【課題】 スプリアス振動を抑制した、通過帯域特性の良好な３ポール型のモノリシック水晶フィルタを提供する。
【解決手段】 水晶振動板１は厚みすべり振動で駆動する矩形のＡＴカット水晶振動板であり、その表裏面には対向して平面視矩形形状の励振電極が形成されている。当該励振電極は、矩形状の励振電極１２，１３，１４が長辺方向に直列的に形成されている。また、水晶振動板の表面においては当該励振電極１２，１３，１４に対応した矩形状の励振電極１１が形成され、表裏で対向した電極（対向電極）を形成している。対向電極は長辺から４度斜め上方に傾斜（傾斜角度θが４度）している。 （もっと読む）

【課題】 気密封止型電子部品の外部表面の無鉛化に対応するとともに、キャップにベースを圧入する際の挿入性と嵌合特性、および外部端子との接続性を低下させることなく、安価に耐熱性に優れた気密封止を行う電子部品を提供する。
【解決手段】 ガラスを介してリード端子が貫通固定されたベース１と、当該ベースに搭載される電子素子２と、前記ベースに圧入されることにより前記電子素子を気密封止するキャップ３とからなる電子部品であって、前記キャップの内部に格納されるリード端子表面と、圧入によりキャップがベースに密接するベース表面には高温半田膜が形成され、前記キャップから外部に露出したリード端子表面には金属ろう材の接合性を向上する無鉛金属膜が形成されてなるとともに、前記高温半田膜は、キャップ内部のみに形成されてなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 低背化を妨げることなく、耐衝撃性能を高め、発振周波数の変動の影響がないより信頼性の高い表面実装型圧電発振器を提供する。
【解決手段】 ベース１と蓋４を有する表面実装型圧電発振器であって、集積回路素子２と、圧電振動板３と、前記集積回路素子を収納する第１の収納部と、前記圧電振動板の一端部を保持する保持台が形成された第２の収納部と、堤部とを有してなるベースと、前記ベースに被せて気密封止してなる金属蓋とを具備してなり、前記ベースの第１の収納部には、前記集積回路素子の能動回路面を下面に向け、かつ前記集積回路素子の非能動回路面を上面に向けて配置されるとともに、前記集積回路素子の非能動回路面を前記保持台より下側に位置させて集積回路素子が配置されており、圧電振動板の他端部を、集積回路素子の非能動回路面へ漸次近接させながら配置している。 （もっと読む）

【課題】 低背化を妨げることなく、より安定した発振回路特性が得られるより信頼性の高い表面実装型圧電発振器を提供することにある。
【解決手段】 ベース１と蓋４を有する表面実装型圧電発振器であって、集積回路素子２と、圧電振動板３と、前記集積回路素子を収納する第１の収納部と、前記圧電振動板の一端部を保持する保持台が形成された第２の収納部と、堤部とを有してなるベースと、前記ベースに被せて気密封止してなる金属蓋とを具備してなり、前記ベースの第１の収納部には、前記集積回路素子の能動回路面を下面に向け、かつ前記集積回路素子の非能動回路面を上面に向けて配置されるとともに、前記非能動回路面側のほぼ全面に導体膜２２が形成され、導通路２２２を介して集積回路素子の能動回路面側に引き出されて、ベースの配線パターンのうちグランド端子に接続されている。 （もっと読む）

【課題】プローブピンが原因となる温度試験装置の不具合を防止する。
【解決手段】検査部５４には、水晶振動子ＣＲの発振周波数を測定するために水晶振動子ＣＲの端子電極ＣＲ１，ＣＲ２と接続するための２つのヘッド５４２が設けられている。これらヘッド５４２それぞれには一対のプローブピン５４３が備えられている。図８に示すように各ヘッド５４２の一対のプローブピン５４３の間には、一対のプローブピン５４３の水晶振動子ＣＲへの接着を防止するためのピアノ線５４４が設けられている。 （もっと読む）

【課題】測定する複数の圧電振動デバイスの識別不良を抑制して、同時期に試験する複数の圧電振動デバイスの良否判定の取り間違えを抑制する。
【解決手段】温度試験装置１は、１つの温度槽１１内において水晶振動子ＣＲをＸ方向に沿って搬送しながら水晶振動子ＣＲの特性を測定するインライン方式の温度試験装置である。この温度試験装置１には、キャリアＣ及びキャリアＣに搭載した水晶振動子ＣＲを識別する識別部３と、水晶振動子ＣＲの温度変化に伴った各温度における水晶振動子ＣＲの発振周波数を測定する測定部５とが設けられている。識別部３は水晶振動子ＣＲの搬送方向（Ｘ方向）に沿った測定部５の前後位置に配されている。 （もっと読む）

【課題】圧電振動デバイスの試験工程において温度特性を測定する際に余分な待機時間や測定時間がかかるのを防止する、すなわち製造タクトの時間を抑制する。
【解決手段】温度試験装置１は、１つの温度槽１１内において水晶振動子ＣＲをＸ方向に沿って搬送しながら水晶振動子ＣＲの特性を測定するインライン方式の温度試験装置である。温度試験装置１には、水晶振動子ＣＲを搭載したキャリアＣを一次待機させる待機部４と、水晶振動子ＣＲの温度変化に伴った各温度における水晶振動子ＣＲの発振周波数を測定する測定部５と、がＸ方向に沿って設けられている。また、待機部４と測定部５とは１つの温度槽１１内に設けられている。この温度槽１１内には、Ｘ方向に沿って３つの第１〜３温度領域１２〜１４が構成され、第１〜３温度領域１２〜１４それぞれに設定温度が異なる第１〜３測定部５１〜５３が設けられている。 （もっと読む）

【課題】 電気的特性を向上させ、かつ動作信頼性の高い水晶振動デバイスを提供することを目的とする。
【解決手段】 セラミックパッケージ１の内部底面には電極パッド１２、１３が形成されており、前記電極パッド１２，１３間には水晶振動素子である平面視矩形形状の水晶振動板２が搭載されている。水晶振動板の引出電極２１１，２２１には表裏主面および側面に渡ってシリコーン系樹脂導電性接合材を硬化させた導電固体Ｓ１，Ｓ１が形成されている。このような導電固体Ｓ１，Ｓ１が一体的に形成された水晶振動板をシリコーン系樹脂導電性接合材によりセラミックパッケージ１の電極パッド１２、１３に導電接合する。 （もっと読む）

【課題】圧電振動片の調整対象領域の状態や圧電振動片のベースへの搭載状態等にかかわらず安定した圧電振動デバイスの周波数調整を行ない、圧電振動デバイスを量産する際に周波数バラツキを抑制する。
【解決手段】粗調整段階，中間調整段階，及び微調整段階では、それぞれ異なる周波数の調整レートを設定し、それぞれの段階において圧電振動デバイスの周波数を合わせこむ目標周波数を設定する。粗調整段階において設定レートに対する実レートを算出し、この実レートから変動レートを算出する。この変動レートに基づいて中間調整段階，微調整段階の周波数の調整レートを設定変更する。設定変更した設定レートに基づいて中間段階，微調整段階における目標周波数までの周波数調整時間を算出し、中間段階，微調整段階において周波数調整時間の間、設定変更した設定レートに基づく周波数調整を行なう。 （もっと読む）

【課題】ベースとキャップとの接合状態を安定させて、パッケージ内部が気密不良になるのを抑制する。
【解決手段】ベース２に水晶振動片を保持した後に、ベース２へのキャップ３の接合工程に移る。ベース２にキャップ３を接合する際に、ベース２の平面視の対向する辺の予め設定した対向する個所でキャップ３を仮止めする。仮止め工程の後に、ベース２とキャップ３とを熱処理する。熱処理工程の後に、ベース２とキャップ３とを接合して、パッケージ１１を構成する。 （もっと読む）