説明

横河電機株式会社により出願された特許

81 - 90 / 4,443


【課題】液晶表示部を具備したフィールド機器では、設置場所が暗い所を基準にしてバックライト光の明るさを設定していたので、消費電力が大きくなり、また設置場所に応じてバックライト光の明るさを調整することが面倒である課題があった。本発明は設置場所に応じてバックライト光の明るさを自動的に調整できるようにすることを目的にする。
【解決手段】設置場所の明るさを検出する光量検出部を具備し、この光量検出部の出力に応じて、バックライト光を駆動する駆動電流を制御するようにした。設置場所の明るさに応じてバックライト光の明るさが変化するので、バックライト光の調整が不要であり、かつ消費電力を削減することができる。 (もっと読む)


【課題】電池を実際に使用している自動車や発電プラント、家庭用蓄電システムなどのオンサイトにおいて電池監視装置に用いられる電池の内部インピーダンス特性をリアルタイムで測定できる電池インピーダンス測定装置を実現することにある。
【解決手段】複数個の電池セルが直列に接続され、実負荷を高周波域を含む負荷変動を生じる状態で駆動する電池モジュールをリアルタイムで測定監視する電池監視装置に用いられるインピーダンス測定装置であって、前記各セルの電圧波形データおよび電流波形データを離散フーリエ変換し、電圧波形データの離散フーリエ変換結果を電流波形データの離散フーリエ変換結果で除算することによりインピーダンスを演算するDFT演算部と、このDFT演算部で演算されたインピーダンスおよび重み付け関数や周波数範囲などの解析条件に基づき各データの重み付け演算を行う回路定数推定演算部、とで構成されていることを特徴とするもの。 (もっと読む)


【課題】スケジューリングテーブルや入出力データバッファからデータを読む際に一過性の入出力エラーが発生しても誤った入出力データの転送を回避する。
【解決手段】制御部130は、データ転送に先立ち、スケジューリングテーブル12aの先頭位置に予め設定された、読み出したデータが目的のデータであることを示す第1の特定の情報と、入出力データバッファ12bの先頭位置に予め設定された第1の特定の情報とを照合し、更に、スケジューリングテーブルの任意の位置に予め設定された、ポインタが所望の位置にあることを示す第2の特定の情報と、入出力データバッファの任意の位置に予め設定された第2の特定の情報とを照合し、共に一致した場合にデータ転送を許可する。 (もっと読む)


【課題】フィールドレンズを用いることなく、結像レンズと対物レンズとの間隔が変化したとしても瞳透過率を最大にすることを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置1は、試料Sに照射されるレーザ光Lを発振する光源2と、レーザ光Lを入射して試料Sに焦点を結ばせる結像レンズ28および対物レンズ29を有する顕微鏡光学系10と、光源2からのレーザ光Lを顕微鏡光学系10にリレーする第1リレーレンズ25および第2リレーレンズ26を有するリレー光学系9と、結像レンズ28と対物レンズ29との間隔に応じて、第1リレーレンズ25と第2リレーレンズ26との間隔を調整するレンズ移動機構27と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】ヒューマンマシンインターフェースを直観的に、かつ簡易に操作することができる操作性の高いフィールド機器等を提供する。
【解決手段】一の赤外線スイッチが操作されてから所定時間以内に他の赤外線スイッチが操作されたことを検出する動作解析手段と、前記動作解析手段による検出結果に基づいて、所定のスライド動作を選択する動作選択手段と、を備える。表示手段は、前記動作選択手段により選択された前記スライド動作として、前記インタフェース画面の表示の切り替えを実行する。 (もっと読む)


【課題】チップを用いて定量的な測定を可能とすることができる濃度測定方法等を提供する。
【解決手段】測定用チップと同一性能の校正用チップを用いて特定のプローブ分子とターゲット分子が結合反応する条件においてプローブ分子とターゲット分子が結合反応を行うことにより、当該校正用チップについて校正液のターゲット分子の濃度と、計測光量との関係を求める。また、校正用チップについて求められた関係を用いて、計測光量を求めるステップで求められた計測光量に基づいて測定対象溶液におけるターゲット分子の濃度を算出する。 (もっと読む)


【課題】電池の劣化判定に用いる等価回路モデルの未知の回路定数を増やすことなくフィッティング誤差を小さくする。
【解決手段】交流インピーダンス測定データを、抵抗RとCPEとが並列接続された回路ブロックを1つ以上有する等価回路モデルにフィッティングし、等価回路モデルの回路定数を求めるフィッティング部と、基準となる電池の交流インピーダンス測定データを、等価回路モデルにフィッティングして得られたCPE指数P値を保管するP値保管部と、電池の劣化度と等価回路モデルの回路定数との相関を記録したデータベースを参照し、判定対象電池の交流インピーダンス測定データを、等価回路モデルにP値を固定値としてフィッティングを行なって得られた回路定数に基づいて、判定対象電池の劣化判定を行なう劣化判定部と、を備えた電池劣化判定装置。 (もっと読む)


【課題】システム全体の遅延を測定し、その値に基づいてCPUへ信号を取り込むことにより正確な分析が可能なレーザガス分析装置を実現する。
【解決手段】レーザガス分析装置において、前記タイミング生成回路から出力されたタイミング信号を入力しカウンタをスタートさせる遅延測定回路と、
前記ディテクタ回路で検出される測定信号のエッジ(測定のスタート点)を検出するエッジ検出回路と、を備え、前記タイミング生成回路は前記エッジ検出回路からのエッジ検出信号を入力し前記カウンタで前記レーザ掃引スタートパルスが送出されてからの時間遅れを検出し、その遅れに基づいて前記DAQ回路から前記CPUに取り込むデータ取り込み時間を遅延させるように構成した。 (もっと読む)


【課題】電源投入後の起動及び初期化が完了するまでの立ち上げ時間を早めることを可能にする。
【解決手段】信号処理回路23が、電源電圧VDDが所定値以下の場合にはオフし、所定値以上の場合にはオンとなる半導体スイッチSW1と、電源電圧VDDが半導体スイッチSW1を介して供給される第1コンデンサとして電源安定化コンデンサC1と、電源安定化コンデンサC1よりも静電容量が小さく、電源電圧VDDが直接供給される第2コンデンサとしての起動コンデンサC2とを備えて構成した。 (もっと読む)


【課題】測定経路端を接地して電気長を測定する場合に、経路に断線があっても測定結果を得られるようにする。
【解決手段】測定経路端を接地して電気長を測定する半導体試験装置であって、測定経路に測定信号を出力する信号発生手段と、測定経路から分岐して入力される入力信号と、任意の閾値電圧とを比較する比較手段と、信号発生手段に測定信号を出力させ、比較手段の入力信号が第1閾値電圧以上となってから第2閾値電圧以下となるまでの時間を計測し、所定時間内に計測された場合には、計測された時間に基づいて測定経路の電気長を算出し、所定時間内に計測されなかった場合には、比較手段の入力信号が第1閾値電圧以上となってから、第1閾値電圧よりも高い第3閾値電圧以上となるまでの時間を計測して、測定経路の異常箇所までの電気長を算出する電気長測定制御手段とを備える。 (もっと読む)


81 - 90 / 4,443