【課題】入射角に応じた反射Ｘ線強度を求めるＸ線反射率測定方法において，アナライザー結晶を用いて入射角の読み取り目盛りを高精度に修正することにより，入射角の測定精度と再現性を高める。
【解決手段】反射率測定の前に，入射角ωの読み取り目盛りの修正作業を実行する。その修正作業では，受光スリット１８の開口幅をＸ線反射率測定時よりも広くして，反射経路の途中にアナライザー結晶５８を配置して，試料１６の表面からの全反射Ｘ線２０を検出する。そのとき，試料表面に対する入射Ｘ線１０の入射角ωａを正確に決定でき，それに基づいて入射角の読み取り目盛りを修正する。その後，アナライザー結晶５８を反射経路から外して，試料表面のＸ線反射率測定を実施する。入射角を高精度に決定できるので，高精度の反射率測定が可能になる。 （もっと読む）

【課題】 Ｃｒの特性Ｘ線を用いてＸ線分析を行う際に試料から広角度に発生する回折線を正確に測定する。
【解決手段】 試料Ｓに照射するＣｒの特性Ｘ線を発生するＸ線源Ｆと、試料Ｓから出る回折線を受光する蓄積性蛍光体プレートと、試料Ｓと蓄積性蛍光体プレートとの間に配置されたヘリウムパス１３とを有するＸ線分析装置である。ヘリウムパス１３の内部にはヘリウムガスが流される。また、ヘリウムパス１３は試料Ｓから出る回折線を通過させる第１窓５４ａと蓄積性蛍光体プレートの前に位置する第２窓とを有する。蓄積性蛍光体プレートのＸ線受光面は試料Ｓを中心として湾曲する。第１窓５４ａは第２窓よりも小さく形成されており、このため、ヘリウムパス１３は空間的に扇形状に広がっている。Ｃｒの特性Ｘ線、ヘリウムパス及び湾曲する蓄積性蛍光体プレートを用いるので、タンパク質のような複雑な分子の結晶構造をＸ線を用いて簡単且つ迅速に決定できる。 （もっと読む）

【課題】 測定データの改ざんを容易に確認できる分析装置を提供する。
【解決手段】 試料に対して測定を行って測定データを得る測定装置２と、測定データ及び測定関連データを記憶する第１記憶領域２１と、測定データ及び測定関連データを第１記憶領域２１とは異なったファイル形式で記憶する第２記憶領域２２と、第１記憶領域２１内のデータ及び第２記憶領域２２内のデータを画像として表示する表示装置４と、それらのデータを印字して表示するプリンタ６とを有する分析装置１である。第１記憶領域２１内のファイルと、そのファイルに対応する第２記憶領域２２内のファイルには、共通の履歴情報が記憶される。第１記憶領域２１内のデータ及び第２記憶領域２２内のデータを表示して比較することにより、データの改ざんを判断する。第２記憶領域２２はＸＭＬファイルによって構成できる。 （もっと読む）

ケース（１００）と、このケース（１００）の内部で回転自在に支持された回転体（２００）と、磁力により回転体を回転駆動するステータ（１１０）とを備える。ステータ（１１０）は、ケース（１００）の外部に装着された鉄心（１１１）と当該鉄心（１１１）に巻回された磁気コイル（１１２）とを含む。そして、磁極を構成する鉄心（１１１）の端面が、少なくとも非積層強磁性体で形成され、かつケース（１００）の内壁の一部を形成するように当該ケース（１００）の内面に露出した構成とする。
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【課題】 試料を支持する試料板からの回折Ｘ線の影響を排除して、試料に関する正確なＸ線回折測定をできるようにする。
【解決手段】 単結晶試料板２１によって支持する試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから発生する回折Ｘ線を２次元Ｘ線検出器２によって検出し、検出された回折Ｘ線の座標及び強度をＸ線読取り装置によって読み取り、そしてその読取り結果に基づいて演算を行って回折Ｘ線強度分布を求めるＸ線測定装置である。単結晶試料板２１から出る回折Ｘ線が２次元Ｘ線検出器２によって検出される座標位置を、回折Ｘ線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。単結晶試料板２１からの回折Ｘ線がＸ線強度の演算に算入されないので、試料Ｓからの回折Ｘ線だけに関して正確にＸ線強度分布を求めることができる。 （もっと読む）

【目的】 コネクタユニット内の複数のリード線を短時間に、しかも正確な長さに切断することのできるリード線切断装置を提供する。
【構成】 コネクタユニット５のリード線７を希望の長さに切断するコネクタユニットのリード線切断装置において、基盤２と、該基盤２上に設けられていてコネクタ６を固定して保持するコネクタ固定ピン３と、基盤２上に設けられていてコネクタ固定ピン３に対して間隔をおいて位置する複数のリード線切断用マーク４とを有しており、リード線切断用マーク４は、リード線７の被覆を一定の長さで剥ぎ取るための被覆除去用マーク４ｂを有している。 （もっと読む）