説明

株式会社島津製作所により出願された特許

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【課題】 測定中の電気化学反応の発生を抑制できる粒子径測定装置を提供する。
【解決手段】 試料に測定光を照射することにより発生する回折光による回折光強度を検出する検出器51と、電圧印加を停止することにより、媒体中で被測定粒子群に拡散を生じさせることで、回折光に変化を生じさせる印加電圧制御部31と、電圧印加を停止したときである拡散開始時間の回折光強度からの回折光強度の時間変化に基づいて、被測定粒子群の粒子径の分布を算出する粒子径算出部35とを備える粒子径測定装置10であって、電極2を流れる電流値を計測する電流値計測部8と、試料中にファラデー電流が流れているか否かを判定するための電流値閾値及び時間閾値を記憶する記憶部40と、電流値閾値以上の電流値が時間閾値以上流れたときには、試料中にファラデー電流が流れていると判定する判定部34とを備える。 (もっと読む)


【課題】液中に浸漬された試料上の局所的な誘電緩和特性などの誘電特性の測定を可能とする。
【解決手段】原子間力顕微鏡のカンチレバー5に形成した金属薄膜5aと導電性の試料3が載置された試料ホルダ2との間に、励振電圧生成部21から、周波数がf0である搬送波電圧を周波数fmの変調波電圧で振幅変調した励振電圧を印加する。周波数f0がカンチレバー5と液体との界面の電気二重層の誘電緩和周波数より高くなると、探針6と試料3との間にはたらく静電気力による振動がカンチレバー5に誘起される。この静電気力は探針−試料間距離依存性をもつため、その特性の周波数分散を調べることにより、試料上の局所的な誘電特性を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】被検体を回転中心軸に容易に配置することができるX線診断装置を提供することを目的とする。
【解決手段】映像系4を回転させる回転中心軸xにレーザーマーカー11を備え、当該回転中心軸xに沿ってレーザーマーカー11からレーザー光Oを照射する。このようにレーザー光Oを照射することで、回転中心軸xに備えられたレーザーマーカー11から照射された当該回転中心軸xに沿ったレーザー光Oを確認することができる。したがって、レーザーマーカー11から照射された当該回転中心軸xに沿ったレーザー光Oに基づいて、被検体を映像系4に対して当該回転中心軸xに相対的に移動させて容易に配置することができる。 (もっと読む)


【課題】転写歩留まりを向上することが可能な電子デバイスの製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】薄膜トランジスタ(TFT)19の製造方法において、スタンプ5の半導体膜8および絶縁膜9が形成される側の面とは反対側の面5aにガスバリア層7が形成されている。そのため、ガスバリア層7側からスタンプ5を空気で加圧する際に、スタンプ5の半導体膜8および絶縁膜9が形成される側の面とは反対側の面5aから、半導体膜8および絶縁膜9が形成される面に、加圧した空気が抜けにくくなる。これにより、スタンプ5を基板1に押し付けることを持続することができるので、スタンプ5に形成された半導体膜8および絶縁膜9と基板1との密着性を増すことができる。したがって、基板1に転写されない半導体膜8および絶縁膜9が減少し、薄膜転写の歩留まりを向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】試料の再捕集が可能な流路構成であってその流路内部に試料成分が残存しないよう十分なパージが行なわれる流路構成をもつ試料導入装置を提供する。
【解決手段】トラップ捕集工程では、6方切替バルブ2をポートa‐f間、b‐c間、d‐e間を接続した状態にし、6方切替バルブ4をポートa‐b間、c‐d間、e‐f間を接続した状態にし、電磁弁30を開く。キャリアガスがキャリアガス流路26から導入され、6方切替バルブ2‐サンプル流路32‐6方切替バルブ4‐トラップ流路34‐6方切替バルブ4‐流路33‐6方切替バルブ2‐排出流路36を経て排出される。キャリアガスは電子制御フローコントローラ14を介する経路からも導入され、分析流路46の安定化の動作は継続して行なわれる。 (もっと読む)


【課題】前置増幅部前段の性能特性の変動による影響が抑制されたX線分析装置を提供する。
【解決手段】標準サンプルから放出された蛍光X線を検出する半導体X線検出素子、及び半導体X線検出素子の出力信号を受信する初段FET回路を含む前置増幅部前段と、前置増幅部前段を冷却する冷却装置と、前置増幅部前段から出力される検出信号を分析する信号分析装置と、検出信号を分析して得られる前置増幅部前段の性能特性を示す性能値、及び前置増幅部前段の温度をリアルタイムで監視し、冷却装置を制御して性能値が規定値を満たすように前置増幅部前段の温度を調整させる制御装置とを備え、前置増幅部前段が調整された温度において、測定対象物から放出された蛍光X線を分析する。 (もっと読む)


【課題】液体に浸漬した試料を測定する際に、構成が簡単で低コストでありながら高精度の測定が可能なスプリアスフリーのカンチレバー励振方法を提供する。
【解決手段】カンチレバー5の背面に形成された金属薄膜5aと、カンチレバー5が固定された台座部4の透明体4aの下面に形成された対向電極9との間に、高周波の搬送波信号を振幅変調することで生成した励振電圧を印加する。カンチレバー5と液体8との界面に形成される電気二重層容量は誘電緩和するため界面張力効果による力は無視できる程度になり、静電気力による作用が支配的になるため、励振スペクトルが理想的な調和振動子モデルに近づき、共振周波数よりも十分低い周波数領域では振幅及び位相は周波数に依存しない平坦な特性となる。 (もっと読む)


【課題】 観察者の眼の位置がライトガイドに対して上下方向に動いても、観察者が観察対象の虚像を正常に視認することができる表示装置を提供する。
【解決手段】 出射機構21、22と、ライトガイド3とを備える表示装置1であって、出射機構21、22は、上下方向に並べられた第一出射機構21と第二出射機構22とを有し、第一出射機構21は、第一部分と上下補正した第一部分とを少なくとも含む画像表示光を出射するか、或いは、第二出射機構22は、第三部分と上下補正した第三部分とを少なくとも含む画像表示光を出射し、ライトガイド3は、第一面33cで第一出射機構21からの上下補正した第一部分となる画像表示光を1回以上反射させるか、或いは、第二面33dで第二出射機構22からの上下補正した第三部分となる画像表示光を1回以上反射させるかの少なくともいずれかを行って、画像表示光を観察者の眼に導くことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 反射画像と透過画像とを同時に同じ位置で撮影することができる太陽電池セル検査装置を提供する。
【解決手段】 半導体ウエハ2の第一面に向かって可視光を照射する第一照射部4と、半導体ウエハ2で反射した可視光を受光することにより、半導体ウエハ2の反射画像を取得する第一撮像部5と、半導体ウエハ2の第一面に対向する第二面に向かって赤外光を照射する第二照射部6と、半導体ウエハ2を透過した赤外光を受光することにより、半導体ウエハ2の透過画像を取得する第二撮像部7と、反射画像及び透過画像に基づいて、半導体ウエハ2に欠陥があるか否かを判定する判定部21dとを備える太陽電池セル検査装置1であって、第一撮像部5及び第二撮像部7との間に配置されるビームスプリッタ11を備え、ビームスプリッタ11は、設定波長未満の光を第一撮像部5に導くとともに、設定波長以上の光を第二撮像部7に導くことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】目的ガスの濃度測定の測定可能範囲を広くすることのできるTDLAS法によるガス分析装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るガス分析装置では、吸収線判定部82で今回用いた吸収線がその目的ガスの濃度測定に適していないと判定された場合、情報記憶部81に保持されている複数の吸収線の中から別の吸収線の情報を1つ選択する。情報記憶部81には、各々の吸収線に対応するLD1の駆動電流及び温調温度の設定値が保持されている。制御部2はこの設定値に基づいてLD駆動部3とLD温調部5を制御し、次の測定を開始する。一方、その吸収線が測定に適していると判定された場合、濃度算出部83は、情報記憶部81に保持されている、その吸収線に対応する吸収線強度及び吸収特性関数の情報を参照しつつ、透過光強度、ガス温度、圧力の各測定値に基づいて濃度を算出する。 (もっと読む)


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