説明

日本電子株式会社により出願された特許

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【課題】試料、試薬、時間が無駄にならず、正確な測定ができる生化学分析装置を提供することを課題とする。
【解決手段】データを記憶する記憶部53を設け、制御部51は、第2試薬の試薬容器交換が発生すると、交換された第2試薬の検量線を作成する校正を行うともに、校正が終了するまで、測定された未知検体の吸光度を記憶部53に記憶し、校正が終了すると、記憶部53に記憶された未知検体の吸光度を呼び出し、交換された第2試薬の検量線を用いて、記憶された吸光度から未知検体の濃度を求める。 (もっと読む)


【課題】大量に保持体を形成できる試料保持体、同保持体を用いた試料観察・検査方法、及び、試料観察・検査装置を提供する。
【解決手段】開口150bが形成された本体部150aと、開口150bを覆う試料保持膜150cとを備える試料保持体150を用い、支持手段311への接触により支持された状態で、試料保持体150の試料保持膜150cにおける開放された第1の面に保持された試料315に、試料保持膜150cにおいて真空雰囲気に接する第2の面側から、試料保持膜150cを介して、試料観察又は検査のための一次線320が照射可能である。 (もっと読む)


【課題】本発明は、磁場レンズ内における電場レンズを構成する中間電極の長さ及び配置を工夫したり、電場レンズの中間電極の内部の中央に絞りを設け、電場レンズ内部でイオンガスの蓄積を阻止させるようにしたので、描画材料の描画フィールドのパターンを描画する時に発生する電子ビームの位置ずれ防止することができる。
【解決手段】電子ビームの描画材料上への集束状態を変化させるための電場レンズであって、電子ビームが内部を通過する円筒型の中間電極と、中間電極の上流側に配置される上段電極と、中間電極の下流側に配置される下段電極とから構成される電場レンズとを備えた電子ビーム描画装置において、磁場レンズが形成する磁場の中心に合わせて中間電極が配置され、且つ中間電極は、少なくとも一つの端部が、磁場レンズが形成する磁場と端部位置に形成される電位の壁とによりイオントラップが形成されない位置に来るように設けた。 (もっと読む)


【課題】複数の開口が設けられた第1および第2の成形開口板を用いて発生させた複数の可変成形電子ビームによる描画方法及び描画装置に関し、ビームむらを打ち消して描画を行なうことを目的としている。
【解決手段】第1と第2の成形開口板のそれぞれに複数の開口を設け、第1の成形開口板の複数の開口を通過した複数の電子ビームを第2の成形開口板の対応する開口部に結像させ、第2の成形開口板の複数の開口を通過した複数の成形電子ビームを被描画材料上にショットするようにした電子ビーム描画方法において、複数の成形電子ビームのショットにより描画される各図形を、少なくとも2回の同一形状および断面積の成形電子ビームの多重ショットにより描画すると共に、該少なくとも2回のショットを前記第1成形開口板の異なる開口を使用して成形した電子ビームにより行う。 (もっと読む)


【課題】CT法によって得られる3次元像の像質を向上させることが可能な、電子顕微鏡および3次元像構築方法を提供する。
【解決手段】電子顕微鏡試100は、像取得部24は、マーカーが形成される前の試料Sの透過電子顕微鏡像を、傾斜角度ごとに取得することにより、第1傾斜像シリーズを取得する第1処理と、マーカーが形成された試料の透過電子顕微鏡像を、傾斜角度ごとに取得することにより、第2傾斜像シリーズを取得する第2処理と、を行い、3次元像構築部26は、第2傾斜像シリーズに基づいて、第1傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像間の位置あわせを行うアライメント処理を行い、位置合わせされた第1傾斜像シリーズを構成する複数の透過電子顕微鏡像に対して、3次元構築処理を行う。 (もっと読む)


【課題】常に最良の条件で測定できるように、アセトンを用いて簡単に行なえるGC−MS用の電界イオン化イオン源の調整方法を提供する。
【解決手段】ガスクロマトグラフ装置から導入される試料分子をエミッターとカソードによって挟まれた高電界空間に導入管を介して導入し、該高電界空間を利用して試料分子をイオン化させる電界イオン化イオン源の調整方法であって、標準試料を前記導入管を介して前記高電界空間に導入し、生成された標準試料のイオンに基づいてイオン化条件を調整するようにした。 (もっと読む)


【課題】CT法によって得られる三次元像の画質を向上させることが可能な、電子顕微鏡及び三次元像構築方法を提供すること。
【解決手段】試料を複数段階に傾斜させる試料傾斜手段と、前記試料傾斜手段によって設定された各傾斜角度θにおいて得られる透過電子顕微鏡像TIを取得する像取得手段と、取得した傾斜角度θ毎の透過電子顕微鏡像TIに基づき試料の三次元像を構築する三次元像構築手段とを含み、試料の三次元像の構築に用いる透過電子顕微鏡像TIの領域の幅bを、傾斜角度θに応じて傾斜軸に垂直な方向に変化させる。 (もっと読む)


【課題】一次線の光軸近傍を軌道とする検出対象電子と、その外側を軌道とする検出対象電子とを簡易な構成で分離して検出する。
【解決手段】一次線2が通過するための開口4が形成されているとともに、両面がシンチレーション面を形成しているプレート5と、エネルギーフィルタ3と、試料10と対向する側のシンチレーション面に一次線2の照射に応じて試料10から発生する第1の検出対象電子21が到達して生じるシンチレーション光23を検出するための第1の光検出器7aと、一次線2の照射に応じて試料10から発生し該プレート5の開口4を通過してエネルギーフィルタ3により追い返された第2の検出対象電子22aが到達して生じるシンチレーション光24を検出するための第2の光検出器7bとを備える。 (もっと読む)


【課題】 透過電子顕微鏡等の観察に適した薄膜部分を広く形成した試料を作製する。
【解決手段】試料素材11上に遮蔽ベルト8を配置し、遮蔽ベルト8の上方から遮蔽ベルト8と試料素材11にイオンビームを照射し、試料素材11にイオンミリングされないイオンビーム非照射面11bと、イオンミリングされるイオンビーム照射面11c,11dを作製するに際し、イオンビーム非照射面から下方に向かうに従って薄くなり、最終的に貫通孔Kが開いた試料が出来る様に、イオンビームの照射方向をそれぞれ設定して遮蔽材と試料素材に向けて異なる方向からイオンビームを照射する様すると共に、作製しようとする薄膜の面に直交する軸を中心として試料素材11を傾斜させながらイオンビームを試料素材11に照射する様にし、試料素材11に貫通孔Kが開いたら試料素材11へのイオンビーム照射を停止する様にした薄膜試料作製方法において、試料素材11の傾斜において、少なくても1つの傾斜角で該試料素材を一時停止させる様にした。 (もっと読む)


【課題】装置の小型化が図れ、検体ラックの投入順と排出順とが変わらない臨床検査用分析装置を提供することを課題とする。
【解決手段】検体を測定する分析装置1と、検体ラック50の検体容器2をサンプリング位置へ移動する共に、検体ラック50を排出する初検・再検サンプリングレーン200と、分析装置1、初検・再検サンプリングレーン200の駆動を制御する制御手段500とを有し、制御手段500は、全ての検体の初検結果が出るまで、全ての検体ラック50を初検・再検サンプリングレーン200上に待機させ、再検が必要な場合は、再検が必要な検体容器2をサンプリング位置へ移動させて再検を行ない、全ての再検2が終了したならば、全ての検体ラック50を排出する。 (もっと読む)


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