説明

日本電子株式会社により出願された特許

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【課題】スペクトルを有効に表示することができるスペクトル表示装置を提供する。
【解決手段】スペクトル表示装置100は、第1軸を所定の物理量とし、第2軸を前記所定の物理量に対する強度として表したスペクトルの一部を拡大して表示するスペクトル表示装置であって、前記スペクトルの前記第1軸の拡大範囲を指定するための操作部10と、操作部10によって指定された前記拡大範囲の情報を取得する範囲情報取得部22と、前記拡大範囲の情報に基づいて、前記拡大範囲が所定の拡大率で前記第1軸に沿って拡大され、かつ前記拡大範囲とは異なる前記第1軸の範囲が所定の縮小率で前記第1軸に沿って縮小された拡大スペクトルを生成するスペクトル生成部24と、スペクトル生成部24が生成した前記拡大スペクトルを表示する表示部30とを含む。 (もっと読む)


【課題】各ピクセルの輝度値の信頼性が均一な画像を得ることができ、1フレーム分の画像の取得に要する時間を効果的に短縮することが可能な、電子顕微鏡の制御方法、電子顕微鏡、プログラム及び情報記憶媒体を提供すること。
【解決手段】電子ビームが電子顕微鏡像を構成する所与のピクセルに対応する試料上の位置を照射しているときに連続的に取得された複数の検出信号の平均値mを求める処理と、求めた平均値mに基づき、検出信号の母集団の期待値μが信頼区間m±kに位置する確率γが所定の閾値pを超えたか否かを判定する処理とを、確率γが所定の閾値pを超えるまで繰り返し、確率γが所定の閾値pを超えたと判定された場合に、求めた平均値mを当該照射位置に対応する電子顕微鏡像のピクセル値として出力し、且つ電子ビームの走査として電子ビームの照射位置を移動させるための制御を行う。 (もっと読む)


【課題】繰り返し構造を持つ物質の解析を容易化することができる画像生成装置を提供する。
【解決手段】画像生成装置100は、繰り返し構造を有する物質を解析するための画像を生成する画像生成装置であって、質量電荷比に対するイオン強度の情報を含む前記物質のイオン強度データを取得するイオン強度データ取得部11と、前記物質の繰り返し単位の質量情報を取得する質量情報取得部12と、前記物質の繰り返し単位の質量情報に基づいて、前記イオン強度データを、所定の質量電荷比の範囲ごとに配列する配列部13と、配列された前記イオン強度データに基づいて、画像を生成する画像生成部14と、を含む。 (もっと読む)


【課題】荷電粒子ビーム描画方法及び装置に関し、限られた数の円形開口を用いながら広いサイズ範囲にわたる円形パターンを得る。
【解決手段】荷電粒子ビーム源1と、該荷電粒子ビーム源から出射した荷電粒子ビームが照射する第1の矩形開口を有する第1成形スリット4と、開口径が異なる複数の円形開口を有する第2成形スリット7と、該第1成形スリットの開口を通過した荷電粒子ビームを第2成形スリット上に結像させる成形レンズ6と、該第1成形スリットの開口を通過した電子ビームを偏向させて前記第2成形スリット上の所望の円形開口に照射させる偏向器5とを備え、第2成形スリットのいずれかの円形開口を通過した成形円形ビームを描画材料13上にショットし、円形パターンを描画する荷電粒子ビーム描画方法において、前記第2成形スリット上の異なった円形開口で形成された成形円形ビームを、描画材料上に中心位置を一致させ重ねてショットする。 (もっと読む)


【課題】保持器のずれを抑えることができる。
【解決手段】
固定部材に固定され長さ方向に延びるV溝路を有する一対の第1ガイドレールと、移動部材に該一対の第1ガイドレールとそれぞれ平行になるように取り付けられると共に第1ガイドレールのV溝路と対向する長さ方向に延びるV溝路を有する一対の第2ガイドレールと、第1ガイドレールのV溝路と第2ガイドレールのV溝路と間で保持器に保持されV溝路を転動する複数のローラ又は球を備えた摺動装置において、第1ガイドレール及び第2ガイドレールに挟まれることによってローラ又は球が受ける予圧が、保持器の中央部に配設されたローラ又は球の方が保持器の両端部に配設されたローラ又は球より大きくなるように構成した。 (もっと読む)


【課題】 残留収差を発生させることなく、色収差と球面収差を補正することができる電子顕微鏡を提供する。
【解決手段】 色収差補正光学系27と球面収差補正光学系28が接続系29を介して直列に接続されている(タンデム式)。つまり、色収差補正光学系27と球面収差補正光学系28は独立して構成されており、色収差と球面収差は別々に補正される。 (もっと読む)


【課題】測定すべき検体を収容している検体収容容器が別の形状の検体収容容器に移し替えられた場合においても、自動的に検体収容容器の形状情報を変更し、分析時間のロスを無くす。
【解決手段】化学分析装置において、分注対象の検体についてラック2又は検体収容容器STに付された識別情報の内、識別情報発生部で検体識別情報発生に使用されない方の識別情報を認識して修正用検体容器形状情報を発生する修正検体容器形状情報発生手段23を設け、制御コンピュータ16は、修正検体容器形状情報発生手段23から修正用検体容器形状情報が発生された場合、その修正用検体容器形状情報に基づいて検体分注機構9を制御してその分注対象の検体が収容された検体収容容器STから検体を吸引分注すると共に、記憶された指定分析項目情報に基づき指定分析項目用の試薬を用いて指定分析項目について分析を行うように制御する。 (もっと読む)


【課題】所定雰囲気ガス圧状態での試料観察を行うことを可能にする。
【解決手段】
電子光学軸上に電子ビーム通過孔が開けられており、その内部にガス供給系からガスが供給されるガス雰囲気容器21と、先端部に試料を保持し,該試料を真空外から前記ガス雰囲気容器21内に導入する試料ホルダ18とを備えた電子顕微鏡における試料観察方法であって、前記試料ホルダ18を前記ガス雰囲気容器21内に導入する前に、圧力測定用素子31が取付られた圧力測定用ホルダ30を該ガス雰囲気容器21内に導入し、該圧力測定用素子31が検出する該ガス雰囲気容器21内の圧力が所定の圧力に成る様に該ガス雰囲気容器21内を前記ガス供給系により調整し、次に、前記圧力測定用ホルダ30に代えて前記試料ホルダ18を前記ガス雰囲気容器21内に導入し、電子ビーム発生手段からの電子ビームを前記試料Sに照射し、該試料Sを透過した電子ビームに基づく試料像を観察する。 (もっと読む)


【課題】デフォーカス量を精度よく調整することが可能な、透過型電子顕微鏡、デフォーカス量調整方法、プログラム及び情報記憶媒体を提供すること。
【解決手段】透過電子顕微鏡像を取得する像取得部22と、電子線を傾斜させない状態で取得した第1の透過電子顕微鏡像に対してフーリエ変換を行ってフーリエ変換像を生成し、前記フーリエ変換像において高周波成分が多くなる方向を検出する方向検出部24と、試料に照射される電子線を、検出された方向に傾斜させるための制御信号を生成して偏向器制御装置5に出力する制御信号生成部26と、前記第1の透過電子顕微鏡像と、電子線を検出された方向に傾斜させた状態で取得した第2の透過電子顕微鏡像の相互相関をとって、前記第1及び第2の透過電子顕微鏡像間の位置ずれ量を求め、求めた位置ずれ量に基づきデフォーカス量を検出するデフォーカス量検出部28とを含む。 (もっと読む)


【課題】位相差像におけるアーティファクトを低減することが可能な位相板を提供する。
【解決手段】位相板100は、第1面10aと、第1面10aとは反対側の第2面10bと、を有する第1電極層10と、第2面10bと対向する第3面12aと、第3面12aとは反対側の第4面12bと、を有する第2電極層12と、第4面12bと対向する第5面14aと、第5面14aとは反対側の第6面14bと、を有する第3電極層14と、少なくとも第1電極層10の第1面10aに形成された被覆層20と、を含み、第1電極層10、第2電極層12、および第3電極層14は、透過波W1の上流側から第1電極層10、第2電極層12、第3電極層14の順に配置され、貫通孔2を有する積層体として形成され、被覆層20の材質は、タンタル、タングステン、レニウム、またはモリブデンである。 (もっと読む)


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