレイ検査装置において、TFTアレイ検査時にプローバーを基板に配置した際に、基板をプローバーを介して接地された高抵抗の放電用抵抗に接続することによって、基板に帯電する電荷をプローバーおよび放電用抵抗を介して放電させる。基板に帯電する電荷を、基板からプローバーを介して放電用抵抗に導くことによって、TFTアレイ検査装置内において格別な機構を設けることなく基板に帯電する電荷を放電することができる。 (もっと読む)


【課題】電気的検査と光学像による観察とを行うTFT液晶基板検査において、装置構成を小型化し、基板アレイ検査のスループットを向上させる。
【解決手段】TFT液晶基板検査装置は、検査チャンバーから電気的検査によって欠陥位置を取得したTFT液晶基板を、検査チャンバーから基板交換チャンバーに搬出する際に、TFT液晶基板上の欠陥位置に撮像装置を移動させて光学像を取得する構成とすることによって、光学像を取得的するために要するスペースを不要として装置構成を小型化すると共に、TFT液晶基板の搬出と同時に光学像を取得することによって、光学像のみを取得するための時間を不要としてTFT液晶基板検査のスループットを向上させる。 (もっと読む)


【課題】翼排気部における排気性能を一層向上させる。
【解決手段】動翼部65には、放射状のロータ翼65aを有する内周側の翼配列部65Aと、放射状のロータ翼65bを有する外周側の翼配列部65Bが半径方向に連続して形成されている。翼配列部65A、65Bを複数にしたので、各翼配列部のロータ翼またはステータ翼は、翼枚数、翼角度または翼厚さの少なくとも1つを他の翼配列部のものとの調整を図りながら最適なものとすることが可能となり、これにより、排気性能を向上することができる。 (もっと読む)


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