日本電子株式会社により出願された特許

21 - 30 / 811


【課題】透過電子顕微鏡において、広い範囲の観察が可能な試料ホルダーを提供する。
【解決手段】透過電子顕微鏡100は、試料支持部10が設けられた軸部20と、試料室における試料支持部10の位置を変える第1試料支持部移動機構30と、を含み、ステージ移動機構は、試料室における電子線の進行方向に対して交差する第1方向に試料支持部10を移動させ、ステージ移動機構による試料支持部10の第1方向の移動可能範囲は、第1距離であり、第1試料支持部移動機構30は、試料支持部10を、第1方向に、第1距離以下ずつ移動させ、第1試料支持部移動機構30による試料支持部10の第1方向の移動可能範囲は、第2距離であり、試料支持部10は、試料室において電子線を通過させるための開口部11を有し、開口部11の第1方向の大きさは、第1距離と第2距離との和以上である。 (もっと読む)


【課題】良好なスループットで、かつCDリニアリティ精度の高い描画が可能な荷電粒子線描画装置を提供する
【解決手段】荷電粒子線描画装置は、単位領域ごとに、1ショットあたりの荷電粒子線の照射量を設定する照射量設定部382と、照射量設定部382によって設定された照射量に基づいて、荷電粒子線の最大ショットサイズを設定する最大ショットサイズ設定部384と、単位領域において荷電粒子線のショットサイズが最大ショットサイズ設定部384で設定された最大ショットサイズ以下になるようにパターンを分割して、荷電粒子線のショットサイズを設定するパターン分割部386と、照射量設定部382によって設定された照射量およびパターン分割部386によって設定されたショットサイズに基づいて、荷電粒子線をショットする描画部と、を含む。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い放射線検出装置を提供する。
【解決手段】放射線検出装置100は、半導体検出素子10と、冷却素子20と、第1温度監視部30と、第2温度監視部40と、制御部50と、を含み、制御部50は、設定温度を第1温度に設定し、検出素子温度情報I10に基づいて半導体検出素子10が第1温度に維持されるように冷却素子20を制御する第1温度維持処理と、冷却素子温度情報I20に基づいて、冷却素子20の温度が第1閾値よりも高いか否かを判定する第1閾値判定処理と、第1温度維持処理の実行中に、第1閾値判定処理において冷却素子20の温度を第1閾値よりも高いと判定した場合、設定温度を第1温度から第1温度よりも高い第2温度に変更し、検出素子温度情報I10に基づいて半導体検出素子10が第2温度に維持されるように冷却素子20を制御する第2温度維持処理と、を行う。 (もっと読む)


【課題】基準となる入力光量の測定と反応液の透過光量の測定との時間差によらず、正確に反応液の吸光度を測定する。
【解決手段】光吸収のない所定液で測定した入力光量Ioと、試料と試薬とを混合して反応時間Tが経過した反応液を測定した透過光量Iとにより反応液の吸光度Aを測定する際、Io測定直前に透過率一定部位で測定した光量Iboと、I測定直前に透過率一定部位で測定した光量Ibとで、入力光量をIo'=Io×(Ib/Ibo)と補正し、A=log(Io'/I)として反応液の吸光度Aを求めることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡便に電子染色を行うことができ、かつ高い染色効果を有する電子顕微鏡観察用染色剤を提供する。
【解決手段】電子顕微鏡観察用染色剤は、シスプラチンを含有する。 (もっと読む)


【課題】電子ビーム装置において正確な絞り位置調整を行う。
【解決手段】電子銃111から試料に照射する電子ビームを通過させるための複数の絞り穴を備える絞り板113と、電子ビームの通過経路で前記絞り板を駆動する絞り駆動部170と、前記絞り板により遮断される前記電子ビームを電流として検出する電流検出部160と、前記電子ビームの照射と前記絞り駆動部による前記絞り板の駆動状態を制御する制御部101と、を備えた電子ビーム装置で電子ビームを絞る際に、電子ビームの通過経路中で複数の絞り穴が設けられた絞り板113を所定方向に移動させつつ、電流検出部160で検出される電流により絞り板113の駆動位置を算出する。 (もっと読む)


【課題】上面が開放面で、内部に液体を収容し、前記開放面から挿入されたピペットにより前記液体が吸引される臨床検査用分析装置の液体容器に関し、メニスカスによる液面の低下が小さくなる臨床検査用分析装置の液体容器を提供することを課題とする。
【解決手段】希釈容器(液体容器)5内部の水平方向の断面形状を長円形(角がない細長形)とし、希釈容器5の底部のうち、挿入されるピペットと対向する箇所5cは、他の箇所より深くする。 (もっと読む)


【課題】ユーザーの手間を軽減しながら、指定されたイオンの質量電荷比に応じた質の良いマススペクトルを得ることができる飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法を提供すること。
【解決手段】記憶部50は、既知物質の質量電荷比の値と、イオン源10の遅延引き出し法に関連する遅延引き出しパラメーターを含む所与の調整パラメーターの値との対応関係を定義する調整テーブル56を記憶する。パラメーター調整部45は、調整テーブル56に基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる調整パラメーターの値を算出する。パラメーター設定部41は、パラメーター調整部45が算出した調整パラメーターの値に基づいて、イオン源10の遅延引き出しパラメーターを設定する。飛行時間計測部42は、遅延引き出しパラメーターが設定されたイオン源10で発生したイオンが検出器30に到達するまでの飛行時間を計測する。 (もっと読む)


【課題】試料を加熱しながらガス雰囲気を吹き付けて、ガスとの反応過程を観察する機能を有し、一度吹き付けたガスが再び試料に戻らずに、一定の温度と濃度のガス雰囲気で試料の反応過程を観察できる電子顕微鏡用の試料ホルダを提供する。
【解決手段】
電子ビームを通過させるための開口43が形成された試料支持フレーム42と、前記開口43のほぼ中央を横切るように張架された試料支持ワイヤ16と、前記試料支持ワイヤ16の両端に接続された接続線33,34と、前記試料支持ワイヤ16にガスを吹き付ける試料支持フレーム42に前記試料支持ワイヤ16に対向するように取り付けられた導管17Aを備え、前記導管17先端のノズル17Bから発生し前記試料支持ワイヤ16を通過したガスを受ける連結フレーム42Cの面に、前記ガスの進行方向に対して後退する斜面と共に平行な複数の溝を設けたことを特徴とする電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ。 (もっと読む)


【課題】坩堝同士の汚染を防止する。
【解決手段】
蒸発材料3が収められた複数の坩堝を備え回転軸を中心に回転する回転テーブル2と、電子ビーム照射位置に位置する一つの坩堝7に対して電子ビームを照射して坩堝7の蒸発材料3を蒸発させる電子銃1と、回転テーブル2の上側に複数の坩堝7を覆い、かつ電子銃1に対向する電子ビームの照射領域の全てが開口したカバー6とを備えた多点蒸発源装置において、回転テーブル2の上面に坩堝7を仕切るように形成された溝24と、この溝24に嵌り込みこんで各坩堝を仕切り、回転テーブル2の回転と共に回転する遮蔽体20と、各坩堝が電子ビームの照射位置に来たとき、遮蔽体20を上昇させ、遮蔽体20とカバー6との間隔を狭める遮蔽体昇降手段とを備えた。 (もっと読む)


21 - 30 / 811