説明

パルステック工業株式会社により出願された特許

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【課題】 X線回折測定装置を容易に搬送可能に構成するとともに、測定対象物のX線による回折環を簡単に形成できるようにする。
【解決手段】 X線回折測定装置は、ケース60を備えて、ケース60内に、測定対象物OBに向けてX線を出射するX線出射器10と、イメージングプレート21が取り付けられるテーブル20と、イメージングプレート21にレーザ光を照射して、出射した光を受光して受光強度に応じた受光信号を出力するレーザ検出装置40と、テーブル20を中心軸回りに回転させるスピンドルモータ37と、テーブル20をイメージングプレート21の受光面に平行な方向に移動するフィードモータ32とを収容する。ケース60は、測定対象物OB上に載置される傾斜面壁67を有し、傾斜面壁67には出射されたX線を通過させる貫通孔67aが設けられている。傾斜面壁67は、出射されたX線の光軸方向と所定の角度をなす。 (もっと読む)


【課題】 測定対象物のX線による回折環の形状が不連続の状態で検出されていても、測定対象物の残留応力を精度よく検出できるようにする。
【解決手段】 コントローラCT内に、残留応力の変化に応じて変化する複数の比較回折環の形状を表す回折環形状データ群を残留応力に対応させてそれぞれ記憶しておく。コントローラCTは、測定対象物のX線による回折環の形状を検出し、前記記憶されている回折環形状データ群によって表される複数の比較回折環の形状に対する、前記検出された測定対象物の回折環の形状の一致度合いをそれぞれ計算する。そして、コントローラCTは、前記記憶されている残留応力と、前記計算された一致度合いとの関係に基づいて、前記検出された測定対象物の回折環の形状に最も近い形状の比較回折環に対応した残留応力を測定対象物の残留応力として計算する。 (もっと読む)


【課題】 イメージングプレートの取付け精度の良否によらず、測定対象物の残留応力を精度よく測定できるようにする。
【解決手段】 コントローラCTは、残留応力が0である基準物体BOB及び測定対象物OBに、X線出射器13からのX線をそれぞれ照射して、イメージングプレート28上に基準物体BOB及び測定対象物OBの回折環をそれぞれ撮像する。そして、コントローラCTは、前記撮像した両回折環の形状をそれぞれ検出し、測定対象物OBの回折環の形状を、基準物体BOBの回折環の形状を用いて補正して、イメージングプレート28のテーブル27に対する取付け誤差の影響を少なくする。 (もっと読む)


【課題】 簡単かつ短時間で2次電池の性能を精度よく検査する。
【解決手段】 2次電池BAの電極間に電圧を印加して電流を流し、2次電池BAの複数の部分に対向させて磁気センサ10を位置させ、前記複数の対向位置の磁界を検出する。コントローラ70は、この検出磁界から、2次電池BAの複数の部分に流れる複数の電流の大きさをそれぞれ計算し、前記計算した複数の電流の大きさのうちで、2次電池BAの電極間に位置する電解質領域内の複数の電流の大きさを抽出する。そして、コントローラ70は、抽出された複数の電流の大きさの分布状態を表すグラフを作成して、表示装置72に表示する。 (もっと読む)


【課題】X線回折測定装置において、高精度で回折環を検出できるようにする。
【解決手段】コントローラCTは、測定対象物にて回折したX線による回折環を記録した回折光受光器28にレーザ光を照射して回折環を測定する。コントローラCTは、レーザ光が照射されている位置の半径値が増加するに従って大きくなる回折X線の減衰量の変化を補正するように、半径値を用いてレーザ光強度を計算して、計算したレーザ光強度のレーザ光を回折光受光器28に照射する。また、コントローラCTは、前記半径値が増加するに従って大きくなる測定対象物にX線を照射した際の回折X線が受光される面積の変化を補正するように、前記半径値を用いてフォーカス制御値を計算して、前記計算したフォーカス制御値に応じて対物レンズによるフォーカス位置を制御して、回折光受光器28に形成されるレーザ光のスポット径を制御する。 (もっと読む)


【課題】 X線回折測定装置において、誤ったイメージングプレートの使用を避ける。
【解決手段】 コントローラCTは、測定対象物にて回折したX線による回折環をイメージングプレート28に記録して、回折環を記録したイメージングプレート28にレーザ光を照射して回折環を測定する。新たなイメージングプレート28には、製造日を含む識別データがX線により記録されており、新たなイメージングプレート28への交換後には、識別データが読取られ、その後、識別データがイメージングプレート28から消去される。これにより、新たなイメージングプレート28への交換後に識別コードが読取れなかった場合には、コントローラCTは、使い古しのイメージングプレート28がセットされたと判定する。また、コントローラCTは、製造日を用いて使用期限の切れたイメージングプレート28のセットも判定する。 (もっと読む)


【課題】 太陽電池セルの接続不良を検出できるとともに、太陽電池セルのリーク不良も検出できるようにする。
【解決手段】 通電回路66は、コントローラ70により制御されて、第1及び第2オフセット電圧に第1及び第2交流信号をそれぞれ重畳した第1及び第2印加電圧を太陽電池パネルSPにそれぞれ印加して、太陽電池パネルSPに電流を流す。第2オフセット電圧及び第2交流信号の振幅は、第1オフセット電圧及び第1交流信号の振幅よりもそれぞれ小さい。コントローラ70は、第1印加電圧の印加状態で磁気センサ10から取得した磁界信号を用いて太陽電池セルの接続不良を検出し、第2印加電圧の印加状態で磁気センサ10から取得した磁界信号を用いて太陽電池セルのリーク不良を検出する。 (もっと読む)


【課題】 回折X線の強度にかかわらず、回折環を精度よく測定できるようにする。
【解決手段】 コントローラCTは、レーザ光の照射位置をイメージングプレート28の中心周りに回転させるとともに径方向に変化させている状態で、イメージングプレート28の同一回転角度でレーザ光の強度又は受光信号の増幅率を同一にするとともに、イメージングプレート28が所定角度ずつ変化するごとにレーザ光の強度又は受光信号の増幅率を変化させる。コントローラCTは、イメージングプレート28の回転角度が基準角度から所定角度ずつ変化するごとに受光信号を順次取得して、受光信号の大きさがピークとなる径方向位置を1周分検出し、検出した1周分の径方向位置における受光信号に基づいて、最適なレーザ光の強度又は受光信号の増幅率を設定する。 (もっと読む)


【課題】 簡単かつ短時間で2次電池を精度よく検査する。
【解決手段】 通電信号供給回路65及び通電回路66は、所定周波数の交流成分を重畳させた直流電圧を2次電池(リチウムイオン2次電池)BAの電極間に印加して2次電池BAに電流を流す。この交流成分の重畳される直流電圧は、2次電池BAの動作電圧範囲内にある。磁気センサ10が、X方向スライド機構20及びY方向スライド機構30によって駆動され、2次電池BAの下面近傍を走査して、2次電池BAの各部分に流れる電流によって発生する磁界を検出する。磁界の検出信号は、センサ信号取出回路68を介してロックインアンプ69に供給される。ロックインアンプ69は、通電信号供給回路65からの所定周波数に等しい信号を用いて、検出信号から所定周波数の信号成分を取出して出力する。 (もっと読む)


【課題】 外部に電流を取出すための取出電極の間を複数の発電セルを直列接続した構造の太陽電池セルの取出電極の接続不良及び発電面の欠陥を精度よく検出する。
【解決手段】 発光素子52は、多数の太陽電池セルを含む太陽電池パネルSPに光を照射することにより、各太陽電池セルを発電動作させる。この発電動作により、太陽電池セルの各部に電流が流れ、太陽電池セルの対向する各部に磁界が発生する。磁気センサ10は、センサ信号取出回路67及びロックインアンプ68を介して、各部の磁界を検出して磁界信号をコントローラ70に供給する。コントローラ70は、プログラム処理により、前記磁界信号に基づいて、一対の取出電極が対向する方向である第1方向に所定距離隔てた2位置における第1方向の電流の大きさの差を検出する。 (もっと読む)


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