【課題】微弱な光を安定して均一に面発光することができる基準光源を提供する。
【解決手段】ＬＥＤ５から発した光を導光部材４で導光させ、第一光出射面４１から前方に出射すると共に、導光部材４を介してＬＥＤ５と対向するように設けたＳＰＤ６により検出する。そして、検出した発光量に基づき制御部９でＬＥＤ５から発する光の光量を制御する。ここで、第一減光フィルタ１０Ａ、マイクロレンズアレイ１３、第一拡散板１４、第二減光フィルタ１５及び第二拡散板１６を、第一光出射面４１上にて当該第一光出射面４１から遠ざかる方向にこの順で設けることで、第一光出射面４１から出射した光を、ＳＰＤ６で検出する光の光量よりも小さくなるように減光すると共に拡散する。 （もっと読む）

【課題】 シンチレータアレイでの検出アドレスの特定精度を向上することが可能な放射線検出装置を提供する。
【解決手段】 Ｎ×Ｍ個のシンチレータ素子１１からなるシンチレータアレイ１０と、複数の検出信号を出力するように構成された位置検出型の光電子増倍管２０と、光電子増倍管２０での計数率を取得する計数率取得部４０と、光電子増倍管２０からの複数の検出信号に基づいて検出位置（Ｘ，Ｙ）を導出する検出位置導出部３０と、検出位置をシンチレータアレイ１０での対応するシンチレータ素子１１を示す検出アドレス（ｎ，ｍ）に変換する検出アドレス導出部５０とによって、放射線検出装置１００を構成する。また、導出部５０において、取得部４０で取得された計数率に基づいて設定されたアドレス変換テーブルによって、検出位置を検出アドレスに変換する。 （もっと読む）

【課題】 マイクロプレートからの背景光ノイズを低減可能な光測定装置を提供する。
【解決手段】 測定対象物Ａを収容するための複数のウェル２１が設けられたマイクロプレート２０に対して照射光を照射するための光照射装置及び該光照射装置を備える光測定装置であって、複数の凹部６１ｅが形成された主面６１ａと、該主面６１ａと略直交する側面６１ｂと、を有する導光部材６１と、導光部材６１の側面６１ｂから導光部材６１に照射光を入射する光源６２と、を備え、凹部６１ｅは、主面６１ａに開口を有し、導光部材６１は、ウェル２１の底面と凹部６１ｅの開口とが対向するように配置可能であり、側面６１ｂから導光部材に入射される照射光は、凹部６１ｅの側面において屈折及び反射され、凹部６１ｅの開口から出射されて、マイクロプレート２０のウェル２１の底面に入射される。 （もっと読む）

【課題】所望の温度に冷却した状態の試料を測定する場合でも、結露の発生を防ぐことが可能な分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置は、積分球２０と、デュワ５０と、ガス導入路と、を備えている。積分球２０は、測定対象の試料Ｓが内部に配置されており、試料Ｓから発せられる被測定光の観測に用いられる。デュワ５０は、試料Ｓを冷却するための冷媒Ｒを保持する。ガス導入路は、乾燥ガスを積分球２０内に導入する。 （もっと読む）

【課題】２段に重ねられた検出器の画素間での対応がとれなくなったことを検出し、画素間での対応がとれるように輝度データを補正する非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】非破壊検査装置１は、Ｘ線照射器２０、低エネルギ検出器３２、高エネルギ検出器４２、低エネルギ透過率算出部７２、高エネルギ透過率算出部７４、検出部７６及び補正部７８を備えている。算出部７２は、透過Ｘ線の低エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。算出部７４は、透過Ｘ線の高エネルギ範囲における透過率を示す値を算出する。検出部７６は、両算出部７２，７２で算出された透過率の比に基づいてＸ線照射器２０の位置ずれ内容を検出する。補正部７８は、検出部７６でＸ線照射器２０の位置ずれ内容が検出された場合に、当該位置ずれ内容に応じて、検出器３２，４２で検出されたＸ線の輝度データを補正する。 （もっと読む）

【課題】集積回路における発熱点の深さをその位置に依存することなく精度よく安定して検出する。
【解決手段】発熱点検出方法は、集積回路Ｓの表面の平均温度を安定化するステップＳ０１と、集積回路Ｓに低周波数のバイアス電圧を印加し、それに応じて集積回路Ｓから検出される発熱検出信号を取得するステップＳ０２，Ｓ０３と、集積回路Ｓに高周波数のバイアス電圧を供給し、それに応じて集積回路Ｓから検出される発熱検出信号を取得するステップＳ０４，Ｓ０５と、低周波数のバイアス電圧と発熱検出信号との間の位相差、及び高周波数のバイアス電圧と発熱検出信号との間の位相差を検出するステップＳ０６〜Ｓ０８と、それらの位相差に基づいて、バイアス電圧の周波数の平方根に対する位相差の変化率を算出し、変化率から発熱点の深さ情報を得るステップＳ０９とを備える。 （もっと読む）