説明

株式会社リガクにより出願された特許

161 - 170 / 206


【課題】 記憶されている複数の測定データの管理が容易である分析装置を提供する。
【解決手段】 測定データを取得する装置と、画面32を備えた表示装置とを有する分析装置である。測定データは座標Gc,Gdと共に画面32上に画像として表示される。移動子30及び31を移動させると座標Gc,Gd上の測定データの表示内容が更新される。座標Gc,Gdの画像を矢印A,Bのようにウインドウ42へドラッグすると、測定データがビットマップイメージMと関連してメモリ内に記憶され、ビットマップイメージMはウインドウ42内に表示される。表示されているビットマップイメージMをダブルクリックすると、記憶した測定データをいつでも再表示できる。ビットマップイメージMは座標Gc,Gdの画像そのものとすることができるので、分析者はビットマップイメージMによって測定データの内容を容易に判別できる。 (もっと読む)


【課題】 記憶されている複数の測定データの管理が容易である分析装置を提供する。
【解決手段】 測定データを取得する装置と、画面32を備えた表示装置とを有する分析装置である。測定データは座標Gc,Gdと共に画面32上に画像として表示される。移動子30及び31を移動させると座標Gc,Gd上の測定データの表示内容が更新される。座標Gc,Gdの画像を矢印A,Bのようにウインドウ42へドラッグすると、測定データがビットマップイメージMと関連してメモリ内に記憶され、ビットマップイメージMはウインドウ42内に表示される。表示されているビットマップイメージMをダブルクリックすると、記憶した測定データをいつでも再表示できる。ビットマップイメージMは座標Gc,Gdの画像そのものとすることができるので、分析者はビットマップイメージMによって測定データの内容を容易に判別できる。 (もっと読む)


【課題】 電線を備えた複数のステージ同士の組立て作業が簡単であり、ステージの移動に際して電線が邪魔にならない試料支持装置を提供する。
【解決手段】 ベースステージ7に重ねて配置される搭載ステージ8を有し、この搭載ステージ8によって試料Sを支持する試料支持装置である。ベースステージ7と搭載ステージ8はそれぞれの結合面を対向させた状態で互いに重ね合わされる。試料支持装置は、搭載ステージ8に設けられた駆動装置18,19と、搭載ステージ8の結合面内に設けられていて電線44を介して駆動装置18,19に導通する搭載側端子31aと、ベースステージ7の結合面内に設けられていて搭載側端子31aと導電接続可能なベース側端子31bとを有する。搭載ステージ8をベースステージ7上に重ねて配置した状態で、搭載側端子31aとベース側端子31bとが導電接続する。 (もっと読む)


【課題】 測定条件に関する説明を表示装置の画面上でオペレータに提示することができ、しかも、画面が見難くなることのないX線回折装置を提供する。
【解決手段】 複数の測定軸(2θ、2θ/ω、…)の1つを選択してその測定軸を基準としてX線要素を移動させて測定を行うX線測定装置と、画像データに基づいて画面上に画像を表示する表示装置と、表示装置の画面内の領域を指定して入力を行う入力装置とを有するX線回折装置である。入力装置によって測定軸の1つが指示され、さらにその測定軸を基準とするX線要素の移動量を入力するための領域が入力装置によって指示されたときに、移動量として入力可能な有効範囲を演算によって求め、その有効範囲の値を含む画像43を表示装置の画面上に所定時間だけポップアップ表示させる。 (もっと読む)


【課題】 複数の試料に関して熱分析を行う際に、個々の試料に対して適切に校正を行うことができるようにする。
【解決手段】 試料測定位置31bに置かれた試料に対して重量測定を行う機構であるTG測定装置2と、複数の試料が置かれたターンテーブル52と試料測定位置31bとの間で試料を搬送するサンプルチェンジャ3と、複数の試料をサンプルチェンジャ3によって試料測定位置31bへ交互に搬送しながら、試料測定位置31bに置かれた試料に関してTG測定装置2によって重量測定を行う機能を実現する秤量演算部と、秤量演算部を調整することによってTG測定装置2を校正する機能を実現する校正演算部とを有する熱分析装置である。校正演算部は、複数の試料に対して秤量演算部によって順次に測定が行われる際のそれらの個々の測定の少なくとも1つに先立って校正処理を実現する。 (もっと読む)


【課題】複数の試料について,同時にX線回折測定と熱分析測定を実施できるようにする。
【解決手段】集中法によるX線回折測定の際には,第1アーム20と第2アーム22を互いに逆方向に,同じ角速度で連動回転する。Z方向に細長いライン状のX線ビーム30について,入射側のソーラースリット26でZ方向の発散を制限してから,このX線ビーム30を粉末試料14,16に同時に照射する。試料14からの回折X線と,試料16からの回折X線を,受光側のソーラースリット32でZ方向の発散を制限してから,少なくともZ方向に位置感応型のX線検出器34で,区別して検出する。また,X線回折測定と同時に,二つの試料14,16について,熱分析測定を実施する。 (もっと読む)


【課題】2次元X線検出器に対するX線露光から像読取りに至る一連の処理を真空雰囲気内で行うことができるX線画像記録読取り装置を提供する。
【解決手段】2次元X線検出器13aの第1端辺26aが外周面に固定されるドラム21aと、ドラム21aを回転させるモータ22aとを有するX線画像記録読取り装置である。モータ22aは、検出器13aの全面がドラム21aに巻き付く第1角度位置と、検出器13aの第2端辺26b側の所定領域をX線露光位置Eに配置させる第2角度位置との間で、ドラム21aを回転させる。ドラム21aに巻き付いた検出器13aの第2端辺26bは爪28によって固定される。検出器13a、ドラム21a及び爪28は気密チャンバ34によって気密に包囲される。気密チャンバ34に設けられた石英ガラス窓37aに対向して読取り装置41aが設けられる。 (もっと読む)


【課題】 小型であり、光軸調整のための作業が簡単であり、光軸調整の自動化が容易であるX線ビーム処理装置を提供する。
【解決手段】 所定の回折角度でX線を回折する第1結晶ブロック2a及び第2結晶ブロック2bを支持する結晶ホルダ3と、X線R1,R2,R3の光軸を含む面に直交する軸線X1を中心として結晶ホルダ3を回転させることができ且つ結晶ホルダ3をその回転範囲内で固定状態に支持できるモータ4とを有するX線ビーム処理装置1Aである。結晶ホルダ3は、第1結晶ブロック2aと第2結晶ブロック2bの両方でX線回折が生じるように互いの角度が調整された状態でそれら2つの結晶ブロック2a,2bを固定状態で支持する。2つの結晶ブロック2a,2bの光軸調整は軸線X1を中心として結晶ホルダ3を1軸回転させるだけで行われる。 (もっと読む)


【課題】 外形寸法が小さく、部品点数の少ない磁性流体シール装置(同軸2軸)を提供する。
【解決手段】 軸受本体10の軸受孔2内に設けた外側回転軸20に磁石23を埋め込み、外側回転軸20の外周面と内周面のそれぞれに外側磁気回路15、内側磁気回路25を形成させる。磁性流体シール装置は、外側回転軸20の外周面と内周面に接する微小隙間に磁性流体が充填してあり、磁石23が形成する磁気回路により二つの回転軸を強力にシールさせることができる。その結果、回転軸が非接触で軸支持されて回転駆動でき、しかも、寸法が小さく、部品点数も少なくなる。 (もっと読む)


【課題】 結晶アナライザの取付け方法を改良することにより、ダブルスリットアナライザ、平行スリットアナライザ、結晶アナライザという3つの受光素子を容易に交換できるようにする。
【解決手段】 第1スリット12aと、そのX線通過部Bの幅を調整する装置17と、第2スリット12bと、そのX線通過部Bの幅を調整する装置17と、第1スリット12aと第2スリット12bとの間に設けられていて平行スリットアナライザ18及び結晶アナライザ19を1つずつ交換して固定状態で支持できるアナライザ支持装置13と、第2スリット12bを平行移動させるスリット位置移動装置9とを有するアナライザ4である。スリット位置移動装置9による第2スリット12bの平行移動方向は、アナライザ支持装置13が結晶アナライザ19を支持したときにその結晶アナライザ19で回折するX線が進む方向にスリット12bのX線通過部Bを変位させる方向である。 (もっと読む)


161 - 170 / 206